KR20160050158A - 스캔 센스 드라이버 및 이를 포함하는 디스플레이 장치 - Google Patents

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Abstract

스캔 센스 드라이버는 스캔라인 드라이버 및 센스 드라이버를 포함할 수 있다. 스캔라인 드라이버는 복수의 클럭 신호들, 글로벌 클럭 신호 및 스캔 입력 신호에 기초하여 스캔 구간 동안 스캔라인 인에이블 신호를 제공한다. 센스 드라이버는 복수의 클럭 신호들 및 센스 입력 신호에 기초하여 센스 구간 동안 센스 인에이블 신호를 제공한다. 본 발명에 따른 디스플레이 장치를 사용하면, 스캔라인 드라이버에 인가되는 클럭 신호들을 센스 드라이버에 인가하여 센스 인에이블 신호를 생성할 수 있다. 이 경우, 센스 드라이버에 입력되는 클럭 신호들을 위한 별도의 핀들이 요구되지 않기 때문에 layout 면적을 감소시킬 수 있다.

Description

스캔 센스 드라이버 및 이를 포함하는 디스플레이 장치{SCAN SENSE DRIVER AND DISPLAY DEVICE INCLUDING THE SAME}
본 발명은 디스플레이 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 스캔 센스 드라이버 및 이를 포함하는 디스플레이 장치에 관한 것이다.
유기 발광 다이오드(Organic Light-Emitting Diode, OLED)는 발광 시간이 증가함에 따라 발광 효율이 감소할 수 있다. 유기 발광 다이오드의 발광 효율이 감소하면, 디스플레이 장치의 화질 열화가 발생할 수 있다. 따라서 디스플레이 장치의 화질 열화를 감지하기 위하여 다양한 연구들이 진행되고 있다.
본 발명의 일 목적은 스캔라인 드라이버에 인가되는 클럭 신호들을 센스 드라이버에 인가하여 센스 인에이블 신호를 생성함으로써 layout 면적을 감소시킬 수 있는 스캔 센스 드라이버를 제공하는 것이다.
본 발명의 일 목적은 스캔 라인 드라이버에 인가되는 클럭 신호들을 센스 드라이버에 인가하여 센스 인에이블 신호를 생성함으로써 layout 면적을 감소시킬 수 있는 디스플레이 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 스캔 센스 드라이버는 스캔라인 드라이버 및 센스 드라이버를 포함할 수 있다. 상기 스캔라인 드라이버는 복수의 클럭 신호들, 글로벌 클럭 신호 및 스캔 입력 신호에 기초하여 스캔 구간 동안 스캔라인 인에이블 신호를 제공한다. 상기 센스 드라이버는 상기 복수의 클럭 신호들 및 센스 입력 신호에 기초하여 센스 구간 동안 센스 인에이블 신호를 제공한다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들의 파형은 상기 센스 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들의 파형과 다를 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 제1 시간 간격일 수 있다. 상기 센스 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들이 상기 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 상기 제1 시간 간격과 상이한 제2 시간 간격일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 제3 시간 간격일 수 있다. 상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 상기 제2 시간 간격일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 제1 시간 간격은 상기 제3 시간 간격보다 클 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 제1 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임의 2배일 수 있다. 상기 제3 시간 간격은 상기 호리존탈 타임과 동일할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 제2 시간 간격은 상기 제1 시간 간격보다 클 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 제1 시간 간격은 상기 제3 시간 간격과 동일할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 제1 시간 간격 및 상기 제3 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(horizontal time)일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 스캔라인 드라이버가 동작한 총 구동 시간에 기초하여 상기 센스 드라이버는 상기 센스 인에이블 신호를 제공할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 스캔 센스 드라이버가 턴-온되는 경우, 상기 센스 드라이버는 상기 센스 인에이블 신호를 제공할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 스캔 구간 동안 상기 센스 입력 신호는 제2 로직 레벨일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 센스 구간 동안 상기 스캔 입력 신호는 제2 로직 레벨일 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치는 컨트롤러, 복수의 스캔 센스 드라이버들 및 픽셀 어레이를 포함한다. 상기 복수의 스캔 센스 드라이버들의 각각은 스캔라인 드라이버 및 센스 드라이버를 포함한다. 상기 컨트롤러는 복수의 클럭 신호들, 글로벌 클럭 신호, 스캔 시작 펄스 및 센스 시작 펄스를 제공한다. 상기 복수의 스캔 센스 드라이버들은 상기 복수의 클럭 신호들, 상기 글로벌 클럭 신호, 상기 스캔 시작 펄스 및 상기 센스 시작 펄스에 기초하여 스캔라인 인에이블 신호들 및 센스 인에이블 신호들을 제공한다. 상기 픽셀 어레이는 상기 스캔라인 인에이블 신호들 및 상기 센스 인에이블 신호들에 기초하여 구동한다. 상기 스캔라인 드라이버는 상기 복수의 클럭 신호들, 상기 글로벌 클럭 신호 및 스캔 입력 신호에 기초하여 스캔 구간 동안 상기 스캔라인 인에이블 신호를 제공한다. 상기 센스 드라이버는 상기 복수의 클럭 신호들 및 센스 입력 신호에 기초하여 센스 구간 동안 상기 센스 인에이블 신호를 제공한다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 복수의 스캔 센스 드라이버들 중 제1 스캔 센스 드라이버에 입력되는 스캔 입력 신호는 상기 스캔 시작 펄스일 수 있다. 상기 복수의 스캔 센스 드라이버들 중 제1 스캔 센스 드라이버에 입력되는 센스 입력 신호는 상기 센스 시작 펄스일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 픽셀어레이에 포함되는 하나의 픽셀은 스캔 구동부 및 센싱부를 포함할 수 있다. 상기 스캔 구동부는 상기 스캔라인 인에이블 신호에 기초하여 데이터 전압에 상응하는 전압을 유기 발광 다이오드에 제공할 수 있다. 상기 센싱부는 상기 센스 인에이블 신호에 기초하여 상기 유기 발광 다이오드의 상태를 검증할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 스캔 구간 및 상기 센스 구간에 따라 상기 복수의 클럭 신호들의 파형을 제어할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 컨트롤러는 상기 스캔 구간 동안 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격이 제1 시간 간격인 상기 복수의 클럭 신호들을 제공할 수 있다. 상기 컨트롤러는 상기 센스 구간 동안 상기 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격이 상기 제1 시간 간격과 상이한 제2 시간 간격인 상기 복수의 클럭 신호들을 제공할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 제3 시간 간격일 수 있다. 상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 상기 제2 시간 간격일 수 있다. 상기 제1 시간 간격은 상기 제3 시간 간격보다 클 수 있다. 상기 제2 시간 간격은 상기 제1 시간 간격보다 클 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 상기 제1 시간 간격은 상기 제3 시간 간격과 동일할 수 있다. 상기 제1 시간 간격 및 상기 제3 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임일 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 스캔 센스 드라이버는 스캔라인 드라이버에 인가되는 클럭 신호들을 센스 드라이버에 인가하여 센스 인에이블 신호를 생성함으로써 layout 면적을 감소시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 스캔 센스 드라이버를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 스캔 센스 드라이버에 포함되는 스캔라인 드라이버의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 3는 도 2의 스캔라인 드라이버의 일 동작 예를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 4는 도 1의 스캔 센스 드라이버에 포함되는 센스 드라이버의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 5는 도 4의 센스 드라이버의 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 6는 스캔 구간 및 센스 구간에서 클럭 신호들의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 도 2의 스캔라인 드라이버의 다른 동작 예를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 8은 스캔 구간 및 센스 구간에서 클럭 신호들의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 도 1에 포함되는 센스 드라이버의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 10 내지 12은 스캔 구간 및 센스 구간에서 스캔 입력 신호 및 센스 입력 신호를 설명하기 위한 도면이다.
도 13는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치를 나타내는 블록도이다.
도 14는 도 13의 디스플레이 장치의 픽셀 어레이에 포함되는 하나의 픽셀을 나타내는 도면이다.
도 15는 도 13의 디스플레이 장치가 스캔 구간에서 동작하는 경우를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 16는 도 13의 디스플레이 장치가 센스 구간에서 동작하는 경우를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 17은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치를 컴퓨팅 시스템에 응용한 예를 나타내는 블록도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 스캔 센스 드라이버를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 스캔 센스 드라이버(10)는 스캔라인 드라이버(100) 및 센스 드라이버(300)를 포함할 수 있다. 예를 들어 스캔라인 드라이버(100)는 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)를 제공할 수 있다. 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)가 인에이블되는 경우, 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)에 상응하는 스캔라인은 인에이블될 수 있다. 도 13 및 도 14를 참조하여 후술하는 바와 같이, 센스 드라이버(300)는 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다. 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)가 인에이블 되는 경우, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)에 상응하는 센스 인에이블 트랜지스터(617)는 턴-온될 수 있다.
센스 인에이블 트랜지스터(617)가 턴-온되는 경우, 데이터 전압 라인(VDATA_L)으로부터 전달되는 센싱 전압(VS)은 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 유기 발광 다이오드(615)에 전달될 수 있다. 센싱 전압(VS)이 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 유기 발광 다이오드(615)에 전달되는 경우, 상응하는 센싱 전류(IS)가 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 데이터 전압 라인(VDATA_L)으로 전달될 수 있다. 센싱 전류(IS)를 이용하면 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 확인할 수 있다. 스캔 구간(SCTI)은 스캔라인을 인에이블 하기 위한 시간 구간일 수 있다. 센스 구간(SETI)은 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하기 위한 시간 구간 일 수 있다.
스캔라인 드라이버(100)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3), 글로벌 클럭 신호(GCLK) 및 스캔 입력 신호(SCAN_IN)에 기초하여 스캔 구간(SCTI) 동안 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)를 제공한다. 센스 드라이버(300)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 및 센스 입력 신호(SENSE_IN)에 기초하여 센스 구간(SETI) 동안 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공한다. 예를 들어 스캔라인 드라이버(100) 및 센스 드라이버(300)로 입력되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)은 동일할 수 있다. 따라서 본 발명에 따른 스캔 센스 드라이버(10)를 사용하면, 스캔라인 드라이버(100)에 인가되는 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)을 센스 드라이버(300)에 인가하여 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 생성할 수 있다. 이 경우, 센스 드라이버(300)에 입력되는 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)을 위한 별도의 핀들이 요구되지 않기 때문에 layout 면적을 감소시킬 수 있다.
도 2는 도 1의 스캔 센스 드라이버에 포함되는 스캔라인 드라이버의 일 예를 나타내는 회로도이고, 도 3는 도 2의 스캔라인 드라이버의 일 동작 예를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 스캔라인 드라이버(100)는 복수의 스캔 트랜지스터들(111 내지 119)을 포함할 수 있다. 스캔라인 드라이버(100)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3), 글로벌 클럭 신호(GCLK) 및 스캔 입력 신호(SCAN_IN)에 기초하여 스캔 구간(SCTI) 동안 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)를 제공할 수 있다. 도 13을 참조하여 후술하는 바와 같이, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3), 글로벌 클럭 신호(GCLK) 및 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 컨트롤러(200)로부터 제공될 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)은 제1 내지 제4 에스 클럭 신호들(SCLK1 내지 SCLK4) 중에서 선택될 수 있다. 예를 들어, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제1 클럭 신호(CLK1)는 제4 에스 클럭 신호(SCLK4)일 수 있고, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제2 클럭 신호(CLK2)는 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)일 수 있고, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제3 클럭 신호(CLK3)는 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)일 수 있다. 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 스캔 시작 펄스(SSP)일 수 있다.
예를 들어, 제1 클럭 신호(CLK1)가 로직 로우 레벨인 경우, 제3 노드(N3)와 연결되는 제1 스캔 트랜지스터(113)는 턴-온될 수 있다. 제1 스캔 트랜지스터(113)가 턴-온되는 경우, 제4 노드(N4)는 로직 로우 레벨일 수 있다. 제4 노드(N4)가 로직 로우 레벨인 경우, 제2 스캔 트랜지스터(115)는 턴-온될 수 있다. 제2 스캔 트랜지스터(115)가 턴-온되는 경우, 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)는 로직 하이 레벨일 수 있다. 이후, 스캔 시작 펄스(SSP)에 해당하는 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 로직 로우 레벨일 수 있고, 제2 클럭 신호(CLK2)가 로직 로우 레벨일 수 있다. 제2 클럭 신호(CLK2)가 로직 로우 레벨인 경우, 제3 스캔 트랜지스터(119)는 턴-온될 수 있다. 제3 스캔 트랜지스터(119)가 턴-온되는 경우, 로직 로우 레벨인 스캔 입력 신호(SCAN_IN)가 제1 노드(N1)에 전달될 수 있다. 제1 노드(N1)가 로직 로우 레벨인 경우, 제4 스캔 트랜지스터(116)는 턴-온될 수 있다. 제4 스캔 트랜지스터(116)가 턴-온되는 경우, 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)는 제3 클럭 신호(CLK3)일 수 있다. 이 경우, 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)는 로직 로우 레벨일 수 있다.
도 4는 도 1의 스캔 센스 드라이버에 포함되는 센스 드라이버의 일 예를 나타내는 회로도이고, 도 5는 도 4의 센스 드라이버의 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 4 및 도 5를 참조하면, 센스 드라이버(300)는 복수의 센스 트랜지스터들(311 내지 317 및 319)을 포함할 수 있다. 센스 드라이버(300)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 및 센스 입력 신호(SENSE_IN)에 기초하여 센스 구간(SETI) 동안 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 및 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 컨트롤러(200)로부터 제공될 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)은 제1 내지 제4 에스 클럭 신호들(SCLK1 내지 SCLK4) 중에서 선택될 수 있다. 예를 들어, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제1 클럭 신호(CLK1)는 제4 에스 클럭 신호(SCLK4)일 수 있고, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제2 클럭 신호(CLK2)는 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)일 수 있고, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제3 클럭 신호(CLK3)는 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)일 수 있다. 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 센스 시작 펄스(SESP)일 수 있다.
예를 들어, 제1 클럭 신호(CLK1)가 로직 로우 레벨인 경우, 제8 노드(N8)와 연결되는 제1 센스 트랜지스터(313)는 턴-온될 수 있다. 제1 센스 트랜지스터(313)가 턴-온되는 경우, 제9 노드(N9)는 로직 로우 레벨일 수 있다. 제9 노드(N9)가 로직 로우 레벨인 경우, 제2 센스 트랜지스터(315)는 턴-온될 수 있다. 제2 센스 트랜지스터(315)가 턴-온되는 경우, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)는 로직 하이 레벨일 수 있다. 이후, 센스 시작 펄스(SESP)에 해당하는 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 로직 로우 레벨일 수 있고, 제2 클럭 신호(CLK2)가 로직 로우 레벨일 수 있다. 제2 클럭 신호(CLK2)가 로직 로우 레벨인 경우, 제3 센스 트랜지스터(319)는 턴-온될 수 있다. 제3 센스 트랜지스터(319)가 턴-온되는 경우, 로직 로우 레벨인 센스 입력 신호(SENSE_IN)가 제6 노드(N6)에 전달될 수 있다. 제6 노드(N6)가 로직 로우 레벨인 경우, 제4 센스 트랜지스터(316)는 턴-온될 수 있다. 제4 센스 트랜지스터(316)가 턴-온되는 경우, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)는 제3 클럭 신호(CLK3)일 수 있다. 이 경우, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)는 로직 로우 레벨일 수 있다.
도 6는 스캔 구간 및 센스 구간에서 클럭 신호들의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 3, 5 및 6을 참조하면, 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)의 파형은 센스 구간(SETI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)의 파형과 다를 수 있다. 예시적인 실시예에 있어서, 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 제1 시간 간격일 수 있다. 센스 구간(SETI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 제1 시간 간격과 상이한 제2 시간 간격(ST)일 수 있다. 예를 들어 제1 로직 레벨은 로직 로우 레벨일 수 있고, 제2 로직 레벨은 로직 하이 레벨일 수 있다. 제1 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(H)의 2배일 수 있다. 호리존탈 타임(H)은 스캔라인이 인에이블되는 시간 간격일 수 있다.
센스 구간(SETI)은 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하기 위한 시간 구간 일 수 있다. 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 스캔라인이 인에이블되는 시간 간격일 수 있다. 센스 구간(SETI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)를 탐지하기 위하여 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 인에이블하는 시간 간격일 수 있다. 예를 들어, 센스 구간(SETI)은 스캔 구간(SCTI) 보다 클 수 있다. 또한 센스 구간(SETI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격보다 클 수 있다. 예를 들어, 제2 시간 간격(ST)은 수 us보다 클 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 인접한 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 사이의 시간 간격은 제3 시간 간격일 수 있다. 예를 들어 스캔 구간(SCTI) 동안 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간과 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간 사이의 간격은 제3 시간 간격일 수 있다. 제3 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(H)일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 센스 구간(SETI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 인접한 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 사이의 시간 간격은 제2 시간 간격(ST)일 수 있다. 예를 들어 센스 구간(SETI) 동안 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간과 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간 사이의 간격은 제2 시간 간격(ST)일 수 있다. 제2 시간 간격(ST)은 수 us보다 클 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 제1 시간 간격은 제3 시간 간격보다 클 수 있다. 예를 들어 제1 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(H)의 2배일 수 있다. 제3 시간 간격은 호리존탈 타임(H)과 동일할 수 있다. 이 경우, 제1 시간 간격은 제3 시간 간격보다 클 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 제2 시간 간격(ST)은 제1 시간 간격보다 클 수 있다. 예를 들어 제1 시간 간격은 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격일 수 있다. 제2 시간 간격(ST)은 센스 구간(SETI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격일 수 있다. 스캔 구간(SCTI)은 스캔라인을 인에이블 하기 위한 시간 구간일 수 있다. 센스 구간(SETI)은 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하기 위한 시간 구간 일 수 있다. 제 1 시간 간격은 수 us보다 작을 수 있고, 제2 시간 간격(ST)은 수 us보다 클 수 있다.
도 7은 도 2의 스캔라인 드라이버의 다른 동작 예를 설명하기 위한 타이밍도이고, 도 8은 스캔 구간 및 센스 구간에서 클럭 신호들의 다른 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 7 및 8을 참조하면, 제1 시간 간격은 제3 시간 간격과 동일할 수 있다. 제1 시간 간격은 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격일 수 있다. 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 스캔라인이 인에이블되는 시간 간격일 수 있다. 제3 시간 간격은 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격일 수 있다. 예를 들어 스캔 구간(SCTI) 동안 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간과 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간 사이의 간격은 제3 시간 간격일 수 있다. 예를 들어 제1 로직 레벨은 로직 로우 레벨일 수 있고, 제2 로직 레벨은 로직 하이 레벨일 수 있다. 제1 시간 간격 및 제3 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(H)(horizontal time)과 동일할 수 있다. 이 경우, 센스 구간(SETI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 제2 시간 간격(ST)일 수 있다. 센스 구간(SETI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 제2 시간 간격(ST)일 수 있다.
도 9는 도 1에 포함되는 센스 드라이버의 동작을 설명하기 위한 도면이다.
도 4, 5 및 도 9를 참조하면, 센스 드라이버(300)는 복수의 센스 트랜지스터들(311 내지 317 및 319)을 포함할 수 있다. 센스 드라이버(300)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 및 센스 입력 신호(SENSE_IN)에 기초하여 센스 구간(SETI) 동안 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 및 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 컨트롤러(200)로부터 제공될 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)은 제1 내지 제4 에스 클럭 신호들(SCLK1 내지 SCLK4) 중에서 선택될 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 스캔라인 드라이버(100)가 동작한 총 구동 시간에 기초하여 센스 드라이버(300)는 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다. 예를 들어, 스캔라인 드라이버(100)가 동작한 총 구동 시간이 미리 정해진 시간 간격에 도달하면 센스 드라이버(300)는 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하기 위하여 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 스캔 센스 드라이버(10)가 턴-온되는 경우, 센스 드라이버(300)는 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다. 예를 들어, 스캔 센스 드라이버(10)가 턴-온될 때마다 센스 드라이버(300)는 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하기 위하여 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다. 예를 들어, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)가 인에이블 되는 경우, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)에 상응하는 센스 인에이블 트랜지스터(617)는 턴-온될 수 있다. 센스 인에이블 트랜지스터(617)가 턴-온되는 경우, 데이터 전압 라인(VDATA_L)으로부터 전달되는 센싱 전압(VS)은 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 유기 발광 다이오드(615)에 전달될 수 있다. 센싱 전압(VS)이 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 유기 발광 다이오드(615)에 전달되는 경우, 상응하는 센싱 전류(IS)가 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 데이터 전압 라인(VDATA_L)으로 전달될 수 있다. 센싱 전류(IS)를 이용하면 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 확인할 수 있다.
도 10 내지 12은 스캔 구간 및 센스 구간에서 스캔 입력 신호 및 센스 입력 신호를 설명하기 위한 도면이다.
도 10 내지 12를 참조하면, 본 발명에 따른 스캔 센스 드라이버(10)를 포함하는 디스플레이 장치는 스캔 라인을 인에이블하는 스캔 구간(SCTI) 동안에는 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하는 센싱 동작을 수행할 수 없다. 또한 본 발명에 따른 스캔 센스 드라이버(10)를 포함하는 디스플레이 장치는 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하는 센스 구간(SETI) 동안에는 스캔라인을 인에이블하여 데이터 전압(VDATA)을 전달하는 동작을 수행할 수 없다. 예를 들어, 스캔 구간(SCTI) 동안 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 제2 로직 레벨일 수 있다. 제1 로직 레벨은 로직 로우 레벨일 수 있고, 제2 로직 레벨은 로직 하이 레벨일 수 있다. 스캔 구간(SCTI) 동안 센스 입력 신호(SENSE_IN)가 제2 로직 레벨인 경우, 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하는 센싱 동작을 차단할 수 있다. 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 센스 시작 펄스(SESP)일 수 있다. 예를 들어, 센스 구간(SETI) 동안 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 제2 로직 레벨일 수 있다. 센스 구간(SETI) 동안 스캔 입력 신호(SCAN_IN)가 제2 로직 레벨인 경우, 스캔라인을 인에이블하여 데이터 전압(VDATA)을 전달하는 동작은 차단될 수 있다. 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 스캔 시작 펄스(SSP)일 수 있다.
도 13는 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치를 나타내는 블록도이고, 도 14는 도 13의 디스플레이 장치의 픽셀 어레이에 포함되는 하나의 픽셀을 나타내는 도면이다.
도 13 및 14를 참조하면, 디스플레이 장치는 컨트롤러(200), 복수의 스캔 센스 드라이버들(400) 및 픽셀 어레이(600)를 포함한다. 복수의 스캔 센스 드라이버들(400)의 각각은 스캔라인 드라이버(100) 및 센스 드라이버(300)를 포함한다. 컨트롤러(200)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3), 글로벌 클럭 신호(GCLK), 스캔 시작 펄스(SSP) 및 센스 시작 펄스(SESP)를 제공한다. 복수의 스캔 센스 드라이버들(400)은 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3), 글로벌 클럭 신호(GCLK), 스캔 시작 펄스(SSP) 및 센스 시작 펄스(SESP)에 기초하여 스캔라인 인에이블 신호들(SCAN_EN[1] 내지 SCAN_EN[3]) 및 센스 인에이블 신호들(SENSE_EN[1] 내지 SENSE_EN[3])을 제공한다. 픽셀 어레이(600)는 스캔라인 인에이블 신호들(SCAN_EN[1] 내지 SCAN_EN[3]) 및 센스 인에이블 신호들(SENSE_EN[1] 내지 SENSE_EN[3])에 기초하여 구동한다. 스캔라인 드라이버(100)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3), 글로벌 클럭 신호(GCLK) 및 스캔 입력 신호(SCAN_IN)에 기초하여 스캔 구간(SCTI) 동안 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)를 제공한다. 센스 드라이버(300)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 및 센스 입력 신호(SENSE_IN)에 기초하여 센스 구간(SETI) 동안 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공한다.
예를 들어 스캔라인 드라이버(100)는 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)를 제공할 수 있다. 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)가 인에이블되는 경우, 스캐라인 인에이블 신호에 상응하는 스캔라인은 인에이블될 수 있다. 스캔 구간(SCTI)은 스캔라인을 인에이블 하기 위한 시간 구간일 수 있다. 센스 구간(SETI)은 픽셀 어레이(600)에 포함되는 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 탐지하기 위한 시간 구간 일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 복수의 스캔 센스 드라이버들(400) 중 제1 스캔 센스 드라이버(10)에 입력되는 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 스캔 시작 펄스(SSP)일 수 있다. 복수의 스캔 센스 드라이버들(400) 중 제1 스캔 센스 드라이버(10)에 입력되는 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 센스 시작 펄스(SESP)일 수 있다. 또한 복수의 스캔 센스 드라이버들(400) 중 제2 스캔 센스 드라이버(11)에 입력되는 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 제1 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN[1])일 수 있다. 복수의 스캔 센스 드라이버들(400) 중 제2 스캔 센스 드라이버(11)에 입력되는 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 제1 센스 인에이블 신호(SENSE_EN[1])일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 픽셀 어레이(600)에 포함되는 하나의 픽셀은 스캔 구동부(611) 및 센싱부(613)를 포함할 수 있다. 스캔 구동부(611)는 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)에 기초하여 데이터 전압(VDATA)에 상응하는 전압을 유기 발광 다이오드(615)에 제공할 수 있다. 센싱부(613)는 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)에 기초하여 유기 발광 다이오드(615)의 상태를 검증할 수 있다. 예를 들어, 센스 드라이버(300)는 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다. 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)가 인에이블 되는 경우, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)에 상응하는 센스 인에이블 트랜지스터(617)는 턴-온될 수 있다. 센스 인에이블 트랜지스터(617)가 턴-온되는 경우, 데이터 전압 라인(VDATA_L)으로부터 전달되는 센싱 전압(VS)은 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 유기 발광 다이오드(615)에 전달될 수 있다. 센싱 전압(VS)이 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 유기 발광 다이오드(615)에 전달되는 경우, 상응하는 센싱 전류(IS)가 센스 인에이블 트랜지스터(617)를 통해서 데이터 전압 라인(VDATA_L)으로 전달될 수 있다. 센싱 전류(IS)를 이용하면 유기 발광 다이오드(615)의 이상 유무를 확인할 수 있다.
도 15는 도 13의 디스플레이 장치가 스캔 구간에서 동작하는 경우를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 2, 13 및 15를 참조하면, 스캔라인 드라이버(100)는 복수의 스캔 트랜지스터들(111 내지 119)을 포함할 수 있다. 스캔라인 드라이버(100)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3), 글로벌 클럭 신호(GCLK) 및 스캔 입력 신호(SCAN_IN)에 기초하여 스캔 구간(SCTI) 동안 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)를 제공할 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3), 글로벌 클럭 신호(GCLK) 및 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 컨트롤러(200)로부터 제1 스캔 센스 드라이버(10)에 제공될 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)은 제1 내지 제4 에스 클럭 신호들(SCLK1 내지 SCLK4) 중에서 선택될 수 있다. 예를 들어, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제1 클럭 신호(CLK1)는 제4 에스 클럭 신호(SCLK4)일 수 있고, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제2 클럭 신호(CLK2)는 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)일 수 있고, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제3 클럭 신호(CLK3)는 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)일 수 있다. 이 경우, 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 스캔 시작 펄스(SSP)일 수 있다. 예를 들어, 제1 클럭 신호(CLK1)가 로직 로우 레벨인 경우, 제3 노드(N3)와 연결되는 제1 스캔 트랜지스터(113)는 턴-온될 수 있다. 제1 스캔 트랜지스터(113)가 턴-온되는 경우, 제4 노드(N4)는 로직 로우 레벨일 수 있다. 제4 노드(N4)가 로직 로우 레벨인 경우, 제2 스캔 트랜지스터(115)는 턴-온될 수 있다. 제2 스캔 트랜지스터(115)가 턴-온되는 경우, 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)는 로직 하이 레벨일 수 있다. 이후, 스캔 시작 펄스(SSP)에 해당하는 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 로직 로우 레벨일 수 있고, 제2 클럭 신호(CLK2)가 로직 로우 레벨일 수 있다. 제2 클럭 신호(CLK2)가 로직 로우 레벨인 경우, 제3 스캔 트랜지스터(119)는 턴-온될 수 있다. 제3 스캔 트랜지스터(119)가 턴-온되는 경우, 로직 로우 레벨인 스캔 입력 신호(SCAN_IN)가 제1 노드(N1)에 전달될 수 있다. 제1 노드(N1)가 로직 로우 레벨인 경우, 제4 스캔 트랜지스터(116)는 턴-온될 수 있다. 제4 스캔 트랜지스터(116)가 턴-온되는 경우, 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN)는 제3 클럭 신호(CLK3)일 수 있다.
이 경우, 제1 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN[1])는 로직 로우 레벨일 수 있다. 복수의 스캔 센스 드라이버들(400) 중 제2 스캔 센스 드라이버(11)에 입력되는 스캔 입력 신호(SCAN_IN)는 제1 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN[1])일 수 있다. 제2 스캔 라인 드라이버에서도 제1 스캔 라인 드라이버의 동작과 동일한 방식으로 제2 스캔라인 인에이블 신호(SCAN_EN[2])를 생성할 수 있다.
도 16는 도 13의 디스플레이 장치가 센스 구간에서 동작하는 경우를 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 4, 13 및 16을 참조하면, 센스 드라이버(300)는 복수의 센스 트랜지스터들(311 내지 317 및 319)을 포함할 수 있다. 스 드라이버(300)는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 및 센스 입력 신호(SENSE_IN)에 기초하여 센스 구간(SETI) 동안 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 제공할 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 및 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 컨트롤러(200)로부터 제1 스캔 센스 드라이버(10)에 제공될 수 있다. 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)은 제1 내지 제4 에스 클럭 신호들(SCLK1 내지 SCLK4) 중에서 선택될 수 있다. 예를 들어, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제1 클럭 신호(CLK1)는 제4 에스 클럭 신호(SCLK4)일 수 있고, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제2 클럭 신호(CLK2)는 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)일 수 있고, 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 제3 클럭 신호(CLK3)는 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)일 수 있다. 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 센스 시작 펄스(SESP)일 수 있다.
예를 들어, 제1 클럭 신호(CLK1)가 로직 로우 레벨인 경우, 제8 노드(N8)와 연결되는 제1 센스 트랜지스터(313)는 턴-온될 수 있다. 제1 센스 트랜지스터(313)가 턴-온되는 경우, 제9 노드(N9)는 로직 로우 레벨일 수 있다. 제9 노드(N9)가 로직 로우 레벨인 경우, 제2 센스 트랜지스터(315)는 턴-온될 수 있다. 제2 센스 트랜지스터(315)가 턴-온되는 경우, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)는 로직 하이 레벨일 수 있다. 이후, 센스 시작 펄스(SESP)에 해당하는 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 로직 로우 레벨일 수 있고, 제2 클럭 신호(CLK2)가 로직 로우 레벨일 수 있다. 제2 클럭 신호(CLK2)가 로직 로우 레벨인 경우, 제3 센스 트랜지스터(319)는 턴-온될 수 있다. 제3 센스 트랜지스터(319)가 턴-온되는 경우, 로직 로우 레벨인 센스 입력 신호(SENSE_IN)가 제6 노드(N6)에 전달될 수 있다. 제6 노드(N6)가 로직 로우 레벨인 경우, 제4 센스 트랜지스터(316)는 턴-온될 수 있다. 제4 센스 트랜지스터(316)가 턴-온되는 경우, 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)는 제3 클럭 신호(CLK3)일 수 있다.
이 경우, 제1 센스 인에이블 신호(SENSE_EN[1])는 로직 로우 레벨일 수 있다. 복수의 스캔 센스 드라이버들(400) 중 제2 스캔 센스 드라이버(11)에 입력되는 센스 입력 신호(SENSE_IN)는 제1 센스 인에이블 신호(SENSE_EN[1])일 수 있다. 제2 스캔 라인 드라이버에서도 제1 스캔 라인 드라이버의 동작과 동일한 방식으로 제2 센스 인에이블 신호(SENSE_EN[2])를 생성할 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 컨트롤러(200)는 스캔 구간(SCTI) 및 센스 구간(SETI)에 따라 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)의 파형을 제어할 수 있다. 예를 들어, 컨트롤러(200)는 스캔 구간(SCTI) 동안 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격이 제1 시간 간격인 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)을 제공할 수 있다. 컨트롤러(200)는 센스 구간(SETI) 동안 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격이 제1 시간 간격과 상이한 제2 시간 간격(ST)인 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)을 제공할 수 있다. 예를 들어 제1 로직 레벨은 로직 로우 레벨일 수 있고, 제2 로직 레벨은 로직 하이 레벨일 수 있다. 제1 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(H)의 2배일 수 있다. 호리존탈 타임(H)은 스캔라인이 인에이블되는 시간 간격일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 제3 시간 간격일 수 있다. 예를 들어 스캔 구간(SCTI) 동안 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간과 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간 사이의 간격은 제3 시간 간격일 수 있다. 제3 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(H)일 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 제2 시간 간격(ST)일 수 있다. 예를 들어 센스 구간(SETI) 동안 제1 에스 클럭 신호(SCLK1)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간과 제2 에스 클럭 신호(SCLK2)가 로직 하이 레벨로부터 로직 로우 레벨로 전이한 시간 사이의 간격은 제2 시간 간격(ST)일 수 있다. 제2 시간 간격(ST)은 수 us보다 클 수 있다. 예시적인 실시예에 있어서, 제1 시간 간격은 제3 시간 간격보다 클 수 있다. 제2 시간 간격(ST)은 제1 시간 간격보다 클 수 있다. 예를 들어 제1 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(H)의 2배일 수 있다. 제3 시간 간격은 호리존탈 타임(H)과 동일할 수 있다. 이 경우, 제1 시간 간격은 제3 시간 간격보다 클 수 있다.
예시적인 실시예에 있어서, 제1 시간 간격은 제3 시간 간격과 동일할 수 있다. 제1 시간 간격 및 제3 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(H)일 수 있다. 제1 시간 간격은 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격일 수 있다. 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 스캔라인이 인에이블되는 시간 간격일 수 있다. 제3 시간 간격은 스캔 구간(SCTI) 동안 제공되는 복수의 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3) 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격일 수 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 장치를 사용하면, 스캔라인 드라이버(100)에 인가되는 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)을 센스 드라이버(300)에 인가하여 센스 인에이블 신호(SENSE_EN)를 생성할 수 있다. 이 경우, 센스 드라이버(300)에 입력되는 클럭 신호들(CLK1 내지 CLK3)을 위한 별도의 핀들이 요구되지 않기 때문에 layout 면적을 감소시킬 수 있다.
도 17은 본 발명의 실시예들에 따른 디스플레이 장치를 컴퓨팅 시스템에 응용한 예를 나타내는 블록도이다.
도 17을 참조하면, 컴퓨팅 시스템(700)는 프로세서(710), 메모리 장치(720), 저장 장치(730), 입출력 장치(740), 파워 서플라이(750) 및 디스플레이 장치(760)를 포함할 수 있다. 컴퓨팅 시스템(700)는 비디오 카드, 사운드 카드, 메모리 카드, USB 장치 등과 통신하거나, 또는 다른 시스템들과 통신할 수 있는 여러 포트(port)들을 더 포함할 수 있다.
프로세서(710)는 특정 계산들 또는 태스크(task)들을 수행할 수 있다. 실시예에 따라, 프로세서(710)는 마이크로프로세서(microprocessor), 중앙 처리 장치(CPU) 등일 수 있다. 프로세서(710)는 어드레스 버스(address bus), 제어 버스(control bus) 및 데이터 버스(data bus) 등을 통하여 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다. 실시예에 따라서, 프로세서(710)는 주변 구성요소 상호연결(Peripheral Component Interconnect; PCI) 버스와 같은 확장 버스에도 연결될 수 있다.
메모리 장치(720)는 컴퓨팅 시스템(700)의 동작에 필요한 데이터들을 저장할 수 있다. 예를 들어, 메모리 장치(720)는 EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), 플래시 메모리(Flash Memory), PRAM(Phase Change Random Access Memory), RRAM(Resistance Random Access Memory), NFGM(Nano Floating Gate Memory), PoRAM(Polymer Random Access Memory), MRAM(Magnetic Random Access Memory), FRAM(Ferroelectric Random Access Memory) 등과 같은 비휘발성 메모리 장치 및/또는 DRAM(Dynamic Random Access Memory), SRAM(Static Random Access Memory), 모바일 DRAM 등과 같은 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다.
저장 장치(730)는 솔리드 스테이트 드라이브(Solid State Drive; SSD), 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive; HDD), 씨디롬(CD-ROM) 등을 포함할 수 있다. 입출력 장치(740)는 키보드, 키패드, 터치패드, 터치스크린, 마우스 등과 같은 입력 수단, 및 스피커, 프린터 등과 같은 출력 수단을 포함할 수 있다. 파워 서플라이(750)는 컴퓨팅 시스템(700)의 동작에 필요한 파워를 공급할 수 있다. 디스플레이 장치(760)는 상기 버스들 또는 다른 통신 링크를 통해서 다른 구성 요소들에 연결될 수 있다.
실시예에 따라, 컴퓨팅 시스템(700)는 디지털 TV(Digital Television), 3D TV, 개인용 컴퓨터(Personal Computer; PC), 가정용 전자기기, 노트북 컴퓨터(Laptop Computer), 태블릿 컴퓨터(Table Computer), 휴대폰(Mobile Phone), 스마트 폰(Smart Phone), 개인 정보 단말기(personal digital assistant; PDA), 휴대형 멀티미디어 플레이어(portable multimedia player; PMP), 디지털 카메라(Digital Camera), 음악 재생기(Music Player), 휴대용 게임 콘솔(portable game console), 내비게이션(Navigation) 등과 같은 디스플레이 장치(760)를 포함하는 임의의 전자 기기일 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 스캔 센스 드라이버는 스캔라인 드라이버에 인가되는 클럭 신호들을 센스 드라이버에 인가하여 센스 인에이블 신호를 생성함으로써 layout 면적을 감소시킬 수 있어 다양한 디스플레이 시스템에 적용될 수 있다. 이상에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (20)

  1. 복수의 클럭 신호들, 글로벌 클럭 신호 및 스캔 입력 신호에 기초하여 스캔 구간 동안 스캔라인 인에이블 신호를 제공하는 스캔라인 드라이버; 및
    상기 복수의 클럭 신호들 및 센스 입력 신호에 기초하여 센스 구간 동안 센스 인에이블 신호를 제공하는 센스 드라이버를 포함하는 스캔 센스 드라이버.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들의 파형은 상기 센스 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들의 파형과 다른 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들이 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 제1 시간 간격이고,
    상기 센스 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들이 상기 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격은 상기 제1 시간 간격과 상이한 제2 시간 간격인 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 제3 시간 간격이고,
    상기 센스 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 상기 제2 시간 간격인 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 시간 간격은 상기 제3 시간 간격보다 큰 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 제1 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(horizontal time)의 2배이고,
    상기 제3 시간 간격은 상기 호리존탈 타임과 동일한 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  7. 제4 항에 있어서,
    상기 제2 시간 간격은 상기 제1 시간 간격보다 큰 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  8. 제4 항에 있어서,
    상기 제1 시간 간격은 상기 제3 시간 간격과 동일한 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 제1 시간 간격 및 상기 제3 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(horizontal time)인 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  10. 제1 항에 있어서,
    상기 스캔라인 드라이버가 동작한 총 구동 시간에 기초하여 상기 센스 드라이버는 상기 센스 인에이블 신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  11. 제1 항에 있어서,
    상기 스캔 센스 드라이버가 턴-온되는 경우, 상기 센스 드라이버는 상기 센스 인에이블 신호를 제공하는 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  12. 제1 항에 있어서,
    상기 스캔 구간 동안 상기 센스 입력 신호는 제2 로직 레벨인 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버.
  13. 제1 항에 있어서,
    상기 센스 구간 동안 상기 스캔 입력 신호는 제2 로직 레벨인 것을 특징으로 하는 스캔 센스 드라이버
  14. 복수의 클럭 신호들, 글로벌 클럭 신호, 스캔 시작 펄스 및 센스 시작 펄스를 제공하는 컨트롤러;
    상기 복수의 클럭 신호들, 상기 글로벌 클럭 신호, 상기 스캔 시작 펄스 및 상기 센스 시작 펄스에 기초하여 스캔라인 인에이블 신호들 및 센스 인에이블 신호들을 제공하는 복수의 스캔 센스 드라이버들; 및
    상기 스캔라인 인에이블 신호들 및 상기 센스 인에이블 신호들에 기초하여 구동하는 픽셀 어레이를 포함하고,
    상기 복수의 스캔 센스 드라이버들의 각각은,
    상기 복수의 클럭 신호들, 상기 글로벌 클럭 신호 및 스캔 입력 신호에 기초하여 스캔 구간 동안 상기 스캔라인 인에이블 신호를 제공하는 스캔라인 드라이버; 및
    상기 복수의 클럭 신호들 및 센스 입력 신호에 기초하여 센스 구간 동안 상기 센스 인에이블 신호를 제공하는 센스 드라이버를 포함하는 디스플레이 장치.
  15. 제14 항에 있어서,
    상기 복수의 스캔 센스 드라이버들 중 제1 스캔 센스 드라이버에 입력되는 스캔 입력 신호는 상기 스캔 시작 펄스이고,
    상기 복수의 스캔 센스 드라이버들 중 제1 스캔 센스 드라이버에 입력되는 센스 입력 신호는 상기 센스 시작 펄스인 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  16. 제14 항에 있어서, 상기 픽셀어레이에 포함되는 하나의 픽셀은,
    상기 스캔라인 인에이블 신호에 기초하여 데이터 전압에 상응하는 전압을 유기 발광 다이오드에 제공하는 스캔 구동부; 및
    상기 센스 인에이블 신호에 기초하여 상기 유기 발광 다이오드의 상태를 검증하는 센싱부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  17. 제14 항에 있어서, 상기 컨트롤러는,
    상기 스캔 구간 및 상기 센스 구간에 따라 상기 복수의 클럭 신호들의 파형을 제어하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  18. 제17 항에 있어서, 상기 컨트롤러는,
    상기 스캔 구간 동안 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격이 제1 시간 간격인 상기 복수의 클럭 신호들을 제공하고,
    상기 센스 구간 동안 상기 제1 로직 레벨을 유지하는 시간 간격이 상기 제1 시간 간격과 상이한 제2 시간 간격인 상기 복수의 클럭 신호들을 제공하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  19. 제18 항에 있어서,
    상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 제3 시간 간격이고,
    상기 스캔 구간 동안 제공되는 상기 복수의 클럭 신호들 중 인접한 클럭 신호들 사이의 시간 간격은 상기 제2 시간 간격이고,
    상기 제1 시간 간격은 상기 제3 시간 간격보다 크고,
    상기 제2 시간 간격은 상기 제1 시간 간격보다 큰 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
  20. 제17 항에 있어서,
    상기 제1 시간 간격은 상기 제3 시간 간격과 동일하고,
    상기 제1 시간 간격 및 상기 제3 시간 간격은 미리 정해진 시간 간격에 해당하는 호리존탈 타임(horizontal time)인 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치.
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