KR20170070820A - 레이저 모드 호핑 검출 - Google Patents

레이저 모드 호핑 검출 Download PDF

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KR20170070820A
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laser diode
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로버트 마토섹
토드 라메르스
존 데이비드 트랜탐
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시게이트 테크놀로지 엘엘씨
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Abstract

레이저 다이오드 또는 열-보조 자기 레코딩에서의 다른 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법들 및 장치들이 개시된다. 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스의 출력 전력이 측정되고 출력 전력은 변화율을 결정하도록 시간에 따라 차별화된다. 변화율이 임계값을 초과하는 것으로 결정되면, 잠재적 인 모드 호핑 이벤트를 나타내는 결함 신호가 어서트된다.

Description

레이저 모드 호핑 검출{LASER MODE HOPPING DETECTION}
[0001] 본 개시내용은, 열-보조 자기 기록(heat-assisted magnetic recording)에서 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스에서의 모드 호핑(mode hopping)을 검출하기 위한 방법들 및 장치들에 관한 것이다. 몇몇 실시예들에 따르면, 방법은, 레이저 다이오드 또는 다른 에너지 소스의 출력 전력을 측정하는 단계, 및 변화율을 결정하기 위해 시간에 따라 출력 전력을 미분(differentiate)하는 단계를 포함한다. 다음으로, 변화율이 임계 값을 초과하는지 여부가 결정되고, 변화율이 임계 레벨을 초과한다고 결정할 시, 잠재적인 모드 호핑 이벤트를 표시하는 장애 신호(fault signal)가 어써팅(assert)된다.
[0002] 추가적인 실시예들에 따르면, 저장 디바이스는, 저장 디바이스의 기록 매체로의 데이터의 기입 동작 동안, 열-보조 자기 기록("HAMR; heat-assisted magnetic recording")을 위해 구성되는 판독/기입 헤드의 광학 가열 엘리먼트에서의 에너지 소스의 출력 전력을 측정하도록 구성된다. 시간에 따른 출력 전력의 변화율이 결정되고, 출력 전력의 변화율이 임계 값을 초과하면, 잠재적인 기입 장애를 표시하는 장애 신호가 저장 디바이스의 제어기에 어써팅된다.
[0003] 추가적인 실시예들에 따르면, 열-보조 자기 기록("HAMR")을 구현하는 하드 디스크 드라이브에 대한 전치증폭기는, 광검출기(photodetector)로부터 신호를 수신하고 그리고 미분된 신호를 생성하도록 구성되는 미분기(differentiator) 회로를 포함하며, 광검출기는, HDD 내의 판독/기입 헤드의 레이저 다이오드에 광학적으로(optically) 커플링(couple)된다. 전치증폭기는 또한, 미분된 신호가 임계 전압 레벨을 초과하는지를 결정하도록 구성되는 임계치 검출기를 포함하며, 미분된 신호가 임계 전압 레벨을 초과한다고 결정할 시, 전치증폭기는 HDD의 제어기에 장애 신호를 어써팅한다.
[0004] 다양한 실시예들의 이들 및 다른 특징들 및 양상들은 다음의 상세한 설명을 읽고 첨부된 도면들을 검토할 시에 명백해질 것이다.
[0005] 다음의 상세한 설명에서, 본원의 일부를 형성하고 예시로서 특정 실시예들 또는 예들을 도시하는 첨부된 도면들에 대한 참조들이 이루어진다. 본원에서의 도면들은 실척에 맞게 도시되진 않는다. 동일한 참조번호들은 여러 도면들 전체에 걸쳐 동일한 엘리먼트들을 표현한다.
[0006] 도 1은 본원에 설명된 실시예들에 따른, 열-보조 자기 기록에서 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스에서의 모드 호핑을 검출하기 위한 일 방법을 도시하는 흐름도이다.
[0007] 도 2는 본원에 설명된 실시예들에 따른, 모드 호핑 검출을 위한 예시적인 환경을 도시하는 블록도이다.
[0008] 도 3은 본원에 설명된 실시예들에 따른, 모드 호핑 검출을 위한 예시적인 환경의 부가적인 세부사항들을 도시하는 블록도이다.
[0009] 도 4는 본원에 설명된 실시예들에 따른, 레이저 다이오드에서의 모드 호핑의 검출을 위한 예시적인 장애 로직의 세부사항들을 도시하는 블록도이다.
[0010] 도 5는 본원에 설명된 실시예들에 따른, 신호의 정류를 포함하는 레이저 다이오드에서의 모드 호핑의 검출을 위한 장애 로직의 세부사항들을 도시하는 블록도이다.
[0011] 도 6은 본원에 설명된 실시예들에 따른, 레이저 다이오드에서의 모드 호핑의 검출을 위한 장애 로직의 일 구현을 도시하는 회로도이다.
[0012] 다음의 상세한 설명은, 저장 디바이스, 이를테면 열-보조 자기 기록("HAMR")을 이용하는 하드 디스크 드라이브("HDD") 디바이스에서 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스에서의 모드 호핑을 검출하기 위한 방법들, 장치들, 및 시스템들에 관한 것이다. HAMR-가능(HAMR-enabled) HDD 디바이스들은, 데이터가 현재 기입되고 있는 자기 기록 표면의 영역을 일시적으로 가열하기 위한, 판독/기입 헤드에 로케이팅되는 열 에너지 소스를 사용한다. 열은, 표면 상의 자기 입자(grain)들 또는 섬(island)들의 자기 보자력(coercivity)을 변화시킴으로써, 종래의 디바이스들에서 기록 매체들의 면 밀도를 제한하는 초-상자성(super-paramagnetic) 효과를 감소시키거나 또는 제거한다. 따라서, HAMR 기술의 사용은, HDD 디바이스들에서의 데이터 용량들의 증가를 허용한다.
[0013] 실시예들에 따르면, 열 에너지 소스는, 레이저 다이오드 또는 다른 레이저 디바이스와 같은 광학 에너지 소스를 포함할 수 있다. 판독/기입 헤드는, 기입 동안 레이저 다이오드로부터의 광 에너지를 기록 표면 상의 타겟 영역으로 지향 및 집중시키는 도파관(waveguide)과 같은 광학 컴포넌트들을 더 포함할 수 있다. 집중된 광 에너지는, 영역을 분극(polarize)시키기 위한 자기장을 자기 기록 헤드가 적용하는 동안, 타겟 영역을 스폿-가열(spot-heat)함으로써 영역의 온도를 퀴리 온도(Curie temperature)를 초과하여 상승시킨다. 기록 표면의 가열되는 영역이 매우 작으므로, 레이저 다이오드에 의해 적용된 에너지의 양은 극히 적다. 그러나, 데이터가 기록 표면에 성공적으로 기입되게 하는 동작가능 온도에 도달된다는 것을 보장하도록, 레이저 다이오드의 에너지 출력이 제어되어야 한다.
[0014] 판독/기입 헤드의 광학 컴포넌트들은 추가로, 레이저의 출력 전력을 조정하기 위한 피드백 메커니즘으로서 이용되는, 레이저 다이오드의 광 출력을 측정하기 위한 센서를 포함할 수 있다. 센서는, 광 출력을 감지하는 임의의 컴포넌트, 이를테면 포토다이오드(photodiode), 포토트랜지스터(phototransistor), 볼로미터(bolometer) 등을 포함할 수 있다. 센서는 통상적으로, 레이저 다이오드로부터의 광 출력을, 레이저에 대한 제어 회로에 의해 측정될 수 있는 전압 또는 전류로 변환한다.
[0015] 레이저가 동작 중인 경우, 레이저 다이오드의 온도가 상승될 수 있으며, 이는, 레이저의 발진 파장에서, 하나의 종 모드(longitudinal mode)로부터 다른 종 모드로의 급격한 이산적(discrete) 변화들을 야기할 수 있다. 이러한 현상은 "모드 호핑"으로 알려져 있으며, 레이저 다이오드로부터의 출력 전력의 크기에서 갑작스러운 시프트(shift)들을 야기한다. 레이저 다이오드의 출력 에너지에서의 그러한 급격한 변화들은, 잠재적으로 미검출(undetected) 기입 에러들을 야기하는 기록 잡음 또는 "오래된 데이터 오비교(miscompare)들"을 유발할 수 있다. 이것은, HDD 디바이스의 데이터 무결성(integrity) 및 신뢰도를 감소시킨다.
[0016] 본원에 설명된 실시예들을 이용하여, 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스를 이용하는 HDD 디바이스 또는 다른 저장 디바이스는, 기입 동작들 동안 레이저 모드 호핑을 검출하고 장애 신호를 레이징(raise)하여 미검출 기입 에러들을 방지하도록 구성될 수 있다. 몇몇 실시예들에 따르면, HDD 디바이스의 전치증폭기는, 레이저 다이오드에서의 상태 변화 또는 모드 홉(hop)을 표시하는, 레이저로부터의 레이저 광 전달에서의 갑작스러운 변화를 검출하도록 구성될 수 있다. 도 1은 몇몇 실시예들에 따른, 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스에서의 모드 호핑 검출을 수행하는 일 방법을 예시한다. 예를 들어, 루틴(routine)(100)은, HAMR 기술을 구현하는 HDD 디바이스에서의 기입 동작 동안 수행될 수 있다. 몇몇 실시예들에 따르면, 루틴(100)은, HDD 디바이스의 전치증폭기 내의 로직 및/또는 회로에 의해 수행될 수 있다. 다른 실시예들에서, 루틴(100)은, HDD 디바이스의 제어기 내의 장애 회로 또는 로직 모듈에 의해 수행될 수 있다.
[0017] 루틴(100)은, 광학 에너지 소스의 출력 전력이 측정되는 단계(102)를 포함한다. 예를 들어, 레이저 다이오드의 출력 전력은, 레이저 다이오드를 갖는 디바이스의 판독/기입 헤드에 로케이팅되는 포토다이오드, 포토레지스터(photoresistor), 포토트랜지스터, 볼로미터 등과 같은 센서에 의해 측정될 수 있다. 레이저 다이오드를 갖는 판독/기입 헤드에서 구현되는 도파관은, 측정을 가능하게 하기 위해 광 에너지의 부분을 센서로 분산시킬 수 있다. 센서는, 시간에 따른 레이저 다이오드의 출력 전력을 표현하는 전압 신호 또는 P(t)를 제공할 수 있다.
[0018] 단계(102)로부터, 루틴(100)은 단계(104)로 진행하며, 여기서, 광학 가열 엘리먼트의 출력 전력에서의 변화율을 결정하기 위해 전력 센서로부터의 신호 P(t)가 시간에 따라 미분된다. 전력 센서로부터의 신호는, 몇몇 실시예들에 따르면, 고역-통과 필터 및 AC-커플링된 미분기 등을 사용하여 미분될 수 있다. 미분기의 출력 신호는, 임의의 주어진 시간에서의 레이저 다이오드의 출력 전력에서의 변화율 또는 dP/dt를 표현한다. 모드 홉에서 발생하는 레이저 다이오드의 출력 전력에서의 변화가 매우 낮을 수 있기 때문에(예컨대, 1% 또는 그 미만), 아래에서 더 상세히 설명될 바와 같이, 미분기로부터의 변화율 신호 dP/dt는 추가로, 분석 이전에 증폭될 수 있다.
[0019] 루틴(100)은 단계(104)로부터 단계(106)로 진행하며, 여기서, 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스로부터의 출력 전력의 변화율이 임계 값을 초과하는지가 결정된다. 예를 들어, 임계치 검출기는, 미분기로부터 신호 dP/dt를 수신하고, 그 신호를, 레이저 다이오드 또는 레이저 디바이스에서의 가능성 있는(likely) 모드 홉을 표시하도록 결정된 구성가능 임계 값에 비교할 수 있다. 임계 값은, 레이저 다이오드 또는 구현된 다른 광학 에너지 소스의 특성들에 기초하여 로직 및/또는 회로에서 사전셋팅될 수 있거나, 또는 몇몇 실시예들에 따르면, 특정 저장 디바이스 또는 저장 디바이스의 모델에 대한 테스팅에 의해 결정될 수 있다.
[0020] 레이저 다이오드로부터의 출력 전력의 변화율이 최대 임계치를 초과하면, 루틴(100)은 단계(106)로부터 단계(108)로 진행하며, 여기서, 장애 신호가 HDD 디바이스의 제어기에 레이징된다. 장애 신호는, 기입 동안 발생한 모드 호핑으로 인한 기입 에러의 잠재성을 표현할 수 있다. 그 후, 제어기는, 기입 동작을 재시도할 수 있고 그리고/또는 데이터의 손실을 회피하기 위해 호스트 디바이스에 고장을 리포팅할 수 있다. 단계(108)로부터, 루틴(100)은 종료된다.
[0021] 도 2 및 다음의 상세한 설명은, 본원에 설명된 실시예들이 구현될 수 있는 적절한 환경의 일반적인 설명을 제공하도록 의도된다. 특히, 도 2는, 저장 디바이스(200), 이를테면 HDD 디바이스와 함께, 하드웨어, 소프트웨어, 및 본원에서 제공되는 실시예들에 따른, 디바이스의 판독/기입 헤드에서 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스에서의 모드 호핑을 검출하기 위한 컴포넌트들을 도시한다. 저장 디바이스(200)는, 스핀들(spindle) 모터(204)에 의해 회전가능한 적어도 하나의 플래터(platter) 또는 디스크(202)를 포함하는 회전형 저장 매체들을 포함할 수 있으며, 각각의 디스크는, 적어도 하나의 자기 기록 표면 또는 코팅(coating)을 갖는다.
[0022] 저장 디바이스(200)는 추가로, 디스크들(202)의 각각의 기록 표면에 인접하게 로케이팅되는 적어도 하나의 판독/기입 헤드(206)를 포함한다. 판독/기입 헤드들(206)은, 기록 표면들의 부분들 상에 형성된 자기장을 감지함으로써 디스크들(202)로부터 정보를 판독할 수 있고, 표면들의 부분을 자화시킴으로써 디스크들에 정보를 기입할 수 있다. 판독/기입 헤드들(206)은, 암(arm)(208)의 원단부(distal end)에 로케이팅될 수 있으며, 암은, 판독/기입 헤드들(206)을 리포지셔닝(reposition)하는 액츄에이터(actuator)(210), 이를테면 보이스 코일 모터("VCM; voice coil motor")에 추가로 연결된다.
[0023] 각각의 판독/기입 헤드(206)는, 하나 또는 그 초과의 자기 기입기 엘리먼트들(212)을 포함할 수 있다. 실시예들에 따르면, 판독/기입 헤드(206)는 추가로, HAMR 기술을 이용하여 디스크(202)의 자기 기록 표면에 데이터를 기입하기 위해 자기 기입기 엘리먼트(212)와 함께 이용되는 광학 가열 엘리먼트(214)를 포함한다. 광학 가열 엘리먼트(214)는, 광학 에너지 소스(216), 이를테면 레이저 다이오드 또는 다른 레이저 디바이스를 포함한다. 광학 가열 엘리먼트(214)는 또한, 매체들 상의 온도를 상승시키도록 광학 에너지 소스로부터의 광 에너지를 기록 표면 상의 일 스폿으로 지향, 집중, 및 변환하고, 그리고 데이터의 저장을 위해 기입기 엘리먼트(212)에 의한 매체들의 자기 분극을 가능하게 하는 광 도파관, 근접장 트랜스듀서("NFT; near field transducer") 및 다른 컴포넌트들을 포함할 수 있다.
[0024] 추가적인 실시예들에 따르면, 판독/기입 헤드(206)는 또한, 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스(216)의 광 에너지 출력을 측정하기 위한 적어도 하나의 광검출기(218)를 포함한다. 광검출기(218)는, 광 출력을 감지하는 임의의 컴포넌트, 이를테면 포토다이오드, 포토레지스터, 포토트랜지스터, 볼로미터 등을 포함할 수 있다. 도파관은, 측정을 가능하게 하기 위해, 광 에너지의 부분을 광학 에너지 소스(216)로부터 광검출기(218)로 분산시킬 수 있다. 광검출기(218)는, 광학 에너지 소스(216)로부터의 광 출력을, 레이저 다이오드의 출력 전력을 조정하기 위한 피드백 메커니즘에서 사용될 수 있는 전압 또는 전류로 변환할 수 있다. 각각의 판독/기입 헤드(206)는, 하나 또는 그 초과의 "MR(magneto-resistive)" 또는 터널링 MR 판독기 엘리먼트들, 마이크로-액츄에이터들, 헤드 가열기들, 슬라이더(slider)들 등을 포함하는 부가적인 컴포넌트들을 포함할 수 있다는 것이 당업자에 의해 인식될 것이다.
[0025] 저장 디바이스(200)는 추가로, 저장 디바이스의 동작들을 제어하는 제어기(220)를 포함할 수 있다. 제어기(220)는, 저장 디바이스(200)의 동작들을 모니터링 및 제어하기 위한 프로세서(222)를 포함할 수 있다. 제어기는 추가로, 저장 디바이스(200)가 호스트 디바이스 또는 다른 컴포넌트들, 이를테면 서버 컴퓨터, 개인용 컴퓨터("PC"), 랩톱, 태블릿, 게임 콘솔, 셋-톱 박스, 또는 저장 디바이스에 데이터를 저장하고 저장 디바이스로부터 데이터를 리트리브(retrieve)하도록 저장 디바이스(200)에 통신가능하게 커플링될 수 있는 임의의 다른 전자 디바이스와 통신하게 하는 호스트 인터페이스(224)를 포함할 수 있다. 제어기(220)는, 연관된 데이터를 포맷팅(format)함으로써 호스트 디바이스로부터의 기입 커맨드들을 프로세싱하고, 포맷팅된 데이터를 판독/기입 헤드(206)를 통해 판독/기입 채널(226)을 경유하여 디스크(202)의 기록 표면 상의 타겟 위치로 전달할 수 있다. 제어기(220)는 추가로, 원하는 데이터를 포함하는 기록 표면 상의 타겟 위치를 결정하고, 결정된 위치 위로 판독/기입 헤드(들)(206)를 이동시키고, 판독/기입 채널(226)을 통해 기록 표면으로부터 데이터를 판독하고, 임의의 에러들을 정정하고, 그리고 호스트 디바이스로의 전달을 위해 데이터를 포맷팅함으로써 호스트 디바이스로부터의 판독 커맨드들을 프로세싱할 수 있다.
[0026] 판독/기입 채널(226)은, 호스트 인터페이스(224)에 의해 수신되고 그리고/또는 프로세서(222)에 의해 프로세싱되는 디지털 신호들과 디스크들(202)의 기록 표면에 대한 데이터의 판독 및 기입을 위해 판독/기입 헤드들(206)을 통해 전도(conduct)되는 아날로그 신호들 사이에서 데이터를 변환할 수 있다. 판독/기입 채널(226)은 추가로, 디스크(202)로부터 판독되는 서보(servo) 데이터를, 판독/기입 헤드(206)를 포지셔닝시키기 위해 액츄에이터(210)를 구동하는 서보 제어기(228)에 제공할 수 있다. 판독/기입 헤드들(206)은, 판독/기입 헤드 아래에 타겟 위치를 가져오도록 스핀들 모터(204)가 디스크를 회전시키는 동안, 액츄에이터(210)를 사용하여 디스크들을 가로질러 방사상으로 판독/기입 헤드들(206)을 이동시킴으로써, 디스크들(202)의 기록 표면 상의 타겟 위치들로부터 데이터를 판독하거나 그에 데이터를 기입하도록 포지셔닝될 수 있다.
[0027] 판독/기입 채널(226)을 통한 판독/기입 헤드들(206)로의 그리고 그로부터의 아날로그 신호들은, 전치증폭기(230)를 통해 추가로 프로세싱될 수 있다. 전치증폭기(230)는, 판독/기입 채널(226)로부터의 아날로그 신호들을 다양한 판독/기입 헤드들(206)로 컨디셔닝(condition) 및 분배하고, 판독/기입 헤드들의 다른 엘리먼트들, 이를테면 플라잉-높이(flying-height) 가열기들, 광학 가열 엘리먼트들(214) 등의 제어를 허용한다. 전치증폭기(230)는, 판독/기입 헤드들(206)에 매우 근접하게 로케이팅될 수 있는데, 이를테면 액츄에이터 암(208)에 부착될 수 있다. 실시예들에 따르면, 전치증폭기(230)는 추가로, 아래에 더 상세히 설명될 바와 같이, 기입 동작들 동안 판독/기입 헤드들(206)의 컴포넌트들에서의 이상(anomaly)들을 검출하고 기입 장애들을 프로세서(222)에 레이징하도록 구성된다.
[0028] 제어기(220)는 추가로, 프로세서-실행가능 명령들, 데이터 구조들, 및 다른 정보를 저장하기 위한 컴퓨터-판독가능 저장 매체 또는 "메모리"(228)를 포함할 수 있다. 메모리(232)는, 비-휘발성 메모리, 이를테면 판독-전용 메모리("ROM; read-only memory") 및/또는 플래시 메모리, 및 랜덤-액세스 메모리("RAM; random-access memory"), 이를테면 동적 랜덤 액세스 메모리("DRAM; dynamic random access memory") 또는 동기식 동적 랜덤 액세스 메모리("SDRAM; synchronous dynamic random access memory")를 포함할 수 있다. 메모리(232)는 추가로, 저장 디바이스(200)의 저장 매체들의 부분, 이를테면 디스크(202)의 "M/C(maintenance cylinder)"를 포함할 수 있다. 예를 들어, 메모리(232)는, 저장 디바이스(200)의 동작들을 수행하기 위해 필요한 커맨드들 및 데이터를 포함하는 펌웨어를 저장할 수 있다. 몇몇 실시예들에 따르면, 메모리(232)는, 본원에 설명되는 바와 같은, 레이저 다이오드 또는 레이저 디바이스에서의 가능성 있는 모드 홉을 표시하는, 광학 에너지 소스(216)로부터의 출력 전력의 변화율에 대한 최대 임계 값을 저장할 수 있다.
[0029] 메모리(232)에 부가하여, 환경은, 프로그램 모듈들, 데이터 구조들, 및 본원에 설명되는 다른 데이터를 저장하는 다른 컴퓨터-판독가능 매체들을 포함할 수 있다. 컴퓨터-판독가능 매체들은, 컴퓨터-판독가능 저장 매체들 및 통신 매체들을 비롯하여, 제어기(220) 또는 다른 컴퓨팅 시스템에 의해 액세스될 수 있는 임의의 이용가능 매체들일 수 있다는 것이 당업자들에 의해 인식될 것이다. 통신 매체들은 일시적 신호들을 포함한다. 컴퓨터-판독가능 저장 매체들은, 정보의 비-일시적 저장을 위한 임의의 방법 또는 기술로 구현되는 휘발성 및 비-휘발성, 착탈형 및 비-착탈형 저장 매체들을 포함한다. 예를 들어, 컴퓨터-판독가능 저장 매체들은, RAM, ROM, 소거가능한 프로그래밍가능 ROM("EPROM; erasable programmable ROM"), 전기적으로-소거가능한 프로그래밍가능 ROM("EEPROM; electrically-erasable programmable ROM"), 플래시 메모리 또는 다른 고체-상태 메모리 기술, 컴팩트 디스크 ROM("CD-ROM"), 디지털 다기능 디스크("DVD"), "HD-DVD(high definition DVD)", 블루-레이 또는 다른 광학 저장소, 자기 카세트(cassette)들, 자기 테이프, 자기 디스크 저장소 또는 다른 자기 저장 디바이스들 등을 포함하지만 이에 제한되지 않는다.
[0030] 저장 디바이스(200)의 구조는, 도 2에 예시되고 본원에 설명되는 것과 상이할 수 있다는 것이 인식될 것이다. 예를 들어, 프로세서(222), 판독/기입 채널(들)(226), 전치증폭기(230), 메모리(232), 및 저장 디바이스(200)의 다른 컴포넌트들 및 회로는, "SoC(system-on-a-chip)"와 같은 공통 집적 회로 패키지 내에 통합될 수 있거나, 또는 이들은 다수의 집적 회로 패키지들 간에 분산될 수 있다. 유사하게, 예시된 연결 경로들은 제한의 목적들이 아닌 예시의 목적들을 위해 제공되며, 몇몇 컴포넌트들 및/또는 상호연결부들은 명확화의 목적들을 위해 생략될 수 있다. 저장 디바이스(200)는 도 2에 도시된 컴포넌트들 전부를 포함하지는 않을 수 있거나, 도 2에 명시적으로 도시되지 않은 다른 컴포넌트들을 포함할 수 있거나, 또는 도 2에 도시된 것과 완전히 상이한 아키텍쳐를 이용할 수 있다는 것이 추가로 인식될 것이다.
[0031] 도 3은 몇몇 실시예들에 따른, 예시적인 저장 디바이스(200)에서의 장애 검출 시스템의 세부사항들을 도시한다. 검출되지 않은 기입 에러들을 방지하기 위해, 본원에 설명된 실시예들에 기초한 HDD 또는 다른 저장 디바이스(200)는, 다양한 타입들의 고장들의 검출을 위한, 상세하게는 HAMR에 관련된 고장들을 검출하기 위한 다수의 피드백 루프들을 구현할 수 있다. 몇몇 실시예들에서, 이러한 장애 검출 회로의 일부 또는 전부는 전치증폭기(230)에 상주할 수 있다. 위에 설명된 바와 같이, 전치증폭기(230)는, 판독/기입 채널(226)로부터 기입 신호를 수신하고, 신호를 컨디셔닝하고, 그리고 매체들에 데이터를 기입하기 위해 타겟 판독/기입 헤드(206) 상의 기입기 엘리먼트(212)에 기입 전류를 드라이빙(drive)하는 기입기 드라이버(302)를 포함할 수 있다. 부가하여, 전치증폭기(230)는, 판독/기입 채널(226)로부터 레이저 펄싱 신호를 수신하고, 그리고 HAMR-가능 판독/기입 헤드(206)의 광학 가열 엘리먼트(214) 내의 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스(216)에 전류를 드라이빙하는 레이저 드라이버(304)를 포함할 수 있다.
[0032] 실시예들에 따르면, 전치증폭기(230)는 추가로, 기입 동작들 동안 발생할 수 있는 고장들을 검출하기 위한 장애 로직(310)을 포함한다. 장애 로직(310)은, 기입 동작 동안, 기입기 드라이버(302) 및 레이저 드라이버(304) 내의 장애 검출기들(312, 314), 광학 가열 엘리먼트(214) 내의 광검출기(218), 광학 가열 엘리먼트(214) 내의 NFT 온도 센서(316), 및 판독/기입 헤드(206) 또는 다른 컴포넌트들 내의 다른 센서들 또는 검출기들로부터 피드백 신호들을 수신하고, 그 피드백 신호들을 이용하여, 기입 에러를 초래했을 수 있는 고장을 검출할 수 있다. 예를 들어, 다음의 고장 모드들 중 일부 또는 전부가 장애 검출기들(312, 314) 및 센서들(218, 316)로부터의 피드백 신호들을 프로세싱함으로써 검출될 수 있다.
· 기입기 고장(개방 또는 단락-회로, 범위를 벗어난 전류 또는 전압 등)
· 레이저 다이오드 고장(범위를 벗어난 전류 또는 전압 등)
· 레이저 다이오드 상호연결 고장(개방, 단락, 접지로의 단락 등)
· 펄싱 제어 신호 고장(레이저 없이 기입)
· 전치증폭기 출력 드라이버 회로 고장
· 전치증폭기 상호연결 고장들(입력들 및 출력들)
· 광 도파관 고장
· 레이저 다이오드 모드 호핑
[0033] 기입 동작 동안 고장이 검출되면, 장애 로직(310)은, 기입 에러에 대한 잠재성이 존재함을 표시하는 장애 신호(320)를 저장 디바이스(200)의 제어기(220)에 다시 어써팅한다. 예를 들어, 장애 로직(310)은 장애 신호(320)를 프로세서(222)에 레이징할 수 있고, 프로세서는 데이터의 손실을 회피하기 위해 에러 복원을 수행할 수 있다. 에러 복원은, 판독 검증을 이용하여 기입 동작을 재시도하는 것, 고장을 호스트 디바이스에 리포팅하는 것 등을 포함할 수 있다. 부가하여, 장애 로직(310)은, 전치증폭기(230)의 하나 또는 그 초과의 레지스터들에 고장 코드들 및 다른 정보를 저장함으로써, 고장의 속성을 표시할 수 있다. 그 후, 제어기(220)는, 장애 신호(320)가 레이징되는 경우, 취할 적절한 동작(들)(기입 재시도, 호스트에 통지, 헤드를 디스에이블링(disable), 디바이스 셧다운(shutdown) 등)을 결정하기 위해, 레지스터 값들에서 정보를 얻을 수 있다(interrogate).
[0034] 도 4는 몇몇 실시예들에 따른, 광학 가열 엘리먼트(214) 내의 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스(216)에서의 모드 호핑을 검출하기 위한 컴포넌트들을 포함하는 장애 로직(310)의 일 구현을 예시한다. 장애 로직(310)은, 시간에 따른 레이저(광학 에너지 소스(216))의 출력 전력을 표시하는 신호(도면에서 P(t)로 표시됨)를 광학 가열 엘리먼트(214) 내의 광검출기(218)로부터 수신한다. 몇몇 실시예들에서, 장애 로직은, 프로그래밍가능 대역-통과 필터(402)를 통해 전력 신호 P(t)를 패스(pass)할 수 있다. 프로그래밍가능 대역-통과 필터(402)는, 전력 신호에 존재하는 임의의 고-주파수 잡음을 제거하기 위한 저역-통과 필터("LPF") 및 신호를 미분하기 위한 고역-통과 필터("HPF")를 구현하도록 구성될 수 있으며, 임의의 주어진 시간에서의 레이저 다이오드의 출력 전력의 변화율을 표현하는 미분된 신호(도 4에서 dP/dt로 표시됨)를 생성한다. 다른 실시예들에서, AC-커플링된 미분기, 수동(passive) 미분기, 능동(active) 미분기 등을 포함하는, 당업계에 알려져 있는 임의의 미분기 회로를 사용하여 전력 신호 P(t)가 미분될 수 있다. 추가적인 실시예들에 따르면, LPF는, 통상적인 미분기들이 본질적으로 잡음이 있기 때문에, 미분기 회로 이후에 구현될 수 있다.
[0035] 모드 홉에서 발생하는 레이저 다이오드의 출력 전력에서의 갑작스런 시프트가 매우 낮을 수 있기 때문에(예컨대, 1% 또는 그 미만), 장애 로직(310)은 다음으로, 미분된 신호 dP/dt를 증폭기로 전송할 수 있으며, 증폭기에서는, 미분된 신호가 추가적인 분석 이전에 증폭된다. 다음으로, 증폭된 미분된 신호 G*dP/dt가 임계치 검출기(406)에 전송된다. 임계치 검출기(406)는, 미분된 신호가 구성가능 임계 값을 초과하는 경우, 디지털 장애 신호(320)를 제어기에 어써팅하도록 구성된다. 실시예들에 따르면, 임계 값은, 가능성 있는 모드 홉을 표시하는 레이저 다이오드의 출력 전력에서의 변화율에 대응한다. 몇몇 실시예들에서, 임계 값은 저장 디바이스(200)에서 구성가능하다. 예를 들어, 임계 값은, 저장 디바이스(200)의 구성 테스팅 또는 "번-인(burn-in)" 단계 동안 결정될 수 있고, 제어기의 메모리(232)에 저장될 수 있다. 다른 실시예들에서, 임계 값은, 광학 가열 엘리먼트(214)에서 이용되는 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스(216)의 타입 및 특성들에 기초하여, 전치증폭기가 구현되는 저장 디바이스들의 모델 또는 클래스에 따라 전치증폭기(230)에서 사전셋팅될 수 있다.
[0036] 몇몇 실시예들에 따르면, 임계치 검출기(406)는, 비교기 및 디지털 로직 회로를 포함할 수 있다. 임계 값은, 장애 로직(310)에 의해 임계치 검출기에 공급되는 임계 전압 레벨(408)을 표현할 수 있다. 임계 전압 레벨(408)은 제어기(220)로부터 직접 수신될 수 있거나, 또는 저장 디바이스(200) 내의 프로세서(222)가 전치증폭기(230)의 레지스터 값을 셋팅할 수 있다(전치증폭기에서, 임계 전압 레벨이 장애 로직(310)에 의해 생성됨). 비교기에 의해 임계 전압 레벨(408)이 증폭된 미분된 신호 G*dP/dt에 비교될 수 있으며, 임계 레벨이 초과되는 경우, 임계치 검출기(406)는 디지털 장애 신호(320)를 제어기(220)에 레이징할 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 장애 신호(320)는, 증폭된 미분된 신호 G*dP/dt와 임계 전압 레벨(408)의 교차점에 대응하는 시점에서 레이징된다. 추가적인 실시예들에 따르면, 장애 신호(320)는, 예를 들어, 제어기(220)에 의한 리셋 또는 후속 기입 동작의 개시 시까지 어써팅된 채 유지될 수 있다.
[0037] 레이저 다이오드에서의 모드 홉을 표시하는, 레이저 전력에서의 갑작스런 변화는, 포지티브 또는 네거티브 중 어느 하나일 수 있는데, 즉, 미분된 신호 dP/dt는, 출력 전력에서의 급격한 포지티브 변화 또는 출력 전력에서의 급격한 네거티브 변화를 표시할 수 있다는 것이 인식될 것이다. 몇몇 실시예들에 따르면, 장애 로직(310)은, 모드 홉을 검출하기 위해 임계치 검출기(406)에 의해 이용되는 포지티브 및 네거티브 임계 전압 레벨들(408) 둘 모두로 구현될 수 있다. 추가적인 실시예들에서, 장애 로직(310)은, 도 5에 도시된 바와 같이, 임계치 검출기(406)에 신호를 전송하기 이전에, 미분된 신호 dP/dt를 정류기(502)를 통해 전달할 수 있다. 이러한 방식에서, 레이저 다이오드의 출력 전력에서 포지티브 및 네거티브의 갑작스런 변화들 둘 모두를 검출하는데 단일 임계 전압 레벨(408)이 이용될 수 있다. 도 5에 추가로 도시된 바와 같이, 몇몇 실시예들에 따르면, 장애 로직(310)은 또한, 미분된 신호 dP/dt의 아날로그 출력(504)을 제공할 수 있다. 미분된(그리고 정류된) 신호의 이러한 아날로그 출력(504)은, 제어기(220)가 신호로부터 자신 고유의 장애 검출을 수행하게 할 수 있거나 또는 전치증폭기(230)의 장애 로직(310)과 독립적으로 신호로부터 다른 신호 분석을 수행하게 할 수 있다.
[0038] 도 6은 추가적인 실시예들에 따른, 광학 가열 엘리먼트(214) 내의 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스(216)에서의 모드 호핑을 검출하기 위한 컴포넌트들을 포함하는 장애 로직(310)의 다른 예시적인 구현을 도시하는 회로도이다. 도면에 도시된 구현은, AC 커플링된 미분기 회로(602)에 연결되는 광검출기(218)에 대해 포토다이오드를 이용한다. 미분기 회로(602)에 대한 커패시터 및 피드백 저항기 값들은, 예를 들어, 레이저 출력 전력에서의 예상되는 변화율을 표현하는 주파수들의 범위에 기초하여 선택될 수 있다. 몇몇 실시예들에서, LPF와 같은 필터 회로는, 통상적인 미분기들이 본질적으로 잡음이 있기 때문에, 신호에서의 고-주파수 잡음을 필터링 아웃(filter out)시키기 위해 미분기 회로(602) 이후에 구현될 수 있다. 미분기 회로(602)의 출력은 신호 증폭기(604)에 의해 증폭되고 그리고 비교기(606)에 공급된다.
[0039] 비교기(606)는, 미분기 회로(602)로부터의 전압 레벨을 임계 전압 레벨(408)에 비교하고, 어느 것이 더 큰지를 표시하는 디지털 신호를 출력한다. 비교기(606)의 출력은 디지털 래치(latch) 회로(608)에 공급될 수 있다. 미분기 회로로부터의 전압이 임계 전압 레벨(408)을 초과하면, 디지털 래치 회로(608)는, 전치증폭기(230)의 적절한 출력(FLT) 상에 장애 신호(320)를 어써팅하도록 셋팅된다. 추가적인 실시예들에 따르면, 장애 신호(320)는, 예를 들어, 제어기(220)에 의한 리셋 또는 후속 기입 동작의 개시 시까지 어써팅된 채 유지될 수 있다.
[0040] 추가적인 실시예들에서, 대안적으로 또는 부가적으로, 광학 가열 엘리먼트(214)의 광검출기(218)로부터의 신호가 아니라 소스 신호들로부터 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스(216)의 출력 전력에서의 급격한 변화를 검출하는 방법들 및 메커니즘들이 장애 로직(310)에서 구현될 수 있다. 예를 들어, 장애 로직(310)은, 레이저 드라이버(304)에 의해 레이저 다이오드에 공급되는 전압 또는 전류의 양을 표현하는 신호를 미분하기 위해, 도 4-6에서 도시되고 위에 설명된 것과 동일하거나 또는 유사한 회로를 이용할 수 있으며, 레이저 다이오드에서의 전압 또는 전류의 급격한 변화들이 모드 호핑 이벤트를 유사하게 시그널링할 수 있기 때문에, 모드 홉을 검출하기 위해, 미분된 신호를 임계 값 측정치에 비교한다. 부가적인 실시예들에서, 레이저에서의 모드 호핑을 검출하기 위해, 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스(216)의 출력 전력에 관련된 시 가변적(time variant) 신호들을 생성하는 상이한 타입들의 다수의 센서들이 본원에서 설명된 방식으로 장애 로직(310)에 의해 동시에 분석될 수 있다.
[0041] 전술한 것에 기초하여, 열-보조 자기 기록에서 레이저 다이오드 또는 다른 광학 에너지 소스에서의 모드 호핑을 검출하기 위한 방법들 및 장치들이 본원에서 제시된다는 것이 인식될 것이다. 전치증폭기(230) 및 장애 로직(310)의 컴포넌트들의 구조 및/또는 구성은 도 3-6에서 예시되고 본원에서 설명된 것과 상이할 수 있다는 것이 인식될 것이다. 예를 들어, 프로그래밍가능 대역-통과 필터(402), 증폭기(404, 604), 임계치 검출기(406), 미분기 회로(602), 비교기(606), 디지털 래치 회로(608), 및/또는 장애 로직(310)의 다른 컴포넌트들 및 회로는, 디지털 로직, 아날로그 회로들, 소프트웨어, 또는 이들의 임의의 결합으로 구현될 수 있고, 공통 집적 회로 패키지 내에 통합될 수 있거나, 또는 다수의 집적 회로 패키지들 간에 컴포넌트들이 분산될 수 있다.
[0042] 유사하게, 예시된 연결 경로들은 제한의 목적들이 아닌 예시의 목적들을 위해 제공되며, 몇몇 컴포넌트들 및/또는 상호연결부들은 명확화의 목적들을 위해 생략될 수 있다. 장애 로직(310)은 도면들에 도시된 컴포넌트들 전부를 포함하지는 않을 수 있거나 또는 도면들에 명시적으로 도시되지 않은 다른 컴포넌트들을 포함할 수 있다는 것이 추가로 인식될 것이다. 부가하여, 본원에 제시된 실시예들은 HAMR 기술을 구현하는 HDD 디바이스와 관련하여 설명되지만, 본원에 설명된 방법들 및 장치들은, "SSHD(solid-state hybrid drive) 디바이스", 광학 디스크 드라이브 디바이스 등을 비롯하여, 레이저 다이오드 또는 다른 레이저 디바이스를 포함하는 임의의 저장 디바이스에서 이용될 수 있다는 것이 추가로 인식될 것이다.
[0043] 방법, 프로세스, 또는 루틴의 일부로서 본원에 설명된 로직 단계들, 기능들, 또는 동작들은, (1) 상호연결된 디지털 회로들 또는 컴포넌트들로서 그리고/또는 (2) 프로세서-구현 동작들의 시퀀스, 소프트웨어 모듈들, 또는 제어기 또는 컴퓨팅 시스템 상에서 실행되는 코드의 부분들로서 구현될 수 있다. 구현은, 시스템의 성능 및 다른 요건들에 의존하는 선택의 사안이다. 본 개시내용에 대한 합리적인 당업자들에 의해 이해될 바와 같이, 동작들, 기능들, 또는 단계들이 전혀 포함되지 않을 수 있거나 또는 실행되지 않을 수 있는 대안적인 구현들이 포함되며, 수반되는 기능에 의존하여, 도시되거나 또는 논의된 것과 다른 순서로 실행될 수 있다(실질적으로 동시에 또는 역순으로 실행되는 것을 포함함).
[0044] 명시적으로 달리 언급되지 않거나 또는 사용된 맥락 내에서 달리 이해되지 않으면, 다른 것들 중에서도, "할 수 있다(can, could, might, 또는 may)"와 같은 조건부 언어는 일반적으로, 특정 특징들, 엘리먼트들, 및/또는 단계들을, 특정 실시예들은 포함하지만 다른 실시예들은 포함하지 않는다는 것을 전달하도록 의도된다는 것이 추가로 인식될 것이다. 따라서, 그러한 조건부 언어는 일반적으로, 특징들, 엘리먼트들, 및/또는 단계들이 임의의 방식으로 하나 또는 그 초과의 특정 실시예들에 대해 요구된다는 것, 또는 이들 특징들, 엘리먼트들, 및/또는 단계들이 임의의 특정 실시예에 포함되는지 또는 임의의 특정 실시예들에서 수행되어야 하는지 여부를 사용자 입력 또는 프롬프팅(prompting)을 이용하거나 또는 그러한 것을 이용함이 없이 결정하기 위한 로직을 반드시 포함한다는 것을 함의하도록 의도되지 않는다.
[0045] 본 개시내용의 사상 및 원리들을 실질적으로 벗어나지 않으면서 위에-설명된 실시예들에 대한 많은 변형들 및 수정들이 이루어질 수 있다. 추가로, 본 개시내용의 범위는, 위에 논의된 모든 엘리먼트들, 특징들, 및 양상들의 임의의 결합들 및 서브-결합들 그리고 모든 결합들 및 서브-결합들을 커버하도록 의도된다. 모든 그러한 수정들 및 변형들은, 본원에, 즉, 본 개시내용의 범위 내에 포함되는 것으로 의도되며, 엘리먼트들 또는 단계들의 결합들 또는 개별적인 양상들에 대한 모든 가능한 청구항들은 본 개시내용에 의해 지지되는 것으로 의도된다.

Claims (20)

  1. 광학 에너지 소스에서 모드 호핑(mode hopping)을 검출하기 위한 방법으로서,
    상기 광학 에너지 소스의 출력 전력에 관련된 시-가변적(time-variant) 신호를 수신하는 단계;
    변화율을 결정하기 위해 상기 신호를 시간에 따라 미분(differentiate)하는 단계;
    상기 변화율이 임계 값을 초과하는지 여부를 결정하는 단계; 및
    상기 변화율이 상기 임계 값을 초과한다고 결정할 시, 잠재적인 모드 호핑 이벤트를 표시하는 장애(fault) 신호를 어써팅(assert)하는 단계를 포함하는, 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 광학 에너지 소스는, 저장 디바이스의 매체들에 데이터를 기입하는데 이용되는, 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 장애 신호는 상기 저장 디바이스의 제어기에 전송되고, 그리고
    상기 장애 신호가 수신되는 경우, 상기 제어기는 에러 복원을 수행하는, 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 광학 에너지 소스는 레이저 다이오드를 포함하고,
    상기 레이저 다이오드의 출력 전력에 관련된 신호가 볼로미터(bolometer)로부터 수신되는, 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호를 시간에 따라 미분하는 단계는 고역-통과(high-pass) 필터에 의해 수행되는, 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호를 시간에 따라 미분하는 단계는 AC-커플링된(AC-coupled) 미분기 회로에 의해 수행되는, 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 변화율이 임계 값을 초과하는지 여부를 결정하는 단계는 비교기에 의해 수행되는, 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 단계들은, 열-보조 자기 기록("HAMR; heat-assisted magnetic recording") 기술을 구현하는 하드 디스크 드라이브("HDD; hard disk drive") 디바이스의 전치증폭기 내의 장애 로직 회로에 의해 수행되는, 광학 에너지 소스에서 모드 호핑을 검출하기 위한 방법.
  9. 저장 디바이스로서,
    상기 저장 디바이스의 기록 매체들로의 데이터의 기입 동작 동안, 열-보조 자기 기록("HAMR")을 위해 구성되는 판독/기입 헤드의 광학 가열 엘리먼트에서의 광학 에너지 소스의 출력 전력을 측정하고;
    상기 출력 전력의 시간에 따른 변화율을 결정하고; 그리고
    상기 출력 전력의 변화율이 임계 값을 초과하면, 잠재적인 기입 장애를 표시하는 장애 신호를 상기 저장 디바이스의 제어기에 어써팅
    하도록 구성되는, 저장 디바이스.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 출력 전력의 시간에 따른 변화율을 결정하는 것은, 상기 에너지 소스에 광학적으로(optically) 커플링되는 광검출기로부터의 출력 신호를 미분하도록 구성되는 미분 회로에 의해 수행되는, 저장 디바이스.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 미분 회로는 고역-통과 필터를 포함하는, 저장 디바이스.
  12. 제 10 항에 있어서,
    상기 광검출기는 볼로미터를 포함하는, 저장 디바이스.
  13. 제 10 항에 있어서,
    상기 미분 회로의 출력은, 상기 출력 전력의 변화율이 상기 임계 값을 초과하는지를 결정하기 위해, 비교기에서 상기 임계 값에 대응하는 임계 전압 레벨에 비교되는, 저장 디바이스.
  14. 제 10 항에 있어서,
    상기 제어기는, 상기 장애 신호의 어써션(assertion) 시, 상기 데이터의 손실을 회피하기 위해 에러 복원을 수행하도록 구성되는, 저장 디바이스.
  15. 제 10 항에 있어서,
    측정하는 것, 결정하는 것, 및 어써팅하는 것은, 상기 저장 디바이스의 전치증폭기 컴포넌트에 의해 수행되는, 저장 디바이스.
  16. 열-보조 자기 기록("HAMR")을 구현하는 하드 디스크 드라이브("HDD")에 대한 전치증폭기로서,
    광검출기로부터 신호를 수신하고 그리고 미분된 신호를 생성하도록 구성되는 미분기 회로 ― 상기 광검출기는, 상기 HDD의 판독/기입 헤드의 레이저 다이오드에 광학적으로 커플링됨 ―; 및
    상기 미분된 신호가 임계 전압 레벨을 초과하는지를 결정하고, 그리고 상기 미분된 신호가 상기 임계 전압 레벨을 초과한다고 결정할 시, 상기 HDD의 제어기에 장애 신호를 어써팅하도록 구성되는 임계치 검출기를 포함하는, 열-보조 자기 기록을 구현하는 하드 디스크 드라이브에 대한 전치증폭기.
  17. 제 16 항에 있어서,
    상기 미분된 신호를 증폭하도록 구성되는 증폭기를 더 포함하는, 열-보조 자기 기록을 구현하는 하드 디스크 드라이브에 대한 전치증폭기.
  18. 제 16 항에 있어서,
    상기 광검출기로부터의 신호에서의 고-주파수 잡음을 필터링 아웃(filter out)시키기 위한 저역 통과(low pass) 필터를 더 포함하는, 열-보조 자기 기록을 구현하는 하드 디스크 드라이브에 대한 전치증폭기.
  19. 제 16 항에 있어서,
    상기 미분된 신호를 정류하기 위한 정류기를 더 포함하는, 열-보조 자기 기록을 구현하는 하드 디스크 드라이브에 대한 전치증폭기.
  20. 제 16 항에 있어서,
    상기 미분기 회로는, 프로그래밍가능 대역-통과(band-pass) 필터로 구성되는 고역 통과 필터를 포함하는, 열-보조 자기 기록을 구현하는 하드 디스크 드라이브에 대한 전치증폭기.
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