KR20160117865A - 지문인식장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 지문인식장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다양한 파장의 광선을 사용하여 지문의 형상뿐만 아니라 생체에 관한 정보를 획득하여 지문을 인식함으로써 위조 지문을 판별할 수 있는 지문인식장치에 관한 것이다.
본 발명은 지문이 접촉하는 접촉면; 상기 접촉면에 제1광을 조사하는 제1광원; 상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제1광을 측정하는 제1광센서; 및 상기 접촉면에 상기 지문이 접촉한 상태와 접촉하지 않은 상태를 감지하는 감지수단;을 포함하고, 상기 감지수단에 의해 접촉면에 지문이 접촉한 상태 이후 지문이 접촉하지 않은 상태가 감지된 경우, 상기 제1광센서에서 제1이미지를 획득하는 지문 인식 장치이다.

Description

지문인식장치{A Fingerprint Identifier}

본 발명은 지문인식장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다양한 파장의 광선을 사용하여 지문의 형상뿐만 아니라 생체에 관한 정보를 획득하여 지문을 인식함으로써 위조 지문을 판별할 수 있는 지문인식장치에 관한 것이다.

지문인식장치는 사람의 지문을 인식하여 사람을 구별하는 장치를 말한다. 지문인식장치에서 지문 영상을 획득하는 방식으로는 광학식, 초음파식, 정전용량방식, 전기장 측정방식, 열감지 방식 등이 있다.

열감지 방식은 손가락을 열감지센서에 대고 움직이는 방식으로 지문 영상을 취득한다. 이는 건조한 지문도 감지할 수 있고 센서의 크기가 작은 이점이 있으며, 가격이 저렴하다. 하지만 사용 숙련도를 요하는 점에서 사용자에게는 그다지 편리하지 않은 방식이다.

정전용량방식과 전기장 측정방식은 모두 반도체식 지문인식장치인데, 반도체 방식은 건조한 지문도 측정할 수 있다는 점에서 유리하지만, 수분에 대한 내구성이 취약하고, 센서가 상당히 고가이다.

이에 비해 광학식 센서는 가격이 저렴하면서도 센서가 수분에 영향을 받지 않으며 우수한 지문 영상을 획득할 수 있지만, 지문의 외형만을 주로 판단하기 때문에, 생체가 아니라 하더라도 지문의 형상을 가지고 있는 더미의 지문도 지문 영상으로서 인식하게 된다.

지문인식장치는 보안을 위해 설치되는 것인데, 이처럼 만들어진 지문에 대해서도 지문을 그대로 인식하는 경우, 보안이 약해지는 문제점이 있다.

이에 대해 종래에는 피부의 반사도나 피부 색상 등을 검출하여 위조 여부를 판단하거나, 표면 플라즈몬 효과를 이용하는 방식을 통해 위조 여부를 검출할 수 있는 장치가 개발되어 있으나, 이 역시 피해갈 수 있는 길이 있어 보안을 강화함에 있어서 한계가 있었다.

한편 최근 발광다이오드가 개발되어 원하는 파장대의 광선만을 집중적으로 발광할 수 있는 길이 열리면서, 특정 파장대의 가시광선뿐만 아니라, 자외선이나 적외선 영역의 광선을 활용할 수 있게 되었다.

하지만 발광다이오드를 사용함에 있어서도, 현재는, 주로 가시광선 영역에서 산란 특성이 좋은 파장대의 빛을 주로 발광하는 다이오드를 사용하여 지문 영상을 보다 선명하게 얻기 위한 분야에 대한 기술이 주로 개발되고 있으며, 위조된 지문에 대한 감별을 할 수 있는 기술에 대해서는 개발이 지지부진한 것이 현실이다.

본 발명은 파장별로 다른 빛의 특성을 활용하여 위조된 지문인지 여부를 정확히 판별할 수 있는 지문인식장치에 관한 것이다.

본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명은 전통적인 지문인식장치에 사용되던 가시광선 영역에서 벗어나, 자외선과 적외선 영역, 그리고 가시광선 영역의 특정 파장대의 빛을 활용하여 진정한 생체의 지문만을 정확하게 인식할 수 있는 지문인식장치와 지문인식 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 지문의 접촉면에 형성되는 유분의 흔적을 자외선으로 측정하여 즉각적으로 지문을 인식하고, 광학적으로 생체의 지문으로부터 직접적으로 인식된 지문 이미지와 유분의 흔적에 의해 인식된 지문 이미지를 비교 분석하여 지문이 생체의 지문임을 판별하는 지문 인식 장치를 제공한다.

구체적으로 본 발명은, 지문이 접촉하는 접촉면; 상기 접촉면에 제1광을 조사하는 제1광원; 상기 접촉면에 상기 제1광과 다른 피크파장을 가지는 제2광을 조사하는 제2광원; 및 상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제1광을 측정하는 제1광센서; 상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제2광을 측정하는 제2광센서; 및 상기 제1광센서에서 획득한 제1이미지와 상기 제2광센서에서 획득한 제2이미지를 비교하여 지문의 진정성을 확인하는 판단수단;을 포함하는 지문 인식 장치이다.

상기 제1광원은 자외선일 수 있다.

상기 제1광원은 접촉면의 외측에 존재할 수 있다.

상기 제1광센서는 접촉면의 외측에 존재할 수 있다.

상기 제1광센서는 상기 지문이 접촉면에서 이탈된 후 제1이미지를 획득할 수 있다.

상기 제2광센서는 상기 지문이 접촉면에 접촉된 상태에서 제2이미지를 획득할 수 있다.

상기 자외선은 200 ~ 365 nm 내에서 피크파장을 가질 수 있다.

상기 접촉면의 외측에는 자외선의 외부 방출을 방지하는 덮개가 구비될 수 있다.

상기 제1광원과 제2광원 중 적어도 어느 한 광원 전방에 광원측 편광판이 설치되고, 상기 제1광센서와 상기 제2광센서 중 적어도 어느 한 광원 전방에 광센서측 편광판이 설치될 수 있다.

상기 광원측 편광판과 상기 광센서측 편광판은 서로 평행한 편광각을 이룰 수 있다.

상기 제1광원과 제2광원은 하나의 광원이며, 상기 제1광과 상기 제2광은 광원 전방에 위치하는 필터의 종류에 따라 결정될 수 있다.

상기 제1광센서와 상기 제2광센서는 하나의 광센서이며, 측정되는 광의 종류가 광센서 전방에 위치하는 필터의 종류에 따라 결정될 수 있다.

상기 제1광센서와 상기 제2광센서는 하나의 광센서이며, 측정되는 광의 파장은 광센서에서 측정된 신호를 필터링하여 결정될 수 있다.

또한 본 발명은, 지문이 접촉하는 접촉면; 상기 접촉면에 제1광을 조사하는 제1광원; 및 상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제1광을 측정하는 제1광센서;를 포함하는 지문 인식 장치를 이용하여 지문을 인식하는 방법으로서, 상기 접촉면에 지문이 접촉하고 이탈된 후 제1광센서가 상기 접촉면에 조사된 제1광의 투과광, 반사광 또는 산란광을 상기 제1광센서로 측정하여 제1이미지를 획득하는 지문 인식 방법을 제공한다.

상기 제1광은 자외선을 포함할 수 있다.

상기 지문 인식 장치는 상기 접촉면에 상기 제1광과 다른 피크파장을 가지는 제2광을 조사하는 제2광원; 및 상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제2광을 측정하는 제2광센서를 더 포함하고, 상기 접촉면에 지문이 접촉한 상태에서 상기 접촉면에 조사된 제2광의 투과광, 반사광 또는 산란광을 상기 제2광센서로 측정하여 제2이미지를 획득할 수 있다.

상기 제1이미지와 제2이미지를 비교하여 지문의 진정성을 판단할 수 있다.

또한 본 발명은, 지문이 접촉하는 접촉면; 상기 접촉면에 제1광을 조사하는 제1광원; 상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제1광을 측정하는 제1광센서; 및 상기 접촉면에 상기 지문이 접촉한 상태와 접촉하지 않은 상태를 감지하는 감지수단;을 포함하고, 상기 감지수단에 의해 접촉면에 지문이 접촉한 상태 이후 지문이 접촉하지 않은 상태가 감지된 경우, 상기 제1광센서에서 제1이미지를 획득하는 지문 인식 장치를 제공한다.

상기 제1광은 자외선일 수 있다.

본 발명에 의하면, 광학적으로 지문을 인식함에 있어서 지문을 오래 대고 있어야 하는 번거로움 없이 즉시 지문 인식이 가능하다.

또한 본 발명에 의하면, 지문이 형성된 피부 조직에서 분비되는 유분이나 땀 등의 체액의 흔적을 근거로 지문을 인식하기 때문에 생체가 아닌 가짜 지문을 구별할 수 있다.

또한 본 발명에 의하면 지문을 인식하기 위한 광으로 지문을 대는 부분을 지속적으로 소독할 수 있어 여러 사람이 접촉하는 지문의 접촉면의 청결을 유지할 수 있다.

상술한 효과와 더불어 본 발명의 구체적인 효과는 이하 발명을 실시하기 위한 구체적인 사항을 설명하면서 함께 기술한다.

도 1은 본 발명에 따른 지문 인식 장치를 개괄적으로 나타낸 도면,
도 2는 도 1의 지문 인식 장치의 지문 인식 상태를 개괄적으로 나타낸 도면,
도 3 내지 도 5는 본 발명에 따른 지문 인식 장치의 광원과 광센서의 배치 예시를 나타낸 도면, 그리고
도 6은 편광된 광이 피부를 통하였을 때 편광의 각도에 따라 그 광이 가지는 정보가 서로 다름을 도시한 도면이다.

이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조로 하여 상세히 설명한다.

본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위하여 제공되는 것이다.

[제1실시예]

도 1은 본 발명에 따른 지문 인식 장치를 개괄적으로 나타낸 도면, 도 2는 도 1의 지문 인식 장치의 지문 인식 상태를 개괄적으로 나타낸 도면이다.

이들 도면을 참조하면, 지문 인식 장치는, 지문(10)이 접촉하는 접촉면(20), 상기 접촉면을 향해 제1광인 자외선을 조사하는 제1광원(41), 상기 제1광이 접촉면을 통해 반사되거나 산란된 광을 감지하여 제1이미지를 획득하는 제1광센서(51)를 포함한다.

사람의 피부는 지속적으로 땀과 유분을 배출한다. 따라서 우리의 지문 표면에는 이러한 땀과 유분이 존재하며, 도 1에 도시된 바와 같이 손가락을 접촉면(20)에 접촉시키면 지문의 굴곡이 접촉면(20)에 눌리게 되고, 손가락을 떼면 도 2에 도시된 바와 같이 지문의 표면에 남아있던 유분 또는 땀의 흔적(12)이 지문의 표면에 남아있게 된다.

제1광원(41)은 이러한 접촉면(20) 상의 지문의 흔적(12)에 제1광인 자외선을 조사하고, 제1광센서(51)는 이렇게 지문의 흔적을 거친 제1광을 감지하여 지문 흔적의 이미지를 획득한다. 이렇게 제1광센서(51)에 의해 감지된 이미지는 실제 생체에서 분비되는 유분이나 땀의 흔적에 근거하는 것이므로, 실리콘 등의 더미에 의해 만들어진 지문에 의해서는 생성되지 않는 이미지이다. 따라서 제1광원(41)과 제1광센서(51)에 의해 감지되는 제1이미지는 진정한 생체의 지문으로 볼 수 있다.

제1광원(41)은, 적어도 도 1과 같이 사람이 손가락을 접촉면(20)에 접촉한 후 도 2와 같이 손가락을 뗀 상태에서 접촉면(20)에 남아있게 되는 흔적(12)에 자외선을 조사하고, 제1광센서(51)는 이를 감지하여 지문 이미지를 획득한다.

빛은 파장이 짧을수록 산란이 잘 일어나고 투과율이 낮아진다. 특히 자외선 파장대의 빛은 지문의 흔적에 대해 산란이 잘 일어나기 때문에 지문의 흔적을 이미지화하기 수월하다. 따라서 경면과 같은 접촉면 상에 남아있는 지문의 흔적은 자외선의 산란(난반사)을 일으키고, 이러한 산란광을 측정하면 지문의 흔적으로부터 지문 이미지를 획득할 수 있다.

한편 접촉면(20)에 남아있는 유분이나 땀 등에는 각종 세균이 번식하기 유리한 환경이 되므로 상기 제1광원(41)이 자외선인 점을 활용하면 접촉면 상에 지속적으로 또는 간헐적으로 또는 특정 조건을 만족할 때에 자외선을 조사하여 살균을 할 수 있다. 즉 지문의 흔적(12)으로부터 지문 이미지를 획득하기 위한 제1광이 동시에 지문의 흔적 부분에서 번식할 수 있는 미생물이나 세균을 살균하는 용도로서도 동시에 활용될 수 있는 것이다.

가령 제1광원(41)은 평상시 도 2와 같이 지속적으로 또는 간헐적으로 접촉면(20)에 자외선을 조사하고, 제1광센서(51)는 이를 감지하여 이미지에 변화가 있는지 감지한다. 접촉면에 자외선을 조사하면 접촉면을 살균할 수 있다. 또한 제1광센서(51)에서 측정되는 광에 의한 신호에 변화가 없는 경우에는 별다른 이미지 획득을 진행하지 않는다.

이러한 상태에서 도 1과 같이 사람의 손가락이 접촉면에 들어오고 다시 도 2와 같이 나가게 되면 제1광센서(51)에서 측정되는 광에 의한 신호는 변하게 된다. 이와 같이 제1광센서(51)가 신호의 변화를 감지하면, 신호의 변화가 멈춘 후 제1광센서에 의해 측정되는 광의 이미지를 획득하게 된다.

일 예로서, 사람의 손가락이 접촉면에 들어오면 그렇지 않은 경우보다 제1광센서(51)에 들어오는 광량이 크게 변하게 되므로, 이러한 상태에서는 손가락이 들어와 있음을 판별할 수 있고, 손가락이 나가게 되면 다시 광량이 환원됨을 근거로 손가락이 빠져 나갔음을 확인할 수 있다. 이러한 광량이 감지된 후 제1광센서에서 이미지를 획득하면 접촉면에 접촉 후 빠져나간 지문의 흔적(12)으로부터 지문 이미지를 획득하게 되는 것이다. 즉 제1광센서에서 측정되는 광량의 차이로부터 지문이 접촉면에 접촉한 상태인지 여부를 감지할 수 있게 된다. 감지 수단은 이와 같이 구성될 수도 있고, 다른 방식으로도 구현 가능하다. 다른 기존의 구현 방식에 대해서는 설명을 생략하기로 한다.

제1광원(41)은 200 ~ 400 nm 내에서 피크파장을 가지는 자외선을 발광하는 LED일 수 있고, 바람직하게는 200 ~ 365 nm 내에서 피크파장을 가질 수 있다.

한편 자외선은 인체에 유익한 광이 아니므로 도시된 바와 같이 덮개(30)를 두어 자외선이 외부로 유출되는 것을 방지할 수 있다. 이 때 제1광원(41)과 제1광센서(51)는 이러한 덮개(30)에 위치할 수 있다.

이러한 지문인식 방식에 의하면 광학식 지문 인식 장치임에도 불구하고, 손가락을 접촉면에 대고 바로 떼더라도 지문을 인식할 수 있고, 또한 유분에 의한 흔적을 근거로 지문을 인식하므로, 가짜 지문을 가려낼 수 있다.

[제2실시예]

본 발명은 지문을 광학적으로 인식함에 있어서, 앞서 제1실시예와 같이 지문의 흔적(12)을 인식하는 것과 함께, 지문(10)의 형상 자체를 직접적으로 인식하는 과정을 더 포함하고, 이들로부터 인식된 지문의 이미지를 비교하여 지문이 진정한 생체의 지문임을 판별하는 것이 가능하게 할 수 있다.

다시 도 1과 도 2를 참조하면, 지문 인식 장치는, 지문(10)이 접촉하는 접촉면(20), 상기 접촉면을 향해 제1광인 자외선을 조사하는 제1광원(41), 상기 제1광이 접촉면을 통해 반사되거나 산란된 광을 감지하여 제1이미지를 획득하는 제1광센서(51)과 함께, 상기 접촉면을 향해 제2광인 가시광선을 조사하는 제2광원(42), 상기 제2광이 접촉면을 통해 반사되거나 산란된 광을 감지하여 제2이미지를 획득하는 제2광센서(52)를 포함한다.

여기서 제2광원(42)과 제2광센서(52)는 접촉면(20)에 접촉하고 있는 지문(10)의 융선을 직접 광학식으로 감지하는 구성이다.

제2광원(42)은 도 1과 같이 접촉면(20) 상에 지문이 눌려지고 있는 경우 지문을 향해 광을 조사하고, 접촉면(20) 상에서 지문의 융선에 의해 발생하는 산란광을 제2광센서(52)가 감지하여 지문 이미지를 획득하게 된다.

따라서 제2실시예에 의하면, 도 1과 같이 손가락이 접촉면에 눌려진 상태에서 제2광원과 제2광센서를 활용하여 손가락에 있는 지문의 형태를 광학적으로 감지하여 제2이미지를 획득하고, 도 2와 같이 손가락이 접촉면에서 떼어진 후 접촉면에 남아 있는 흔적(12)에 대해 제1광원과 제1광센서를 활용하여 흔적의 지문 형태를 광학적으로 감지하여 제1이미지를 획득하는 것이다.

이렇게 획득된 제1이미지와 제2이미지는 판단수단에서 서로 비교된다. 비교 후 두 이미지의 일치 여부에 따라 해당 지문이 진정한 지문인지 가짜 지문인지 판별할 수 있게 된다.

앞서 제1실시예와 제2실시예에서는 광원에서 접촉면을 향해 조사된 광이 산란되는 것을 전제로 하여 산란광을 측정함으로써 이미지를 획득한 사항을 예시하고 있으나, 반드시 이러한 방식에 한정되는 것은 아니다. 가령 전반사, 또는 투과 방식의 광학적 측정 방법 역시 사용 가능하다. 또한 제1실시예와 제2실시예는 광원과 광센서가 각각 별도로 구성된 상태를 예시하고 있으나, 제1광원과 제2광원이 하나로 구성되거나 통합적으로 구성될 수도 있고, 제1광센서와 제2광센서가 하나로 구성되거나 통합적으로 구성될 수도 있다.

[제3실시예]

제1실시예와 제2실시예에서는, 제1광원(41)과 제1광센서(51)이 접촉면(20)의 외측에 배치되고, 제2광원(42)과 제2광센서(52)가 접촉면(20)의 내측에 배치된 상태를 전제로 설명하였으나, 이들의 위치가 반드시 이렇게 한정될 필요는 없다.

가령 도 3에 도시된 바와 같이 제1광원(41)과 제1광센서(51)가 접촉면(20)의 내측에 배치되도록 하는 것 역시 가능하다. 이러한 구성은 가령 산란식 또는 반사식으로 지문 이미지를 획득할 수 있다.

다음으로 도 4에 도시된 바와 같이 제1광원(41)은 접촉면(20) 내측에 배치되고 제1광센서(51)는 접촉면(20) 외측에 배치되거나, 도 5에 도시된 바와 같이 제1광원(41)이 접촉면(20) 외측에 배치되고 제1광센서(51)는 접촉면 내측에 배치되는 것 역시 가능하다. 이들은 투과식 또는 산란식으로 지문 이미지를 획득할 수 있다.

제1실시예와 제2실시예의 경우(도 1과 도 2 참조), 그리고 제3실시예의 도 3과 같은 경우에는, 접촉면(20)이 자외선에 대해 반사도가 높은 재질인 것이 바람직하다. 반면 제3실시예의 도 4와 도 5에 도시된 형태는 접촉면(20)의 재질이 자외선 투과율이 높은 재질인 것이 바람직하다.

한편 제2광원과 제2광센서의 경우에도 광학적 설계에 따라 다양한 배치가 가능하다.

[제4실시예]

제1실시예와 제2실시예에서는, 광원이 제1광원과 제2광원으로 별도로 구분되고, 제1광센서와 제2광센서가 별도로 구분되는 형태를 예시하였다. 하지만 제1광원과 제2광원 및/또는 제1광센서와 제2광센서는 하나의 광원 및/또는 광센서이거나, 통합적인 광원 및/또는 광센서로 구성할 수도 있다.

가령 넓은 스펙트럼을 가지는 광을 방출하는 광원의 전방에 특정한 파장대의 광을 걸러주는 필터를 설치하면, 원하는 파장대의 광을 선택적으로 접촉면에 조사할 수 있게 된다. 자외선에서 가시광선까지 넓은 스펙트럼을 가지는 하나의 광원과, 그 광원 전방에 설치된 서로 다른 2개의 필터가 각각 제1광원과 제2광원을 구성할 수 있는 것이다. 자외선을 통과시키는 필터와 광원은 제1광원이 되고, 가시광선을 통과시키는 필터와 광원은 제2광원이 된다.

마찬가지로 넓은 스펙트럼의 광을 감지하는 광센서의 전방에 특정한 파장대의 광을 걸러주는 필터를 설치하면, 원하는 파장대의 광을 선택적으로 감지할 수 있게 된다. 자외선에서 가시광선까지 넓은 스펙트럼을 감지하는 하나의 광센서와, 그 광원 전방에 설치된 서로 다른 2개의 필터가 각각 제1광센서와 제2광센서를 구성할 수 있는 것이다. 자외선을 통과시키는 필터와 광센서는 제1광센서가 되고, 가시광선을 통과시키는 필터와 광센서는 제2광센서가 될 수 있다.

이들 필터는 손가락이 접촉면에 있는지 여부에 따라 선택적으로 광원 내지 광센서 전방에 배치될 수 있다.

한편 통합적인 광원으로서는, 서로 다른 피크파장을 가지는 두 광을 발광하는 LED를 함께 설치하는 것이 가능하고, 통합적인 광센서로서는, 서로 다른 피크파장을 가지는 두 광을 모두 감지하되, 신호 처리에 의해 이들을 구분하여 이미지화할 수 있도록 하는 광센서를 사용하는 것 역시 가능하다. 이 경우 제1광을 조사하는 LED가 작동하는 경우 제1광원이 되고 제2광을 조사하는 LED가 작동하는 경우 제2광원이 되며, 신호처리 방법에 따라 제1광에 의한 이미지를 획득하는 경우 제1광센서가 되고 제2광에 의한 이미지를 획득하는 경우 제2광센서가 된다.

[제5실시예]

본 발명에 의하면, 단순히 파장대에 의해 서로 다른 방식으로 두 이미지를 획득하는 것뿐만 아니라, 편광필터를 활용하여 보다 명확한 지문 정보를 획득하는 것도 가능하다.

가령 광원의 전방에 편광필터를 두고, 광센서의 전방에도 편광필터를 두되, 이들 편광의 각도가 서로 평행하게 하면 지문 정보를 더욱 선명하게 얻을 수 있다.

도 6은 편광된 광이 피부를 통하였을 때 편광의 각도에 따라 그 광이 가지는 정보가 서로 다름을 도시한 도면이다. 도시된 바와 같이, 피부에 조사되는 광의 편광 방향에 대해, 피부로부터 반사 또는 산란되어 나오는 광 중 조사되는 광의 편광 방향과 동일한 광은 피부 표면의 정보가 많고, 조사되는 광의 편광 방향에 대해 90도를 이루는 광은 상대적으로 피부에 깊이 침투된 후 나온 광에 대한 정보가 많으므로, 피부의 지문보다 오히려 피부 내부의 혈액이나 구성 성분에 대한 광정보에 해당한다.

따라서 광원과 광센서 전방의 편광의 각도가 서로 평행을 이루게 하면, 보다 정확한 지문 정보를 확보할 수 있다.

이상과 같이 본 발명에 대해서 예시한 도면을 참조로 하여 설명하였으나, 본 명세서에 개시된 실시예와 도면에 의해 본 발명이 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 기술사상의 범위 내에서 당업자에 의해 다양한 변형이 이루어질 수 있음은 자명하다. 아울러 앞서 본 발명의 실시예를 설명하면서 본 발명의 구성에 따른 작용 효과를 명시적으로 기재하여 설명하지 않았을 지라도, 해당 구성에 의해 예측 가능한 효과 또한 인정되어야 함은 당연하다.

10: 지문
12: 흔적
20: 접촉면
30: 덮개
41: 제1광원
42: 제2광원
51: 제1광센서
52: 제2광센서

Claims (19)

1. 지문이 접촉하는 접촉면;
   상기 접촉면에 제1광을 조사하는 제1광원;
   상기 접촉면에 상기 제1광과 다른 피크파장을 가지는 제2광을 조사하는 제2광원; 및
   상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제1광을 측정하는 제1광센서;
   상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제2광을 측정하는 제2광센서; 및
   상기 제1광센서에서 획득한 제1이미지와 상기 제2광센서에서 획득한 제2이미지를 비교하여 지문의 진정성을 확인하는 판단수단;
   을 포함하는 지문 인식 장치.
   
2. 청구항 1에 있어서,
   상기 제1광원은 자외선인 지문 인식 장치.
   
3. 청구항 2에 있어서,
   상기 제1광원은 접촉면의 외측에 존재하는 지문 인식 장치.
   
4. 청구항 2에 있어서,
   상기 제1광센서는 접촉면의 외측에 존재하는 지문 인식 장치.
   
5. 청구항 2에 있어서,
   상기 제1광센서는 상기 지문이 접촉면에서 이탈된 후 제1이미지를 획득하는 지문 인식 장치.
   
6. 청구항 1에 있어서,
   상기 제2광센서는 상기 지문이 접촉면에 접촉된 상태에서 제2이미지를 획득하는 지문 인식 장치.
   
7. 청구항 2에 있어서,
   상기 자외선은 200 ~ 365 nm 내에서 피크파장을 가지는 지문 인식 장치.
   
8. 청구항 2에 있어서,
   상기 접촉면의 외측에는 자외선의 외부 방출을 방지하는 덮개가 구비되는 지문 인식 장치.
   
9. 청구항 1에 있어서,
   상기 제1광원과 제2광원 중 적어도 어느 한 광원 전방에 광원측 편광판이 설치되고,
   상기 제1광센서와 상기 제2광센서 중 적어도 어느 한 광원 전방에 광센서측 편광판이 설치되는 지문 인식 장치.
   
10. 청구항 9에 있어서,
    상기 광원측 편광판과 상기 광센서측 편광판은 서로 평행한 편광각을 이루는 지문 인식 장치.
    
11. 청구항 1에 있어서,
    상기 제1광원과 제2광원은 하나의 광원이며,
    상기 제1광과 상기 제2광은 광원 전방에 위치하는 필터의 종류에 따라 결정되는 지문 인식 장치.
    
12. 청구항 1에 있어서,
    상기 제1광센서와 상기 제2광센서는 하나의 광센서이며,
    측정되는 광의 종류가 광센서 전방에 위치하는 필터의 종류에 따라 결정되는 지문 인식 장치.
    
13. 청구항 1에 있어서,
    상기 제1광센서와 상기 제2광센서는 하나의 광센서이며,
    측정되는 광의 파장은 광센서에서 측정된 신호를 필터링하여 결정되는 지문 인식 장치.
    
14. 지문이 접촉하는 접촉면;
    상기 접촉면에 제1광을 조사하는 제1광원; 및
    상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제1광을 측정하는 제1광센서;를 포함하는 지문 인식 장치를 이용하여 지문을 인식하는 방법으로서,
    상기 접촉면에 지문이 접촉하고 이탈된 후 제1광센서가 상기 접촉면에 조사된 제1광의 투과광, 반사광 또는 산란광을 상기 제1광센서로 측정하여 제1이미지를 획득하는 지문 인식 방법.
    
15. 청구항 14에 있어서,
    상기 제1광은 자외선을 포함하는 지문 인식 방법.
    
16. 청구항 14에 있어서,
    상기 지문 인식 장치는
    상기 접촉면에 상기 제1광과 다른 피크파장을 가지는 제2광을 조사하는 제2광원; 및 상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제2광을 측정하는 제2광센서를 더 포함하고,
    상기 접촉면에 지문이 접촉한 상태에서 상기 접촉면에 조사된 제2광의 투과광, 반사광 또는 산란광을 상기 제2광센서로 측정하여 제2이미지를 획득하는 지문 인식 방법.
    
17. 청구항 16에 있어서,
    상기 제1이미지와 제2이미지를 비교하여 지문의 진정성을 판단하는 지문 인식 방법.
    
18. 지문이 접촉하는 접촉면;
    상기 접촉면에 제1광을 조사하는 제1광원;
    상기 접촉면을 투과하거나 상기 접촉면에서 반사되거나 상기 접촉면에서 산란된 제1광을 측정하는 제1광센서; 및
    상기 접촉면에 상기 지문이 접촉한 상태와 접촉하지 않은 상태를 감지하는 감지수단;을 포함하고,
    상기 감지수단에 의해 접촉면에 지문이 접촉한 상태 이후 지문이 접촉하지 않은 상태가 감지된 경우, 상기 제1광센서에서 제1이미지를 획득하는 지문 인식 장치.
    
19. 청구항 18에 있어서,
    상기 제1광은 자외선인 지문 인식 장치.

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