KR20210116827A - 표시 장치 및 그의 구동 방법 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는 복수의 화소, 행 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 스캔 라인, 열 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 데이터 라인, 상기 열 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 수신 라인, 및 상기 복수의 수신 라인을 통해 상기 복수의 화소에 흐르는 전류를 수신하여 제1 센싱 데이터를 생성하고, 상기 제1 센싱 데이터에 상기 복수의 화소의 위치에 해당하는 교정 인자를 곱하여 상기 복수의 화소 각각에 포함된 구동 트랜지스터의 특성을 보상하는 보상값을 생성하는 보상 회로부를 포함하고, 상기 교정 인자는 상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 포함한다.

Description

표시 장치 및 그의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF}
본 발명은 표시 장치 및 그의 구동 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 외부 보상을 수행하는 표시 장치 및 그의 구동 방법에 관한 것이다.
표시 장치는 영상을 표시하는 장치로서, 최근 유기 발광 표시 장치(organic light emitting diode display)가 주목 받고 있다.
유기 발광 표시 장치는 자체 발광 특성을 가지며, 액정 표시 장치(liquid crystal display device)와 달리 별도의 광원을 필요로 하지 않으므로 두께와 무게를 줄일 수 있다. 또한, 유기 발광 표시 장치는 낮은 소비 전력, 높은 휘도 및 높은 반응 속도 등의 고품위 특성을 나타낸다.
유기 발광 표시 장치에 포함된 복수의 화소 각각은 유기 발광 다이오드 및 이에 연결된 구동 트랜지스터를 포함한다. 구동 트랜지스터는 인가된 데이터 전압에 따라 유기 발광 다이오드로 전류를 흘려서 유기 발광 다이오드가 데이터 전압에 대응하는 휘도로 발광하도록 한다.
구동 트랜지스터들이 열화되거나 구동 트랜지스터들 간에 문턱 전압의 편차가 발생하게 되면 원하는 색상이나 밝기의 영상이 표시되지 않고 유기 발광 표시 장치의 화질이 저하될 수 있다.
구동 트랜지스터들의 열화와 구동 트랜지스터들 간의 문턱 전압의 편차를 보상하기 위한 보상 회로부가 복수의 화소 각각에 흐르는 전류를 수신하여 각 화소에 포함된 구동 트랜지스터의 문턱 전압을 측정할 수 있다. 구동 트랜지스터의 문턱 전압을 구동 트랜지스터의 특성이라 한다. 보상 회로부는 측정된 구동 트랜지스터의 특성을 기반으로 데이터 전압을 보상함으로써 구동 트랜지스터들의 열화와 구동 트랜지스터들 간의 특성 편차에 의한 화질 저하가 발생되지 않도록 할 수 있다. 이러한 방식을 외부 보상이라 한다.
복수의 화소에 흐르는 전류는 복수의 수신 라인을 통해 보상 회로부에 수신된다. 보상 회로부는 복수의 수신 라인에 충전된 전압 값을 측정하여 구동 트랜지스터들의 특성을 측정할 수 있다. 구동 트랜지스터의 특성을 측정할 때 측정된 전압 값에 복수의 수신 라인의 특성이 포함된다. 복수의 수신 라인은 제조 공정상의 오차에 의해 각각의 기생 커패시턴스가 서로 다를 수 있다. 측정 값을 그대로 이용하여 데이터 전압을 보상하는 경우에는 복수의 수신 라인의 기생 커패시턴스의 편차에 의한 보상 오차가 발생할 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 외부 보상을 수행할 때 복수의 수신 라인의 기생 커패시턴스의 편차에 의한 보상 오차가 발생하지 않도록 하는 표시 장치 및 그의 구동 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 화소, 행 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 스캔 라인, 열 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 데이터 라인, 상기 열 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 수신 라인, 및 상기 복수의 수신 라인을 통해 상기 복수의 화소에 흐르는 전류를 수신하여 제1 센싱 데이터를 생성하고, 상기 제1 센싱 데이터에 상기 복수의 화소의 위치에 해당하는 교정 인자를 곱하여 상기 복수의 화소 각각에 포함된 구동 트랜지스터의 특성을 보상하는 보상값을 생성하는 보상 회로부를 포함하고, 상기 교정 인자는 상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 포함한다.
상기 복수의 라인 교정 인자에 포함되는 어느 하나의 라인 교정 인자는 x 번째 수신 라인에 대한 평균 제1 센싱 데이터에 대한 상기 x 번째 수신 라인에 대한 평균 제2 센싱 데이터의 비율을 포함할 수 있다.
상기 평균 제1 센싱 데이터는 상기 복수의 화소를 포함하는 표시부에서 일부 영역에 해당하는 인자 검출 영역에 대응하는 제1 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 생성될 수 있다.
상기 평균 제2 센싱 데이터는 상기 인자 검출 영역에 대응하는 제2 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 생성될 수 있다.
상기 보상 회로부는 아날로그-디지털 컨버터, 및 연산 증폭기를 포함하고, 수신 라인에 흐르는 전류가 상기 아날로그-디지털 컨버터에 의해 상기 제1 센싱 데이터로 변환되고, 수신 라인에 흐르는 전류가 상기 연산 증폭기 및 상기 아날로그-디지털 컨버터에 의해 상기 제2 센싱 데이터로 변환될 수 있다.
상기 인자 검출 영역은 상기 복수의 스캔 라인 중 하나 이상의 스캔 라인 및 상기 인자 검출 영역에 포함된 스캔 라인에 연결된 복수의 화소를 포함할 수 있다.
상기 인자 검출 영역은 상기 열 방향으로 서로 이격되어 있는 복수의 영역을 포함할 수 있다.
상기 보상 회로부는 상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 포함하는 룩업 테이블을 저장하고 있을 수 있다.
상기 보상 회로부는 상기 교정 인자에 포함된 노이즈를 제거하는 필터부를 포함할 수 있다.
상기 필터부는 저주파 통과 필터를 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치는 아날로그-디지털 컨버터 및 연산 증폭기를 포함하고, 복수의 화소에 연결된 복수의 수신 라인을 통해 상기 복수의 화소에 흐르는 전류를 수신하고, 상기 아날로그-디지털 컨버터로 상기 전류를 제1 센싱 데이터로 변환하고, 상기 연산 증폭기 및 상기 아날로그-디지털 컨버터로 상기 전류를 제2 센싱 데이터로 변환하는 센싱 데이터 생성부, 상기 제1 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 평균 제1 센싱 데이터를 생성하고, 상기 제2 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 평균 제2 센싱 데이터를 생성하고, 상기 평균 제1 센싱 데이터에 대한 상기 평균 제2 센싱 데이터의 비율로 교정 인자를 산출하는 교정 데이터 유닛, 및 상기 제1 센싱 데이터에 상기 복수의 화소의 위치에 해당하는 교정 인자를 곱하여 상기 복수의 화소 각각에 포함된 구동 트랜지스터의 특성을 보상하는 보상값을 생성하는 교정 연산부를 포함한다.
표시 장치는 저주파 통과 필터를 이용하여 상기 교정 인자에 포함된 노이즈를 제거하는 필터부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법은 복수의 화소에 연결된 복수의 수신 라인을 통해 상기 복수의 화소에 흐르는 전류를 수신하는 단계, 상기 전류가 아날로그-디지털 컨버터에 의해 제1 센싱 데이터로 변환되는 단계, 및 상기 제1 센싱 데이터에 상기 복수의 화소의 위치에 해당하는 교정 인자를 곱하여 상기 복수의 화소 각각에 포함된 구동 트랜지스터의 특성을 보상하는 보상값을 생성하는 단계를 포함하고, 상기 교정 인자는 상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 포함한다.
표시 장치의 구동 방법은 상기 전류가 연산 증폭기 및 상기 아날로그-디지털 컨버터에 의해 제2 센싱 데이터로 변환되는 단계, 상기 제1 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 평균 제1 센싱 데이터를 생성하는 단계, 상기 제2 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 평균 제2 센싱 데이터를 생성하는 단계, 상기 평균 제1 센싱 데이터에 대한 상기 평균 제2 센싱 데이터의 비율로 상기 교정 인자를 산출하는 단계를 더 포함할 수 있다.
표시 장치의 구동 방법은 상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 룩업 테이블로 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.
표시 장치의 구동 방법은 저주파 통과 필터를 이용하여 상기 교정 인자에 포함된 노이즈를 제거하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 평균 제1 센싱 데이터는 상기 복수의 화소를 포함하는 표시부에서 일부 영역에 해당하는 인자 검출 영역에 대응하는 제1 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 생성될 수 있다.
상기 평균 제2 센싱 데이터는 상기 인자 검출 영역에 대응하는 제2 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 생성될 수 있다.
상기 인자 검출 영역은 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 스캔 라인 중 하나 이상의 스캔 라인 및 상기 인자 검출 영역에 포함된 스캔 라인에 연결된 복수의 화소를 포함할 수 있다.
상기 인자 검출 영역은 열 방향으로 서로 이격되어 있는 복수의 영역을 포함할 수 있다.
표시 장치는 복수의 수신 라인의 기생 커패시턴스의 편차가 제거되고 신호대잡음비(signal to noise ratio, SNR)가 높은 센싱 데이터를 확보할 수 있다. 표시 장치는 복수의 수신 라인의 기생 커패시턴스의 편차에 의한 보상 오차가 발생하지 않도록 하여 더욱 정확한 외부 보상을 수행할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소를 나타내는 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 보상 회로부를 나타내는 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 데이터 생성 회로를 나타내는 회로도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 인자 검출 영역을 나타낸다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 수신 라인에 대한 인자 검출 영역의 평균 제1 센싱 데이터를 나타내는 그래프이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 수신 라인에 대한 인자 검출 영역의 평균 제2 센싱 데이터를 나타내는 그래프이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 수신 라인에 대한 교정 인자를 나타내는 그래프이다.
도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 교정 데이터 유닛에 포함되는 룩업 테이블의 일 예를 나타낸다.
도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 교정 연산부가 복수의 화소에 대한 보상값을 산출하는 방법을 나타내는 개념도이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 인자 검출 영역을 나타낸다.
도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 보상 회로부를 나타내는 블록도이다.
도 13은 도 12의 필터부에 의해 필터링되기 이전의 교정 인자를 나타내는 그래프이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
또한, 여러 실시예들에 있어서, 동일한 구성을 가지는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용하여 대표적으로 제1 실시예에서 설명하고, 그 외의 실시예에서는 제1 실시예와 다른 구성에 대해서만 설명하기로 한다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
도면에서 나타난 각 구성의 크기 및 두께는 설명의 편의를 위해 임의로 나타내었으므로, 본 발명이 반드시 도시된 바에 한정되지 않는다. 도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치는 신호 제어부(100), 게이트 구동부(200), 데이터 구동부(300), 보상 회로부(400), 발광 구동부(500) 및 표시부(600)를 포함한다.
신호 제어부(100)는 외부 장치로부터 영상 신호(ImS) 및 동기 신호를 수신한다. 영상 신호(ImS)는 복수의 화소(PX)의 휘도(luminance) 정보를 포함하고 있다. 휘도는 정해진 수효의 계조 레벨(gray level)을 포함하고 있다. 동기 신호는 수직 동기 신호(Vsync) 및 수평 동기 신호(Hsync)를 포함할 수 있다.
신호 제어부(100)는 수직 동기 신호(Vsync)에 따라 프레임 단위로 영상 신호(ImS)를 구분하고, 수평 동기 신호(Hsync)에 따라 스캔 라인(SCL1-SCLn) 단위로 영상 신호(ImS)를 구분할 수 있다. 신호 제어부(100)는 영상 신호(ImS)와 동기 신호를 기초로 영상 신호(ImS)를 표시부(600) 및 데이터 구동부(300)의 동작 조건에 맞게 적절히 처리하고 영상 데이터 신호(DAT), 제1 제어 신호(CONT1), 제2 제어 신호(CONT2) 및 제3 제어 신호(CONT3)를 생성할 수 있다. 신호 제어부(100)는 제1 제어 신호(CONT1)를 게이트 구동부(200)에 전달한다. 신호 제어부(100)는 제2 제어 신호(CONT2) 및 영상 데이터 신호(DAT)를 데이터 구동부(300)에 전달한다. 신호 제어부(100)는 제3 제어 신호(CONT3)를 발광 구동부(500)에 전달한다.
표시부(600)는 복수의 스캔 라인(SCL1-SCLn), 복수의 센싱 신호 라인(SSL1-SSLn), 복수의 데이터 라인(DL1-DLm), 복수의 수신 라인(RL1-RLm), 복수의 발광 라인(EML1-EMLn) 및 복수의 화소(PX)를 포함한다. 복수의 화소(PX)는 복수의 스캔 라인(SCL1-SCLn), 복수의 센싱 신호 라인(SSL1-SSLn), 복수의 데이터 라인(DL1-DLm), 복수의 수신 라인(RL1-RLm) 및 복수의 발광 라인(EML1-EMLn)에 연결될 수 있다. 복수의 스캔 라인(SCL1-SCLn)은 대략 행 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행할 수 있다. 복수의 센싱 신호 라인(SSL1-SSLn)은 대략 행 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행할 수 있다. 복수의 데이터 라인(DL1-DLm)은 대략 열 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행할 수 있다. 복수의 수신 라인(RL1-RLm)은 대략 열 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행할 수 있다. 복수의 발광 라인(EML1-EMLn)은 대략 행 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행할 수 있다. 표시부(600)는 영상이 표시되는 표시 영역에 대응될 수 있다. 표시 영역은 영상이 표시되는 화면에 대응될 수 있다.
도시하지 않았으나, 표시부(600)에는 제1 전원 전압(도 2의 ELVDD 참조) 및 제2 전원 전압(도 2의 ELVSS 참조)이 공급될 수 있다. 제1 전원 전압(ELVDD)은 복수의 화소(PX) 각각에 포함된 유기 발광 다이오드(도 2의 OLED 참조)의 애노드 전극에 제공되는 하이 레벨 전압일 수 있다. 제2 전원 전압(ELVSS)은 복수의 화소(PX) 각각에 포함된 유기 발광 다이오드(OLED)의 캐소드 전극에 제공되는 로우 레벨 전압일 수 있다. 제1 전원 전압(ELVDD)과 제2 전원 전압(ELVSS)은 복수의 화소(PX)를 발광시키기 위한 구동 전압이다.
게이트 구동부(200)는 복수의 스캔 라인(SCL1-SCLn) 및 복수의 센싱 신호 라인(SSL1-SSLn)에 연결된다. 게이트 구동부(200)는 제1 제어 신호(CONT1)에 따라 스캔 신호를 복수의 스캔 라인(SCL1-SCLn)에 인가하고, 센싱 신호를 복수의 센싱 신호 라인(SSL1-SSLn)에 인가한다. 스캔 신호는 게이트 온 전압과 게이트 오프 전압의 조합으로 이루어질 수 있다. 센싱 신호는 게이트 온 전압과 게이트 오프 전압의 조합으로 이루어질 수 있다. 게이트 구동부(200)는 게이트 온 전압의 스캔 신호를 복수의 스캔 라인(SCL1-SCLn)에 순차적으로 인가할 수 있다. 게이트 구동부(200)는 게이트 온 전압의 센싱 신호를 복수의 센싱 신호 라인(SSL1-SSLn)에 순차적으로 인가할 수 있다.
데이터 구동부(300)는 복수의 데이터 라인(DL1-DLm)에 연결되고, 제2 제어 신호(CONT2)에 따라 영상 데이터 신호(DAT)를 샘플링 및 홀딩하고, 복수의 데이터 라인(DL1-DLm)에 데이터 전압(도 2의 Vdat 참조)을 인가한다. 데이터 구동부(300)는 게이트 온 전압의 스캔 신호에 대응하여 복수의 데이터 라인(DL1-DLm)에 데이터 전압(Vdat)을 인가할 수 있다. 데이터 전압(Vdat)은 소정의 전압 범위를 갖는다.
보상 회로부(400)는 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 연결되고, 복수의 수신 라인(RL1-RLm)을 통해 복수의 화소(PX)에 흐르는 전류(도 3의 Ipx 참조)를 수신한다. 보상 회로부(400)는 수신된 전류(Ipx)를 기반으로 복수의 화소(PX) 각각에 포함된 구동 트랜지스터(도 2의 TR1 참조)의 특성을 측정할 수 있다. 구동 트랜지스터(TR1)의 특성은 구동 트랜지스터(TR1)의 문턱 전압을 포함할 수 있다. 보상 회로부(400)는 구동 트랜지스터(TR1)의 특성을 기반으로 복수의 화소(PX)에 포함된 복수의 구동 트랜지스터(TR1) 간의 특성 편차를 산출할 수 있다. 보상 회로부(400)는 복수의 구동 트랜지스터(TR1) 간의 특성 편차를 기반으로 보상값(CV)을 생성하여 신호 제어부(100)에 제공할 수 있다. 보상값(CV)은 복수의 화소(PX)에 포함된 복수의 구동 트랜지스터(TR1) 간의 편차를 보상하는 값을 포함할 수 있다.
보상 회로부(400)는 복수의 수신 라인(RL1-RLm) 각각에 대한 교정 인자(도 3의 CP 참조)를 이용하여 복수의 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스의 편차가 제거된 보상값(CV)을 생성할 수 있다. 복수의 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스의 편차를 교정(calibration)하는 방법에 대해서는 후술한다.
신호 제어부(100)는 영상 신호(ImS)에 보상값(CV)을 적용하여 영상 데이터 신호(DAT)를 생성하고, 데이터 구동부(300)는 보상값(CV)이 적용된 영상 데이터 신호(DAT)에 따라 데이터 전압(Vdat)을 생성할 수 있다. 영상 신호(ImS)에 보상값(CV)이 적용되어 영상 데이터 신호(DAT)가 생성됨으로써 구동 트랜지스터(TR1)의 열화 및 복수의 구동 트랜지스터(TR1) 간의 편차에 의한 화질 저하가 발생하지 않게 된다.
상기와 같이, 복수의 화소(PX)에 흐르는 전류를 수신하고, 수신된 전류를 기반으로 복수의 화소(PX) 각각에 포함된 구동 트랜지스터(TR1)의 열화 및 복수의 구동 트랜지스터(TR1) 간의 편차를 보상하는 방식을 외부 보상이라 한다.
도 1에서는 보상 회로부(400)가 신호 제어부(100)와 별도로 마련되는 것으로 예시하였으나, 실시예에 따라 보상 회로부(400)는 신호 제어부(100)에 포함될 수 있다.
발광 구동부(500)는 복수의 발광 라인(EML1-EMLn)에 연결된다. 발광 구동부(500)는 제3 제어 신호(CONT3)에 따라 발광 신호를 복수의 발광 라인(EML1-EMLn)에 인가한다. 발광 신호는 게이트 온 전압과 게이트 오프 전압의 조합으로 이루어질 수 있다. 발광 구동부(500)는 게이트 온 전압의 발광 신호를 복수의 발광 라인(EML1-EMLn)에 순차적으로 또는 동시에 인가할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소를 나타내는 회로도이다. 도 1의 표시 장치에 포함되는 복수의 화소(PX) 중에서 n번째 화소행과 m번째 화소열에 위치하는 화소(PX)를 예로 들어 설명한다.
도 2를 참조하면, 화소(PX)는 유기 발광 다이오드(OLED) 및 화소 회로(10)를 포함한다.
화소 회로(10)는 제1 전원 전압(ELVDD)으로부터 유기 발광 다이오드(OLED)로 흐르는 전류를 제어하도록 구성된다. 화소 회로(10)는 구동 트랜지스터(TR1), 스위칭 트랜지스터(TR2), 센싱 트랜지스터(TR3), 발광 트랜지스터(TR4) 및 유지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
구동 트랜지스터(TR1)는 제1 노드(N1)에 연결되어 있는 게이트 전극, 발광 트랜지스터(TR4)를 통해 제1 전원 전압(ELVDD)이 인가되는 제1 전극 및 제2 노드(N2)에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 구동 트랜지스터(TR1)는 제1 전원 전압(ELVDD)과 유기 발광 다이오드(OLED) 사이에 연결되고, 제1 노드(N1)의 전압에 대응하여 제1 전원 전압(ELVDD)으로부터 유기 발광 다이오드(OLED)로 흐르는 전류량을 제어한다.
스위칭 트랜지스터(TR2)는 스캔 라인(SCLn)에 연결되어 있는 게이트 전극, 데이터 라인(DLm)에 연결되어 있는 제1 전극 및 제1 노드(N1)에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 스위칭 트랜지스터(TR2)는 데이터 라인(DLm)과 구동 트랜지스터(TR1) 사이에 연결된다. 스위칭 트랜지스터(TR2)는 스캔 라인(SCLn)에 인가되는 게이트 온 전압의 스캔 신호에 의해 턴 온되어 데이터 라인(DLm)에 인가되는 데이터 전압(Vdat)을 제1 노드(N1)에 전달한다.
센싱 트랜지스터(TR3)는 센싱 신호 라인(SSLn)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제2 노드(N2)에 연결되어 있는 제1 전극 및 수신 라인(RLm)에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 센싱 트랜지스터(TR3)는 구동 트랜지스터(TR1)의 제2 전극과 수신 라인(RLm) 사이에 연결된다. 센싱 트랜지스터(TR3)는 센싱 신호 라인(SSLn)에 인가되는 게이트 온 전압의 센싱 신호에 의해 턴 온되어 구동 트랜지스터(TR1)를 통해 유기 발광 다이오드(OLED)로 흐르는 전류를 수신 라인(RLm)에 전달한다. 한편, 수신 라인(RLm)은 초기화 전압을 제2 노드(N2)에 전달하는 배선으로 사용될 수 있다. 수신 라인(RLm)을 통해 초기화 전압이 제2 노드(N2)에 인가됨에 따라 유기 발광 다이오드(OLED)의 애노드 전압이 초기화될 수 있다.
발광 트랜지스터(TR4)는 발광 라인(EMLn)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제1 전원 전압(ELVDD)이 인가되는 제1 전극 및 구동 트랜지스터(TR1)의 제1 전극에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 발광 트랜지스터(TR4)는 발광 라인(EMLn)에 인가되는 게이트 온 전압의 발광 신호에 의해 턴 온되어 제1 전원 전압(ELVDD)을 구동 트랜지스터(TR1)의 제1 전극에 전달한다.
구동 트랜지스터(TR1), 스위칭 트랜지스터(TR2) 및 센싱 트랜지스터(TR3)는 n형 트랜지스터이고, 발광 트랜지스터(TR4)는 p형 트랜지스터일 수 있다. n형 트랜지스터를 턴 온시키는 게이트 온 전압은 하이 레벨 전압이고, n형 트랜지스터를 턴 오프시키는 게이트 오프 전압은 로우 레벨 전압이다. p형 트랜지스터를 턴 온시키는 게이트 온 전압은 로우 레벨 전압이고, p형 트랜지스터를 턴 오프시키는 게이트 오프 전압은 하이 레벨 전압이다. 실시예에 따라, 구동 트랜지스터(TR1), 스위칭 트랜지스터(TR2) 및 센싱 트랜지스터(TR3) 중 적어도 하나는 p형 트랜지스터일 수 있고, 발광 트랜지스터(TR4)는 n형 트랜지스터일 수 있다.
유지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)에 연결되어 있는 제1 전극 및 제2 노드(N2)에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 제1 노드(N1)에는 데이터 전압(Vdat)이 전달되고, 유지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)의 전압을 유지하는 역할을 한다.
유기 발광 다이오드(OLED)는 제2 노드(N2)에 연결된 애노드 전극 및 제2 전원 전압(ELVSS)이 인가되는 캐소드 전극을 포함한다. 유기 발광 다이오드(OLED)는 화소 회로(10)로부터 공급되는 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다. 유기 발광 다이오드(OLED)는 기본색(primary color) 중 하나의 빛 또는 백색의 빛을 낼 수 있다. 기본색의 예로는 적색, 녹색, 청색의 삼원색을 들 수 있다. 기본색의 다른 예로 황색(yellow), 청록색(cyan), 자홍색(magenta) 등을 들 수 있다.
외부 보상시에 게이트 온 전압의 스캔 신호가 스캔 라인(SCLn)에 인가되고, 미리 정해진 레벨의 데이터 전압(Vdat)이 데이터 라인(DLm)에 인가되고, 게이트 온 전압의 발광 신호가 발광 라인(EMLn)에 인가된다. 미리 정해진 레벨의 데이터 전압(Vdat)이 구동 트랜지스터(TR1)의 게이트 전극에 인가되고, 구동 트랜지스터(TR1)를 통해 제1 전원 전압(ELVDD)으로부터 유기 발광 다이오드(OLED)로 전류가 흐른다. 이때, 게이트 온 전압의 센싱 신호가 센싱 신호 라인(SSLn)에 인가되어 유기 발광 다이오드(OLED)로 흐르는 전류가 센싱 트랜지스터(TR3)를 통해 보상 회로부(400)로 전달될 수 있다.
이하, 도 3 내지 10을 참조하여 복수의 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스의 편차를 보상하기 위한 구성 및 방법에 대하여 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 보상 회로부를 나타내는 블록도이다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 센싱 데이터 생성 회로를 나타내는 회로도이다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 인자 검출 영역을 나타낸다. 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 수신 라인에 대한 인자 검출 영역의 평균 제1 센싱 데이터를 나타내는 그래프이다. 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 수신 라인에 대한 인자 검출 영역의 평균 제2 센싱 데이터를 나타내는 그래프이다. 도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 수신 라인에 대한 교정 인자를 나타내는 그래프이다. 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 교정 데이터 유닛에 포함되는 룩업 테이블의 일 예를 나타낸다. 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 교정 연산부가 복수의 화소에 대한 보상값을 산출하는 방법을 나타내는 개념도이다.
도 3 및 4를 참조하면, 보상 회로부(400)는 센싱 데이터 생성부(410), 교정 데이터 유닛(420) 및 교정 연산부(430)를 포함한다.
센싱 데이터 생성부(410)는 복수의 수신 라인(RL1-RLm)을 통해 복수의 화소(PX)에 흐르는 전류(Ipx)를 수신하고, 제1 센싱 데이터(SD1) 및 제2 센싱 데이터(SD2)를 출력한다. 센싱 데이터 생성부(410)는 제1 센싱 데이터(SD1)를 교정 데이터 유닛(420) 및 교정 연산부(430)에 전달할 수 있다. 센싱 데이터 생성부(410)는 제2 센싱 데이터(SD2)를 교정 데이터 유닛(420)에 전달할 수 있다. 센싱 데이터 생성부(410)는 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 연결되어 있는 복수의 센싱 데이터 생성 회로를 포함할 수 있다.
도 4는 복수의 수신 라인(RL1-RLm) 중 어느 하나의 수신 라인(RL)에 연결되어 있는 센싱 데이터 생성 회로를 예시한다. 센싱 데이터 생성 회로는 수신 라인(RL)에 연결된 화소(PX)에 흐르는 전류(Ipx)를 수신한다. 수신 라인(RL)은 기생 커패시터(Cp)를 갖는다. 복수의 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시터(Cp)는 공정 오차에 의해 서로 다를 수 있다.
센싱 데이터 생성 회로는 복수의 스위치(SW1, SW2, SW3, SW4, SW5, SW6, SW7), 복수의 커패시터(C1, C2, C3), 연산 증폭기(OP) 및 아날로그-디지털 컨버터(ADC)를 포함할 수 있다.
연산 증폭기(OP)는 제1 입력단(+), 제2 입력단(-) 및 출력단을 포함한다. 제1 스위치(SW1)와 제2 스위치(SW2)는 수신 라인(RL)에 병렬로 연결된다.
제1 스위치(SW1)는 연산 증폭기(OP)를 거치지 않고 수신 라인(RL)의 전류(Ipx)를 아날로그-디지털 컨버터(ADC)로 전달한다. 제1 스위치(SW1)와 아날로그-디지털 컨버터(ADC) 사이에 제5 스위치(SW5)와 제6 스위치(SW6)가 연결되며, 수신 라인(RL)의 전류(Ipx)는 제1 스위치(SW1), 제5 스위치(SW5) 및 제6 스위치(SW6)를 통해 아날로그-디지털 컨버터(ADC)에 직접 전달될 수 있다. 연산 증폭기(OP)를 거치지 않고 전달되는 전류(Ipx)는 아날로그-디지털 컨버터(ADC)에 의해 제1 센싱 데이터(SD1)로 변환될 수 있다.
제2 스위치(SW2)는 연산 증폭기(OP)의 제2 입력단(-)에 수신 라인(RL)의 전류(Ipx)를 전달한다. 연산 증폭기(OP)의 제1 입력단(+)에는 기준 전압(VR)이 인가된다. 제3 스위치(SW3)는 연산 증폭기(OP)의 제2 입력단(-)과 출력단 사이에 연결된다. 제1 커패시터(C1)는 연산 증폭기(OP)의 제2 입력단(-)과 출력단 사이에 연결된다. 제4 스위치(SW4)는 연산 증폭기(OP)의 출력단과 제5 스위치(SW5) 사이에 연결된다. 연산 증폭기(OP)의 출력단으로 출력되는 전압이 아날로그-디지털 컨버터(ADC)에 의해 제2 센싱 데이터(SD2)로 변환될 수 있다.
제2 커패시터(C2)는 제5 스위치(SW5)와 제6 스위치(SW6) 사이에 연결되어 있는 제1 전극 및 접지에 연결되어 있는 제2 전극을 포함할 수 있다. 제3 커패시터(C3)는 제6 스위치(SW6)와 아날로그-디지털 컨버터(ADC) 사이에 연결되어 있는 제1 전극 및 접지에 연결되어 있는 제2 전극을 포함할 수 있다. 제7 스위치(SW7)는 제3 커패시터(C3)의 제1 전극과 접지 사이에 연결될 수 있다. 제2 커패시터(C2)와 제3 커패시터(C3)는 제1 스위치(SW1)를 통해 전달되는 전류(Ipx) 또는 연산 증폭기(OP)를 통해 출력되는 전압을 충전할 수 있다. 제6 스위치(SW6)는 제2 커패시터(C2)의 충전과 제3 커패시터(C3)의 충전을 시간적으로 분리하는 기능을 수행할 수 있다. 제7 스위치(SW7)는 제2 커패시터(C2) 또는 제3 커패시터(C3)에 충전된 전압을 방전하는 기능을 수행할 수 있다.
센싱 데이터 생성 회로에서 생성된 제1 센싱 데이터(SD1)는 교정 데이터 유닛(420) 및 교정 연산부(430)에 전달될 수 있다. 센싱 데이터 생성 회로에서 생성된 제2 센싱 데이터(SD2)는 교정 데이터 유닛(420)에 전달될 수 있다.
교정 데이터 유닛(420)은 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 연결되어 있는 복수의 센싱 데이터 생성 회로로부터 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 대한 복수의 제1 센싱 데이터(SD1)와 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 대한 복수의 제2 센싱 데이터(SD2)를 수신할 수 있다.
교정 연산부(430)는 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 연결되어 있는 복수의 센싱 데이터 생성 회로로부터 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 대한 복수의 제1 센싱 데이터(SD1)를 수신할 수 있다.
교정 데이터 유닛(420)은 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 대한 복수의 제1 센싱 데이터(SD1)와 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 대한 복수의 제2 센싱 데이터(SD2)를 이용하여 교정 인자(CP)를 생성할 수 있다. 교정 데이터 유닛(420)은 생성된 교정 인자(CP)를 저장하고 있을 수 있다. 교정 인자(CP)는 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 대응하는 복수의 라인 교정 인자(CP1-CPm)를 포함할 수 있다. 복수의 라인 교정 인자(CP1-CPm) 각각은 수학식 1에 의해 산출될 수 있다.
Figure pat00001
여기서, CPx는 x 번째 수신 라인(RLx)에 대응하는 라인 교정 인자이고, SD1x는 x 번째 수신 라인(RLx)에 대한 평균 제1 센싱 데이터이고, SD2x는 x 번째 수신 라인(RLx)에 대한 평균 제2 센싱 데이터이다. x는 1 이상이고 m 이하이다. m은 표시부(600)에 포함되는 수신 라인(RL1-RLm)의 개수에 대응할 수 있다.
평균 제1 센싱 데이터(SD1x)는 표시 영역 중에서 일부 영역에 대응하는 제1 센싱 데이터(SD1)를 평균하여 획득될 수 있다. 평균 제2 센싱 데이터(SD2x)는 상기 일부 영역에 대응하는 제2 센싱 데이터(SD2)를 평균하여 획득될 수 있다.
도 5에 예시한 바와 같이, 표시부(600)에서 일부 영역에 해당하는 인자 검출 영역(A)이 선정될 수 있다. 인자 검출 영역(A)은 복수의 스캔 라인(SCL1-SCLn) 중에서 하나 이상의 스캔 라인을 포함하는 영역일 수 있다. 인자 검출 영역(A)은 포함된 스캔 라인에 연결된 복수의 화소(PX)를 포함할 수 있다.
교정 데이터 유닛(420)은 인자 검출 영역(A)에 대응하는 제1 센싱 데이터(SD1)를 수신 라인(RL1-RLm) 별로 평균하여 평균 제1 센싱 데이터(SD1x)를 생성할 수 있다. 교정 데이터 유닛(420)은 인자 검출 영역(A)에 대응하는 제2 센싱 데이터(SD2)를 수신 라인(RL1-RLm) 별로 평균하여 평균 제2 센싱 데이터(SD2x)를 생성할 수 있다.
도 6에 예시한 바와 같이, 인자 검출 영역(A)의 평균 제1 센싱 데이터(SD1x)에는 수신 라인(RL1-RLm)에 따른 편차(DIFF)가 존재한다. 제1 센싱 데이터(SD1)는 연산 증폭기(OP)를 거치지 않고 생성되므로, 제1 센싱 데이터(SD1)의 출력 시간이 상대적으로 짧고 신호대잡음비(SNR)가 높다. 반면, 제1 센싱 데이터(SD1)에는 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스가 포함된다. 평균 제1 센싱 데이터(SD1x)에 존재하는 수신 라인(RL1-RLm)에 따른 편차(DIFF)는 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스의 편차에 의한 것일 수 있다.
도 7에 예시한 바와 같이, 인자 검출 영역(A)의 평균 제2 센싱 데이터(SD2x)는 수신 라인(RL1-RLm)에 따라 거의 일정한 값을 가질 수 있다. 제2 센싱 데이터(SD2)는 연산 증폭기(OP)를 통해 생성되므로, 제2 센싱 데이터(SD2)의 출력 시간이 상대적으로 길고 신호대잡음비(SNR)가 낮다. 반면, 제2 센싱 데이터(SD2)에는 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스가 포함되지 않는다.
도 8에 예시한 바와 같이, 수신 라인(RL1-RLm)에 대한 교정 인자(CP)가 생성될 수 있다. 교정 인자(CP)는 복수의 수신 라인(RL1-RLm) 각각에 대응하는 라인 교정 인자(CP1-CPm)를 포함할 수 있다.
교정 데이터 유닛(420)은 교정 인자(CP)를 교정 연산부(430)에 전달한다. 즉, 교정 데이터 유닛(420)은 복수의 수신 라인(RL1-RLm) 각각에 대응하는 라인 교정 인자(CP1-CPm)를 교정 연산부(430)에 전달한다.
도 9에 예시한 바와 같이, 복수의 수신 라인(RL1-RLm)에 대응하는 복수의 라인 교정 인자(CP1-CPm)는 룩업 테이블(LUT)로써 교정 데이터 유닛(420)에 저장될 수 있다. 교정 데이터 유닛(420)은 룩업 테이블(LUT)에 저장된 라인 교정 인자(CP1-CPm)를 교정 연산부(430)에 전달할 수 있다.
한편, 표시 장치의 제조 과정에서 교정 인자(CP)를 포함하는 룩업 테이블(LUT)이 교정 데이터 유닛(420)에 미리 저장될 수 있다. 이러한 경우, 표시 장치에서 센싱 데이터 생성부(410)는 아날로그-디지털 컨버터(ADC)만을 포함하여 제1 센싱 데이터(SD1)를 교정 연산부(430)에만 전달하고, 제2 센싱 데이터(SD2)를 생성하는 구성은 생략될 수 있다.
교정 연산부(430)는 제1 센싱 데이터(SD1) 및 교정 인자(CP)를 이용하여 표시부(600)에 포함되는 복수의 화소(PX) 각각에 대한 보상값(CV)을 생성한다.
도 10에 예시한 바와 같이, 교정 연산부(430)는 표시부(600)에 포함되는 복수의 화소(PX) 각각에 대한 제1 센싱 데이터(SD1)에 화소(PX)의 행 방향의 위치에 해당하는 교정 인자(CP)를 곱하여 복수의 화소(PX) 각각에 대한 보상값(CV)을 생성할 수 있다.
다시 말해, 보상값(CV)은 수학식 2에 의해 산출될 수 있다.
Figure pat00002
여기서, CVx,y는 x 번째 스캔 라인(SCLx)과 y 번째 데이터 라인(DLy)에 연결되어 있는 화소(PX)에 대한 보상값이고, SD1x,y는 x 번째 스캔 라인(SCLx)(또는 x 번째 수신 라인(RLx))과 y 번째 데이터 라인(DLy)에 연결되어 있는 화소(PX)에 대한 제1 센싱 데이터이고, CPx는 x 번째 수신 라인(RLx)에 대응하는 라인 교정 인자이다. x는 1 이상이고 m 이하이며, y는 1 이상이고 n 이하이다. m은 표시부(600)에 포함되는 수신 라인(RL1-RLm)의 개수에 대응하고, n은 표시부(600)에 포함되는 스캔 라인(SCL1-SCLn)의 개수에 대응할 수 있다.
복수의 화소(PX) 각각에 대한 제1 센싱 데이터(SD1)에 화소(PX)의 위치에 해당하는 교정 인자(CP)를 곱함으로써 제1 센싱 데이터(SD1)에 포함되어 있는 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스가 제거될 수 있다. 수신 라인(RL1-RLm) 간의 기생 커패시턴스의 편차는 수신 라인(RL1-RLm)에 의해 발생하므로, 화소(PX)의 열 방향의 위치에 상관없이 동일한 수신 라인(RL1-RLm)에 연결된 화소(PX)에는 동일한 교정 인자(CP)가 적용될 수 있다. 보상값(CV)은 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스의 편차가 제거된 센싱 데이터를 포함하게 된다.
출력 시간이 짧고 신호대잡음비가 높은 제1 센싱 데이터(SD1)에 교정 인자(CP)를 곱하여 보상값(CV)이 생성되므로 높은 신호대잡음비를 갖는 보상값(CV)이 생성될 수 있다. 이러한 보상값(CV)을 이용하여 외부 보상을 수행함으로써, 수신 라인(RL1-RLm)의 기생 커패시턴스의 편차에 의한 보상 오차가 발생하지 않게 되고 더욱 정확한 외부 보상이 수행될 수 있다.
앞서, 도 5에서는 표시부(600)에서 하나의 인자 검출 영역(A)이 선정되는 실시예에 대하여 설명하였다. 실시예에 따라, 표시부(600)에서 서로 분리되어 있는 복수의 영역이 인자 검출 영역(A)으로 선정될 수 있다. 이에 대하여 도 11을 참조하여 설명한다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 인자 검출 영역을 나타낸다.
도 11을 참조하면, 표시부(600)에서 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3)이 선정될 수 있다. 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3)은 열 방향으로 서로 이격되어 있을 수 있다. 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3) 각각은 하나 이상의 스캔 라인을 포함하는 영역일 수 있다. 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3) 각각은 포함된 스캔 라인에 연결된 복수의 화소(PX)를 포함할 수 있다.
교정 데이터 유닛(420)은 제1 인자 검출 영역(A1)에 대응하는 제1 센싱 데이터(SD1), 제2 인자 검출 영역(A2)에 대응하는 제1 센싱 데이터(SD1) 및 제3 인자 검출 영역(A3)에 대응하는 제1 센싱 데이터(SD1)를 수신한다. 교정 데이터 유닛(420)은 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3)에 대응하는 제1 센싱 데이터(SD1)를 수신 라인(RL1-RLm) 별로 평균하여 평균 제1 센싱 데이터(SD1x)를 생성할 수 있다. 또는, 교정 데이터 유닛(420)은 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3) 각각에서 평균 제1 센싱 데이터(SD1x)를 산출하고, 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3) 각각의 평균 제1 센싱 데이터(SD1x)를 메디안(median) 등의 필터링 처리하여 최종적으로 수신 라인(RL1-RLm) 별로 평균 제1 센싱 데이터(SD1x)를 생성할 수 있다.
그리고, 교정 데이터 유닛(420)은 제1 인자 검출 영역(A1)에 대응하는 제2 센싱 데이터(SD2), 제2 인자 검출 영역(A2)에 대응하는 제2 센싱 데이터(SD2) 및 제3 인자 검출 영역(A3)에 대응하는 제2 센싱 데이터(SD2)를 수신한다. 교정 데이터 유닛(420)은 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3)에 대응하는 제2 센싱 데이터(SD2)를 수신 라인(RL1-RLm) 별로 평균하여 평균 제2 센싱 데이터(SD2x)를 생성할 수 있다. 또는, 교정 데이터 유닛(420)은 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3) 각각에서 평균 제2 센싱 데이터(SD2x)를 산출하고, 복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3) 각각의 평균 제2 센싱 데이터(SD2x)를 메디안 등의 필터링 처리하여 최종적으로 수신 라인(RL1-RLm) 별로 평균 제2 센싱 데이터(SD2x)를 생성할 수 있다.
교정 데이터 유닛(420)은 생성된 평균 제1 센싱 데이터(SD1x) 및 평균 제2 센싱 데이터(SD2x)를 수학식 1에 적용하여 복수의 라인 교정 인자(CP1-CPm)를 포함하는 교정 인자(CP)를 산출할 수 있다.
복수의 인자 검출 영역(A1, A2, A3)에 대한 제1 센싱 데이터(SD1) 및 제2 센싱 데이터(SD2)를 이용함으로써 교정 인자(CP)의 정확성이 향상될 수 있다.
한편, 제1 센싱 데이터(SD1) 및 제2 센싱 데이터(SD2)에는 노이즈(noise)가 포함될 수 있다. 제1 센싱 데이터(SD1)와 제2 센싱 데이터(SD2)에 포함된 노이즈에 의해 교정 인자(CP)에도 노이즈가 포함될 수 있다. 교정 인자(CP)에 노이즈가 포함되면 교정 인자(CP)의 정확도가 낮아질 수 있다. 교정 인자(CP)의 정확도를 향상시키기 위해서는 노이즈를 제거할 필요가 있으며, 이에 대하여 도 12 및 13을 참조하여 설명한다.
도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 보상 회로부를 나타내는 블록도이다. 도 13은 도 12의 필터부에 의해 필터링되기 이전의 교정 인자를 나타내는 그래프이다.
도 12 및 13을 참조하면, 보상 회로부(400)는 필터부(440)를 더 포함할 수 있다. 필터부(440)는 교정 데이터 유닛(420)과 교정 연산부(430) 사이에 위치한다.
필터부(440)는 교정 데이터 유닛(420)으로부터 노이즈가 포함된 교정 인자(CP')를 수신한다. 노이즈가 포함된 교정 인자(CP')는 도 13의 예시와 같이 저주파와 고주파가 섞여는 형태로 생성될 수 있다.
필터부(440)는 저주파 통과 필터일 수 있으며, 노이즈가 포함된 교정 인자(CP')에서 고주파 성분을 제거할 수 있다. 고주파 성분이 제1 센싱 데이터(SD1) 및 제2 센싱 데이터(SD2)를 생성하는 과정에서 발생하는 노이즈에 해당한다. 노이즈가 제거된 교정 인자(CP)는 도 8에 예시한 바와 같이 저주파 성분만으로 이루어질 수 있다.
필터부(440)는 노이즈가 제거된 교정 인자(CP)를 교정 연산부(430)에 전달할 수 있다. 노이즈가 제거된 교정 인자(CP)가 도 9에서 예시한 바와 같이 룩업 테이블(LUT)로 생성될 수 있다.
이러한 차이점을 제외하고, 앞서 도 1 내지 도 11을 참조하여 설명한 실시예의 특징들은 도 12 및 13를 참조하여 설명한 실시예에 적용될 수 있으므로, 중복되는 특징들에 대한 설명은 생략한다.
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100: 신호 제어부 200: 게이트 구동부
300: 데이터 구동부 400: 보상 회로부
410: 센싱 데이터 생성부 420: 교정 데이터 유닛
430: 교정 연산부 440: 필터부
500: 발광 구동부 600: 표시부

Claims (20)

  1. 복수의 화소;
    행 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 스캔 라인;
    열 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 데이터 라인;
    상기 열 방향으로 연장되어 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 수신 라인; 및
    상기 복수의 수신 라인을 통해 상기 복수의 화소에 흐르는 전류를 수신하여 제1 센싱 데이터를 생성하고, 상기 제1 센싱 데이터에 상기 복수의 화소의 위치에 해당하는 교정 인자를 곱하여 상기 복수의 화소 각각에 포함된 구동 트랜지스터의 특성을 보상하는 보상값을 생성하는 보상 회로부를 포함하고,
    상기 교정 인자는 상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 복수의 라인 교정 인자에 포함되는 어느 하나의 라인 교정 인자는 x 번째 수신 라인에 대한 평균 제1 센싱 데이터에 대한 상기 x 번째 수신 라인에 대한 평균 제2 센싱 데이터의 비율을 포함하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 평균 제1 센싱 데이터는 상기 복수의 화소를 포함하는 표시부에서 일부 영역에 해당하는 인자 검출 영역에 대응하는 제1 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 생성되는 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 평균 제2 센싱 데이터는 상기 인자 검출 영역에 대응하는 제2 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 생성되는 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 보상 회로부는
    아날로그-디지털 컨버터; 및
    연산 증폭기를 포함하고,
    수신 라인에 흐르는 전류가 상기 아날로그-디지털 컨버터에 의해 상기 제1 센싱 데이터로 변환되고,
    수신 라인에 흐르는 전류가 상기 연산 증폭기 및 상기 아날로그-디지털 컨버터에 의해 상기 제2 센싱 데이터로 변환되는 표시 장치.
  6. 제4 항에 있어서,
    상기 인자 검출 영역은 상기 복수의 스캔 라인 중 하나 이상의 스캔 라인 및 상기 인자 검출 영역에 포함된 스캔 라인에 연결된 복수의 화소를 포함하는 표시 장치.
  7. 제4 항에 있어서,
    상기 인자 검출 영역은 상기 열 방향으로 서로 이격되어 있는 복수의 영역을 포함하는 표시 장치.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 보상 회로부는 상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 포함하는 룩업 테이블을 저장하고 있는 표시 장치.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 보상 회로부는 상기 교정 인자에 포함된 노이즈를 제거하는 필터부를 포함하는 표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 필터부는 저주파 통과 필터를 포함하는 표시 장치.
  11. 아날로그-디지털 컨버터 및 연산 증폭기를 포함하고, 복수의 화소에 연결된 복수의 수신 라인을 통해 상기 복수의 화소에 흐르는 전류를 수신하고, 상기 아날로그-디지털 컨버터로 상기 전류를 제1 센싱 데이터로 변환하고, 상기 연산 증폭기 및 상기 아날로그-디지털 컨버터로 상기 전류를 제2 센싱 데이터로 변환하는 센싱 데이터 생성부;
    상기 제1 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 평균 제1 센싱 데이터를 생성하고, 상기 제2 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 평균 제2 센싱 데이터를 생성하고, 상기 평균 제1 센싱 데이터에 대한 상기 평균 제2 센싱 데이터의 비율로 교정 인자를 산출하는 교정 데이터 유닛; 및
    상기 제1 센싱 데이터에 상기 복수의 화소의 위치에 해당하는 교정 인자를 곱하여 상기 복수의 화소 각각에 포함된 구동 트랜지스터의 특성을 보상하는 보상값을 생성하는 교정 연산부를 포함하는 표시 장치.
  12. 제11 항에 있어서,
    저주파 통과 필터를 이용하여 상기 교정 인자에 포함된 노이즈를 제거하는 필터부를 더 포함하는 표시 장치.
  13. 복수의 화소에 연결된 복수의 수신 라인을 통해 상기 복수의 화소에 흐르는 전류를 수신하는 단계;
    상기 전류가 아날로그-디지털 컨버터에 의해 제1 센싱 데이터로 변환되는 단계; 및
    상기 제1 센싱 데이터에 상기 복수의 화소의 위치에 해당하는 교정 인자를 곱하여 상기 복수의 화소 각각에 포함된 구동 트랜지스터의 특성을 보상하는 보상값을 생성하는 단계를 포함하고,
    상기 교정 인자는 상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 전류가 연산 증폭기 및 상기 아날로그-디지털 컨버터에 의해 제2 센싱 데이터로 변환되는 단계;
    상기 제1 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 평균 제1 센싱 데이터를 생성하는 단계;
    상기 제2 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 평균 제2 센싱 데이터를 생성하는 단계;
    상기 평균 제1 센싱 데이터에 대한 상기 평균 제2 센싱 데이터의 비율로 상기 교정 인자를 산출하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 복수의 수신 라인에 대응하는 복수의 라인 교정 인자를 룩업 테이블로 저장하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  16. 제14 항에 있어서,
    저주파 통과 필터를 이용하여 상기 교정 인자에 포함된 노이즈를 제거하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  17. 제14 항에 있어서,
    상기 평균 제1 센싱 데이터는 상기 복수의 화소를 포함하는 표시부에서 일부 영역에 해당하는 인자 검출 영역에 대응하는 제1 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 생성되는 표시 장치의 구동 방법.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 평균 제2 센싱 데이터는 상기 인자 검출 영역에 대응하는 제2 센싱 데이터를 수신 라인 별로 평균하여 생성되는 표시 장치의 구동 방법.
  19. 제18 항에 있어서,
    상기 인자 검출 영역은 상기 복수의 화소에 연결된 복수의 스캔 라인 중 하나 이상의 스캔 라인 및 상기 인자 검출 영역에 포함된 스캔 라인에 연결된 복수의 화소를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  20. 제18 항에 있어서,
    상기 인자 검출 영역은 열 방향으로 서로 이격되어 있는 복수의 영역을 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
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