KR20090036374A - Light emitting cell and method of making the same - Google Patents

Light emitting cell and method of making the same Download PDF

Info

Publication number
KR20090036374A
KR20090036374A KR20070101530A KR20070101530A KR20090036374A KR 20090036374 A KR20090036374 A KR 20090036374A KR 20070101530 A KR20070101530 A KR 20070101530A KR 20070101530 A KR20070101530 A KR 20070101530A KR 20090036374 A KR20090036374 A KR 20090036374A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light emitting
emitting device
cell
layer
substrate
Prior art date
Application number
KR20070101530A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101459554B1 (en
Inventor
김근호
송용선
원유호
Original Assignee
엘지전자 주식회사
엘지이노텍 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지전자 주식회사, 엘지이노텍 주식회사 filed Critical 엘지전자 주식회사
Priority to KR1020070101530A priority Critical patent/KR101459554B1/en
Publication of KR20090036374A publication Critical patent/KR20090036374A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101459554B1 publication Critical patent/KR101459554B1/en

Links

Images

Landscapes

  • Led Devices (AREA)

Abstract

A light emitting cell and manufacturing method thereof are provided to improve the mass producibility by electrically separating from each emitting device cell. The mask layer(210) having the pattern defining the compartment region of the unit emitting device cell is formed on the top of the insulating substrate(200). The emitting device cell(300) having the light emitting diode structure of the gallium nitride group semiconductor is formed on the top of the substrate including the mask layer. The emitting device cell is formed on the low temperature buffer layer. The contact part for the electrical contact of the emitting device cell is formed. The second conductivity semiconductor layer of the emitting device cell is exposed by the contact part.

Description

발광 셀 및 그 제조방법 {Light emitting cell and method of making the same}Light emitting cell and method of manufacturing the same

본 발명은 발광 셀 및 그 제조방법에 관한 것으로 특히, 교류 전원으로 구동이 가능하고 셀의 성능과 양산성을 향상시킬 수 있는 발광 셀 및 그 제조방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a light emitting cell and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a light emitting cell and a method for manufacturing the same, which can be driven by an AC power source and improve the performance and mass productivity of the cell.

발광 다이오드(Light Emitting Diode: LED)는 전류를 빛으로 변환시키는 잘 알려진 반도체 발광 소자로서, 1962년 GaAsP 화합물 반도체를 이용한 적색 LED가 상품화 된 것을 시작으로 GaP:N 계열의 녹색 LED와 함께 정보 통신기기를 비롯한 전자장치의 표시 화상용 광원으로 이용되어 왔다.Light Emitting Diodes (LEDs) are well-known semiconductor light emitting devices that convert current into light.In 1962, red LEDs using GaAsP compound semiconductors were commercialized, along with GaP: N series green LEDs. It has been used as a light source for display images of electronic devices, including.

이러한 LED에 의해 방출되는 광의 파장은 LED를 제조하는데 사용되는 반도체 재료에 따른다. 이는 방출된 광의 파장이 가전자대(valence band) 전자들과 전도대(conduction band) 전자들 사이의 에너지 차를 나타내는 반도체 재료의 밴드갭(band-gap)에 따르기 때문이다. The wavelength of light emitted by such LEDs depends on the semiconductor material used to make the LEDs. This is because the wavelength of the emitted light depends on the band-gap of the semiconductor material, which represents the energy difference between the valence band electrons and the conduction band electrons.

질화 갈륨 화합물 반도체(Gallium Nitride: GaN)는 높은 열적 안정성과 폭넓은 밴드갭(0.8 ~ 6.2eV)을 가지고 있어, LED를 포함한 고출력 전자부품 소자 개발 분야에서 많은 주목을 받아왔다. Gallium nitride compound semiconductors (Gallium Nitride (GaN)) have high thermal stability and wide bandgap (0.8 to 6.2 eV), which has attracted much attention in the development of high-power electronic components including LEDs.

이에 대한 이유 중 하나는 GaN이 타 원소들(인듐(In), 알루미늄(Al) 등)과 조합되어 녹색, 청색 및 백색광을 방출하는 반도체 층들을 제조할 수 있기 때문이다.One reason for this is that GaN can be combined with other elements (indium (In), aluminum (Al), etc.) to produce semiconductor layers that emit green, blue and white light.

이와 같이 방출 파장을 조절할 수 있기 때문에 특정 장치 특성에 맞추어 재료의 특징들에 맞출 수 있다. 예를 들어, GaN를 이용하여 광기록에 유익한 청색 LED와 백열등을 대치할 수 있는 백색 LED를 만들 수 있다. In this way, the emission wavelength can be adjusted to match the material's characteristics to specific device characteristics. For example, GaN can be used to create white LEDs that can replace incandescent and blue LEDs that are beneficial for optical recording.

이러한 GaN 계열 물질의 이점들로 인해, GaN 계열의 LED 시장이 급속히 성장하고 있다. 따라서, 1994년에 상업적으로 도입한 이래로 GaN 계열의 광전자장치 기술도 급격히 발달하였다. Due to the advantages of these GaN-based materials, the GaN-based LED market is growing rapidly. Therefore, since commercial introduction in 1994, GaN-based optoelectronic device technology has rapidly developed.

상술한 바와 같은 GaN 계열 물질을 이용한 LED의 휘도 또는 출력은 크게, 활성층의 구조, 빛을 외부로 추출할 수 있는 광추출 효율, LED 칩의 크기, 램프 패키지 조립 시 몰드(mold)의 종류 및 각도, 형광물질 등에 의해서 좌우된다.The brightness or output of the LED using the GaN-based material as described above is large, the structure of the active layer, the light extraction efficiency to extract light to the outside, the size of the LED chip, the type and angle of the mold (mold) when assembling the lamp package , Fluorescent material and the like.

이와 같은 방법에 의하여 제작한 발광 소자는 직류 전원에 의하여 구동하게 되는데, 한 개의 발광 소자를 구동하는데 필요한 동작전압은 수 V정도의 전압이 필요하다.The light emitting device manufactured by the above method is driven by a DC power supply, and an operating voltage required to drive one light emitting device requires a voltage of about V.

본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 일반적인 발광 소자의 구동 전압보다 더 높은 피크 전압을 갖는 교류 전원에서도 구동이 가능한 발광 셀 및 그 제조방법을 제공하는 데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in an effort to provide a light emitting cell capable of driving an AC power supply having a peak voltage higher than that of a general light emitting device and a method of manufacturing the same.

상기 기술적 과제를 이루기 위한 제1관점으로서, 본 발명은, 기판 상의 단위 발광 소자 셀의 구분영역을 정의하는 패턴을 갖는 마스크층을 형성하는 단계와; 상기 마스크층이 형성된 기판 상에 제1전도성 반도체층, 활성층, 및 제2전도성 반도체층을 순차적으로 형성하여 다수의 발광 소자 셀을 형성하는 단계와; 상기 각 발광 소자 셀의 제2전도성 반도체층이 드러나는 컨택부를 형성하는 단계와; 상기 각 컨택부와 이웃하는 발광 소자 셀의 제1전도성 반도체층을 전기적으로 서로 연결하는 연결부를 형성하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.As a first aspect for achieving the above technical problem, the present invention comprises the steps of: forming a mask layer having a pattern defining a division region of a unit light emitting device cell on a substrate; Forming a plurality of light emitting device cells by sequentially forming a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer on the substrate on which the mask layer is formed; Forming a contact portion in which the second conductive semiconductor layers of each light emitting device cell are exposed; And forming a connecting portion electrically connecting the first conductive semiconductor layers of each of the contact portions and the neighboring light emitting device cells to each other.

상기 기술적 과제를 이루기 위한 제2관점으로서, 본 발명은, 절연성 기판과; 상기 기판 상에 단위 발광 소자 셀의 구분영역을 정의하는 패턴을 갖는 마스크층과; 상기 마스크층 패턴 사이에 주 면적이 위치하며, 제1전도성 반도체층과, 발광층, 및 제2전도성층을 포함하는 다수의 발광 소자 셀과; 상기 발광 소자 셀의 제1전도성층과 이웃하는 발광 소자 셀의 제2전도성층을 전기적으로 서로 연결하는 연결부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 한다.As a 2nd viewpoint for achieving the said technical subject, this invention is an insulating substrate; A mask layer having a pattern defining a division area of a unit light emitting cell on the substrate; A plurality of light emitting device cells having a main area between the mask layer patterns and including a first conductive semiconductor layer, a light emitting layer, and a second conductive layer; And a connection part electrically connecting the first conductive layer of the light emitting device cell and the second conductive layer of the neighboring light emitting device cell to each other.

본 발명은 교류를 직류로 바꾸어 주는 컨버터 없이 구동이 가능하고, 발광 소자 반도체 박막을 형성하는 단계에서 각 발광 소자 셀을 전기적으로 분리되도록 함으로써 양산성을 향상시킬 수 있으며 발광 효율을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.The present invention can be driven without a converter for converting alternating current into direct current, and the light emitting device cells can be electrically separated in the step of forming a light emitting device semiconductor thin film, thereby improving productivity and improving luminous efficiency. There is.

이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명에 의한 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명이 여러 가지 수정 및 변형을 허용하면서도, 그 특정 실시예들이 도면들로 예시되어 나타내어지며, 이하에서 상세히 설명될 것이다. 그러나 본 발명을 개시된 특별한 형태로 한정하려는 의도는 아니며, 오히려 본 발명은 청구항들에 의해 정의된 본 발명의 사상과 합치되는 모든 수정, 균등 및 대용을 포함한다. While the invention allows for various modifications and variations, specific embodiments thereof are illustrated by way of example in the drawings and will be described in detail below. However, it is not intended to be exhaustive or to limit the invention to the precise forms disclosed, but rather the invention includes all modifications, equivalents, and alternatives consistent with the spirit of the invention as defined by the claims.

동일한 참조번호는 도면의 설명을 통하여 동일한 요소를 나타낸다. 도면들에서 층들 및 영역들의 치수는 명료성을 위해 과장되어있다. Like reference numerals denote like elements throughout the description of the drawings. In the drawings the dimensions of layers and regions are exaggerated for clarity.

층, 영역 또는 기판과 같은 요소가 다른 구성요소 "상(on)"에 존재하는 것으로 언급될 때, 이것은 직접적으로 다른 요소 상에 존재하거나 또는 그 사이에 중간 요소가 존재할 수도 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 표면과 같은 구성 요소의 일부가 '내부(inner)'라고 표현된다면 이것은 그 요소의 다른 부분들 보다도 소자의 외측으로부터 더 멀리 있다는 것을 의미한다고 이해할 수 있을 것이다. When an element such as a layer, region or substrate is referred to as being on another component "on", it will be understood that it may be directly on another element or there may be an intermediate element in between. . If a part of a component, such as a surface, is expressed as 'inner', it will be understood that this means that it is farther from the outside of the device than other parts of the element.

나아가 '아래(beneath)' 또는 '중첩(overlies)'과 같은 상대적인 용어는 여기에서는 도면에서 도시된 바와 같이 기판 또는 기준층과 관련하여 한 층 또는 영 역과 다른 층 또는 영역에 대한 한 층 또는 영역의 관계를 설명하기 위해 사용될 수 있다. Furthermore, relative terms such as "beneath" or "overlies" refer to the relationship of one layer or region to one layer or region and another layer or region with respect to the substrate or reference layer, as shown in the figures. Can be used to describe.

이러한 용어들은 도면들에서 묘사된 방향에 더하여 소자의 다른 방향들을 포함하려는 의도라는 것을 이해할 수 있을 것이다. 마지막으로 '직접(directly)'라는 용어는 중간에 개입되는 어떠한 요소가 없다는 것을 의미한다. 여기에서 사용되는 바와 같이 '및/또는'이라는 용어는 기록된 관련 항목 중의 하나 또는 그 이상의 어느 조합 및 모든 조합을 포함한다.It will be understood that these terms are intended to include other directions of the device in addition to the direction depicted in the figures. Finally, the term 'directly' means that there is no element in between. As used herein, the term 'and / or' includes any and all combinations of one or more of the recorded related items.

비록 제1, 제2 등의 용어가 여러 가지 요소들, 성분들, 영역들, 층들 및/또는 지역들을 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 이러한 요소들, 성분들, 영역들, 층들 및/또는 지역들은 이러한 용어에 의해 한정되어서는 안 된다는 것을 이해할 것이다. Although the terms first, second, etc. may be used to describe various elements, components, regions, layers, and / or regions, such elements, components, regions, layers, and / or regions It will be understood that it should not be limited by these terms.

이러한 용어들은 단지 다른 영역, 층 또는 지역으로부터 어느 하나의 요소, 성분, 영역, 층 또는 지역들을 구분하기 위해 사용되는 것이다. 따라서 아래에서 논의된 제1 영역, 층 또는 지역은 제2 영역, 층 또는 지역이라는 명칭으로 될 수 있다.These terms are only used to distinguish one element, component, region, layer or region from another region, layer or region. Thus, the first region, layer or region discussed below may be referred to as the second region, layer or region.

본 발명의 실시예들은 예를 들어, 사파이어(Al2O3)계 기판과 같은 비도전성 기판상에 형성된 질화갈륨(GaN)계 발광 소자를 참조하여 설명될 것이다. 그러나 본 발명은 이러한 구조에 한정되는 것은 아니다. Embodiments of the present invention will be described with reference to a gallium nitride (GaN) based light emitting device formed on a nonconductive substrate such as, for example, a sapphire (Al 2 O 3 ) based substrate. However, the present invention is not limited to this structure.

본 발명의 실시예들은 도전성 기판을 포함하여 다른 기판을 사용할 수 있다. 따라서 GaP 기판상의 AlGaInP 다이오드, SiC 기판상의 GaN 다이오드, SiC 기판상의 SiC 다이오드, 사파이어 기판상의 SiC 다이오드, 및/또는 GaN, SiC, AlN, ZnO 및/또는 다른 기판상의 질화물계 다이오드 등의 조합이 포함될 수 있다. 더구나 본 발명은 활성영역은 다이오드 영역의 사용에 한정되는 것은 아니다. 또한 활성영역의 다른 형태들이 본 발명의 일부 실시예들에 따라서 사용될 수도 있다.Embodiments of the invention may use other substrates, including conductive substrates. Thus, combinations of AlGaInP diodes on GaP substrates, GaN diodes on SiC substrates, SiC diodes on SiC substrates, SiC diodes on sapphire substrates, and / or GaN, SiC, AlN, ZnO and / or nitride based diodes on other substrates may be included. have. Moreover, the present invention is not limited to the use of the diode region. Other forms of active area may also be used in accordance with some embodiments of the present invention.

본 발명은 발광 소자 칩을 전기적인 절연이 이루어지도록 복수 개의 셀로 나누어 구성하는 발광 셀과, 이를 이용하여 교류 전원에 의하여 구동 가능한 발광 소자 칩에 관한 것이다.The present invention relates to a light emitting cell configured to divide the light emitting device chip into a plurality of cells so that electrical insulation is achieved, and a light emitting device chip which can be driven by an AC power source using the same.

통상, 발광 소자를 이용하여 일반 조명이나 신호등 또는 비 발광 소자의 백라이트로 사용되는 경우, 컨버터를 이용하여 외부 회로로부터 공급되는 교류 전압을 직류로 바꾸어 발광 소자를 구동하게 되므로 단가가 올라가게 되고, 조명용으로 사용하는 경우에는 기존의 필라멘트 전구형 등과는 호환이 이루어지지 않으므로 필라멘트 전구를 발광 다이오드로 대체하는 경우 점등 장치 전체를 교환하게 되는 문제점을 안고 있다. In general, when the light emitting device is used as a backlight for general lighting, a traffic light, or a non-light emitting device, the unit price is increased since the AC voltage supplied from an external circuit is converted to a direct current using a converter to drive the light emitting device. In the case of using as a conventional filament bulb type is not compatible, so when replacing the filament bulb with a light emitting diode has a problem that the entire lighting device is replaced.

도 1에서 도시하는 바와 같이, 가정용 교류 전원에서 구동이 가능한 발광 소자를 제작하려면 교류 구동 발광 셀(100)을 전기적으로 절연된 발광 소자 셀(101)로 나누고, 이 발광 소자 셀(101)들을 직렬로 연결하여 두 개의 어레이 블록(110, 120)으로 만들며, 이 어레이 블록(110, 120)은 병렬로 구성하여 교류 전원(130)의 양극(+)과 음극(-)에서 각각 구동될 수 있도록 반대 극성으로 배치한다. As shown in FIG. 1, in order to manufacture a light emitting device that can be driven by a home AC power source, the AC driving light emitting cell 100 is divided into an electrically insulated light emitting device cell 101, and the light emitting device cells 101 are serially connected. Two array blocks (110, 120) are connected to each other, and the array blocks (110, 120) are configured in parallel so that they can be driven at the positive (+) and the negative (-) of the AC power supply 130, respectively. Place with polarity.

이러한 교류 전원(130)에 의하여 구동되는 발광 셀(100)은 다수의 개별 발광 소자 셀(101)로 이루어지는데, 특히, 발광 소자 셀(101)을 이루는 GaN 반도체 박막의 성장 단계에서 개별 발광 소자 셀(101)들을 전기적으로 분리시키게 된다. The light emitting cell 100 driven by the AC power source 130 is composed of a plurality of individual light emitting device cells 101, in particular, the individual light emitting device cells in the growth step of the GaN semiconductor thin film constituting the light emitting device cell 101. 101 are electrically separated.

또한, 이러한 발광 셀(100)과 교류 전원(130)에는 전류 제한 수동 소자로 캐패시터(140) 외에 저항(미도시) 또는 인덕터(미도시)와 같은 소자가 구비될 수 있다.In addition, the light emitting cell 100 and the AC power supply 130 may be provided with elements such as a resistor (not shown) or an inductor (not shown) in addition to the capacitor 140 as a current limiting passive device.

<제1실시예>First Embodiment

도 2에서 도시하는 바와 같이, 사파이어와 같은 절연성 기판(200) 상에 단위 발광 소자 셀의 구분영역을 정의하는 패턴을 갖는 마스크층(210)을 형성한다. 이러한 마스크층(210)은 질화막, 산화막, 금속막 등을 이용하여 형성할 수 있고, 특히, SiN, Si3N4, 및 SiO2등과 같은 물질로 형성될 수 있다.As shown in FIG. 2, a mask layer 210 having a pattern defining a divided area of a unit light emitting device cell is formed on an insulating substrate 200 such as sapphire. The mask layer 210 may be formed using a nitride film, an oxide film, a metal film, or the like, and in particular, may be formed of a material such as SiN, Si 3 N 4 , SiO 2, or the like.

이러한 마스크층(210)은 식각, 노광 및 현상 등의 패터닝 방법을 이용하여 단위 발광 소자 셀의 구분영역을 정의하도록 패터닝된다. 즉, 이러한 마스크층(210)은 단위 발광 소자 셀의 형상이 사각형이라면 기판(200) 상에 그물형 구조(메쉬)를 이루도록 패터닝될 수 있다.The mask layer 210 is patterned to define a division region of the unit light emitting device cell by using a patterning method such as etching, exposure and development. That is, the mask layer 210 may be patterned to form a mesh structure (mesh) on the substrate 200 when the unit light emitting cell has a rectangular shape.

이후, 도 3에서와 같이, 이러한 마스크층(210)이 형성된 기판(200) 상에 발광 소자 구조, 예를 들면 질화갈륨 계열 반도체(AlxInyGa1 -x- yN, 0 ≤ x, y ≤ 1)로 이루어지는 발광 다이오드 구조를 갖는 발광 소자 셀(300)을 형성한다.Then, as shown in Figure 3, the mask layer 210, a light emitting device structure on a substrate 200 is formed, for example, GaN-based semiconductor (Al x In y Ga 1 -x- y N, 0 ≤ x, A light emitting device cell 300 having a light emitting diode structure composed of y ≦ 1) is formed.

이러한 발광 소자 셀(300)은 순차적으로 n-형 반도체층(310), 발광층(320), 및 p-형 반도체층(330)으로 이루어질 수 있으며, 이러한 발광 소자 셀(300)은 저온 버퍼층 상에 형성될 수 있다. The light emitting device cells 300 may be sequentially formed of an n-type semiconductor layer 310, a light emitting layer 320, and a p-type semiconductor layer 330, and the light emitting device cells 300 may be formed on a low temperature buffer layer. Can be formed.

이때, 이러한 개별 발광 소자 셀(300)은 주로 마스크층(210) 패턴이 형성되지 않은 부분에서 성장이 되며, 이러한 마스크층(210) 패턴에 의하여 서로 분리된 상태를 유지하게 된다. 즉, 도 3에서와 같이, 마스크층(210) 상의 일부분에서도 발광 소자 셀(300)이 성장될 수 있으나, 대부분의 발광 소자 셀(300)은 마스크층(210) 이외의 부분에 성장이 된다.At this time, the individual light emitting device cells 300 are mainly grown in a portion where the mask layer 210 pattern is not formed, and are kept separated from each other by the mask layer 210 pattern. That is, as shown in FIG. 3, the light emitting device cell 300 may be grown on a portion of the mask layer 210, but most of the light emitting device cells 300 are grown on portions other than the mask layer 210.

이러한 마스크층(210)에 의하여 개별 발광 소자 셀(300)이 성장시에 서로 분리되도록 성장할 수 있으며, 각 발광 소자 셀(300)을 이루는 GaN 계열 반도체층이 서로 합체(Coalescence)가 일어나기 전에 성장을 멈추어 발광 소자 셀(300)을 구성하는 반도체층이 전기적으로 절연되도록 형성한다. By the mask layer 210, the individual light emitting device cells 300 may be grown to be separated from each other at the time of growth, and the GaN-based semiconductor layers constituting the light emitting device cells 300 may grow before coalescence occurs. The semiconductor layer constituting the light emitting device cell 300 is formed to be electrically insulated.

이후, 도 4에서 도시하는 바와 같이, 발광 소자 셀(300)의 전기적 컨택(contact)을 위하여 컨택부(340)를 형성한다. 즉, n-형 반도체층(310)이 드러나도록 식각하여 컨택부(340)를 형성한다. Thereafter, as shown in FIG. 4, a contact portion 340 is formed for electrical contact of the light emitting device cell 300. That is, the contact portion 340 is formed by etching the n-type semiconductor layer 310 to be exposed.

이러한 컨택부(340)는 이웃하는 발광 소자 셀(300)과 연결되며, 따라서, 서로 연결될 발광 소자 셀(300)을 향하여 형성될 수 있다. 즉, 연결될 이웃하는 발광 소자 셀(300)의 방향을 향하여 컨택부(340)의 위치가 달라질 수 있다.The contact portion 340 is connected to the neighboring light emitting device cells 300, and thus may be formed toward the light emitting device cells 300 to be connected to each other. That is, the position of the contact unit 340 may be changed in the direction of the neighboring light emitting device cell 300 to be connected.

다음에는 도 5에서와 같이, 컨택부(340)와 이웃하는 발광 소자 셀(300)의 p-형 반도체층(330)이 서로 전기적으로 연결되도록 패턴을 갖는 금속을 증착하여 연결부(350)를 형성한다.Next, as shown in FIG. 5, the connection part 350 is formed by depositing a metal having a pattern such that the contact part 340 and the p-type semiconductor layer 330 of the neighboring light emitting device cell 300 are electrically connected to each other. do.

이러한 연결부(350)는 이웃하는 발광 소자 셀(300)이 서로 직렬로 연결되도 록 패턴을 가지며, 도시하는 바와 같이, 발광 소자 셀(300)의 컨택부(340)에 의하여 노출된 n-형 반도체층(310)에 형성되고 마스크층(210) 상에서 연장되어 이웃하는 발광 소자 셀(300)의 p-형 반도체층(330)을 연결하게 된다.The connection part 350 has a pattern such that adjacent light emitting device cells 300 are connected to each other in series, and as shown, an n-type semiconductor exposed by the contact part 340 of the light emitting device cell 300. It is formed on the layer 310 and extends on the mask layer 210 to connect the p-type semiconductor layer 330 of the neighboring light emitting device cell 300.

도 6에서는 이와 같이 과정에 의하여 형성된 발광 셀(100)을 나타내고 있다. 도시하는 바와 같이, 이웃하는 발광 소자 셀(300)이 도 1에 나타난 발광 셀(100)의 회로와 같은 배열로 배열된 상태를 나타내고 있다.6 shows the light emitting cell 100 formed by the above process. As shown in the drawing, the neighboring light emitting cell 300 is arranged in the same arrangement as the circuit of the light emitting cell 100 shown in FIG.

도 6에서는 36개의 발광 소자 셀(200)을 구성한 것으로, 이러한 발광 소자 셀(300)의 개수는 발광 셀(100)에 흐르는 전류를 제한하기 위하여 사용되는 캐패시터 또는 저항과 구동 전압 및 발광 소자 셀(300)의 전기/광학적 특성에 따라 정하여지며, 캐패시터의 충전과 방전을 고려하여 짝수 개의 발광 소자 셀(300)로 구성하는 것이 바람직하다. In FIG. 6, 36 light emitting device cells 200 are configured. The number of light emitting device cells 300 includes a capacitor or a resistor and a driving voltage and a light emitting device cell used to limit a current flowing through the light emitting cell 100. It is determined according to the electrical / optical characteristics of 300, and it is preferable to configure an even number of light emitting device cells 300 in consideration of charging and discharging of a capacitor.

도 6에서 V11과 V12 또는 V21과 V22는 외부 교류회로와 전기적으로 연결되는 연결부(350)를 나타낸 것으로서, 이러한 연결부(350)에는 별도의 패드(도시되지 않음)가 형성될 수 있다.In FIG. 6, V 11 and V 12 or V 21 and V 22 illustrate a connection part 350 that is electrically connected to an external AC circuit, and a separate pad (not shown) may be formed in the connection part 350. .

이와 같은 패드의 위치는 입력과 출력 패드가 서로 점 대칭이 되어서 입력 단자(또는 출력 단자)로부터 출력 단자(또는 입력 단자)까지 양 방향으로의 발광 소자 셀(300)의 개수가 동일하게 선택될 수 있다.The position of the pad may be such that the number of the light emitting device cells 300 in both directions from the input terminal (or output terminal) to the output terminal (or input terminal) may be equally selected since the input and output pads are point symmetric with each other. have.

이러한 복수 개의 발광 소자 셀(300) 중 반 수는 직렬로 연결하여 정현파 교류 전원의 반 사이클에서 구동이 가능하도록 배치하고, 나머지 반 수의 발광 소자 셀(300)은 직렬로 연결하되, 위의 발광 소자 셀(300)과는 병렬로 연결되도록 하고 극성이 반대로 연결되도록 하여 교류 전원의 나머지 반 사이클에서 구동되도록 구성하여 외부 회로에 부착되는 캐패시터의 충전과 방전시 전류가 교번할 수 있도록 발광 소자 셀(300)을 배치하여 발광 셀(100)을 제작할 수 있다.Half of the plurality of light emitting device cells 300 are connected in series so as to be driven in a half cycle of a sine wave AC power, and the other half of the light emitting device cells 300 are connected in series, but the above light emission The light emitting device cell is configured to be connected in parallel with the device cell 300 and to be connected in reverse polarity so as to be driven in the remaining half cycle of the AC power supply so that the current alternates during charging and discharging of the capacitor attached to the external circuit. The light emitting cell 100 may be manufactured by disposing 300.

<제2실시예>Second Embodiment

도 7에서 도시하는 바와 같이, 절연성 기판(400) 상에 단위 발광 소자 셀의 구분영역을 정의하는 패턴을 가지는 마스크층(410)을 형성한다. 이때, 기판(400)의 마스크층(410) 패턴이 형성될 영역의 외측에 먼저 단위 발광 소자 셀의 형성 영역을 정의하는 홈(420)을 형성할 수 있다.As shown in FIG. 7, a mask layer 410 having a pattern defining a division area of a unit light emitting device cell is formed on the insulating substrate 400. In this case, a groove 420 may be formed at an outer side of the region where the mask layer 410 pattern of the substrate 400 is to be formed to define a region in which the unit light emitting device cells are formed.

이때, 절연성 기판(400)은 A-평면 또는 M-평면을 갖는 비극성(Non polar) 사파이어 기판(400)이 이용될 수 있다. 이러한 비극성 기판(400)은 극성의 C-평면 사파이어가 가지는 피에조 전기장(piezo electic field)을 제거하기 위하여 연구가 진행되고 있다.In this case, as the insulating substrate 400, a non-polar sapphire substrate 400 having an A-plane or an M-plane may be used. The non-polar substrate 400 is being studied to remove the piezo electic field of the polar C-plane sapphire.

이러한 비극성 특성을 지닌 A-평면 또는 M-평면 사파이어 기판(400)에 질화막, 산화막, 금속막 등을 이용하여 형성할 수 있고, 특히, SiN, Si3N4, 및 SiO2 등과 같은 물질로 이루어지는 마스크층(410)을 형성한 후, 발광 소자 셀(500)을 이루는 반도체 박막을 성장하면 마스크층(410)이 있는 부분은 반도체 박막이 성장되지 않고, 마스크층(410)이 없는 사파이어 기판(400) 부분에서는 반도체 박막이 성장되어 도 8과 같은 구조를 이루게 된다.The A-plane or M-plane sapphire substrate 400 having such non-polar characteristics may be formed by using a nitride film, an oxide film, a metal film, and the like, and particularly, made of a material such as SiN, Si 3 N 4 , and SiO 2 . After the mask layer 410 is formed, when the semiconductor thin film constituting the light emitting device cell 500 is grown, the portion where the mask layer 410 is located is not grown, and the sapphire substrate 400 without the mask layer 410 is formed. In the) part, the semiconductor thin film is grown to form a structure as shown in FIG. 8.

이때, 일반적으로 GaN 계열의 반도체 박막의 성장 속도를 빠르게 하면 수직 방향으로의 성장 속도는 빠른 반면 수평 방향의 성장 속도는 느리게 형성하여, 합체(Coalescence)가 일어나지 않고 원하는 두께의 GaN 계열 반도체 박막을 성장할 수 있게 된다. In this case, in general, when the growth rate of the GaN-based semiconductor thin film is increased, the growth speed in the vertical direction is increased while the growth speed in the horizontal direction is slow, so that GaN-based semiconductor thin films having a desired thickness can be grown without coalescence. It becomes possible.

도 9에서는 이와 같은 과정에 의하여 성장된 발광 소자 셀(500)을 이루는 반도체 박막을 나타내는 SEM 단면 사진으로서 발광 소자 셀(500)이 잘 형성되었음을 알 수 있다. In FIG. 9, it can be seen that the light emitting device cell 500 is well formed as an SEM cross-sectional view showing a semiconductor thin film constituting the light emitting device cell 500 grown by the above process.

이후, 도 10에서 도시하는 바와 같이, 발광 소자 셀(500)의 전기적 컨택(contact)을 위하여 컨택부(540)를 형성한다. 즉, n-형 반도체층(510)이 드러나도록 식각하여 컨택부(540)를 형성한다. Thereafter, as shown in FIG. 10, a contact portion 540 is formed for electrical contact of the light emitting device cell 500. That is, the contact portion 540 is formed by etching the n-type semiconductor layer 510 to be exposed.

이어서, 도 11에서와 같이, 컨택부(540)와 이웃하는 발광 소자 셀(500)의 p-형 반도체층(530)이 서로 전기적으로 연결되도록 패턴을 갖는 금속을 증착하여 연결부(550)를 형성한다.Subsequently, as shown in FIG. 11, the connection part 550 is formed by depositing a metal having a pattern such that the contact part 540 and the p-type semiconductor layer 530 of the neighboring light emitting device cell 500 are electrically connected to each other. do.

이러한 연결부(550)는 이웃하는 발광 소자 셀(500)이 서로 직렬로 연결되도록 패턴을 가지며, 도시하는 바와 같이, 발광 소자 셀(500)의 컨택부(540)에 의하여 노출된 n-형 반도체층(510)에 형성되고 마스크층(410) 상에서 연장되어 이웃하는 발광 소자 셀(500)의 p-형 반도체층(530)을 연결하게 된다.The connection part 550 has a pattern such that neighboring light emitting device cells 500 are connected to each other in series, and as shown, an n-type semiconductor layer exposed by the contact part 540 of the light emitting device cell 500. It is formed on the 510 and extends on the mask layer 410 to connect the p-type semiconductor layer 530 of the neighboring light emitting device cells 500.

이와 같은 과정에서 제작된 발광 소자 셀(500)을 이용하여 교류 구동이 가능한 발광 셀을 제작하는 과정은 제1실시예와 동일할 수 있다.The process of fabricating an AC drive light emitting cell using the light emitting device cell 500 manufactured in the above process may be the same as in the first embodiment.

상술한 제1 및 제2실시예에서와 같이, 발광 소자 셀을 이루는 반도체 박막의 성장 중에 각 발광 소자 셀을 전기적으로 절연시키도록 형성할 수 있으며, 이러한 본 발명의 실시예는 반도체 식각 방법을 이용한 반도체 발광 소자 셀의 분리과정보다 매우 효율적으로 발광 소자 셀을 제작할 수 있다.As in the first and second embodiments described above, each of the light emitting device cells may be formed to be electrically insulated during the growth of the semiconductor thin film constituting the light emitting device cells. The light emitting device cell can be manufactured more efficiently than the semiconductor light emitting device cell separation process.

즉, 이와 같이 반도체 박막의 성장 과정에서 개별 발광 소자 셀을 분리하지 않으면, 성장 과정 후에 개별 발광 소자 셀로 분리하여야 하는데, 이러한 반도체 박막의 두께는 수 ㎛ 이상이 되고, GaN 계열 반도체 박막은 식각율이 매우 낮으므로 제작 과정에 큰 걸림돌이 된다.That is, if the individual light emitting device cells are not separated in the growth process of the semiconductor thin film as described above, the individual light emitting device cells should be separated after the growth process. The thickness of the semiconductor thin film is several μm or more, and the GaN-based semiconductor thin film has an etch rate. It is so low that it is a big obstacle to the manufacturing process.

또한, 가정용 전원에서 구동 가능한 교류 구동 발광 다이오드를 제작하기 위해서는 개별 발광 소자 셀의 개수가 수십 개에서 수백 개로 구현될 수 있으나, 두꺼운 GaN 박막을 식각 마스크인 감광막 또는 메탈 마스크를 이용하여 패터닝 하기 어려우며, 종래의 방법으로는 셀의 간격을 가깝게 구현하는 것이 불가능하게 되어 발광 효율을 올리는데 한계가 있다.In addition, in order to fabricate an AC driving light emitting diode that can be driven from a home power source, the number of individual light emitting device cells may be realized from several tens to hundreds. In the conventional method, it is impossible to realize the cell spacing close to each other, which limits the luminous efficiency.

그러나 상술한 본 발명은 개별 발광 소자 셀 사이의 간격을 가깝게 하여 균일한 발광이 이루어지도록 하면서 용이하게 개별 발광 소자 셀을 분리하여 교류 구동이 가능한 발광 셀을 제작할 수 있는 것이다.However, the present invention described above can produce a light emitting cell capable of AC driving by easily separating individual light emitting device cells while allowing uniform light emission by making the distance between individual light emitting device cells close.

상기 실시예는 본 발명의 기술적 사상을 구체적으로 설명하기 위한 일례로서, 본 발명은 상기 실시예에 한정되지 않으며, 다양한 형태의 변형이 가능하고, 이러한 기술적 사상의 여러 실시 형태는 모두 본 발명의 보호범위에 속함은 당연하다.The above embodiment is an example for explaining the technical idea of the present invention in detail, and the present invention is not limited to the above embodiment, various modifications are possible, and various embodiments of the technical idea are all protected by the present invention. It belongs to the scope.

도 1은 본 발명의 회로도이다.1 is a circuit diagram of the present invention.

도 2 내지 도 6은 본 발명의 제1실시예를 나타내는 도로서,2 to 6 are diagrams showing a first embodiment of the present invention.

도 2는 기판 상에 마스크층을 형성한 상태를 나타내는 단면도이다.  2 is a cross-sectional view showing a state in which a mask layer is formed on a substrate.

도 3은 반도체층을 형성한 상태를 나타내는 단면도이다.  3 is a cross-sectional view illustrating a state in which a semiconductor layer is formed.

도 4는 반도체층에 컨택부를 형성한 상태를 나타내는 단면도이다.  4 is a cross-sectional view illustrating a state in which a contact portion is formed in a semiconductor layer.

도 5는 반도체층에 연결부를 형성한 상태를 나타내는 단면도이다.  5 is a cross-sectional view illustrating a state in which a connection portion is formed in a semiconductor layer.

도 6은 제1실시예의 평면도이다.  6 is a plan view of the first embodiment.

도 7 내지 도 11은 본 발명의 제2실시예를 나타내는 도로서,7 to 11 are diagrams illustrating a second embodiment of the present invention.

도 7은 기판 상에 마스크층을 형성한 상태를 나타내는 단면도이다.  7 is a cross-sectional view showing a state in which a mask layer is formed on a substrate.

도 8은 반도체층을 형성한 상태를 나타내는 단면도이다.  8 is a cross-sectional view illustrating a state in which a semiconductor layer is formed.

도 9는 반도체층을 형성한 상태를 나타내는 사진이다.  9 is a photograph showing a state in which a semiconductor layer is formed.

도 10은 반도체층에 컨택부를 형성한 상태를 나타내는 단면도이다.  10 is a cross-sectional view illustrating a state in which a contact portion is formed in a semiconductor layer.

도 11은 반도체층에 연결부를 형성한 상태를 나타내는 단면도이다.   11 is a cross-sectional view illustrating a state in which a connection portion is formed in a semiconductor layer.

Claims (13)

기판 상의 단위 발광 소자 셀의 구분영역을 정의하는 패턴을 갖는 마스크층을 형성하는 단계와;Forming a mask layer having a pattern defining a division region of a unit light emitting cell on the substrate; 상기 마스크층이 형성된 기판 상에 제1전도성 반도체층, 활성층, 및 제2전도성 반도체층을 순차적으로 형성하여 다수의 발광 소자 셀을 형성하는 단계와;Forming a plurality of light emitting device cells by sequentially forming a first conductive semiconductor layer, an active layer, and a second conductive semiconductor layer on the substrate on which the mask layer is formed; 상기 각 발광 소자 셀의 제2전도성 반도체층이 드러나는 컨택부를 형성하는 단계와;Forming a contact portion in which the second conductive semiconductor layers of each light emitting device cell are exposed; 상기 각 컨택부와 이웃하는 발광 소자 셀의 제1전도성 반도체층을 전기적으로 서로 연결하는 연결부를 형성하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 발광 셀의 제조방법.And forming a connection portion electrically connecting the first conductive semiconductor layers of each of the contact portions and the neighboring light emitting element cells to each other. 제 1항에 있어서, 상기 마스크층은, 질화막, 산화막, 및 금속막 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 발광 셀의 제조방법.The method of manufacturing a light emitting cell according to claim 1, wherein the mask layer is any one of a nitride film, an oxide film, and a metal film. 제 1항에 있어서, 상기 마스크층은, 상기 기판 상에 일정 폭을 갖는 메쉬 구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 발광 셀의 제조방법.The method of claim 1, wherein the mask layer is formed in a mesh structure having a predetermined width on the substrate. 제 1항에 있어서, 상기 기판은, C-평면, A-평면, 또는 M-평면의 사파이어 기판인 것을 특징으로 하는 발광 셀의 제조방법.The method of claim 1, wherein the substrate is a C-plane, an A-plane, or an M-plane sapphire substrate. 제 1항에 있어서, 상기 컨택부 또는 상기 연결부는, 제1방향으로 연결되는 발광 소자 셀과 제2방향으로 연결되는 발광 소자 셀의 수가 같도록 형성된 것을 특징으로 하는 발광 셀의 제조방법.The method of claim 1, wherein the contact part or the connection part is formed such that the number of light emitting device cells connected in a first direction and the number of light emitting device cells connected in a second direction are the same. 절연성 기판과;An insulating substrate; 상기 기판 상에 단위 발광 소자 셀의 구분영역을 정의하는 패턴을 갖는 마스크층과;A mask layer having a pattern defining a division area of a unit light emitting cell on the substrate; 상기 마스크층 패턴 사이에 주 면적이 위치하며, 제1전도성 반도체층과, 발광층, 및 제2전도성층을 포함하는 다수의 발광 소자 셀과;A plurality of light emitting device cells having a main area between the mask layer patterns and including a first conductive semiconductor layer, a light emitting layer, and a second conductive layer; 상기 발광 소자 셀의 제1전도성층과 이웃하는 발광 소자 셀의 제2전도성층을 전기적으로 서로 연결하는 연결부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 발광 셀.And a connecting portion electrically connecting the first conductive layer of the light emitting element cell and the second conductive layer of a neighboring light emitting element cell to each other. 제 6항에 있어서, 상기 발광 소자 셀은, 상기 제1전도성층이 노출되어 상기 연결부와 연결되는 컨택부를 포함하는 것을 특징으로 하는 발광 셀.The light emitting cell of claim 6, wherein the light emitting device cell includes a contact portion exposed to the first conductive layer and connected to the connection portion. 제 7항에 있어서, 상기 연결부는, 상기 발광 소자 셀의 컨택부와, 마스크층 패턴과, 상기 이웃하는 발광 소자 셀의 제2전도성층 상에 형성된 것을 특징으로 하는 발광 셀.The light emitting cell of claim 7, wherein the connection part is formed on a contact part of the light emitting device cell, a mask layer pattern, and a second conductive layer of the neighboring light emitting device cell. 제 6항에 있어서, 상기 마스크층은, 상기 기판 상에 일정 폭을 갖는 메쉬 구조인 것을 특징으로 하는 발광 셀.The light emitting cell of claim 6, wherein the mask layer has a mesh structure having a predetermined width on the substrate. 제 6항에 있어서, 상기 기판은, C-평면, A-평면, 또는 M-평면의 사파이어 기판인 것을 특징으로 하는 발광 셀.The light emitting cell according to claim 6, wherein the substrate is a C-plane, an A-plane, or an M-plane sapphire substrate. 제 6항에 있어서, 상기 마스크층은, 질화막, 산화막, 및 금속막 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 발광 셀.The light emitting cell according to claim 6, wherein the mask layer is any one of a nitride film, an oxide film, and a metal film. 제 6항에 있어서, 상기 컨택부 또는 상기 연결부는, 제1방향으로 연결되는 발광 소자 셀과 제2방향으로 연결되는 발광 소자 셀의 수가 같도록 형성된 것을 특징으로 하는 발광 셀.The light emitting cell of claim 6, wherein the contact part or the connecting part is formed so that the number of light emitting device cells connected in the first direction and the number of light emitting device cells connected in the second direction are the same. 제 12항에 있어서, 상기 제1방향 발광 소자 셀과 상기 제2방향 발광 소자 셀이 서로 만나는 두 지점에는 교류 전원 및/또는 전류 제한 소자가 연결되는 것을 특징으로 하는 발광 셀.The light emitting cell of claim 12, wherein an AC power source and / or a current limiting device are connected to two points where the first direction light emitting device cell and the second direction light emitting device cell meet each other.
KR1020070101530A 2007-10-09 2007-10-09 Light emitting cell and method of making the same KR101459554B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070101530A KR101459554B1 (en) 2007-10-09 2007-10-09 Light emitting cell and method of making the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020070101530A KR101459554B1 (en) 2007-10-09 2007-10-09 Light emitting cell and method of making the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20090036374A true KR20090036374A (en) 2009-04-14
KR101459554B1 KR101459554B1 (en) 2014-11-07

Family

ID=40761386

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020070101530A KR101459554B1 (en) 2007-10-09 2007-10-09 Light emitting cell and method of making the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101459554B1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012057482A2 (en) * 2010-10-25 2012-05-03 일진머티리얼즈 주식회사 Vertical-type light-emitting diode cell array, and method for manufacturing same
CN102683534A (en) * 2012-05-21 2012-09-19 厦门市三安光电科技有限公司 Vertical type alternating-current light-emitting diode device and manufacturing method thereof
WO2014061940A1 (en) * 2012-10-15 2014-04-24 Seoul Viosys Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19715572A1 (en) * 1997-04-15 1998-10-22 Telefunken Microelectron Selective epitaxy of III-V nitride semiconductor layers
KR101203141B1 (en) * 2005-02-05 2012-11-20 서울옵토디바이스주식회사 Light emitting device having a plurality of light emitting cells insulated from a substrate and method of fabricating the same
KR100646635B1 (en) * 2005-06-24 2006-11-23 서울옵토디바이스주식회사 Light-emitting device having arrayed cells and method of manufacturing the same

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012057482A2 (en) * 2010-10-25 2012-05-03 일진머티리얼즈 주식회사 Vertical-type light-emitting diode cell array, and method for manufacturing same
WO2012057482A3 (en) * 2010-10-25 2012-07-26 일진머티리얼즈 주식회사 Vertical-type light-emitting diode cell array, and method for manufacturing same
CN102683534A (en) * 2012-05-21 2012-09-19 厦门市三安光电科技有限公司 Vertical type alternating-current light-emitting diode device and manufacturing method thereof
CN102683534B (en) * 2012-05-21 2015-02-25 厦门市三安光电科技有限公司 Vertical type alternating-current light-emitting diode device and manufacturing method thereof
WO2014061940A1 (en) * 2012-10-15 2014-04-24 Seoul Viosys Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
CN104737310A (en) * 2012-10-15 2015-06-24 首尔伟傲世有限公司 Semiconductor device and method of fabricating the same
US9111840B2 (en) 2012-10-15 2015-08-18 Seoul Viosys Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
US9537045B2 (en) 2012-10-15 2017-01-03 Seoul Viosys Co., Ltd. Semiconductor device and method of fabricating the same
TWI636583B (en) * 2012-10-15 2018-09-21 南韓商首爾偉傲世有限公司 Semiconductor device and method of fabricating the same

Also Published As

Publication number Publication date
KR101459554B1 (en) 2014-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100928259B1 (en) Light emitting device and manufacturing method thereof
US7009199B2 (en) Electronic devices having a header and antiparallel connected light emitting diodes for producing light from AC current
JP4359263B2 (en) Semiconductor light emitting device
JP6827263B2 (en) Light emitting element
US9780260B2 (en) Semiconductor light emitting device and manufacturing method of the same
US20080191632A1 (en) Light Emitting Device and Method of Manufacturing the Same
US10418412B2 (en) Light-emitting diode
WO2014139338A1 (en) Double-sided light-emitting diode structure and manufacturing method thereof
US20150214419A1 (en) Method of making a light emitting device and a light emitting device made thereof
KR100850945B1 (en) LED package and method of manufacturing the same
KR101459554B1 (en) Light emitting cell and method of making the same
KR102540645B1 (en) Light emitting device
KR102261727B1 (en) Light emitting device and light emitting device package including the same
KR100670929B1 (en) Flip chip light-emitting device and Method of manufacturing the same
KR101171331B1 (en) Luminous device
KR101142961B1 (en) Led lamp mounting a led having an array of light emitting cells coupled in series
KR102261951B1 (en) Semiconductor device and semiconductor device manufacturing method
TWI458129B (en) Light emitting diode chip structure and fabrication method thereof
KR100898585B1 (en) Light emitting element having arrayed cells and method of fabricating the same
JP4995432B2 (en) Semiconductor light emitting device
KR102268107B1 (en) Light emitting device
KR101216934B1 (en) Light emitting element having arrayed cells and method of fabricating the same
KR100813070B1 (en) Led package and method of manufacturing the same
KR100892741B1 (en) Light emitting device of a nitride compound semiconductor and the fabrication method thereof
KR101216935B1 (en) Method of fabricating light emitting diode package

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20171011

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20181010

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20191010

Year of fee payment: 6