KR20100122672A - Vision inspection apparatus and method using the same - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: The vision inspection apparatus and the method for inspecting vision report one Y-axis total reflector to two X-axis total reflector intervals. It runs to rearward and the check field of the inspection target object is a photograph of taken. CONSTITUTION: The stage part(10) clinches the inspection target object on the check position. The lighting part(20) locates on the top of the stage part. The lighting part offers the illumination to the inspection target object. The image of the inspection target object in which the camera part(40) is reflected to the photographing position control module is a photograph of taken.

Description

비전검사장치 및 비전검사방법{VISION INSPECTION APPARATUS AND METHOD USING THE SAME}VISION INSPECTION APPARATUS AND METHOD USING THE SAME}

본 발명은 비전검사장치 및 비전검사방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 단일의 Y축 전반사거울과 복수의 X축 전반사거울을 설치하고, 복수의 X축 전반사거울 사이에서 영상획득유닛이 전, 후진 구동되어 검사대상물의 영상정보를 확보함으로써, 면적이 큰 검사대상물의 비전검사를 용이하게 수행함은 물론, 검사시간 또한 단축시킬 수 있는 비전검사장치 및 비전검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a vision inspection apparatus and a vision inspection method, and more particularly, a single Y-axis total reflection mirror and a plurality of X-axis total reflection mirror is installed, the image acquisition unit is transferred between a plurality of X-axis total reflection mirror, By driving backward to secure the image information of the inspection object, the vision inspection apparatus and vision inspection method that can easily perform a vision inspection of a large inspection object, as well as shorten the inspection time.

일반적으로, 인쇄회로기판(PCB) 등에 표면실장부품을 조립하는 표면실장기술(SMT; Surface Mounting Technology)은 표면실장부품(SMD; Surface Mounting Device)을 소형화/집적화하는 기술과, 이러한 표면실장부품을 정밀하게 조립하기 위한 정밀조립장비의 개발 및 각종 조립장비를 운용하는 기술을 포함한다.In general, Surface Mounting Technology (SMT) for assembling surface-mounted components to a printed circuit board (PCB) or the like is a technique for miniaturizing / integrating surface-mounting components (SMD) and such surface-mounted components. Development of precision assembly equipment for precise assembly and technology for operating various assembly equipment.

여기서, 표면실장라인은 표면실장기와 비전검사장치와 같은 장비로 구성된다. 상기 표면실장기는 표면실장부품을 인쇄회로기판상에 실장하는 장비로서 Tape, Stick, Tray 형태로 공급되는 각종 표면실장부품을 부품공급기(Feeder)로부터 공급받아 인쇄회로기판상의 실장위치에 올려놓는 작업을 수행한다.Here, the surface mounting line is composed of equipment such as a surface mounter and a vision inspection device. The surface mounter is a device for mounting surface mount components on a printed circuit board. The surface mounter receives various surface mount components supplied in a tape, stick, and tray form from a feeder and places them on the mounting position on the printed circuit board. To perform.

그리고, 상기 비전검사장치는 표면실장부품의 납땜공정 완료전 또는 완료 후, 표면실장부품의 실장상태를 검사하며 검사결과에 따라 다음공정으로 인쇄회로기판을 이송시키게 된다.The vision inspection apparatus inspects the mounting state of the surface mount component before or after the soldering process of the surface mount component is completed and transfers the printed circuit board to the next process according to the inspection result.

이때, 기존의 비전검사방법은 컨베이어를 통해 납땜이 완료된 인쇄회로기판이 수평이송되면 위치조절장치에서 초기 위치를 조절하고, 조절이 완료된 후 조명등이 인쇄회로기판을 조사하면 카메라가 각 표면실장부품의 납땜 부위를 촬영한다.At this time, the conventional vision inspection method is to adjust the initial position in the position adjusting device when the printed circuit board is soldered to the horizontal transfer through the conveyor, and after the adjustment is completed, when the lamp illuminates the printed circuit board, the camera of each surface-mounted component Take a picture of the soldering area.

이후 비전검사장치는 납땜부위의 조사상태를 모니터로 출력하고 연산함으로써, 실장의 양호/불량을 검사하거나, 표면실장부품의 실장 유/무를 검사하게 된다.After that, the vision inspection apparatus outputs and calculates the irradiation state of the soldering part on the monitor and checks whether the mount is good or bad, or checks whether or not the surface mount component is mounted.

하지만, 종래 비전검사장치는 검사대상물인 인쇄회로기판상의 여러 표면실장부품을 촬영하기 위해 카메라를 고정하고 인쇄회로기판을 이동시키거나, 또 다르게는 인쇄회로기판을 고정하고 카메라를 이동시키는 방식을 적용함에 따라 각 구성요소의 구동을 위한 부하가 크고 진동이 심한 문제점이 있다.However, the conventional vision inspection apparatus uses a method of fixing a camera and moving a printed circuit board, or alternatively, fixing a printed circuit board and moving a camera to photograph various surface-mount parts on a printed circuit board as an inspection object. As a result, the load for driving each component is large and the vibration is severe.

또한, 기존의 비전검사장치는 카메라 또는 인쇄회로기판이 이동할 수 있는 공간을 확보해야하므로 장치 자체가 대형화되어 넓은 설치공간을 차지하는 문제점이 있다.In addition, the conventional vision inspection device has a problem that the camera itself or the printed circuit board to secure the space to move the device itself is large, occupy a large installation space.

이에, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 본 출원인에 의해 대한민국 특허등록출원 2003-66656호로 선 출원된 "전반사거울을 이용한 비전검사장치 및 비전검사방법"에서는 X축 전반사 거울과 Y축 전반사 거울을 회전시켜 촬영위치를 변경함에 따라 구동 토크와 진동을 최소화함은 물론 촬영위치의 변경작업을 수행할 수 있는 비전검사장치를 제안한 바 있다.Accordingly, in order to solve the above problems, in the "Vision inspection apparatus and vision inspection method using the total reflection mirror" filed by the applicant as a Korean patent registration application 2003-66656, the X-axis total reflection mirror and the Y-axis total reflection mirror are rotated. In order to minimize the driving torque and vibration as the shooting position is changed, a vision inspection apparatus capable of changing the shooting position has been proposed.

하지만, 상기한 선출원 발명의 비전검사장치는 인쇄회로기판과 같은 검사대상물이 X축 방향(길이방향)으로 큰 면적을 가지면 영상을 획득하는 카메라 렌즈의 초점심도를 벗어나는 부분에서 초점이 정확하게 맞혀지지 않는 문제점이 있다.However, the above-described vision inspection apparatus of the present invention does not focus accurately at a part beyond the depth of focus of the camera lens for obtaining an image when an inspection object such as a printed circuit board has a large area in the X-axis direction (length direction). There is a problem.

이렇게 카메라 렌즈의 초점이 정확하게 맞혀지지 않은 상태에서 검사공정을 진행하면, 정확한 검사가 어렵고 X축 전반사 거울의 수직중심에서 멀어질수록 검사대상물이 수직방향으로부터 기울어져 보이게 되므로 표면실장부품의 형상왜곡정도가 심화되는 문제점이 있다.If the inspection process is performed while the camera lens is not focused correctly, the inspection object will be inclined from the vertical direction as the inspection object becomes difficult and becomes far from the vertical center of the X-axis total reflection mirror. There is a problem that is deepened.

한편, 상기한 선출원 발명의 비전검사장치는 X축 방향은 물론 Y축 방향으로 면적이 넓은 검사대상물에 대해서도 정확한 영상을 획득할 수 없는 문제점이 있다.On the other hand, the vision inspection apparatus of the above-described invention has a problem that it is not possible to obtain an accurate image even for the inspection object having a large area in the Y-axis direction as well as the X-axis direction.

이와 같은 문제점을 해결하기 위해서는 필연적으로 검사대상물을 Y축 방향으로 움직이며 비전검사를 수행해야 한다.In order to solve this problem, it is necessary to move the inspection object in the Y-axis direction and perform vision inspection.

그리고, 실제 인쇄회로기판의 생산라인에 설치되는 선출원 발명의 비전검사장치는 검사대상물(인쇄회로기판)의 크기에 따라 Y축 방향(폭방향)으로 폭조절이 가능하도록 기판위치 제어모듈(컨베이어)을 구성하고 있다.In addition, the vision inspection apparatus of the pre-applied invention installed on the production line of the actual printed circuit board is a substrate position control module (conveyor) to enable width adjustment in the Y-axis direction (width direction) according to the size of the inspection object (printed circuit board). It consists of:

하지만, 상기와 같은 기판위치 제어모듈의 컨베이어를 통해 검사대상물(인쇄회로기판)을 Y축 방향(폭방향)으로 왕복이동시키며 비전검사를 수행할 경우, 컨베이어의 이동을 위하여 많은 시간이 소요되므로 그만큼 검사시간이 늘어나게 되어 검사효율이 저하되는 문제점이 있었으며, 상기 기판위치 제어모듈의 이동에 따라 장치에 진동이 발생하여 납땜결합되지 않은 표면실장부품이 검사대상물에서 이탈되는 문제점이 있었다.However, when performing the vision inspection by reciprocating the inspection object (printed circuit board) in the Y-axis direction (width direction) through the conveyor of the substrate position control module as described above, it takes much time for the movement of the conveyor. There was a problem in that the inspection time is reduced due to an increase in the inspection time, and vibration occurs in the device according to the movement of the substrate position control module, thereby causing a problem that the surface-mounted parts not soldered are separated from the inspection object.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창작된 것으로서, 본 발명의 목적은, 길이방향으로 연장형성되는 두 개의 X축 전반사거울 사이에 하나의 Y축 전반사거울을 전, 후방으로 구동시켜 검사대상물의 검사영역을 촬영함으로써, 장치의 구성요소를 최소화시키고 제어의 대상을 단순화시켜 장치의 구동시간 및 검사시간을 단축시킴과 동시에 검사면적을 증대시킬 수 있는 비전검사장치를 제공하는 데 있다.The present invention has been made to solve the above problems, an object of the present invention, by driving a total of one Y-axis total reflection mirror between two X-axis total reflection mirror extending in the longitudinal direction, the object to be inspected It is to provide a vision inspection apparatus capable of increasing the inspection area while reducing the driving time and inspection time of the apparatus by minimizing the components of the apparatus and simplifying the object of control by photographing the inspection region of the apparatus.

본 발명의 또 다른 목적은, 검사대상물을 고정시킨 상태에서 검사대상물의 영상정보를 획득함으로써, 검사대상물에 실장된 표면실장부품의 이탈을 방지할 수 있는 비전검사장치 및 비전검사방법을 제공하는 데 있다.Still another object of the present invention is to provide a vision inspection apparatus and a vision inspection method capable of preventing the detachment of surface-mounted parts mounted on an inspection object by acquiring image information of the inspection object while the inspection object is fixed. have.

상기 목적은, 본 발명에 따라, 부품 조립과정에서 조립 및 실장된 검사대상물을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 해당 이미지와 비교하여 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서, 상기 검사대상물을 검사위치에 고정시키는 스테이지부와; 상기 스테이지부의 상부에 위치하며, 상기 검사대상물에 조명을 제공하는 조명부와; 상기 조명부의 상부에 설치되며, X축 전반사거울이 설치된 X축 회전모터와 Y축 전반사거울이 설치된 Y축 회전모터를 구동시켜 상기 검사대상물 상의 원하는 위치로 상기 복수의 전반사거울의 반사각을 변경하는 촬영위치 제어모듈과; 상기 촬영위치 제어모듈에서 반사된 상기 검사대상물 의 영상을 촬영하는 카메라부와; 상기 카메라부에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부;를 포함하며, 상기 X축 전반사거울은 상기 Y축 전반사거울을 중심으로 좌, 우 대칭되는 제 1, 2 X축 전반사거울로 마련되며, 상기 Y축 전반사거울과 카메라부는 일정 간격을 유지하여 구성되는 영상획득유닛으로 마련되며, 상기 영상획득유닛은 구동수단에 의해 상기 제 1, 2 X축 전반사거울 사이로 전진 또는 후진 구동되는 비전검사장치에 의해 달성될 수 있다.The above object is, according to the present invention, the vision inspection device for determining the good or bad of the inspection object by comparing the photographed image with a previously inputted image after taking the inspection object assembled and mounted in the parts assembly process with a camera A stage portion for fixing the inspection object to an inspection position; An illumination unit positioned above the stage unit and providing illumination to the inspection object; The X-axis rotating motor installed in the upper part of the lighting unit, the X-axis total rotation mirror is installed and the Y-axis total rotation mirror is installed to change the reflection angle of the plurality of total reflection mirror to the desired position on the inspection object A position control module; A camera unit for photographing an image of the inspection object reflected by the photographing position control module; And a vision processor configured to read the image photographed by the camera unit to determine whether the inspection object is good or bad, wherein the X-axis total reflection mirrors are symmetrically left and right around the Y-axis total reflection mirrors. It is provided with an X-axis total reflection mirror, wherein the Y-axis total reflection mirror and the camera unit is provided as an image acquisition unit configured to maintain a predetermined interval, the image acquisition unit is advanced between the first and second X-axis total reflection mirror by a driving means. Or a vision inspection apparatus driven backward.

여기서, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울은 상기 영상획득유닛의 전, 후진 범위에 대응되는 길이로 일체 형성될 수 있다.Here, the first and second X-axis total reflection mirror may be integrally formed with a length corresponding to the front and rear ranges of the image acquisition unit.

여기서, 상기 영상획득유닛은 제 1 검사구역에서 상기 제 1 X축 전반사거울과 연동되어 상기 검사대상물의 제 1 검사영역에 대한 영상정보를 획득하며, 상기 제 2 X축 전반사거울과 연동되어 상기 검사대상물의 제 2 검사영역에 대한 영상정보를 획득할 수 있다. Here, the image acquisition unit is interlocked with the first X-axis total reflection mirror in the first inspection zone to obtain the image information for the first inspection area of the inspection object, the second X-axis total reflection mirror in conjunction with the inspection Image information regarding the second inspection area of the object may be obtained.

또한, 상기 영상획득유닛은 제 1 검사구역에서 전진구동되어 제 2 검사구역으로 이송되며, 상기 제 2 검사구역에서 상기 제 1 X축 전반사거울과 연동되어 상기 검사대상물의 제 3 검사영역에 대한 영상정보를 획득하며, 상기 제 2 X축 전반사거울과 연동되어 상기 검사대상물의 제 4 검사영역에 대한 영상정보를 획득할 수 있다.In addition, the image acquisition unit is driven forward in the first inspection zone and transferred to the second inspection zone, the image of the third inspection area of the inspection object in conjunction with the first X-axis total reflection mirror in the second inspection zone. Information is acquired, and the image information of the fourth inspection region of the inspection object may be acquired by interworking with the second X-axis total reflection mirror.

상기 목적은, 본 발명에 따라, 검사대상물을 스테이지부에 고정시키는 단계와; 상기 검사대상물의 검사영역을 다분할하고, 각 검사영역의 검사순서를 결정하 는 단계와; 상기 스테이지부의 상부에 설치된 조명부에서 상기 검사대상물에 조명을 공급하는 단계와; Y축 전반사거울과 카메라부를 포함하는 영상획득유닛을 구동수단에 의해 제 1 검사구역으로 이송시키는 단계와; 상기 Y축 전반사거울과 제 1 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 1 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와; 상기 Y축 전반사거울과 제 2 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 2 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와; 상기 영상획득유닛을 제 2 검사구역으로 이송시키는 단계와; 상기 Y축 전반사거울과 제 1 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 3 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와; 상기 Y축 전반사거울과 제 2 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 4 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와; 상기 영상획득유닛을 제 n(n은 3 이상의 정수) 검사구역으로 이송시키는 단계와; 상기 Y축 전반사거울과 제 1 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 2n-1 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와; 상기 Y축 전반사거울과 제 2 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 2n 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와; 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계와; 상기 변환된 영상정보와 미리 저장된 대상정보를 비교하여 상기 검사대상물의 양호, 불량을 판정하는 단계;를 포함하는 비전검사방법에 의해 달성될 수도 있다.The object is, according to the invention, the step of fixing the inspection object to the stage; Dividing an inspection area of the inspection object and determining an inspection order of each inspection area; Supplying illumination to the inspection object in an illumination unit installed above the stage unit; Transferring the image acquisition unit including the Y-axis total reflection mirror and the camera unit to the first inspection zone by the driving means; Obtaining image information of the first inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the first X axis; Obtaining image information of the second inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the second X axis; Transferring the image acquisition unit to a second inspection zone; Obtaining image information of a third inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the first X axis; Obtaining image information of a fourth inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the second X axis; Transferring the image acquisition unit to an nth (n is an integer greater than or equal to 3) inspection zone; Acquiring image information of the 2n-1 inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the first X axis; Acquiring image information of the second n-th inspection area of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the second axis y; Converting the obtained image information into digital data; Comparing the converted image information and pre-stored object information to determine the good or bad of the inspection object may be achieved by a vision inspection method comprising a.

여기서, 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계는 각 영상정보획득단계에서 수집된 영상정보를 병합하여 상기 검사대상물의 전체영역에 대한 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계일 수 있다.The converting of the acquired image information into digital data may include converting image information of the entire area of the inspection object into digital data by merging the image information collected in each image information acquisition step.

또한, 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계는 각 영상정보획득단계에서 수집된 영상정보를 독립적인 디지털 데이터로 변환하는 단계일 수 있다.The converting the acquired image information into digital data may be converting the image information collected in each image information acquisition step into independent digital data.

본 발명에 의해, 길이방향으로 연장형성되는 두 개의 X축 전반사거울 사이에 하나의 Y축 전반사거울을 전, 후방으로 구동시켜 검사대상물의 검사영역을 촬영함으로써, 장치의 구성요소를 최소화시키고 제어의 대상을 단순화시켜 장치의 구동시간 및 검사시간을 단축시킴과 동시에 검사면적을 증대시킬 수 있다.According to the present invention, one Y-axis total reflection mirror is driven forward and backward between two X-axis total reflection mirrors extending in the longitudinal direction to photograph the inspection area of the inspection object, thereby minimizing the components of the apparatus and controlling the By simplifying the object, the driving time and inspection time of the apparatus can be shortened, and the inspection area can be increased.

또한, 검사대상물을 고정시킨 상태에서 검사대상물의 영상정보를 획득함으로써, 검사대상물에 실장된 표면실장부품의 이탈을 방지할 수 있다.In addition, by acquiring the image information of the inspection object in a fixed state of the inspection object, it is possible to prevent the detachment of the surface-mounted parts mounted on the inspection object.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성을 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail the configuration of the present invention.

이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어는 사전적인 의미로 한정 해석되어서는 아니되며, 발명자는 자신의 발명을 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절히 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합되는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.Prior to this, terms used in the present specification and claims should not be construed in a dictionary meaning, and the inventors may properly define the concept of terms in order to explain their invention in the best way. It should be construed as meaning and concept consistent with the technical spirit of the present invention.

따라서, 본 명세서에 기재된 실시예 및 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 표현하는 것은 아니므로, 본 출원 시점에 있어 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 존재할 수 있음을 이해하여야 한다.Therefore, the configurations shown in the embodiments and drawings described herein are only preferred embodiments of the present invention, and do not represent all of the technical idea of the present invention, and various equivalents may be substituted for them at the time of the present application. It is to be understood that water and variations may exist.

본 발명의 비전검사장치는 표면실장라인에서 표면실장작업을 마친 인쇄회로기판의 표면실장부품을 검사할 경우, 선행장비의 컨베이어를 통해 다음 공정으로 이동되기 이전에 비전검사를 실시할 수 있도록 설치된다.Vision inspection apparatus of the present invention is installed to perform the vision inspection before moving to the next process through the conveyor of the preceding equipment, when inspecting the surface-mounted parts of the printed circuit board after the surface mounting work in the surface mounting line .

이와 같은 비전검사장치는 선, 후행 장비의 컨베이어와 컨베이어 사이에 형성되는 공간에 배치되는 방식으로 설치될 수 있고, 선, 후행장비와 연계시키지 않고 단독 테이블 형태로도 사용될 수 있다.Such vision inspection apparatus can be installed in a manner that is arranged in the space formed between the conveyor of the line, trailing equipment and the conveyor, can also be used in the form of a single table without being connected to the line, trailing equipment.

도 1 은 본 발명에 따른 비전검사장치의 구성을 개략적으로 나타낸 사시도이며, 도 2 는 본 발명에 따른 비전검사장치의 평면도이다.1 is a perspective view schematically showing the configuration of a vision inspection apparatus according to the present invention, Figure 2 is a plan view of a vision inspection apparatus according to the present invention.

도 1 내지 도 2 를 참조하면, 본 발명에 따른 비전검사장치는, 부품 조립과정에서 조립 또는 실장된 검사대상물(5)을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 검사대상물(5)의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서, 상기 검사대상물(5)을 검사위치에 고정시키는 스테이지부(10)와; 상기 스테이지부(10)의 상부에 위치하며, 상기 검사대상물(5)에 조명을 제공하는 조명부(20)와; 상기 조명부(20)의 상부에 설치되며, X축 전반사거울(32)이 설치된 X축 회전모터(34)와 Y축 전반사거울(36)이 설치된 Y축 회전모터(38)를 구동시켜 상기 검사대상물(5) 상의 원하는 위치로 상기 복수의 전반사거울의 반사각을 변경하는 촬영위치 제어모듈(30)과; 상기 촬영위치 제어모듈(30)에서 반사된 상기 검사대상물(5)의 영상을 촬영하는 카메라부(40)와; 상기 카메라부(40)에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물(5)의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부(50);를 포함하며, 상기 X축 전반사거울(32)은 상기 Y축 전반사거울(36)을 중심으로 좌, 우 대칭되는 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)로 마련되며, 상기 Y축 전반사거울(36)과 카메라부(40)는 일정 간격을 유지하여 구성되는 영상획득유닛(60)으로 마련되며, 상기 영상획득유닛(60)은 구동수단(70)에 의해 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b) 사이로 전진 또는 후진 구동될 수 있다.1 to 2, the vision inspection apparatus according to the present invention, after taking the inspection object (5) assembled or mounted during the parts assembly process by comparing the photographed image with the previously input target image inspection A vision inspection apparatus for determining good or bad of an object (5), comprising: a stage (10) for fixing the inspection object (5) to an inspection position; An illumination unit 20 positioned above the stage unit 10 and providing illumination to the inspection object 5; The inspection object is installed on the lighting unit 20 by driving the X-axis rotation motor 34 and the Y-axis total reflection mirror 36, the X-axis total reflection mirror 32 is installed, and the Y-axis rotation motor 38 is installed. (5) a photographing position control module 30 for changing the reflection angles of the plurality of total reflection mirrors to a desired position on the table; A camera unit 40 for capturing an image of the inspection object 5 reflected by the photographing position control module 30; And a vision processor 50 for reading the image photographed by the camera unit 40 to determine whether the inspection object 5 is good or bad, wherein the X-axis total reflection mirror 32 is the Y-axis total reflection mirror. The first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b which are symmetrical left and right about 36 are provided, and the Y-axis total reflection mirror 36 and the camera unit 40 are configured to maintain a predetermined interval. An image acquisition unit 60 may be provided, and the image acquisition unit 60 may be driven forward or backward by the driving means 70 between the first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b.

여기서, 상기 스테이지부(10)는 검사될 검사대상물(5)이 착좌되는 공간을 제공하는 구성요소로서, 상기 검사대상물(5)의 위치를 조절 및 고정시키기 위한 위치조절부(미도시) 및 고정부(미도시)를 포함할 수 있다.Here, the stage unit 10 is a component that provides a space in which the inspected object 5 to be inspected is seated, and a position adjusting unit (not shown) and a high position for adjusting and fixing the position of the inspected object 5. May include a government (not shown).

여기서, 상기 스테이지부(10)의 상부에는 조명부(20)가 설치된다.Here, the lighting unit 20 is installed above the stage unit 10.

상기 조명부(20)는 상기 검사대상물(5)의 정확한 영상정보를 확보하기 위하여 검사대상물(5)에 조명을 제공하는 구성요소로써, 중앙을 관통하는 시야확보부(미도시)의 외측면에 복수의 조명(미도시)이 배열설치되어 상기 검사대상물(5)을 사방에서 조명하도록 마련될 수 있다.The illumination unit 20 is a component that provides illumination to the inspection object 5 in order to secure accurate image information of the inspection object 5, and a plurality of the outer surface of the field of view securing unit (not shown) passing through the center. The illumination (not shown) of the arrangement may be provided to illuminate the inspection object (5) from all directions.

비록, 도 1 에서 개시된 조명부(20)는 본 발명의 구성을 간소하게 표현하기 위하여 개략적으로 도시되었지만, 실제 비전검사장치에서는, 전술한 구성요소들이 포함되어 상기 스테이지부(10)에 근접설치됨을 밝혀둔다.Although the lighting unit 20 disclosed in FIG. 1 is schematically illustrated in order to simplify the configuration of the present invention, in the actual vision inspection apparatus, it is found that the above-described components are included and installed close to the stage unit 10. Put it.

여기서, 상기 조명부(20)는 상기 스테이지부(10)에 근접설치된 고정형 직접조사방식으로 마련됨으로써, 조명원의 광량감소 및 영상의 광량감소를 최소화할 수 있으며, 조명원과 검사대상물(5)과의 거리가 멀어서 발생하는 광량의 감소를 개선할 수 있다.Here, the lighting unit 20 is provided in a fixed direct irradiation method installed in close proximity to the stage unit 10, it is possible to minimize the amount of light of the illumination source and the amount of light reduction of the image, and the illumination source and the inspection object (5) and It is possible to improve the reduction of the amount of light generated due to the distance of.

또한, 상기 조명부(20)는 상기 검사대상물(5)의 상부 사방에서 조명을 제공함으로써, 검사대상물(5)에 실장된 부품에 따른 그림자 발생을 방지할 수 있다.In addition, the lighting unit 20 may prevent the occurrence of shadows due to the parts mounted on the inspection object 5 by providing illumination from the upper sides of the inspection object 5.

한편, 상기 촬영위치 제어모듈(30)은 상기 조명부(20)의 상부에 설치된다.On the other hand, the photographing position control module 30 is installed on the upper portion of the lighting unit 20.

상기 촬영위치 제어모듈(30)은 X축 전반사거울(32)이 설치된 X축 회전모터(34)와 Y축 전반사거울(36)이 설치된 Y축 회전모터(38)를 구동시켜 상기 검사대상물(5) 상의 원하는 위치로 상기 복수의 전반사거울의 반사각을 변경시키는 역할을 수행한다.The photographing position control module 30 drives the X-axis rotation motor 34 in which the X-axis total reflection mirror 32 is installed and the Y-axis rotation motor 38 in which the Y-axis total reflection mirror 36 is installed. It serves to change the reflection angle of the plurality of total reflection mirror to the desired position on the).

또한, 상기 촬영위치 제어모듈(30)은 상기 X축 회전모터(34)와 Y축 회전모터(38)의 제어를 담당하며, 제어부(미도시)에 연결되어 상기 X축 전반사거울(32)과 Y축 전반사거울(36)의 회전각을 제어할 수 있도록 마련될 수 있다.In addition, the photographing position control module 30 is responsible for the control of the X-axis rotation motor 34 and the Y-axis rotation motor 38, and is connected to a control unit (not shown) and the X-axis total reflection mirror 32 It may be provided to control the rotation angle of the Y-axis total reflection mirror (36).

상기 카메라부(40)는 상기 X축 전반사거울(32)과 Y축 전반사거울(36)에 의해 반사된 검사대상물(5)의 영상정보를 촬영하기 위한 구성요소로써, 바람직하게는, CCD(charge coupled device)카메라로 마련될 수 있다.The camera unit 40 is a component for capturing image information of the inspection object 5 reflected by the X-axis total reflection mirror 32 and the Y-axis total reflection mirror 36, and preferably, a CCD (charge) coupled device).

여기서, 상기 카메라부(40)와 상기 Y축 전반사거울(36) 및 Y축 회전모터(38)는 일정 간격을 유지하여 구성되는 영상획득유닛(60)으로 마련될 수 있으며, 상기 영상획득유닛(60)은 구동수단(70)에 의해 전진 또는 후진 구동되도록 마련될 수 있다.Here, the camera unit 40, the Y-axis total reflection mirror 36 and the Y-axis rotation motor 38 may be provided as an image acquisition unit 60 is configured to maintain a predetermined interval, the image acquisition unit ( 60 may be provided to be driven forward or backward by the drive means (70).

여기서, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)은, 도 1 내지 2 에서와 같 이, 상기 영상획득유닛(60)의 전, 후진 범위에 대응되는 길이로 연장되어 일체 형성될 수 있다.Here, the first and second X-axis total reflection mirror (32a, 32b), as shown in Figure 1 to 2, can be formed integrally extended to a length corresponding to the front, reverse range of the image acquisition unit 60. have.

여기서, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)이 연장 형성됨으로써, 선택에 따라 상기 영상획득유닛(60)은 각 검사영역(a, b, c, d) 경계부분 및 정밀한 영상정보가 요구되는 부분의 영상정보를 획득할 수 있다.Here, the first and second X-axis total reflection mirrors (32a, 32b) is formed to extend, so that the image acquisition unit 60, depending on the selection, the boundary portion of each inspection area (a, b, c, d) and precise image information Image information of the required portion can be obtained.

즉, 도 1의, 제 1, 2 검사영역(a, b)과 제 3, 4 검사영역(c, d)의 경계부분의 정밀한 영상정보가 요구될 경우, 상기 영상획득유닛(60)은 제 1 검사구역(A)과 제 2 검사구역(B)의 중간 위치에서 정지된 후, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)과 연동하여 상기 경계부분에 대한 영상정보를 획득할 수도 있다.That is, when the precise image information of the boundary between the first and second inspection areas (a, b) and the third and fourth inspection areas (c, d) of FIG. After stopping at an intermediate position between the first inspection zone A and the second inspection zone B, the image information of the boundary portion may be acquired by interlocking with the first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b. have.

또한, 상기 검사영역의 확장이 요구될 경우(제 1, 2 X축 전반사거울의 길이 이내에서), 상기 영상획득유닛(60)은 제 2 검사구역(B)에서 제 n 검사구역(n은 3이상의 정수)으로 이송되어 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)과의 연동으로 제 2n-1, 2n 검사영역의 영상정보를 획득할 수 있다.In addition, when expansion of the inspection area is required (within the length of the first and second X-axis total reflection mirror), the image acquisition unit 60 is the second inspection area (B) in the nth inspection area (n is 3 And the image information of the 2n-1 and 2n inspection areas may be acquired by interworking with the first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b.

여기서, 상기 영상획득유닛(60)은 구동에 따른 비전검사장치로의 진동전달을 방지하기 위하여 진동방지부(미도시)를 포함할 수 있으며, 진동전달을 원천적으로 방지하기 위하여 상기 스테이지부(10)와 독립적으로 설치될 수도 있다.Here, the image acquisition unit 60 may include a vibration preventing unit (not shown) to prevent vibration transmission to the vision inspection apparatus according to the driving, and the stage unit 10 to prevent vibration transmission at its source. Can be installed independently.

또한, 상기 영상획득유닛(60)은, 도 1 내지 2 에서와 같이, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)의 사이에서 전진 또는 후진 구동될 수 있다.The image acquisition unit 60 may be driven forward or backward between the first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b, as shown in FIGS.

상기 영상획득유닛(60)은, 도 2 에서와 같이, 제 1 검사구역(A)에서 상기 제 1 X축 전반사거울(32a)과 연동되어 상기 검사대상물(5)의 제 1 검사영역(a)에 대한 영상정보를 획득하며, 그 이후, 상기 제 2 X축 전반사거울(32b)과 연동되어 상기 검사대상물(5)의 제 2 검사영역(b)에 대한 영상정보를 획득할 수 있다.As shown in FIG. 2, the image acquisition unit 60 is interlocked with the first X-axis total reflection mirror 32a in the first inspection zone A, and thus, the first inspection region a of the inspection object 5. Image information about the second X-axis total reflection mirror 32b may be acquired in conjunction with the second X-axis total reflection mirror 32b.

즉, 상기 영상획득유닛(60)은 제 1 검사구역(A)에서 정지되고, 상기 제 1 X축 전반사거울(32a)과 Y축 전반사거울(36)의 회전각이 각 구동모터의 제어로써 설정되며, 상기 각 거울에 반사된 검사대상물(5)의 제 1 검사영역(a)의 영상정보가 카메라부(40)에 의해 촬영된다.That is, the image acquisition unit 60 is stopped in the first inspection zone A, and the rotation angles of the first X-axis total reflection mirror 32a and the Y-axis total reflection mirror 36 are set by the control of each driving motor. The image information of the first inspection region a of the inspection object 5 reflected by each mirror is captured by the camera unit 40.

그 이후, 상기 Y축 전반사거울(36)은 제 2 검사영역(b)의 영상정보를 획득하기 위하여, 반대방향으로 회전되며, 상기 제 2 X축 전반사거울(32b)과의 회전각 연동으로 상기 제 2 검사영역(b)의 영상정보가 상기 카메라부(40)에 의해 촬영된다.Thereafter, the Y-axis total reflection mirror 36 is rotated in the opposite direction in order to obtain the image information of the second inspection area (b), by the rotation angle interlocking with the second X-axis total reflection mirror 32b Image information of the second inspection area b is captured by the camera unit 40.

상기 제 1, 2 검사영역(a, b)에 대한 영상정보를 획득한 후, 상기 영상획득유닛(60)은 제 1 검사구역(A)에서 전진구동되어 제 2 검사구역(B)으로 이송된다.After acquiring image information for the first and second inspection areas a and b, the image acquisition unit 60 is driven forward in the first inspection area A and transferred to the second inspection area B. FIG. .

또한, 상기 영상획득유닛(60)은 상기 제 2 검사구역(B)에서 상기 제 1 X축 전반사거울(32a)과 연동되어 상기 검사대상물(5)의 제 3 검사영역(c)에 대한 영상정보를 획득하며, 그 이후, 상기 제 2 X축 전반사거울(32b)과 연동되어 상기 검사대상물(5)의 제 4 검사영역(d)에 대한 영상정보를 획득할 수 있다.In addition, the image acquisition unit 60 is linked to the first X-axis total reflection mirror 32a in the second inspection zone (B), the image information for the third inspection area (c) of the inspection object (5) After that, it may be linked with the second X-axis total reflection mirror 32b to acquire image information about the fourth inspection region d of the inspection object 5.

즉, 상기 영상획득유닛(60)은 제 2 검사구역(B)에서 정지되고, 상기 제 1 X축 전반사거울(32a)과 Y축 전반사거울(36)의 회전각이 각 구동모터의 제어로써 설정되며, 상기 각 거울에 반사된 검사대상물(5)의 제 3 검사영역(c)의 영상정보가 카메라부(40)에 의해 촬영된다.That is, the image acquisition unit 60 is stopped in the second inspection zone B, and the rotation angles of the first X-axis total reflection mirror 32a and the Y-axis total reflection mirror 36 are set by the control of each driving motor. The image information of the third inspection region c of the inspection object 5 reflected by each mirror is photographed by the camera unit 40.

그 이후, 상기 Y축 전반사거울(36)은 제 4 검사영역(d)의 영상정보를 획득하 기 위하여, 반대방향으로 회전되며, 상기 제 2 X축 전반사거울(32b)과의 회전각 연동으로 상기 제 4 검사영역(b)의 영상정보가 상기 카메라부(40)에 의해 촬영된다.Thereafter, the Y-axis total reflection mirror 36 is rotated in the opposite direction in order to obtain the image information of the fourth inspection area (d), in conjunction with the rotation angle of the second X-axis total reflection mirror 32b Image information of the fourth inspection area b is captured by the camera unit 40.

상기 기재한 검사대상물(5) 검사영역별 영상정보의 획득은 상기 영상획득유닛(60)의 추가적인 이송으로 검사영역이 확장될 수 있다.Acquisition of the image information for each inspection region of the inspection object 5 described above may extend the inspection region by additional transfer of the image acquisition unit 60.

즉, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)의 길이 이내에서, 상기 영상획득유닛(60)은 제 2 검사구역(B)에서 제 n 검사구역(n은 3이상의 정수)으로 이송되어 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)과의 연동으로 제 2n-1, 2n 검사영역의 영상정보를 획득할 수도 있다.That is, within the lengths of the first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b, the image acquisition unit 60 is transferred from the second inspection zone B to the nth inspection zone (n is an integer of 3 or more). The image information of the 2n-1 and 2n inspection areas may be obtained by interworking with the first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b.

한편, 상기 비전처리부(50)는 획득된 검사대상물(5)의 영상정보를 미리 입력된 대상 이미지와 비교하여 상기 검사대상물(5)의 양호 또는 불량을 판단한다.On the other hand, the vision processor 50 determines the good or bad of the inspection object 5 by comparing the acquired image information of the inspection object 5 with a previously input target image.

여기서, 상기 비전처리부(50)는 상기 조명부(20), 촬영위치 제어모듈(30), 영상획득유닛(60), 구동수단(70) 등의 구성요소를 제어하는 제어부에 포함될 수 있다.Here, the vision processing unit 50 may be included in a control unit for controlling components such as the lighting unit 20, the photographing position control module 30, the image acquisition unit 60, the driving means 70, and the like.

여기서, 상기 제어부는 시스템 제어 프로그램에 따라 촬영위치제어와 촬영된 영상의 처리와 조명제어 등의 물리적인 제어를 담당함은 물론 검사작업수행 및 데이터 연산 작업을 수행하며, 작업내용 및 검사결과를 모니터에 출력하기 위한 출력장치 제어와 작업자가 설정 및 제반사항을 입력할 수 있는 입력장치 제어 등 비전검사장치의 총괄적인 제어를 담당한다.Here, the controller is responsible for physical control such as photographing position control, processing of photographed images and lighting control according to a system control program, performing inspection work and data calculation work, and monitoring work contents and inspection results. It is in charge of overall control of vision inspection equipment such as output device control for outputting to the output and input device control for the operator to input the settings and various items.

이하, 본 발명에 따른 비전검사방법을 도 3 을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the vision inspection method according to the present invention will be described in detail with reference to FIG.

또한, 본 발명에 따른 비전검사방법은, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)의 길이 이내에서 검사구역을 n(n은 3 이상의 정수) 개로 확장하고 각 검사영역별 영상정보를 획득하는 것이지만, 이하에서는 설명의 중복을 피하기 위하여 검사구역을 2 개로 한정하여 각 검사영역별 영상정보를 획득하는 비전검사방법을 기재한다.In addition, in the vision inspection method according to the present invention, within the lengths of the first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b, the inspection area is extended to n (n is an integer of 3 or more) and the image information for each inspection area is expanded. Although obtaining, the following describes a vision inspection method for acquiring image information for each inspection area by limiting two inspection areas to avoid duplication of explanation.

도 3 은 본 발명에 따른 비전검사방법의 순서도이다.3 is a flowchart of a vision inspection method according to the present invention.

먼저, 검사대상물(5)을 스테이지부(10)에 고정(S10)시킨 후, 상기 검사대상물(5)의 검사영역을 다분할하고, 각 검사영역의 검사순서를 결정(S20)한다.First, after fixing the inspection object 5 to the stage unit 10 (S10), the inspection area of the inspection object 5 is divided into several, and the inspection order of each inspection area is determined (S20).

여기서, 다분할되는 검사영역은 검사대상물이 사각형태의 인쇄회로기판일 경우, 영상획득유닛(60)의 검사위치, Y축 전반사거울(36) 및 X축 전반사거울(32)의 회전각도를 다양한 설정으로 제어하여 여러 형태로 분할될 수 있으나, 본 발명의 명료한 이해를 위해 이하 설명에서는, 도 1 에서와 같이, 각 검사영역(a, b, c, d)의 면적을 4분할하여 각 검사영역의 검사를 수행하는 것으로 기재한다.Here, the inspection area that is divided into a plurality of inspection areas when the inspection object is a rectangular printed circuit board, the inspection position of the image acquisition unit 60, the Y-axis total reflection mirror 36 and the rotation angle of the X-axis total reflection mirror 32 Although it can be divided into various forms by controlling by setting, in the following description for clarity of the present invention, as shown in Figure 1, each inspection area (a, b, c, d) divided into four areas each inspection The inspection of the area is described.

다음, 상기 스테이지부(10)의 상부에 설치된 조명부(20)에서 상기 검사대상물(5)에 조명을 공급(S30)한다.Next, the lighting unit 20 installed on the stage 10 to supply the illumination to the inspection object (5) (S30).

다음, Y축 전반사거울(36)과 카메라부(40)를 포함하는 영상획득유닛(60)을 구동수단(70)에 의해 제 1 검사구역(A)으로 이송(S40)시킨다.Next, the image acquisition unit 60 including the Y-axis total reflection mirror 36 and the camera unit 40 is transferred to the first inspection zone A by the driving means 70 (S40).

여기서, 상기 제 1 검사구역(A)은 상기 영상획득유닛(60)이 최대로 후진되었을 경우의 위치로 설정되는 것이 바람직하지만, 검사대상물(5)의 면적에 따라 제 1 검사구역(A)은 변경설정이 가능하다.Here, the first inspection zone (A) is preferably set to a position when the image acquisition unit (60) has been reversed to the maximum, the first inspection zone (A) according to the area of the inspection object (5) Change setting is possible.

다음, 상기 Y축 전반사거울(36)과 제 1 X축 전반사거울(32a)의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물(5)의 제 1 검사영역(a)에 대한 영상정보를 획득(S50)한다.Next, by adjusting the rotation angle of the total Y-axis mirror 36 and the first total X-axis mirror (32a) to obtain the image information for the first inspection area (a) of the inspection object (5) (S50). .

여기서, 상기 Y축 전반사거울(36)과 제 1 X축 전반사거울(32a)의 회전은 촬영위치 제어모듈(30)의 Y축 회전모터(38) 및 제 1 X축 회전모터(34a)의 제어에 따라 수행된다.Here, the Y-axis total reflection mirror 36 and the first X-axis total reflection mirror 32a is rotated to control the Y-axis rotation motor 38 and the first X-axis rotation motor 34a of the photographing position control module 30. Is performed according to.

다음, 상기 Y축 전반사거울(36)과 제 2 X축 전반사거울(32b)의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물(5)의 제 2 검사영역(b)에 대한 영상정보를 획득(S60)한다.Next, by adjusting the rotation angle of the total Y-axis mirror 36 and the second total X-axis mirror 32b to obtain the image information for the second inspection area (b) of the inspection object (5) (S60). .

여기서, 상기 Y축 전반사거울(36)과 제 2 X축 전반사거울(32b)의 회전은 촬영위치 제어모듈(30)의 Y축 회전모터(38) 및 제 2 X축 회전모터(34b)의 제어에 따라 수행된다.Here, the rotation of the total Y-axis mirror 36 and the second total X-axis mirror 32b controls the Y-axis rotation motor 38 and the second X-axis rotation motor 34b of the photographing position control module 30. Is performed according to.

다음, 상기 영상획득유닛(60)을 제 2 검사구역(B)으로 이송(S70)시킨다.Next, the image acquisition unit 60 is transferred to the second inspection area B (S70).

여기서, 상기 영상획득유닛(60)은 구동수단에 의해 상기 제 2 검사구역(B)으로 이송되며, 이송 중 Y축 전반사거울(36) 및 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)의 회전을 초기 상태로 환원시킬 수 있지만, 상기 Y축 전반사거울(36) 및 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)의 회전은 검사속도의 향상을 위해 여러 형태로 설정될 수 있다.Here, the image acquisition unit 60 is transferred to the second inspection zone (B) by a driving means, and the Y axis total reflection mirror 36 and the first and second X axis total reflection mirrors 32a and 32b of the transfer unit. Although the rotation can be reduced to an initial state, the rotation of the Y-axis total reflection mirror 36 and the first and second X-axis total reflection mirrors 32a and 32b may be set in various forms to improve the inspection speed.

다음, 상기 Y축 전반사거울(36)과 제 1 X축 전반사거울(32a)의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물(5)의 제 3 검사영역(c)에 대한 영상정보를 획득(S80)한다.Next, by adjusting the rotation angle of the total Y-axis mirror 36 and the first total X-axis mirror 32a to obtain the image information for the third inspection region (c) of the inspection object (5) (S80). .

여기서, 상기 Y축 전반사거울(36)과 제 1 X축 전반사거울(32a)의 회전은 촬영위치 제어모듈(30)의 Y축 회전모터(38) 및 제 1 X축 회전모터(34a)의 제어에 따라 수행된다.Here, the Y-axis total reflection mirror 36 and the first X-axis total reflection mirror 32a is rotated to control the Y-axis rotation motor 38 and the first X-axis rotation motor 34a of the photographing position control module 30. Is performed according to.

다음, 상기 Y축 전반사거울(36)과 제 2 X축 전반사거울(32b)의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물(5)의 제 4 검사영역(d)에 대한 영상정보를 획득(S90)한다.Next, by adjusting the rotation angle of the total reflection mirror (36) and the total reflection mirror 2 (32b) to obtain the image information for the fourth inspection area (d) of the inspection object (5) (S90). .

여기서, 상기 Y축 전반사거울(36)과 제 2 X축 전반사거울(32b)의 회전은 촬영위치 제어모듈(30)의 Y축 회전모터(38) 및 제 2 X축 회전모터(34b)의 제어에 따라 수행된다.Here, the rotation of the total Y-axis mirror 36 and the second total X-axis mirror 32b controls the Y-axis rotation motor 38 and the second X-axis rotation motor 34b of the photographing position control module 30. Is performed according to.

또한, 전술한 각 검사영역의 검사는 명료한 설명을 위해 a-b-c-d 순서로 설명되었지만, 검사시간을 단축시키기 위한 a-b-d-c 또는 b-a-c-d 등 여러 검사순서에 의해 수행될 수 있다.In addition, the above-described inspection of each inspection area is described in a-b-c-d order for clarity of explanation, but may be performed by various inspection procedures such as a-b-d-c or b-a-c-d to shorten the inspection time.

또한, 상기 영상획득유닛(60)은 더욱 정밀한 검사대상물의 영상획득을 위하여, 상기 제 1 검사구역(A)과 제 2 검사구역(B) 사이의 임의의 검사구역을 설정한 후, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울(32a, 32b)과의 연동으로 각 검사영역의 경계부분 및 명확한 촬영이 요구되는 부분의 영상정보를 획득할 수도 있다.In addition, the image acquisition unit 60 sets an arbitrary inspection zone between the first inspection zone A and the second inspection zone B to acquire an image of the inspection object more precisely. In addition, the image information of the boundary portion of each inspection area and the portion where clear imaging is required may be obtained by interworking with the 2 X-axis total reflection mirrors 32a and 32b.

다음, 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환(S100)한다.Next, the obtained image information is converted into digital data (S100).

여기서, 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계(S100)는 각 영상정보획득단계(S50, S60, S80, S90)에서 수집된 영상정보를 병합하여 상기 검사대상물(5)의 전체영역에 대한 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계일 수 있다.Here, the step (S100) of converting the acquired image information into digital data merges the image information collected in each image information acquisition step (S50, S60, S80, S90) to the entire area of the inspection object (5). The image information may be converted into digital data.

이 경우, 상기 수집되고 병합된 영상정보는 검사대상물(5)의 전체영역의 영상정보로 마련됨으로써, 상기 비전처리부(50)에서 양호 또는 불량이 판단되는 처리 시간이 감소될 수 있다.In this case, the collected and merged image information may be provided as image information of the entire area of the inspection object 5, so that the processing time for determining the good or bad in the vision processing unit 50 may be reduced.

또한, 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계(S100)는 각 영상정보획득단계(S50, S60, S80, S90)에서 수집된 영상정보를 독립적인 디지털 데이터로 변환하는 단계일 수도 있다.In addition, the step (S100) of converting the obtained image information into digital data may be a step of converting the image information collected in each image information acquisition step (S50, S60, S80, S90) into independent digital data.

여기서, 상기 수집된 영상정보를 독립적인 디지털 데이터로 변환하는 단계는 검사대상물(5) 상의 실장되는 부품의 크기가 작거나 미세하여 정밀한 검사가 필요한 경우에 채택될 수 있다.In this case, the step of converting the collected image information into independent digital data may be adopted when a precise inspection is necessary because the size of a component mounted on the inspection object 5 is small or fine.

또한, 검사대상물(5)에 실장되는 부품의 크기나 위치에 따라, 검사대상물(5)의 일부영역은 병합 처리하고, 또 다른 일부영역은 독립 처리하여 비전처리부(50)에서 양호 또는 불량에 대한 판정을 내리도록 설정될 수도 있다.In addition, according to the size or position of the parts mounted on the inspection object 5, a partial area of the inspection object 5 is merged, and another partial area is independently processed to determine whether the vision processor 50 is good or bad. It may be set to make a decision.

다음, 상기 변환된 영상정보와 미리 저장된 대상정보를 비교하여 상기 검사대상물(5)의 양호, 불량을 판정(S110)한다.Next, by comparing the converted image information and the pre-stored target information to determine the good or bad of the inspection object (5) (S110).

다음, 검사대상물(5)을 교체한 후, 상기 과정을 반복 수행한다.Next, after replacing the inspection object (5), the process is repeated.

전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 비전검사장치는, 길이방향으로 연장형성 되는 두 개의 X축 전반사거울 사이에 하나의 Y축 전반사거울을 전, 후방으로 구동시켜 검사대상물의 검사영역을 촬영함으로써, 장치의 구성요소를 최소화시키고 제어의 대상을 단순화시켜 장치의 구동시간 및 검사시간을 단축시킴과 동시에 검사면적을 증대시킬 수 있으며, 검사대상물을 고정시킨 상태에서 검사대상물의 영상정보를 획득함으로써, 검사대상물에 실장된 표면실장부품의 이탈을 방지할 수 있다.As described above, the vision inspection apparatus according to the present invention, by driving one Y-axis total reflection mirror front and rear between two X-axis total reflection mirror extending in the longitudinal direction, by photographing the inspection area of the inspection object, By minimizing the components of the device and simplifying the object of control, it is possible to shorten the driving time and the inspection time of the device and increase the inspection area, and acquire the image information of the inspection object with the inspection object fixed. The detachment of the surface mount component mounted on the object can be prevented.

이상, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명의 기술적 사상은 이러한 것에 한정되지 않으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해, 본 발명의 기술적 사상과 하기 될 특허청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형 실시가 가능할 것이다.As mentioned above, although the present invention has been described by way of limited embodiments and drawings, the technical idea of the present invention is not limited thereto, and a person having ordinary skill in the art to which the present invention pertains, Various modifications and variations may be made without departing from the scope of the appended claims.

첨부의 하기 도면들은, 전술한 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술적 사상을 이해시키기 위한 것이므로, 본 발명은 하기 도면에 도시된 사항에 한정 해석되어서는 아니 된다.Since the accompanying drawings are for understanding the technical spirit of the present invention together with the detailed description of the above-described invention, the present invention should not be construed as limited to the matters shown in the following drawings.

도 1 은 본 발명에 따른 비전검사장치의 구성을 개략적으로 나타낸 사시도이며,1 is a perspective view schematically showing the configuration of a vision inspection apparatus according to the present invention,

도 2 는 본 발명에 따른 비전검사장치의 평면도이며,2 is a plan view of a vision inspection apparatus according to the present invention,

도 3 은 본 발명에 따른 비전검사방법의 순서도이다.3 is a flowchart of a vision inspection method according to the present invention.

*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

10 : 스테이지부 20 : 조명부10: stage unit 20: lighting unit

30 : 촬영위치 제어모듈 40 : 카메라부30: shooting position control module 40: camera unit

50 : 비전처리부 60 : 영상획득유닛50: vision processing unit 60: image acquisition unit

70 : 구동수단70: drive means

Claims (7)

부품 조립과정에서 조립 및 실장된 검사대상물을 카메라로 촬영한 후 촬영된 이미지를 미리 입력된 해당 이미지와 비교하여 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하기 위한 비전검사장치로서,As a vision inspection device for determining the good or bad of the inspection object by taking a photograph of the inspection object assembled and mounted in the assembly process of the part with a camera and comparing the photographed image with a corresponding input image. 상기 검사대상물을 검사위치에 고정시키는 스테이지부와;A stage unit which fixes the inspection object to an inspection position; 상기 스테이지부의 상부에 위치하며, 상기 검사대상물에 조명을 제공하는 조명부와;An illumination unit positioned above the stage unit and providing illumination to the inspection object; 상기 조명부의 상부에 설치되며, X축 전반사거울이 설치된 X축 회전모터와 Y축 전반사거울이 설치된 Y축 회전모터를 구동시켜 상기 검사대상물 상의 원하는 위치로 상기 복수의 전반사거울의 반사각을 변경하는 촬영위치 제어모듈과;The X-axis rotating motor installed in the upper part of the lighting unit, the X-axis total rotation mirror is installed and the Y-axis total rotation mirror is installed to change the reflection angle of the plurality of total reflection mirror to the desired position on the inspection object A position control module; 상기 촬영위치 제어모듈에서 반사된 상기 검사대상물의 영상을 촬영하는 카메라부와;A camera unit for photographing an image of the inspection object reflected by the photographing position control module; 상기 카메라부에서 촬영된 영상을 판독하여 상기 검사대상물의 양호 또는 불량을 판별하는 비전처리부;를 포함하며,And a vision processor configured to read the image photographed by the camera unit to determine whether the inspection object is good or bad. 상기 X축 전반사거울은 상기 Y축 전반사거울을 중심으로 좌, 우 대칭되는 제 1, 2 X축 전반사거울로 마련되며,The X-axis total reflection mirror is provided as the first and second X-axis total reflection mirror symmetrical left and right around the Y-axis total reflection mirror, 상기 Y축 전반사거울과 카메라부는 일정 간격을 유지하여 구성되는 영상획득유닛으로 마련되며, 상기 영상획득유닛은 구동수단에 의해 상기 제 1, 2 X축 전반사거울 사이로 전진 또는 후진 구동되는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.The Y-axis total reflection mirror and the camera unit is provided with an image acquisition unit configured to maintain a predetermined interval, wherein the image acquisition unit is driven forward or backward between the first and second X-axis total reflection mirror by a driving means Vision inspection device. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1, 2 X축 전반사거울은 상기 영상획득유닛의 전, 후진 범위에 대응되는 길이로 일체 형성되는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.The first and second X-axis total reflection mirror is a vision inspection device, characterized in that integrally formed with a length corresponding to the front, reverse range of the image acquisition unit. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 영상획득유닛은 제 1 검사구역에서 상기 제 1 X축 전반사거울과 연동되어 상기 검사대상물의 제 1 검사영역에 대한 영상정보를 획득하며, 상기 제 2 X축 전반사거울과 연동되어 상기 검사대상물의 제 2 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치. The image acquisition unit acquires image information on the first inspection region of the inspection object by interlocking with the first X-axis total reflection mirror in a first inspection region, and interlocks with the second X-axis total reflection mirror to interlock with the inspection object. Vision inspection apparatus, characterized in that to obtain the image information for the second inspection area. 제 3 항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 영상획득유닛은 제 1 검사구역에서 전진구동되어 제 2 검사구역으로 이송되며, 상기 제 2 검사구역에서 상기 제 1 X축 전반사거울과 연동되어 상기 검사대상물의 제 3 검사영역에 대한 영상정보를 획득하며, 상기 제 2 X축 전반사거울과 연동되어 상기 검사대상물의 제 4 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 것을 특징으로 하는 비전검사장치.The image acquisition unit is driven forward in the first inspection zone and transported to the second inspection zone, and interlocks with the first X-axis total reflection mirror in the second inspection zone to obtain image information of the third inspection zone of the inspection object. And an image information of a fourth inspection region of the inspection object in conjunction with the second X-axis total reflection mirror. 검사대상물을 스테이지부에 고정시키는 단계와;Fixing the inspection object to the stage; 상기 검사대상물의 검사영역을 다분할하고, 각 검사영역의 검사순서를 결정 하는 단계와;Dividing the inspection areas of the inspection object and determining the inspection order of each inspection area; 상기 스테이지부의 상부에 설치된 조명부에서 상기 검사대상물에 조명을 공급하는 단계와;Supplying illumination to the inspection object in an illumination unit installed above the stage unit; Y축 전반사거울과 카메라부를 포함하는 영상획득유닛을 구동수단에 의해 제 1 검사구역으로 이송시키는 단계와;Transferring the image acquisition unit including the Y-axis total reflection mirror and the camera unit to the first inspection zone by the driving means; 상기 Y축 전반사거울과 제 1 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 1 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와;Obtaining image information of the first inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the first X axis; 상기 Y축 전반사거울과 제 2 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 2 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와;Obtaining image information of the second inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the second X axis; 상기 영상획득유닛을 제 2 검사구역으로 이송시키는 단계와;Transferring the image acquisition unit to a second inspection zone; 상기 Y축 전반사거울과 제 1 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 3 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와;Obtaining image information of a third inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the first X axis; 상기 Y축 전반사거울과 제 2 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 4 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와;Obtaining image information of a fourth inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the second X axis; 상기 영상획득유닛을 제 n(n은 3 이상의 정수) 검사구역으로 이송시키는 단계와;Transferring the image acquisition unit to an nth (n is an integer greater than or equal to 3) inspection zone; 상기 Y축 전반사거울과 제 1 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 2n-1 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와;Acquiring image information of the 2n-1 inspection region of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the first X axis; 상기 Y축 전반사거울과 제 2 X축 전반사거울의 회전각도를 조절하여 상기 검사대상물의 제 2n 검사영역에 대한 영상정보를 획득하는 단계와;Acquiring image information of the second n-th inspection area of the inspection object by adjusting rotation angles of the total reflection mirror and the total reflection mirror of the second axis y; 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계와;Converting the obtained image information into digital data; 상기 변환된 영상정보와 미리 저장된 대상정보를 비교하여 상기 검사대상물의 양호, 불량을 판정하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 비전검사방법.And comparing the converted image information with previously stored object information to determine whether the inspection object is good or bad. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계는 각 영상정보획득단계에서 수집된 영상정보를 병합하여 상기 검사대상물의 전체영역에 대한 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계인 것을 특징으로 하는 비전검사방법.The converting of the acquired image information into digital data is a vision inspection, wherein the image information collected in each image information acquisition step is merged to convert the image information of the entire area of the inspection object into digital data. Way. 제 5 항에 있어서,The method of claim 5, 상기 획득된 영상정보를 디지털 데이터로 변환하는 단계는 각 영상정보획득단계에서 수집된 영상정보를 독립적인 디지털 데이터로 변환하는 단계인 것을 특징으로 하는 비전검사방법.And converting the acquired image information into digital data, converting the image information collected in each image information acquisition step into independent digital data.
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