KR20090071186A - 슬라브 측면 흠 검출 장치 - Google Patents

슬라브 측면 흠 검출 장치 Download PDF

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Abstract

슬라브 측면 흠 검출 장치가 개시된다. 상기 슬라브 측면 흠 검출장치는 연속 주조 공정을 통해 제조된 슬라브의 측면에 있는 흠을 검출하는 장치에 있어서, 상기 슬라브의 측면에 광을 조사하는 광원; 상기 슬라브의 측면 영역에 배치되어 상기 광이 조사된 상기 슬라브의 측면을 촬상하여 촬상된 이미지를 공급하는 CCD 카메라; 및 상기 CCD 카메라로부터의 이미지에서 상기 슬라브 측면에 발생한 흠을 검출하는 이미지 처리기;를 포함한다.
슬라브, 슬래브, 흠, CCD 카메라, 광원

Description

슬라브 측면 흠 검출 장치{APPARATUS FOR DETECTING DEFECTS OF SIDE SURFACE OF SLAB}
본 발명은 슬라브 측면 흠 검출 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 연속 주조 공정에서 슬라브의 측면을 스카핑 한 후에 발생하는 슬라브 측면의 흠을 검출하는 슬라브 측면 흠 검출 장치에 관한 것이다.
연속 주조 공정에서 만들어진 슬라브에는 용강 내부에서 불필요한 원소들이 결합된 개재물이 존재한다. 이러한 개재물은 응고 과정에서 보통의 강과는 다른 형태의 조직을 갖게 된다. 이러한 개재물은 보통의 강과의 결합력이 약해져서, 측면에 존재하는 경우에 스카핑(scarfing) 등의 외력이 가해졌을 때 슬라브에서 이탈하여 홈 형태의 흠을 만들어 낸다.
또한, 제강 취련 공정에서 주입되는 산소 가스나 연속 주조 이송 시스템에서 용강과 시스템간의 부착을 방지하기 위하여 주입되는 아르곤 가스 등이 적절하게 밖으로 배출되지 못하고 용강 내부에 기포 형태로 남아 있을 수 있으며, 이후 슬라브로 만들어진 후 측면을 스카핑하게되면 홀 형태의 흠으로 슬라브 측면에 존재하 게 된다.
이러한 흠 중 특히 측면의 홀 형태의 흠은 압연 중 폭압연에 의해 강판 에지 부분에 침투하게 되어 최종 제품의 측면 품질을 저하시키고, 이러한 슬라브 등은 강관 제품으로 사용될 때, 측면 용접시 결함으로 존재하게 되어 치명적인 문제점을 야기할 수 있다.
이러한 슬라브의 측면 흠은 연주 공정 뒤에 있는 열간 압연 공정에서 가열로로 장입되기 전이나 가열로에 나와서도 탐상이 가능하나, 열간에서는 이미 측면에 스케일(scale)이라는 산화층에 의해 덮여버리기 때문에 정확한 검출이 어렵다는 문제점이 있다.
이러한 문제점을 해결하기 위하여, 자기적인 방법 및 다른 방식의 광학적인 방법 등이 많이 연구되었다. 광학적인 방법은 간단하게 삼각측량법으로부터 스트로보스코프광의 의한 평면 촬상 등이 제안되어 왔지만, 슬라브 측면 위의 흠과 그 외의 잔존물을 구분하지 못하는 문제가 발생하게 된다. 스페인 아세라리아(Acelalia)에서는 코노스코프 홀로그래피(conoscopic holography)를 기반으로 한 라인 스캔 방식의 흠 탐상 방법을 제안하였다(1998, Association of Iron and Steel Engineers). 그러나, 이러한 방식은 하드웨어가 복잡하고, 이미지 처리 알고리즘도 복잡하여 신속하게 흠 탐상 정보를 후공정으로 전달해야하는 온라인 공정에는 적용하기 어려운 특성을 가지고 있다.
또한, 슬라브 측면은 슬라브 폭이 변화하고 롤러 테이블 상에서 진행할 때 위치가 변동하는 특성을 가지고 있으며, 또한, 슬라브 측면은 슬라브 상면과는 달 리 표면 상태가 비교적 깨끗한 특성를 가지고 있어, 이러한 특성들을 반영한 슬라브 측면 흠 검출 장치를 개발할 필요가 있다.
종래의 연속 주조 공정에서 실제 적용되고 있는 방식을 도 1을 참조하여 설명한다. 도 1은 종래 기술에 따른 슬라브 측면 홈 검출 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다. 슬라브(10)가 이송되는 롤러 테이블(20)의 측면에 슬라브(10)의 측면을 향하도록 ITV 카메라(30)가 배치된다. ITV 카메라(30)에서 촬영되는 슬라브(10) 측면에 대한 영상이 작업자의 표시장치(40)에 표시되고, 작업자가 직접 표시장치(40)를 시청하면서 육안으로 슬라브(10) 측면 흠을 검출한다. 이러한 검출이 육안으로 이루어지기 때문에, 장시간 시청으로 인한 피로감이 작업자에 발생하여 흠 검출의 정확성에 문제점이 있으며, 작업자의 개인적인 능력 및 식별 기준의 차이로 인하여 검출 결과에 대한 신뢰성이 떨어진다는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 더욱 정확하게 슬라브 측면의 흠을 검출할 수 있는 슬라브 측면 흠 검출 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기 과제를 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예는, 연속 주조 공정을 통해 제조된 슬라브의 측면에 있는 흠을 검출하는 장치에 있어서, 상기 슬라브의 측면에 광을 조사하는 광원; 상기 슬라브의 측면 영역에 배치되어 상기 광이 조사된 상기 슬라브의 측면을 촬상하여 촬상된 이미지를 공급하는 CCD 카메라; 및 상기 CCD 카메라로부터의 이미지에서 상기 슬라브 측면에 발생한 흠을 검출하는 이미지 처리기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치를 제공한다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 CCD 카메라는 라인 CCD 카메라일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 광원은 시간에 따라 일정한 광을 조사하는 DC 광원일 수 있으며, 또한, 상기 광원은 상기 CCD 카메라를 중심으로 대칭으로 배치되어 상기 광을 조사하는 적어도 2개의 조명 기구를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 슬라브 측면 흠 검출 장치는 상기 적어도 2개의 조명 기구에서의 광들이 이루는 각이 가변되도록 상기 조명 기구들의 위치를 조절하는 조명 각도 조절 수단을 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 광원 및 상기 CCD 카메라는 일체로 구성되며, 상기 슬라브의 측면 위치를 검출하는 위치 센서; 및 상기 위치 센서로부터 검출된 상기 슬라브의 측면 위치를 이용하여 상기 CCD 카메라 및 상기 광원으로부터 상기 슬라브의 측면까지의 거리가 일정하도록 상기 CCD 카메라 및 상기 광원을 이동시키는 이동 수단;을 더 포함할 수 있다.
이 때, 상기 위치 센서는 상기 슬라브의 진행 방향을 기준으로 상기 CCD 카메라보다 더 앞쪽에 설치되는 것이 바람직하다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 이미지 처리기는 상기 CCD 카메라로부터의 이미지를 수집하여 상기 슬라브 측면의 전체 이미지로 조합하는 이미지 수집기를 포함하며, 상기 이미지 처리기는 상기 이미지 수집기로부터의 전체 이미지에서 상기 슬라브 측면의 흠을 검출할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 상기 슬라브는 스카핑 공정 후에 측면의 흠이 검출될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 이동 중인 슬라브 측면의 흠을 자동으로 신속하게 검출할 수 있으며, 이에 따라 양질의 슬라브를 생산할 수 있어 후속 공정에서의 불량을 줄일 수 있는 효과가 있다.
이하 도면을 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면 흠 검출 장치에 대하여 설명한다.
먼저, 도 2를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면 흠 검출 장치의 구조를 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면 흠 검출 장치에 대한 블록도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면 흠 검출 장치는 광원(110), CCD 카메라(120), 및 이미지 처리기(130)를 포함한다.
광원(110)은 슬라브(10)의 측면에 광을 조사한다. 광원(110)은 슬라브(10)의 측면 영역에 배치되어 상기 광이 CCD 카메라(120)가 슬라브(10) 측면의 촬상 영역과 일정한 각도(θ)를 이루도록 슬라브(10)의 길이방향으로 비스듬이 기울어져 있다.
또한, 상기 광원(110)은 보다 정밀한 흠 조사된 슬라브(10)의 측면을 촬상하기 위하여 광원(110)은 적어도 2개의 조명 기구로 이루어질 수 있다. 이 때, 각 조 명 기구들은 CCD 카메라 주위로 배치되며, 바람직하게는 모든 조명 기구들이 동일한 영역에 광을 조사하도록 CCD 카메라에 대하여 대칭으로 배치될 수 있다. 즉, 상기 모든 조명 기구의 광이 상기 슬라브의 진행방향과 수직인 방향(더욱 정확하게는, 슬라브를 이송시키는 롤러의 축방향)을 중심으로 동일한 각도(θ)로 슬라브 측면에 조사될 수 있다. 광원(110)은 시간에 따라 일정한 광을 조사하는 DC 광원일 수 있다. DC 광원은 AC 광원과는 달리 시간에 변동없이 일정한 광을 조사하기 때문에, 슬라브 측면을 프레임단위로 촬상하더라도 획득된 이미지에 줄이 생기는 현상을 방지할 수 있어, 보다 정확한 흠의 검출이 가능하다.
CCD 카메라(120)는 슬라브(10)의 측면 영역에 배치되어 광이 조사된 슬라브의 측면을 촬상한다. 또한 CCD 카메라는 광원(110)에 의해 반사하는 반사광이 촬상하지 않도록 배치되는 것이 바람직하다. 이것은, 상기 각도(θ)를 조절함으로써 이루어질 수 있다. 이를 위해 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면 흠 검출 장치는 조명 각도 조절 수단(미도시)을 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 조명 각도 조절 수단은 도 2에 도시된 원형의 점선을 따라 광원(110)을 이동시키면서 상기 각도(θ)를 조절할 수 있다. 또한, 이 대신에, 조명 각도 조절 수단이 광원(110)을 이동시키지 않고 광원에서 조사된 광의 방향이 변하도록 광원(110)의 광 조사 방향만을 가변시킬 수 있다. 이 경우에, 각 광원(110)의 조사 각도(θ)가 동일하도록 동기화되어 각도가 조절되는 것이 바람직하다. 일 실시예에서, 상기 각도(θ)는 대략 15°가 되도록 조절되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 CCD 카메라(120)는 슬라브의 진행 방향과 수직인 방향(더욱 정확 하게는, 슬라브를 이송시키는 롤러의 축방향)을 향하도록 배치되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 CCD 카메라(120)는 라인 CCD 카메라인 것이 바람직하다. 라인 CCD 카메라로부터 영상을 수집하여 전체 이미지를 조합함으로써, 흠의 위치를 보다 정확하게 파악할 수 있게 한다.
또한, 상기 광원(110)과 상기 CCD 카메라(120)는 일체로 이루어질 수 있다. 광원(110)과 CCD 카메라(120)가 일체로 이루어지면, 외부의 영향에 의한 광원(110)이 조사하는 위치가 변동하는 것을 방지할 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 슬라브 흠 검출 장치(100)는, 위치 센서(150) 및 이동 수단(140)을 더 포함한다. 위치 센서(150)는 슬라브 측면의 위치를 검출하며, 이동 수단(140)은 위치 센서(150)로부터 검출된 슬라브(10)의 측면 위치를 이용하여 CCD 카메라(120) 및 상기 광원(110)으로부터 슬라브(10)의 측면까지의 거리가 일정하도록 상기 CCD 카메라(120) 및 상기 광원(110)을 이동시킨다. 이 때, 상기 위치 센서(150)는 슬라브(10)의 진행 방향을 기준으로 CCD 카메라(110)보다 더 앞쪽에 설치되이 바람직하다.
또한, 이미지 처리기(130)는 CCD 카메라(120)로부터 이미지 신호를 전송받아 이미지 신호에 포함된 슬라브(10) 측면의 이미지 정보를 조합하여 슬라브(10) 측면의 전체 이미지를 완성하며, 완성된 슬라브 측면의 이미지에서 흠을 검출한다. 이미지 처리기(130)는 이미지 신호에 포함된 슬라브(10) 측면의 이미지 정보를 조합하는 이미지 수집기(131)를 포함할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면 흠 검출 장치(100)는 슬라브(10)를 이송시키는 롤러 테이블(20)의 측면에 위치하며, 롤러 테이블(20)의 롤러 구동 장치(50) 및 로터리 인코더(60)로부터 롤러의 진행 속도에 대한 정보를 전송받을 수 있다.
다음으로, 도 3을 이용하여, 본 발명의 일 실시예에서 사용될 수 있는 DC 광원에 대하여 설명한다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 사용될 수 있는 광원의 블록도이다. 도 3에 도시된 바와 같이, DC 광원(110)은 DC 광 공급기(111), 광섬유 케이블(112), 광 분포 장치(113) 및 집광렌즈(114)를 포함한다. DC 광 공급기(111)이 DC 광을 생성하여 각각 다수의 가닥으로 이루어진 적어도 하나의 광섬유 케이블(112)을 통해 광 분포 장치(113)로 광을 공급하면, 광 분포 장치(113)는 광섬유 케이블(112)의 가닥들을 고르게 분포시킨다. 이와 같이 고르게 분포된 가닥으로부터 균일하게 분포된 광이 전송되며, 이를 집광 렌즈(114)를 통해 소정의 영역에 조사하게 된다.
이하, 도 2를 참조하여 본 발명의 일 실시예의 작용 및 효과에 대하여 상세히 설명한다. 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면의 흠 검출 장치(100)는 연속 주조 공정에서 이송 중인 슬라브(10)의 측면에 흠을 검출하기 위한 것으로, 특히, 상기 슬라브(10)가 스카핑(scarfing) 공정이 수행된 측면에서의 흠을 검출하기 위한 것이나, 스카핑 공정이 수행되지 않은 슬라브의 측면에서의 흠을 검출하는 경 우에도 적용될 수 있다.
도 2를 참조하면, 본 발명은 슬라브(10)의 측면에서 슬라브(10)의 측면을 향하도록 설치된 CCD 카메라(120)를 이용하여 CCD 카메라(120)의 주위에서 대칭으로 설치된 복수의 광원(110)에서 조사된 광이 비추는 슬라브(10)의 측면 영역의 이미지를 촬상한다. 이 때, CCD 카메라(120)가 촬상하는 영역의 길이와 CCD 카메라(120)의 픽셀 수를 이용하여 한 픽셀당 실제 촬상 영역을 설정해 놓는다.
이 때, 롤러 테이블(20)에서 슬라브(10)가 진행할 때, 슬라브의 위치가 도 4의 (a)에 도시된 바와 같이 측면의 위치가 가변되지 않는 경우도 있지만 도 4의 (b)에 도시된 바와 같이 측면의 위치가 슬라브의 위치에 따라 가변되는 경우도 많이 발생한다. 따라서, CCD 카메라(120)가 이러한 비정상 상태에서 슬라브(10) 측면을 촬영하는 경우 초점이 맞지 않을 수 있으며, 또한 광원(110)으로부터 슬라브(10) 측면까지의 거리가 가변됨에 따라 촬상되는 슬라브(10) 측면 영역의 조도가 가변하게 되고, 이로 인해 획득된 이미지에 얼룩이 생길 수 있다.
이를 방지하기 위하여 위치 센서(150)가 슬라브(10) 측면의 위치를 검출하고, 검출된 위치를 이동 수단(140)에 제공한다. 이동 수단(140)은 제공된 슬라브(10) 측면의 위치를 이용하여 CCD 카메라(120)와 광원(110)이 슬라브(10)의 측면과 일정한 거리를 유지하도록 CCD 카메라(120)와 광원(110)을 이동시킨다. 이 경우, 위치 센서(150)는 슬라브(10)의 진행 방향을 기준으로 CCD 카메라(120)보다 더 앞쪽에 설치되는 것이 바람직하다.
예를 들어, 슬라브(10)의 측면의 위치가 위치 센서(150)에서 검출되면, 슬라브(10)의 진행속도와 위치 센서(150)와 CCD 카메라(120) 및 광원(110)의 거리로부터 위치가 검출된 슬라브(10)의 측면이 CCD 카메라(120)에 의해 촬상되는 시점을 계산하여 그 시점에 CCD 카메라(120) 및 광원(110)이 슬라브(10)의 측면으로부터 소정의 거리에 있도록 한다. 이러한 과정이 CCD 카메라가 작동할 때 연속적으로 일어나므로, CCD 카메라(120) 및 광원(110)은 슬라브(10)의 측면과 항상 일정한 거리를 유지할 수 있다.
이 때, 슬라브(10)의 진행속도는 롤러 테이블(20)의 롤러가 회전하는 속도에 비례하므로, 롤러 구동 장치(50)의 회전 속도를 로터리 인코더(60)가 검출하여 이동 수단(140)에 제공하고, 이동 수단(140)은 로터리 인코더(60)로부터 전송된 롤러의 회전 속도로부터 슬라브(10)의 진행속도를 계산하여 CCD 카메라(120) 및 광원(110)의 위치를 조정한다.
이러한 CCD 카메라는 슬라브(10)의 측면을 연속적으로 촬상하여 촬상된 이미지를 공급한다. 상기 CCD 카메라는 이러한 이미지 공급을 위하여 그래픽 그래버(graphic grabber)를 구비할 수 있으며, 또한 상기 그래픽 그래버는 이미지 처리기(130) 내에 포함될 수 있다. 이러한 그래픽 그래버는 슬라브(10)의 최대 진행 속도를 감안한 촬상 속도를 가지며, 슬라브(10)의 최대 진행 속도에서도 슬라브(10)의 측면 흠을 검출할 수 있는 정도로 이미지를 공급할 수 있다.
이 후, CCD 카메라로부터 얻어진 이미지 신호는 이미지 처리기(130)의 이미지 수집기(131)에 입력되어 상기 이미지 신호에 포함된 이미지를 조합하여 전체 이 미지를 완성한다. 상술한 이미지는 도 5에 도시된다.
이미지 처리기(130)는 이미지 수집기(131)를 통해 조합되어 완성된 전체 이미지에서 흠영역을 지정하고, 흠 크기를 계산해서 후 공정에 있는 슬라브 측면 가공기(예를 들어, 그라인더)에 연결되어 흠을 제거하도록 한다.
예를 들어, 도 4와 같이 완성된 이미지에서 좌상 부분부터 우하 부분까지 차례로 이미지 밝기의 레벨을 읽어들이고, 일정한 레벨을 임계값으로 하여 각 픽셀 영역을 어두운 부분과 밝은 부분으로 이분한다.
그리고, 어두운 부분의 영역(흠)의 좌표를 읽어 내며, 얻어진 좌표에서 어두운 정도를 계산하여 미리 설정된 한 픽셀당 실제 길이를 이용하여 흠의 크기를 계산함으로써, 흠의 존재 여부와 검출된 흠의 크기를 알 수 있다.
이 대신에, 이미지를 어두운 부분과 밝은 부분으로 이분하여, 도 6과 같이 어두운 부분을 0으로 하고, 밝은 부분을 1로 치환하고 0으로 치환하여 흠을 검출하는 간단한 이미지 처리를 수행할 수 있다.
즉, 도 6에서의 A 영역과 같은 0으로 된 부분의 영역의 좌표를 읽어 내며, 얻어진 좌표에서 0의 값을 가진 픽셀의 수를 계산하여 미리 설정된 한 픽셀당 실제 길이를 이용하여 흠의 크기를 계산할 수 있다.
상기와 같이 얻어진 슬라브 측면 흠의 좌표와 흠의 크기를 연속 주조 흠 관리 시스템에 전송하여 조업데이터와 연계할 수 있도록 하며, 영역 좌표를 후단에 있는 슬라브 측면 가공기에 전송하여 연속 주조 슬라브 측면의 흠을 제거하도록 한다.
본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 첨부된 청구범위에 의해 한정된다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이며, 이 또한 첨부된 청구범위에 기재된 기술적 사상에 속한다 할 것이다.
도 1은 종래 기술에 따른 슬라브 측면 홈 검출 장치의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면 흠 검출 장치에 대한 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따라 사용될 수 있는 광원의 블록도이다.
도 4는 이송 중인 슬라브의 이송 상태를 나타내는 개략도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따로 조합된 슬라브 측면의 이미지이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 슬라브 측면 흠 검출 장치를 통한 슬라브 측면의 픽셀 이미지이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10: 슬라브 20: 롤러 테이블
30: IVT 카메라 40: 표시장치
50: 롤러 구동 장치 60: 로터리 인코더
100: 슬라브 측면 흠 검출 장치 110: 광원
111: DC 광 공급기 112: 광섬유 케이블
113: 광 분포 장치 114: 집광 렌즈
120: CCD 카메라 130: 이미지 처리기
131: 이미지 수집기 140: 구동 수단
150: 위치 센서

Claims (9)

  1. 연속 주조 공정을 통해 제조된 슬라브의 측면에 있는 흠을 검출하는 장치에 있어서,
    상기 슬라브의 측면에 광을 조사하는 광원;
    상기 슬라브의 측면 영역에 배치되어 상기 광이 조사된 상기 슬라브의 측면을 촬상하여 촬상된 이미지를 공급하는 CCD 카메라; 및
    상기 CCD 카메라로부터의 이미지에서 상기 슬라브 측면에 발생한 흠을 검출하는 이미지 처리기;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 CCD 카메라는 라인 CCD 카메라인 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 광원은 시간에 따라 일정한 광을 조사하는 DC 광원인 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 광원은 상기 CCD 카메라를 중심으로 대칭으로 배치되어 상기 광을 조사하는 적어도 2개의 조명 기구를 포함하는 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 적어도 2개의 조명 기구에서의 광들이 이루는 각이 가변되도록 상기 조명 기구들의 위치를 조절하는 조명 각도 조절 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치
  6. 제1항에 있어서,
    상기 광원 및 상기 CCD 카메라는 일체로 구성되며,
    상기 슬라브의 측면 위치를 검출하는 위치 센서; 및
    상기 위치 센서로부터 검출된 상기 슬라브의 측면 위치를 이용하여 상기 CCD 카메라 및 상기 광원으로부터 상기 슬라브의 측면까지의 거리가 일정하도록 상기 CCD 카메라 및 상기 광원을 이동시키는 이동 수단;
    을 더 구비한 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 위치 센서는 상기 슬라브의 진행 방향을 기준으로 상기 CCD 카메라보다 더 앞쪽에 설치되는 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 이미지 처리기는 상기 CCD 카메라로부터의 이미지를 수집하여 상기 슬라브 측면의 전체 이미지로 조합하는 이미지 수집기를 포함하며,
    상기 이미지 처리기는 상기 이미지 수집기로부터의 전체 이미지에서 상기 슬라브 측면의 흠을 검출하는 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치.
  9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 슬라브는 스카핑 공정 후에 측면의 흠이 검출되는 것을 특징으로 하는 슬라브 측면의 흠 검출 장치.
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