KR20190049022A - O링 부식 방지용 가스켓 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 제조 장치의 홈에 배치되어 밀폐력을 향상시키는 밀페링; 및 상기 홈에 배치되고, 상기 밀폐링의 하부에서 상기 밀폐링의 외주면을 감싸는 가드를 포함하는 O링 부식 방지용 가스켓에 관한 것이다. 이러한 본 발명에 따르면 밀폐링의 하부에서 밀폐링을 감싸는 가드에 의해 반도체 제조 장치에서 배출되는 고온의 가스 또는 화학물질에 의해 밀폐링이 부식되는 것을 방지할 수 있다.
Description
본 발명의 가스켓에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 반도체 제조 장치에 적용되는 O링의 부식을 방지하는 O링 부식 방지용 가스켓에 관한 것이다.
반도체를 제조하는 과정에서 반도체 공정용 설비는 제원상 많은 종류의 가스 및 용수의 공급이 지속적으로 요구되고 이 과정에서 발생하는 각종 폐가스, 폐수 및 응축수 등을 전용 배출루트인 배관과 덕트를 통해 최종처리시설까지 압송 및 운송하여야 한다.
제조과장의 각 장비에서 발생된 고온의 폐가스에는 여러 종류의 불순물 입자들이 섞여서 배출된다.
그런데, 각 장비에는 밀폐효과를 향상시키기 위해 O링이 적용되는데 각 장비에서 배출되는 고온의 폐가스에 의해 O링이 부식되어 수명이 짧아지는 문제점이 발생된다.
본 발명의 목적은 반도체 제조 장치에 적용되어 반도체 제조 과정에서 배출되는 가스 또는 열에 의해 O링의 부식을 방지하는 O링 부식 방지용 가스켓을 제공하는 것이다.
상기한 본 발명의 목적을 실현하기 위한 하나의 특징에 따른 O링 부식 방지용 가스켓은, 반도체 제조 장치의 홈에 배치되어 밀폐력을 향상시키는 밀페링; 및 사익 홈에 배치되고, 상기 밀폐링의 하부에서 상기 밀폐링의 외주면을 감싸는 가드를 포함한다.
여기서, 상기 가드는, 단면이 원호 형상으로 구비될 수 있다.
또한, 상기 가드는, 평면이 링형상으로 구비될 수 있다.
나아가, 상기 가드는, 평면이 원호형상으로 구비될 수 있다.
추가적으로, 상기 가드는, 호의 길이가 짧은 외벽을 따라 외부로 돌출되는 날개부재를 포함할 수 있다.
또한, 상기 밀폐링은, VMQ, FVMQ, FKM, EPDM 및 NBR 중 적어도 어느 하나 이상의 재질로 구비될 수 있다.
그리고, 상기 가드는, PFA(Per Fluoro Alkoxy), FEP(Fluorinated Ethylene Propylene) 및 ETFE(Ethylene Tetra Fluoro Ethylene) 중 적어도 어느 하나 이상의 재질로 구비될 수 있다.
본 발명의 O링 부식 방지용 가스켓에 따르면,
첫째, 밀폐링의 하부에서 밀폐링을 감싸는 가드에 의해 반도체 제조 장치에서 배출되는 고온의 가스 또는 화학물질에 의해 밀폐링이 부식되는 것을 방지할 수 있다.
둘째, 날개부재에 의해 외부로부터 전달되는 충격을 막아 밀폐링의 수명을 연장시킬 수 있다.
셋째, 평면이 원호형상의 가드에 의해 밀폐링의 필요한 부분에만 적용할 수 있다.
도 1은 본 발명의 O링 부식 방지용 가스켓이 적용된 적용 예시도이다.
도 2는 본 발명의 O링 부식 방지용 가스켓의 분해 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 가드의 단면도이다.
도 4는 도 2에 도시된 가드의 사시도이다.
도 5는 다른 실시예에 따른 가드의 사시도이다.
도 6은 다른 실시예에 따른 가드의 단면도이다.
도 7은 다른 실시예에 따른 가드의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 O링 부식 방지용 가스켓의 분해 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 가드의 단면도이다.
도 4는 도 2에 도시된 가드의 사시도이다.
도 5는 다른 실시예에 따른 가드의 사시도이다.
도 6은 다른 실시예에 따른 가드의 단면도이다.
도 7은 다른 실시예에 따른 가드의 단면도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명한다. 이때, 첨부된 도면에서 동일한 구성 요소는 가능한 동일한 부호로 나타내고 있음에 유의한다. 또한, 본 발명의 요지를 흐리게 할 수 있는 공지 기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략할 것이다. 마찬가지 이유로 첨부 도면에 있어서 일부 구성 요소는 과장되거나 생략되거나 개략적으로 도시되었다.
도 1은 본 발명의 O링 부식 방지용 가스켓이 적용된 적용 예시도이고, 도 2는 본 발명의 O링 부식 방지용 가스켓의 분해 사시도이며, 도 3은 도 2에 도시된 가드의 단면도이고, 도 4는 도 2에 도시된 가드의 사시도이고, 도 5는 다른 실시예에 따른 가드의 사시도이다.
그리고, 도 6은 다른 실시예에 따른 가드의 단면도이고, 도 7은 다른 실시예에 따른 가드의 단면도이다.
도 1 내지 도 7을 참조하면, 본 발명의 O링 부식 방지용 가스켓(100)은 밀폐링(110) 및 가드(120)를 포함한다.
밀폐링(110)은 반도체 제조 장치(10)의 홈(11)에 배치되어 밀폐력을 향상시킨다.
여기서, 밀폐링(110)은 VMQ, FVMQ, FKM, EPDM 및 NBR 중 적어도 어느 하나 이상의 재질로 구비될 수 있다.
가드(120)는 홈(11)에 배치되고, 밀폐링(110)의 하부에서 밀폐링(110)의 외주면을 감싼다.
여기서, 가드(120)는 도 3에 도시된 것처럼 단면이 원호(A)형상으로 구비된다.
또한, 가드(120)는 도 4에 도시된 것처럼 평면이 링형상으로 구비될 수도 있고, 도 5에 도시된 것처럼 원호형상으로 구비될 수도 있다.
따라서, 밀폐링(110)의 일부에만 적용할 수 있다.
그리고, 가드(120)는 날개부재(121)를 포함하는데, 날개부재(121)는 양측 외벽 중 적어도 어느 하나 이상을 따라 외부로 돌출된다.
여기서, 가드(120)는 도 3에 도시된 것처럼 호의 길이가 짧은 외벽만을 따라 외부로 돌출될 수도 있고,
도 6에 도시된 것처럼 호의 길이가 긴 외벽만을 따라 외부로 돌출될 수 있으며,
도 7에 도시된 것처럼 호의 길이가 짧은 외벽 및 호의 길이가 긴 외벽 모두를 따라 외부로 돌출될 수 있다.
따라서, 반도체 제조 장치(10)의 유체이동로라인(12)으로 이동하는 화학물질을 포함하는 유체와 접촉하는 것을 방지하여 밀폐링(110)의 부식을 방지할 수 있다.
또한, 날개부재(121)에 의해 외부로부터 전달되는 충격을 막아 밀폐링(110)의 수명을 연장시킬 수 있다.
추가적으로, 가드(120)는 PFA(Per Fluoro Alkoxy), FEP(Fluorinated Ethylene Propylene) 및 ETFE(Ethylene Tetra Fluoro Ethylene) 중 적어도 어느 하나 이상의 재질로 구비될 수 있다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
110...밀폐링
120...가드
121...날개부재
121...날개부재
Claims (7)
- 반도체 제조 장치의 홈에 배치되어 밀폐력을 향상시키는 밀페링; 및
상기 홈에 배치되고, 상기 밀폐링의 하부에서 상기 밀폐링의 외주면을 감싸는 가드를 포함하는 O링 부식 방지용 가스켓. - 제1항에 있어서,
상기 가드는,
단면이 원호 형상으로 구비되는 것을 특징으로 하는 O링 부식 방지용 가스켓. - 제2항에 있어서,
상기 가드는,
평면이 링형상으로 구비되는 것을 특징으로 하는 O링 부식 방지용 가스켓. - 제2항에 있어서,
상기 가드는,
평면이 원호형상으로 구비되는 것을 특징으로 하는 O링 부식 방지용 가스켓. - 제3항 또는 제4항에 있어서,
상기 가드는,
양측 외벽 중 적어도 어느 하나 이상을 따라 외부로 돌출되는 날개부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 O링 부식 방지용 가스켓. - 제5항에 있어서,
상기 밀폐링은,
VMQ, FVMQ, FKM, EPDM 및 NBR 중 적어도 어느 하나 이상의 재질로 구비되는 것을 특징으로 하는 O링 부식 방지용 가스켓. - 제5항에 있어서,
상기 가드는,
PFA(Per Fluoro Alkoxy), FEP(Fluorinated Ethylene Propylene) 및 ETFE(Ethylene Tetra Fluoro Ethylene) 중 적어도 어느 하나 이상의 재질로 구비되는 것을 특징으로 하는 O링 부식 방지용 가스켓.
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KR1020170144411A KR20190049022A (ko) | 2017-11-01 | 2017-11-01 | O링 부식 방지용 가스켓 |
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KR0131080B1 (ko) | 1988-01-12 | 1998-04-13 | 로버트 레너드 흘 | 복합재료 및 이를 제조하는 방법 |
KR20080023447A (ko) | 2006-09-11 | 2008-03-14 | 씨앤지하이테크 주식회사 | 반도체 제조장치용 실링장치 |
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- 2017-11-01 KR KR1020170144411A patent/KR20190049022A/ko not_active Application Discontinuation
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