KR20140111474A

KR20140111474A - 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로 검사 지그

Info

Publication number: KR20140111474A
Application number: KR1020130025659A
Authority: KR
Inventors: 오지환; 박현서
Original assignee: (주)파이시스
Priority date: 2013-03-11
Filing date: 2013-03-11
Publication date: 2014-09-19

Abstract

적어도 하나의 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로를 안착부에 놓고 도어를 닫는 작업만으로 간편하게 상기 인쇄 회로의 양품 여부를 검사하는 인쇄 회로 검사 지그가 개시된다. 개시된 인쇄 회로 검사 유닛은, 적어도 하나의 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로가 안착되는 인쇄 회로 안착부가 상측면에 형성된 베이스, 및 적어도 하나의 암형 전자 소자의 정상 여부를 검사하는, 암형 전자 소자의 개수에 대응되는 개수의 검사 유닛을 포함한다. 검사 유닛은, 스텝 모터, 스텝 모터의 구동에 따라서 전진 및 후진하여, 암형 전자 소자의 삽입되는 검사 위치와, 암형 전자 소자에서 이격되는 초기 위치 사이에서 이동 가능한 수형 검사 돌기, 및 검사 개시 상태가 되었을 때, 자동적으로 스텝 모터를 작동시키는 제어 유닛을 구비한다.

Description

암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로 검사 지그{Jig for examining printed circuit with female electronic element}

본 발명은 SIM 카드 연결 소자, SD 카드 연결 소자와 같은 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로의 양품 여부를 빠르게 검사하기 위해 사용되는 인쇄 회로 검사 지그에 관한 것이다.

스마트폰, 태블릿 PC 등 각종 전자기기에는 FPCB(flexible printed circuit board), PCB(printed circuit board)와 같은 인쇄 회로가 부품으로 사용된다. 인쇄 회로 중에는 예컨대, SD 카드(secure digital card) 연결 소자, SIM 카드(subscriber identification module card) 연결 소자와 같은 암형 전자 소자가 탑재된 인쇄 회로가 있다. 이러한 암형 전자 소자가 탑재된 인쇄 회로도 전자기기의 조립에 앞서 양품인지 불량품인지 검사하여 선별하는 작업이 필요하다. 암형 전자 소자의 정상 작동 여부를 판단하기 위해서는 암형 전자 소자에 대응되는 수형의 검사용 돌기를 암형 전자 소자에 삽입하는 과정이 요구된다. 그런데, 상기한 수형 검사용 돌기를 암형 전자 소자에 삽입하는 과정을 자동으로 수행하여 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로의 양품 여부를 검사하는 인쇄 회로 검사 지그는 공지된 바 없다. 따라서, 작업자가 직접 암형 전자 소자에 수형 검사용 돌기를 삽입하는 과정을 통해 양품 여부를 검사하여야 하므로 작업이 느리게 진행되고 비효율적이다. 특히, 암형 전자 소자가 복수 개 탑재된 인쇄 회로는 작업 시간이 더욱 많이 소요된다.

본 발명은, 적어도 하나의 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로를 안착부에 놓고 도어를 닫는 작업만으로 간편하게 상기 인쇄 회로의 양품 여부를 검사하는 인쇄 회로 검사 지그를 제공한다.

본 발명은, 적어도 하나의 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로가 안착되는 인쇄 회로 안착부가 상측면에 형성된 베이스, 및 상기 적어도 하나의 암형 전자 소자의 정상 여부를 검사하는, 상기 암형 전자 소자의 개수에 대응되는 개수의 검사 유닛을 포함하고, 상기 검사 유닛은, 스텝 모터, 상기 스텝 모터의 구동에 따라서 전진 및 후진하여, 상기 암형 전자 소자의 삽입되는 검사 위치와, 상기 암형 전자 소자에서 이격되는 초기 위치 사이에서 이동 가능한 수형 검사 돌기, 및 검사 개시 상태가 되었을 때, 자동적으로 상기 스텝 모터를 작동시키는 제어 유닛을 구비하는 인쇄 회로 검사 지그를 제공한다.

상기 검사 유닛은, 상기 스텝 모터의 동력에 의해 회전하는 스크류(screw), 상기 스크류에 체결되어 상기 스크류의 회전 방향에 따라 상기 인쇄 회로에 구비된 하나의 암형 전자 소자에 가까워지는 방향 또는 멀어지는 방향으로 이동하며, 말단부에 상기 수형 검사 돌기가 체결되는 LM 블록, 및 상기 베이스의 홈에 형성되어서 상기 LM 블록이 이동하도록 가이드하는 LM 가이더를 더 포함할 수 있다.

본 발명의 인쇄 회로 검사 지그는, 상기 인쇄 회로 안착부를 노출하거나 가리도록 상기 베이스에 대해 열고 닫을 수 있으며, 열리는 방향으로 탄성 바이어스(bias)된 도어(door)를 더 포함하고, 상기 제어부는 상기 도어가 상기 베이스에 대해 닫힌 때 상기 검사 개시 상태가 되었다고 판단할 수 있다.

본 발명의 인쇄 회로 검사 지그는, 상기 LM 블록이 상기 암형 전자 소자로부터 멀어지는 방향으로 이동한 때 상기 LM 블록에 의해 작동되는 것으로, 상기 수형 검사 돌기의 초기 위치를 한정하는 제1 리미트 스위치(limit switch)를 더 구비할 수 있다.

상기 검사 개시 상태가 되었을 때, 상기 제어 유닛은 상기 수형 검사 돌기를 초기 위치로 이동시킨 후, 상기 초기 위치를 기준으로 상기 수형 검사 돌기를 일정 거리로 전진시켜서 검사 위치에 위치하도록 제어할 수 있다.

본 발명의 인쇄 회로 검사 지그는, 상기 LM 블록이 상기 암형 전자 소자에 가까워지는 방향으로 이동한 때 상기 LM 블록에 의해 작동되는 것으로, 상기 수형 검사 돌기의 검사 위치를 한정하는 제2 리미트 스위치를 더 구비할 수 있다.

상기 수형 검사 돌기가 상기 검사 위치에서 상기 초기 위치로 이동할 때 상기 수형 검사 돌기가 상기 검사 위치보다 더 깊게 상기 암형 전자 소자에 삽입된 후 상기 초기 위치 방향으로 이동하도록 상기 제어 유닛이 제어할 수 있다.

본 발명의 인쇄 회로 검사 지그는, 상기 제어 유닛에 의해 제어되어, 상기 검사 유닛이 작동하는 동안 상기 도어가 상기 베이스에 대해 닫힌 상태를 유지하도록 잠그는 도어 록킹 유닛(door locking unit)을 더 구비하고, 상기 제어 유닛은 상기 검사 유닛의 작동 결과로 상기 인쇄 회로를 양품이 아니라고 판정하면 상기 도어가 상기 베이스에 대해 닫힌 상태를 유지하도록 상기 도어 록킹 유닛을 제어하고, 상기 도어가 열리도록 마련된 오픈 버튼이 눌려지면 상기 도어의 닫힌 상태가 해제되도록 상기 도어 록킹 유닛을 제어할 수 있다.

상기 인쇄 회로는 복수의 암형 전자 소자를 구비하고, 상기 암형 전자 소자는 SD 카드 연결 소자, SIM 카드 연결 소자, USB 메모리 연결 소자, 및 이어폰 잭(earphone jack) 중에서 적어도 하나의 종류를 포함할 수 있다.

본 발명의 인쇄 회로 검사 지그에 의하면 예컨대, FPCB, PCB와 같은 인쇄 회로를 안착부에 놓고 도어를 닫는 작업만으로 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로의 양품 여부를 검사할 수 있어 작업이 매우 간편하고, 빠르며, 효율적이다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 인쇄 회로 검사 지그를 도시한 사시도이다.
도 2는 도 1의 인쇄 회로를 확대 도시한 사시도이다.
도 3 내지 도 5는 도 1의 제1 검사 유닛의 검사 동작을 순차적으로 도시한 단면도이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 인쇄 회로 검사 지그를 상세하게 설명한다. 본 명세서에서 사용되는 용어(terminology)들은 본 발명의 바람직한 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 사용자 또는 운용자의 의도 또는 본 발명이 속하는 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 인쇄 회로 검사 지그를 도시한 사시도이고, 도 2는 도 1의 인쇄 회로를 확대 도시한 사시도이다. 도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 인쇄 회로 검사 지그(20)는 스마트폰에 장착되는 FPCB(flexible printed circuit board)(1)의 양품 여부를 검사하는 것으로, 상기 FPCB(1)는 회로가 형성되고 휠 수 있는 유연한 소재로 이루어진 회로 필름(2)과, 회로 필름(2)에 탑재된 제1 및 제2 암형 전자 소자(7, 11)와, 회로 필름(2)의 일 측에 스마트폰 내부의 다른 PCB(미도시)와 전기적으로 연결하기 위한 커넥터(5)를 구비한다.

구체적으로, 제1 암형 전자 소자(7)는 SIM 카드(subscriber identity module card)가 삽입 탑재되는 SIM 카드 리더(reader)이고, 제2 암형 전자 소자(11)는 SD 카드(secure digital card)가 삽입 탑재되는 SD 카드 리더(reader)이다. 제1 및 제2 암형 전자 소자(7, 11)는 SIM 카드와 SD 카드가 삽입되는 슬롯(8, 12)이 형성된다. 제1 암형 전자 소자(7)의 슬롯(8) 내측에는 SIM 카드의 단자와 접촉하여 전기적으로 연결되는 단자(9)(도 3 참조)가 마련된다. 도면에 도시되진 않았으나 제2 암형 전자 소자(11)의 슬롯(12) 내측에도 SD 카드의 단자와 접촉하여 전기적으로 연결되는 단자(미도시)가 마련된다.

인쇄 회로 검사 지그(20)는 베이스(21), 도어(door)(25), 도어 록킹 유닛(30), 제1 검사 유닛(40), 제2 검사 유닛(60), 및 제어 유닛(85)을 구비한다. 베이스(21)는 상측면 중앙부에 FPCB(1)가 안착되는 오목 홈 형태의 인쇄 회로 안착부(38)가 형성되고, FPCB(1)의 커넥터(5)와 전기적으로 연결되는 FPCB 커넥터(39)를 구비한다. 베이스(21)의 전면(前面)에는 오픈 버튼(open button)(22)과 재검사 버튼(23)이 구비된다.

도어(25)는 베이스(21)의 일 측에 힌지(hinge)(27)에 의해 결합되어 베이스(21)에 대해 열리거나 닫힌다. 힌지(27)에는 스프링(미도시)이 개재되어, 도어(25)는 베이스(21)에 대해 열리는 방향으로 탄성 바이어스(bias)된다. 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫히면 인쇄 회로 안착부(38)를 가리고, 인쇄 회로 안착부(38)에 안착된 FPCB(1)는 움직이지 않게 위치 고정된다. 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫히면 인쇄 회로 안착부(38)가 노출되며, FPCB(1)를 인쇄 회로 안착부(38)에서 빼낼 수 있다.

베이스(21)의 상측면에는 검사 개시 스위치(34)가 탑재되고, 상기 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫힌 때 상기 검사 개시 스위치(34)에 대해 마주보는 도어(25)의 일 위치에는 푸셔(pusher)(36)가 돌출 형성된다. 따라서, 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫히면 푸셔(36)가 검사 개시 스위치(34)를 누르고, 이로 인해 제어 유닛(85)이 제1 검사 유닛(40) 및 제2 검사 유닛(60)의 작동을 개시한다. 따라서 제어 유닛은 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫혔을 때 검사 개시 상태가 되었음을 인식하게 된다.

도어 록킹 유닛(30)은 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫힌 상태를 유지하도록 잠그는 유닛으로, 베이스(21)의 상측면에 설치된 전자석(31)과, 상기 도어(25)가 상기 베이스(21)에 대해 닫힌 때 전자석(31)에 대해 마주보는 위치에 고정된 자성체(32)를 구비한다. 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫힌 때 전자석(31)에 전기 신호가 인가되면 자기장이 형성되고, 자성체(32)가 자력(磁力)에 끌려 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫힌 상태로 유지된다. 그러나, 전자석(31)에 전기 신호가 중단되면 자력이 소멸하고, 도어(25)는 탄성 바이어스된 힌지(27)로 인해 개방된다.

제1 검사 유닛(40) 및 제2 검사 유닛(60)은 베이스(21)의 상측면에 형성된 홈에 탑재된다. 도 3 및 도 5는 도 1의 제1 검사 유닛의 검사 동작을 순차적으로 도시한 단면도로서, 도 1 및 도 3 내지 도 5를 참조하면, 제1 검사 유닛(40)은 스텝 모터(41), 스크류(screw)(43), LM 블록(45), LM 가이드(55), 수형 검사 돌기(50), 제1 리미트 스위치(57), 및 제2 리미트 스위치(59)를 구비한다. 스크류(43)는 스텝 모터(41)의 샤프트(미도시)와 연결되어 스텝 모터(41)의 동력에 의해 시계 방향 및 반시계 방향으로 회전 가능하며, 인쇄 회로 안착부(38)에 안착된 FPCB(1)의 제1 암형 전자 소자(7)을 향하여 Y축과 평행한 방향으로 연장된다.

LM 블록(45)은 스크류(43)에 체결되어 스크류(43)의 회전 방향에 따라 상기 제1 암형 전자 소자(7)에 가까워지는 방향 또는 멀어지는 방향으로 이동한다. 구체적으로, LM 블록(45)은 스크류(43)에 체결되는 스크류 체결 부재(46)와, 스크류 체결 부재(46)의 상측에 고정 결합되는 커버 부재(48)를 구비한다. 스크류 체결 부재(46)는 Y축과 평행한 방향으로 이동시 스크류(43)와의 마찰 저항을 줄일 수 있도록 다수의 베어링 볼(bearing ball)(미도시)을 구비하여, 소위 볼 스크류(ball screw) 방식으로 스크류(43)에 체결될 수 있다. 제1 검사 유닛(40)이 탑재된 베이스(21)의 홈 바닥에는 Y축과 평행한 방향으로 연장된 LM 가이드(55)가 형성되고, 스크류 체결 부재(46)는 상기 LM 가이드(55)에 대해 슬라이딩(sliding) 가능하게 끼워지도록 하측면에 LM 가이드 슬롯(47)이 형성된다.

수형 검사 돌기(50)는 LM 블록(45)에 탑재된다. 구체적으로, 수형 검사 돌기(50)는 스크류 체결 부재(46)의 상측면에 탑재되는 PCB에서 제1 암형 전자 소자(7) 측으로 연장되고 커버 부재(48)가 상기 PCB를 덮으며 스크류 체결 부재(46)에 체결되어 수형 검사 돌기(50)를 고정한다. 수형 검사 돌기(50)는 LM 블록(45)이 Y축의 양(+)의 방향과 평행하게 이동함에 따라 제1 암형 전자 소자(7)에 삽입되는 검사 위치(도 4 참조)와, LM 블록(45)이 Y축의 음(-)의 방향과 평행하게 이동함에 따라 제1 암형 전자 소자(7)에서 이격되어 스텝 모터(41)에 근접하는 초기 위치(도 3 참조) 사이에서 이동 가능하다.

제1 리미트 스위치(57)는 수형 검사 돌기(50)의 초기 위치를 한정한다. 구체적으로, LM 블록(45)이 제1 암형 전자 소자(7)로부터 멀어지는 방향, 즉 Y축의 음(-)의 방향과 평행하게 이동하면서 커버 부재(48)가 제1 리미트 스위치(57)를 치면 제어 유닛(85)이 LM 블록(45)이 멈추도록 스텝 모터(41)를 제어하고, 이 때의 수형 검사 돌기(50)의 위치가 초기 위치가 된다.

상기 초기 위치는 수형 검사 돌기(50)의 위치를 정확히 제어하기 위하여 중요하다. 이는 상기 수형 검사 돌기(50)가 정확한 검사 위치에 위치되지 않는 상태에서 검사가 이루어지면 정상의 암형 전자 소켓이 결합의 불안정으로 인하여 불량으로 판단할 수 있기 때문이다.

따라서, 본 발명에서는, 검사 개시 상태가 되면, 상기 제어 유닛이 먼저 임의 지점에 있는 수형 검사 돌기(50)를 이미 정해져서 정확한 위치인 초기 위치로 이동시킴으로써 상기 수형 검사 돌기(50)의 위치를 상기 초기 위치에 기초하여 계산하여 이동시킬 수 있게 된다. 이를 통하여 보다 정확한 수형 검사 돌기의 위치 제어가 가능하고, 결과적으로 정확한 위치에서 검사가 가능하게 됨으로써 암형 전자 소켓의 불량여부를 정확하게 판별할 수 있다.

보다 정확하고 안정적으로 검사 위치에 상기 수형 검사 돌기(50)를 위치시키기 위해서, 제2 리미트 스위치(59)를 더 포함할 수 있다. 제2 리미트 스위치(59)는 수형 검사 돌기(50)의 검사 위치를 한정한다. 구체적으로, LM 블록(45)이 제1 암형 전자 소자(7)에 가까워지는 방향, 즉 Y축의 양(+)의 방향과 평행하게 이동하면서 커버 부재(48)가 제2 리미트 스위치(59)를 치면 제어 유닛(85)이 LM 블록(45)이 멈추도록 스텝 모터(41)를 제어하고, 이 때의 수형 검사 돌기(50)의 위치가 검사 위치가 된다.

이에 따라서 보다 정확한 위치에 수형 검사 돌기(50)를 위치시킬 수 있게 된다.

한편 도 1을 다시 참조하면, 제2 검사 유닛(60)도 제1 검사 유닛(40)과 마찬가지로 스텝 모터(61), 스크류(screw)(63), LM 블록(65), LM 가이드(미도시), 수형 검사 돌기(70), 제1 리미트 스위치(77), 및 제2 리미트 스위치(79)를 구비한다. 스크류(63)는 스텝 모터(61)의 샤프트(미도시)와 연결되어 스텝 모터(61)의 동력에 의해 시계 방향 및 반시계 방향으로 회전 가능하며, 인쇄 회로 안착부(38)에 안착된 FPCB(1)의 제2 암형 전자 소자(11)을 향하여 X축과 평행한 방향으로 연장된다.

LM 블록(65)은 스크류(63)에 체결되어 스크류(63)의 회전 방향에 따라 상기 제2 암형 전자 소자(11)에 가까워지는 방향 또는 멀어지는 방향으로 이동한다. 수형 검사 돌기(70)는 LM 블록(65)에 탑재된다. 수형 검사 돌기(70)는 LM 블록(65)이 X축의 양(+)의 방향과 평행하게 이동함에 따라 제2 암형 전자 소자(1)에 삽입되는 검사 위치와, LM 블록(65)이 X축의 음(-)의 방향과 평행하게 이동함에 따라 제2 암형 전자 소자(11)에서 이격되어 스텝 모터(61)에 근접하는 초기 위치 사이에서 이동 가능하다.

제1 리미트 스위치(77)는 수형 검사 돌기(70)의 초기 위치를 한정한다. 구체적으로, LM 블록(65)이 제2 암형 전자 소자(11)로부터 멀어지는 방향, 즉 X축의 음(-)의 방향과 평행하게 이동하면서 LM 블록(65)이 제1 리미트 스위치(77)를 치면 제어 유닛(85)이 LM 블록(65)이 멈추도록 스텝 모터(61)를 제어하고, 이 때의 수형 검사 돌기(70)의 위치가 초기 위치가 된다.

제2 리미트 스위치(79)는 수형 검사 돌기(70)의 검사 위치를 한정한다. 구체적으로, LM 블록(65)이 제2 암형 전자 소자(11)에 가까워지는 방향, 즉 X축의 양(+)의 방향과 평행하게 이동하면서 LM 블록(65)이 제2 리미트 스위치(79)를 치면 제어 유닛(85)이 LM 블록(65)이 멈추도록 스텝 모터(61)를 제어하고, 이 때의 수형 검사 돌기(70)의 위치가 검사 위치가 된다.

제어 유닛(85)은 인쇄 회로 안착부(38)에 FPCB(1)가 안착되고 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫히면 제1 및 제2 검사 유닛(40, 60)이 작동되도록 제어하고, 제1 및 제2 검사 유닛(40, 60)이 작동 결과로 FPCB(1)의 양품 여부를 판정한다. 또한, FPCB(1)를 양품으로 판정하면 도어(25)의 잠금이 해제되도록 도어 록킹 유닛(30)을 제어한다. 제어 유닛(85)은 베이스(21)의 내부에 구비될 수도 있고, 베이스(21)의 외부에 구비될 수도 있다.

이하에서, 도 1, 및 도 3, 내지 도 5를 참조하여 제어 유닛(85)의 구성, 및 이와 연관된 인쇄 회로 검사 지그(20)의 작동 순서를 설명한다. 먼저 도 1을 참조하면, 사용자는 FPCB(1)를 집어 인쇄 회로 안착부(38)에 안착되도록 놓고 손으로 밀어 베이스(21)에 대해 도어(25)를 닫는다. 도어(25)가 닫히면 푸셔(36)에 의해 검사 개시 스위치(34)가 켜지고, 제어 유닛(85)의 제어에 의해 전자석(31)에 전기 신호가 인가되어 자성체(32)가 전자석(31)에 의해 강하게 당겨지므로 도어(25)의 닫힌 상태가 유지된다. 그리고, 제어 유닛(85)의 제어에 의해 제1 검사 유닛(40) 및 제2 검사 유닛(60)이 순차적으로 작동한다.

제1 검사 유닛(40)의 작동을 구체적으로 설명하면, 먼저 스텝 모터(41)의 작동으로 스크류(43)가 일 방향으로 회전하여 LM 블록(45)이 Y축 음(-)의 방향과 평행하게 이동하여 제1 리미트 스위치(57)를 치면 수형 검사 돌기(50)가 초기 위치에 있음이 인식된다(도 3 참조). 이어서, 스크류(43)가 반대 방향으로 회전하여 LM 블록(45)이 Y축 양(+)의 방향과 평행하게 이동하여 수형 검사 돌기(50)가 슬롯(8)을 통해 제1 암형 전자 소자(7)에 삽입된다. 이때 수형 검사 돌기(50)와 함께 Y축 양(+)의 방향과 평행하게 이동하는 LM 블록(45)이 제2 리미트 스위치(59)를 치면 수형 검사 돌기(50)가 검사 위치에 있음이 인식된다(도 4 참조).

제1 암형 전자 소자(7)가 수형 검사 돌기(50)가 삽입되어 있음을 인식하면 커넥터(5)를 통해 제어 유닛(85)에 그에 대응되는 전기 신호가 송신되고, 이를 통해 제어 유닛(85)은 제1 암형 전자 소자(7)가 정상 작동하고 있는지를 판정한다. 제1 암형 전자 소자(7)가 정상 작동하는 것으로 판정되면 수형 검사 돌기(50)가 검사 위치에서 초기 위치 방향으로 이동한다.

이때 수형 검사 돌기(50)는 처음에 Y축 양(+)의 방향과 평행하게 이동하여 검사 위치보다 더 깊게 제1 암형 전자 소자(7)에 삽입된 후(도 5 참조), 즉시 Y축 음(-)의 방향과 평행하게 이동하여 초기 위치로 이동한다. 검사 위치인 때 제1 암형 전자 소자(7)의 단자(9)에 수형 검사 돌기(50)의 말단부가 물리적으로 걸려 있을 수 있기 때문에, Y축 음(-)의 방향과 평행하게 검사 위치에서 초기 위치를 향해 바로 이동하면 상기 단자(9) 또는 수형 검사 돌기(50)가 손상될 수 있으므로 이를 방지하기 위함이다.

제1 검사 유닛(40)에 의한 제1 암형 전자 소자(7)의 검사가 종료되면 제2 검사 유닛(60)에 의한 제2 암형 전자 소자(11)의 검사가 진행되는데, 이 과정은 제1 검사 유닛(40)에 의한 제1 암형 전자 소자(7)의 검사 과정과 유사하므로 중복되는 설명은 생략한다. 제1 암형 전자 소자(7)와 제2 암형 전자 소자(11)가 모두 정상 작동하는 것으로 판정되면 제어 유닛(85)은 FPCB(1)을 양품으로 판정하고, 전자석(31)에 전기 신호가 끊기면 도어(25)의 록킹(locking)이 해제되어 도어(25)가 베이스(21)에 대해 열리도록 탄성 복귀한다. 사용자는 양품으로 판정된 FPCB(1)를 인쇄 회로 안착부(38)에서 취출하여 불량품과 분리된 장소에 보관할 수 있다.

한편, 제1 검사 유닛(40) 및 제2 검사 유닛(60)의 작동을 통해서 FPCB(1)가 양품이 아닌 것, 즉 불량품으로 판정되면, 제어 유닛(85)은 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫힌 상태를 유지하도록 도어 록킹 유닛(30)을 제어한다. 이 때 사용자가 오픈 버튼(22)을 누르면 도어(25)의 닫힌 상태가 해제되도록 제어 유닛(85)이 도어 록킹 유닛(30)을 제어하며, 사용자는 불량품으로 판정된 FPCB(1)를 인쇄 회로 안착부(38)에서 취출하여 양품 표시가 된 FPCB와 분리된 장소에 보관할 수 있다.

또 한편, 제1 검사 유닛(40) 및 제2 검사 유닛(60)의 작동을 통하여 FPCB(1)가 불량품으로 판정되면, 제어 유닛(85)은 도어(25)가 베이스(21)에 대해 닫힌 상태를 유지하도록 도어 록킹 유닛(30)을 제어한다. 이 때 사용자가 재검사 버튼(23)을 누르면 제어 유닛(85)이 제1 검사 유닛(40) 및 제2 검사 유닛(60)을 다시 한번 작동하도록 제어한다. 재검사를 통해 양품으로 판정되는 FPCB(1)는 양품을 보관하는 장소에 보관될 것이며, 재검사에도 여전히 불량품으로 판정되는 FPCB(1)는 불량품을 보관하는 장소에 보관될 것이다.

도 1 내지 도 5를 참조하여 설명한 실시예에서, 제1 암형 전자 소자와 제2 암형 전자 소자를 SIM 카드 리더와 SD 카드 리더에 한정하여 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다. 예를 들면, 암형 전자 소자는 USB 메모리 연결 소자, 이어폰 잭(earphone jack)일 수도 있다. 또한, 도 1 내지 도 5를 참조하여 설명한 실시예에서, 인쇄 회로는 FPCB에 한정하여 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 예컨대 PCB일 수도 있다.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.

1: FPCB 7, 11: 암형 전자 소자
20: 인쇄 회로 검사 지그 21: 베이스
25: 도어 30: 도어 록킹 유닛
34: 검사 개시 스위치 38: 인쇄 회로 안착부
40, 60: 검사 유닛 41, 61: 스텝 모터
43, 63: 스크류 45, 65: LM 블록
50, 70: 수형 검사 돌기 57, 59, 77, 79: 리미트 스위치

Claims

적어도 하나의 암형 전자 소자를 구비한 인쇄 회로가 안착되는 인쇄 회로 안착부가 상측면에 형성된 베이스; 및
상기 적어도 하나의 암형 전자 소자의 정상 여부를 검사하는, 상기 암형 전자 소자의 개수에 대응되는 개수의 검사 유닛;을 포함하고,
상기 검사 유닛은:
스텝 모터;
상기 스텝 모터의 구동에 따라서 전진 및 후진하여, 상기 암형 전자 소자의 삽입되는 검사 위치와, 상기 암형 전자 소자에서 이격되는 초기 위치 사이에서 이동 가능한 수형 검사 돌기; 및
검사 개시 상태가 되었을 때, 자동적으로 상기 스텝 모터를 작동시키는 제어 유닛;을 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.
제1항에 있어서,
상기 검사 유닛은;
상기 스텝 모터의 동력에 의해 회전하는 스크류(screw);
상기 스크류에 체결되어 상기 스크류의 회전 방향에 따라 상기 인쇄 회로에 구비된 하나의 암형 전자 소자에 가까워지는 방향 또는 멀어지는 방향으로 이동하며, 말단부에 상기 수형 검사 돌기가 체결되는 LM 블록; 및
상기 베이스의 홈에 형성되어서 상기 LM 블록이 이동하도록 가이드하는 LM 가이더;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.
제1 항에 있어서,
상기 인쇄 회로 안착부를 노출하거나 가리도록 상기 베이스에 대해 열고 닫을 수 있으며, 열리는 방향으로 탄성 바이어스(bias)된 도어(door);를 더 포함하고,
상기 제어부는 상기 도어가 상기 베이스에 대해 닫힌 때 상기 검사 개시 상태가 되었다고 판단하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.
제1 항에 있어서,
상기 LM 블록이 상기 암형 전자 소자로부터 멀어지는 방향으로 이동한 때 상기 LM 블록에 의해 작동되는 것으로, 상기 수형 검사 돌기의 초기 위치를 한정하는 제1 리미트 스위치(limit switch)를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.
제4 항에 있어서,
상기 검사 개시 상태가 되었을 때, 상기 제어 유닛은 상기 수형 검사 돌기를 초기 위치로 이동시킨 후, 상기 초기 위치를 기준으로 상기 수형 검사 돌기를 일정 거리로 전진시켜서 검사 위치에 위치하도록 하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.
제4 항에 있어서,
상기 LM 블록이 상기 암형 전자 소자에 가까워지는 방향으로 이동한 때 상기 LM 블록에 의해 작동되는 것으로, 상기 수형 검사 돌기의 검사 위치를 한정하는 제2 리미트 스위치를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.
제1 항에 있어서,
상기 수형 검사 돌기가 상기 검사 위치에서 상기 초기 위치로 이동할 때 상기 수형 검사 돌기가 상기 검사 위치보다 더 깊게 상기 암형 전자 소자에 삽입된 후 상기 초기 위치 방향으로 이동하도록 상기 제어 유닛이 제어하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.
제1 항에 있어서,
상기 제어 유닛에 의해 제어되어, 상기 검사 유닛이 작동하는 동안 상기 도어가 상기 베이스에 대해 닫힌 상태를 유지하도록 잠그는 도어 록킹 유닛(door locking unit)을 더 구비하고,
상기 제어 유닛은 상기 검사 유닛의 작동 결과로 상기 인쇄 회로를 양품이 아니라고 판정하면 상기 도어가 상기 베이스에 대해 닫힌 상태를 유지하도록 상기 도어 록킹 유닛을 제어하고, 상기 도어가 열리도록 마련된 오픈 버튼이 눌려지면 상기 도어의 닫힌 상태가 해제되도록 상기 도어 록킹 유닛을 제어하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.
제1 항 내지 제8 항 중 어느 하나의 항에 있어서,
상기 인쇄 회로는 복수의 암형 전자 소자를 구비하고,
상기 암형 전자 소자는 SD 카드 연결 소자, SIM 카드 연결 소자, USB 메모리 연결 소자, 및 이어폰 잭(earphone jack) 중에서 적어도 하나의 종류를 포함하는 것을 특징으로 하는 인쇄 회로 검사 지그.