KR20120110654A - Apparatus and method for testing display panel - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 디스플레이 장치에 사용되는 디스플레이 패널을 검사하기 위한 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus and an inspection method for inspecting a display panel used in a display apparatus.
액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting Diodes, OLED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP), 전기영동표시장치(Electrophoretic Display, EPD) 등의 디스플레이 장치는 여러 가지 공정을 거쳐 제조된다. 이러한 제조공정에는 디스플레이 장치에 사용되는 디스플레이 패널이 정상적으로 작동하는지의 여부 및 디스플레이 패널에 이물질이 부착되어 있거나 스크래치(scratch)가 있는지의 여부를 검사하는 검사공정이 포함된다.Display devices such as liquid crystal displays (LCDs), organic light emitting diodes (OLEDs), plasma display panels (PDPs), electrophoretic displays (EPDs), etc. Is manufactured through various processes. Such a manufacturing process includes an inspection process for checking whether the display panel used in the display device is normally operated and whether foreign matter is attached to the display panel or whether there is a scratch.
종래 기술에 따른 디스플레이 패널 검사공정은 작업자에 의한 육안 검사로 이루어졌다. 즉, 종래에는 작업자가 검사신호에 의해 구동되는 디스플레이 패널을 육안으로 보면서 정상적으로 작동되지 않는 부분을 판단하는 방식에 의해 디스플레이 패널에 대한 검사공정이 이루어졌다. 따라서, 종래 기술에 따른 디스플레이 패널 검사공정은 다음과 같은 문제가 있다.Display panel inspection process according to the prior art was made by a visual inspection by the operator. That is, in the related art, an inspection process for the display panel is performed by a method in which a worker visually looks at a display panel driven by an inspection signal and determines a portion that is not normally operated. Therefore, the display panel inspection process according to the prior art has the following problems.
첫째, 종래 기술에 따른 디스플레이 패널 검사공정은 작업자의 숙련도, 경험, 집중도 등이 디스플레이 패널에 대한 검사 결과에 영향을 미치게 되므로, 검사 결과에 대한 신뢰성이 저하되는 문제가 있다.First, the display panel inspection process according to the prior art has a problem that the operator's skill, experience, concentration, etc. affect the inspection results for the display panel, the reliability of the inspection results is lowered.
둘째, 종래 기술에 따른 디스플레이 패널 검사공정은 작업자에 의한 수동 검사 방식이기 때문에, 디스플레이 패널에 대한 검사를 수행하는데 오랜 시간이 걸리고, 디스플레이 패널 제조 공정에 대한 수율을 저하시키는 문제가 있다.Second, since the display panel inspection process according to the prior art is a manual inspection method by an operator, it takes a long time to perform the inspection on the display panel, and there is a problem of lowering the yield for the display panel manufacturing process.
셋째, 최근 업계에서는 고해상도, 고성능을 갖는 디스플레이 패널을 요구하고 있다. 그러나, 종래 기술에 따른 디스플레이 패널 검사공정은 작업자에 의한 육안 검사 방식이기 때문에, 고해상도, 고성능을 갖는 디스플레이 패널을 제조하기 위한 검사공정을 구현하는데 한계가 있는 문제가 있다.Third, the industry recently demands display panels having high resolution and high performance. However, since the display panel inspection process according to the prior art is a visual inspection method by an operator, there is a problem in that an inspection process for manufacturing a display panel having high resolution and high performance is limited.
본 발명은 상술한 바와 같은 문제를 해결하고자 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 디스플레이 패널의 평면과 배면에 부착되어 있는 이물에 의한 오검을 방지하기 위한 이물 검사와 평면의 외관 불량 검사를 자동 검사 방식으로 구현할 수 있는, 디스플레이 패널 검사장치 및 검사방법을 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the problems described above, an object of the present invention is to automatically check the foreign matter inspection and poor appearance inspection of the plane to prevent erroneous detection by foreign matter attached to the plane and the back of the display panel It is to provide a display panel inspection apparatus and inspection method that can be implemented as.
본 발명의 다른 목적은 디스플레이 패널에 대한 검사를 수행하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널 제조 공정에 대한 수율을 향상시킬 수 있는 디스플레이 패널 검사장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a display panel inspection apparatus capable of reducing the time taken to perform inspection on the display panel, and thus improving the yield for the display panel manufacturing process.
본 발명의 또 다른 목적은 고해상도, 고성능을 갖는 디스플레이 패널을 제조하기 위한 검사공정을 구현할 수 있는 디스플레이 패널 검사장치를 제공하는 것이다.Still another object of the present invention is to provide a display panel inspection apparatus capable of implementing an inspection process for manufacturing a display panel having high resolution and high performance.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명은 하기와 같은 구성을 포함할 수 있다.In order to achieve the above-mentioned object, the present invention can include the following configuration.
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치는, 베이스부재에 장착되어 있으며, 디스플레이 패널을 지지하기 위한 지지부; 상기 베이스부재에 장착되어 있는 상기 지지부를 제1대기영역과 제2대기영역 간에 이동시키는 이동부; 상기 제1대기영역과 상기 제2대기영역 사이에 위치한 검사영역에 설치되어, 상기 검사영역을 통과하는 디스플레이 패널에 대한 검사이미지를 획득하기 위한 이미지획득부; 및 상기 이미지획득부가 상기 디스플레이 패널에 대한 검사이미지를 획득할 수 있도록 상기 디스플레이 패널에 광을 제공하기 위한 조명유닛을 포함하며, 상기 조명유닛은, 상기 검사영역을 통과하는 디스플레이 패널에 측광을 제공하기 위한 조명기구를 포함하는 것을 특징으로 한다.Display panel inspection apparatus according to the present invention, is mounted to the base member, the support for supporting the display panel; A moving part which moves the support part mounted on the base member between a first waiting area and a second waiting area; An image acquisition unit installed in an inspection region located between the first standby region and the second standby region to acquire an inspection image of a display panel passing through the inspection region; And an illumination unit for providing light to the display panel so that the image acquisition unit acquires an inspection image for the display panel, wherein the illumination unit provides photometry to the display panel passing through the inspection area. Characterized in that it comprises a lighting fixture.
또한, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사방법은, 상기 디스플레이 패널 검사장치의 상기 지지부에 지지되어 있는 상기 디스플레이 패널이, 상기 제1조명기구가 턴온된 상태에서, 상기 제1대기영역과 제2대기영역 사이에서 전진과 후진을 반복하는 동안, 상기 디스플레이 패널에 대한 패널 불량 검사를 위한 제1검사이미지를 획득하는 단계; 및 상기 제3조명기구가 턴온된 상태에서, 상기 디스플레이 패널이 상기 제1대기영역과 제2대기영역 사이에서 전진 또는 후진하는 동안, 상기 디스플레이 패널에 대한 평면 이물 검사를 위한 제3검사이미지를 획득하는 단계를 포함한다.In addition, the display panel inspection method according to the present invention, the display panel supported on the support portion of the display panel inspection apparatus, the first standby region and the second standby region in the state that the first lighting mechanism is turned on. Acquiring a first inspection image for inspecting a panel failure for the display panel while repeating forward and backward in between; And while the third lighting device is turned on, while the display panel is moved forward or backward between the first waiting area and the second waiting area, a third test image for inspecting a planar foreign material on the display panel is obtained. It includes a step.
본 발명에 따르면 다음과 같은 효과를 이룰 수 있다.According to the present invention, the following effects can be achieved.
본 발명은 디스플레이 패널에 대한 불량 여부를 자동으로 검출하기 위한 검사이미지를 획득할 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널에 대한 검사공정을 자동 검사 방식으로 구현할 수 있다.According to the present invention, an inspection image for automatically detecting whether a display panel is defective can be obtained, and accordingly, an inspection process for the display panel can be implemented by an automatic inspection method.
본 발명은 디스플레이 패널에 대한 검사공정이 이루어지는데 걸리는 시간을 줄일 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널 제조 공정에 대한 수율을 향상시킬 수 있다.The present invention can reduce the time it takes to perform the inspection process for the display panel, thereby improving the yield for the display panel manufacturing process.
본 발명은 작업자의 숙련도, 경험, 집중도 등이 디스플레이 패널에 대한 검사 결과에 영향을 미치는 것을 방지함으로써, 검사 결과에 대한 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The present invention can improve the accuracy and reliability of the inspection result by preventing the operator's skill, experience, concentration, etc. from affecting the inspection result on the display panel.
본 발명은 디스플레이 패널의 하부에 장착되어 있는 측광조명에서 조사되는 측광을 이용하여 디스플레이 패널의 하부 표면에 부착되어 있는 이물질을 검사할 수 있고, 디스플레이 패널의 상부에 장착되어 있는 상단 조명에서 조사되는 상측광을 이용하여 디스플레이 패널의 상부 표면에 부착되어 있는 이물질 또는 디스플레이 패널의 상부 표면의 외관의 불량 여부를 검사할 수 있으며, 이에 따라 디스플레이 패널 제족 종정에 대한 수율을 향상시킬 수 있다. The present invention can inspect the foreign matter attached to the lower surface of the display panel by using the metering light emitted from the metering light mounted on the lower portion of the display panel, and the image irradiated from the top light mounted on the upper portion of the display panel The photometry may be used to inspect whether the foreign matter adhered to the upper surface of the display panel or the appearance of the upper surface of the display panel is poor, thereby improving the yield of the display panel family.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 개략적인 평면도
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 개략적인 측면도
도 3은 본 발명에 따른 지지부에 대한 도 1의 A-A 단면도
도 4 및 도 5는 본 발명에 따른 이미지획득부가 디스플레이 패널에 대한 검사이미지를 획득하는 작동관계를 설명하기 위한 개념도
도 6 및 도 7은 디스플레이 패널의 구동주기에 따른 휘도 변화를 나타낸 그래프
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 개략적인 평면도
도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 개략적인 측면도
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 지지부에 대한 도 8의 K-K 단면도1 is a schematic plan view of a display panel inspection apparatus according to the present invention
2 is a schematic side view of a display panel inspection apparatus according to the present invention;
3 is a cross-sectional view taken along AA of FIG. 1 for a support according to the present invention;
4 and 5 is a conceptual diagram for explaining the operation relationship between the image acquisition unit to obtain the inspection image for the display panel according to the present invention
6 and 7 are graphs illustrating a change in luminance according to a driving period of a display panel
8 is a schematic plan view of a display panel inspecting apparatus according to another embodiment of the present invention.
9 is a schematic side view of a display panel inspection apparatus according to another embodiment of the present invention.
10 is a cross-sectional view KK of FIG. 8 for a support according to another embodiment of the present invention.
이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings a preferred embodiment of the display panel inspection apparatus according to the present invention will be described in detail.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 개략적인 평면도이다.1 is a schematic plan view of a display panel inspecting apparatus according to the present invention.
도 1을 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 검사공정을 수행하기 위한 것이다. 디스플레이 패널(10)은 액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting Diodes, OLED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP), 전기영동표시장치(Electrophoretic Display, EPD) 등의 디스플레이 장치에 사용되는 것이다.Referring to FIG. 1, the display
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 검사신호에 의해 구동된 디스플레이 패널(10)로부터 검사이미지를 획득한다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출하는 검출장치(미도시)와 연결될 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)가 획득한 검사이미지를 상기 검출장치에 제공하면, 상기 검출장치는 상기 검사이미지를 이용하여 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 예컨대, 상기 검출장치는 정상적으로 작동되는 디스플레이 패널에 대한 기준이미지를 상기 검사이미지와 비교함으로써, 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 상기 검출장치는 상기 검사이미지를 부분별로 서로 비교하여 밝기 등에 차이가 있는 부분을 검출함으로써, 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출할 수도 있다. 한편, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 검출장치와 별개의 장비로 구현될 수도 있고, 상기 검출장치의 기능을 갖는 구성을 포함하여 구현될 수도 있다.The display
도 1을 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는, 베이스부재(20)에 장착되어 디스플레이 패널(10)을 지지하기 위한 지지부(2), 상기 지지부(2)에 지지된 디스플레이 패널(10)을 제1대기영역(W1)과 제2대기영역(W2) 간에 이동시키는 이동부(3), 및 디스플레이 패널(10)에 대한 검사이미지를 획득하는 이미지획득부(4)를 포함한다. 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2)은 제1축방향(Y축 방향)으로 서로 이격되어 있다. 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2) 사이에는 검사영역(I)이 위치한다. 이에 따라, 상기 이동부(3)가 디스플레이 패널(10)을 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2) 간에 이동시키면, 디스플레이 패널(10)은 상기 검사영역(I)을 통과하게 된다. 상기 이미지획득부(4)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)로부터 검사이미지를 획득할 수 있다. 특히, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는, 디스플레이 패널의 배면에 수직하게 광을 조사하는 제1조명기구(231), 배면 하단의 측면에서 측광을 조사하는 제2조명기구(232), 평면의 상단에서 평면에 비스듬한 방향으로 광을 조사하는 제3조명기구(233) 및 제4조명기구(234)를 이용하여, 디스플레이 패널 자체의 불량여부를 판단할 수 있는 검사이미지와, 디스플레이 패널의 평면과 배면에 이물질이 부착되어 있는지를 판단할 수 있는 검사이미지와, 디스플레이 패널의 평면에 스크래치와 같은 외관 불량이 있는지의 여부를 판단할 수 있는 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다. Referring to FIG. 1, the display
첫째, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 자동으로 검출하기 위한 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 검사공정을 자동 검사 방식으로 구현할 수 있다.First, the display
둘째, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 종래의 육안 검사 방식과 비교할 때, 디스플레이 패널(10)에 대한 검사공정이 이루어지는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10) 제조 공정에 대한 수율을 향상시킬 수 있다.Second, the display
셋째, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 작업자의 숙련도, 경험, 집중도 등이 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과에 영향을 미치는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 검사 결과에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.Third, the display
넷째, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널 자체의 불량인지 또는 디스플레이 패널의 표면에 부착된 이물질에 의한 불량인지 또는 디스플레이 패널의 표면에 형성된 스크래치 등에 의한 불량인지의 여부를 판단할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 제조 공정상의 결함 원인을 정확하게 판단하여 이를 수정할 수 있도록 함으로써, 제조 공정에 대한 수율을 향상시킬 수 있다. Fourth, the display
이하에서는 상기 지지부(2), 상기 이동부(3), 상기 이미지획득부(4)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 한편, 상기 구성요소들에 대한 설명과 함께 상기 베이스부재(20) 및 조명기구(231, 232, 233, 234)에 관해서도 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 또한, 이하에서는 상기 구성요소들을 포함하고 있는 본 발명을 이용하여 디스플레이 패널의 불량을 검사하는 검사방법이 설명된다. 한편, 본 발명에서, 제2조명기구 내지 제4조명기구는 디스플레이 패널의 측면에서 비스듬한 방향으로 조명을 조사하는 것으로서, 통칭하여 간단히 측광조명기구라할 수 있다. 즉, 제2조명기구 내지 제4조명기구는, 디스플레이 패널의 배면 하단 또는 평면 상단에 장착되어, 디스플레이 패널로 측광을 조사하는 기능을 수행할 수 있다.Hereinafter, the
<지지부(2)><Support
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 개략적인 측면도이고, 도 3은 본 발명에 따른 지지부에 대한 도 1의 A-A 단면도이다. 도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치를 도 1의 B 화살표 방향으로 바라본 모습을 도시한 것이다.FIG. 2 is a schematic side view of the display panel inspecting apparatus according to the present invention, and FIG. 3 is a sectional view taken along the line A-A of FIG. 2 is a view showing the display panel inspection apparatus according to the present invention in the direction of the arrow B of FIG.
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 지지부(2)는 디스플레이 패널(10)을 지지한다. 디스플레이 패널(10)은 상기 지지부(2)에 지지된 상태로 상기 이동부(3)에 의해 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동된다. 디스플레이 패널(10)은 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하는 과정에서 상기 검사영역(I)을 통과하게 된다. 상기 이미지획득부(4)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)로부터 검사이미지를 획득할 수 있다. 디스플레이 패널(10)은 상기 검사영역(I)에서 상기 지지부(2)와 상기 이미지획득부(4) 사이에 위치되게 상기 지지부(2)에 지지된다. 상기 지지부(2)는 디스플레이 패널(10)이 갖는 밑면을 지지할 수 있다. 1 and 2, the
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 지지부(2)는 디스플레이 패널(10)을 지지하기 위한 지지유닛(21)을 포함한다. 상기 지지유닛(21)은 상기 이동부(3)에 의해 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동된다. 상기 지지유닛(21)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동함에 따라, 상기 지지유닛(21)에 지지된 디스플레이 패널(10)은 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하면서 상기 제1대기영역(W1), 상기 검사영역(I), 및 상기 제2대기영역(W2)에 위치할 수 있다. 상기 지지유닛(21)은 베이스부재(20)에 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동 가능하게 결합된다. 상기 지지유닛(21)은 전체적으로 사각판형으로 형성될 수 있다. 상기 지지유닛(21)은 디스플레이 패널(10) 보다 큰 크기를 갖도록 형성될 수 있다.1 and 2, the
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 지지부(2)는 디스플레이 패널(10)에 검사신호를 인가하기 위한 신호인가유닛(22)을 포함한다. 상기 신호인가유닛(22)은 상기 검사신호를 디스플레이 패널(10)에 인가함으로써, 디스플레이 패널(10)을 구동시킬 수 있다. 디스플레이 패널(10)은 상기 검사신호에 따라 구동된 상태로 상기 검사영역(I)을 통과하게 된다. 이에 따라, 상기 이미지획득부(4)는 상기 검사신호에 따라 구동된 디스플레이 패널(10)로부터 상기 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)이 상기 검사신호에 따라 정상적으로 구동되는지 여부를 검출하기 위한 검사이미지를 획득할 수 있다.1 and 2, the
상기 신호인가유닛(22)은 디스플레이 패널(10)에 복수개의 검사신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 예컨대, 상기 신호인가유닛(22)은 디스플레이 패널(10)을 레드 패턴, 블루 패턴, 그린 패턴, 화이트 패턴, 그레이 패턴 등으로 구동시키기 위한 검사신호들을 디스플레이 패널(10)에 순차적으로 인가할 수 있다. 상기 신호인가유닛(22)은 디스플레이 패널(10)이 상기 검사영역(I)을 통과하면, 상기 검사영역(I)을 통과한 디스플레이 패널(10)에 변경된 검사신호를 인가할 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 패널(10)은 레드 패턴, 블루 패턴, 그린 패턴, 화이트 패턴, 블랙 패턴, 그레이 패턴 등으로 구동된 상태로 상기 검사영역(I)을 순차적으로 통과할 수 있다. 또한, 디스플레이 패널(10)은 검사신호가 인가되지 않은 상태에서 조명기구(231, 232, 233, 234) 중 적어도 어느 하나에 의해 광이 조사된 상태로 상기 검사영역(I)을 순차적으로 통과할 수도 있다. 따라서, 상기 이미지획득부(4)는 하나의 디스플레이 패널(10)에 대해 상기 검사신호들에 대응되는 복수개의 검사이미지를 획득할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출하기 위한 검출항목을 늘릴 수 있다. 예컨대, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 패널 불량(라인 불량 또는 포인트 불량 등), 이물질 불량(이물질 부착, 패널에 형성된 얼룩 불량 등), 외관 불량(기포의 발생, 편광판 불량 등) 등을 검출할 수 있는 검사이미지들을 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)이 다양한 구동조건에서 정상적으로 작동하는지의 여부(패널 불량) 및 디스플레이 패널 자체의 결함이 아닌 외부적 요인에 의한 불량(이물질 불량, 외관 불량)인지의 여부를 검사할 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 신호인가유닛(22)은 상기 검사영역(I)을 통과한 디스플레이 패널(10)이 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2)에 위치되었을 때, 디스플레이 패널(10)에 변경된 검사신호를 인가할 수 있다. 따라서, 상기 신호인가유닛(22)은 디스플레이 패널(10)이 변경된 검사신호에 따라 구동되기 전에, 디스플레이 패널(10)이 상기 검사영역(I)에 진입하게 되는 것을 방지할 수 있다. 또한, 상기 신호인가유닛(22)은 디스플레이 패널(10) 전체가 상기 검사영역(I)을 통과하기 전에, 디스플레이 패널(10)에 변경된 검사신호가 인가되는 것을 방지할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 상기 신호인가유닛(22)은 상기 지지유닛(21)에 설치될 수 있다. 이에 따라, 상기 지지유닛(21)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하면, 상기 신호인가유닛(22)은 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동할 수 있다.1 and 2, the
도 2를 참고하면, 상기 신호인가유닛(22)은 접속기구(221) 및 가압기구(222)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, the
상기 접속기구(221)는 상기 지지유닛(21)에 설치된다. 상기 접속기구(221)는 일측이 상기 지지유닛(21)에 지지된 디스플레이 패널(10)에 접속되고, 타측이 검사신호전송부(미도시)에 연결된다. 상기 접속기구(221)는 상기 검사신호전송부로부터 제공된 검사신호를 상기 지지유닛(21)에 지지된 디스플레이 패널(10)에 전달할 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 패널(10)은 상기 검사신호에 따라 구동될 수 있다.The connecting
상기 접속기구(221)는 디스플레이 패널(10)에 부착된 회로필름(11)에 접속될 수 있다. 상기 접속기구(221)는 상기 회로필름(11)을 통해 디스플레이 패널(10)에 상기 검사신호를 인가할 수 있다. 디스플레이 패널(10)은 TAB(Tape Automated Bonding) 공정에 의해 회로필름(11)이 부착된 상태로 상기 지지유닛(21)에 지지될 수 있다. 상기 회로필름(11)은 TCP(Tape Carrier Package), COF(Chip on Film) 등일 수 있다. 상기 접속기구(221)는 상기 회로필름(11)과 상기 지지유닛(21) 사이에 위치되게 상기 지지유닛(21)에 결합될 수 있다. 도 2의 확대도에 도시된 바와 같이, 상기 접속기구(221)는 상기 회로필름(11)의 아래에 위치되게 상기 지지유닛(21)의 윗면에 결합될 수 있다.The
도 2를 참고하면, 상기 가압기구(222)는 디스플레이 패널(10)에 부착된 회로필름(11)에 상기 접속기구(221)를 향하는 방향으로 힘을 가할 수 있다. 이에 따라, 상기 지지유닛(21)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동함에 따라 진동 등이 발생하더라도, 상기 가압기구(222)는 상기 접속기구(221)가 상기 회로필름(11)에 접속된 상태로 유지되도록 할 수 있다.Referring to FIG. 2, the
상기 가압기구(222)는 상기 지지유닛(21)에 이동 가능하게 결합될 수 있다. 디스플레이 패널(10)이 상기 지지유닛(21)에 지지될 때와 디스플레이 패널(10)이 상기 지지유닛(21)으로부터 이격될 때, 상기 가압기구(222)는 디스플레이 패널(10)이 이송되는 것에 방해되지 않게 이동할 수 있다. 디스플레이 패널(10)이 상기 지지유닛(21)에 지지되면, 상기 가압기구(222)는 상기 회로필름(11)에 힘을 가할 수 있게 이동할 수 있다.The
도시되지는 않았지만, 상기 신호인가유닛(22)은 상기 가압기구(222)를 이동시키기 위한 이동수단을 포함할 수 있다. 상기 이동수단은 상기 제1축방향(Y축 방향) 및 상기 제1축방향에 대해 수직한 제2축방향(X축 방향) 중 적어도 한 방향으로 상기 가압기구(222)를 이동시킬 수 있다. 상기 이동수단은 가압기구(222)를 승강(昇降)시킬 수도 있다. 상기 이동수단은 상기 가압기구(222)를 회전시킬 수도 있다. 상기 이동수단은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류(Ball Screw) 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어(Rack Gear)와 피니언기어(Pinion Gear) 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터(Linear Motor) 등을 이용하여 상기 가압기구(222)를 이동시킬 수 있다.Although not shown, the
도 1 내지 도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치는 디스플레이 패널(10)에 광(光)을 제공하는 조명유닛(23 : 231, 232, 233, 234)을 포함할 수 있다.1 to 3, the display panel inspecting apparatus according to the present invention may include lighting units 23: 231, 232, 233, and 234 that provide light to the
상기 조명유닛(23)은 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10) 쪽으로 광을 방출할 수 있다. 상기 조명유닛(23)은 디스플레이 패널(10)에 광을 제공함으로써 상기 이미지획득부(4)가 디스플레이 패널(10)로부터 더 선명한 검사이미지를 획득하도록 할 수 있다. 디스플레이 패널(10)이 액정표시장치(LCD) 등과 같이 자기발광성이 없는 디스플레이 장치에 사용되는 것인 경우, 상기 조명유닛(23)은 디스플레이 패널(10)에 광을 제공함으로써 상기 이미지획득부(4)가 디스플레이 패널(10)로부터 검사이미지를 획득하도록 할 수 있다. 상기 조명유닛(23)은 광을 방출하는 광원(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 광원은 형광램프, 엘이디(Light Emitting Diode, LED), 메탈헬라이드(Metal Halide), 할로겐(Halogen) 등일 수 있다.The
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 조명유닛(23)은 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 배면광(Back Light)을 제공하기 위한 제1조명기구(231)를 포함할 수 있다. 상기 제1조명기구(231)는 상기 검사영역(I)에서 디스플레이 패널(10)이 갖는 배면(10a) 아래에 위치되고, 디스플레이 패널(10)이 갖는 배면(10a) 쪽으로 광을 방출할 수 있다. 상기 제1조명기구(231)는 수평방향으로 위치한 디스플레이 패널(10)에 대해 수직방향(C 화살표 방향, 도 3에 도시됨)으로 디스플레이 패널(10)에 광을 제공할 수 있다. 이에 따라, 상기 제1조명기구(231)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 배면광을 제공할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제1조명기구(231)를 이용함으로써, 디스플레이 패널(10)에 배면광이 제공되었을 때 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부, 즉, 라인 불량 또는 포인트 불량과 같은 패널 불량을 검출하기 위한 검사이미지를 획득할 수 있다.2 and 3, the
상기 제1조명기구(231)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)을 기준으로 상기 이미지획득부(4) 반대편에서 디스플레이 패널(10) 쪽으로 광을 방출할 수 있다. 상기 제1조명기구(231)는 상기 지지유닛(21)에 설치될 수 있다. 상기 지지유닛(21)은 상기 제1조명기구(231)가 설치되기 위한 제1설치홈(211, 도 3에 도시됨)을 포함할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제1조명기구(231)는 상기 지지유닛(21)에 지지된 디스플레이 패널(10)의 수직 하방에 위치되게 상기 제1설치홈(211)에 설치될 수 있다. 상기 제1조명기구(231)는 디스플레이 패널(10)의 전면(全面)에 광을 제공할 수 있도록 복수개의 광원(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 제1조명기구(231)는 상기 지지유닛(21)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동함에 따라 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동할 수 있다.The
도 2 및 도 3을 참고하면, 상기 조명유닛(23)은 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 측광(Side Light)을 제공하기 위한 제2조명기구(232)를 포함할 수 있다. 상기 제1조명기구(231)가 수직방향(C 화살표 방향, 도 3에 도시됨)으로 디스플레이 패널(10)에 광을 제공하는 것에 비교할 때, 상기 제2조명기구(232)는 상기 수직방향(C 화살표 방향)에 대해 소정 각도로 기울어진 방향(D, D' 화살표 방향, 도 3에 도시됨)으로 디스플레이 패널(10)에 광을 제공할 수 있다. 이에 따라, 상기 제2조명기구(232)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 측광을 제공할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제2조명기구(232)를 이용함으로써, 디스플레이 패널(10)에 측광이 제공되었을 때 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부, 즉, 디스플레이 패널의 배면에 이물질이 부착되어 있거나 또는 얼룩이 형성되어 발생되는 이물질 불량을 검출하기 위한 검사이미지를 획득할 수 있다. 2 and 3, the
상기 제2조명기구(232)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)을 기준으로 상기 이미지획득부(4) 반대편에서 디스플레이 패널(10) 쪽으로 광을 방출할 수 있다. 상기 제2조명기구(232)는 상기 지지유닛(21)에 설치될 수 있다. 상기 지지유닛(21)은 상기 제2조명기구(232)가 설치되기 위한 제2설치홈(212, 도 3에 도시됨)을 포함할 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 제2조명기구(232)는 상기 지지유닛(21)에 지지된 디스플레이 패널(10)의 수직 하방으로부터 디스플레이 패널(10) 외측 방향으로 소정 거리 이격된 위치에 위치되게 상기 제2설치홈(212)에 설치될 수 있다. 상기 제2조명기구(232)는 상기 지지유닛(21)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동함에 따라 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동할 수 있다. 상기 조명유닛(23)은 상기 제2조명기구(232)를 복수개 포함할 수 있다. 도 2 및 3에 도시된 바와 같이, 상기 제2조명기구(232)는 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 디스플레이 패널(10)의 양 옆쪽에 설치될 수 있다. 즉, 상기 제2조명기구(232)는 디스플레이 패널(10)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 갖는 길이에 대응되는 길이로 형성될 수 있다. 또한, 상기 제2조명기구(232)는 도 1에 도시된 바와 같이, 상기 제2축방향(X축 방향)으로 디스플레이 패널(10)의 상하 양쪽에 설치될 수도 있다. 즉, 상기 제2조명기구(232)는 디스플레이 패널(10)이 상기 제2축방향(X축 방향)으로 갖는 길이에 대응되는 길이로 형성될 수도 있다. The
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제2조명기구(232)를 이용함으로써, 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 예컨대, 상기 제1조명기구(231)로부터 제공된 배면광을 이용하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 먼지 등의 이물질이 부착된 부분이 다른 부분에 비해 어둡게 표시된 검사이미지를 획득하게 된다. 이와 같이 획득된 검사이미지를 이용하여서는, 다른 부분에 비해 어둡게 표시된 부분이 먼지 등의 이물질에 의한 것인지(이물질 불량, 외관 불량) 또는 디스플레이 패널 자체의 회로적인 문제에 의한 불량(패널 불량)인지의 여부를 구별하기 어렵다. 따라서, 이물질을 제거하면 양품인 디스플레이 패널(10)인 경우에도, 이물질에 의해 불량인 디스플레이 패널(10)로 분류되는 오류가 발생할 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레 패널 검사장치(1)는 상기 제2조명기구(232)를 이용함으로써, 상기 제1조명기구(231)를 이용하여 획득한 검사이미지에서 다른 부분에 비해 어둡게 표시된 부분이 먼지 등의 이물질에 의한 것인지(이물질 불량) 또는 디스플레이 패널 자체의 회로적인 문제에 의한 불량(패널 불량)인지를 구별할 수 있는 검사이미지를 획득할 수 있다. 상기 제2조명기구(232)로부터 제공된 측광을 이용하여 획득한 검사이미지에서는 이물질이 부착된 부분이 패널 불량인 부분과 달리 산란 등이 발생한 형태로 표시되기 때문이다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제2조명기구(232)를 이용함으로써, 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.The display
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제1조명기구(231)와 상기 제2조명기구(232)를 선택적으로 작동시킬 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제1조명기구(231)를 작동시킨 상태로 디스플레이 패널(10)에 대한 제1검사이미지를 획득한 후, 상기 제2조명기구(232)를 작동시킨 상태로 디스플레이 패널(10)에 대한 제2검사이미지를 획득할 수 있다. 상기 검출장치(미도시)는 상기 제1검사이미지와 상기 제2검사이미지를 비교함으로써, 상기 제1검사이미지로부터 패널 불량으로 검출된 부분이 상기 제2검사이미지로부터 이물질 불량 등에 의한 것으로 검출되면, 해당 부분을 불량이 아닌 것으로 보정할 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 별개의 장비로 구성된 검출장치에 연결될 수도 있고, 상기 이미지획득부(4)가 상기 검출장치의 기능을 가질 수도 있다.The display
도 1 내지 도 3을 참고하면, 상기 조명유닛(23)은 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 측광(Side Light)을 제공하기 위한 제3조명기구(233)를 포함할 수 있다. 상기 제1조명기구(231)가 디스플레이 패널의 배면 아래에서 디스플레이 패널(10)에 수직방향(C 화살표 방향, 도 3에 도시됨)으로 광을 제공하고, 상기 제2조명기구(232)가 디스플레이 패널의 배면 아래에서 상기 수직방향(C 화살표 방향)에 대해 소정 각도로 기울어진 방향(D, D' 화살표 방향, 도 3에 도시됨)으로 디스플레이 패널(10)에 광을 제공하는 것과 비교해 볼 때, 상기 제3조명기구(233)는 디스플레이 패널의 평면 상단에서 디스플레이 패널(10)에 대해 소정 각도(P, 도 2에 도시)로 기울어진 방향으로 디스플레이 패널(10)에 광을 제공하고 있다. 이에 따라, 상기 제3조명기구(233)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)의 평면의 상단에서 측광을 제공할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제3조명기구(233)를 이용함으로써, 디스플레이 패널(10)의 평면 상단에서 측광이 제공되었을 때 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부, 즉, 디스플레이 패널의 평면에 이물질이 부착되어 있거나 또는 얼룩이 형성되어 발생되는 이물질 불량을 검출하기 위한 검사이미지를 획득할 수 있다. 1 to 3, the
상기 제3조명기구(233)는 상기 검사영역(I)에서 디스플레이 패널(10)이 갖는 평면(10d) 상단에 위치되어, 디스플레이 패널이 갖는 평면(10d) 쪽으로 광을 방출할 수 있다. 상기 제3조명기구(233)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10) 위로 측광이 조사될 수 있도록, 상기 이미지획득부(4)가 장착되어 있는 상기 지지프레임(30)에 장착될 수 있다. 즉, 상기 이미지획득부(4)는 도 2에 도시된 바와 같이, 검사영역(I)의 수직 상단에 장착되어 있으나, 상기 제3조명기구(233)는 검사영역(I)의 수직 상단에서 평면(10d) 쪽으로 소정의 각도(P)를 이루도록 기울어진 상태로 장착되어 있기 때문에, 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널의 평면에 측광을 공급할 수 있다. 상기 제3조명기구는 디스플레이 패널의 평면 상단에 장착되어 있다는 점을 제외하고는, 제2조명기구의 기능 및 구성과 동일한 기능 및 구성을 가지고 있다. 예컨대, 상기 제1조명기구(231)로부터 제공된 배면광을 이용하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)의 평면(10d)에 먼지 등의 이물질이 부착된 부분이 다른 부분에 비해 어둡게 표시된 검사이미지를 획득하게 된다. 이와 같이 획득된 검사이미지를 이용하여서는 다른 부분에 비해 어둡게 표시된 부분이 먼지 등의 이물질에 의한 것인지(이물질 불량) 또는 디스플레이 패널 자체의 회로적인 문제에 의한 불량(패널 불량)인지의 여부를 구별하기 어렵다. 따라서, 이물질을 제거하면 양품인 디스플레이 패널(10)인 경우에도, 이물질에 의해 불량인 디스플레이 패널(10)로 분류되는 오류가 발생할 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레 패널 검사장치(1)는 상기 제3조명기구(233)를 이용함으로써, 상기 제1조명기구(231)를 이용하여 획득한 디스플레이 패널 평면에 대한 검사이미지에서 다른 부분에 비해 어둡게 표시된 부분이 먼지 등의 이물질에 의한 것인지(이물질 불량) 또는 디스플레이 패널 자체의 회로적인 문제에 의한 불량(패널 불량)인지를 구별할 수 있는 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제3조명기구(233)를 이용함으로써, 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 즉, 상기한 바와 같은 배면 이물 검사 및 평면 이물 검사는, 디스플레이 패널의 평면 또는 배면에 부착된 이물에 의한 불량이, 패널 자체의 불량으로 오검되는 것을 방지하기 위해 실시되는 검사이다. 따라서, 패널 불량이 아님에도 불구하고, 제1조명기구를 이용한 검사결과 패널 불량으로 판단된 디스플레이 패널의 경우, 제2 또는 제3조명기구에 의한 이물 검사 과정을 통해 정상적인 디스플레이 패널로 인정받을 수 있게 된다.The
도 1 내지 도 3을 참고하면, 상기 조명유닛(23)은 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 또 다른 측광(Side Light)을 제공하기 위한 제4조명기구(234)를 포함할 수 있다. 상기 제3조명기구(233)가 디스플레이 패널의 평면 상단에서 디스플레이 패널(10)에 대해 소정 각도(P, 도 2에 도시)로 기울어진 방향으로 디스플레이 패널(10)에 광을 제공하고 있는 것과 비교해 볼 때, 상기 제4조명기구(234)는 디스플레이 패널의 평면 상단에서, 상기 소정 각도(제1각도)(P) 보다 더 큰 각도를 갖는 제2각도(R, 도 2에 도시)로 기울어진 방향으로 디스플레이 패널(10)에 광을 제공하고 있다. 이에 따라, 상기 제4조명기구(234)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)의 평면의 상단에서 또 다른 측광을 제공할 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 제3조명기구(233)를 이용함으로써, 디스플레이 패널(10)의 평면 상단에서 측광이 제공되었을 때 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부, 즉, 기포의 발생 또는 편광판 불량과 같은 외관 불량을 검출하기 위한 검사이미지를 획득할 수 있다. 1 to 3, the
상기 제4조명기구(234)는 상기 검사영역(I)에서 디스플레이 패널(10)이 갖는 평면(10d) 상단에 위치되어, 디스플레이 패널이 갖는 평면(10d) 쪽으로 광을 방출할 수 있다. 상기 제4조명기구(234)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10) 위로 측광이 조사될 수 있도록, 상기 이미지획득부(4)가 장착되어 있는 상기 지지프레임(30)에 장착될 수 있다. 즉, 상기 이미지획득부(4)는 도 2에 도시된 바와 같이, 검사영역(I)의 수직 상단에 장착되어 있으나, 상기 제4조명기구(234)는 검사영역(I)의 수직 상단에서 평면(10d) 쪽으로 소정의 제2각도(R)를 이루도록 기울어진 상태로 장착되어 있기 때문에, 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널의 평면에 측광을 공급할 수 있다. 여기서, 제4조명기구가 검사영역(I)의 평면(10d)과 이루는 제2각도(R)는 제3조명기구가 검사영역(I)의 평면(10d)과 이루는 제1각도(P)보다 더 큼을 알 수 있다. 즉, 디스플레이 패널의 평면에 이물질이 부착되어 있는 이물질 불량을 판단하기 위한 알고리즘과, 디스플레이 패널의 평면에 기포 또는 편광판 불량과 같은 외관 불량을 판단하기 위한 알고리즘은 서로 다르며, 이러한 알고리즘을 적용하기 위한 조명의 각도 역시 다르게 된다. 실험 결과, 이물질 불량을 판단하기 위해 필요한 조명의 각도가 외관 불량을 판단하기 위해 필요한 조명의 각도보다 작아야 하며, 따라서, 본 발명은 외관 불량을 판단하기 위해 필요한 조명을 제공하는 제4조명기구의 제2각도(R)를 이물질 불량을 판단하기 위해 필요한 조명을 제공하는 제3조명기구의 제1각도(P)보다 크도록, 제4조명기구와 제3조명기구를 지지프레임(30)에 장착하고 있다. The
<이동부(3)><Moving part (3)>
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 이동부(3)는 상기 지지부(2)에 지지된 디스플레이 패널(10)을 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2) 간에 이동시킬 수 있다. 디스플레이 패널(10)은 상기 이동부(3)에 의해 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2) 간에 이동되면서 상기 검사영역(I)을 통과할 수 있다.1 and 2, the moving
상기 이동부(3)에는 상기 지지유닛(21)이 결합될 수 있다. 상기 이동부(3)는 상기 지지유닛(21)을 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동시킬 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 패널(10)은 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하면서 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2)에 위치할 수 있고, 이 과정에서 상기 검사영역(I)을 통과할 수 있다. 상기 이동부(3)는 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터 등을 이용하여 상기 지지유닛(21)을 이동시킬 수 있다. 상기 이동부(3)는 상기 베이스부재(20)에 설치될 수 있다.The
상기 이동부(3)는 디스플레이 패널(10)이 상기 검사영역(I)을 반복적으로 통과하도록 상기 지지유닛(21)을 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2) 간에 이동시킬 수 있다. 상술한 바와 같이 상기 신호인가유닛(22)이 디스플레이 패널(10)에 복수개의 검사신호를 순차적으로 인가하는 경우, 상기 이동부(3)는 하나의 디스플레이 패널(10)에 대해 상기 검사신호들 모두에 대한 검사이미지가 획득될 때까지, 디스플레이 패널(10)이 상기 검사영역(I)을 반복적으로 통과하도록 상기 지지유닛(21)을 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2) 간에 반복적으로 이동시킬 수 있다.The moving
<이미지획득부(4)><Image Acquisition Unit (4)>
도 4 및 도 5는 본 발명에 따른 이미지획득부가 디스플레이 패널에 대한 검사이미지를 획득하는 작동관계를 설명하기 위한 개념도, 도 6 및 도 7은 디스플레이 패널의 구동주기에 따른 휘도 변화를 나타낸 그래프이다. 도 6 및 도 7에서 가로축은 시간이고, 세로축은 휘도이다.4 and 5 are conceptual views illustrating an operation relationship in which an image acquisition unit acquires an inspection image for a display panel, and FIGS. 6 and 7 are graphs showing luminance changes according to driving cycles of a display panel. 6 and 7, the horizontal axis represents time and the vertical axis represents luminance.
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 이미지획득부(4)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 대한 검사이미지를 획득할 수 있다. 상기 이미지획득부(4)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)의 위에 위치되게 설치될 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 이미지획득부(4)가 결합되는 지지프레임(30, 도 1에 도시됨)을 포함할 수 있다. 상기 이미지획득부(4)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10) 위에 위치되게 상기 지지프레임(30)에 결합될 수 있다. 상기 지지프레임(30)은 상기 베이스부재(20)에 설치되고, 상기 지지유닛(21)과 디스플레이 패널(10)이 통과할 수 있도록 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 형성된 관통공을 포함한다.1 and 2, the
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 이미지획득부(4)를 복수개 포함할 수도 있다. 상기 이미지획득부(4)들은 상기 제2축방향(X축 방향)으로 서로 소정 거리 이격되게 설치될 수 있다. 이에 따라, 대형화된 디스플레이 패널(10)인 경우, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 복수개의 이미지획득부(4)가 디스플레이 패널(10)의 전체 면을 분담하여 검사이미지를 획득함으로써, 대형화된 디스플레이 패널(10)에 대해서도 용이하게 대응할 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)이 갖는 크기에 따라 상기 이미지획득부(4)들 중 일부 또는 전부를 선택적으로 작동시킬 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 검사될 디스플레이 패널(10)이 다른 크기를 갖는 디스플레이 패널(10)로 변경되더라도, 변경된 크기를 갖는 디스플레이 패널(10)에 용이하게 대응할 수 있다.The display
상기 이미지획득부(4)는 소정의 촬영영역(4a, 도 2에 도시됨)(Field of Vision, FOV)을 갖는다. 상기 촬영영역(4a)은 상기 이미지획득부(4)가 이미지를 획득하기 위해 촬영 가능한 범위를 의미한다. 상기 촬영영역(4a)이 작을수록, 상기 이미지획득부(4)는 고해상도, 고분해능을 갖는 검사이미지를 획득할 수 있다. 상기 이미지획득부(4)가 갖는 촬영영역(4a)의 크기에 따라, 검사영역(I)은 다른 크기로 형성될 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)가 하나의 이미지획득부(4)를 포함하는 경우, 상기 검사영역(I)은 상기 이미지획득부(4)가 갖는 촬영영역(4a)과 동일한 크기로 형성될 수 있다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)가 복수개의 이미지획득부(4)를 포함하는 경우, 상기 검사영역(I)은 상기 이미지획득부(4)들이 갖는 촬영영역(4a)들을 합한 것과 대략 일치하는 크기로 형성될 수 있다.The
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동함에 따라 디스플레이 패널(10)이 상기 검사영역(I)에 부분별로 위치하면서 상기 검사영역(I)을 통과할 수 있다. 상기 이미지획득부(4)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 대해 부분별로 검사이미지를 획득할 수 있다. 상기 이미지획득부(4)는 디스플레이 패널(10)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하여 디스플레이 패널(10) 전체가 상기 검사영역(I)을 통과하게 되면, 디스플레이 패널(10) 전체에 대한 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 이미지획득부(4)가 갖는 촬영영역(4a)을 줄일 수 있고, 디스플레이 패널(10)이 갖는 크기보다 작은 크기를 갖는 검사영역(I)을 포함할 수 있다. 이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 검사이미지가 갖는 해상도, 분해능을 향상시킬 수 있고, 미소 단위의 불량, 불량의 종류, 불량의 원인 등의 검출이 가능한 고해상도, 고분해능을 갖는 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있고, 고해상도, 고성능을 갖는 디스플레이 패널을 제조하기 위한 검사공정을 구현할 수 있다.In the display
도 4 및 도 5를 참고하면, 상기 이미지획득부(4)는 이미지센서(41)를 포함한다. 상기 이미지센서(41)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 대한 이미지를 획득한다. 상기 이미지센서(41)는 소정의 촬영영역을 갖고, 디스플레이 패널(10)에서 상기 촬영영역 내에 속하게 되는 부분을 촬영하여 이미지를 획득할 수 있다. 이에 따라, 상기 이미지센서(41)는 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 대해 부분별로 복수개의 이미지를 획득할 수 있다. 디스플레이 패널(10)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 계속하여 이동하여 디스플레이 패널(10) 전체가 상기 검사영역(I)을 통과하면, 상기 이미지센서(41)는 디스플레이 패널(10) 전체에 대한 부분별 이미지들을 획득할 수 있다.4 and 5, the
여기서, 디스플레이 패널(10)은 상기 검사신호에 따라 소정의 구동주기로 점등하게 된다. 즉, 디스플레이 패널(10)은 상기 검사영역(I)을 통과하면서 도 6에 도시된 바와 같이 휘도가 변화하게 된다. 도 6에 표시된 실선(E)이 구동주기에 따른 휘도의 변화 상태를 도시한 것이다. 이에 따라, 디스플레이 패널(10)이 구동주기에 따라 휘도가 감소한 상태일 때(F), 상기 이미지센서(41)가 디스플레이 패널(10)에 대한 이미지를 획득하는 경우가 발생할 수 있다. 이 경우, 상기 이미지센서(41)는 낮은 휘도를 갖는 이미지를 획득하게 됨으로써, 불량 여부를 검출하기 어려운 이미지를 획득하게 되는 문제가 있다.Herein, the
이러한 문제를 해결하기 위해, 디스플레이 패널(10)이 구동주기에 따라 휘도가 증가한 상태일 때(G), 상기 이미지센서(41)가 디스플레이 패널(10)에 대한 이미지를 획득하도록 제어하는 방안이 있다. 그러나, 이러한 방안은 다음과 같은 문제가 있다.In order to solve this problem, when the
첫째, 상기 이동부(3, 도 2에 도시됨)가 디스플레이 패널(10)을 이동시키는 속도 및 상기 이미지센서(41)가 이미지를 획득하는 시점이 연동되도록, 상기 이동부(3, 도 2에 도시됨)와 상기 이미지센서(41)를 정확하게 제어하여야 하는 부담이 있다.First, the moving unit 3 (shown in FIG. 2) moves the
둘째, 상기 이동부(3, 도 2에 도시됨)와 상기 이미지센서(41)를 정확하게 제어할 수 있더라도, 이로 인해 상기 이동부(3, 도 2에 도시됨)가 디스플레이 패널(10)을 이동시키는 속도가 감소하게 되고, 상기 이미지센서(41)가 디스플레이 패널(10) 전체에 대한 이미지를 획득하는데 걸리는 시간이 증가하게 되는 문제가 있다.Second, although the moving unit 3 (shown in FIG. 2) and the
도 4 및 도 5를 참고하면, 상술한 바와 같은 문제들을 해결하기 위해, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 설치부재(42, 도 4에 도시됨) 및 생성유닛(43)을 포함할 수 있다.4 and 5, in order to solve the problems as described above, the display
상기 설치부재(42)에는 상기 이미지센서(41)가 복수개 설치된다. 상기 설치부재(42)에는 상기 이미지센서(41)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 복수개가 설치될 수 있다. 디스플레이 패널(10)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 이동하여 상기 검사영역(I)을 통과하게 되므로, 상기 이미지센서(41)들은 각각 디스플레이 패널(10)에 대해 동일한 부분에 해당하는 이미지들을 반복하여 획득할 수 있다. 디스플레이 패널(10)이 상기 제1축방향(Y축 방향)으로 계속하여 이동하여 디스플레이 패널(10) 전체가 상기 검사영역(I)을 통과하면, 상기 이미지센서(41)들은 각각 디스플레이 패널(10) 전체에 대한 부분별 이미지들을 획득할 수 있다. 이를 도 5를 참고하여 구체적으로 살펴보면, 다음과 같다.The installation member 42 is provided with a plurality of the
도 5는 디스플레이 패널(10)이 상기 이동부(3, 도 2에 도시됨)에 의해 상기 제2대기영역(W2)에서 상기 제1대기영역(W1)으로 이동하는 상태를 도시한 것이다. 상기 제2대기영역(W2)에 위치한 디스플레이 패널(10)은, 상기 제1대기영역(W1)을 향하는 일면(10b)부터 상기 검사영역(I)에 진입하고, 타면(10c)이 상기 검사영역(I)으로부터 벗어난 후 상기 제1대기영역(W1)에 위치하게 된다. 디스플레이 패널(10)이 상기 제2대기영역(W2)에서 상기 제1대기영역(W)으로 이동함에 따라, 상기 이미지센서(41)들은 각각 디스플레이 패널(10)에 대해 a1 ~ an에 해당하는 부분별 이미지들을 순차적으로 획득할 수 있다. 즉, 상기 이미지센서(41)들은 각각 디스플레이 패널(10)에 대해 a1, a2, a3, … ,a(n-1), an에 해당하는 부분별 이미지들을 순차적으로 획득함으로써, 디스플레이 패널(10) 전체에 대한 부분별 이미지들을 획득할 수 있다. a1 ~ an은 각각 상기 이미지센서(41)가 갖는 촬영영역에 대응되는 영역이다.FIG. 5 illustrates a state in which the
도시되지는 않았지만, 디스플레이 패널(10)이 상기 제1대기영역(W1)에서 상기 제2대기영역(W2)으로 이동하는 경우, 상기 이미지센서(41)들은 각각 디스플레이 패널(10)에 대해 an ~ a1에 해당하는 부분별 이미지들을 순차적으로 획득함으로써, 디스플레이 패널(10) 전체에 대한 부분별 이미지들을 획득할 수 있다. 도시되지는 않았지만, 상기 설치부재(42)에는 상기 이미지센서(41)들이 상기 제1축방향(Y축 방향)과 상기 제2축방향(X축 방향)으로 복수개가 설치될 수도 있다.Although not shown, when the
도 5 내지 도 7을 참고하면, 상기 생성유닛(43)은 상기 이미지센서(41)들이 획득한 이미지들에 대해 디스플레이 패널(10)에서 동일한 부분에 해당하는 이미지들끼리 중첩하여 검사이미지를 생성한다. 예컨대, 상기 이미지센서(41)들이 각각 a1, a2, a3, … ,a(n-1), an 부분별 이미지들을 획득한 경우, 상기 생성유닛(43)은 a1 부분 이미지들끼리, a2 부분 이미지들끼리, a3 부분 이미지들끼리, … ,a(n-1) 부분 이미지들끼리, an 부분 이미지끼리 중첩하여 부분별 검사이미지들을 생성할 수 있다. 상기 생성유닛(43)은 생성한 부분별 검사이미지들로부터 디스플레이 전체에 대한 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 검사이미지가 갖는 휘도를 향상시킬 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 정확하게 검출할 수 있는 검사이미지를 획득할 수 있다. 도 7에 도시된 바와 같이, 상기 이미지센서(41, 도 5에 도시됨)들이 획득한 이미지들 중에서 디스플레이 패널(10, 도 5에 도시됨)이 구동주기에 따라 휘도가 감소한 상태일 때(F, F') 획득한 이미지들이 있더라도, 디스플레이 패널(10)이 구동주기에 따라 휘도가 증가한 상태일 때(G, G', G") 획득한 이미지들과 중첩됨으로써 휘도가 보상되기 때문이다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 다음과 같은 작용효과를 도모할 수 있다.5 to 7, the
첫째, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 정확하게 검출할 수 있는 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.First, the display
둘째, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)이 구동주기에 따라 휘도가 변화하는 것에 관계없이 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 정확하게 검출할 수 있는 검사이미지를 획득할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 이동부(3, 도 2에 도시됨)가 디스플레이 패널(10)을 이동시키는 속도 및 상기 이미지센서(41)가 이미지를 획득하는 시점이 연동되도록 제어할 필요가 없으므로, 제어의 용이성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 상기 이동부(3, 도 2에 도시됨)가 디스플레이 패널(10)을 이동시키는 속도를 증가시킬 수 있고, 디스플레이 패널(10) 전체에 대한 검사이미지를 획득하는데 걸리는 시간이 줄일 수 있다. 따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는 디스플레이 패널(10)에 대한 검사공정에 걸리는 시간을 단축할 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널(10)에 대한 제조 수율을 향상시킬 수 있다.Secondly, the display
상기 생성유닛(43)은 생성한 검사이미지를 상기 검출장치(미도시)에 제공할 수 있다. 상기 검출장치는 상기 생성유닛(43)으로부터 제공된 검사이미지를 이용하여 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. The
도 4 및 도 5를 참고하면, 본 발명의 변형된 실시예에 따른 이미지획득부(4)는 검출유닛(44)을 포함할 수 있다. 상기 검출유닛(44)은 상기 생성유닛(43)으로부터 제공된 검사이미지를 이용하여 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 예컨대, 상기 검출유닛(44)은 정상적으로 작동되는 디스플레이 패널(10)에 대한 기준이미지를 상기 검사이미지와 비교함으로써, 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 상기 검출유닛(44)은 상기 검사이미지를 부분별로 서로 비교하여 밝기 등에 차이가 있는 부분을 검출함으로써, 디스플레이 패널(10)에 대한 불량 여부를 검출할 수도 있다. 상기 검출유닛(44)은 디스플레이 패널(10)에 대한 라인 불량, 포인트 불량, 얼룩 불량, 외관 불량, 편광판 불량 등을 검출할 수 있다.4 and 5, the
한편, 상기한 바와 같은 본 발명은, 상기 네 개의 조명기구를 모두 포함하고 있을 수도 있으나, 적어도 어느 하나만을 포함하고 있을 수도 있다. On the other hand, the present invention as described above may include all of the four light fixtures, but may also include at least one.
<검사방법><Inspection Method>
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)를 이용하여 디스플레이 패널의 각종 불량을 검출하는 검사방법의 순서는 아래의 [표 1]에 도시된 바와 같다. 한편, 상기한 바와 같이, 본 발명에서의 불량은 크게, 세 가지로 분류될 수 있다. 즉, 디스플레이 패널 자체의 결함에 의한 패널 불량(회로불량, 라인 불량, 포인트(픽셀) 불량 등)이 있고, 디스플레이 패널의 표면에 이물질 등이 부착되어 발생되는 이물질 불량(이물질 부착, 패널에 형성된 얼룩 불량 등)이 있으며, 디스플레이 패널 제조 공정 중 외부적 요인에 의해 발생되는 스크래치(scratch)와, 편광판과 기판 사이에 기포가 유입되어 발생되는 불량과, 편광판의 부착 에러에 의한 편광판 불량 등을 포함하는 외관 불량이 있다. 여기서, 이물질 불량은 다시 디스플레이 패널의 배면(10a)에 이물질이 부착되어 발생되는 배면 이물질 불량과, 평면(10d)에 이물질이 부착되어 발생되는 평면 이물질 불량으로 구분될 수 있다.The inspection method for detecting various defects of the display panel using the display
본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사방법은 상기한 바와 같이, 디스플레이 패널(10)이 놓여져 있는 지지부(2)가 제1대기영역과 제2대기영역 사이를 왕복운동하는 동안에, 각 조명기구를 이용하여 검사영역(I)에 광을 조사시킨 상태에서 이미지획득부(4)를 통해 각 검사이미지를 획득하고 있다.In the display panel inspection method according to the present invention, as described above, while the
우선, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치로 로딩된 디스플레이 패널이 최초로 놓여지는 위치가 제1대기영역이라고 가정할 때, 지지부(2)가 제1대기영역에서 제2대기영역으로 이동(전진)하는 동안, 제1조명기구에 의해 수직광이 검사영역(I)의 디스플레이 패널 배면에 조사되며, 이때, 이미지획득부(4)에 의해 제1검사이미지가 획득된다. First, assuming that the position where the display panel loaded by the display panel inspection apparatus according to the present invention is first placed is the first standby region, the
다음으로, 지지부(2)가 제2대기영역에서 다시 제1대기영역으로 이동(후진)하는 동안, 제1조명기구에 의해 수직광이 검사영역(I)의 디스플레이 패널 배면에 조사되며, 이때, 이미지획득부(4)에 의해 또 다른 제1검사이미지가 획득된다. Next, while the
다음으로, 지지부(2)는 상기한 바와 같은 전진과 후진과정을 반복하며, 이미지획득부에 의해 복수의 제1검사이미지가 획득된다. 이때, 신호인가유닛(22)에 의해 디스플레이 패널로 R, G, B, 화이트, 블랙, 그레이 신호가 순차적으로 인가된다. 즉, 한 번의 전진 또는 후진 과정마다, 상기한 바와 같은 신호가 순차적으로 디스플레이 패널에 인가된다. 여기서, 인가되는 신호의 순서는 변화될 수 있다.Next, the
한편, 상기한 바와 같이, 다양한 신호의 인가에 의해 촬영된 제1검사이미지를 분석하면, 디스플레이 패널의 패널 불량 여부가 판단될 수 있다.On the other hand, as described above, by analyzing the first inspection image photographed by the application of various signals, it may be determined whether the panel of the display panel is defective.
다음으로, 상기한 바와 같은 패널 불량 검사를 위한 과정이 종료되면, 제1조명기구(231)가 턴오프되고, 제2조명기구가 턴온된 상태에서, 지지부(2)가 제1대기영역에서 제2대기영역 방향으로 전진하게 되며, 이때, 이미지획득부(4)에 의해 제2검사이미지가 획득된다. 즉, 제2검사이미지는, 디스플레이 패널의 배면에 대하여 이물에 의한 오검을 방지하기 위한 배면 이물 검사를 위해 획득되는 것으로서, 이러한 제2검사이미지는 상기한 바와 같이, 제2조명기구(232) 만이 턴온된 상태에서 획득된다.Next, when the process for inspecting the panel failure as described above is finished, the
다음으로, 배면 이물 검사를 위한 과정이 종료되면, 제2조명기구가 턴오프되고, 제3조명기구가 턴온된 상태에서, 지지부(2)가 제2대기영역에서 제1대기영역 방향으로 후진하게 되며, 이때, 이미지획득부(4)에 의해 제3검사이미지가 획득된다. 즉, 제3검사이미지는, 디스플레이 패널의 평면에 대하여 이물에 의한 오검을 방지하기 위한 평면 이물 검사를 위해 획득되는 것으로서, 이러한 제3검사이미지는 상기한 바와 같이, 제3조명기구(233) 만이 턴온된 상태에서 획득된다.Next, when the process for inspecting the back foreign matter is finished, the second lighting device is turned off, and in a state in which the third lighting device is turned on, the
마지막으로, 평면 이물 검사를 위한 과정이 종료되면, 제3조명기구가 턴오프되고, 제4조명기구가 턴온된 상태에서, 지지부(3)가 제1대기영역에서 제2대기영역 방향으로 전진하게 되며, 이때, 이미지획득부(4)에 의해 제4검사이미지가 획득된다. 즉, 제4검사이미지는, 디스플레이 패널의 평면에 스크래치, 기포, 편광판 불량과 같은 외관 불량 검사를 위해 획득되는 것으로서, 이러한 제4검사이미지는 상기한 바와 같이, 제4조명기구(244) 만이 턴온된 상태에서 획득된다.Finally, when the process for inspecting the plane foreign material is finished, the third lighting device is turned off, and with the fourth lighting device turned on, the
여기서, 배면 이물 검사 과정, 평면 이물 검사 과정, 외관 불량 검사 과정의 순서는, 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 본 발명은 상기 네가지 검사 과정을 모두 수행할 수도 있으나, 적어도 어느 하나만을 수행할 수도 있다. Here, the order of the back foreign matter inspection process, the planar foreign matter inspection process, the appearance defect inspection process may be variously changed. In addition, the present invention may perform all four inspection processes, but may perform at least one of them.
한편, 상기 과정들 각각을 통해 획득된 검사이미지는, 상기한 바와 같은 검출유닛(44) 또는 별도의 검출장치(미도시)를 통해 각각의 불량여부가 검출될 수 있다.On the other hand, the inspection image obtained through each of the above processes, each defect can be detected through the
또한, 상기 과정들을 마친 디스플레이 패널은 다시 제1대기영역으로 복귀된 상태 또는 상기 과정을 마친 상태인 제2대기영역 상태에서 언로딩되어, 다음 차례의 검사장치로 이송된다. In addition, the display panel which has completed the above processes is unloaded in the state of returning to the first standby region again or in the state of the second standby region which has finished the above process, and then transferred to the next inspection apparatus.
<변형된 실시예>Modified Example
이하에서는 본 발명의 변형된 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a display panel inspecting apparatus according to a modified embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 8은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 개략적인 평면도이고, 도 9는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치의 개략적인 측면도이며, 도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 지지부에 대한 도 8의 K-K 단면도이다. 8 is a schematic plan view of a display panel inspecting apparatus according to still another embodiment of the present invention, FIG. 9 is a schematic side view of a display panel inspecting apparatus according to another embodiment of the present invention, and FIG. 8 is a cross-sectional view of KK of the support according to another embodiment.
한편, 이하에서 설명되는 본 발명의 또 다른 실시예는 조명유닛(23) 중 제1조명기구(231)와 제2조명기구(232)의 장착위치가 변경된 점을 제외하고는, 상기에서 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명된 본 발명의 실시예와 그 구성 및 기능이 동일하므로, 이하의 설명 중 상기에서 설명된 내용과 동일한 설명은 생략되거나 또는 간단히 설명된다. On the other hand, another embodiment of the present invention described below, except that the mounting position of the
도 8 내지 도 10을 참고하면, 본 발명의 변형된 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)는, 조명유닛(23)을 구성하는 제1 내지 제4조명구기들(231, 232, 233, 234) 중 제1조명기구(231)와 제2조명기구(232)가 지지부(2)의 지지유닛(21)이 아닌 베이스부재(20)에 장착되어 있다는 특징을 가지고 있다. 8 to 10, the display
본 발명의 변형된 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사장치(1)의 베이스부재(20)에 장착되는 제1조명기구와 제2조명기구는, 특히, 상기 제1대기영역(W1)과 상기 제2대기영역(W2) 사이, 즉, 이미지획득부에 의해 검사이미지가 획득되는 검사영역(I)에 해당되는 위치에 장착된다.The first lighting device and the second lighting device, which are mounted on the
즉, 제1조명기구와 제2조명기구는, 베이스부재(20)의 전체 영역 중, 특히, 검사이미지가 획득되는 검사영역(I)에 해당되는 위치에만 장착됨으로써, 조명 설치에 따른 비용이 절감될 수 있다.That is, the first lighting device and the second lighting device are mounted only at a position corresponding to the inspection area I, in which the inspection image is obtained, among the entire area of the
한편, 제1조명기구와 제2조명기구가 베이스부재(20)에 장착되는 형태 및 동작하는 방법은 상기한 바와 같은 실시예에서와 동일하다.On the other hand, the form and method of operation in which the first lighting device and the second lighting device are mounted on the
즉, 제1조명기구는 베이스부재(20)의 제1설치홈(211, 도 9에 도시됨)에 장착되어, 상기 지지유닛(21)에 지지된 디스플레이 패널(10)의 수직 하방에 위치된다. 또한, 상기 제1조명기구(231)는 디스플레이 패널(10)의 일부면, 즉, 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널의 일부면에만 광을 제공할 수 있도록 형성되므로써, 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명된 실시예에서와 비교해 볼 때, 광원의 숫자가 줄어들 수 있다. That is, the first lighting device is mounted in the first installation groove 211 (shown in FIG. 9) of the
도 8 내지 도 10을 참고하면, 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)에 측광(Side Light)을 제공하기 위한 제2조명기구(232)는, 베이스부재(20)의 제2설치홈(212)에 장착되어, 상기 검사영역(I)을 통과하는 디스플레이 패널(10)을 기준으로 상기 이미지획득부(4) 반대편에서 디스플레이 패널(10) 쪽으로 광을 방출할 수 있다. 도 10에 도시된 바와 같이, 상기 제2조명기구(232)는 상기 지지부(2)의 지지유닛(21)에 지지된 디스플레이 패널(10)의 수직 하방으로부터 디스플레이 패널(10) 외측 방향으로 소정 거리 이격된 제2설치홈(212)에 위치되어, 상기 디스플레이 패널(10)의 배면(10b)에 측광을 조사할 수 있다. 8 to 10, a
즉, 상기한 바와 같은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치 및 검사방법은, 지지부(2) 또는 베이스부재(20)에 장착되어 있는 제1조명기구(231) 및 제2조명기구(232)와, 디스플레이 패널 평면의 상단에 위치되어 있는 제3조명기구(233) 및 제4조명기구(234)를 이용하여, 디스플레이 패널의 패널 불량, 배면 이물질 불량, 평면 이물질 불량, 외관 불량의 검사에 요구되는 검사이미지를 획득하고 있다는 특징을 가지고 있다. That is, the display panel inspection apparatus and the inspection method according to the present invention as described above, the
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention. It will be clear to those who have knowledge.
1 : 디스플레이 패널 검사장치 2 : 지지부 3 : 이동부
4 : 이미지획득부 5 : 로딩부 6 : 언로딩부
10 : 디스플레이 패널 11 : 회로필름
231 : 제1조명기구 232 : 제2조명기구
233 : 제3조명기구 234 : 제4조명기구DESCRIPTION OF
4: image acquisition unit 5: loading unit 6: unloading unit
10 display panel 11: circuit film
231:
233:
Claims (14)
상기 베이스부재에 장착되어 있는 상기 지지부를 제1대기영역과 제2대기영역 간에 이동시키는 이동부;
상기 제1대기영역과 상기 제2대기영역 사이에 위치한 검사영역에 설치되어, 상기 검사영역을 통과하는 디스플레이 패널에 대한 검사이미지를 획득하기 위한 이미지획득부; 및
상기 이미지획득부가 상기 디스플레이 패널에 대한 검사이미지를 획득할 수 있도록 상기 디스플레이 패널에 광을 제공하기 위한 조명유닛을 포함하며,
상기 조명유닛은,
상기 검사영역을 통과하는 디스플레이 패널에 배면광(Back Light)을 제공하기 위한 제1조명기구와, 상기 검사영역에 위치한 디스플레이 패널에 측광을 제공하기 위한 측광조명기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.A support part mounted to the base member to support the display panel;
A moving part which moves the support part mounted on the base member between a first waiting area and a second waiting area;
An image acquisition unit installed in an inspection region located between the first standby region and the second standby region to acquire an inspection image of a display panel passing through the inspection region; And
It includes an illumination unit for providing light to the display panel so that the image acquisition unit obtains the inspection image for the display panel,
The lighting unit,
And a first lighting device for providing back light to the display panel passing through the inspection area, and a metering lighting device for providing metering to the display panel located in the inspection area. Inspection device.
상기 측광조명기구는,
상기 검사영역에 위치한 디스플레이 패널의 평면에 측광을 제공하기 위한 제3조명기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 1,
The metering lighting mechanism,
And a third lighting device for providing metering on a plane of the display panel positioned in the inspection area.
상기 측광조명기구는,
상기 검사영역에 위치한 디스플레이 패널의 배면에 측광(Side Light)을 제공하기 위한 제2조명기구를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.The method of claim 2,
The metering lighting mechanism,
And a second lighting device for providing side light to a rear surface of the display panel positioned in the inspection area.
상기 제3조명기구는, 상기 이미지획득부가 장착되어 있는 지지프레임에 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.According to claim 2,
And the third lighting device is mounted to a support frame to which the image acquisition unit is mounted.
상기 제1조명기구는, 상기 지지부에 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 1,
And said first lighting device is attached to said support part.
상기 제1조명기구와 상기 제2조명기구는, 상기 지지부에 장착되어 있고,
상기 지지부 중 상기 디스플레이 패널의 수직 하방에는, 상기 제1조명기구가 설치될 수 있도록 제1설치홈이 형성되어 있으며,
상기 지지부 중 상기 디스플레이 패널의 수직 하방의 외측에는 상기 제2조명기구가 설치될 수 있도록 제2설치홈이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 3, wherein
The first lighting device and the second lighting device are attached to the support unit,
A vertical installation groove is formed below the display panel to allow the first lighting device to be installed.
The display panel inspection apparatus, characterized in that the second installation groove is formed on the outside of the vertical portion of the support portion of the support portion so that the second lighting mechanism can be installed.
상기 제1조명기구는, 상기 베이스부재에 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 1,
And the first lighting device is mounted to the base member.
상기 제1조명기구와 상기 제2조명기구는, 상기 베이스부재 중 상기 검사영역과 대응되는 위치에 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 3, wherein
And the first lighting device and the second lighting device are mounted at positions corresponding to the inspection area of the base member.
상기 측광조명기구는,
상기 검사영역에 위치한 디스플레이 패널의 평면에 또 다른 측광을 제공하기 위한 제4조명기구를 더 포함하며,
상기 제4조명기구는, 상기 제3조명기구와 상기 검사영역을 통과하는 상기 디스플레이 패널의 평면이 이루는 각도보다는 더 크고, 90°보다는 작은 각도를 갖도록 위치되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 2,
The metering lighting mechanism,
Further comprising a fourth lighting device for providing another light metering on the plane of the display panel located in the inspection area,
And the fourth lighting device is positioned to have an angle greater than an angle formed by the third lighting device and the plane of the display panel passing through the inspection area and smaller than 90 °.
상기 조명기구는,
상기 검사영역에 위치한 디스플레이 패널의 배면에 측광(Side Light)을 제공하기 위한 제2조명기구를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사장치.The method of claim 9,
The lighting fixture,
And a second lighting device for providing side light to a rear surface of the display panel positioned in the inspection area.
상기 제3조명기구가 턴온된 상태에서, 상기 디스플레이 패널이 상기 제1대기영역과 제2대기영역 사이에서 전진 또는 후진하는 동안, 상기 디스플레이 패널에 대한 평면 이물 검사를 위한 제3검사이미지를 획득하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널 검사방법.The display panel supported by the support unit of the display panel inspecting apparatus according to claim 10 repeats the forward and backward movements between the first and second standby regions while the first lighting device is turned on. During the operation, acquiring a first inspection image for inspecting a panel defect on the display panel; And
While the third lighting device is turned on, while the display panel is moving forward or backward between the first waiting area and the second waiting area, obtaining a third test image for inspecting a planar foreign material on the display panel. Display panel inspection method comprising the step.
상기 제2조명기구가 턴온된 상태에서, 상기 디스플레이 패널이 상기 제1대기영역과 제2대기영역 사이에서 전진 또는 후진하는 동안, 상기 디스플레이 패널에 대한 배면 이물 검사를 위한 제2검사이미지를 획득하는 단계를 더 포함하는 디스플레이 패널 검사방법.The method of claim 11,
While the second lighting device is turned on, while the display panel is moving forward or backward between the first waiting area and the second waiting area, obtaining a second test image for inspecting a back foreign matter on the display panel. Display panel inspection method further comprising the step.
상기 제4조명기구가 턴온된 상태에서, 상기 디스플레이 패널이 상기 제1대기영역과 제2대기영역 사이에서 전진 또는 후진하는 동안, 상기 디스플레이 패널에 대한 외관 검사를 위한 제4검사이미지를 획득하는 단계를 더 포함하는 디스플레이 패널 검사방법.The method of claim 11,
Acquiring a fourth inspection image for visual inspection of the display panel while the fourth lighting device is turned on, while the display panel is moved forward or backward between the first standby area and the second standby area; Display panel inspection method further comprising.
상기 제1검사이미지를 획득하는 단계에서, 상기 디스플레이 패널에는, 점등 검사를 위한 검사신호가 인가되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사방법.The method of claim 11,
In the acquiring of the first inspection image, an inspection signal for a lighting inspection is applied to the display panel.
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|---|---|---|---|
| KR1020110028660A KR20120110654A (en) | 2011-03-30 | 2011-03-30 | Apparatus and method for testing display panel |
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|---|---|---|---|---|
| CN109410805A (en) * | 2018-10-30 | 2019-03-01 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | A kind of display panel detection system |
| KR20200062416A (en) * | 2018-11-26 | 2020-06-04 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Apparatus for inspecting substrate |
-
2011
- 2011-03-30 KR KR1020110028660A patent/KR20120110654A/en not_active Application Discontinuation
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| CN109410805A (en) * | 2018-10-30 | 2019-03-01 | 苏州华兴源创科技股份有限公司 | A kind of display panel detection system |
| KR20200062416A (en) * | 2018-11-26 | 2020-06-04 | 주식회사 탑 엔지니어링 | Apparatus for inspecting substrate |
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