KR20160039931A - Apparatus and method for imaging using terahertz electromagnetic - Google Patents

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KR20160039931A KR1020140133255A KR20140133255A KR20160039931A KR 20160039931 A KR20160039931 A KR 20160039931A KR 1020140133255 A KR1020140133255 A KR 1020140133255A KR 20140133255 A KR20140133255 A KR 20140133255A KR 20160039931 A KR20160039931 A KR 20160039931A
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서민아
김익재
김재헌
김철기
이석
이택진
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한국과학기술연구원
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Abstract

An imaging method according to an embodiment of the present invention comprises: a step of generating terahertz electromagnetic waves and irradiating an object with the generated terahertz electromagnetic waves; a step of detecting the terahertz electromagnetic waves reflected from the object and converting the detected terahertz electromagnetic waves into an electrical signal; and a step of obtaining the feature information of the object using the converted electrical signal. Herein, the feature information comprises one or more from the ingredient information of the object and the image information of the object. Moreover, the step of generating terahertz electromagnetic waves and irradiating the object with the terahertz electromagnetic waves can irradiate multiple preset points of the object with the terahertz electromagnetic waves.

Description

테라헤르츠 전자기파를 이용하는 이미징 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR IMAGING USING TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC}[0001] APPARATUS AND METHOD FOR IMAGING USING TERAHERTZ ELECTROMAGNETIC [0002]

본 명세서는 테라헤르츠 전자기파를 이용하는 이미징 장치 및 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게 테라헤르츠 전자기파를 이용하여 대상체의 특징을 분석하는 이미징 장치 및 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an imaging apparatus and method using terahertz electromagnetic waves, and more particularly, to an imaging apparatus and method for analyzing characteristics of a target object using terahertz electromagnetic waves.

최근 기술의 발전에 따라 전자기파를 이용하여 대상체의 성분을 분석하거나 대상체의 이미지를 생성하는 장치들이 나오고 있다. 이러한 장치들은 대상체의 내부면으로부터 반사된 전자기파를 전기적 신호로 변환하고 전기적 신호를 처리함으로써, 대상체의 성분을 분석하거나 이미지를 생성할 수 있다.With recent advances in technology, there are devices that analyze the components of an object using electromagnetic waves or generate an image of the object. These devices can analyze the components of the object or generate an image by converting the electromagnetic waves reflected from the inner surface of the object into electrical signals and processing the electrical signals.

종래의 장치들은 전자기파 중 엑스선이나 원적외선을 이용하여 대상체의 특징을 분석하였다. 그런데, 엑스선을 이용하는 종래의 장치는 투과성이 좋으나 침투 깊이가 짧은 엑스선의 특성으로 인하여 고밀도 백 페인트(lead paint) 등이 사용된 그림과 같은 대상체에 대한 분석이 어렵다. 그리고, 원적외선을 이용하는 종래의 장치들은 공간상의 분해능이 매우 낮아 그 효율이 높지 않으므로, 흑연 등 특정 물질을 포함하는 대상체에 대해 그 반응이 약해 정확한 성분 분석이 어렵다. Conventional devices have analyzed the characteristics of objects by using x-rays or far infrared rays among electromagnetic waves. However, the conventional device using the X-ray has a good permeability but it is difficult to analyze the object such as the picture using the high-density back paint due to the characteristic of the X-ray having a short depth of penetration. Conventional devices using far-infrared rays have very low resolution in space, and their efficiency is not high. Therefore, it is difficult to analyze the exact components of a target including a specific material such as graphite due to its weak reaction.

KR 10-2009-0055232KR 10-2009-0055232

이에, 본 명세서는, 대상체의 성분을 분석하거나 대상체의 이미지를 생성하기 위하여 테라헤르츠 전자기파를 이용하는 이미징 장치 및 방법을 제공하고자 한다. Accordingly, the present specification intends to provide an imaging apparatus and method using terahertz electromagnetic waves to analyze a component of a target object or to generate an image of a target object.

본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 장치는 테라헤르츠 전자기파를 발생하여 대상체에 조사하는 조사부; 상기 대상체로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출하고, 상기 검출된 테라헤르츠 전자기파를 전기적 신호로 변환하는 검출부; 및 상기 변환된 전기적 신호를 이용하여 상기 대상체에 대한 특징 정보를 획득하는 제어부를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 특징 정보는 상기 대상체의 성분에 대한 성분 정보 및 상기 대상체의 이미지에 대한 이미지 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 상기 제어부는, 상기 테라헤르츠 전자기파를 상기 대상체 상의 미리 설정된 복수의 지점에 조사할 수 있다. An imaging apparatus according to an embodiment of the present invention includes an irradiating unit for generating a terahertz electromagnetic wave to irradiate a target object; A detector for detecting the terahertz electromagnetic wave reflected from the object and converting the detected terahertz electromagnetic wave into an electrical signal; And a controller for acquiring feature information on the object using the converted electrical signal. Here, the feature information may include at least one of component information about the component of the object and image information about the image of the object. In addition, the controller may irradiate the terahertz electromagnetic waves to a plurality of predetermined points on the object.

본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 방법은 테라헤르츠 전자기파를 발생하여 대상체에 조사하는 단계; 상기 대상체로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출하고, 상기 검출된 테라헤르츠 전자기파를 전기적 신호로 변환하는 단계; 및 상기 변환된 전기적 신호를 이용하여 상기 대상체에 대한 특징 정보를 획득하는 단계를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 특징 정보는 상기 대상체의 성분에 대한 성분 정보 및 상기 대상체의 이미지에 대한 이미지 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 또한, 테라헤르츠 전자기파를 발생하여 대상체에 조사하는 단계는, 상기 테라헤르츠 전자기파를 대상체 상의 미리 설정된 복수의 지점에 조사할 수 있다. An imaging method according to an embodiment of the present invention includes: generating a terahertz electromagnetic wave to irradiate a target object; Detecting the reflected terahertz electromagnetic wave from the object and converting the detected terahertz electromagnetic wave into an electrical signal; And acquiring feature information on the object using the converted electrical signal. Here, the feature information may include at least one of component information about the component of the object and image information about the image of the object. Further, in the step of generating the terahertz electromagnetic wave and irradiating the object with the terahertz electromagnetic wave, the terahertz electromagnetic wave may be irradiated to a plurality of predetermined points on the object.

본 명세서에 따르면, 이미징 장치는 테라헤르츠 전자기파를 이용하여 비접촉, 비파괴 방식으로 대상체의 특징을 분석할 수 있다. 이를 통해, 전자기파를 이용한 측정 방식으로 비접촉, 비이온화 특성으로 인하여 대상체에 무해하게 대상체를 분석할 수 있고, 시간 의존형 데이터 추출법을 이용하여 시간차로부터 물질의 깊이 정보를 알아낼 수 있다. According to the present specification, an imaging device can analyze characteristics of a target object in a non-contact, non-destructive manner using terahertz electromagnetic waves. Through this, the object can be analyzed harmlessly to the object due to the non-contact and non-ionization characteristics by the measurement method using the electromagnetic wave, and the depth information of the material can be obtained from the time difference using the time dependent data extraction method.

또한, 본 명세서에 따르면, 이미징 장치는 테라헤르츠 이미징을 통해 대상체의 내부를 투시해볼 수 있으므로, 대상체의 내부 이미지를 재구성함으로써 육안으로 볼 수 없는 대상체의 내부 이미지를 확인할 수 있다. 또한, 내부를 투시해볼 수 있으므로, 그림의 표면이 마모되었거나 덧칠된 그림의 경우에도 원래 스케치의 형태를 이미징할 수 있다. 이를 통해, 오래되어 일부가 마모되거나 손상된 문서 또는 미술품 등의 문화재의 복원을 용이하게 수행할 수 있으며, 문화재의 진위 여부를 용이하게 가릴 수 있다. 또한, 이미징 장치는 대상체가 마모되었거나 손상었는지 여부, 대상체의 진위 여부를 확인할 수 있다.Further, according to the present specification, the imaging apparatus can be viewed through the interior of the object through terahertz imaging, so that the internal image of the object that can not be seen with the naked eye can be confirmed by reconstructing the internal image of the object. In addition, since the inside can be seen, the shape of the original sketch can be imaged even when the surface of the picture is worn or the picture is overlaid. Through this, it is possible to easily carry out the restoration of the cultural property such as documents or artworks which are old and partially worn or damaged, and it is possible to easily check the authenticity of the cultural property. Further, the imaging apparatus can confirm whether or not the object is worn or damaged, and whether or not the object is authentic.

또한, 본 명세서에 따르면, 이미징 장치는 테라헤르츠 이미징을 통해 획득된 이미지에 추가적인 영상 처리 및 패턴 인식 방법을 적용하여 대상체에 대한 정확하고 선명한 이미지를 제공할 수 있다. Further, according to the present specification, an imaging apparatus can apply an additional image processing and pattern recognition method to an image obtained through terahertz imaging to provide an accurate and clear image of the object.

도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 장치의 구성도이다.
도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 장치의 개략도이다.
도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 장치에 의해 재구성된 대상체의 이미지를 나타낸다.
도 4는 본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 방법의 순서도이다. 1 is a configuration diagram of an imaging apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic diagram of an imaging device according to one embodiment of the present disclosure;
3 shows an image of an object reconstructed by an imaging device according to an embodiment of the present disclosure;
4 is a flow diagram of an imaging method according to one embodiment of the present disclosure.

이하 첨부 도면들 및 첨부 도면들에 기재된 내용들을 참조하여 실시 예를 상세하게 설명하지만, 청구하고자 하는 범위는 실시 예들에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the accompanying drawings and the accompanying drawings, but the scope of the claims is not limited or limited by the embodiments.

본 명세서에서 사용되는 용어는 기능을 고려하면서 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어를 선택하였으나, 이는 당 분야에 종사하는 기술자의 의도 또는 관례 또는 새로운 기술의 출현 등에 따라 달라질 수 있다. 또한, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있으며, 이 경우 해당되는 명세서의 설명 부분에서 그 의미를 기재할 것이다. 따라서 본 명세서에서 사용되는 용어는, 단순한 용어의 명칭이 아닌 그 용어가 가지는 실질적인 의미와 본 명세서의 전반에 걸친 내용을 토대로 해석되어야 함을 밝혀두고자 한다.As used herein, terms used in the present specification are selected from the general terms that are currently widely used, while taking into consideration the functions, but these may vary depending on the intention or custom of the artisan or the emergence of new techniques. Also, in certain cases, there may be a term selected by the applicant at will, in which case the meaning will be described in the description part of the corresponding specification. Therefore, it is intended that the terminology used herein should be interpreted based on the meaning of the term rather than on the name of the term, and on the entire contents of the specification.

도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 장치의 구성도이다. 본 명세서에 이미징 장치는 대상체의 성분을 분석하고, 대상체의 이미지를 재구성하는 장치를 의미한다. 1 is a configuration diagram of an imaging apparatus according to an embodiment of the present invention. As used herein, an imaging device refers to a device that analyzes the components of an object and reconstructs the image of the object.

도 1을 참조하면, 이미징 장치(1000)는 조사부(110), 검출부(120), 제어부(130)를 포함할 수 있다. 또한, 이미징 장치(1000)는 디스플레이부(200) 및 이동부(300)를 더 포함할 수 있다. 여기서, 디스플레이부(200) 및 이동부(300)는 옵셔널한 구성일 수 있다. Referring to FIG. 1, an imaging apparatus 1000 may include an irradiation unit 110, a detection unit 120, and a control unit 130. In addition, the imaging apparatus 1000 may further include a display unit 200 and a moving unit 300. Here, the display unit 200 and the moving unit 300 may have an optional configuration.

조사부(110)는 테라헤르츠 전자기파를 발생하여 대상체에 조사할 수 있다. 조사부(110)는 테라헤르츠 전자기파를 대상체의 표면 또는 내부에 조사할 수 있다. 여기서, 대상체는 분석이 필요한 2차원 또는 3차원 물체일 수 있다. 예를 들면, 대상체는 단청 및 미술품을 포함하는 문화재일 수 있다. 구체적으로, 대상체는 단청의 일부, 여러 겹의 그림으로 만들어진 병풍, 오래된 고문서를 포함하는 문화재일 수 있다. The irradiation unit 110 can generate terahertz electromagnetic waves and irradiate the object with the terahertz electromagnetic waves. The irradiation unit 110 can irradiate a terahertz electromagnetic wave to the surface or inside of the object. Here, the object may be a two-dimensional or three-dimensional object requiring analysis. For example, the object may be monumental and cultural property including artwork. Specifically, the object may be a cultural property including a part of monochrome, a screen made of multiple layers of pictures, and old documents.

일 실시예에서, 조사부(110)는 테라헤르츠 전자기파를 발생하는 테라헤르츠 광원을 포함할 수 있다. 여기서, 테라헤르츠 전자기파는 0.1 THz 에서 4 THz 사이의 주파수를 갖는 전자기파일 수 있다. 이 주파수 범위의 테라헤르츠 전자기파는 다른 영역의 광원에 비해 상대적으로 넓은 범위를 가지며, 파장으로 변환하면 75 ㎛에서 3 ㎜에 해당될 수 있다. 이는 단청 및 미술품을 포함하는 문화재를 구성하는 물질(예컨대, 안료, 물감, 나무, 아교 등)에 포함된 성분들의 고유 진동수를 포함할 수 있다. 따라서, 이 주파수 (또는 파장) 영역의 전자기파를 이용하는 경우, 이미징 장치(1000)를 통하여 특정 물질(예컨대, 상술한 문화재를 구성하는 물질)의 존재 여부 및 양 등에 대한 반응 여부에 관한 분광 처리를 수행할 수 있다. 또한, 이 주파수 (또는 파장) 영역의 전자기파를 이용하는 경우, 이미징 장치(1000)를 통하여 특정 물질 고유의 진동 모드의 유/무를 판단하거나, 유전율의 대비를 통한 이미징 처리를 수행 할 수 있다.In one embodiment, the illuminator 110 may comprise a terahertz light source that generates terahertz electromagnetic waves. Here, a terahertz electromagnetic wave can be an electromagnetic file having a frequency between 0.1 THz and 4 THz. Terahertz electromagnetic waves in this frequency range have a relatively wide range compared to light sources in other regions, and can be converted to wavelengths from 75 μm to 3 mm. This may include natural frequencies of components included in a material (for example, pigment, paint, wood, glue, etc.) constituting a cultural property including mono and art objects. Therefore, when electromagnetic waves in this frequency (or wavelength) range are used, spectroscopic processing is performed through the imaging apparatus 1000 regarding the presence or the amount of a specific substance (for example, the substance constituting the above-mentioned cultural property) can do. When electromagnetic waves in this frequency (or wavelength) range are used, it is possible to determine the presence or absence of a vibration mode peculiar to a specific material through the imaging apparatus 1000 or perform imaging processing through contrast of the permittivity.

일 실시예에서, 조사부(110)는 테라헤르츠 전자기파를 대상체의 특정 지점에 조사할 수 있다. 일 실시예에서, 이미징 장치(1000)는 테라헤르츠 전자기파를 대상체 상의 미리 설정된 복수의 지점에 조사할 수 있다. 예를 들면, 이미징 장치(1000)는 테라헤르츠 전자기파를 미리 설정된 간격으로 연속적으로 조사하는 방식으로, 대상체의 전 영역에 걸쳐서 조사할 수 있다. In one embodiment, the irradiation unit 110 may irradiate terahertz electromagnetic waves to a specific point on the object. In one embodiment, the imaging device 1000 may irradiate terahertz electromagnetic waves to a plurality of predetermined points on the object. For example, the imaging apparatus 1000 can irradiate the entire region of the object in such a manner that the terahertz electromagnetic wave is irradiated continuously at preset intervals.

검출부(120)는 대상체로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출할 수 있다. 검출부(120)는 대상체의 표면 또는 내부면으로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출할 수 있다. 일 실시예에서, 검출부(120)는 대상체의 표면 또는 내부면 상의 특정 지점으로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출할 수 있다. The detection unit 120 can detect the terahertz electromagnetic waves reflected from the object. The detection unit 120 can detect terahertz electromagnetic waves reflected from the surface or the inner surface of the object. In one embodiment, the detector 120 may detect reflected terahertz electromagnetic waves from a specific point on the surface or inner surface of the object.

또한, 검출부(120)는 검출된 테라헤르츠 전자기파를 전기적 신호로 변환할 수 있다. 일 실시예에서, 검출부(120)는 검출된 테라헤르츠 전자기파의 세기를 측정하고, 이를 전기적 신호로 변환할 수 있다. 테라헤르츠 전자기파를 이용하는 분석 방법(예컨대, 분광법)은 시간에 기반하여 스펙트럼을 얻는 방법이므로 기본적으로 측정된 데이터는 시간(예컨대, 대략 1 피코 세컨드 범위)에 의존할 것이다. Further, the detection unit 120 can convert the detected terahertz electromagnetic wave into an electrical signal. In one embodiment, the detector 120 may measure the intensity of the detected terahertz electromagnetic wave and convert it to an electrical signal. Basically the measured data will depend on the time (e.g., approximately 1 picosecond range) since the analytical method (e. G., Spectroscopy) using terahertz electromagnetic waves is a method of obtaining the spectrum based on time.

제어부(130)는 변환된 전기적 신호를 이용하여 대상체에 대한 특징 정보를 획득할 수 있다. 여기서, 특징 정보는 대상체의 성분에 대한 성분 정보 및 대상체의 이미지에 대한 이미지 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들면, 성분 정보는 대상체의 표면 또는 내부의 구성 물질의 성분에 대한 정보일 수 있고, 이미지 정보는 대상체의 외부 또는 내부의 이미지에 대한 정보일 수 있다. The control unit 130 can acquire the feature information on the object using the converted electrical signal. Here, the feature information may include at least one of the component information about the component of the object and the image information about the image of the object. For example, the component information may be information on a component of a constituent material on the surface or inside of the object, and the image information may be information on an image outside or inside the object.

예를 들면, 대상체가 단청일 경우, 제어부(130)는 단청의 무늬를 구성하는 각 다섯 가지 색상(청, 적, 황, 흑, 백)의 안료의 성분에 대한 성분 정보를 획득할 수 있다. 다른 예를 들면, 대상체가 여러 겹으로 그려진 미술품(예컨대, 병풍)일 경우, 제어부(130)는 표면 및 내부면 그림의 형태의 안료 성분에 대한 성분 정보를 획득할 수 있으며, 또한 표면 및 내부의 이미지에 대한 이미지 정보를 획득할 수 있다. 이를 통해, 사용자는 육안으로 볼 수 없는 내부면(밑면)의 그림의 안료 성분 및 이미지에 대한 정보를 얻을 수 있다.For example, when the object is monochrome, the control unit 130 can obtain the component information on the components of the pigment of each of the five colors (blue, red, yellow, black, white) constituting the monochrome pattern. For example, when the object is a multi-layered artwork (e.g., a screen), the controller 130 may obtain the component information on the pigment component in the form of surface and internal surface pictures, Image information about the image can be obtained. Through this, the user can obtain information about the pigment component and the image of the picture of the inner surface (bottom surface) which can not be seen with the naked eye.

일 실시예에서, 제어부(130)는 변환된 전기적 신호에 대응하는 시간 영역 데이터를 획득할 수 있다. 또한, 제어부(130)는 푸리에 변환을 이용하여 시간 영역 데이터를 주파수 영역 데이터로 변환할 수 있다. 여기서, 주파수 영역 데이터는 위상 값과 크기 값의 두 가지 정보를 가질 수 있다. 또한, 제어부(130)는 대상체의 특정 지점에 대하여 획득된 시간 영역 데이터 및 주파수 영역 데이터를 하나의 화소에 대응시킬 수 있다. 또한, 제어부(130)는 테라헤르츠 전자기파가 조사된 대상체의 모든 지점에서 각각 획득된 데이터를 각 화소에 대응시킬 수 있다. In one embodiment, the controller 130 may obtain time-domain data corresponding to the converted electrical signal. Also, the controller 130 may convert the time domain data into the frequency domain data using the Fourier transform. Here, the frequency domain data may have two kinds of information, that is, a phase value and a magnitude value. In addition, the controller 130 may associate the time domain data and the frequency domain data acquired for a specific point of the object with one pixel. In addition, the controller 130 may associate data obtained at every point of the object irradiated with the terahertz electromagnetic wave with each pixel.

또한, 제어부(130)는 획득된 시간 영역 데이터 및 주파수 영역 데이터를 이용하여 대상체에 대한 성분 정보 및 이미지 정보 중 적어도 하나를 획득할 수 있다. 일 실시예에서, 제어부(130)는 각 화소에 대응하는 데이터를 이용하여 대상체의 이미지를 재구성할 수 있다. 여기서, 재구성된 이미지는 이미지는 가로/세로 축, 시간 축 및 주파수 축을 가지는 4차원의 이미지일 수 있다. 예를 들면, 재구성된 이미지는 대상체의 표면 또는 내부에 대한 4차원 이미지일 수 있다. 이를 통해, 사용자는 원하는 시간 또는 원하는 주파수에서 대상체의 표면 또는 내부에 대한 이미지를 볼 수 있다. 또 다른 예를 들면, 재구성된 이미지는 대상체의 외부 또는 내부의 구성 성분을 나타내는 4차원 이미지일 수 있다. 이를 통해, 사용자는 원하는 시간 또는 원하는 주파수에서 대상체의 외부 또는 내부의 구성 성분을 나타내는 이미지를 볼 수 있다. 또한, 제어부(130)는 재구성된 이미지의 선명도를 위하여 패턴 인식 등의 영상 전처리 기법을 더 적용할 수 있다. Also, the controller 130 may acquire at least one of the component information and the image information for the object using the acquired time domain data and the frequency domain data. In one embodiment, the controller 130 may reconstruct the image of the object using data corresponding to each pixel. Here, the reconstructed image may be a four-dimensional image having a horizontal / vertical axis, a time axis, and a frequency axis. For example, the reconstructed image may be a four-dimensional image of the surface or interior of the object. This allows the user to view images of the surface or interior of the object at a desired time or frequency of interest. As another example, the reconstructed image may be a four-dimensional image representing the components of the exterior or interior of the object. This allows the user to view images representing the external or internal components of the object at a desired time or frequency of interest. In addition, the controller 130 may further apply an image preprocessing technique such as pattern recognition for the clarity of the reconstructed image.

디스플레이부(200)는 이미지를 디스플레이할 수 있다. 디스플레이부(200)는 특정 시간 또는 특정 주파수에 대응하는 대상체의 이미지를 디스플레이할 수 있다. 일 실시예에서, 디스플레이부(200)는 대상체의 이미지를 실시간으로 디스플레이할 수 있다. 예를 들면, 디스플레이부(200)는 테라헤르츠 이미지를 파장 별로 공간상에서 재구성하여 실시간으로 디스플레이할 수 있다. The display unit 200 can display an image. The display unit 200 may display an image of a target object corresponding to a specific time or a specific frequency. In one embodiment, the display unit 200 can display an image of the object in real time. For example, the display unit 200 can display a terahertz image in real time on a space-by-wavelength basis.

디스플레이부(200)는 불투명 또는 투명 디스플레이 패널을 구비할 수 있다. 이때, 투명 디스플레이 패널은 반투명 디스플레이 패널을 포함하는 의미이다. 예를 들면, 불투명 디스플레이 패널은 액정 디스플레이(LCD), 플라즈마 디스플레이(PDP), 발광 다이오드 디스플레이(LED), 유기 발광 다이오드 디스플레이(OLED) 등의 디스플레이 패널일 수 있다.The display unit 200 may include an opaque or transparent display panel. At this time, the transparent display panel includes a translucent display panel. For example, the opaque display panel may be a display panel such as a liquid crystal display (LCD), a plasma display (PDP), a light emitting diode display (LED), an organic light emitting diode display (OLED)

이동부(300)는 대상체를 이동시킬 수 있다. 이동부(300)는 대상체를 고정시키고 대상체를 수평 또는 수직 방향으로 이동시킬 수 있다. 일 실시예에서, 이동부(300)는 가로 길이가 10 cm 이상이고, 세로 길이가 10 cm 이상인 이동식 스캐너를 포함할 수 있다. 여기서, 이동부(300)는 대상체의 형태에 맞는 다양한 형태를 가질 수 있다. 이를 통해, 이미징 장치(1000)는 2차원의 대상체뿐 아니라, 3차원의 대상체(예컨대, 도자기 등)에 대한 이미징 처리를 수행할 수 있다. The moving unit 300 can move the object. The moving unit 300 can fix the object and move the object in the horizontal or vertical direction. In one embodiment, the moving part 300 may include a mobile scanner having a width of at least 10 cm and a length of at least 10 cm. Here, the moving unit 300 may have various forms according to the shape of the object. Accordingly, the imaging apparatus 1000 can perform imaging processing on not only a two-dimensional object but also a three-dimensional object (e.g., ceramics, etc.).

상술한 구성들을 통해, 본 명세서의 이미징 장치(1000)는 단청과 병풍 및 고대 미술품을 포함하는 전통 문화재의 성분 및 기법 분석을 수행할 수 있다. 이를 통해, 본 명세서의 이미징 장치(1000)는 문화재의 제작에 사용된 재료의 성분을 분석하고, 원작자의 칠 기법 등에 대한 정보를 얻어내 미술품 등의 복원 및 진위 여부 판별에 중요한 정보를 사용자에게 제공할 수 있다. Through the above-described arrangements, the imaging apparatus 1000 of the present invention can perform composition and technique analysis of traditional cultural properties including monotone, screen, and ancient art. Accordingly, the imaging apparatus 1000 of the present invention analyzes the components of the material used in the production of cultural properties, obtains information on the artist's painting technique, etc., and provides important information to the user for restoration and authenticity determination can do.

도 1은 본 명세서의 일 실시예에 따른 블록도로서, 분리하여 표시한 블록들은 장치의 구성들을 논리적으로 구별하여 도시한 것이다. 따라서 상술한 장치의 구성들은 장치의 설계에 따라 하나의 칩으로 또는 복수의 칩으로 장착될 수 있다.FIG. 1 is a block diagram according to one embodiment of the present invention, wherein blocks separated and shown are logically distinguishable from those of the apparatus. Accordingly, the configurations of the above-described apparatus can be mounted as one chip or as a plurality of chips according to the design of the apparatus.

이하에서는, 이미징 장치(1000)에서 수행되는 각 단계나 동작이 사용자 입력(예를 들어, 터치 입력)의 수신에 의해 시작되거나 진행되는 경우, 수신된 사용자 입력에 따라 신호가 생성되어 수신되는 과정은 중복하여 설명하지 않아도 상술한 과정에 대한 설명이 포함된 것으로 한다. 또한, 입력에 따라 제어부(130)가 이미징 장치(1000) 또는 이미징 장치(1000)에 포함된 적어도 하나의 구성을 제어한다고 표현할 수 있으며, 제어부(130)와 이미징 장치(1000)를 동일시하여 설명할 수 있다.
Hereinafter, when each step or operation performed in the imaging apparatus 1000 is initiated or progressed by the receipt of a user input (e.g., a touch input), the process of generating and receiving a signal according to the received user input The description of the above-mentioned process is included even if it is not described in duplicate. The control unit 130 may be configured to control at least one configuration included in the imaging apparatus 1000 or the imaging apparatus 1000 according to an input and may be described as being equivalent to the control unit 130 and the imaging apparatus 1000 .

도 2는 본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 장치의 개략도이다. 도 3은 본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 장치에 의해 재구성된 대상체의 이미지를 나타낸다. 도 2 및 도 3에서는 도 1에서 설명한 내용과 중복된 부분에 대한 자세한 설명은 생략하도록 한다. 2 is a schematic diagram of an imaging device according to one embodiment of the present disclosure; 3 shows an image of an object reconstructed by an imaging device according to an embodiment of the present disclosure; In FIGS. 2 and 3, a detailed description of the parts overlapping with those described in FIG. 1 will be omitted.

도 2를 참조하면, 일 실시예에 따른 이미징 장치(1000)는 본체(100), 이동부(300) 및 디스플레이부(200)로 구성될 수 있다. 여기서, 본체(100)는 상술한 조사부(110), 검출부(120) 및 제어부(130)를 포함할 수 있다. 또한, 본체(100)는 실리콘 렌즈(140)를 더 포함할 수 있다. Referring to FIG. 2, an imaging apparatus 1000 according to an embodiment may include a main body 100, a moving unit 300, and a display unit 200. Here, the main body 100 may include the irradiation unit 110, the detection unit 120, and the control unit 130 described above. In addition, the main body 100 may further include a silicon lens 140.

도 2에 도시된 바와 같이, 이미징 장치(1000)는 조사부(110)를 통해 발생된 테라헤르츠 전자기파(1)를 실리콘 렌즈(140)를 통해 대상체(10)의 제 1 지점에 조사하고, 대상체(10)의 제 1 지점으로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파(2)를 실리콘 렌즈(140)를 통해 집광할 수 있다. 또한, 이미징 장치(1000)는 검출부(120)를 통해 검출된 테라헤르츠 전자기파를 전기적 신호로 변환할 수 있다. 또한, 이미징 장치는 제어부(130)를 통해 변환된 전기적 신호에 대응하는 시간 영역 데이터를 획득하고, 푸리에 변환을 이용하여 시간 영역 데이터를 주파수 영역 데이터로 변환할 수 있다. 또한, 이미징 장치(1000)는 제어부(130)를 통해 획득된 시간 영역 데이터 및 주파수 영역 데이터를 대상체(10)의 제 1 지점에 대응하는 제 1 화소에 저장할 수 있다.2, the imaging apparatus 1000 irradiates the terahertz electromagnetic wave 1 generated through the irradiation unit 110 to the first point of the object 10 through the silicon lens 140, 10 can be condensed through the silicon lens 140. In this case, Further, the imaging apparatus 1000 may convert the terahertz electromagnetic wave detected through the detection unit 120 into an electrical signal. Further, the imaging apparatus may acquire time-domain data corresponding to the electrical signal converted through the control unit 130, and may convert the time-domain data into the frequency-domain data using the Fourier transform. In addition, the imaging apparatus 1000 may store the time domain data and the frequency domain data obtained through the controller 130 in a first pixel corresponding to a first point of the object 10.

상술한 일련의 과정이 종료되면, 이미징 장치(1000)는 대상체(10)의 제 2 지점에 테라헤르츠 전자기파가 조사되도록 이동부(300)를 이용하여 대상체(10)를 미리 설정된 간격만큼 수평 방향으로 이동시킬 수 있다. 여기서, 제 2 지점은 제 1 지점과 다른 지점이다. 이후, 이미징 장치(1000)는 대상체(10)의 제 2 지점에 대하여 상술한 과정을 반복하고, 이를 통해 획득된 시간 영역 데이터 및 주파수 영역 데이터를 대상체(10)의 제 2 지점에 대응하는 제 2 화소에 저장할 수 있다. When the above-described series of processes is completed, the imaging apparatus 1000 moves the object 10 horizontally by a preset interval by using the moving unit 300 so that the terahertz electromagnetic wave is irradiated to the second point of the object 10 Can be moved. Here, the second point is a point different from the first point. Then, the imaging apparatus 1000 repeats the above-described process for the second point of the object 10, and acquires the time-domain data and the frequency-domain data obtained thereby from the second point corresponding to the second point of the object 10 Pixel.

동일한 방식으로 대상체(10)의 미리 설정된 모든 지점(예컨대, 제 3 지점, 제 4 지점 등을 포함하는 대상체의 전 영역)에 대한 상술한 과정이 모두 수행된 경우, 이미징 장치(1000)는 제어부(130)를 통해 각 화소에 대응하는 데이터(시간 영역 데이터 및 주파수 영역 데이터)들을 이용하여 대상체(10)의 이미지를 재구성할 수 있다. 또한, 이미징 장치(1000)는 디스플레이부(200)를 통해 재구성된 이미지(210)를 디스플레이할 수 있다. If all of the above-described processes for all preset points of the object 10 (e.g., the entire region including the third point, the fourth point, and the like) are performed in the same manner, (Time-domain data and frequency-domain data) corresponding to the respective pixels through the input / output units 130 and 130 to reconstruct the image of the object 10. In addition, the imaging apparatus 1000 may display the reconstructed image 210 through the display unit 200.

예를 들면, 도 3에 도시된 것처럼, 대상체(10)가 여러 겹으로 그려진 그림인 경우, 재구성된 이미지(210)는 대상체(10)의 표면 이미지(310) 및 투시된 내부 이미지(320)를 포함할 수 있다. 이를 통해, 사용자는 육안으로 볼 수 없는 대상체(10)의 내부 이미지(320), 예컨대, 밑바탕 이미지를 확인할 수 있다. 이러한 정보를 이용하여 사용자는 대상체(10)의 내부의 숨겨진 내부 이미지(320)를 복원할 수 있다.
For example, if the object 10 is a multi-ply drawing, as illustrated in FIG. 3, the reconstructed image 210 may include a surface image 310 of the object 10 and a perspective internal image 320 . Thus, the user can check the internal image 320 of the object 10, for example, the bottom image, which can not be seen with the naked eye. Using this information, the user can restore the hidden inner image 320 inside the object 10.

도 4는 본 명세서의 일 실시예에 따른 이미징 방법의 순서도이다. 도 4에서는 도 1에서 설명한 내용과 중복된 부분에 대한 자세한 설명은 생략하도록 한다. 4 is a flow diagram of an imaging method according to one embodiment of the present disclosure. In FIG. 4, the detailed description of the parts overlapping with those described in FIG. 1 will be omitted.

이미징 장치는 테라헤르츠 전자기파를 발생하여 대상체에 조사할 수 있다(S10). 일 실시예에서, 이미징 장치는 테라헤르츠 전자기파를 대상체의 표면 또는 내부에 조사할 수 있다. 일 실시예에서, 이미징 장치는 테라헤르츠 전자기파를 대상체의 특정 지점에 조사할 수 있다. 일 실시예에서, 이미징 장치는 테라헤르츠 전자기파를 대상체 상의 미리 설정된 복수의 지점에 조사할 수 있다. 예를 들면, 이미징 장치는 테라헤르츠 전자기파를 미리 설정된 간격으로 연속적으로 조사하여, 대상체의 전 영역에 걸쳐서 조사할 수 있다. The imaging device can generate terahertz electromagnetic waves and irradiate the target object (S10). In one embodiment, the imaging device is capable of irradiating terahertz electromagnetic waves to the surface or interior of the object. In one embodiment, the imaging device is capable of irradiating terahertz electromagnetic waves to a specific point on the object. In one embodiment, the imaging device is capable of irradiating terahertz electromagnetic waves to a plurality of predetermined points on the object. For example, the imaging apparatus can irradiate terahertz electromagnetic waves over the entire region of the object by continuously irradiating the electromagnetic waves at predetermined intervals.

여기서, 대상체는 분석이 필요한 2차원 또는 3차원 물체일 수 있다. 예를 들면, 대상체는 단청 및 미술품을 포함하는 문화재일 수 있다. 여기서, 테라헤르츠 전자기파는 0.1 THz 에서 4 THz 사이의 주파수를 갖는 전자기파일 수 있다. 이 주파수 범위의 테라헤르츠 전자기파는 다른 영역의 광원에 비해 상대적으로 넓은 범위를 가지며, 파장으로 변환하면 75 ㎛에서 3 ㎜에 해당될 수 있다. Here, the object may be a two-dimensional or three-dimensional object requiring analysis. For example, the object may be monumental and cultural property including artwork. Here, a terahertz electromagnetic wave can be an electromagnetic file having a frequency between 0.1 THz and 4 THz. Terahertz electromagnetic waves in this frequency range have a relatively wide range compared to light sources in other regions, and can be converted to wavelengths from 75 μm to 3 mm.

다음으로, 이미징 장치는 대상체로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출하고, 검출된 테라헤르츠 전자기파를 전기적 신호로 변환할 수 있다(S20). 일 실시예에서, 이미징 장치는 대상체의 표면 또는 내부면으로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출할 수 있다. 일 실시예에서, 이미징 장치는 대상체의 특정 지점으로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출할 수 있다. 일 실시예에서, 이미징 장치는 검출된 테라헤르츠 전자기파의 세기를 측정하고, 이를 전기적 신호로 변환할 수 있다. 이러한, 테라헤르츠 전자기파를 이용하는 분석 방법(예컨대, 분광법)은 시간에 기반하여 스펙트럼을 얻는 방법이므로 기본적으로 측정된 데이터는 시간(예컨대, 대략 1 피코 세컨드 범위)에 의존할 수 있다. Next, the imaging apparatus can detect the terahertz electromagnetic wave reflected from the object and convert the detected terahertz electromagnetic wave into an electrical signal (S20). In one embodiment, the imaging device is capable of detecting terahertz electromagnetic waves reflected from a surface or an inner surface of a subject. In one embodiment, the imaging device is capable of detecting reflected terahertz electromagnetic waves from a particular point of the object. In one embodiment, the imaging device can measure the intensity of the detected terahertz electromagnetic wave and convert it to an electrical signal. Such an analytical method (e. G., Spectroscopy) using terahertz electromagnetic waves is a method of obtaining a spectrum based on time, so basically the measured data may depend on time (e.g., approximately 1 picosecond range).

다음으로, 이미징 장치는 변환된 전기적 신호를 이용하여 대상체에 대한 특징 정보를 획득할 수 있다(S30). 여기서, 특징 정보는 대상체의 성분에 대한 성분 정보 및 대상체의 이미지에 대한 이미지 정보 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들면, 성분 정보는 대상체의 표면 또는 내부의 구성 물질의 성분에 대한 정보일 수 있고, 이미지 정보는 대상체의 외부 또는 내부의 이미지에 대한 정보일 수 있다. Next, the imaging apparatus can acquire the feature information on the object using the converted electrical signal (S30). Here, the feature information may include at least one of the component information about the component of the object and the image information about the image of the object. For example, the component information may be information on a component of a constituent material on the surface or inside of the object, and the image information may be information on an image outside or inside the object.

대상체에 대한 특징 정보를 획득하는 방법에 대하여 보다 상세히 설명하면, 우선, 이미징 장치는 변환된 전기적 신호에 대응하는 시간 영역 데이터를 획득할 수 있다. 또한, 이미징 장치는 푸리에 변환을 이용하여 시간 영역 데이터를 주파수 영역 데이터로 변환할 수 있다. 또한, 이미징 장치는 대상체의 특정 지점에 대하여 획득된 시간 영역 데이터 및 주파수 영역 데이터를 하나의 화소에 대응시킬 수 있다. A method for acquiring feature information for a target object will be described in more detail. First, the imaging apparatus can acquire time-domain data corresponding to the converted electrical signal. The imaging device may also convert the time domain data to frequency domain data using Fourier transform. Further, the imaging apparatus can associate the time domain data and the frequency domain data acquired for a specific point of the object with one pixel.

상술한 일련의 과정이 종료되면, 이미징 장치는 대상체의 다른 지점에 테라헤르츠 전자기파가 조사되도록 대상체를 미리 설정된 간격만큼 수평 방향으로 이동시키고 상술한 과정을 반복할 수 있다. 또한, 이미징 장치는 미리 설정된 대상체의 모든 지점에 대하여 상술한 과정을 반복하여 수행하고, 대상체의 모든 지점에서 각각 획득된 데이터를 각 화소에 대응시킬 수 있다. Upon completion of the above-described series of processes, the imaging apparatus can move the object horizontally by a predetermined interval so that the terahertz electromagnetic waves are irradiated to other points of the object, and repeat the above-described process. Further, the imaging apparatus may repeat the above-described processes for all the points of the predetermined object, and may associate data obtained at every point of the object with each pixel.

이후, 이미징 장치는 획득된 시간 영역 데이터 및 주파수 영역 데이터를 이용하여 대상체에 대한 성분 정보 및 이미지 정보 중 적어도 하나를 획득할 수 있다. 일 실시예에서, 이미징 장치는 각 화소에 대응하는 데이터를 이용하여 대상체의 이미지를 재구성할 수 있다. 여기서, 재구성된 이미지는 이미지는 가로/세로 축, 시간 축 및 주파수 축을 가지는 4차원의 이미지일 수 있다. Then, the imaging apparatus can acquire at least one of the component information and the image information for the object using the obtained time-domain data and the frequency-domain data. In one embodiment, the imaging device may reconstruct the image of the object using data corresponding to each pixel. Here, the reconstructed image may be a four-dimensional image having a horizontal / vertical axis, a time axis, and a frequency axis.

또한, 이미징 장치는 특정 시간 또는 특정 주파수에 대응하는 대상체의 이미지(재구성된 이미지)를 디스플레이할 수 있다. 일 실시예에서, 디스플레이부는 대상체의 이미지를 실시간으로 디스플레이할 수 있다.
Further, the imaging device can display an image of the object (reconstructed image) corresponding to a specific time or a specific frequency. In one embodiment, the display may display an image of the object in real time.

이와 같은, 장치의 제어 방법은 애플리케이션으로 구현되거나 다양한 컴퓨터 구성요소를 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령어의 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 기록될 수 있다. 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체는 프로그램 명령어, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체에 기록되는 프로그램 명령어는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거니와 컴퓨터 소프트웨어 분야의 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다.Such a control method of the apparatus can be implemented in an application or can be implemented in the form of program instructions that can be executed through various computer components and recorded in a computer-readable recording medium. The computer-readable recording medium may include program instructions, data files, data structures, and the like, alone or in combination. Program instructions that are recorded on a computer-readable recording medium may be those that are specially designed and constructed for the present invention and are known and available to those skilled in the art of computer software.

컴퓨터 판독 가능한 기록 매체의 예에는, 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체, CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체, 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 ROM, RAM, 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령어를 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령어의 예에는, 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드도 포함된다. 하드웨어 장치는 본 발명에 따른 처리를 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks and magnetic tape, optical recording media such as CD-ROMs and DVDs, magneto-optical media such as floptical disks, media, and hardware devices specifically configured to store and execute program instructions such as ROM, RAM, flash memory, and the like. Examples of program instructions include machine language code such as those generated by a compiler, as well as high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter or the like. A hardware device may be configured to operate as one or more software modules to perform processing in accordance with the present invention, and vice versa.

또한, 이상에서는 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 명세서는 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구 범위에서 청구하는 요지를 벗어남이 없이 당해 명세서가 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형 실시들은 본 명세서의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어서는 안될 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, It should be understood that various modifications may be made by those skilled in the art without departing from the spirit and scope of the present invention.

또한, 본 명세서에서는 물건 발명과 방법 발명이 모두 설명되고 있으며, 필요에 따라 양 발명의 설명은 보충적으로 적용될 수 있다.In this specification, both the invention and the method invention are explained, and the description of both inventions can be supplemented as necessary.

100: 이미징 장치 110: 조사부
120: 검출부 130: 제어부
200: 디스플레이부 300: 이동부100: Imaging device 110:
120: detecting unit 130:
200: display part 300: moving part

Claims (14)

테라헤르츠 전자기파를 발생하여 대상체에 조사하는 조사부;
상기 대상체로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출하고, 상기 검출된 테라헤르츠 전자기파를 전기적 신호로 변환하는 검출부; 및
상기 변환된 전기적 신호를 이용하여 상기 대상체에 대한 특징 정보를 획득하는 제어부를 포함하되,
상기 특징 정보는 상기 대상체의 성분에 대한 성분 정보 및 상기 대상체의 이미지에 대한 이미지 정보 중 적어도 하나를 포함하는, 테라헤르츠 전자기파를 이용한 이미징 장치. An irradiator for generating a terahertz electromagnetic wave to irradiate a target object;
A detector for detecting the terahertz electromagnetic wave reflected from the object and converting the detected terahertz electromagnetic wave into an electrical signal; And
And a controller for acquiring characteristic information on the object using the converted electrical signal,
Wherein the feature information includes at least one of component information about a component of the object and image information about the image of the object. 제 1 항에 있어서,
상기 제어부는,
상기 테라헤르츠 전자기파를 상기 대상체 상의 미리 설정된 복수의 지점에 조사하는, 이미징 장치.The method according to claim 1,
Wherein,
And irradiates the terahertz electromagnetic wave to a plurality of predetermined points on the object. 제 1 항에 있어서,
상기 제어부,
상기 변환된 전기적 신호에 대응하는 시간 영역 데이터를 획득하고,
푸리에 변환을 이용하여 상기 시간 영역 데이터를 주파수 영역 데이터로 변환하고,
상기 시간 영역 데이터 및 상기 주파수 영역 데이터를 이용하여 상기 성분 정보 및 상기 이미지 정보 중 적어도 하나를 획득하는, 이미징 장치.The method according to claim 1,
The control unit,
Acquiring time-domain data corresponding to the converted electrical signal,
Transforming the time domain data into frequency domain data using Fourier transform,
And obtains at least one of the component information and the image information using the time-domain data and the frequency-domain data. 제 3 항에 있어서,
이미지를 디스플레이하는 디스플레이부를 더 포함하고,
상기 제어부는,
상기 획득된 이미지 정보를 이용하여 특정 시간 또는 특정 주파수에 대응하는 상기 대상체의 이미지를 디스플레이하는, 이미징 장치.The method of claim 3,
Further comprising a display section for displaying an image,
Wherein,
And displays an image of the object corresponding to a specific time or a specific frequency using the obtained image information. 제 1 항에 있어서,
상기 대상체를 이동시키는 이동부를 더 포함하고,
상기 제어부는,
상기 테라헤르츠 전자기파가 상기 대상체에 미리 설정된 간격으로 조사되도록 상기 대상체를 이동시키는, 이미징 장치.The method according to claim 1,
Further comprising a moving unit for moving the object,
Wherein,
And moves the object such that the terahertz electromagnetic waves are irradiated to the object at a preset interval. 제 5 항에 있어서,
상기 이동부는 가로 길이가 10 cm 이상이고, 세로 길이가 10 cm 이상인 이동부를 포함하는, 이미징 장치.6. The method of claim 5,
Wherein the moving part includes a moving part having a transverse length of 10 cm or more and a longitudinal length of 10 cm or more. 제 1 항에 있어서,
상기 테라헤르츠 전자기파는 0.1 THz 에서 4 THz 사이의 주파수를 갖는 전자기파인, 이미징 장치.The method according to claim 1,
Wherein the terahertz electromagnetic wave is an electromagnetic wave having a frequency between 0.1 THz and 4 THz. 제 1 항에 있어서,
상기 대상체는 단청 및 미술품을 포함하는 문화재인, 이미징 장치.The method according to claim 1,
Wherein the object is a cultural asset including mono and art objects. 테라헤르츠 전자기파를 발생하여 대상체에 조사하는 단계;
상기 대상체로부터 반사된 테라헤르츠 전자기파를 검출하고, 상기 검출된 테라헤르츠 전자기파를 전기적 신호로 변환하는 단계; 및
상기 변환된 전기적 신호를 이용하여 상기 대상체에 대한 특징 정보를 획득하는 단계를 포함하되,
상기 특징 정보는 상기 대상체의 성분에 대한 성분 정보 및 상기 대상체의 이미지에 대한 이미지 정보 중 적어도 하나를 포함하는, 테라헤르츠 전자기파를 이용한 이미징 방법. Generating a terahertz electromagnetic wave and irradiating the object with the electromagnetic wave;
Detecting the reflected terahertz electromagnetic wave from the object and converting the detected terahertz electromagnetic wave into an electrical signal; And
And acquiring characteristic information on the object using the converted electrical signal,
Wherein the characteristic information includes at least one of the component information on the component of the object and the image information on the image of the object. 제 9 항에 있엇,
테라헤르츠 전자기파를 발생하여 대상체에 조사하는 단계는,
상기 테라헤르츠 전자기파를 대상체 상의 미리 설정된 복수의 지점에 조사하는, 이미징 방법. In Section 9,
Generating a terahertz electromagnetic wave and irradiating the object with the electromagnetic wave,
And irradiating the terahertz electromagnetic wave to a plurality of predetermined points on the object. 제 9 항에 있어서,
상기 대상체에 대한 특징 정보를 획득하는 단계는,
상기 변환된 전기적 신호에 대응하는 시간 영역 데이터를 획득하는 단계;
푸리에 변환을 이용하여 상기 시간 영역 데이터를 주파수 영역 데이터로 변환하는 단계; 및
상기 시간 영역 데이터 및 상기 주파수 영역 데이터를 이용하여 상기 성분 정보 및 상기 이미지 정보 중 적어도 하나를 획득하는 단계를 더 포함하는, 이미징 방법.10. The method of claim 9,
Wherein the acquiring of the feature information on the object comprises:
Obtaining time-domain data corresponding to the converted electrical signal;
Transforming the time domain data into frequency domain data using a Fourier transform; And
And obtaining at least one of the component information and the image information using the time domain data and the frequency domain data. 제 11 항에 있어서,
상기 대상체에 대한 특징 정보를 획득하는 단계 이후에,
상기 획득된 이미지 정보를 이용하여 특정 시간 또는 특정 주파수에 대응하는 상기 대상체의 이미지를 디스플레이하는 단계를 더 포함하는, 이미징 방법.12. The method of claim 11,
After obtaining the feature information for the object,
And displaying an image of the object corresponding to a specific time or frequency using the acquired image information. 제 9 항에 있어서,
상기 테라헤르츠 전자기파는 0.1 THz 에서 4 THz 사이의 주파수를 갖는 전자기파인, 이미징 방법.10. The method of claim 9,
Wherein the terahertz electromagnetic wave is an electromagnetic wave having a frequency between 0.1 THz and 4 THz. 제 9 항에 있어서,
상기 대상체는 단청 및 미술품을 포함하는 문화재인, 이미징 방법.10. The method of claim 9,
Wherein the object is a cultural asset including mono and art objects.
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