KR20200073381A - 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치 및 방법 - Google Patents

전극 조립체 정렬 불량 판단 장치 및 방법 Download PDF

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Abstract

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법은 전극 탭에 각각 동일한 정렬 홀이 타공된 복수의 전극, 및 분리막들을 교대로 적층하되, 각각의 상기 전극 탭에 형성된 상기 정렬 홀들이 겹쳐지며 적층하여, 전극 조립체를 제조하는 단계; 미리 저장된 상기 정렬 홀의 사이즈와, 미리 저장된 공차를 비교하는 단계; 상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차보다 크다면, 비전 센서로 상기 정렬 홀을 촬영하여 이미지를 획득하는 단계; 상기 이미지로부터, 겹쳐진 상기 정렬 홀들을 모두 관통하는 관통 홀의 사이즈를 측정하는 단계; 및 상기 정렬 홀의 사이즈 및 상기 관통 홀의 사이즈를 이용하여 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다.

Description

전극 조립체 정렬 불량 판단 장치 및 방법{The Apparatus And The Method For Determining Electrode Assembly Misalignment}
본 발명은 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 가로 방향 및 세로 방향의 정렬 불량을 모두 용이하게 판단할 수 있는 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 이차 전지의 종류로는 니켈 카드뮴 전지, 니켈 수소 전지, 리튬 이온 전지 및 리튬 이온 폴리머 전지 등이 있다. 이러한 이차 전지는 디지털 카메라, P-DVD, MP3P, 휴대폰, PDA, Portable Game Device, Power Tool 및 E-bike 등의 소형 제품뿐만 아니라, 전기 자동차나 하이브리드 자동차와 같은 고출력이 요구되는 대형 제품과 잉여 발전 전력이나 신재생 에너지를 저장하는 전력 저장 장치와 백업용 전력 저장 장치에도 적용되어 사용되고 있다.
이러한 이차 전지를 제조하기 위해, 먼저 전극 활물질 슬러리를 양극 집전체 및 음극 집전체에 도포하여 양극과 음극을 제조하고, 이를 분리막(Separator)의 양 측에 적층함으로써 형성된 유닛 셀(Unit Cell)을 이용하여 소정 형상의 전극 조립체(Electrode Assembly)를 형성한다. 그리고 전지 케이스에 전극 조립체를 수납하고 전해액 주입 후 실링한다. 이 때, 전극 조립체의 구조에 따라, 젤리-롤형(권취형), 스택형(적층형) 및 스택/폴딩형 등으로 구분된다.
젤리-롤형 전극조립체는, 금속의 전극 집전체에 전극 활물질 등을 코팅하고 건조 및 프레싱한 후, 분리막을 음극과 양극 사이에 개제하고 권취하여 제조된다. 스택형 전극조립체는 다수의 양극 및 음극들을 순차적으로 적층한 구조이며, 스택/폴딩형 전극 조립체는 유닛 셀을 긴 길이의 연속적인 분리막 필름 상에 일렬로 부착하여 형성된 웹(Web)을 폴딩한 구조이다.
스택형 또는 스택/폴딩형 전극 조립체는 복수의 전극들이 모두 정위치에 정렬되는 것이 바람직하다. 만약, 일부에서 정렬 불량이 발생한다면, 양극의 리튬 이온이 음극과 대응되지 못하므로, 고체 리튬으로 석출된다. 따라서, 이차 전지의 수명을 단축시키고, 안전성을 저하시키는 문제가 있다.
도 1은 종래의 전극 조립체(10) 정렬 불량을 판단하는 모습을 나타낸 개략도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 종래에는 전극 조립체(10)의 정렬 불량 여부를, 전극들에 형성된 전극 탭(101)의 폭을 이용하여 판단하였다. 즉, 정렬되어 있는 복수개의 전극 탭(101)들의 폭을 측정하여, 미리 저장된 전극 탭(101)의 원래 폭보다 공차 이하로 크다면, 정렬 정상으로 판단하고, 공차 이상으로 크다면, 정렬 불량으로 판단하였다(만약 전극 탭(101)들이 완벽하게 일치되어 정렬된 상태라면, 정렬된 복수개의 전극 탭(101)의 폭은 미리 저장된 하나의 전극 탭(10)의 폭과 일치한다). 그러나, 이러한 경우에는 도 1에 도시된 모습을 기준으로, 가로 방향의 정렬 불량만을 판단할 수 있고, 세로 방향의 정렬 불량을 판단할 수가 없는 문제가 있었다.
한국특허등록 제0880389호
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 가로 방향 및 세로 방향의 정렬 불량을 모두 용이하게 판단할 수 있는 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치 및 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 과제들은 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법은 전극 탭에 각각 동일한 정렬 홀이 타공된 복수의 전극, 및 분리막들을 교대로 적층하되, 각각의 상기 전극 탭에 형성된 상기 정렬 홀들이 겹쳐지며 적층하여, 전극 조립체를 제조하는 단계; 미리 저장된 상기 정렬 홀의 사이즈와, 미리 저장된 공차를 비교하는 단계; 상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차보다 크다면, 비전 센서로 상기 정렬 홀을 촬영하여 이미지를 획득하는 단계; 상기 이미지로부터, 겹쳐진 상기 정렬 홀들을 모두 관통하는 관통 홀의 사이즈를 측정하는 단계; 및 상기 정렬 홀의 사이즈 및 상기 관통 홀의 사이즈를 이용하여 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
또한, 상기 측정하는 단계 이후에, 상기 정렬 홀의 사이즈로부터, 상기 정렬 홀의 사이즈에 대응되는 상기 관통 홀의 사이즈를 뺀 차이값을 연산하는 단계; 및 상기 차이값과 상기 공차를 비교하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 판단하는 단계에 있어서, 상기 차이값이 상기 공차보다 작으면, 상기 전극 조립체를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 차이값이 상기 공차보다 크면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단할 수 있다.
또한, 상기 정렬 홀은, 직사각형의 형상으로 타공될 수 있다.
또한, 상기 정렬 홀의 사이즈 및 상기 관통 홀의 사이즈는, 상기 정렬 홀 및 상기 관통 홀 각각의 가로의 길이 및 세로의 길이를 포함하고, 상기 측정하는 단계, 상기 연산하는 단계 및 상기 판단하는 단계는, 상기 가로의 길이 및 상기 세로의 길이에 대하여 각각 수행될 수 있다.
또한, 상기 연산하는 단계에 있어서, 상기 정렬 홀 및 상기 관통 홀 각각의 상기 가로의 길이 및 상기 세로의 길이에 대하여 각각 상기 차이값을 연산하고, 상기 판단하는 단계에 있어서, 각각 연산된 상기 차이값 중 적어도 하나가 상기 공차보다 크면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단할 수 있다.
또한, 상기 판단하는 단계에 있어서, 상기 차이값이 상기 공차와 동일하면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단할 수 있다.
또한, 상기 비교하는 단계 이후에, 상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차와 동일하다면, 상기 전극 탭들의 일측에서 발광부가 상기 정렬 홀에 광을 조사하는 단계; 및 상기 전극 탭들의 타측에서 광 센서의 상기 광 검출 여부를 토대로 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 상기 광 검출 여부를 토대로 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계에 있어서, 상기 광 센서가 상기 광을 검출하면, 상기 전극 조립체를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 광 센서가 상기 광을 검출하지 못한다면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 상기 비교하는 단계 이후에, 상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차보다 작다면, 상기 정렬 홀을 재타공하고, 상기 비교하는 단계를 반복하여 다시 수행할 수 있다.
상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치는 전극 조립체에 적층된 복수의 전극 탭에 각각 동일하게 타공되어 서로 겹쳐지는 정렬 홀의 사이즈와, 공차가 저장되는 저장부; 상기 정렬 홀의 사이즈와 상기 공차를 비교하는 비교부; 상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차보다 크다면, 상기 정렬 홀을 촬영하여 이미지를 획득하는 비전 센서; 상기 이미지로부터, 복수의 상기 정렬 홀을 모두 관통하는 관통 홀의 사이즈를 측정하는 측정부; 및 상기 정렬 홀의 사이즈 및 상기 관통 홀의 사이즈를 이용하여 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 판단부를 포함한다.
또한, 상기 정렬 홀의 사이즈로부터, 상기 정렬 홀의 사이즈에 대응되는 상기 관통 홀의 사이즈를 뺀 차이값을 연산하는 연산부를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 판단부는, 상기 차이값이 상기 공차보다 작으면, 상기 전극 조립체를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 차이값이 상기 공차보다 크면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단할 수 있다.
또한, 상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차와 동일하다면, 상기 전극 탭의 일측에서 상기 정렬 홀에 광을 조사하는 발광부; 및 상기 전극 탭의 타측에서 상기 광을 검출하는 광 센서를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 판단부는, 상기 광 센서가 상기 광을 검출하면, 상기 전극 조립체를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 광 센서가 상기 광을 검출하지 못한다면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단할 수 있다.
본 발명의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면 적어도 다음과 같은 효과가 있다.
전극 탭에 정렬 홀이 타공되고, 이러한 정렬 홀과 복수의 정렬 홀을 모두 관통하는 관통 홀을 비교하므로, 비전 센서를 이용하면, 가로 방향 및 세로 방향의 정렬 불량을 모두 용이하게 판단할 수 있다.
또한, 정렬 홀의 크기가 작다면, 발광부 및 광 센서만으로 간소하게 정렬 불량을 판단할 수 있다.
또한, 비전 센서 또는 광 등 비접촉 방식을 이용하므로, 전극 탭이 파손되지 않으면서 정렬 불량을 판단할 수 있다.
본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 종래의 전극 조립체 정렬 불량을 판단하는 모습을 나타낸 개략도이다.
도 2는 웹에 배열되는 유닛 셀이 풀셀인 경우의 배열 형태를 나타내는 개략도이다.
도 3은 웹에 배열되는 유닛 셀이 바이셀인 경우의 배열 형태를 나타내는 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체의 전극 탭에 정렬 홀이 타공된 모습을 나타낸 개략도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치의 블록도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체의 정렬 홀을 자세히 나타낸 개략도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소 외에 하나 이상의 다른 구성요소의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 웹(1)에 배열되는 유닛 셀이 풀셀(Full-Cell, 12)인 경우의 배열 형태를 나타내는 개략도이다.
젤리-롤형 전극 조립체(14)는 원통형 전지에는 적합하지만, 각형 또는 파우치형 전지에 적용할 때 전극 활물질의 박리 문제, 낮은 공간 활용성 등의 단점이 있다. 반면에, 스택형 전극조립체는 각형의 형태를 얻기가 용이한 장점이 있지만, 제조과정이 번잡하고 충격이 가해졌을 때 전극이 밀려서 단락이 유발되는 단점이 있다. 스택/폴딩형 전극 조립체(14, 도 5에 도시됨)는 이러한 문제점을 해결하기 위하여 상기 젤리-롤형과 스택형을 혼합한 형태로서, 유닛 셀을 긴 길이의 연속적인 분리막 필름(11) 상에 일렬로 부착하여 형성된 웹(Web, 1)을 폴딩한 전극 조립체(14)이다.
웹(1)은 유닛 셀을 분리막 필름(11) 상에 일렬로 부착하여 형성되고, 이러한 유닛 셀은 풀셀(Full-Cell, 12)과 바이셀(Bi-Cell, 13, 도 3에 도시됨)이 있다. 풀셀(12)은 셀의 최외부 양측에 각각 양극과 음극이 위치하는 셀이다. 이러한 풀셀(12)의 가장 기본적인 구조로서, 양극/분리막/음극 또는 양극/분리막/음극/분리막/양극/분리막/음극 등이 있다.
도 2에 도시된 바와 같이, 복수의 풀셀(12)이 분리막 필름(11) 상에 부착되어 있고, 제1 풀셀(121)에서 시작하여 웹(1)을 순차적으로 폴딩함으로써 스택/폴딩형 전극 조립체(14)를 형성할 수 있다. 이 때, 제1 풀셀(121)과 제2 풀셀(122)은 적어도 하나의 풀셀(12)에 대응되는 폭 간격만큼 이격된 거리에 위치한다. 따라서 웹(1)을 폴딩하면, 제1 풀셀(121)의 외면이 분리막 필름(11)으로 포위된 후, 제1 풀셀(121)의 하부 전극 즉, 음극이 제2 풀셀(122)의 상부 전극 즉, 양극에 접한다.
폴딩에 의한 순차적인 적층 과정에서 분리막 필름(11)의 폴딩 길이가 점차 증가하므로, 제2 풀셀(122) 이후의 풀셀(12)들 사이의 간격도 폴딩 방향으로 점차 증가하며 배치된다.
또한, 이러한 풀셀(12)들은 폴딩시 적층된 계면에서 양극과 음극이 상호 대면하여야 한다. 따라서 제1 풀셀(121)과 제2 풀셀(122)은 동일한 전극이 상방을 향하고, 제2 풀셀(122) 이후에는 순차적으로 다른 전극이 상방을 향하는 배열 형태로 분리막 필름(11) 상에 배치되는 것이 바람직하다. 예를 들어 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 풀셀(121)은 양극이 상방을 향하면, 제2 및 제4 풀셀(122, 124)도 양극이 상방을 향하고, 제3 및 제5 풀셀(123, 125)은 음극이 상방을 향할 수 있다. 그 이후로는 양극과 음극이 각각 교대로 상방을 향하도록 풀셀(12)이 배치될 수 있다.
도 3은 웹(1a)에 배열되는 유닛 셀이 바이셀(Bi-Cell, 13)인 경우의 배열 형태를 나타내는 개략도이다.
바이셀(13)은 셀의 최외부 양측에 동일한 극성의 전극이 위치하는 셀이다. 이러한 바이셀(13)의 가장 기본적인 구조로서, 양극/분리막/음극/분리막/양극 구조의 A형 바이셀(13) 또는 음극/분리막/양극/분리막/음극 구조의 C형 바이셀(13) 등이 있다. 즉, 최외부 양측에 양극이 위치하는 셀을 A형 바이셀(13)이라 하고, 양측에 음극이 위치하는 셀을 C형 바이셀(13)이라 한다.
도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 바이셀(13)이 분리막 필름(11) 상에 부착되어 있고, 제1 바이셀(131)에서 시작하여 웹(1a)을 순차적으로 폴딩함으로써 스택/폴딩형 전극 조립체(14)를 형성할 수 있다. 이 때, 제1 바이셀(131)과 제2 바이셀(132)은 적어도 하나의 바이셀(13)에 대응되는 폭 간격만큼 이격된 거리에 위치한다. 따라서 웹(1a)을 폴딩하면, 제1 바이셀(131)의 외면이 분리막 필름(11)으로 포위된 후, 제1 바이셀(131)의 하부 전극, 즉 음극이 제2 바이셀(132)의 상부 전극, 즉 양극에 접한다.
폴딩에 의한 순차적인 적층 과정에서 분리막 필름(11)의 폴딩 길이가 점차 증가하므로, 제2 바이셀(132) 이후의 바이셀(13)들 사이의 간격도 폴딩 방향으로 점차 증가하며 배치된다.
또한, 이러한 바이셀(13)들은 폴딩시 적층된 계면에서 양극과 음극이 상호 대면하여야 한다. 따라서 제1 바이셀(131)과 제2 바이셀(132)은 서로 다른 종류의 셀이고, 제2 바이셀(132) 이후의 셀들은 동일 타입의 셀이 두 개 단위로 교번하며 분리막 필름(11) 상에 배치되는 것이 바람직하다. 예를 들어 도 3에 도시된 바와 같이, 제1 바이셀(131)이 C형 바이셀(13)이면, 제2 및 제3 바이셀(132, 133)은 A형 바이셀(13)이고, 제4 및 제5 바이셀(134, 135)은 C형 바이셀(13)이며, 그 이후로는 동일한 타입의 셀이 두 개 단위로 교번하며 배치될 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체(14) 정렬 불량 판단 방법을 나타낸 흐름도이다.
이와 같은 스택/폴딩형 전극 조립체, 또는 단순한 스택형 전극 조립체를 형성하는 과정에서 전극 조립체의 전극들이 모두 정위치에 정렬되지 않고, 일부에서 정렬 불량이 발생할 수도 있다. 그러나, 종래에는 가로 방향의 정렬 불량만을 판단할 수 있고, 세로 방향의 정렬 불량을 판단할 수가 없는 등, 정렬 불량 여부를 용이하게 판단할 수 없는 문제가 있었다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 전극 탭(141)에 정렬 홀(142)이 타공되고, 이러한 정렬 홀(142)과 복수의 정렬 홀(142)을 모두 관통하는 관통 홀(143)을 비교하므로, 비전 센서(22)를 이용하면, 가로 방향 및 세로 방향의 정렬 불량을 모두 용이하게 판단할 수 있다. 또한, 정렬 홀(142)의 크기가 작다면, 발광부(24) 및 광 센서(25)만으로 간소하게 정렬 불량을 판단할 수 있다. 또한, 비전 센서(22) 또는 광 등 비접촉 방식을 이용하므로, 전극 탭(141)이 파손되지 않으면서 정렬 불량을 판단할 수 있다.
이를 위해, 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체(14) 정렬 불량 판단 방법은, 전극 탭(141)에 각각 동일한 정렬 홀(142)이 타공된 복수의 전극, 및 분리막들을 교대로 적층하되, 각각의 상기 전극 탭(141)에 형성된 상기 정렬 홀(142)들이 겹쳐지며 적층하여, 전극 조립체(14)를 제조하는 단계; 미리 저장된 상기 정렬 홀(142)의 사이즈와, 미리 저장된 공차를 비교하는 단계; 상기 정렬 홀(142)의 사이즈가 상기 공차보다 크다면, 비전 센서(22)로 상기 정렬 홀(142)을 촬영하여 이미지를 획득하는 단계; 상기 이미지로부터, 겹쳐진 상기 정렬 홀(142)들을 모두 관통하는 관통 홀(143)의 사이즈를 측정하는 단계; 및 상기 정렬 홀(142)의 사이즈 및 상기 관통 홀(143)의 사이즈를 이용하여 상기 전극 조립체(14)의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다. 그리고, 상기 측정하는 단계 이후에, 상기 정렬 홀(142)의 사이즈로부터, 상기 정렬 홀(142)의 사이즈에 대응되는 상기 관통 홀(143)의 사이즈를 뺀 차이값을 연산하는 단계; 및 상기 차이값과 상기 공차를 비교하는 단계를 더 포함하고, 상기 판단하는 단계에 있어서, 상기 차이값이 상기 공차보다 작으면, 상기 전극 조립체(14)를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 차이값이 상기 공차보다 크면, 상기 전극 조립체(14)를 정렬 불량으로 판단한다.
이하, 도 4에 도시된 흐름도의 각 단계에 대한 내용을 도 5 내지 도 7과 함께 설명한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체(14)의 전극 탭(141)에 정렬 홀(142)이 타공된 모습을 나타낸 개략도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체(14) 정렬 불량 판단 방법을 수행하기 위해, 먼저 복수의 전극, 및 분리막들을 교대로 적층하여 전극 조립체(14)를 제조한다. 그리고 이러한 전극 조립체(14)에 적층되는 복수의 전극들 각각 전극 탭(141)이 형성되고, 도 5에 도시된 바와 같이, 복수의 전극 탭(141)에는 각각 동일한 정렬 홀(142)이 타공된다. 여기서 정렬 홀(142)이 동일하다는 것은, 위치, 형상 및 사이즈가 모두 동일하다는 것을 의미한다.
전극들이 분리막들과 함께 적층될 때, 정렬 홀(142)들이 서로 겹쳐지며 적층된다. 그럼으로써, 겹쳐진 정렬 홀(142)들을 동시에 모두 관통하는 관통 홀(143)이 형성될 수 있다. 즉, 정렬 홀(142)은 하나의 전극 탭(141)마다 각각 타공되어 형성되는 홀을 의미하고, 관통 홀(143)은 복수의 전극 탭(141)들이 적층되어 정렬 홀(142)들이 겹쳐지면 형성되는 홀을 의미한다. 따라서, 전극 탭(141)의 일측에서 정렬 홀(142)을 보면, 관통 홀(143)을 통해서 전극 탭(141)의 타측에 존재하는 물체가 보일 수 있다. 만약 전극 조립체(14)의 모든 전극들이 정위치에 위치하여 정확하게 정렬된다면, 정렬 홀(142)과 관통 홀(143)의 사이즈가 동일하게 된다. 그러나, 하나의 전극이라도 정위치에서 이탈한다면, 관통 홀(143)은 정렬 홀(142)보다 사이즈가 작아진다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치(2)의 블록도이고, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체(14)의 정렬 홀(142)을 자세히 나타낸 개략도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치(2)는, 전극 조립체(14)에 적층된 복수의 전극 탭(141)에 각각 동일하게 타공되어 서로 겹쳐지는 정렬 홀(142)의 사이즈와, 공차가 저장되는 저장부(21); 상기 정렬 홀(142)의 사이즈와 상기 공차를 비교하는 비교부(231); 상기 정렬 홀(142)의 사이즈가 상기 공차보다 크다면, 상기 정렬 홀(142)을 촬영하여 이미지를 획득하는 비전 센서(22); 상기 이미지로부터, 복수의 상기 정렬 홀(142)을 모두 관통하는 관통 홀(143)의 사이즈를 측정하는 측정부(233); 및 상기 정렬 홀(142)의 사이즈 및 상기 관통 홀(143)의 사이즈를 이용하여 상기 전극 조립체(14)의 정렬 불량 여부를 판단하는 판단부(235)를 포함한다. 그리고, 상기 정렬 홀(142)의 사이즈로부터, 상기 정렬 홀(142)의 사이즈에 대응되는 상기 관통 홀(143)의 사이즈를 뺀 차이값을 연산하는 연산부(234)를 더 포함하며, 상기 판단부(235)는, 상기 차이값이 상기 공차보다 작으면, 상기 전극 조립체(14)를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 차이값이 상기 공차보다 크면, 상기 전극 조립체(14)를 정렬 불량으로 판단한다.
구체적으로 설명하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치(2)는 도 6에 도시된 바와 같이, 저장부(21), 비전 센서(22), 제어부(23), 발광부(24) 및 광 센서(25)를 포함한다. 그리고, 이들 구성요소들은 버스(미도시)를 통해 상호간에 연결되어 통신할 수 있다. 제어부(23)에 포함된 모든 구성요소들은 적어도 하나의 인터페이스 또는 어댑터를 통해 버스에 접속되거나, 직접 버스에 연결될 수 있다. 또한, 버스는 상기 기술한 구성요소 외에 다른 서브 시스템들과 연결될 수도 있다. 버스는 메모리 버스, 메모리 컨트롤러, 주변 버스(Peripheral Bus), 로컬 버스를 포함한다.
저장부(21)는 정렬 홀(142)의 사이즈 및 공차가 저장된다. 정렬 홀(142)의 사이즈는 전극 탭(141)에 정렬 홀(142)을 타공할 때, 사용자가 임의로 설정한 값이다. 따라서, 사용자가 저장부(21)에 저장하기 위해 입력부(미도시)를 통해 별도로 입력할 수도 있고, 사용자가 정렬 홀(142)을 타공하기 위해 사이즈를 입력하면 그 값이 자동으로 저장부(21)에 저장될 수도 있다. 만약 정렬 홀(142)이 직사각형의 형상으로 타공된다면, 정렬 홀(142)의 사이즈는 정렬 홀(142)의 가로의 길이(Ax) 및 세로의 길이(Ay)를 모두 포함한다. 공차는 전극 조립체(14)의 전극이 어느 정도 이탈하더라도, 정렬 정상으로 판단될 수 있는 여유 길이이다. 이러한 공차도 사용자가 임의로 설정한 값이므로, 사용자가 입력부를 통해 별도로 입력하여 저장될 수 있다. 저장부(21)는 전원이 공급되지 않더라도 저장된 정보들이 휘발되지 않고 유지되는 비휘발성 메모리 장치인 것이 바람직하다. 이러한 비휘발성 메모리에는 대표적으로 PROM, EPROM, EEPROM 등을 포함하는 롬(ROM), 하드디스크(HDD), 광학디스크(ODD), SSD(Solid State Drive), 플래시 메모리 등이 있다.
비전 센서(22)는 상기 정렬 홀(142)을 촬영하여 이미지를 획득한다. 이 때 비전 센서(22)는, 정렬 홀(142)의 사이즈가 상기 공차보다 큰 경우에 작동된다. 이러한 비전 센서(22)는 일반적으로 CCD(Charge Coupled Device, 전하결합소자)나 CMOS 이미지 센서 등의 촬상 소자가 포함된다.
제어부(23)는 비전 센서(22)가 획득한 이미지의 신호를 수신하고, 상기 이미지로부터 전극 조립체(14)의 정렬 불량 여부를 판단한다. 제어부(23)는 비교부(231), 아웃라인 추출부(232), 측정부(233), 연산부(234), 판단부(235)를 포함한다. 이러한 제어부(23)로는 CPU(Central Processing Unit), MCU(Micro Controller Unit) 또는 DSP(Digital Signal Processor) 등을 사용하는 것이 바람직하나, 이에 제한되지 않고 다양한 논리 연산 프로세서가 사용될 수 있다.
비교부(231)는 저장부(21)에 미리 저장된 정렬 홀(142)의 사이즈와 미리 저장된 공차를 비교한다(S401). 그리고, 만약 정렬 홀(142)의 사이즈가 공차보다 크다면, 비전 센서(22)가 작동하고, 정렬 홀(142)의 사이즈가 공차와 동일하면, 발광부(24) 및 광 센서(25)가 작동한다. 하기 기술할 바, 정렬 홀(142)의 사이즈와 관통 홀(143)의 사이즈의 차이값이 연산되면, 비교부(231)는 상기 차이값과 공차를 비교할 수도 있다.
아웃라인 추출부(232)는 비전 센서(22)가 작동할 때, 비전 센서(22)로부터 수신된 이미지로부터 관통 홀(143)의 아웃라인을 추출한다. 아웃라인을 추출하기 위해서는 상기 이미지의 픽셀에 대한 엣지 정보를 추출하며, 이를 위해 일반적으로 사용되는 그라디언트 공식을 사용할 수 있다. 상기 추출한 엣지 정보를 통해 관통 홀(143)의 아웃라인이 드러난다. 여기서, 정렬 홀(142)의 아웃라인보다, 관통 홀(143)의 아웃라인을 추출하는 것이 바람직하다. 전극 조립체(14)의 전극들이 일부 정위치에서 이탈하면, 정렬 홀(142)의 일부가 전극 탭(141)에 의해 가려지므로, 정렬 홀(142)의 아웃라인을 경계로 픽셀값의 변화가 크지 않다. 따라서, 엣지가 선명하지 않을 수 있다. 반면에, 관통 홀(143)은 가려지는 것이 없으므로, 관통 홀(143)의 아웃라인은 전극 탭(141)과 외부 사이의 경계가 된다. 따라서, 관통 홀(143)의 아웃라인을 경계로 픽셀값의 변화가 커서, 엣지가 더욱 선명할 수 있다. 이에, 엣지가 선명한 관통 홀(143)의 아웃라인을 추출하는 것이, 더욱 빠르고 정확할 수 있다.
측정부(233)는 상기 이미지로부터, 상기 관통 홀(143)의 아웃라인을 통해 상기 관통 홀(143)의 사이즈를 측정한다(S402). 이 때, 측정부(233)는 이미지 상에서의 상기 아웃라인의 픽셀 수를 카운트함으로써, 관통 홀(143)의 사이즈를 측정할 수 있다. 만약 도 7에 도시된 바와 같이, 정렬 홀(142)이 직사각형의 형상으로 타공된다면, 관통 홀(143)도 직사각형의 형상으로 형성된다. 그리고, 정렬 홀(142)의 사이즈는 정렬 홀(142)의 가로의 길이(Ax) 및 세로의 길이를 모두 포함하고, 관통 홀(143)의 사이즈는 관통 홀(143)의 가로의 길이(Px) 및 세로의 길이(Py)를 모두 포함한다. 그러면, 측정부(233)는 관통 홀(143)의 가로의 길이(Px) 및 세로의 길이(Py)를 각각 측정할 수 있다.
연산부(234)는 정렬 홀(142)의 사이즈로부터, 상기 정렬 홀(142)의 사이즈에 대응되는 상기 관통 홀(143)의 사이즈를 뺀 차이값을 연산한다(S403). 즉, 먼저 저장부(21)에 저장된 정렬 홀(142)의 사이즈를 로딩한다. 그리고, 상기 측정된 관통 홀(143)의 사이즈를, 상기 정렬 홀(142)의 사이즈로부터 뺀다. 그럼으로써 차이값을 연산할 수 있다. 만약 도 7에 도시된 바와 같이, 정렬 홀(142)이 직사각형의 형상으로 타공된다면, 정렬 홀(142)의 사이즈로부터 관통 홀(143)의 사이즈를 뺄 때에는, 서로 대응되는 사이즈끼리 뺀다. 즉, 정렬 홀(142)의 가로의 길이(Ax)로부터 관통 홀(143)의 가로의 길이(Px)를 빼고, 정렬 홀(142)의 세로의 길이(Ay)로부터 관통 홀(143)의 세로의 길이(Py)를 뺀다. 그럼으로써, 상기 차이값은 가로의 차이값(dx) 및 세로의 차이값(dy) 등 복수의 차이값을 가질 수 있다.
판단부(235)는 정렬 홀(142)의 사이즈 및 관통 홀(143)의 사이즈를 이용하여 상기 전극 조립체(14)의 정렬 불량 여부를 판단한다. 구체적으로, 상기 기술한 바와 같이, 비교부(231)는 정렬 홀(142)의 사이즈와 관통 홀(143)의 사이즈의 차이값이 연산되면, 상기 차이값과 공차를 비교한다(S404). 그리고 판단부(235)는, 차이값이 공차보다 작으면(S404), 전극 조립체(14)를 정렬 정상으로 판단하고(S405), 차이값이 공차보다 크면(S404), 전극 조립체(14)를 정렬 불량으로 판단한다(S406). 만약, 상기 차이값이 상기 공차와 동일하면, 실제 사용하면서 차이값이 조금이라도 증가하면 공차를 초과하므로, 상기 전극 조립체(14)를 정렬 불량으로 판단하는 것이 바람직하다. 만약 정렬 홀(142)이 직사각형의 형상으로 타공된다면, 가로의 차이값(dx)과 가로의 공차를 비교하고, 세로의 차이값(dy)과 세로의 공차를 각각 별도로 비교한다. 즉, 정렬 홀(142)이 직사각형의 형상으로 타공된다면, 상기 관통 홀(143)의 사이즈를 측정하는 단계(S402), 상기 차이값을 연산하는 단계 (S403) 및 상기 전극 조립체(14)의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계(S404 내지 S406)는, 상기 가로의 길이(Ax, Px) 및 상기 세로의 길이(Ay, Py)에 대하여 각각 수행된다. 그리고, 각각 연산된 상기 차이값 중 적어도 하나가 공차보다 크면, 상기 전극 조립체(14)를 정렬 불량으로 판단한다. 예를 들어, 가로의 차이값(dx)은 가로의 공차보다 작아서 정렬 정상이라고 판단하더라도, 세로의 차이값(dy)이 세로의 공차보다 커서 정렬 불량이라고 판단한다면, 전체적으로는 정렬 불량으로 판단한다.
상기 기술한 바와 같이, 정렬 홀(142)의 사이즈가 공차보다 크다면, 비전 센서(22)가 작동한다. 그러나, 정렬 홀(142)의 사이즈가 공차와 동일하면(S407), 발광부(24) 및 광 센서(25)가 작동한다. 발광부(24)는 전극 탭(141)의 일측에서 정렬 홀(142)에 광을 조사한다(S408). 그리고 광 센서(25)는 전극 탭(141)의 타측에서 상기 광을 검출한다. 발광부(24)는 LED(Light Emitting Diode), LD(Laser Diode), 벌브 타입의 램프 등 제한되지 않고 다양한 종류의 램프가 사용될 수 있으며, 벌브 타입의 램프로는 할로겐 램프, HID(High Intensity Discharge) 램프 등이 사용될 수 있다.
정렬 홀(142)의 사이즈가 공차와 동일하므로, 만약 관통 홀(143)이 형성된다면 전극이 이탈하더라도 공차 이내의 범위에서 이탈한 것이다. 따라서, 발광부(24)로부터 조사된 광은, 관통 홀(143)을 통과하여 광 센서(25)로 입사하므로, 광 센서(25)는 광을 검출할 수 있다. 그러나 만약 관통 홀(143)이 형성되지 않는다면, 전극이 공차보다 더 크게 이탈한 것이다. 따라서, 발광부(24)로부터 조사된 광은, 관통 홀(143)을 통과하지 못하므로, 광 센서(25)는 광을 검출할 수 없다. 이에, 판단부(235)는 광 센서(25)가 광을 검출하면(S408), 상기 전극 조립체(14)를 정렬 정상으로 판단하고(S409), 상기 광 센서(25)가 상기 광을 검출하지 못한다면(S408), 상기 전극 조립체(14)를 정렬 불량으로 판단한다(S410).
한편, 정렬 홀(142)의 사이즈가 공차보다 작다면, 전극이 이탈하여 관통 홀(143)이 형성되더라도, 공차 이내의 범위에서 이탈한 것인지 알 수가 없다. 따라서, 상기 정렬 홀(142)을 공차와 동일하거나, 공차보다 크게 재타공한다(S410). 그리고, 비교부(231)가 정렬 홀(142)의 사이즈와 공차를 다시 반복하여 비교한다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치(2)는, 제어부(23)가 상기 전극 조립체(14)가 정렬 불량이라고 판단하면, 알람을 발생시키는 알람부(미도시)를 더 포함할 수도 있다. 알람을 발생시킬 때에는, 램프의 점등 또는 경고음 등 청각적 또는 시각적으로 알람이 발생하여 사용자가 직관적으로 알 수 있도록 하는 것이 바람직하다.
또한, 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치(2)는 상기 이미지의 신호를 수신하여 디스플레이하는 디스플레이부(미도시)를 더 포함할 수 있다. 디스플레이부를 통해 전극 조립체(14)를 촬영한 영상이 디스플레이될 수 있고, 전극 조립체(14)가 정렬 정상인지 정렬 불량인지 여부도 디스플레이될 수 있다. 나아가, 상기 차이값도 디스플레이될 수도 있다. 이러한 디스플레이부는 LCD(Liquid Crystal Display), OLED(Organic Liquid Crystal Display), CRT(Cathode Ray Tube), PDP(Plasma Display Panel) 등 다양한 방식이 사용될 수 있다. 그리고 디스플레이부는 비디오 인터페이스를 통하여 버스에 연결되고, 디스플레이부와 버스 간의 데이터 전송은 그래픽 컨트롤러에 의해 제어될 수 있다.
또한, 상기 차이값이 연산되면, 별도의 전극 조립체 정렬 장치(미도시)에 전송된다. 그러면, 전극 조립체 정렬 장치가 상기 차이값을 토대로, 전극 조립체(14)를 다시 정렬할 수도 있다.
지금까지 기술한 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치(2)의 각 구성요소들은 메모리 상의 소정 영역에서 수행되는 태스크, 클래스, 서브 루틴, 프로세스, 오브젝트, 실행 쓰레드, 프로그램과 같은 소프트웨어(software)나, FPGA(field-programmable gate array)나 ASIC(application-specific integrated circuit)과 같은 하드웨어(hardware)로 구현될 수 있으며, 또한 상기 소프트웨어 및 하드웨어의 조합으로 이루어질 수도 있다. 상기 구성요소들은 컴퓨터로 판독 가능한 저장 매체에 포함되어 있을 수도 있고, 복수의 컴퓨터에 그 일부가 분산되어 분포될 수도 있다.
또한, 각 블록은 특정된 논리적 기능(들)을 실행하기 위한 하나 이상의 실행 가능한 인스트럭션들을 포함하는 모듈, 세그먼트 또는 코드의 일부를 나타낼 수 있다. 또, 몇 가지 대체 실행예들에서는 블록들에서 언급된 기능들이 순서를 벗어나서 발생하는 것도 가능하다. 예컨대, 잇달아 도시되어 있는 두 개의 블록들은 사실 실질적으로 동시에 수행되는 것도 가능하고 그 블록들이 때때로 해당하는 기능에 따라 역순으로 수행되는 것도 가능하다.
본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 다양한 실시 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
1: 웹 2: 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치
11: 분리막 필름 12: 풀셀
13: 바이셀 14: 전극 조립체
21: 저장부 22: 비전 센서
23: 제어부 24: 발광부
25: 광 센서 141: 전극 탭
142: 정렬 홀 143: 관통 홀
231: 비교부 232: 아웃라인 추출부
233: 측정부 234: 연산부
235: 판단부

Claims (15)

  1. 전극 탭에 각각 동일한 정렬 홀이 타공된 복수의 전극, 및 분리막들을 교대로 적층하되, 각각의 상기 전극 탭에 형성된 상기 정렬 홀들이 겹쳐지며 적층하여, 전극 조립체를 제조하는 단계;
    미리 저장된 상기 정렬 홀의 사이즈와, 미리 저장된 공차를 비교하는 단계;
    상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차보다 크다면, 비전 센서로 상기 정렬 홀을 촬영하여 이미지를 획득하는 단계;
    상기 이미지로부터, 겹쳐진 상기 정렬 홀들을 모두 관통하는 관통 홀의 사이즈를 측정하는 단계; 및
    상기 정렬 홀의 사이즈 및 상기 관통 홀의 사이즈를 이용하여 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 측정하는 단계 이후에,
    상기 정렬 홀의 사이즈로부터, 상기 정렬 홀의 사이즈에 대응되는 상기 관통 홀의 사이즈를 뺀 차이값을 연산하는 단계; 및
    상기 차이값과 상기 공차를 비교하는 단계를 더 포함하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 판단하는 단계에 있어서,
    상기 차이값이 상기 공차보다 작으면, 상기 전극 조립체를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 차이값이 상기 공차보다 크면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 정렬 홀은,
    직사각형의 형상으로 타공되는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 정렬 홀의 사이즈 및 상기 관통 홀의 사이즈는,
    상기 정렬 홀 및 상기 관통 홀 각각의 가로의 길이 및 세로의 길이를 포함하고,
    상기 측정하는 단계, 상기 연산하는 단계 및 상기 판단하는 단계는,
    상기 가로의 길이 및 상기 세로의 길이에 대하여 각각 수행되는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 연산하는 단계에 있어서,
    상기 정렬 홀 및 상기 관통 홀 각각의 상기 가로의 길이 및 상기 세로의 길이에 대하여 각각 상기 차이값을 연산하고,
    상기 판단하는 단계에 있어서,
    각각 연산된 상기 차이값 중 적어도 하나가 상기 공차보다 크면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  7. 제2항에 있어서,
    상기 판단하는 단계에 있어서,
    상기 차이값이 상기 공차와 동일하면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 비교하는 단계 이후에,
    상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차와 동일하다면, 상기 전극 탭들의 일측에서 발광부가 상기 정렬 홀에 광을 조사하는 단계; 및
    상기 전극 탭들의 타측에서 광 센서의 상기 광 검출 여부를 토대로 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 광 검출 여부를 토대로 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 단계에 있어서,
    상기 광 센서가 상기 광을 검출하면, 상기 전극 조립체를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 광 센서가 상기 광을 검출하지 못한다면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단하는 단계를 포함하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 비교하는 단계 이후에,
    상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차보다 작다면, 상기 정렬 홀을 재타공하고, 상기 비교하는 단계를 반복하여 다시 수행하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 방법.
  11. 전극 조립체에 적층된 복수의 전극 탭에 각각 동일하게 타공되어 서로 겹쳐지는 정렬 홀의 사이즈와, 공차가 저장되는 저장부;
    상기 정렬 홀의 사이즈와 상기 공차를 비교하는 비교부;
    상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차보다 크다면, 상기 정렬 홀을 촬영하여 이미지를 획득하는 비전 센서;
    상기 이미지로부터, 복수의 상기 정렬 홀을 모두 관통하는 관통 홀의 사이즈를 측정하는 측정부; 및
    상기 정렬 홀의 사이즈 및 상기 관통 홀의 사이즈를 이용하여 상기 전극 조립체의 정렬 불량 여부를 판단하는 판단부를 포함하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 정렬 홀의 사이즈로부터, 상기 정렬 홀의 사이즈에 대응되는 상기 관통 홀의 사이즈를 뺀 차이값을 연산하는 연산부를 더 포함하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 판단부는,
    상기 차이값이 상기 공차보다 작으면, 상기 전극 조립체를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 차이값이 상기 공차보다 크면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 정렬 홀의 사이즈가 상기 공차와 동일하다면, 상기 전극 탭의 일측에서 상기 정렬 홀에 광을 조사하는 발광부; 및
    상기 전극 탭의 타측에서 상기 광을 검출하는 광 센서를 더 포함하는 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 판단부는,
    상기 광 센서가 상기 광을 검출하면, 상기 전극 조립체를 정렬 정상으로 판단하고, 상기 광 센서가 상기 광을 검출하지 못한다면, 상기 전극 조립체를 정렬 불량으로 판단하는, 전극 조립체 정렬 불량 판단 장치.
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