KR20070117190A - Apparatus of probing lighting for liquid crystal display - Google Patents

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KR20070117190A KR1020060051057A KR20060051057A KR20070117190A KR 20070117190 A KR20070117190 A KR 20070117190A KR 1020060051057 A KR1020060051057 A KR 1020060051057A KR 20060051057 A KR20060051057 A KR 20060051057A KR 20070117190 A KR20070117190 A KR 20070117190A
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황윤홍
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Abstract

A lighting probing apparatus for an LCD(Liquid Crystal Display) is provided to connect a probe unit with an LCD panel through a probe needle formed by performing direct wire bonding to a bump of a driving chip, thereby removing the necessity for a special sub board where the driving chip is mounted for connection with the LCD panel, and accordingly minimizing temporal and economical loss required for manufacture of the sub board. A lighting probing apparatus for an LCD comprises a work table, and a probe unit(500). On the work table, an LCD panel(100) to be probed is placed. The probe unit comprises a driving chip(510) for applying a driving signal to the LCD panel, and probe needles(521,522). The probe needle is formed by bonding conductive wires to a bump(511,512) of the driving chip. The work table comprises first and second tables. The first table has a mount unit where the LCD panel is placed, and has a receiving unit where a first polarizing plate and a lighting unit are arranged in a lower part of the mount unit. The second table has an opening part for exposing a display unit of the LCD panel. On the second table, a second polarizing plate is mounted.

Description

액정 표시 장치용 점등 검사 장치{APPARATUS OF PROBING LIGHTING FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY}Lighting inspection device for liquid crystal display device {APPARATUS OF PROBING LIGHTING FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY}

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

도 1은 액정 표시 패널을 개략적으로 나타낸 평면도.1 is a plan view schematically illustrating a liquid crystal display panel.

도 2는 액정 표시 패널을 개략적으로 나타낸 단면도.2 is a cross-sectional view schematically showing a liquid crystal display panel.

도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치를 개략적으로 나타낸 구성도.3 is a configuration diagram schematically showing a lighting test apparatus for a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.

도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치의 작업 테이블을 나타낸 사시도.4 is a perspective view showing a work table of a lighting inspection device for a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention;

도 5는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치의 프로브 유니트를 나타낸 단면도. Fig. 5 is a cross-sectional view showing a probe unit of a lighting inspection device for a liquid crystal display device according to a first embodiment of the present invention.

도 6은 도 5의 나타낸 연성인쇄회로와 인쇄회로기판의 접속 구조를 나타낸 단면도.FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a connection structure of the flexible printed circuit and the printed circuit board of FIG. 5. FIG.

도 7은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치의 프로브 유니트를 나타낸 단면도.7 is a cross-sectional view showing a probe unit of a lighting inspection device for a liquid crystal display device according to a second embodiment of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 도면 부호의 설명><Description of reference numerals for the main parts of the drawings>

100: 액정 표시 패널 130: 상부 기판100: liquid crystal display panel 130: upper substrate

131: 블랙 매트릭스 132: 컬러 필터131: black matrix 132: color filter

133: 컬럼 스페이스 134: 공통 전극133: column space 134: common electrode

140: 하부 기판 144: 화소 전극140: lower substrate 144: pixel electrode

150: 액정층 300: 작업 테이블150: liquid crystal layer 300: work table

310: 백라이트 유니트 320: 제 1 편광판310: backlight unit 320: first polarizing plate

340: 안착부 350: 제 2 편광판340: mounting portion 350: second polarizing plate

510: 구동칩 511: 입력 범프510: driving chip 511: input bump

512: 출력 범프 521,522: 프로브 니들512: output bump 521, 522: probe needle

530: 몰드체 530: molded body

본 발명은 액정 표시 장치용 점등 검사 장치에 관한 것으로, 특히, 액정 표시 패널에 편광판을 부착하고 구동칩을 실장하는 모듈화 공정의 이전 단계에서 액정 표시 패널에 발생한 불량을 검사하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lighting test apparatus for a liquid crystal display device, and more particularly, to a lighting test for a liquid crystal display device which inspects a defect occurring in a liquid crystal display panel in a previous step of a modularization process in which a polarizing plate is attached to a liquid crystal display panel and a driving chip is mounted. Relates to a device.

액정 표시 장치(Liquid Crystal Display)는 액정분자의 광학적 이방성 및 편광판의 편광 특성을 이용하여 광원에서 입사되는 빛의 투과량을 조절하여 화상을 구현하는 디스플레이 소자로서, 경량박형, 고해상도, 대화면화를 실현할 수 있고, 소비전력이 작아 최근 그 응용범위가 급속도로 확대되고 있다.Liquid crystal display is a display device that realizes an image by controlling the amount of light incident from a light source using the optical anisotropy of liquid crystal molecules and the polarization characteristics of a polarizing plate. The liquid crystal display can realize light weight, high resolution, and large screen. In addition, the power consumption is small, the application range is expanding rapidly in recent years.

상기 액정 표시 장치에 사용되는 액정 표시 패널은, 투명 기판 상에 화소 전극 및 박막 트랜지스터를 형성하는 박막 트랜지스터 공정과 다른 투명 기판 상에 블랙 매트릭스, 컬러필터 및 공통 전극을 형성하는 컬러필터 공정 및 상기 두 기판을 합착시켜 그 사이에 액정층을 형성하는 셀 공정을 거쳐 제작된다.The liquid crystal display panel used in the liquid crystal display device includes a thin film transistor process of forming a pixel electrode and a thin film transistor on a transparent substrate, and a color filter process of forming a black matrix, a color filter, and a common electrode on another transparent substrate. It manufactures through the cell process of bonding a board | substrate and forming a liquid crystal layer between them.

액정 표시 패널이 제작되면 액정 표시 패널에 편광판을 부착하고, 구동칩을 실장하며, 백라이트 유니트를 조립하는 모듈 공정이 진행되는데, 그 이전 단계에서 점등 검사 장치를 이용하여 완성품과 동일한 조건으로 액정 표시 패널의 불량 여부를 검사하게 된다.When a liquid crystal display panel is manufactured, a module process of attaching a polarizing plate to a liquid crystal display panel, mounting a driving chip, and assembling a backlight unit is performed. In the previous step, a liquid crystal display panel is used under the same conditions as a finished product using a lighting test device. Will be checked for defects.

종래 기술에 따른 점등 검사는, 백라이트 유니트 및 제 1 편광판이 구비된 하부 테이블과 프로브 유니트(Probe Unit) 및 제 2 편광판이 구비된 상부 테이블 사이에 검사 대상인 액정 표시 패널을 반입시키고, 상기 프로브 유니트를 통하여 상기 액정 표시 패널에 다양한 검사 신호를 인가하여 이때 출력되는 화상을 보면서 불량, 예를 들어, 단선, 얼룩, 빛 샘 등을 검사하게 된다.According to the prior art, the lighting test includes a liquid crystal display panel to be inspected between a lower table provided with a backlight unit and a first polarizing plate and an upper table provided with a probe unit and a second polarizing plate, and the probe unit Various inspection signals are applied to the liquid crystal display panel to check defects, for example, disconnection, spots, and light leakage while viewing the output image.

상기 점등 검사에 사용되는 프로브 유니트는 액정 표시 패널에 구동 신호를 인가하는 구동칩과, 상기 액정 표시 패널에 접촉되는 프로브 니들(Probe Needle) 및 구동칩과 프로브 니들이 실장되는 보조 기판으로 구성되는데, 검사 대상인 액정 표시 패널의 종류에 따라 실장되는 구동칩의 종류 및 실장 위치가 상이하므로, 이에 대응할 수 있도록 프로브 유니트를 새로 제작해야하는 문제점이 있었다.The probe unit used for the lighting test includes a driving chip for applying a driving signal to the liquid crystal display panel, a probe needle contacting the liquid crystal display panel, and an auxiliary substrate on which the driving chip and the probe needle are mounted. Since the type and mounting position of the driving chip to be mounted are different according to the type of the liquid crystal display panel as a target, there is a problem that a new probe unit has to be manufactured to cope with this problem.

특히, 프로브 유니트의 보조 기판을 제작하기 위해서는 구동칩 및 프로브 니들이 실장되는 회로 패턴을 형성하기 위하여 마스크(Mask)를 이용한 패터닝 공 정(Patterning Process)을 실시하게 되는데, 상기 패터닝 공정은 마스크 제작, 금속 박막 증착, 감광액 도포, 노광, 현상, 식각, 감광액 박리, 세정 등의 일련의 과정으로 이루어지는 복잡한 공정으로서, 적게는 수십일에서 많게는 수개월의 시간과 막대한 비용이 소요되는 문제점이 있었다. 또한, 이로 인해 제품 변경 및 신제품 출시 등과 같은 공정상의 변화 요인에 적절히 대응할 수 없는 문제점이 있었다.In particular, in order to fabricate the auxiliary substrate of the probe unit, a patterning process using a mask is performed to form a circuit pattern on which the driving chip and the probe needle are mounted. The patterning process includes mask fabrication, metal As a complex process consisting of a series of processes such as thin film deposition, photoresist coating, exposure, development, etching, photoresist stripping, cleaning, etc., there has been a problem in that it takes a lot of time and cost for a few days to many months. In addition, this has a problem that can not adequately respond to changes in the process, such as product changes and new product launch.

따라서, 본 발명은 구동칩 및 프로브 니들의 실장을 위해 사용되었던 보조 기판을 사용하지 않고, 구동칩에 직접 와이어 본딩(Wire bonding)을 하여 프로브 니들을 형성함으로써, 보조 기판의 제작에 소요되었던 시간적, 경제적 손실을 줄일 수 있고, 제품 변경 및 신제품 출시에 따라 즉시 대응할 수 있는 새로운 액정 표시 장치용 점등 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention does not use the auxiliary substrate used for mounting the driving chip and the probe needle, and forms the probe needle by wire bonding directly to the driving chip, thereby making it possible to manufacture the auxiliary substrate. It is an object of the present invention to provide a lighting test apparatus for a new liquid crystal display which can reduce economic losses and respond immediately to product changes and new product launches.

상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치는, 검사를 수행할 액정 표시 패널이 위치되는 작업 테이블과, 상기 액정 표시 패널에 구동 신호를 인가하는 구동칩과, 상기 구동칩의 범프에 도전성 와이어를 본딩하여 형성한 프로브 니들을 포함하는 프로브 유니트를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a lighting test apparatus for a liquid crystal display according to the present invention includes a work table on which a liquid crystal display panel to be inspected is located, a driving chip for applying a driving signal to the liquid crystal display panel, and the driving. And a probe unit including a probe needle formed by bonding a conductive wire to a bump of a chip.

상기 작업 테이블은 액정 표시 패널이 위치되는 안착부가 마련되고, 상기 안착부의 하부에 제 1 편광판 및 점등 수단이 배치되는 수납부가 마련되는 제 1 테이블과, 액정 표시 패널의 표시부를 노출시키는 개구부가 마련되고, 제 2 편광판이 장착되는 제 2 테이블을 포함하는 것을 특징으로 한다.The work table may include a seating unit in which a liquid crystal display panel is positioned, a first table in which a first polarizing plate and a receiving unit in which a lighting means is disposed, is provided below the seating unit, and an opening exposing the display unit of the liquid crystal display panel. And a second table on which the second polarizing plate is mounted.

상기 액정 표시 패널의 반입 및 반출을 위한 반송 수단을 더 포함하는 것이 바람직하다.It is preferable to further include conveyance means for carrying in and out of the said liquid crystal display panel.

상기 액정 표시 장치용 점등 검사 장치는 상기 액정 표시 패널에 구동용 신호를 인가하는 인쇄회로기판 및 상기 인쇄회로기판에 검사용 신호를 인가하는 신호 발생기를 더 포함하는 것이 바람직하다.The lighting test apparatus for the liquid crystal display may further include a printed circuit board for applying a driving signal to the liquid crystal display panel and a signal generator for applying a test signal to the printed circuit board.

상기 프로브 유니트와 상기 인쇄회로기판은 연성인쇄회로를 통해 연결되는 것을 특징으로 한다. 이때, 상기 프로브 유니트와 상기 연성인쇄회로는 이방성 도전필름 또는 포고 블럭을 통해 서로 도통 되고, 상기 인쇄회로기판과 상기 연성인쇄회로는 이방성 도전필름 또는 포고 블럭을 통해 서로 도통 된다.The probe unit and the printed circuit board may be connected via a flexible printed circuit. In this case, the probe unit and the flexible printed circuit are connected to each other through an anisotropic conductive film or a pogo block, and the printed circuit board and the flexible printed circuit are connected to each other through an anisotropic conductive film or a pogo block.

상기 프로브 니들은 상기 구동칩의 출력 범프에 도전성 와이어를 본딩하여 형성하는 것이 바람직하다. 또는, 상기 구동칩의 출력 범프 및 입력 범프에 도전성 와이어를 본딩하여 형성하는 것이 바람직하다. 이때, 도전성 와이어로는 금선 또는 은선을 사용할 수 있고, 니켈이 도금된 금선 또는 니켈이 도금된 은선을 사용할 수 있다.The probe needle is preferably formed by bonding a conductive wire to the output bump of the driving chip. Alternatively, the conductive wire may be bonded to the output bumps and the input bumps of the driving chip. In this case, a gold wire or a silver wire may be used as the conductive wire, and a gold wire with nickel plating or a silver wire with nickel plating may be used.

상기 프로브 니들은 절연성 재료, 예를 들어 (Zirconium) 또는 에폭시(Epoxy) 수지로 몰딩 되는 것이 바람직하다.The probe needle is preferably molded with an insulating material, for example (Zirconium) or epoxy resin.

이후, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described embodiments of the present invention;

그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하 도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 도면상의 동일 부호는 동일한 요소를 지칭한다.However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but will be implemented in various forms, and only the embodiments make the disclosure of the present invention complete and the scope of the invention to those skilled in the art. It is provided to inform you completely. Like reference numerals in the drawings refer to like elements.

먼저, 점등 검사의 대상인 액정 표시 패널에 대하여 설명한다.First, the liquid crystal display panel which is the object of lighting inspection is demonstrated.

도 1은 액정 표시 패널을 개략적으로 나타낸 평면도이고, 도 2는 액정 표시 패널의 일부분을 개략적으로 나타낸 일부 단면도이다.1 is a plan view schematically illustrating a liquid crystal display panel, and FIG. 2 is a partial cross-sectional view schematically illustrating a portion of a liquid crystal display panel.

도 1을 참조하면, 상기 액정 표시 패널(100)은 화상이 출력되는 표시부(110) 및 신호 인가용 회로가 형성되는 실장부(120)를 포함한다. 상기 표시부(110)에는 영상을 구현하는 단위 화소가 매트릭스 형태로 형성되며, 상기 실장부(120)에는 제어 신호가 인가되고 구동칩이 실장되는 접속 패드(121)가 형성된다.Referring to FIG. 1, the liquid crystal display panel 100 includes a display unit 110 for outputting an image and a mounting unit 120 in which a signal application circuit is formed. In the display unit 110, unit pixels for implementing an image are formed in a matrix form, and the mounting unit 120 is provided with a connection pad 121 to which a control signal is applied and a driving chip is mounted.

도 2를 참조하면, 상기 액정 표시 패널(100)은 대향 배치된 상부 기판(130)과 하부 기판(140) 사이에 형성된 액정층(150)을 포함한다.Referring to FIG. 2, the liquid crystal display panel 100 includes a liquid crystal layer 150 formed between the upper substrate 130 and the lower substrate 140 disposed to face each other.

상부 기판(130)은 비화소 영역에서 입사된 빛을 차단하는 다수의 블랙 매트릭스(131a,131b) 및 화소 영역에서 입사된 빛을 채색하여 컬러를 구현하는 다수의 R, G, B 컬러필터(132a,132b,132c)가 매트릭스 형태로 배열된 투명 기판이다. 또한 상부 기판(130)의 대향면에는 셀 갭 유지를 위한 컬럼 스페이서(133)와 인듐 틴 옥사이드(indium tin oxide: ITO) 또는 인듐 징크 옥사이드(indium zinc oxide: IZO) 등의 투광성 도전재료로 형성한 공통 전극(134)이 형성되어 있다. 상기 컬럼 스페이서(133)는 하부 기판(140)에 형성할 수도 있지만, 비교적 구조가 간단하고, 평탄도가 우수한 상부 기판(130)에 형성하는 것이 제조상 용이하다.The upper substrate 130 includes a plurality of black matrices 131a and 131b that block light incident in the non-pixel region and a plurality of R, G, and B color filters 132a that color by incident light in the pixel region. 132b and 132c are transparent substrates arranged in a matrix form. In addition, the opposing surface of the upper substrate 130 is formed of a light-transmitting conductive material such as column spacer 133 and indium tin oxide (ITO) or indium zinc oxide (IZO) to maintain a cell gap. The common electrode 134 is formed. The column spacer 133 may be formed on the lower substrate 140, but it is easy to manufacture the column spacer 133 on the upper substrate 130 having a relatively simple structure and excellent flatness.

하부 기판(140)은 스위칭 소자인 다수의 박막 트랜지스터(thin film transistor; TFT)가 매트릭스 형태로 배열된 투명 기판이다. 박막 트랜지스터(T)들의 게이트 전극(141)에는 게이트 라인(미도시)이 연결되고, 소오스 전극(142)에는 데이터 라인(미도시)이 연결되며, 드레인 전극(143)에는 ITO 또는 IZO 등의 투광성 도전재료로 형성한 화소 전극(144)이 연결된다. 특정 게이트 라인에 주사 신호를 인가하고, 특정 데이터 라인에 화상 신호를 인가하면 그 교차 영역에 해당하는 특정 화소가 선택된다. 이때, 선택된 화소의 박막 트랜지스터가 턴온(turn-on)되어 화소 전극(145)과 공통 전극(133) 사이에는 전계가 형성되고, 이로 인해 액정층(150)의 분자 배열이 변화되어 배면에서 입사된 빛의 투과율이 변경된다. 액정층(150)을 투과한 빛은 R, G, B 컬러필터(132a,132b,132c)에 의해 채색되어 전면으로 출사되고, 각 화소에서 출사된 빛이 혼색 되어 컬러 화상을 구현한다.The lower substrate 140 is a transparent substrate in which a plurality of thin film transistors (TFTs), which are switching elements, are arranged in a matrix form. A gate line (not shown) is connected to the gate electrode 141 of the thin film transistors T, a data line (not shown) is connected to the source electrode 142, and a translucent light such as ITO or IZO is connected to the drain electrode 143. The pixel electrode 144 formed of a conductive material is connected. When a scan signal is applied to a specific gate line and an image signal is applied to a specific data line, a specific pixel corresponding to the intersection area is selected. In this case, the thin film transistor of the selected pixel is turned on to form an electric field between the pixel electrode 145 and the common electrode 133, thereby changing the molecular arrangement of the liquid crystal layer 150 to be incident on the rear surface. The transmittance of light is changed. The light transmitted through the liquid crystal layer 150 is colored by the R, G, and B color filters 132a, 132b, and 132c and emitted to the front, and the light emitted from each pixel is mixed to realize a color image.

일반적으로, 액정 표시 장치는 액정분자의 광학적 이방성 및 편광판의 편광 특성을 이용하여 광원에서 입사되는 빛의 투과량을 조절하여 화상을 구현하기 때문에 최종 검사 단계에서는 양쪽면에 편광판이 부착된 액정 표시 패널이 제공되지만, 점등 검사 단계에서는 편광판이 부착되지 않은 액정 표시 패널이 제공된다.In general, the liquid crystal display device implements an image by controlling the amount of light incident from the light source using optical anisotropy of the liquid crystal molecules and polarization characteristics of the polarizing plate. Although provided, the liquid crystal display panel in which the polarizing plate is not attached is provided in the lighting inspection step.

<제 1 실시예><First Embodiment>

도 3은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치를 개략적으로 나타낸 구성도이고, 도 4는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치의 작업 테이블을 나타낸 사시도이다.3 is a configuration diagram schematically showing a lighting inspection apparatus for a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a working table of the lighting inspection apparatus for a liquid crystal display according to the first embodiment of the present invention. It is a perspective view shown.

도 3을 참조하면, 상기 점등 검사 장치는, 검사를 수행할 액정 표시 패널(100)을 반입하는 로더(200)와, 상기 액정 표시 패널에 점등 수단 및 편광 수단 을 제공하는 작업 테이블(300)과, 검사가 끝난 액정 표시 패널을 반출하는 언로더(400)와, 상기 액정 표시 패널에 구동용 신호를 인가하는 인쇄회로기판(600)과 상기 인쇄회로기판(600)에 검사용 신호를 인가하는 신호 발생기(700) 및 상기 액정 표시 패널(100)과 인쇄회로기판(600)을 연결하는 프로브 유니트(500)를 포함한다.Referring to FIG. 3, the lighting test apparatus includes a loader 200 carrying in a liquid crystal display panel 100 to perform an inspection, a work table 300 providing lighting means and polarizing means to the liquid crystal display panel; And an unloader 400 for carrying out the inspected liquid crystal display panel, a printed circuit board 600 for applying a driving signal to the liquid crystal display panel, and a signal for applying a test signal to the printed circuit board 600. It includes a generator 700 and a probe unit 500 connecting the liquid crystal display panel 100 and the printed circuit board 600.

상기 로더(200) 및 상기 언로더(400)는 액정 표시 패널을 반송할 수 있는 자동 반송 장치로서 액정 표시 패널이 적재되는 카세트를 각각 구비한다. 상기 로더(200)는 카세트에 적재된 액정 표시 패널을 하나씩 취출하여 작업 테이블(300)에 반입시키고, 상기 언로더는 검사가 끝난 액정 표시 패널을 작업 테이블(300)에서 반출시켜 카세트에 하나씩 적재한다. 따라서, 상기 로더(200) 및 언로더(400)는 다른 자동 반송 장치 예를 들어, 로봇으로 대체될 수 있으며, 검사자가 직접 액정 표시 패널을 반입하고 반출할 수 있으므로 생략될 수 있다. 또한, 선행하는 공정 장치 및 후행하는 공정 장치에 직접 연결되어 생략될 수도 있다.The loader 200 and the unloader 400 each include a cassette on which a liquid crystal display panel is loaded as an automatic transfer device capable of carrying a liquid crystal display panel. The loader 200 takes out the liquid crystal display panels loaded on the cassette one by one and brings them to the work table 300, and the unloader takes out the inspected liquid crystal display panels from the work table 300 and loads them on the cassette one by one. . Therefore, the loader 200 and the unloader 400 may be replaced by another automatic transfer device, for example, a robot, and may be omitted since the inspector may directly bring in and take out the liquid crystal display panel. It may also be omitted in direct connection to the preceding and subsequent process equipment.

도 4를 참조하면, 상기 작업 테이블(300)은 액정 표시 패널(100)의 위치를 기준으로 하부에 위치하는 제 1 테이블(300a) 및 상부에 위치하는 제 2 테이블(300b)로 구성된다. 여기서, 상기 두 테이블(300a,300b)은 액정 표시 패널(100)의 반입 및 반출이 용이한 구조를 갖는 것이 바람직하다. 예를 들어, 상기 두 테이블(300a,300b)의 양측에 결합된 힌지에 의해 개폐되는 구조일 수 있으며, 상기 두 테이블(300a,300b)의 적어도 일측에 결합된 승강 실린더에 의해 상하로 개폐되는 구조일 수 있다. 또한, 상기 두 테이블(300a,300b)의 적어도 일측에 형성된 관통 홈을 통해 액정 표시 패널(100)이 반송되는 구조일 수도 있다.Referring to FIG. 4, the work table 300 includes a first table 300a positioned below and a second table 300b positioned above the liquid crystal display panel 100. Here, the two tables 300a and 300b preferably have a structure in which the liquid crystal display panel 100 can be easily carried in and out. For example, the structure may be opened and closed by hinges coupled to both sides of the two tables 300a and 300b, and may be opened and closed up and down by a lifting cylinder coupled to at least one side of the two tables 300a and 300b. Can be. In addition, the liquid crystal display panel 100 may be conveyed through a through groove formed on at least one side of the two tables 300a and 300b.

제 1 테이블(300a)에는 액정 표시 패널(100)이 위치되는 안착부(340) 및 제 1 편광판(320)과 백라이트 유니트(310)가 수납되는 수납부(A1)가 마련되고, 제 2 테이블(300b)에는 액정 표시 패널(100)에서 화상이 출사되는 표시부를 노출시키는 개구부(A2)가 마련되고 제 2 편광판(350)이 장착된다. 이때, 제 1 편광판(320)과 제 2 편광판(350)은 편광축이 서로 교차되도록 구성된다.The first table 300a is provided with a seating portion 340 in which the liquid crystal display panel 100 is positioned, and an accommodating portion A 1 in which the first polarizing plate 320 and the backlight unit 310 are accommodated. An opening A 2 exposing the display unit from which the image is emitted from the liquid crystal display panel 100 is provided at 300b, and the second polarizing plate 350 is mounted. At this time, the first polarizing plate 320 and the second polarizing plate 350 are configured such that the polarization axes cross each other.

상기 안착부(340)에는 액정 표시 패널(100)을 검사 위치로 정렬하는 정렬 수단과, 액정 표시 패널(100)을 흡착 고정하는 고정 수단 및 액정 표시 패널(100)과 프로브 유니트(미도시)를 전기적으로 연결하는 접속 수단이 추가로 설치된다.The mounting unit 340 includes alignment means for aligning the liquid crystal display panel 100 to the inspection position, fixing means for adsorption-fixing the liquid crystal display panel 100, and a liquid crystal display panel 100 and a probe unit (not shown). Connection means for electrically connecting is further provided.

이때, 정렬 수단은 레일을 따라 종축으로 구동되는 제 1 지그(341a) 및 횡축으로 구동되는 제 2 지그(341b)를 포함하여 구성되어 액정 표시 패널(100)을 검사 위치로 정렬하기 위한 미세 움직임을 조정하고, 상기 고정 수단은 다수의 흡착구(342) 및 이에 결합되는 진공 펌프(미도시)를 포함하여 구성되어 검사 위치에 정렬된 액정 표시 패널(100)을 진공 흡착하여 고정한다. 또한, 상기 접속 수단(343)은 상하로 구동되는 승강 구동부(미도시)에 프로브 유니트(미도시343)가 결합되어 액정 표시 패널(100)의 접속 패드와 후술하는 프로브 유니트의 프로브 니들을 접속 또는 이격시킨다.In this case, the alignment means includes a first jig 341a driven vertically along the rail and a second jig 341b driven horizontally to perform fine movement for aligning the liquid crystal display panel 100 to the inspection position. The fixing means includes a plurality of suction ports 342 and a vacuum pump (not shown) coupled thereto to vacuum-adsorb and fix the liquid crystal display panel 100 arranged at a test position. In addition, the connection unit 343 may be coupled to a lifting unit (not shown) driven up and down to connect the probe unit (not shown) to the connection pad of the liquid crystal display panel 100 and the probe needle of the probe unit described later. Space it apart.

상기 수납부(A1)에는 저면에 점등 수단인 백라이트 유니트(310)가 설치되고, 상부에 제 1 편광판(320)이 설치된다.The accommodation unit A 1 is provided with a backlight unit 310, which is a lighting means on a bottom surface thereof, and a first polarizing plate 320 is installed on an upper portion thereof.

백라이트 유니트는(310)는 적어도 광원(311)를 포함하며, 광원(311)에 결합 되는 도광판(313)과, 도광판(313)의 하부에 설치되는 반사판(미도시)과, 도광판(313)의 상부에 설치된 다수의 광학 시트(314)를 더 포함한다. 상기 광원(311)는 냉음극선관 방식의 램프 또는 발광 다이오드를 사용하는 것이 효과적이며, 일측에 반사면이 형성된 클램프(312)를 함께 사용하면 광원(311)에서 방사상으로 발생한 빛이 반사면을 통해 난반사 되면서 일방향으로 집중되어 출사되므로 빛의 이용 효율이 극대화된다. 상기 도광판(313)은 클램프(312)와 결합되어 광원(311)에서 발생된 선광원 형태의 광학 분포를 갖는 빛을 면광원 형태의 광학 분포를 갖는 빛으로 변환한다. 이러한 도광판(313)으로 쐐기 타입 플레이트 또는 평행 평판형 플레이트가 사용될 수 있다. 상기 광학 시트(314)는 도광판(313) 상부에 배치되어 도광판(313)에서 출사된 빛의 휘도 분포를 균일하게 한다.The backlight unit 310 includes at least a light source 311, a light guide plate 313 coupled to the light source 311, a reflector (not shown) disposed below the light guide plate 313, and a light guide plate 313. It further includes a plurality of optical sheets 314 installed on the top. The light source 311 is effective to use a cold cathode ray tube type lamp or a light emitting diode, and when using the clamp 312 formed with a reflective surface on one side, the light generated radially from the light source 311 through the reflective surface As it is diffusely reflected, the light is concentrated in one direction and the light utilization efficiency is maximized. The light guide plate 313 is coupled to the clamp 312 to convert light having an optical distribution in the form of a line light source generated from the light source 311 into light having an optical distribution in the form of a surface light source. As the light guide plate 313, a wedge type plate or a parallel flat plate may be used. The optical sheet 314 is disposed on the light guide plate 313 to uniform the luminance distribution of the light emitted from the light guide plate 313.

인쇄회로기판(600)은 기판 상에 형성된 회로 패턴 및 이에 실장된 다양한 회로 소자들로 구성된다. 인쇄회로기판(600)에서 생성된 각종 전기적 신호 즉, RGB(Read, Green, Blue) 신호, SSC(Shift Start Clock) 신호, LP(Latch Pulse) 신호, 감마 아날로그 접지 신호, 디지털 접지 신호, 디지털 전원, 아날로그 전원 공통 전압, 축적 전압 등은 액정 표시 패널(100)에 전송된다. 이러한 인쇄회로기판(600)은 게이트 라인에 신호를 인가하는 게이트측 인쇄회로기판 및 데이터 라인에 신호를 인가하는 데이터측 인쇄회로기판으로 분리하여 별도로 제작할 수 있고, 게이트측 및 데이터측 인쇄회로기판을 통합하여 하나로 제작할 수도 있다.The printed circuit board 600 includes a circuit pattern formed on the substrate and various circuit elements mounted thereon. Various electrical signals generated from the printed circuit board 600, that is, RGB (Read, Green, Blue) signal, Shift Start Clock (SSC) signal, Latch Pulse (LP) signal, gamma analog ground signal, digital ground signal, digital power supply The analog power supply common voltage, the accumulated voltage, and the like are transmitted to the liquid crystal display panel 100. The printed circuit board 600 may be manufactured separately by separating the gate-side printed circuit board that applies a signal to the gate line and the data-side printed circuit board that applies the signal to the data line. It can also be integrated into one.

신호 발생기(700)는 검사용 신호 즉, 계조 신호, 휘도 신호, 감마 신호 등을 생성하여 인쇄회로기판(600)에 전송함으로써, 액정 표시 패널(100)에 검사용 화상 을 출력한다.The signal generator 700 generates a test signal, that is, a gray level signal, a luminance signal, a gamma signal, and the like, and transmits the test signal to the printed circuit board 600 to output the test image to the liquid crystal display panel 100.

한편, 도 5는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치의 프로브 유니트를 나타낸 단면도이다.5 is a cross-sectional view illustrating a probe unit of a lighting inspection apparatus for a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 상기 프로브 유니트(500)는 적어도 하나의 구동칩(510)을 포함하는 프로브 블럭과 상기 구동칩(510)의 범프(511,512)에 연결된 다수의 프로브 니들(521,522)을 포함하여 구성된다.Referring to FIG. 5, the probe unit 500 includes a probe block including at least one driving chip 510 and a plurality of probe needles 521 and 522 connected to bumps 511 and 512 of the driving chip 510. It is composed.

상기 구동칩(510)은 액정 표시 패널의 게이트 라인에 주사 신호를 인가하고 데이터 라인에 화상 신호를 인가하여 매트릭스 형태로 형성된 각 화소의 구동을 제어하는 회로를 내장한 소자로서, 상기 구동칩(510)의 일단에는 다수의 입력 범프(511)가 형성되어 인쇄회로기판(600)으로부터의 신호를 인가받으며, 상기 구동칩(510)의 타단에는 다수의 출력 범프(512)가 형성되어, 액정 표시 패널(100)에 신호를 인가한다. 상기 구동칩(510)에서 생성된 각종 전기적 신호는 출력 범프(512)에 접속된 프로브 니들(522)을 통하여 액정 표시 패널(100)에 전송된다. 여기서는, 입력 범프(511)가 2열로 형성되고, 출력 범프(512)가 1열로 형성된 구동칩(510)을 예시하였지만, 이에 한정되는 것은 아니며 다양하게 구성될 수 있다. 예를 들어, 제어해야할 화소의 수가 많은 고해상도 액정 표시 패널의 경우 입력 범프(511)가 3열로 구성되고 출력 범프(512)가 2열로 구성될 수도 있다.The driving chip 510 is a device having a circuit for controlling driving of each pixel formed in a matrix form by applying a scan signal to a gate line of a liquid crystal display panel and an image signal to a data line. ), A plurality of input bumps 511 are formed at one end thereof to receive a signal from the printed circuit board 600, and a plurality of output bumps 512 are formed at the other end of the driving chip 510 to form a liquid crystal display panel. Apply signal to (100). Various electrical signals generated by the driving chip 510 are transmitted to the liquid crystal display panel 100 through the probe needle 522 connected to the output bump 512. Here, although the driving chip 510 having the input bumps 511 formed in two rows and the output bumps 512 formed in one row is illustrated, the present invention is not limited thereto and may be variously configured. For example, in the case of a high-resolution liquid crystal display panel having a large number of pixels to be controlled, the input bump 511 may be configured in three columns and the output bump 512 may be configured in two columns.

상기 프로브 니들(521,522)은 도전성 와이어의 일단을 구동칩(510)의 각 범프(511,512)에 본딩하여 형성한 것으로, 다수의 프로브 니들(521,522)은 절연성 재료를 몰딩(molding)하여 형성한 몰드체(530)에 의해 전기적으로 절연된다. 이때, 상기 프로브 니들(521,522)은 금선, 또는 은선 등의 도전성 와이어를 사용하는 것이 바람직하고, 니켈이 도금된 금선 또는 은선 등의 도전성 와이어를 사용하는 것은 상기 재료의 무른 강도를 보강할 수 있으므로 더욱 바람직하다. 또한, 상기 몰드체는 지르코늄(Zirconium) 또는 에폭시(Epoxy) 수지를 사용하는 것이 바람직하다.The probe needles 521 and 522 are formed by bonding one end of a conductive wire to each bump 511 and 512 of the driving chip 510. A plurality of probe needles 521 and 522 are formed by molding an insulating material. Electrically isolated by 530. In this case, the probe needles 521 and 522 are preferably made of a conductive wire such as a gold wire or a silver wire, and the use of a conductive wire such as a nickel-plated gold wire or a silver wire may reinforce the soft strength of the material. desirable. In addition, the mold body is preferably a zirconium (Zirconium) or epoxy (Epoxy) resin.

상기 액정 표시 패널(100)과 인쇄회로기판(600)은 프로브 유니트(500) 및 연성인쇄회로(550)를 통해 서로 연결되어 신호가 전달된다. 즉, 액정 표시 패널(100)의 접속 패드(121)에는 출력측 프로브 니들(522)이 접속되고, 입력측 프로브 니들(521)이 접속된 연성인쇄회로(550)의 타단에는 인쇄회로기판(600)이 접속된다. 이때, 연성인쇄회로(550)과 인쇄회로기판(600)의 접속은 미세 피치에 대응할 수 있는 도통 수단, 예를 들어, 이방성 도전 필름(Anisotropic Conductive Film) 또는 포고 블럭(Pogo Block)을 이용하는 것이 효과적이다.The liquid crystal display panel 100 and the printed circuit board 600 are connected to each other through the probe unit 500 and the flexible printed circuit 550 to transmit a signal. That is, the output probe needle 522 is connected to the connection pad 121 of the liquid crystal display panel 100, and the printed circuit board 600 is connected to the other end of the flexible printed circuit 550 to which the input probe needle 521 is connected. Connected. At this time, the connection between the flexible printed circuit 550 and the printed circuit board 600 is effective to use a conductive means that can correspond to a fine pitch, for example, an anisotropic conductive film or a pogo block. to be.

도 6은 연성인쇄회로와 인쇄회로기판의 접속 구조를 나타낸 단면도로서, (a)는 이방성 도전 필름을 통해 양측의 패드가 접속되고, (b)는 포고 블럭을 통해 양측의 패드가 접속된다.6 is a cross-sectional view showing a connection structure between a flexible printed circuit and a printed circuit board, wherein (a) pads on both sides are connected through an anisotropic conductive film, and (b) pads on both sides are connected through a pogo block.

(a)를 참조하면, 이방성 도전 필름(800)에는 접착력을 갖는 수지층(810)에 미세한 직경을 갖는 도전볼(820)이 다수 배치되어 있고, 도전볼(820)을 통해 양측의 패드(601-551,602-552)가 접속된다. 또한, (b)를 참조하면, 포고 블럭(900)에는 신축이 가능한 포고 핀(910)이 패드의 수에 대응하여 배치되어 있고, 포고 핀(910)을 통해 양측의 패드(601-551,602-552)가 접속된다.Referring to (a), in the anisotropic conductive film 800, a plurality of conductive balls 820 having a fine diameter are disposed in the resin layer 810 having an adhesive force, and pads 601 on both sides of the conductive balls 820 are disposed. -551,602-552 are connected. In addition, referring to (b), the pogo block 900 is provided with expandable pogo pins 910 corresponding to the number of pads, and pads 601-551 and 602-552 on both sides through the pogo pins 910. ) Is connected.

이와 같은 구성을 갖는 본 발명은, 구동칩(510)의 범프(511,512)에 직접 와이어 본딩을 하여 형성한 프로브 니들(521,522)이 액정 표시 패널(100)에 직접 연결되므로, 프로브 유니트(500)의 구동칩(510)과 액정 표시 패널(100)의 연결을 위해 별도의 보조 기판을 제작할 필요가 없다.According to the present invention having the above configuration, the probe needles 521 and 522 formed by directly wire bonding the bumps 511 and 512 of the driving chip 510 are directly connected to the liquid crystal display panel 100. There is no need to manufacture a separate auxiliary substrate for connecting the driving chip 510 and the liquid crystal display panel 100.

다음으로, 상기 구성을 갖는 검사 장치의 동작에 대하여 도 3 및 도 4를 참조하여 설명한다.Next, the operation of the inspection apparatus having the above configuration will be described with reference to FIGS. 3 and 4.

먼저, 로더(200)는 일정한 시간 간격으로 카세트에 적재된 액정 표시 패널(100)을 하나씩 취출하여 이를 작업 테이블(300)로 반송된다. 상기 액정 표시 패널(100)은 종횡 방향으로 구동되는 정렬 수단(341)에 의해 미세 움직임이 조정되어 소정의 검사 위치로 이동되고, 고정 수단(342)에 의해 진공 흡입되어 상기 검사 위치에 고정된다. 또한, 접속 수단(343)에 의해 상기 액정 표시 패널(100)의 연결 패드에는 프로브 유니트(500)가 전기적으로 접속된다.First, the loader 200 takes out the liquid crystal display panels 100 loaded on the cassettes one by one at regular time intervals and transfers them to the work table 300. The liquid crystal display panel 100 is moved to a predetermined inspection position by the fine movement is adjusted by the alignment means 341 which is driven in the longitudinal and horizontal direction, and vacuum suctioned by the fixing means 342 is fixed to the inspection position. In addition, the probe unit 500 is electrically connected to the connection pad of the liquid crystal display panel 100 by the connecting means 343.

이어, 백라이트 유니트(310)에서 생성된 빛은 제 1 편광판(320)을 거치면서 편광되어 액정 표시 패널(100)에 입사되고, 상기 액정 표시 패널(100)을 투과한 빛은 각 화소 별로 그 투과율이 변화되어 제 2 편광판(350)에 도달한다. 이때, 빛의 편광 상태에 따라 상기 제 2 편광판(350)을 투과하거나 흡수되어 개구부(A2)를 통해 외부로 출사되고, 각 화소에서 출사된 빛이 혼색 되어 영상이 구현된다.Subsequently, the light generated by the backlight unit 310 is polarized while passing through the first polarizing plate 320 and is incident on the liquid crystal display panel 100. The light transmitted through the liquid crystal display panel 100 has a transmittance for each pixel. Is changed to reach the second polarizing plate 350. At this time, the second polarizing plate 350 is transmitted or absorbed according to the polarization state of the light and is emitted to the outside through the opening A 2 , and the light emitted from each pixel is mixed to realize an image.

한편, 신호 발생기(700)에서 발생된 각종 검사 신호가 인가된 프로브 유니트(500)는 액정 표시 패널(100)에 구동 신호를 인가하여 표시부에 검사 영상이 출 력되도록 제어한다. 이때, 검사자는 화면 즉, 표시부에 출력되는 검사 영상을 보면서 단선 여부, 얼룩 발생, 화소 불량 등 각종 불량을 검출하게 된다.Meanwhile, the probe unit 500 to which various test signals generated by the signal generator 700 are applied applies a driving signal to the liquid crystal display panel 100 to control the test image to be output to the display unit. At this time, the inspector detects various defects such as disconnection, spots, and pixel defects while viewing the inspection image output to the screen, that is, the display unit.

이어, 검사가 끝난 액정 표시 패널(100)은 언로더(400)에 의해 작업 테이블(300)에서 반출되어 언로더(400)에 마련된 카세트에 적재한다. 이후에는, 상기와 같은 동작에 의해 검사 대상인 액정 표시 패널을 새로 반입하여 점등 검사를 반복하여 수행한다.Subsequently, the inspected liquid crystal display panel 100 is taken out of the work table 300 by the unloader 400 and loaded into the cassette provided in the unloader 400. Thereafter, the liquid crystal display panel to be inspected is newly brought in by the above operation, and the lighting test is repeatedly performed.

<제 2 실시예>Second Embodiment

도 7은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 표시 장치용 점등 검사 장치의 프로브 유니트를 나타낸 단면도이다.7 is a cross-sectional view illustrating a probe unit of a lighting inspection apparatus for a liquid crystal display according to a first embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 상기 프로브 유니트는, 적어도 하나의 구동칩(510)을 포함하는 프로브 블럭과, 상기 구동칩(510)의 출력 범프(512)에 연결된 프로브 니들(522) 및 상기 구동칩(510)의 입력 범프(521)에 연결된 연성인쇄회로(550)를 포함한다.Referring to FIG. 7, the probe unit includes a probe block including at least one driving chip 510, a probe needle 522 and a driving chip connected to an output bump 512 of the driving chip 510. And a flexible printed circuit 550 connected to the input bump 521 of 510.

상기 프로브 니들(522)은 전술한 바와 같이, 구동칩(510)의 출력 범프(512)에 도전성 와이어를 본딩하여 형성한 것으로, 다수의 프로브 니들들(522)은 절연성 재료를 몰딩하여 형성한 몰드체(530)에 의해 전기적으로 절연된다.As described above, the probe needle 522 is formed by bonding a conductive wire to the output bump 512 of the driving chip 510, and the plurality of probe needles 522 are formed by molding an insulating material. It is electrically insulated by the sieve 530.

상기 액정 표시 패널(100)과 인쇄회로기판(600)은 프로브 유니트(500) 및 연성인쇄회로(550)를 통해 서로 연결되어 신호가 전달된다. 즉, 액정 표시 패널(100)의 접속 패드에는 구동칩(510)의 출력 범프(512)와 접속된 프로브 니들(522)이 접속되고, 구동칩(512)의 입력 범프(511)와 접속된 연성인쇄회로(550)의 타단에는 인 쇄회로기판(600)이 접속된다. 이때, 구동칩(510)의 입력 범프(511)와 연성인쇄회로(550)의 접속 및 연성인쇄회로(550)와 인쇄회로기판(600)의 접속은 전술한 이방성 도전 필름 또는 포고 블럭을 이용하는 것이 효과적이다.The liquid crystal display panel 100 and the printed circuit board 600 are connected to each other through the probe unit 500 and the flexible printed circuit 550 to transmit a signal. That is, the probe needle 522 connected to the output bump 512 of the driving chip 510 is connected to the connection pad of the liquid crystal display panel 100, and the flexible connector connected to the input bump 511 of the driving chip 512. The other end of the printed circuit 550 is connected to the printed circuit board 600. In this case, the connection of the input bump 511 of the driving chip 510 and the flexible printed circuit 550 and the connection of the flexible printed circuit 550 and the printed circuit board 600 may use the above-described anisotropic conductive film or pogo block. effective.

이처럼, 앞선 제 1 실시예 및 상기 제 2 실시예에서 예시한 바와 같이 프로브 유니트와 액정 표시 패널은 구동칩의 범프에 직접 와이어 본딩을 하여 형성한 프로브 니들을 통해 직접 연결되므로, 구동칩과 액정 표시 패널의 연결을 위해 별도의 보조 기판을 제작할 필요가 없다. 따라서, 다양한 제품에 대응하는 프로브 유니트를 신속하게 제작할 수 있으므로, 제품의 변경 및 신제품 개발 등과 같은 외부 변화 요인에 대하여 능동적으로 대처할 수 있다.As described above, the probe unit and the liquid crystal display panel are directly connected to the bumps of the driving chip through the probe needles formed by wire bonding, as illustrated in the first and second embodiments. There is no need to make a separate auxiliary board to connect the panels. Therefore, since a probe unit corresponding to various products can be manufactured quickly, it is possible to actively cope with external change factors such as product change and new product development.

이상, 전술한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것으로, 당업자라면 본 발명의 기술적 사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경, 개량, 대체 및 부가 등의 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 첨부되는 특허청구범위에 의하여 정하여진다.As described above, the above embodiments are disclosed for purposes of illustration, and those skilled in the art will appreciate that various modifications, improvements, substitutions, and additions may be made without departing from the spirit of the present invention. Accordingly, the technical scope of the present invention is defined by the appended claims.

이와 같은 본 발명은, 프로브 유니트와 액정 표시 패널이 구동칩의 범프에 직접 와이어 본딩을 하여 형성한 프로브 니들을 통해 연결된다. 따라서, 액정 표시 패널과의 연결을 위해 구동칩이 실장되는 별도의 보조 기판이 불필요하므로, 보조 기판 제작에 소요되는 시간적, 경제적 손실을 최소화할 수 있다. 또한, 다양한 제품에 대응하는 프로브 유니트를 신속하게 제작할 수 있으므로, 제품의 변경 및 신제품 개발 등과 같은 외부 변화 요인에 대하여 능동적으로 대처할 수 있다.In the present invention, the probe unit and the liquid crystal display panel are connected through probe needles formed by directly wire bonding the bumps of the driving chip. Therefore, a separate auxiliary substrate on which the driving chip is mounted is unnecessary for connection with the liquid crystal display panel, thereby minimizing time and economic losses required for manufacturing the auxiliary substrate. In addition, since the probe unit corresponding to various products can be manufactured quickly, it is possible to actively cope with external change factors such as product change and new product development.

Claims (13)

검사를 수행할 액정 표시 패널이 위치되는 작업 테이블과,A work table on which a liquid crystal display panel to be inspected is located; 상기 액정 표시 패널에 구동 신호를 인가하는 구동칩과, 상기 구동칩의 범프에 도전성 와이어를 본딩하여 형성한 프로브 니들을 포함하는 프로브 유니트를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.And a probe unit including a driving chip for applying a driving signal to the liquid crystal display panel and a probe needle formed by bonding conductive wires to bumps of the driving chip. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 작업 테이블은,The work table, 액정 표시 패널이 위치되는 안착부가 마련되고, 상기 안착부의 하부에 제 1 편광판 및 점등 수단이 배치되는 수납부가 마련되는 제 1 테이블과,A first table having a seating portion in which a liquid crystal display panel is positioned, and a receiving portion in which a first polarizing plate and a lighting means are disposed below the seating portion; 액정 표시 패널의 표시부를 노출시키는 개구부가 마련되고, 제 2 편광판이 장착되는 제 2 테이블을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.The opening part which exposes the display part of a liquid crystal display panel is provided, and the 2nd table with which a 2nd polarizing plate is mounted is included, The lighting test apparatus for liquid crystal display devices characterized by the above-mentioned. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 액정 표시 패널의 반입 및 반출을 위한 반송 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.And a conveying means for carrying in and carrying out of said liquid crystal display panel. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 액정 표시 패널에 구동용 신호를 인가하는 인쇄회로기판 및A printed circuit board applying a driving signal to the liquid crystal display panel; 상기 인쇄회로기판에 검사용 신호를 인가하는 신호 발생기를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.And a signal generator for applying a test signal to the printed circuit board. 청구항 4에 있어서,The method according to claim 4, 상기 프로브 유니트와 상기 인쇄회로기판은 연성인쇄회로를 통해 연결되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.And the probe unit and the printed circuit board are connected via a flexible printed circuit. 청구항 4에 있어서,The method according to claim 4, 상기 프로브 유니트와 상기 연성인쇄회로는 이방성 도전필름 또는 포고 블럭을 통해 서로 도통되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.And the probe unit and the flexible printed circuit are connected to each other through an anisotropic conductive film or a pogo block. 청구항 4에 있어서,The method according to claim 4, 상기 인쇄회로기판과 상기 연성인쇄회로는 이방성 도전필름 또는 포고 블럭을 통해 서로 도통되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.And the printed circuit board and the flexible printed circuit are connected to each other through an anisotropic conductive film or a pogo block. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 프로브 니들은 상기 구동칩의 출력 범프에 도전성 와이어를 본딩하여 형성하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.And the probe needles are formed by bonding conductive wires to output bumps of the driving chip. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 프로브 니들은 상기 구동칩이 출력 범프 및 입력 범프에 도전성 와이어를 본딩하여 형성하는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.And the probe needles are formed by bonding the conductive wires to the output bumps and the input bumps of the driving chip. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 도전성 와이어로는 금선 또는 은선인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.The said conductive wire is a gold wire or a silver wire, The lighting test apparatus for liquid crystal display devices characterized by the above-mentioned. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 도전성 와이어로는 니켈이 도금된 금선 또는 니켈이 도금된 은선인 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.The conductive wire is a nickel-plated gold wire or nickel-plated silver wire, the lighting test device for a liquid crystal display device. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 프로브 니들은 절연성 재료로 몰딩 되는 것을 특징으로 하는 액정 표시 장치용 점등 검사 장치.The probe needle is molded in an insulating material, characterized in that the lighting test device for a liquid crystal display device. 청구항 12에 있어서,The method according to claim 12, 상기 절연성 재료로는 지르코늄(Zirconium) 또는 에폭시(Epoxy) 수지를 사용하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치용 점등 검사 장치.Zirconium or epoxy resin is used as the insulating material.
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CN106292001A (en) * 2016-07-20 2017-01-04 京东方科技集团股份有限公司 A kind of test device and method of testing

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