KR20180071469A - 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 표시 장치는, 복수 개의 픽셀을 구비하는 표시 패널, 기준 전류를 제공하는 기준 전류원 및 센싱 라인을 통해 픽셀로부터 유입되는 신호를 샘플링 하는 센싱 유니트 복수 개와 복수 개의 센싱 유니트와 연결되는 아날로그-디지털 변환기를 포함하여 픽셀의 구동과 관련된 센싱 데이터를 얻는 소스 드라이브 IC를 포함하여 구성되고, 소스 드라이브 IC는 복수 개의 센싱 라인과 복수 개의 센싱 유니트를 연결하는 스위치 어레이를 포함하고, 스위치 어레이는, 각 센싱 유니트에 대해, 해당 센싱 유니트를 해당 센싱 유니트에 대응되는 제1 센싱 라인에 연결하는 제1 스위치 및 해당 센싱 유니트를 제1 센싱 라인에 이웃하는 이전의 제2 센싱 라인에 연결하거나 해당 센싱 유니트를 기준 전류원에 연결하는 제2 스위치를 포함할 수 있다. 따라서, 하나의 전류원만을 사용하면서도 센싱 채널 사이 편차뿐만 아니라 센싱 블록 또는 소스 드라이브 IC 사이 편차를 효과적으로 제거할 수 있게 된다.

Description

표시 장치{Display Device}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 특히 패널의 구동 특성을 센싱 하는 센싱 회로를 캘리브레이션 하는 표시 장치에 관한 것이다.
액티브 매트릭스 타입의 유기 발광 표시 장치는 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode, OLED)를 포함하며, 응답 속도가 빠르고 발광 효율, 휘도 및 시야각이 큰 장점이 있다.
스스로 발광하는 OLED는 애노드 전극 및 캐소드 전극과, 이들 사이에 형성된 유기 화합물층(HIL, HTL, EML, ETL, EIL)을 포함한다. 유기 화합물층은 정공 주입층(Hole Injection layer, HIL), 정공 수송층(Hole transport layer, HTL), 발광층(Emission layer, EML), 전자 수송층(Electron transport layer, ETL) 및 전자 주입층(Electron Injection layer, EIL)으로 이루어진다. 애노드 전극과 캐소드 전극에 구동 전압이 인가되면 정공 수송층(HTL)을 통과한 정공과 전자 수송층(ETL)을 통과한 전자가 발광층(EML)으로 이동되어 여기자를 형성하고, 그 결과 발광층(EML)이 가시광을 발생하게 된다.
유기 발광 표시 장치는 OLED를 각각 포함한 픽셀들을 매트릭스 형태로 배열하고 영상 데이터의 계조에 따라 OLED의 발광량을 제어하여 휘도를 조절한다. 픽셀들 각각은 자신의 게이트 전극과 소스 전극 사이에 걸리는 전압에 따라 OLED에 흐르는 픽셀 전류를 제어하는 구동 소자 즉, 구동 TFT(Thin Film Transistor)를 포함한다. OLED와 구동 TFT의 전기적 특성은 경시적 변화에 따라 열화되어 픽셀들에서 차이가 생길 수 있다. 이러한 픽셀들 간 전기적 특성 편차는 화상 품질을 떨어뜨리는 주요 요인이 된다.
픽셀들 사이 전기적 특성 편차를 보상하기 위해 픽셀들의 전기적 특성(구동 TFT의 문턱 전압, 구동 TFT의 이동도, OLED의 문턱 전압)에 대응되는 센싱 정보를 측정하고, 이 센싱 정보를 기반으로 외부 회로에서 영상 데이터를 변조하는 외부 보상 기술이 알려져 있다.
이러한 외부 보상 기술은 소스 드라이브 IC(Integrated Circuit)에 내장된 센싱 블록을 이용하여 픽셀들의 전기적 특성을 센싱 한다. 픽셀 특성 신호를 전류 형태로 입력 받는 센싱 블록은 전류 적분기와 샘플&홀드부로 구성되는 복수 개의 센싱 유니트 및 아날로그-디지털 컨버터(Analog Digital Converter, ADC)를 포함한다. 전류 적분기는 센싱 채널을 통해 입력되는 픽셀 전류를 적분하여 센싱 전압을 생성하고, 이 센싱 전압은 샘플&홀드부를 거쳐 ADC에 전달되며, ADC를 통해 디지털 센싱 데이터로 변환된다. 타이밍 컨트롤러는 ADC로부터의 디지털 센싱 데이터를 기초로 픽셀들의 전기적 특성 편차를 보상할 수 있는 픽셀용 보상 값을 산출하고, 이 픽셀용 보상 값을 기초로 입력 영상 데이터를 보정한다.
유기 발광 표시 장치는 표시 패널을 영역 단위로 분할 구동하기 위해 다수의 소스 드라이브 IC들을 구비하므로, 각 소스 드라이브 IC마다 하나씩 내장된 센싱 블록들은 표시 패널의 픽셀들을 영역 단위로 분할하여 그 특성을 센싱 한다. 이렇게 복수 개의 센싱 블록들을 통해 픽셀들을 분할 센싱 하는 경우에는, 센싱 블록들 사이의 옵셋 편차로 인해 센싱의 정확도가 저하될 수 있다. 특히, 소스 드라이브 IC 내부의 ADC는 온도나 주변 환경에 따라 특성이 쉽게 변하는데, ADC의 출력은 소정 범위의 상온에서 어느 정도 일정한 값을 유지하지만 상온을 벗어난 고온에서 상온의 것과 상당히 다른 값이 된다. 이러한 ADC의 출력 특성은 패널의 픽셀 센싱 데이터에 영향을 주어 영상을 표시할 때 소스 드라이브 IC가 담당하는 영역 사이에 휘도에 차이가 표시되는 블록 딤(Block DIM) 현상을 일으킨다.
이러한 블록 딤 현상을 해소하기 위해, 캘리브레이션 과정을 통해 센싱 블록들 사이의 옵셋 편차를 보상해 주어야 한다. 캘리브레이션 과정은 각 센싱 블록에 테스트 전류를 인가하여 캘리브레이션용 센싱 데이터를 얻고, 이 캘리브레이션용 센싱 데이터에 기초하여 센싱 블록들 사이의 옵셋 편차를 보상할 수 있는 캘리브레이션용 보상 값을 산출한다. 타이밍 컨트롤러는 입력 영상 데이터를 보정할 때 픽셀용 보상 값뿐만 아니라 캘리브레이션용 보상 값을 참조하여 보상의 정확도를 높인다.
도 1과 도 2는 종래 캘리브레이션을 구현하는 구성을 도시한 것이다.
도 1의 종래의 제1 캘리브레이션 방식은, 예를 들어 3개의 소스 드라이브 IC들(SIC1, SIC2, SIC3)에 구비된 3개의 센싱 블록들에 테스트 전류를 인가하기 위해 1개의 공통 전류원(Ix)을 구비한다. 이 캘리브레이션 방식은 공통 전류원(Ix)과 소스 드라이브 IC들(SIC1, SIC2, SIC3) 사이에 연결된 스위치들(SW1, SW2, SW3)을 번갈아 턴 온 시키면서 3개의 센싱 블록들에 순차적으로 테스트 전류를 인가한다.
도 2의 종래의 제2 캘리브레이션 방식은, 예를 들어 3개의 소스 드라이브 IC들(SIC1, SIC2, SIC3)에 구비된 3개의 센싱 블록들에 테스트 전류를 인가하기 위해 3개의 개별 전류원들(I1, I2, I3)을 구비한다. 이 캘리브레이션 방식은 개별 전류원들(I1, I2, I3)을 통해 3개의 센싱 블록들에 동시에 테스트 전류를 인가한다.
제1 캘리브레이션 방식은 공통 전류원(Ix)을 사용하기 때문에 전류원 편차에 의한 캘리브레이션 오차가 발생하지 않지만, 모든 소스 드라이브 IC들(SIC1, SIC2, SIC3)을 1개의 공통 전류원(Ix)으로 순차적으로 캘리브레이션 해야 하기 때문에 택 타임(Tack Time)이 증가하는 문제가 있다.
제2 캘리브레이션 방식은 개별 전류원들(I1, I2, I3)을 통해 소스 드라이브 IC들(SIC1, SIC2, SIC3)을 동시에 캘리브레이션 하기 때문에 택 타임이 줄어드는 장점이 있으나, 개별 전류원들(I1, I2, I3) 사이 편차에 의해 캘리브레이션 오차가 발생하는 문제가 있다. 또한, 표시 장치에 소스 드라이브 IC가 다수 개 사용되는 경우, 예를 들어 20개 소스 드라이브 IC가 채용되는 경우, 개별 전류원도 20개가 되어야 하고, 개별 전류원들 사이 편차를 줄이기 위해 각 전류원이 서로 편차가 매우 작고 거의 동일한 값의 전류를 출력할 수 있도록 전류원의 회로 구성이 정밀해지고 복잡해지거나 회로 규모가 커질 수 밖에 없다.
한편, 각 센싱 채널에 대응되는 센싱 유니트 사이에도 옵션 편차가 발생하므로, 이러한 센싱 유닛의 편차를 캘리브레이션 하기 위해 각 센싱 유니트에 대해서도 캘리브레이션 동작을 수행하는 경우, 제1 및 제2 캘리브레이션 방식 모두 택 타임이 크게 늘어나는 문제가 있다. 특히 제1 캘리브레이션 방식의 경우 캘리브레이션 동작에 수행되는 시간이 늘어나는 문제가 가장 심각하다.
본 발명은 이러한 상황을 감안한 것으로, 본 발명의 목적은 소요 시간을 줄이고 센싱 채널마다 센싱 편차를 제거하는 캘리브레이션 장치와 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은, 작은 리소스의 추가만으로 채널 사이에 센싱 편차가 발생하는 것을 방지하는 캘리브레이션 장치와 이를 포함하는 표시 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는, 복수 개의 데이터 라인 중 하나와 복수 개의 센싱 라인 중 하나에 연결되는 픽셀 복수 개를 구비하는 표시 패널; 기준 전류를 제공하는 기준 전류원; 및 상기 데이터 라인을 통해 상기 픽셀에 데이터 전압을 공급하고, 상기 센싱 라인을 통해 상기 픽셀로부터 유입되는 신호를 샘플링 하는 센싱 유니트 복수 개와 상기 복수 개의 센싱 유니트와 연결되는 아날로그-디지털 변환기를 포함하여 상기 픽셀의 구동과 관련된 센싱 데이터를 얻는 소스 드라이브 IC를 포함하여 구성되고, 상기 소스 드라이브 IC는 상기 복수 개의 센싱 라인과 복수 개의 센싱 유니트를 연결하는 스위치 어레이를 포함하고, 스위치 어레이는, 각 센싱 유니트에 대해, 해당 센싱 유니트를 해당 센싱 유니트에 대응되는 제1 센싱 라인에 연결하는 제1 스위치 및 해당 센싱 유니트를 제1 센싱 라인에 이웃하는 이전의 제2 센싱 라인에 연결하거나 해당 센싱 유니트를 기준 전류원에 연결하는 제2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 한다.
일 실시예에서, 각 센싱 유니트는, 제1 스위치를 통해 제1 센싱 라인에 연결되어 제1 테스트 전류를 공급 받은 후, 제2 스위치를 통해 제2 센싱 라인에 연결되어 제2 테스트 전류를 공급 받거나 또는 기준 전류원에 연결되어 기준 전류를 공급 받거나, 또는 각 센싱 유니트는, 제2 스위치를 통해 제2 센싱 라인에 연결되어 제2 테스트 전류를 공급 받거나 또는 기준 전류원에 연결되어 기준 전류를 공급 받는 후, 제1 스위치를 통해 제1 센싱 라인에 연결되어 제1 테스트 전류를 공급 받을 수 있다.
일 실시예에서, 첫 번째 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트는 제2 스위치를 통해 기준 전류원에 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 첫 번째 소스 드라이브 IC를 제외한 각 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트는, 제2 스위치를 통해 해당 소스 드라이브 IC와 이웃하는 이전 소스 드라이브 IC의 마지막 센싱 유니트에 대응되는 센싱 라인에 연결될 수 있다.
일 실시예에서, 소스 드라이브 IC는, 각 센싱 유니트에 대해서, 제1 기간에 제1 테스트 전류에 따른 제1 캘리브레이션 데이터를 얻고, 제2 기간에 제2 테스트 전류 또는 기준 전류에 따른 제2 캘리브레이션 데이터를 얻거나, 또는 소스 드라이브 IC는, 각 센싱 유니트에 대해서, 제1 기간에 제2 테스트 전류 또는 기준 전류에 따른 제1 캘리브레이션 데이터를 얻고, 제2 기간에 제1 테스트 전류에 따른 제2 캘리브레이션 데이터를 얻을 수 있다.
일 실시예에서, 소스 드라이브 IC가 출력하는 센싱 데이터와 캘리브레이션 데이터를 처리하는 타이밍 컨트롤러를 더 포함하고, 타이밍 컨트롤러는, 제1 기간에 제1 센싱 유니트가 얻은 제1 캘리브레이션 데이터와 제2 기간에 제1 센싱 유니트에 이웃하는 센싱 유니트가 얻은 제2 캘리브레이션 데이터를 비교하여 제1 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터와 제2 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터의 편차를 보정할 수 있는 보상 값을 계산할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 테스트 전류는 제1 센싱 라인에 연결되고 소정 픽셀 라인에 배치된 픽셀에서 제공되거나 또는 비표시 영역에 배치되어 제1 센싱 라인에 연결된 전류 소스 또는 더미 픽셀에서 제공되고, 제2 테스트 전류는 제2 센싱 라인에 연결되고 소정 픽셀 라인에 배치된 픽셀에서 제공되거나 또는 비표시 영역에 배치되어 제2 센싱 라인에 연결된 전류 소스 또는 더미 픽셀에서 제공될 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치의 캘리브레이션 방법은, 표시 패널에 구비된 픽셀에 연결되는 센싱 라인을 통해 유입되는 신호를 샘플링 하는 센싱 유니트 복수 개와 복수 개의 센싱 유니트와 연결되는 아날로그-디지털 변환기(ADC)를 포함하여 픽셀의 구동과 관련된 센싱 데이터를 얻는 표시 장치에서 실행되고, 제1 기간에, 제1 센싱 유니트가 제1 센싱 유니트에 대응되는 제1 센싱 라인에 연결되어 제1 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하고 샘플링 된 값을 ADC가 제1 캘리브레이션 데이터로 변환하고, 제1 센싱 유니트와 이웃하고 다음에 배치되는 제2 센싱 유니트가 제2 센싱 유니트에 대응되는 제2 센싱 라인에 연결되어 제2 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하고 샘플링 된 값을 ADC가 제2 캘리브레이션 데이터로 변환하는 단계; 및 제2 기간에, 제1 센싱 유니트가 제1 센싱 라인에 이웃하고 이전에 배치되는 제3 센싱 라인에 연결되어 제3 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하거나 또는 기준 전류원에 연결되어 기준 전류를 적분하여 샘플링 하고 샘플링 된 값을 ADC가 제3 캘리브레이션 데이터로 변환하고, 제2 센싱 유니트가 제1 센싱 라인에 연결되어 제1 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하고 샘플링 된 값을 ADC가 제4 캘리브레이션 데이터로 변환하는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
일 실시예에서, 표시 장치가 센싱 유니트 복수 개와 ADC를 포함하는 소스 드라이브 IC를 복수 개 포함할 때, 제2 기간에, 첫 번째 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트가 기준 전류원에 연결되어 기준 전류를 입력 받고, 첫 번째 소스 드라이브 IC를 제외한 각 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트가 해당 소스 드라이브 IC와 이웃하는 이전 소스 드라이브 IC의 마지막 센싱 유니트에 대응되는 센싱 라인에 연결되어 테스트 전류를 입력 받을 수 있다.
일 실시예에서, 표시 장치의 캘리브레이션 방법은, 제1 기간에 제1 센싱 유니트를 통해 얻은 제1 캘리브레이션 데이터와 제2 기간에 제2 센싱 유니트를 통해 얻은 제4 캘리브레이션 데이터를 비교하여 제1 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터와 제2 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터의 편차를 보정할 수 있는 보상 값을 추출하는 단계를 더 포함하여 이루어질 수 있다.
본 발명의 또 다른 실시예에 따른 표시 장치의 캘리브레이션 방법은, 표시 패널에 구비된 픽셀에 연결되는 센싱 라인을 통해 유입되는 신호를 샘플링 하는 센싱 유니트 복수 개와 복수 개의 센싱 유니트와 연결되는 아날로그-디지털 변환기(ADC)를 포함하여 픽셀의 구동과 관련된 센싱 데이터를 얻는 표시 장치에서 실행되고, 센싱 유니트들을 동시에 해당 센싱 유니트에 대응되는 센싱 라인에 연결하여 연결된 센싱 라인에서 유입되는 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하고, 센싱 유니트들을 순차적으로 ADC에 연결하여 각 센싱 유니트들에 대한 제1 캘리브레이션 데이터를 얻는 단계; 센싱 유니트들을 해당 센싱 유니트에 대응되는 센싱 라인에 이웃하는 센싱 라인 또는 기준 전류원에 연결하여 연결된 센싱 라인 또는 기준 전류원에서 유입되는 테스트 전류 또는 기준 전류를 적분하여 샘플링 하고, 센싱 유니트들을 순차적으로 ADC에 연결하여 각 센싱 유니트들에 대한 제2 캘리브레이션 데이터를 얻는 단계를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
일 실시예에서, 표시 장치의 캘리브레이션 방법은, 제1 센싱 유니트 및 제1 센싱 유니트에 이웃하는 제2 센싱 유니트가 각각 같은 센싱 라인에서 유입되는 테스트 전류로부터 얻은 제1 캘리브레이션 데이터와 제2 캘리브레이션 데이터를 비교하여, 제1 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터와 제2 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터의 편차를 보정할 수 있는 보상 값을 추출하는 단계를 더 포함하여 이루어질 수 있다.
따라서, 하나의 기준 전류원만을 사용하면서도 센싱 채널 사이 편차뿐만 아니라 센싱 블록 또는 소스 드라이브 IC 사이 편차를 효과적으로 제거할 수 있게 되고, 이에 따라 블록 딤 현상을 막고 화질을 향상시킬 수 있게 된다.
또한, 정확한 값의 전류를 출력하는 기준 전류원을 하나만 채용하므로 작은 리소스를 사용하여 캘리브레이션 동작을 수행할 수 있게 된다.
또한, 센싱 채널 사이 편차를 보상하는 캘리브레이션 동작에 소요되는 시간을 줄일 수 있게 된다.
도 1은 종래 제1 캘리브레이션 방식을 구현하는 구성을 도시한 것이고,
도 2는 종래 제2 캘리브레이션 방식을 구현하는 구성을 도시한 것이고,
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치를 블록으로 도시한 것이고,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 캘리브레이션 동작을 수행하기 위한 표시 패널과 소스 드라이브 IC의 구성을 도시한 것이고,
도 5는 기준 전류원 및 각 채널에 기준 전류를 제공하는 센싱 라인과 센싱 유니트의 연결 구성을 도시한 것이고,
도 6은 도 5의 소스 드라이브 IC에 포함된 스위칭 블록에 포함된 스위치의 동작을 제어하는 제어 신호의 타이밍을 도시한 것이고,
도 7은 도 5의 소스 드라이브 IC에 포함된 스위치 블록에 포함된 스위치의 동작을 제어하는 제어 신호의 다른 실시예에 따른 타이밍을 도시한 것이고,
도 8은 캘리브레이션 동작을 위해 각 채널마다 별도의 전류원이 장착되는 실시예를 도시한 것이고,
도 9는 캘리브레이션 동작을 위해 테스트 전류가 유입되는 하나의 센싱 라인에 이웃하는 2개의 센싱 유니트가 접속되는 회로 구성을 도시한 것이고,
도 10은 도 9의 회로 구성에 포함된 스위치의 동작을 제어하는 제어 신호의 타이밍을 도시한 것이고,
도 11은 도 10의 제1 기간에 이루어지는 스위칭 블록과 센싱 유닛의 동작을 도시한 것이고,
도 12는 도 10의 제2 기간에 이루어지는 스위칭 블록과 센싱 블록의 동작을 도시한 것이고,
도 13은 도 9의 회로 구성에 포함된 스위치의 동작을 제어하는 제어 신호의 다른 실시예에 따른 타이밍을 도시한 것이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 실질적으로 동일한 구성 요소들을 의미한다. 이하의 설명에서, 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.
데이터 구동 회로가 복수 개의 소스 드라이브 IC를 포함하고, 각 소스 드라이브 IC는 복수 개의 센싱 유니트와 하나의 ADC를 포함하는 센싱 블록을 포함하여 표시 패널에 포함된 픽셀의 구동 특성을 센싱 하는데, ADC마다 특성 차이에 따라 블록 딤 현상이 발생할 뿐만 아니라 센싱 유니트마다 특성 차이에 따라 같은 휘도를 표시하는 이웃 픽셀에도 휘도 차이가 나게 된다.
이러한 문제를 해결하기 위해서는, 센싱 블록에 포함된 ADC의 편차를 측정하고 보상할 뿐만 아니라, 각 센싱 유니트 사이의 검출 편차를 측정하고 보상해야 한다. 예를 들어, 가로 해상도가 3840인 4K 디스플레이에 20개의 소스 드라이브 IC가 사용될 수 있고, 각 소스 드라이브 IC에는 192개의 센싱 유니트가 포함되므로, 센싱 유니트들 사이의 편차를 보정하기 위해서는 센싱 유니트마다 같은 테스트 전류를 인가하고 ADC로 캘리브레이션 데이터를 얻고 이를 비교하여야 한다.
도 1 구성과 같이 하나의 전류원만을 채용하는 경우, 센싱 유니트 사이 편차 보상을 위한 캘리브레이션 동작에 시간이 많이 소요되는 문제가 있고, 도 2 구성과 같이 복수 개의 전류원을 채용하는 경우, 시간이 도 1에 비해 적게 걸리지만, 전류원들이 출력하는 테스트 전류를 동일한 값으로 유지하기 위한 회로 구성 비용이 많은 문제가 있다.
본 발명에서는, 센싱 라인 개수에 대응하는 복수 개의 테스트 전류를 동시에 공급 받아 캘리브레이션 동작에 소요되는 시간을 줄이되, 복수 개의 외부 기준 전류원을 별도로 채용하지 않고도 표시 패널에 포함된 픽셀을 전류원으로 하여 테스트 전류를 제공 받아, 회로 구성이 복잡하고 규모가 큰 기준 전류원을 복수 개 사용하지 않아 회로 구성 비용을 줄일 수 있다.
또한, 본 발명에서는, 센싱 라인에 연결된 픽셀에서 생성되는 테스트 전류 또는 센싱 라인에 연결되고 회로 구성이 간단한 전류원에서 생성되는 테스트 전류를 대응되는 센싱 유니트 및 이웃하는 센싱 유니트에 순차적으로 공급하고, 센싱 유니트와 ADC를 통해 출력되는 캘리브레이션 데이터를 서로 비교하여, 이웃하는 센싱 유니트 사이 편차뿐만 아니라 ADC 사이 편차도 제거할 수 있다.
또한, 본 발명에서는, 정밀한 값의 전류를 출력하는 하나의 기준 전류원을 표시 패널에 장착하고, 하나의 센싱 유니트에 기준 전류원에서 출력하는 테스트 전류와 대응되는 센싱 라인에 연결되는 픽셀에서 생성되는 테스트 전류를 순차적으로 흘려 각각 캘리브레이션 데이터를 얻고 이를 비교하여, 표시 장치마다 휘도 편차가 발생하는 것을 줄일 수 있다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 표시 장치를 블록으로 도시한 것이고, 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따라 캘리브레이션 동작을 수행하기 위한 표시 패널과 소스 드라이브 IC의 구성을 도시한 것이다.
본 발명의 표시 장치는, 표시 패널(10), 타이밍 컨트롤러(11), 데이터 구동 회로(12), 게이트 구동 회로(13) 및 메모리(16)를 포함하여 구성된다.
표시 패널(10)에는 다수의 데이터 라인(14A)과 센싱 라인(14B) 및 다수의 게이트 라인(또는 스캔 라인)(15)이 교차하고, 이 교차 영역마다 픽셀들(P)이 매트릭스 형태로 배치되어 픽셀 어레이를 구성한다. 게이트 라인(15)은 데이터 전압 인가를 위한 제1 스캔 신호(SCAN)가 공급되는 다수의 제1 게이트 라인과 센싱 구동을 위한 제2 스캔 신호(SEN)가 공급되는 다수의 제2 게이트 라인을 포함할 수도 있다.
픽셀 어레이에서, 픽셀(P)은 데이터 라인들(14A) 중 어느 하나, 센싱 라인들(14B) 중 어느 하나, 게이트 라인들(15) 중 어느 하나에 접속되어 픽셀 라인을 형성한다. 픽셀(P)은 게이트 라인(15)을 통해 입력되는 게이트 펄스(또는 스캔 펄스)에 응답하여 데이터 라인(14A)과 전기적으로 연결되어 데이터 전압을 입력 받고, 센싱 라인(14B)을 통해 센싱 신호를 출력할 수 있다. 동일 픽셀 라인에 배치된 픽셀들(P)은 같은 게이트 라인(15)으로부터 인가되는 게이트 펄스에 따라 동시에 동작한다.
픽셀(P)은, 도시하지 않은 전원 생성부로부터 고전위 구동 전압(EVDD)과 저전위 구동 전압(EVSS)을 공급 받고, OLED, 구동 TFT, 스토리지 커패시터, 복수 개의 스위치 TFT를 구비할 수 있다. 픽셀(P)을 구성하는 TFT들은 P 타입으로 구현되거나 또는 N 타입으로 구현되거나 또는 P 타입과 N 타입이 혼용된 하이브리드 타입으로 구현될 수 있다. 또한, TFT의 반도체 층은, 아몰포스 실리콘 또는, 폴리 실리콘 또는, 산화물을 포함할 수 있다.
본 발명은 외부 보상 기술을 사용하는 표시 장치에 적용할 수 있다. 외부 보상 기술은 픽셀들(P)에 구비된 구동 TFT의 전기적 특성을 센싱 하고 그 센싱 값에 따라 입력 영상의 디지털 데이터(DATA)를 보정하는 기술이다. 구동 TFT의 전기적 특성은 구동 TFT의 문턱 전압과 구동 TFT의 전자 이동도를 포함할 수 있다.
타이밍 컨트롤러(11)는 픽셀의 구동 특성을 센싱 하고 그에 따른 보상 값을 업데이트 하기 위한 센싱 구동과 보상 값이 반영된 입력 영상을 표시하기 위해 영상 데이터(RGB)를 표시 패널(10)에 기입하는 디스플레이 구동을 정해진 제어 시퀀스에 따라 시간적으로 분리할 수 있는데, 즉 센싱 구동은 영상 데이터의 기입이 중지되는 기간에 이루어질 수 있다.
타이밍 컨트롤러(11)의 제어 동작에 의해, 센싱 구동은 수직 블랭크 기간(또는 버티컬 블랭크 시간)에 수행되거나 또는 디스플레이 구동이 시작되기 전의 파워 온 시퀀스 기간(구동 전원이 인가된 후 화상이 표시되는 화상 표시 구간 전까지 비표시 구간)에 수행되거나, 또는 디스플레이 구동이 끝난 후의 파워 오프 시퀀스 기간(화상 표시가 종료된 직후부터 구동 전원이 차단될 때까지 비표시 구간)에 수행될 수 있다.
수직 블랭크 기간은 입력 영상 데이터(DATA)가 기입되지 않는 기간으로서, 1 프레임 분의 입력 영상 데이터(DATA)가 기입되는 수직 액티브 기간들 사이마다 배치된다. 파워 온 시퀀스 기간은 구동 전원이 온 된 후부터 입력 영상이 표시될 때까지의 과도 기간을 의미한다. 파워 오프 시퀀스 기간은 입력 영상의 표시가 끝난 후부터 구동 전원이 오프 될 때까지의 과도 기간을 의미한다.
본 발명은, 디스플레이 구동과 센싱 구동 이외에, 센싱 유니트마다 특성 차이와 ADC마다 특성 차이를 측정하고 이를 보상하기 위한 캘리브레이션 구동을 더 포함할 수 있다. 본 발명에 따른 캘리브레이션 구동은, 소스 드라이브 IC 단위로 센싱 유니트마다 두 번의 테스트 전류를 인가해서 시간이 많이 소요되기 때문에, 제품 출하 때 수행되고 추가로 파워 오프 시퀀스 기간에 수행될 수 있다.
타이밍 컨트롤러(11)는 호스트 시스템으로부터 입력되는 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 도트 클럭 신호(DCLK) 및 데이터 인에이블 신호(DE) 등의 타이밍 신호들에 기초하여 데이터 구동 회로(12)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 제어 신호(DDC) 및 게이트 구동 회로(13)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어 신호(GDC)를 생성한다. 타이밍 컨트롤러(11)는, 화상 표시가 수행되는 디스플레이 구동 기간과 픽셀 특성을 센싱 하는 센싱 구동 기간을 시간적으로 분리하고, 화상 표시를 위한 제어 신호들(DDC, GDC)과 센싱 구동을 위한 제어 신호들(DDC, GDC)을 서로 다르게 생성할 수 있다.
타이밍 컨트롤러(11)는, 캘리브레이션 구동 때, 데이터 구동 회로(12)로부터 입력되는 캘리브레이션용 데이터에 기초하여 센싱 블록들 사이 옵셋 편차와 센싱 유니트 사이 옵셋 편차를 보상할 수 있는 캘리브레이션용 보상 값을 계산하고, 이를 메모리(16)에 저장할 수 있다.
타이밍 컨트롤러(11)는, 센싱 구동 때, 데이터 구동 회로(12)로부터 입력되는 디지털 센싱 값들(SD)을 기초로 픽셀의 구동 특성 변화를 보상할 수 있는 픽셀용 보상 값을 계산하고, 이 픽셀용 보상 값을 메모리(16)에 저장할 수 있다. 메모리(16)에 저장되는 픽셀용 보상 값은 센싱 구동 때마다 업데이트 될 수 있고, 그에 따라 픽셀의 시변 특성이 용이하게 보상될 수 있다.
타이밍 컨트롤러(11)는, 디스플레이 구동 때, 메모리(16)로부터 픽셀용 보상 값을 읽어 들이고, 이 픽셀용 보상 값을 기초로 입력 영상의 디지털 데이터(DATA)를 보정하여 데이터 구동 회로(12)에 공급하는데, 픽셀용 보상 값뿐만 아니라 캘리브레이션용 보상 값을 더 참조하여 보상 정확도를 높일 수 있다.
데이터 구동 회로(12)는 표시 패널(10)을 영역 단위로 분할 구동하기 위해 하나 이상의 소스 드라이브 IC들을 포함한다. 각 소스 드라이브 IC는, 데이터 라인들(14A)에 연결된 복수 개 디지털-아날로그 컨버터(DAC), 센싱 채널들을 통해 센싱 라인들(14B)에 연결된 센싱 블록(SB) 및 센싱 라인(14B)과 센싱 유니트의 연결을 제어하는 교차 스위치 블록(X-SWB)을 포함하여 구성될 수 있다.
각 센싱 유니트는 센싱 라인(14B)을 통해 1 픽셀 라인에 배치된 다수의 픽셀들(P)에 공통 접속될 수 있는데, 2개 이상의 픽셀들(P), 예를 들어 4개의 픽셀들(P)로 이루어진 하나의 단위 픽셀이 하나의 센싱 라인(14B)을 공유하여 대응되는 센싱 유니트에 연결될 수 있다.
DAC는 디스플레이 구동 때 데이터 제어 신호(DDC)에 따라 타이밍 컨트롤러(11)로부터 입력되는 디지털 영상 데이터(RGB)를 디스플레이용 데이터 전압으로 변환하여 데이터 라인들(14A)에 공급한다. 디스플레이용 데이터 전압은 입력 영상의 계조에 따라 달라지는 전압이다.
DAC는 센싱 구동 때 데이터 제어 신호(DDC)에 따라 센싱용 데이터 전압을 생성하여 데이터 라인들(14A)에 공급한다. 센싱용 데이터 전압은 센싱 구동 때 픽셀(P)에 구비된 구동 TFT를 턴 온 시킬 수 있는 전압이다. 센싱용 데이터 전압은 모든 픽셀들(P)에 대해 동일한 값으로 생성될 수 있다. 또한, 컬러마다 픽셀 특성이 다름을 감안하여, 센싱용 데이터 전압은 컬러마다 다른 값으로 생성될 수 있다.
DAC는 캘리브레이션 구동 때 데이터 제어 신호(DDC)에 따라 캘리브레이션용 데이터 전압을 생성하여 데이터 라인들(14A)에 공급하는데, 캘리브레이션용 데이터 전압은 픽셀(P)에 구비된 구동 TFT를 턴 온 시켜 센싱 라인(14B)에 캘리브레이션을 위한 테스트 전류가 흐르게 하는 전압이다.
또한, 데이터 구동 회로는, 같은 픽셀 라인에 배치되고 같은 센싱 라인(14B)에 연결된 복수 개의 픽셀 중에서, 하나의 픽셀에만 캘리브레이션용 데이터 전압을 인가하고, 다른 픽셀에는 데이터 전압을 인가하지 않거나 구동 TFT를 턴 오프 시킬 정도의 데이터 전압을 인가할 수 있다.
센싱 블록(SB)은, 센싱 채널의 개수에 대응하는 복수 개의 센싱 유니트(SU) 및 하나의 ADC를 포함할 수 있다. 센싱 유니트는 센싱 채널에 연결되어 센싱 채널을 통해 유입되는 전류를 적분하는 전류 적분기(CI)와 적분된 전류 값을 샘플링 하는 샘플&홀드부(SH)를 포함하고, ADC는 순차적으로 각 센싱 유니트에 연결되어 샘플링 된 값을 센싱 데이터 또는 캘리브레이션 데이터로 변환할 수 있다. 도 4에서는 소스 드라이브 IC(SIC#1)가 6개의 센싱 유니트(SU#1~SU#6)를 포함하는 것으로 도시되어 있다.
교차 스위치 블록(X-SWB)은, 데이터 제어 신호(DDC)에 따라, 센싱 유니트를 센싱 채널(또는 센싱 라인) 또는 기준 전류원(Iref)에 선택적으로 연결하는 복수 개의 스위치로 구성되는 스위치 어레이로, 센싱 구동 때는 각 센싱 유니트를 해당 센싱 유니트에 대응되는 센싱 채널에 연결하고, 캘리브레이션 구동 때는 각 센싱 유니트를 서로 이웃하는 두 센싱 채널에 순차적으로 연결할 수 있다.
즉, 교차 스위치 블록(X-SWB)은, 캘리브레이션 구동 때, 각 센싱 유니트를 해당 센싱 유니트에 대응되는 센싱 채널에 연결한 후 각 센싱 유니트를 해당 센싱 유니트에 대응되는 센싱 채널에 이웃하는 이전(또는 다음) 센싱 채널에 연결할 수 있다. 또한, 교차 스위치 블록(X-SWB)은, 캘리브레이션 구동 때, 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)를 첫 번째 센싱 채널(CH#1)을 통해 첫 번째 센싱 라인에 연결한 후, 0 번째 채널(CH#0)을 통해 기준 전류원(Iref) 또는 이전 소스 드라이브 IC(SIC)의 마지막 센싱 라인에 연결할 수 있다. 도 4에서, 첫 번째 소스 드라이브 IC(SIC#1)의 마지막 센싱 라인은 두 번째 소스 드라이브 IC(SIC#2)의 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)에 연결될 수 있다.
ADC는, 센싱 구동 때 픽셀의 구동 특성에 해당하는 센싱 데이터를 출력하고, 캘리브레이션 구동 때 테스트 전류 또는 기준 전류에 대응되는 캘리브레이션 데이터를 출력한다.
게이트 구동 회로(13)는, 디스플레이 구동 때, 게이트 제어 신호(GDC)를 기반으로 디스플레이용 게이트 펄스(SCAN)를 생성하여 픽셀 라인들에 연결된 게이트 라인들(15)에 순차 공급한다. 픽셀 라인들은 수평으로 이웃한 픽셀들(P)의 집합을 의미한다. 게이트 구동 회로(13)는, 센싱 구동 때, 게이트 제어 신호(GDC)를 기반으로 센싱용 게이트 펄스를 생성하여 픽셀 라인들에 연결된 게이트 라인들(15)에 순차 공급한다.
게이트 구동 회로(13)는, 캘리브레이션 구동 때, 게이트 제어 신호(GDC)를 기반으로, 센싱용 게이트 펄스를 생성하여 하나의 정해진 픽셀 라인(15)에 공급하여, 해당 픽셀 라인에 배치된 픽셀이 테스트 전류를 센싱 라인(14B)에 공급할 수 있도록 한다.
타이밍 컨트롤러(11)는, 같은 센싱 라인에서 차례로 같은 테스트 전류를 인가 받은 이웃하는 두 센싱 유니트를 통해 출력되는 두 캘리브레이션 데이터를 비교하여, 두 센싱 유니트 사이 편차를 보상할 수 있는 보정 값을 계산하고, 마찬가지로 다음 센싱 라인에서 차례로 테스트 전류를 인가 받은 이웃하는 두 센싱 유니트를 통해 출력되는 두 캘리브레이션 데이터를 비교하여, 두 센싱 유니트 사이 편차를 보상할 수 있는 보정 값을 계산할 수 있다.
이와 같이, 이웃하는 두 센싱 유니트 사이 편차를 차례로 보상하여 모든 소스 드라이브 IC에 포함된 모든 센싱 유니트의 특성 편차를 보상할 수 있게 된다. 또한, 기준 전류원에 의한 캘리브레이션 데이터와 첫 번째 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 라인의 테스트 전류에 의한 캘리브레이션 데이터를 비교하여, 표시 장치 사이의 편차를 보정할 수 있다. 이와 같이, 캘리브레이션 데이터를 이용하여 센싱 유니트 사이 편차, 센싱 블록 사이 편차, 표시 장치 사이 편차를 보정할 수 있는 캘리브레이션용 보상 값을 계산하고 이를 메모리(16)에 저장할 수 있다.
메모리(16)는 기준 전류원에서 유입되는 기준 전류가 센싱 유니트를 거쳐 ADC에서 변환되는 캘리브레이션 데이터에 대한 기준 값을 저장하고, 타이밍 컨트롤러(11)는, 첫 번째 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트에 기준 전류가 유입되어 캘리브레이션 데이터가 출력될 때, 메모리(16)에 저장된 기준 값과 비교하여 첫 번째 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트를 보정하는 기준 보상 값을 결정할 수 있다.
이와 같이, 타이밍 컨트롤러(11)는, 센싱 라인에서 이웃하는 두 센싱 유니트에 인가되는 테스트 전류에 따른 두 캘리브레이션 데이터의 비교를 통해, 센싱 유니트 사이 편차를 보정하는 보상 값들을 정할 수 있고, 기준 전류에 의해 소정의 센싱 유니트를 보정하는 보상 값을 정하기 때문에, 모든 센싱 유니트를 기준 전류에 의해 보정하는 결과를 얻을 수 있다.
본 발명이 적용되는 표시 장치로서 OLED 표시 장치를 중심으로 설명하지만 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 본 발명의 표시 장치는, 표시 장치의 신뢰성을 높이고 수명을 늘리기 위하여 픽셀들의 구동 특성을 센싱 할 필요가 있는 어떠한 표시 장치, 예를 들어 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display, LCD)나 무기 물질을 발광층으로 사용하는 무기 발광 표시 장치 등을 사용하여 구성할 수 있다.
도 5는 기준 전류원 및 각 채널에 기준 전류를 제공하는 센싱 라인과 센싱 유니트의 연결 구성을 도시한 것이고, 도 6은 도 5의 소스 드라이브 IC에 포함된 스위칭 블록에 포함된 스위치의 동작을 제어하는 제어 신호의 타이밍을 도시한 것이다.
교차 스위치 블록(X-SWB)은, 제1 스위치들(A)과 제2 스위치들(B)을 구비하는데, 즉 각 센싱 유니트에 대해 스위치 쌍(A, B)을 포함하여 N개의 센싱 유니트에 N개의 스위치 쌍을 포함하여, 각 센싱 유니트 쌍을 대응되는 센싱 라인에 연결하거나 대응되는 센싱 라인에 이웃하는 이전 센싱 라인에 연결할 수 있다.
제1 스위치들(A)은 센싱 유니트를 대응되는 센싱 라인에 연결하고, 제2 스위치들(B)은 센싱 유니트를 대응되는 센싱 라인에 이웃하는 이전 센싱 라인 또는 기준 전류원에 연결한다.
도 5에서, 첫 번째 소스 드라이브 IC(SIC#1)의 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)는, 대응되는 센싱 라인에 연결시키는 제1 스위치(A#1)에 의해, 첫 번째 센싱 채널(CH#1)을 거쳐 첫 번째 센싱 라인(SL#1)에 연결되거나 연결이 끊기고, 이웃하는 센싱 라인에 연결시키는 제2 스위치(B#1)에 의해, 0 번째 센싱 채널(CH#0)을 거쳐 기준 전류원(Iref)에 연결되거나 연결이 끊길 수 있다.
또한, 두 번째 센싱 유니트(SU#2)는, 제1 스위치(A#2)에 의해 두 번째 센싱 채널(CH#2)을 거쳐 두 번째 센싱 라인(SL#2)에 연결되고, 제2 스위치(B#2)에 의해 첫 번째 센싱 채널(CH#1)을 거쳐 첫 번째 센싱 라인(SL#1)에 연결될 수 있다.
한편, 센싱 라인을 기준으로 설명하면, k 번째 센싱 라인(SL#k)은, 교차 스위치 블록(X-SWB)에 포함된 스위칭 쌍(A#k, B#(k+1))을 통해, 대응되는 센싱 유니트(SU#k)에 연결된 후 다음 센싱 유니트(SU#(k+1))에 연결될 수 있다.
첫 번째 소스 드라이브 IC(SIC#1)의 마지막, 즉 N 번째 센싱 라인(SL#N)은, 제1 스위치(A#N)에 의해, 대응되는 N 번째 센싱 유니트(SU#N)에 연결된 후, 다음 소스 드라이브 IC(SIC#2)의 교차 스위치 블록(X-SWB)에 포함된 제2 스위치(B#1)에 의해, N 번째 센싱 라인(SL#N)에 이웃하고 다음에 배치되는 (N+1) 번째 센싱 라인(SL#(N+1))에 대응되는 센싱 유니트(두 번째 소스 드라이브 IC(SIC#2)의 첫 번째 센싱 유니트(SU#1))에 연결된다.
캘리브레이션 구동 때, 각 센싱 라인을 통해 테스트 전류가 센싱 유니트에 제공될 수 있고, 하나의 센싱 라인에서 같은 테스트 전류가 이웃하는 두 센싱 유니트에 차례로 제공되므로, 같은 테스트 전류에 대해서 두 센싱 유니트를 통해 출력되는 캘리브레이션 데이터를 이용하여 두 센싱 유니트 사이 특성 차이를 보정할 수 있다.
도 6과 같이, 제1 기간(T1)에 제1 스위치들(A#1 ~ A#N)이 순차적으로 턴-온 되어 각 센싱 라인의 테스트 전류가 대응되는 센싱 유니트에 공급된다. 즉, 제1 기간(T1)에, 스위치 A#1이 첫 번째 센싱 라인(SL#1)을 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)에 연결하여 첫 번째 센싱 라인(SL#1)의 테스트 전류를 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)에 공급하고, 이후 스위치 A#2가 두 번째 센싱 라인(SL#2)을 두 번째 센싱 유니트(SU#2)에 연결하여 두 번째 센싱 라인(SL#2)의 테스트 전류를 두 번째 센싱 유니트(SU#2)에 공급하고, 비슷하게 진행하여 스위치 A#N이 N 번째 센싱 라인(SL#N)을 N 번째 센싱 유니트(SU#N)에 연결할 수 있다. 모든 소스 드라이브 IC에서 동시에 제1 기간(T1)에 제1 스위치들(A#1 ~ A#N)이 순차적으로 턴-온 되어 각 센싱 라인이 대응되는 센싱 유니트에 연결된다.
제2 기간(T2)에는 제2 스위치들(B#1 ~ B#N)이 순차적으로 턴-온 되어 각 센싱 라인의 테스트 전류가 대응되는 센싱 유니트에 이웃하는 다음 센싱 유니트에 공급된다. 즉, 제2 기간(T2)에, 스위치 B#1이 기준 전류원(Iref)을 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)에 연결하여 기준 전류를 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)에 공급하고, 이후 스위치 B#2가 첫 번째 센싱 라인(SL#1)을 대응되는 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)에 이웃하는 다음 센싱 유니트인 두 번째 센싱 유니트(SU#2)에 연결하여 첫 번째 센싱 라인(SL#1)의 테스트 전류를 두 번째 센싱 유니트(SU#2)에 공급하고, 비슷하게 진행하여 스위치 B#N이 (N-1) 번째 센싱 라인(SL#(N-1))을 N 번째 센싱 유니트(SU#N)에 연결할 수 있다. 모든 소스 드라이브 IC에서 동시에 제2 기간(T2)에 제2 스위치들(B#1 ~ B#N)이 순차적으로 턴-온 되어 각 센싱 라인이 대응되는 센싱 유니트에 이웃하는 다음 센싱 유니트에 연결된다.
도 6과는 다르게, 제1 기간에 제2 스위치들(B#1 ~ B#N)을 순차적으로 턴-온 시키고, 제2 기간에 제1 스위치들(A#1 ~ A#N)을 순차적으로 턴-온 시킬 수도 있다. 물론, 제1 스위치들과 제2 스위치들을 A#1에서 A#N, B#1에서 B#N으로 순차적으로 턴-온 시키는 대신 반대로 A#N에서 A#1, B#N에서 B#1으로 순차적으로 턴-온 시킬 수도 있다.
도 7은 도 5의 소스 드라이브 IC에 포함된 스위치 블록에 포함된 스위치의 동작을 제어하는 제어 신호의 다른 실시예에 따른 타이밍을 도시한 것이다.
도 7에서는, 센싱 유니트의 번호 순서대로, 예를 들어 첫 번째 센싱 유니트(SU#1), 두 번째 센싱 유니트(SU#2), , N 번째 센싱 유니트(SU#N) 순서로 센싱 유니트와 센싱 라인 또는 기준 전류원을 연결하되, 각 센싱 유니트(SU#k)에서 먼저 제2 스위치(B#k)를 통해 해당 센싱 유니트(SU#k)에 대응되는 센싱 라인(SL#k)과 이웃하고 이전에 배치되는 센싱 라인(SL#(k-1)과 먼저 연결하고 다음에 제1 스위치(A#k)를 통해 해당 센싱 유니트(SU#k)에 대응되는 센싱 라인(SL#k)에 연결할 수 있다.
즉, 도 7과 같이, 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)에 연결되는 제2 스위치(B#1)를 턴-온 시키고 첫 번째 센싱 유니트(SU#1)에 연결되는 제1 스위치(A#1)를 턴-온 시킨 후, 두 번째 센싱 유니트(SU#2)에 연결되는 제2 스위치(B#2)를 턴-온 시키고 두 번째 센싱 유니트(SU#2)에 연결되는 제1 스위치(A#2)를 턴-온 시키는 것과 같이, 교차 스위치 블록(X-SWB)에 포함된 제1 스위치들과 제2 스위치들을 동작시킬 수 있다.
또는, 도 7에서 제1 스위치와 제2 스위치의 순서를 바꾸어, A#1 -> B#1 -> -> A#N -> B#N 순서로 제1 및 제2 스위치들을 동작시킬 수도 있다.
또는, 도 6을 참조로 설명한 것과 비슷하게, 도 7에 도시된 순서와 반대로, A#N -> B#N -> -> A#1 -> B#1 순서로 제1 및 제2 스위치들의 동작을 제어할 수 있고, 또는 B#N -> A#N -> -> B#1 -> A#1 순서로 제1 및 제2 스위치들의 동작을 제어할 수도 있다.
도 7에서, 제1 기간과 제2 기간은 각 센싱 유니트를 기준으로 설정될 수 있는데, k 번째 센싱 유니트(SU#k)에 대해서, 제1 기간은 제2 스위치(B#k)가 작동하여 k 번째 센싱 유니트(SU#k)가 이전 센싱 라인(SL#(k-1))에서 테스트 전류를 인가 받는 기간이고 제2 기간은 제1 스위치(A#k)가 작동하여 k 번째 센싱 유니트(SU#k)가 대응하는 센싱 라인(SL#k)에서 테스트 전류를 인가 받는 기간일 될 수 있다.
또는, 도 7에서, 제1 기간과 제2 기간은 각 센싱 라인을 기준으로 설정될 수 있는데, k 번째 센싱 라인(SL#k)에 대해서, 제1 기간은 제1 스위치(A#k)가 작동하여 k 번째 센싱 라인(SL#k)이 대응되는 k 번째 센싱 유니트(SU#k)에 테스트 전류를 인가하는 기간이고, 제2 기간은 제2 스위치(B#(k+1))가 작동하여 k 번째 센싱 라인(SL#k)이 대응되는 k 번째 센싱 유니트(SU#k)에 이웃하는 다음 센싱 유니트인 (k+1) 번째 센싱 유니트(SU#(k+1))에 테스트 전류를 인가하는 기간일 될 수 있다.
센싱 유니트는, 센싱 라인 또는 기준 전류원에 연결되어 테스트 전류 또는 기준 전류가 유입되면, 전류를 적분하여 샘플링 하고, ADC가 이를 캘리브레이션 데이터로 변환하여 타이밍 컨트롤러에 전송한다. 복수 개의 센싱 유니트가 하나의 ADC에 연결되기 때문에, 센싱 라인에 연결되어 테스트 전류를 입력 받은 센싱 유니트들이 순차적으로 ADC에 연결된다.
캘리브레이션 구동 때, 각 센싱 라인은 테스트 전류가 공급되는 통로 역할을 하는데, 각 센싱 라인에 대해서 소정 픽셀 라인에 배치되고 해당 센싱 라인을 공유하는 복수 개의 픽셀들 중에서 하나의 픽셀이 테스트 전류를 공급하는 전류원 역할을 할 수 있다. 또는, 표시 영역 밖의 비표시 영역에 각 센싱 라인에 연결되는 더미 픽셀을 마련하고 캘리브레이션 구동 때 테스트 전류를 공급하는 전류원으로 동작하게 할 수 있다. 또는, 도 8과 같이, 표시 패널의 비표시 영역(픽셀 라인 L#0)에 각 센싱 라인(또는 센싱 채널)마다 별도의 전류원을 마련하고, 캘리브레이션 구동 때만 동작하게 하고, 스위치들(C)을 통해 센싱 라인과의 연결을 제어할 수 있다.
도 9는 캘리브레이션 동작을 위해 테스트 전류가 유입되는 하나의 센싱 라인에 이웃하는 2개의 센싱 유니트가 접속되는 회로 구성을 도시한 것이다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 픽셀(P)은 OLED, 구동 TFT(DT), 스토리지 커패시터(Cst), 제1 스위치 TFT(ST1), 및 제2 스위치 TFT(ST2)를 구비할 수 있다.
OLED는 소스 노드(N2)에 접속된 애노드 전극, 저전위 구동 전압(EVSS)의 입력 단에 접속된 캐소드 전극, 애노드 전극과 캐소드 전극 사이에 위치하는 유기 화합물층을 포함한다. 구동 TFT(DT)는 게이트-소스 사이 전압(Vgs)에 따라 OLED에 입력되는 전류량을 제어한다. 구동 TFT(DT)는 게이트 노드(N1)에 접속된 게이트 전극, 고전위 구동 전압(EVDD)의 입력 단에 접속된 드레인 전극 및 소스 노드(Ns)에 접속된 소스 전극을 구비한다. 스토리지 커패시터(Cst)는 게이트 노드(N1)와 소스 노드(N2) 사이에 접속된다. 제1 스위치 TFT(ST1)는 게이트 펄스(SCAN)에 응답하여 데이터 라인(14A) 상의 데이터 전압(Vdata)을 게이트 노드(N1)에 인가한다. 제1 스위치 TFT(ST1)는 게이트 라인(15)에 접속된 게이트 전극, 데이터 라인(14A)에 접속된 드레인 전극 및 게이트 노드(N1)에 접속된 소스 전극을 구비한다. 제2 스위치 TFT(ST2)는 게이트 펄스(SCAN)에 응답하여 소스 노드(N2)와 센싱 라인(14B) 사이의 전류 흐름을 온/오프 한다. 제2 스위치 TFT(ST2)는 게이트 라인(15)에 접속된 게이트 전극, 센싱 라인(14B)에 접속된 드레인 전극 및 소스 노드(N2)에 접속된 소스 전극을 구비한다.
데이터 구동 회로(12)를 구성하는 소스 드라이브 IC는 센싱 라인(14B)을 통해 픽셀(P)에 연결된다. 소스 드라이브 IC는 센싱 구동 때 아날로그 센싱 전류(또는 아날로그 픽셀 전류)를 또는 캘리브레이션 구동 때 테스트 전류 또는 기준 전류를 적분하기 위한 전류 적분기(CI)와 적분된 전류 값을 샘플링 하고 유지하기 위한 샘플&홀드부(SH)를 포함하는 복수 개의 센싱 유니트, 및 샘플링 값을 디지털 센싱 데이터 또는 디지털 캘리브레이션 데이터로 변환하는 ADC를 포함하여 구성될 수 있다.
또한, 소스 드라이브 IC는, 센싱 유니트를 대응되는 센싱 라인에 연결하기 위한 제1 스위치(A)와 센싱 유니트를 대응되는 센싱 라인과 이웃하는 센싱 라인에 연결하기 위한 제2 스위치(B)를 더 포함할 수 있다. 도 9에서, k 번째 센싱 라인(SL#k)은, 제1 스위치(A#k)를 통해 k 번째 센싱 유니트(SU#k)에 연결되고, 또한 제2 스위치(B#(k+1))를 통해 (k+1) 번째 센싱 유니트(SU#(k+1))에 연결된다.
전류 적분기(CI)는 오피 앰프(AMP), 피드백 커패시터(Cfb) 및 리셋 스위치(RST)를 포함하여 구성되며, 센싱 라인(14B)을 거쳐 센싱 블록에 유입되는 픽셀 전류, 테스트 전류 또는 기준 전류를 축적하여 적분 값을 출력한다. 오피 앰프(AMP)는 픽셀 전류나 테스트 전류를 입력 받는 반전 입력 단자(-), 기준 전압(Vref)을 입력 받는 비반전 입력 단자(+), 적분 값을 출력하는 출력 단자를 포함한다. 피드백 커패시터(Cfb)는 앰프(AMP)의 반전 입력 단자(-)와 출력 단자 사이에 접속되어 전류를 축적한다. 리셋 스위치(RST)는 피드백 커패시터(Cfb)의 양단에 접속되고, 리셋 스위치(RST)가 턴-온 될 때 피드백 커패시터(Cfb)가 초기화된다.
샘플&홀드부(SH)는 샘플링 스위치(SAM), 홀딩 커패시터(Ch) 및 홀딩 스위치(HOLD)를 포함하는데, 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 되면 전류 적분기(CI)의 출력이 홀딩 커패시터(Ch)에 저장되고, 홀딩 스위치(HOLD)가 턴-온 되면 홀딩 커패시터(Ch)에 저장된 전압이 ADC에 인가된다.
ADC는 샘플&홀드부(SH)의 아날로그 출력을 디지털로 변환하여 디지털 센싱 데이터 또는 캘리브레이션 데이터를 출력한다.
도 10은 도 9의 회로 구성에 포함된 스위치의 동작을 제어하는 제어 신호의 타이밍을 도시한 것이고, 도 11은 도 10의 제1 센싱 기간에 이루어지는 스위칭 블록과 센싱 유닛의 동작을 도시한 것이고, 도 12는 도 10의 제2 센싱 기간에 이루어지는 스위칭 블록과 센싱 블록의 동작을 도시한 것이다.
도 10에서, 제1 기간(T1)은 k 번째 센싱 라인(SL#k)이 k 번째 센싱 유니트(SU#k)에 연결되는 기간이고, 제2 기간(T2)은 k 번째 센싱 라인(SL#k)이 (k+1) 번째 센싱 유니트(SU#(k+1))에 연결되는 기간이다. 이를 위해, 제1 기간(T1)에, k 번째 센싱 라인(SL#k)과 k 번째 센싱 유니트(SU#k)를 연결하는 제1 스위치(A#k)가 턴-온 되고, k 번째 센싱 유니트(SU#k)가 k 번째 센싱 라인(SL#k)을 통해 유입되는 테스트 전류를 처리하기 위해 리셋 스위치(RST)와 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 된다. 또한, 제2 기간(T2)에, k 번째 센싱 라인(SL#k)과 (k+1) 번째 센싱 유니트(SU#(k+1))를 연결하는 제2 스위치(B#(k+1))가 턴-온 되고, (k+1) 번째 센싱 유니트(SU#(k+1))가 k 번째 센싱 라인(SL#k)을 통해 유입되는 테스트 전류를 처리하기 위해 리셋 스위치(RST)와 샘플링 스위치(SAM)가 턴-온 된다.
제1 기간의 연결 상태를 도시한 도 11에서, 제1 스위치(A#k)가 턴-온 되어 k 번째 센싱 라인(SL#k)을 통해 k 번째 센싱 유니트(SU#k)에 유입되는 테스트 전류가 전류 적분기(CI)와 샘플링 스위치(SAM)를 거쳐 홀딩 커패시터(Ch)에 저장되고, ADC가 홀딩 스위치(HOLD)를 통해 인가되는 홀딩 커패시터(Ch)의 전압을 디지털로 변환하여 캘리브레이션 데이터를 생성하여 타이밍 컨트롤러(11)에 출력한다.
제2 기간의 연결 상태를 도시한 도 12에서, 제2 스위치(B#(k+1))가 턴-온 되어 k 번째 센싱 라인(SL#k)을 통해 (k+1) 번째 센싱 유니트(SU#(k+1))에 유입되는 테스트 전류가 전류 적분기(CI)와 샘플링 스위치(SAM)를 거쳐 홀딩 커패시터(Ch)에 저장되고, ADC가 홀딩 스위치(HOLD)를 통해 인가되는 홀딩 커패시터(Ch)의 전압을 디지털로 변환하여 캘리브레이션 데이터를 생성하여 타이밍 컨트롤러(11)에 출력한다.
제1 기간과 제2 기간에 출력되는 캘리브레이션 데이터는, 같은 센싱 라인의 전류원에서 출력되는 동일한 테스트 전류가 각각 k 번째 센싱 유니트(SU#k)와 (k+1) 번째 센싱 유니트(SU#(k+1))에서 처리된 값으로, 두 캘리브레이션 데이터의 차이가 두 센싱 유니트의 특성 차이에 대응된다.
타이밍 컨트롤러(11)는, 제1 기간과 제2 기간에 출력되는 캘리브레이션 데이터를 이용하여, k 번째 센싱 유니트(SU#k)와 (k+1) 번째 센싱 유니트(SU#(k+1)) 사이 차이를 보정할 수 있는 보상 값을 구할 수 있다.
타이밍 컨트롤러(11)는, 각 소스 드라이브 IC에 대해서, 이웃하는 두 센싱 유니트 조합 각각이 같은 테스트 전류를 받아 ADC를 거쳐 출력하는 캘리브레이션 데이터를 이용하여, 해당 소스 드라이브 IC에 포함된 센싱 유니트들 사이 특성 차이(픽셀 전류를 받아 센싱 데이터를 생성하는 특성 차이)를 보정할 보상 데이터를 생성할 수 있고, 소스 드라이브 IC 사이에도 비슷한 방법으로 특성 차이를 보정할 보상 데이터를 생성할 수 있다.
또한, 타이밍 컨트롤러(11)는, 하나의 센싱 유니트(예를 들어 첫 번째 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트)가 기준 전류원이 출력하는 정밀한 값의 기준 전류를 받아 ADC를 거쳐 출력하는 캘리브레이션 데이터와 소정의 센싱 라인을 통해 유입되는 테스트 전류를 받아 ADC를 거쳐 출력하는 캘리브레이션 데이터를 비교하여, 표시 장치마다 편차를 줄일 수 있다.
도 13은 도 9의 회로 구성에 포함된 스위치의 동작을 제어하는 제어 신호의 다른 실시예에 따른 타이밍을 도시한 것이다.
앞선 실시예에서는, 센싱 유니트를 대응되는 센싱 라인에 연결하는 제1 스위치(A)가 A#1 -> A#2 -> -> A#N 순서로 동작하고, 마찬가지로 센싱 유니트를 대응되는 센싱 라인과 이웃하고 이전 센싱 라인에 연결하는 제2 스위치(B)가 순차적으로 B#1 -> B#2 -> -> B#N 순서로 동작하는 것으로 설명하였다.
도 13의 타이밍에서는, 제1 기간(T1)에, 제1 스위치(A#1~A#N)가 동시에 턴-온 되어 모든 센싱 유니트를 대응되는 센싱 라인에 연결하고, 각 센싱 유니트에 포함되어 센싱 유니트를 ADC에 연결하는 홀딩 스위치(HOLD)를 순차적으로 동작시켜(HOLD#1 -> HOLD#2 -> -> HOLD#N)(여기서 HOLD#1, HOLD#2, HOLD#N은 각각 첫 번째, 두 번째, N 번째 센싱 유니트의 홀딩 스위치) 센싱 유니트들을 순차적으로 ADC에 연결하여, 테스트 전류에 따른 각 센싱 유니트의 캘리브레이션 데이터를 얻을 수 있다.
또한, 제2 기간(T2)에, 제2 스위치(B#1~B#N)가 동시에 턴-온 되어 모든 센싱 유니트를 대응되는 센싱 라인과 이웃하는 이전 센싱 라인 또는 기준 전류원에 연결하고, 홀딩 스위치(HOLD)를 순차적으로 동작시켜 센싱 유니트들을 순차적으로 ADC에 연결하여, 테스트 전류 또는 기준 전류에 따른 각 센싱 유니트의 캘리브레이션 데이터를 얻을 수 있다.
물론, 제1 기간(T2)에 제2 스위치(B#1~B#N)를 동시에 턴-온 시키고, 제2 기간(T2)에 제1 스위치(A#1~A#N)를 동시에 턴-온 시킬 수 있다.
본 발명은, 하나의 기준 전류원만을 사용하면서도, 하나의 기준 전류원을 사용하는 도 1의 종래 캘리브레이션 방법에 비해, 소스 드라이브 IC의 개수가 L일 때 L/2배만큼 캘리브레이션 구동에 걸리는 시간을 줄일 수 있다.
소스 드라이브 IC 개수만큼 복수 개의 기준 전류원을 사용하는 도 2의 종래 캘리브레이션 방법도, 기준 전류원들 사이 편차를 해소하기 위해서는 제1 전류원을 제2 소스 드라이브 IC에 연결하는 과정(마찬가지로 제2 전류원을 제3 소스 드라이브 IC에 연결) 및 각 전류원을 각 센싱 유니트에 연결하는 과정이 필요하므로, 본 발명은 캘리브레이션 구동에 걸리는 시간을 더 줄이고, 기준 전류원을 하나만 사용하므로 적은 리소스를 사용하여 센싱 채널 사이 편차를 줄일 수 있게 된다.
이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
10: 표시 패널 11: 타이밍 컨트롤러
12: 데이터 구동 회로 13: 게이트 구동 회로
14A: 데이터 라인 14B: 센싱 라인
15: 게이트 라인 16: 메모리

Claims (12)

  1. 복수 개의 데이터 라인 중 하나와 복수 개의 센싱 라인 중 하나에 연결되는 픽셀 복수 개를 구비하는 표시 패널;
    기준 전류를 제공하는 기준 전류원; 및
    상기 데이터 라인을 통해 상기 픽셀에 데이터 전압을 공급하고, 상기 센싱 라인을 통해 상기 픽셀로부터 유입되는 신호를 샘플링 하는 센싱 유니트 복수 개와 상기 복수 개의 센싱 유니트와 연결되는 아날로그-디지털 변환기를 포함하여 상기 픽셀의 구동과 관련된 센싱 데이터를 얻는 소스 드라이브 IC를 포함하여 구성되고,
    상기 소스 드라이브 IC는 상기 복수 개의 센싱 라인과 상기 복수 개의 센싱 유니트를 연결하는 스위치 어레이를 포함하고,
    상기 스위치 어레이는, 각 센싱 유니트에 대해, 해당 센싱 유니트를 해당 센싱 유니트에 대응되는 제1 센싱 라인에 연결하는 제1 스위치 및 해당 센싱 유니트를 상기 제1 센싱 라인에 이웃하는 이전의 제2 센싱 라인에 연결하거나 해당 센싱 유니트를 상기 기준 전류원에 연결하는 제2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    각 센싱 유니트는, 상기 제1 스위치를 통해 상기 제1 센싱 라인에 연결되어 제1 테스트 전류를 공급 받은 후, 상기 제2 스위치를 통해 상기 제2 센싱 라인에 연결되어 제2 테스트 전류를 공급 받거나 또는 상기 기준 전류원에 연결되어 상기 기준 전류를 공급 받거나, 또는
    각 센싱 유니트는, 상기 제2 스위치를 통해 상기 제2 센싱 라인에 연결되어 제2 테스트 전류를 공급 받거나 또는 상기 기준 전류원에 연결되어 상기 기준 전류를 공급 받는 후, 상기 제1 스위치를 통해 상기 제1 센싱 라인에 연결되어 제1 테스트 전류를 공급 받는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    첫 번째 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트는 상기 제2 스위치를 통해 상기 기준 전류원에 연결되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제2 항에 있어서,
    첫 번째 소스 드라이브 IC를 제외한 각 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트는, 상기 제2 스위치를 통해 해당 소스 드라이브 IC와 이웃하는 이전 소스 드라이브 IC의 마지막 센싱 유니트에 대응되는 센싱 라인에 연결되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제2 항에 있어서,
    상기 소스 드라이브 IC는, 각 센싱 유니트에 대해서, 제1 기간에 상기 제1 테스트 전류에 따른 제1 캘리브레이션 데이터를 얻고, 제2 기간에 상기 제2 테스트 전류 또는 상기 기준 전류에 따른 제2 캘리브레이션 데이터를 얻거나, 또는
    상기 소스 드라이브 IC는, 각 센싱 유니트에 대해서, 제1 기간에 상기 제2 테스트 전류 또는 상기 기준 전류에 따른 제1 캘리브레이션 데이터를 얻고, 제2 기간에 상기 제1 테스트 전류에 따른 제2 캘리브레이션 데이터를 얻는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 소스 드라이브 IC가 출력하는 센싱 데이터와 캘리브레이션 데이터를 처리하는 타이밍 컨트롤러를 더 포함하고,
    상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 제1 기간에 제1 센싱 유니트가 얻은 제1 캘리브레이션 데이터와 상기 제2 기간에 상기 제1 센싱 유니트에 이웃하는 센싱 유니트가 얻은 제2 캘리브레이션 데이터를 비교하여 상기 제1 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터와 제2 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터의 편차를 보정할 수 있는 보상 값을 계산하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 테스트 전류는, 상기 제1 센싱 라인에 연결되고 소정 픽셀 라인에 배치된 픽셀에서 제공되거나, 또는 비표시 영역에 배치되어 상기 제1 센싱 라인에 연결된 전류 소스 또는 더미 픽셀에서 제공되고,
    상기 제2 테스트 전류는, 상기 제2 센싱 라인에 연결되고 소정 픽셀 라인에 배치된 픽셀에서 제공되거나, 또는 비표시 영역에 배치되어 상기 제2 센싱 라인에 연결된 전류 소스 또는 더미 픽셀에서 제공되는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 표시 패널에 구비된 픽셀에 연결되는 센싱 라인을 통해 유입되는 신호를 샘플링 하는 센싱 유니트 복수 개와 상기 복수 개의 센싱 유니트와 연결되는 아날로그-디지털 변환기(ADC)를 포함하여 상기 픽셀의 구동과 관련된 센싱 데이터를 얻는 표시 장치의 캘리브레이션 방법에 있어서,
    제1 기간에, 제1 센싱 유니트가 상기 제1 센싱 유니트에 대응되는 제1 센싱 라인에 연결되어 유입되는 제1 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하고 샘플링 된 값을 상기 ADC가 제1 캘리브레이션 데이터로 변환하고, 상기 제1 센싱 유니트와 이웃하고 다음에 배치되는 제2 센싱 유니트가 상기 제2 센싱 유니트에 대응되는 제2 센싱 라인에 연결되어 유입되는 제2 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하고 샘플링 된 값을 상기 ADC가 제2 캘리브레이션 데이터로 변환하는 단계; 및
    제2 기간에, 상기 제1 센싱 유니트가 상기 제1 센싱 라인에 이웃하고 이전에 배치되는 제3 센싱 라인에 연결되어 유입되는 제3 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하거나 또는 기준 전류원에 연결되어 유입되는 기준 전류를 적분하여 샘플링 하고 샘플링 된 값을 상기 ADC가 제3 캘리브레이션 데이터로 변환하고, 상기 제2 센싱 유니트가 상기 제1 센싱 라인에 연결되어 유입되는 상기 제1 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하고 샘플링 된 값을 상기 ADC가 제4 캘리브레이션 데이터로 변환하는 단계를 포함하여 이루어지는 표시 장치의 캘리브레이션 방법.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 표시 장치가 상기 센싱 유니트 복수 개와 상기 ADC를 포함하는 소스 드라이브 IC를 복수 개 포함할 때, 상기 제2 기간에, 첫 번째 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트가 상기 기준 전류원에 연결되어 상기 기준 전류를 입력 받고, 상기 첫 번째 소스 드라이브 IC를 제외한 각 소스 드라이브 IC의 첫 번째 센싱 유니트가 해당 소스 드라이브 IC와 이웃하는 이전 소스 드라이브 IC의 마지막 센싱 유니트에 대응되는 센싱 라인에 연결되어 테스트 전류를 입력 받는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 캘리브레이션 방법.
  10. 제8 항에 있어서,
    상기 제1 기간에 상기 제1 센싱 유니트를 통해 얻은 제1 캘리브레이션 데이터와 상기 제2 기간에 상기 제2 센싱 유니트를 통해 얻은 제4 캘리브레이션 데이터를 비교하여 상기 제1 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터와 상기 제2 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터의 편차를 보정할 수 있는 보상 값을 추출하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 캘리브레이션 방법.
  11. 표시 패널에 구비된 픽셀에 연결되는 센싱 라인을 통해 유입되는 신호를 샘플링 하는 센싱 유니트 복수 개와 상기 복수 개의 센싱 유니트와 연결되는 아날로그-디지털 변환기(ADC)를 포함하여 상기 픽셀의 구동과 관련된 센싱 데이터를 얻는 표시 장치의 캘리브레이션 방법에 있어서,
    센싱 유니트들을 동시에 해당 센싱 유니트에 대응되는 센싱 라인에 연결하여 상기 연결된 센싱 라인에서 유입되는 테스트 전류를 적분하여 샘플링 하고, 상기 센싱 유니트들을 순차적으로 상기 ADC에 연결하여 각 센싱 유니트들에 대한 제1 캘리브레이션 데이터를 얻는 단계;
    상기 센싱 유니트들을 해당 센싱 유니트에 대응되는 센싱 라인에 이웃하는 센싱 라인 또는 기준 전류원에 연결하여 상기 연결된 센싱 라인 또는 기준 전류원에서 유입되는 테스트 전류 또는 기준 전류를 적분하여 샘플링 하고, 상기 센싱 유니트들을 순차적으로 상기 ADC에 연결하여 각 센싱 유니트들에 대한 제2 캘리브레이션 데이터를 얻는 단계를 포함하여 이루어지는 표시 장치의 캘리브레이션 방법.
  12. 제11 항에 있어서,
    제1 센싱 유니트 및 상기 제1 센싱 유니트에 이웃하는 제2 센싱 유니트가 각각 같은 센싱 라인에서 유입되는 테스트 전류로부터 얻은 제1 캘리브레이션 데이터와 제2 캘리브레이션 데이터를 비교하여, 상기 제1 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터와 상기 제2 센싱 유니트를 통해 얻는 센싱 데이터의 편차를 보정할 수 있는 보상 값을 추출하는 단계를 더 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 캘리브레이션 방법.
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