KR20210015472A - 회로 이중화 시스템 및 방법 - Google Patents

회로 이중화 시스템 및 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20210015472A
KR20210015472A KR1020190094364A KR20190094364A KR20210015472A KR 20210015472 A KR20210015472 A KR 20210015472A KR 1020190094364 A KR1020190094364 A KR 1020190094364A KR 20190094364 A KR20190094364 A KR 20190094364A KR 20210015472 A KR20210015472 A KR 20210015472A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
circuit module
failure
circuit
unit
processing unit
Prior art date
Application number
KR1020190094364A
Other languages
English (en)
Inventor
최원석
김재현
조영기
황인서
김희수
Original Assignee
엘아이지넥스원 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘아이지넥스원 주식회사 filed Critical 엘아이지넥스원 주식회사
Priority to KR1020190094364A priority Critical patent/KR20210015472A/ko
Publication of KR20210015472A publication Critical patent/KR20210015472A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B9/00—Safety arrangements
    • G05B9/02—Safety arrangements electric
    • G05B9/03—Safety arrangements electric with multiple-channel loop, i.e. redundant control systems
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165—Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16566—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533
    • G01R19/16571—Circuits and arrangements for comparing voltage or current with one or several thresholds and for indicating the result not covered by subgroups G01R19/16504, G01R19/16528, G01R19/16533 comparing AC or DC current with one threshold, e.g. load current, over-current, surge current or fault current
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00—Programme-control systems
    • G05B19/02—Programme-control systems electric
    • G05B19/04—Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • G05B19/05—Programmable logic controllers, e.g. simulating logic interconnections of signals according to ladder diagrams or function charts
    • G05B19/058—Safety, monitoring
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/10—Plc systems
    • G05B2219/14—Plc safety
    • G05B2219/14015—Dual plc's, processors and dual I-O
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/10—Plc systems
    • G05B2219/14—Plc safety
    • G05B2219/14045—Parameter, over or under condition detection
    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
    • G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B2219/00—Program-control systems
    • G05B2219/10—Plc systems
    • G05B2219/14—Plc safety
    • G05B2219/14046—Current flow

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Hardware Redundancy (AREA)

Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템 및 방법이 개시된다. 회로 이중화 시스템은, 대상체를 작동시키기 위한 프로그램을 저장하고, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈; 프로그램을 저장하고, 제1 회로 모듈의 고장시에 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈; 및 제1 회로 모듈 및 제2 회로 모듈에 연결되고, 제1 회로 모듈의 고장을 감지하여 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈에 전원을 인가하는 고장 처리부를 포함할 수 있다.

Description

회로 이중화 시스템 및 방법{CIRCUIT REDUNDANCY SYSTEM AND METHOD}
본 발명은 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 비행체와 같은 대상체는 조종사의 조종력에 의하여 비행이 이루어지는 일반 비행체와 조종사의 조종력에 의존하지 않는 무인 비행체로 구분될 수 있다. 무인 비행체는 지상국, 항공, 선박 등의 이동국에서 보내는 무선 신호에 의해 제어될 수 있다.
높은 신뢰성을 요구하는 대상체는 작동 장치를 2중으로 구성하고 고장 진단을 수행하여 작동 장치 각각의 고장에 대한 고장 여유를 갖도록 설계되고 있다. 하드웨어적인 방법으로 작동 장치를 2중으로 구성하는 경우, 작동 장치 간의 작동 결과 측정값을 비교하여 고장에 대처할 수 있다.
한편, 대상체의 작동 장치는 프로그램을 저장하고 프로그램을 실행하여 대상체(즉, 작동 장치)를 작동시키는 회로 모듈을 포함하고 있다. 이 회로 모듈에 고장이 발생하는 경우 대상체를 정상적으로 작동시킬 수 없으므로, 회로 모듈을 2중으로 구성하는 것이 요구되고 있다.
본 발명은 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈의 고장 시에 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈에 전원을 인가하여 대상체를 예비 작동시키는 회로 이중화 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.
또한, 본 발명은 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈의 고장 시에 제1 회로 모듈의 작동과 연관된 파라미터 정보에 기초하여 제2 회로 모듈을 이용하여 대상체를 연속적으로 예비 작동시키는 회로 이중화 시스템 및 방법을 제공할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템이 개시된다. 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템은, 대상체를 작동시키기 위한 프로그램을 저장하고, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈; 프로그램을 저장하고, 제1 회로 모듈의 고장시에 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈; 및 제1 회로 모듈 및 제2 회로 모듈에 연결되고, 제1 회로 모듈의 고장을 감지하여 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈에 전원을 인가하는 고장 처리부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 고장 처리부는, 전원 공급부를 제1 회로 모듈 또는 제2 회로 모듈에 연결시키는 전원 릴레이부; 전원 릴레이부로부터 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 감지하고 감지 신호를 출력하는 전원 감지부; 및 전원 감지부로부터 출력되는 감지 신호에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고, 제1 회로 모듈의 고장에 대응하여 제2 회로 모듈을 작동시키기 위한 제어 신호를 출력하는 프로세서를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 전원 감지부는, 전원 릴레이부로부터 제1 회로 모듈에 인가되는 전원의 전류값을 감지하고, 전류값을 포함하는 감지 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 프로세서는, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교하고, 전류값이 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 제어 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 프로세서는, 제1 임계값보다 작으며 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교하고, 전류값이 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 제어 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제어 신호는, 전원 릴레이부를 제어하여 전원 공급부와 제1 회로 모듈의 연결을 해제하고 전원 공급부를 제2 회로 모듈에 연결시키기 위한 제1 제어 신호; 및 제2 회로 모듈을 제어하여 대상체를 예비 작동시키기 위한 제2 제어 신호를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 고장 처리부는 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 고장 발생 정보를 생성할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 고장 처리부는 고장 발생 정보를 표시하는 표시부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 프로세서는, 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단하고, 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 전원이 재공급되는 것으로 판단되면, 전원 릴레이부를 제어하여 전원 공급부를 제1 회로 모듈에 연결하기 위한 제3 제어 신호를 출력할 수 있고, 전원 릴레이부는 제3 제어 신호에 기초하여 전원 공급부를 제1 회로 모듈에 연결할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 프로그램을 저장하는 제1 회로 모듈, 프로그램을 저장하는 제2 회로 모듈 및 고장 처리부를 포함하는 회로 이중화 시스템에서의 회로 이중화 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 회로 이중화 방법은, 제1 회로 모듈에서, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 단계; 고장 처리부에서, 제1 회로 모듈에 인가되는 전원에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장을 감지하는 단계; 고장 처리부에서, 제1 회로 모듈의 고장에 따라 전원 공급부와 제1 회로 모듈의 연결을 해제시키고, 전원 공급부를 제2 회로 모듈에 연결하는 단계; 및 제2 회로 모듈에서, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈의 고장을 감지하는 단계는, 제1 회로 모듈에 인가되는 전원의 전류값을 감지하는 단계; 및 전류값에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 전류값에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계는, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 전류값을 비교하는 단계; 및 전류값이 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 제1 회로 모듈에 고장이 발생한 것으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 전류값에 기초하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계는, 제1 임계값보다 작으며 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 전류값을 비교하는 단계; 및 전류값이 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 제1 회로 모듈에 고장이 발생한 것으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 회로 이중화 방법은, 고장 처리부에서, 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 고장 발생 정보를 생성하는 단계; 및 고장 처리부에서, 고장 발생 정보를 표시부에 표시하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 회로 이중화 방법은, 고장 처리부에서, 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단하는 단계; 고장 처리부에서, 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 전원이 재공급되는 것으로 판단되면, 전원 공급부와 제2 회로 모듈의 연결을 해제하는 단계; 및 고장 처리부에서, 전원 공급부를 제1 회로 모듈에 연결하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템이 개시된다. 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템은, 프로그램을 저장하고, 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈; 제1 회로 모듈에 연결되고, 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 저장하고, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 제1 고장 처리부; 제1 고장 처리부에 연결되고, 신호에 기초하여 제1 고장 처리부로부터 파라미터 정보를 추출하는 제2 고장 처리부; 및 제2 고장 처리부에 연결되고, 프로그램을 저장하고, 추출된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈을 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 고장 처리부는, 파라미터 정보를 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 저장하는 제1 저장부; 사전 설정된 제1 시간마다 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하고, 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하여 신호를 생성하고, 신호를 제2 고장 처리부로 출력하는 제1 프로세서; 및 제1 저장부를 제1 프로세서 또는 제2 고장 처리부에 연결하는 릴레이부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 저장부는 FRAM(ferroelectrics random access memory)을 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 프로세서는 릴레이부, 제1 회로 모듈 및 제1 저장부와 SPI(serial peripheral interface) 통신을 수행할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 프로세서는, 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고, 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호를 생성할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 프로세서는, 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고, 제1 회로 모듈이 고장인 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호를 생성할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 고장 처리부는, 릴레이부 및 제1 프로세서에 연결되고, 신호에 기초하여 릴레이부를 통해 연결되는 제1 저장부로부터 파라미터 정보를 추출하는 제2 프로세서; 및 추출된 파라미터 정보를 저장하는 제2 저장부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 프로세서는, 제1 프로세서로부터 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호가 수신되는지 판단하고, 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면 릴레이부와 제1 프로세서 간의 연결을 해제하고 릴레이부를 제2 프로세서에 연결시키기 위한 제어 신호를 릴레이부에 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 프로세서는, 제1 프로세서로부터 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호가 수신되는지 판단하고, 신호가 수신된 것으로 판단되면 릴레이부와 제1 프로세서 간의 연결을 해제하고 릴레이부를 제2 프로세서에 연결시키기 위한 제어 신호를 릴레이부에 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 프로세서는, 제1 저장부에 저장된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보를 추출할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 프로세서는, 릴레이부 및 제2 저장부와 SPI 통신을 수행할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 저장부는 FRAM을 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템에서의 회로 이중화 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 회로 이중화 방법은, 제1 회로 모듈에서, 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 단계; 제1 고장 처리부에서, 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하는 단계; 제1 고장 처리부에서, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 단계; 제2 고장 처리부에서, 신호에 기초하여 제1 고장 처리부로부터 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계; 및 제2 회로 모듈에서, 제2 저장부에 저장된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하는 단계는, 파라미터 정보를 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 제1 저장부에 저장하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 단계는, 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계; 고장 여부의 판단에 기초하여 신호를 생성하는 단계; 및 신호를 제2 고장 처리부로 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 저장부는 FRAM을 포함하는 회로 이중화 방법.
일 실시예에 있어서, 고장 여부의 판단에 기초하여 신호를 생성하는 단계는, 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 고장 여부의 판단에 기초하여 신호를 생성하는 단계는, 제1 회로 모듈이 고장인 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 신호에 기초하여 제1 고장 처리부로부터 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계는, 제1 고장 처리부로부터 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호가 수신되는지 판단하는 단계; 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면 제1 저장부에 연결하는 단계; 제1 저장부로부터 파라미터 정보를 추출하는 단계; 및 추출된 파라미터 정보를 제2 저장부에 저장하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 신호에 기초하여 제1 고장 처리부로부터 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계는, 제1 고장 처리부로부터 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호가 수신되는지 판단하는 단계; 신호가 수신된 것으로 판단되면 제1 저장부에 연결하는 단계; 제1 저장부로부터 파라미터 정보를 추출하는 단계; 및 추출된 파라미터 정보를 제2 저장부에 저장하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 저장부는 FRAM을 포함할 수 있다.
본 발명의 다양한 실시예에 의하면, 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈에 고장이 발생하여도, 제1 회로 모듈의 고장을 감지하여 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈에 전원을 인가하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 따라서, 대상체를 작동시키는데 필요한 전원의 소비가 최소화되면서 대상체가 안정적으로 작동될 수 있다.
또한, 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈에 고장이 발생하여도, 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 생성된 파라미터 정보에 기초하여 제2 회로 모듈을 이용하여 대상체를 연속적으로 예비 작동시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 고장 처리부의 구성을 개략적으로 나타낸 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예예에 따라 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하여 제2 회로 모듈을 예비 작동시키는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 경우 전원이 인가되는 예를 나타낸 예시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 회로 모듈이 고장인 경우 전원이 인가되는 예를 나타낸 예시도이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 회로 이중화 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 흐름도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 제1 고장 처리부 및 제2 고장 처리부의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따라 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 제1 저장부에 파라미터 정보를 저장하는 예를 나타낸 예시도이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시시예에 따른 제2 저장부에 파라미터 정보를 저장하는 예를 나타낸 예시도이다.
본 발명의 실시예들은 본 발명의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 발명에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.
본 발명에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 발명에 사용되는 모든 용어들은 본 발명을 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 발명에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.
본 발명에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.
본 발명에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.
본 발명에서 사용되는 "제1", "제2" 등의 표현들은 복수의 구성요소들을 상호 구분하기 위해 사용되며, 해당 구성요소들의 순서 또는 중요도를 한정하는 것은 아니다.
본 발명에서 사용되는 용어 "부"는, 소프트웨어, 또는 FPGA(field-programmable gate array), ASIC(application specific integrated circuit)과 같은 하드웨어 구성요소를 의미한다. 그러나, "부"는 하드웨어 및 소프트웨어에 한정되는 것은 아니다. "부"는 어드레싱할 수 있는 저장 매체에 있도록 구성될 수도 있고, 하나 또는 그 이상의 프로세서들을 재생시키도록 구성될 수도 있다. 따라서, 일 례로서, "부"는 소프트웨어 구성요소들, 객체지향 소프트웨어 구성요소들, 클래스 구성요소들 및 태스크 구성요소들과 같은 구성요소들과, 프로세스, 함수, 속성, 프로시저, 서브루틴, 프로그램 코드의 세그먼트, 드라이버, 펌웨어, 마이크로코드, 회로, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조, 테이블, 어레이 및 변수를 포함한다. 구성요소와 "부" 내에서 제공되는 기능은 더 작은 수의 구성요소 및 "부"로 결합되거나 추가적인 구성요소와 "부"로 분리될 수 있다.
본 발명에서 사용되는 "~에 기초하여"라는 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 기술되는, 결정 판단의 행위 또는 동작에 영향을 주는 하나 이상의 인자를 기술하는데 사용되며, 이 표현은 결정, 판단의 행위 또는 동작에 영향을 주는 추가적인 인자를 배제하지 않는다.
본 발명에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 경우, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 직접적으로 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로, 또는 새로운 다른 구성요소를 매개로 하여 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로 이해되어야 한다.
본 발명에서 사용되는 용어 "대상체"는 프로그램을 실행하여 작동하는 장치로서, 회로 이중화가 필요한 장치를 의미한다. 예를 들면, 대상체는 항공기, 우주선, 자동차, 선박, 미사일, 발전소 등을 포함할 수 있다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명한다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나, 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 회로 이중화 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 도 1을 참조하면, 회로 이중화 시스템(100)은 제1 회로 모듈(110), 제2 회로 모듈(120) 및 고장 처리부(130)를 포함할 수 있다. 또한, 회로 이중화 시스템(100)은 모체 기판(140) 및 전원 공급부(150)를 더 포함할 수 있다.
제1 회로 모듈(110)은 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(110)은 도 1에 도시된 바와 같이, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하는 DC-DC 컨버터(111), 및 프로그램을 저장하고 DC-DC 컨버터(111)로부터 출력되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 주 회로부(112)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 주 회로부(112)는 FPGA(field programmable gate array), ASIC(application specific integrated circuit), CPU 등을 포함할 수 있다.
제2 회로 모듈(120)은 제1 회로 모듈(110)의 고장 시에 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 회로 모듈(120)은 도 1에 도시된 바와 같이, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하는 DC-DC 컨버터(121), 및 프로그램을 저장하고 DC-DC 컨버터(121)로부터 출력되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 예비 회로부(122)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 예비 회로부(122)는 FPGA, ASIC, CPU 등을 포함할 수 있다.
고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110) 및 제2 회로 모듈(120)에 연결될 수 있다. 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)의 고장을 감지하여 제1 회로 모듈(110)에 안가되는 전원을 차단하고 제2 회로 모듈(120)에 전원을 인가할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원을 감지하여 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단할 수 있다.
모체 기판(140)은 제1 회로 모듈(110), 제2 회로 모듈(120) 및 고장 처리부(130)가 결합될 수 있다. 일 실시예에 있어서, 모체 기판(140)은 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원을 제1 회로 모듈(110), 제2 회로 모듈(120) 및 고장 처리부(130)에 인가할 수 있다.
전원 공급부(150)는 대상체를 구성하는 모든 하드웨어 모듈에 전원을 공급할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 전원 공급부(150)는 모체 기판(140)을 통해 제1 회로 모듈(110), 제2 회로 모듈(120) 및 고장 처리부(130)에 소정의 전압을 갖는 전원을 인가할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 고장 처리부의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 도 2를 참조하면, 고장 처리부(130)는 전원 릴레이부(210), 전원 감지부(220) 및 프로세서(230)를 포함할 수 있다. 또한, 고장 처리부(130)는 표시하는 표시부(240) 및 DC-DC 컨버터(250)를 더 포함할 수 있다.
전원 릴레이부(210)는 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110) 또는 제2 회로 모듈(120)에 연결시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 전원 릴레이부(210)는 프로세서(230)로부터 출력되는 제어 신호에 기초하여, 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110) 또는 제2 회로 모듈(120)에 연결시킬 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는 경우, 전원 릴레이부(210)는 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110)에 연결시킬 수 있다. 따라서, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원은 전원 릴레이부(210)를 통해 제1 회로 모듈(110)에 인가될 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(110)에 고장이 발생한 경우, 전원 릴레이부(210)는 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결시킬 수 있다. 따라서, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원은 전원 릴레이부(210)를 통해 제2 회로 모듈(120)에 인가될 수 있다.
일부 실시예에 있어서, 고장이 발생한 제1 회로 모듈(110)이 새로운 제1 회로 모듈(110)로 교체(수리)되고 전원 공급부(150)가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 전원이 재공급되는 경우, 전원 릴레이부(210)는 전원 공급부(150)와 제2 회로 모듈(120)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110)에 다시 연결할 수 있다.
전원 감지부(220)는 전원 릴레이부(210)로부터 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원을 감지하고, 감지 신호를 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 전원 감지부(220)는 전원 릴레이부(210)로부터 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원의 전류값을 감지하고, 전류값을 포함하는 감지 신호를 출력할 수 있다.
프로세서(230)는 전원 릴레이부(210) 및 전원 감지부(220)에 연결될 수 있다. 프로세서(230)는 전원 감지부(220)로부터 출력되는 감지 신호에 기초하여 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하고, 제1 회로 모듈(110)의 고장에 대응하여 제2 회로 모듈(120)을 동작시키기 위한 제어 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교할 수 있다. 예를 들면, 제1 임계값은 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는데 필요한 전류값보다 높은 전류값(즉, 고전류값)을 판단하기 위한 임계값일 수 있다. 프로세서(230)는 전류값이 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 제어 신호를 전원 릴레이부(210) 및 제2 회로 모듈(120)로 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교할 수 있다. 제2 임계값은 제1 임계값보다 작으며 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는데 필요한 전류값보다 낮은 전류값(즉, 저전류값)을 판단하기 위한 임계값일 수 있다. 프로세서(230)는 전류값이 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 전원 릴레이부(210) 및 제2 회로 모듈(120)로 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제어 신호는, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결시키기 위한 제1 제어 신호, 및 제2 회로 모듈(120)을 제어하여 대상체를 예비 작동시키기 위한 제2 제어 신호를 포함할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 프로세서(230)는 전원 감지부(220)로부터 출력되는 감지 신호에 기초하여 제1 회로 모듈(110)에 고장이 발생하였음을 나타내는 정보(이하, "고장 발생 정보"라 함)를 생성하고, 생성된 고장 발생 정보를 표시부(240)로 출력할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 프로세서(230)는 전원 공급부(150)가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단할 수 있다. 예를 들면, 고장이 발생한 제1 회로 모듈(110)을 교체(수리)하기 위해, 전원 공급부(150)가 턴 온 상태에서 턴 오프 상태로 전환되고, 고장이 발생한 제1 회로 모듈(110)이 새로운 제1 회로 모듈로 교체(수리)된 후, 전원 공급부(150)가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되면, 프로세서(230)는 전원 공급부(150)가 턴 온 상태로 전환되어 전원이 재공급되는 것을 판단할 수 있다. 프로세서(230)는 전원 공급부(150)가 턴 온 상태로 전환된 것으로 판단되면, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110)에 연결하기 위한 제어 신호(이하, "제3 제어 신호"라 함)를 출력할 수 있다. 따라서, 전원 릴레이부(210)는 프로세서(230)로부터 출력되는 제3 제어 신호에 기초하여 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈에 연결할 수 있다. 예를 들면, 전원 릴레이부(210)는 제3 제어 신호에 기초하여, 전원 공급부(150)와 제2 회로 모듈(120)의 연결을 해제하고 전원 공급부(150)를 제1 회로 모듈(110)에 연결할 수 있다.
표시부(240)는 프로세서(230)에 연결될 수 있다. 표시부(240)는 프로세서(230)로부터 출력되는 고장 발생 정보를 표시할 수 있다. 따라서, 대상체를 관리하는 관리자는 표시부(240)에 표시된 고장 발생 정보에 기초하여 제1 회로 모듈(110)의 고장 발생을 확인하고, 고장이 발생한 제1 회로 모듈(110)을 교체(수리)할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 표시부(240)는 LED(light emitting diode), LED 디스플레이, LCD(liquid crystal display) 등을 포함할 수 있다.
DC-DC 컨버터(250)는 전원 공급부(150)로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환할 수 있다. DC-DC 컨버터(250)는 변환된 전원을 고장 처리부(130)의 전원 릴레이부(210), 전원 감지부(220), 프로세서(230) 및 표시부(240)에 인가할 수 있다.
본 발명에 도시된 흐름도에서 프로세스 단계들, 방법 단계들, 알고리즘들 등이 순차적인 순서로 설명되었지만, 그러한 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들은 임의의 적합한 순서로 작동되도록 구성될 수 있다. 다시 말하면, 본 발명의 다양한 실시예들에서 설명되는 프로세스들, 방법들 및 알고리즘들의 단계들이 본 발명에서 기술된 순서로 수행될 필요는 없다. 또한, 일부 단계들이 비동시적으로 수행되는 것으로서 설명되더라도, 다른 실시예에서는 이러한 일부 단계들이 동시에 수행될 수 있다. 또한, 도면에서의 묘사에 의한 프로세스의 예시는 예시된 프로세스가 그에 대한 다른 변화들 및 수정들을 제외하는 것을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스 또는 그의 단계들 중 임의의 것이 본 개시의 다양한 실시예들 중 하나 이상에 필수적임을 의미하지 않으며, 예시된 프로세스가 바람직하다는 것을 의미하지 않는다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 3을 참조하면, 단계 S302에서, 제1 회로 모듈(110)은 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(110)의 DC-DC 컨버터(111)는 전원 공급부(150)로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하고, 제1 회로 모듈(110)의 주 회로부(112)는 DC-DC 컨버터(111)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다.
단계 S304에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원에 기초하여 제1 회로 모듈(110)의 고장을 감지할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 전원 감지부(220)는 전원 릴레이부(210)로부터 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원을 감지하고 감지 신호를 출력할 수 있다. 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 전원 감지부(220)로부터 출력되는 감지 신호에 기초하여 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단할 수 있다.
단계 S306에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)의 고장에 따라 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)에 고장이 발생한 것으로 판단되면, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제시키고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결시킬 수 있다.
단계 S308에서, 제2 회로 모듈(120)은 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 회로 모듈(120)은 고장 처리부(130)로부터 출력되는 제어 신호(예를 들어, 제2 제어 신호)에 기초하여, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예예에 따라 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하여 제2 회로 모듈을 예비 작동시키는 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 4를 참조하면, 단계 S402에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원을 감지하고 감지 신호를 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 전원 감지부(220)는 전원 릴레이부(210)로부터 제1 회로 모듈(110)에 인가되는 전원의 전류값을 감지하고, 감지된 전류값을 포함하는 감지 신호를 프로세서(230)로 출력할 수 있다.
단계 S404에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 사전 설정된 제1 임계값과 전류값을 비교할 수 있다. 예를 들면, 제1 임계값은 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는데 필요한 전류값보다 높은 전류값(즉, 고전류값)을 판단하기 위한 임계값일 수 있다.
단계 S406에서, 고장 처리부(130)는 전류값이 제1 임계값 이상인지 여부를 판단할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 고장 처리부(130)는 전류값이 제1 임계값 이상인지 여부를 판단할 수 있다.
단계 S406에서 전류값이 제1 임계값 이상이 아닌 것으로 판단, 즉 전류값이 제1 임계값 미만으로 판단되면, 단계 S408에서, 고장 처리부(130)는 제1 회로 모듈(110)의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 감지 신호에 포함된 전류값을 비교할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 전류값과 제2 임계값을 비교할 수 있다. 예를 들면, 제2 임계값은 제1 임계값보다 작으며 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는데 필요한 전류값보다 낮은 전류값(즉, 저전류값)을 판단하기 위한 임계값일 수 있다.
단계 S410에서, 고장 처리부(130)는 전류값이 제2 임계값 이하인지 여부를 판단할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 전류값이 제2 임계값 이하인지 여부를 판단할 수 있다.
단계 S410에서 전류값이 제2 임계값 이하가 아닌 것으로 판단, 즉 전류값이 제2 임계값을 초과하는 것으로 판단되면, 단계 S402 내지 S410이 다시 수행될 수 있다. 즉, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)이 정상적으로 작동하는 것으로 판단하고, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 릴레이부(210)를 제1 회로 모듈(110)에 계속 연결시킨다. 따라서, 도 5에 도시된 바와 같이, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원(굵은 실선 표시)은 전원 릴레이부(210)를 통해 제1 회로 모듈(110)에 인가될 수 있다.
한편, 단계 S406에서 전류값이 제1 임계값 이상인 것으로 판단되거나, 단계 S410에서 전류값이 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면, 단계 S412에서, 고장 처리부(130)는 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(130)의 프로세서(230)는 제1 회로 모듈(110)에 고장이 발생한 것으로 판단하여, 전원 릴레이부(210)를 제어하여 전원 공급부(150)와 제1 회로 모듈(110)의 연결을 해제하고, 전원 공급부(150)를 제2 회로 모듈(120)에 연결할 수 있다. 따라서, 도 6에 도시된 바와 같이, 전원 공급부(150)로부터 인가되는 전원(굵은 실선 표시)은 전원 릴레이부(210)를 통해 제2 회로 모듈(120)에 인가될 수 있다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 회로 이중화 시스템의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 도 7을 참조하면, 회로 이중화 시스템(700)은 제1 회로 모듈(710), 제1 고장 처리부(720), 제2 고장 처리부(730) 및 제2 회로 모듈(740)을 포함할 수 있다. 또한, 회로 이중화 시스템(700)은 모체 기판(750) 및 전원 공급부(도시하지 않음)를 더 포함할 수 있다.
제1 회로 모듈(710)은 프로그램을 저장하고, 저장된 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 회로 모듈(710)은 전원 공급부로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하는 DC-DC 컨버터(도시하지 않음), 및 프로그램을 저장하고 DC-DC 컨버터로부터 출력되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 주 회로부(도시하지 않음)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 주 회로부는 FPGA, ASIC, CPU 등을 포함할 수 있다.
제1 고장 처리부(720)는 제1 회로 모듈(710)에 연결될 수 있다. 제1 고장 처리부(720)는 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하고, 생성된 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 파라미터 정보는 대상체의 작동에 필요한 연속적인 데이터를 나타내며, 예를 들면 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있지만, 반드시 이에 한정되지 않는다. 또한, 제1 고장 처리부(720)는 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 감지하여 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력할 수 있다.
제2 고장 처리부(730)는 제1 고장 처리부(720)에 연결될 수 있다. 제2 고장 처리부(730)는 제1 고장 처리부(720)로부터 신호를 수신하고, 수신된 신호에 기초하여 제1 고장 처리부(720)로부터 파라미터 정보를 추출할 수 있다. 또한, 제2 고장 처리부(730)는 수신된 신호에 기초하여 제2 회로 모듈(740)을 제어할 수 있다.
제2 회로 모듈(740)은 제2 고장 처리부(730)에 연결될 수 있다. 제2 회로 모듈(740)은 프로그램을 저장하고, 제2 고장 처리부(730)에 의해 추출된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 회로 모듈(740)은 전원 공급부로부터 인가되는 소정 전압의 전원을 다른 전압의 전원으로 변환하는 DC-DC 컨버터(도시하지 않음), 및 프로그램을 저장하고 DC-DC 컨버터로부터 출력되는 전원에 의해 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 예비 회로부(도시하지 않음)를 포함할 수 있다. 예를 들면, 예비 회로부는 FPGA, ASIC, CPU 등을 포함할 수 있다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 제1 고장 처리부(720) 및 제2 고장 처리부(730)의 구성을 개략적으로 나타낸 블록도이다. 도 8을 참조하면, 제1 고장 처리부(720)는 제1 저장부(810), 제1 프로세서(820) 및 릴레이부(830)를 포함할 수 있다. 또한, 제2 고장 처리부(730)는 제2 프로세서(840) 및 제2 저장부(850)를 포함할 수 있다.
제1 저장부(810)는 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 저장부(810)는 제1 프로세서(820)에 의해 파라미터 정보가 생성되는 시간에 매핑하여 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 예를 들면, 제1 저장부(810)는 도 8에 도시된 바와 같이 시간(Ti(1≤i))별로 파라미터 정보(PIj(1≤j))를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 저장부(810)는 FRAM(ferroelectrics random access memory)을 포함할 수 있다. 그러나, 제1 저장부(810)는 파라미터 정보를 안정적으로 저장할 수 있는 매체라면 어떠한 매체라도 무방하다.
제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710) 및 릴레이부(830)에 연결될 수 있다. 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제1 시간마다 파라미터 정보를 생성하고, 릴레이부(830)를 통해 파라미터 정보를 제1 저장부(810)에 저장할 수 있다. 또한, 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 판단하여 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 나타내는 신호를 생성하며, 생성된 신호를 제2 고장 처리부(730)로 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 신호는 펄스 형태의 신호일 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710), 제1 저장부(810) 및 릴레이부(830)와 SPI(serial peripheral interface) 통신을 수행할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호를 생성할 수 있다. 생성된 신호는 제2 고장 처리부(730)(즉, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840))로 출력될 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 판단할 수 있다. 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호를 생성할 수 있다. 생성된 신호는 제2 고장 처리부(730)(즉, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840))로 출력될 수 있다.
릴레이부(830)는 제1 저장부(810)를 제1 프로세서(820) 또는 제2 고장 처리부(730)에 연결시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 릴레이부(830)는 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 동작하는 경우 제1 저장부(810)를 제1 프로세서(820)에 연결시킬 수 있다. 또한, 릴레이부(830)는 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 경우 제1 저장부(810)와 제1 프로세서(820)의 연결을 해제하고, 제1 저장부(810)를 제2 고장 처리부(730)(즉, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840))에 연결시킬 수 있다.
제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820) 및 릴레이부(830)에 연결될 수 있다. 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 나타내는 신호를 수신하고, 수신된 신호에 기초하여 릴레이부(830)를 통해 제1 저장부(810)로부터 파라미터 정보를 추출할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호가 수신되는지 여부를 판단할 수 있다. 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 것으로 결정하고, 릴레이부(830)를 제어하기 위한 제어 신호를 릴레이부(830)에 출력할 수 있다. 예를 들면, 제어 신호는 릴레이부(830)와 제1 프로세서(820)의 연결을 해제하고 릴레이부(830)를 제2 프로세서(840)에 연결시키기 위한 제어 신호일 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호가 수신되는지 여부를 판단할 수 있다. 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 신호가 수신된 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 것으로 결정하고, 릴레이부(830)를 제어하기 위한 제어 신호를 릴레이부(830)에 출력할 수 있다. 예를 들면, 제어 신호는 릴레이부(830)와 제1 프로세서(820)의 연결을 해제하고 릴레이부(830)를 제2 프로세서(840)에 연결시키기 위한 제어 신호일 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 릴레이부(830)를 통해 연결된 제1 저장부(810)를 조회하여 제1 저장부(810)에 저장된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보(즉, 가장 최근에 생성된 파라미터 정보)를 추출할 수 있다.
일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 릴레이부(830) 및 제2 저장부(850)와 SPI 통신을 수행할 수 있다.
제2 저장부(850)는 제2 프로세서(840)에 의해 추출된 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 저장부(850)는 제1 프로세서(820)에 의해 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 저장부(850)는 FRAM을 포함할 수 있다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따라 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 방법을 나타낸 흐름도이다. 도 9를 참조하면, 단계 S902에서, 제1 회로 모듈(710)은 저장된 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시킬 수 있다.
단계 S904에서, 제1 고장 처리부(720)는 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 고장 처리부(720)의 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제1 시간마다 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성할 수 있다. 예를 들면, 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
단계 S906에서, 제1 고장 처리부(720)는 생성된 파라미터 정보를 저장할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 고장 처리부(720)의 제1 프로세서(820)는 도 10에 도시된 바와 같이, 파라미터 정보가 생성된 시간(Ti(1≤i))별로 파라미터 정보(PIj(1≤j))를 제1 저장부(810)에 저장할 수 있다.
단계 S908에서, 제1 고장 처리부(720)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 감지할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 고장 처리부(720)의 제1 프로세서(820)는 사전 설정된 제2 시간마다 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 판단할 수 있다.
단계 S910에서, 제1 고장 처리부(720)는 고장 여부의 판단에 기초하여 제1 회로 모듈(710)의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 고장 처리부(720)의 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호를 생성하고, 생성된 신호를 제2 고장부(730)(즉, 제2 고장부(730)의 제2 프로세서(840))로 출력할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제1 프로세서(820)는 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생한 것으로 판단되면, 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호를 생성하고, 생성된 신호를 제2 고장 처리부(730)(즉, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840))로 출력될 수 있다.
단계 S912에서, 제2 고장 처리부(730)는 제1 고장 처리부(720)로부터 출력되는 신호에 기초하여 제1 고장 처리부(720)로부터 파라미터를 추출할 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 고장 처리부(730)의 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 신호가 수신되는지 여부를 판단하고, 제1 프로세서(820)로부터 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면, 릴레이부(830)를 제어하기 위한 제어 신호를 릴레이부(830)에 출력할 수 있다. 또한, 제2 프로세서(840)는 릴레이부(830)를 통해 연결되는 제1 저장부(810)를 조회하여 제1 저장부(810)에 저장된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보(즉, 가장 최근에 생성된 파라미터 정보)를 추출할 수 있다. 예를 들면, 제2 프로세서(840)는 도 11에 도시된 바와 같이, 제1 저장부(810)에 저장된 파라미터 정보(PI1 내지 PI7) 중 가장 최근(T4)에 저장된 파라미터 정보(PI6 및 PI7)를 추출할 수 있다. 추출된 파라미터 정보(PI6 및 PI7)는 파라미터 정보가 생성된 시간(T4)에 매핑하여 제2 저장부(850)에 저장될 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 프로세서(840)는 제1 프로세서(820)로부터 제1 회로 모듈(710)에 고장이 발생하였음을 나타내는 신호가 수신되는지 여부를 판단하고, 제1 프로세서(820)로부터 신호가 수신된 것으로 판단되면, 릴레이부(830)를 제어하기 위한 제어 신호를 릴레이부(830)에 출력할 수 있다. 또한, 제2 프로세서(840)는 릴레이부(830)를 통해 연결되는 제1 저장부(810)를 조회하여 제1 저장부(810)에 저장된 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보(즉, 가장 최근에 생성된 파라미터 정보)를 추출할 수 있다.
단계 S914에서, 제2 회로 모듈(740)은 제2 고장 처리부(730)에 의해 추출된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 회로 모듈(740)은 제2 고장 처리부(730)의 제2 저장부(850)에 저장된 파라미터 정보에 기초하여 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시킬 수 있다.
위 방법은 특정 실시예들을 통하여 설명되었지만, 위 방법은 또한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터 시스템에 의해 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광데이터 저장장치 등이 있다. 또한, 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다. 그리고, 위 실시예들을 구현하기 위한 기능적인(functional) 프로그램, 코드 및 코드 세그먼트들은 본 발명이 속하는 기술분야의 프로그래머들에 의해 용이하게 추론될 수 있다.
이상 일부 실시예들과 첨부된 도면에 도시된 예에 의해 본 발명의 기술적 사상이 설명되었지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이해할 수 있는 본 발명의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 이루어질 수 있다는 점을 알아야 할 것이다. 또한, 그러한 치환, 변형 및 변경은 첨부된 청구범위 내에 속하는 것으로 생각되어야 한다.
100: 회로 이중화 시스템 110: 제1 회로 모듈
111: DC-DC 컨버터 112: 주 회로부
120: 제2 회로 모듈 121: DC-DC 컨버터
122: 예비 회로부 130: 고장 처리부
140: 모체 기판 150: 전원 공급부
210: 전원 릴레이부 220: 전원 감지부
230: 프로세서 240: 표시부
250: DC-DC 컨버터 700: 회로 이중화 시스템
710: 제1 회로 모듈 720: 제1 고장 처리부
730: 제2 고장 처리부 740: 제2 회로 모듈
750: 모체 기판 810: 제1 저장부
820: 제1 프로세서 830: 릴레이부
840: 제2 프로세서 850: 제2 저장부

Claims (38)

  1. 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템으로서,
    상기 대상체를 작동시키기 위한 프로그램을 저장하고, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 상기 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈;
    상기 프로그램을 저장하고, 상기 제1 회로 모듈의 고장시에 상기 전원 공급부로부터 인가되는 상기 전원에 의해 상기 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈; 및
    상기 제1 회로 모듈 및 상기 제2 회로 모듈에 연결되고, 상기 제1 회로 모듈의 고장을 감지하여 상기 제1 회로 모듈에 인가되는 전원을 차단하고 상기 제2 회로 모듈에 상기 전원을 인가하는 고장 처리부
    를 포함하는 회로 이중화 시스템.
  2. 제1항에 있어서, 상기 고장 처리부는,
    상기 전원 공급부를 상기 제1 회로 모듈 또는 상기 제2 회로 모듈에 연결시키는 전원 릴레이부;
    상기 전원 릴레이부로부터 상기 제1 회로 모듈에 인가되는 상기 전원을 감지하고 감지 신호를 출력하는 전원 감지부; 및
    상기 전원 감지부로부터 출력되는 상기 감지 신호에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고, 상기 제1 회로 모듈의 고장에 대응하여 상기 제2 회로 모듈을 작동시키기 위한 제어 신호를 출력하는 프로세서
    를 포함하는 회로 이중화 시스템.
  3. 제2항에 있어서, 상기 전원 감지부는,
    상기 전원 릴레이부로부터 상기 제1 회로 모듈에 인가되는 상기 전원의 전류값을 감지하고,
    상기 전류값을 포함하는 상기 감지 신호를 출력하는, 회로 이중화 시스템.
  4. 제3항에 있어서, 상기 프로세서는,
    상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 상기 감지 신호에 포함된 상기 전류값을 비교하고,
    상기 전류값이 상기 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 상기 제어 신호를 출력하는, 회로 이중화 시스템.
  5. 제4항에 있어서, 상기 프로세서는,
    상기 제1 임계값보다 작으며 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 상기 감지 신호에 포함된 상기 전류값을 비교하고,
    상기 전류값이 상기 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 상기 제어 신호를 출력하는, 회로 이중화 시스템.
  6. 제2항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제어 신호는,
    상기 전원 릴레이부를 제어하여 상기 전원 공급부와 상기 제1 회로 모듈의 연결을 해제하고 상기 전원 공급부를 상기 제2 회로 모듈에 연결시키기 위한 제1 제어 신호; 및
    상기 제2 회로 모듈을 제어하여 상기 대상체를 예비 작동시키기 위한 제2 제어 신호
    를 포함하는 회로 이중화 시스템.
  7. 제2항에 있어서, 상기 고장 처리부는 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 고장 발생 정보를 생성하는, 회로 이중화 시스템.
  8. 제7항에 있어서, 상기 고장 처리부는
    상기 고장 발생 정보를 표시하는 표시부
    를 더 포함하는 회로 이중화 시스템.
  9. 제2항에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단하고, 상기 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 상기 전원이 재공급되는 것으로 판단되면, 상기 전원 릴레이부를 제어하여 상기 전원 공급부를 상기 제1 회로 모듈에 연결하기 위한 제3 제어 신호를 출력하고,
    상기 전원 릴레이부는 상기 제3 제어 신호에 기초하여 상기 전원 공급부를 상기 제1 회로 모듈에 연결하는, 회로 이중화 시스템.
  10. 프로그램을 저장하는 제1 회로 모듈, 상기 프로그램을 저장하는 제2 회로 모듈 및 고장 처리부를 포함하는 회로 이중화 시스템에서의 회로 이중화 방법으로서,
    상기 제1 회로 모듈에서, 전원 공급부로부터 인가되는 전원에 의해 상기 프로그램을 실행하여 대상체를 작동시키는 단계;
    상기 고장 처리부에서, 상기 제1 회로 모듈에 인가되는 상기 전원에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장을 감지하는 단계;
    상기 고장 처리부에서, 상기 제1 회로 모듈의 고장에 따라 상기 전원 공급부와 상기 제1 회로 모듈의 연결을 해제시키고, 상기 전원 공급부를 상기 제2 회로 모듈에 연결하는 단계; 및
    상기 제2 회로 모듈에서, 상기 전원 공급부로부터 인가되는 상기 전원에 의해 상기 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 예비 작동시키는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 제1 회로 모듈의 고장을 감지하는 단계는,
    상기 제1 회로 모듈에 인가되는 상기 전원의 전류값을 감지하는 단계; 및
    상기 전류값에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 전류값에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계는,
    상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제1 임계값과 상기 전류값을 비교하는 단계; 및
    상기 전류값이 상기 제1 임계값 이상인 것으로 판단되면 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생한 것으로 결정하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 전류값에 기초하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계는,
    상기 제1 임계값보다 작으며 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하기 위한 사전 설정된 제2 임계값과 상기 전류값을 비교하는 단계; 및
    상기 전류값이 상기 제2 임계값 이하인 것으로 판단되면 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생한 것으로 결정하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  14. 제10항에 있어서,
    상기 고장 처리부에서, 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 고장 발생 정보를 생성하는 단계; 및
    상기 고장 처리부에서, 상기 고장 발생 정보를 표시부에 표시하는 단계
    를 더 포함하는 회로 이중화 방법.
  15. 제10항에 있어서,
    상기 고장 처리부에서, 상기 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되었는지 여부를 판단하는 단계;
    상기 고장 처리부에서, 상기 전원 공급부가 턴 오프 상태에서 턴 온 상태로 전환되어 상기 전원이 재공급되는 것으로 판단되면, 상기 전원 공급부와 상기 제2 회로 모듈의 연결을 해제하는 단계; 및
    상기 고장 처리부에서, 상기 전원 공급부를 상기 제1 회로 모듈에 연결하는 단계
    를 더 포함하는 회로 이중화 방법.
  16. 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템으로서,
    프로그램을 저장하고, 상기 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 작동시키는 제1 회로 모듈;
    상기 제1 회로 모듈에 연결되고, 사전 설정된 제1 시간마다 상기 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 저장하고, 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 제1 고장 처리부;
    상기 제1 고장 처리부에 연결되고, 상기 신호에 기초하여 상기 제1 고장 처리부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하는 제2 고장 처리부; 및
    상기 제2 고장 처리부에 연결되고, 상기 프로그램을 저장하고, 상기 추출된 파라미터 정보에 기초하여 상기 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 제2 회로 모듈
    을 포함하는 회로 이중화 시스템.
  17. 제16항에 있어서, 상기 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함하는 회로 이중화 시스템.
  18. 제16항에 있어서, 상기 제1 고장 처리부는,
    상기 파라미터 정보를 상기 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 저장하는 제1 저장부;
    상기 사전 설정된 제1 시간마다 상기 파라미터 정보를 생성하여 상기 제1 저장부에 저장하고, 사전 설정된 제2 시간마다 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하여 상기 신호를 생성하고, 상기 신호를 상기 제2 고장 처리부로 출력하는 제1 프로세서; 및
    상기 제1 저장부를 상기 제1 프로세서 또는 상기 제2 고장 처리부에 연결하는 릴레이부
    를 포함하는 회로 이중화 시스템.
  19. 제18항에 있어서, 상기 제1 저장부는 FRAM(ferroelectrics random access memory)을 포함하는 회로 이중화 시스템.
  20. 제18항에 있어서, 상기 제1 프로세서는 상기 릴레이부, 상기 제1 회로 모듈 및 상기 제1 저장부와 SPI(serial peripheral interface) 통신을 수행하는, 회로 이중화 시스템.
  21. 제18항에 있어서, 상기 제1 프로세서는,
    상기 사전 설정된 제2 시간마다 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고,
    상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 상기 신호를 생성하는, 회로 이중화 시스템.
  22. 제18항에 있어서, 상기 제1 프로세서는,
    상기 사전 설정된 제2 시간마다 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하고,
    상기 제1 회로 모듈이 고장인 것으로 판단되면, 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 상기 신호를 생성하는, 회로 이중화 시스템.
  23. 제18항에 있어서, 상기 제2 고장 처리부는,
    상기 릴레이부 및 상기 제1 프로세서에 연결되고, 상기 신호에 기초하여 상기 릴레이부를 통해 연결되는 상기 제1 저장부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하는 제2 프로세서; 및
    상기 추출된 파라미터 정보를 저장하는 제2 저장부
    를 포함하는 회로 이중화 시스템.
  24. 제23항에 있어서, 제2 프로세서는,
    상기 제1 프로세서로부터 상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 상기 신호가 수신되는지 판단하고,
    상기 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면 상기 릴레이부와 상기 제1 프로세서 간의 연결을 해제하고 상기 릴레이부를 상기 제2 프로세서에 연결시키기 위한 제어 신호를 상기 릴레이부에 출력하는, 회로 이중화 시스템.
  25. 제23항에 있어서, 상기 제2 프로세서는,
    상기 제1 프로세서로부터 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 상기 신호가 수신되는지 판단하고,
    상기 신호가 수신된 것으로 판단되면 상기 릴레이부와 상기 제1 프로세서 간의 연결을 해제하고 상기 릴레이부를 상기 제2 프로세서에 연결시키기 위한 제어 신호를 상기 릴레이부에 출력하는, 회로 이중화 시스템.
  26. 제23항에 있어서, 상기 제2 프로세서는, 상기 제1 저장부에 저장된 상기 파라미터 정보 중에서 가장 최근에 저장된 파라미터 정보를 추출하는. 회로 이중화 시스템.
  27. 제23항에 있어서, 상기 제2 프로세서는, 상기 릴레이부 및 상기 제2 저장부와 SPI 통신을 수행하는, 회로 이중화 시스템.
  28. 제23항에 있어서, 상기 제2 저장부는 FRAM을 포함하는 회로 이중화 시스템.
  29. 대상체를 작동시키는 회로를 이중화하는 회로 이중화 시스템에서의 회로 이중화 방법으로서,
    제1 회로 모듈에서, 프로그램을 실행하여 상기 대상체를 작동시키는 단계;
    제1 고장 처리부에서, 사전 설정된 제1 시간마다 상기 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하는 단계;
    상기 제1 고장 처리부에서, 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 단계;
    제2 고장 처리부에서, 상기 신호에 기초하여 상기 제1 고장 처리부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계; 및
    제2 회로 모듈에서, 상기 제2 저장부에 저장된 파라미터 정보에 기초하여 상기 프로그램을 실행하여 대상체를 예비 작동시키는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  30. 제29항에 있어서, 상기 파라미터 정보는 GPS 위치 데이터, 항법 데이터, 센서 신호 또는 대상체 작동 절차 데이터 중 적어도 하나를 포함하는 회로 이중화 방법.
  31. 제29항에 있어서, 사전 설정된 제1 시간마다 상기 대상체의 작동과 연관된 파라미터 정보를 생성하여 제1 저장부에 저장하는 단계는,
    상기 파라미터 정보를 상기 파라미터 정보가 생성된 시간에 매핑하여 상기 제1 저장부에 저장하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  32. 제29항에 있어서, 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 감지하여 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 나타내는 신호를 출력하는 단계는,
    사전 설정된 제2 시간마다 상기 제1 회로 모듈의 고장 여부를 판단하는 단계;
    상기 고장 여부의 판단에 기초하여 상기 신호를 생성하는 단계; 및
    상기 신호를 상기 제2 고장 처리부로 출력하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  33. 제31항에 있어서, 상기 제1 저장부는 FRAM을 포함하는 회로 이중화 방법.
  34. 제32항에 있어서, 상기 고장 여부의 판단에 기초하여 상기 신호를 생성하는 단계는
    상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것으로 판단되면, 상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 상기 신호를 생성하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  35. 제32항에 있어서, 상기 고장 여부의 판단에 기초하여 상기 신호를 생성하는 단계는,
    상기 제1 회로 모듈이 고장인 것으로 판단되면, 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 상기 신호를 생성하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  36. 제32항에 있어서, 상기 신호에 기초하여 상기 제1 고장 처리부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계는,
    상기 제1 고장 처리부로부터 상기 제1 회로 모듈이 정상적으로 작동하는 것을 나타내는 상기 신호가 수신되는지 판단하는 단계;
    상기 신호가 수신되지 않은 것으로 판단되면 상기 제1 저장부에 연결하는 단계;
    상기 제1 저장부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하는 단계; 및
    상기 추출된 파라미터 정보를 상기 제2 저장부에 저장하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  37. 제32항에 있어서, 상기 신호에 기초하여 상기 제1 고장 처리부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하여 제2 저장부에 저장하는 단계는,
    상기 제1 고장 처리부로부터 상기 제1 회로 모듈에 고장이 발생하였음을 나타내는 상기 신호가 수신되는지 판단하는 단계;
    상기 신호가 수신된 것으로 판단되면 상기 제1 저장부에 연결하는 단계;
    상기 제1 저장부로부터 상기 파라미터 정보를 추출하는 단계; 및
    상기 추출된 파라미터 정보를 상기 제2 저장부에 저장하는 단계
    를 포함하는 회로 이중화 방법.
  38. 제37항에 있어서, 상기 제2 저장부는 FRAM을 포함하는 회로 이중화 방법.

KR1020190094364A 2019-08-02 2019-08-02 회로 이중화 시스템 및 방법 KR20210015472A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190094364A KR20210015472A (ko) 2019-08-02 2019-08-02 회로 이중화 시스템 및 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190094364A KR20210015472A (ko) 2019-08-02 2019-08-02 회로 이중화 시스템 및 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20210015472A true KR20210015472A (ko) 2021-02-10

Family

ID=74560808

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190094364A KR20210015472A (ko) 2019-08-02 2019-08-02 회로 이중화 시스템 및 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20210015472A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102476460B1 (ko) * 2022-05-06 2022-12-12 비콤시스템주식회사 연속적 운용 기반의 비상운전 감시제어장치

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102476460B1 (ko) * 2022-05-06 2022-12-12 비콤시스템주식회사 연속적 운용 기반의 비상운전 감시제어장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP3620338B1 (en) Vehicle control method
US10243355B2 (en) Fault identification and isolation in an electric propulsion system
US20200290460A1 (en) Method for processing throttle control signal, electronic speed regulator, controller, and mobile platform
US10261571B2 (en) Backup power supply support
JP2019031272A (ja) 冗長システムにおける多重故障のための故障検出
EP2988389B1 (en) Redundant high reliability power supply configuration and testing
EP3736694A1 (en) Automatic driving processing system, system on chip and method for monitoring processing module
CN109358893A (zh) 一种fpga程序的在线升级方法、装置及***
US11255287B2 (en) Apparatus and methods for allocating and indicating engine control authority
CN105891846A (zh) 高可靠性地基增强***地面站设备及在线切换方法
KR102071404B1 (ko) Bms의 페일 세이프 장치 및 방법
KR20210015472A (ko) 회로 이중화 시스템 및 방법
US20060173655A1 (en) Information processing apparatus, failure monitoring method and failure monitoring computer program
CN112740121B (zh) 用于车辆的控制架构
US9053245B2 (en) Partial redundancy for I/O modules or channels in distributed control systems
US11745748B2 (en) Method and device for operating an automatically driving vehicle
KR101448013B1 (ko) 항공기용 다중 컴퓨터의 고장 허용 장치 및 방법
US20180306886A1 (en) Communication circuit, communication system, and self-diagnosis method of communication circuit
CN109597108A (zh) 全球导航卫星***接收机及其操作方法
US20050225173A1 (en) Electrical system, and control module and smart power supply for electrical system
US8831912B2 (en) Checking of functions of a control system having components
JP2019121043A (ja) 車両制御システムおよび車両制御装置
AU2020414291A1 (en) An integrated avionic system architecture
JP6618427B2 (ja) 二重化対応電流出力システム
US20200356435A1 (en) System and method to provide safety partition for automotive system-on-a-chip

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application
E601 Decision to refuse application
E801 Decision on dismissal of amendment