KR20080021177A - 액정 표시 장치 - Google Patents

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KR20080021177A
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김희준
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Abstract

액정 표시 장치의 액정 패널은 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터와 동일한 더미 박막 트랜지스터를 비유효 표시 영역 내 구비한다. 테스트 단계에서 더미 박막 트랜지스터의 특성 변화를 모니터링함으로써 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터가 장시간 사용되었을 때의 특성 변화를 예측할 수 있다. 그 결과 액정 표시 장치의 품질 신뢰도를 높일 수 있다.

Description

액정 표시 장치{LIQUID CRYSTAL DISPLAY}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 배면도;
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 유닛의 사시도;
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 회로적 구성을 보여주는 도면;
도 4는 비유효 표시 영역에 포함되는 더미 박막 트랜지스터의 일 예를 보여주는 도면; 그리고
도 5a 및 도 5b는 액정 패널에 구비되는 박막 트랜지스터의 게이트로 게이트 온 전압 및 게이트 오프 전압을 각각 연속적으로 인가했을 때 게이트 전압 대 박막 트랜지스터의 드레인-소스 전압의 변화를 보여주는 도면이다.
본 발명은 액정 표시 장치에 관한 것이다.
일반적인 액정 표시 장치는 두 표시판과 그 사이에 들어있는 유전율 이방성(dielectric anisotropy)을 갖는 액정층을 포함한다. 액정층에 전기장을 인가하고, 이 전기장의 세기를 조절하여 액정층을 통과하는 빛의 투과율을 조절함으로써 원하는 화상을 얻는다. 이러한 액정 표시 장치는 휴대가 간편한 평판 표시 장치(flat panel display, FPD) 중에서 대표적인 것으로서, 이 중에서도 박막 트랜지스터(thin film transistor, TFT)를 스위칭 소자로 이용한 TFT-LCD가 주로 이용되고 있다.
TFT_LCD의 액정 패널은 복수의 픽셀들을 포함하며, 픽셀 각각은 데이터 라인 및 게이트 라인에 연결된 스위칭 트랜지스터와 이에 연결된 액정 커패시터(crystal capacitor) 및 유지 커패시터(storage capacitor)를 포함한다. 각 픽셀은 스위칭 소자를 통하여 영상 신호에 해당하는 데이터 전압을 선택적으로 받아들인다. TFT-LCD는 또한 게이트 라인에 게이트 온 전압을 인가하는 게이트 드라이버와 데이터 라인에 영상 신호를 인가하는 데이터 드라이버 및 이들을 제어하는 신호 제어 회로를 포함한다.
이와 같은 액정 표시 장치의 사용 분야는 휴대폰, PMP(personal multimedia player) 등과 같은 소형 제품에서부터 모니터, 텔레비젼과 같은 대형 제품에 까지 널리 사용되고 있다. 특히, 기차역 대합실의 전광판, 광고용 디스플레이 장치 등과 같은 공중 정보 디스플레이(public information display : PID) 시스템에 사용되는 액정 표시 장치는 장시간 연속적으로 사용되더라도 품질 변화를 일으키지 않아야 한다.
액정 표시 장치를 구성하는 주요 부품 가운데 하나인 박막 트랜지스터는 장시간 사용될 경우 드레인-소스 전류 특성이 변화하여 블랙 얼룩, 충전 불량 등을 일으키기도 한다. 그러나, 박막 트랜지스터의 장시간 사용 후 특성 변화를 예측할 수 없어서 제품의 신뢰성을 떨어뜨린다.
따라서 본 발명의 목적은 박막 트랜지스터의 특성 변화를 예측할 수 있는 액정 패널을 제공하는데 있다.
본 발명의 목적은 박막 트랜지스터의 특성 변화를 예측할 수 있는 액정 표시 장치를 제공하는데 있다.
상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 의하면, 액정 표시 장치의 액정 패널은: 유효 표시 영역 그리고 비유효 표시 영역을 포함한다. 상기 유효 표시 영역은 복수의 소스 라인들과, 복수의 게이트 라인들과, 상기 소스 라인들과 상기 게이트 라인들의 교차에 의해서 형성된 영역들에 각각 배치되는 액정 셀들을 포함한다. 비유효 표시 영역은 더미 박막 트랜트랜지스터를 포함한다. 상기 액정 셀들 각각은 상기 소스 라인과 연결된 소스, 드레인 그리고 상기 게이트 라인과 연결된 게이트를 갖는 박막 트랜지스터를 포함하고, 상기 더미 박막 트랜지스터는 상기 박막 트랜지스터의 특성 예측을 위한 제1 전압과 연결된 드레인, 제2 전압과 연결된 소스 및 제3 전압과 연결된 게이트 단자를 갖는다.
이 실시예에 있어서, 상기 제1 전압은 공통 전압 또는 동작 전압 중 어느 하나이다.
이 실시예에 있어서, 상기 제3 전압은 동작 전압 또는 상기 박막 트랜지스터를 턴온 시키기 위한 턴온 전압 중 어느 하나이다.
이 실시예에 있어서, 상기 더미 박막 트랜지스터의 소스는 저항을 통하여 접지 전압과 연결된다.
이 실시예에 있어서, 상기 액정 셀들 각각은 상기 박막 트랜지스터의 드레인과 연결된 액정 커패시터를 더 포함한다.
본 발명의 다른 특징에 따른 액정 표시 장치는: 액정 패널, 그리고 제1 전압, 제2 전압 그리고 제3 전압을 공급하는 전원 공급기를 포함한다. 상기 액정 패널은, 복수의 소스 라인들과, 복수의 게이트 라인들과, 상기 소스 라인들과 상기 게이트 라인들의 교차에 의해서 형성된 영역들에 각각 배치되는 액정 셀들을 포함하는 유효 표시 영역, 그리고 더미 박막 트랜트랜지스터를 포함하는 비유효 표시 영역을 포함한다. 상기 액정 셀들 각각은 상기 소스 라인과 연결된 소스, 드레인 그리고 상기 게이트 라인과 연결된 게이트를 갖는 박막 트랜지스터를 포함한다. 상기 더미 박막 트랜지스터는 상기 제1 전압과 연결된 드레인, 상기 제2 전압과 연결된 소스 및 상기 제3 전압과 연결된 게이트 단자를 갖는다.
본 발명의 또다른 특징에 따른 액정 표시 장치는, 복수의 소스 라인들과, 복수의 게이트 라인들과, 상기 소스 라인들과 상기 게이트 라인들의 교차에 의해서 형성된 영역들에 각각 배치되는 박막 트랜지스터를포함하는 유효 표시 영역, 그리고 드레인, 저항을 통해 접지 전압과 연결된 소스 그리고 게이트를 갖는 더미 박막 트랜트랜지스터를 포함하는 비유효 표시 영역을 포함하며, 이러한 액정 표시 장치의 테스트 방법은: 상기 더미 박막 트랜지스터의 소스의 초기 전압 레벨을 측정하는 단계와, 소정 시간 동안 상기 더미 박막 트랜지스터의 상기 드레인으로 제1 전 압을 인가하고, 그리고 상기 게이트로 제2 전압을 인가하는 단계와, 상기 소정 시간이 경과한 후 상기 더미 박막 트랜지스터의 소스의 변화 전압 레벨을 측정하는 단계, 그리고 상기 초기 전압 레벨과 상기 변화 전압 레벨의 차에 근거해서 상기 유효 표시 영역 내 상기 박막 트랜지스터의 특성을 예측하는 단계를 포함한다.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 배면도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 유닛의 사시도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치(10)는 디스플레이 유닛(100), 수납 용기(200), 컨트롤 인쇄 회로 기판(300) 및 연성 인쇄 회로 기판(400)을 포함한다.
디스플레이 유닛(100)은 액정 표시 패널(110), 소스 인쇄 회로 기판(120) 및 게이트 인쇄 회로 기판(130)을 포함한다. 액정 표시 패널(110)은 박막 트랜지스터(thin film transister, TFT) 기판(111), TFT 기판(111)과 대향하여 결합되는 컬러 필터(color filter) 기판(112) 및 TFT 기판(111)과 컬러 필터 기판(112) 사이에 주입되는 액정층(미 도시됨)을 포함한다.
TFT 기판(111)은 스위칭 소자인 TFT(미 도시됨)가 매트릭스 형태로 형성되어 있는 투명한 유리 기판이다. TFT들의 소스 단자에는 소스 라인이 연결되고, 게이트 단자에는 게이트 라인이 연결된다. 또한 드레인 단자에는 투명한 도전성 재질로 이루어진 공통 전극이 형성된다.
이러한 구성을 갖는 액정 표시 패널(110)은 TFT의 게이트 단자에 전원이 인가되어 TFT가 턴-온되면, 회소 전극과 공통 전극 사이에 전계가 형성된다. 이러한 전계에 의해 TFT 기판(111)과 컬러 필터 기판(112) 과의 사이에 개재된 액정의 배열이 변화되고, 광원(미 도시됨)으로부터 공급되는 광의 투과도가 변경되어 원하는 계조의 영상을 얻게 된다.
소스 및 게이트 인쇄 회로 기판들(120, 130)은 소스 구동 회로 필름(140) 및 게이트 구동 회로 필름(150)을 통해 각각 액정 표시 패널(110)과 연결되고, 액정 표시 패널(110)을 구동하기 위한 영상 신호 및 스캔 신호들을 각각 제공한다. 소스 및 게이트 구동 회로 필름(140, 150)은 일 예로, 테이프 캐리어 패키지(tape carrier package; TCP) 또는 칩 온 필름(chip on film, COF)으로 이루어진다. 여기서, 소스 및 게이트 구동 회로 필름(140, 150) 각각은 소스 인쇄 회로 기판(120)으로부터 제공되는 구동 신호를 적절한 타이밍에 액정 표시 패널(110)에 인가하기 위하여 구동 신호의 타이밍을 제어하는 소스 및 게이트 구동칩(141, 151)을 더 포함한다.
수납 용기(200)는 액정 표시 패널(110)을 수납하고, 소스 구동 회로 필름(140)을 통해 액정 표시 패널(110)과 연결된 소스 인쇄 회로 기판(120)은 소스 구동 회로 필름의 벤딩에 의해 수납 용기(200)의 배면으로 절곡된다. 또한 게이트 인쇄 회로 기판(130)은 게이트 구동 회로 필름(150)의 벤딩에 의해 수납 용기(200)의 측면에 배치되거나 TFT 기판(111)에 직접 게이트 구동 회로를 형성하여 제거될 수 있다.
컨트롤 인쇄 회로 기판(300)은 수납 용기(200)의 배면에 배치되고, 디스플레이 유닛(100)의 동작을 제어하기 위한 제어 신호를 발생시켜 연성 인쇄 회로 기판(400)을 통해 소스 인쇄 회로 기판(120)으로 출력한다. 연성 인쇄 회로 기판(400)은 소스 인쇄 회로 기판(120)과 컨트롤 인쇄 회로 기판(300)을 전기적으로 연결한다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시 장치의 회로적 구성을 보여주는 도면이다. TFT 기판(111)은 유효 표시 영역과 비유효 표시 영역(113)을 포함한다. TFT 기판(111)의 유효 표시 영역은 TFT 기판(111)과 대향하여 결합되는 컬러 필터 기판(112) 및 TFT 기판(111)과 컬러 필터 기판(112) 사이에 주입되는 액정층(미 도시됨)을 포함한다. FT 기판(111)의 유효 표시 영역에는 스위칭 소자인 TFT(T1)가 매트릭스 형태로 형성되며, TFT(T1)의 소스 단자에는 소스 라인(S)이 연결되고, 게이트 단자에는 게이트 라인(G)이 연결된다. 또한 드레인 단자에는 투명한 도전성 재질로 이루어진 공통 전극(CLC) 및 스토리지 전극(CST)이 형성된다.
TFT 기판(111)의 비유효 표시 영역(113)은 더미 박막 트랜지스터를 포함한다. 비유효 표시 영역(113)에 포함되는 더미 박막 트랜지스터의 일 예가 도 4에 도시되어 있다. 더미 박막 트랜지스터(TD)의 드레인에는 제1 전압(Vd)이 연결되고, 소스는 저항(Rs)을 통해 접지 전압과 연결되며, 그리고 게이트는 제2 전압(Vg)이 연결된다. 더미 박막 트랜지스터(TD)는 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터(T1)와 동일한 공정 상에서 동일한 특성을 갖도록 형성된다.
다시 도 3을 참조하면, 더미 박막 트랜지스터(TD)의 드레인으로 공급하기 위한 제1 전압(Vd)과 게이트로 공급하기 위한 제2 전압(Vg)은 컨트롤 인쇄 회로 기판(300) 상의 전압 발생기(320)로부터 공급된다. 더미 박막 트랜지스터(TD)의 소스는 컨트롤 인쇄 회로 기판(300) 상에 구비된 저항(Rs)과 연결된다. 저항(Rs)의 일단은 더미 박막 트랜지스터(TD)와 연결되고, 타단은 접지 전압과 연결된다.
일 실시예에서 더미 박막 트랜지스터(TD)의 드레인으로 공급되는 제1 전압(Vd)은 액정 전극(CLC) 및 스토리지 전극(CST)의 일단으로 제공되는 공통 전압(VCOM) 또는 액정 패널(100)의 전원 전압(AVDD) 중 어느 하나이다. 또한, 더미 박막 트랜지스터(TD)의 게이트로 공급되는 제2 전압(Vg)은 전원 전압(AVDD) 또는 게이트 라인(G)을 통해 박막 트랜지스터(T1)의 게이트로 공급되는 게이트 온 전압(VON) 중 어느 하나이다.
도 3에 도시된 예에서는 더미 박막 트랜지스터(TD)의 드레인 단자와 게이트 단자가 소스 구동 회로 필름(140) 및 연성 인쇄 회로 기판(400)을 통해 컨트롤 인쇄 회로 기판(300) 내 전압 발생기(320)와 연결된 것으로 표시되었으나, 다른 실시 예에서 더미 박막 트랜지스터(TD)의 드레인 단자와 게이트 단자는 TFT 기판(111)에 형성된 공통 전압 라인 및 전원 전압 라인과 직접 연결될 수 있다.
도 5a 및 도 5b는 액정 패널에 구비되는 박막 트랜지스터의 게이트로 게이트 온 전압 및 게이트 오프 전압을 각각 연속적으로 인가했을 때 게이트 전압 대 박막 트랜지스터의 드레인-소스 전압의 변화를 보여주고 있다.
일반적으로, 액정 패널에 구비되는 복수의 게이트 라인들은 순차적으로 하나씩 게이트 온 전압(VON)으로 구동되므로, 하나의 박막 트랜지스터의 게이트로 인가되는 전압의 대부분은 게이트 오프 전압(VOFF)이다. 즉, 게이트 온 전압(VON)이 박막 트랜지스터의 게이트로 인가되는 시간은 매우 짧다. 예컨대, 박막 트랜지스터의 게이트로 게이트 온 전압(VON)을 1시간동안 연속적으로 공급하는 것은 일반적인 액정 패널을 1000시간 구동하는 것과 같다. 그러므로, 더미 박막 트랜지스터의 게이트로 게이트 온 전압(VON)을 연속적으로 인가하여 더미 박막 트랜지스터의 특성 변화를 모니터링함으로써 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터의 장시간 사용에 따른 특성 변화를 예측 할 수 있다.
도 5a에 도시된 바와 같이, 박막 트랜지스터의 게이트로 게이트 온 전압(VON)을 연속적으로 인가했을 때 동일한 게이트 온 전압에 대한 드레인-소스 전류가 감소함을 알 수 있다.
도 5b를 참조하면, 박막 트랜지스터의 게이트로 게이트 오프 전압(VOFF)을 연속적으로 인가했을 때 동일한 게이트 온 전압에 대한 드레인-소스 전류의 변화가 거의 없음을 알 수 있다.
도 5a 및 도 5b에서 알 수 있는 바와 같이, 박막 트랜지스터의 특성은 박막 트랜지스터의 게이트로 게이트 온 전압(VON)을 장시간 인가했을 때 변화됨을 알 수 있다.
도 4를 참조하면, 더미 박막 트랜지스터(TD)의 폭/길이(width/length)를 충분히 크게 하면, 저항(Rs)을 통해 흐르는 전류 Is는 커지고, 그 결과, 더미 박막 트랜지스터(TD)의 소스 단자의 전압(Vs) 변화를 용이하게 모니터링 할 수 있다. 이 때, 더미 박막 트랜지스터(TD)의 소스 단자의 전압(Vs) 변화를 모니터링할 수 있도록 컨트롤 인쇄 회로 기판(300)에 구비된 저항(Rs)의 일단이 외부에 노출될 수 있도록 컨트롤 인쇄 회로 기판(300)을 제작한다. 액정 표시 장치의 제조시 마지막 테스트 단계에서 더미 박막 트랜지스터(TD)의 소스 단자의 전압(Vs) 변화를 모니터링하여 박막 트랜지스터의 특성을 예측할 수 있다.
더미 박막 트랜지스터(TD)의 소스 단자의 전압(Vs) 변화를 모니터링하는 방법은 다음과 같다.
외부로부터 액정 표시 장치로 전원 공급이 개시되면, 컨트롤 인쇄 회로 기판(300)의 전압 발생기(320)가 전압들을 발생한다. 이 때, 사용자는 더미 박막 트랜지스터(TD)의 소스 단자(Vs)의 초기 전압(Vs1)을 측정한다. 소정 시간 경과 후 또는 주기적으로 더미 박막 트랜지스터(TD)의 소스 단자(Vs)의 변화 전압(Vs2)을 측정한다. 초기 전압과 변화 전압의 차에 근거해서 더미 박막 트랜지스터의 드레인-소스 전류(Ids)를 구할 수 있다. 더미 박막 트랜지스터의 드레인-소스 전류(Ids)는 수학식 1과 같다.
ΔIds = (Vs2 - Vs1) / Rs
더미 박막 트랜지스터의 드레인-소스 전류(Ids)의 변화량(ΔIds)이 클수록 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터가 장시간 사용될 때 특성 변화 확률이 높음을 예측할 수 있다.
이와 같이, 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터와 동일한 더미 박막 트랜지스터를 액정 패널에 구비하고, 더미 박막 트랜지스터를 테스트하여 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터가 장시간 사용되었을 때 특성 변화를 예측할 수 있다.
예시적인 바람직한 실시예를 이용하여 본 발명을 설명하였지만, 본 발명의 범위는 개시된 실시예들에 한정되지 않는다는 것이 잘 이해될 것이다. 오히려, 본 발명의 범위에는 다양한 변형 예들 및 그 유사한 구성들이 모두 포함될 수 있도록 하려는 것이다. 따라서, 청구범위는 그러한 변형 예들 및 그 유사한 구성들 모두를 포함하는 것으로 가능한 폭넓게 해석되어야 한다.
이와 같은 본 발명에 의하면, 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터와 동일한 더미 박막 트랜지스터를 액정 패널에 구비하고, 더미 박막 트랜지스터를 테스트하여 유효 표시 영역 내 박막 트랜지스터가 장시간 사용되었을 때 특성 변화를 예측함으로써 액정 표시 장치의 품질 신뢰도를 높일 수 있다.

Claims (11)

  1. 액정 표시 장치의 액정 패널에 있어서:
    복수의 소스 라인들과, 복수의 게이트 라인들과, 상기 소스 라인들과 상기 게이트 라인들의 교차에 의해서 형성된 영역들에 각각 배치되는 액정 셀들을 포함하는 유효 표시 영역; 그리고
    더미 박막 트랜트랜지스터를 포함하는 비유효 표시 영역을 포함하되;
    상기 액정 셀들 각각은 상기 소스 라인과 연결된 소스, 드레인 그리고 상기 게이트 라인과 연결된 게이트를 갖는 박막 트랜지스터를 포함하고;
    상기 더미 박막 트랜지스터는 상기 박막 트랜지스터의 특성 예측을 위한 제1 전압과 연결된 드레인, 제2 전압과 연결된 소스 및 제3 전압과 연결된 게이트 단자를 갖는 것을 특징으로 하는 액정 패널.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 전압은 공통 전압 또는 동작 전압 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 액정 패널.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제3 전압은 동작 전압 또는 상기 박막 트랜지스터를 턴온 시키기 위한 턴온 전압 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 액정 패널.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 더미 박막 트랜지스터의 소스는 저항을 통하여 접지 전압과 연결되는 것을 특징으로 하는 액정 패널.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 액정 셀들 각각은 상기 박막 트랜지스터의 드레인과 연결된 액정 커패시터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 패널.
  6. 액정 표시 장치에 있어서:
    액정 패널; 그리고
    제1 전압, 제2 전압 그리고 제3 전압을 공급하는 전원 공급기를 포함하되;
    상기 액정 패널은,
    복수의 소스 라인들과, 복수의 게이트 라인들과, 상기 소스 라인들과 상기 게이트 라인들의 교차에 의해서 형성된 영역들에 각각 배치되는 액정 셀들을 포함하는 유효 표시 영역; 그리고
    더미 박막 트랜트랜지스터를 포함하는 비유효 표시 영역을 포함하되;
    상기 액정 셀들 각각은 상기 소스 라인과 연결된 소스, 드레인 그리고 상기 게이트 라인과 연결된 게이트를 갖는 박막 트랜지스터를 포함하고;
    상기 더미 박막 트랜지스터는 상기 제1 전압과 연결된 드레인, 상기 제2 전 압과 연결된 소스 및 상기 제3 전압과 연결된 게이트 단자를 갖는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제1 전압은 공통 전압 또는 동작 전압 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 제3 전압은 동작 전압 또는 상기 박막 트랜지스터를 턴온 시키기 위한 턴온 전압 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  9. 제 6 항에 있어서,
    상기 더미 박막 트랜지스터의 소스는 저항을 통하여 접지 전압과 연결되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치.
  10. 복수의 소스 라인들과, 복수의 게이트 라인들과, 상기 소스 라인들과 상기 게이트 라인들의 교차에 의해서 형성된 영역들에 각각 배치되는 박막 트랜지스터를포함하는 유효 표시 영역, 그리고 드레인, 저항을 통해 접지 전압과 연결된 소스 그리고 게이트를 갖는 더미 박막 트랜트랜지스터를 포함하는 비유효 표시 영역을 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 방법에 있어서:
    상기 더미 박막 트랜지스터의 소스의 초기 전압 레벨을 측정하는 단계와;
    소정 시간 동안 상기 더미 박막 트랜지스터의 상기 드레인으로 제1 전압을 인가하고, 그리고 상기 게이트로 제2 전압을 인가하는 단계와;
    상기 소정 시간이 경과한 후 상기 더미 박막 트랜지스터의 소스의 변화 전압 레벨을 측정하는 단계; 그리고
    상기 초기 전압 레벨과 상기 변화 전압 레벨의 차에 근거해서 상기 유효 표시 영역 내 상기 박막 트랜지스터의 특성을 예측하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 상기 초기 전압 레벨과 상기 변화 전압 레벨의 차가 클 때 상기 유효 표시 영역 내 상기 박막 트랜지스터의 특성이 열악한 것으로 판정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치의 테스트 방법.
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CN109903712A (zh) * 2019-04-30 2019-06-18 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 阵列基板行驱动电路及显示面板

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