KR20200008837A - Organic light emitting diode device and favricating method thereof - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a flexible OLED device and, more particularly, to a flexible OLED device which can realize a narrow bezel while improving driving reliability of a display device by lowering a resistance value of a cathode electrode having high resistance; and a manufacturing method thereof. According to the present invention, an auxiliary electrode pattern includes a first layer made of the same material as an anode electrode, and a second layer disposed on the first layer and made of a metal material having low resistance. The wiring resistance of the auxiliary electrode pattern can be lowered without increasing the width or thickness of the auxiliary electrode pattern, thereby also lowering wiring resistance of the cathode electrode connected with the auxiliary electrode pattern. Accordingly, the same current can be applied to the cathode electrode of all regions of the flexible OLED, thereby preventing display quality from being lowered due to increase of a driving voltage caused by increase of a ground voltage or non-uniform brightness. Moreover, the present invention can shorten the width of a non-display area where the auxiliary electrode pattern is located, thereby realizing a narrow bezel.

Description

유기발광표시장치 및 이의 제조방법{Organic light emitting diode device and favricating method thereof}Organic light emitting display device and method for manufacturing same {Organic light emitting diode device and favricating method

본 발명은 유기발광표시장치에 관한 것으로, 특히 고저항 특성을 갖는 캐소드전극의 저항값을 낮춰 표시장치의 구동신뢰성을 향상시키는 동시에, 내로우베젤을 구현할 수 있는 유기발광표시장치 및 이의 제조방법에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an organic light emitting display device, and more particularly, to an organic light emitting display device and a method of manufacturing the same, which can implement a narrow bezel while lowering the resistance value of a cathode having high resistance. It is about.

최근 사회가 본격적인 정보화 시대로 접어듦에 따라 대량의 정보를 처리 및 표시하는 정보 디스플레이에 관한 관심이 고조되고 있고, 또한 휴대가 가능한 정보매체를 이용하려는 요구가 높아지면서, 이에 부응하는 여러 가지 다양한 경량 및 박형의 평판표시장치가 개발되어 각광받고 있다. Recently, as society enters the era of full-scale informatization, interest in information display for processing and displaying a large amount of information is heightened, and as the demand for using a portable information medium increases, various light weights corresponding to this are met. And thin flat panel display devices have been in the spotlight.

다양한 평판표시장치 중에서 유기발광표시장치(Organic light emitting diodes : OLED)는 자발광소자로서, 비발광소자인 액정표시장치(Liquid Crystal Display device : LCD)에 사용되는 백라이트를 필요로 하지 않기 때문에 경량 박형이 가능하다. Among various flat panel display devices, organic light emitting diodes (OLEDs) are self-luminous devices and are lightweight and thin because they do not require a backlight used in a liquid crystal display device (LCD). This is possible.

그리고, 액정표시장치에 비해 시야각 및 대비비가 우수하며, 소비전력 측면에서도 유리하며, 직류 저전압 구동이 가능하고, 응답속도가 빠르며, 내부 구성요소가 고체이기 때문에 외부충격에 강하고, 사용 온도범위도 넓은 장점을 가지고 있다. In addition, the viewing angle and contrast ratio are superior to the liquid crystal display device, and it is advantageous in terms of power consumption. It is also possible to drive the DC low voltage, the response speed is fast, and because the internal components are solid, it is strong against external shock and has a wide temperature range. It has an advantage.

특히, OLED는 유기 박막을 이용하여 형성함으로써, 유기 박막의 특징인 유연성 및 탄성을 이용하여, 플렉서블 표시장치로 응용할 수 있는 최적의 소재로 관심이 집중되고 있다. In particular, since OLED is formed using an organic thin film, attention has been focused on an optimal material that can be applied to a flexible display device using flexibility and elasticity, which are characteristics of the organic thin film.

한편, 최근 휴대용정보장치에서 정밀하고 정확한 화면 정보를 제공하고, 표시패널에 직접 사용자 정보를 입력할 수 있도록 하기 위해서, 동일한 면적에서도 더 큰 표시패널을 사용하고자 하는 필요성이 증가하고 있다. Meanwhile, in order to provide accurate and accurate screen information in a portable information device and to directly input user information into a display panel, there is an increasing need to use a larger display panel in the same area.

이를 위해서 OLED의 화상이 표시되는 액티브영역은 해상도 증가에 따라 다양한 타입의 화소 구조들로 구성되고, 액티브영역 외곽의 베젤영역은 내로우베젤(narrow Bezel) 및 전원부 설계를 위해 발광다이오드의 애노드전극과 동일한 물질로 이루어지는 보조전극패턴을 포함하게 된다. To this end, the active area in which the OLED image is displayed is composed of various types of pixel structures with increasing resolution, and the bezel area outside the active area has an anode electrode and a light emitting diode for designing a narrow bezel and a power supply unit. It includes an auxiliary electrode pattern made of the same material.

보조전극패턴으로는 반사효율이 우수한 금속물질 예를 들어 은(Ag), APC(Ag/Pd/Cu)를 포함하는 적어도 둘 이상의 층으로 구성될 수 있다. The auxiliary electrode pattern may be composed of at least two layers including a metal material having excellent reflection efficiency, for example, silver (Ag) and APC (Ag / Pd / Cu).

여기서, 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압 상승 및 휘도 불균일에 따른 표시품질 저하 등과 같은 문제가 발생하는 것을 방지하기 위한, 전원부의 안정성을 위하여 베젤영역이 구비되는 보조전극패턴의 폭을 넓히거나 두께를 두껍게 형성하는 것이 바람직한데, 보조전극패턴과 동일한 층에 동일한 물질로 이루어지는 애노드전극은 발광다이오드의 발광에 직접적인 영향을 미치기 때문에 일정한 두께가 정해져 있어 보조전극패턴의 두께 또한 두껍게 형성할 수 없으며, 또한 보조전극패턴의 폭을 넓힐 경우에는 베젤영역의 증가를 초래하게 되어 최근 요구되어지고 있는 내로우베젤을 구현하기 어려워지는 문제점을 야기하게 된다. Here, in order to prevent problems such as driving voltage increase due to the ground voltage increase and display quality deterioration due to luminance unevenness, the width of the auxiliary electrode pattern having the bezel area is increased or thickened for the stability of the power supply unit. It is preferable to form the anode. Since the anode electrode made of the same material on the same layer as the auxiliary electrode pattern directly affects the light emission of the light emitting diode, a certain thickness is determined so that the thickness of the auxiliary electrode pattern cannot be made thick. Increasing the width of the pattern causes an increase in the bezel area, which makes it difficult to implement a narrow bezel, which is recently required.

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 베젤영역에서의 보조전극패턴의 저항을 낮추어 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지하고, 베젤영역을 줄일 수 있는 OLED를 제공하는 것을 목적으로 한다. SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and by lowering the resistance of the auxiliary electrode pattern in the bezel area to prevent the display quality from being lowered due to an increase in driving voltage or uneven brightness, and to provide an OLED which can reduce the bezel area. It aims to do it.

전술한 바와 같이 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 다수의 화소영역을 포함하는 액티브영역 및 상기 액티브영역을 외측으로 둘러싸는 비표시영역이 정의된 기판과, 상기 기판 상의 상기 화소영역에 위치하는 박막트랜지스터와, 상기 박막트랜지스터의 드레인전극과 연결되며, 제 1 금속패턴으로 이루어지는 애노드전극과, 상기 비표시영역에 위치하며, 상기 제 1 금속패턴과, 상기 제 1 금속패턴 상부로 제 2 금속패턴을 포함하는 보조전극패턴과, 상기 애노드전극 상부로 위치하는 유기발광층과, 상기 유기발광층 상부로 위치하며, 상기 보조전극패턴과 접촉되는 캐소드전극을 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 금속패턴은 각각 다층으로 이루어지는 유기발광표시장치를 제공한다. As described above, the present invention provides a substrate in which an active region including a plurality of pixel regions and a non-display region surrounding the active region are defined, and a thin film positioned in the pixel region on the substrate. A transistor connected to a transistor, a drain electrode of the thin film transistor, an anode electrode formed of a first metal pattern, and positioned in the non-display area, and having a second metal pattern over the first metal pattern and the first metal pattern; An auxiliary electrode pattern, an organic light emitting layer disposed on the anode electrode, and a cathode electrode positioned on the organic light emitting layer and in contact with the auxiliary electrode pattern, wherein the first and second metal patterns are each multi-layered. An organic light emitting display device is provided.

이때, 상기 제 1 금속패턴은 알루미늄(Al)과 티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄(Al)과 ITO의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC 합금(Ag/Pd/Cu), 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO) 중 선택된 하나로 이루어지며, 상기 제 2 금속패턴은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어지는 단일층 또는 다중층 구조로 이루어진다. In this case, the first metal pattern is a laminated structure of aluminum (Al) and titanium (Ti) (Ti / Al / Ti), a laminated structure of aluminum (Al) and ITO (ITO / Al / ITO), APC alloy (Ag / Pd / Cu) and a laminated structure of APC alloy and ITO (ITO / APC / ITO), wherein the second metal pattern is aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), or copper alloy. , Molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi) of any one consisting of a single layer or a multi-layer structure.

그리고, 상기 보조전극패턴은 상기 박막트랜지스터의 게이트전극과 동일층, 동일물질로 이루어지는 접지배선과 연결되며, 상기 접지배선의 상부로 제 1 층간절연막 사이에 두고 접촉되는 그라운드연결전극이 구비되며, 상기 보조전극패턴은 상기 그라운드연결전극과 접촉된다. In addition, the auxiliary electrode pattern is connected to a ground wiring made of the same layer and the same material as the gate electrode of the thin film transistor, and is provided with a ground connection electrode which is in contact with the first interlayer insulating layer over the ground wiring. The auxiliary electrode pattern is in contact with the ground connection electrode.

또한, 상기 보조전극패턴은 다수개가 이격하여 사이로 아웃개싱홀을 포함하며, 상기 애노드전극은 상기 화소영역 별로 뱅크에 의해 가장자리가 둘러지며,상기 비표시영역에 대응하여 상기 뱅크는 상기 뱅크의 하부로 위치하는 상기 보조전극패턴의 일부를 노출하는 콘택홀을 포함하며, 상기 콘택홀을 통해 상기 보조전극패턴과 상기 캐소드전극은 서로 접촉된다. In addition, the plurality of auxiliary electrode patterns may include an outgassing hole spaced apart from each other, and the anode electrode is surrounded by a bank for each pixel region, and the bank is disposed below the bank corresponding to the non-display area. And a contact hole exposing a portion of the auxiliary electrode pattern, wherein the auxiliary electrode pattern and the cathode electrode contact each other.

또한, 상기 기판은 연성기판 또는 강성기판 중 적어도 하나로 이루어질 수 있으며, 상기 기판 상부로는 유기층, 멀티버퍼층, 액티브버퍼층이 순차적으로 위치한다. The substrate may be formed of at least one of a flexible substrate and a rigid substrate, and an organic layer, a multibuffer layer, and an active buffer layer are sequentially disposed on the substrate.

또한, 본 발명은 화소영역에 대응하여, 기판 상에 액티브층과, 게이트절연층 그리고 게이트전극을 형성하는 동시에, 비표시영역에 대응하여 상기 게이트전극과 동일층, 동일물질로 접지배선을 형성하는 단계와, 상기 게이트전극 및 상기 접지배선 상부로 층간절연막을 형성한 뒤, 상기 층간절연막 상부로, 각각 상기 액티브층의 각 소스영역 및 드레인영역과 접촉되는 소스전극 및 드레인전극을 형성하는 단계와, 상기 소스전극 및 드레인전극 상부로 보호층을 형성하는 단계와, 상기 보호층 상부로 제 1 금속층과 제 2 금속층을 순차 적층하는 단계와, 상기 제 1 및 제 2 금속층을 마스크공정을 통해, 제 1 및 제 2 금속패턴으로 형성하는 단계와, 상기 화소영역에 대응하여 상기 제 1 금속패턴으로 이루어지며, 상기 드레인전극과 접촉하는 애노드전극을 형성하는 단계와, 상기 비표시영역에 대응하여, 상기 제 1 및 제 2 금속패턴으로 이루어지며, 상기 접지배선과 접촉되는 보조전극배선을 형성하는 단계와, 상기 애노드전극 상부로 유기발광층을 형성하는 단계와, 상기 유기발광층 상부로 상기 보조전극배선과 접촉하는 캐소드전극을 형성하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 제조방법을 제공한다. In addition, according to the present invention, an active layer, a gate insulating layer, and a gate electrode are formed on a substrate in correspondence with a pixel region, and at the same time, a ground wiring is formed of the same layer and the same material as the gate electrode in a non-display region. Forming an interlayer insulating film over the gate electrode and the ground wiring, and forming a source electrode and a drain electrode over the interlayer insulating film, respectively, in contact with each source region and the drain region of the active layer; Forming a protective layer over the source electrode and the drain electrode, sequentially laminating a first metal layer and a second metal layer over the protective layer, and masking the first and second metal layers through a mask process; And forming an anode electrode formed of a second metal pattern and the first metal pattern corresponding to the pixel region and in contact with the drain electrode. And forming an auxiliary electrode wiring formed of the first and second metal patterns and in contact with the ground wiring, corresponding to the non-display area, and forming an organic light emitting layer on the anode electrode. And forming a cathode electrode in contact with the auxiliary electrode wiring on the organic light emitting layer.

여기서, 상기 마스크공정은 하프-톤(Half-tone) 마스크를 이용하며, 상기 제 1 금속패턴은 알루미늄(Al)과 티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄(Al)과 ITO의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC 합금(Ag/Pd/Cu), 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO) 중 선택된 하나로 이루어진다. The mask process may include a half-tone mask, and the first metal pattern may include a stacked structure (Ti / Al / Ti), aluminum (Al), and aluminum (Al) and titanium (Ti). One selected from ITO laminated structure (ITO / Al / ITO), APC alloy (Ag / Pd / Cu), and APC alloy and ITO laminated structure (ITO / APC / ITO).

그리고, 상기 제 2 금속패턴은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어지는 단일층 또는 다중층 구조로 이루어지며, 상기 접지배선에 대응하여, 상기 층간절연막 상부로 그라운드접지배선을 더욱 형성하며, 상기 그라운드접지배선은 상기 층간절연막에 구비된 그라운드콘택홀을 통해 상기 접지배선과 접촉된다. The second metal pattern is formed of a single layer or a multi-layer structure made of any one of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), and molybdenum (MoTi). Further, a ground ground wiring is further formed on the interlayer insulating film to correspond to the ground wiring, and the ground ground wiring is in contact with the ground wiring through a ground contact hole provided in the interlayer insulating film.

또한, 상기 애노드전극은 상기 화소영역 별로 뱅크에 의해 가장자리가 둘러지며, 상기 비표시영역에 대응하여 상기 뱅크는 상기 뱅크의 하부로 위치하는 상기 보조전극패턴의 일부를 노출하는 콘택홀을 포함하며, 상기 콘택홀을 통해 상기 보조전극패턴과 상기 캐소드전극은 서로 접촉되며, 상기 기판은 연성기판 또는 강성기판 중 적어도 하나로 이루어질 수 있으며, 상기 강성기판 상부로는 희생층, 유기층, 멀티버퍼층, 액티브버퍼층이 순차적으로 위치하며, 상기 희생층은 상기 기판의 배면으로부터 조사되는 레이저에 의해 제거되는 제 1 단계와, 상기 강성기판과 상기 유기층이 서로 분리되는 제 2 단계 그리고 상기 유기층에 상기 연성기판이 부착되는 제 3 단계를 포함한다. In addition, the anode electrode is surrounded by a bank for each pixel region, the bank corresponding to the non-display area, the bank includes a contact hole for exposing a portion of the auxiliary electrode pattern located below the bank, The auxiliary electrode pattern and the cathode electrode contact each other through the contact hole, and the substrate may be formed of at least one of a flexible substrate and a rigid substrate, and a sacrificial layer, an organic layer, a multibuffer layer, and an active buffer layer may be formed on the rigid substrate. A first step in which the sacrificial layer is sequentially removed by a laser irradiated from a rear surface of the substrate; a second step in which the rigid substrate and the organic layer are separated from each other; and a second substrate in which the flexible substrate is attached to the organic layer. Includes three steps.

위에 상술한 바와 같이, 본 발명에 따라 플렉서블 OLED의 보조전극패턴을 애노드전극과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층과, 제 1 층 상부로 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층을 더욱 구비함으로써, 보조전극패턴의 폭을 넓히거나 두께를 더욱 두껍게 하지 않더라도 보조전극패턴의 배선저항을 낮출 수 있어, 보조전극패턴과 연결되는 캐소드전극의 배선저항 또한 함께 낮출 수 있는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, the auxiliary electrode pattern of the flexible OLED is further provided with a first layer made of the same material as the anode electrode, and a second layer made of a metal material having a low resistance characteristic on the first layer, Even if the width of the auxiliary electrode pattern is not increased or the thickness is made thicker, the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern can be lowered, thereby reducing the wiring resistance of the cathode electrode connected to the auxiliary electrode pattern.

이에 따라, 플렉서블 OLED의 모든 영역의 캐소드전극으로 동일한 전류가 인가될 수 있어, 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다. Accordingly, the same current can be applied to the cathode electrodes of all the regions of the flexible OLED, so that the display voltage can be prevented from being increased due to the increase in the ground voltage or the luminance unevenness.

또한, 보조전극패턴이 위치하는 비표시영역의 폭 또한 줄일 수 있어, 내로우베젤 구현할 수 있는 효과가 있다. In addition, the width of the non-display area in which the auxiliary electrode pattern is located can also be reduced, so that a narrow bezel can be realized.

도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED를 개략적으로 도시한 평면도.
도 2와 도 3a는 도 1의 절단선 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 자른 단면도.
도 3b는 도 1의 절단선 Ⅲ-Ⅲ선을 다라 자른 단면도.
도 4a ~ 4l은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 플렉서블 OLED의 일부에 대한 제조 단계별 공정 단면도.
도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED의 일부를 개략적으로 도시한 단면도.
1 is a plan view schematically showing a flexible OLED according to a first embodiment of the present invention;
2 and 3A are cross-sectional views taken along the line II-II of FIG. 1.
3B is a cross-sectional view taken along the line III-III of FIG. 1.
4A to 4L are cross-sectional views of manufacturing steps for a portion of the flexible OLED according to the first embodiment of the present invention.
5 is a schematic cross-sectional view of a portion of a flexible OLED according to a second embodiment of the present invention.

이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

설명에 앞서, 최근 플라스틱 등과 같이 유연성 있는 재료를 사용하여 종이처럼 휘어져도 표시성능을 그대로 유지할 수 있게 제조된 플렉서블(flexible) 표시장치가 차세대 평판형 표시장치로 급부상중으로, OLED는 이중 대표적인 플렉서블 표시장치로 활발히 사용되고 있다. Prior to the description, flexible displays, which are manufactured to maintain display performance even when they are bent like paper using flexible materials such as plastic, are rapidly emerging as next-generation flat panel displays, and OLED is one of the representative flexible displays. It is being used actively.

플렉서블 표시장치는 유리가 아닌 플라스틱 박막트랜지스터 기판을 활용하여 내구성이 높은 언브레이커블(unbreakable), 깨지지 않으면서도 구부릴 수 있는 밴더블(bendable), 둘둘 말 수 있는 롤러블(rollable), 접을 수 있는 폴더블(foldable) 등으로 구분될 수 있는데, 이러한 플렉서블 표시장치는 공간활용성, 인테리어 및 디자인의 장점을 가지며, 다양한 응용분야를 가질 수 있다.The flexible display utilizes non-glass, plastic thin film transistor substrates for durable, unbreakable, unbreakable, bendable, rollable, and collapsible folders. The flexible display device may be classified into a foldable or the like. The flexible display device has advantages of space utilization, interior design, and design, and may have various applications.

최근에는 이러한 플렉서블 표시장치의 유연한 성질을 이용하여 표시장치의 여러부분을 휘거나 구부리려는 연구가 진행되고 있는데, 특히 내로우베젤을 구현하기 위하여 액티브영역 외곽의 베젤영역을 줄이기 위한 연구가 활발히 진행되고 있다. Recently, researches have been conducted to bend or bend various parts of the display device using the flexible properties of the flexible display device. In particular, researches for reducing the bezel area outside the active area have been actively conducted to implement a narrow bezel. have.

이하, 베젤영역 중 일부가 접혀 내로우베젤을 구현할 수 있는 플렉서블 표시장치를 일예로 설명하도록 하겠다. 여기서, 플렉서블 표시장치는 유기 박막을 이용하여 유연성 및 탄성을 갖는 OLED로 이루어짐을 일예로 설명하도록 하겠다. Hereinafter, a flexible display device in which a portion of the bezel region is folded to implement a narrow bezel will be described as an example. Here, the flexible display device will be described as an example of an OLED having flexibility and elasticity using an organic thin film.

- 제 1 실시예 -First Embodiment

도 1은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED를 개략적으로 도시한 평면도이다. 1 is a plan view schematically illustrating a flexible OLED according to a first embodiment of the present invention.

도시한 바와 같이, 플렉서블 OLED(100)는 투명한 연성기판(101) 상에 박막트랜지스터(DTr, 도 2 참조) 및 박막트랜지스터(DTr, 도 2 참조)와 연결되어 구동되는 발광다이오드(E, 도 2 참조)가 형성된다.As illustrated, the flexible OLED 100 is connected to a thin film transistor DTr (see FIG. 2) and a thin film transistor DTr (see FIG. 2) and driven on a transparent flexible substrate 101. Are formed).

이에 대해 좀더 자세히 살펴보면, 연성기판(101) 상에는 중앙부의 액티브영역(A/A)과 액티브영역(A/A)의 가장자리를 따라 비표시영역(NEA1, NEA2)이 정의되며, 액티브영역(A/A)은 발광다이오드(E, 도 2 참조)가 배치된 영역으로서, 실질적으로 화상이 표시되는 영역을 의미하며, 표시영역(display area)으로 지칭될 수 있다. In more detail, on the flexible substrate 101, non-display areas NEA1 and NEA2 are defined along the edges of the active area A / A and the active area A / A in the center, and the active area A / A. A) is an area in which the light emitting diodes E (refer to FIG. 2) are disposed, which means an area in which an image is displayed, and may be referred to as a display area.

액티브영역(A/A) 내에는 다수개의 게이트배선(GL)과 데이터배선(DL)이 서로 교차하여 다수개의 화소영역(P)을 정의하며, 각 화소영역(P)에는 발광다이오드(E, 도 2 참조)와 연결된 박막트랜지스터(DTr, 도 2 참조)가 배치되는데, 박막트랜지스터(DTr, 도 2 참조)는 비표시영역(NEA1, NEA2)에 위치한 구동부(120)와 연관되어 동작하며, 발광다이오드(E, 도 2 참조)에 제공되는 구동 전류량을 제어하게 된다. In the active area A / A, a plurality of gate lines GL and data lines DL intersect each other to define a plurality of pixel areas P. Each pixel area P defines a light emitting diode E. 2) is connected to the thin film transistor DTr (see FIG. 2), and the thin film transistor DTr (see FIG. 2) operates in association with the driving unit 120 located in the non-display areas NEA1 and NEA2. The driving current amount provided to (E, see FIG. 2) is controlled.

여기서, 액티브영역(A/A)의 가장자리를 두르는 비표시영역(NEA1, NEA2)은 액티브영역(A/A)의 상단부에 위치하여 패드부(130)를 포함하는 제 1 비표시영역(NEA1)과, 액티브영역(A/A)의 좌측 및 우측으로 위치하여 구동부(120)를 포함하는 제 2 비표시영역(NEA2)으로 나뉘어 정의할 수 있다. Here, the non-display areas NEA1 and NEA2 that surround the edges of the active area A / A are positioned at the upper end of the active area A / A, and include the first non-display area NEA1 including the pad 130. And a second non-display area NEA2 positioned on the left and right sides of the active area A / A and including the driver 120.

구동부(120)는 연성기판(미도시)의 제 2 비표시영역(NEA2)에 배치되며, 박막트랜지스터(DTr, 도 2 참조)에 구동 신호를 제공하게 되는데, 예를 들어, 구동부(120)는 박막트랜지스터(DTr, 도 2 참조)에 게이트 신호를 제공하는 게이트 구동부일 수 있다.The driver 120 is disposed in the second non-display area NEA2 of the flexible substrate (not shown) and provides a driving signal to the thin film transistor DTr (see FIG. 2). For example, the driver 120 The gate driver may provide a gate signal to the thin film transistor DTr (see FIG. 2).

게이트 구동부는 다양한 게이트 구동회로들을 포함하며, 게이트 구동회로들은 연성기판(101) 상에 직접 형성될 수 있는데, 이러한 구동부(120)는 GIP(gate-in-panel)로 지칭될 수 있다. The gate driver includes various gate driver circuits, and the gate driver circuits may be directly formed on the flexible substrate 101, and the driver 120 may be referred to as a gate-in-panel (GIP).

게이트 구동부는 액티브영역(A/A)에 형성되는 표시소자들과 동시에 형성될 수 있는데, 도면상으로는 액티브영역(A/A)의 양 측변에 게이트 구동부가 모두 배치된 구조를 도시하였으나, 게이트 구동부는 액티브영역(A/A)의 어느 한쪽에만 배치되어 있을 수도 있다. The gate driver may be formed at the same time as the display elements formed in the active region A / A. In the drawing, the gate driver is disposed on both sides of the active region A / A. It may be disposed only on either side of the active area A / A.

한편, 박막트랜지스터(DTr, 도 2 참조)에 데이터 신호를 제공하는 데이터 구동부는, 분리된 인쇄 회로 기판(Printed Circuit Board; PCB)(미도시)에 탑재되어 FPCB(flexible printed circuit board) 등과 같은 회로필름(미도시)을 통해 연성기판(101)의 제 1 비표시영역(NEA1)에 위치하는 패드부(130)와 연결되거나, COF(chip-on-film), TCP(tape-carrier-package) 등과 같은 방식으로 회로필름(미도시) 상에 배치되어 연성기판(101)의 패드부(130)에 연결될 수 있다.Meanwhile, a data driver for providing a data signal to the thin film transistor DTr (see FIG. 2) may be mounted on a separate printed circuit board (PCB) (not shown) to provide a circuit such as a flexible printed circuit board (FPCB). Connected to the pad unit 130 positioned in the first non-display area NEA1 of the flexible substrate 101 through a film (not shown), or a chip-on-film (TCP) or tape-carrier-package (TCP) package. It may be disposed on the circuit film (not shown) in the same manner as the like and connected to the pad portion 130 of the flexible substrate 101.

이러한 패드부(130)는 FPCB 등과 같은 회로필름(미도시)과 접속되며, 회로필름(미도시)과 배선(131)을 서로 연결시키는 접촉 단자로서 기능한다.The pad part 130 is connected to a circuit film (not shown) such as an FPCB, and functions as a contact terminal connecting the circuit film (not shown) and the wiring 131 to each other.

그리고, 액티브영역(A/A) 주변에는 접지배선(GND)이 둘러싸듯이 배치되어 있다. 특히, 게이트 구동부의 외측을 감싸도록 배치하는 것이 바람직하다. 접지배선(GND)은 데이터 구동부에 연결되어 있다. 데이터 구동부는 외부와 연결되고, 외부에서 인가되는 접지전압은 데이터 구동부의 접지패드를 통해 접지배선(GND)으로 공급된다.The ground wiring GND is arranged around the active region A / A. In particular, it is preferable to arrange so as to surround the outer side of the gate driver. The ground wiring GND is connected to the data driver. The data driver is connected to the outside, and the ground voltage applied from the outside is supplied to the ground line GND through the ground pad of the data driver.

여기서, 연성기판(101) 상의 제 1 비표시영역(NEA1)에는 패드부(130)와 액티브영역(A/A)을 연결하는 배선(131)들이 구비되는 영역이 구비되는데, 배선(131)들은 패드부(130)를 통해 전달되는 다양한 전기적 신호들을 액티브영역(A/A)에 배치된 박막트랜지스터(DTr, 도 2 참조)로 전달하게 된다.Here, the first non-display area NEA1 on the flexible substrate 101 includes an area in which the wires 131 connecting the pad unit 130 and the active area A / A are provided. Various electrical signals transmitted through the pad unit 130 are transferred to the thin film transistor DTr (see FIG. 2) disposed in the active region A / A.

본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 베젤영역의 축소를 위하여 패드부(130)가 위치하는 제 1 비표시영역(NEA1)을 액티브영역(A/A)의 배면으로 밴딩함으로써 정면에서 바라볼 때, 액티브영역(A/A)과 제 2 비표시영역(NEA2)만이 인지되는 플렉서블 OLED(100)를 제공하고자 한다. In the flexible OLED 100 according to the first embodiment of the present invention, the first non-display area NEA1 in which the pad part 130 is located is bent to the rear surface of the active area A / A to reduce the bezel area. When viewed from the front, it is intended to provide a flexible OLED 100 in which only the active area A / A and the second non-display area NEA2 are recognized.

이를 위해, 액티브영역(A/A)과 패드부(130) 사이로 밴딩영역(B/A)이 정의된다. To this end, a bending area B / A is defined between the active area A / A and the pad unit 130.

여기서, 본 발명의 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 구동부(120)가 위치하는 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭이 기존 대비 현저히 줄어들게 된다. Here, in the flexible OLED 100 according to the exemplary embodiment of the present invention, the width of the second non-display area NEA2 in which the driving unit 120 is located is significantly reduced compared to the conventional.

제 2 비표시영역(NEA2)에는 보조전극패턴(200, 도 3 참조)이 위치하게 되는데, 본 발명의 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 제 2 비표시영역(NEA2)에 위치하는 보조전극패턴(200, 도 3 참조)이 저저항 특성을 갖는 제 2 층(203, 도 3 참조)을 더욱 포함함으로써, 보조전극패턴(200, 도 3 참조)의 폭을 넓히거나 두께를 두껍게 형성하지 않더라도, 보조전극패턴(200, 도 3 참조)의 배선저항을 낮출 수 있게 된다. An auxiliary electrode pattern 200 (refer to FIG. 3) is disposed in the second non-display area NEA2, and the flexible OLED 100 according to the exemplary embodiment of the present invention is an auxiliary electrode located in the second non-display area NEA2. Since the pattern 200 (see FIG. 3) further includes a second layer 203 (see FIG. 3) having low resistance, the auxiliary electrode pattern 200 (see FIG. 3) may not be made wider or thicker. The wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200 (refer to FIG. 3) can be lowered.

이를 통해, 제 2 비표시영역(NEA2)의 밴딩 없이도 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭을 줄일 수 있으며, 또는 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭의 증가 없이도 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. 이에 대해 도 2와 도 3a 3b를 참조하여 좀더 자세히 살펴보도록 하겠다. As a result, the width of the second non-display area NEA2 can be reduced without bending the second non-display area NEA2, or the driving voltage due to the ground voltage rises without increasing the width of the second non-display area NEA2. It is possible to prevent the display quality from being lowered due to this increase or uneven brightness. This will be described in more detail with reference to FIGS. 2 and 3A and 3B.

도 2와 도 3a는 도 1의 절단선 Ⅱ-Ⅱ선을 따라 자른 단면도이며, 도 3b은 도 1의 절단선 Ⅲ-Ⅲ선을 다라 자른 단면도이다. 2 and 3A are cross-sectional views taken along the line II-II of FIG. 1, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along the line III-III of FIG. 1.

설명에 앞서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 OLED(100)는 발광된 광의 투과방향에 따라 상부 발광방식(top emission type)과 하부 발광방식(bottom emission type)으로 나뉘게 되는데, 이하 본 발명에서는 상부 발광방식을 일예로 설명하도록 하겠다.Prior to the description, the OLED 100 according to the first embodiment of the present invention is divided into a top emission type (top emission type) and a bottom emission type (bottom emission type) according to the transmission direction of the emitted light, in the present invention The upper light emitting method will be described as an example.

도시한 바와 같이, 강성기판(SUB)에는 액티브영역(도 1의 A/A) 및 비표시영역(NEA1, NEA2)이 정의될 수 있는데, 비표시영역(NEA1, NEA2)은 액티브영역(도 1의 A/A)의 일측에 위치될 수 있다. As shown, the active substrate (A / A of FIG. 1) and the non-display areas NEA1 and NEA2 may be defined in the rigid substrate SUB, and the non-display areas NEA1 and NEA2 may be defined as the active area (FIG. 1). A / A) can be located on one side.

액티브영역(도 1의 A/A)은 화소영역(P)이 배치되어 OLED(100)에서 영상이 표시되는 영역이며, 제 1 및 제 2 비표시영역(NEA1, NEA2)은 액티브영역(도 1의 A/A) 이외의 영역으로서, 화소영역(P)을 구동하기 위한 다양한 회로, 배선 등이 배치되는 영역이다.The active area (A / A of FIG. 1) is an area in which a pixel area P is disposed to display an image in the OLED 100, and the first and second non-display areas NEA1 and NEA2 are active areas (FIG. 1). A region other than A / A) is a region in which various circuits and wirings for driving the pixel region P are arranged.

여기서, 설명의 편의를 위하여 액티브영역(도 1의 A/A)의 박막트랜지스터(DTr)가 위치하는 영역을 스위칭영역(TrA), 스토리지 커패시터(C1, C2, C3)가 위치하는 영역을 스토리지영역(StgA)으로 정의하며, 제 1 비표시영역(NEA1)의 밴딩이 발생하는 영역을 밴딩영역(B/A)으로, 패드부(130)가 위치하는 영역을 패드영역(PAD)으로 정의하며, Here, for convenience of description, the area where the thin film transistor DTr of the active area (A / A of FIG. 1) is located is the storage area where the switching area TrA and the storage capacitors C1, C2, and C3 are located. Defined as StgA, an area where banding of the first non-display area NEA1 occurs is defined as a bending area B / A, and an area where the pad part 130 is located is defined as a pad area PAD.

제 2 비표시영역(NEA2)의 구동부(도 1의 120)가 위치하는 영역을 구동영역(DA)으로 나뉘어 정의하도록 한다. An area in which the driver (120 of FIG. 1) of the second non-display area NEA2 is located is defined as being divided into the driving area DA.

그리고, 플렉서블OLED(100)는 제조의 편의성을 위해, 먼저 강성기판(SUB) 위에 플렉서블 OLED(100)를 형성한 후, 강성기판(SUB)을 플렉서블 OLED(100)와 분리하여 형성하게 된다. 도 2는 강성기판(SUB) 위에 형성된 플렉서블 OLED(100)의 단면구조를 나타낸다. In addition, the flexible OLED 100 may be formed by first forming the flexible OLED 100 on the rigid substrate SUB and then separating the rigid substrate SUB from the flexible OLED 100 for convenience of manufacturing. 2 illustrates a cross-sectional structure of the flexible OLED 100 formed on the rigid substrate SUB.

이에 대해 좀더 자세히 살펴보면, 강성기판(SUB) 상에는 희생층(SL)이 도포되어 있는데, 이러한 희생층(SL)은 아몰퍼스 실리콘(amorphous silicon; a-Si)을 증착하여 형성할 수 있다. In more detail, the sacrificial layer SL is coated on the rigid substrate SUB, and the sacrificial layer SL may be formed by depositing amorphous silicon (a-Si).

희생층(SL) 상에는 유기층(PI)이 도포되어 있는데, 유기층(PI)은 고온 특성이 우수한 폴리이미드 물질을 포함하여 이루어질 수 있다. The organic layer PI is coated on the sacrificial layer SL, and the organic layer PI may include a polyimide material having excellent high temperature characteristics.

희생층(SL)은 추후 조사되는 레이저에 의해 제거되어 강성기판(SUB)과 유기층(PI)이 서로 박리되게 된 후, 도 3a에 도시한 바와 같이 노출된 유기층(PI)의 하부 표면에 플렉서블 필름기판 혹은 연성기판(101)을 부착하게 된다. The sacrificial layer SL is removed by a laser to be irradiated later so that the rigid substrate SUB and the organic layer PI are separated from each other, and as shown in FIG. 3A, the flexible film is exposed on the lower surface of the exposed organic layer PI. The substrate or flexible substrate 101 is attached.

연성기판(101)은 유연성(flexability)을 가지는 플라스틱(plastic) 물질로 이루어질 수 있는데, 예를 들어, 연성기판(101)은 폴리이미드(polyimide), 폴리에틸렌 나프탈레이트(polyethylene naphthalate; PEN), 폴리에틸렌 테라프탈레이트(polyethylene terephthalate; PET) 등과 같은 고분자로 이루어진 박막 플라스틱 필름으로 구현될 수 있다. The flexible substrate 101 may be made of a plastic material having flexibility. For example, the flexible substrate 101 may be made of polyimide, polyethylene naphthalate (PEN), or polyethylene terra. It may be implemented as a thin film plastic film made of a polymer such as phthalate (polyethylene terephthalate; PET).

이러한 연성기판(101)은 우수한 유연성을 가지기 위하여, 5um 내지 50um의 두께를 가질 수 있는데, 연성기판(101)이 5um 미만의 두께를 가지는 경우, 연성기판(101)은 쉽게 찢어질 수 있으며, 연성기판(101)이 50um을 초과하는 두께를 가지는 경우, 연성기판(101)이 용이하게 밴딩되지 않을 수 있다.The flexible substrate 101 may have a thickness of 5um to 50um in order to have excellent flexibility. When the flexible substrate 101 has a thickness of less than 5um, the flexible substrate 101 may be easily torn and flexible. When the substrate 101 has a thickness exceeding 50 μm, the flexible substrate 101 may not be easily bent.

유기층(PI) 상부로는 멀티버퍼층(102)이 도포되어 있는데, 멀티버퍼층(102)은 복수 개의 박막들이 연속해서 적층된 버퍼층으로, 예를 들어, 질화실리콘(SiNx)과 산화실리콘(SiOx)이 교대로 적층될 수 있다. 또는 유기막과 무기막이 반복해서 교대로 적층될 수도 있다.The multi-buffer layer 102 is coated on the organic layer PI. The multi-buffer layer 102 is a buffer layer in which a plurality of thin films are successively stacked. For example, silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiOx) may be formed. Can be stacked alternately. Alternatively, the organic film and the inorganic film may be repeatedly stacked alternately.

이러한 멀티버퍼층(102)은 유기층(PI)으로부터의 수분 등의 침투를 방지하는 인캡슐레이션 역할을 하게 된다. The multi-buffer layer 102 serves as an encapsulation to prevent the penetration of moisture and the like from the organic layer (PI).

멀티버퍼층(102) 상부로는 액티브버퍼층(103)이 더욱 위치할 수 있는데, 액티브버퍼층(103)은 박막트랜지스터(DTr)의 액티브층(105)을 보호하기 위한 것으로, 유기층(PI)으로부터 유입되는 결함을 차단하는 기능을 수행하게 된다. 이러한 액티브버퍼층(103)은 멀티버퍼층(102)과 동일 물질로 구성될 수 있다. The active buffer layer 103 may be further positioned on the multi-buffer layer 102. The active buffer layer 103 is for protecting the active layer 105 of the thin film transistor DTr and is introduced from the organic layer PI. It will function to block the fault. The active buffer layer 103 may be made of the same material as the multi-buffer layer 102.

액티브버퍼층(103) 상부의 스위칭영역(TrA)에는 박막트랜지스터(DTr)가 위치하는데, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 박막트랜지스터(DTr)는 폴리 실리콘 물질을 액티브층(105)으로 하는 박막트랜지스터로서 저온 폴리실리콘(Low Temperature Poly-Silicon; LTPS)을 이용한 LTPS 박막트랜지스터가 사용된다. The thin film transistor DTr is positioned in the switching region TrA on the active buffer layer 103. The thin film transistor DTr according to the first embodiment of the present invention is a thin film transistor including a polysilicon material as the active layer 105. As a low-temperature polysilicon (LTPS) using a LTPS thin film transistor is used.

폴리실리콘 물질은 이동도가 높아 에너지 소비 전력이 낮고 신뢰성이 우수하다. Polysilicon materials have high mobility, low energy consumption and high reliability.

즉, 액티브버퍼층(103) 상의 스위칭영역(TrA)에는 액티브층(105)이 배치된다. LTPS 박막트랜지스터(이하, 박막트랜지스터 라 함, DTr)의 액티브층(105)은 박막트랜지스터(105) 구동 시 채널이 형성되는 채널영역(105a), 채널영역(105a) 양 측의 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)을 포함한다. That is, the active layer 105 is disposed in the switching region TrA on the active buffer layer 103. The active layer 105 of the LTPS thin film transistor (hereinafter referred to as a thin film transistor, DTr) includes a channel region 105a in which a channel is formed when the thin film transistor 105 is driven, and source regions 105b on both sides of the channel region 105a. And a drain region 105c.

채널영역(105a), 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)은 이온도핑(불순물 도핑)에 의해 정의된다.The channel region 105a, the source region 105b and the drain region 105c are defined by ion doping (impurity doping).

이때, 스토리지영역(StgA)에서는 액티브패턴(151)이 형성되는데, 액티브패턴(151)은 액티브층(105)과 마찬가지로 아몰퍼스 실리콘으로 이루어지며, 불순물이 도핑된다.In this case, the active pattern 151 is formed in the storage area StgA. The active pattern 151 is made of amorphous silicon, like the active layer 105, and is doped with impurities.

이어서, 게이트절연층(106)이 액티브층(105)과 액티브패턴(151) 상부로 배치되는데, 게이트절연층(106)은 질화실리콘(SiNx) 또는 산화실리콘(SiOx)의 단일층으로 구성되거나, 질화실리콘(SiNx) 및 산화실리콘(SiOx)으로 이루어진 다중층으로 구성될 수 있다.Subsequently, the gate insulating layer 106 is disposed over the active layer 105 and the active pattern 151, and the gate insulating layer 106 is formed of a single layer of silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiOx), It may be composed of a multilayer consisting of silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiOx).

스위칭영역(TrA)에 대응하여 게이트절연층(106) 상에는 게이트전극(107)이 액티브층(105)의 채널영역(105a)과 중첩되도록 대응하여 위치하며, 도면에 나타내지 않았지만 일방향으로 연장하는 게이트배선(도 1의 GL)이 형성되어 있다.  The gate electrode 107 is disposed on the gate insulating layer 106 so as to overlap the channel region 105a of the active layer 105 corresponding to the switching region TrA, and the gate wiring extending in one direction although not shown in the figure. (GL in Fig. 1) is formed.

그리고, 스토리지영역(StgA)에 있어서는 게이트절연층(106) 상부로 제 1 금속패턴(153)이 액티브패턴(151)에 대응하여 배치된다. In the storage area StgA, the first metal pattern 153 is disposed on the gate insulating layer 106 to correspond to the active pattern 151.

게이트전극(107) 및 게이트배선(도 1의 GL)과 제 1 금속패턴(153)은 동일 물질로 이루어질 수 있는데, 게이트전극(107) 및 게이트배선(도 1의 GL) 그리고 제 1 금속패턴(153)은 저저항 특성을 갖는 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어져 단일층 구조를 가질 수 있으며, 또는 둘 이상으로 이루어짐으로써 이중층 또는 삼중 층 구조를 가질 수도 있다. The gate electrode 107 and the gate wiring (GL in FIG. 1) and the first metal pattern 153 may be made of the same material. The gate electrode 107 and the gate wiring (GL in FIG. 1) and the first metal pattern ( 153 may have a single layer structure consisting of any one of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi) having low resistance properties, or It may be made of two or more to have a double layer or triple layer structure.

이어서, 게이트전극(107) 및 게이트배선(도 1의 GL) 그리고 제 1 금속패턴(153) 상부로 제 1 층간절연막(108)이 배치되는데, 제 1 층간절연층(108)은 질화실리콘(SiNx)으로 이루어지도록 하여, 액티브층(105)의 안정화시키기 위한 수소화 공정 시, 질화실리콘(SiNx)으로 이루어지는 제 1 층간절연막(108)에 포함된 수소가 액티브층(105)으로 확산되도록 하는 것이 바람직하다. Subsequently, a first interlayer insulating layer 108 is disposed on the gate electrode 107, the gate wiring (GL in FIG. 1), and the first metal pattern 153. The first interlayer insulating layer 108 is formed of silicon nitride (SiNx). In the hydrogenation process for stabilizing the active layer 105, the hydrogen contained in the first interlayer insulating film 108 made of silicon nitride (SiNx) is preferably diffused into the active layer 105. .

그리고, 스토리지영역(StgA)에 있어서는 제 1 층간절연막(108) 상부로 제 2 금속패턴(155)이 제 1 금속패턴(153)에 대응하여 배치된다. 제 2 금속패턴(155)은 알루미늄(Al)이나 구리(Cu), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 텅스텐(W) 또는 이들의 합금 중 적어도 하나로 이루어질 수 있으며, 단일층 또는 다중층 구조일 수 있다.In the storage area StgA, the second metal pattern 155 is disposed on the first interlayer insulating layer 108 to correspond to the first metal pattern 153. The second metal pattern 155 may be made of at least one of aluminum (Al), copper (Cu), molybdenum (Mo), chromium (Cr), nickel (Ni), tungsten (W), or an alloy thereof. Or a multilayer structure.

제 1 층간절연막(108)과 제 2 금속패턴(155) 상부로는 제 2 층간절연막(109)이 위치하는데, 제 2 층간 절연막(109)은 기판(101) 전면에 형성되며, 산화실리콘(SiOx)으로 이루어질 수 있다.The second interlayer insulating layer 109 is positioned on the first interlayer insulating layer 108 and the second metal pattern 155, and the second interlayer insulating layer 109 is formed on the entire surface of the substrate 101, and is formed of silicon oxide (SiOx). It can be made of).

게이트절연층(106)과 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)에는 액티브층(105)의 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)을 각각 노출하는 제 1 및 제 2 콘택홀(111a, 111b)과, 스토리지영역(StgA)의 제 1 금속패턴(153)의 일부를 노출하는 제 3 콘택홀(156)이 구비된다. The gate insulating layer 106 and the first and second interlayer insulating layers 108 and 109 have first and second contact holes exposing the source region 105b and the drain region 105c of the active layer 105, respectively. 111a and 111b and a third contact hole 156 exposing a part of the first metal pattern 153 of the storage area StgA.

이러한 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109) 상의 스위칭영역(TrA)에 대응하여 소스전극(113) 및 드레인전극(115)이 배치되는데, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)은 각각 게이트절연층(106)과 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)에 형성된 제 1 및 제 2 콘택홀(111a, 111b)을 통해 각각 액티브층(105)의 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)에 연결된다. The source electrode 113 and the drain electrode 115 are disposed to correspond to the switching regions TrA on the first and second interlayer insulating layers 108 and 109. The source region 105b of the active layer 105 and the first and second contact holes 111a and 111b formed in the gate insulating layer 106 and the first and second interlayer insulating layers 108 and 109, respectively. It is connected to the drain region 105c.

소스전극(113) 및 드레인전극(115) 또한 저저항 특성을 같는 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리 합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi), 크롬(Cr), 티타늄(Ti) 중 어느 하나 또는 둘 이상의 물질로서 이루어진다. The source electrode 113 and the drain electrode 115 also have the same low resistance characteristics as aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi), and chromium (Cr). ), Titanium (Ti), or any one of two or more materials.

그리고, 도면상에 도시하지는 않았지만 게이트배선(도 1의 GL)과 교차하며 화소영역(P)을 정의하는 데이터배선(도 1의 DL)도 형성된다. Although not shown in the drawing, a data wiring (DL in FIG. 1) is also formed that intersects the gate wiring (GL in FIG. 1) and defines the pixel region P. FIG.

이때, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)과 이들 전극(113, 115)과 접촉하는 소스 및 드레인영역(105b, 105c)을 포함하는 액티브층(105)과 액티브층(105) 상부에 위치하는 게이트절연막(106) 및 게이트전극(107)은 구동 박막트랜지스터(Thin film transistor : DTr)를 이루게 된다. The active layer 105 and the active layer 105 including the source electrode 113 and the drain electrode 115 and the source and drain regions 105b and 105c in contact with the electrodes 113 and 115 are positioned on the active layer 105. The gate insulating film 106 and the gate electrode 107 form a driving thin film transistor (DTr).

한편, 도면에 나타나지 않았지만, 스위칭 박막트랜지스터(미도시)가 구동 박막트랜지스터(DTr)와 연결되는데, 스위칭 박막트랜지스터(미도시)는 구동 박막트랜지스터(DTr)와 동일한 구조로 이루어진다. Although not shown in the drawing, a switching thin film transistor (not shown) is connected to the driving thin film transistor DTr, and the switching thin film transistor (not shown) has the same structure as the driving thin film transistor DTr.

그리고, 스위칭 박막트랜지스터(미도시) 및 구동 박막트랜지스터(DTr)는 도면에서는 액티브층(105)이 폴리실리콘 반도체층으로 이루어진 탑 게이트 타입을 예로써 보이고 있으나, 액티브층(105)은 산화물반도체층으로 이루어질 수도 있으며, 또는 순수 및 불순물의 비정질실리콘으로 이루어진 보텀 게이트(bottom gate) 타입으로 구비될 수도 있다. In addition, although the switching thin film transistor (not shown) and the driving thin film transistor DTr are shown as a top gate type in which the active layer 105 is made of a polysilicon semiconductor layer in the drawing, the active layer 105 is an oxide semiconductor layer. It may be made, or may be provided as a bottom gate (bottom gate) type consisting of amorphous silicon of pure water and impurities.

그리고, 액티브층(105) 하부의 액티브버퍼층(103)과 멀티버퍼층(102) 사이로는 하부보호금속(Bottom Shield Metal: 미도시)이 위치할 수 있는데, 하부보호금속(미도시)은 몰리브덴(Mo) 물질을 이용하여 형성될 수 있다.In addition, a bottom shield metal (not shown) may be located between the active buffer layer 103 and the multi-buffer layer 102 under the active layer 105, and the lower protective metal (not shown) may be molybdenum (Mo). ) May be formed using a material.

그리고, 스토리지영역(StgA)에 있어서, 제 2 층간절연층(109) 상부로 제 3 금속패턴(157)이 제 2 금속패턴(155)에 대응하여 위치하는데, 제 3 금속패턴(157)은 게이트절연층(106)과 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)에 형성된 제 3 콘택홀(156)을 통해 제 1 금속패턴(153)과 연결된다.In the storage area StgA, a third metal pattern 157 is positioned on the second interlayer insulating layer 109 to correspond to the second metal pattern 155, and the third metal pattern 157 is formed by a gate. The first metal pattern 153 is connected to the insulating layer 106 through the third contact hole 156 formed in the first and second interlayer insulating layers 108 and 109.

여기서, 제 1 금속패턴(153)은 제1 스토리지 커패시터(C1)의 제 2 전극(또는 상부전극)이 됨과 동시에 제 2 스토리지 커패시터(C2)의 제 1 전극(또는 하부전극)이 되며, 또한 제 2 금속패턴(155)은 제 2 스토리지 커패시터(C2)의 제 2 전극(또는 상부전극)이 됨과 동시에 제 3 스토리지 커패시터(C3)의 제 1 전극(또는 하부전극)이 된다. Here, the first metal pattern 153 becomes a second electrode (or upper electrode) of the first storage capacitor C1 and becomes a first electrode (or lower electrode) of the second storage capacitor C2, and also The second metal pattern 155 becomes a second electrode (or an upper electrode) of the second storage capacitor C2 and becomes a first electrode (or a lower electrode) of the third storage capacitor C3.

즉, 액티브패턴(151)과 제 1 금속패턴(153) 그리고 액티브패턴(151)과 제 1 금속패턴(153) 사이로 위치하는 게이트절연층(106)은 제 1 스토리지 커패시터(C1)를 이루게 되며, 또한 제 1 금속패턴(153)과 제 2 금속패턴(155) 그리고 제 1 금속패턴(153)과 제 2 금속패턴(155) 사이로 위치하는 제 1 층간절연층(108)은 제 2 스토리지 커패시터(C2)를 이루게 된다. 또한 제 2 금속패턴(155)과 제 3 금속패턴(157) 그리고 제 2 금속패턴(155)과 제 3 금속패턴(157) 사이로 위치하는 제 2 층간절연층(109)은 제 3 스토리지 커패시터(C3)를 이루게 된다. That is, the active pattern 151 and the first metal pattern 153 and the gate insulating layer 106 positioned between the active pattern 151 and the first metal pattern 153 form a first storage capacitor C1. In addition, the first interlayer insulating layer 108 positioned between the first metal pattern 153 and the second metal pattern 155 and between the first metal pattern 153 and the second metal pattern 155 may include a second storage capacitor C2. ) Is achieved. In addition, the second interlayer insulating layer 109 disposed between the second metal pattern 155 and the third metal pattern 157, and between the second metal pattern 155 and the third metal pattern 157, has a third storage capacitor C3. ) Is achieved.

그리고, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)과 제 3 금속패턴(157) 상부로 구동 박막트랜지스터(DTr)의 드레인전극(115)을 노출하는 드레인콘택홀(118)을 갖는 보호층(117)이 위치한다. The passivation layer 117 includes a drain contact hole 118 exposing the source electrode 113, the drain electrode 115, and the drain electrode 115 of the driving thin film transistor DTr over the third metal pattern 157. ) Is located.

보호층(117)은 게이트절연층(106) 또는 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)과 동일 물질로 이루어질 수 있으며, 또는 연성기판(101)의 평탄화를 위하여 유기절연물질로 이루어질 수도 있다. The protective layer 117 may be made of the same material as the gate insulating layer 106 or the first and second interlayer insulating layers 108 and 109, or may be made of an organic insulating material for planarization of the flexible substrate 101. have.

예를 들어 보호층(117)은 아크릴계 수지(polyacrylates resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolicresin), 폴리아미드계 수지(polyamides resin), 폴리이미드계 수지(polyimides resin), 불포화 폴리에스테르계수지(unsaturated polyesters resin), 폴리페닐렌계 수지(poly-phenylenethers resin), 폴리페닐렌설파이드계수지(polyphenylenesulfides resin) 및 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene) 중 하나 이상의 물질로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 보호층(117)은 단층으로 형성되거나 이중 혹은 다중 층으로 구성될 수 있다.For example, the protective layer 117 is an acrylic resin (polyacrylates), epoxy resins (phenolic resins), phenolic resins (phenolicresin), polyamides resins (polyamides resins), polyimides resins (polyimides resins), unsaturated polyesters It may be formed of one or more of an unsaturated polyesters resin, poly-phenylenethers resin, polyphenylenesulfides resin, and benzocyclobutene, but is not limited thereto. . The protective layer 117 may be formed of a single layer or may be formed of a double layer or multiple layers.

이러한 보호층(117)은 연성기판(101) 상의 단차를 충분히 커버할 수 있도록 2um 내지 5um의 두께로 형성될 수 있다.The protective layer 117 may be formed to a thickness of 2um to 5um to sufficiently cover the step on the flexible substrate 101.

보호층(117) 상부로는 구동 박막트랜지스터(DTr)의 드레인전극(115)과 연결되어 발광다이오드(E)의 양극(anode)을 이루는 애노드전극(211)이 위치한다. An anode electrode 211 which is connected to the drain electrode 115 of the driving thin film transistor DTr and forms an anode of the light emitting diode E is disposed on the passivation layer 117.

애노드전극(211)은 알루미늄(Al)과 티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄(Al)과 ITO의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC 합금(Ag/Pd/Cu), 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO)와 같은 반사율이 높은 금속물질로 형성될 수 있다. The anode electrode 211 has a laminated structure of aluminum (Al) and titanium (Ti) (Ti / Al / Ti), a laminated structure of aluminum (Al) and ITO (ITO / Al / ITO), and an APC alloy (Ag / Pd / Cu) and a highly reflective metal material such as an APC alloy and a laminated structure of ITO (ITO / APC / ITO).

이러한 애노드전극(211)은 각 화소영역(P) 별로 위치하는데, 각 화소영역(P) 별로 위치하는 애노드전극(211) 사이에는 뱅크(bank : 119)가 위치한다. 즉, 애노드전극(211)은 뱅크(119)를 각 화소영역(P) 별 경계부로 하여 화소영역(P) 별로 분리된 구조를 갖게 된다. The anode electrode 211 is positioned for each pixel region P, and a bank 119 is positioned between the anode electrodes 211 positioned for each pixel region P. FIG. That is, the anode electrode 211 has a structure in which the banks 119 are separated for each pixel region P using the bank 119 as a boundary portion for each pixel region P. FIG.

뱅크층(119) 상에는 스페이서(121)가 배치될 수 있는데, 스페이서(121)는 뱅크층(119)을 둘러싸도록 배치되어, 외부 압력으로부터 발광다이오드(E)의 유기발광층(213)을 보호하는 역할을 하게 된다. The spacer 121 may be disposed on the bank layer 119, and the spacer 121 is disposed to surround the bank layer 119 to protect the organic light emitting layer 213 of the light emitting diode E from external pressure. Will be

스페이서(121)는 뱅크층(119)과 동일한 수지 조성물로 형성될 수 있으며, 빛의 혼색을 방지하도록 광 흡수율이 높은 블랙 스페이서로 구성될 수 있다.The spacer 121 may be formed of the same resin composition as the bank layer 119, and may be formed of a black spacer having a high light absorption to prevent color mixing of the light.

그리고 애노드전극(211)의 상부에 유기발광층(213)이 위치하는데, 유기발광층(213)은 화소영역(P)들에 공통적으로 형성되는 공통층이며, 백색광을 발광하는 백색발광층일 수 있다. The organic light emitting layer 213 is positioned on the anode electrode 211, and the organic light emitting layer 213 may be a common layer commonly formed in the pixel regions P, and may be a white light emitting layer that emits white light.

이 경우, 유기발광층(213)은 2스택(stack) 이상의 탠덤 구조로 형성될 수 있다. 스택들 각각은 정공 수송층(hole transporting layer), 적어도 하나의 발광층(light emitting layer), 및 전자 수송층(electron transporting layer)을 포함할 수 있다. 또한, 스택들 사이에는 전하 생성층이 형성될 수 있는데, 전하 생성층은 하부 스택과 인접하게 위치하는 n형 전하생성층과 n형 전하 생성층 상에 형성되어 상부 스택과 인접하게 위치하는 p형 전하 생성층을 포함할 수 있다. In this case, the organic light emitting layer 213 may be formed in a tandem structure of two or more stacks. Each of the stacks may include a hole transporting layer, at least one light emitting layer, and an electron transporting layer. In addition, a charge generation layer may be formed between the stacks, wherein the charge generation layer is formed on the n-type charge generation layer and the n-type charge generation layer adjacent to the lower stack and is located adjacent to the upper stack. It may include a charge generating layer.

그리고, n형 전하 생성층은 하부 스택으로 전자(electron)를 주입해주고, p형 전하 생성층은 상부 스택으로 정공(hole)을 주입해주게 된다. 이러한 n형 전하 생성층은 전자수송능력이 있는 유기 호스트 물질에 Li, Na, K, 또는 Cs와 같은 알칼리 금속, 또는 Mg, Sr, Ba, 또는 Ra와 같은 알칼리 토금속이 도핑된 유기층일 수 있으며, p형 전하 생성층은 정공수송능력이 있는 유기 호스트 물질에 도펀트가 도핑될 수 있다. The n-type charge generation layer injects electrons into the lower stack, and the p-type charge generation layer injects holes into the upper stack. The n-type charge generating layer may be an organic layer doped with an alkali metal such as Li, Na, K, or Cs, or an alkaline earth metal such as Mg, Sr, Ba, or Ra, in an organic host material having electron transport capability, The p-type charge generating layer may be doped with an organic host material having hole transport capability.

이러한 유기발광층(213)의 상부로는 전면에 캐소드전극(215)이 위치하는데, 캐소드전극(215) 또한 유기발광층(213)과 마찬가지로 화소영역(P)들에 공통적으로 형성되는 공통층으로 이루어질 수 있으며, 광을 투과시킬 수 있는 ITO, IZO와 같은 투명한 금속물질(TCO, Transparent Conductive Material), 또는 마그네슘(Mg), 은(Ag), 또는 마그네슘(Mg)과 은(Ag)의 합금과 같은 반투과 금속물질(Semitransmissive Conductive Material)로 형성될 수 있다. The cathode electrode 215 is positioned on the entire surface of the organic light emitting layer 213. The cathode electrode 215 may be formed of a common layer which is formed in common in the pixel regions P, like the organic light emitting layer 213. Transparent metal materials (TCO, Transparent Conductive Material) such as ITO and IZO that can transmit light, or half such as magnesium (Mg), silver (Ag), or alloys of magnesium (Mg) and silver (Ag) It may be formed of a semi-transmissive conductive material.

캐소드전극(215)이 반투과 금속물질로 형성되는 경우, 마이크로 캐비티(micro cavity)에 의해 출광 효율이 높아질 수 있다. When the cathode electrode 215 is formed of a semi-transmissive metal material, the light emission efficiency may be increased by a micro cavity.

캐소드전극(215) 상에는 캡핑층(cappinglayer)이 더욱 형성될 수 있다. A capping layer may be further formed on the cathode electrode 215.

이러한 발광다이오드(E)는 선택된 신호에 따라 애노드전극(211)과 캐소드전극(215)으로 소정의 전압이 인가되면, 애노드전극(211)으로부터 주입된 정공과 캐소드전극(215)으로부터 제공된 전자가 유기발광층(213)으로 수송되어 엑시톤(exciton)을 이루고, 이러한 엑시톤이 여기상태에서 기저상태로 천이 될 때 광이 발생되어 외부로 방출된다. In the light emitting diode E, when a predetermined voltage is applied to the anode electrode 211 and the cathode electrode 215 according to the selected signal, holes injected from the anode electrode 211 and electrons provided from the cathode electrode 215 are organic. It is transported to the light emitting layer 213 to form excitons, and when such excitons transition from the excited state to the ground state, light is generated and emitted to the outside.

이때, 발광된 광은 투명한 캐소드전극(215)을 통과하여 외부로 나가게 되고, 이를 통해 최종적으로 플렉서블 OLED(100)는 임의의 화상을 구현하게 된다. In this case, the emitted light passes through the transparent cathode electrode 215 to the outside, and finally the flexible OLED 100 implements an arbitrary image.

그리고, 이러한 구동 박막트랜지스터(DTr)와 발광다이오드(E) 상부에는 얇은 박막필름 형태인 보호필름(123)을 위치시킨 후, 보호필름(123)과 연성기판(101)을 합착함으로써, 플렉서블 OLED(100)는 인캡슐레이션(encapsulation)된다. In addition, the protective thin film 123 in the form of a thin thin film is positioned on the driving thin film transistor DTr and the light emitting diode E, and then the protective film 123 and the flexible substrate 101 are bonded together to form a flexible OLED ( 100 is encapsulated.

여기서, 보호필름(123)은 외부 산소 및 수분이 플렉서블 OLED(100) 내부로 침투하는 것을 방지하기 위하여, 무기보호필름(123a, 123c)을 적어도 2장 적층하여 사용하는데, 이때, 2장의 무기보호필름(123a, 123c) 사이에는 무기보호필름(123a, 123c)의 내충격성을 보완하기 위한 유기보호필름(123b)이 개재되는 것이 바람직하다. Here, the protective film 123 is used by stacking at least two inorganic protective films (123a, 123c) in order to prevent outside oxygen and moisture penetrate into the flexible OLED (100), in this case, two inorganic protection It is preferable that an organic protective film 123b is interposed between the films 123a and 123c to supplement the impact resistance of the inorganic protective films 123a and 123c.

따라서, 플렉서블 OLED(100)는 외부로부터 수분 및 산소가 플렉서블 OLED(100) 내부로 침투하는 것을 방지할 수 있다. Therefore, the flexible OLED 100 may prevent moisture and oxygen from penetrating into the flexible OLED 100 from the outside.

그리고, 본 발명의 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 광이 투과되는 보호필름(123)의 상부로 외부광에 의한 콘트라스트의 저하를 방지하기 위한 편광판(140)이 위치할 수 있는데, 즉, 플렉서블 OLED(100)는 화상을 구현하는 구동모드일 때 유기발광층(213)을 통해 발광된 광의 투과방향에 외부로부터 입사되는 외부광을 차단하는 편광판(140)을 위치시킴으로써, 콘트라스트를 향상시키게 된다. In addition, in the flexible OLED 100 according to the embodiment of the present invention, a polarizing plate 140 may be disposed on the upper portion of the protective film 123 through which light is transmitted to prevent a decrease in contrast due to external light. The flexible OLED 100 improves contrast by placing a polarizing plate 140 that blocks external light incident from the outside in a transmission direction of light emitted through the organic light emitting layer 213 when the driving mode implements an image.

여기서, 본 발명에 따른 플렉서블 OLED(100)의 제 1 비표시영역(NEA1)의 밴딩영역(B/A)에는 플렉서블 OLED(100)를 쉽게 구부릴 수 있도록 트랜치(TR)가 구비되는데, 트랜치(TR)란 멀티버퍼층(102)과 액티브버퍼층(103) 그리고, 게이트절연층(106), 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)의 일부가 제거되어, 우물 형상의 함몰부를 의미한다. Here, the trench TR is provided in the bending area B / A of the first non-display area NEA1 of the flexible OLED 100 according to the present invention so as to bend the flexible OLED 100 easily. ) Denotes a well-depressed portion by removing the multi-buffer layer 102, the active buffer layer 103, and a part of the gate insulating layer 106 and the first and second interlayer insulating layers 108 and 109.

이를 통해 밴딩영역(B/A)에서는 플렉서블 OLED(100)가 쉽게 구부려질 수 있게 되며, 절연막 등의 손상이 발생하는 것을 방지할 수 있다. As a result, the flexible OLED 100 can be easily bent in the bending area B / A, and damage of the insulating layer or the like can be prevented.

즉, 연성기판(101) 위에 다양한 박막들이 적층되고 패턴되는데, 다수의 절연막(102, 103, 106, 108, 109)들이 계속 적층될 수 있다. 적층된 절연막(102, 103, 106, 108, 109)들은 연성기판(101)과 휨 스트레스가 달라서, 심하게 구부리거나 구부렸다 폈다를 반복할 경우, 스트레스 차이로 인해 손상될 수 있다. 그 결과, 절연막(102, 103, 106, 108, 109)들 사이에서 박리가 발생하고, 절연막(102, 103, 106, 108, 109) 사이에 개재된 소자들이 손상될 수 있다. That is, various thin films are stacked and patterned on the flexible substrate 101, and a plurality of insulating layers 102, 103, 106, 108, and 109 may be continuously stacked. The stacked insulating layers 102, 103, 106, 108, and 109 have different bending stresses from the flexible substrate 101, and may be damaged due to stress differences when repeatedly bent or bent. As a result, peeling occurs between the insulating films 102, 103, 106, 108, and 109, and elements interposed between the insulating films 102, 103, 106, 108 and 109 may be damaged.

이를 방지하기 위해, 미리 절연막(102, 103, 106, 108, 109)들의 일부를 제거하여 연성기판(101)의 표면을 일부 노출하는 트렌치(TR)을 형성함으로써, 휨 스트레스가 가해질 때, 스트레스로 인한 절연막 손상을 방지할 수 있다.In order to prevent this, a portion of the insulating layers 102, 103, 106, 108, and 109 is removed in advance to form the trenches TR partially exposing the surface of the flexible substrate 101, so that when the bending stress is applied, It is possible to prevent the insulating film damage caused.

트랜치(TR)에는 화소영역(P)의 박막트랜지스터(DTr)와 제 1 비표시영역(NEA1) 상에 위치하는 패드영역(PAD)의 패드부(130)와 연결을 위한 배선(131)이 구비되는데, 배선(131)은 도전성이 우수한 금속으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 배선(131)은 박막트랜지스터(DTr)의 소스전극(113) 또는 드레인전극(115)과 동일한 금속으로 형성될 수 있다. The trench TR includes a thin film transistor DTr of the pixel region P and a wiring 131 for connecting to the pad portion 130 of the pad region PAD positioned on the first non-display area NEA1. The wiring 131 may be formed of a metal having excellent conductivity. For example, the wiring 131 may be formed of the same metal as the source electrode 113 or the drain electrode 115 of the thin film transistor DTr.

그러나, 이에 한정되는 것은 아니며, 배선(131)은 박막트랜지스터(DTr)의 게이트전극(107)과 동일한 금속으로 형성될 수도 있다.However, the present invention is not limited thereto, and the wiring 131 may be formed of the same metal as the gate electrode 107 of the thin film transistor DTr.

밴딩영역(B/A)에 배치된 배선(131)들은 화소영역(P)에 배치된 배선(도 1의 GL, DL)들에 비해 연성기판(101)의 밴딩으로 인한 응력을 받게되므로, 응력에 강건하면서도 낮은 저항을 갖도록 설계되어야 한다. 또한, 연성기판(101)의 밴딩을 용이하게 하도록 충분한 유연성을 가져야 한다. Since the wirings 131 disposed in the bending area B / A are stressed due to the bending of the flexible substrate 101 compared to the wirings GL and DL in FIG. It must be designed to be robust and low resistance. In addition, it must have sufficient flexibility to facilitate bending of the flexible substrate 101.

이를 위해, 배선(131)은 다양한 형태 및 다양한 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 배선(131)은 복수의 금속 층들이 적층된 다층 구조를 가질 수 있다. 구체적으로, 배선(131)은 알루미늄(Al), 티타늄(Ti), 몰리브덴(Mo), 구리(Cu) 층에서 선택된 둘 이상의 층으로 형성될 수 있으며, 이러한 조합의 예로, 티타늄 층 사이에 끼워진 알루미늄 층(Ti/Al/Ti), 상하의 몰리브덴 층 사이에 있는 알루미늄 층(Mo/Al/Mo), 티타늄 층 사이에 끼워진 구리 층(Ti/Cu/Ti), 상하의 몰리브덴 층 사이에 있는 구리층(Mo/Cu/Mo) 등이 있다. 이러한 다층 구조를 갖는 배선(131)은 충분한 유연성을 유지하면서, 각 금속층 사이의 접촉 저항이 낮으므로, 우수한 전도성을 가질 수 있다.To this end, the wiring 131 may have various shapes and various structures. For example, the wiring 131 may have a multilayer structure in which a plurality of metal layers are stacked. Specifically, the wiring 131 may be formed of two or more layers selected from aluminum (Al), titanium (Ti), molybdenum (Mo), and copper (Cu) layers. For example, a combination of aluminum sandwiched between titanium layers may be used. Layer (Ti / Al / Ti), aluminum layer between upper and lower molybdenum layers (Mo / Al / Mo), copper layer sandwiched between titanium layers (Ti / Cu / Ti), copper layer between upper and lower molybdenum layers / Cu / Mo). The wiring 131 having such a multi-layered structure can have excellent conductivity since the contact resistance between the metal layers is low while maintaining sufficient flexibility.

배선(131)의 부식 또는 손상을 방지하도록 배선(131) 상에는 스위칭영역(TrA)의 박막트랜지스터(DTr)를 덮어 보호하는 보호층(117)이 연장되어 형성될 수 있다. In order to prevent corrosion or damage to the wiring 131, a protective layer 117 covering and protecting the thin film transistor DTr of the switching region TrA may be extended on the wiring 131.

밴딩영역(B/A)으로부터 연장되는 배선(131)이 연결되는 패드영역(PAD)의 패드부(130)는 게이트전극(107)과 동일한 금속으로 형성된 제1 패드(133) 및 소스전극(113) 또는 드레인전극(115)과 동일한 금속으로 형성된 제2 패드(135)를 포함한다. The pad part 130 of the pad area PAD to which the wiring 131 extending from the bending area B / A is connected is formed of the first pad 133 and the source electrode 113 made of the same metal as the gate electrode 107. ) Or a second pad 135 formed of the same metal as the drain electrode 115.

이때, 제 1및 제 2 층간절연층(108, 109)에는 제 1 패드(133)를 노출하는 제 4 콘택홀(136)이 구비되며, 제 4 콘택홀(136)을 통해 제 1 패드(133)와 제 2 패드(135)는 서로 접촉하게 된다. In this case, the first and second interlayer insulating layers 108 and 109 are provided with a fourth contact hole 136 exposing the first pad 133, and the first pad 133 through the fourth contact hole 136. ) And the second pad 135 are in contact with each other.

이때, 액티브버퍼층(103)과, 멀티버퍼층(102) 제1 패드(133)의 하부에 배치되어 연성기판(101)의 하부에서 유입되는 수분 및 산소로부터 제1 패드(133) 및 제2 패드(135)를 보호하도록 하는 것이 바람직하다. At this time, the first and second pads 133 and 2 may be disposed under the active buffer layer 103 and the multi-buffer layer 102 and be disposed under the first pad 133. 135).

여기서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 구동영역(DA)을 포함하는 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭이 기존 대비 현저히 줄어들게 되는데, 이에 대해 도 3b을 참조하여 좀더 자세히 살펴보도록 하겠다. Here, in the flexible OLED 100 according to the first embodiment of the present invention, the width of the second non-display area NEA2 including the driving area DA is significantly reduced compared to the conventional one. Let's take a closer look.

도 3b에 도시한 바와 같이, 제 2 비표시영역(NEA2)의 구동영역(DA)은 연성기판(101) 상에 멀티버퍼층(102)과 액티브버퍼층(103) 그리고 게이트절연층(106)이 순차적으로 위치하며, 게이트절연층(106) 상부로는 게이트 구동회로배선(161) 및 접지배선(GND)이 형성된다. As shown in FIG. 3B, in the driving area DA of the second non-display area NEA2, the multi-buffer layer 102, the active buffer layer 103, and the gate insulating layer 106 are sequentially formed on the flexible substrate 101. The gate driving circuit wiring 161 and the ground wiring GND are formed on the gate insulating layer 106.

게이트 구동회로배선(161)과 접지배선(GND)은 게이트전극(107) 및 제 1 금속패턴(153)과 동일 물질로 이루어진다. 이때, 접지배선(GND)은 소스전극(113) 및 드레인전극(115)과 동일 층에서 동일 물질로 이루어질 수도 있다. The gate driving circuit wiring 161 and the ground wiring GND are made of the same material as the gate electrode 107 and the first metal pattern 153. In this case, the ground wiring GND may be made of the same material as the source electrode 113 and the drain electrode 115 in the same layer.

게이트 구동회로배선(161)과 접지배선(GND) 상부로는 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109) 그리고 보호층(117)이 순차적으로 적층되어 위치하며, 이때 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)과 보호층(117)에는 접지배선(GND)을 노출하는 제 5 콘택홀(163)이 구비된다. The first and second interlayer insulating layers 108 and 109 and the protection layer 117 are sequentially stacked on the gate driving circuit wiring 161 and the ground wiring GND, and the first and second interlayers are sequentially stacked. The insulating layers 108 and 109 and the protective layer 117 are provided with a fifth contact hole 163 exposing the ground line GND.

이러한 보호층(117) 상부로는 보조전극패턴(200)이 위치하는데, 보조전극패턴(200)은 발광다이오드(E)의 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층(201)과, 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층(203)으로 이루어진다. The auxiliary electrode pattern 200 is positioned above the passivation layer 117. The auxiliary electrode pattern 200 includes a first layer 201 made of the same material as the anode electrode 211 of the light emitting diode E, The low resistance characteristic is made of the second layer 203 made of a metallic material.

여기서, 제 2 층(203)은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어져 단일층 구조를 가질 수 있으며, 또는 둘 이상으로 이루어짐으로써 이중층 또는 삼중 층 구조를 가질 수도 있다. Here, the second layer 203 may be formed of any one of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi) may have a single layer structure, Or it may be made of two or more may have a double layer or triple layer structure.

이러한 보조전극패턴(200)은 캐소드전극(215)의 저항값을 낮추는 역할을 하게 된다. The auxiliary electrode pattern 200 serves to lower the resistance of the cathode electrode 215.

즉, 광을 투과시킬 수 있는 캐소드전극(215)은 보조전극패턴(200)과 접지배선(GND)과 전기적으로 연결되어 있다. 이러한 캐소드전극(215)은 ITO, IZO, TCO 또는 마그네슘(Mg), 은(Ag), 또는 마그네슘(Mg)과 은(Ag)의 합금과 같은 반투과 금속물질(Semitransmissive Conductive Material)로 형성될 수 있는데, 이러한 캐소드전극(215)은 매우 얇은 두께로 이루어지게 된다. That is, the cathode electrode 215 capable of transmitting light is electrically connected to the auxiliary electrode pattern 200 and the ground wiring GND. The cathode electrode 215 may be formed of semi-transmissive conductive material such as ITO, IZO, TCO, or magnesium (Mg), silver (Ag), or an alloy of magnesium (Mg) and silver (Ag). This cathode electrode 215 is made of a very thin thickness.

이와 같이, 매우 얇은 두께로 이루어지는 캐소드전극(215)은 상대적으로 배선저항 값이 크기 때문에 일정한 전류를 균일하게 인가함에 있어 문제가 될 수 있어, 배선저항을 낮춰주기 위해 보조전극패턴(200)을 구비하여 캐소드전극(215)과 연결되도록 하는 것이다. As such, the cathode electrode 215 having a very thin thickness may be a problem in uniformly applying a constant current because the wiring resistance value is relatively large, and includes the auxiliary electrode pattern 200 to lower the wiring resistance. To be connected to the cathode electrode 215.

여기서, 보조전극패턴(200)의 면적이 넓을수록 캐소드전극(215)의 저항을 더욱 감소시킬 수 있으나, 보조전극패턴(200)은 애노드전극(211)과 동일한 층에 구비되기 때문에 보조전극패턴(200)은 애노드전극(211)이 구비되지 않은 영역에만 배치할 수 있으며, 특히 보조전극패턴(200)이 제 2 비표시영역(NEA2) 상에 위치함에 따라 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭을 넓히게 되어, 베젤영역의 증가를 초래하게 되므로, 공간에 제약이 있다. Here, the larger the area of the auxiliary electrode pattern 200 can reduce the resistance of the cathode electrode 215, but since the auxiliary electrode pattern 200 is provided on the same layer as the anode electrode 211, the auxiliary electrode pattern ( 200 may be disposed only in an area where the anode electrode 211 is not provided, and in particular, the width of the second non-display area NEA2 as the auxiliary electrode pattern 200 is positioned on the second non-display area NEA2. Because of the widening, which leads to an increase in the bezel area, there is a space limitation.

또한, 보조전극패턴(200)의 두께가 두꺼울수록 캐소드전극(215)의 배선저항을 더욱 감소시킬 수 있으나, 보조전극패턴(200)은 일정한 두께가 정해져 있는 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어짐에 따라 보조전극패턴(200)의 두께 또한 두껍게 형성할 수 없다. In addition, as the thickness of the auxiliary electrode pattern 200 increases, the wiring resistance of the cathode electrode 215 may be further reduced, but the auxiliary electrode pattern 200 is made of the same material as the anode electrode 211 having a predetermined thickness. As a result, the thickness of the auxiliary electrode pattern 200 may not be increased.

따라서, 캐소드전극(215)의 배선저항을 낮추는 데에 한계가 있으나, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 보조전극패턴(200)을 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층(201)과, 제 1 층(201) 상부로 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층(203)을 더욱 구비함으로써, 보조전극패턴(200)의 폭을 넓히거나 두께를 더욱 두껍게 하지 않더라도 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮출 수 있게 된다. Therefore, although there is a limit in lowering the wiring resistance of the cathode electrode 215, the flexible OLED 100 according to the first embodiment of the present invention includes the auxiliary electrode pattern 200 made of the same material as the anode electrode 211. By further comprising a first layer 201 and a second layer 203 made of a metal material having a low resistance characteristic on the first layer 201, the width of the auxiliary electrode pattern 200 can be made wider or thicker. If not, the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200 can be lowered.

이와 같이, 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮춤으로써, 보조전극패턴(200)과 연결되는 캐소드전극(215)의 배선저항 또한 함께 낮출 수 있게 되는 것이다. As such, by lowering the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200, the wiring resistance of the cathode electrode 215 connected to the auxiliary electrode pattern 200 may also be lowered.

이에 따라, 플렉서블 OLED(100)의 모든 영역의 캐소드전극(215)으로 동일한 전류가 인가될 수 있어, 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. Accordingly, the same current may be applied to the cathode electrodes 215 of all regions of the flexible OLED 100, thereby preventing the display quality from being increased due to the ground voltage rising or the luminance unevenness. .

여기서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮출 수 있으므로, 보조전극패턴(200)의 폭을 줄일 수 있게 되는데, 이를 통해 보조전극패턴(200)이 위치하는 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭 자체를 줄일 수 있게 된다. Since the flexible OLED 100 according to the first embodiment of the present invention can lower the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200, the width of the auxiliary electrode pattern 200 can be reduced. The width itself of the second non-display area NEA2 in which the 200 is located can be reduced.

이에 대해 아래 (표 1)을 참조하여 좀더 자세히 살펴보도록 하겠다. This will be described in more detail with reference to Table 1 below.

금속(Ti/Al/Ti)(um)Metal (Ti / Al / Ti) (um) 베젤영역 감소량(um)Bezel area reduction (um) 5050 100100 150150 200200 250250 300300 500/1000/500500/1000/500 251.2251.2 502.3502.3 -- -- -- -- 500/1500/500500/1500/500 205.5205.5 4110.4110. 616.5616.5 -- -- -- 500/2000/500500/2000/500 159.8159.8 319.7319.7 479.5479.5 -- -- -- 500/2500/500500/2500/500 125.6125.6 251.2251.2 376.8376.8 502.3502.3 -- -- 500/3000/500500/3000/500 102.8102.8 205.5205.5 308.3308.3 411.0411.0 513.8513.8 -- 500/3500/500500/3500/500 91.391.3 182.7182.7 274.0274.0 365.3365.3 456.7456.7 -- 500/6000/500500/6000/500 54.854.8 109.6109.6 164.4164.4 219.2219.2 274.0274.0 328.8328.8

위의 (표 1)은 보조전극패턴(200)의 제 2 층(203)의 금속물질의 각 두께 및 폭에 따라 감소시킬 수 있는 베젤영역의 감소량을 나타낸 실험결과이다. (표 1)을 살펴보면, 보조전극패턴(200)의 제 2 층(203)의 두께가 두꺼울수록, 그 폭이 넓을수록 베젤영역의 폭을 많이 줄일 수 있음을 확인할 수 있는데, 보조전극패턴(200)의 제 2 층(203)이 티타늄-알루미늄-티타늄(Ti/Al/Ti)으로 이루어지는 경우, 티타늄-알루미늄-티타늄(Ti/Al/Ti)으로 이루어지는 제 2 층(203)이 각각 500um, 1000um, 500um의 두께로 이루어지는 경우에는 보조전극패턴(200)의 폭을 502.3um를 이루어지도록 할 수 있으며, 이때, 베젤영역은 100um를 줄일 수 있음을 알 수 있다. Table 1 above is an experimental result showing the amount of reduction of the bezel area that can be reduced according to each thickness and width of the metal material of the second layer 203 of the auxiliary electrode pattern 200. Referring to Table 1, it can be seen that the thicker the thickness of the second layer 203 of the auxiliary electrode pattern 200 is, the wider the width of the bezel area can be. If the second layer 203 of the () is made of titanium-aluminum-titanium (Ti / Al / Ti), the second layer 203 made of titanium-aluminum-titanium (Ti / Al / Ti) is 500um and 1000um, respectively. , When the thickness is 500um, the width of the auxiliary electrode pattern 200 may be 502.3um, and in this case, the bezel area may be reduced to 100um.

다시 정리하면, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 구동부(도 1의 120)가 위치하는 제 2 비표시영역(NEA2)에 위치하는 보조전극패턴(200)을 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층(201)과, 제 1 층(201) 상부로 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층(203)을 더욱 구비함으로써, 보조전극패턴(200)의 폭을 넓히거나 두께를 더욱 두껍게 하지 않더라도 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮출 수 있어, 보조전극패턴(200)과 연결되는 캐소드전극(215)의 배선저항 또한 함께 낮출 수 있게 된다. In other words, in the flexible OLED 100 according to the first exemplary embodiment, the auxiliary electrode pattern 200 positioned in the second non-display area NEA2 in which the driving unit 120 is positioned may be an anode electrode. The width of the auxiliary electrode pattern 200 is further provided by further including a first layer 201 made of the same material as that of 211 and a second layer 203 made of a metal material having a low resistance characteristic on the first layer 201. Since the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200 can be lowered even if the thickness of the auxiliary electrode pattern 200 is not reduced, the wiring resistance of the cathode electrode 215 connected to the auxiliary electrode pattern 200 can also be lowered.

이에 따라, 플렉서블 OLED(100)의 모든 영역의 캐소드전극(215)으로 동일한 전류가 인가될 수 있어, 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있으면서도, 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭 또한 줄일 수 있어, 제 2 비표시영역(NEA2)의 내로우베젤 구현할 수 있는 것이다. Accordingly, the same current can be applied to the cathode electrodes 215 in all regions of the flexible OLED 100, so that the display voltage can be prevented from being increased due to the ground voltage rise or the luminance unevenness. In addition, the width of the second non-display area NEA2 can be reduced, so that the narrow bezel of the second non-display area NEA2 can be realized.

한편, 보조전극패턴(200)은 다수개가 일정간격 이격하여 위치하도록 하는 것이 바람직한데, 이를 통해 아웃개싱을 차단할 수 있다. On the other hand, it is preferable that the plurality of auxiliary electrode patterns 200 are located at a predetermined interval, which can block outgassing.

즉, 보조전극패턴(200)이 구비되는 구동부(도 1의 120)의 게이트 구동회로배선(161) 및 접지배선(GND) 상부로는 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)과 보호층(117)이 위치하게 되는데, 이때 보호층(117)이 유기막으로 이루어질 경우 유기막(117)으로부터는 아웃개싱이 발생되어 액티브영역(도 1의 A/A)의 발광다이오드(E)로 유입될 수 있다. 이에 따라 발광다이오드(E)의 유기발광층(213)의 수명이 줄어들며, 발광다이오드(E)의 발광효율 또한 저하시키게 된다. That is, the first and second interlayer insulating layers 108 and 109 are protected on the gate driving circuit wiring 161 and the ground wiring GND of the driving part (120 of FIG. 1) provided with the auxiliary electrode pattern 200. When the protective layer 117 is formed of an organic film, outgassing is generated from the organic film 117 to the light emitting diode E of the active region (A / A of FIG. 1). Can be introduced. Accordingly, the lifespan of the organic light emitting layer 213 of the light emitting diode E is reduced, and the light emitting efficiency of the light emitting diode E is also reduced.

여기서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 보호층(117) 상부로 위치하는 보조전극패턴(200)을 다수개가 일정간격 이격하여 위치하도록 함으로써, 이격하여 위치하는 보조전극패턴(200) 사이로 아웃개싱홀(H)을 형성하게 된다. Here, in the flexible OLED 100 according to the first embodiment of the present invention, a plurality of auxiliary electrode patterns 200 positioned on the protective layer 117 are spaced apart by a predetermined interval, thereby spaced apart from each other. The outgassing hole H is formed between the 200.

아웃개싱홀(H)은 보조전극패턴(200) 하부로 위치하는 유기막으로부터 발생된 아웃개싱이 액티브영역(도 1의 A/A)의 발광다이오드(E)로 넘어오지 못하도록 차단하는 역할을 하게 된다. The outgassing hole H serves to block outgassing generated from the organic layer positioned under the auxiliary electrode pattern 200 from passing through to the light emitting diode E of the active region (A / A of FIG. 1). do.

이러한 보조전극패턴(200) 상부로는 뱅크(119)가 위치하며, 뱅크(119)에 구비된 제 6 콘택홀(171)을 통해 캐소드전극(215)이 보조전극패턴(200)과 접촉하게 된다. The bank 119 is positioned above the auxiliary electrode pattern 200, and the cathode electrode 215 contacts the auxiliary electrode pattern 200 through the sixth contact hole 171 provided in the bank 119. .

한편, 보호층(117)은 액티브영역(AA)을 모두 덮도록 도포되는데, 이러한 보호층(117)은 하부로 위치하는 제 2 층간절연층(109)을 모두 덮지 않도록 하는 것이 바람직하다. On the other hand, the protective layer 117 is applied to cover all of the active area AA, it is preferable that such a protective layer 117 does not cover all of the second interlayer insulating layer 109 positioned below.

이는, 유기막으로 이루어질 수 있는 보호층(117)은 외부로부터 유입되는 수분 및 공기에 취약하기 때문에, 보호층(117)이 플렉서블 OLED(100)의 외부로 노출되지 않도록 하여, 외부로부터 수분 및 공기가 유기막으로 이루어지는 보호층(117)을 타고 플렉서블 OLED(100) 내부로 유입되는 것을 방지하기 위함이다. This is because the protective layer 117, which may be made of an organic film, is vulnerable to moisture and air introduced from the outside, so that the protective layer 117 is not exposed to the outside of the flexible OLED 100, thereby preventing moisture and air from the outside. This is to prevent the inflow into the flexible OLED 100 by the protective layer 117 made of the organic layer.

그리고, 보호층(117)의 외측으로는 댐(180)이 배치될 수 있는데, 댐(180)은 액티브영역(도 1의 A/A)을 완전히 둘러싸도록 배치된다. 이러한 댐(180)은 플렉서블 OLED(100)의 소자들을 외부에서 침투할 수 있는 입자들(수분 혹은 공기)로부터 보호하기 위한 보호필름(123)의 유기보호필름(123b)이 댐(180) 내부영역 안에 안정되게 위치하도록 제한하는 기능을 한다. In addition, the dam 180 may be disposed outside the protective layer 117, and the dam 180 is disposed to completely surround the active region (A / A of FIG. 1). The dam 180 has an organic protection film 123b of the protection film 123 for protecting the elements of the flexible OLED 100 from particles (moisture or air) that can penetrate from the outside. It is a function to limit the position to be stable.

이러한 댐(180)은 보호층(117)과, 뱅크(119) 및/또는 스페이서(121)를 적층하여 형성할 수 있다.The dam 180 may be formed by stacking the protective layer 117, the bank 119, and / or the spacer 121.

이하, 도 4a ~ 4l를 참조하여 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED의 제조방법에 대해 살펴보도록 하겠다. Hereinafter, a method of manufacturing the flexible OLED according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 4A to 4L.

도 4a ~ 4l은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 플렉서블 OLED의 일부에 대한 제조 단계별 공정 단면도이다. 4A to 4L are cross-sectional views of manufacturing steps of a part of the flexible OLED according to the first embodiment of the present invention.

설명에 앞서, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED(도 2의 100)는 제 2 비표시영역(NEA2)의 보조전극패턴(도 3의 200)을 형성하는데 특징이 있으므로, 설명의 편의를 위하여 스위칭영역(TrA)을 포함하는 화소영역(P) 일부와 보조전극패턴(도 3의 200)을 포함하는 제 2 비표시영역(NEA2)에 대해서만 설명하도록 하겠다. Prior to the description, the flexible OLED (100 of FIG. 2) according to the first embodiment of the present invention is characterized in forming the auxiliary electrode pattern (200 of FIG. 3) of the second non-display area NEA2. For the sake of brevity, only a portion of the pixel region P including the switching region TrA and the second non-display region NEA2 including the auxiliary electrode pattern 200 of FIG. 3 will be described.

먼저, 도 4a에 도시한 바와 같이, 강성기판(SUB) 상에 희생층(SL)과 유기층(PI) 그리고 멀티버퍼층(102)과 액티브버퍼층(103)을 순차적으로 형성하고, 화소영역(P)의 스위칭영역(TrA)에 대응하여 액티브층(105), 게이트절연층(106), 게이트전극(107), 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109) 그리고 소스전극(113) 및 드레인전극(115)을 형성한다. First, as shown in FIG. 4A, the sacrificial layer SL, the organic layer PI, the multibuffer layer 102 and the active buffer layer 103 are sequentially formed on the rigid substrate SUB, and the pixel region P is sequentially formed. The active layer 105, the gate insulating layer 106, the gate electrode 107, the first and second interlayer insulating layers 108 and 109, the source electrode 113 and the drain electrode corresponding to the switching region TrA of Form 115.

여기서, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)은 게이트절연층(106)과 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)에 구비된 제 1 및 제 2 콘택홀(111a, 111b)을 통해 각각 액티브층(105)의 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)과 접촉하게 되며, 액티브층(105), 게이트절연층(106), 게이트전극(107) 그리고 소스전극(113) 및 드레인전극(115)은 구동 박막트랜지스터(DTr)를 이룬다. Here, the source electrode 113 and the drain electrode 115 may include the first and second contact holes 111a and 111b provided in the gate insulating layer 106 and the first and second interlayer insulating layers 108 and 109. In contact with the source region 105b and the drain region 105c of the active layer 105, the active layer 105, the gate insulating layer 106, the gate electrode 107, and the source electrode 113 and the drain, respectively. The electrode 115 forms a driving thin film transistor DTr.

여기서, 액티브층(105)을 형성하는 과정에 대해 좀더 자세히 살펴보면, 액티브층(105)은 폴리 실리콘을 포함하는데, 액티브버퍼층(105) 상의 스위칭영역(TrA)에 아몰퍼스 실리콘(a-Si) 물질을 증착하고, 탈수소화 공정 및 결정화 공정을 수행하는 방식으로 폴리실리콘을 형성하고, 폴리실리콘을 패터닝하여 액티브층(105)을 형성한다. 또한, 제 2 층간절연층(109)을 형성한 후 활성화 공정 및 수소화 공정이 추가적으로 수행되어 액티브층(105)이 완성된다.Here, the process of forming the active layer 105 will be described in more detail. The active layer 105 includes polysilicon, and an amorphous silicon (a-Si) material is formed in the switching region TrA on the active buffer layer 105. Polysilicon is formed by depositing, dehydrogenation, and crystallization, and polysilicon is patterned to form the active layer 105. In addition, after the second interlayer insulating layer 109 is formed, an activation process and a hydrogenation process are additionally performed to complete the active layer 105.

이때, 제 2 비표시영역(NEA2) 상에는 게이트전극(107)과 동일층에서 동일물질로 게이트 구동회로배선(161)과 접지배선(GND)이 형성된다. In this case, the gate driving circuit wiring 161 and the ground wiring GND are formed of the same material as the gate electrode 107 on the second non-display area NEA2.

다음으로, 도 4b에 도시한 바와 같이, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)과 게이트 구동회로배선(161) 그리고 접지배선(GND)이 형성된 기판(SUB) 상에 게이트절연층(106), 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)과 함께 드레인전극(115)을 노출하는 드레인콘택홀(118)과 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)과 함께 접지배선(GND)을 노출하는 제 5 콘택홀(163)이 구비된 보호층(117)을 형성한다. Next, as shown in FIG. 4B, the gate insulating layer 106 is formed on the substrate SUB on which the source electrode 113, the drain electrode 115, the gate driving circuit wiring 161, and the ground wiring GND are formed. And a ground contact (GND) together with the drain contact hole 118 exposing the drain electrode 115 together with the first and second interlayer insulating layers 108 and 109 and the first and second interlayer insulating layers 108 and 109. ) To form a protective layer 117 having a fifth contact hole 163.

다음으로 보호층(117) 상부로 애노드전극(211)과 보조전극패턴(200)을 형성한다. Next, the anode electrode 211 and the auxiliary electrode pattern 200 are formed on the protective layer 117.

이에 대해 좀더 자세히 살펴보면, 도 4c에 도시한 바와 같이, 보호층(117) 상부로 제 1 금속층(210)과 제 2 금속층(220)을 순차적으로 적층 형성한다. In more detail, as shown in FIG. 4C, the first metal layer 210 and the second metal layer 220 are sequentially stacked on the protective layer 117.

여기서, 제 1 금속층(210)은 Ti/Al/Ti, ITO/Al/ITO, Ag/Pd/Cu, ITO/APC/ITO로 이루어지며, 제 2 금속층(220)은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어져 단일층 구조를 가질 수 있으며, 또는 둘 이상으로 이루어짐으로써 이중층 또는 삼중 층 구조를 가질 수도 있다.Here, the first metal layer 210 is made of Ti / Al / Ti, ITO / Al / ITO, Ag / Pd / Cu, ITO / APC / ITO, the second metal layer 220 is aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi) may be made of any one or have a single layer structure, or by two or more may have a double layer or triple layer structure.

다음으로 도 4d에 도시한 바와 같이 제 2 금속층(220) 상부로 포토레지스트를 도포하여 포토레지스트층(미도시)을 형성하고, 포토레지스트층(미도시)에 대해 빛의 투과영역과 차단영역, 그리고 슬릿형태로 구성되거나 또는 다중의 코팅막을 더욱 구비하여 통과되는 빛량을 조절함으로써 그 빛 투과도가 상기 투과영역보다는 작고 상기 차단영역보다는 큰 반투과영역으로 구성된 하프-톤(Half-tone) 마스크(미도시)를 이용하여 회절노광 또는 하프톤 노광을 실시한다.Next, as shown in FIG. 4D, a photoresist is coated on the second metal layer 220 to form a photoresist layer (not shown), and a light transmitting region and a blocking region for the photoresist layer (not shown), The half-tone mask (not shown) is composed of a semi-transmissive region having a slit form or having a plurality of coating layers and adjusting the amount of light passing therethrough, the light transmittance of which is smaller than the transmission region and larger than the blocking region. Is subjected to diffraction exposure or halftone exposure.

다음으로 노광된 포토레지스트층(미도시)을 현상함으로써 제 2 금속층(220) 상부로 화소영역(P)의 애노드전극(211)이 형성되는 영역에 대응하여 제 1 두께의 제 1 포토레지스트패턴(231)을 형성하고, 제 2 비표시영역(NEA2)에 있어서 보조전극패턴(200)이 형성되는 영역에 대응하여 제 1 두께에 비해 두꺼운 제 2 두께를 갖는 제 2 포토레지스트패턴(233)을 형성한다. Next, the exposed photoresist layer (not shown) is developed to correspond to a region where the anode electrode 211 of the pixel region P is formed on the second metal layer 220. 231, and a second photoresist pattern 233 having a second thickness that is thicker than the first thickness is formed in the second non-display area NEA2 corresponding to the region where the auxiliary electrode pattern 200 is formed. do.

다음으로, 도 4e에 도시한 바와 같이, 제 1 및 제 2 포토레지스트패턴(231, 233)을 식각 마스크로 하여 제 1 및 제 2 금속층(210, 220)에 대해 식각공정을 진행한다. 이에 따라, 제 1 및 제 2 포토레지스트패턴(231, 233) 사이의 노출된 영역에 위치하는 제 1 및 제 2 금속층(210, 220)이 모두 제거되어, 제 1 및 제 2 포토레지스트패턴(231, 233) 하부로 제 1 및 제 2 금속패턴(241, 243)이 형성된다. Next, as shown in FIG. 4E, an etching process is performed on the first and second metal layers 210 and 220 using the first and second photoresist patterns 231 and 233 as etching masks. As a result, all of the first and second metal layers 210 and 220 positioned in the exposed region between the first and second photoresist patterns 231 and 233 are removed to remove the first and second photoresist patterns 231. 233, first and second metal patterns 241 and 243 are formed.

다음으로, 도 4f에 도시한 바와 같이, 애싱공정을 진행하여 제 1 두께를 갖는 제 1 포토레지스트패턴(231)을 제거하여, 제 1 포토레지스패턴(231) 하부로 위치하는 제 2 금속패턴(243)이 외부로 노출되도록 한다. Next, as shown in FIG. 4F, the second metal pattern positioned below the first photoresist pattern 231 by removing the first photoresist pattern 231 having the first thickness by an ashing process may be performed. 243) to the outside.

이때, 제 2 포토레지스트패턴(233)은 그 두께가 줄어들지만 여전히 제 2 금속패턴(243) 상부로 남아있게 된다. At this time, the second photoresist pattern 233 is reduced in thickness, but still remains above the second metal pattern 243.

다음으로, 도 4g에 도시한 바와 같이, 제 2 포토레지스트패턴(233)과 외부로 노출된 제 2 금속패턴(243)을 식각 마스크로 하여 식각공정을 진행하여, 화소영역(P)에 대응하여 제 1 금속패턴(241) 상부로 위치하는 제 2 금속패턴(243)을 제거한다. Next, as shown in FIG. 4G, an etching process is performed using the second photoresist pattern 233 and the second metal pattern 243 exposed to the outside as an etching mask to correspond to the pixel region P. The second metal pattern 243 positioned above the first metal pattern 241 is removed.

그리고, 도 4h에 도시한 바와 같이 제 2 금속패턴(243) 상부로 남아 있는 제 2 포토레지스트패턴(233)을 스트립을 실시하여 제거함으로써, 화소영역(P)에 대응하여 보호층(117)에 구비되는 드레인콘택홀(118)을 통해 화소영역(P) 상에 스위칭영역(TrA)의 구동 박막트랜지스터(DTr)의 드레인전극(115)와 연결되는 애노드전극(211)을 형성하게 된다. As shown in FIG. 4H, the second photoresist pattern 233 remaining above the second metal pattern 243 is stripped to remove the second photoresist pattern 233 to the protective layer 117 corresponding to the pixel region P. FIG. An anode electrode 211 connected to the drain electrode 115 of the driving thin film transistor DTr of the switching region TrA is formed on the pixel region P through the drain contact hole 118 provided.

이때, 애노드전극(211)은 제 1 금속패턴(241)만으로 이루어지게 된다. At this time, the anode electrode 211 is made of only the first metal pattern 241.

그리고, 제 2 비표시영역(NEA2)에 있어서는 제 1 및 제 2 금속패턴(241, 243)으로 이루어져 제 1 및 제 2 층(201, 203)을 포함하는 보조전극패턴(200)을 형성하게 된다. In the second non-display area NEA2, the auxiliary electrode pattern 200 including the first and second layers 201 and 203 is formed by the first and second metal patterns 241 and 243. .

보조전극패턴(200)의 일부는 보호층(117)과 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)에 구비되는 제 5 콘택홀(163)을 통해 접지배선(GND)과 접촉하게 되며, 이러한 보조전극패턴(200)은 저저항 특성을 갖는 제 2 층(203)의 제 2 금속패턴(243)을 포함함에 따라, 배선저항을 낮출 수 있다. A part of the auxiliary electrode pattern 200 is in contact with the ground line GND through the protective layer 117 and the fifth contact hole 163 provided in the first and second interlayer insulating layers 108 and 109. Since the auxiliary electrode pattern 200 includes the second metal pattern 243 of the second layer 203 having low resistance, wiring resistance can be lowered.

다음으로 도 4i에 도시한 바와 같이, 애노드전극(211)과 보조전극패턴(200)이 형성된 기판(SUB) 위에 뱅크(119)와 스페이서(121)를 차례로 형성한다. 이때, 뱅크(119)와 스페이서(121)는 서로 다른 마스크공정으로 형성할 수 있으며, 또 다른 방법으로는 뱅크(119)와 스페이서(121)를 단일 마스크 공정으로 형성할 수도 있다. 뱅크(119)와 스페이서(121)를 단일 마스크 공정으로 형성하는 경우, 뱅크(119)와 스페이서(121)의 높이가 다르므로 하프-톤(Half-tone) 마스크를 사용할 수 있다. Next, as shown in FIG. 4I, the bank 119 and the spacer 121 are sequentially formed on the substrate SUB on which the anode electrode 211 and the auxiliary electrode pattern 200 are formed. In this case, the bank 119 and the spacer 121 may be formed by different mask processes. Alternatively, the bank 119 and the spacer 121 may be formed by a single mask process. When the bank 119 and the spacer 121 are formed in a single mask process, since the heights of the bank 119 and the spacer 121 are different, a half-tone mask may be used.

이때, 제 2 비표시영역(NEA2)에 구비되는 뱅크(119)에는 보조전극패턴(200)의 일부를 노출하는 제 6 콘택홀(171)이 구비된다. In this case, the bank 119 provided in the second non-display area NEA2 is provided with a sixth contact hole 171 exposing a part of the auxiliary electrode pattern 200.

다음으로, 도 4j에 도시한 바와 같이, 뱅크(119)와 스페이서(121) 상부로 순차적으로 유기발광층(213)과 캐소드전극(215)을 형성한다. Next, as illustrated in FIG. 4J, the organic light emitting layer 213 and the cathode electrode 215 are sequentially formed on the bank 119 and the spacer 121.

유기발광층(213)은 증착 공정 또는 용액 공정으로 형성될 수 있는데, 유기발광층(213)이 증착 공정으로 형성되는 경우, 증발법(Evaporation)을 이용하여 형성될 수 있다.The organic light emitting layer 213 may be formed by a deposition process or a solution process. When the organic light emitting layer 213 is formed by a deposition process, it may be formed using an evaporation method.

이때, 캐소드전극(215)은 뱅크(119)에 구비된 제 6 콘택홀(171)을 통해 보조전극패턴(200)과 접촉하게 된다. In this case, the cathode electrode 215 is in contact with the auxiliary electrode pattern 200 through the sixth contact hole 171 provided in the bank 119.

그리고 나서, 캐소드전극(215) 상에 보호필름(123)을 형성한다. Then, the protective film 123 is formed on the cathode electrode 215.

다음으로, 도 4k에 도시한 바와 같이, 강성기판(SUB)의 배면쪽에서 레이저(LR)를 조사하여 희생층(SL)의 결정성을 변화시켜 희생층(SL)을 제거함에 따라, 강성기판(SUB)과 유기층(PI) 간의 접착력을 약화시켜 유기층(PI)과 강성기판(SUB)을 분리하게 된다. Next, as shown in FIG. 4K, the laser LR is irradiated from the rear side of the rigid substrate SUB to change the crystallinity of the sacrificial layer SL to remove the sacrificial layer SL. The adhesion between the SUB) and the organic layer PI is weakened to separate the organic layer PI and the rigid substrate SUB.

이후, 도 4l에 도시한 바와 같이, 유기층(PI) 하부로 연성기판(101)을 부착함으로써, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블OLED(100)를 완성하게 된다. Thereafter, as illustrated in FIG. 4L, the flexible substrate 101 is attached to the lower portion of the organic layer PI, thereby completing the flexible OLED 100 according to the first embodiment of the present invention.

전술한 바와 같이, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 보조전극패턴(200)을 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층(201)과, 제 1 층(201) 상부로 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층(203)을 더욱 구비함으로써, 보조전극패턴(200)의 폭을 넓히거나 두께를 더욱 두껍게 하지 않더라도 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮출 수 있게 된다. As described above, in the flexible OLED 100 according to the first embodiment of the present invention, the auxiliary electrode pattern 200 includes the first layer 201 and the first layer 201 made of the same material as the anode electrode 211. By further including a second layer 203 made of a metal material having a low resistance property thereon, the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200 can be lowered even if the width of the auxiliary electrode pattern 200 is not increased or the thickness thereof is further increased. It becomes possible.

이와 같이, 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮춤으로써, 보조전극패턴(200)과 연결되는 캐소드전극(215)의 배선저항 또한 함께 낮출 수 있게 되는 것이다. As such, by lowering the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200, the wiring resistance of the cathode electrode 215 connected to the auxiliary electrode pattern 200 may also be lowered.

이에 따라, 플렉서블 OLED(100)의 모든 영역의 캐소드전극(215)으로 동일한 전류가 인가될 수 있어, 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. Accordingly, the same current may be applied to the cathode electrodes 215 of all regions of the flexible OLED 100, thereby preventing the display quality from being increased due to the ground voltage rising or the luminance unevenness. .

또한, 보조전극패턴(200)이 위치하는 비표시영역(NEA2)의 폭 또한 줄일 수 있어, 제 2 비표시영역(NEA2)의 내로우베젤 구현할 수 있는 것이다. In addition, the width of the non-display area NEA2 in which the auxiliary electrode pattern 200 is located can also be reduced, so that a narrow bezel of the second non-display area NEA2 can be realized.

- 제 2 실시예 -Second Embodiment

도 5는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED의 일부를 개략적으로 도시한 단면도이다. 5 is a schematic cross-sectional view of a part of a flexible OLED according to a second exemplary embodiment of the present invention.

설명에 앞서, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 발광된 광의 투과방향에 따라 상부 발광방식(top emission type)과 하부 발광방식(bottom emission type)으로 나뉘게 되는데, 이하 본 발명에서는 상부 발광방식을 일예로 설명하도록 하겠다.Prior to the description, the flexible OLED 100 according to the second embodiment of the present invention is divided into a top emission type (top emission type) and a bottom emission type (bottom emission type) according to the transmission direction of the emitted light, the present invention In the following, the upper light emission method will be described as an example.

한편, 중복된 설명을 피하기 위해 앞서의 앞서 전술한 제 1 실시예의 설명과 동일한 역할을 하는 동일 부분에 대해서는 동일 부호를 부여하며, 제 2 실시예에서 전술하고자 하는 특징적인 내용만을 살펴보도록 하겠다.  Meanwhile, in order to avoid duplicate descriptions, the same reference numerals are given to the same parts that play the same role as the above-described first embodiment, and only the characteristic contents to be described in the second embodiment will be described.

도시한 바와 같이, 연성기판(101) 상에 멀티버퍼층(102)이 형성되어 있는데, 멀티버퍼층(102)은 복수 개의 박막들이 연속해서 적층된 버퍼층으로, 예를 들어, 질화실리콘(SiNx)과 산화실리콘(SiOx)이 교대로 적층될 수 있다. 또는 유기막과 무기막이 반복해서 교대로 적층될 수도 있다.As shown, a multi-buffer layer 102 is formed on the flexible substrate 101. The multi-buffer layer 102 is a buffer layer in which a plurality of thin films are successively stacked, for example, silicon nitride (SiNx) and an oxide. Silicon (SiOx) may be alternately stacked. Alternatively, the organic film and the inorganic film may be repeatedly stacked alternately.

이러한 멀티버퍼층(102) 하부로는 유기층(PI)이 위치할 수 있는데, 멀티버퍼층(102)은 유기층(PI)으로부터의 수분 등의 침투를 방지하는 인캡슐레이션 역할을 하게 된다. The organic layer PI may be positioned below the multi-buffer layer 102, and the multi-buffer layer 102 serves as an encapsulation to prevent penetration of moisture and the like from the organic layer PI.

멀티버퍼층(102) 상부로는 액티브버퍼층(103)이 더욱 위치할 수 있는데, 액티브버퍼층(103)은 박막트랜지스터(DTr)의 액티브층(105)을 보호하기 위한 것으로, 유기층(PI)으로부터 유입되는 결함을 차단하는 기능을 수행하게 된다. 이러한 액티브버퍼층(103)은 멀티버퍼층(102)과 동일 물질로 구성될 수 있다. The active buffer layer 103 may be further positioned on the multi-buffer layer 102. The active buffer layer 103 is for protecting the active layer 105 of the thin film transistor DTr and is introduced from the organic layer PI. It will function to block the fault. The active buffer layer 103 may be made of the same material as the multi-buffer layer 102.

액티브버퍼층(103) 상부의 스위칭영역(TrA)에는 액티브층(105)이 배치된다. 액티브층(105)은 박막트랜지스터(105) 구동 시 채널이 형성되는 채널영역(105a), 채널영역(105a) 양 측의 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)을 포함한다. The active layer 105 is disposed in the switching region TrA above the active buffer layer 103. The active layer 105 includes a channel region 105a in which a channel is formed when the thin film transistor 105 is driven, a source region 105b on both sides of the channel region 105a, and a drain region 105c.

채널영역(105a), 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)은 이온도핑(불순물 도핑)에 의해 정의된다.The channel region 105a, the source region 105b and the drain region 105c are defined by ion doping (impurity doping).

액티브층(105) 상부로는 게이트절연층(106)이 위치하는데, 게이트절연층(106)은 질화실리콘(SiNx) 또는 산화실리콘(SiOx)의 단일층으로 구성되거나, 질화실리콘(SiNx) 및 산화실리콘(SiOx)으로 이루어진 다중층으로 구성될 수 있다.A gate insulating layer 106 is positioned above the active layer 105, and the gate insulating layer 106 is formed of a single layer of silicon nitride (SiNx) or silicon oxide (SiOx), or silicon nitride (SiNx) and oxide. It may be composed of multiple layers made of silicon (SiOx).

스위칭영역(TrA)에 대응하여 게이트절연층(106) 상에는 게이트전극(107)이 액티브층(105)의 채널영역(105a)과 중첩되도록 대응하여 위치하며, 도면에 나타내지 않았지만 일방향으로 연장하는 게이트배선(도 1의 GL)이 형성되어 있다.  The gate electrode 107 is disposed on the gate insulating layer 106 so as to overlap the channel region 105a of the active layer 105 corresponding to the switching region TrA, and the gate wiring extending in one direction although not shown in the figure. (GL in Fig. 1) is formed.

그리고, 스토리지영역(StgA)에 있어서는 게이트절연층(106) 상부로 제 1 금속패턴(153)이 위치한다. In the storage area StgA, the first metal pattern 153 is positioned on the gate insulating layer 106.

게이트전극(107) 및 게이트배선(도 1의 GL)과 제 1 금속패턴(151)은 동일 물질로 이루어질 수 있는데, 게이트전극(107) 및 게이트배선(도 1의 GL) 그리고 제 1 금속패턴(153)은 저저항 특성을 갖는 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어져 단일층 구조를 가질 수 있으며, 또는 둘 이상으로 이루어짐으로써 이중층 또는 삼중 층 구조를 가질 수도 있다. The gate electrode 107 and the gate wiring (GL in FIG. 1) and the first metal pattern 151 may be made of the same material. The gate electrode 107 and the gate wiring (GL in FIG. 1) and the first metal pattern ( 153 may have a single layer structure consisting of any one of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi) having low resistance properties, or It may be made of two or more to have a double layer or triple layer structure.

이어서, 게이트전극(107) 및 게이트배선(도 1의 GL) 그리고 제 1 금속패턴(153) 상부로 제 1 층간절연막(108)이 배치되는데, 제 1 층간절연층(108)은 질화실리콘(SiNx)으로 이루어지도록 하여, 액티브층(105)의 안정화시키기 위한 수소화 공정 시, 질화실리콘으로 이루어지는 제 1 층간절연막(108)에 포함된 수소가 액티브층(105)으로 확산되도록 하는 것이 바람직하다. Subsequently, a first interlayer insulating layer 108 is disposed on the gate electrode 107, the gate wiring (GL in FIG. 1), and the first metal pattern 153. The first interlayer insulating layer 108 is formed of silicon nitride (SiNx). In the hydrogenation process for stabilizing the active layer 105, hydrogen contained in the first interlayer insulating film 108 made of silicon nitride is preferably diffused into the active layer 105.

그리고, 스토리지영역(StgA)에 있어서는 제 1 층간절연막(108) 상부로 제 2 금속패턴(155)이 제 1 금속패턴(153)에 대응하여 배치된다. 제 2 금속패턴(155)은 알루미늄(Al)이나 구리(Cu), 몰리브덴(Mo), 크롬(Cr), 니켈(Ni), 텅스텐(W) 또는 이들의 합금 중 적어도 하나로 이루어질 수 있으며, 단일층 또는 다중층 구조일 수 있다.In the storage area StgA, the second metal pattern 155 is disposed on the first interlayer insulating layer 108 to correspond to the first metal pattern 153. The second metal pattern 155 may be made of at least one of aluminum (Al), copper (Cu), molybdenum (Mo), chromium (Cr), nickel (Ni), tungsten (W), or an alloy thereof. Or a multilayer structure.

제 1 층간절연막(108)과 제 2 금속패턴(155) 상부로는 제 2 층간절연막(109)이 위치하는데, 제 2 층간 절연막(109)은 연성기판(101) 전면에 형성되며, 산화실리콘(SiOx)으로 이루어질 수 있다.The second interlayer insulating layer 109 is positioned on the first interlayer insulating layer 108 and the second metal pattern 155, and the second interlayer insulating layer 109 is formed on the entire surface of the flexible substrate 101. SiOx).

게이트절연층(106)과 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)에는 액티브층(105)의 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)을 각각 노출하는 제 1 및 제 2 콘택홀(111a, 111b)과, 스토리지영역(StgA)의 제 2 금속패턴(155)의 일부를 노출하는 제 3 콘택홀(156)이 구비된다. The gate insulating layer 106 and the first and second interlayer insulating layers 108 and 109 have first and second contact holes exposing the source region 105b and the drain region 105c of the active layer 105, respectively. 111a and 111b and a third contact hole 156 exposing a part of the second metal pattern 155 of the storage area StgA.

이러한 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109) 상의 스위칭영역(TrA)에 대응하여 소스전극(113) 및 드레인전극(115)이 배치되는데, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)은 각각 게이트절연층(106)과 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)에 형성된 제 1 및 제 2 콘택홀(111a, 111b)을 통해 각각 액티브층(105)의 소스영역(105b) 및 드레인영역(105c)에 연결된다. The source electrode 113 and the drain electrode 115 are disposed to correspond to the switching regions TrA on the first and second interlayer insulating layers 108 and 109. The source region 105b of the active layer 105 and the first and second contact holes 111a and 111b formed in the gate insulating layer 106 and the first and second interlayer insulating layers 108 and 109, respectively. It is connected to the drain region 105c.

소스전극(113) 및 드레인전극(115) 또한 저저항 특성을 같는 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리 합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi), 크롬(Cr), 티타늄(Ti) 중 어느 하나 또는 둘 이상의 물질로서 이루어진다. The source electrode 113 and the drain electrode 115 also have the same low resistance characteristics as aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi), and chromium (Cr). ), Titanium (Ti), or any one of two or more materials.

그리고, 도면상에 도시하지는 않았지만 게이트배선(도 1의 GL)과 교차하며 화소영역(P)을 정의하는 데이터배선(도 1의 DL)도 형성된다. Although not shown in the drawing, a data wiring (DL in FIG. 1) is also formed that intersects the gate wiring (GL in FIG. 1) and defines the pixel region P. FIG.

이때, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)과 이들 전극(113, 115)과 접촉하는 소스 및 드레인영역(105b, 105c)을 포함하는 액티브층(105)과 액티브층(105) 상부에 위치하는 게이트절연막(106) 및 게이트전극(107)은 구동 박막트랜지스터(Thin film transistor : DTr)를 이루게 된다. The active layer 105 and the active layer 105 including the source electrode 113 and the drain electrode 115 and the source and drain regions 105b and 105c in contact with the electrodes 113 and 115 are positioned on the active layer 105. The gate insulating film 106 and the gate electrode 107 form a driving thin film transistor (DTr).

한편, 도면에 나타나지 않았지만, 스위칭 박막트랜지스터(미도시)가 구동 박막트랜지스터(DTr)와 연결되는데, 스위칭 박막트랜지스터(미도시)는 구동 박막트랜지스터(DTr)와 동일한 구조로 이루어진다. Although not shown in the drawing, a switching thin film transistor (not shown) is connected to the driving thin film transistor DTr, and the switching thin film transistor (not shown) has the same structure as the driving thin film transistor DTr.

그리고, 스위칭 박막트랜지스터(미도시) 및 구동 박막트랜지스터(DTr)는 도면에서는 액티브층(105)이 폴리실리콘 반도체층으로 이루어진 탑 게이트 타입을 예로써 보이고 있으나, 액티브층(105)은 산화물반도체층으로 이루어질 수도 있으며, 또는 순수 및 불순물의 비정질실리콘으로 이루어진 보텀 게이트(bottom gate) 타입으로 구비될 수도 있다. In addition, although the switching thin film transistor (not shown) and the driving thin film transistor DTr are shown as a top gate type in which the active layer 105 is made of a polysilicon semiconductor layer in the drawing, the active layer 105 is an oxide semiconductor layer. It may be made, or may be provided as a bottom gate (bottom gate) type consisting of amorphous silicon of pure water and impurities.

그리고, 액티브층(105) 하부의 액티브버퍼층(103)과 멀티버퍼층(102) 사이로는 하부보호금속(Bottom Shield Metal: 미도시)이 위치할 수 있는데, 하부보호금속(미도시)은 몰리브덴(Mo) 물질을 이용하여 형성될 수 있다.In addition, a bottom shield metal (not shown) may be located between the active buffer layer 103 and the multi-buffer layer 102 under the active layer 105, and the lower protective metal (not shown) may be molybdenum (Mo). ) May be formed using a material.

그리고, 스토리지영역(StgA)에 있어서, 제 2 금속패턴(155)은 제 2 층간절연층(109)을 관통하는 제 3 콘택홀(156)을 통해 노출되어 스토리지 공급라인(158)과 접속된다. In the storage area StgA, the second metal pattern 155 is exposed through the third contact hole 156 passing through the second interlayer insulating layer 109 to be connected to the storage supply line 158.

제 2 금속패턴(155)은 스토리지 공급라인(158)을 통해 접지배선(GND)과 접속된다. The second metal pattern 155 is connected to the ground line GND through the storage supply line 158.

여기서, 제 1 금속패턴(153)과 제 2 금속패턴(155) 그리고 제 1 금속패턴(153)과 제 2 금속패턴(155) 사이로 위치하는 제 1 층간절연층(108)은 제 1 스토리지 커패시터(C1)를 이루게 된다. Here, the first interlayer insulating layer 108 positioned between the first metal pattern 153 and the second metal pattern 155 and between the first metal pattern 153 and the second metal pattern 155 may include a first storage capacitor ( C1).

그리고, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)과 스토리지 공급라인(158) 상부로 구동 박막트랜지스터(DTr)의 드레인전극(115)을 노출하는 제 1 드레인콘택홀(118a)을 갖는 제 1 및 제 2 보호층(117a, 117b)이 위치한다. And a first drain contact hole 118a exposing the source electrode 113, the drain electrode 115, and the drain electrode 115 of the driving thin film transistor DTr over the storage supply line 158. Second protective layers 117a and 117b are positioned.

제 1 및 제 2 보호층(117a, 117b)은 게이트절연층(106) 또는 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)과 동일 물질로 이루어질 수 있으며, 또는 연성기판(101)의 평탄화를 위하여 유기절연물질로 이루어질 수도 있다. The first and second protective layers 117a and 117b may be made of the same material as the gate insulating layer 106 or the first and second interlayer insulating layers 108 and 109, or planarization of the flexible substrate 101 may be performed. It may be made of an organic insulating material.

예를 들어 제 1 및 제 2 보호층(117a, 117b)은 아크릴계 수지(polyacrylates resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolicresin), 폴리아미드계 수지(polyamides resin), 폴리이미드계 수지(polyimides resin), 불포화 폴리에스테르계수지(unsaturated polyesters resin), 폴리페닐렌계 수지(poly-phenylenethers resin), 폴리페닐렌설파이드계수지(polyphenylenesulfides resin) 및 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene) 중 하나 이상의 물질로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. For example, the first and second protective layers 117a and 117b may include an acrylic resin, an epoxy resin, a phenolic resin, a polyamide resin, and a polyimide resin. polyimides resin, unsaturated polyesters resin, poly-phenylenethers resin, polyphenylenesulfides resin and benzocyclobutene (benzocyclobutene) But it is not limited thereto.

여기서, 소스전극(113) 및 드레인전극(115)과 스토리지 공급라인(158) 상부로 보호층(117a, 117b)이 2중 구조로 형성되어 있는 경우를 예로 들어 설명하였지만, 이외에도 보호층(117a, 117b)은 질화실리콘(SiNx)과 산화실리콘(SiOx)로 형성되는 단층 구조로 형성될 수도 있다. Here, the case in which the protective layers 117a and 117b are formed in a double structure on the source electrode 113, the drain electrode 115 and the storage supply line 158 has been described as an example. 117b) may be formed in a single layer structure formed of silicon nitride (SiNx) and silicon oxide (SiOx).

제 2 보호층(117b) 상부로는 제 1 및 제 2 보호층(117a, 117b)에 구비되는 제 1 드레인콘택홀(118a)에 의해 노출되는 드레인전극(115)과 접속되는 드레인연결전극(181)이 구비된다. The drain connection electrode 181 connected to the drain electrode 115 exposed by the first drain contact hole 118a provided in the first and second protection layers 117a and 117b on the second protection layer 117b. ) Is provided.

그리고, 드레인연결전극(181)의 일측에는 각 화소영역(P)에 공급되는 다수의 구동전압 중 어느 하나를 공급하는 전압공급라인(183)이 구비된다. 전압공급라인(183)은 접지전압 공급라인, 저전압 공급라인 중 적어도 어느 하나일 수 있다. In addition, one side of the drain connection electrode 181 is provided with a voltage supply line 183 for supplying any one of a plurality of driving voltages supplied to each pixel region P. The voltage supply line 183 may be at least one of a ground voltage supply line and a low voltage supply line.

드레인연결전극(181)과 전압공급라인(183) 상부로는 제 3 및 제 4 보호층(117c, 117d)이 위치하는데, 제 3 및 제 4 보호층(117a, 117b)은 아크릴계 수지(polyacrylates resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolicresin), 폴리아미드계 수지(polyamides resin), 폴리이미드계 수지(polyimides resin), 불포화 폴리에스테르계수지(unsaturated polyesters resin), 폴리페닐렌계 수지(poly-phenylenethers resin), 폴리페닐렌설파이드계수지(polyphenylenesulfides resin) 및 벤조사이클로부텐(benzocyclobutene) 중 하나 이상의 물질로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. Third and fourth passivation layers 117c and 117d are disposed on the drain connection electrode 181 and the voltage supply line 183, and the third and fourth passivation layers 117a and 117b are made of polyacrylates resin. ), Epoxy resins, phenolic resins, polyamides resins, polyimides resins, unsaturated polyesters resins, polyphenylene resins -phenylenethers resin), polyphenylenesulfide resin (polyphenylenesulfides resin) and benzocyclobutene (benzocyclobutene) may be formed of one or more materials, but is not limited thereto.

그리고, 제 4 보호층(117d) 상부로는 제 3 및 제 4 보호층에 구비된 제 2 드레인콘택홀(118b)에 의해 노출되는 드레인연결전극(181)과 연결되어 발광다이오드(E)의 양극(anode)을 이루는 애노드전극(211)이 위치한다. In addition, an upper portion of the fourth passivation layer 117d is connected to the drain connection electrode 181 exposed by the second drain contact hole 118b provided in the third and fourth passivation layers. An anode 211 constituting an anode is positioned.

애노드전극(211)은 알루미늄(Al)과 티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄(Al)과 ITO의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC 합금(Ag/Pd/Cu), 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO)와 같은 반사율이 높은 금속물질로 형성될 수 있다. The anode electrode 211 has a laminated structure of aluminum (Al) and titanium (Ti) (Ti / Al / Ti), a laminated structure of aluminum (Al) and ITO (ITO / Al / ITO), and an APC alloy (Ag / Pd / Cu) and a highly reflective metal material such as an APC alloy and a laminated structure of ITO (ITO / APC / ITO).

이러한 애노드전극(211)은 각 화소영역(P) 별로 위치하는데, 각 화소영역(P) 별로 위치하는 애노드전극(211) 사이에는 뱅크(bank : 119)가 위치한다. 즉, 애노드전극(211)은 뱅크(119)를 각 화소영역(P) 별 경계부로 하여 화소영역(P) 별로 분리된 구조를 갖게 된다. The anode electrode 211 is positioned for each pixel region P, and a bank 119 is positioned between the anode electrodes 211 positioned for each pixel region P. FIG. That is, the anode electrode 211 has a structure in which the banks 119 are separated for each pixel region P using the bank 119 as a boundary portion for each pixel region P. FIG.

뱅크층(119) 상에는 스페이서(121)가 배치될 수 있는데, 스페이서(121)는 뱅크층(119)을 둘러싸도록 배치되어, 외부 압력으로부터 발광다이오드(E)의 유기발광층(213)을 보호하는 역할을 하게 된다. The spacer 121 may be disposed on the bank layer 119, and the spacer 121 is disposed to surround the bank layer 119 to protect the organic light emitting layer 213 of the light emitting diode E from external pressure. Will be

스페이서(121)는 뱅크층(119)과 동일한 수지 조성물로 형성될 수 있으며, 빛의 혼색을 방지하도록 광 흡수율이 높은 블랙 스페이서로 구성될 수 있다.The spacer 121 may be formed of the same resin composition as the bank layer 119, and may be formed of a black spacer having a high light absorption to prevent color mixing of the light.

그리고 애노드전극(211)의 상부에 유기발광층(213)이 위치하는데, 유기발광층(213)은 화소영역(P)들에 공통적으로 형성되는 공통층이며, 백색광을 발광하는 백색발광층일 수 있다. The organic light emitting layer 213 is positioned on the anode electrode 211, and the organic light emitting layer 213 may be a common layer commonly formed in the pixel regions P, and may be a white light emitting layer that emits white light.

이 경우, 유기발광층(213)은 2스택(stack) 이상의 탠덤 구조로 형성될 수 있다. 스택들 각각은 정공 수송층(hole transporting layer), 적어도 하나의 발광층(light emitting layer), 및 전자 수송층(electron transporting layer)을 포함할 수 있다. 또한, 스택들 사이에는 전하 생성층이 형성될 수 있는데, 전하 생성층은 하부 스택과 인접하게 위치하는 n형 전하생성층과 n형 전하 생성층 상에 형성되어 상부 스택과 인접하게 위치하는 p형 전하 생성층을 포함할 수 있다. In this case, the organic light emitting layer 213 may be formed in a tandem structure of two or more stacks. Each of the stacks may include a hole transporting layer, at least one light emitting layer, and an electron transporting layer. In addition, a charge generation layer may be formed between the stacks, wherein the charge generation layer is formed on the n-type charge generation layer and the n-type charge generation layer adjacent to the lower stack and is located adjacent to the upper stack. It may include a charge generating layer.

그리고, n형 전하 생성층은 하부 스택으로 전자(electron)를 주입해주고, p형 전하 생성층은 상부 스택으로 정공(hole)을 주입해주게 된다. 이러한 n형 전하 생성층은 전자수송능력이 있는 유기 호스트 물질에 Li, Na, K, 또는 Cs와 같은 알칼리 금속, 또는 Mg, Sr, Ba, 또는 Ra와 같은 알칼리 토금속이 도핑된 유기층일 수 있으며, p형 전하 생성층은 정공수송능력이 있는 유기 호스트 물질에 도펀트가 도핑될 수 있다. The n-type charge generation layer injects electrons into the lower stack, and the p-type charge generation layer injects holes into the upper stack. The n-type charge generating layer may be an organic layer doped with an alkali metal such as Li, Na, K, or Cs, or an alkaline earth metal such as Mg, Sr, Ba, or Ra, in an organic host material having electron transport capability, The p-type charge generating layer may be doped with an organic host material having hole transport capability.

이러한 유기발광층(213)의 상부로는 전면에 캐소드전극(215)이 위치하는데, 캐소드전극(215) 또한 유기발광층(213)과 마찬가지로 화소영역(P)들에 공통적으로 형성되는 공통층으로 이루어질 수 있으며, 광을 투과시킬 수 있는 ITO, IZO와 같은 투명한 금속물질(TCO, Transparent Conductive Material), 또는 마그네슘(Mg), 은(Ag), 또는 마그네슘(Mg)과 은(Ag)의 합금과 같은 반투과 금속물질(Semitransmissive Conductive Material)로 형성될 수 있다. The cathode electrode 215 is positioned on the entire surface of the organic light emitting layer 213. The cathode electrode 215 may be formed of a common layer which is formed in common in the pixel regions P, like the organic light emitting layer 213. Transparent metal materials (TCO, Transparent Conductive Material) such as ITO and IZO that can transmit light, or half such as magnesium (Mg), silver (Ag), or alloys of magnesium (Mg) and silver (Ag) It may be formed of a semi-transmissive conductive material.

캐소드전극(215)이 반투과 금속물질로 형성되는 경우, 마이크로 캐비티(micro cavity)에 의해 출광 효율이 높아질 수 있다. When the cathode electrode 215 is formed of a semi-transmissive metal material, the light emission efficiency may be increased by a micro cavity.

캐소드전극(215) 상에는 캡핑층(cappinglayer)이 더욱 형성될 수 있다. A capping layer may be further formed on the cathode electrode 215.

이러한 발광다이오드(E)는 선택된 신호에 따라 애노드전극(211)과 캐소드전극(215)으로 소정의 전압이 인가되면, 애노드전극(211)으로부터 주입된 정공과 캐소드전극(215)으로부터 제공된 전자가 유기발광층(213)으로 수송되어 엑시톤(exciton)을 이루고, 이러한 엑시톤이 여기상태에서 기저상태로 천이 될 때 광이 발생되어 외부로 방출된다. In the light emitting diode E, when a predetermined voltage is applied to the anode electrode 211 and the cathode electrode 215 according to the selected signal, holes injected from the anode electrode 211 and electrons provided from the cathode electrode 215 are organic. It is transported to the light emitting layer 213 to form excitons, and when such excitons transition from the excited state to the ground state, light is generated and emitted to the outside.

이때, 발광된 광은 투명한 캐소드전극(215)을 통과하여 외부로 나가게 되고, 이를 통해 최종적으로 플렉서블 OLED(100)는 임의의 화상을 구현하게 된다. In this case, the emitted light passes through the transparent cathode electrode 215 to the outside, and finally the flexible OLED 100 implements an arbitrary image.

그리고, 이러한 구동 박막트랜지스터(DTr)와 발광다이오드(E) 상부에는 얇은 박막필름 형태인 보호필름(123)을 위치시킨 후, 보호필름(123)과 연성기판(101)을 합착함으로써, 플렉서블 OLED(100)는 인캡슐레이션(encapsulation)된다. In addition, the protective thin film 123 in the form of a thin thin film is positioned on the driving thin film transistor DTr and the light emitting diode E, and then the protective film 123 and the flexible substrate 101 are bonded together to form a flexible OLED ( 100 is encapsulated.

여기서, 보호필름(123)은 외부 산소 및 수분이 플렉서블 OLED(100) 내부로 침투하는 것을 방지하기 위하여, 무기보호필름(123a, 123c)을 적어도 2장 적층하여 사용하는데, 이때, 2장의 무기보호필름(123a, 123c) 사이에는 무기보호필름(123a, 123c)의 내충격성을 보완하기 위한 유기보호필름(123b)이 개재되는 것이 바람직하다. Here, the protective film 123 is used by stacking at least two inorganic protective films (123a, 123c) in order to prevent outside oxygen and moisture penetrate into the flexible OLED (100), in this case, two inorganic protection It is preferable that an organic protective film 123b is interposed between the films 123a and 123c to supplement the impact resistance of the inorganic protective films 123a and 123c.

따라서, 플렉서블 OLED(100)는 외부로부터 수분 및 산소가 플렉서블 OLED(100) 내부로 침투하는 것을 방지할 수 있다. Therefore, the flexible OLED 100 may prevent moisture and oxygen from penetrating into the flexible OLED 100 from the outside.

여기서, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 제 2 비표시영역(NEA2)을 살펴보면, 연성기판(101) 상에 멀티버퍼층(102)과 액티브버퍼층(103) 그리고 게이트절연층(106)이 순차적으로 위치하며, 제 2 비표시영역(NEA2)의 구동영역(DA)에는 게이트절연층(106) 상부로 게이트 구동회로배선(161) 및 접지배선(GND)이 형성된다. Here, referring to the second non-display area NEA2 according to the second embodiment of the present invention, the multi-buffer layer 102, the active buffer layer 103, and the gate insulating layer 106 are sequentially formed on the flexible substrate 101. In the driving region DA of the second non-display area NEA2, a gate driving circuit line 161 and a ground line GND are formed on the gate insulating layer 106.

게이트 구동회로배선(161)과 접지배선(GND)은 게이트전극(107) 및 제 1 금속패턴(153)과 동일 층에서 동일 물질로 이루어진다. 이때, 접지배선(GND)은 소스전극(113) 및 드레인전극(115)과 동일 층에서 동일 물질로 이루어질 수도 있다. The gate driving circuit wiring 161 and the ground wiring GND are made of the same material on the same layer as the gate electrode 107 and the first metal pattern 153. In this case, the ground wiring GND may be made of the same material as the source electrode 113 and the drain electrode 115 in the same layer.

게이트 구동회로배선(161)과 접지배선(GND) 상부로는 제 1 층간절연막(108)이 위치하며, 제 1 층간절연막(108)에는 접지배선(GND)을 노출하는 그라운드콘택홀(108a)이 구비된다. The first interlayer insulating layer 108 is positioned on the gate driving circuit wiring 161 and the ground wiring GND, and the ground contact hole 108a exposing the ground wiring GND is disposed in the first interlayer insulating film 108. It is provided.

이러한 제 1 층간절연막(108) 상부로는 그라운드콘택홀(108a)을 통해 접지배선(GND)과 접촉하는 그라운드연결전극(185)이 구비되는데, 그라운드연결전극(185)은 제 2 금속패턴(155)과 동일 층에서 동일 물질로 이루어진다. The ground connection electrode 185 is provided on the first interlayer insulating layer 108 to contact the ground line GND through the ground contact hole 108a. The ground connection electrode 185 is formed of the second metal pattern 155. ) And the same material in the same layer.

그라운드연결전극(185)과 접지배선(GND)은 캐소드전극(215)의 배선저항을 최소화하는 역할을 하게 된다. The ground connection electrode 185 and the ground wiring GND serve to minimize wiring resistance of the cathode electrode 215.

그라운드연결전극(185) 상부로는 순차적으로 제 2 층간절연층(109)과 제 1 내지 제 4 보호층(117a, 117b, 117c, 117d)이 위치하며, 제 2 층간절연막(109)과 제 1 내지 제 4 보호층(117a, 117b, 117c, 117d)에는 그라운드연결전극(185)을 노출하는 제 5 콘택홀(163)이 구비된다. The second interlayer insulating layer 109 and the first to fourth passivation layers 117a, 117b, 117c and 117d are sequentially disposed on the ground connection electrode 185, and the second interlayer insulating layer 109 and the first are disposed. The fourth contact layers 117a, 117b, 117c, and 117d are provided with a fifth contact hole 163 exposing the ground connection electrode 185.

이러한 제 4 보호층(117d) 상부로는 보조전극패턴(200)이 위치하는데, 보조전극패턴(200)은 발광다이오드(E)의 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층(201)과, 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층(203)으로 이루어진다. The auxiliary electrode pattern 200 is positioned on the fourth passivation layer 117d, and the auxiliary electrode pattern 200 is formed of the same material as the anode electrode 211 of the light emitting diode E. And the second layer 203 made of a metallic material with low resistance characteristics.

여기서, 제 2 층(203)은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어져 단일층 구조를 가질 수 있으며, 또는 둘 이상으로 이루어짐으로써 이중층 또는 삼중 층 구조를 가질 수도 있다. Here, the second layer 203 may be formed of any one of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), molybdenum (MoTi) may have a single layer structure, Or it may be made of two or more may have a double layer or triple layer structure.

이러한 보조전극패턴(200)은 캐소드전극(215)의 저항값을 낮추는 역할을 하게 된다. The auxiliary electrode pattern 200 serves to lower the resistance of the cathode electrode 215.

즉, 광을 투과시킬 수 있는 캐소드전극(215)은 보조전극패턴(200)과 그라운드연결전극(185) 및 접지배선(GND)과 전기적으로 연결되어 있다. 이러한 캐소드전극(215)은 ITO, IZO, TCO 또는 마그네슘(Mg), 은(Ag), 또는 마그네슘(Mg)과 은(Ag)의 합금과 같은 반투과 금속물질(Semitransmissive Conductive Material)로 형성될 수 있는데, 이러한 캐소드전극(215)은 매우 얇은 두께로 이루어지게 된다. That is, the cathode electrode 215 capable of transmitting light is electrically connected to the auxiliary electrode pattern 200, the ground connection electrode 185, and the ground wiring GND. The cathode electrode 215 may be formed of semi-transmissive conductive material such as ITO, IZO, TCO, or magnesium (Mg), silver (Ag), or an alloy of magnesium (Mg) and silver (Ag). This cathode electrode 215 is made of a very thin thickness.

이와 같이, 매우 얇은 두께로 이루어지는 캐소드전극(215)은 상대적으로 배선저항 값이 크기 때문에 일정한 전류를 균일하게 인가함에 있어 문제가 될 수 있어, 배선저항을 낮춰주기 위해 보조전극패턴(200)을 구비하여 캐소드전극(215)과 연결되도록 하는 것이다. As such, the cathode electrode 215 having a very thin thickness may be a problem in uniformly applying a constant current because the wiring resistance value is relatively large, and includes the auxiliary electrode pattern 200 to lower the wiring resistance. To be connected to the cathode electrode 215.

여기서, 보조전극패턴(200)의 면적이 넓을수록 캐소드전극(215)의 저항을 더욱 감소시킬 수 있으나, 보조전극패턴(200)은 애노드전극(211)과 동일한 층에 구비되기 때문에 보조전극패턴(200)은 애노드전극(211)이 구비되지 않은 영역에만 배치할 수 있으며, 특히 보조전극패턴(200)이 제 2 비표시영역(NEA2) 상에 위치함에 따라 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭을 넓히게 되어, 베젤영역의 증가를 초래하게 되므로, 공간에 제약이 있다. Here, the larger the area of the auxiliary electrode pattern 200 can reduce the resistance of the cathode electrode 215, but since the auxiliary electrode pattern 200 is provided on the same layer as the anode electrode 211, the auxiliary electrode pattern ( 200 may be disposed only in an area where the anode electrode 211 is not provided, and in particular, the width of the second non-display area NEA2 as the auxiliary electrode pattern 200 is positioned on the second non-display area NEA2. Because of the widening, which leads to an increase in the bezel area, there is a space limitation.

또한, 보조전극패턴(200)의 두께가 두꺼울수록 캐소드전극(215)의 배선저항을 더욱 감소시킬 수 있으나, 보조전극패턴(200)은 일정한 두께가 정해져 있는 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어짐에 따라 보조전극패턴(200)의 두께 또한 두껍게 형성할 수 없다. In addition, as the thickness of the auxiliary electrode pattern 200 increases, the wiring resistance of the cathode electrode 215 may be further reduced, but the auxiliary electrode pattern 200 is made of the same material as the anode electrode 211 having a predetermined thickness. As a result, the thickness of the auxiliary electrode pattern 200 may not be increased.

따라서, 캐소드전극(215)의 배선저항을 낮추는 데에 한계가 있으나, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 보조전극패턴(200)을 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층(201)과, 제 1 층(201) 상부로 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층(203)을 더욱 구비함으로써, 보조전극패턴(200)의 폭을 넓히거나 두께를 더욱 두껍게 하지 않더라도 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮출 수 있게 된다. Therefore, although there is a limit to lowering the wiring resistance of the cathode electrode 215, the flexible OLED 100 according to the second embodiment of the present invention is formed of the auxiliary electrode pattern 200 and the same material as the anode electrode 211. By further comprising a first layer 201 and a second layer 203 made of a metal material having a low resistance characteristic on the first layer 201, the width of the auxiliary electrode pattern 200 can be made wider or thicker. If not, the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200 can be lowered.

이와 같이, 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮춤으로써, 보조전극패턴(200)과 연결되는 캐소드전극(215)의 배선저항 또한 함께 낮출 수 있게 되는 것이다. As such, by lowering the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200, the wiring resistance of the cathode electrode 215 connected to the auxiliary electrode pattern 200 may also be lowered.

특히, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 그라운드연결전극(185)을 더욱 구비함으로써, 캐소드전극(215)의 배선저항을 보다 낮출 수 있게 된다. In particular, the flexible OLED 100 according to the second embodiment of the present invention further includes a ground connection electrode 185, thereby lowering wiring resistance of the cathode electrode 215.

이에 따라, 플렉서블 OLED(100)의 모든 영역의 캐소드전극(215)으로 동일한 전류가 인가될 수 있어, 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. Accordingly, the same current may be applied to the cathode electrodes 215 of all regions of the flexible OLED 100, thereby preventing the display quality from being increased due to the ground voltage rising or the luminance unevenness. .

여기서, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮출 수 있으므로, 보조전극패턴(200)의 폭을 줄일 수 있게 되는데, 이를 통해 보조전극패턴(200)이 위치하는 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭 자체를 줄일 수 있게 된다. Since the flexible OLED 100 according to the second embodiment of the present invention can lower the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200, the width of the auxiliary electrode pattern 200 can be reduced. The width itself of the second non-display area NEA2 in which the 200 is positioned can be reduced.

이에 대해 아래 (표 2)을 참조하여 좀더 자세히 살펴보도록 하겠다. This will be described in more detail with reference to Table 2 below.

금속(Ti/Al/Ti)(um)Metal (Ti / Al / Ti) (um) 베젤영역 감소량(um)Bezel area reduction (um) 5050 100100 150150 200200 250250 300300 500/1000/500500/1000/500 113.7113.7 -- -- -- -- -- 500/1500/500500/1500/500 93.093.0 486.0486.0 -- -- -- -- 500/2000/500500/2000/500 72.372.3 378.0378.0 -- -- -- -- 500/2500/500500/2500/500 56.856.8 297.0297.0 -- -- -- -- 500/3000/500500/3000/500 46.546.5 243.0243.0 439.5439.5 -- -- -- 500/3500/500500/3500/500 41.341.3 216.0216.0 390.7390.7 -- -- -- 500/6000/500500/6000/500 24.824.8 129.6129.6 234.4234.4 339.2339.2 -- --

위의 (표 2)는 보조전극패턴(200)의 제 2 층(203)의 금속물질의 각 두께 및 폭에 따라 감소시킬 수 있는 베젤영역의 감소량을 나타낸 실험결과이다. 즉, (표 2)를 살펴보면, 보조전극패턴(200)의 제 2 층(203)의 두께가 두꺼울수록, 그 폭이 넓을수록 베젤영역의 폭을 많이 줄일 수 있음을 확인할 수 있는데, 보조전극패턴(200)의 제 2 층(203)이 티타늄-알루미늄-티타늄(Ti/Al/Ti)으로 이루어지는 경우, 티타늄-알루미늄-티타늄(Ti/Al/Ti)으로 이루어지는 제 2 층(203)이 각각 500um, 1500um, 500um의 두께로 이루어지는 경우에는 보조전극패턴(200)의 폭이 486.0um로 형성할 수 있으며, 이를 통해 베젤영역이 100um 줄일 수 있게 된다. Table 2 above is an experimental result showing the amount of reduction in the bezel area that can be reduced according to each thickness and width of the metal material of the second layer 203 of the auxiliary electrode pattern 200. That is, referring to Table 2, it can be seen that the thicker the thickness of the second layer 203 of the auxiliary electrode pattern 200, the wider the width of the bezel region can be. When the second layer 203 of (200) is made of titanium-aluminum-titanium (Ti / Al / Ti), each of the second layers 203 made of titanium-aluminum-titanium (Ti / Al / Ti) is 500um. , 1500um and 500um, the width of the auxiliary electrode pattern 200 can be formed to 486.0um, through which the bezel area can be reduced by 100um.

다시 정리하면, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 구동부(도 1의 120)가 위치하는 제 2 비표시영역(NEA2)에 위치하는 보조전극패턴(200)을 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층(201)과, 제 1 층(201) 상부로 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층(203)을 더욱 구비함으로써, 보조전극패턴(200)의 폭을 넓히거나 두께를 더욱 두껍게 하지 않더라도 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮출 수 있어, 보조전극패턴(200)과 연결되는 캐소드전극(215)의 배선저항 또한 함께 낮출 수 있게 된다. In other words, the flexible OLED 100 according to the second exemplary embodiment of the present invention may include the auxiliary electrode pattern 200 positioned in the second non-display area NEA2 in which the driving unit 120 of FIG. The width of the auxiliary electrode pattern 200 is further provided by further including a first layer 201 made of the same material as that of 211 and a second layer 203 made of a metal material having a low resistance characteristic on the first layer 201. Since the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200 can be lowered even if the thickness of the auxiliary electrode pattern 200 is not reduced, the wiring resistance of the cathode electrode 215 connected to the auxiliary electrode pattern 200 can also be lowered.

이에 따라, 플렉서블 OLED(100)의 모든 영역의 캐소드전극(215)으로 동일한 전류가 인가될 수 있어, 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있으면서도, 제 2 비표시영역(NEA2)의 폭 또한 줄일 수 있어, 제 2 비표시영역(NEA2)의 내로우베젤 구현할 수 있는 것이다. Accordingly, the same current can be applied to the cathode electrodes 215 in all regions of the flexible OLED 100, so that the display voltage can be prevented from being increased due to the ground voltage rise or the luminance unevenness. In addition, the width of the second non-display area NEA2 can be reduced, so that the narrow bezel of the second non-display area NEA2 can be realized.

한편, 보조전극패턴(200)은 다수개가 일정간격 이격하여 위치하도록 하는 것이 바람직한데, 이를 통해 아웃개싱을 차단할 수 있다. On the other hand, it is preferable that the plurality of auxiliary electrode patterns 200 are located at a predetermined interval, which can block outgassing.

즉, 보조전극패턴(200)이 구비되는 구동부(도 1의 120)의 게이트 구동회로배선(161) 및 접지배선(GND) 상부로는 제 1 및 제 2 층간절연층(108, 109)과 제 1 내지 제 4 보호층(117a, 117b, 117c, 117d)이 위치하게 되는데, 이때 제 1 내지 제 4 보호층(117a, 117b, 117c, 117d)이 유기막으로 이루어질 경우 유기막(117a, 117b, 117c, 117d)으로부터는 아웃개싱이 발생되어 액티브영역(도 1의 A/A)의 발광다이오드(E)로 유입될 수 있다. That is, the first and second interlayer insulating layers 108 and 109 and the first and second interlayer insulating layers 108 and 109 are formed on the gate driving circuit wiring 161 and the ground wiring GND of the driving part (120 of FIG. 1) including the auxiliary electrode pattern 200. The first to fourth passivation layers 117a, 117b, 117c, and 117d are positioned. When the first to fourth passivation layers 117a, 117b, 117c, and 117d are made of organic layers, the organic layers 117a, 117b, Outgassing may occur from 117c and 117d to flow into the light emitting diode E of the active region (A / A of FIG. 1).

이에 따라 발광다이오드(E)의 유기발광층(213)의 수명이 줄어들며, 발광다이오드(E)의 발광효율 또한 저하시키게 된다. Accordingly, the lifespan of the organic light emitting layer 213 of the light emitting diode E is reduced, and the light emitting efficiency of the light emitting diode E is also reduced.

여기서, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 제 4 보호층(117d) 상부로 위치하는 보조전극패턴(200)을 다수개가 일정간격 이격하여 위치하도록 함으로써, 이격하여 위치하는 보조전극패턴(200) 사이로 아웃개싱홀(H)을 형성하게 된다. Here, in the flexible OLED 100 according to the second embodiment of the present invention, a plurality of auxiliary electrode patterns 200 positioned on the fourth passivation layer 117d are spaced apart by a predetermined interval, so that the auxiliary OLEDs are spaced apart from each other. An outgassing hole H is formed between the electrode patterns 200.

아웃개싱홀(H)은 보조전극패턴(200) 하부로 위치하는 유기막으로부터 발생된 아웃개싱이 액티브영역(도 1의 A/A)의 발광다이오드(E)로 넘어오지 못하도록 차단하는 역할을 하게 된다. The outgassing hole H serves to block outgassing generated from the organic layer positioned under the auxiliary electrode pattern 200 from passing through to the light emitting diode E of the active region (A / A of FIG. 1). do.

이러한 보조전극패턴(200) 상부로는 뱅크(119)가 위치하며, 뱅크(119)에 구비된 제 6 콘택홀(171)을 통해 캐소드전극(215)이 보조전극패턴(200)과 접촉하게 된다. The bank 119 is positioned above the auxiliary electrode pattern 200, and the cathode electrode 215 contacts the auxiliary electrode pattern 200 through the sixth contact hole 171 provided in the bank 119. .

한편, 제 1 내지 제 4 보호층(117a, 117b, 117c, 117d)은 액티브영역(AA)을 모두 덮도록 도포되는데, 이러한 제 1 내지 제 4 보호층(117a, 117b, 117c, 117d)은 하부로 위치하는 제 2 층간절연층(109)을 모두 덮지 않도록 하는 것이 바람직하다. Meanwhile, the first to fourth passivation layers 117a, 117b, 117c and 117d are applied to cover all of the active regions AA, and the first to fourth passivation layers 117a, 117b, 117c and 117d are lowered. It is preferable not to cover all of the second interlayer insulating layer 109 located at.

전술한 바와 같이, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 플렉서블 OLED(100)는 보조전극패턴(200)을 애노드전극(211)과 동일 물질로 이루어지는 제 1 층(201)과, 제 1 층(201) 상부로 저저항 특성을 금속 물질로 이루어지는 제 2 층(203)을 더욱 구비함으로써, 보조전극패턴(200)의 폭을 넓히거나 두께를 더욱 두껍게 하지 않더라도 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮출 수 있게 된다. As described above, in the flexible OLED 100 according to the second embodiment of the present invention, the auxiliary electrode pattern 200 includes the first layer 201 and the first layer 201 made of the same material as the anode electrode 211. By further including a second layer 203 made of a metal material having a low resistance property thereon, the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200 can be lowered even if the width of the auxiliary electrode pattern 200 is not increased or the thickness thereof is further increased. It becomes possible.

이와 같이, 보조전극패턴(200)의 배선저항을 낮춤으로써, 보조전극패턴(200)과 연결되는 캐소드전극(215)의 배선저항 또한 함께 낮출 수 있게 되는 것이다. As such, by lowering the wiring resistance of the auxiliary electrode pattern 200, the wiring resistance of the cathode electrode 215 connected to the auxiliary electrode pattern 200 may also be lowered.

이에 따라, 플렉서블 OLED(100)의 모든 영역의 캐소드전극(215)으로 동일한 전류가 인가될 수 있어, 그라운드 전압 상승에 의한 구동전압이 상승하거나 휘도 불균일에 의해 표시품질이 저하되는 것을 방지할 수 있다. Accordingly, the same current may be applied to the cathode electrodes 215 of all regions of the flexible OLED 100, thereby preventing the display quality from being increased due to the ground voltage rising or the luminance unevenness. .

또한, 보조전극패턴(200)이 위치하는 비표시영역(NEA2)의 폭 또한 줄일 수 있어, 제 2 비표시영역(NEA2)의 내로우베젤 구현할 수 있는 것이다. In addition, the width of the non-display area NEA2 in which the auxiliary electrode pattern 200 is located can also be reduced, so that a narrow bezel of the second non-display area NEA2 can be realized.

한편, 지금까지의 설명에서는 유기층(PI) 하부로 연성기판(101)이 부착되어 유연성 및 탄성을 갖는 플렉서블 OLED(100)에 대하여 설명하였으나, 본 발명의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 OLED는 강성기판(도 4k의 SUB)을 포함하여 형성될 수도 있다. Meanwhile, in the foregoing description, the flexible OLED 100 having flexibility and elasticity due to the flexible substrate 101 attached to the lower portion of the organic layer PI is described, but the OLED according to the first and second embodiments of the present invention It may also be formed including a rigid substrate (SUB in FIG. 4K).

본 발명은 상기 실시예로 한정되지 않고, 본 발명의 취지를 벗어나지 않는 한도 내에서 다양하게 변경하여 실시할 수 있다.The present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

101 : 연성기판, 102 : 멀티버퍼층, 103 : 액티브버퍼층, 106 : 게이트절연층
108, 109 : 제 1 및 제 2 층간절연층, 117 : 보호층, 119 : 격벽
123 : 보호필름(123a, 123c : 무기보호필름, 123b : 유기보호필름)
140 : 편광판, 161 : 게이트 구동회로배선, 163 : 제 5 콘택홀
171 : 제 6 콘택홀, 180 : 댐
200 : 보조전극패턴(201 : 제 1 층, 203 : 제 2 층), 215 : 캐소드전극
GND : 접지배선, H : 아웃개싱홀
101: flexible substrate, 102: multi-buffer layer, 103: active buffer layer, 106: gate insulating layer
108, 109: first and second interlayer insulating layers, 117: protective layer, 119: partition wall
123: protective film (123a, 123c: inorganic protective film, 123b: organic protective film)
140: polarizing plate, 161: gate driving circuit wiring, 163: fifth contact hole
171: sixth contact hole, 180: dam
200: auxiliary electrode pattern 201: first layer, 203: second layer, 215: cathode electrode
GND: Ground Wire, H: Outgassing Hole

Claims (15)

다수의 화소영역을 포함하는 액티브영역 및 상기 액티브영역을 외측으로 둘러싸는 비표시영역이 정의된 기판과;
상기 기판 상의 상기 화소영역에 위치하는 박막트랜지스터와;
상기 박막트랜지스터의 드레인전극과 연결되며, 제 1 금속패턴으로 이루어지는 애노드전극과;
상기 비표시영역에 위치하며, 상기 제 1 금속패턴과, 상기 제 1 금속패턴 상부로 제 2 금속패턴을 포함하는 보조전극패턴과;
상기 애노드전극 상부로 위치하는 유기발광층과;
상기 유기발광층 상부로 위치하며, 상기 보조전극패턴과 접촉되는 캐소드전극
을 포함하며, 상기 제 1 및 제 2 금속패턴은 각각 다층으로 이루어지는 유기발광표시장치.
A substrate in which an active region including a plurality of pixel regions and a non-display region surrounding the active region are defined;
A thin film transistor positioned in the pixel region on the substrate;
An anode electrode connected to the drain electrode of the thin film transistor and formed of a first metal pattern;
An auxiliary electrode pattern positioned in the non-display area, the auxiliary electrode pattern including the first metal pattern and a second metal pattern on the first metal pattern;
An organic light emitting layer positioned on the anode electrode;
A cathode electrode positioned above the organic light emitting layer and in contact with the auxiliary electrode pattern;
The organic light emitting display device of claim 1, wherein each of the first and second metal patterns comprises a multilayer.
제 1 항에 있어서,
상기 제 1 금속패턴은 알루미늄(Al)과 티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄(Al)과 ITO의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC 합금(Ag/Pd/Cu), 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO) 중 선택된 하나로 이루어지는 유기발광표시장치.
The method of claim 1,
The first metal pattern includes a laminated structure of aluminum (Al) and titanium (Ti), a stacked structure of aluminum (Al) and ITO (ITO / Al / ITO), and an APC alloy (Ag / Pd / Cu) and an organic light emitting display device comprising one selected from a stacked structure (ITO / APC / ITO) of an APC alloy and ITO.
제 2 항에 있어서,
상기 제 2 금속패턴은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어지는 단일층 또는 다중층 구조로 이루어지는 유기발광표시장치.
The method of claim 2,
The second metal pattern is an organic light emitting display having a single layer or a multilayer structure made of any one of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), and molybdenum (MoTi). Device.
제 1 항에 있어서,
상기 보조전극패턴은 상기 박막트랜지스터의 게이트전극과 동일층, 동일물질로 이루어지는 접지배선과 연결되는 유기발광표시장치.
The method of claim 1,
And the auxiliary electrode pattern is connected to a ground wiring made of the same layer and the same material as the gate electrode of the thin film transistor.
제 4 항에 있어서,
상기 접지배선의 상부로 제 1 층간절연막 사이에 두고 접촉되는 그라운드연결전극이 구비되며, 상기 보조전극패턴은 상기 그라운드연결전극과 접촉되는 유기발광표시장치.
The method of claim 4, wherein
And a ground connection electrode disposed between the first interlayer insulating layer and being in contact with the ground wiring, wherein the auxiliary electrode pattern is in contact with the ground connection electrode.
제 1 항에 있어서,
상기 보조전극패턴은 다수개가 이격하여 사이로 아웃개싱홀을 포함하는 유기발광표시장치.
The method of claim 1,
And a plurality of the auxiliary electrode patterns spaced apart from each other to include an outgassing hole therebetween.
제 1 항에 있어서,
상기 애노드전극은 상기 화소영역 별로 뱅크에 의해 가장자리가 둘러지며,
상기 비표시영역에 대응하여 상기 뱅크는 상기 뱅크의 하부로 위치하는 상기 보조전극패턴의 일부를 노출하는 콘택홀을 포함하며,
상기 콘택홀을 통해 상기 보조전극패턴과 상기 캐소드전극은 서로 접촉되는 유기발광표시장치.
The method of claim 1,
The anode is surrounded by the bank by the pixel region for each edge,
The bank corresponding to the non-display area includes a contact hole exposing a portion of the auxiliary electrode pattern positioned below the bank.
And the auxiliary electrode pattern and the cathode electrode are in contact with each other through the contact hole.
제 1 항에 있어서,
상기 기판은 연성기판 또는 강성기판 중 적어도 하나로 이루어질 수 있으며,
상기 기판 상부로는 유기층, 멀티버퍼층, 액티브버퍼층이 순차적으로 위치하는 유기발광표시장치.
The method of claim 1,
The substrate may be made of at least one of a flexible substrate and a rigid substrate,
And an organic layer, a multi-buffer layer, and an active buffer layer sequentially positioned on the substrate.
화소영역에 대응하여, 기판 상에 액티브층과, 게이트절연층 그리고 게이트전극을 형성하는 동시에, 비표시영역에 대응하여 상기 게이트전극과 동일층, 동일물질로 접지배선을 형성하는 단계와;
상기 게이트전극 및 상기 접지배선 상부로 층간절연막을 형성한 뒤, 상기 층간절연막 상부로, 각각 상기 액티브층의 각 소스영역 및 드레인영역과 접촉되는 소스전극 및 드레인전극을 형성하는 단계와;
상기 소스전극 및 드레인전극 상부로 보호층을 형성하는 단계와;
상기 보호층 상부로 제 1 금속층과 제 2 금속층을 순차 적층하는 단계와;
상기 제 1 및 제 2 금속층을 마스크공정을 통해, 제 1 및 제 2 금속패턴으로 형성하는 단계와;
상기 화소영역에 대응하여 상기 제 1 금속패턴으로 이루어지며, 상기 드레인전극과 접촉하는 애노드전극을 형성하는 단계와;
상기 비표시영역에 대응하여, 상기 제 1 및 제 2 금속패턴으로 이루어지며, 상기 접지배선과 접촉되는 보조전극배선을 형성하는 단계와;
상기 애노드전극 상부로 유기발광층을 형성하는 단계와;
상기 유기발광층 상부로 상기 보조전극배선과 접촉하는 캐소드전극을 형성하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 제조방법.
Forming an active layer, a gate insulating layer, and a gate electrode on the substrate in correspondence with the pixel region, and simultaneously forming a ground wiring with the same layer and the same material as the gate electrode corresponding to the non-display region;
Forming an interlayer insulating layer over the gate electrode and the ground wiring, and then forming a source electrode and a drain electrode over the interlayer insulating layer, the source electrode and the drain electrode being in contact with each source region and the drain region of the active layer, respectively;
Forming a protective layer over the source electrode and the drain electrode;
Sequentially stacking a first metal layer and a second metal layer on the passivation layer;
Forming the first and second metal layers into first and second metal patterns through a mask process;
Forming an anode electrode formed of the first metal pattern corresponding to the pixel region and in contact with the drain electrode;
Forming an auxiliary electrode wiring formed of the first and second metal patterns in contact with the non-display area and in contact with the ground wiring;
Forming an organic light emitting layer on the anode;
And forming a cathode electrode in contact with the auxiliary electrode wiring on the organic light emitting layer.
제 9 항에 있어서,
상기 마스크공정은 하프-톤(Half-tone) 마스크를 이용하는 유기발광표시장치의 제조방법.
The method of claim 9,
The mask process is a manufacturing method of an organic light emitting display device using a half-tone mask.
제 9 항에 있어서,
상기 제 1 금속패턴은 알루미늄(Al)과 티타늄(Ti)의 적층 구조(Ti/Al/Ti), 알루미늄(Al)과 ITO의 적층 구조(ITO/Al/ITO), APC 합금(Ag/Pd/Cu), 및 APC 합금과 ITO의 적층 구조(ITO/APC/ITO) 중 선택된 하나로 이루어지는 유기발광표시장치의 제조방법.
The method of claim 9,
The first metal pattern includes a laminated structure of aluminum (Al) and titanium (Ti), a stacked structure of aluminum (Al) and ITO (ITO / Al / ITO), and an APC alloy (Ag / Pd / Cu) and a laminated structure (ITO / APC / ITO) of APC alloy and ITO.
제 11 항에 있어서,
상기 제 2 금속패턴은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금(AlNd), 구리(Cu), 구리합금, 몰리브덴(Mo), 몰리티타늄(MoTi) 중 어느 하나로 이루어지는 단일층 또는 다중층 구조로 이루어지는 유기발광표시장치의 제조방법.
The method of claim 11,
The second metal pattern is an organic light emitting display having a single layer or a multilayer structure made of any one of aluminum (Al), aluminum alloy (AlNd), copper (Cu), copper alloy, molybdenum (Mo), and molybdenum (MoTi). Method of manufacturing the device.
제 9 항에 있어서,
상기 접지배선에 대응하여, 상기 층간절연막 상부로 그라운드접지배선을 더욱 형성하며, 상기 그라운드접지배선은 상기 층간절연막에 구비된 그라운드콘택홀을 통해 상기 접지배선과 접촉되는 유기발광표시장치의 제조방법.
The method of claim 9,
A method of manufacturing an organic light emitting display device according to the ground wiring, wherein the ground ground wiring is further formed on the interlayer insulating film, and the ground ground wiring is in contact with the ground wiring through a ground contact hole provided in the interlayer insulating film.
제 9 항에 있어서,
상기 애노드전극은 상기 화소영역 별로 뱅크에 의해 가장자리가 둘러지며,
상기 비표시영역에 대응하여 상기 뱅크는 상기 뱅크의 하부로 위치하는 상기 보조전극패턴의 일부를 노출하는 콘택홀을 포함하며,
상기 콘택홀을 통해 상기 보조전극패턴과 상기 캐소드전극은 서로 접촉되는 유기발광표시장치의 제조방법.
The method of claim 9,
The anode is surrounded by the bank by the pixel region for each edge,
The bank corresponding to the non-display area includes a contact hole exposing a portion of the auxiliary electrode pattern positioned below the bank.
The method of claim 1, wherein the auxiliary electrode pattern and the cathode electrode are in contact with each other through the contact hole.
제 9 항에 있어서,
상기 기판은 연성기판 또는 강성기판 중 적어도 하나로 이루어질 수 있으며,
상기 강성기판 상부로는 희생층, 유기층, 멀티버퍼층, 액티브버퍼층이 순차적으로 위치하며,
상기 희생층은 상기 기판의 배면으로부터 조사되는 레이저에 의해 제거되는 제 1 단계와, 상기 강성기판과 상기 유기층이 서로 분리되는 제 2 단계 그리고 상기 유기층에 상기 연성기판이 부착되는 제 3 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 제조방법.
The method of claim 9,
The substrate may be made of at least one of a flexible substrate and a rigid substrate,
A sacrificial layer, an organic layer, a multibuffer layer, and an active buffer layer are sequentially positioned on the rigid substrate.
The sacrificial layer includes a first step of removing the laser from the rear surface of the substrate, a second step of separating the rigid substrate and the organic layer from each other, and a third step of attaching the flexible substrate to the organic layer. Method of manufacturing an organic light emitting display device.
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