KR20200074433A - 전기접속용 커넥터 - Google Patents
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- H01R11/01—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts characterised by the form or arrangement of the conductive interconnection between the connecting locations
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Abstract
검사 장치와 피검사 디바이스를 상하 방향으로 접속시키는 커넥터가 제공된다. 커넥터는, 상하 방향으로 도전 가능하게 구성된 복수의 도전부와, 복수의 도전부를 수평 방향으로 이격 및 절연시키는 절연부를 포함한다. 복수의 도전부 각각은, 검사 장치에 면하는 제1 도전부와, 제1 도전부의 상단과 접촉되어 있고 피검사 디바이스에 면하는 제2 도전부를 포함한다. 제2 도전부는 제1 도전부와 지지부와 접착된 금속 폼과, 금속 폼의 상부의 적어도 일부에 배치된 고화된 전도성 페이스를 포함하다. 커넥터는, 전도성 페이스트의 상면에서 피검사 디바이스의 단자와 접촉된다.
Description
본 개시는 검사 장치와 피검사 디바이스를 전기적으로 접속시키는 커넥터에 관한 것이다.
피검사 디바이스의 전기적 검사를 위해, 검사 장치와 피검사 디바이스를 전기적으로 접속시키는 커넥터가 당해 분야에서 사용되고 있다. 커넥터는 검사 장치의 전기적 테스트 신호를 피검사 디바이스에 전달하고, 피검사 디바이스의 응답 신호를 검사 장치에 전달한다. 이러한 커넥터로서, 도전성 러버 시트가 사용되고 있다.
도전성 러버 시트는 피검사 디바이스에 가해지는 외력에 응해 탄성 변형할 수 있다. 도전성 러버 시트는 피검사 디바이스와 검사 장치를 전기적으로 접속시키는 복수의 도전부와 도전부들을 이격 및 절연시키는 절연부를 가진다. 절연부는 경화된 실리콘 고무로 이루어질 수 있다. 도전부는, 다수의 금속 입자가 상하 방향으로 접촉된 구조를 가질 수 있다. 이러한 도전성 러버 시트의 일 예로서, 대한민국 등록특허공보 제10-1266124호가 개시하는 도전성 러버 시트가 참조될 수 있다.
도 1은 종래기술에 따른 커넥터의 일 예를 개략적으로 도시하며, 예컨대, 전술한 특허문헌이 개시하는 구조와 유사한 구조를 도시한다. 도 1을 참조하면, 상하 방향으로 도전 가능한 도전부(11)와 도전부(11)를 절연시키는 절연부(12)가 커넥터를 구성한다. 도전부(11)는 제1 도전부(13)와 제1 도전부(13)의 상부에 배치된 제2 도전부(14)를 갖는다. 제1 도전부(13)는 절연부(12)에 의해 지지되고, 제2 도전부(14)는 지지 시트(15)에 의해 지지된다. 제1 및 제2 도전부(13, 14)는 다수의 금속 입자가 상하 방향으로 접촉된 구조를 가지며, 제2 도전부(14)의 금속 입자의 밀도는 제1 도전부(13)의 금속 입자의 밀도보다 높다. 이에 따라, 전기 전도성이 향상될 수 있다. 피검사 디바이스의 검사 시에, 피검사 디바이스의 단자는 제2 도전부(14)의 상면을 누른다. 다수 회의 검사가 행해지면, 커넥터와 피검사 디바이스 간의 단자 접촉부(예컨대, 제2 도전부(14))의 상면)가 파손될 수 있다. 또한, 검사 시에 피검사 디바이스로부터 가해지는 하중이 커넥터에 전달되므로, 다수 회의 반복적 검사로 인해 커넥터에 내구성이 현저하게 악화될 수 있다. 그러나, 종래기술에 따른 커넥터는 이러한 불리함을 해결하도록 구성되어 있지 않다.
본 개시의 일 실시예는, 피검사 디바이스와 안정적인 전기적 접촉을 유지할 수 있는 커넥터를 제공한다. 본 개시의 일 실시예는, 피검사 디바이스로부터 가해지는 하중을 분산시킴으로써 사용 수명과 내구성이 향상된 커넥터를 제공한다.
본 개시의 실시예는, 검사 장치와 피검사 디바이스를 상하 방향으로 전기적으로 접속시키는 커넥터에 관련된다. 일 실시예에 따른 커넥터는, 상하 방향으로 도전 가능하게 구성된 복수의 도전부와, 복수의 도전부를 수평 방향으로 이격 및 절연시키는 절연부를 포함한다. 복수의 도전부 각각은, 검사 장치에 면하는 제1 도전부와, 제1 도전부의 상단과 접촉되어 있고 피검사 디바이스에 면하는 제2 도전부를 포함한다. 제2 도전부는, 제1 도전부 및 지지부와 접착된 금속 폼과, 금속 폼의 상부의 적어도 일부에 배치된 고화된 전도성 페이스를 포함하다. 커넥터는, 전도성 페이스트의 상면에서 피검사 디바이스의 단자와 접촉된다.
본 개시의 일 실시예에 따른 커넥터에 의하면, 제2 도전부의 전도성 페이스트와 피검사 디바이스의 단자가 면접촉을 행하므로, 커넥터는 피검사 디바이스와 증가된 접촉 면적으로 안정적인 전기적 접촉을 유지할 수 있다. 본 개시의 일 실시예에 따른 커넥터에 의하면, 피검사 디바이스로부터 가해지는 하중이 제2 도전부를 통해 제1 도전부와 절연부로 분산되므로, 커넥터는 향상된 사용 수명과 내구성을 가질 수 있다.
도 1은 종래기술에 따른 커넥터의 일 예를 개략적으로 도시한다.
도 2는 본 개시의 일 실시예에 따른 커넥터를 개략적으로 도시한다.
도 2는 본 개시의 일 실시예에 따른 커넥터를 개략적으로 도시한다.
본 개시의 실시예들은 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적으로 예시된 것이다. 본 개시에 따른 권리범위가 이하에 제시되는 실시예들이나 이들 실시예들에 대한 구체적 설명으로 한정되는 것은 아니다.
본 개시에 사용되는 모든 기술적 용어들 및 과학적 용어들은, 달리 정의되지 않는 한, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 일반적으로 이해되는 의미를 갖는다. 본 개시에 사용되는 모든 용어들은 본 개시를 더욱 명확히 설명하기 위한 목적으로 선택된 것이며 본 개시에 따른 권리범위를 제한하기 위해 선택된 것이 아니다.
본 개시에서 사용되는 "포함하는", "구비하는", "갖는" 등과 같은 표현은, 해당 표현이 포함되는 어구 또는 문장에서 달리 언급되지 않는 한, 다른 실시예를 포함할 가능성을 내포하는 개방형 용어(open-ended terms)로 이해되어야 한다.
본 개시에서 기술된 단수형의 표현은 달리 언급하지 않는 한 복수형의 의미를 포함할 수 있으며, 이는 청구범위에 기재된 단수형의 표현에도 마찬가지로 적용된다.
본 개시에서 사용되는 "제1", "제2" 등의 표현들은 복수의 구성요소들을 상호 구분하기 위해 사용되며, 해당 구성요소들의 순서 또는 중요도를 한정하는 것은 아니다.
본 개시에서, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 경우, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로, 또는 새로운 다른 구성요소를 매개로 하여 연결될 수 있거나 접속될 수 있는 것으로 이해되어야 한다.
본 개시에서 사용되는 "상방"의 방향지시어는 커넥터가 검사 장치에 대해 위치하는 방향에 근거하고, "하방"의 방향지시어는 상방의 반대 방향을 의미한다. 본 개시에서 사용되는 "상하 방향"의 방향지시어는 상방 방향과 하방 방향을 포함하지만, 상방 방향과 하방 방향 중 특정한 하나의 방향을 의미하지는 않는 것으로 이해되어야 한다.
첨부한 도면에 도시된 예들을 참조하여, 실시예들이 설명된다. 첨부된 도면에서, 동일하거나 대응하는 구성요소에는 동일한 참조부호가 부여되어 있다. 또한, 이하의 실시예들의 설명에 있어서, 동일하거나 대응하는 구성요소를 중복하여 기술하는 것이 생략될 수 있다. 그러나, 구성요소에 관한 기술이 생략되어도, 그러한 구성요소가 어떤 실시예에 포함되지 않는 것으로 의도되지는 않는다.
도 2는 일 실시예에 따른 커넥터를 개략적으로 도시한다. 도 2는, 실시예의 설명을 위해, 커넥터, 커넥터가 배치되는 검사 장치, 커넥터와 접촉되는 피검사 디바이스의 예시적 형상을 도시한다. 또한, 도 2는, 커넥터의 형상, 도전부의 형상, 절연부의 형상을 개략적으로 도시하며, 이들은 실시예의 이해를 위해 선택된 예에 불과하다.
도 2를 참조하면, 일 실시예에 따른 커넥터(100)는, 검사 장치(210)와 피검사 디바이스(220)의 사이에 위치하여 이들을 전기적으로 접속시킨다. 일 실시예의 커넥터(100)는, 피검사 디바이스(220)의 전기적 검사 시에 검사 장치(210)와 피검사 디바이스(220)의 전기적 접속을 위해 사용될 수 있다. 일 예로, 커넥터(100)는, 피검사 디바이스(220)의 제조 공정 중 후공정에서, 피검사 디바이스의 최종적인 적기적 검사를 위해 사용될 수 있다. 피검사 디바이스(220)의 전기적 검사 시에, 커넥터(100)는 검사 장치(210)와 피검사 디바이스(220)에 각각 접촉되어 검사 장치(210)와 피검사 디바이스(220)를 서로 전기적으로 접속시킨다.
일 예로서, 커넥터(100)는 시트(sheet) 형상의 구조물이다. 커넥터(100)는 테스트 소켓에 결합되어 검사 장치(210)에 제거가능하게 장착될 수 있다. 상기 테스트 소켓은 운반 장치에 의해 검사 장치(210)로 운반된 피검사 디바이스(220)를 그 안에 수용하고 피검사 디바이스(220)를 검사 장치(210)에 위치시킨다.
피검사 디바이스(220)는, 내부에 메모리 IC 칩 또는 비메모리 IC 칩과 같은 반도체 IC 칩을 갖는 반도체 패키지일 수 있지만, 이에 한정되지는 않는다. 피검사 디바이스(220)는 그 하측에 반구형의 다수의 단자(221)를 가질 수 있다.
검사 장치(210)는 피검사 디바이스(220)의 전기적 특성, 기능적 특성, 동작 속도 등을 검사할 수 있다. 검사 장치(210)는, 검사가 수행되는 보드 내에, 전기적 테스트 신호를 출력할 수 있고 응답 신호를 받을 수 있는 다수의 단자(211)를 가질 수 있다. 커넥터(100)는 상기 테스트 소켓에 의해 검사 장치(210)의 단자(211)와 접촉되도록 배치될 수 있다. 피검사 디바이스(220)의 단자(221)는 커넥터(100)를 통해 대응하는 검사 장치(210)의 단자(211)와 전기적으로 접속된다. 커넥터(100)가 피검사 디바이스의 단자(221)와 이것에 대응하는 검사 장치의 단자(211)를 상하 방향(VD)으로 전기적으로 접속시킴으로써, 검사 장치(210)에 의해 피검사 디바이스(220)의 검사가 수행된다.
커넥터(100)의 대부분은 절연 물질로 이루어질 수 있으며, 커넥터(100)는 상하 방향(VD)과 수평 방향(HD)으로 탄성을 가질 수 있다. 외력이 상하 방향(VD)에서의 하방으로 커넥터(100)에 가해지면, 커넥터(100)는 탄성 변형될 수 있고, 외력이 제거되면 커넥터(100)는 그 원래 형상으로 복원될 수 있다. 상기 외력은, 피검사 디바이스(220)의 검사 시에 푸셔 장치가 피검사 디바이스(220)를 검사 장치(210) 측으로 눌러서 발생될 수 있다.
커넥터(100)는 복수의 도전부(110)와, 절연부(120)를 포함한다. 복수의 도전부(110)는 상하 방향(VD)으로 위치되며, 상하 방향(VD)으로 도전 가능하다. 절연부(120)는 복수의 도전부(110)를 수평 방향(HD)에서 이격시키고 복수의 도전부(110)를 서로 절연시킨다.
도전부(110)는 그 상단에서 피검사 디바이스의 단자(221)와 접촉되고 그 하단에서 검사 장치의 단자(211)와 접촉된다. 이에 따라, 하나의 도전부(110)에 대응하는 단자(211)와 단자(221)의 사이에서 도전부(110)를 매개로 하여 상하 방향의 도전로가 형성된다. 따라서, 검사 장치(210)의 테스트 신호는 단자(211)로부터 도전부(110)를 통해 피검사 디바이스(220)의 단자(221)에 전달될 수 있고, 피검사 디바이스(220)의 응답 신호는 단자(221)로부터 도전부(110)를 통해 검사 장치(210)의 단자(211)에 전달될 수 있다.
복수의 도전부(110)들의 평면 배열은 피검사 디바이스(220)의 단자(221)의 배열에 따라 다양할 수 있다.
절연부(120)는 복수의 도전부(110)를 상하 방향(VD)으로 유지한다. 절연부(120)는 하나의 탄성체로서 형성되어 있으며, 복수의 도전부(110)는 절연부(120)의 두께 방향(상하 방향(VD))에서 절연부(120)에 박혀 있다. 절연부(120)는 상하 방향(VD)과 수평 방향(HD)으로 탄성을 갖는다. 상기 외력에 의해 피검사 디바이스(220)가 검사 장치(210) 측으로 눌릴 때, 절연부(120)는 탄성 변형 가능하며, 도전부(110)의 탄성 변형을 수용할 수 있다.
절연부(120)는 절연 물질, 예컨대 절연성과 탄성을 갖는 고분자 물질로 이루어질 수 있다. 절연 물질로서, 실리콘 고무가 채용될 수 있지만, 이에 한정되지는 않는다. 절연부(120)는, 액상의 절연 물질을 커넥터(100)를 성형하기 위한 성형 금형 내에 주입되고 경화시킴으로써, 형성될 수 있다. 절연부(120)를 성형하기 위한 액상의 절연 물질로서, 액상의 실리콘 고무가 사용될 수 있지만, 이에 한정되지는 않는다.
일 실시예에 있어서, 상하 방향(VD)으로 도전을 실행하는 도전부(110)는 제1 도전부(110)와 제2 도전부(110)를 포함한다. 제1 도전부(110)는 검사 장치(210)에 면하도록 배치되고, 제2 도전부(110)는 피검사 디바이스(220)에 면하도록 배치된다. 제1 도전부(110)는 그 하단에서 검사 장치(210)의 단자와 접촉할 수 있고, 제2 도전부(110)는 그 상단에서 피검사 디바이스(220)의 단자(221)와 접촉할 수 있다.
제1 도전부(110)는, 탄성을 갖는 절연 물질 내에 다수의 도전성 금속 입자가 상하 방향(VD)으로 도전 가능하게 접촉되어 이루어질 수 있다. 제1 도전부(110)의 절연 물질은 절연부(120)의 절연 물질과 동일하거나 다를 수 있다. 제1 도전부(110)를 구성하는 도전성 금속 입자는, 코어 입자의 표면을 고전도성 금속으로 피복하여 이루어질수 있다. 코어 입자는 철, 니켈, 코발트 등의 금속 재료로 이루어지거나, 탄성을 지닌 수지 재료로 이루어질 수 있다. 코어 입자의 표면에 피복되는 고전도성 금속으로는, 금, 은, 로듐, 백금, 크롬 등이 사용될 수 있다.
제2 도전부(110)는 제1 도전부(110)의 상단과 도전 가능하게 접촉되어 있다. 일 실시예에 있어서, 제2 도전부(110)는 금속 폼(foam)(113)과 전도성 페이스트(paste)(114)를 포함한다. 제2 도전부(110)에서, 금속 폼(113)은 하부에 배치되고 전도성 페이스트(114)는 상부에 배치된다.
금속 폼(113)은 절연부(120)와 제1 도전부(110)에 접착되어 있다. 금속 폼(113)은 표면적이 큰 폼(foam) 형상으로 되어 있으므로, 우수한 접착성을 가질 수 있다.
전도성 페이스트(114)는 금속 폼(113)의 상부의 적어도 일부에 접착되어 있으며, 고화된 상태로 금속 폼(113)에 접착되어 있다. 전도성 페이스트(114)가 피검사 디바이스(220)의 단자(221)와 접촉한다. 전도성 페이스트(114)가 금속 폼(113)에 접착되어 있으므로, 전도성 페이스트(114)는 단자(221)와의 접촉 시 면접촉을 이룬다. 따라서, 단자(221)와 제2 도전부(110)와의 사이에 접촉 면적이 증가되어, 단자(221)와 커넥터(100) 간에 안정적인 전기적 접촉을 유지할 수 있다.
피검사 디바이스의 검사 시에, 제2 도전부(110)에는 피검사 디바이스에 가해지는 하중이 전달된다. 제2 도전부(110)는 피검사 디바이스의 단자(221)로부터의 하중을, 제1 도전부(110)와 절연부(120)에 분산시키는 역할을 할 수 있다. 이에 따라, 제1 도전부(110)와 절연부(120)에 하중이 집중되어 커넥터의 사용 수명이 단축되는 것을 방지할 수 있다.
제2 도전부(110)를 구성하는 금속 폼(113)은, 다양한 소재로부터 구성될 수 있다. 일 예로, 금속 소재의 폼(foam) 및 비금속 소재의 폼(foam)을, 전기 전도성이 우수한 금(Au) 또는 은(Ag)으로 도금한 것이 금속 폼(113)으로 채용될 수 있다. 상기 도금 재료로서, 금 또는 은 이외에 전기 전도성이 우수한 물질이 채용될 수 있다.
또한, 금속 폼(113)은, 커넥터의 전기 전도성을 고려하여 다양한 두께를 가질 수 있다.
커넥터(100)는 하측에 지지 시트(130)를 포함할 수 있다. 지지 시트(130)는 필름의 형태이며, 폴리 이미드와 같은 합성 수지, 실리콘, 우레탄 또는 기타의 탄성 소재로 이루어질 수 있지만, 이에 한정되지는 않는다. 지지 시트(130)에는 제1 도전부(110)에 대응하는 관통공이 뚫려 있다. 지지 시트(130)는 제1 도전부(110)의 하단부를 지지할 수 있으며, 이웃하는 제1 도전부(110)들을 절연시킬 수도 있다.
이상 일부 실시예들과 첨부된 도면에 도시하는 예에 의해 본 개시의 기술적 사상이 설명되었지만, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이해할 수 있는 본 개시의 기술적 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다양한 치환, 변형 및 변경이 이루어질 수 있다는 점을 알아야 할 것이다. 또한, 그러한 치환, 변형 및 변경은 첨부된 청구범위 내에 속하는 것으로 생각되어야 한다.
100: 커넥터, 110: 도전부, 111: 제1 도전부, 112: 제2 도전부, 113: 금속 폼, 114: 전도성 페이스트, 120: 절연부, 130: 지지 시트, 210: 검사 장치, 220: 피검사 디바이스, VD: 상하 방향, HD: 수평 방향
Claims (1)
- 검사 장치와 피검사 디바이스를 상하 방향으로 전기적으로 접속시키는 커넥터이며,
상하 방향으로 도전 가능하게 구성된 복수의 도전부와,
상기 복수의 도전부를 수평 방향으로 이격 및 절연시키는 절연부를 포함하고,
상기 복수의 도전부 각각은, 상기 검사 장치에 면하는 제1 도전부와 상기 제1 도전부의 상단과 접촉되어 있고 상기 피검사 디바이스에 면하는 제2 도전부를 포함하고,
상기 제2 도전부는 상기 제1 도전부와 상기 지지부와 접착된 금속 폼과 상기 금속 폼의 상부의 적어도 일부에 배치된 고화된 전도성 페이스를 포함하고,
상기 전도성 페이스트의 상면에서 상기 피검사 디바이스의 단자와 접촉되는,
커넥터.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180162812A KR20200074433A (ko) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | 전기접속용 커넥터 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180162812A KR20200074433A (ko) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | 전기접속용 커넥터 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20200074433A true KR20200074433A (ko) | 2020-06-25 |
Family
ID=71400372
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020180162812A KR20200074433A (ko) | 2018-12-17 | 2018-12-17 | 전기접속용 커넥터 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20200074433A (ko) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101266124B1 (ko) | 2012-04-03 | 2013-05-27 | 주식회사 아이에스시 | 고밀도 도전부를 가지는 테스트용 소켓 및 그 제조방법 |
-
2018
- 2018-12-17 KR KR1020180162812A patent/KR20200074433A/ko not_active Application Discontinuation
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101266124B1 (ko) | 2012-04-03 | 2013-05-27 | 주식회사 아이에스시 | 고밀도 도전부를 가지는 테스트용 소켓 및 그 제조방법 |
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