KR20080041842A - 액정표시장치 및 그의 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 각 픽셀의 공통전극에 접속된 공통전압라인과 각 픽셀의 스토리지 커패시터에 접속된 스토리지라인의 쇼트 여부를 자동으로 검사할 수 있는 액정표시장치를 제공하는 것으로, 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널; 및 상기 공통전압과 스토리지전압을 비교하여 상기 스토리지라인과 공통전압라인의 쇼트 여부를 검사하는 쇼트 검사기를 포함한다.
액정표시장치, 스토리지라인, 공통전압라인, 쇼트, 검사

Description

액정표시장치 및 그의 검사 방법{LCD and detection method thereof}
도 1은 일반적인 액정표시장치에 형성되는 픽셀의 등가 회로도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 구성도.
도 3은 도 2에 도시된 쇼트 검사기의 구성도.
도 4는 도 3에 도시된 비교부의 회로도.
도 5는 도 3에 도시된 표시부의 회로도.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사 방법에 대한 흐름도.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
100: 액정표시장치 110: 액정표시패널
120: 데이터 구동부 130: 게이트 구동부
140: 감마기준전압 발생부 150: 공통전압 발생부
160: 스토리지전압 발생부 170: 게이트구동전압 발생부
180: 타이밍 컨트롤러 190: 쇼트 검사기
191: 비교부 192: 쇼트 판별부
193: 표시부 191-1: 비교기
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 각 픽셀의 공통전극에 접속된 공통전압라인과 각 픽셀의 스토리지 커패시터에 접속된 스토리지라인의 쇼트(Short) 여부를 자동으로 검사할 수 있는 액정표시장치 및 그의 검사 방법에 관한 것이다.
액정표시장치는 비디오신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하며, 그리고 액정셀마다 스위칭소자가 형성된 액티브 매트릭스(Active Matrix) 타입의 액정표시장치는 스위칭소자의 능동적인 제어가 가능하기 때문에 동영상 구현에 유리하다. 이러한 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치에 사용되는 스위칭소자로는 도 1과 같이 주로 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 "TFT"라 한다)가 이용되고 있다.
도 1을 참조하면, 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치는, 디지털 입력 데이터를 감마기준전압을 기준으로 아날로그 데이터 전압으로 변환하여 데이터라인(DL)에 공급함과 동시에 스캔펄스를 게이트라인(GL)에 공급하여 액정셀(Clc)을 충전시킨다.
TFT의 게이트전극은 게이트라인(GL)에 접속되고, 소스전극은 데이터라인(DL)에 접속되며, 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극과 스토리지 캐패 시터(Cst)의 일측 전극에 접속되며, 스토리지 캐패시터(Cst)의 타측 전극에는 스토리지라인(Lcst)이 접속된다. 여기서, 스토리지전압(Vcst)이 스토리지라인(Lcst)을 통해 스토리지 캐패시터(Cst)의 타측 전극에 공급된다.
액정셀(Clc)의 공통전극에는 공통전압라인(Lcom)이 접속되고, 이 공통전압라인(Lcom)을 통해 공통전압(Vcom)이 공통전극에 공급된다.
스토리지 캐패시터(Cst)는 TFT가 턴-온될 때 데이터라인(DL)으로부터 인가되는 데이터전압을 충전하여 액정셀(Clc)의 전압을 일정하게 유지하는 역할을 한다. 그리고, 스토리지 캐패시터(Cst)에 충전된 전압은 스토리지라인(Lcst)를 통해 공급되는 스토리지전압(Vcst)에 의해 일정시간 동안 유지된다.
스캔펄스가 게이트라인(GL)에 인가되면 TFT는 턴-온(Turn-on)되어 소스전극과 드레인전극 사이의 채널을 형성하여 데이터라인(DL) 상의 전압을 액정셀(Clc)의 화소전극에 공급한다. 이때 액정셀(Clc)의 액정분자들은 화소전극과 공통전극 사이의 전계에 의하여 배열이 바뀌면서 입사광을 변조하게 된다.
이와 같이 각 픽셀에는 공통전압(Vcom)과 스토리지전압(Vcst)이 공급되는데, 만일 스토리지라인(Lcst)과 공통전압라인(Lcom)이 쇼트되어 공통전극과 스토리지 커패시터(Cst)에 동일한 전압이 공급되면 정확한 계조 구현이 이루어지지 않는 문제점이 존재한다.
이러한 문제점을 개선하기 위하여, 종래에는 사용자가 쇼트 검사장치를 이용하여 스토리지라인(Lcst)과 공통전압라인(Lcom)의 쇼트 여부를 수동으로 검사한 후, 쇼트 발생시 이를 수선하였다. 여기서, 쇼트 검사장치는 액정표시장치와 별도 로 제조된 제품이다.
이렇게 쇼트 검사장치를 이용하여 수동으로 스토리지라인(Lcst)과 공통전압라인(Lcom)의 쇼트 여부를 검사함으로써, 사용자가 쇼트를 검사해야 하는 번거로움이 있을 뿐만 아니라 검사 시간이 많이 소요되었다. 그리고, 액정표시장치와 별도로 쇼트 검사장치를 구입함으로써, 많은 비용이 소모되었다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 각 픽셀의 공통전극에 접속된 공통전압라인과 각 픽셀의 스토리지 커패시터에 접속된 스토리지라인의 쇼트 여부를 자동으로 검사할 수 있는 액정표시장치 및 그의 검사 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 목적은 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 자동으로 검사함으로써, 사용자의 편의를 도모하고 검사 시간을 별도로 할애하지 않도록 하는 액정표시장치 및 그의 검사 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 목적은 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 자체적으로 검사함으로써, 쇼트 검사장치의 구입에 소모되는 비용을 절감할 수 있도록 하는 액정표시장치 및 그의 검사 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 목적은 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트시 자동으로 쇼트 발생을 표시함으로써, 사용자가 쇼트 발생을 실시간으로 알 수 있도록 하는 액정표시장치 및 그이 검사 방법을 제공하는 데 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정표시장치는, 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널; 및 상기 공통전압과 스토리지전압을 비교하여 상기 스토리지라인과 공통전압라인의 쇼트 여부를 검사하는 쇼트 검사기를 포함한다.
상기 쇼트 검사기는, 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 비교부; 상기 비교부의 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 쇼트 판별부; 및 상기 쇼트 판별부의 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 표시부를 포함한다.
본 발명의 액정표시장치는, 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널; 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 비교부; 상기 비교부의 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 쇼트 판별부; 및 상기 쇼트 판별부의 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 표시부를 포함한다.
상기 비교부는, 반전 입력단으로 입력된 상기 스토리지전압과 비반전 입력단으로 입력된 상기 공통전압의 크기를 비교하여 비교결과를 출력단에 접속된 상기 쇼트 판별부로 출력하는 비교기를 포함한다.
상기 쇼트 판별부는 상기 비교기로부터 로우신호가 입력되면 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호를 상기 표시부로 출력하고, 상기 비교기로부터 하이신호가 입력되면 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호를 상기 표시부로 출력하는 것을 특징으로 한다.
상기 표시부는, 상기 쇼트 판별부로부터 상기 정상신호가 입력되면 오프 상태를 유지하고, 상기 쇼트 판별부로부터 상기 에러신호가 입력되면 발광하는 발광다이오드를 포함한다.
본 발명의 액정표시장치의 검사 방법은, 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널을 구비한 액정표시장치의 검사 방법에서, 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 단계; 상기 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 단계; 및 상기 쇼트 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 단계를 포함한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 구성도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 액정표시장치(100)는, 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)이 교차되며 그 교차부에 액정셀(Clc)을 구동하기 위한 박막트랜지스터(TFT : Thin Film Transistor)가 형성된 액정표시패널(110)과, 액정표시패널(110)의 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터 구동부(120)와, 액정표시패널(110)의 게이트라인들(GL1 내지 GLn)에 스캔펄스를 공급하기 위한 게이트 구동부(130)와, 감마기준전압을 발생하여 데이터 구동부(120)에 공급하기 위한 감마기준전압 발생부(140)와, 공통전압(Vcom)을 발생하여 액정표시패널(110)의 액정셀(Clc)의 공통전극에 공급하기 위한 공통전압 발생부(150)와, 스토리지전압(Vcst)을 발생하는 스토리지전압 발생부(160)와, 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)을 발생하여 게이트 구동부(130)에 공급하기 위한 게이트구동전압 발생부(170)와, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(180)와, 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트 여부를 검사하는 쇼트 검사기(190)를 구비한다.
그리고, 본 발명의 액정표시장치(100)는, 액정표시패널(110)에 광을 조사하기 위한 백라이트 어셈블리(미도시)와, 백라이트 어셈블리(150)에 교류 전압 및 전류를 인가하기 위한 인버터(미도시)를 구비한다.
액정표시패널(110)은 두 장의 유리기판 사이에 액정이 주입된다. 액정표시패널(110)의 하부 유리기판 상에는 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)이 직교된다. 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)의 교차부에는 TFT가 형성된다. TFT는 스캔펄스에 응답하여 데이터라인들(DL1 내지 DLm) 상의 데이터를 액정셀(Clc)에 공급하게 된다. TFT의 게이트전극 은 게이트라인(GL1 내지 GLn)에 접속되며, TFT의 소스전극은 데이터라인(DL1 내지 DLm)에 접속된다. 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극과 스토리지 캐패시터(Cst)에 접속된다.
TFT는 게이트라인(GL1 내지 GLn)을 경유하여 게이트단자에 공급되는 스캔펄스에 응답하여 턴-온된다. TFT의 턴-온시 데이터라인(DL1 내지 DLm) 상의 비디오 데이터는 액정셀(Clc)의 화소전극에 공급된다.
데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(180)로부터 공급되는 데이터구동 제어신호(DDC)에 응답하여 데이터를 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 공급한다. 여기서, 데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(180)로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 샘플링하여 래치한 다음 감마기준전압 발생부(140)로부터 공급되는 감마기준전압을 기준으로 액정표시패널(110)의 액정셀(Clc)에서 계조를 표현할 수 있는 아날로그 데이터 전압으로 변환시켜 데이터라인들(DL1 내지 DLm)들에 공급한다.
게이트 구동부(130)는 타이밍 컨트롤러(180)로부터 공급되는 게이트구동 제어신호(GDC)와 게이트쉬프트클럭(GSC)에 응답하여 스캔펄스 즉, 게이트펄스를 순차적으로 발생하여 게이트라인(GL1 내지 GLn)들에 공급한다. 이때, 게이트 구동부(130)는 게이트구동전압 발생부(170)로부터 공급되는 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)에 따라 각각 스캔펄스의 하이레벨전압과 로우레벨전압을 결정한다.
감마기준전압 발생부(140)는 고전위 전원전압(VDD)을 공급받아 정극성 감마기준전압과 부극성 감마기준전압을 발생하여 데이터 구동부(120)로 출력한다.
공통전압 발생부(150)는 고전위 전원전압(VDD)을 공급받아 공통전압(Vcom)을 발생하여 액정표시패널(110)의 각 픽셀에 구비된 액정셀(Clc)들의 공통전극에 공급한다.
스토리지전압 발생부(160)는 고전위 전원전압(VDD)를 인가받아 스토리지전압(Vcst)을 발생시켜, 이 스토리지전압(Vcst)을 스토리지라인(Lcst)을 통해 스토리지 커패시터(Cst)에 공급한다.
게이트구동전압 발생부(170)는 고전위 전원전압(VDD)을 인가받아 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)을 발생시켜 게이트 구동부(130)에 공급한다. 여기서, 게이트구동전압 발생부(170)는 액정표시패널(110)의 각 픽셀에 구비된 TFT의 문턱전압 이상이 되는 게이트 하이전압(VGH)을 발생하고 TFT의 문턱전압 미만이 되는 게이트 로우전압(VGL)을 발생한다. 이렇게 발생된 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)은 각각 게이트 구동부(130)에 의해 발생되는 스캔펄스의 하이레베전압과 로우레벨전압을 결정하는데 이용된다.
타이밍 컨트롤러(180)는 시스템으로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 데이터 구동부(120)에 공급하고, 또한 클럭신호(CLK)에 따라 수평/수직 동기신호(H,V)를 이용하여 데이터 구동 제어신호(DDC)와 게이트 구동 제어신호(GDC)를 발생하여 각각 데이터 구동부(120)와 게이트 구동부(130)에 공급한다. 여기서, 데이터 구동 제어신호(DDC)는 소스쉬프트클럭(SSC), 소스스타트펄스(SSP), 극성제어신호(POL) 및 소스출력인에이블신호(SOE) 등을 포함하고, 게이트구동 제어신호(GDC)는 게이트스타트펄스(GSP) 및 게이트출력인에이블(GOE) 등을 포함한다.
쇼트 검사기(190)는 공통전압 발생부(150)로부터 출력된 공통전압(Vcom)과 스토리지전압 발생부(160)로부터 출력된 스토리지전압(Vcst)를 비교하여 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트 여부를 검사한다. 검사결과 쇼트가 발생되면, 쇼트 검사기(190)는 점등하여 사용자에게 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트 발생을 알려준다. 검사결과 쇼트가 발생되지 않았으면, 쇼트 검사기(190)는 소등 상태를 유지한다.
상기 백라이트 어셈블리는 액정표시패널(110)의 후면에 배치되며, 상기 인버터로부터 공급되는 교류 전압과 전류에 의해 발광되어 광을 액정표시패널(110)의 각 픽셀로 조사한다.
상기 인버터는 내부에 발생되는 구형파신호를 삼각파신호로 변화시킨 후 삼각파신호와 상기 시스템으로부터 공급되는 직류 전원전압(VCC)을 비교하여 비교결과에 비례하는 버스트디밍(Burst Dimming)신호를 발생한다. 이렇게 내부의 구형파신호에 따라 결정되는 버스트디밍신호가 발생되면, 상기 인버터 내에서 교류 전압과 전류의 발생을 제어하는 구동 IC(미도시)는 버스트디밍신호에 따라 상기 백라이트 어셈블리에 공급되는 교류 전압과 전류의 발생을 제어한다.
도 3은 도 2에 도시된 쇼트 검사기의 구성도이다.
도 3을 참조하면, 쇼트 검사기(190)는, 공통전압 발생부(150)로부터 출력된 공통전압(Vcom)과 스토리지전압 발생부(160)로부터 출력된 스토리지전압(Vcst)의 크기를 비교하는 비교부(191)와, 비교부(191)의 비교결과를 이용하여 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트를 판별하는 쇼트 판별부(192)와, 쇼트 판별 부(192)의 판별결과에 따라 소등 상태를 유지하거나 점등하는 표시부(193)를 구비한다.
비교부(191)는 공통전압 발생부(150)로부터 출력된 공통전압(Vcom)과 스토리지전압 발생부(160)로부터 출력된 스토리지전압(Vcst)의 크기를 비교하여 비교결과를 나타내는 하이신호나 로우신호를 출력한다. 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 다르면, 비교부(191)는 로우신호를 쇼트 판별부(192)로 출력한다. 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 같으면, 비교부(191)는 하이신호를 쇼트 판별부(192)로 출력한다.
쇼트 판별부(192)는 비교부(191)로부터 로우신호가 입력되면 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호 3.3V를 표시부(193)로 출력하고, 반대로 비교부(191)로부터 하이신호가 입력되면 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호 0V를 표시부(193)로 출력한다.
표시부(193)는 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트를 나타내는 에러신호 0V가 쇼트 판별부(192)로부터 입력되면 점등하여 사용자에게 쇼트 발생을 표시하여 준다. 반대로, 표시부(193)는 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트가 발생되지 않았음을 나타내는 정상신호 3.3V가 쇼트 판별부(192)로부터 입력되면 소등 상태를 유지한다.
도 4는 도 3에 도시된 비교부의 회로도이다.
도 4를 참조하면, 비교부(191)는, 반전 입력단(-), 비반전 입력단(+) 및 출 력단을 갖는 비교기(191-1)와, 비교기(191-1)의 반전 입력단(-)에 접속된 저항(R1)과, 비교기(191-1)의 비반전 입력단(+)에 접속된 저항(R2)과, 비교기(191-1)의 비반전 입력단(+)과 출력단에 접속된 부궤환 저항(R3)을 구비한다.
비교기(191-1)는 반전 입력단(-)으로 입력된 스토리지 전압(Vcst)과 비반전 입력단(+)으로 입력된 공통전압(Vcom)의 크기를 비교하여 비교결과를 출력단을 통해 출력한다. 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 다르면, 비교기(191-1)는 로우신호를 출력단에 접속된 쇼트 판별부(192)로 출력한다. 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 같으면, 비교기(191-1)는 하이신호를 출력단을 통해 쇼트 판별부(192)로 출력한다.
도 5는 도 3에 도시된 표시부의 회로도이다.
도 5를 참조하면, 표시부(193)는, 애노드와 캐소드를 갖는 발광다이오드(LED)와, 발광다이오드(LED)의 캐소드와 쇼트 판별부(192)의 출력단 사이에 접속된 저항(R4)을 구비한다. 여기서, 발광다이오드(LED)의 애노드는 전원전압 3.3V를 공급하는 전원에 접속된다.
쇼트 판별부(192)로부터 출력된 정상신호 3.3V가 발광다이오드(LED)의 캐소드로 인가되면, 발광다이오드(LED)의 애노드와 캐소드에 모두 3.3V가 걸려 발광다이오드(LED)의 양측에 전위차가 발생되지 않으므로, 발광다이오드(LED)는 오프(OFF) 상태(소등 상태)를 유지한다.
쇼트 판별부(192)로부터 출력된 에러신호 0V가 발광다이오드(LED)의 캐소드로 인가되면, 발광다이오드(LED)의 애노드와 캐소드에 서로 다른 전압이 걸려 발광 다이오드(LED)의 양측에 전위차가 발생됨으로, 발광다이오드(LED)는 발광한다. 즉, 발광다이오드(LED)는 발광하여 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트를 표시하여 준다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 검사 방법에 대한 흐름도이다.
도 6을 참조하면, 먼저 비교부(191)는 공통전압(Vcom)과 스토리지전압(Vcst)이 입력되면(S601), 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 동일한 지를 비교한다(S602).
비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 다르면, 비교부(191)는 로우신호를 쇼트 판별부(192)로 출력한다(S603). 이어서 쇼트 판별부(192)는 로우신호가 입력됨에 따라 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호를 표시부(193)로 출력하고(S604), 이 정상신호에 대한 응답으로 표시부(193)는 소등 상태를 유지한다(S605).
비교 과정(S602)에서의 비교결과 스토리지 전압(Vcst)과 공통전압(Vcom)의 크기가 같으면, 비교부(191)는 하이신호를 쇼트 판별부(192)로 출력한다(S606). 쇼트 판별부(192)는 하이신호가 입력됨에 따라 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호를 표시부(193)로 출력하고(S607), 이 에러신호에 대한 응답으로 표시부(193)는 점등하여 사용자에게 공통전압라인(Lcom)과 스토리지라인(Lcst)의 쇼트 발생을 표시하여 준다(S608).
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은, 각 픽셀의 공통전극에 접속된 공통전압라인과 각 픽셀의 스토리지 커패시터에 접속된 스토리지라인의 쇼트 여부를 자동으로 검사함으로써, 사용자의 편의를 도모하고 검사 시간을 별도로 할애하지 않도록 하고, 또한 쇼트 검사장치의 구입에 소모되는 비용을 절감할 수 있도록 한다. 그리고, 본 발명은 액정표시장치의 스토리지 라인의 쇼트시 자동으로 쇼트 발생을 표시함으로써, 사용자가 쇼트 발생을 실시간으로 알 수 있도록 한다.
본 발명의 기술사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며, 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술사상의 범위에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (14)

  1. 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널; 및
    상기 공통전압과 스토리지전압을 비교하여 상기 스토리지라인과 공통전압라인의 쇼트 여부를 검사하는 쇼트 검사기
    를 포함하는 액정표시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 쇼트 검사기는,
    상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 비교부;
    상기 비교부의 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 쇼트 판별부; 및
    상기 쇼트 판별부의 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 표시부를 포함하는 액정표시장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 비교부는,
    반전 입력단으로 입력된 상기 스토리지전압과 비반전 입력단으로 입력된 상 기 공통전압의 크기를 비교하여 비교결과를 출력단에 접속된 상기 쇼트 판별부로 출력하는 비교기를 포함하는 액정표시장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 쇼트 판별부는 상기 비교기로부터 로우신호가 입력되면 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호를 상기 표시부로 출력하고, 상기 비교기로부터 하이신호가 입력되면 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호를 상기 표시부로 출력하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 표시부는,
    상기 쇼트 판별부로부터 상기 정상신호가 입력되면 오프 상태를 유지하고, 상기 쇼트 판별부로부터 상기 에러신호가 입력되면 발광하는 발광다이오드를 포함하는 액정표시장치.
  6. 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널;
    상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 비교부;
    상기 비교부의 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 쇼트 판별부; 및
    상기 쇼트 판별부의 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 표시부를 포함하는 액정표시장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 비교부는,
    반전 입력단으로 입력된 상기 스토리지전압과 비반전 입력단으로 입력된 상기 공통전압의 크기를 비교하여 비교결과를 출력단에 접속된 상기 쇼트 판별부로 출력하는 비교기를 포함하는 액정표시장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 비교기는 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기가 다르면 로우신호를 상기 쇼트 판별부로 출력하고, 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기가 같으면 하이신호를 상기 쇼트 판별부로 출력하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 쇼트 판별부는 상기 비교기로부터 로우신호가 입력되면 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호를 상기 표시부로 출력하고, 상기 비교기로부터 하이신호가 입력되면 상기 공통전압라인과 스토리지 라인이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호를 상기 표시부로 출력하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 표시부는,
    상기 쇼트 판별부로부터 상기 정상신호가 입력되면 오프 상태를 유지하고, 상기 쇼트 판별부로부터 상기 에러신호가 입력되면 발광하는 발광다이오드를 포함하는 액정표시장치.
  11. 스토리지전압을 스토리지라인을 통해 공급받는 스토리지 커패시터와 공통전압을 공통전압라인을 통해 공급받는 공통전극이 구비된 다수의 픽셀들이 형성된 액정표시패널을 구비한 액정표시장치의 검사 방법에서,
    상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 단계;
    상기 비교결과를 이용하여 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 판별하는 단계; 및
    상기 쇼트 판별결과에 따라 상기 공통전압라인과 스토리지라인의 쇼트 여부를 표시하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 검사 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 비교 단계는,
    상기 스토리지전압과 공통전압의 크기를 비교하는 단계;
    상기 비교결과 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기가 다르면, 로우신호를 발생하는 단계; 및
    상기 비교결과 상기 스토리지전압과 공통전압의 크기가 같으면, 하이신호를 발생하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 검사 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 판별 단계는,
    상기 로우신호가 발생되면, 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트되지 않은 것으로 판단하여 정상신호를 발생하는 단계; 및
    상기 하이신호가 발생되면, 상기 공통전압라인과 스토리지라인이 쇼트된 것으로 판단하여 에러신호를 발생하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 검사 방법.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 표시 단계는,
    상기 정상신호가 발생되면, 소등 상태를 유지하는 단계; 및
    상기 에러신호가 발생되면, 점등하는 단계를 포함하는 액정표시장치의 검사 방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US8415966B2 (en) 2010-05-13 2013-04-09 Samsung Display Co., Ltd. Liquid crystal display device and inspection method thereof
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