KR20120044094A - Method for inspecting liquid crystal display device - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A liquid crystal display device inspection method is provided to shorten time for inspecting common voltage by setting the common voltage of a region which has a lowest level into reference common voltage. CONSTITUTION: Common voltage is divided into a plurality of regions(S110). A first flicker level is measured(S120). A second flicker level is measured(S130). The first and the second flicker levels are compared(S140). The common voltage which has a lowest flicker level is set as reference common voltage(S190).

Description

액정표시장치 검사방법{METHOD FOR INSPECTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}Liquid crystal display device inspection method {METHOD FOR INSPECTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 액정표시장치 구동시에 사용되는 기준 공통전압을 검사하는 액정표시장치 검사방법에 관한 것이다. The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device inspection method for inspecting a reference common voltage used when driving the liquid crystal display device.

일반적으로, 액정표시장치(Liquid Crystal Display: LCD)는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시한다.In general, a liquid crystal display (LCD) displays an image by adjusting the light transmittance of the liquid crystal using an electric field.

이를 위한 액정표시장치는 액정 셀들이 매트릭스 형태로 배열되어진 액정패널과, 상기 액정패널을 구동하기 위한 구동회로로 구성된다. 그리고, 상기 액정패널은 전계 생성 전극이 각각 형성되어 있는 상부기판과 하부기판이 서로 대향되게 배치되고, 두 기판 사이에 광 투과율을 조절하기 위한 액정층이 형성된다.A liquid crystal display device for this purpose is composed of a liquid crystal panel in which liquid crystal cells are arranged in a matrix, and a driving circuit for driving the liquid crystal panel. In the liquid crystal panel, the upper substrate and the lower substrate on which the field generating electrodes are formed are disposed to face each other, and a liquid crystal layer for controlling light transmittance is formed between the two substrates.

이러한 구성으로 이루어지는 종래기술에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법에 대해 도 1 내지 3을 참조하여 설명하면 다음과 같다. A common voltage test method for driving a liquid crystal display according to the related art having such a configuration will be described below with reference to FIGS. 1 to 3.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 단위 화소를 등가적으로 나타내는 회로도이다.1 is an equivalent circuit diagram of a unit pixel of a general liquid crystal display device.

일반적인 액정표시장치는, 도 1에 도시된 바와 같이, 게이트 라인 (GL)과 데이터 라인(DL)이 교차되고, 상기 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)의 교차부에 액정 셀(Clc)을 구동하기 위한 박막 트랜지스터(TFT)가 형성된다. 또한, 상기 액정표시장치에는 액정셀(Clc)의 전압을 유지하기 위한 스토리지 캐패시터 (Cst)가 형성된다.In a typical liquid crystal display device, as illustrated in FIG. 1, a gate line GL and a data line DL intersect each other, and a liquid crystal cell Clc is disposed at an intersection of the gate line GL and the data line DL. A thin film transistor (TFT) for driving the film is formed. In addition, the liquid crystal display is formed with a storage capacitor Cst for maintaining the voltage of the liquid crystal cell Clc.

여기서, 상기 액정 셀(Clc)은 화소전극(11)의 데이터 전압이 인가되고 상부 기판에 형성된 공통전극(12)에 공통전압(Vcom)이 인가될 때, 액정층에 인가되는 전계에 의해 액정분자들의 배열이 바뀌면서 투과되는 빛의 광량을 조절하거나 빛을 차단한다. 그리고, 데이터전압은 액정 셀(Clc)의 구동 전압 특성에 맞게 미리 설정된 감마 전압으로 공급된다.Here, the liquid crystal cell Clc is a liquid crystal molecule by an electric field applied to the liquid crystal layer when the data voltage of the pixel electrode 11 is applied and the common voltage Vcom is applied to the common electrode 12 formed on the upper substrate. As the arrangement of the lights changes, the amount of light transmitted or the light is blocked. The data voltage is supplied at a gamma voltage that is preset according to the driving voltage characteristic of the liquid crystal cell Clc.

액정표시장치의 구동방법에 있어서, 액정 셀에 동일한 극성의 전압이 지속적으로 인가되면 액정과 표시 화상이 열화되기 때문에, 액정표시장치는 극성이 주기적으로 반전되는 교류 형태의 데이터전압으로 액정 셀을 구동한다.In the driving method of the liquid crystal display device, since the liquid crystal and the display image are deteriorated when the voltage of the same polarity is continuously applied to the liquid crystal cell, the liquid crystal display device drives the liquid crystal cell with an alternating current data voltage whose polarity is periodically reversed. do.

이러한 데이터전압은 공통전극(12)에 인가되는 공통전압(Vcom)을 중심으로 한 프레임마다 극성이 반전된다. 이때, 상기 공통전압(Vcom)은 화소 단위로 구동할 때 화소의 중심 전위가 되므로, 화질 향상을 위해서는 액정패널의 위치와 무관하게 모든 화소에 동일한 수준의 공통전압이 인가되어야 한다.The polarity of the data voltage is reversed every frame around the common voltage Vcom applied to the common electrode 12. In this case, since the common voltage Vcom becomes the center potential of the pixel when driven in the pixel unit, the common voltage of the same level should be applied to all the pixels regardless of the position of the liquid crystal panel in order to improve the image quality.

액정표시장치는 제품마다 각기 다른 공통전압(Vcom) (액정구동을 위한 기준전압)을 갖는다. Liquid crystal displays have different common voltages (Vcom) (reference voltages for liquid crystal driving) for different products.

제품 별로 적절한 공통전압(Vcom) 레벨을 얻기 위해서는 일정한 스캔 범위 내에서 플리커 레벨(flicker level)를 측정하여 가장 적은 플리커 레벨을 그 제품의 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.In order to obtain an appropriate common voltage (Vcom) level for each product, the flicker level is measured within a certain scan range, and the lowest flicker level is set to the product's common voltage (Vcom).

도 2는 종래기술에 따른 액정표시장치의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 공통전압 검사 흐름도이다.2 is a flowchart of a common voltage test for explaining a common voltage test method of a liquid crystal display according to the related art.

도 3은 종래기술에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압의 각 영역에서의 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 것을 개략적으로 도시한 도면이다. FIG. 3 is a diagram schematically illustrating measuring flicker levels in respective regions of a common voltage when driving a liquid crystal display according to the related art.

도 2 및 3을 참조하면, 종래기술에 따른 액정표시장치의 구동시에 사용되는 기준 공통전압(Vcom)을 설정하기 위해, 제1 단계(S10)로서, 먼저 임의의 공통전압을 다수 영역, 예를 들어 5, 10 또는 20 영역으로 분할한다. 이때, 상기 임의의 공통전압은 5, 10 또는 20 영역으로만 분할하는 것이 아니라, 필요에 따라 선택적으로 분할 범위를 설정할 수 있다. 즉, 상기 임의의 공통전압(Vcom)은, 도 3에 도시된 바와 같이, V1, V2, V3, V4, ----------, Vn-2, Vn-1, Vn으로 분할한다. 여기서, n는 자연수이다.2 and 3, in order to set the reference common voltage Vcom used when driving the liquid crystal display according to the related art, as a first step S10, first, a plurality of common voltages may be selected. For example, divide into 5, 10 or 20 areas. In this case, the arbitrary common voltage is not divided into only 5, 10, or 20 regions, and a division range can be selectively set as needed. That is, the arbitrary common voltage Vcom is divided into V1, V2, V3, V4, ----------, Vn-2, Vn-1, and Vn, as shown in FIG. do. Where n is a natural number.

그 다음, 제2 단계(S20)로서, 상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 제1 영역에 해당하는 공통전압(V1)에서부터 제n영역에 해당하는 공통전압(Vn)을 스캐닝(scan)하여 이 각 영역의 공통전압(V1, V2, --- Vn)에 대한 플리커 레벨 (flicker level)들을 측정한다. Next, as a second step S20, the common voltage Vn corresponding to the nth region is scanned from the common voltage V1 corresponding to the first region among the plurality of regions of the common voltage Vcom. The flicker levels of the common voltages V1, V2 and --- Vn in each of these areas are measured.

이어서, 제3 단계(S30)로서, 상기 전체 영역에 해당하는 공통전압(V1, V2, ---, Vn)에 대한 플리커 레벨들을 측정한 후, 이들 플리커 레벨들의 크기를 서로 비교한다.Next, as a third step (S30), after measuring the flicker levels for the common voltage (V1, V2, ---, Vn) corresponding to the entire region, the size of these flicker levels are compared with each other.

그 다음, 제4 단계(S40)로서, 이들 플리커 레벨들의 크기를 서로 비교한 결과, 상기 플리커 레벨 값들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨 값에 해당하는 공통전압 (Vcom)을 확인하여, 기준 공통전압(Vcom)으로 설정함으로써 액정표시장치 구동시에 사용되는 최적의 기준 공통전압(Vcom) 검사공정을 완료한다.Next, as a fourth step (S40), as a result of comparing the sizes of these flicker levels with each other, the common voltage Vcom corresponding to the lowest flicker level value among the flicker level values is checked, and the reference common voltage Vcom is determined. By setting to, the process of checking the optimum reference common voltage (Vcom) used in driving the liquid crystal display device is completed.

그러나, 종래기술에 따른 액정표시장치의 검사방법에 따르면, 임의의 공통전압을 다수의 영역들로 분할한 다음 전체 영역의 공통전압들을 순차적으로 스캐닝하여 각 영역에 대한 플리커 레벨들을 측정한 다음 이들 플리커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨을 찾아 이 플리커 레벨에 해당하는 공통전압을 그 제품의 최적 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.However, according to the inspection method of the liquid crystal display according to the prior art, by dividing an arbitrary common voltage into a plurality of regions, and then sequentially scanning the common voltages of the entire region to measure the flicker levels for each region and then these flicker The lowest flicker level is found among the levels, and the common voltage corresponding to the flicker level is set to the optimum common voltage (Vcom) of the product.

따라서, 이렇게 다수의 영역들로 분할된 공통전압의 전 영역에 걸쳐 순차적인 스캐닝을 진행하기 때문에 검사 시간이 오래 걸리게 된다. 즉, 공통전압의 전체영역을 스캐닝하기 때문에 최적의 공통전압(Vcom)이 먼저 확인되어도 계속해서 남은 영역들에 대한 스캐닝을 진행한 이후에 이들 영역의 플리커 레벨을 서로 비교하여 최적의 공통전압(Vcom)을 확인해야 되므로 그만큼 검사 시간이 증가하게 된다.Therefore, since the sequential scanning is performed over the entire region of the common voltage divided into the plurality of regions, the inspection time is long. That is, since the entire area of the common voltage is scanned, even if the optimum common voltage Vcom is checked first, after scanning the remaining areas, the flicker levels of these areas are compared with each other to compare the optimum common voltage (Vcom). ), So the inspection time increases accordingly.

이에 본 발명은 상기 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 본 발명의 목적은 액정표시장치의 구동시의 기준 공통전압을 검사하는 시간을 단축시킬 수 있는 액정표시장치 검사방법을 제공함에 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the problems of the prior art, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device inspection method that can shorten the time to test the reference common voltage when driving the liquid crystal display device. .

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치 검사방법은 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하는 단계; 상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2) 을 스캐닝하여 이 중앙영역의 공통전압 (Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 단계; 상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 단계; 상기 중앙영역의 제1 플리커 레벨과, 상기 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전극(Vn-1/2)의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 서로 비교하는 단계; 상기 제1 및 2 플리커 레벨의 크기를 비교하여 상기 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간에 어떤 크기 차이를 갖는지를 확인하는 단계; 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압 이전 영역들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 단계; 및 상기 플러커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨을 갖는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of inspecting a liquid crystal display device, the method comprising: dividing an arbitrary common voltage into a plurality of regions; Among the plurality of regions of the common voltage Vcom, a common voltage Vn / 2 corresponding to the center region is scanned to measure a first flicker level with respect to the common voltage Vn / 2 of the center region. Making; After measuring the first flicker level with respect to the common voltage Vn / 2 corresponding to the center region, scanning the common voltage Vn-1 / 2 in the immediately preceding region of the center region to scan for the common voltage. Measuring two flicker levels; Comparing the magnitude difference between the first flicker level of the central region and the second flicker level of the common electrode (Vn-1 / 2) in the immediately preceding region of the central region; Comparing the magnitudes of the first and second flicker levels to determine what size difference there is between the first and second flicker levels; If the second flicker level is lower than the first flicker level, scanning only the common voltage transfer areas of the second second flicker level to measure the flicker level of the common voltages of each area; And setting a common voltage having the lowest flicker level among the flicker levels as an optimum reference common voltage Vcom.

본 발명에 따른 액정표시장치 검사방법에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.According to the liquid crystal display device inspection method according to the present invention has the following effects.

본 발명에 따른 액정표시장치 검사방법에 따르면, 액정표시장치 구동에 사용되는 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하여, 이 공통전압의 다수의 영역 중에서 중앙 영역에 해당하는 공통전압을 스캐닝하여 제1 플리커 레벨을 측정한 다음 이 중앙 영역의 이전 영역의 공통전압의 제2 플리커 레벨을 측정하여, 이들 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간의 어떤 경향성, 즉 제2 플리커 레벨이 제1 플리커 레벨보다 낮은지 또는 높은지의 특성을 확인한 다음 플리커 레벨이 낮은 영역이 있는 방향으로 해당하는 영역들의 플리커 레벨을 측정하여 이들 레벨들 중에서 가장 낮은 레벨을 갖는 영역의 공통전압(Vcom)을 액정표시장치의 구동에 적합한 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.According to the liquid crystal display device inspection method according to the present invention, the arbitrary common voltage used to drive the liquid crystal display device is divided into a plurality of regions, and among the plurality of regions of the common voltage, the common voltage corresponding to the center region is scanned and the first The flicker level is measured and then the second flicker level of the common voltage of the previous region of this center region is measured so that any tendency between these first and second flicker levels, i.e., the second flicker level is lower than the first flicker level, is determined. After checking the characteristics of high or low, measure the flicker level of the corresponding areas in the direction of the low flicker level, and adjust the common voltage (Vcom) of the area having the lowest level among these levels. The reference common voltage Vcom is set.

따라서, 본 발명에 따른 공통전압 검사방법은 다수의 영역들 중에서 중앙영역의 플리커 레벨과 그 이전 영역 또는 다음 영역을 플리커 레벨을 서로 비교하여 중앙영역의 플리커 레벨보다 낮은 레벨을 갖는 영역의 방향으로 해당하는 영역들의 플리커 레벨을 측정하여 이들 플리커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨에 해당하는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하기 때문에 기존의 최적 공통전압 검사방법에 비해 공통전압을 검사하는 검사시간이 단축된다.Accordingly, the common voltage test method according to the present invention compares the flicker level of the center region and the previous or next region among the plurality of regions in the direction of the region having a level lower than the flicker level of the center region. The common voltage corresponding to the lowest flicker level among the flicker levels is set as an optimal reference common voltage (Vcom) by measuring the flicker levels of the areas to be measured. The time is shortened.

이로 인해, 최적의 공통전압을 검사하는 시간이 단축됨으로써 생산 라인의 검사 용량(capacity)이 증가하여 생산 용량(capacity)을 늘릴 수 있게 된다.As a result, the inspection time of the optimum common voltage is shortened, thereby increasing the inspection capacity of the production line, thereby increasing the production capacity.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 단위 화소를 등가적으로 나타내는 회로도이다.
도 2는 종래기술에 따른 액정표시장치의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 공통전압 검사 흐름도이다.
도 3은 종래기술에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압의 각 영역에서의 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 것을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 액정표시장치용 어레이기판의 개략적인 평면도이다.
도 5는 본 발명에 따른 액정표시장치의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 공통전압 검사 흐름도이다.
도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압의 각 영역에서의 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 것을 개략적으로 도시한 도면이다. 1 is an equivalent circuit diagram of a unit pixel of a general liquid crystal display device.
2 is a flowchart of a common voltage test for explaining a common voltage test method of a liquid crystal display according to the related art.
FIG. 3 is a diagram schematically illustrating measuring flicker levels in respective regions of a common voltage when driving a liquid crystal display according to the related art.
4 is a schematic plan view of an array substrate for a liquid crystal display device for explaining a common voltage test method when driving the liquid crystal display device according to the present invention.
5 is a flowchart of a common voltage test for explaining a common voltage test method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram schematically illustrating measuring flicker levels in each region of a common voltage when driving a liquid crystal display according to the present invention.

이하 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법에 대해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a method for checking a common voltage when driving a liquid crystal display according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 액정표시장치용 어레이 기판의 개략적인 평면도이다. 4 is a schematic plan view of an array substrate for a liquid crystal display for explaining a common voltage test method when driving the liquid crystal display according to the present invention.

여기서, 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압 검사방법은 도 4에 도시된 액정표시장치용 어레이 기판에 한정되는 것은 아니며, 다양한 배선 형태의 Vcom배선 구조를 가진 액정표시장치의 어레이 기판에도 적용 가능함을 밝혀 두기로 한다. Here, the common voltage test method for driving the liquid crystal display device according to the present invention is not limited to the array substrate for the liquid crystal display device shown in FIG. Let's find out if applicable.

도 4를 참조하면, 화상을 표시하는 표시영역(AA)에는 가로 방향의 게이트 배선(43)과 세로 방향의 데이터 배선(46)이 교차하여 화소영역(P)을 정의하고 있으며, 상기 화소영역(P) 내에는 게이트 배선(43)과 데이터 배선(46)의 교차 부분에는 상기 게이트 배선(43) 및 데이터 배선(46)과 연결된 스위칭 소자인 박막 트랜지스터(Tr)가 형성되어 있다.Referring to FIG. 4, in the display area AA for displaying an image, a pixel area P is defined by crossing a horizontal gate line 43 and a vertical data line 46. A thin film transistor Tr, which is a switching element connected to the gate line 43 and the data line 46, is formed at the intersection of the gate line 43 and the data line 46 in P).

또한, 상기 화소영역(P)에는 상기 게이트 배선(43)과 평행하게 일정간격 이격하여 가로방향으로 연장된 공통배선(49)이 형성되어 있으며, 상기 공통배선(49)에서 분기한 다수의 공통전극(53)이 세로 방향으로 연장되어 있다.In addition, the pixel region P has a common wiring 49 extending in the horizontal direction at regular intervals in parallel with the gate wiring 43, and a plurality of common electrodes branched from the common wiring 49. 53 extends in the longitudinal direction.

그리고, 상기 화소영역(P)에는 세로 방향을 가지며, 상기 공통전극(53)과 일정간격을 가지고 서로 엇갈리게 배치된 다수의 화소전극(62)이 형성되어 있는데, 상기 화소전극(62)은 박막 트랜지스터(Tr)와 연결되어 있다.In the pixel region P, a plurality of pixel electrodes 62 having a vertical direction and intersecting with the common electrode 53 at predetermined intervals are formed. The pixel electrode 62 is a thin film transistor. Is connected to (Tr).

상기 표시영역(AA)의 외측의 비표시영역(NA)에 있어서는, 일측에 상기 표시영역(AA)에 형성된 게이트 배선(43)과 연결되며, 외부의 구동회로와 연결되는 게이트 패드부(GPA)가 형성되어 있으며, 상기 표시영역(AA)의 상측면의 비표시영역(NA)에는 외부의 데이터 구동회로(미도시)와 연결되며, 상기 표시영역(AA) 내에 형성된 데이터 배선(46)과 연결되는 데이터 패드부(DPA)가 형성되어 있다.In the non-display area NA on the outside of the display area AA, the gate pad part GPA is connected to the gate line 43 formed in the display area AA on one side and connected to an external driving circuit. Is formed, and is connected to an external data driving circuit (not shown) in the non-display area NA on the upper side of the display area AA, and is connected to the data line 46 formed in the display area AA. The data pad portion DPA is formed.

또한, 상기 표시영역(AA)의 외측으로 데이터 패드부(DPA)를 제외한 세 측면에 연결되어 DC 공통전압 인가를 위한 Vcom배선(72)이 형성되어 있으며, 상기 Vcom배선(72)은 각각의 게이트 배선(43)과 평행하게 형성된 공통배선(49)과 연결되어 있다. 이때, 상기 Vcom배선(72)은 데이터 패드부(DPA)의 양끝단 측에 위치한 양끝단을 통해 외부로부터 DC 공통전압이 인가되고 있으며, 상기 게이트 패드부(GPA)가 형성된 기판의 일 측면 비표시영역(NA)에 위치한 Vcom 배선부는 상기 게이트 패드부(GPA)의 다수의 영역에서 외부로부터 DC 공통전압이 인가되고 있다. In addition, the Vcom wiring 72 is connected to three side surfaces of the display area AA except for the data pad part DPA to apply a DC common voltage, and the Vcom wiring 72 has a respective gate. It is connected to the common wiring 49 formed in parallel with the wiring 43. At this time, the Vcom wiring 72 is applied with a DC common voltage from the outside through both ends positioned at both ends of the data pad part DPA, and non-display of one side of the substrate on which the gate pad part GPA is formed. The Vcom wiring part located in the area NA is applied with a DC common voltage from the outside in the plurality of areas of the gate pad part GPA.

이러한 구성에서, 상기 Vcom배선(72)으로부터의 공통전압(Vcom)은 화소 단위로 구동할 때 화소의 중심 전위가 되므로, 화질 향상을 위해서는 액정패널의 위치와 무관하게 모든 화소에 동일한 수준의 공통전압(Vcom)이 인가되어야 한다. 즉, 액정표시장치는 제품마다 각기 다른 공통전압(Vcom) (액정구동을 위한 기준전압)을 갖기 때문에, 제품별로 적절한 공통전압(Vcom) 레벨을 얻기 위해서는 일정한 스캔 범위 내에서 플리커 레벨(flicker level)을 측정하여 가장 낮은 플리커 레벨을 그 제품의 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.In this configuration, since the common voltage Vcom from the Vcom wiring 72 becomes the center potential of the pixel when driven in the pixel unit, the common voltage having the same level for all pixels regardless of the position of the liquid crystal panel to improve the image quality. (Vcom) must be authorized. That is, since liquid crystal display devices have different common voltages (Vcom) (reference voltages for liquid crystal driving) for each product, in order to obtain an appropriate common voltage (Vcom) level for each product, the flicker level is within a certain scan range. The lowest flicker level is set to the product's common voltage (Vcom).

도 5는 본 발명에 따른 액정표시장치의 공통전압 검사방법을 설명하기 위한 공통전압 검사 흐름도이다.5 is a flowchart of a common voltage test for explaining a common voltage test method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 6은 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 공통전압의 각 영역에서의 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 것을 개략적으로 도시한 도면이다. FIG. 6 is a diagram schematically illustrating measuring flicker levels in each region of a common voltage when driving a liquid crystal display according to the present invention.

도 5 및 6을 참조하면, 본 발명에 따른 액정표시장치의 구동시에 사용되는 기준 공통전압(Vcom)을 설정하기 위해, 제1 단계(S110)로서, 먼저 임의의 공통전압을 다수 영역, 예를 들어 5, 10 또는 20 영역으로 분할한다. 이때, 상기 임의의 공통전압은 5, 10 또는 20 영역으로만 분할하는 것이 아니라, 필요에 따라 선택적으로 분할 범위를 설정할 수 있다. 즉, 상기 임의의 공통전압(Vcom)은, 도 6에 도시된 바와 같이, V1, V2, ---, Vn-1/2, Vn/2,-------, Vn-2, Vn-1, Vn으로 분할한다. 여기서, n는 자연수이다. 이때, 상기 임의의 공통전압은 적어도 5 영역 이상으로 분할하는 것이 바람직하지만, 반드시 이에 한정하는 것은 아니다.5 and 6, in order to set the reference common voltage Vcom used when driving the liquid crystal display according to the present invention, as a first step S110, first, a plurality of common voltages may be selected. For example, divide into 5, 10 or 20 areas. In this case, the arbitrary common voltage is not divided into only 5, 10, or 20 regions, and a division range can be selectively set as needed. That is, the arbitrary common voltage (Vcom), as shown in Figure 6, V1, V2, ---, Vn-1 / 2, Vn / 2, -------, Vn-2, It divides into Vn-1 and Vn. Where n is a natural number. At this time, the arbitrary common voltage is preferably divided into at least five areas or more, but is not necessarily limited thereto.

그 다음, 제2 단계(S120)로서, 상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)을 스캐닝(scan)하여 이 중앙영역의 공통전압 (Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨(flicker level)을 측정한다. Next, as a second step S120, the common voltage Vn / 2 corresponding to the center region is scanned among the plurality of regions of the common voltage Vcom, and the common voltage Vn / of the center region is scanned. The first flicker level for 2) is measured.

이어서, 제3 단계(S130)로서, 상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압 (Vn-1/2) 또는 다음 영역의 공통전압(Vn+1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정한다. 여기서는 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압 (Vn-1/2)에 대해서만 설명하기로 한다. Subsequently, as a third step S130, after measuring the first flicker level with respect to the common voltage Vn / 2 corresponding to the center region, the common voltage Vn-1 / 2 of the immediately preceding region of the center region is measured. ) Or a common voltage (Vn + 1/2) of the next region to measure the second flicker level for this common voltage. Here, only the common voltage Vn-1 / 2 of the region immediately before the center region will be described.

그 다음, 제4 단계(S140)로서, 상기 중앙영역의 제1 플리커 레벨과, 상기 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전극(Vn-1/2)의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 서로 비교한다.Next, as a fourth step (S140), the size difference between the first flicker level of the center region and the second flicker level of the common electrode Vn-1 / 2 in the immediately preceding region of the center region is compared with each other. .

이어서, 제5 단계(S150)로서, 상기 제1 및 2 플리커 레벨의 크기 차이를 비교하여 상기 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간에 어떤 크기 차이를 갖는지를 확인하여, 상기 중앙영역의 공통전압(Vn/2)에서의 제1 플리커 레벨과 상기 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)에서의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 확인한다. Subsequently, in a fifth step S150, the magnitude difference between the first flicker level and the second flicker level is compared by comparing the magnitude difference between the first and second flicker levels, and a common voltage ( The magnitude difference between the first flicker level at Vn / 2) and the second flicker level at the common voltage Vn-1 / 2 of the previous region is checked.

그 다음, 제 6 단계(S160)로서, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에, 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압 이하의 영역들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정한다. 이때, 상기 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압 이하의 영역들은 제2 플리커 레벨을 갖는 공통전압(Vn-1/2)에 해당하는 영역 이전 영역들을 나타낸다. 즉, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에, 공통전압 (Vn-1/2) 이전의 영역인 공통전압(Vn-2/2)에서 부터 공통전압(V1) 까지의 영역을 스캐닝하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 것이다.Next, as a sixth step S160, when the second flicker level is lower than the first flicker level, scanning is performed only on regions below the common voltage of the low second flicker level, so that the common voltage of each region is performed. Measure flicker levels for the fields. In this case, regions below the common voltage of the second low flicker level represent regions before the region corresponding to the common voltage Vn−1 / 2 having the second flicker level. That is, when the second flicker level is lower than the first flicker level, the area from the common voltage Vn-2 / 2, which is a region before the common voltage Vn-1 / 2, to the common voltage V1 This is to measure flicker level for common voltages in each area by scanning.

한편, 이와 반대로, 제 7 단계(S170) 및 제 8단계(S180)로서, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 높은 경우에, 공통전압(Vn/2)의 중앙영역의 다음 영역들의 공통전압들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정한다. 이때, 상기 공통전압(Vn/2)의 중앙영역의 다음 영역들의 공통전압들은 중앙영역의 공통전압(Vn/2)의 다음 영역의 공통전압 (Vn+1/2)에서 부터 최종 영역의 공통전압(Vn)을 나타낸다. 따라서, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 높은 경우에, 중앙영역의 다음 영역인 공통전압(Vn+1/2)에서 부터 최종 공통전압(Vn)을 스캐닝하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 것이다.On the other hand, in contrast to the seventh step (S170) and the eighth step (S180), when the second flicker level is higher than the first flicker level, the next areas of the center region of the common voltage Vn / 2 Scanning is performed only on common voltages to measure flicker levels of common voltages in each region. In this case, the common voltages of the next regions of the center region of the common voltage Vn / 2 are the common voltages of the final region from the common voltage Vn + 1/2 of the region next to the common voltage Vn / 2 of the central region. (Vn) is shown. Therefore, when the second flicker level is higher than the first flicker level, the common voltages of the respective regions are scanned by scanning the final common voltage Vn from the common voltage Vn + 1/2 which is the next region of the center region. It is to measure the flicker level for.

이어서, 제 6 단계(S160)에서와 같이, 공통전압(Vn-1/2)의 이전 영역인 공통전압(Vn-1/2)에서 부터 공통전압(V1)까지의 영역들을 스캐닝하여 이들 각각에 대한 플리커 레벨들을 측정하거나, 또는 제 8단계(S180)에서와 같이 공통전압(Vn/2)의 다음 영역인 공통전압(Vn+1/2)에서 부터 공통전압(Vn)까지의 영역들을 스캐닝하여 이들 각각에 대한 플리커 레벨들을 측정한다.Subsequently, as in the sixth step S160, the regions from the common voltage Vn-1 / 2, which are the previous regions of the common voltage Vn-1 / 2 to the common voltage V1, are scanned to each of them. The flicker levels for the flicker levels or scan the areas from the common voltage Vn + 1/2 to the common voltage Vn as the next region of the common voltage Vn / 2 as in the eighth step S180. Measure flicker levels for each of these.

그 다음, 제 9 단계(S190)로서, 상기 다수 영역들에서의 플리커 레벨 값들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨 값에 해당하는 공통전압(Vcom)을 확인하여, 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정함으로써 액정표시장치 구동시에 사용되는 최적의 기준 공통전압(Vcom) 검사공정을 완료한다.Next, as a ninth step S190, the common voltage Vcom corresponding to the lowest flicker level value among the flicker level values in the plurality of areas is checked to determine a common reference value when driving the liquid crystal display according to the present invention. By setting the voltage Vcom, the process of checking the optimum reference common voltage Vcom used in driving the liquid crystal display device is completed.

이상에서와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치 구동시의 기준 공통전압 검사방법에 따르면, 액정표시장치 구동에 사용되는 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하여, 이 공통전압의 다수의 영역 중에서 중앙 영역에 해당하는 공통전압을 스캐닝하여 제1 플리커 레벨을 측정한 다음 이 중앙 영역의 이전 영역의 공통전압의 제2 플리커 레벨을 측정하여, 이들 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간의 어떤 경향성, 즉 제2 플리커 레벨이 제1 플리커 레벨보다 낮은지 또는 높은지의 특성을 확인한 다음 플리커 레벨이 낮은 영역이 있는 방향으로 해당하는 영역들의 플리커 레벨을 측정하여 이들 레벨들 중에서 가장 낮은 레벨을 갖는 영역의 공통전압 (Vcom)을 액정표시장치의 구동에 적합한 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하게 된다.As described above, according to the method for checking a common common voltage when driving a liquid crystal display device according to the present invention, an arbitrary common voltage used for driving the liquid crystal display device is divided into a plurality of areas, and the center of the plurality of areas of the common voltage is centered. The first flicker level is measured by scanning the common voltage corresponding to the region, and then the second flicker level of the common voltage of the previous region of this center region is measured, so that any tendency between these first flicker levels and the second flicker level, i.e. After checking whether the second flicker level is lower or higher than the first flicker level, the flicker level of the corresponding areas is measured in the direction in which the flicker level is lower, and the common voltage of the region having the lowest level among these levels is measured. Vcom is set to a reference common voltage Vcom suitable for driving the liquid crystal display.

따라서, 본 발명에 따른 공통전압 검사방법은 다수의 영역들 중에서 중앙영역의 플리커 레벨과 그 이전 영역 또는 다음 영역을 플리커 레벨을 서로 비교하여 중앙영역의 플리커 레벨보다 낮은 레벨을 갖는 영역의 방향으로 해당하는 영역들의 플리커 레벨을 측정하여 이들 플리커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨에 해당하는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하기 때문에 기존의 최적 공통전압 검사방법에 비해 공통전압을 검사하는 검사시간이 단축된다.Accordingly, the common voltage test method according to the present invention compares the flicker level of the center region and the previous or next region among the plurality of regions in the direction of the region having a level lower than the flicker level of the center region. The common voltage corresponding to the lowest flicker level among the flicker levels is set as an optimal reference common voltage (Vcom) by measuring the flicker levels of the areas to be measured. The time is shortened.

이로 인해, 최적의 공통전압을 검사하는 시간이 단축됨으로써 생산 라인의 검사 용량(capacity)이 증가하여 생산 용량(capacity)을 늘릴 수 있게 된다.As a result, the inspection time of the optimum common voltage is shortened, thereby increasing the inspection capacity of the production line, thereby increasing the production capacity.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.Although embodiments of the present invention have been described above with reference to the accompanying drawings, those skilled in the art to which the present invention pertains may implement the present invention in other specific forms without changing the technical spirit or essential features thereof. I can understand that.

따라서, 이상에서 기술한 실시 예들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려 주기 위해 제공되는 것이므로, 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아니 것으로 이해해야만 하며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Therefore, since the embodiments described above are provided to fully inform the scope of the invention to those skilled in the art, it should be understood that they are exemplary in all respects and not limited. The invention is only defined by the scope of the claims.

43: 게이트 배선 46: 데이터배선
49: 공통배선 53: 공통전극
62: 화소전극 72: Vcom배선
AA: 표시영역 NA: 비표시영역
GPA: 게이트 패드부 DPA: 데이터패드부43: gate wiring 46: data wiring
49: common wiring 53: common electrode
62: pixel electrode 72: Vcom wiring
AA: display area NA: non-display area
GPA: Gate Pad Section DPA: Data Pad Section

Claims (4)

액정표시장치의 구동시에 사용되는 기준 공통전압(Vcom)을 설정하기 위해, 임의의 공통전압을 다수 영역으로 분할하는 단계;
상기 공통전압(Vcom)의 다수의 영역 중에서, 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2) 을 스캐닝하여 이 중앙영역의 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨(flicker level)을 측정하는 단계;
상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 단계;
상기 중앙영역의 제1 플리커 레벨과, 상기 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전극(Vn-1/2)의 제2 플리커 레벨 간의 크기 차이를 서로 비교하는 단계;
상기 제1 및 2 플리커 레벨의 크기를 비교하여 상기 제1 플리커 레벨과 제2 플리커 레벨 간에 어떤 크기 차이를 갖는지를 확인하는 단계;
상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압 이전 영역들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 단계; 및
상기 플러커 레벨들 중에서 가장 낮은 플리커 레벨을 갖는 공통전압을 최적의 기준 공통전압(Vcom)으로 설정하는 단계를 포함하여 구성되는 액정표시장치의 검사방법.Dividing an arbitrary common voltage into a plurality of areas to set a reference common voltage Vcom used in driving the liquid crystal display;
The first flicker level of the common voltage Vn / 2 of the center region is measured by scanning the common voltage Vn / 2 corresponding to the center region among the plurality of regions of the common voltage Vcom. Doing;
After measuring the first flicker level with respect to the common voltage Vn / 2 corresponding to the center region, scanning the common voltage Vn-1 / 2 in the immediately preceding region of the center region to scan for the common voltage. Measuring two flicker levels;
Comparing the magnitude difference between the first flicker level of the central region and the second flicker level of the common electrode (Vn-1 / 2) in the immediately preceding region of the central region;
Comparing the magnitudes of the first and second flicker levels to determine what size difference there is between the first and second flicker levels;
If the second flicker level is lower than the first flicker level, scanning only the common voltage transfer areas of the second second flicker level to measure the flicker level of the common voltages of each area; And
And setting a common voltage having the lowest flicker level among the flicker levels to an optimal reference common voltage (Vcom). 제1항에 있어서, 상기 중앙영역에 해당하는 공통전압(Vn/2)에 대한 제1 플리커 레벨을 측정한 후, 이 중앙영역의 바로 이전 영역의 공통전압(Vn-1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 대신에, 이 중앙영역의 바로 다음 영역의 공통전압(Vn+1/2)을 스캐닝하여 이 공통전압에 대한 제2 플리커 레벨을 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사방법.The method of claim 1, wherein after measuring the first flicker level with respect to the common voltage Vn / 2 corresponding to the center region, the common voltage Vn-1 / 2 of the region immediately preceding the center region is scanned. Instead of measuring the second flicker level for this common voltage, scanning the common voltage (Vn + 1/2) in the region immediately following this center region to measure the second flicker level for this common voltage is further provided. Inspection method of a liquid crystal display device comprising a. 제2항에 있어서, 상기 제2 플리커 레벨이 상기 제1 플리커 레벨보다 낮은 경우에 낮은 제2 플리커 레벨의 공통전압의 다음 영역들에 대해서만 스캐닝을 진행하여 각 영역의 공통전압들에 대한 플리커 레벨을 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 액정표시장치의 검사방법.3. The method of claim 2, wherein when the second flicker level is lower than the first flicker level, only the next regions of the common voltage of the second second flicker level are scanned to determine the flicker level of the common voltages of each region. The method of claim 1, further comprising the step of measuring. 제1항에 있어서, 상기 임의의 공통전압은 적어도 5 영역 이상으로 분할하는 것을 액정표시장치의 검사방법.





The method of claim 1, wherein the arbitrary common voltages are divided into at least five regions or more.





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