KR20100084829A - Inspecting apparatus having line scan camera - Google Patents

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KR20100084829A
KR20100084829A KR1020090004182A KR20090004182A KR20100084829A KR 20100084829 A KR20100084829 A KR 20100084829A KR 1020090004182 A KR1020090004182 A KR 1020090004182A KR 20090004182 A KR20090004182 A KR 20090004182A KR 20100084829 A KR20100084829 A KR 20100084829A
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손영곤
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Abstract

PURPOSE: An inspection apparatus equipped with a line scan camera is provided to effectively reduce the area of a backlight unit by relatively moving the backlight unit with a subject. CONSTITUTION: An inspection apparatus equipped with a line scan camera comprises a line scan camera(110) which is included on the top of a target(140) and line-scans the target and a backlight unit(130) which is included in the lower part of the subject and directs some line among the full line of the target. One among the target and the line scan camera moves in order to scan the target to line-by-line. The backlight unit moves with the line scan camera. The center of the backlight unit locates on the optical axis line of the line scan camera.

Description

라인스캔 카메라를 구비한 검사장치{Inspecting apparatus having line scan camera}Inspecting apparatus having line scan camera

본 발명은 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection apparatus having a line scan camera.

카메라를 이용하여 피검체를 촬영한 후, 촬영된 영상을 통해 피검체의 불량 여부를 판단하는 기술이 다양한 부분에서 시행되고 있다.After photographing a subject using a camera, a technique of determining whether a subject is defective by using a photographed image has been implemented in various parts.

피검체는 평판디스플레이, 유리판, 차량용 유리 등이 되며, 피검체의 얼룩이나 스크래치 등의 결함이 촬영을 통해 검출된다.The subject is a flat panel display, a glass plate, a vehicle glass, or the like, and defects such as stains or scratches of the subject are detected through imaging.

이와 같이, 카메라를 이용하여 피검체의 불량 여부를 검출하는 기술로 한국특허공개 2005-0101656호(명칭 : 액정표시장치의 검사장치)가 개시되어 있다.As described above, Korean Patent Laid-Open Publication No. 2005-0101656 (name: Inspection device for liquid crystal display device) has been disclosed as a technique for detecting a defect of a subject using a camera.

상기 종래기술에서는 액정패널의 상부에 라인스캔 카메라가 설치되고, 액정패널의 하부에 백라이트가 설치된다.In the prior art, a line scan camera is installed at an upper portion of the liquid crystal panel, and a backlight is installed at the lower portion of the liquid crystal panel.

라인스캔 카메라는 이동제어수단에 의해 좌우로 이동되면서 액정패널을 라인별로 스캐닝하게 되며, 백라이트는 액정패널에 조사될 광을 발생시킨다.The line scan camera moves left and right by the movement control means to scan the liquid crystal panel line by line, and the backlight generates light to be irradiated onto the liquid crystal panel.

그러나, 상기 종래기술에 적용되는 백라이트는 액정패널의 전 영역에 광을 균일하게 조사하기 위해 그 면적이 액정패널의 면적보다 넓게 형성되어야만 한다.However, in the backlight applied to the prior art, the area of the backlight should be wider than that of the liquid crystal panel in order to uniformly radiate light to the entire area of the liquid crystal panel.

이에 따라, 백라이트를 구현하기 위한 많은 수의 LED조명이 필요하게 되어 제작단가가 높아지게 되는 문제점이 있다.Accordingly, there is a problem in that a large number of LED lights are required to implement the backlight, thereby increasing the manufacturing cost.

본 발명은 백라이트의 구조를 개선하여 백라이트를 보다 효율적으로 사용할 수 있으며, 제작단가를 절감할 수 있는 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치를 제공하기 위한 것이다.The present invention is to provide an inspection apparatus having a line scan camera that can improve the structure of the backlight to use the backlight more efficiently, and can reduce the manufacturing cost.

이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치는, 피검체의 상부에 구비되어 피검체를 라인 스캔하는 라인스캔 카메라; 및 피검체의 하부에 구비되어 피검체의 전체 라인 중 일부 라인을 조사하는 백라이트 유닛; 을 포함하며, 피검체를 라인별로 스캔할 수 있도록 피검체와 상기 라인스캔 카메라 중 어느 하나가 이동을 하면, 상기 백라이트 유닛은 상기 라인스캔 카메라와 움직임을 같이 하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, an inspection apparatus having a line scan camera according to the present invention includes: a line scan camera provided on an upper portion of a subject to perform a line scan of the subject; And a backlight unit provided under the test object to irradiate some of the entire lines of the test object. And the backlight unit moves in parallel with the line scan camera when any one of the object and the line scan camera moves to scan the object by line.

또한, 상기 라인스캔 카메라의 광축선상에 상기 백라이트 유닛의 중심이 위치하는 것을 특징으로 한다.In addition, the center of the backlight unit is located on the optical axis of the line scan camera.

또한, 상기 백라이트 유닛의 어느 한변의 길이는 피검체의 어느 한변의 길이 와 같거나 길게 형성되고, 상기 백라이트 유닛의 나머지 한변의 길이는 피검체의 나머지 한변의 길이보다 짧게 마련되는 것을 특징으로 한다.The length of one side of the backlight unit may be equal to or longer than the length of one side of the subject, and the length of the other side of the backlight unit may be shorter than the length of the other side of the subject.

또한, 상기 백라이트 유닛을 이동시키는 백라이트 구동장치; 및 상기 백라이트 유닛의 이동을 가이드하는 백라이트 가이드장치를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, a backlight driving device for moving the backlight unit; And a backlight guide device for guiding the movement of the backlight unit.

또한, 상기 백라이트 유닛은 1열 또는 2열로 배치되는 LED 소자들을 구비한 것을 특징으로 한다.In addition, the backlight unit is characterized by having LED elements arranged in one or two rows.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치는, 피검체의 일부 라인을 조사하는 백라이트 유닛이 피검체와 상대운동하는 구조를 통해 백라이트 유닛의 면적을 종래보다 줄일 수 있으며, 다양한 크기의 피검체를 검사할 수 있게 된다.As described above, the inspection device having a line scan camera according to the present invention can reduce the area of the backlight unit through the structure in which the backlight unit irradiating some lines of the object relative to the object. As a result, subjects of various sizes can be examined.

이에 따라, 제작단가를 절감하고, 백라이트 유닛의 효율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.Accordingly, the manufacturing cost can be reduced and the efficiency of the backlight unit can be increased.

이하, 본 발명에 따른 하나의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명하되, 중복되는 설명이나 자명한 사항에 대한 설명은 가급적 생략하거나 압축하기로 한다.Hereinafter, one preferred embodiment according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings, description of overlapping description or obvious matters will be omitted or compressed as possible.

도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.1 is a schematic diagram showing an inspection apparatus having a line scan camera according to a first embodiment of the present invention.

도 1을 참조하여 설명하면, 본 발명에 따른 검사장치(100)는 라인스캔 카메라(110)와, 피검체 이송장치(120)와, 백라이트 유닛(130)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 1, the inspection apparatus 100 according to the present invention includes a line scan camera 110, a subject transfer apparatus 120, and a backlight unit 130.

라인스캔 카메라(Line scan camera, 110)는 피검체(140)의 상부에 설치되며, 피검체(140)를 라인별로 검사하면서 피검체(140)의 결함을 검출한다.The line scan camera 110 is installed on the upper part of the subject 140, and detects a defect of the subject 140 while inspecting the subject 140 for each line.

여기서, 피검체(140)는 LCD 및 PDP를 포함하는 평판디스플레이, 유리판, 자동차 유리 등이 될 수 있으며, 피검체(140)의 결함은 피검체(140)의 얼룩, 스크래치, 기포, 이물질, 유리조각, 파티클 등을 포함한다.Here, the subject 140 may be a flat panel display, a glass plate, or an automobile glass including an LCD and a PDP, and defects of the subject 140 may include stains, scratches, bubbles, foreign substances, and glass of the subject 140. Include pieces, particles, and the like.

특히, 피검체(140)가 차량용 유리인 경우, 라인스캔 카메라(110)를 이용하여 차량용 유리에 형성된 홀의 위치, 홀 주위에 형성된 조개피, 인쇄된 마크의 불량 등을 검출할 수 있게 된다. 이는, 라인스캔 카메라(110)가 피검체(140)를 라인별로 검사함으로써, 에어리어 카메라(area Camera) 보다 상대적으로 정밀하게 피검체(140)의 결함을 검출할 수 있기 때문이다. 여기서, 에어리어 카메라는 피검체(140)를 일정 면적별로 스캐닝할 수 있는 카메라를 말한다.In particular, when the object 140 is a vehicle glass, the position of the hole formed in the vehicle glass, the crust formed around the hole, and the defect of the printed mark may be detected using the line scan camera 110. This is because the line scan camera 110 inspects the inspected object 140 line by line, thereby detecting defects in the inspected object 140 more precisely than an area camera. Here, the area camera refers to a camera that can scan the subject 140 for a predetermined area.

한편, 라인스캔 카메라(110)는 정보처리장치(미도시)와 연결되는데, 이러한 정보처리장치는 라인스캔 카메라(110)로부터 전달된 정보를 처리하여 피검체(140)의 결함 여부를 디스플레이 하게 된다.Meanwhile, the line scan camera 110 is connected to an information processing apparatus (not shown). The information processing apparatus displays the defect of the subject 140 by processing the information transmitted from the line scan camera 110. .

피검체 이송장치(120)는 피검체(140)를 이동시키기 위한 것으로, 회전 구동되는 구동부(121)와, 구동부(121)에 의해 폐곡선을 이루며 이동하는 벨트(122)로 마련된다.The object transfer device 120 is used to move the object 140, and is provided as a driving unit 121 that is rotationally driven and a belt 122 that moves in a closed curve by the driving unit 121.

이러한 피검체 이송장치(120)에 의해 피검체(140)가 이동되면, 라인스캔 카메라(110)는 피검체(140)를 라인별로 검사하여 피검체(140)의 전체 영역을 모두 검사한다.When the object 140 is moved by the object transfer device 120, the line scan camera 110 inspects the object 140 for each line to inspect the entire region of the object 140.

백라이트 유닛(130)은 피검체(140)의 하부에 설치되며, 피검체(140)에 조사될 광을 발생시킨다. 이때, 백라이트 유닛(130)은 피검체(140)의 전체 라인 중 일부 라인을 조사하게 되며, 그 중심이 라인스캔 카메라(110)의 광축선상에 위치하도록 마련된다.The backlight unit 130 is installed under the subject 140 and generates light to be irradiated to the subject 140. In this case, the backlight unit 130 irradiates some lines of all the lines of the object 140, and the center of the backlight unit 130 is positioned on the optical axis of the line scan camera 110.

백라이트 유닛(130)은 사각의 바(bar)형태로 마련되며, 백라이트 유닛(130)의 세로 길이(y1)는 피검체(140)의 세로 길이(y2)와 같거나 길게 형성되고, 백라이트 유닛(130)의 가로 길이(x1)는 피검체(140)의 가로 길이(x2) 보다 짧도록 마련된다.The backlight unit 130 is provided in a rectangular bar shape, and the vertical length y1 of the backlight unit 130 is formed to be the same as or longer than the vertical length y2 of the object 140, and the backlight unit ( The horizontal length x1 of 130 is provided to be shorter than the horizontal length x2 of the subject 140.

도 2를 참조하여 백라이트 유닛(130)을 보다 상세히 설명하면, 백라이트 유닛(130)은 사각의 바(bar) 형태의 하우징(131)과, 하우징(131)의 상면에 배열되는 LED소자(132)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the backlight unit 130 will be described in more detail. The backlight unit 130 includes a rectangular bar-shaped housing 131 and an LED element 132 arranged on an upper surface of the housing 131. It includes.

본 실시예에서는 하우징(131)에 1열의 LED소자(132)가 배열된 것을 예를 들고 있으나, 다른 실시 형태로 하우징(131)에 2열 또는 3열의 LED소자(132)가 배열될 수도 있다.In the present exemplary embodiment, one row of LED elements 132 are arranged in the housing 131, but in another embodiment, two or three rows of LED elements 132 may be arranged in the housing 131.

다음은 도 3의 (a) 및 (b)를 참조하여 본 발명의 제 1실시예에 따른 검사장치의 작동을 설명한다.Next, the operation of the inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 3A and 3B.

먼저, 도 3의 (a)에 도시된 바와 같이, 피검체(140)는 이송장치(120)의 상부에 위치되며, 라인스캔 카메라(110)에 의해 피검체(140)의 어느 한 라인(L1)이 촬영된다. 그리고, 백라이트 유닛(130)은 피검체(140)의 촬영되는 라인(L1)에 광을 조사한다.First, as shown in (a) of FIG. 3, the subject 140 is positioned above the transfer apparatus 120, and any one line L1 of the subject 140 by the line scan camera 110. ) Is taken. In addition, the backlight unit 130 irradiates light to the line L1 to be photographed of the object 140.

이후, 도 3의 (b)에 도시된 바와 같이, 피검체(140)는 이송장치(120)에 의해 이송되며, 라인스캔 카메라(110)에 의해 피검체(140)의 다른 한 라인(L2)이 촬영된다. 즉, 피검체(140)는 이송장치(120)에 의해 연속적으로 이송되면서 전체 영역이 촬영된다.Thereafter, as shown in FIG. 3B, the test object 140 is transferred by the transfer device 120, and the other line L2 of the test object 140 is controlled by the line scan camera 110. This is taken. That is, the subject 140 is continuously transferred by the transfer apparatus 120 to photograph the entire area.

도 4의 (a) 및 (b)는 도 3의 (a) 및 (b)에 도시된 피검체와 다른 가로 길이를 갖는 피검체를 검사하는 검사장치의 작동을 도시한 개략도이다.4 (a) and 4 (b) are schematic diagrams showing the operation of a test apparatus for inspecting a test subject having a horizontal length different from that of the test subject shown in Figs. 3 (a) and (b).

도 4의 (a) 및 (b)에 도시된 바와 같이, 피검체(140A)의 가로 길이(x3, x3>x2)가 도 3의 (a) 및 (b)에 도시된 피검체(140)의 가로 길이(x2) 보다 더 긴 경우에도, 검사장치(100)는 그 구성의 변경없이 피검체(140A)를 검사할 수 있게 된다. 검사장치(100)의 작동은 도 3의 (a) 및 (b)와 동일하므로 상세한 설명은 생략한다.As shown in (a) and (b) of FIG. 4, the horizontal length (x3, x3> x2) of the subject 140A is the subject 140 shown in (a) and (b) of FIG. 3. Even if it is longer than the horizontal length (x2), the inspection apparatus 100 can inspect the subject 140A without changing its configuration. Since the operation of the inspection apparatus 100 is the same as in FIGS. 3A and 3B, detailed descriptions thereof will be omitted.

도 5는 본 발명의 제 2실시예에 따른 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치를 개략적으로 도시한 개략도이다.5 is a schematic diagram schematically showing an inspection apparatus having a line scan camera according to a second embodiment of the present invention.

도 5를 참조하여 설명하면, 본 실시예에 따른 검사장치(500)는 라인스캔 카메라(510)와, 피검체 지지수단(520)과, 백라이트 유닛(530)과, 카메라 가이드장치(550)와, 백라이트 가이드장치(560)를 구비한다.Referring to FIG. 5, the inspection apparatus 500 according to the present embodiment includes a line scan camera 510, an object support means 520, a backlight unit 530, a camera guide device 550, and the like. And a backlight guide device 560.

라인스캔 카메라(510) 및 백라이트 유닛(530)은 제 1실시예의 라인스캔 카메라(110) 및 백라이트 유닛(130)과 동일하므로 그 상세한 설명은 생략한다.Since the line scan camera 510 and the backlight unit 530 are the same as the line scan camera 110 and the backlight unit 130 of the first embodiment, detailed description thereof will be omitted.

피검체 지지수단(520)은 피검체(540)를 지지하는 기능을 수행한다.The object supporting means 520 performs a function of supporting the object 540.

카메라 가이드장치(550)는 라인스캔 카메라(510)의 이동을 가이드 하기 위한 것으로, 라인스캔 카메라(510)의 상단에 고정되는 가이드블록(511)을 가이드할 수 있도록 레일 형태로 마련된다.The camera guide device 550 is for guiding the movement of the line scan camera 510 and is provided in a rail shape to guide the guide block 511 fixed to the upper end of the line scan camera 510.

이러한 카메라 가이드장치(550)를 따라 라인스캔 카메라(510)는 이동하면서, 피검체(540)를 라인별로 검사하여 피검체(540)의 전체 영역을 모두 검사하게 된다.The line scan camera 510 moves along the camera guide device 550, and inspects the entire subject area of the subject 540 by inspecting the subject 540 line by line.

백라이트 가이드장치(560)는 백라이트 유닛(530)의 이동을 가이드 하기 위한 것으로, 한 쌍의 레일 형태로 마련되어 백라이트 유닛(530)의 양단을 가이드한다.The backlight guide device 560 is used to guide the movement of the backlight unit 530, and is provided in a pair of rails to guide both ends of the backlight unit 530.

이때, 백라이트 유닛(530)은 라인스캔 카메라(510)와 움직임을 같이하며, 이를 통해 라인스캔 카메라(510)의 광축선상에 백라이트 유닛(530)의 중심이 위치할 수 있게 된다.In this case, the backlight unit 530 moves in line with the line scan camera 510, and thus the center of the backlight unit 530 may be positioned on the optical axis of the line scan camera 510.

또한, 본 발명의 검사장치(500)는 라인스캔 카메라(510)를 이동시키기 위한 카메라 구동장치(미도시)와, 백라이트 유닛(560)을 이동시키기 위한 백라이트 구동장치(미도시)를 더 구비한다. 이러한 구동장치는 도시되지는 않았으나, 라인스캔 카메라(510) 또는 백라이트 유닛(560)과 결합된 피스톤 및 이를 진퇴시키는 실린더나, 라인스캔 카메라(510) 또는 백라이트 유닛(560)에 설치된 롤러 및 이를 회전시키는 모터 등 다양한 형태로 마련될 수 있다.In addition, the inspection apparatus 500 of the present invention further includes a camera driver (not shown) for moving the line scan camera 510 and a backlight driver (not shown) for moving the backlight unit 560. . Although not shown, the driving device includes a piston coupled to the line scan camera 510 or the backlight unit 560 and a cylinder to retreat the roller, or a roller installed in the line scan camera 510 or the backlight unit 560 and the rotation thereof. It may be provided in various forms such as a motor.

다음은 도 6의 (a) 및 (b)를 참조하여 본 발명의 제 2실시예에 따른 검사장 치의 작동을 설명한다.The following describes the operation of the inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention with reference to (a) and (b) of FIG.

먼저, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 피검체(540)는 피검체 지지수단(520)에 의해 지지되며, 라인스캔 카메라(510)에 의해 피검체(540)의 어느 한 라인(K1)이 촬영된다. 이때, 백라이트 유닛(540)은 피검체(540)의 촬영되는 라인(K1)에 광을 조사하게 된다.First, as shown in FIG. 6A, the object 540 is supported by the object support means 520, and any one line of the object 540 is supported by the line scan camera 510. K1) is taken. In this case, the backlight unit 540 irradiates light to the line K1 to be photographed of the object 540.

이후, 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이, 라인스캔 카메라(510)는 카메라 구동장치(미도시)에 의해 카메라 가이드장치(550)를 따라 이동되며, 피검체(540)의 다른 한 라인(K2)을 촬영한다. 이와 동시에, 백라이트 유닛(540)은 백라이트 구동장치(미도시)에 의해 백라이트 가이드장치(560)를 따라 이동되면서 피검체(540)의 다른 한 라인(K2)에 광을 조사하게 된다.Thereafter, as shown in FIG. 6B, the line scan camera 510 is moved along the camera guide device 550 by a camera driving device (not shown), and another line of the object 540 is provided. Shoot (K2). At the same time, the backlight unit 540 is moved along the backlight guide device 560 by a backlight driver (not shown) to irradiate light to another line K2 of the object 540.

즉, 라인스캔 카메라(510)는 백라이트 유닛(540)과 함께 연속적으로 이동하면서 피검체(140)의 전체 영역을 촬영하게 되는 것이다.That is, the line scan camera 510 photographs the entire area of the subject 140 while continuously moving together with the backlight unit 540.

이상과 같이 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 등가개념으로 이해되어져야 할 것이다.As described above, the detailed description of the present invention has been made by the embodiments with reference to the accompanying drawings. However, since the above-described embodiments have only been described with reference to preferred examples of the present invention, the present invention is limited to the above embodiments. It is not to be understood that the scope of the invention should be understood by the claims and equivalent concepts described below.

도 1은 본 발명의 제 1실시예에 따른 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치를 개략적으로 보인 개략도이다.1 is a schematic diagram showing an inspection apparatus having a line scan camera according to a first embodiment of the present invention.

도 2는 본 발명의 검사장치에 적용된 백라이트 유닛을 보인 사시도이다.2 is a perspective view showing a backlight unit applied to the inspection apparatus of the present invention.

도 3의 (a) 및 (b)는 본 발명의 제 1실시예에 따른 검사장치의 작동을 도시한 개략도이다.3A and 3B are schematic views showing the operation of the inspection apparatus according to the first embodiment of the present invention.

도 4의 (a) 및 (b)는 도 3의 (a) 및 (b)에 도시된 피검체와 다른 가로 길이를 갖는 피검체를 검사하는 검사장치의 작동을 도시한 개략도이다.4 (a) and 4 (b) are schematic diagrams showing the operation of a test apparatus for inspecting a test subject having a horizontal length different from that of the test subject shown in Figs. 3 (a) and (b).

도 5는 본 발명의 제 2실시예에 따른 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치를 개략적으로 도시한 개략도이다.5 is a schematic diagram schematically showing an inspection apparatus having a line scan camera according to a second embodiment of the present invention.

도 6의 (a) 및 (b)는 본 발명의 제 2실시예에 따른 검사장치의 작동을 도시한 개략도이다.6 (a) and 6 (b) are schematic diagrams showing the operation of the inspection apparatus according to the second embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

110 : 라인스캔 카메라 120 : 카메라 이송장치110: line scan camera 120: camera feeder

130 : 백라이트 유닛 140 : 피검체130: backlight unit 140: subject

Claims (5)

피검체의 상부에 구비되어 피검체를 라인 스캔하는 라인스캔 카메라; 및A line scan camera provided at an upper portion of the subject to perform a line scan of the subject; And 피검체의 하부에 구비되어 피검체의 전체 라인 중 일부 라인을 조사하는 백라이트 유닛; 을 포함하며,A backlight unit provided under the test object to irradiate a part of all the lines of the test object; Including; 피검체를 라인별로 스캔할 수 있도록 피검체와 상기 라인스캔 카메라 중 어느 하나가 이동을 하면, 상기 백라이트 유닛은 상기 라인스캔 카메라와 움직임을 같이 하는 것을 특징으로 하는When one of the object and the line scan camera moves so that the object can be scanned line by line, the backlight unit moves in line with the line scan camera. 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치.Inspection device with line scan camera. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 라인스캔 카메라의 광축선상에 상기 백라이트 유닛의 중심이 위치하는 것을 특징으로 하는The center of the backlight unit is located on the optical axis of the line scan camera. 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치.Inspection device with line scan camera. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 백라이트 유닛의 어느 한변의 길이는 피검체의 어느 한변의 길이와 같거나 길게 형성되고, 상기 백라이트 유닛의 나머지 한변의 길이는 피검체의 나머지 한변의 길이보다 짧게 마련되는 것을 특징으로 하는The length of one side of the backlight unit is equal to or longer than the length of one side of the subject, and the length of the other side of the backlight unit is shorter than the length of the other side of the subject. 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치.Inspection device with line scan camera. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 백라이트 유닛을 이동시키는 백라이트 구동장치; 및A backlight driver for moving the backlight unit; And 상기 백라이트 유닛의 이동을 가이드하는 백라이트 가이드장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는Further comprising a backlight guide device for guiding the movement of the backlight unit 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치.Inspection device with line scan camera. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 백라이트 유닛은 1열 또는 2열로 배치되는 LED 소자들을 구비한 것을 특징으로 하는The backlight unit may include LED elements arranged in one or two rows. 라인스캔 카메라를 구비한 검사장치.Inspection device with line scan camera.
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CN107621353A (en) * 2017-07-25 2018-01-23 江苏美威自动化科技有限公司 A kind of backlight module monitor station
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