KR20150132121A - 무선 테스트 신호를 이용하여 무선 주파수 무선 신호 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법 - Google Patents

무선 테스트 신호를 이용하여 무선 주파수 무선 신호 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법 Download PDF

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Abstract

무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIO) 신호 트랜시버 피시험 장치의 무선 테스트를 수행하는 시스템 및 방법. 제어된 전자기 환경에서 동작하는 DUT를 가지고, 테스터는 DUT로 다중 테스트 신호를 무선으로 전송한다. 테스터에 의해 전송된 각각의 테스트 신호의 신호 위상은 DUT로부터의 피드백 신호 데이터에 따라 제어된다. 각각의 테스트 신호의 크기 또한 이러한 피드백 신호 데이터에 따라 제어될 수 있고, 그에 의해 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)의 동적 최적화를 가능하게 한다.

Description

무선 테스트 신호를 이용하여 무선 주파수 무선 신호 트랜시버를 테스트하는 시스템 및 방법{SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RADIO FREQUENCY WIRELESS SIGNAL TRANSCEIVERS USING WIRELESS TEST SIGNALS}
본 발명은 무선 주파수(RF) 무선 신호 트랜시버의 테스트에 관한 것으로, 특히 RF 테스트 신호의 전송을 위한 RF 신호 케이블에 대한 필요없이 이러한 장치를 테스트 하는 것에 관한 것이다.
오늘날의 전자 장치의 다수는 접속 및 통신 목적 모두를 위해 무선 기술을 사용한다. 무선 장치가 전자기 에너지를 송수신하고, 두 개 이상의 무선 장치가 자신의 신호 주파수 및 파워 스펙트럼 밀도에 의해 서로의 동작에 간섭할 가능성이 있기 때문에 이들 장치들과 그 장치들의 무선 기술은 다양한 무선 기술 표준 규격을 준수해야 한다.
이러한 장치들을 설계할 때, 엔지니어들은 장치들에 포함된 무선 기술의 상술한 표준 기반 규격 각각을 이러한 장치들이 만족시키거나 또는 그것을 능가할 것을 보장하도록 특별히 유의한다. 추가로, 이들 장치가 추후에 대량으로 제조될 때, 이들 장치는, 장치들에 포함된 무선 기술 표준 기반 규격에 대해 상기 장치들이 따르는 것을 포함하면서, 제조 결함이 부적절한 동작을 일으키지 않는 것을 보장하도록 테스트된다.
이들 제조 및 조립에 후속하는 이들 장치의 테스트에 대해, 현재 무선 장치 테스트 시스템("테스터")은 각각의 장치로부터 수신된 신호를 분석하는 서브시스템을 채용한다. 이러한 서브시스템은 일반적으로 장치로 적어도 전송될 소스 신호를 제공하기 위한 벡터 신호 생성기(VSG), 및 장치에 의해 산출된 신호를 분석하기 위한 벡터 신호 분석기(VSA)를 포함한다. VSG에 의한 테스트 신호 산출과 VSA에 의해 수행되는 신호 분석은 일반적으로 상이한 주파수 범위, 대역폭 및 신호 변조 특성을 가진 다양한 무선 기술 표준에 따라 다양한 장치를 테스트하는 데에 각각 이용될 수 있도록 프로그래밍가능하다.
피시험 장치(DUT)의 조정 및 성능 확인 테스트는 일반적으로 무선 신호 경로가 아닌 RF 케이블과 같은 전기 도전성 신호 경로를 이용하여 수행되며, 그에 의해 DUT 및 테스터는 전자기 복사를 통해 통신한다. 따라서, 테스터와 DUT 사이의 신호는 주변 공간을 통해서 복사(radiated)되기보다는 도전성 신호 경로를 통해서 전송된다. 이러한 도전성 신호 경로를 이용하여 측정의 반복성과 일관성을 보장하도록 돕고, 신호 전송(송수신)시 팩터로서 DUT의 포지셔닝과 방향을 제거한다.
다중 입력 다중 출력(MIMO) DUT의 경우에, 일부 형태에서, DUT의 각각의 입/출력 연결에 대해 신호 경로가 제공되어야 한다. 예를 들면, 3개의 안테나를 가지고 동작하는 것으로 의도되는 MIMO 장치에 대해, 예를 들면 케이블 및 연결부와 같은 3개의 도전성 신호 경로가 테스트를 위해 제공되어야 한다.
그러나, 도전성 신호 경로를 이용하면 DUT와 테스터 사이의 케이블을 물리적으로 연결 및 연결해제할 필요성에 기인하여 각각의 DUT를 테스트하는 데에 요구되는 시간에 현저하게 영향을 준다. 추가로, MIMO DUT의 경우에, 이러한 다중 연결 및 연결 해제 액션이 테스트 시작 및 종료시 모두 수행되어야 한다. 추가로, 테스트 동안 전송되는 신호는 주변 공간을 통해서 복사되지 않기 때문에, 정상적으로 사용되고 DUT를 위한 안테나 조립체가 이러한 테스트 동안 사용되지 않을 때, 이러한 테스트 장치는 실제 세계의 동작을 시뮬레이션하지 않고, 안테나에 기여가능한 성능 특성이 테스트 결과에 반영되지 않는다.
대안으로서, 케이블을 통한 전기 도전이 아닌 전자기 복사를 통해 전송되는 테스트 신호를 이용하여 테스트가 수행될 수 있다. 이는 테스트 케이블의 연결 및 연결해제를 필요로 하지 않아서, 이러한 연결 및 연결 해제와 연관된 테스트 시간을 감소시킨다는 효익을 가진다. 그러나, 복사(radiated) 신호와 수신기 안테나가 빠져나가는 "채널", 즉 테스트 신호가 통과하여 복사되고 수신되는 주변 공간은, 임의의 위치에서 발생하고 주변 공간으로 스며드는 다른 전자기 신호에 기인하여 고유하게 신호 간섭 및 오류를 일으키는 경향이 있다. 이러한 신호는 DUT 안테나에 의해 수신되고, 신호 반사에 기인하여, 각각의 간섭 신호 소스로부터의 다중 경로 신호를 포함할 수 있다. 따라서, "채널"의 상태는 일반적으로 각각의 안테나 연결에 대하여, 예를 들면 케이블과 같은 개별 도전성 신호 경로를 이용하는 것에 비해 열화할 것이다.
이러한 외부 신호로부터의 간섭을 방지하거나, 또는 적어도 현저하게 감소시키는 하나의 방법은 차폐된 인클로저를 이용하여 DUT 및 테스터에 대한 복사 신호 인터페이스를 분리시키는 것이다. 그러나, 이러한 인클로저는 일반적으로 비교할만한 측정 정확도 및 반복가능성을 산출하지 못한다. 이는 특히 가장 작은 무반향 챔버(anechoic chamber) 보다 더 작은 인클로저에 대해 참이다. 추가로, 이러한 인클로저는 DUT의 포지셔닝 및 방향 뿐 아니라, 이러한 인클로저 내에서 산출된 다중 경로 신호의 보강간섭(constructive interference) 및 상쇄간섭(destructive interference)에 민감한 경향을 가진다.
따라서, 무선 신호 트랜시버, 특히 무선 MIMO 신호 트랜시버 테스트 시스템 및 방법을 구비하는 것이 바람직하고, 여기서 외부 생성 신호 및 다중경로 신호 효과 기인한 신호 간섭을 방지함으로써 테스트 반복성과 정확도를 유지하면서, 복사 전자기 테스트 신호가 사용되어, 테스트 케이블링을 연결 및 연결해제하는 데에 그 외에 필요한 테스트 시간을 방지할 뿐만 아니라 실제 세계의 시스템 동작을 시뮬레이션 할 수 있다.
본 발명에 따르면, 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하기 위한 시스템 및 방법이 제공된다. DUT는 제어된 전자기 환경에서 동작하고, 테스터는 무선으로 DUT에 다중 테스트 신호를 전송한다. 테스터에 의해 전송된 각각의 테스트 신호의 신호 위상은 DUT로부터의 피드백 신호 데이터에 따라 제어된다. 각각의 테스트 신호의 크기는 또한 이러한 피드백 신호 데이터에 따라 제어되어, 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)의 동적 최적화를 가능하게 할 수 있다.
본 발명의 하나의 실시예에 따라, 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템은, 구조물, 전기 도전성 신호 경로, 복수의 안테나 어레이, 및 RF 신호 제어 회로를 포함한다. 상기 구조물은 내부 영역 및 외부 영역을 정의하고, 상기 내부 영역 내의 DUT의 배치를 허용하고 실질적으로 상기 외부 영역으로부터 발생한 전자기 복사로부터 절연되도록 구성된다. 전기 도전성 신호 경로는 DUT에 결합하고 내부 영역과 외부 영역 사이에 하나 이상의 전기 신호를 전송하기 위한 것이다. 그 각각이 다중 안테나 엘리먼트를 포함하는 상기 복수의 안테나 어레이는 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 복사시키도록 상기 내부 영역 내에 적어도 부분적으로 배치된다. 상기 RF 신호 제어 회로는 전기 도전성 신호 경로 및 상기 복수의 안테나 어레이에 결합되고, 각각의 복수의 복제(replica) RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 복수의 RF 테스트 신호 중 각각의 신호를 복제하고; 상기 복수의 신호 데이터에 따라 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어함으로써, 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호에 연관되고 상기 하나 이상의 전기 신호를 통해서 전송되는 상기 DUT로부터의 복수의 신호 데이터와 복수의 RF 테스트 신호에 응답한다.
본 발명의 또다른 실시예에 따라, 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법은 구조물, 전기 도전성 신호 경로, 및 복수의 안테나 어레이를 제공하는 단계를 포함한다. 상기 구조물은 내부 영역 및 외부 영역을 정의하고, 상기 내부 영역 내의 DUT의 배치를 허용하고 실질적으로 상기 외부 영역으로부터 발생한 전자기 복사로부터 분리되도록 구성된다. 상기 전기 도전성 신호 경로는 DUT에 결합하고 상기 내부 영역과 외부 영역 사이에 하나 이상의 전기 신호를 전송하기 위한 것이다. 각각이 다중 안테나 엘리먼트를 포함하는 상기 복수의 안테나 어레이는 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 복사시키도록 상기 내부 영역 내에 적어도 부분적으로 배치된다. 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 복수의 RF 테스트 신호 중 각각의 신호를 복제하고; 및 상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어함으로써, 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호에 연관되고 상기 하나 이상의 전기 신호를 통해서 전송되는 상기 DUT로부터의 복수의 신호 데이터와 복수의 RF 테스트 신호에 응답하는 것이 포함된다.
도 1은 무선 신호 트랜시버를 위한 일반적인 동작 및 가능한 테스트 환경을 도시한다.
도 2는 도전성 테스트 신호 경로를 이용한 무선 신호 트랜시버를 위한 테스트 환경을 도시한다.
도 3은 이러한 테스트 환경을 위한 도전성 신호 경로와 채널 모델을 이용한 MIMO 무선 신호 트랜시버를 위한 테스트 환경을 도시한다.
도 4는 이러한 테스트 환경을 위해 복사된 전자기 신호와 채널 모델을 이용하는 MIMO 무선 신호 트랜시버를 위한 테스트 환경을 도시한다.
도 5는 MIMO DUT가 복사된 전자기 테스트 신호를 이용하여 테스트될 수 있는 예시적인 실시예에 따른 테스트 환경을 도시한다.
도 6은 차폐된 인클로저 내에서 복사된 전자기 테스트 신호를 이용하여 DUT가 테스트되는 테스트 환경을 도시한다.
도 7 및 8은 다중 경로 신호 효과가 감소된 차폐된 인클로저 내에서 복사된 전자기 테스트 신호를 이용하여 무선 DUT가 테스트되는 테스트 환경의 예시적인 실시예를 도시한다.
도 9는 도 7 및 8의 테스트 환경에서 사용하는 예시적인 실시예에 따른 차폐된 인클로저의 물리적 표시를 도시한다.
하기의 상세한 설명은 첨부 도면을 참조한 본 발명의 예시이다. 이러한 설명은 본 발명의 범위에 대한 예시이고 그에 대해 한정하는 것을 의도하지 않는다. 이러한 실시예들은 당업자로 하여금 본 발명을 실시할 수 있도록 충분히 상세히 기술되고, 다른 실시예들은 본 발명의 범위 및 취지를 벗어나지 않고서 일부 변형을 가지고 실시될 수 있다는 것이 이해될 것이다.
문맥으로부터 명시적으로 반대로 지시하지 않는다면 본 명세서 전체에서, 기술된 바와 같은 개별 회로 엘리먼트는 단수이거나 복수일 수 있다는 것이 이해될 것이다. 예를 들면, "circuit" 및 "circuitry"와 같은 용어들은 단일한 컴포넌트 또는 복수의 컴포넌트 중 어느 하나를 포함할 수 있으며, 이는 능동 및/또는 수동이고, 연결되거나 또는 그렇지 않으면 함께 결합되어(예를 들면 하나 이상의 집적회로 칩으로서) 기술된 기능을 제공한다. 추가로, "신호"라는 용어는 하나 이상의 전류, 하나 이상의 전압 또는 데이터 신호를 가리킨다. 도면 내에서, 유사하거나 연관된 엘리먼트들은 유사하거나 연관된 문자, 숫자 또는 문자숫자 지시어를 가질 것이다. 추가로, 본 발명은 이산 전자 회로(바람직하게는 하나 이상의 집적회로 칩의 형태로 된)를 이용하는 실시의 측면에서 개시되었지만, 신호 주파수 또는 처리될 데이터 속도에 따라 이러한 회로의 임의의 부분의 기능은 대안적으로 하나 이상의 적절하게 프로그래밍된 프로세서를 이용하여 구현될 수 있다. 추가로, 도면이 다양한 실시예의 기능 블록도의 다이어그램을 예시하는 정도로, 기능 블록은 필수적으로 하드웨어 회로 사이의 분할을 지시하지는 않는다.
도 1을 참조하면, 무선 신호 트랜시버를 위한 일반적인 동작 환경 및 이상적인 테스트 환경(적어도 실제 세계의 동작을 시뮬레이션하는 측면에서)은 무선으로 통신하는 테스터(100) 및 DUT(200)를 구비할 것이다. 일반적으로, 일부 형태의 테스트 컨트롤러(10)(예를 들면, 개인용 컴퓨터)는 또한 테스터(100) 및 DUT(200)와 유선 신호 인터페이스(11a, 11b)를 통해 테스트 명령어 및 데이터를 교환하도록 사용될 것이다. 테스터(100) 및 DUT(200)는 각각 도전성 신호 커넥터(104, 204)(예를 들면, 그의 다수 유형이 종래 기술에 공지된 동축 케이블 연결과 같은)에 의해 연결하는 하나(또는 MIMO 장치에 대해서는 하나 이상)의 각각의 안테나(102, 202)를 가진다. 테스트 신호(소스 및 응답)는 안테나(102, 202)를 통해 테스터(100)와 DUT(200) 사이에서 무선으로 전송된다. 예를 들면, DUT(200)의 전송(TX) 테스트 동안, 전자기 신호(203)가 DUT 안테나(202)로부터 복사된다. 안테나 방출 패턴의 방향성에 따라, 이 신호(203)는 다수의 방향으로 복사될 것이고, 그 결과 테스터 안테너(102)에 의해 수신되는 입사 신호 컴포넌트(203i)와 반사 신호 컴포넌트(203r)를 가져올 것이다. 상술한 바와 같이, 이들 반사 신호 컴포넌트(203r), 대개 임의의 위치(도시되지 않음)에서 발생한 다른 전자기 뿐만 아니라 다중 경로 신호 효과의 프로덕트(product)는 보강 신호 간섭 및 상쇄 신호 간섭을 일으켜서, 신뢰할 수 있고 반복가능한 신호 수신 및 테스트 결과를 방해한다.
도 2를 참조하면, 이러한 신뢰할 수 없는 테스트 결과를 방지하기 위해, RF 동축 케이블(106)과 같은 도전성 신호 경로가 테스터(100) 및 DUT(200)의 안테나 커넥터(104, 204)를 연결하도록 이용되어 테스터(100)와 DUT(200) 사이의 테스트 신호의 전송을 위한 일관성 있고 신뢰할 수 있으며 반복가능한 전기 도전성 신호 경로를 제공하도록 한다. 그러나 상술한 바와 같이, 이는 테스트 전후에 케이블(106)을 연결 및 연결해제하는 데에 필요한 시간에 기인하여 전체 테스트 시간을 증가시킨다.
도 3을 참조하면, MIMO DUT(200a) 테스트시조차 테스트 케이블을 연결 및 연결해제하기 위한 추가적인 테스트 시간이 더 길게 된다. 이러한 경우, DUT(200a) 내에서 RF 신호 수신기(210)에 의한 수신을 위해 테스터(100a) 내에서 RF 신호 소스(110)(예를 들면 VSG)로부터의 RF 테스트 신호의 전송을 가능하게 하도록 대응하는 테스터(104)와 DUT(204) 커넥터를 연결하기 위한 다중 테스트 케이블(106)이 요구된다. 예를 들면, 일반적인 테스트 환경에서, MIMO 장치 테스트를 위한 테스터는 대응하는 하나 이상의 RF 테스트 신호(111a, 111b, ..., 111n)(예를 들면, 가변 신호 파워, 패킷 컨텐츠, 및 데이터 전송속도(data rate)를 가진 패킷 데이터 신호)를 제공하는 하나 이상의 VSG(110a, 110b, ..., 110n)를 가질 것이다. 각각의 테스터(104a, 104b, ...104n) 및 DUT(204a, 204b, ...204n)를 통해 연결된 그들의 대응하는 테스트 케이블(106a, 106b, ..., 106n)은 DUT(200a)내의 대응하는 RF 신호 수신기(210a, 210b, ..., 201n)에 대해 수신된 RF 테스트 신호(211a, 211b, ...,211n)를 제공하도록 이들 신호를 전송한다. 따라서, 이들 테스트 케이블(106c)을 연결 및 연결해제하기 위해 요구되는 추가적인 테스트 시간은 테스트 케이블(106)의 수에 대응하는 팩터 n에 의해 증가될 수 있다.
상술한 바와 같이, 테스터(100a)와 DUT(200a)를 연결하기 위해 테스트 케이블을 이용하는 것은 일관성 있고, 신뢰할 수 있고, 반복가능한 테스트 연결을 제공하는 이점을 가진다. 종래기술에 공지된 바와 같이, 이들 테스트 연결(107)은 대각선 행렬(diagonal matrix)(20)에 의해 특징화되는 신호 채널(H)로서 모델링될 수 있고, 여기서 대각선 행렬 엘리먼트(22)는 각각의 채널 특성에 대한 계수(h11, h22, ..., hnn)(예를 들면, 각각의 테스트 케이블(106)에 대한 신호 경로 도전성 또는 손실)에 대응한다.
도 4를 참조하면, 하나 이상의 예시적인 실시예에 따라, 도전성, 또는 유선 채널(107)(도 3)이 테스터(100a)와 DUT(200a) 사이의 무선 신호 인터페이스(106a)에 대응하는 무선 채널(107a)에 의해 대체된다. 상술한 바와 같이, 테스터(100a)와 DUT(200a)는 각각의 안테나(102, 202) 어레이를 통해 테스트 신호(111, 211)를 통신한다. 이러한 유형의 테스트 환경에서, 신호 채널(107a)은 대각선 행렬(20)에 의해 더 이상 표시되지 않지만, 대신에 대각선(22)으로부터의 하나 이상의 0이 아닌 계수(24a, 24b)를 가진 행렬(20a)에 의해 표시된다. 당업자가 용이하게 이해하듯이, 이는 채널(107a)에서 가용한 다중 무선 신호 경로에 기인한 것이다. 예를 들면, 케이블링된 신호 환경과는 달리, 이상적으로, 각각의 DUT 커넥터(204)가 자신의 대응하는 테스터 커넥터(104)로부터의 신호만을 수신한다. 이 무선 채널(107a)에서, 제1 DUT 안테나(202a)는 예를 들면 채널 H 행렬 계수(h11, h12, ..., h1n)에 대응하는 테스터 안테나(102a, 102b, ..., 102n) 모두에 의해 복사되는 테스트 신호를 수신한다.
공지된 원리에 따라, 채널 행렬 H의 계수 h는 RF 테스트 신호의 송수신에 영향을 끼치는 채널(107a)의 특성에 대응한다. 집합적으로, 이들 계수 h는 하기의 수학식에 의해 표시된 바와 같이 H 행렬의 기준(norm) 및 H 행렬의 역의 기준의 프로덕트인 채널 상태 번호 k(H)를 정의한다:
Figure pct00001
이들 계수에 영향을 주는 팩터는 측정 오차를 생성할 수 있는 방식으로 채널 상태 번호를 변경시킬 수 있다. 예를 들면, 열화한 상태의 채널에서, 작은 오차는 테스트 결과에서 큰 오차를 가져올 수 있다. 채널 수가 낮으면, 채널에서의 작은 오차는 수신(RX) 안테나에서 작은 측정을 산출할 수 있다. 그러나, 채널 수가 높으면, 채널에서의 작은 오차는 수신 안테나에서 큰 측정 오차를 가져올 수 있다. 이 채널 상태 번호(k(H))는 또한 자신의 테스트 환경(예를 들면 차폐된 인클로저) 내의 DUT의 물리적 포지셔닝과 방향, 및 자신의 다양한 안테나(204)의 방향에 민감하다. 따라서, 임의의 영역에서 발생하거나 또는 반사를 통해 도달하고 수신 안테나(204) 상에 부딪치는 무관한(extraneous) 신호 간섭이 없을지라도, 반복가능한 정확한 테스트 결과의 가능성은 낮을 것이다.
도 5를 참조하면, 하나 이상의 예시적인 실시예에 따라, 테스터(100a)와 DUT(200a) 사이의 테스트 신호 인터페이스는 무선이 될 수 있다. DUT(200a)는 차폐된 인클로저(300)의 내부(301) 안쪽에 배치된다. 이러한 차폐된 인클로저(300)는 패러데이 케이지에 대해 구조적이거나 또는 적어도 효과적인 측면에서 유사한 금속 인클로저로서 구현될 수 있다. 이는 인클로러(300)의 외부 영역(302)으로부터 발생한 복사된 신호로부터 DUT(200a)를 절연시킨다. 예시적인 실시예에 따라, 인클로저(300)의 지오메트리는 그것이 폐단부 도파관으로서 기능하도록 한다.
예를 들면 인클로저(300)의 대향하는 내부 표면(302) 내부 또는 그 위에 배치된 임의의 영역에, 그 각각이 테스터(100a)내의 테스트 신호 소스(110a, 110b, ..., 110n)로부터 발생한 다중 위상 제어된 RF 테스트 신호(103a, 103b, ..., 103n)(하기에 보다 상술됨)를 복사시키는 다중(n) 안테나 어레이(102a, 102b, ..., 102n)이다. 각각의 안테나 어레이는 다중(M) 안테나 엘리먼트를 포함한다. 예를 들면, 제1 안테나 어레이(102a)는 m개의 안테나 엘리먼트(102aa, 102ab, ..., 102am)를 포함한다. 이들 안테나 엘리먼트(102aa, 102ab, ..., 102am)의 각각은 각각의 RF 신호 제어 회로(130a)에 의해 제공된 각각의 위상 제어 RF 테스트 신호(131aa, 131ab, ..., 131am)에 의해 구동된다.
제1 RF 신호 제어 회로(130a)의 예시에 도시된 바와 같이, 제1 RF 테스트 소스(110a)로부터의 RF 테스트 신호(111a)는 신호 크기 제어 회로(132)에 의해 자신의 크기가 증가(예를 들면, 증폭)되거나 또는 감소(예를 들면, 감쇠)된다. 그 결과인 크기 제어 테스트 신호(133)는 신호 복제 회로(134)(예를 들면, 신호 분배기)에 의해 복제된다. 그 결과인 크기 제어, 복제 RF 테스트 신호(135a, 135b, ..., 135m)는 안테나 어레이(102a)의 안테나 엘리먼트(102aa, 102ab, ..., 102am)를 구동시키기 위한 크기 제어 및 위상 제어 신호(131aa, 131ab, ..., 131am)를 산출하도록 각각의 위상 제어 회로(136a, 136b, ..., 136m)에 의해 제어되는(시프트되는) 자신들 각각의 신호 위상을 가진다.
나머지 안테나 어레이(102b, ..., 102n) 및 그의 각각의 안테나 엘리먼트들은 대응하는 RF 신호 제어 회로(130b, ..., 130m)에 의해 유사한 방식으로 구동된다. 이는 상술한 바와 같이 채널 H 행렬에 따라 DUT(200a)의 안테나(202a, 202b, ..., 202n)로의 전송 및 그에 의한 수신을 위해 대응하는 수의 복합 복사 신호(103a, 103b, ..., 103n)를 산출한다. DUT(200a)는 자신의 대응하는 수신 테스트 신호(211a, 211b, ..., 222n)를 처리하고, 이들 수신 신호의 특징(예를 들면, 크기, 상대적 위상 등)을 나타내는 하나 이상의 피드백 신호(201a)를 제공한다. 이들 피드백 신호(201a)는 RF 신호 제어 회로(130) 내의 제어 회로(138)로 제공된다. 이러한 제어 회로(138)는 크기 제어 회로(132) 및 위상 제어 회로(136)에 대한 제어 신호(137, 139a, 139b, ..., 139m)를 제공한다. 따라서, 폐루프 제어 경로가 제공되어, DUT(200a)에 의한 수신을 위해 테스터(100a)로부터의 개별 복사 신호의 이득 및 위상 제어를 가능하게 한다.(대안으로, 이 제어 회로(130)는 테스터(100a)의 일부로서 포함될 수 있다.)
공지된 채널 최적화 기술에 따라, 제어 회로(138)는 거의 같은 크기를 가지는 각각의 DUT 안테나(202)에서 측정된 바와 같은 채널 상태 번호 k(H)를 최소화하고 수신 신호를 산출하기 위한 방식으로 복사 신호의 크기 및 위상을 변경시킴으로써 최적 채널 상태를 달성하도록 DUT(200a)로부터의 이 피드백 데이터(201a)를 이용한다. 이는 복사 신호가 도전성 신호 경로(예를 들면 RF 신호 케이블과 같이)를 이용하여 산출된 신호와 실질적으로 동등한 테스트 결과를 산출하는 통신 채널을 생성할 것이다.
연속한 송신 및 채널 상태 피드백 이벤트에 후속하여, RF 신호 제어 회로(130)의 제어 회로(138)에 의한 이러한 동작은 최적화된 채널 상태 번호(k(H))를 반복적으로 달성하도록 각각의 안테나 어레이(102a, 102b, ..., 102n)에 대해 신호 크기 및 위상을 변화시킬 것이다. 이러한 최적화된 채널 상태 번호 k(H)가 달성되면, 대응하는 크기 및 위상 설정이 유지될 수 있고, 테스터(100a) 및 DUT(200a)가 그런 다음 테스트의 시퀀스에서 케이블링된 테스트 환경에서 수행되는 것과 같이 계속될 수 있다.
실제에 있어서, 기준 DUT가 상술한 반복 프로세스를 통해 채널 상태를 최적화할 때 사용하기 위해 차폐된 인클로저(300) 내의 테스트 픽스처에 배치될 수 있다. 그런 다음, 동일한 설계의 추가적인 DUT가 모든 예시에서 채널 최적화를 실행해야만 할 필요없이 연속적으로 테스트될 수 있는데, 이는 인클로저(300)의 제어된 채널 환경에서 경험되는 경로 손실 차이가 정상적인 테스트 허용범위 내에 있어야 하기 때문이다.
도 5를 참조하면, 예를 들면, 최초의 전송은 13.8db의 채널 상태 번호를 산출하도록 모델링되고, h11 및 h22 계수의 크기는 각각 -28db 및 -28.5 db이다. 채널 H의 크기 행렬은 하기와 같이 나타낼 것이다:
Figure pct00002
상술한 바와 같이, 크기 및 위상의 반복적인 조정 후에, 채널 상태 번호 k(H)는 2.27db로 감소되고, h11 및 h22 계수의 진폭은 각각 -0.12db 및 -0.18db가 되어, 하기와 같은 채널 크기 행렬을 산출한다:
Figure pct00003
이들 결과는 케이블링된 테스트 환경에서의 결과와 동등하여, 이러한 무선 테스트 환경이 현저한 정확도의 테스트 결과를 제공할 수 있다는 것을 나타낸다. 케이블링된 신호 경로를 연결 및 연결해제하는 시간을 제거하고, 이득 및 위상 조정을 위한 시간 감소를 계산에 넣음(factoring)으로써, 전체 수신 신호 테스트 시간은 현저하게 감소된다.
도 6을 참조하면, 채널 상태에 대한 다중 경로 신호 효과의 영향이 더 잘 이해될 수 있다. 상술한 바와 같이, 인클로저(300)의 내부(301)에 배치되면, 송신 테스트 동안 DUT(200a)는 각각의 안테나(202a)로부터 전자기 신호(203a)를 방사한다. 이 신호(203a)는 테스터(100a)의 안테나(102a)로부터 외부로 멀리 방사하는 컴포넌트(203b)를 포함한다. 그러나, 이들 신호 컴포넌트(203b, 203c)는 인클로저(300)의 내부 표면(304, 306)으로부터 반사되고, 다중 경로 신호 상태에 따라, 메인 입사 신호 컴포넌트(203ai)와 보강 또는 상쇄로 조합하도록 반사 신호 컴포넌트(203br, 203cr)로서 도달한다. 상술한 바와 같이, 간섭의 보강 및 상쇄 속성에 따라, 테스트 결과는 일반적으로 적절한 교정 및 성능 확인시에 사용하기에 신뢰할수 없고 부정확한 경향을 가질 것이다.
도 7을 참조하면, 예시적인 실시예에 따라, RF 흡수성 재료(320a, 320b)가 반사 표면(304, 306)에 배치된다. 그 결과, 반사 신호 컴포넌트(203br, 203cr)는 현저하게 감쇄되어 입사 주 신호 컴포넌트(203ai)로 보강 또는 상쇄 간섭이 보다 덜 일어난다.
추가적인 RF 신호 제어 회로(150)가 내부(301)에 또는 인클로저(300a)의 내부 표면(302) 상에 장착되는 안테나 어레이(102a)와 테스터(100a) 사이에 사용하기 위해 포함될 수 있다. (대안으로, 이 추가적인 제어 회로(150)는 테스터(100a)의 일부로서 포함될 수 있다.) 안테나 엘리먼트(102aa, 102ab, ..., 102am)에 부딪히는 복사된 신호는 제어 시스템(156)에 의해 제공되는 하나 이상의 위상 제어 신호(157a, 157b, ..., 157m)에 따라 제어되는 위상 제어 엘리먼트(152a, 152b, ..., 152m)를 가지는 위상 제어 회로(152)에 의해 제어되는(예를 들면, 시프트되는) 각각의 신호 위상을 가진 수신된 신호(103aa, 103ab, ..., 103am)를 산출한다. 그 결과인 위상 제어된 신호(153)는 테스터(100a)에 대해 수신된 신호(155a) 및 제어 시스템(156)에 대한 피드백 신호(155b)를 제공하도록 신호 결합기(154)에서 조합된다. 제어 시스템(156)은 필요한 경우 인클로저(300a)의 내부 영역(301)과 연관된 명백한 신호 경로 손실을 최소화하기 위해 복합 수신 신호(103aa, 103ab, ..., 103am)의 각각의 위상을 조정하는, 폐루프 제어 네트워크의 일부로서, 이러한 피드백 신호(155b)를 처리한다. 이 폐루프 제어 네트워크는 또한 시스템으로 하여금, 인클로저(300a) 내에서 DUT(200a)의 포지셔닝 또는 방향이 변화하는 경우, 이들 안테나(102a) 및 위상 제어 회로(152)에 의해 가능한 위상 제어 어레이를 재설정하도록 한다. 그 결과, 이 피드백 루프를 이용하는 경로 손실의 최소화에 후속하여, 인클로저(300a) 내의 복사된 신호 환경을 이용한 테스터(100a)로의 DUT 신호(203a)의 정확하고 반복가능한 전송이 달성될 수 있다.
도 8을 참조하면, 정확하고 반복가능한 테스트 결과를 산출하는 유사한 제어 및 개선이 DUT 수신 신호 테스트에 대해 달성될 수 있다. 이 경우, 테스터(100a)에 의해 제공되는 테스트 신호(111a)는 신호 결합기/스플리터(154)에 의해 복제되고, 복제된 테스트 신호(153)의 각각의 위상은 안테나 엘리먼트(102aa, 102ab, ..., 102am)에 의해 복사되기 전에 위상 제어 회로(152)에 의해 필요할때 조정된다. 이전의 경우, 반사 신호 컴포넌트(103br, 103cr)는 현저하게 감쇄되고 주 입사 신호 컴포넌트(103ai)와의 보강 간섭 및 상쇄 간섭 감소를 가져온다. DUT(200a)로부터의 하나 이상의 피드백 신호(203a)는 인클로저(300a)의 내부에 연관된 명확한 신호 경로 손실을 감소시키기 위해 복제된 테스트 신호(153)의 위상을 제어하여, 일관적이고 반복가능한 신호 경로 손실 상태를 구축하기 위해 필요한 정보를 제어 시스템(156)으로 제공한다.
도 9를 참조하면, 하나 이상의 예시적인 실시예에 따라, 차폐된 인클로저(300b)가 도시된 바와 같이 실질적으로 구현될 수 있다. 상술한 바와 같이, DUT는 테스터 안테나 어레이(102a, 102b, ..., 102n)(도 5)가 위치되는 내부 표면(302)을 포함하거나 또는 그를 면하는 내부 영역(301b)의 대향하는 측의, 인클로저(300b)의 내부(301)의 하나의 단부(301d)에 위치될 수 있다. RF 흡수제(320)에 의해 둘러싸인 도파관 캐비티를 형성하는 내부 영역(301a)이 그 사이에 있다.
본 발명의 동작의 구조 및 방법에서의 다양한 기타 변형 및 변경은 본 발명의 범위 및 취지를 벗어나지 않고 당업자에게 명확할 것이다. 본 발명이 특정한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되었지만, 본 발명은 이러한 특정한 실시예에 과도하게 한정되지 않는다는 것이 이해되어야 한다. 하기의 청구 범위는 본 발명의 범위를 정의하고, 하기의 특허 청구범위 및 그 등가물의 범위 내에서의 구조 및 방법이 그에 의해 커버되는 것으로 의도된다.

Claims (20)

  1. 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치로서,
    내부 영역 및 외부 영역을 정의하고, 상기 내부 영역 내의 DUT의 배치를 허용하고 실질적으로 상기 외부 영역으로부터 발생한 전자기 복사로부터 절연되도록 구성되는 구조물;
    상기 DUT에 결합하고 상기 내부 영역과 외부 영역 사이에 하나 이상의 전기 신호를 전송하는 전기 도전성 신호 경로;
    각각이 다중 안테나 엘리먼트를 포함하는 복수의 안테나 어레이로서, 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 복사(radiate)시키도록 상기 내부 영역 내에 적어도 부분적으로 배치되는 상기 복수의 안테나 어레이; 및
    상기 전기 도전성 신호 경로 및 상기 복수의 안테나 어레이에 결합되고, 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 복수의 RF 테스트 신호 중 각각의 신호를 복제하고, 상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어함으로써, 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호에 연관되고 상기 하나 이상의 전기 신호를 통해서 전송되는 상기 DUT로부터의 복수의 신호 데이터와 복수의 RF 테스트 신호에 응답하는 RF 신호 제어 회로;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  2. 제1 항에 있어서, 상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어하는 것은 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상을 반복적으로 제어하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 내부 영역 및 상기 복수의 안테나 어레이 중 적어도 일부는 복수의 무선 통신 채널 계수를 포함하는 무선 통신 채널 행렬 H에 의해 특징지어지는 무선 통신 채널의 적어도 일부를 함께 정의하고;
    상기 DUT로부터의 상기 복수의 신호 데이터는 상기 복수의 무선 통신 채널 계수에 더 연관되는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 무선 통신 채널 행렬 H의 함수는 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)를 포함하고; 및
    상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어하는 것은 상기 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)를 감소시키기 위해 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상을 반복적으로 제어하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  5. 제1 항에 있어서, 상기 RF 신호 제어 회로는 상기 복수의 신호 데이터에 따라 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 크기를 제어함으로써 상기 DUT로부터의 상기 복수의 신호 데이터에 더 응답하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중-입력, 다중-출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  6. 제5 항에 있어서, 상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상 및 크기를 제어하는 것은 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상 및 크기를 반복적으로 제어하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  7. 제5 항에 있어서,
    상기 내부 영역 및 상기 복수의 안테나 어레이 중 적어도 일부는 복수의 무선 통신 채널 계수를 포함하는 무선 통신 채널 행렬 H에 의해 특징지어지는 무선 통신 채널의 적어도 일부를 함께 정의하고; 및
    상기 DUT로부터의 상기 복수의 신호 데이터는 상기 복수의 무선 통신 채널 계수에 연관되는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  8. 제7 항에 있어서,
    상기 무선 통신 채널 행렬 H의 함수는 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)를 포함하고; 및
    상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어하는 것은 상기 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)를 감소시키기 위해 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상 및 크기를 반복적으로 제어하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  9. 제1 항에 있어서, 상기 RF 신호 제어 회로는 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 크기를 제어함으로써 상기 복수의 신호 데이터에 연관되는 제1의 하나 이상의 제어 신호에 응답하는 RF 신호 위상 제어 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  10. 제9 항에 있어서, 상기 RF 신호 제어 회로는 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 크기를 제어함으로써 상기 복수의 신호 데이터에 연관되는 제2의 하나 이상의 제어 신호에 응답하는 RF 신호 증폭기 회로를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 시스템을 포함하는 장치.
  11. 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법으로서:
    내부 영역 및 외부 영역을 정의하고, 상기 내부 영역 내의 DUT의 배치를 허용하고 상기 외부 영역으로부터 발생한 전자기 복사로부터 시실질적으로 절연되도록 구성되는 구조물을 제공하는 단계;
    상기 DUT에 결합하고 상기 내부 영역과 외부 영역 사이에 하나 이상의 전기 신호를 전송하기 위한 전기 도전성 신호 경로를 제공하는 단계;
    각각이 다중 안테나 엘리먼트를 포함하고, 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 복사시키도록 상기 내부 영역 내에 적어도 부분적으로 배치되는 복수의 안테나 어레이를 제공하는 단계; 및
    각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 복수의 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호를 복제하고, 및 상기 복수의 신호 데이터에 따라 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어함으로써, 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호에 연관되고 상기 하나 이상의 전기 신호를 통해서 전송되는 상기 DUT로부터의 복수의 신호 데이터와 복수의 RF 테스트 신호에 응답하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  12. 제11 항에 있어서, 상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어하는 것은 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상을 반복적으로 제어하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  13. 제11 항에 있어서,
    상기 내부 영역 및 상기 복수의 안테나 어레이 중 적어도 일부는 복수의 무선 통신 채널 계수를 포함하는 무선 통신 채널 행렬 H에 의해 특징지어지는 무선 통신 채널의 적어도 일부를 함께 정의하고;
    상기 DUT로부터의 상기 복수의 신호 데이터는 상기 복수의 무선 통신 채널 계수에 더 연관되는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 무선 통신 채널 행렬 H의 함수는 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)를 포함하고; 및
    상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어하는 것은 상기 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)를 감소시키기 위해 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상을 반복적으로 제어하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  15. 제11 항에 있어서, 상기 복수의 신호 데이터에 따라 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 크기를 제어함으로써 상기 DUT로부터의 상기 복수의 신호 데이터에 더 응답하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  16. 제15 항에 있어서, 상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상 및 크기를 제어하는 것은 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상 및 크기를 반복적으로 제어하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  17. 제15 항에 있어서,
    상기 내부 영역 및 상기 복수의 안테나 어레이 중 적어도 일부는 복수의 무선 통신 채널 계수를 포함하는 무선 통신 채널 행렬 H에 의해 특징지어지는 무선 통신 채널의 적어도 일부를 함께 정의하고; 및
    상기 DUT로부터의 상기 복수의 신호 데이터는 상기 복수의 무선 통신 채널 계수에 연관되는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 무선 통신 채널 행렬 H의 함수는 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)를 포함하고; 및
    상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어하는 것은 상기 무선 통신 채널 상태 번호 k(H)를 감소시키기 위해 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상 및 크기를 반복적으로 제어하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  19. 제11 항에 있어서, 상기 복수의 신호 데이터에 따라, 상기 각각의 복수의 위상 제어된 RF 테스트 신호를 제공하도록 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 각각의 위상을 제어하는 것은 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 위상을 제어함으로써 상기 복수의 신호 데이터에 연관된 제1 하나 이상의 제어 신호에 응답하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
  20. 제19 항에 있어서, 상기 각각의 복수의 복제 RF 테스트 신호 중 각각의 테스트 신호의 적어도 일부의 상기 각각의 크기를 제어함으로써 상기 복수의 신호 데이터에 연관된 제2의 하나 이상의 제어 신호에 응답하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 무선 주파수(RF) 다중 입력 다중 출력(MIMO) 신호 트랜시버 피시험 장치(DUT)의 무선 테스트를 수행하는 방법.
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