KR20130106194A - Array test apparatus - Google Patents
Array test apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR20130106194A KR20130106194A KR1020120027901A KR20120027901A KR20130106194A KR 20130106194 A KR20130106194 A KR 20130106194A KR 1020120027901 A KR1020120027901 A KR 1020120027901A KR 20120027901 A KR20120027901 A KR 20120027901A KR 20130106194 A KR20130106194 A KR 20130106194A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- glass panel
- support plates
- pressing member
- moving device
- pressing
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
- G01R31/2825—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere in household appliances or professional audio/video equipment
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/01—Subjecting similar articles in turn to test, e.g. "go/no-go" tests in mass production; Testing objects at points as they pass through a testing station
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2837—Characterising or performance testing, e.g. of frequency response
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2893—Handling, conveying or loading, e.g. belts, boats, vacuum fingers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 글라스패널을 검사하는 어레이 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an array test apparatus for inspecting a glass panel.
일반적으로, 평판디스플레이(Flat Panel Display; FPD)란 브라운관을 채용한 텔레비전이나 모니터보다 두께가 얇고 가벼운 영상표시장치이다. 평판디스플레이로는, 액정디스플레이(Liquid Crystal Display; LCD), 플라즈마디스플레이패널(Plasma Display Panel; PDP), 전계방출디스플레이(Field Emission Display; FED), 유기발광다이오드(Organic Light Emitting Diodes; OLED) 등이 개발되어 사용되고 있다.In general, a flat panel display (FPD) is an image display device that is thinner and lighter than a television or a monitor employing a CRT. The flat panel display includes a liquid crystal display (LCD), a plasma display panel (PDP), a field emission display (FED), organic light emitting diodes (OLED), and the like. It is developed and used.
이와 같은 평판디스플레이 중에서, 액정디스플레이는 매트릭스형태로 배열된 액정셀들에 화상정보에 따른 데이터신호를 개별적으로 공급하여 액정셀들의 광투과율을 조절함으로써 원화는 화상을 표시할 수 있도록 한 표시장치이다. 액정디스플레이는 얇고 가벼우며 소비전력과 동작전압이 낮은 장점 등으로 인하여 널리 이용되고 있다. 이러한 액정디스플레이에 일반적으로 채용되는 액정패널의 제조방법을 설명하면 다음과 같다.Among such flat panel displays, a liquid crystal display is a display device in which an original image can be displayed by controlling a light transmittance of liquid crystal cells by individually supplying data signals according to image information to liquid crystal cells arranged in a matrix form. Liquid crystal displays are widely used due to their thin, light, low power consumption and low operating voltage. The manufacturing method of the liquid crystal panel generally employed in such a liquid crystal display will be described.
먼저, 제1기판에 컬러필터 및 공통전극을 형성하고, 제1기판과 대응되는 제2기판에 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT) 및 화소전극을 형성한다. 이어서, 기판들에 각각 배향막을 도포한 후 이들 사이에 형성될 액정층내의 액정분자에 프리틸트 각(pre-tilt angle)과 배향방향을 제공하기 위해 배향막을 러빙(rubbing)한다.First, a color filter and a common electrode are formed on a first substrate, and a thin film transistor (TFT) and a pixel electrode are formed on a second substrate corresponding to the first substrate. Subsequently, after the alignment films are applied to the substrates, the alignment films are rubbed to provide a pre-tilt angle and an orientation direction to the liquid crystal molecules in the liquid crystal layer to be formed therebetween.
그리고, 기판들 사이의 갭을 유지하는 한편 액정이 외부로 새는 것을 방지하고 기판들 사이를 밀봉시킬 수 있도록 적어도 어느 하나의 기판에 페이스트를 소정 패턴으로 도포하여 페이스트 패턴을 형성한 다음, 적어도 어느 하나의 기판상에 액정을 적하하는 공정이 진행된다.The paste pattern is formed by applying a paste in a predetermined pattern on at least one substrate so as to maintain the gap between the substrates and to prevent the liquid crystal from leaking to the outside and to seal the gaps between the substrates. The process of dropping a liquid crystal on the board | substrate of is advanced.
이러한 공정 중에 박막트랜지스터(TFT) 및 화소전극이 형성된 제2기판(이하, "글라스패널"이라 한다.)에 구비되는 게이트라인 및 데이터라인의 단선, 화소셀의 색상 불량 등의 결함이 있는지를 검사하는 공정을 수행하게 된다.During this process, the gate line and the data line of the thin film transistor TFT and the second substrate on which the pixel electrode is formed (hereinafter referred to as a "glass panel") are inspected for defects such as disconnection of color and poor color of the pixel cell. To perform the process.
글라스패널에 대한 검사를 수행하기 위하여 어레이 테스트 장치가 이용된다. 어레이 테스트 장치는, 글라스패널에 대한 검사를 수행하기 이전에 소정의 간격으로 배치되는 복수의 지지플레이트상에 글라스패널을 탑재하고, 복수의 지지플레이트상에 탑재된 글라스패널의 위치를 정렬하는 동작을 수행한다.An array test apparatus is used to perform the inspection on the glass panel. The array test apparatus mounts the glass panels on a plurality of support plates arranged at predetermined intervals before performing inspection on the glass panels, and arranges the positions of the glass panels mounted on the plurality of support plates. Perform.
글라스패널의 위치를 정렬하기 위하여, 복수의 지지플레이트의 외곽에 수평방향으로 이동이 가능하게 설치되는 복수의 가압부재를 마련하고, 복수의 지지플레이트상에 탑재된 글라스패널의 4개의 모서리를 복수의 가압부재로 동시에 가압하는 동작을 수행한다.In order to align the positions of the glass panels, a plurality of pressing members are provided on the outer side of the plurality of support plates so as to be movable in a horizontal direction, and four corners of the glass panels mounted on the plurality of support plates are provided in a plurality of positions. Simultaneously pressurizes the pressing member.
한편, 액정디스플레이의 양산성을 확보하기 위하여 면적이 큰 글라스패널을 이용하여 액정디스플레이를 제조하고 있다. 이러한 대면적의 글라스패널에 대한 검사를 수행하기 위해서는 대면적의 글라스패널에 대응되도록 복수의 지지플레이트의 크기가 커져야 한다.Meanwhile, in order to secure mass productivity of liquid crystal displays, liquid crystal displays are manufactured using glass panels having large areas. In order to perform inspection on the glass panel of such a large area, the size of the plurality of support plates must be increased to correspond to the glass panel of the large area.
복수의 지지플레이트의 크기가 커지게 되면, 복수의 지지플레이트의 외곽에 배치되는 복수의 가압부재 사이의 간격이 커지게 되는데, 이와 같은 경우, 복수의 지지플레이트의 전체의 영역의 크기와 대응되는 크기를 가지는 대면적의 글라스패널의 위치를 정렬하는 동작은 원활하게 수행할 수 있으나, 복수의 지지플레이트의 전체의 영역의 크기에 비하여 작은 크기를 가지는 소면적의 글라스패널의 위치를 정렬하는 동작을 적절하게 수행할 수 없으므로, 하나의 어레이 테스트 장치로 대면적의 글라스패널과 소면적의 글라스패널에 대한 검사를 수행할 수 없는 문제가 있다.When the size of the plurality of support plates is increased, the distance between the plurality of pressing members disposed on the outside of the plurality of support plates is increased, in this case, the size corresponding to the size of the entire area of the plurality of support plates Although the operation of aligning the position of the glass panel having a large area may be performed smoothly, the operation of aligning the position of the glass panel having a small area with a small size is appropriate for the size of the entire area of the plurality of support plates. Since it can not be performed, there is a problem that the inspection of the glass panel of a large area and the glass panel of a small area can not be performed by one array test apparatus.
본 발명은 상기한 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 하나의 장비를 이용하여 대면적의 글라스패널과 소면적의 글라스패널의 위치를 정렬하여 이들에 대한 검사를 수행할 수 있는 어레이 테스트 장치를 제공하는 데에 있다.The present invention is to solve the above problems of the prior art, an object of the present invention is to arrange the large area of the glass panel and the small area of the glass panel using a single device to perform the inspection for them An array test apparatus is provided.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치는, 글라스패널이 탑재되며 소정의 간격으로 배치되는 복수의 지지플레이트와, 상기 복수의 지지플레이트의 외곽에 설치되며, 수평방향으로 이동되어 상기 글라스패널의 측면을 가압하는 제1가압부재가 구비되는 복수의 제1얼라인유닛과, 상기 복수의 지지플레이트 사이에 설치되며, 수평방향으로 이동되어 상기 글라스패널의 측면을 가압하는 제2가압부재가 구비되는 복수의 제2얼라인유닛을 포함하고, 상기 제2가압부재는 상기 복수의 지지플레이트의 사이에서 수직방향으로 승강이 가능하게 설치될 수 있다.The array test apparatus according to the present invention for achieving the above object, the glass panel is mounted on a plurality of support plates are arranged at a predetermined interval, and installed on the outer periphery of the plurality of support plates, moved in the horizontal direction to the A plurality of first alignment unit having a first pressing member for pressing the side surface of the glass panel, and a second pressing member installed between the plurality of the support plate, moved in the horizontal direction to press the side of the glass panel It includes a plurality of second alignment unit, wherein the second pressing member may be installed to be capable of lifting in the vertical direction between the plurality of support plates.
본 발명에 따른 어레이 테스트 장치는, 복수의 지지플레이트의 전체의 영역의 크기와 대응되는 크기를 가지는 대면적의 글라스패널의 위치를 정렬할 수 있을 뿐만 아니라 복수의 지지플레이트의 전체의 영역의 크기에 비하여 작은 크기를 가지는 소면적의 글라스패널의 위치를 정렬할 수 있는 얼라인수단이 구비되므로, 하나의 어레이 테스트 장치를 이용하여 대면적의 글라스패널과 소면적의 글라스패널의 위치를 정렬하여 이들에 대한 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.The array test apparatus according to the present invention can not only align the position of a large area glass panel having a size corresponding to the size of the entire area of the plurality of support plates, but also to the size of the entire area of the plurality of support plates. On the other hand, since the alignment means for aligning the small area of the glass panel having a small size is provided, a single array test apparatus is used to align the large area of the glass panel with the small area of the glass panel. It is effective to perform the test.
또한, 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치는, 복수의 지지플레이트의 전체의 영역의 크기에 비하여 작은 크기를 가지는 복수의 글라스패널을 복수의 지지플레이트상에 함께 탑재하여 동시에 위치를 정렬할 수 있으므로, 복수의 글라스패널에 대한 검사를 동시에 수행할 수 있는 효과가 있다.In addition, the array test apparatus according to the present invention can mount the plurality of glass panels having a smaller size than the size of the entire area of the plurality of support plates together on the plurality of support plates to align the positions at the same time. The effect on the glass panel of the test can be performed at the same time.
도 1은 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치가 개략적으로 도시된 사시도이다.
도 2 및 도 3은 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치의 지지플레이트, 제1얼라인유닛 및 제2얼라인유닛이 도시된 평면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치의 제1얼라인유닛이 개략적으로 도시된 사시도이다.
도 5는 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치의 제2얼라인유닛이 개략적으로 도시된 사시도이다.
도 6 내지 도 8은 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치에서 복수의 지지플레이트 및 글라스패널에 대한 제2얼라인유닛의 위치 및 동작을 설명하기 위한 개략도이다.1 is a schematic perspective view of an array test apparatus according to the present invention.
2 and 3 are plan views showing a support plate, a first alignment unit and a second alignment unit of the array test apparatus according to the present invention.
4 is a perspective view schematically showing a first alignment unit of the array test apparatus according to the present invention.
5 is a perspective view schematically showing a second alignment unit of the array test apparatus according to the present invention.
6 to 8 are schematic views for explaining the position and operation of the second alignment unit with respect to the plurality of support plates and glass panels in the array test apparatus according to the present invention.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치에 관한 바람직한 실시예에 대하여 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of an array test apparatus according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치는, 베이스프레임(10)과, 글라스패널을 로딩하는 로딩유닛(30)과, 로딩유닛(30)에 의하여 로딩된 글라스패널에 대한 검사를 수행하는 테스트유닛(20)과, 테스트유닛(20)에 의하여 검사가 완료된 글라스패널을 언로딩하는 언로딩유닛(40)을 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIG. 1, the array test apparatus according to the present invention includes a
테스트유닛(20)은, 로딩유닛(30)에 의하여 로딩된 글라스패널이 배치되는 투광지지플레이트(21)와, 투광지지플레이트(21)상에 배치된 글라스패널의 결함여부를 검사하는 테스트모듈(22)과, 투광지지플레이트(21)상에 배치된 글라스패널의 전극으로 전기신호를 인가하기 위한 프로브모듈(23)과, 테스트모듈(22)과 프로브모듈(23)을 제어하는 제어유닛(미도시)을 포함하여 구성될 수 있다.The
테스트모듈(22)은 투광지지플레이트(21)의 상측에서 X축방향으로 연장되는 테스트모듈지지프레임(223)에 X축방향으로 이동이 가능하게 설치될 수 있다. 또한, 테스트모듈(22)은 테스트모듈지지프레임(223)의 연장방향(X축방향)을 따라 복수로 구비될 수 있다. 테스트모듈(22)은 투광지지플레이트(21)상에 배치된 글라스패널의 상측에 배치되어 글라스패널의 결함여부를 검출한다. 테스트모듈(22)은, 투광지지플레이트(21)상에 배치된 글라스패널에 인접하는 모듈레이터(221)와, 모듈레이터(221)를 촬상하는 촬상장치(222)를 포함하여 구성될 수 있다.The
이러한 테스트유닛(20)은 반사방식 및 투과방식으로 두 가지의 형태로 나눌 수 있다. 반사방식의 경우에는, 광원이 테스트모듈(22)과 함께 배치되고, 테스트모듈(22)의 모듈레이터(221)에 반사층이 구비되며, 이에 따라, 광원에서 발광된 광이 모듈레이터(221)로 입사된 후 모듈레이터(221)의 반사층으로부터 반사될 때, 반사되는 광의 광량을 측정함으로써, 글라스패널의 결함여부를 검출하게 된다. 투과방식의 경우에는, 광원이 투광지지플레이트(21)의 하측에 구비되며, 이에 따라, 광원에서 발광되어 모듈레이터(221)를 투과하는 광의 광량을 측정함으로써, 글라스패널의 결함여부를 검출하게 된다. 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치의 테스트유닛(20)으로는 이러한 반사방식 및 투과방식이 모두 적용될 수 있다.The
테스트모듈(22)의 모듈레이터(221)에는, 글라스패널과의 사이에서 발생되는 전기장의 크기에 따라 반사되는 광의 광량(반사방식의 경우) 또는 투과되는 광의 광량(투과방식의 경우)을 변경하는 전광물질층(electro-optical material layer)이 구비된다. 전광물질층은, 글라스패널과 모듈레이터(221)에 전기가 인가될 때 발생되는 전기장에 의하여 특정의 물성이 변경되는 물질로 이루어져 전광물질층으로 입사되는 광의 광량을 변경한다. 이러한 전광물질층은 전기장의 크기에 따라 일정한 방향으로 배열되는 특성을 가지는 물질로 이루어져 이에 입사하는 광을 편광시키는 액정(LC, liquid crystal) 또는 고분자 분산형 액정(PDLC, polymer dispersed liquid crystal)으로 이루어질 수 있다.In the
프로브모듈(23)은, X축방향으로 연장되는 프로브모듈지지프레임(231)과, 프로브모듈지지프레임(231)의 길이방향(X축방향)을 따라 소정의 간격으로 배치되며 복수의 프로브핀(미도시)이 구비되는 프로브헤드(233)를 포함하여 구성될 수 있다.The
프로브모듈지지프레임(231)은 Y축구동유닛(235)과 연결되어 프로브모듈지지프레임(231)의 길이방향(X축방향)과 수평으로 직교하는 방향(Y축방향)으로 이동될 수 있다. 그리고, 프로브모듈지지프레임(50)과 프로브모듈(23)의 사이에는 프로브헤드(233)를 프로브모듈지지프레임(231)의 길이방향으로 이동시키는 X축구동유닛(236)이 구비될 수 있다. Y축구동유닛(235) 및/또는 X축구동유닛(236)으로는 리니어모터 또는 볼스크류장치와 같은 직선이동기구가 적용될 수 있다.The probe
로딩유닛(30)은 검사의 대상이 되는 글라스패널을 지지함과 아울러 글라스패널을 테스트유닛(20)으로 이송시키는 역할을 수행하며, 언로딩유닛(40)은 검사가 완료된 글라스패널을 지지함과 아울러 테스트유닛(20)으로부터 이송시키는 역할을 수행한다. 로딩유닛(30) 및 언로딩유닛(40)에는, 소정의 간격으로 배치되어 글라스패널이 탑재되는 복수의 지지플레이트(50)와, 글라스패널을 이송하기 위한 글라스패널 이송장치(60)가 구비될 수 있다.The
각 지지플레이트(50)는 글라스패널이 이송되는 방향(Y축방향)으로 연장되는 판형상으로 형성될 수 있다. 각 지지플레이트(50)에는 글라스패널을 부양시키기 위한 공기가 분사되는 복수의 공기분사홀(51)이 형성될 수 있으며, 각 공기분사홀(51)은 공기를 공급하는 공기공급장치(미도시)와 연결될 수 있다.Each
한편, 베이스 프레임(10)상에는, 각 지지플레이트(50)가 연장되는 방향(Y축방향)과 수평으로 직교하는 방향(X축방향)으로 연장되는 가이드레일(52)이 설치될 수 있으며, 복수의 지지플레이트(50) 중 적어도 어느 하나는 가이드레일(50)상에서 가이드레일(52)이 연장되는 방향(X축방향)으로 수평방향으로 이동이 가능하게 설치될 수 있다. 복수의 지지플레이트(50) 중 적어도 어느 하나의 수평방향으로의 이동에 의하여 복수의 지지플레이트(50) 사이의 간격(도 2에서의 D1 및 도 3에서의 D2)이 조절될 수 있다. 지지플레이트(50)는 작업자에 의하여 수동으로 이동될 수 있다. 또한, 지지플레이트(50)가 가이드레일(52)를 따라 자동적으로 이동될 수 있도록, 지지플레이트(50)에는, 예를 들면, 유압 또는 공압으로 작동하는 실린더를 포함하는 액추에이터, 볼스크류장치 또는 리니어모터와 같은 직선이동기구가 연결될 수 있다.On the other hand, on the
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치에는, 복수의 지지플레이트(50)상에 탑재된 글라스패널(P1, P2)의 위치를 정렬하는 얼라인수단이 구비된다.2 and 3, the array test apparatus according to the present invention includes alignment means for aligning positions of the glass panels P1 and P2 mounted on the plurality of
복수의 지지플레이트(50)상에는, 복수의 지지플레이트(50)가 차지하는 전체의 영역의 크기에 대응되는 크기를 가지는 대면적의 글라스패널(P1)(이하, '제1글라스패널'이라 한다.)이 탑재될 수 있으며, 복수의 지지플레이트(50)가 차지하는 전체의 영역의 크기에 비하여 작은 크기를 가지는 소면적의 글라스패널(P2)(이하, '제2글라스패널'이라 한다.)가 탑재될 수 있다. 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치는, 이러한 얼라인수단을 이용하여 복수의 지지플레이트(50)상에 제1글라스패널(P1)이 탑재되는 경우 제1글라스패널(P1)의 위치를 정렬할 수 있을 뿐만 아니라 제2글라스패널(P2)이 탑재되는 경우에도 제2글라스패널(P2)의 위치를 정렬할 수 있다.On the plurality of
이와 같은 얼라인수단은, 복수의 지지플레이트(50)의 외곽에 설치되는 제1얼라인유닛(70)과, 복수의 지지플레이트(50)의 사이에 설치되는 제2얼라인유닛(80)을 포함하여 구성될 수 있다.Such alignment means includes a
도 4에 도시된 바와 같이, 제1얼라인유닛(70)은, 복수의 지지플레이트(50)의 외곽에서 수평방향(X축방향 또는 Y축방향)으로 이동이 가능하게 배치되는 제1가압부재(74)와, 제1가압부재(74)를 수평방향으로 이동시키는 제1수평이동장치(73)와, 제1가압부재(74)를 수직방향으로 이동시키는 제1수직이동장치(72)와, 제1가압부재(74)가 지지되는 제1지지부재(71)를 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIG. 4, the
제1지지부재(71)는 베이스 프레임(10)상에 설치될 수 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 아니하며, 제1지지부재(71)가 베이스 프레임(10)이 아닌 복수의 지지플레이트(50)와 독립적으로 마련되는 다른 구성부품상에 설치될 수 있다.The
실시예에 따르면, 제1지지부재(71)상에 제1수직이동장치(72)가 설치되고, 제1수직이동장치(72)에, 예를 들면 브래킷(733)을 통하여, 제1수평이동장치(73)가 연결되며, 제1수평이동장치(73)에 제1가압부재(74)가 연결된다. 따라서, 제1수평이동장치(73)의 동작에 의하여 제1가압부재(74)가 수평방향으로 이동될 수 있으며, 제1수직이동장치(72)가 제1수평이동장치(73)를 승강시키는 동작에 의하여 제1가압부재(74)가 승강될 수 있다. 다만, 본 발명은 이러한 구성에 한정되지 아니하며, 제1가압부재(74)가 제1수직이동장치(72)와 연결되어 제1수직이동장치(72)의 동작에 의하여 승강되고, 제1수직이동장치(72)가 제1수평이동장치(73)와 연결되어 제1수평이동장치(73)가 제1수직이동장치(72)를 수평방향으로 이동시키는 동작에 의하여 제1가압부재(74)가 수평방향으로 이동되는 구성이 적용될 수 있다. 또한, 제1가압부재(74)에 제1수직이동장치(72) 및 제1수평이동장치(73)가 독립적으로 연결되는 구성이 적용될 수 있는 등 제1가압부재(74)를 수평방향 및 수직방향으로 이동시킬 수 있는 다양한 구성이 적용될 수 있다.According to the embodiment, the first vertical moving
제1수직이동장치(72)는, 예를 들면, 유압 또는 공압에 의하여 작동되는 실린더(721)와, 실린더(721)와 연결되어 동력을 전달하는 로드(722)를 포함하여 구성될 수 있다. 다만, 본 발명은 이러한 구성에 한정되지 아니하며, 제1수직이동장치(72)로, 예를 들면, 볼스크류장치나 리니어모터 등 제1가압부재(74)를 상승 및 하강시킬 수 있는 다양한 직선이동기구가 적용될 수 있다.The first vertical moving
제1수평이동장치(73)는, 예를 들면, 유압 또는 공압에 의하여 작동되는 실린더(731)와, 실린더(731)와 연결되어 동력을 전달하는 로드(732)를 포함하여 구성될 수 있다. 다만, 본 발명은 이러한 구성에 한정되지 아니하며, 제1수평이동장치(73)로, 예를 들면, 볼스크류장치나 리니어모터 등 제1가압부재(74)를 수평방향으로 이동시킬 수 있는 다양한 직선이동기구가 적용될 수 있다.The first horizontal moving
제1가압부재(74)는, 제1수평이동장치(73)의 로드(732)에 고정되는 고정부(741)와, 고정부(741)에 연결되고 수직방향으로 연장되는 연결부(742)와, 연결부(742)에 연결되어 글라스패널(P1, P2)의 측면과 접촉되는 가압부(743)를 포함하여 구성될 수 있다. 연결부(742)의 길이에 따라 가압부(743)의 수직방향으로의 위치가 결정된다. 가압부(743)는 글라스패널(P1, P2)의 측면과 직접적으로 접촉되는 부분이므로 글라스패널(P1, P2)의 손상을 방지하기 위해 유연성을 가지는 합성수지재질로 이루어지는 것이 바람직하다.The first pressing
한편, 하나의 제1얼라인유닛(70)에 제1가압부재(74)가 복수로 마련될 수 있으며, 이와 같은 경우에는, 글라스패널(P1, P2)의 측면에 접촉되는 부분의 개수가 증가되며, 이에 따라, 글라스패널(P1, P2)의 정렬을 보다 안정적으로 수행할 수 있다.Meanwhile, a plurality of first
도 2에 도시된 바와 같이, 제1얼라인유닛(70)은 복수의 지지플레이트(50)의 외곽의 둘레를 따라 복수로 배치될 수 있다. 복수의 지지플레이트(50)상에 대면적의 제1글라스패널(P1)이 탑재된 때에는, 제1가압부재(74)가 제1수평이동장치(73)의 동작에 의하여 수평방향으로 이동되어 제1글라스패널(P1)의 측면을 가압하며, 이에 따라, 복수의 지지플레이트(50)상에서의 제1글라스패널(P1)의 위치가 정렬될 수 있다.As shown in FIG. 2, the
한편, 제1얼라인유닛(70)의 제1수직이동장치(72)는, 복수의 지지플레이트(50)상에 글라스패널(P1, P2)이 반입되는 과정에서, 제1가압부재(74)를 복수의 지지플레이트(50)의 상면에 대하여 하측으로 하강시켜, 글라스패널(P1, P2)과 제1가압부재(74)와 사이에 간섭이 발생하지 않도록 하는 역할을 수행한다.On the other hand, the first vertical moving
다만, 제1수평이동장치(73)의 동작에 의한 제1가압부재(74)의 수평방향으로의 이동만으로, 복수의 지지플레이트(50)상으로 반입되는 글라스패널(P1, P2)과 제1가압부재(74) 사이의 간섭을 피할 수 있다면, 제1얼라인유닛(70)에 제1수직이동장치(72)가 구비되지 않을 수 있다. 이와 같은 경우에는, 제1가압부재(74)의 가압부(743)는 항상 일정한 수직방향으로의 위치를 유지할 수 있다.However, the glass panels P1 and P2 and the first to be carried on the plurality of
도 5에 도시된 바와 같이, 제2얼라인유닛(80)은, 복수의 지지플레이트(50)의 사이에서 수평방향(X축방향 또는 Y축방향)으로 이동이 가능하게 배치되는 제2가압부재(84)와, 제2가압부재(84)를 수평방향으로 이동시키는 제2수평이동장치(83)와, 제2가압부재(84)를 수직방향으로 이동시키는 제2수직이동장치(82)와, 제2가압부재(84)가 지지되는 제2지지부재(81)를 포함하여 구성될 수 있다.As shown in FIG. 5, the
제2지지부재(81)는 베이스 프레임(10)상에 설치될 수 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 아니하며, 제2지지부재(81)가 베이스 프레임(10)이 아닌 복수의 지지플레이트(50)와 독립적으로 마련되는 다른 구성부품상에 설치될 수 있다.The
실시예에 따르면, 제2지지부재(81)상에 제2수직이동장치(82)가 설치되고, 제2수직이동장치(82)에, 예를 들면 브래킷(833)을 통하여, 제2수평이동장치(83)가 연결되며, 제2수평이동장치(83)에 제2가압부재(84)가 연결된다. 따라서, 제2수평이동장치(83)의 동작에 의하여 제2가압부재(84)가 수평방향으로 이동될 수 있으며, 제2수직이동장치(82)가 제1수평이동장치(83)를 승강시키는 동작에 의하여 제2가압부재(84)가 승강될 수 있다. 다만, 본 발명은 이러한 구성에 한정되지 아니하며, 제2가압부재(84)가 제2수직이동장치(82)와 연결되어 제2수직이동장치(82)의 동작에 의하여 승강되고, 제2수직이동장치(82)가 제2수평이동장치(83)와 연결되어 제2수평이동장치(83)가 제2수직이동장치(82)를 수평방향으로 이동시키는 동작에 의하여 제2가압부재(84)가 수평방향으로 이동되는 구성이 적용될 수 있다. 또한, 제2가압부재(84)에 제2수직이동장치(82) 및 제2수평이동장치(83)가 독립적으로 연결되는 구성이 적용될 수 있는 등 제2가압부재(84)를 수평방향 및 수직방향으로 이동시킬 수 있는 다양한 구성이 적용될 수 있다.According to the embodiment, the second
제2수직이동장치(82)는, 예를 들면, 유압 또는 공압에 의하여 작동되는 실린더(821)와, 실린더(821)와 연결되어 동력을 전달하는 로드(822)를 포함하여 구성될 수 있다. 다만, 본 발명은 이러한 구성에 한정되지 아니하며, 제2수직이동장치(82)로, 예를 들면, 볼스크류장치나 리니어모터 등 제2가압부재(84)를 상승 및 하강시킬 수 있는 다양한 직선이동기구가 적용될 수 있다.The second
제2수평이동장치(83)는, 예를 들면, 유압 또는 공압에 의하여 작동되는 실린더(831)와, 실린더(831)와 연결되어 동력을 전달하는 로드(832)를 포함하여 구성될 수 있다. 다만, 본 발명은 이러한 구성에 한정되지 아니하며, 제2수평이동장치(83)로, 예를 들면, 볼스크류장치나 리니어모터 등 제2가압부재(84)를 수평방향으로 이동시킬 수 있는 다양한 직선이동기구가 적용될 수 있다.The second horizontal moving
제2가압부재(84)는, 제2수평이동장치(83)의 로드(832)에 고정되는 고정부(841)와, 고정부(841)에 연결되고 수직방향으로 연장되는 연결부(842)와, 연결부(842)에 연결되어 글라스패널(P2)의 측면과 접촉되는 가압부(843)를 포함하여 구성될 수 있다. 연결부(842)의 길이에 따라 가압부(843)의 수직방향으로의 위치가 결정된다. 가압부(843)는 글라스패널(P2)의 측면과 직접적으로 접촉되는 부분이므로 글라스패널(P2)의 손상을 방지하기 위해 유연성을 가지는 합성수지재질로 이루어지는 것이 바람직하다.The second pressing
한편, 하나의 제2얼라인유닛(80)에 제2가압부재(84)가 복수로 마련될 수 있으며, 이와 같은 경우에는, 글라스패널(P2)의 측면에 접촉되는 부분의 개수가 증가되며, 이에 따라, 글라스패널(P2)의 정렬을 보다 안정적으로 수행할 수 있다.On the other hand, a plurality of second pressing
도 3에 도시된 바와 같이, 제2얼라인유닛(80)은 복수의 지지플레이트(50)의 사이에 복수로 배치될 수 있다. 복수의 지지플레이트(50)상에 대면적의 제1글라스패널(P1)이 탑재된 때에는, 제2가압부재(84)는 제2수직이동장치(82)의 동작에 의하여 하강되어 복수의 지지플레이트(50)의 상면에 대하여 하측에 위치된 상태를 유지하며(도 6 참조), 이에 따라, 복수의 지지플레이트(50)상에 탑재된 제1글라스패널(P1)의 하면과 제2가압부재(84)가 접촉되는 것이 방지된다.As shown in FIG. 3, a plurality of
복수의 지지플레이트(50)상에 소면적의 제2글라스패널(P2)이 탑재된 때에는, 먼저 제2글라스패널(P2)의 측면과 가압부(843)가 동일한 수평면상에 위치되도록 제2가압부재(84)가 제2수직이동장치(82)의 동작에 의하여 수직방향으로 상승된다. 그리고, 제2가압부재(84)가 제2수평이동장치(83)의 동작에 의하여 수평방향으로 이동되어 제2글라스패널(P2)의 측면을 가압하며, 이에 따라, 복수의 지지플레이트(50)상에서의 제2글라스패널(P2)의 위치가 정렬될 수 있다.When the second glass panel P2 having a small area is mounted on the plurality of
복수의 제2얼라인유닛(80)은 복수의 지지플레이트(50)의 사이의 공간들마다 설치될 수 있으며, 복수의 지지플레이트(50)의 사이의 공간들 중 일부의 공간에만 설치될 수 있다. 복수의 제2얼라인유닛(80)이 복수의 지지플레이트(50)의 사이의 공간들마다 설치되는 경우에는 복수의 지지플레이트(50)가 차지하는 전체의 영역의 크기에 비하여 작으면서 다양한 크기를 가지는 소면적의 제2글라스패널들(P2)에 대하여 위치를 정렬하는 동작을 수행할 수 있다. 복수의 제2얼라인유닛(80)의 설치위치는 소면적의 제2글라스패널(P2)의 크기에 따라 결정될 수 있다.The plurality of
제2가압부재(84)가 제2글라스패널(P2) 측면을 가압하는 과정에서 제2가압부재(84)가 수직방향 및 수평방향으로 이동될 때, 지지플레이트(50)와 제2가압부재(84)가 서로 간섭되는 것을 방지하기 위하여, 복수의 지지플레이트(50) 중 제2얼라인유닛(80)과 인접하는 적어도 하나의 지지플레이트(50)가 가이드레일(52)을 따라 수평방향(X축방향)으로 이동될 수 있으며, 이에 따라, 복수의 지지플레이트(50) 사이의 간격이 확장되어, 제2가압부재(84)가 수직방향 및 수평방향으로 이동할 수 있는 공간이 확보될 수 있다. 예를 들면, 도 2에 도시된 바와 같이 복수의 지지플레이트(50)상에 제1글라스패널(P1)이 탑재되는 경우에서 제2얼라인유닛(80)과 인접하는 두 개의 지지플레이트(50) 사이의 간격(D1)에 비하여, 도 3에 도시된 바와 같이 복수의 지지플레이트(50)상에 제2글라스패널(P2)이 탑재되는 경우에서 제2얼라인유닛(80)과 인접하는 두 개의 지지플레이트(50) 사이의 간격(D2)이 커질 수 있다. 그리고, 대면적의 제1글라스패널(P1)에 대한 검사가 수행되는 경우에는, 제1글라스패널(P1)을 균일하게 지지할 수 있도록 지지플레이트(50)가 다시 원래의 상태로 이동될 수 있다. 이와 같이, 지지플레이트(50)가 이동되는 때에는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제2가압부재(84)가 복수의 지지플레이트(50)의 상면에 대하여 하측에 위치될 수 있으며, 이에 따라, 지지플레이트(50)와 제2가압부재(84)가 서로 간섭되는 문제가 방지된다.When the second pressing
다만, 복수의 지지플레이트(50) 사이의 간격이 제2가압부재(84)가 수직방향 및 수평방향으로 이동될 수 있을 만큼 충분이 확보된 경우에는, 복수의 지지플레이트(50) 사이의 간격이 조절되지 않을 수 있으며, 이와 같은 경우, 각 지지플레이트(50)의 수평방향으로의 위치는 고정될 수 있다.However, when the gap between the plurality of
이하, 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치에서 복수의 지지플레이트(50)상에 탑재된 글라스패널(P1, P2)의 위치를 정렬하는 동작에 대하여 설명한다.Hereinafter, an operation of aligning positions of the glass panels P1 and P2 mounted on the plurality of
먼저, 도 2에 도시된 바와 같이, 복수의 지지플레이트(50)상에 대면적의 제1글라스패널(P1)이 탑재되는 때에는, 복수의 제1가압부재(74)가 반입되는 제1글라스패널(P1)과 간섭되지 않을 정도의 위치에 위치된다. 이때, 제1가압부재(74)는 지지플레이트(50)의 상면에 대하여 하측에 위치될 수 있다. 그리고, 제1글라스패널(P1)이 복수의 지지플레이트(50)상에 탑재된 때에는, 복수의 제1가압부재(74)가 제1글라스패널(P1)의 측면을 향하여 수평방향으로 이동되면서 제1글라스패널(P1)의 측면을 가압한다. 이때, 제1글라스패널(P1)이 반입되는 과정에서 제1가압부재(74)가 지지플레이트(50)의 상면에 대하여 하측에 위치된 경우에는 제1가압부재(74)의 상승동작이 수행될 수 있다. 복수의 제1가압부재(74)의 수평방향으로의 이동에 의하여, 제1글라스패널(P1)의 4개의 모서리는 복수의 제1가압부재(74)에 동시에 가압되며, 이에 따라, 복수의 지지플레이트(50)상에서의 제1글라스패널(P1)의 위치가 정렬될 수 있다. 이와 같은 상태에서는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제2가압부재(84)가 복수의 지지플레이트(50)의 상면에 대하여 하측에 위치된 상태를 유지하므로, 복수의 지지플레이트(50)상에 탑재된 제1글라스패널(P1)의 하면과 제2가압부재(84)가 접촉되는 것이 방지된다.First, as shown in FIG. 2, when a large area of the first glass panel P1 is mounted on the plurality of
그리고, 도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 지지플레이트(50)상에 소면적의 제2글라스패널(P1)이 탑재되는 때에는, 복수의 제1가압부재(74)와 복수의 제2가압부재(84)가 반입되는 제2글라스패널(P2)과 간섭되지 않을 정도의 위치에 위치된다. 그리고, 제2글라스패널(P2)이 복수의 지지플레이트(50)상에 탑재된 때에는, 복수의 제1가압부재(74)가 제2글라스패널(P2)의 측면을 향하여 수평방향으로 이동되면서 제2글라스패널(P2)의 측면을 가압한다. 이와 동시에, 도 8에 도시된 바와 같이, 복수의 제2가압부재(84)가 상승된 후 제2글라스패널(P2)의 측면을 향하여 수평방향으로 이동되어 제2글라스패널(P2)의 측면을 가압한다. 따라서, 제2글라스패널(P2)의 4개의 모서리는 복수의 제1가압부재(74) 및 복수의 제2가압부재(84)에 의하여 가압되며, 이에 따라, 복수의 지지플레이트(50)상에서의 제2글라스패널(P2)의 위치가 정렬될 수 있다. 한편, 이와 같은 과정에서, 도 7에 도시된 바와 같이, 제2가압부재(84)가 수직방향 및 수평방향으로 이동할 수 있는 공간이 확보될 수 있도록, 복수의 지지플레이트(50) 중 제2가압유닛(80)과 인접한 적어도 하나의 지지플레이트(50)가 수평방향으로 이동하여 복수의 지지플레이트(50) 사이의 간격(D1, D2)이 확장될 수 있다.As shown in FIG. 3, when the second glass panel P1 having a small area is mounted on the plurality of
한편, 도 3에서는 복수의 제1가압부재(74)와 복수의 제2가압부재(84)가 함께 제2글라스패널(P2)의 측면을 가압하여 복수의 지지플레이트(50)상에서의 제2글라스패널(P2)의 위치를 정렬하는 구성을 도시하였으나, 제2글라스패널(P2)이 복수의 지지플레이트(50)가 차지하는 영역 내에 반입될 수 있고, 이와 같은 경우, 제1가압부재(74)를 이용하지 않고 복수의 지지플레이트(50) 사이에 배치되는 복수의 제2가압부재(84)로 제2글라스패널(P2)의 4개의 모서리를 동시에 가압하여 복수의 지지플레이트(50)상에서의 제2글라스패널(P2)의 위치를 정렬할 수 있다.Meanwhile, in FIG. 3, the plurality of first
또한, 도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 제2글라스패널(P2)이 복수의 지지플레이트(50)상에 함께 탑재될 수 있으며, 이와 같은 경우에는, 복수의 제2글라스패널(P2)의 위치를 정렬하는 동작이 동시에 수행될 수 있다.In addition, as illustrated in FIG. 3, the plurality of second glass panels P2 may be mounted together on the plurality of
상기한 바와 같은 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치는, 복수의 지지플레이트(50)의 전체의 영역의 크기와 대응되는 크기를 가지는 대면적의 제1글라스패널(P1)의 위치를 정렬할 수 있을 뿐만 아니라 복수의 지지플레이트(50)의 전체의 영역의 크기에 비하여 작은 크기를 가지는 소면적의 제2글라스패널(P2)의 위치를 정렬할 수 있는 얼라인수단이 구비되므로, 하나의 어레이 테스트 장치를 이용하여 대면적의 글라스패널과 소면적의 글라스패널에 대한 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.The array test apparatus according to the present invention as described above, can align the position of the large area of the first glass panel P1 having a size corresponding to the size of the entire area of the plurality of
또한, 본 발명에 따른 어레이 테스트 장치는, 복수의 지지플레이트(50)의 전체의 영역의 크기에 비하여 작은 크기를 가지는 복수의 제2글라스패널(P2)을 복수의 지지플레이트(50)상에 함께 탑재하여 동시에 위치를 정렬할 수 있으므로, 복수의 제2글라스패널(P2)에 대한 검사를 동시에 수행할 수 있는 효과가 있다.In addition, the array test apparatus according to the present invention includes a plurality of second glass panels P2 having a smaller size than the size of the entire area of the plurality of
50: 지지플레이트 52: 가이드레일
70: 제1얼라인유닛 74: 제1가압부재
80: 제2얼라인유닛 84: 제2가압부재50: support plate 52: guide rail
70: first alignment unit 74: first pressing member
80: second alignment unit 84: second pressing member
Claims (4)
상기 복수의 지지플레이트의 외곽에 설치되며, 수평방향으로 이동되어 상기 글라스패널의 측면을 가압하는 제1가압부재가 구비되는 복수의 제1얼라인유닛; 및
상기 복수의 지지플레이트 사이에 설치되며, 수평방향으로 이동되어 상기 글라스패널의 측면을 가압하는 제2가압부재가 구비되는 복수의 제2얼라인유닛을 포함하고,
상기 제2가압부재는 상기 복수의 지지플레이트의 사이에서 수직방향으로 승강이 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치.A plurality of support plates on which glass panels are mounted and arranged at predetermined intervals;
A plurality of first alignment units installed at an outer side of the plurality of support plates and provided with a first pressing member which moves in a horizontal direction and presses the side surface of the glass panel; And
A plurality of second alignment units installed between the plurality of support plates and provided with a second pressing member which moves in a horizontal direction to press the side of the glass panel;
And the second pressing member is installed to be capable of lifting in a vertical direction between the plurality of support plates.
상기 복수의 지지플레이트 사이의 간격이 조절되도록 상기 복수의 지지플레이트 중 적어도 하나의 지지플레이트가 수평방향으로 이동이 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치.The method of claim 1,
And at least one support plate of the plurality of support plates is installed to be movable in a horizontal direction so that the distance between the plurality of support plates is adjusted.
상기 제1얼라인유닛은,
상기 복수의 지지플레이트상에 탑재된 상기 글라스패널의 측면을 가압하는 방향으로 상기 제1가압부재를 수평방향으로 이동시키는 제1수평이동장치; 및
상기 제1가압부재를 수직방향으로 이동시키는 제1수직이동장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치.The method of claim 1,
The first alignment unit,
A first horizontal moving device for moving the first pressing member in a horizontal direction in a direction of pressing a side surface of the glass panel mounted on the plurality of support plates; And
And a first vertical moving device for moving the first pressing member in a vertical direction.
상기 제2얼라인유닛은,
상기 복수의 지지플레이트상에 탑재된 상기 글라스패널의 측면을 가압하는 방향으로 상기 제2가압부재를 수평방향으로 이동시키는 제2수평이동장치; 및
상기 제2가압부재를 수직방향으로 이동시키는 제2수직이동장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 어레이 테스트 장치.The method of claim 1,
The second alignment unit,
A second horizontal moving device for moving the second pressing member in a horizontal direction in a direction of pressing a side surface of the glass panel mounted on the plurality of support plates; And
And a second vertical moving device for moving the second pressing member in a vertical direction.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120027901A KR101949331B1 (en) | 2012-03-19 | 2012-03-19 | Array test apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120027901A KR101949331B1 (en) | 2012-03-19 | 2012-03-19 | Array test apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130106194A true KR20130106194A (en) | 2013-09-27 |
KR101949331B1 KR101949331B1 (en) | 2019-02-19 |
Family
ID=49454240
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120027901A KR101949331B1 (en) | 2012-03-19 | 2012-03-19 | Array test apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101949331B1 (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180009250A (en) * | 2016-07-18 | 2018-01-26 | 주식회사 원익아이피에스 | Aligning module |
KR20180010570A (en) * | 2016-07-21 | 2018-01-31 | 주식회사 원익아이피에스 | Aligning module |
KR102081215B1 (en) * | 2018-11-28 | 2020-02-25 | 주식회사 셀코스 | Panel Attachment Equipment Capable of Measuring Cell Gap |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060048669A (en) * | 2004-07-12 | 2006-05-18 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | Configurable prober for tft lcd array test |
KR20070121176A (en) * | 2006-06-21 | 2007-12-27 | 주식회사 엔씨비네트웍스 | Align device for display panel |
KR20080032550A (en) * | 2006-10-10 | 2008-04-15 | 삼성전자주식회사 | Apparatus for inspecting array substrate |
KR20080074560A (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-13 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Array tester |
-
2012
- 2012-03-19 KR KR1020120027901A patent/KR101949331B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060048669A (en) * | 2004-07-12 | 2006-05-18 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | Configurable prober for tft lcd array test |
KR20070121176A (en) * | 2006-06-21 | 2007-12-27 | 주식회사 엔씨비네트웍스 | Align device for display panel |
KR20080032550A (en) * | 2006-10-10 | 2008-04-15 | 삼성전자주식회사 | Apparatus for inspecting array substrate |
KR20080074560A (en) * | 2007-02-09 | 2008-08-13 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Array tester |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20180009250A (en) * | 2016-07-18 | 2018-01-26 | 주식회사 원익아이피에스 | Aligning module |
KR20180010570A (en) * | 2016-07-21 | 2018-01-31 | 주식회사 원익아이피에스 | Aligning module |
KR102081215B1 (en) * | 2018-11-28 | 2020-02-25 | 주식회사 셀코스 | Panel Attachment Equipment Capable of Measuring Cell Gap |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101949331B1 (en) | 2019-02-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101115874B1 (en) | Apparatus for testing array | |
KR101052490B1 (en) | Array test device | |
KR101234088B1 (en) | Array test apparatus | |
KR101191343B1 (en) | Array test apparatus | |
KR101742506B1 (en) | Array Test Device And Array Test Method | |
KR101129195B1 (en) | Array test apparatus | |
KR101036112B1 (en) | Apparatus for array test with auto changing unit of probe bar | |
KR20130005128A (en) | Glass panel tranferring apparatus | |
KR101245530B1 (en) | Optical inspection apparatus and array test apparatus having the same | |
KR101763619B1 (en) | Array Test Device | |
KR101949331B1 (en) | Array test apparatus | |
KR101807195B1 (en) | Array test apparatus | |
KR101115879B1 (en) | Apparatus for testing array | |
KR101162912B1 (en) | Apparatus and method for testing array substrate | |
KR101796595B1 (en) | Array test apparatus | |
KR20190071140A (en) | Array tester | |
KR101207029B1 (en) | Array test apparatus | |
KR20120077291A (en) | Array test apparatus | |
KR101140257B1 (en) | Apparatus for testing array | |
KR20130035623A (en) | Array test apparatus | |
KR101796593B1 (en) | Array test apparatus | |
KR20120007328A (en) | Apparatus for testing array | |
KR102025163B1 (en) | Working table of testing apparatus of liquid crystal display device | |
KR20080053052A (en) | Apparatus of inspecting liquid crystal display device | |
KR101763622B1 (en) | Glass panel tranferring apparatus and array test apparatus having the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |