KR20070038199A - 오토 프루브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 액정패널을 오토 프루브(auto probe)로 검사하는 방법에 관한 것으로, 특히 오토 프로브의 접촉핀의 길이를 차등화시켜 접촉순서를 정할 수 있는 오토 프로브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법에 관한 것이다.

본 발명에 따른 오토 프로브는 본체와; 상기 본체에 연결되어 피접촉체와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀을 포함하는 것을 특징하며, 접촉핀의 길이를 차등화하여 접촉되는 접촉단자의 순위를 정함으로써 액정패널과 접촉핀이 접촉하여 발생되는 정전기 방전에 의한 화소불량을 최소화시키는 효과가 있다.

본 발명에 따른 액정패널 검사방법은 화소를 구비하는 표시영역과 다수의 접촉패드를 구비한 비표시영역이 마련된 액정패널을 마련하는 단계와; 상기 접촉패드와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀이 형성된 오토 프루브를 마련하는 단계와; 상기 접촉핀을 상기 접촉패드에 접촉하여 액정패널을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하며, 본 발명에 따른 검사방법으로 불량 유출을 감소시켜 제조 수율을 향상시킬 수 있다.

Description

오토 프루브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법{auto probe appratus and using the inspecting method for LCD panel using the same}

도 1은 종래의 액정표시장치의 제조공정을 도시한 순서도.

도 2는 종래의 액정패널을 검사하는 검사장치를 개략적으로 도시한 도면.

도 3은 본 발명에 따른 오토 프루브를 도시한 사시도.

도 4는 본 발명에 따른 액정패널을 검사하는 오토 프루브를 도시한 사시도.

도 5a 내지 5c는 본 발명에 따른 오토 프루브를 이용하여 액정패널 불량검사하는 방법을 도시한 도면.

<도면의 주요부분에 대한 부호 설명>

1 : 액정패널 10 : 화소영역

20 : 어레이기판 30 : 컬러필터기판

50 : 패드영역 60 : 접촉패드

70 : 링크선 80 : 출력단자

85 : 입력단자 90 : 패드부

101 : 오토 프루브 110 : 본체

150 : 접촉핀

본 발명은 액정패널 검사방법에 관한 것으로, 특히 오토 프루브의 접촉핀의 길이를 차등화시켜 정전기를 방지할 수 있는 오토 프루브 및 이를 이용한 액정패널 검사방법에 관한 것이다.

최근 정보화사회로 시대가 급발전함에 따라 디스플레이소자 기술은 인간과 기계 혹은 인간과 인간과의 대화의 매체로서 정보화 사회의 발전과 함께 그 중요성이 더욱 부각되고 있다.

특히 최근 컴퓨터 및 미디어 산업의 급격한 진보로 인하여 경량, 박형의 평판표시장치에 대한 수요가 증가하고 있으며 이중 액정표시장치는 저전압, 저전력 구동, 해상도, 컬러 표시, 화질 등이 우수하여 노트북이나 데스크탑 모니터에 활발하게 적용되고 있다.

일반적으로 액정표시장치는 전계 생성 전극이 각각 형성되어 있는 두 기판을 두 전극이 형성되어 있는 면이 마주하도록 배치하고 두 기판 사이에 액정물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정분자를 움직이게 함으로써, 이에 따라 달라지는 빛의 투과율을 조절하여 화상을 표현하는 장치이다.

도 1은 종래의 액정표시장치의 제조공정을 도시한 순서도이다.

도시한 바와 같이, 액정표시장치는 상, 하부 기판의 다수의 소자를 형성하는 단계(S100)와, 상기 상/하부기판을 합착하여 액정을 채워 넣고 액정패널을 형성하 는액정셀 공정(S110)과, 상기 액정패널 검사를 하는 오토 프루브(auto probe) 검사(S120)와, 그리고 모듈(module) 공정(S130)을 거쳐 액정표시장치를 제작하게 된다.

상기 액정패널의 검사에서는 액정패널 라인의 단선 검사와 점결함(point defect) 등의 존재 여부 검사를 위하여 오토 프루브(Auto probe) 장치를 이용하여 점등검사를 하게 된다.

도 2는 종래의 액정패널을 검사하는 검사장치를 개략적으로 도시한 도면이다.

도 2에 도시한 바와 같이, 종래의 액정패널의 검사장치(601)에서는 피검사물인 액정패널(501)에 소정의 신호를 인가하여 액정패널(501)의 정상 구동 및 불량 유무를 판별한다.

여기서 액정패널(501)에는 화면을 표시하는 표시영역(510)과 비표시영역(550)을 구비하고 있다.

표시영역(510)에는 다수의 배선이 교차하여 구획되는 다수의 단위화소를 구비하고 있다. 그리고 비표시영역(550)에는 상기 배선에서 연장되어 마련되는 다수의 패드부(590)에 연결되는 다수의 출력단자(580)가 마련되어 있다.

상기 출력단자(580)는 다수의 게이트단자(550b), 소스단자(550c) 및 공통전극단자(550a)로 구성되어 있다.

그리고 상기 패드부(590)는 상기 출력단자(580)에 대응하는 입력단자(585)를 구비하고 있다. 여기서 상기 입력단자(585)에 연결되는 접촉패드(560)가 패드부(590)의 밖에 마련된다.

한편, 상기 액정패널(501)의 불량검사(defect)등 액정패널 특성검사를 위하여 검사장치인 오토 프루브(601)를 마련한다.

상기 오토 프루브(601)에는 상기 액정패널(501)을 불량검사를 위하여 게이트접촉패드(560b), 소스접촉패드(560c) 및 공통전극접촉패드(560a)에 신호를 인가하도록 하는 오토 프루브(601)의 본체(610)가 마련되어 있다.

그리고 상기 본체(610)에는 상기 게이트 접촉패드(560b), 소스 접촉패드(560c) 및 공통전극 접촉패드(560a)에 직접 접촉하는 다수의 니들(needle, 620)을 구비하고 있다.

그런데, 액정패널(501)을 검사하기 위해 상기 다수의 접촉패드(560)와 다수의 니들(620)을 접촉시키는 순간에 두 물체의 전위차에 의해 접촉되는 영역에서 정전기 방전(ESD; Electro Static Discharge) 현상이 발생하게 된다.

특히 정전기에 취약한 소스접촉패드(560c)나 게이트접촉패드(560b)에 가장 먼저 접촉하게 되면 접촉패드(560) 및 배선에 스파크성 서지(Surge) 전압이 발생하게 된다. 상기 스파크성 서지 전압은 액정패널(501)의 다수의 배선에 정전기를 유도시키고, 상기 소스/게이트접촉단자(560b, 560c)에 연결되어 있는 소스/게이드배선을 손상시켜 액정패널(501) 불량을 발생시키게 된다.

오토 프루브(601)는 다수개의 니들(620)이 동일한 길이로 구성이 되어 있기 때문에 상기 접촉패드(560)와 접촉할 때 상기 니들(620)이 최초로 접촉하는 소스접촉패드(560c), 게이트접촉패드(560b), 공통전극접촉패드(560a)의 순서를 정할 수 없는 구조로 되어 있다.

그런데 액정패널(501)에는 정전기에 대해 완충되는 그라운드 역할을 할 수 있는 정전방지회로(미도시)가 구비되어 있음에도 불구하고, 오토 프루브(601)의 니들(620)과 최초로 접촉되는 배선에 정전기가 발생하게 된다.

즉, 상기 액정패널(501)의 불량을 검사하면서 오토 프루브의 니들(620)과 상기 접촉패드(550)가 접촉되는 순간에 정전기 방전에 취약한 접촉패드(560)와 최초로 접촉하게 되면 서지 전압에 의해 액정패널(501)에 불량이 발생되는 문제점이 있다.

본 발명은 액정패널 검사를 위해 접촉패드에 콘택되는 니들 구조를 변경함으로써 정전기에 의한 배선불량을 방지하여 액정패널 불량을 최소화할 수 있는 오토 프루브 및 이를 이용한 검사방법을 제공하는데 목적이 있다.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 오토 프루브는 본체와; 상기 본체에 연결되어 피접촉체와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 한다.

여기서 상기 접촉핀은 동일한 길이로 복수의 접촉핀이 1군을 이루어 다수의 군으로 형성되며, 상기 각 군의 접촉핀 길이는 서로 다른 것을 특징으로 한다.

그리고, 상기 1군의 접촉핀은 길이가 차등화된 제1군 접촉핀, 제B군 접촉핀, 제C군 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 한다.

한편, 상기 피접촉체는 다수의 접촉패드를 구비한 액정패널인 것을 특징으로 한다.

여기서 상기 접촉패드는 공통전극접촉패드, 게이트접촉패드, 소스접촉패드를 구비하는 것을 특징으로 한다.

그리고, 상기 제A군 접촉핀은 상기 공통전극접촉패드와 접촉하고, 상기 제B군 접촉핀은 상기 게이트접촉패드와 접촉하며, 상기 제C군 접촉핀은 상기 소스접촉패드와 접촉하는 특징으로 한다.

상기한 목적을 달성하기 위하여 수단으로 본 발명에 따른 액정패널 검사방법은 화소를 구비하는 표시영역와 다수의 접촉패드를 구비한 비표시영역이 마련된 액정패널을 마련하는 단계와; 상기 접촉패드와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀이 형성된 오토프루브를 마련하는 단계와; 상기 접촉핀을 상기 접촉패드에 접촉하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

이하, 첨부한 도면을 참조로 하여 본 발명에 따른 오토 프루브 검사 장치의 구체적인 실시예에 대해서 설명한다.

도 3은 본 발명에 따른 오토 프루브를 도시한 사시도이다.

도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 오토 프루브(101)는 본체(110)와 다수의 접촉핀(150)을 구비하고 있다.

상기 접촉핀(150)은 다수 개의 핀으로 마련되며, 상기 접촉핀(150)은 길이가 가장 길게 형성되어 있는 제A군의 접촉핀(150a)과 길이가 가장 짧게 형성된 제C군 의 접촉핀(150c), 제A군의 접촉핀(150a)과 제C군의 접촉핀(150c)의 길이에 중간 길이의 제B군의 접촉핀(150b)을 구비하고 있다.

제A군의 접촉핀(150a)은 피접촉체와 접촉하면서 발생되는 정전기 방전이 발생하여도 상기 정전기 방전을 흡수할 수 있는 접촉패드와 접촉하도록 길이가 가장 길게 형성되어 있다.

제A군의 접촉핀(150a)이 접촉을 하면서 검사영역에서 발생되는 정전기를 흡수하여 그라운드 역할을 하게 된다. 이에 따라 이어서 접촉되는 접촉핀(150)과 피접촉체 간에는 전위차가 감소하여 접촉으로 인하여 발생되는 서지성 전압에 의한 배선불량을 최소화시킬 수 있게 된다.

제C군의 접촉핀(150c)은 접촉에 의해 정전기에 영향을 크게 받는 접촉패드에 접촉하도록 길이를 짧게하여 후순위 접촉을 하게됨에 따라 정전기에 대한 손상을 최소화되도록 한다.

그리고 제B군의 접촉핀(150b)은 제A군 접촉핀(150a)과 제C군의 접촉핀(150c)에 중간 길이이며, 제 3군 접촉핀(150c)보다 정전기에 견딜 수 있는 용량의 접촉패드에 접촉하도록 한다.

한편, 상기 본체(110)는 상기 접촉핀(150)과 상기 접촉패드가 연결되면 본체(110)에서 검사신호를 인가하게 되고, 상기 인가된 검사신호는 상기 접촉패드를 경유하여 마련된 다수의 배선을 따라 신호가 인가되어 화소불량 등의 특성을 검사하게 된다.

상기와 같이 구비되는 오토 프루브(101)를 이용하여 액정패널의 검사한다.

도 4는 본 발명에 따른 액정패널을 검사하는 오토 프루브를 도시한 사시도이다.

상기 액정패널(1)은 어레이(array) 공정, 컬러필터(color filter)공정, 액정 셀(Cell) 공정 및 모듈(module) 공정을 거쳐 제조된다.

도 4에 도시된 바와 같이, 다수의 배선을 구비한 액정패널(1)을 마련한다. 그리고 액정패널(1)은 표시영역(10)과 비표시영역(50)을 구비하고 있다.

상기 액정패널(1)은 서로 마주 보도록 결합되어 있는 어레이 기판(20) 및 컬러필터기판(30)과, 그 사이에 형성된 액정(미도시)을 구비하고 있다.

여기서, 상기 컬러필터기판(30)은 상기 표시영역을 제외한 부분의 빛을 차단하기 위한 블랙 매트릭스(black matrix)와 컬러필터가 형성되어 있다.

또한, 상기 어레이기판(20)은 일정 간격을 갖고 일 방향으로 배열된 복수 개의 게이트배선과 상기 각 게이트배선에 수직한 방향으로 일정한 간격을 갖고 배열되는 복수개의 데이터배선과 상기 게이트배선 및 데이터배선에 의해 정의된 매트릭스(matrix) 표시영역(10)에 각각 형성되는 복수 개의 스위칭소자 및 화소전극들이 형성되어 있다. 여기서 화소전극이 형성되어 있는 영역을 표시영역(10)으로 정의한다.

한편, 여기서 상기 어레이기판(20) 및/또는 컬러필터기판(30)에 ITO(indium tin oxide)을 포함하는 투명전도성 재료로 공통전극(미도시)을 형성한다.

그리고 액정패널(1)에는 표시영역(10)의 일측에 비표시영역(50)이 마련된다. 상기 비표시영역(50)에는 패드부(90)가 마련되어 있고, 상기 어레이기판(20)에 형 성되어 있는 다수의 배선이 연장된 링크선(70)의 단부에는 입력단자(60)가 마련되어, 패드부(90)와 연결되어 있다.

그런데 상기 액정패널(1)의 품질을 향상시키고 불량품을 가려내어 완성된 생산품이 불량 액정패널인 것을 방지해야 하기 때문에 가요성 인쇄회로(FPC)를 통해 인쇄회로기판(PCB)을 연결하기 전에 액정패널(1)의 불량을 검사하게 된다.

그래서 상기 패드부(90)에는 입력단자(60)에 대응하는 출력단자(80)가 형성되어 있고, 상기 출력단자(80)에 연결되어 패드부(90) 밖에 다수의 접촉패드(60)를 형성한다. 액정패널(1)의 불량검사를 하기 위해서는 상기 접촉패드(60)에 접촉할 수 있는 접촉핀을 구비한 액정패널 검사장치를 필요로 한다.

그래서 상기 액정패널(1)을 형성하고, 상기 액정패널(1)의 결함 등의 존재 여부를 검사하기 위하여 본 발명에 따른 오토프루브(101)를 이용하여 불량검사를 하게 된다.

상기 접촉핀(150)은 상기 액정패널(1)을 구동하기 위하여 상기 본체(110)에서 보내진 검사신호가 상기 패드부(90)를 통해 액정패널(1)로 전달되도록 한다. 그리고 접촉핀(150)과 본체(110)는 스프링을 포함하는 탄성을 이용한 장비로 연결되어 길이가 차등화된 접촉핀(150)을 액정패널(1)에 접촉될 수 있게 한다.

즉, 상기 접촉핀(150)은 상기 액정패널(1)의 접촉패드(60)와 전기적으로 연결시키는 역할을 한다.

한편, 접촉핀(150)은 제A군의 접촉핀(150a)을 구비한다. 제A군의 접촉핀(150a)은 길이가 가장 길게 형성되어 접촉패드(60)와 접촉할 때 1순위로 접촉하게 된다.

그래서 제A군의 접촉핀(150)은 공통전극접촉패드(60a)에 접촉하게 된다. 공통전극단자(60a)는 공통전극에 연장되어 비표시영역(50)에 형성되어 있으며, 상기 공통전극은 액정패널(1)에 있어 넓은 면적에 형성되어 있고 접촉에 의해서 발생되는 정전기 방전에 스파크성 서지 전압을 흡수할 수 있다.

제A군 접촉핀(150a)이 접촉을 하면서 정전기 방전을 흡수하여 그라운드 역할을 하게됨에 따라 이어서 접촉되는 접촉핀(150)과 피접촉체 간에는 전위차가 감소하여 접촉으로 인하여 발생되는 서지성 전압을 최소화시킬 수 있게 된다.

제B군 접촉핀(150b)은 게이트접촉패드(60b)와 접촉하게 된다. 게이트접촉패드(60b)는 게이트배선에 연장되며 비표시영역(50)에 게이트단자(60b)가 형성되어 있다.

게이트배선은 높은 전압에 견딜 수 있게 형성되어 있기 때문에 제B군 접촉핀(150b)이 접촉하여도 공통전극접촉패드(60a)에 의해 접촉핀(150)과 전위차가 최소화된 상태이기 때문에 서지 전압의 영향을 최소화하여 받게 된다.

제C군 접촉핀(150b)은 소스접촉패드(60c)에 접촉하게 된다. 상기 소스배선은 정전기 방전에 취약하기 때문에 서로 다른 전위에 의해서 유도되는 정전기 방전에 불량이 발생할 수 있게 된다.

따라서 상기 유도되는 정전기 방전에 의한 불량을 최소화시키기 위해 공통전극접촉패드(60a)와 게이트접촉패드(60b)가 접촉한 후에 접촉을 하여 상기 정전기 방전에 의한 피해를 최소화할 수 있다.

따라서 오토 프루브(101)의 접촉핀(150)의 길이를 차등화하여 접촉되는 접촉패드(60)의 순위를 정할 수 있게 됨으로써 액정패널(1)과 접촉핀(150)이 접촉하여 발생되는 정전기 방전에 의한 손상을 최소화시킬 수 있다.

상기와 같이 구비되는 오토 프루브(101)를 이용하여 액정패널의 검사하는 방법을 설명한다.

도 5a 내지 5c는 본 발명에 따른 오토 프루브를 이용하여 액정패널 검사하는 방법을 도시한 도면이다.

도 5a에 도시된 바와 같이, 상기 오토 프루브(101)는 액정패널(1)의 가장 자리에 형성되어 있는 비표시영역(50)의 접촉패드(60)에 다수의 접촉핀(150)을 전기적으로 접촉한다.

상기 접촉핀(150)은 상기 액정패널(1)을 구동하기 위하여 상기 본체(110)에서 보내진 검사신호가 상기 접촉패드(90)를 통해 액정패널(1)로 전달되도록 한다.

한편, 접촉핀(150)은 제A군의 접촉핀(150a)을 구비한다. 제A군의 접촉핀(150a)은 길이가 가장 길게 형성되어 접촉패드(60)와 접촉할 때 1순위로 접촉하게 된다.

그래서 제A군의 접촉핀(150)은 공통전극접촉패드(60a)에 접촉하게 된다. 공통전극단자(60a)는 공통전극에 연장되어 비표시영역(50)에 형성되어 있으며, 상기 공통전극은 액정패널(1)에 있어 넓은 면적에 형성되어 있고 접촉에 의해서 발생되는 정전기 방전에 스파크성 서지 전압을 흡수할 수 있다.

제A군 접촉핀(150a)이 접촉을 하면서 정전기 방전을 흡수하여 그라운드 역할 을 하게됨에 따라 이어서 접촉되는 접촉핀(150)과 피접촉체 간에는 전위차가 감소하여 접촉으로 인하여 발생되는 서지성 전압을 최소화시킬 수 있게 된다.

도 5b에 도시된 바와 같이, 제B군 접촉핀(150b)은 게이트접촉패드(60b)와 접촉하게 된다. 게이트접촉패드(60b)는 게이트배선에 연장되며 비표시영역(50)에 게이트단자(60b)가 형성되어 있다.

게이트배선은 높은 전압에 견딜 수 있게 형성되어 있기 때문에 제B군 접촉핀(150b)이 접촉하여도 공통전극접촉패드(60a)에 의해 접촉핀(150)과 전위차가 최소화된 상태이기 때문에 서지 전압의 영향을 최소화하여 받게 된다.

여기서 제A군 접촉핀(150a)과 제B군 접촉핀(150b)의 길이가 차등화되어 있지만 본체(110)와 접촉핀(150)이 스프링을 포함하는 탄성을 이용하는 장치로 연결되어 있어 상기 접촉패드(150)와 연결할 수 있게 된다.

도 5c에 도시된 바와 같이, 제C군 접촉핀(150b)은 소스접촉패드(60c)에 접촉하게 된다. 상기 소스배선은 정전기 방전에 취약하기 때문에 서로 다른 전위에 의해서 유도되는 정전기 방전에 불량이 발생할 수 있게 된다.

따라서 상기 유도되는 정전기 방전에 의한 불량을 최소화시키기 위해 공통전극접촉패드(60a)와 게이트접촉패드(60b)가 접촉한 후에 접촉을 하여 상기 정전기 방전에 의한 피해를 최소화할 수 있다.

이와 같이 액정패널(1)의 정상 구동 및 불량 유무를 검사한다.

따라서 오토 프루브(101)의 접촉핀(150)의 길이를 차등화하여 접촉되는 접촉패드(60)의 순위를 정할 수 있게 됨으로써 액정패널(1)과 접촉핀(150)이 접촉하여 발생되는 정전기 방전에 의한 손상을 최소화시킬 수 있다.

또한, 본 발명에 따른 검사방법으로 불량 유출을 감소시켜 제조 수율을 향상시킬 수 있다.

이상, 본 발명은 도면에 도시된 실시 예를 참고로 하여 액정 패널의 오토 프루브 검사 장치 및 검사 방법이 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

본 발명에 따른 오토 프루브의 접촉핀의 길이를 차등화하여 접촉되는 패드의 순위를 정할 수 있게 됨으로써 액정패널과 접촉핀이 접촉하여 발생되는 정전기 방전에 의한 배선손상을 최소화시켜는 효과가 있다.

또한, 본 발명에 따른 검사방법으로 불량 유출을 감소시켜 제조 수율을 향상시키는 효과가 있다.

Claims (12)

1. 본체와;

   상기 본체에 연결되어 피접촉체와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 오토 프루브.
2. 제 1항에 있어서,

   상기 접촉핀은 동일한 길이로 복수의 접촉핀이 1군을 이루어 다수의 군으로 형성되며, 상기 각 군의 접촉핀 길이는 서로 다른 것을 특징으로 하는 오토 프루브.
3. 제 2항에 있어서,

   상기 1군의 접촉핀은 길이가 차등화된 제A군 접촉핀, 제B군 접촉핀, 제C군 접촉핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 오토 프루브.
4. 제 1항에 있어서,

   상기 피접촉체는 다수의 접촉패드를 구비한 액정패널인 것을 특징으로 하는 오토 프루브.
5. 제 4항에 있어서,

   상기 접촉패드는 공통전극접촉패드, 게이트접촉패드, 소스접촉패드를 구비하는 것을 특징으로 하는 오토 프루브.
6. 제 4항에 있어서,

   상기 제A군 접촉핀은 상기 공통전극접촉패드와 접촉하고, 상기 제B군 접촉핀은 상기 게이트접촉패드와 접촉하며, 상기 제C군 접촉핀은 상기 소스접촉패드와 접촉하는 특징으로 하는 오토 프루브.
7. 화소를 구비하는 표시영역와 다수의 접촉패드를 구비한 비표시영역이 마련된 액정패널을 마련하는 단계와;

   상기 접촉패드와 접촉하며, 길이가 차등화된 다수의 접촉핀이 형성된 오토프루브를 마련하는 단계와;

   상기 접촉핀을 상기 접촉패드에 접촉하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.
8. 제 7항에 있어서,

   상기 접촉핀은 동일한 길이로 복수의 접촉핀이 1군을 이루어 다수의 군으로 형성되며, 상기 각 군의 접촉핀 길이는 서로 다른 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.
9. 제 8항에 있어서,

   상기 1군의 접촉핀은 길이가 차등화된 제A군 접촉핀, 제B군 접촉핀, 제C군 접촉핀을 포함하며, 순차적으로 접촉하는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.
10. 제 7항에 있어서,

    상기 피접촉체는 다수의 접촉패드를 구비한 액정패널인 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.
11. 제 10항에 있어서,

    상기 접촉패드는 공통전극접촉패드, 게이트접촉패드, 소스접촉패드를 구비하 는 것을 특징으로 하는 액정패널 검사방법.
12. 제 10항에 있어서,

    상기 제A군 접촉핀은 상기 공통전극접촉패드와 접촉하고, 상기 제B군 접촉핀은 상기 게이트접촉패드와 접촉하며, 상기 제C군 접촉핀은 상기 소스접촉패드와 접촉하는 특징으로 하는 액정패널 검사방법.

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