KR20200047259A - Method and device for inspecting defect of optical film - Google Patents
Method and device for inspecting defect of optical film Download PDFInfo
- Publication number
- KR20200047259A KR20200047259A KR1020190001879A KR20190001879A KR20200047259A KR 20200047259 A KR20200047259 A KR 20200047259A KR 1020190001879 A KR1020190001879 A KR 1020190001879A KR 20190001879 A KR20190001879 A KR 20190001879A KR 20200047259 A KR20200047259 A KR 20200047259A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- optical film
- film
- transparent film
- transparent
- present
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/958—Inspecting transparent materials or objects, e.g. windscreens
Abstract
Description
본 발명은 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method and apparatus for inspecting defects in optical films.
최근 스마트폰, 태블릿 PC와 같은 모바일 기기의 발전과 함께 디스플레이용 기재의 박막화 및 슬림화뿐만 아니라, 접을 수 있는 디스플레이까지 개발하려는 시도가 있다.Recently, with the development of mobile devices such as smartphones and tablet PCs, there have been attempts to develop not only thinning and slimming of substrates for displays, but also foldable displays.
일반적으로, LCD(liquid crystal display), LED(light emitting diode), OLED(organic light emitting diode) 등의 디스플레이 패널은 디스플레이 패널 자체의 패턴 불량 또는 디스플레이 패널을 구성하고 있는 광학 필름의 내부 또는 표면에 존재하는 파티클(이물질)이나 광학 필름에 존재할 수 있는 스크래치 등으로 인하여 불량 화소가 발생할 수 있기 때문에, 광학카메라를 이용하여 불량 여부를 검출하는 공정을 거치게 된다.In general, display panels such as liquid crystal displays (LCDs), light emitting diodes (LEDs), and organic light emitting diodes (OLEDs) are defective in the pattern of the display panel itself or inside or on the surface of the optical film constituting the display panel Since a defective pixel may be generated due to a particle (foreign material) or a scratch that may be present in the optical film, a process of detecting a defect using an optical camera is performed.
도 1a를 참고하면, 시트 형태의 검사체(100)는 스테이지(10) 상에 위치될 수 있다. 도 1b와 같이 상기 검사체(100)가 롤 형태로 제공이 가능한 경우 상기 검사체(100)는 권출롤(20)로부터 권출되어 결함 검사가 수행되며, 검사가 완료된 상기 검사체(100)은 권취롤(30)에 의해 권취되는 과정을 거치게 된다. 이때, 검사는 광원(40)에 조사된 광에 의하여, 상기 검사체(100)의 상부에 위치하는 영상 획득부(50)가 상기 검사체(100)의 일면의 표면 이미지를 획득하게 됨으로써 수행되고 있다.Referring to Figure 1a, the sheet-
예컨대, 대한민국 공개특허 제10-2017-0129077호에는 피검사체에 광을 조사하는 광원; 상기 피검사체 및 상기 광원 사이에 배치되어 상기 광을 부분적으로 차단하는 차광부; 및 상기 피검사체를 통과한 광을 수용하여 영상을 획득하는 촬영부를 포함하는, 투과 광학계 검사장치에 대하여 기재되어 있다.For example, Korean Patent Publication No. 10-2017-0129077 includes a light source that irradiates light on an object; A light blocking part disposed between the inspected object and the light source to partially block the light; And a photographing unit accommodating light passing through the inspected object to acquire an image.
이와 같은 종래의 검사 방법들은 일반적으로 검사체의 결함을 검사하기 위해 검사체를 권출, 권취하는 과정에서 검사체의 파손(스크래치 발생 등)을 방지하기 위하여 상기 검사체의 적어도 일 면 상에는 공정용 투명 필름이 접합되어 검사가 진행된다.These conventional inspection methods generally process transparent on at least one side of the inspection body to prevent damage to the inspection body (scratching, etc.) in the process of unwinding and winding the inspection body to inspect defects of the inspection body. The film is bonded and inspection proceeds.
하지만 이와 같이 검사체를 보호하기 위해 접합되는 투명 필름을 더 부착하여 검사를 진행하는 경우 검사체 자체에 존재하는 스크래치뿐만 아니라, 상기 투명 필름 상에 존재하는 스크래치까지도 불량으로 인식됨으로써 불필요한 불량률이 증가하는 문제가 발생하고 있다. 또한, 종래의 광학 검사 장치를 이용하여 광학 필름, 특히 최근 필름형 터치 센서와 같은 시트형태의 플렉서블(flexible)한 광학 필름을 검사하는 경우, 필름 자체의 컬(curl) 발생으로 인하여 상기 광학 필름을 걸사하기 위한 영상획득부의 아웃 포커스(out of focus) 현상이 발생하기 때문에 검사가 용이하지 않은 문제가 있다.However, when the inspection is performed by attaching a transparent film that is bonded to protect the inspection body as described above, not only the scratches present on the inspection body itself, but also the scratches present on the transparent film are recognized as defects, thereby increasing unnecessary defect rate. There is a problem. In addition, when inspecting an optical film using a conventional optical inspection device, in particular, a flexible optical film in the form of a sheet such as a film-type touch sensor, the optical film is generated due to curl of the film itself. There is a problem in that inspection is not easy because an out-of-focus phenomenon occurs in the image acquisition unit for mastering.
본 발명은 상기와 같은 문제를 해결하기 위한 것으로서, 광학 필름 자체의 스크래치만을 선택적으로 감별하여 불필요한 불량률의 증가를 방지할 수 있으며, 광학 필름의 결함 검사 과정 중 평탄도의 확보가 가능하여, 필름형 터치 센서와 같은 플렉서블한 광학 필름의 검사가 가능한 광학 필름의 결함 검사 방법 및 장치를 제공하는 것을 그 목적으로 한다.The present invention is to solve the above problems, it is possible to selectively prevent only the scratch of the optical film itself to prevent unnecessary increase in defect rate, it is possible to secure the flatness during the defect inspection process of the optical film, the film type An object of the present invention is to provide a method and apparatus for inspecting defects in an optical film capable of inspecting a flexible optical film such as a touch sensor.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 광학 필름의 결함 검사 방법은 (a) 광학 필름을 스테이지에 위치시키는 단계; (b) 권출롤로부터 투명 필름을 권출하여 상기 광학 필름 상에 위치시키는 단계; (c) 상기 투명 필름 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤을, 상기 투명 필름의 하부가 상기 광학 필름의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계; (d) 상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하여 상기 광학 필름 상부의 표면 이미지를 획득하는 단계; (e) 상기 표면 이미지로부터 결함을 검출하는 단계; 및 (f) 상기 제1 및 제2 가이드롤을 상승시키는 단계;를 포함하되, 상기 투명 필름은 상기 광학 필름과 접합되지 않은 일 면에 점착제를 이용하여 보호필름이 접합된 것을 특징으로 한다.Defect inspection method of the optical film of the present invention for achieving the above object comprises the steps of: (a) placing the optical film on the stage; (b) unwinding the transparent film from the unwinding roll and placing it on the optical film; (c) lowering the first and second guide rolls provided on the transparent film until the lower portion of the transparent film contacts the upper portion of the optical film; (d) irradiating light to one surface of the optical film to obtain a surface image on the top of the optical film; (e) detecting a defect from the surface image; And (f) raising the first and second guide rolls, wherein the transparent film is characterized in that a protective film is bonded using a pressure-sensitive adhesive on one surface not bonded to the optical film.
본 발명의 광학 필름 검사방법은 광학 필름 자체의 스크래치만을 감별할 수 있어, 불필요한 불량률을 감소시킬 수 있으며, 광학 필름의 결함 검사 과정 중 평탄도의 확보가 가능하여, 필름형 터치 센서와 같은 플렉서블한 광학 필름의 검사가 가능한 이점이 있다. The optical film inspection method of the present invention can discriminate only the scratches of the optical film itself, thereby reducing unnecessary defect rates, and ensuring flatness during the defect inspection process of the optical film, making it flexible, such as a film type touch sensor. It is possible to inspect the optical film.
도 1a 및 1b는 종래의 광학 필름의 결함 검사 장치를 예시한 도이다.
도 2는 본 발명에 따른 광학 필름의 결함 검사 장치를 예시한 도이다.
도 3은 본 발명에 따른 검사체의 구조를 예시한 도이다.1A and 1B are diagrams illustrating a defect inspection apparatus of a conventional optical film.
2 is a view illustrating a defect inspection apparatus for an optical film according to the present invention.
3 is a view illustrating the structure of a test body according to the present invention.
본 발명에서 어떤 부재가 다른 부재 "상에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 직접 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 개재되어 있는 경우도 포함한다. In the present invention, when a member is positioned "on" another member, this includes not only the case where one member is directly in contact with the other member but also another member interposed between the two members.
본 발명에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다. In the present invention, when a part “includes” a certain component, this means that other components may be further included, rather than excluding other components, unless otherwise specified.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 광학 필름의 결함 검사 방법에 대하여 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, a defect inspection method of the optical film of the present invention will be described in more detail with reference to the drawings.
본 발명의 한 양태는, (a) 광학 필름(100)을 스테이지(10)에 위치시키는 단계; (b) 권출롤(20)로부터 투명 필름(200)을 권출하여 상기 광학 필름(100) 상에 위치시키는 단계; (c) 상기 투명 필름(200) 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을, 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계; (d) 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하여 상기 광학 필름(100) 상부의 표면 이미지를 획득하는 단계; (e) 상기 표면 이미지로부터 결함을 검출하는 단계; 및 (f) 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시키는 단계;를 포함하되, 상기 (c) 단계 이후에, 상기 광학 필름(100)과 접합되지 않은 투명 필름(200)의 일 면에 점착제(300)를 이용하여 보호필름(400)을 더 적층하는 단계;를 더 포함하는 광학 필름(100)의 결함 검사 방법에 관한 것이다.An aspect of the invention, (a) placing the
도 2에 본 발명의 일 실시형태에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 장치를 도시하였다. 도 2를 참고하면, 광원(40) 및 영상획득부(50)를 통하여 검사하고자 하는 광학 필름(100)의 표면 이미지를 얻을 수 있다. 2 shows a defect inspection apparatus of the
이와 같이, 광원(40)을 통해 광학 필름(100) 상의 결함을 검출하는 방법은 일반적으로 광원(40)으로부터 방출되는 광의 입사 전후의 매질의 굴절률비(굴절률 차이)를 이용하여 검출하게 되며 이 때 굴절률비는 스넬의 법칙에 의거하여 계산될 수 있다. 상기 광학 필름(100) 상에 스크래치가 발생하여, 상기 광학 필름(100) 상에 투명 필름(200)이 접합되면, 상기 스크래치가 발생한 곳에는 공기층(500)이 형성되고, 이와 같이 공기층(500)이 형성된 부분에서는 광의 굴절률 차이가 크다는 점을 이용하여 스크래치 유무를 판별하게 된다. 하지만 이와 같은 방법으로는 광학 필름(100)상에 존재하는 스크래치뿐만 아니라, 상기 광학 필름(100)상에 접합되는 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치 역시 굴절률의 차이가 발생하기 때문에, 실질적으로 광학 필름(100) 상에는 스크래치가 없는 경우라 하더라도 투명 필름(200)상에 스크래치가 존재한다면, 그 또한 스크래치가 존재하는 것으로 판별하여 불량으로 검출되므로, 불필요한 불량률이 증가하게 되는 요인이 된다.As described above, a method of detecting a defect on the
따라서, 본 발명의 광학 필름(100)의 검출 방법에서는 광학 필름(100)이 접합되지 않은 투명필름(200)의 일면 상에 점착제(300)를 이용하여 보호필름(400)을 더 접합하였다. 이와 같이 본 발명은 상기 투명 필름(200) 상에 점착제(300)를 더 포함으로써, 상기 투명 필름(200)상에 존재하는 스크래치 부분을 점착제(300)로 채워 공기층의 형성을 방지함으로써, 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치의 검출이 억제되고, 광학 필름(100) 상에 존재하는 스크래치만을 선별적으로 검출함으로써 불필요한 불량률이 감소되는 효과가 있다.Therefore, in the detection method of the
본 발명에서 "광학 필름(100)"이란, 광학 특성을 갖는 필름을 일컬을 수 있으며, 예컨대 필름형 터치센서, 패턴이 구비된 필름, 편광자, 투명 보호 필름, 상기 편광자의 적어도 일면에 보호 필름이 부착된 편광판, 위상차 필름 등을 들 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 구체적으로, 상기 "광학 필름(100)"은 시트 형태의 플렉서블(flexible) 광학 필름(100)일 수 있다.In the present invention, "
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은, (a) 광학 필름(100)을 스테이지(10)에 위치시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the
상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 지지하며, 투명하거나 불투명한 재질일 수 있다. 구체적으로 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 방식, 예컨대 투과 광학계 또는 반사 광학계에 따라 적절한 재질을 사용할 수 있다.The
구체적으로, 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 방식이 투과 광학계를 이용하고, 스테이지가 불투명한 재질로 이루어진 경우, 상기 광학 필름(100)의 하부에 구비된 광원(40)에 의하여 광이 투과될 수 있도록 관통부가 설치되어야 한다. 또한, 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 흡착할 수 있는 흡착 홀이 구비될 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다.Specifically, when the defect inspection method of the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는 "투과 광학계"를 이용한 것일 수 있다.The defect inspection method and apparatus of the
상기 스테이지(10)는 바람직하게는 광투과성이 우수하면서도, 평탄도의 확보가 용이한 점에서 유리로 이루어질 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.The
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (b) 권출롤(20)로부터 투명 필름(200)을 권출하여 상기 광학 필름(100) 상에 위치시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the
상기 권출롤(20)은 구동모터에 의해 회전 구동됨으로써 상기 투명필름(200)을 권출하는 역할을 수행한다. 도시하지는 않았으나, 상기 권출롤(20)을 회전 구동하는 구동모터와 후술할 상기 권취롤(30)을 회전 구동하는 구동모터는 컨트롤러에 의해 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지시켜주면서 상호간에 이동되도록 제어될 수 있다.The
상기 권출롤(20) 및 후술할 상기 권취롤(30)의 하부측에 장력 조절구가 설치될 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다.A tension adjusting mechanism may be installed on the lower side of the
상기 투명 필름(200)은 상기 광학 필름(100)의 결함 검사 시 상기 광학 필름(100)의 일면에 접하도록 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 상승 및 하강되는 것으로서, 투명도를 가지고 있어 상기 광학 필름(100)의 결함 검사에 영향을 주지 않는 것이라면 한정되지 않으나, 예컨대 광투과성이 좋고, 필름 자체의 결함의 발생이 적은 면에서 PET 필름, 또는 TAC 필름 등이 바람직하다.When the defect of the
상기 권출롤(20)에 의해 권출된 상기 투명 필름은(200)은, 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 하강된다. 구체적으로, 본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (c) 상기 투명 필름(200) 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을, 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계를 포함한다.The
또한, 본 발명에서는 도시하지는 않았지만 상기 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치의 검출을 방지하기 위한 수단으로, 상기 광학 필름(100)과 접합되지 않은 상기 투명 필름(200)의 일 면 상에 점착제(300)를 이용하여 보호 필름(400)이 더 접합된다. 이 때, 상기 점착제(300)는 당 업계에서 사용되는 일반적인 점착제를 제한 없이 사용할 수 있으며, 보호필름(500)의 구체적인 내용은 전술한 투명 필름(200)의 내용이 동일하게 적용될 수 있다. In addition, although not shown in the present invention, as a means for preventing detection of scratches present on the
상기 점착제(300) 및 보호 필름(400)은 상기 권출롤(20)로 진입하기 전 투명 필름(200)의 일 면상에 점착제(300)를 도포하고 상기 점착제(300) 상에 보호필름(400)이 사전 적층된 것일 수 있다.The pressure-
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 수직방향으로 이동 가능하고, 상기 권출된 상기 투명 필름(200)의 상부에 위치하도록 설치된다.The first and
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 수직 방향으로 이동하게 됨에 따라, 상기 투명 필름(200) 역시 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 따라 수직방향으로 이동이 가능하게 된다.As the first and second guide rolls 60 and 70 move in the vertical direction, the
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지하는 역할을 수행할 수 있다.The first and second guide rolls 60 and 70 may serve to maintain the tension of the
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 도 2와 같이, 상기 제1 가이드 롤(60)과 상기 제2 가이드롤(70)의 사이에서 결함 검사가 이루어지도록 위치되는 것이 평탄도 확보 면에서 바람직하다.2, the first and
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는, 상기 제1 및 제2 가이드롤에 의하여 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 적절한 장력을 가지고 접할 수 있기 때문에, 상기 광학 필름(100)의 평탄도를 확보할 수 있으며, 결함 검사 과정 중 발생할 수 있는 컬을 억제할 수 있는 이점이 있다.In the defect inspection method and apparatus of the
본 발명에서 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 부여되는 장력을 한정하지는 않는다. 예컨대, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 접할 때 상기 투명 필름(200)에 부여되는 장력은 50 내지 1000N일 수 있다.In the present invention, the tension imparted by the first and second guide rolls 60 and 70 is not limited. For example, the tension applied to the
본 발명에서 "접한다"는 것은, 상기 투명 필름(200)이 장력에 의하여 상기 광학 필름(100)의 표면에 완전히 밀착된 상태 또는 상기 광학 필름(100)의 검사가 가능한 수준으로 상기 광학 필름(100)의 컬이 상기 투명 필름(200)에 의하여 억제된 상태를 의미할 수 있다.In the present invention, "contacting" means that the
본 발명의 일 실시형태에 있어서, 상기 스테이지(10)에 구비된 스테이지 핀(90)을 상기 투명 필름(200)의 하부가 상기 광학 필름(100)의 상부에 접하도록, 하강시키는 단계;를 더 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, the step of lowering the
상기 스테이지 핀(90)은, 상기 광학 필름(100)이 움직이지 않도록 상기 광학 필름(100)을 받치고 고정시키는 역할을 수행할 수 있으므로, 상기 스테이지(10)는 상기 스테이지 핀(90)을 도 2와 같이 상기 광학 필름(100)의 주변부에 2 이상 구비되도록 포함하는 것이 바람직하다.The
본 발명에 따른 상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)과 같이 수직 방향으로 이동할 수 있다.The
도 2를 참고하면, 상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 상승된 상태일 때는 상기 광학 필름(100)이 움직이지 않도록 일정 높이를 가진 상태로 구비되어 있다가, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 하강하는 경우 상기 투명 필름(200)에 걸리지 않도록 상기 스테이지 핀(90)도 하강할 수 있다.Referring to FIG. 2, the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 권출롤(20)로부터 권출되는 상기 투명 필름(200)을 이오나이저(80)로 이온화 처리하는 단계;를 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, the step of ionizing the
상기 이오나이저(80)는 상기 투명 필름(200)에 이온화 처리를 하여 상기 투명 필름(200)의 정전기를 제거하는 역할을 수행하는 것으로, 도 2를 참고하면, 상기 권출롤(20)과 상기 제1 가이드롤(60)에 배치되어 권출된 상기 투명 필름(200)을 이온화 처리할 수 있다.The
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (d) 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하여 상기 광학 필름 상부의 표면 이미지를 획득하는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the
상기 광을 조사하는 광원(40)은 본 발명에서 특별히 제한하지는 않는다. 구체적으로, 상기 광원(40)은 상기 광학 필름(100)에 광을 조사하는 것으로서, LED, 금속 할라이드 등, 형광등 및 할로겐 등 등을 들 수 있다. 예를 들면, 광원(40)은 막대형 또는 봉형일 수 있으며, 그 발광 방식으로는 면조명 또는 집광조명일 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다. 바람직하게는 상기 광원(40)은 면조명의 형태일 수 있다.The
상기 광원(40)이 면조명일 경우 집광조명에 비하여 빛의 산란으로 인하여 상기 광학 필름(100)의 결함 검출이 용이하고, 상기 광학 필름(100)과 접하는 상기 투명 필름(200)의 표면 이미지가 결함으로 인식되는 현상을 억제할 수 있으므로 바람직하다.When the
상기 표면 이미지를 획득하는 방법을 본 발명에서 특별히 제한하지는 않는다. 예컨대 상기 표면 이미지는 라인 스캔(line scan) 또는 면 스캔(area scan) 방법을 이용하여 획득할 수 있다.The method for obtaining the surface image is not particularly limited in the present invention. For example, the surface image may be obtained using a line scan or area scan method.
상기 표면 이미지를 획득한 후 상기 표면 이미지로부터 이물, 실오라기, 요철, 눌림, 스크래치, 기포, 크랙, 버(burr), 들뜸과 같은 결함을 검출할 수 있다.After acquiring the surface image, defects such as foreign matter, thread, irregularities, pressing, scratches, bubbles, cracks, burrs, and lifting can be detected from the surface image.
특히, 본 발명에서는 투명 필름(200) 상에 점착제(300)를 도포함으로써 상기 투명 필름(200)에 존재하는 스크래치를 채워 상기 스크래치의 검출을 억제하는 효과가 있으며, 이로 인해 광학 필름(100) 상에 존재하는 스크래치만을 선별적으로 검출할 수 있어 투명 필름(200) 상의 스크래치 검출로 인해 발생하는 불필요한 불량률을 억제하는 효과가 있다.In particular, in the present invention, by applying the adhesive 300 on the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 (f) 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시키는 단계;를 포함한다.The defect inspection method of the
상기 표면 이미지를 획득한 후, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)을 상승시켜 상기 광학 필름(100)과 접하고 있던 상기 투명 필름(200)을 상승시킨다.After obtaining the surface image, the first and second guide rolls 60 and 70 are raised to raise the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 (f) 단계 이후에 상기 투명 필름(200)을 권취롤(30)로 권취하여 회수하는 단계;를 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, after the step (f), the
상기 권취롤(30)로 권취된 상기 투명 필름(200)은 필요에 따라 새로운 투명 필름(200)으로 교체될 수도 있고, 검사가 완료된 상기 광학 필름(100) 외 새로운 광학 필름을 검사할 때 다시 사용할 수도 있다. 필요에 따라서, 상기 투명 필름(200)을 회수하는 사행 수정을 위한 전자장치 등이 추가로 구비될 수도 있으나 이에 한정되지 않는다.The
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 검사가 완료된 상기 광학 필름(100)을 이동하는 단계를 더 포함할 수도 있으나 이에 한정되지는 않는다. 이때, 상기 광학 필름(100)의 이동은 당업계에서 통상적으로 사용되는 방법을 통하여 수행될 수 있으며, 예컨대 컨베이너 벨트, 흡착 방식 등을 이용하여 수행될 수 있으나 이에 한정되지는 않는다.The defect inspection method of the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 광학 필름(100)은 플렉서블 광학 필름(100)일 수 있다.In another embodiment of the present invention, the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 검사시 상기 광학 필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접하도록 하여 상기 광학 필름(100)의 평탄도를 확보할 수 있으며, 검사시 발생하는 컬 현상을 억제할 수 있어, 상기 광학 필름(100)이 플렉서블한 형태를 나타내도 검사가 용이한 이점이 있으며, 상기 투명 필름(200)의 일 면 상에 점착제(300)를 도포하여 상기 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치를 채워 상기 스크래치가 검출되는 것을 억제함으로써 그로 인해 발생하는 불필요한 불량률을 감소시키고, 광학 필름(100) 상에 존재하는 스크래치만을 선별적으로 검출이 용이한 이점이 있다.The defect inspection method of the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 광학 필름(100)은 패턴층을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 광학 필름(100)은 터치 센서일 수 있으며, 본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법은 미세한 패턴을 검사하기 위한 고해상도 상태의 짧은 초점심도를 가져야 하는 검사 과정에서도, 대상 기재 요컨대 광학 필름(100)의 컬 등의 변형을 물리적으로 억제할 수 있기 때문에, 미세한 패턴층을 포함하는 경우에도 검사가 용이한 이점이 있다.In another embodiment of the present invention, the
본 발명의 다른 양태는, 광학 필름(100)의 일면을 촬영하여 표면 이미지를 획득하는 영상획득부(50); 상기 광학 필름(100)의 일면에 광을 조사하는 광원(40); 투명 필름(200)을 권출하는 권출롤(20) 및 상기 투명 필름을 권취하는 권취롤(30); 상기 권출롤(20)과 권취롤(30) 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름(200)을 상승 및 하강시키는 제1 및 제2 가이드롤(60, 70); 및 상기 광학 필름(100)이 위치되는 스테이지(10);를 포함하는 광학 필름의 결함 검사 장치에 관한 것이다.Another aspect of the present invention, the
상기 영상획득부(50)는 컬러 또는 흑백 화상의 표면 이미지를 획득할 수 있는 것이 바람직하며, CCD 카메라, 그 밖의 2차원 카메라일 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 상기 영상획득부(50)는 본 발명에 따른 상기 광학 필름(100)의 표면 이미지 또는 적층 구조 내부의 이미지를 얻는 역할을 수행한다.The
상기 광학 필름(100)을 비젼 얼라인먼트를 수행하는 경우 상기 얼라인먼트를 위한 비젼 영상획득부(vision camera), 초음파 EPC(Edge Point Controller), 레이저 EPC가 추가로 구비될 수도 있다.When performing the vision alignment of the
상기 광원(40)은 상기 영상획득부(50)와 대향하도록 위치되는 것으로서, 구체적으로 도 2를 참고하면 상기 광원(40)은 상기 스테이지에 하부에 위치하고, 상기 영상획득부(50)는 상기 보호 필름(400)의 상부에 위치한다.The
상기 광원(40)은 전술한 내용을 적용할 수 있다. 구체적으로, 본 발명에 있어서 상기 광원(40)은 면조명일 수 있다.The
상기 권출롤(20)과 상기 귄취롤(30)은 각각 상기 보호 필름(400)이 적층된 투명 필름(200)을 권출하고 권취하는 역할을 수행하는 것으로, 전술한 내용을 적용할 수 있다.The unwinding
상기 권출롤(20)과 상기 권취롤(30)은 상기 스테이지(10)로부터 일정 간격의 높이를 두고 위치될 수 있다. 구체적으로, 상기 권출롤(20)과 상기 권취롤(30)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)이 상승된 상태, 요컨대 상기 투명 필름(200)이 상기 광학 필름(100)과 접하도록 하강된 상태가 아닌 경우, 상기 광학필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접하지 않도록 수직방향으로 적절한 높이를 가지도록 구비되는 것이 바람직하다.The unwinding
상기 광학 필름(100), 상기 투명 필름(200), 상기 점착제(300) 및 상기 보호 필름(400)은 전술한 내용을 적용할 수 있다. 요컨대, 상기 광학 필름(100)은 플렉서블 광학 필름(100)일 수 있다.The
또한, 상기 광학 필름(100)은 패턴층을 포함할 수 있다.In addition, the
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 권출롤(20)과 권취롤(30) 사이에 구비되어, 권출된 상기 투명 필름(200)을 상승 및 하강시키는 역할을 수행한다.The first and second guide rolls 60 and 70 are provided between the unwinding
도 2를 참고하면, 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70) 사이에 상기 스테이지(10)가 위치하도록 구비되는 것이 상기 투명 필름(200)의 장력을 유지하는 측면에 있어 바람직하다.Referring to FIG. 2, it is preferable in terms of maintaining the tension of the
상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)은 상기 권출된 상기 보호필름(400)의 상부에 구비되어 있으며, 수직 운동을 통하여 상기 투명 필름(200)을 상기 광학 필름(100)과 접하도록 하강시키고, 상기 광학 필름(100)과 접하던 상기 투명 필름(200)을 접하기 이전 상태로 상승시키는 역할을 수행할 수 있다. 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 관한 내용은 전술한 내용으로 이해될 수 있다.The first and second guide rolls 60 and 70 are provided on the unloaded
상기 스테이지(10)는 검사하고자 하는 상기 광학 필름(100)이 위치되는 곳이다. 상기 스테이지(10)는 예컨대 투명한 재질일 수 있으며, 구체적으로 유리로 이루어져 있을 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.The
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 스테이지(10)는 상기 광학 필름(100)을 얼라인(align)하고, 상승 및 하강되는 스테이지 핀(90);을 더 포함할 수 있다.In another embodiment of the present invention, the
상기 스테이지 핀(90)은 상기 상기 광학 필름(100) 상에 상기 투명 필름(200)이 접하도록 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)에 의하여 하강될 때 상기 투명 필름(200)에 걸리지 않도록, 하강될 수 있다.The
상기 스테이지 핀(90)은 상기 제1 및 제2 가이드롤(60, 70)과 동시에 컨트롤 될 수 있으나, 이에 한정되지는 않는다.The
상기 스테이지(10) 및 상기 스테이지 핀(90)은 전술한 내용을 적용할 수도 있다.The above-described content may be applied to the
본 발명의 또 다른 실시형태에 있어서, 상기 권출롤(20)로부터 권출된 상기 투명 필름(200)을 이온화 처리하는 이오나이저(80);를 더 구비할 수 있다.In still another embodiment of the present invention, the
상기 이오나이저(80)는 상기 투명 필름(200)의 폭 방향 전역에 걸쳐 이온화한 기체를 분무함으로써, 상기 투명 필름(200)의 표면에 발생한 정전기를 제거할 수 있다.The
구체적으로, 상기 광학 필름(100)과 접하는 상기 투명 필름(200)의 일면에 발생한 정전기를 제거하는 역할을 수행할 수 있으며, 이로 인하여 상기 광학 필름(100)의 표면의 손상을 억제할 수 있고, 이물 부착으로 인한 추가 불량을 예방할 수 있는 이점이 있다.Specifically, it may serve to remove static electricity generated on one surface of the
본 발명에 따른 광학 필름(100)의 결함 검사 방법 및 장치는, 상기 광학 필름(100)과 상기 투명 필름(200)이 접한 상태에서 결함 검사를 수행하기 때문에, 검사 과정 중 발생하는 컬을 억제할 수 있고, 상기 광학 필름(100) 자체에 컬이 형성되어 있는 경우, 요컨대 플렉서블한 광학 필름(100)의 검사도 용이한 이점이 있으며, 상기 광학 필름(100)과 접합되지 않는 투명 필름(200)의 다른 일 면 상에 점착제(300)를 도포하여 보호 필름(400)을 더 접합시킴으로써, 상기 점착제(300)의 도포로 인해 상기 투명 필름(200) 상에 존재하는 스크래치의 공기층이 채워져 상기 스크래치의 검출이 억제되며, 이와 같이 투명 필름(200) 상의 스크래치의 검출이 억제됨으로써 목적으로 하는 검사체인 광학 필름(100) 상의 스크래치만을 선별적으로 검출하는 것이 용이해져 투명 필름(200) 상의 스크래치 검출로 인해 발생하던 불필요한 불량률이 감소되는 이점이 있다.Defect inspection method and apparatus of the
10: 스테이지
20: 권출롤
30: 권취롤
40: 광원
50: 영상획득부
60: 제1 가이드롤
70: 제2 가이드롤
80: 이오나이저
90: 스테이지 핀
100: 광학 필름
200: 투명 필름
300: 점착제
400: 보호 필름
500: 공기층10: stage 20: winding roll
30: winding roll 40: light source
50: image acquisition unit 60: first guide roll
70: second guide roll 80: ionizer
90: stage pin 100: optical film
200: transparent film 300: adhesive
400: protective film 500: air layer
Claims (1)
(b) 권출롤로부터 투명 필름을 권출하여 상기 광학 필름 상에 위치시키는 단계;
(c) 상기 투명 필름 상에 구비된 제1 및 제2 가이드롤을, 상기 투명 필름의 하부가 상기 광학 필름의 상부에 접할때까지 하강시키는 단계;
(d) 상기 광학 필름의 일면에 광을 조사하여 상기 광학 필름 상부의 표면 이미지를 획득하는 단계;
(e) 상기 표면 이미지로부터 결함을 검출하는 단계; 및
(f) 상기 제1 및 제2 가이드롤을 상승시키는 단계;를 포함하되,
상기 투명 필름은 상기 광학 필름과 접합되지 않은 일 면에 점착제를 이용하여 보호필름이 접합된 것을 특징으로 하는 광학 필름의 결함 검사 방법.(a) placing the optical film on the stage;
(b) unwinding the transparent film from the unwinding roll and placing it on the optical film;
(c) lowering the first and second guide rolls provided on the transparent film until the lower portion of the transparent film contacts the upper portion of the optical film;
(d) irradiating light to one surface of the optical film to obtain a surface image on the top of the optical film;
(e) detecting a defect from the surface image; And
(f) raising the first and second guide rolls;
The transparent film is a defect inspection method of the optical film, characterized in that the protective film is bonded using an adhesive on one surface not bonded to the optical film.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020180128333 | 2018-10-25 | ||
| KR20180128333 | 2018-10-25 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20200047259A true KR20200047259A (en) | 2020-05-07 |
Family
ID=70734044
Family Applications (4)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020190001879A KR20200047259A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-07 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190005124A KR20200047260A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-15 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190008409A KR20200047262A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-22 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190018162A KR20200047266A (en) | 2018-10-25 | 2019-02-15 | Method and device for inspecting defect of optical film |
Family Applications After (3)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020190005124A KR20200047260A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-15 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190008409A KR20200047262A (en) | 2018-10-25 | 2019-01-22 | Method and device for inspecting defect of optical film |
| KR1020190018162A KR20200047266A (en) | 2018-10-25 | 2019-02-15 | Method and device for inspecting defect of optical film |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (4) | KR20200047259A (en) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR102393924B1 (en) * | 2020-09-18 | 2022-05-03 | 류한용 | COF Disctance Inspection Method Through COF Distance Inspectiong Apparatus |
| KR102393922B1 (en) * | 2020-09-18 | 2022-05-02 | 류한용 | COF Disctance Measuring Apparatus |
| CN116465826B (en) * | 2023-03-15 | 2023-10-24 | 东阳市诰源闪光材料有限公司 | Device and method for testing polarization rate of optical film |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20170129077A (en) | 2017-11-06 | 2017-11-24 | 동우 화인켐 주식회사 | Transmissive optical inspection device and method of detecting defect using the same |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4869053B2 (en) | 2006-01-11 | 2012-02-01 | 日東電工株式会社 | LAMINATED FILM MANUFACTURING METHOD, LAMINATED FILM DEFECT DETECTING METHOD, LAMINATED FILM DEFECT DETECTOR, LAMINATED FILM, AND IMAGE DISPLAY DEVICE |
| KR101240564B1 (en) | 2009-09-02 | 2013-03-14 | 아주하이텍(주) | Optical inspection apparatus and method of inspecting using the same |
-
2019
- 2019-01-07 KR KR1020190001879A patent/KR20200047259A/en unknown
- 2019-01-15 KR KR1020190005124A patent/KR20200047260A/en unknown
- 2019-01-22 KR KR1020190008409A patent/KR20200047262A/en unknown
- 2019-02-15 KR KR1020190018162A patent/KR20200047266A/en unknown
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20170129077A (en) | 2017-11-06 | 2017-11-24 | 동우 화인켐 주식회사 | Transmissive optical inspection device and method of detecting defect using the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20200047262A (en) | 2020-05-07 |
| KR20200047260A (en) | 2020-05-07 |
| KR20200047266A (en) | 2020-05-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR20200047259A (en) | Method and device for inspecting defect of optical film | |
| JP2011226957A (en) | Defect inspection method and defect inspection device of polarizing plate | |
| US20140055603A1 (en) | Automatic optical inspection device | |
| KR20110089058A (en) | Optical film raw roll | |
| KR20200078438A (en) | Optical member inspection method, optical product manufacturing method, and optical member inspection apparatus | |
| KR101678169B1 (en) | Upper Surface Foreign Matter Detection Device of Ultra-Thin Transparent Substrate | |
| JP2004325788A (en) | Method and apparatus for optical inspection, and method for manufacturing liquid crystal display device | |
| JP2020085854A (en) | Visual inspection method and visual inspection device | |
| CN105008989B (en) | The production system of optical display means | |
| KR101218971B1 (en) | Flat panel display inspection method and device thereof | |
| KR20160117815A (en) | Optical Inspection Apparatus | |
| KR20150125313A (en) | Upper Surface Foreign Matter Detection Device of the Transparent Substrate using Polarized Light and Detection Method of the Same | |
| KR20170055137A (en) | Anti reflection film inspection apparatus and inspection methode for anti reflection film | |
| JP2005241586A (en) | Inspection device and method for optical film | |
| JP4779506B2 (en) | Substrate for color filter, its inspection method, and inspection device | |
| WO2018030603A1 (en) | Method and device for inspecting for defects in optical film | |
| KR101409218B1 (en) | Inspection apparatus and inspection method of attached substrate | |
| KR101748208B1 (en) | Polarizing and system and method for inspection of sheet-shaped product | |
| KR101396456B1 (en) | Apparatus for inspection of ito film pattern and inspection method thereof | |
| KR100971081B1 (en) | Defect Inspection Method of Polarizing Film | |
| KR20220022510A (en) | Method of manufacturing display device | |
| KR20160101436A (en) | Method for inspectiong the outside of panels | |
| KR20210054635A (en) | Test method and test apparatus | |
| KR101414273B1 (en) | Method and Apparatus for Inspecting Substrate with High Efficiency Reflection and Transmission | |
| KR20130125127A (en) | Defect inspection apparatus for liquid crystal display device and inspecting method thereof |