KR20150082209A - 광전 변환 소자 및 고체 촬상 장치 및 전자 기기 - Google Patents

광전 변환 소자 및 고체 촬상 장치 및 전자 기기 Download PDF

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Abstract

광전 변환 소자는, 유기 광전 변환막과, 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과, 제2 전극과 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며, 전하 블록층은, 유기 광전 변환막의 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과, 일함수 조정층과 제2 전극 사이에 형성되어 금속 원소의 제2 전극측에의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층을 갖는다.

Description

광전 변환 소자 및 고체 촬상 장치 및 전자 기기 {PHOTOELECTRIC CONVERSION ELEMENT, SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE}
본 발명은 유기 광전 변환 재료를 사용한 광전 변환 소자, 및 그러한 광전 변환 소자를 화소로서 포함하는 고체 촬상 장치 및 전자 기기에 관한 것이다.
CCD(Charge Coupled Device) 이미지 센서, 혹은 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서 등의 고체 촬상 장치에서는, 각 화소에 유기 반도체를 포함하는 유기 광전 변환막을 사용한 것이 제안되어 있다(예를 들어, 특허 문헌 1).
이 고체 촬상 장치에서는, 각 화소에 있어서, 상기 유기 광전 변환막을 신호 추출을 위한 한 쌍의 전극 사이에 끼워넣은 구조를 갖는다. 이와 같은 구성에 있어서, 전극과 유기 광전 변환막의 사이의 일함수차를 조정하기 위하여, 유기 재료를 사용한 전하 블록층(전하 블로킹층)을 형성하는 방법이 제안되어 있다(특허 문헌 2 참조).
일본 특허 공개 제2011-187918호 공보 일본 특허 공개 제2012-19235호 공보
그러나, 상기 특허 문헌 2와는 다른 방법에 의해, 소자 특성을 안정화시켜 신뢰성을 향상시키는 것이 가능한 광전 변환 소자의 실현이 요망되고 있다.
따라서, 소자 특성을 안정화시켜 신뢰성을 향상시키는 것이 가능한 광전 변환 소자 및 고체 촬상 장치 및 전자 기기를 제공하는 것이 바람직하다.
본 발명의 일 실시 형태의 광전 변환 소자는, 유기 광전 변환막과, 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과, 제2 전극과 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며, 전하 블록층은, 유기 광전 변환막의 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과, 일함수 조정층과 제2 전극 사이에 형성되어 금속 원소의 제2 전극측에의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층을 갖는 것이다.
본 발명의 일 실시 형태의 고체 촬상 장치는, 각각이 상기 본 발명의 일 실시 형태의 광전 변환 소자를 포함하는 복수의 화소를 갖는 것이다.
본 발명의 일 실시 형태의 전자 기기는, 상기 본 발명의 일 실시 형태의 고체 촬상 장치를 갖는 것이다.
본 발명의 일 실시 형태의 광전 변환 소자 및 고체 촬상 장치 및 전자 기기에서는, 유기 광전 변환막을 사이에 끼우는 제1 전극 및 제2 전극 중, 제2 전극과 유기 광전 변환막 사이에 전하 블록층을 구비한다. 이 전하 블록층이 유기 광전 변환막의 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층을 가짐으로써, 제2 전극으로부터 유기 광전 변환막에의 전하 이동이 억제되어 효율적인 신호 추출이 가능하게 된다. 이러한 일함수 조정층과 제2 전극 사이에 제1 확산 억제층을 가짐으로써, 금속 원소의 제2 전극측에의 확산이 억제되어 상기 일함수 조정층의 기능이 안정되게 유지된다.
본 발명의 일 실시 형태의 광전 변환 소자 및 고체 촬상 장치 및 전자 기기에서는, 유기 광전 변환막을 사이에 끼우는 제1 전극 및 제2 전극 중, 제2 전극과 유기 광전 변환막 사이에 전하 블록층을 구비하며, 전하 블록층이 소정의 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층을 가짐으로써 효율적인 신호 추출이 가능하게 된다. 한편, 이 일함수 조정층과 제2 전극 사이에 제1 확산 억제층을 가짐으로써 금속 원소의 제2 전극측에의 확산을 억제하여, 상기 일함수 조정층의 기능을 안정되게 유지할 수 있다. 따라서, 소자 특성을 안정화시켜 신뢰성을 향상시키는 것이 가능하게 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 광전 변환 소자(화소)의 개략 구성을 도시하는 모식도이다.
도 2는 비교예 1에 따른 광전 변환 소자(화소)의 구성을 도시하는 모식도이다.
도 3은 도 2에 도시한 광전 변환 소자의 에너지 밴드 구조를 도시하는 모식도이다.
도 4는 비교예 2에 따른 광전 변환 소자(화소)의 구성을 도시하는 모식도이다.
도 5는 도 4에 도시한 광전 변환 소자의 에너지 밴드 구조를 도시하는 모식도이다.
도 6은 도 4에 도시한 광전 변환 소자의 작용을 설명하기 위한 모식도이다.
도 7은 도 4에 도시한 광전 변환 소자의 작용을 설명하기 위한 모식도이다.
도 8은 비교예 1, 2의 각 소자에 있어서 발생하는 암전류를 설명하기 위한 특성도이다.
도 9는 비교예 1, 2의 각 소자에서의 전극의 성막 시간과 일함수의 관계를 나타내는 특성도이다.
도 10a는 퀴나크리돈을 사용한 시료의 구성을 도시하는 모식도이다.
도 10b는 바소큐프로인을 사용한 시료의 구성을 도시하는 모식도이다.
도 11a는 도 10a에 도시한 시료의 성막 시간(깊이)과 원소의 존재 비율이다.
도 11b는 도 10b에 도시한 시료의 성막 시간(깊이)과 원소의 존재 비율이다.
도 12a는 도 10a에 도시한 시료의 대기 중 방치 후의 알루미늄 표면의 사진이다.
도 12b는 도 10b에 도시한 시료의 대기 중 방치 후의 알루미늄 표면의 사진이다.
도 13은 도 1에 도시한 광전 변환 소자의 작용을 설명하기 위한 모식도이다.
도 14는 도 1에 도시한 광전 변환 소자의 작용을 설명하기 위한 모식도이다.
도 15는 비교예 3에 따른 광전 변환 소자(화소)의 구성을 도시하는 모식도이다.
도 16은 도 15에 도시한 광전 변환 소자의 에너지 밴드 구조를 도시하는 모식도이다.
도 17은 도 15에 도시한 광전 변환 소자의 작용을 설명하기 위한 모식도이다.
도 18은 도 15에 도시한 광전 변환 소자의 작용을 설명하기 위한 모식도이다.
도 19는 변형예 1에 따른 광전 변환 소자(화소)의 개략 구성을 도시하는 모식도이다.
도 20은 도 19에 도시한 광전 변환 소자의 에너지 밴드 구조를 도시하는 모식도이다.
도 21은 변형예 2에 따른 광전 변환 소자(화소)의 개략 구성을 도시하는 모식도이다.
도 22는 도 21에 도시한 광전 변환 소자의 에너지 밴드 구조를 도시하는 모식도이다.
도 23은 고체 촬상 장치의 기능 블록도이다.
도 24는 적용예에 따른 전자 기기의 기능 블록도이다.
이하, 본 발명에서의 실시 형태에 대하여, 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 또한, 설명하는 순서는 하기와 같다.
1. 실시 형태(유기 광전 변환막과 제2 전극 사이에 전하 블록층(일함수 조정층 및 확산 억제층)을 갖는 광전 변환 소자의 예)
2. 변형예 1(전하 블록층의 다른 예)
3. 변형예 2(전하 블록층의 다른 예)
4. 고체 촬상 장치의 전체 구성예
5. 적용예(전자 기기(카메라)의 예)
<실시 형태>
[구성]
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 광전 변환 소자(광전 변환 소자(10))의 구성을 도시하는 것이다. 광전 변환 소자(10)는, 본 발명의 일 실시 형태에 따른 고체 촬상 장치의 화소로서 사용되는 것이다. 고체 촬상 장치는 상세하게는 후술하겠지만, 예를 들어 CCD(Charge Coupled Device) 또는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 이미지 센서 등이다. 광전 변환 소자(10)는, 예를 들어 화소 트랜지스터나 배선을 갖는 기판(도시하지 않음) 상에 설치되어, 도시하지 않은 밀봉막 및 평탄화막 등에 의해 피복되어 있다. 또한, 평탄화막 상에는 예를 들어 도시하지 않은 온 칩 렌즈가 배치된다.
광전 변환 소자(10)는, 유기 반도체를 사용하여 선택적인 파장의 광(예를 들어, R, G, B 중 어느 하나의 색광)을 흡수하여 전자ㆍ홀 쌍을 발생시키는 유기 광전 변환 소자이다. 후술하는 고체 촬상 장치에서는, 그들 R, G, B의 각 색의 광전 변환 소자(10)(화소)가 2차원적으로 병렬 배치되어 있다. 혹은, 1개의 화소 내에 유기 반도체를 포함하는 광전 변환층과, 무기 반도체를 포함하는 광전 변환층이 세로 방향으로 적층된 구성이어도 된다. 본 실시 형태에서는 그러한 광전 변환 소자의 주요부 구성으로 하여, 도 1을 참조하여 설명을 행한다.
이 광전 변환 소자(10)는, 제1 전극(11)과 제2 전극(16) 사이에 유기 광전 변환막(12)을 갖는 것이다. 제1 전극(11) 및 제2 전극(16)은 유기 광전 변환막(12)에 있어서 발생한 신호 전하(정공(홀) 혹은 전자)를 추출하기 위한 것이다.
제1 전극(11)은, 예를 들어 ITO(인듐주석 산화물) 등의 광투과성을 갖는 투명 도전막으로 구성되어 있다. 투명 도전막으로서는, 이 밖에도 산화주석(TO), 도펀트를 첨가한 산화주석(SnO2)계 재료, 혹은 산화아연(ZnO)에 도펀트를 첨가하여 이루어지는 산화아연계 재료가 사용되어도 된다. 산화아연계 재료로서는, 예를 들어 도펀트로서 알루미늄(Al)을 첨가한 알루미늄아연 산화물(AZO), 갈륨(Ga) 첨가의 갈륨아연 산화물(GZO), 인듐(In) 첨가의 인듐아연 산화물(IZO)을 들 수 있다. 또한, 이 밖에도 CuI, InSbO4, ZnMgO, CuInO2, MgIN2O4, CdO, ZnSnO3 등이 사용되어도 된다. 후술하는 작용 설명 및 실시예에서는, 이 제1 전극(11)이 ITO(일함수: 약 4.7eV)를 포함하는 경우를 상정하고 있지만, 제1 전극(11)으로서는 ITO 이외에도 상기와 같은 여러가지 투명 도전막이 사용된다.
제2 전극(16)은, 예를 들어 알루미늄(Al), 구리(Cu), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 바나듐(V), 티타늄(Ti), 지르코늄(Zr), 니오븀(Nb), 몰리브덴(Mo), 루테늄(Ru), 팔라듐(Pd), 하프늄(Hf), 탄탈륨(Ta), 텅스텐(W), 백금(Pt) 및 금(Au) 등의 금속 원소의 단체 또는 합금에 의해 구성되어 있다. 혹은, 이 제2 전극(16)도 광투과성을 가져도 된다. 이 경우, 제2 전극(16)의 구성 재료로서는, 상기 제1 전극(11)의 구성 재료로서 예시한 도전막과 동등한 것을 들 수 있으며, 제2 전극(16)에는, 이들 투명 도전막 중 상기 제1 전극(11)과는 일함수가 상이한 것이 사용된다. 후술하는 작용 설명 및 실시예에서는, 이 제2 전극(16)이 알루미늄(일함수: 약 4.3eV)을 포함하는 경우를 상정하고 있지만, 제2 전극(16)으로서는 알루미늄 이외에도 상기와 같은 여러가지 전극 재료가 사용된다. 단, 제2 전극(16)은, 부극으로서 기능하는 경우에는 제1 전극(11)보다 얕은 일함수를 갖고, 정극으로서 기능하는 경우에는 제1 전극(11)보다 깊은 일함수를 갖고 있는 것이 바람직하다.
또한, 광전 변환 소자(10)에서는, 예를 들어 제1 전극(11)측으로부터 광이 입사하고, 이 입사광 중 소정 파장의 광이 유기 광전 변환막(12)에 있어서 흡수된다. 또한, 제1 전극(11)으로부터 신호 전하의 추출이 이루어지는 경우에는, 광전 변환 소자(10)를 화소로서 사용한 후술하는 고체 촬상 장치에서는, 제1 전극(11)이 화소마다 분리되어 배치되는 한편, 제2 전극(16)은 각 화소에 공통의 전극으로서 설치된다. 혹은, 제2 전극(16)으로부터 신호 전하의 추출이 이루어지는 경우에는, 제2 전극(16)이 화소마다 분리되어 배치되어, 제1 전극(11)이 각 화소에 공통의 전극으로서 설치된다.
유기 광전 변환막(12)은, 선택적인 파장 영역의 광을 흡수하여 전기 신호를 발생하는 유기 반도체에 의해 구성되어 있다. 이러한 유기 반도체로서는 여러가지 유기 안료를 들 수 있지만, 예를 들어 퀴나크리돈 유도체(퀴나크리돈, 디메틸퀴나크리돈, 디에틸퀴나크리돈, 디부틸퀴나크리돈, 디클로로퀴나크리돈 등의 디할로겐퀴나크리돈을 포함하는 퀴나크리돈류), 프탈로시아닌 유도체(프탈로시아닌, SubPC, CuPC, ZnPC, H2PC, PbPC)를 들 수 있다. 또한, 이 밖에도 옥사디아졸 유도체(NDO, PBD), 스틸벤 유도체(TPB), 페릴렌 유도체(PTCDA, PTCDI, PTCBI, Bipyrene), 테트라시아노퀴노디메탄 유도체(TCNQ, F4-TCNQ) 및 페난트롤린 유도체(Bphen, Anthracene, Rubrene, Bianthrone)를 들 수 있다. 단, 이 밖에도, 예를 들어 나프탈렌 유도체, 피렌 유도체 및 플루오란텐 유도체가 사용되어도 된다. 혹은, 페닐렌비닐렌, 플루오렌, 카르바졸, 인돌, 피렌, 피롤, 피콜린, 티오펜, 아세틸렌, 디 아세틸렌 등의 중합체나 그의 유도체가 사용되어도 된다. 더불어, 금속 착체 색소, 로다민계 색소, 시아닌계 색소, 멜로시아닌계 색소, 페닐크산텐계 색소, 트리페닐메탄계 색소, 로다시아닌계 색소, 크산텐계 색소, 대환상 아자아눌렌계 색소, 아줄렌계 색소, 나프토퀴논, 안트라퀴논계 색소, 안트라센 및 피렌 등의 축합 다환 방향족 및 방향환 내지 복소환 화합물이 축합한 쇄상 화합물, 또는 스쿠아릴륨기 및 크로코닉메틴기를 결합쇄로서 갖는 퀴놀린, 벤조티아졸, 벤조옥사졸 등의 2개의 질소 함유 복소환, 또는 스쿠아릴륨기 및 크로코닉메틴기에 의해 결합한 시아닌계 유사의 색소 등을 바람직하게 사용할 수 있다. 또한, 상기 금속 착체 색소로서는 알루미늄 착체(Alq3, Balq), 디티올 금속 착체계 색소, 금속 프탈로시아닌 색소, 금속 포르피린 색소 또는 루테늄 착체 색소가 바람직하지만, 이것에 한정되는 것은 아니다. 또한, 유기 광전 변환막(12)에는, 상기와 같은 안료 이외에도 풀러렌(C60)이나 BCP(Bathocuproine) 등의 다른 유기 재료가 적층되어도 된다. 후술하는 작용 설명 및 실시예에서는, 이 유기 광전 변환막(12)이 퀴나크리돈을 포함하는 경우를 상정하고 있지만, 유기 광전 변환막(12)으로서는 퀴나크리돈 이외에도 상기와 같은 여러가지 유기 반도체가 사용된다. 또한, 퀴나크리돈의 최고 피점궤도(HOMO: Highest Occupied Molecular Orbital)의 에너지 준위는 약 5.3eV이며, 최저 공궤도(LUMO: Lowest Unoccupied Molecular Orbital)의 에너지 준위는 약 3.2eV이다.
이 유기 광전 변환막(12)과 제2 전극(16) 사이에는 전하 블록층(15)이 형성되어 있다. 전하 블록층(15)은, 예를 들어 유기 광전 변환막(12)측부터 순서대로 일함수 조정층(13) 및 확산 억제층(14A)(제1 확산 억제층)을 갖고 있다. 이 전하 블록층(15)은 적어도 일함수 조정층(13)의 기능에 의해 제2 전극(16)으로부터 유기 광전 변환막(12)에의 전하(예를 들어 정공)의 이동을 억제하는 (블록하는) 기능을 갖고 있다.
일함수 조정층(13)은 유기 광전 변환막(12)의 제2 전극(16)측의 일함수를 조정하는 기능을 갖는 것이다. 구체적으로는, 일함수 조정층(13)은 제2 전극(16)으로부터 유기 광전 변환막(12)에의 전하(예를 들어 정공)의 이동(주입)이 억제되도록, 제2 전극(16)보다 얕은 일함수(저일함수)를 갖는 금속 원소(무기 원소)의 단체, 혹은 그러한 금속 원소를 포함하는 합금 또는 화합물을 포함한다. 이러한 금속 원소로서는, 예를 들어 리튬(Li), 베릴륨(Be), 나트륨(Na), 마그네슘(Mg), 칼륨(K), 칼슘(Ca), 루비듐(Rb), 스트론튬(Sr), 세슘(Cs) 또는 바륨(Ba)을 들 수 있다. 후술하는 작용 설명 및 실시예에서는, 이 일함수 조정층(13)이 금속 원소로서 리튬을 사용한 알루미늄과 리튬의 합금(「AlLi」라고 칭함)을 포함하는 경우를 상정하고 있지만, 금속 원소로서는 리튬 이외에도 상기와 같은 여러가지 금속 원소가 사용된다. 또한, AlLi의 일함수는 약 2.8eV이다.
확산 억제층(14A)은 일함수 조정층(13)과 제2 전극(16) 사이에 형성되어, 일함수 조정층(13)에 포함되는 금속 원소(예를 들어, 리튬)의 제2 전극(16)측에의 확산을 억제하는 것이다. 이 확산 억제층(14A)은, 예를 들어 산소 원소(O)를 갖지 않는 유기 분자(이하, 무산소 유기 분자라고 함)로 구성되어 있다. 무산소 유기 분자로서는, 예를 들어 페난트롤린 유도체, 루브렌 유도체, 안트라센 유도체, 트리아진 유도체, 페릴렌 유도체 및 테트라시아노퀴노디메탄(TCNQ) 유도체를 들 수 있다. 확산 억제층(14A)은, 그러한 무산소 유기 분자 중 적어도 1종을 포함하고 있다. 후술하는 작용 설명 및 실시예에서는, 이 확산 억제층(14A)이 본 발명의 일 실시 형태에 따른 무산소 유기 분자로서 바소큐프로인(BCP)을 상정하고 있지만, 확산 억제층(14A)으로서는, 이 BCP 이외에도 상기와 같은 여러가지 유기 분자가 사용된다. 또한, BCP의 HOMO 준위는 약 6.2eV이고, LUMO 준위는 약 2.4eV이다.
[작용, 효과]
본 실시 형태의 광전 변환 소자(10)에서는, 예를 들어 고체 촬상 장치의 화소로서, 다음과 같이 하여 신호 전하가 취득된다. 즉, 광전 변환 소자(10)에, 예를 들어 제1 전극(11)의 하방으로부터 광이 입사하면, 이 입사광 중 적어도 일부가 유기 광전 변환막(12)에 있어서 광전 변환된다. 구체적으로는, 소정의 색광(적색광, 녹색광 또는 청색광)이 유기 광전 변환막(12)에 있어서 선택적으로 검출(흡수)됨으로써 전자ㆍ홀 쌍을 발생시킨다. 발생한 전자ㆍ홀 쌍 중, 예를 들어 전자가 제1 전극(11)측으로부터 추출되고, 홀은 제2 전극(16)측으로부터 추출된다. 이들 전자 및 홀 중 한쪽이 신호 전하로서, 후술하는 수직 신호선 Lsig에 판독됨으로써 촬상 데이터가 얻어진다.
(비교예 1)
도 2는 본 실시 형태의 비교예(비교예 1)에 따른 광전 변환 소자의 구성을 도시한 것이다. 이 광전 변환 소자에서는 ITO를 포함하는 제1 전극(11) 상에 퀴나크리돈(QD)을 포함하는 유기 광전 변환막(12), 및 알루미늄을 포함하는 제2 전극(16)을 갖는 것이다. 도 3에 비교예 1에 따른 광전 변환 소자의 에너지 밴드 구조를 도시한다. 이 비교예 1의 적층 구조에서는, 도 3에 도시한 바와 같이 퀴나크리돈의 HOMO 준위(5.3eV)와 알루미늄의 일함수(4.3eV) 사이의 에너지 차가 작기 때문에, 홀 이동에 의해 소위 암전류가 발생하여 효율적인 신호 추출이 곤란하다.
(비교예 2)
도 4는 본 실시 형태의 비교예(비교예 2)에 따른 광전 변환 소자의 구성을 도시한 것이다. 이 광전 변환 소자에서는, 상기 비교예 1과 마찬가지로 ITO를 포함하는 제1 전극(11)과, 알루미늄을 포함하는 제2 전극(16) 사이에 퀴나크리돈(QD)을 포함하는 유기 광전 변환막(12)이 설치되어 있다. 단, 비교예 2에서는 유기 광전 변환막(12)과 제2 전극(16) 사이에 AlLi를 포함하는 일함수 조정층(13)을 갖고 있다. 도 5에 비교예 2에 따른 광전 변환 소자의 에너지 밴드 구조를 도시한다. 이와 같이 비교예 2의 적층 구조에서는 유기 광전 변환막(12)과 제2 전극(16) 사이에, 일함수 조정층(13)으로서 제2 전극(16)보다 저일함수의 AlLi(일함수: 2.8eV)을 설치함으로써 에너지 밴드 구조에서의 장벽이 되어, 유기 광전 변환막(12)에의 홀 이동의 억제가 기대된다.
그런데, 실제로는, 도 6에 모식적으로 도시한 바와 같이 일함수 조정층(13)에 포함되는 금속 원소(리튬)(13a)가 시간 경과와 함께 제2 전극(16)측으로 확산되어 제2 전극(16)의 표면까지 부상하는 현상이 발생한다. 또한, 일부 금속 원소(13a)는 유기 광전 변환막(12)측으로도 확산된다. 이로 인해, 실제의 에너지 밴드 구조는, 도 7에 도시한 바와 같이 유기 광전 변환막(12)의 제2 전극(16)측의 일함수는 알루미늄 단체의 일함수에 근접하여(혹은 동일 정도가 되어), 홀 이동에 의해 암전류가 발생하기 쉬워진다. 이에 의해, 상기 도 5에 있어서 도시한 바와 같은 이상적인 에너지 밴드 구조를 구축하여 원하는 신호 추출 효율을 실현하기가 어렵다.
여기서, 도 8에는 비교예 1, 2의 소자 구조에서의 암전류의 측정 결과를 나타낸다. 비노광시에 있어서, 유기 광전 변환막(12) 상에 제2 전극(16)(Al)만을 설치한 비교예 1에 비하여, 일함수 조정층(13)(AlLi)을 더 형성한 비교예 2의 쪽이 암전류가 억제되는 것을 알 수 있다. 또한, 도 9에는 Al막 및 AlLi막을 각각 20nm 성막한 경우의 각 막의 깊이(두께)와 일함수의 관계에 대하여 나타낸다. 또한, 깊이 0이 각 막의 최표면에 상당하고, 이 최표면으로부터 깊이 방향으로 일정 속도로 깎는 스퍼터링법에 의해 표면의 원소 농도를 측정하였다. 이 결과, 리튬을 포함하지 않는 Al막에서는, 깊이 방향에 있어서 일함수에 큰 변동이 발생하지 않는 것에 반하여, AlLi막에서는 최표면에 있어서 일함수가 낮고, 깊어짐에 따라 일함수가 상승하는 것을 알 수 있다. 이 AlLi막에 있어서 리튬 농도를 측정한 바, 최표면으로부터 2 내지 3nm 정도의 영역(도 9 중의 A)에 있어서 리튬 농도가 높지만, 최표면에서의 리튬 농도가 30중량%이었던 것에 반하여, 최표면으로부터 2nm의 깊이에서는 리튬 농도가 3중량%가 되어 최표면에 비하여 1/10 정도까지 감소하였다. 이와 같이 깊이가 커짐에 따라서 리튬 농도의 감소가 보였는데, 그 이유 중 하나로서는 AlLi막 중의 리튬 원소가 대기 중의 산소(O2)에 끌어당겨져 확산되는 것을 들 수 있다. 이들 결과로부터 AlLi막 중의 리튬 원소가 산소에 끌어당겨져 확산되며, 이 확산에 의한 리튬 농도의 변화가 일함수의 변동에 영향을 미치는 것을 알 수 있다. 또한, 도면 중의 B는 알루미늄 내의 카본의 영향에 따른 것이라고 생각된다.
따라서, 다음과 같은 시료(시료 s1, s2)를 사용하여 상기 리튬 편석에 대하여 해석을 행하였다. 시료 s1은, 도 10a에 도시한 바와 같이 산화실리콘 기판(SiO: 150nm) 상에 QD막(5nm), AlLi막(100nm) 및 Al막(50nm)을 이 순서대로 성막한 것이다. 시료 s2는, 도 10b에 도시한 바와 같이 시료 s1에서의 QD막 대신에 BCP막(5nm)을 성막한 것이다. 여기서, 시료 s1의 QD는 산소 원소를 함유하는 유기 분자(이하, 산소 함유 유기 분자)이며, 예를 들어 하기 식 (1)에 의해 표시된다. 한편, 시료 s2의 BCP는 무산소 유기 분자이며, 예를 들어 하기 식 (2)에 의해 표시된다.
Figure pct00001
Figure pct00002
이들 시료 s1, s2에 대하여, 상술한 스퍼터링법 및 X선 광전자 분광법(XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy)을 이용하여 깊이 방향에서의 원소 농도에 대하여 측정하였다. 시료 s1에 대한 결과를 도 11a에, 시료 s2에 대한 결과를 도 11b에 각각 나타낸다. 또한, 도 11a 및 도 11b에서는 실선이 리튬 농도, 파선이 산소 농도를 나타낸다. 도 11a, 도 11b에 나타낸 바와 같이, 시료 s1, s2의 어느 경우든 Al막 최표면에 고농도의 리튬이 검출되며, Al막 및 AlLi막 중에서의 리튬 농도는 검출 한계 이하가 되었다. 단, QD막을 사용한 시료 s1에서는, Al막 최표면에서의 리튬 농도가 10%가 되고, AlLi막과 QD막의 계면 부근에서의 리튬 농도가 5 내지 7%가 되었다. 또한, 이 시료 s1에서는 AlLi막과 QD막의 계면 부근에서의 산소 농도가 높아지고, QD막 내에서의 산소 농도는 감소 경향에 있는 것을 알 수 있었다. 한편, BCP막을 사용한 시료 s2에서는, Al막 최표면에서의 리튬 농도가 23%로서, 상기 시료 s1과 비교하여 현저하게 높아지는 것을 알 수 있었다. 도 12a는 시료 s1의 Al막 최표면의 사진, 도 12b는 시료 s2의 Al막 최표면의 사진이다. 이와 같이 무산소 유기 분자를 포함하는 시료 s2에서는, Al막 최표면에 있어서 산소 함유 유기 분자를 포함하는 시료 s1보다 현저하게 리튬이 얼룩 모양으로 떠올라 있는 것을 알 수 있다.
상기 결과로부터 리튬 원소는 대기 중 혹은 막 내의 산소 원소에 끌어당겨져 확산되는 경향이 있다고 추측된다.
따라서, 본 실시 형태에서는 이하와 같은 구성을 채용하고 있다. 즉, 도 1에 도시한 바와 같이, 전하 블록층(15)은, 예를 들어 리튬 등의 금속 원소(13a)를 포함하는 일함수 조정층(13)을 구비하는데, 이 일함수 조정층(13)과 제2 전극(16) 사이에, 예를 들어 BCP 등의 무산소 유기 분자를 포함하는 확산 억제층(14A)을 더 갖고 있다.
이에 의해, 도 13에 도시한 바와 같이, 일함수 조정층(13) 중의 금속 원소(13a)는 제2 전극(16)측으로 확산되지 않고, 일함수 조정층(13) 내, 혹은 유기 광전 변환막(12)과의 계면 부근에 머문다. 따라서, 상기 비교예 2(도 5)에 있어서 설명한 바와 같은 금속 원소(13a)에 의한 이상적인 에너지 밴드 구조를 구축할 수 있다. 도 14에 본 실시 형태의 광전 변환 소자(10)에서의 에너지 밴드 구조를 도시한다. 이와 같이 본 실시 형태에서는 전하 블록층(15)에 있어서, 예를 들어 무산소 유기 분자를 포함하는 확산 억제층(14A)을 일함수 조정층(13)의 제2 전극(16)측에 형성함으로써, 일함수 조정층(13)의 (금속 원소(13a)에 의한) 기능을 안정되게 유지할 수 있다. 더불어, 이 확산 억제층(14A)이 에너지 밴드 구조에서의 장벽이 되어, 홀 주입을 억제하는 효과도 얻을 수 있다.
이에 의해 본 실시 형태에서는 암전류를 억제하는 효과도 얻어진다.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시 형태에서는 제2 전극(16)과 유기 광전 변환막(12) 사이에 일함수 조정층(13)을 갖는 전하 블록층(15)을 구비한다. 일함수 조정층(13)은, 일함수(유기 광전 변환막(12)의 제2 전극(16)측의 일함수)를 조정하는 금속 원소(13a)를 포함한다. 이에 의해, 제2 전극(16)으로부터 유기 광전 변환막(12)에의 전하 이동이 억제되어 효율적인 신호 추출이 가능하게 된다. 이러한 일함수 조정층(13)과 제2 전극(16) 사이에 확산 억제층(14A)을 가짐으로써, 금속 원소(13a)의 제2 전극(16)측에의 확산이 억제되어 일함수 조정층(13)의 기능을 안정되게 유지할 수 있다. 따라서, 소자 특성을 안정화시켜 신뢰성을 향상시키는 것이 가능하게 된다.
(비교예 3)
또한, 도 15에 도시한 바와 같이, 무산소 유기 분자(BCP)를 포함하는 확산 억제층(14A)을 일함수 조정층(13)(AlLi)의 유기 광전 변환막(12)(QD)측에만 형성한 경우에는, 상기 본 실시 형태와 마찬가지의 효과를 얻기가 어렵다. 이 경우, 도 16에 도시한 에너지 밴드 구조가 이상적이기는 하지만, 실제로는 상기 비교예 2의 경우와 마찬가지로 일함수 조정층(13)에 포함되는 금속 원소(13a)(리튬)가 제2 전극(16)측으로 확산된다(도 17). 이로 인해, 에너지 밴드 구조에 있어서는, 도 18에 도시한 바와 같이 유기 광전 변환막(12) 상에 단순히 BCP막과 Al막을 적층한 것 뿐인 구조와 대략 동등하여, 금속 원소(13a)에 의한 일함수 조정층(13)의 기능을 유지하기가 어렵다.
이어서, 상기 실시 형태에 따른 전하 블록층의 변형예(변형예 1, 2)에 대하여 설명한다. 또한, 이하에서는 상기 실시 형태와 마찬가지의 구성 요소에 대해서는 마찬가지의 부호를 붙여, 적절하게 그 설명을 생략한다.
<변형예 1>
도 19는 변형예 1에 따른 전하 블록층(전하 블록층(15A))을 구비한 광전 변환 소자의 구성을 도시한 것이다. 상기 실시 형태에서는 일함수 조정층(13)의 제2 전극(16)측에만 확산 억제층(14A)이 형성되어 있지만, 본 변형예의 전하 블록층(15A)과 같이 일함수 조정층(13)의 유기 광전 변환막(12)측에도 확산 억제층(14B)(제2 확산 억제층)이 형성되어도 된다. 즉, 전하 블록층(15A)은 일함수 조정층(13)이 2개의 확산 억제층(14A, 14B)에 의해 사이에 끼워넣어진 구조이어도 된다. 이 확산 억제층(14B)은, 상기 실시 형태의 확산 억제층(14A)과 마찬가지로 예를 들어 상술한 바와 같은 무산소 유기 분자로 구성되어 있다.
본 변형예의 전하 블록층(15A)에서는, 확산 억제층(14A, 14B)에 의해 금속 원소(13a)가 일함수 조정층(13) 내에 밀봉되어, 도 20에 도시한 바와 같이 에너지 밴드 구조에 있어서 일함수 조정층(13)(AlLi)의 기능이 안정되게 유지된다. 따라서, 상기 실시 형태와 동등한 효과를 얻을 수 있다.
<변형예 2>
도 21은 변형예 2에 따른 전하 블록층(전하 블록층(15B))을 구비한 광전 변환 소자의 구성을 도시한 것이다. 상기 실시 형태에서는 일함수 조정층(13)의 제2 전극(16)측에 무산소 유기 분자를 포함하는 확산 억제층(14A)만이 형성되어 있지만, 본 변형예의 전하 블록층(15B)과 같이 일함수 조정층(13)과 확산 억제층(14A) 사이에도 확산 억제층(14C)(제3 확산 억제층)이 형성되어도 된다. 즉, 전하 블록층(15A)은 일함수 조정층(13) 상에 2개의 확산 억제층(14C, 14A)이 적층된 구조이어도 된다. 이 확산 억제층(14C)은, 예를 들어 상술한 바와 같은 무산소 유기 분자이어도 되고, 산소 함유 유기 분자이어도 된다.
본 변형예의 전하 블록층(15B)에서는, 확산 억제층(14C, 14B)에 의해 금속 원소(13a)의 제2 전극(16)측에의 확산이 억제되어, 도 22에 도시한 바와 같이 에너지 밴드 구조에 있어서 일함수 조정층(13)(AlLi)의 기능이 안정되게 유지된다. 따라서, 상기 실시 형태와 동등한 효과를 얻을 수 있다.
<고체 촬상 장치의 전체 구성>
도 23은 상기 실시 형태에 있어서 설명한 광전 변환 소자를 각 화소에 사용한 고체 촬상 장치(고체 촬상 장치(1))의 기능 블록도이다. 이 고체 촬상 장치(1)는 CMOS 이미지 센서이며, 촬상 에리어로서의 화소부(1a)를 가짐과 함께, 예를 들어 행 주사부(131), 수평 선택부(133), 열 주사부(134) 및 시스템 제어부(132)를 포함하는 회로부(130)를 갖고 있다. 이 화소부(1a)의 주변 영역 혹은 화소부(1a)와 적층되어, 회로부(130)는 화소부(1a)의 주변 영역에 설치되어도 되고, 화소부(1a)와 적층되어 (화소부(1a)에 대향하는 영역에) 설치되어도 된다.
화소부(1a)는, 예를 들어 행렬 형상으로 2차원 배치된 복수의 단위 화소(P)(광전 변환 소자(10)에 상당)를 갖고 있다. 이 단위 화소(P)에는, 예를 들어 화소행마다 화소 구동선 Lread(구체적으로는 행 선택선 및 리셋 제어선)가 배선되고, 화소열마다 수직 신호선 Lsig가 배선되어 있다. 화소 구동선 Lread는 화소로부터의 신호 판독을 위한 구동 신호를 전송하는 것이다. 화소 구동선 Lread의 일단은, 행 주사부(131)의 각 행에 대응한 출력단에 접속되어 있다.
행 주사부(131)는 시프트 레지스터나 어드레스 디코더 등에 의해 구성되며, 화소부(1a)의 각 화소(P)를, 예를 들어 행 단위로 구동하는 화소 구동부이다. 행 주사부(131)에 의해 선택 주사된 화소행의 각 화소(P)로부터 출력되는 신호는, 수직 신호선 Lsig의 각각을 통하여 수평 선택부(133)에 공급된다. 수평 선택부(133)는 수직 신호선 Lsig마다 설치된 증폭기나 수평 선택 스위치 등에 의해 구성되어 있다.
열 주사부(134)는 시프트 레지스터나 어드레스 디코더 등에 의해 구성되며, 수평 선택부(133)의 각 수평 선택 스위치를 주사하면서 순서대로 구동하는 것이다. 이 열 주사부(134)에 의한 선택 주사에 의해, 수직 신호선 Lsig의 각각을 통하여 전송되는 각 화소의 신호가 순서대로 수평 신호선(135)에 전송되어, 당해 수평 신호선(135)을 통하여 외부에 출력된다.
시스템 제어부(132)는, 외부로부터 제공되는 클럭이나, 동작 모드를 명령하는 데이터 등을 수취하고, 또한 고체 촬상 장치(1)의 내부 정보 등의 데이터를 출력하는 것이다. 시스템 제어부(132)는, 또한 각종 타이밍 신호를 생성하는 타이밍 제너레이터를 가지며, 당해 타이밍 제너레이터에서 생성된 각종 타이밍 신호를 기초로 행 주사부(131), 수평 선택부(133) 및 열 주사부(134) 등의 구동 제어를 행한다.
<적용예>
상술한 고체 촬상 장치(1)는, 예를 들어 디지털 스틸 카메라나 비디오 카메라 등의 카메라 시스템이나, 촬상 기능을 갖는 휴대 전화 등 촬상 기능을 구비한 모든 타입의 전자 기기에 적용할 수 있다. 도 24에, 그 일례로서 전자 기기(2)(카메라)의 개략 구성을 도시한다. 이 전자 기기(2)는, 예를 들어 정지 화상 또는 동화상을 촬영 가능한 비디오 카메라이며, 고체 촬상 장치(1)와, 광학계(광학 렌즈)(310)와, 셔터 장치(311)와, 고체 촬상 장치(1) 및 셔터 장치(311)를 구동하는 구동부(313)와, 신호 처리부(312)를 갖는다.
광학계(310)는 피사체로부터의 상광(입사광)을 고체 촬상 장치(1)의 화소부(1a)로 유도하는 것이다. 이 광학계(310)는 복수의 광학 렌즈로 구성되어도 된다. 셔터 장치(311)는 고체 촬상 장치(1)에의 광 조사 기간 및 차광 기간을 제어하는 것이다. 구동부(313)는 고체 촬상 장치(1)의 전송 동작 및 셔터 장치(311)의 셔터 동작을 제어하는 것이다. 신호 처리부(312)는 고체 촬상 장치(1)로부터 출력된 신호에 대하여, 각종 신호 처리를 행하는 것이다. 신호 처리 후의 영상 신호 Dout는, 메모리 등의 기억 매체에 기억되거나, 혹은 모니터 등에 출력된다.
이상, 실시 형태, 변형예 및 적용예를 들어 설명하였지만, 본 발명의 내용은 상기 실시 형태 등에 한정되는 것이 아니며, 여러가지 변형이 가능하다. 예를 들어, 상기 실시 형태 등에서는 본 발명의 전하 블록층이 제2 전극(16)으로부터 유기 광전 변환막(12)에의 홀 이동을 억제하는 경우를 예로 들어 설명하였지만, 유기 광전 변환막(12), 제2 전극(16) 및 금속 원소(13a) 등의 구성 재료에 따라 전자 이동을 억제하는 경우에도 적용 가능하다.
또한, 본 발명의 광전 변환 소자에서는, 상기 실시 형태 등에서 설명한 각 구성 요소를 모두 구비할 필요는 없으며, 또한 반대로 다른 층을 구비하여도 된다.
또한, 본 발명은 이하와 같은 구성이어도 된다.
(1) 유기 광전 변환막과,
상기 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과,
상기 제2 전극과 상기 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며,
상기 전하 블록층은,
상기 유기 광전 변환막의 상기 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과,
상기 일함수 조정층과 상기 제2 전극 사이에 형성되어, 상기 금속 원소의 상기 제2 전극측에의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층
을 갖는 광전 변환 소자.
(2) 상기 제1 확산 억제층은, 산소 원소(O)를 포함하지 않는 무산소 유기 분자로 구성되어 있는 상기 (1)에 기재된 광전 변환 소자.
(3) 상기 무산소 유기 분자는 페난트롤린 유도체, 루브렌 유도체, 안트라센 유도체, 트리아진 유도체, 페릴렌 유도체 및 테트라시아노퀴노디메탄(TCNQ) 유도체 중 적어도 1종인 상기 (2)에 기재된 광전 변환 소자.
(4) 상기 전하 블록층은, 상기 일함수 조정층의 상기 유기 광전 변환막측에 산소 원소(O)를 포함하지 않는 무산소 유기 분자로 구성된 제2 확산 억제층을 더 갖는 상기 (2) 또는 (3)에 기재된 광전 변환 소자.
(5) 상기 전하 블록층은, 상기 일함수 조정층과 상기 제1 확산 억제층 사이에, 산소 원소(O)를 포함하는 산소 함유 유기 분자로 구성된 제3 확산 억제층을 더 갖는 상기 (2) 또는 (3)에 기재된 광전 변환 소자.
(6) 상기 제1 전극은 광투과성을 갖는 도전막인 상기 (1) 내지 (5) 중 어느 하나에 기재된 광전 변환 소자.
(7) 상기 제2 전극은 알루미늄(Al), 구리(Cu), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 바나듐(V), 티타늄(Ti), 지르코늄(Zr), 니오븀(Nb), 몰리브덴(Mo), 루테늄(Ru), 팔라듐(Pd), 하프늄(Hf), 탄탈륨(Ta), 텅스텐(W), 백금(Pt) 및 금(Au) 중 적어도 1종을 포함하는 상기 (1) 내지 (6) 중 어느 하나에 기재된 광전 변환 소자.
(8) 상기 제2 전극은 광투과성을 가짐과 함께 상기 제1 전극과 일함수가 상이한 도전막인 상기 (1) 내지 (6) 중 어느 하나에 기재된 광전 변환 소자.
(9) 상기 금속 원소는 리튬(Li), 베릴륨(Be), 나트륨(Na), 마그네슘(Mg), 칼륨(K), 칼슘(Ca), 루비듐(Rb), 스트론튬(Sr), 세슘(Cs) 또는 바륨(Ba)인 상기 (1) 내지 (8) 중 어느 하나에 기재된 광전 변환 소자.
(10) 각각이 광전 변환 소자를 포함하는 복수의 화소를 가지며,
상기 광전 변환 소자는,
유기 광전 변환막과,
상기 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과,
상기 제2 전극과 상기 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며,
상기 전하 블록층은,
상기 유기 광전 변환막의 상기 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과,
상기 일함수 조정층과 상기 제2 전극 사이에 형성되어, 상기 금속 원소의 상기 제2 전극측에의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층을 갖는 고체 촬상 장치.
(11) 각각이 광전 변환 소자를 포함하는 복수의 화소를 가지며,
상기 광전 변환 소자는,
유기 광전 변환막과,
상기 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과,
상기 제2 전극과 상기 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며,
상기 전하 블록층은,
상기 유기 광전 변환막의 상기 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과,
상기 일함수 조정층과 상기 제2 전극 사이에 형성되어, 상기 금속 원소의 상기 제2 전극측에의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층을 갖는 고체 촬상 장치를 구비한 전자 기기.
본 출원은 일본 특허청에 있어서 2012년 11월 6일에 출원된 일본 특허 출원 번호 제2012-244506호를 기초로 하여 우선권을 주장하는 것이며, 이 출원의 모든 내용은 참조에 의해 본 출원에 원용된다.
당업자라면 설계상의 요건이나 다른 요인에 따라 여러가지 수정, 콤비네이션, 서브콤비네이션 및 변경을 상도할 수 있는데, 그것들은 첨부의 청구범위나 그 균등물의 범위에 포함되는 것으로 이해된다.

Claims (20)

  1. 광전 변환 소자로서,
    유기 광전 변환막과,
    상기 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과,
    상기 제2 전극과 상기 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며,
    상기 전하 블록층은,
    상기 유기 광전 변환막의 상기 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과,
    상기 일함수 조정층과 상기 제2 전극 사이에 형성되어, 상기 금속 원소의 상기 제2 전극측에의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층을 갖는, 광전 변환 소자.
  2. 제1항에 있어서, 상기 제1 확산 억제층은 산소 원소(O)를 포함하지 않는 무산소 유기 분자로 구성되어 있는, 광전 변환 소자.
  3. 제2항에 있어서, 상기 무산소 유기 분자는 페난트롤린 유도체, 루브렌 유도체, 안트라센 유도체, 트리아진 유도체, 페릴렌 유도체 및 테트라시아노퀴노디메탄(TCNQ) 유도체 중 적어도 1종인, 광전 변환 소자.
  4. 제2항에 있어서, 상기 전하 블록층은, 상기 일함수 조정층의 상기 유기 광전 변환막측에 산소 원소(O)를 포함하지 않는 무산소 유기 분자로 구성된 제2 확산 억제층을 더 갖는, 광전 변환 소자.
  5. 제4항에 있어서, 상기 무산소 유기 분자는 페난트롤린 유도체, 루브렌 유도체, 안트라센 유도체, 트리아진 유도체, 페릴렌 유도체 및 테트라시아노퀴노디메탄(TCNQ) 유도체 중 적어도 1종인, 광전 변환 소자.
  6. 제2항에 있어서, 상기 전하 블록층은, 상기 일함수 조정층과 상기 제1 확산 억제층 사이에 산소 원소(O)를 포함하는 산소 함유 유기 분자로 구성된 제3 확산 억제층을 더 갖는, 광전 변환 소자.
  7. 제6항에 있어서, 상기 무산소 유기 분자는 페난트롤린 유도체, 루브렌 유도체, 안트라센 유도체, 트리아진 유도체, 페릴렌 유도체 및 테트라시아노퀴노디메탄(TCNQ) 유도체 중 적어도 1종인, 광전 변환 소자.
  8. 제1항에 있어서, 상기 제1 전극은 광투과성을 갖는 도전막인, 광전 변환 소자.
  9. 제8항에 있어서, 상기 제1 전극은 인듐주석 산화물(ITO), 산화주석(TO), 도펀트가 첨가된 산화주석(SnO2)계 재료 및 도펀트가 첨가된 산화아연계 재료 중 어느 1종으로 구성되어 있는, 광전 변환 소자.
  10. 제1항에 있어서, 상기 제2 전극은 알루미늄(Al), 구리(Cu), 니켈(Ni), 크롬(Cr), 바나듐(V), 티타늄(Ti), 지르코늄(Zr), 니오븀(Nb), 몰리브덴(Mo), 루테늄(Ru), 팔라듐(Pd), 하프늄(Hf), 탄탈륨(Ta), 텅스텐(W), 백금(Pt) 및 금(Au) 중 적어도 1종을 포함하는, 광전 변환 소자.
  11. 제1항에 있어서, 상기 제2 전극은 광투과성을 가짐과 함께 상기 제1 전극과 일함수가 상이한 도전막인, 광전 변환 소자.
  12. 제11항에 있어서, 상기 제2 전극은 인듐주석 산화물(ITO), 산화주석(TO), 도펀트가 첨가된 산화주석(SnO2)계 재료 및 도펀트가 첨가된 산화아연계 재료 중 어느 1종으로 구성되어 있는, 광전 변환 소자.
  13. 제1항에 있어서, 상기 금속 원소는 리튬(Li), 베릴륨(Be), 나트륨(Na), 마그네슘(Mg), 칼륨(K), 칼슘(Ca), 루비듐(Rb), 스트론튬(Sr), 세슘(Cs) 또는 바륨(Ba)인, 광전 변환 소자.
  14. 광전 변환 소자로서,
    유기 광전 변환막과,
    상기 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과,
    상기 제2 전극과 상기 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며,
    상기 전하 블록층은,
    상기 유기 광전 변환막의 상기 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과,
    상기 일함수 조정층과 상기 유기 광전 변환막 사이에 형성되어, 상기 금속 원소의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층을 갖는, 광전 변환 소자.
  15. 제14항에 있어서, 상기 제1 확산 억제층은 산소 원소(O)를 포함하지 않는 무산소 유기 분자로 구성되어 있는, 광전 변환 소자.
  16. 제15항에 있어서, 상기 무산소 유기 분자는 페난트롤린 유도체, 루브렌 유도체, 안트라센 유도체, 트리아진 유도체, 페릴렌 유도체 및 테트라시아노퀴노디메탄(TCNQ) 유도체 중 적어도 1종인, 광전 변환 소자.
  17. 제15항에 있어서, 상기 전하 블록층은, 상기 일함수 조정층의 상기 제2 전극측에 산소 원소(O)를 포함하지 않는 무산소 유기 분자로 구성된 제2 확산 억제층을 더 갖는, 광전 변환 소자.
  18. 제17항에 있어서, 상기 무산소 유기 분자는 페난트롤린 유도체, 루브렌 유도체, 안트라센 유도체, 트리아진 유도체, 페릴렌 유도체 및 테트라시아노퀴노디메탄(TCNQ) 유도체 중 적어도 1종인, 광전 변환 소자.
  19. 고체 촬상 장치로서,
    각각이 광전 변환 소자를 포함하는 복수의 화소를 가지며,
    상기 광전 변환 소자는,
    유기 광전 변환막과,
    상기 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과,
    상기 제2 전극과 상기 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며,
    상기 전하 블록층은,
    상기 유기 광전 변환막의 상기 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과,
    상기 일함수 조정층과 상기 제2 전극 사이에 형성되어, 상기 금속 원소의 상기 제2 전극측에의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층을 갖는, 고체 촬상 장치.
  20. 전자 기기로서,
    각각이 광전 변환 소자를 포함하는 복수의 화소를 가지며,
    상기 광전 변환 소자는,
    유기 광전 변환막과,
    상기 유기 광전 변환막을 사이에 끼워 설치된 제1 전극 및 제2 전극과,
    상기 제2 전극과 상기 유기 광전 변환막 사이에 형성된 전하 블록층을 구비하며,
    상기 전하 블록층은,
    상기 유기 광전 변환막의 상기 제2 전극측의 일함수를 조정하기 위한 금속 원소를 포함하는 일함수 조정층과,
    상기 일함수 조정층과 상기 제2 전극 사이에 형성되어, 상기 금속 원소의 상기 제2 전극측에의 확산을 억제하는 제1 확산 억제층을 갖는, 고체 촬상 장치를 구비한 전자 기기.
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3770977A3 (en) * 2012-11-06 2021-06-16 Sony Corporation Photoelectric conversion device, solid-state image pickup unit, and electronic apparatus
CN106463519B (zh) * 2014-08-21 2020-09-18 索尼公司 成像元件、固态成像装置和电子设备
KR102310516B1 (ko) * 2014-12-19 2021-10-13 한국전기연구원 누설 전류를 저감한 비정질 셀레늄 기반 X-ray 디텍터
EP3300114B1 (en) * 2015-05-19 2020-01-08 Sony Corporation Imaging element, multilayer imaging element and imaging device
US10374015B2 (en) * 2015-05-29 2019-08-06 Sony Semiconductor Solutions Corporation Photoelectric conversion element and solid-state imaging device
JPWO2017081831A1 (ja) * 2015-11-12 2017-11-09 パナソニックIpマネジメント株式会社 光センサ
JPWO2018025545A1 (ja) 2016-08-05 2019-05-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置
TWI782937B (zh) * 2017-04-10 2022-11-11 日商松下知識產權經營股份有限公司 攝像裝置
JP7117110B2 (ja) * 2018-01-31 2022-08-12 ソニーグループ株式会社 光電変換素子および撮像装置
WO2019151042A1 (ja) * 2018-01-31 2019-08-08 ソニー株式会社 光電変換素子、固体撮像装置及び電子装置
WO2020194411A1 (ja) * 2019-03-22 2020-10-01 シャープ株式会社 発光素子、発光デバイス
DE112021000744T5 (de) * 2020-01-29 2022-11-03 Sony Group Corporation Bildaufnahmeelement und bildaufnahmevorrichtung

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004335610A (ja) * 2003-05-02 2004-11-25 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 有機半導体デバイス
JP2007116008A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Seiko Epson Corp 有機発光素子、有機発光素子の製造方法、発光装置および電子機器
US20080230123A1 (en) * 2007-03-12 2008-09-25 Fujifilm Corporation Photoelectric conversion element and solid-state imaging device
JP2011187918A (ja) 2010-02-10 2011-09-22 Fujifilm Corp 光電変換素子及び固体撮像素子
JP2012019235A (ja) 2006-08-14 2012-01-26 Fujifilm Corp 固体撮像素子

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4633373A (en) 1984-12-14 1986-12-30 United Chemi-Con, Inc. Lithium/valve metal oxide/valve metal capacitor
KR100851156B1 (ko) * 2000-03-07 2008-08-08 이데미쓰 고산 가부시키가이샤 액티브 구동형 유기 el 표시 장치 및 그 제조 방법
JP2007081137A (ja) * 2005-09-14 2007-03-29 Fujifilm Corp 光電変換素子及び固体撮像素子
JP4677314B2 (ja) * 2005-09-20 2011-04-27 富士フイルム株式会社 センサーおよび有機光電変換素子の駆動方法
US7982130B2 (en) * 2008-05-01 2011-07-19 The Regents Of The University Of Michigan Polymer wrapped carbon nanotube near-infrared photovoltaic devices
US20070138637A1 (en) 2005-12-19 2007-06-21 Shiva Prakash Electronic device having low background luminescence, a black layer, or any combination thereof
JP4604128B2 (ja) * 2008-10-15 2010-12-22 富士フイルム株式会社 光電変換素子及び撮像素子
JP2010161269A (ja) 2009-01-09 2010-07-22 Ulvac Japan Ltd 有機光電変換素子及びその製造方法並びに有機光電変換撮像素子
WO2010138414A1 (en) 2009-05-27 2010-12-02 Konarka Technologies, Inc. Reflective multilayer electrode
JP4802286B2 (ja) * 2009-08-28 2011-10-26 富士フイルム株式会社 光電変換素子及び撮像素子
WO2011052583A1 (ja) * 2009-10-29 2011-05-05 住友化学株式会社 有機光電変換素子
KR101200437B1 (ko) * 2010-05-18 2012-11-12 광주과학기술원 티오펜 단위와 티에닐렌비닐렌 단위를 갖는 폴리머, 이를 포함하는 유기전계효과트랜지스터, 및 유기태양전지
JP2012244506A (ja) 2011-05-23 2012-12-10 Panasonic Corp 部品実装装置における画像読取装置および画像読取方法
JPWO2013035305A1 (ja) 2011-09-09 2015-03-23 出光興産株式会社 有機太陽電池
JP2012169676A (ja) * 2012-05-31 2012-09-06 Fujifilm Corp 固体撮像素子
US9490441B2 (en) * 2012-08-02 2016-11-08 Sony Corporation Semiconductor device, method of manufacturing semiconductor device, solid-state image pickup unit, and electronic apparatus
EP3770977A3 (en) * 2012-11-06 2021-06-16 Sony Corporation Photoelectric conversion device, solid-state image pickup unit, and electronic apparatus
KR102149937B1 (ko) * 2013-02-22 2020-09-01 삼성전자주식회사 광전 소자 및 이미지 센서

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004335610A (ja) * 2003-05-02 2004-11-25 National Institute Of Advanced Industrial & Technology 有機半導体デバイス
JP2007116008A (ja) * 2005-10-21 2007-05-10 Seiko Epson Corp 有機発光素子、有機発光素子の製造方法、発光装置および電子機器
JP2012019235A (ja) 2006-08-14 2012-01-26 Fujifilm Corp 固体撮像素子
US20080230123A1 (en) * 2007-03-12 2008-09-25 Fujifilm Corporation Photoelectric conversion element and solid-state imaging device
JP2011187918A (ja) 2010-02-10 2011-09-22 Fujifilm Corp 光電変換素子及び固体撮像素子

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Publication number Publication date
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US9520449B2 (en) 2016-12-13

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