KR20150012867A - Tester of display panel and method of testing display panel using the same - Google Patents

Abstract

A tester for a display panel to test a display panel having pixels includes a sensing element, a logic circuit pat, and a display part. The sensing element senses the luminance of output beams outputted from the pixels. The sensing element generates electric signals corresponding to the sensed luminance. The logic circuit part compares the output value of the electric signal outputted from the sensing element with a predetermined reference value. The logic circuit part outputs the comparison result between the output value and the reference value in the form of a control signal of a binary system. Moreover, the display part receives the control signal to display a test pattern.

Description

표시 패널의 검사 장치 및 이를 이용하여 표시패널을 검사하는 방법{TESTER OF DISPLAY PANEL AND METHOD OF TESTING DISPLAY PANEL USING THE SAME}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an inspection apparatus for a display panel and a method for inspecting the display panel using the same,

본 발명은 표시 패널의 검사 장치 및 이를 이용하여 표시패널을 검사하는 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 표시패널의 화소들로부터 출력되는 광의 휘도를 센싱하는 센싱 소자들을 이용하여 표시 패널의 불량 여부를 검사하는 검사 장치 및 이를 이용하여 표시패널의 불량 여부를 검사하는 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an inspection apparatus for a display panel and a method for inspecting a display panel using the same. More particularly, the present invention relates to a method for inspecting a display panel using a sensing element that senses the luminance of light output from the pixels of the display panel, And a method for checking whether or not a display panel is defective using the same.

표시패널의 제조가 완료되고, 상기 표시패널을 구동회로필름과 같은 다른 구성 부품들과 결합하는 모듈화 공정을 수행하기 이전에, 상기 표시패널의 화소들이 정상적으로 구동되는 지의 여부를 검사하는 구동 테스트 공정을 수행할 필요가 있다. 상기 구동 테스트 공정에서는 상기 표시패널의 화소들의 불량 여부를 테스트 할 뿐만 아니라 상기 표시패널로부터 출력되는 광의 휘도로 제조된 상기 표시패널의 품질을 모니터링 할 수도 있다. A driving test process for checking whether or not the pixels of the display panel are normally driven is performed before completing the fabrication of the display panel and performing the modularization process of combining the display panel with other components such as the driving circuit film You need to do it. In the driving test process, it is possible not only to test the quality of the pixels of the display panel, but also to monitor the quality of the display panel manufactured with the brightness of the light output from the display panel.

한편, 소비자의 요구에 대응하여 상기 표시패널의 화소들의 불량 여부를 보다 정밀히 테스트 할 수 있는 검사 장치의 개발이 필요하다. 특히, 유기전계발광 표시패널의 경우, 화소들로부터 출력되는 광의 휘도를 정밀히 검사하여 불량 화소들 또는 불량으로 진행할 가능성이 높은 화소들을 정교하게 검출해내는 검사 장치가 필요하다. On the other hand, it is necessary to develop an inspection apparatus capable of more precisely testing whether the pixels of the display panel are defective or not in response to a demand from a consumer. In particular, in the case of an organic light emitting display panel, there is a need for an inspection apparatus that precisely checks the brightness of light output from pixels to precisely detect defective pixels or pixels that are likely to advance to defects.

본 발명의 목적은 화소들로부터 출력되는 광의 휘도를 센싱하여 표시패널의 불량 여부를 용이하게 판단할 수 있는 표시패널 검사장치를 제공하는 데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a display panel inspection apparatus capable of easily determining whether a display panel is defective by sensing the luminance of light output from pixels.

본 발명의 다른 목적은 상술한 표시패널 검사장치를 이용하여 표시패널의 불량 여부를 용이하게 판단할 수 있는 표시패널의 검사방법을 제공하는 데 있다. It is another object of the present invention to provide a method of inspecting a display panel that can easily determine whether a display panel is defective by using the display panel inspection apparatus described above.

다수의 화소들을 갖는 표시패널을 검사하는 표시패널의 검사 장치에 있어서, 상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위해서 본 발명에 따른 표시패널 검사 장치는 센싱 소자, 논리 회로부 및 표시부를 포함한다. 상기 센싱 소자는 상기 다수의 화소들 각각으로부터 출력되는 출력광의 휘도를 센싱하고, 상기 센싱 소자는 상기 센싱된 상기 휘도의 값에 대응하는 전기 신호를 생성한다. In order to achieve the object of the present invention, in a display panel inspection apparatus for inspecting a display panel having a plurality of pixels, a display panel inspection apparatus according to the present invention includes a sensing element, a logic circuit portion, and a display portion. The sensing element senses the brightness of output light output from each of the plurality of pixels, and the sensing element generates an electrical signal corresponding to the sensed brightness value.

상기 논리 회로부는 상기 센싱 소자로부터 출력되는 상기 전기 신호의 출력 값을 기 설정된 기준 값과 비교하고, 상기 논리 회로부는 상기 출력 값 및 상기 기준 값 간의 비교된 결과를 이진법 방식의 제어 신호로 출력한다. 또한, 상기 표시부는 상기 제어 신호를 제공받아 검사용 패턴을 표시한다. The logic circuit compares the output value of the electric signal output from the sensing element with a preset reference value, and the logic circuit outputs a comparison result between the output value and the reference value as a binary control signal. Further, the display unit receives the control signal and displays an inspection pattern.

상술한 본 발명의 다른 목적을 달성하기 위한 표시패널의 검사 방법은 다음과 같다. 표시패널의 다수의 화소들에 서로 동일한 값의 구동 신호를 인가하여 상기 다수의 화소들 각각으로부터 출력광이 출력된다. 센싱 소자는 상기 출력광을 센싱하여 상기 출력광의 휘도 값에 대응하는 전기 신호를 생성한다. 그 이후에, 논리 회로부가 상기 전기 신호의 출력 값 을 기 설정된 기준 값과 비교하고, 상기 논리 회로부로부터 상기 출력 값 및 상기 기준 값 간의 비교된 결과가 이진법 방식의 제어 신호로 출력된다. 그 이후에, 검사용 화소에 상기 제어 신호가 입력되어 검사용 패턴이 출력되고, 상기 검사용 패턴을 이용하여 상기 표시패널의 불량 여부를 판단한다. A method of inspecting a display panel for achieving another object of the present invention is as follows. A driving signal having the same value is applied to a plurality of pixels of the display panel to output the output light from each of the plurality of pixels. The sensing element senses the output light and generates an electrical signal corresponding to the brightness value of the output light. Thereafter, the logic circuit compares the output value of the electrical signal with a predetermined reference value, and the comparison result between the output value and the reference value is output from the logic circuit portion as a control signal of a binary method. Thereafter, the control signal is inputted to the inspection pixel and an inspection pattern is outputted, and it is judged whether or not the display panel is defective by using the inspection pattern.

본 발명에 따르면, 화소들로부터 출력되는 광의 휘도에 대응하여 표시부의 검사용 화소들에 검사용 패턴들이 이진법 방식으로 구현된다. 따라서, 표시부에 표시되는 검사용 패턴들이 직관적으로 시인될 수 있으므로 화소들의 불량 여부를 판단하기가 용이하다. According to the present invention, the patterns for inspection are implemented in the inspection pixels of the display unit in a binary method corresponding to the brightness of light output from the pixels. Therefore, inspection patterns displayed on the display unit can be visually recognized intuitively, so it is easy to determine whether or not the pixels are defective.

또한, 표시부가 갖는 전체 검사용 화소들에서 검사용 패턴들이 불규칙한 패턴 형상으로 표시되고, 이 불규칙한 패턴 형상을 갖는 검사용 패턴들을 이용하여 표시패널의 불량 여부 판단용 지침이 설정될 수 있다. 이 경우에, 검사용 패턴들이 불규칙한 패턴 형상을 가지더라도, 이 검사용 패턴들은 표시패널의 불량 여부를 판단하는 데 유용하게 활용될 수 있다. In addition, the patterns for inspection are displayed in an irregular pattern shape in all of the pixels for inspection included in the display section, and instructions for determining whether or not the display panel is defective can be set using the inspection patterns having the irregular pattern shape. In this case, even if the inspection patterns have an irregular pattern shape, the inspection patterns can be usefully used for judging whether or not the display panel is defective.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시패널 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 표시패널 검사장치를 이용하여 표시패널의 불량 여부를 검사하는 방법을 나타내는 순서도이다.
도 3a는 도 1에 도시된 표시부를 나타내는 도면이다.
도 3b는 도 3a에 도시된 제1 영역을 확대한 도면이다.
도 4는 도 3a에 표시된 표시부의 제2 영역을 확대한 도면이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시패널의 검사장치의 구조를 개략적으로 나타내는 블록도이다.1 is a view showing a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a flowchart showing a method for checking whether a display panel is defective by using the display panel inspection apparatus shown in FIG.
FIG. 3A is a view showing the display portion shown in FIG. 1. FIG.
FIG. 3B is an enlarged view of the first area shown in FIG. 3A.
Fig. 4 is an enlarged view of the second area of the display portion shown in Fig. 3a.
5 is a block diagram schematically showing the structure of an inspection apparatus for a display panel according to another embodiment of the present invention.

이하 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 상세히 살펴보기로 한다. 상기한 본 발명의 목적, 특징 및 효과는 도면과 관련된 실시예들을 통해서 용이하게 이해될 수 있을 것이다. 다만, 본 발명은 여기서 설명되는 실시예들에 한정되지 않고, 다양한 형태로 응용되어 변형될 수도 있다. 오히려 후술될 본 발명의 실시예들은 본 발명에 의해 개시된 기술 사상을 보다 명확히 하고, 나아가 본 발명이 속하는 분야에서 평균적인 지식을 가진 당업자에게 본 발명의 기술 사상이 충분히 전달될 수 있도록 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명의 범위가 후술될 실시예들에 의해 한정되는 것으로 해석되어서는 안 될 것이다. 한편, 하기 실시예와 도면 상에 동일한 참조 번호들은 동일한 구성 요소를 나타낸다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The above and other objects, features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of the present invention when taken in conjunction with the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein, but may be modified in various forms. Rather, the embodiments of the present invention will be described in greater detail with reference to the accompanying drawings, in which: FIG. Accordingly, the scope of the present invention should not be construed as being limited by the embodiments described below. In the following embodiments and the drawings, the same reference numerals denote the same elements.

또한, 본 명세서에서 `제1`, `제2` 등의 용어는 한정적인 의미가 아니라 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 목적으로 사용되었다. 또한, 막, 영역, 구성 요소 등의 부분이 다른 부분 `위에` 또는 `상에` 있다고 할 때, 다른 부분 바로 위에 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 막, 영역, 구성 요소 등이 개재되어 있는 경우도 포함한다.In addition, the terms `first`,` second`, and the like in the present specification are used for the purpose of distinguishing one component from another component, not limiting. It is also to be understood that when a film, an area, a component, or the like is referred to as being "on" or "on" another part, .

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 표시패널 검사 장치의 구조를 개략적으로 나타내는 블록도이다. 1 is a block diagram schematically showing the structure of a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 표시패널 검사장치(500)는 표시패널(100)의 다수의 화소들로부터 출력되는 출력광을 센싱하여 상기 표시패널(100)의 불량 여부를 검사하는 장치이다. 이 실시예에서는 상기 표시패널 검사장치(500)가 검사하는 상기 표시패널(100)은 유기전계발광 표시패널일 수 있다. 하지만, 본 발명이 상기 표시패널 검사장치(500)가 검사하는 상기 표시 패널(100)의 종류에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 다른 실시예에서는 상기 표시 패널(100)은 액정표시패널 및 전기영동 표시패널과 같은 다른 종류의 표시패널일 수도 있다. Referring to FIG. 1, the display panel inspection apparatus 500 is an apparatus for inspecting whether or not the display panel 100 is defective by sensing output light output from a plurality of pixels of the display panel 100. In this embodiment, the display panel 100 inspected by the display panel inspection apparatus 500 may be an organic light emitting display panel. However, the present invention is not limited to the type of the display panel 100 that the display panel inspection apparatus 500 inspects. For example, in another embodiment, the display panel 100 may be another kind of display panel such as a liquid crystal display panel and an electrophoretic display panel.

이하, 상기 표시패널 검사장치(500)가 갖는 구성 요소들 및 상기 구성 요소들의 기능을 설명하면 다음과 같다. 상기 표시패널 검사장치(500)는 센싱 소자 어레이(200), 논리 회로부(300) 및 표시부(400)를 포함한다. Hereinafter, the components of the display panel inspection apparatus 500 and the functions of the components will be described. The display panel inspection apparatus 500 includes a sensing element array 200, a logic circuit unit 300, and a display unit 400.

상기 센싱 소자 어레이(200)는 다수의 센싱 소자들을 포함한다. 상기 다수의 센싱 소자들은 상기 표시패널(100)의 상기 다수의 화소들 각각으로부터 출력되는 출력광의 휘도를 센싱하고, 상기 센싱된 상기 휘도 값에 대응하는 전기신호를 생성한다. 도 1에서는 상기 다수의 센싱 소자들 중 제1 내지 제4 센싱 소자들(210, 220, 230, 240)이 그 예로 도시되고, 나머지 센싱 소자들의 도시는 생략된다. 상기 제1 내지 제4 센싱 소자들(210, 220, 230, 240)에 대해 보다 구체적으로 설명하면 다음과 같다. The sensing element array 200 includes a plurality of sensing elements. The plurality of sensing elements sense the brightness of output light output from each of the plurality of pixels of the display panel 100 and generate an electrical signal corresponding to the sensed brightness value. In FIG. 1, the first to fourth sensing elements 210, 220, 230 and 240 among the plurality of sensing elements are shown as an example, and the remaining sensing elements are not shown. The first to fourth sensing elements 210, 220, 230, and 240 will be described in more detail as follows.

상기 제1 내지 제4 화소들(110, 120, 130, 140)에 서로 동일한 값의 구동 신호들이 일대일 대응하여 인가되어 상기 제1 내지 제4 화소들(110, 120, 130, 140)이 구동된다. 그 결과, 상기 제1 화소(110)로부터 제1 출력광(L1)이 출력되고, 상기 제2 화소(120)로부터 제2 출력광(L2)이 출력되고, 상기 제3 화소(130)로부터 제3 출력광(L3)이 출력되고, 상기 제4 화소(140)로부터 제4 출력광(L4)이 출력된다. 이 경우에, 상기 제1 센싱 소자(210)는 상기 제1 출력광(L1)의 제1 휘도를 센싱하여 상기 제1 휘도의 값에 대응하는 제1 전기 신호(21)를 생성하고, 상기 제2 센싱 소자(220)는 상기 제2 출력광(L2)의 제2 휘도를 센싱하여 상기 제2 휘도의 값에 대응하는 제2 전기 신호(22)를 생성한다. 또한, 상기 제3 센싱 소자(230)는 상기 제3 출력광(L3)의 제3 휘도를 센싱하여 상기 제3 휘도의 값에 대응하는 제3 전기 신호(23)를 생성하고, 상기 제4 센싱 소자(240)는 상기 제4 출력광(L4)의 제4 휘도를 센싱하여 상기 제4 휘도의 값에 대응하는 제4 전기 신호(24)를 생성한다. The first to fourth pixels 110, 120, 130, and 140 are driven by applying the same driving signals to the first to fourth pixels 110, 120, 130, and 140 in a one- . As a result, the first output light L1 is output from the first pixel 110, the second output light L2 is output from the second pixel 120, 3 output light L3 is output and the fourth output light L4 is output from the fourth pixel 140. [ In this case, the first sensing element 210 senses the first luminance of the first output light L1 to generate a first electrical signal 21 corresponding to the value of the first luminance, 2 sensing element 220 senses the second luminance of the second output light L2 and generates a second electrical signal 22 corresponding to the value of the second luminance. The third sensing element 230 senses the third luminance of the third output light L3 to generate a third electrical signal 23 corresponding to the value of the third luminance, The device 240 senses the fourth luminance of the fourth output light L4 and generates a fourth electrical signal 24 corresponding to the value of the fourth luminance.

이 실시예에서는, 상기 제1 내지 제4 센싱 소자들(210, 220, 230, 240) 각각은 전하 결합 소자(charge-coupled device, CCD)로 구현될 수 있다. 하지만, 본 발명이 상기 제1 내지 제4 센싱 소자들(210, 220, 230, 240)의 종류에 한정되는 것은 아니다. 예를 들면, 다른 실시예에서는 상기 제1 내지 제4 센싱 소자들(210, 220, 230, 240)은 포토다이오드들과 같은 광전 소자들로 구현될 수도 있다. In this embodiment, each of the first through fourth sensing devices 210, 220, 230, and 240 may be implemented as a charge-coupled device (CCD). However, the present invention is not limited to the types of the first to fourth sensing elements 210, 220, 230, and 240. For example, in other embodiments, the first to fourth sensing elements 210, 220, 230, and 240 may be implemented with photoelectric elements such as photodiodes.

상기 논리 회로부(300)는 상기 제1 내지 제4 전기 신호들(21, 22, 23, 24)을 수신한다. 상기 논리 회로부(300)는 상기 제1 내지 제4 전기 신호들(21, 22, 23, 24) 각각의 출력 값을 기 설정된 기준 값과 비교하여 그 결과를 이진법 방식의 제1 내지 제4 제어 신호들(41, 42, 43, 44)로 출력한다. 상술한 상기 논리 회로부(300)의 구체적인 동작에 대해서는 도 2를 참조하여 보다 상세히 설명된다. The logic circuit unit 300 receives the first to fourth electrical signals 21, 22, 23, and 24. The logic circuit unit 300 compares the output values of the first to fourth electrical signals 21, 22, 23, and 24 with predetermined reference values, and outputs the result to the first to fourth control signals (41, 42, 43, 44). The specific operation of the above-described logic circuit unit 300 will be described in detail with reference to FIG.

상기 표시부(400)는 다수의 검사용 화소들을 포함한다. 도 1에서는 상기 다수의 검사용 화소들 중 제1 내지 제4 검사용 화소들(410, 420, 430, 440)이 그 예로 도시되고, 나머지 검사용 화소들의 도시는 생략된다. 상기 회로부(300)로부터 출력되는 상기 제1 내지 제4 제어 신호들(41, 42, 43, 44)은 상기 제1 내지 제4 검사용 화소들(410, 420, 430, 440)에 일대일 대응하여 인가된다. 따라서, 상기 제1 내지 제4 검사용 화소들(410, 420, 430, 440)에 상기 제1 내지 제4 제어 신호들(41, 42, 43, 44)에 대응하는 검사용 패턴들이 표시된다. The display unit 400 includes a plurality of pixels for inspection. In FIG. 1, the first to fourth inspection pixels 410, 420, 430, and 440 among the plurality of inspection pixels are shown as an example, and the remaining inspection pixels are omitted. The first through fourth control signals 41, 42, 43, and 44 output from the circuit unit 300 correspond one-to-one to the first through fourth inspection pixels 410, 420, 430, . Therefore, inspection patterns corresponding to the first to fourth control signals 41, 42, 43, and 44 are displayed on the first to fourth inspection pixels 410, 420, 430, and 440.

앞서 상술한 바와 같이, 상기 논리 회로부(300)는 이진법 방식으로 상기 제1 내지 제4 제어 신호들(41, 42, 43, 44)을 출력하므로, 상기 제1 내지 제4 검사용 화소들(410, 420, 430, 440)에 표시되는 상기 검사용 패턴들 또한 이진법 방식으로 표시될 수 있다. 예를 들면, 상기 제1 내지 제4 검사용 화소들(410, 420, 430, 440) 각각에는 블랙 패턴(도 3b의 BP) 또는 화이트 패턴(도 3b의 WP)일 수 있다. 따라서, 상기 제1 내지 제4 검사용 화소들(410, 420, 430, 440)에서 상기 검사용 패턴들은 직관적으로 시인될 수 있으므로 상기 제1 내지 제4 화소들(110, 120, 130, 140)의 불량 여부를 판단하기가 용이하다.As described above, since the logic circuit unit 300 outputs the first to fourth control signals 41, 42, 43, and 44 in a binary method, the first through fourth inspection pixels 410 , 420, 430, 440) may also be displayed in a binary method. For example, each of the first to fourth inspection pixels 410, 420, 430, and 440 may be a black pattern (BP in FIG. 3B) or a white pattern (WP in FIG. Accordingly, since the inspection patterns can be intuitively recognized in the first through fourth inspection pixels 410, 420, 430, and 440, the first through fourth pixels 110, 120, 130, It is easy to judge whether or not it is defective.

이하, 도 2, 도 3a 및 도 3b를 참조하여 상기 표시패널 검사장치(500)가 상기 표시패널(100)을 검사하는 방법에 대해 보다 상세히 설명한다. Hereinafter, a method of inspecting the display panel 100 by the display panel inspection apparatus 500 will be described in more detail with reference to FIGS. 2, 3A, and 3B.

도 2는 도 1에 도시된 표시패널 검사장치를 이용하여 표시패널의 불량 여부를 검사하는 방법을 나타내는 순서도이고, 도 3a는 도 1에 도시된 표시부를 나타내는 도면이고, 도 3b는 도 3a에 도시된 제1 영역을 확대한 도면이다. FIG. 2 is a flowchart showing a method of checking whether a display panel is defective by using the display panel inspection apparatus shown in FIG. 1, FIG. 3a is a view showing the display unit shown in FIG. 1, In the first area.

도 1, 도 2, 도 3a 및 도 3b를 참조하면, 표시패널(100)의 다수의 화소들에 서로 동일한 값의 구동 신호를 인가하여 상기 다수의 화소들로부터 출력광이 출력된다(S10). 보다 상세하게는, 상기 표시패널(100)이 유기전계발광 표시패널인 경우에, 제1 화소(110)의 전극, 제2 화소(120)의 전극, 제3 화소(130)의 전극, 및 제4 화소(140)의 전극에 서로 동일한 값의 구동 전류를 제공한다. 그 결과, 상기 제1 내지 제4 화소들(110, 120, 130, 140)이 구동되어 상기 제1 내지 제4 화소들(110, 120, 130, 140)로부터 제1 내지 제4 출력광들(L1, L2, L3, L4)이 출력된다. Referring to FIGS. 1, 2, 3A, and 3B, a driving signal having the same value is applied to a plurality of pixels of the display panel 100, and output light is output from the plurality of pixels (S10). More specifically, when the display panel 100 is an organic light emitting display panel, an electrode of the first pixel 110, an electrode of the second pixel 120, an electrode of the third pixel 130, And the driving currents of the same value are provided to the electrodes of the four pixels 140. As a result, the first through fourth pixels 110, 120, 130, and 140 are driven to output the first through fourth output lights (110, 120, 130, 140) L1, L2, L3, and L4 are output.

그 이후에, 센싱 소자들이 출력광을 센싱하여 출력광의 휘도 값에 대응하는 전기 신호들을 생성한다(S20). 보다 상세하게는, 제1 센싱 소자(210)는 상기 제1 출력광(L1)을 센싱하여 상기 제1 출력광(L1)의 제1 휘도 값에 대응하는 제1 전기 신호(21)를 생성하고, 제2 센싱 소자(220)는 상기 제2 출력광(L2)을 센싱하여 상기 제2 출력광(L2)의 제2 휘도 값에 대응하는 제2 전기 신호(22)를 생성하고, 제3 센싱 소자(230)는 상기 제3 출력광(L3)을 센싱하여 상기 제3 출력광(L3)의 제3 휘도 값에 대응하는 제3 전기 신호(23)를 생성하고, 제4 센싱 소자(240)는 상기 제4 출력광(L4)을 센싱하여 상기 제4 출력광(L4)의 제4 휘도 값에 대응하는 제4 전기 신호(24)를 생성한다. Thereafter, the sensing elements sense the output light and generate electrical signals corresponding to the luminance value of the output light (S20). More specifically, the first sensing element 210 senses the first output light L1 to generate a first electrical signal 21 corresponding to a first luminance value of the first output light L1 A second sensing element 220 senses the second output light L2 to generate a second electrical signal 22 corresponding to a second luminance value of the second output light L2, The device 230 senses the third output light L3 to generate a third electrical signal 23 corresponding to a third brightness value of the third output light L3, Senses the fourth output light L4 and generates a fourth electrical signal 24 corresponding to a fourth brightness value of the fourth output light L4.

그 이후에, 논리 회로부가 전기 신호의 출력 값이 기 설정된 기준 값보다 큰지를 판단하고(S30), 논리 회로부는 상기 출력 값 및 상기 기준 값 간의 비교 결과에 근거하는 제어 신호를 표시부의 검사용 화소에 인가한다(S40 및 S41). Thereafter, the logic circuit part judges whether the output value of the electric signal is larger than a preset reference value (S30), and the logic circuit part supplies a control signal based on the comparison result between the output value and the reference value to the inspection pixel (S40 and S41).

보다 상세하게는, 상기 기준 값이 5볼트로 설정되고, 상기 제1 전기 신호(21)가 6볼트이고, 상기 제2 전기 신호(22)가 7볼트이고, 상기 제3 전기 신호(23)가 5.5볼트이고, 상기 제4 전기 신호가(24)가 4.5볼트인 경우에, 상기 제1 내지 제3 전기 신호들 각각은 상기 기준 값 보다 크지만, 상기 제4 전기 신호(24)는 상기 기준 값보다 작다. More specifically, the reference value is set to 5 volts, the first electrical signal 21 is 6 volts, the second electrical signal 22 is 7 volts, and the third electrical signal 23 is Each of the first to third electrical signals is greater than the reference value, but the fourth electrical signal (24) is greater than the reference value < RTI ID = 0.0 >Lt; / RTI >

이 경우에, 상기 논리 회로부(300)는 인가된 상기 제1 전기 신호(21)에 응답하여 제1 레벨을 갖는 제1 제어신호(41)를 제1 검사용 화소(410)에 제공하고, 상기 논리 회로부(300)는 인가된 상기 제2 전기 신호(22)에 응답하여 상기 제1 레벨을 갖는 제2 제어신호(42)를 제2 검사용 화소(420)에 제공하고, 상기 논리 회로부(300)는 인가된 상기 제3 전기 신호(23)에 응답하여 상기 제1 레벨을 갖는 제3 제어 신호(43)를 제3 검사용 화소(430)에 제공한다. 또한, 상기 논리 회로부(300)는 인가된 상기 제4 전기 신호(24)에 응답하여 상기 제1 레벨과 상이한 제2 레벨을 갖는 제4 제어 신호(44)를 제4 검사용 화소(440)에 제공한다. 즉, 상기 논리 회로부(300)는 제공되는 상기 제1 내지 제4 전기 신호들(21, 22, 23, 24)에 응답하여 이진법 방식으로 상기 제1 내지 제4 제어 신호들(41, 42, 43, 44)을 출력한다. In this case, the logic circuit unit 300 provides the first control signal 41 having the first level to the first test pixel 410 in response to the applied first electrical signal 21, The logic circuit unit 300 provides the second control signal 42 having the first level to the second test pixel 420 in response to the applied second electrical signal 22 and the logic circuit unit 300 Provides the third control signal 43 having the first level to the third inspection pixel 430 in response to the applied third electrical signal 23. [ In response to the applied fourth electrical signal 24, the logic circuit unit 300 outputs a fourth control signal 44 having a second level different from the first level to the fourth inspection pixel 440 to provide. That is, the logic circuit unit 300 generates the first to fourth control signals 41, 42, and 43 in a binary system in response to the first to fourth electrical signals 21, 22, 23, , 44).

그 결과, 검사용 화소에 블랙 패턴이 표시되거나, 화이트 패턴이 표시된다(S50, S51). 보다 상세하게는, 이 실시예에서는 도 3b에 도시된 바와 같이, 상기 제1 내지 제3 검사용 화소들(410, 420, 430)에 각각에 상기 제1 레벨을 갖는 상기 제1 내지 제3 제어신호들(41, 42, 43)이 인가되어 상기 제1 내지 제3 검사용 화소들(410, 420, 430) 각각에 검사용 패턴으로 블랙 패턴(BP)이 표시될 수 있다. 이와 반면에, 상기 제4 검사용 화소(440)에 상기 제2 레벨을 갖는 상기 제4 제어신호(44)가 인가되어 상기 제4 검사용 화소(440)에 검사용 패턴으로 화이트 패턴(WP)이 표시될 수 있다. As a result, a black pattern is displayed on the inspection pixel or a white pattern is displayed (S50, S51). More specifically, in this embodiment, as shown in FIG. 3B, the first to third inspection pixels 410, 420, and 430 are provided with the first to third control The black patterns BP may be displayed on the first to third inspection pixels 410, 420, and 430 with the signals 41, 42, and 43 applied thereto. On the other hand, when the fourth control signal 44 having the second level is applied to the fourth inspection pixel 440 and the white pattern WP as the inspection pattern is applied to the fourth inspection pixel 440, Can be displayed.

그 이후에, 검사용 화소에 표시된 검사용 패턴을 확인하고(S61, S62), 그 결과 상기 검사용 패턴으로 화소의 불량 여부를 판단할 수 있다. 보다 상세하게는, 도 3b에 도시된 바와 같이, 상기 제1 내지 제3 검사용 화소들(410, 420, 430) 각각에 상기 블랙 패턴(BP)이 표시되는 경우에, 상기 제1 내지 제3 전기 신호들(21, 22, 23) 각각의 출력 값이 상기 기준 값 보다 큰 것으로 해석될 수 있고, 그 결과, 상기 제1 내지 제3 화소들(110, 120, 130) 각각의 휘도 값은 상기 기준 값에 대응하는 휘도 값 이상으로 해석될 수 있다. 따라서, 상기 제1 내지 제3 화소들(110, 120, 130)은 상기 기준 값에 대응하는 상기 휘도 값을 만족하는 양품 화소들로 판단될 수 있다. Thereafter, the inspection pattern displayed on the inspection pixel is confirmed (S61, S62), and as a result, it is possible to determine whether the pixel is defective in the inspection pattern. More specifically, as shown in FIG. 3B, when the black pattern BP is displayed on each of the first to third inspection pixels 410, 420, and 430, The luminance value of each of the first to third pixels 110, 120, and 130 may be calculated as the luminance value of each of the first to third pixels 110, 120, and 130, It can be interpreted as more than the luminance value corresponding to the reference value. Accordingly, the first to third pixels 110, 120, and 130 may be determined as good-quality pixels that satisfy the brightness value corresponding to the reference value.

반면에, 상기 제4 검사용 화소(440)에 상기 화이트 패턴(WP)이 표시되는 경우에, 상기 제4 전기 신호(24)의 출력 값이 상기 기준 값 보다 작은 것으로 해석될 수 있고, 그 결과, 상기 제4 화소(140)의 휘도 값은 상기 기준 값에 대응하는 휘도 값 미만으로 해석될 수 있다. 따라서, 상기 제4 화소(140)는 상기 기준 값에 대응하는 상기 휘도 값을 만족하지 못하는 불량 화소로 판단될 수 있다. On the other hand, when the white pattern WP is displayed on the fourth inspection pixel 440, the output value of the fourth electrical signal 24 can be interpreted as being smaller than the reference value, , The luminance value of the fourth pixel 140 may be interpreted as less than the luminance value corresponding to the reference value. Therefore, the fourth pixel 140 may be determined as a defective pixel that does not satisfy the luminance value corresponding to the reference value.

도 4는 도 3a에 표시된 표시부의 제2 영역을 확대한 도면이다. 도 4를 참조하여 표시부의 검사용 화소들에 표시된 검사용 패턴들을 이용하여 표시패널(도 1의 100)의 불량 여부를 판단하는 방법을 설명하면 다음과 같다. Fig. 4 is an enlarged view of the second area of the display portion shown in Fig. 3a. Referring to FIG. 4, a method of determining whether or not a display panel (100 of FIG. 1) is defective by using inspection patterns displayed on inspection pixels of a display unit will be described.

도 4를 참조하면, 표시부(도 3a의 400)에 다수의 검사용 화소들이 배열되고, 앞서 도 1, 도 2, 도 3a 및 도 3b를 참조하여 설명된 방법으로 상기 다수의 검사용 화소들에 검사용 패턴들이 표시된다. 앞서 도 3b를 참조하여 설명된 바와 같이, 상기 검사용 패턴들 중 화이트 패턴들(WP) 각각은 해당 화소로부터 출력되는 광의 휘도가 기준 값에 도달하지 못함을 의미하고, 상기 검사용 패턴들 중 블랙 패턴들(BP) 각각은 해당 화소로부터 출력되는 광의 휘도가 기준 값을 초과함을 의미한다. Referring to FIG. 4, a plurality of inspection pixels are arranged on the display unit 400 (FIG. 3A), and the plurality of inspection pixels are arranged in the manner described above with reference to FIGS. 1, 2, 3A, Inspection patterns are displayed. As described above with reference to FIG. 3B, each of the white patterns WP among the inspection patterns means that the brightness of light output from the corresponding pixel does not reach the reference value, and among the inspection patterns, Each of the patterns BP means that the luminance of light output from the pixel exceeds the reference value.

이 실시예에서는, 표시패널(도 1의 100)의 불량을 판단하는 기준은 상기 화이트 패턴들(WP)이 서로 연결되되, 상기 서로 연결된 상기 화이트 패턴들(WP)의 개수가 5개일 때로 설정될 수 있다. 상기 기준에 따르면, 제4 내지 제6 영역들(A4, A5, A6) 각각에서 서로 연결된 화이트 패턴들(WP)의 개수가 5개 미만이고, 이에 따라 상기 제4 내지 제6 영역들(A4, A5, A6) 각각에서 표시되는 화이트 패턴들(WP)로 상기 표시패널을 불량으로 판단할 수 없다. 하지만, 제3 영역(A3)에서 화이트 패턴들(WP)이 서로 연결되되, 상기 서로 연결된 상기 화이트 패턴들(WP)의 개수가 총 7개이다. 따라서, 상기 제3 영역(A3)에서 표시되는 화이트 패턴들(WP)로 상기 표시패널을 불량으로 판단할 수 있다. In this embodiment, the criterion for judging the failure of the display panel (100 in FIG. 1) is set when the white patterns WP are connected to each other, but the number of the white patterns WP connected to each other is five . According to this criterion, the number of white patterns WP connected to each other in each of the fourth to sixth areas A4, A5, and A6 is less than five, and accordingly, the fourth to sixth areas A4, A5, and A6, the display panel can not be determined to be defective. However, in the third area A3, the white patterns WP are connected to each other, but the number of the white patterns WP connected to each other is seven in total. Therefore, the display panel can be determined as defective by the white patterns WP displayed in the third area A3.

한편, 다른 실시예에서는 상술한 불량 판단 기준과 다른 기준으로 표시패널의 불량 여부를 판단할 수 있다. 예를 들면, 상기 화이트 패턴들(WP)이 서로 연결되는 지의 여부와 상관 없이, 상기 화이트 패턴들(WP)의 총 개수가 기준 값 보다 큰 경우에 상기 표시패널을 불량으로 판단할 수도 있다. On the other hand, in another embodiment, it is possible to determine whether or not the display panel is defective based on a criterion different from the defect criterion described above. For example, regardless of whether or not the white patterns WP are connected to each other, the display panel may be determined to be defective when the total number of the white patterns WP is larger than the reference value.

도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시패널의 검사장치의 구조를 개략적으로 나타내는 블록도이다. 도 5를 설명함에 있어서, 앞선 실시예에서 설명된 구성 요소들에 대해서는 도면 부호를 병기하고, 상기 구성 요소들에 대한 중복된 설명은 생략된다. 5 is a block diagram schematically showing the structure of an inspection apparatus for a display panel according to another embodiment of the present invention. In describing FIG. 5, the components described in the preceding embodiments are denoted by the same reference numerals, and redundant description of the components is omitted.

도 5를 참조하면, 표시패널 검사장치(500_1)는 센싱 소자 어레이(200_1), 논리 회로부(300) 및 표시부(400)를 포함하고, 상기 센싱 소자 어레이(200_1)는 제1 내지 제4 센싱 소자들(211, 221, 231, 241)을 포함한다. 5, the display panel inspection apparatus 500_1 includes a sensing element array 200_1, a logic circuit unit 300, and a display unit 400. The sensing element array 200_1 includes first to fourth sensing elements 200_1, (211, 221, 231, 241).

도 1에 도시된 표시패널 검사장치(도 1의 500)에서는 표시패널(도 1의 100)의 제1 내지 제4 화소들(도 1의 110, 120, 130 및 140)과 일대일 대응하여 제1 내지 제4 센싱 소자들(도 1의 210, 220, 230 및 240)이 출력광을 센싱하나, 도 5에 도시된 상기 표시패널 검사장치(500_1)에서는 표시패널(100_1)의 각 화소(110_1)로부터 출력되는 출력광(L1, L2, L3, L4)이 상기 제1 내지 제4 센싱 소자들(211, 221, 231, 241)이 출력된다. In the display panel inspection apparatus (500 of FIG. 1) shown in FIG. 1, first to fourth pixels (110, 120, 130 and 140 of FIG. 1) The first through fourth sensing elements 210, 220, 230, and 240 sense the output light. In the display panel inspection apparatus 500_1 shown in FIG. 5, each pixel 110_1 of the display panel 100_1, The output light L1, L2, L3, and L4 output from the first to fourth sensing elements 211, 221, 231, and 241 are output.

이 경우에, 상기 각 화소(110_1)로부터 출력되는 상기 출력광(L1, L2, L3, L4)의 휘도가 다수의 센싱소자들에 의해 보다 세분화되어 감지될 수 있으므로, 상기 표시패널 검사장치(500_1)을 이용하여 상기 각 화소(110_1)의 휘도와 관련된 양불 판정 작업이 보다 정밀하게 수행될 수 있다. In this case, since the brightness of the output light L1, L2, L3, L4 output from each pixel 110_1 can be further subdivided by a plurality of sensing elements, the display panel inspection apparatus 500_1 ) Can be used to more accurately perform the positive determination operation related to the brightness of each pixel 110_1.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the appended claims. You will understand.

100: 표시패널 110, 120, 130, 140: 제1 내지 제4 화소들
200: 센싱 소자 어레이 300: 논리 회로부
400: 표시부 500: 표시패널 검사 장치
21, 22, 23, 24: 제 1 내지 제 4 전기 신호들
210, 220, 230, 240: 제1 내지 제4 센싱 소자들
410, 420, 430, 440: 제1 내지 제4 검사용 화소들
41, 42, 43, 44: 제1 내지 제4 제어 신호들100: display panel 110, 120, 130, 140: first to fourth pixels
200: sensing element array 300:
400: Display part 500: Display panel inspection device
21, 22, 23, 24: first to fourth electrical signals
210, 220, 230, 240: first to fourth sensing elements
410, 420, 430, 440: first to fourth inspection pixels
41, 42, 43, 44: first to fourth control signals

Claims (12)

다수의 화소들을 갖는 표시패널을 검사하는 표시 패널의 검사 장치에 있어서,
상기 다수의 화소들 각각으로부터 출력되는 출력광의 휘도를 센싱하고, 상기 센싱된 상기 휘도의 값에 대응하는 전기 신호를 생성하는 센싱 소자;
상기 센싱 소자로부터 출력되는 상기 전기 신호의 출력 값을 기 설정된 기준 값과 비교하고, 상기 출력 값 및 상기 기준 값 간의 비교된 결과를 이진법 방식의 제어 신호로 출력하는 논리 회로부; 및
상기 제어 신호를 제공받아 검사용 패턴을 표시하는 표시부를 포함하는 표시패널의 검사장치. An inspection apparatus of a display panel for inspecting a display panel having a plurality of pixels,
A sensing element sensing a luminance of output light output from each of the plurality of pixels and generating an electrical signal corresponding to the value of the sensed luminance;
A logic circuit for comparing an output value of the electric signal output from the sensing element with a predetermined reference value and outputting a comparison result between the output value and the reference value as a binary control signal; And
And a display unit for receiving the control signal and displaying an inspection pattern. 제 1 항에 있어서, 상기 표시부는 상기 검사용 패턴이 표시되는 검사용 화소를 포함하고,
상기 출력 값이 상기 기준 값 보다 큰 경우에 상기 검사용 화소에 제1 검사용 패턴이 표시되고, 상기 출력 값이 상기 기준 값 보다 작은 경우에 상기 검사용 화소에 상기 제1 검사용 패턴과 상이한 제2 검사용 패턴이 표시되는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치. The display device according to claim 1, wherein the display unit includes an inspection pixel on which the inspection pattern is displayed,
Wherein when the output value is larger than the reference value, a first inspection pattern is displayed on the inspection pixel, and when the output value is smaller than the reference value, 2 inspection pattern is displayed on the display panel. 제 2 항에 있어서, 상기 제1 및 제2 검사용 패턴들 중 어느 하나는 블랙 패턴이고, 상기 제1 및 제2 검사용 패턴들 중 다른 하나는 화이트 패턴인 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사장치. 3. The display panel inspection apparatus according to claim 2, wherein one of the first and second inspection patterns is a black pattern, and the other of the first and second inspection patterns is a white pattern. . 제 2 항에 있어서, 상기 센싱 소자는 다수로 제공되고, 상기 다수의 센싱 소자들은 상기 다수의 화소들과 일대일 대응하여 상기 출력광을 센싱하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 장치. The apparatus of claim 2, wherein the sensing elements are provided in a plurality of sensing elements, and the plurality of sensing elements sense the output light in a one-to-one correspondence with the plurality of pixels. 제 4 항에 있어서, 상기 논리 회로부는 상기 다수의 센싱 소자들로부터 출력되는 다수의 전기신호들을 제공받아 상기 논리 회로부로부터 상기 다수의 전기신호들과 일대일 대응하는 다수의 제어 신호들이 출력되는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 장치. The semiconductor memory device according to claim 4, wherein the logic circuit part receives a plurality of electrical signals output from the plurality of sensing elements and outputs a plurality of control signals corresponding to the plurality of electrical signals one-to-one from the logic circuit part Of the display panel. 제 5 항에 있어서, 상기 표시부에 상기 검사용 화소가 다수로 제공되고, 상기 다수의 검사용 화소들에 상기 다수의 제어 신호들이 일대일 대응하여 제공되어 상기 검사용 화소들에 다수의 검사용 패턴들이 표시되는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 장치. The display device according to claim 5, wherein the display unit is provided with a plurality of pixels for inspection, and the plurality of control signals are provided in a one-to-one correspondence to the plurality of inspection pixels, Wherein the display panel is a display panel. 표시패널의 다수의 화소들에 서로 동일한 값의 구동 신호를 인가하여 상기 다수의 화소들 각각으로부터 출력광이 출력되는 단계;
센싱 소자가 상기 출력광을 센싱하여 상기 출력광의 휘도 값에 대응하는 전기 신호를 생성하는 단계;
논리 회로부가 상기 전기 신호의 출력 값을 기 설정된 기준 값과 비교하고, 상기 논리 회로부로부터 상기 출력 값 및 상기 기준 값 간의 비교된 결과가 이진법 방식의 제어 신호로 출력되는 단계;
표시부의 검사용 화소에 상기 제어 신호가 입력되어 검사용 패턴이 출력되는 단계; 및
상기 검사용 패턴을 확인하여 상기 표시패널의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함하는 표시패널의 검사 방법. Applying driving signals having the same value to a plurality of pixels of a display panel to output output light from each of the plurality of pixels;
The sensing element sensing the output light to generate an electrical signal corresponding to a luminance value of the output light;
The logic circuit compares the output value of the electrical signal with a predetermined reference value and outputs the comparison result between the output value and the reference value from the logic circuit portion as a binary control signal;
The control signal is inputted to the inspection pixel of the display unit and the inspection pattern is outputted; And
And checking the inspection pattern to determine whether the display panel is defective or not. 제 7 항에 있어서, 상기 출력 값의 크기가 상기 기준 값 보다 큰 경우에 상기 검사용 화소에 제1 검사용 패턴이 표시되고, 상기 출력 값의 크기가 상기 기준 값 보다 작은 경우에 상기 검사용 화소에 상기 제1 검사용 패턴과 상이한 제2 검사용 패턴이 표시되는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 방법. The apparatus of claim 7, wherein when the magnitude of the output value is greater than the reference value, the first inspection pattern is displayed on the inspection pixel, and when the magnitude of the output value is smaller than the reference value, And a second inspection pattern different from the first inspection pattern is displayed on the display panel. 제 8 항에 있어서, 상기 제1 및 제2 검사용 패턴들 중 어느 하나는 블랙 패턴이고, 상기 제1 및 제2 검사용 패턴들 중 다른 하나는 화이트 패턴인 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사 방법. The method according to claim 8, wherein one of the first and second inspection patterns is a black pattern, and the other of the first and second inspection patterns is a white pattern . 제 8 항에 있어서, 상기 센싱 소자는 다수로 제공되고, 상기 다수의 센싱 소자들은 상기 다수의 화소들과 일대일 대응하여 상기 출력광을 센싱하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법.  9. The method of claim 8, wherein the sensing elements are provided in a plurality of sensing elements, and the plurality of sensing elements sense the output light in a one-to-one correspondence with the plurality of pixels. 제 10 항에 있어서,
상기 논리 회로부는 상기 다수의 센싱 소자들로부터 출력되는 다수의 전기신호들을 제공받아 상기 논리 회로부로부터 상기 다수의 전기신호들과 일대일 대응하는 다수의 제어 신호들이 출력되고,
상기 표시부에 상기 검사용 화소가 다수로 제공되고, 상기 다수의 검사용 화소들에 상기 다수의 제어 신호들이 일대일 대응하여 제공되어 상기 검사용 화소들에 다수의 검사용 패턴들이 표시되는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법. 11. The method of claim 10,
Wherein the logic circuit part receives a plurality of electrical signals output from the plurality of sensing elements and outputs a plurality of control signals corresponding to one-to-one correspondence with the plurality of electrical signals from the logic circuit part,
A plurality of inspection pixels are provided on the display unit and a plurality of control signals are provided correspondingly to the plurality of inspection pixels in a one-to-one correspondence, and a plurality of inspection patterns are displayed on the inspection pixels. Inspection method of display panel. 제 11 항에 있어서, 상기 다수의 검사용 패턴들 중 서로 연결된 상기 제1 검사용 패턴의 개수 또는 서로 연결된 상기 제2 검사용 패턴의 개수에 근거하여 상기 표시패널의 불량 여부를 판단하는 것을 특징으로 하는 표시패널의 검사방법. 12. The method according to claim 11, wherein whether the display panel is defective or not is determined based on the number of the first inspection patterns connected to each other or the number of the second inspection patterns connected to each other among the plurality of inspection patterns Of the display panel.

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