KR20180068639A - 디스플레이 장치 및 심 조정 방법 - Google Patents
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Abstract
디스플레이 장치가 개시된다. 본 디스플레이 장치는 복수의 디스플레이 모듈을 포함하는 디스플레이 및 제1 인접 픽셀들에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제1 전압을 측정하고, 제2 인접 픽셀에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제2 전압을 측정하고, 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인 경우, 제1 전압 및 제2 전압의 크기에 기초하여 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 조정하는 프로세서를 포함하며, 제1 인접 픽셀들은 제2 인접 픽셀들과 다른 디스플레이 모듈에 포함된다.
Description
본 발명은 디스플레이 장치 및 그 심 조정 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 디스플레이 장치 및 그 제어 방법에 관한 것이다.
발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)는 전류를 빛으로 변환시키는 반도체 발광소자이다. 최근 발광 다이오드는 휘도가 점차 증가하게 되어 디스플레이용 광원, 자동차용 광원 및 조명용 광원으로 사용이 증가하고 있으며, 형광 물질을 이용하거나 다양한 색의 발광 다이오드를 조합함으로써 효율이 우수한 백색 광을 발광하는 발광 다이오드도 구현이 가능하다.
이러한 발광 다이오드는 발광소자 패키지의 형태로 대량 생산이 가능하다. 대량 생산된 발광소자 패키지는 성능 및 특성을 검사하여 양품만 취합되며, 각 발광소자 패키지의 광도 등의 특성에 따라 분류하여 광원으로 사용된다.
하지만, 다수의 LED 모듈(또는 캐비넷)을 이용하여 디스플레이 패널을 구성하는 경우, LED 모듈의 조립 공차로 인한 암선(또는, 휘선)이 발생하게 된다는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 필요성에 따른 것으로, 본 발명의 목적은 서로 다른 디스플레이 모듈에서 포함되어 서로 인접한 두 개의 열 중 하나의 열에 배치된 픽셀들을 기준으로, 해당 픽셀들과 인접한 픽셀들에서 방출되는 빛의 세기에 따라 기준이 되는 픽셀들에 대한 게인을 자동으로 조정하여 심을 제거할 수 있는 디스플레이 장치 및 그의 심 조정 방법을 제공함에 있다.
이상과 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치는 복수의 디스플레이 모듈을 포함하는 디스플레이 및 제1 인접 픽셀들에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제1 전압을 측정하고, 제2 인접 픽셀에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제2 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인 경우, 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압의 크기에 기초하여 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 조정하는 프로세서를 포함하며, 상기 제1 인접 픽셀들은, 상기 제2 인접 픽셀들과 다른 디스플레이 모듈에 포함된다.
여기에서, 상기 프로세서는 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 수광 모드로 동작하도록 제어할 수 있다.
또한, 상기 프로세서는 상기 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 상기 제1 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 제1 전압을 측정할 수 있다.
그리고, 상기 프로세서는 상기 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 상기 제2 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 제2 전압을 측정할 수 있다.
또한, 상기 프로세서는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우, 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계 값만큼 증가시킬 수 있다.
그리고, 상기 프로세서는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압 이하인 경우, 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계 값만큼 감소시킬 수 있다.
또한, 상기 프로세서는 상기 게인을 조정한 이후, 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인지 여부를 판단하여 상기 게인을 재차 조정할 수 있다.
그리고, 상기 제1 및 제2 전압은 상기 기준 픽셀들에 포함된 복수의 픽셀 각각에 대해 측정된 전압의 평균값일 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시 예에 따른 복수의 디스플레이 모듈을 포함하는 디스플레이를 포함하는 디스플레이 장치의 심 보정 방법은 제1 인접 픽셀들에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제1 전압을 측정하는 단계, 제2 인접 픽셀에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제2 전압을 측정하는 단계 및 상기 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인 경우, 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압의 크기에 기초하여 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 조정하는 단계를 포함하며, 상기 제1 인접 픽셀들은, 상기 제2 인접 픽셀들과 다른 디스플레이 모듈에 포함된다.
여기에서, 일 실시 예에 따른 심 보정 방법은 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 수광 모드로 동작하도록 제어하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 제1 전압을 측정하는 단계는 상기 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 상기 제1 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 제1 전압을 측정할 수 있다.
그리고, 상기 제2 전압을 측정하는 단계는 상기 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 상기 제2 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 제2 전압을 측정할 수 있다.
또한, 상기 조정하는 단계는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우, 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계값만큼 증가시킬 수 있다.
그리고, 상기 조정하는 단계는 상기 제1 전압이 상기 제2 전압 이하인 경우, 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계값만큼 감소시킬 수 있다.
또한, 일 실시 예에 따른 심 보정 방법은 상기 게인을 조정한 이후, 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인지 여부를 판단하여 상기 게인을 재차 조정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
그리고, 상기 제1 및 제2 전압은 상기 기준 픽셀들에 포함된 복수의 픽셀 각각에 대해 측정된 전압의 평균값일 수 있다.
이상과 같은 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면 인접 픽셀들에서 방출되는 빛의 세기에 따라 기준이 되는 픽셀들에 대한 게인을 자동으로 조정하여 심을 제거한다는 점에서, 사용자가 눈으로 확인하며 심 영역을 제거할 때보다 시간이 단축될 수 있고 손쉽게 제거 가능하게 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 개략적으로 설명하기 위한 도면,
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 설명하기 위한 블록도,
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기준 픽셀들 및 인접 픽셀들을 설명하기 위한 도면,
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따라 기준 픽셀들에 대한 전압을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면,
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 세부구성을 설명하기 위한 블록도,
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 심 제거 방법을 설명하기 위한 도면들, 그리고
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 설명하기 위한 블록도,
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 기준 픽셀들 및 인접 픽셀들을 설명하기 위한 도면,
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따라 기준 픽셀들에 대한 전압을 측정하는 방법을 설명하기 위한 도면,
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 세부구성을 설명하기 위한 블록도,
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 심 제거 방법을 설명하기 위한 도면들, 그리고
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세하게 설명한다.
본 개시에서 사용되는 용어는 본 개시에서의 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어들을 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 판례, 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 발명의 설명 부분에서 상세히 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 개시에서 사용되는 용어는 단순한 용어의 명칭이 아닌, 그 용어가 가지는 의미와 본 개시의 전반에 걸친 내용을 토대로 정의되어야 한다.
명세서 전체에서 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있음을 의미한다. 또한, 명세서에 기재된 "...부", "모듈" 등의 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어 또는 소프트웨어로 구현되거나 하드웨어와 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고하여 본 개시의 실시예에 대하여 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 개시는 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 개시를 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 개략적으로 설명하기 위한 도면이다.
도 1에 도시된 바에 따르면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치(100)는 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n)을 물리적으로 연결한 형태로 구현될 수 있다. 여기서, 복수의 디스플레이 모듈 각각은 매트릭스 형태로 배열되는 다수의 픽셀, 예를 들어 자발광 픽셀들을 포함할 수 있다. 특히, 디스플레이 모듈은 다수의 픽셀 각각이 LED 픽셀로 구현되는 LED 모듈 또는 복수의 LED 모듈들이 연결된 LED 캐비넷(cabinet)으로 구현될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다. 이 경우, 각 픽셀은 서브 픽셀들인 RED LED, GREEN LED 및 BLUE LED를 포함할 수 있다.
예를 들어, 디스플레이 모듈은 LCD(liquid crystal display), OLED(organic LED), AMOLED(active-matrix OLED), PDP(Plasma Display Panel) 등으로 구현될 수도 있다. 다만, 이하에서는 설명의 편의를 위하여 디스플레이 모듈 각각이 LED 모듈 또는 LED 캐비넷으로 구현되는 경우를 상정하여 설명하도록 한다.
이와 같은 단위 디스플레이 모듈을 이용하여 디스플레이(110)를 구성하는 경우, 다양한 사이즈 및/또는 형상의 디스플레이(110)를 구현할 수 있으나, 디스플레이 모듈의 조립 공차로 인한 심(seam)이 발생하게 된다.
여기서, 심은 디스플레이 모듈 간의 경계에 배치되는 픽셀들 간의 거리가 상대적으로 멀어져서 발생되는 블랙 심(black seam)과 디스플레이 모듈 간의 경계에 배치되는 픽셀들 간의 거리가 상대적으로 가까워 발생되는 화이트 심(white seam)의 형태가 될 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 픽셀의 휘도를 조정하여 심을 제거하는데, 이하에서는 본 발명의 다양한 실시 예들에 대해 설명하도록 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 구성을 설명하기 위한 블록도이다.
도 2를 참조하면, 디스플레이 장치(100)는 디스플레이(110) 및 프로세서(120)를 포함한다.
디스플레이(110)는 복수의 디스플레이 모듈을 포함한다.
즉, 상술한 바와 같이, 디스플레이(110)는 복수의 디스플레이 모듈을 연결하여 조립한 형태로 구성될 수 있다. 여기서, 복수의 디스플레이 모듈 각각은 매트릭스 형태로 배열되는 다수의 픽셀, 예를 들어 자발광 픽셀들을 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따라, 디스플레이(110)는 복수의 LED 모듈(적어도 하나의 LED 소자를 포함하는 LED 모듈) 및/또는, 복수의 LED 캐비넷(cabinet)으로 구현될 수 있다. 또한 LED 모듈은 복수 개의 LED 픽셀들을 포함할 수 있는데, 일 예에 따라 LED 픽셀은 RGB LED로 구현될 수 있으며, RGB LED는 RED LED, GREEN LED 및 BLUE LED를 함께 포함할 수 있다.
프로세서(120)는 디스플레이 장치(100)의 전반적인 동작을 제어한다. 여기서, 프로세서(120)는 중앙처리장치(central processing unit(CPU)), controller, 어플리케이션 프로세서(application processor(AP)), 또는 커뮤니케이션 프로세서(communication processor(CP)), ARM 프로세서 중 하나 또는 그 이상을 포함할 수 있다.
또한, 프로세서(120)는 영상에 대응되는 그래픽 처리를 위한 그래픽 프로세서(Graphic Processing Unit, 미도시)를 포함할 수 있다. 프로세서(120)는 코어(core, 미도시)와 GPU(미도시)를 포함하는 SoC(System On Chip)로 구현될 수 있다. 프로세서(120)는 싱글 코어, 듀얼 코어, 트리플 코어, 쿼드 코어 및 그 배수의 코어를 포함할 수 있다.
특히, 프로세서(120)는 심을 제거하기 위해, 픽셀들의 휘도를 조정할 수 있다.
구체적으로, 프로세서(120)는 기준 픽셀들의 일 측에 배치된 제1 인접 픽셀들 또는 기준 픽셀들의 타 측에 배치된 제2 인접 픽셀들에 대한 휘도를 조정하여, 심을 제거할 수 있다.
여기에서, 기준 픽셀들은 서로 인접하여 배치된 두 라인의 픽셀들 중 하나의 라인에 배치된 픽셀들을 포함할 수 있다. 이 경우, 두 라인의 픽셀들 중 하나의 라인에 배치된 픽셀들과 다른 하나의 라인에 배치된 픽셀들은 서로 다른 디스플레이 모듈에 포함될 수 있다.
구체적으로, 디스플레이(110)는 복수의 디스플레이 모듈을 연결한 형태로 구현된다. 따라서, 디스플레이 모듈은 적어도 하나의 다른 디스플레이 모듈과 인접하게 배치된다. 예를 들어, 도 3과 같이, 디스플레이 모듈(110-1)은 디스플레이 모듈(110-2, 110-3)과 인접하게 배치된다.
한편, 각 디스플레이 모듈에서 픽셀들은 매트릭스 형태로 배치된다. 따라서, 디스플레이 모듈에서 매트릭스 형태로 배치된 픽셀들 중에서 외곽의 가로 라인 또는 세로 라인에 배치된 픽셀들은 해당 디스플레이 모듈과 인접한 다른 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들과 인접하게 된다. 즉, 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중에서 외곽의 가로 라인 또는 세로 라인에 배치된 픽셀들은 다른 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중에서 외곽의 가로 라인 또는 세로 라인에 배치된 픽셀들과 인접하게 된다.
이 경우, 각각 서로 다른 디스플레이 모듈에 포함되며 서로 인접한 두 라인의 중 하나의 라인에 배치된 픽셀들이 기준 픽셀들에 해당할 수 있다.
예를 들어, 도 3의 경우, 디스플레이 모듈(110-1)에서 우측 외곽의 세로 라인에 배치된 픽셀들(10)은 디스플레이 모듈(110-2)에서 좌측 외곽의 세로 라인에 배치된 픽셀들(30)과 인접하고, 디스플레이 모듈(110-1)에서 하측 외곽의 가로 라인에 배치된 픽셀들(20)은 디스플레이 모듈(110-3)에서 상측 외곽의 가로 라인에 배치된 픽셀들(40)과 인접하게 된다.
이 경우, 픽셀들(10)과 픽셀들(30) 중 하나의 라인의 픽셀들 즉, 픽셀들(10) 또는 픽셀들(30)이 기준 픽셀들에 해당하고, 픽셀들(20)과 픽셀들(40) 중 하나의 라인의 픽셀들 즉, 픽셀들(20) 또는 픽셀들(40)이 기준 픽셀들에 해당할 수 있다.
이때, 기준 픽셀들을 기준으로, 기준 픽셀들과 인접한 라인에 존재하는 픽셀들을 인접 픽셀들이라 할 수 있다. 즉, 기준 픽셀들의 일 측에 배치된 픽셀들을 제1 인접 픽셀들이라 하고, 기준 픽셀들의 타 측에 배치된 픽셀들을 제2 인접 픽셀들이라 할 수 있다.
예를 들어, 도 3에서, 픽셀들(10)이 기준 픽셀들이라 할 때, 픽셀들(10)의 좌측에 인접한 라인에 배치된 픽셀들(50)과 우측에 인접한 라인에 배치된 픽셀들(20)은 인접 픽셀들에 해당한다. 또한, 도 3에서, 픽셀들(20)을 기준 픽셀들이라 할 때, 픽셀들(20)의 상측에 인접한 라인에 배치된 픽셀들(60)과 하측에 인접한 라인에 배치된 픽셀들(40)은 인접 픽셀들에 해당한다.
이 경우, 심을 제거하기 위해, 기준 픽셀들에 대한 게인을 조정하는 방법은 다음과 같다.
먼저, 프로세서(120)는 제1 인접 픽셀들에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제1 전압을 측정하고, 제2 인접 픽셀에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제2 전압을 측정한다.
이때, 제1 인접 픽셀들은 제2 인접 픽셀들과 다른 디스플레이 모듈에 포함될 수 있다.
구체적으로, 기준 픽셀과 인접한 제1 인접 픽셀들은 기준 픽셀들과 같은 디스플레이 모듈에 포함되고, 기준 픽셀들과 인접한 제2 인접 픽셀들은 기준 픽셀들과 다른 디스플레이 모듈에 포함될 수 있다.
예를 들어, 도 3에서, 픽셀들(10)을 기준 픽셀들이라 할 때, 제1 인접 픽셀들은 픽셀들(50)이고, 제2 인접 픽셀들은 픽셀들(20)이 될 수 있다. 또한, 도 3에서, 픽셀들(20)을 기준 픽셀들이라 할 때, 제1 인접 픽셀들은 픽셀들(60)이고, 제2 인접 픽셀들은 픽셀들(40)이 될 수 있다.
한편, 수광 모드는 픽셀에 역방향 전압(즉, 역방향 바이어스)이 인가된 상태를 의미한다. 따라서, 프로세서(120)는 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 기준 픽셀들이 수광 모드로 동작하도록 제어할 수 있다.
한편, 픽셀이 수광 모드로 동작하는 상태에서 해당 픽셀에 빛이 가해지면, 픽셀에는 역방향 전류가 흐르게 된다. 이때, 픽셀에 가해지는 빛의 세기가 클수록 더 많은 양의 역방향 전류가 흐르게 된다.
구체적으로, 각 픽셀은 LED 소자로 구현되므로, 픽셀에 역방향 전압이 걸린 상태에서 빛이 가해지게 되면, LED 소자의 수광 특성에 따라 LED 소자에는 역방향 전류가 흐르게 된다. 이때, LED 소자에 가해지는 빛의 세기가 클수록 역방향으로 흐르는 전류의 세기는 더 커지게 된다.
한편, 프로세서(120)는 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 제1 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 제1 전압을 측정할 수 있다. 또한, 프로세서(120)는 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 제2 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 제2 전압을 측정할 수 있다.
즉, 프로세서(120)는 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중에서 인접 픽셀들만을 각각 구동하여, 각 인접 픽셀들에서 방출된 빛만이 기준 픽셀들에 가해지도록 할 수 있다.
이때, 프로세서(120)는 제1 인접 픽셀들 및 제2 인접 픽셀들에 동일한 게인을 적용하여, 제1 인접 픽셀들 및 제2 인접 픽셀들을 구동할 수 있다.
즉, 프로세서(120)는 제1 인접 픽셀들 및 제2 인접 픽셀들 각각에 포함된 RED LED, GREEN LED 및 BLUE LED에 입력되는 전류(또는, 전압)에 대한 게인 값을 동일하게 하여, 제1 인접 픽셀들 및 제2 인접 픽셀들 각각이 동일한 휘도 레벨의 빛을 방출하도록 제어할 수 있다.
예를 들어, 도 3에서 픽셀들(10)이 기준 픽셀들이고, 픽셀들(50)이 제1 인접 픽셀들이고, 픽셀들(20)이 제2 인접 픽셀인 경우를 가정한다.
이 경우, 프로세서(120)는 픽셀들(10)에 역방향 전압을 인가한 상태에서, 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n)에 포함된 픽셀들 중에서 픽셀들(50)에만 순방향 구동 전압을 인가하게 된다. 이때, 픽셀들(50)에서 방출되는 빛에 의해 픽셀들(10)에는 역방향 전류가 흐르게 되고, 프로세서(120)는 픽셀들(10)에 흐르는 역방향 전류에 의해 픽셀들(10)에 연결된 저항에 걸리는 제1 전압을 측정할 수 있다.
또한, 프로세서(120)는 픽셀들(10)에 역방향 전압을 인가한 상태에서, 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n)에 포함된 픽셀들 중에서 픽셀들(20)에만 순방향 구동 전압을 인가하게 된다. 이때, 픽셀들(20)에서 방출되는 빛에 의해 픽셀들(10)에는 역방향 전류가 흐르게 되고, 프로세서(120)는 픽셀들(10)에 흐르는 역방향 전류에 의해 픽셀들(10)에 연결된 저항에 걸리는 제1 전압을 측정할 수 있다.
다른 예로, 도 3에서 픽셀들(20)이 기준 픽셀들이고, 픽셀들(60)이 제1 인접 픽셀들이고, 픽셀들(40)이 제2 인접 픽셀인 경우를 가정한다.
이 경우, 프로세서(120)는 픽셀들(20)에 역방향 전압을 인가한 상태에서, 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n)에 포함된 픽셀들 중에서 픽셀들(60)에만 순방향 구동 전압을 인가하게 된다. 이때, 픽셀들(60)에서 방출되는 빛에 의해 픽셀들(20)에는 역방향 전류가 흐르게 되고, 프로세서(120)는 픽셀들(20)에 흐르는 역방향 전류에 의해 픽셀들(20)에 연결된 저항에 걸리는 제1 전압을 측정할 수 있다.
또한, 프로세서(120)는 픽셀들(20)에 역방향 전압을 인가한 상태에서, 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n)에 포함된 픽셀들 중에서 픽셀들(40)에만 순방향 구동 전압을 인가하게 된다. 이때, 픽셀들(40)에서 방출되는 빛에 의해 픽셀들(20)에는 역방향 전류가 흐르게 되고, 프로세서(120)는 픽셀들(20)에 흐르는 역방향 전류에 의해 픽셀들(20)에 연결된 저항에 걸리는 제1 전압을 측정할 수 있다.
한편, 제1 및 제2 전압은 기준 픽셀들에 포함된 복수의 픽셀 각각에 대해 측정된 전압의 평균값일 수 있다.
즉, 기준 픽셀들은 복수의 픽셀을 포함하므로, 프로세서(120)는 각 픽셀에 흐르는 역방향 전류에 의해 각 픽셀에 연결된 저항에 걸리는 전압을 각각 측정하고, 측정된 전압의 평균값을 산출할 수 있다.
예를 들어, 도 4와 같이, 인접 픽셀들(410)이 픽셀들(410-1, 410-2, 410-3,..., 410-n)을 포함하고, 기준 픽셀들(420)이 픽셀들(420-1, 420-2, 420-3,..., 420-n)을 포함하는 경우를 가정한다.
이 경우, 프로세서(120)는 순방향 구동용 전원 Va을 인접 픽셀들(410)에 인가하여, 인접 픽셀들(410)을 구동할 수 있다.
이때, 프로세서(120)는 역방향용 전원 Vb를 각 픽셀(420-1, 420-2, 420-3,..., 420-n)에 인가하여, 각 픽셀에 흐르는 역방향 전류에 의해 각 픽셀에 연결된 저항 R에 인가되는 전압을 측정할 수 있다.
즉, 프로세서(120)는 픽셀(420-1)에 역방향으로 흐르는 전류 i1에 의해 저항 R에 인가되는 전압 v1을 측정하고, 픽셀(420-2)에 역방향으로 흐르는 전류 i2에 의해 저항 R에 인가되는 전압 v2을 측정하고, 픽셀(420-3)에 역방향으로 흐르는 전류 i3에 의해 저항 R에 인가되는 전압 v3을 측정하고,..., 픽셀(420-n)에 역방향으로 흐르는 전류 in에 의해 저항 R에 인가되는 전압 vn을 측정할 수 있다.
그리고, 프로세서(120)는 측정된 각 전압 v1, v2, v3,..., vn에 대한 평균값(=(v1+v2+v3+...+vn)/n)을 산출하여, 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 전압을 측정할 수 있다.
이때, 프로세서(120)는 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값보다 작은 경우, 별도의 게인 조정을 수행하지 않는다.
즉, 제1 전압과 제2 전압의 차이가 기설정된 임계값보다 작다는 것은 제1 인접 픽셀들에 의해 기준 픽셀들에 가해지는 빛의 세기가 제2 인접 픽셀들에 의해 기준 픽셀들에 가해지는 빛의 세기가 심 영역을 발생시킬 정도의 차이가 없다는 것을 의미한다.
따라서, 프로세서(120)는 제1 전압과 제2 전압 간의 차이가 기설정된 임계값보다 작은 경우, 게인 조정을 수행하지 않는다.
다만, 프로세서(120)는 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인 경우, 제1 전압 및 제2 전압의 크기에 기초하여 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 조정할 수 있다.
구체적으로, 프로세서(120)는 제1 전압이 제2 전압보다 큰 경우, 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계값만큼 증가시킬 수 있다.
즉, 제1 전압이 제2 전압보다 크다는 것은 제1 인접 픽셀들만을 구동하였을 때 기준 픽셀들에 흐르는 역방향 전류가 제2 인접 픽셀들만을 구동하였을 때 기준 픽셀들에 흐르는 역방향 전류보다 크다는 것을 의미하고, 제1 인접 픽셀들만을 구동하였을 때 기준 픽셀들에 가해지는 빛의 세기가 제2 인접 픽셀들만을 구동하였을 때 기준 픽셀들에 가해지는 빛의 세기보다 크다는 것을 의미한다.
이는 결국, 제2 인접 픽셀들과 기준 픽셀들 사이의 거리가 제1 인접 픽셀들과 기준 픽셀들 사이의 거리보다 상대적으로 멀다는 것을 의미할 수 있다. 여기에서, 기준 픽셀들과 제2 인접 픽셀들은 서로 다른 디스플레이 모듈에 포함된다는 점에서, 제2 인접 픽셀과 기준 픽셀들 사이의 거리가 제1 인접 픽셀들과 기준 픽셀들 사이의 거리보다 상대적으로 멀어지게 된 것은 디스플레이 모듈의 생산 또는 조립에 따라 발생된 것으로 볼 수 있고, 따라서, 기준 픽셀들과 제2 인접 픽셀들 사이의 영역이 블랙 심 영역이 될 수 있다.
한편, 블랙 심 영역을 제거하기 위해서는, 블랙 심 영역 주변의 픽셀들의 휘도를 높여줘야 한다.
따라서, 프로세서(120)는 제2 인접 픽셀들에 인가되는 전류의 게인을 기설정된 임계값만큼 증가시킬 수 있다.
또한, 프로세서(120)는 제1 전압이 제2 전압 이하인 경우, 제2 인접 픽셀에 대한 게인을 기설정된 임계값만큼 감소시킬 수 있다.
즉, 제1 전압이 제2 전압 이하라는 것은 제2 인접 픽셀들만을 구동하였을 때 기준 픽셀들에 흐르는 역방향 전류가 제1 인접 픽셀들만을 구동하였을 때 기준 픽셀들에 흐르는 역방향 전류보다 크다는 것을 의미하고, 제2 인접 픽셀들만을 구동하였을 때 기준 픽셀들에 가해지는 빛의 세기가 제1 인접 픽셀들만을 구동하였을 때 기준 픽셀들에 가해지는 빛의 세기보다 크다는 것을 의미한다.
이는 결국, 제2 인접 픽셀들과 기준 픽셀들 사이의 거리가 제1 인접 픽셀들과 기준 픽셀들 사이의 거리보다 상대적으로 가깝다는 것을 의미할 수 있다. 여기에서, 기준 픽셀들과 제2 인접 픽셀들은 서로 다른 디스플레이 모듈에 포함된다는 점에서, 제2 인접 픽셀과 기준 픽셀들 사이의 거리가 제1 인접 픽셀들과 기준 픽셀들 사이의 거리보다 상대적으로 가깝게 된 것은 디스플레이 모듈의 생산 또는 조립에 따라 발생된 것으로 볼 수 있고, 따라서, 기준 픽셀들과 제2 인접 픽셀들 사이의 영역이 화이트 심 영역이 될 수 있다.
한편, 화이트 심 영역을 제거하기 위해서는, 화이트 심 영역 주변의 픽셀들의 휘도를 낮춰줘야 한다.
따라서, 프로세서(120)는 제2 인접 픽셀들에 인가되는 전류의 게인을 기설정된 임계값만큼 감소시킬 수 있다.
한편, 프로세서(120)는 게인을 조정한 이후, 제1 전압 및 제2 전압을 측정하고 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인지 여부를 판단하여 게인을 재차 조정할 수 있다.
즉, 프로세서(120)는 제1 인접 픽셀들에는 기존과 동일한 게인의 전류를 인가하여 제1 인접 픽셀들을 구동하고, 역방향 전압이 인가된 기준 픽셀들에 흐르는 역방향 전류를 이용하여 제1 전압을 측정할 수 있다. 다만, 프로세서(120)는 제2 인접 픽셀들에는 조정된 게인의 전류를 인가하여 제2 인접 픽셀들을 구동하고, 역방향 전압이 인가된 기준 픽셀들에 흐르는 역방향 전류를 이용하여 제2 전압을 측정할 수 있다.
이후, 프로세서(120)는 제1 전압과 제2 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이하인지를 판단할 수 있다.
이때, 프로세서(120)는 제1 전압과 제2 전압 간의 차이가 기설정된 임계값보다 작은 경우, 게인 조정을 수행하지 않는다.
다만, 프로세서(120)는 제1 전압과 제2 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인 경우, 제1 전압 및 제2 전압의 크기에 기초하여 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 조정할 수 있다.
이때, 프로세서(120)는 제1 전압이 제2 전압보다 큰 경우 제2 인접 픽셀들에 인가되는 전류의 게인을 기설정된 임계값만큼 증가시키고, 제1 전압이 제2 전압 이하인 경우 제2 인접 픽셀들에 인가되는 전류의 게인을 기설정된 임계값만큼 감소시킬 수 있다.
이후, 프로세서(120)는 조정된 게인에 따라 제1 전압 및 제2 전압을 재차 측정하여, 제1 전압과 제2 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이하인지를 판단할 수 있다.
이와 같이, 프로세서(120)는 제1 전압과 제2 전압 간의 차이가 기설정된 임계값보다 작아질 때까지 상술한 과정을 반복할 수 있다.
한편, 프로세서(120)는 상술한 과정을 반복하여, 제2 인접 픽셀들에 대한 게인이 조정된 경우, 조정된 게인에 대한 정보를 저장할 수 있다. 즉, 프로세서(120)는 상술한 과정을 반복하여 제1 전압과 제2 전압 간의 차이가 기설정된 임계값보다 작아질 때까지 제2 인접 픽셀들에 인가되는 전류의 게인을 조정하고, 조정된 전류의 게인에 대한 정보를 디스플레이 장치(100)에 마련된 메모리(미도시)에 저장할 수 있다.
이후, 프로세서(120)는 기저장된 정보를 이용하여, 제1 인접 픽셀들에는 기존과 동일한 게인의 전류를 인가하여 제1 인접 픽셀들을 구동하고 제2 인접 픽셀들에는 조정된 게인의 전류를 인가하여 제2 인접 픽셀들을 구동할 수 있다. 이에 따라, 블랙 심 영역 또는 화이트 심 영역이 제거될 수 있게 된다.
한편, 제1 전압 및 제2 전압 간의 차이는 기준 픽셀들과 제1 인접 픽셀들 사이의 거리 및 기준 픽셀들과 제2 인접 픽셀들 사이의 거리의 상대적인 크기를 판단하기 위한 것이므로, 프로세서(120)는 측정된 전압 간의 차이의 절대값을 취하고, 절대값이 기설정된 임계값보다 작은지 여부를 판단할 수 있다.
또한, 프로세서(120)는 사용자 명령에 기초하여, 상술한 동작을 수행할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 자동 보정 명령이 입력되면, 상술한 과정을 수행하여 심 영역을 제거할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 세부구성을 설명하기 위한 블록도이다.
도 5를 참조하면, 디스플레이 장치(100)는 디스플레이(110), 프로세서(120), 메모리(130), 디스플레이 구동부(140) 및 입력부(150)를 포함할 수 있다. 다만, 도 5에 도시된 구성은 일 실시 예에 불과할 뿐, 구현 예에 따라 새로운 구성 요소를 추가할 수 있고, 적어도 하나의 구성 요소를 삭제할 수 있다.
한편, 도 5에 도시된 디스플레이(110) 및 프로세서(120)에 대해서는 도 2와 함께 상세히 설명한바 있다는 점에서, 구체적인 설명은 생략하도록 한다.
메모리(130)는 프로세서(120) 또는 다른 구성요소들(예: 디스플레이(110), 디스플레이 구동부(140) 및 입력부(150) 등)로부터 수신되거나 프로세서(140) 또는 다른 구성요소들에 의해 생성된 명령 또는 데이터를 저장할 수 있다.
또한, 메모리(130)는 예를 들면, 커널, 미들웨어, 어플리케이션 프로그래밍 인터페이스(API: application programming interface) 또는 어플리케이션 등의 프로그래밍 모듈들을 포함할 수 있다. 전술한 각각의 프로그래밍 모듈들은 소프트웨어, 펌웨어, 하드웨어 또는 이들 중 적어도 둘 이상의 조합으로 구성될 수 있다.
디스플레이 구동부(140)는 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n) 각각에 연결된 복수의 LED 구동 모듈(미도시)을 포함할 수 있다.
이때, 복수의 LED 구동 모듈(미도시)은 프로세서(120)로부터 입력되는 각각의 제어 신호에 대응되도록 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n)에 전류(즉, 구동 전류)를 공급하여 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n)을 구동한다.
구체적으로, 복수의 LED 구동 모듈(미도시)은 프로세서(120)로부터 입력되는 각각의 제어 신호에 대응되도록 적어도 하나의 디스플레이 모듈(110-1,...110-n)에 공급되는 전류(또는, 전압(즉, 구동 전압))의 공급시간 또는 세기 등을 조절하여 출력한다.
이 경우, 프로세서(120)는 조정된 게인에 따라 픽셀들을 구동하기 위한 제어 신호를 복수의 LED 구동 모듈(미도시)로 제공할 수 있다.
복수의 LED 구동 모듈(미도시) 각각은 LED 소자에 인가되는 전류를 제어하는 적어도 하나의 LED 드라이버를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따라, LED 드라이버는 파워 서플라이(power supply) 후단에 배치되어 파워 서플라이로부터 전압을 인가받을 수 있다. 다만, 다른 실시 예에 따르면, 별도의 전원 장치로부터 전압을 인가받을 수도 있다. 또는, 파워 서플라이 및 LED 드라이버가 하나로 통합된 모듈 형태로 구현되는 것도 가능하다. 여기서, 파워 서플라이는 교류 전류를 복수의 디스플레이 모듈(110-1, 110-2, 110-3, 110-4,..., 110-n)에서 안정적으로 사용할 수 있도록 직류 전류로 변환해 각각의 시스템에 맞게 전원을 공급하는 하드웨어이다. 예를 들어, 파워 서플라이는 SMPS(Switching Mode Power Supply)로 구현될 수 있다.
LED 드라이버는 주파수의 폭을 조절하여 밝기를 조절하는 PWM 방식을 이용할 수 있다. 즉, LED 드라이버는 주파수의 폭을 조절하는, 디밍(Dimming) 방식을 이용하여 영상의 다양한 계조를 표현할 수 있다.
LED 드라이버는 복수의 LED 소자를 포함하는 복수의 LED 영역 각각에 구비될 수 있다. 여기서, LED 영역은 상술한 LED 모듈보다 작은 영역이 될 수 있다. 예를 들어, 하나의 LED 모듈은 기설정된 개수의 LED 소자를 포함하는 복수의 LED 영역으로 구분되고, 복수의 LED 영역 각각에 LED 드라이버가 구비될 수 있다. 이 경우, 각 영역 별로 전류 제어가 가능하게 된다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며, LED 드라이버는 LED 모듈 단위로 구비되는 것도 가능하다.
한편, 디스플레이 장치(100)는 픽셀들을 수광 모드로 동작하기 위해, 해당 픽셀들에 전압을 인가하기 위한 별도의 전원을 더 포함할 수 있다.
입력부(150)는 다양한 사용자 명령을 입력받는다. 예를 들어, 입력부(150)는 디스플레이 장치(100)를 제어하기 위한 사용자 명령(예를 들어, 전원 온/오프 등)을 입력받는 구성으로, 버튼(미도시) 또는 터치 패드(미도시)를 포함할 수 있다. 한편, 프로세서(120)는 입력부(150)에서 입력된 사용자 명령에 대응되는 기능을 실행할 수 있다.
특히, 입력부(150)는 자동 보정 명령을 입력받을 수 있다.이에 따라, 프로세서(120)는 자동 보정 명령이 입력되면, 심 영역을 제거하기 위한 동작을 수행할 수 있다. 이에 대해서는 상술한바 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 심 제거 방법을 설명하기 위한 도면들이다.
이 경우, 설명의 편의를 위해, 도 6(a)와 같이, 디스플레이 모듈(10-1)과 디스플레이 모듈(10-2)이 서로 연결되고, 디스플레이 모듈(10-1)에서 N-1 열에 배열된 픽셀들이 기준 픽셀들(21)이고, 기준 픽셀들(21)과 같은 디스플레이 모듈 즉, 디스플레이 모듈(10-1)에서 N-1 열에 배열된 픽셀들이 제1 인접 픽셀들(22)이고, 기준 픽셀들(21)과 다른 디스플레이 모듈 즉, 디스플레이 모듈(10-2)에서 M 열에 배열된 픽셀들이 제2 인접 픽셀들(23)이 될 수 있다.
이에 따라, 기준 픽셀들(21)과 제2 인접 픽셀들(23)은 디스플레이 모듈(10-1)과 디스플레이 모듈(10-2)의 경계에서 서로 인접하여 배치될 수 있다.
이러한 경우를 가정하여, 심 영역을 제거하기 위한 방법을 도 6(b)를 참조하여 보다 구체적으로 설명하도록 한다.
먼저, 디스플레이 장치(100)는 자동 보정 명령이 입력되면(S611), N-2 열의 픽셀들 즉, 제1 인접 픽셀들(22)을 구동할 수 있다(S612). 이때, 디스플레이 장치(100)는 디스플레이(110)에 포함된 다른 픽셀들 즉, 제1 인접 픽셀들(22)을 제외한 다른 픽셀들은 구동하지 않을 수 있다.
그리고, 디스플레이 장치(100)는 N-1 열의 픽셀들 즉, 기준 픽셀들(21)에 역방향 전압을 인가할 수 있다(S613).
그리고, 디스플레이 장치(100)는 N-1 열의 픽셀들에 대한 전압(A)을 측정할 수 있다(S614). 구체적으로, 디스플레이 장치(100)는 N-2 열의 픽셀들이 방출하는 빛에 의해 N-1 열의 픽셀들에 흐르는 역방향 전류를 이용하여, 역방향 전류에 의해 N-1 열의 픽셀들에 연결된 저항에 인가되는 제1 전압을 측정할 수 있다. 이때, N-1 열의 픽셀들은 복수의 픽셀을 포함한다는 점에서, 디스플레이 장치(100)는 각 픽셀에 대해 전압을 측정하고, 측정된 전압의 평균값을 산출할 수 있다.
이후, M 열의 픽셀들 즉, 제2 인접 픽셀들(23)을 구동할 수 있다(S615). 이때, 디스플레이 장치(100)는 디스플레이(110)에 포함된 다른 픽셀들 즉, 제2 인접 픽셀들(23)을 제외한 다른 픽셀들은 구동하지 않을 수 있다.
그리고, 디스플레이 장치(100)는 N-1 열의 픽셀들에 역방향 전압을 인가할 수 있다(S616).
그리고, 디스플레이 장치(100)는 N-1 열의 픽셀들에 대한 전압(B)을 측정할 수 있다(S617). 구체적으로, 디스플레이 장치(100)는 M 열의 픽셀들이 방출하는 빛에 의해 N-1 열의 픽셀들에 흐르는 역방향 전류를 이용하여, 역방향 전류에 의해 N-1 열의 픽셀들에 연결된 저항에 인가되는 제2 전압을 측정할 수 있다. 이때, N-1 열의 픽셀들은 복수의 픽셀을 포함한다는 점에서, 디스플레이 장치(100)는 각 픽셀에 대해 전압을 측정하고, 측정된 전압의 평균값을 산출할 수 있다.
이후, 디스플레이 장치(100)는 제1 전압(A) 및 제2 전압(B) 간의 차이가 기설정된 임계값(ε)보다 작은지 여부를 판단할 수 있다(S618). 이때, 디스플레이 장치(100)는 제1 전압(A) 및 제2 전압(B) 간의 차이의 절대값이 차이가 기설정된 임계값(ε)보다 작은지 여부를 판단할 수 있다.
이때, 디스플레이 장치(100)는 제1 전압(A) 및 제2 전압(B) 간의 차이가 기설정된 임계값(ε)보다 작은 경우(S618-Y), 별도의 게인 조정을 수행하지 않을 수 있다(S619).
다만, 디스플레이 장치(100)는 제1 전압(A) 및 제2 전압(B) 간의 차이가 기설정된 임계값(ε) 이상인 경우(S618-N), 제2 전압(B)이 제1 전압(A)보다 큰지 여부를 판단할 수 있다(S620).
이때, 디스플레이 장치(100)는 제2 전압(B)이 제1 전압(A)보다 큰 경우(S620-Y), M 열의 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계값(Δ)만큼 감소시킬 수 있다(S621). 즉, 디스플레이 장치(100)는 M 열의 픽셀들에 인가되는 전류의 게인을 기설정된 임계값(Δ)만큼 감소시킬 수 있다.
한편, 디스플레이 장치(100)는 제2 전압(B)이 제1 전압(A) 이하인 경우(S620-N), M 열의 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계값(Δ)만큼 증가시킬 수 있다(S622). 즉, 디스플레이 장치(100)는 M 열의 픽셀들에 인가되는 전류의 게인을 기설정된 임계값(Δ)만큼 증가시킬 수 있다.
이후, 디스플레이 장치(100)는 조정된 게인을 이용하여 상술한 과정을 반복하여, 제1 전압(A) 및 제2 전압(B) 차이가 기설정된 임계값(ε)보다 작아지도록 할 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 장치의 제어 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
이 경우, 디스플레이 장치는 복수의 디스플레이 모듈을 포함하는 디스플레이를 구비할 수 있다.
먼저, 제1 인접 픽셀들에서 발광하는 빛에 의해 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제1 전압을 측정한다(S710). 그리고, 제2 인접 픽셀에서 발광하는 빛에 의해 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제2 전압을 측정한다(S720).
여기에서, 제1 인접 픽셀들은 제2 인접 픽셀들과 다른 디스플레이 모듈에 포함된다.
이후, 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인 경우, 제1 전압 및 제2 전압의 크기에 기초하여 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 조정한다(S730).
한편, 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 수광 모드로 동작하도록 제어할 수 있다.
한편, S710 단계는 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 제1 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 제1 전압을 측정할 수 있다.
또한, S720 단계는 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 제2 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 제2 전압을 측정할 수 있다.
한편, S730 단계는 제1 전압이 제2 전압보다 큰 경우, 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계 값만큼 증가시킬 수 있다.
또한, S730 단계는 제1 전압이 제2 전압 이하인 경우, 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계 값만큼 감소시킬 수 있다.
그리고, 게인을 조정한 이후, 제1 전압 및 상기 제2 전압을 측정하고, 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인지 여부를 판단하여 게인을 재차 조정할 수 있다.
이들 경우에서, 제1 전압 및 제2 전압은 기준 픽셀들에 포함된 복수의 픽셀 각각에 대해 측정된 전압의 평균값일 수 있다.
한편, LED 소자의 수광 특성을 이용하여 심 영역을 보정하는 구체적인 방법에 대해서는 상술한바 있다.
본 발명에 따른 심 보정 방법을 순차적으로 수행하는 프로그램이 저장된 비일시적 판독 가능 매체(non-transitory computer readable medium)가 제공될 수 있다.
비일시적 판독 가능 매체란 레지스터, 캐쉬, 메모리 등과 같이 짧은 순간 동안 데이터를 저장하는 매체가 아니라 반영구적으로 데이터를 저장하며, 기기에 의해 판독(reading)이 가능한 매체를 의미한다. 구체적으로는, 상술한 다양한 어플리케이션 또는 프로그램들은 CD, DVD, 하드 디스크, 블루레이 디스크, USB, 메모리카드, ROM 등과 같은 비일시적 판독 가능 매체에 저장되어 제공될 수 있다.
또한, 디스플레이 장치에 대해 도시한 상술한 블록도에서는 버스(bus)를 미도시하였으나, 디스플레이 장치에서 각 구성요소 간의 통신은 버스를 통해 이루어질 수도 있다. 또한, 디스플레이 장치에는 상술한 다양한 단계를 수행하는 CPU, 마이크로 프로세서 등과 같은 프로세서가 더 포함될 수도 있다.
또한, 이상에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.
100 : 디스플레이 장치
110 : 디스플레이
120 : 프로세서
120 : 프로세서
Claims (16)
- 디스플레이 장치에 있어서,
복수의 디스플레이 모듈을 포함하는 디스플레이; 및
제1 인접 픽셀들에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제1 전압을 측정하고, 제2 인접 픽셀에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제2 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인 경우, 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압의 크기에 기초하여 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 조정하는 프로세서;를 포함하며,
상기 제1 인접 픽셀들은, 상기 제2 인접 픽셀들과 다른 디스플레이 모듈에 포함되는, 디스플레이 장치. - 제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 수광 모드로 동작하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치. - 제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 상기 제1 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 제1 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치. - 제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 상기 제2 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 제2 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치. - 제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우, 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계 값만큼 증가시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치. - 제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제1 전압이 상기 제2 전압 이하인 경우, 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계 값만큼 감소시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치. - 제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 게인을 조정한 이후, 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인지 여부를 판단하여 상기 게인을 재차 조정하는 것을 특징으로 디스플레이 장치. - 제1항에 있어서,
상기 제1 및 제2 전압은,
상기 기준 픽셀들에 포함된 복수의 픽셀 각각에 대해 측정된 전압의 평균값인 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치. - 복수의 디스플레이 모듈을 포함하는 디스플레이를 포함하는 디스플레이 장치의 심 보정 방법에 있어서,
제1 인접 픽셀들에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제1 전압을 측정하는 단계;
제2 인접 픽셀에서 발광하는 빛에 의해, 수광 모드로 동작하는 기준 픽셀들에 흐르는 전류에 따른 제2 전압을 측정하는 단계; 및
상기 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인 경우, 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압의 크기에 기초하여 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 조정하는 단계;를 포함하며,
상기 제1 인접 픽셀들은, 상기 제2 인접 픽셀들과 다른 디스플레이 모듈에 포함되는, 심 보정 방법. - 제9항에 있어서,
상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 수광 모드로 동작하도록 제어하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 심 보정 방법. - 제9항에 있어서,
상기 제1 전압을 측정하는 단계는,
상기 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 상기 제1 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 제1 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 심 보정 방법. - 제9항에 있어서,
상기 제2 전압을 측정하는 단계는,
상기 복수의 디스플레이 모듈에 포함된 픽셀들 중 상기 제2 인접 픽셀들만이 구동된 상태에서 상기 기준 픽셀들에 역방향 전압을 인가하여 상기 제2 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 심 보정 방법. - 제9항에 있어서,
상기 조정하는 단계는,
상기 제1 전압이 상기 제2 전압보다 큰 경우, 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계 값만큼 증가시키는 것을 특징으로 하는 제어 방법. - 제9항에 있어서,
상기 조정하는 단계는,
상기 제1 전압이 상기 제2 전압 이하인 경우, 상기 제2 인접 픽셀들에 대한 게인을 기설정된 임계 값만큼 감소시키는 것을 특징으로 하는 심 보정 방법. - 제9항에 있어서,
상기 게인을 조정한 이후, 상기 제1 전압 및 상기 제2 전압을 측정하고, 상기 측정된 전압 간의 차이가 기설정된 임계값 이상인지 여부를 판단하여 상기 게인을 재차 조정하는 단계;를 더 포함하는 것을 특징으로 심 보정 방법. - 제9항에 있어서,
상기 제1 및 제2 전압은,
상기 기준 픽셀들에 포함된 복수의 픽셀 각각에 대해 측정된 전압의 평균값인 것을 특징으로 하는 심 보정 방법.
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