KR20160131965A - Adapter for test socket - Google Patents

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KR20160131965A
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유홍준
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(주)제이티
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Abstract

The present invention relates to an adapter for a test socket and, more specifically, to an adapter for a test socket, which guides loading of an element on a test socket. According to the present invention, the adapter for a test socket (200) guides the loading of the element (10) on the test socket (100) by being installed in the test socket (100) in which multiple contact pins (110) are installed. The adapter for a test socket includes: a main body unit (210) installed on the test socket (100) and having a rectangular opening (211) vertically penetrated; two or more adapter members (220) installed in the rectangular opening (211) to linearly move in a plane direction of the main body unit (210); and a moving unit moving the adapter members (220) to the main body unit (210) when the element (10) is unloaded from the test socket (100) and moving the adapter member (220) to the inner side when the element (10) is loaded and inspected.

Description

테스트소켓 용 어댑터 {Adapter for test socket}Adapter for test socket {Adapter for test socket}

본 발명은 테스트소켓 용 어댑터에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 테스트소켓 상에 소자의 적재를 안내하는 테스트소켓 용 어댑터에 관한 것이다.The present invention relates to an adapter for a test socket, and more particularly to an adapter for a test socket that guides the loading of the element onto the test socket.

반도체소자(이하 '소자'라 한다)는 패키지 공정을 마친 후 전기특성, 열이나 압력에 대한 신뢰성 검사 등 다양한 검사를 거친다. Semiconductor devices (hereinafter referred to as "devices") are subjected to various tests such as electrical characteristics, reliability tests on heat and pressure after completion of the packaging process.

이러한 반도체소자에 대한 검사들 중에는 번인테스트(Burn-in Test)가 있는데, 번인테스트는 번인보드에 다수의 소자들을 삽입하고, 이 번인보드를 번인테스트장치 내에 수납시켜 일정시간 동안 열이나 압력을 가한 뒤 소자에 불량이 발생하는지 판별하는 테스트이다.Among the tests for such a semiconductor device, there is a burn-in test. In the burn-in test, a plurality of devices are inserted into the burn-in board, the burn-in board is stored in the burn-in test device, It is a test to judge whether a failure occurs in the rear device.

번인테스트용 소자소팅장치는 일반적으로 번인테스트를 마친 소자를 적재하고 있는 번인보드로부터 양품, 불량품 등 각 소자별 검사결과에 따라서 부여된 분류기준에 따라서 소자를 각 트레이로 분류(언로딩)하면서, 소자가 위치하고 있던 번인보드의 비어있는 자리(소켓)에 다시 번인테스트를 수행할 새로운 소자를 삽입(로딩)하는 장치를 말한다.  In general, the burn-in test element sorting apparatus classifies (unloads) an element into each tray according to a classification criterion given in accordance with inspection results of each element, such as good and defective items, from a burn-in board on which a burn- Refers to a device that inserts (loads) a new device to perform a burn-in test on the empty seat (socket) of the burn-in board where the device was located.

한편 상기와 같은 소자소팅장치의 성능은 단위 시간당 소팅 개수(UPH: Units Per Hour)로 평가되며, UPH는 소자소팅장치를 구성하는 각 구성요소 사이에서 소자의 이송, 번인보드의 이송에 소요되는 시간에 따라서 결정된다.On the other hand, the performance of the above-described element sorting apparatus is evaluated by the number of unit hours per hour (UPH), and the UPH is the time required for transferring the elements and transferring the burn- .

따라서 소자소팅장치의 성능인 UPH를 높이기 위하여 각 구성요소의 구조 및 배치를 개선할 필요가 있다.Therefore, it is necessary to improve the structure and arrangement of each component in order to increase UPH which is the performance of the device.

한편 테스트 대상인 소자들 중, 외부 단자와의 결합을 위한 단자로서 측면으로 돌출된 리드 대신에 저면에 복수의 볼들이 설치된 소위, BGA 소자(비지에이 소자)이 있다.On the other hand, among the devices to be tested, there is a so-called BGA device (BGA device) in which a plurality of balls are provided on the bottom surface instead of the side-projected leads as terminals for coupling with external terminals.

그리고 비지에이 소자에 대한 검사는, 각각의 볼들에 대응되어 접촉되는 복수의 컨택핀, 소위 포고핀들이 설치된 소켓에 삽입되어 수행됨이 일반적이다.The inspection for the non-via-elements is generally performed by inserting into a socket in which a plurality of contact pins, so-called pogo pins, corresponding to the respective balls are provided.

이러한 비지에이 소자에 대한 테스트소켓은, 등록 실용신안 제20-0463425호에 개시되어 있다.A test socket for such a non-jiggle element is disclosed in Registration Utility Model No. 20-0463425.

특히, 등록 실용신안 제20-0463425호는, 테스트소켓 상에 비지에이 소자의 로딩시 안내하도록 설치된 어댑터를 추가로 구비함으로써 컨택핀과 볼단자 사이의 정렬 상태를 항상 일정하게 유지하여 그 접속 상태를 일정하게 유지할 수 있어 소자에 대한 정확한 검사가 이루어지는 효과가 있다.Particularly, Registration Utility Model No. 20-0463425 further includes an adapter provided on the test socket for guiding the loading of the non-via elements so that the alignment state between the contact pins and the ball terminals is always kept constant, So that the device can be accurately inspected.

그런데, 등록 실용신안 제20-0463425호에 개시된 어댑터 구조는, 안정적인 소자의 로딩을 위하여 소자의 측면과 어댑터 간에 측면간격을 가져야 하는바, 이러한 측면간격으로 인하여 컨택핀과 볼단자 사이의 정렬 상태가 흐트러지는 문제점이 있다.However, the adapter structure disclosed in Registration Utility Model No. 20-0463425 has a lateral gap between the side of the element and the adapter for stable element loading, and this side gap causes an alignment state between the contact pin and the ball terminal There is a problem of being disturbed.

또한 테스트소켓으로부터 소자의 언로딩시 소자가 어댑터에 걸려 장치의 작동을 중지시켜 검사작업의 효율성을 저하시키는 문제점이 있다.In addition, there is a problem that when the device is unloaded from the test socket, the device is caught by the adapter and the operation of the device is stopped, thereby reducing the efficiency of the inspection work.

본 발명의 목적을 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 컨택핀 및 볼단자 사이의 정렬상태를 일정하게 유지하면서 소자 언로딩을 방해하지 않는 테스트소켓 용 어댑터를 제공하는데 있다.It is an object of the present invention to provide an adapter for a test socket which does not disturb the unloading of the elements while keeping the alignment state between the contact pins and the ball terminals constant.

본 발명은 상기와 같은 본 발명의 목적을 달성하기 위하여 창출된 것으로서, 본 발명은, 복수의 컨택핀(110)들이 설치된 테스트소켓(100) 상에 설치되어 상기 테스트소켓(100) 상의 소자(10)의 로딩을 안내하는 테스트소켓용 어댑터(200)로서, 상기 테스트소켓(100) 상에 설치되어 상하가 관통된 직사각형 개구(211)가 형성된 본체부(210)와; 상기 본체부(210)의 평면방향으로 선형이동되도록 상기 직사각형 개구(211)에 설치되는 2개 이상의 어댑터부재(220)들과; 상기 테스트소켓(100) 상에 소자(10)의 언로딩시 상기 어댑터부재(220)들을 상기 본체부(210) 쪽으로 후퇴시키고 소자(10)의 로딩 및 검사시 어댑터부재(220)를 내측으로 전진시키는 이동수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓용 어댑터를 개시한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been developed in order to achieve the above-mentioned object of the present invention, and it is an object of the present invention to provide a semiconductor device, which is provided on a test socket 100 provided with a plurality of contact pins 110, The test socket adapter 200 includes a body 210 having a rectangular opening 211 formed on the test socket 100 and having upper and lower through holes 211, Two or more adapter members 220 installed in the rectangular opening 211 to linearly move in a plane direction of the main body 210; The adapter member 220 is retracted toward the main body 210 when the device 10 is unloaded on the test socket 100 and the adapter member 220 is advanced inward when the device 10 is loaded and inspected And a moving means for moving the test socket.

상기 어댑터부재(220)들은, 상기 직사각형 개구(211)의 내변 중 서로 대향되는 변에 한 쌍 이상으로 설치될 수 있다.The adapter members 220 may be provided on at least one pair of opposite sides of the inner side of the rectangular opening 211.

상기 어댑터부재(220)들은, 상기 직사각형 개구(211)의 4개의 꼭지점 중 서로 꼭지점에 한 쌍 이상으로 설치될 수 있다.The adapter members 220 may be installed at one or more of the four vertexes of the rectangular opening 211 at vertexes thereof.

상기 이동수단은, 상기 어댑터부재(220)가 테스트소켓(100) 쪽으로 밀착될 때, 상기 어댑터부재(220)에 형성된 제1경사면(미도시) 및 상기 제1경사면과 대향되어 소자(10)의 측면 및 어댑터부재(220)가 밀착되도록 하는 제2경사면의 조합에 의하여 어댑터부재(220)가 테스트소켓(100) 쪽으로 밀착되도록 하도록 구성될 수 있다.(Not shown) formed on the adapter member 220 and a second inclined surface (not shown) opposite to the first inclined surface so that when the adapter member 220 is brought into close contact with the test socket 100, The adapter member 220 may be closely attached to the test socket 100 by a combination of a side surface and a second inclined surface for allowing the adapter member 220 to be closely contacted.

상기 이동수단은, 상기 테스트소켓(100)에 대한 상기 어댑터(200)의 가압이 해제되면 상기 어댑터부재(220)를 외측으로 가압하여 어댑터부재(220)를 원위치로 복원되도록 하여 소자(10)로부터 상기 어댑터부재(220)를 완전히 후퇴시키는 탄성부재를 포함할 수 있다.The moving means moves the adapter member 220 outwardly to restore the adapter member 220 to the original position when the pressing force of the adapter 200 to the test socket 100 is released, And an elastic member for fully retracting the adapter member 220. [

본 발명에 따른 테스트소켓용 어댑터는, 소자검사 및 소자의 로딩시 소자를 안내하는 어댑터부재가 소자 쪽으로 이동되어 컨택핀 및 볼단자 사이의 정렬상태를 일정하게 유지하고 소자의 언로딩시 외측으로 후퇴되어 소자의 언로딩을 방해하지 않아, 소자검사의 신뢰성을 향상시키고 소자의 로딩 및 언로딩을 신속하게 수행할 수 있도록 하는 이점이 있다.The adapter for a test socket according to the present invention is characterized in that the adapter member for guiding the element when inspecting the element and loading the element is moved toward the element so as to keep the alignment state between the contact pin and the ball terminal constant, So that the unloading of the device is not hindered, the reliability of the device inspection can be improved, and the device can be quickly loaded and unloaded.

도 1은, 본 발명에 따른 테스트소켓용 어댑터를 보여주는 평면도이다.
도 2는, 도 1의 테스트소켓용 어댑터가 소자의 언로딩시 어댑터부재가 후퇴한 상태를 보여주는 평면도이다.
도 3은, 도 1에서 Ⅲ-Ⅲ방향의 단면도이다.
도 4는, 도 3의 테스트소켓용 어댑터가 소자의 언로딩시 어댑터부재가 후퇴한 상태를 보여주는 평면도 및 단면도이다.1 is a plan view showing a test socket adapter according to the present invention.
Fig. 2 is a plan view showing a state in which the adapter for test socket of Fig. 1 is retracted when the adapter member is unloaded. Fig.
Fig. 3 is a sectional view in the III-III direction in Fig. 1. Fig.
4 is a plan view and a cross-sectional view showing a state in which the adapter for test socket of Fig. 3 is retracted when the adapter member is unloaded from the element.

이하 본 발명에 따른 테스트소켓용 어댑터에 관한 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a test socket adapter according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명에 따른 테스트소켓용 어댑터(200)는, 도 1 내지 도 4에 도시된 바와 같이, 복수의 컨택핀(110)들이 설치된 테스트소켓(100) 상에 설치되어 테스트소켓(100) 상의 소자(10)의 로딩을 안내하는 테스트소켓용 어댑터(200)로서, 테스트소켓(100) 상에 설치되어 상하가 관통된 직사각형 개구(211)가 형성된 본체부(210)와; 본체부(210)의 평면방향으로 선형이동되도록 직사각형 개구(211)에 설치되는 2개 이상의 어댑터부재(220)들과; 테스트소켓(100) 상에 소자(10)의 언로딩시 어댑터부재(220)들을 본체부(210) 쪽으로 후퇴시키고 소자(10)의 로딩 및 검사시 어댑터부재(220)를 내측으로 전진시키는 이동수단을 포함한다.1 to 4, the adapter 200 for a test socket according to the present invention is installed on a test socket 100 provided with a plurality of contact pins 110, 10. A test socket adapter (200) for guiding the loading of a test socket (10), comprising: a body portion (210) formed on a test socket (100) and having a rectangular opening (211) Two or more adapter members 220 installed in the rectangular opening 211 to linearly move in the plane direction of the main body 210; Moving means for retracting the adapter members 220 toward the body portion 210 when unloading the element 10 on the test socket 100 and advancing the adapter member 220 inward during loading and inspection of the element 10, .

여기서 소자(10)는, 저면에 복수의 볼단자(11)가 설치된, 소위 비지에이소자(BGA; Ball Grid Array)이다.Here, the element 10 is a so-called BGA (Ball Grid Array) in which a plurality of ball terminals 11 are provided on the bottom surface.

상기 테스트소켓(100)은, 복렬로 보드 상에 설치되거나, 검사장치에 테스트모듈에서 복렬로 설치되는 등 다양한 방식으로 설치될 수 있다.The test socket 100 may be installed in various ways, such as being installed on a board in a double row, or installed in a test module in a test module.

그리고 상기 테스트소켓(100)은, 소자(10)의 저면에 설치된 복수의 볼단다(11)에 대응되어 전원인가, 신호인가를 위한 복수의 컨택핀(110)들이 설치된다.The test socket 100 is provided with a plurality of contact pins 110 corresponding to a plurality of ball tines 11 provided on the bottom surface of the device 10 and adapted to apply power and apply a signal.

상기 테스트소켓(100)은, 복수의 컨택핀(110)들이 설치된 구성이면 등록 실용신안 제20-0463425호에 제시된 구조 등 어떠한 구성도 가능하다.The test socket 100 may have any structure, such as the structure disclosed in the Registration Practice Model No. 20-0463425, provided that a plurality of contact pins 110 are provided.

상기 본체부(210)는, 테스트소켓(100) 상에 설치되어 상하가 관통된 직사각형 개구(211)가 형성된 구성으로서 하나의 부재 또는 복수의 부재로 구성되는 등 다양한 구성이 가능하다.The main body 210 may have a rectangular opening 211 formed on the test socket 100 and pass through the top and bottom of the test socket 100. The main body 210 may be formed of one member or a plurality of members.

특히 상기 본체부(210)는, 등록 실용신안 제20-0463425호에 개시된 구성을 가지는 등 다양한 변형이 가능하다.Particularly, the main body 210 may have various configurations, such as the configuration disclosed in Registration Utility Model No. 20-0463425.

더 나아가 상기 본체부(210)는, 테스트소켓(100)에 대하여 소자(10)의 로딩/언로딩을 위하여 상부에 설치된 소켓프레스에 결합되어 설치되는 등 다양한 구성이 가능하다.Furthermore, the main body 210 may be installed in a socket press installed on the test socket 100 for loading / unloading the device 10, or the like.

상기 어댑터부재(220)들은, 본체부(210)의 평면방향으로 선형이동되도록 직사각형 개구(211)에 설치되는 구성으로서 다양한 구성이 가능하다.The adapter members 220 are installed in the rectangular opening 211 so as to linearly move in the plane direction of the main body 210, and various configurations are possible.

예로서, 상기 어댑터부재(220)들은, 직사각형 개구(211)의 네변 각각에 대응되어 설치될 수 있다.For example, the adapter members 220 may be installed corresponding to the respective four sides of the rectangular opening 211.

그리고 상기 어댑터부재(220)들은, 내측으로 소자(10)의 로딩을 가이드하는 경사면인 하나 이상의 가이드면(221)이 형성된다.The adapter members 220 are formed with at least one guide surface 221 which is an inclined surface for guiding the loading of the element 10 inward.

상기 가이드면(221)은, 소자(10)의 로딩시, 즉 소자(10)가 픽커(20)로부터 테스트소켓(100)으로 낙하될 때 소자가(10)가 보다 정확한 위치로 테스트소켓(100) 상에 안착될 수 있게 한다.The guide surface 221 is configured to allow the element 10 to move to a more accurate position when the element 10 is loaded into the test socket 100 when the element 10 is dropped from the picker 20 to the test socket 100. [ As shown in FIG.

그리고 상기 4개의 어댑터부재(220)들은, 소자(10)의 측면, 즉 직사각형 개구(211)의 4개의 변들 중 서로 대향되는 2개의 변에 대응되어 소자(10)의 측면에 접촉되는 수직접촉면(222)이 형성될 수 있다.The four adapter members 220 are connected to a vertical contact surface (not shown) which is in contact with the side surface of the element 10 in correspondence with two sides of the four sides of the element 10, 222 may be formed.

상기 수직접촉면(222)은, 소자로딩 후 소자검사시 어댑터부재(220)가 소자(10)의 측면을 향하여, 즉 내측으로 향하여 전진하여 소자(10)의 측면을 가압함으로써 소자(10) 및 컨택핀(110)의 정렬상태를 보다 정확하게 유지할 수 있게 된다.The vertical contact surface 222 is formed such that the adapter member 220 advances toward the side of the element 10 when the element is inspected after the element is loaded, that is, toward the inside to press the side surface of the element 10, The alignment state of the fin 110 can be more accurately maintained.

한편 상기 어댑터부재(220)들은, 적어도 일부가 본체부(210)에 고정되고 일부만 본체부(210)의 평면방향으로 선형이동되도록 설치될 수 있다.The adapter members 220 may be installed such that at least a part thereof is fixed to the main body 210 and only a part of the adapter members 220 are linearly moved in the plane direction of the main body 210.

예로서, 상기 어댑터부재(220)들 중, 직사각형 소자(10)의 네변 중 서로 대향되는 2변에 대응되는 어댑터부재(220)들만 본체부(210)의 평면방향으로 선형이동되도록 설치될 수 있다.For example, only the adapter members 220 corresponding to the two opposite sides of the four sides of the rectangular element 10 among the adapter members 220 can be linearly moved in the plane direction of the main body 210 .

또한 상기 어댑터부재(220)들은, 직사각형 소자(10)의 형상에 대응되어 각변에 대응되어 설치되는 대신 2개 이상의 꼭지점에 대응되어 본체부(210)의 평면방향으로 선형이동되도록 설치될 수 있다.The adapter members 220 may be installed so as to correspond to the shapes of the rectangular elements 10 and to correspond to two or more vertexes and linearly move in the plane direction of the body 210,

예로서, 상기 어댑터부재(220)들은, 서로 대향되는 소자(10)의 꼭지점, 즉 직사각형 개구(211)의 4개의 꼭지점 중 서로 대향되는 꼭지점에 대응되어 본체부(210)의 평면방향으로 선형이동되도록 설치될 수 있다.For example, the adapter members 220 may be linearly moved in the plane direction of the main body 210 in correspondence with vertexes of the elements 10 opposed to each other, that is, vertices of the four vertices of the rectangular aperture 211, .

이때 상기 어댑터부재(220)의 평면 형상은, 'ㄱ'자 형상을 가질 수 있다.At this time, the planar shape of the adapter member 220 may have a '?' Shape.

정리하면, 상기 어댑터부재(220)들은, 소자(10)의 언로딩시 어댑터부재(220)를 외측으로 후퇴시켜 소자(10)의 언로딩을 방해하지 않도록 하고, 소자(10)의 로딩 및 검사시 소자(10) 쪽으로 전진시킴으로써 테스트소켓(100) 상의 소자(10)의 위치를 정확하게 안착되도록 하고 소자검사를 안정적을 수행하도록 하는 구성이면 어떠한 구성도 가능하다.In summary, the adapter members 220 are configured to retract the adapter member 220 outwardly during unloading of the element 10 so as not to disturb the unloading of the element 10, Any configuration is possible as long as it is configured to allow the position of the element 10 on the test socket 100 to be accurately seated by advancing the sensor element 10 toward the sensor element 10 and to perform stable inspection of the element.

상기 이동수단은, 어댑터부재(220)를 본체부(210) 쪽으로 후퇴시키거나 내측으로 전진시키는 구성으로서 그 선형이동방식에 따라서 다양한 구성이 가능하다.The moving means is configured to retract the adapter member 220 toward the main body 210 or advance it inward, and various configurations are possible according to the linear movement method.

예로서, 상기 직사각형 개구(211)의 각 변에 대응되어 본체부(210)의 내측에 설치되어 외부 작동부재에 의하여 작동되어 각 어댑터부재(220)를 전진시키거나 후퇴시킬 수 있다.For example, it may be provided on the inside of the main body 210 in correspondence with each side of the rectangular opening 211, and may be operated by an external operation member to advance or retract each adapter member 220.

그리고, 상기 이동수단은, 소자(10)의 로딩, 언로딩 및 검사에 적합하도록 소자(10)를 안내하는 어댑터부재(220)를 적절한 방식에 의하여 이동시킬 수 있다.Then, the moving means can move the adapter member 220 guiding the element 10 in a suitable manner so as to be suitable for loading, unloading and inspecting the element 10.

예로서, 상기 이동수단은, 소자(10)의 언로딩시 어댑터부재(220)를 외측으로 후퇴시켜 소자(10)의 언로딩을 방해하지 않도록 하고, 소자(10)의 로딩 및 검사시 소자(10) 쪽으로 전진시킴으로써 테스트소켓(100) 상의 소자(10)의 위치를 정확하게 안착되도록 하고 소자검사를 안정적을 수행하도록 할 수 있다.By way of example, the moving means may be configured to retract the adapter member 220 outwardly during unloading of the element 10 so as not to disturb the unloading of the element 10, 10 so that the position of the element 10 on the test socket 100 can be accurately positioned and the element inspection can be performed stably.

여기서 상기 어댑터부재(220)의 수평이동위치는, 소자검사시 소자(10)의 측면 및 어댑터부재(220)가 밀착되도록 하고, 소자언로딩시 소자(10)로부터 어댑터부재(220)를 완전히 후퇴시켜 소자언로딩이 원활하도록 하며, 소자로딩시 소자검사위치 및 소자언로딩위치 사이에 어댑터부재(220)를 위치시켜 안정적인 소자(10)의 로딩을 유도할 수 있다.The horizontal movement position of the adapter member 220 is such that the side surface of the element 10 and the adapter member 220 are closely contacted during element inspection and the adapter member 220 is completely retracted from the element 10 during element unloading And the adapter member 220 is positioned between the device inspection position and the device unloading position when the device is loaded so that stable loading of the device 10 can be induced.

구체적인 예로서, 상기 이동수단은, 소자(10)를 픽업한 픽커(20)가 테스트소켓(100)에 안착시킬 때 어댑터(200)가 픽커(20) 등에 의한 가압되면서 소자(10)의 측면 및 어댑터부재(220)가 밀착되도록 하고, 픽커(20) 등에 의한 가압이 해제되면 소자(10)로부터 어댑터부재(220)를 완전히 후퇴시키도록 구성될 수 있다.As a specific example, when the picker 20 picking up the element 10 is seated in the test socket 100, the moving means moves the side surface of the element 10 and the side surface of the element 10 while the adapter 200 is pressed by the picker 20, The adapter member 220 can be closely attached and the adapter member 220 can be completely retracted from the element 10 when the pressurization by the picker 20 or the like is released.

즉, 상기 어댑터부재(220)는, 테스트소켓(100)에 대하여 이동가능하도록 설치되며 테스트소켓(100)에는 픽커(20) 등에 의하여 가압이 해제되면 원위치로 복원되도록 하는 탄성부재(미도시)가 설치될 수 있다.That is, the adapter member 220 is installed to be movable with respect to the test socket 100, and an elastic member (not shown) for restoring the test socket 100 to its original position when the pressure is released by the picker 20 or the like Can be installed.

그리고 상기 이동수단은, 어댑터부재(220)가 테스트소켓(100) 쪽으로 밀착될 때, 어댑터부재(220)에 형성된 제1경사면(미도시) 및 제1경사면과 대향되어 소자(10)의 측면 및 어댑터부재(220)가 밀착되도록 하는 제2경사면의 조합에 의하여 어댑터부재(220)가 테스트소켓(100) 쪽으로 밀착되도록 할 수 있다.When the adapter member 220 is brought into close contact with the test socket 100, the moving means is provided with a first inclined surface (not shown) formed on the adapter member 220 and a second inclined surface The adapter member 220 can be brought into close contact with the test socket 100 by the combination of the second inclined surfaces for allowing the adapter member 220 to be closely contacted.

또한 상기 이동수단은, 픽커(20) 등에 의하여 테스트소켓(100)에 대한 어댑터(200)의 가압이 해제되면 어댑터부재(220)를 외측으로 가압하여 어댑터부재(220)를 원위치로 복원되도록 하여 소자(10)로부터 어댑터부재(220)를 완전히 후퇴시키는 탄성부재를 포함할 수 있다.When the adapter 200 is pressed against the test socket 100 by the picker 20 or the like, the moving means presses the adapter member 220 outward to restore the adapter member 220 to the original position, And an elastic member for completely retracting the adapter member 220 from the adapter 10.

이상은 본 발명에 의해 구현될 수 있는 바람직한 실시예의 일부에 관하여 설명한 것에 불과하므로, 주지된 바와 같이 본 발명의 범위는 위의 실시예에 한정되어 해석되어서는 안 될 것이며, 위에서 설명된 본 발명의 기술적 사상과 그 근본을 함께하는 기술적 사상은 모두 본 발명의 범위에 포함된다고 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. It is to be understood that both the technical idea and the technical spirit of the invention are included in the scope of the present invention.

100 : 테스트소켓
200 : 테스트소켓용 어댑터
210 : 본체부 220 : 어댑터부재100: Test socket
200: Adapter for test socket
210: main body 220: adapter member

Claims (5)

복수의 컨택핀(110)들이 설치된 테스트소켓(100) 상에 설치되어 상기 테스트소켓(100) 상의 소자(10)의 로딩을 안내하는 테스트소켓용 어댑터(200)로서,
상기 테스트소켓(100) 상에 설치되어 상하가 관통된 직사각형 개구(211)가 형성된 본체부(210)와;
상기 본체부(210)의 평면방향으로 선형이동되도록 상기 직사각형 개구(211)에 설치되는 2개 이상의 어댑터부재(220)들과;
상기 테스트소켓(100) 상에 소자(10)의 로딩시 상기 어댑터부재(220)들을 상기 본체부(210) 쪽으로 후퇴시키고 소자(10)의 언로딩시 어댑터부재(220)를 내측으로 전진시키는 이동수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓용 어댑터.A test socket adapter (200) mounted on a test socket (100) provided with a plurality of contact pins (110) to guide the loading of the element (10) on the test socket (100)
A main body 210 provided on the test socket 100 and having a rectangular opening 211 through which the test socket 100 passes;
Two or more adapter members 220 installed in the rectangular opening 211 to linearly move in a plane direction of the main body 210;
When the device 10 is loaded on the test socket 100, the adapter members 220 are retracted toward the main body 210 and the adapter member 220 is moved inward when the device 10 is unloaded Wherein the adapter comprises an adapter. 청구항 1에 있어서,
상기 어댑터부재(220)들은, 상기 직사각형 개구(211)의 내변 중 서로 대향되는 변에 한 쌍 이상으로 설치되는 것을 특징으로 하는 테스트소켓용 어댑터.The method according to claim 1,
Wherein the adapter member (220) is provided on at least one pair of opposite sides of the inner side of the rectangular opening (211). 청구항 1에 있어서,
상기 어댑터부재(220)들은, 상기 직사각형 개구(211)의 4개의 꼭지점 중 서로 꼭지점에 한 쌍 이상으로 설치되는 것을 특징으로 하는 테스트소켓용 어댑터.The method according to claim 1,
Wherein the adapter member (220) is installed in at least one pair of four vertexes of the rectangular opening (211) at vertexes of the rectangular aperture (211). 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 이동수단은, 상기 어댑터부재(220)가 테스트소켓(100) 쪽으로 밀착될 때, 상기 어댑터부재(220)에 형성된 제1경사면(미도시) 및 상기 제1경사면과 대향되어 소자(10)의 측면 및 어댑터부재(220)가 밀착되도록 하는 제2경사면의 조합에 의하여 어댑터부재(220)가 테스트소켓(100) 쪽으로 밀착되도록 하도록 구성된 것을 특징으로 하는 테스트소켓용 어댑터.The method according to any one of claims 1 to 3,
(Not shown) formed on the adapter member 220 and a second inclined surface (not shown) opposite to the first inclined surface so that when the adapter member 220 is brought into close contact with the test socket 100, And the adapter member (220) is brought into close contact with the test socket (100) by a combination of a side surface and a second inclined surface for allowing the adapter member (220) to come into close contact. 청구항 4에 있어서,
상기 이동수단은, 상기 테스트소켓(100)에 대한 상기 어댑터(200)의 가압이 해제되면 상기 어댑터부재(220)를 외측으로 가압하여 어댑터부재(220)를 원위치로 복원되도록 하여 소자(10)로부터 상기 어댑터부재(220)를 완전히 후퇴시키는 탄성부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트소켓용 어댑터.The method of claim 4,
The moving means moves the adapter member 220 outwardly to restore the adapter member 220 to the original position when the pressing force of the adapter 200 to the test socket 100 is released, And an elastic member for fully retracting the adapter member (220).
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