KR20060105577A - Laser machining apparatus - Google Patents
Laser machining apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR20060105577A KR20060105577A KR1020060028939A KR20060028939A KR20060105577A KR 20060105577 A KR20060105577 A KR 20060105577A KR 1020060028939 A KR1020060028939 A KR 1020060028939A KR 20060028939 A KR20060028939 A KR 20060028939A KR 20060105577 A KR20060105577 A KR 20060105577A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- laser
- optical path
- optical
- optical system
- total reflection
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/064—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by means of optical elements, e.g. lenses, mirrors or prisms
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/062—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing by direct control of the laser beam
- B23K26/0626—Energy control of the laser beam
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/06—Shaping the laser beam, e.g. by masks or multi-focusing
- B23K26/067—Dividing the beam into multiple beams, e.g. multifocusing
Abstract
레이저발진기를 유효하게 활용할 수 있고, 또한 각종 워크를 가공할 수 있는 레이저가공기를 제공하기 위해, 빔스플리터(30)는 레이저빔(2)과 간섭하는 동작위치 및 레이저빔(2)과 간섭하지 않는 대기위치로 위치결정 자유롭고, 또, 전반사미러(24)는 반사되는 레이저빔(2q)의 광축이 전반사미러(34)에서 반사되어 전반사미러(25)에 입사하는 반사빔(2b)과 동일축으로 되는 반사위치와, 반사빔(2b)에 간섭하지 않는 대피위치로 위치결정 자유로우며, 가공헤드(7a, 7b)의 어느 쪽인가 하나에 레이저빔을 공급하는 경우에는 빔스플리터(30)를 대기위치에, 전반사미러(24)를 반사위치로 위치결정하고, 또, 가공헤드(7a, 7b)의 양자 동시에 레이저빔을 공급하는 경우에는 빔스플리터(30)를 동작위치에 배치하는 동시에, 전반사미러(24)를 대피위치로 위치결정한다.In order to effectively utilize the laser oscillator and to provide a laser processor capable of processing various workpieces, the beam splitter 30 does not interfere with the laser beam 2 and the operating position that interferes with the laser beam 2. It is free to position to the standby position, and the total reflection mirror 24 has the same axis as the reflection beam 2b that is reflected from the total reflection mirror 34 and is incident on the total reflection mirror 25. When the laser beam is supplied to one of the processing heads 7a and 7b, the beam splitter 30 is placed in the standby position freely at the position of the reflection and the evacuation position that does not interfere with the reflection beam 2b. In the case where the total reflection mirror 24 is positioned at the reflection position and the laser beam is simultaneously supplied to both of the processing heads 7a and 7b, the beam splitter 30 is disposed at the operating position and the total reflection mirror ( Position 24) to the evacuation position.
빔스플리터, 광로편향기, 전반사미러, 스캔영역, 레이저 Beam splitter, optical path deflector, total reflection mirror, scan area, laser
Description
도 1은 본 발명에 관한 제 1 레이저가공기의 광학계의 구성도(실시예 1),1 is a configuration diagram (Example 1) of an optical system of a first laser processing machine according to the present invention;
도 2는 본 발명에 관한 제 1 레이저가공기의 광학계의 변형예,2 is a modification of the optical system of the first laser processing machine according to the present invention,
도 3은 본 발명에 관한 제 2 레이저가공기의 광학계의 구성도(실시예 2),3 is a configuration diagram (Example 2) of an optical system of a second laser processing machine according to the present invention;
도 4는 종래의 레이저가공기의 광학계의 구성도.4 is a configuration diagram of an optical system of a conventional laser processing machine.
본 발명은 2개의 레이저조사부를 구비하고, 1개의 레이저발진기로부터 출력된 레이저를 2개의 레이저조사부에 공급하도록 한 레이저가공기에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE
도 4는 종래의 레이저가공기의 광학계의 구성도이다(특허문헌 1). 레이저발진기(1)는 펄스형상의 레이저빔(2)을 출력한다. 하프미러(3)는 입사되는 레이저빔(2)의 약 50%를 투과시키고, 나머지를 반사한다. 이하, 하프미러(3)를 투과한 레이저빔(2)을 투과빔(2a), 반사된 레이저빔(2)을 반사빔(2b)으로 한다. 전반사코너미러(4a∼4e)의 반사면은 고정되어 있다. 갤버노미러(5a∼5d)는 도면 중 화살표로 나타내는 바와 같이, 회전축 주위로 회전이 자유로우며, 반사면을 임의의 각도로 위치결정할 수 있다. 갤버노미러(5a, 5b)는 집광렌즈(fθ렌즈)(6a)와 함께 도시를 생략하는 지지수단에 지지되며 제 1 가공헤드(7a)를 구성하고 있다. 갤버노미러(5c, 5d)는 집광렌즈(6b)와 함께 도시를 생략하는 지지수단에 지지되며 제 2 가공헤드(7b)를 구성하고 있다. 프린트기판(8)은 X-Y테이블(9)에 고정되어 있다. 갤버노미러(5a, 5b)의 스캔영역(10a) 및 갤버노미러(5c, 5d)의 스캔영역(10b)은 50㎜×50㎜정도의 크기이다.4 is a configuration diagram of an optical system of a conventional laser processing machine (Patent Document 1). The
다음에, 종래의 레이저가공기의 동작을 설명한다. 레이저발진기(1)로부터 출력된 레이저빔(2)은 하프미러(3)에 의해 투과빔(2a)와 반사빔(2b)으로 나뉘어진다. 투과빔(2a)은 전반사코너미러(4a, 4b)에 의해 반사되고 갤버노미러(5a)에 입사하며, 갤버노미러(5a, 5b)에서 정해지는 광로를 통과하고, 집광렌즈(6a)에 의해 집광되며, 스캔영역(10a)내의 구멍을 가공한다. 또, 반사빔(2b)은 전반사코너미러(4c∼4e)에 의해 반사되고 갤버노미러(5c)에 입사하며, 갤버노미러(5c, 5d)에서 정해지는 광로를 통과하고, 집광렌즈(6b)에 의해 집광되며, 스캔영역(10b)내의 구멍을 가공한다.Next, the operation of the conventional laser processing machine will be described. The
그리고, 갤버노미러(5a∼5d)를 동작시켜, 가공헤드(7a)는 스캔영역(10a)내의 구멍을, 가공헤드(7b)는 스캔영역(10b)내의 구멍을, 차례로 가공한다. 스캔영역(10a, 10b)내의 구멍의 가공이 종료하면, X-Y테이블(9)을 이동시켜, 각각 다음의 스캔영역내의 가공을 실행한다. 또한, 가공헤드(7a)와 가공헤드(7b)의 간격(L)은 조정할 수 있도록 구성되어 있으며, 간격(L)은 스캔영역(10a)과 스캔영역(10b)이 중복되지 않고 또한 X-Y테이블(9)의 이동회수가 최소로 되도록 미리 조정된다.The galvanometer mirrors 5a to 5d are operated so that the
그러나, 이 레이저가공기의 경우, 가공에 필요한 1헤드당의 피크값이 WP인 2개의 분할빔을 얻기 위해서는 피크 값이 2WP인 용량이 큰 레이저발진기를 준비할 필요가 있다.However, in the case of this laser processing machine, it is necessary to prepare a large laser oscillator having a peak value of 2WP in order to obtain two split beams having a peak value of WP per head required for processing.
또, 하프미러(또는 1쌍의 45도 반사미러 등)에 의해 레이저빔을 분할하는 경우, 투과빔(2a)과 반사빔(2b)이 동시에 발생하기 때문에, 스캔영역(10a)과 스캔영역(10b)의 가공개소는 동일 수이지 않으면 안되어, 가공할 수 있는 프린트기판의 종류가 한정된다. 또, 헤드의 수를 홀수로 하는 것은 곤란하다.When the laser beam is divided by a half mirror (or a pair of 45 degree reflective mirrors, etc.), since the
그래서, 레이저빔의 광로를 편향가능한 광로편향수단을 가공헤드와 동일수 준비해서 광로에 직렬로 배치하고, 펄스형상의 레이저빔을 가공헤드의 어느 1개에 공급하도록 구성한 레이저가공기가 있다(특허문헌 2).Therefore, there is a laser processing machine in which the optical path deflection means capable of deflecting the optical path of the laser beam is prepared in the same number as the processing head, arranged in series in the optical path, and configured to supply a pulsed laser beam to any one of the processing heads (Patent Document 2).
[특허문헌 1] 일본국 특개평9-308983호 공보[Patent Document 1] Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-308983
[특허문헌 2] 일본국 특개2000-263271호 공보[Patent Document 2] Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-263271
특허문헌 2의 기술에 따르면, 레이저발진기를 유효하게 활용할 수 있다. 또, 가공에너지를 정확하게 제어하는 것이 가능하며, 품질이 우수한 구멍을 가공할 수 있다.According to the technique of
그러나, 특허문헌 2의 레이저가공기는 예를 들면 2개의 헤드가 각각 동일한 워크를 가공하는 경우, 특허문헌 1의 레이저가공기에 비해 가공속도가 느려진다.However, when the laser processing machine of
본 발명의 목적은 레이저발진기를 유효하게 활용할 수 있고, 또한 각종 워크를 가공할 수 있는 레이저가공기를 제공하는 것에 있다. An object of the present invention is to provide a laser processing machine which can effectively utilize a laser oscillator and which can process various workpieces.
상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명은 레이저발진기(1)와, 입사하는 상기 레이저발진기로부터 출력된 레이저를 제 1 방향(2p) 또는 제 1 방향에 대해 소정의 각도 편향된 제 2 방향(2q)으로 출사하는 광로편향수단(20, 21)과, 제 1 및 제 2의 2개의 레이저조사부(7a, 7b)와. 상기 광로편향수단(20,21)으로부터 출사되는 제 1 방향(2p)의 상기 레이저를 상기 제 1 레이저조사부(7a)로 유도하는 제 1 광학계(22, 23)와, 상기 광로편향수단(20, 21)으로부터 출사되는 제 2 방향(2q)의 상기 레이저를 상기 제2 레이저조사부(7b)로 유도하는 제 2 광학계(24, 25)를 구비하고, 상기 레이저발진기(1)로부터 출력되는 상기 레이저를, 상기 광로편향수단(20, 21)에 의해 선택해서 상기 2개의 레이저조사부(7a, 7b)의 어느 쪽인가 한쪽에 공급하도록 한 레이저가공기에 있어서, 입사하는 레이저를, 광축이 입사하는 레이저의 광축과 동일축의 제 1 분기레이저(2s)와, 광축이 입사하는 레이저의 광축과 교차하는 제 2 분기레이저(2r)로 분기해서 출사시키는 빔스플리터(30)와, 이 빔스플리터를, 상기 레이저발진기(1)와 상기 광로편향수단(20,21)의 사이에서, 상기 레이저발진기로부터 출력되는 상기 레이저의 광축에 교차시키는 동작위치와 상기 레이저의 광축에서 벗어나는 대기위치 사이에서 이동시키는 이동수단과, 동작위치로 위치결정된 상기 빔스플리터(30)로부터 분기되는 상기 제 2 분기레이저(2r)를 상기 광로편향수단(20, 21)(21)에 있어서 상기 제 1 분기레이저(2s)가 공급되지 않는 쪽으로 선택된 상기 제 2 광학계(24, 25)의 상기 레이저조사부(7b)로 유도하는 제 3 광학계(32, 33, 34)(32, 40, 24)를 설치하고, 상기 레이저를 상기 2개의 레이저조사부의 어느 쪽인가 한쪽 또는 양쪽에 공급하는 것을 선택할 수 있도록 한 것을 특징으로 한다. In order to solve the above problems, the present invention provides a
또한, 상기 괄호내의 부호는 도면과 대조하기 위한 것이지만, 이것에 의해 특허청구범위에 어떠한 영향을 주는 것은 아니다.In addition, although the code | symbol in the said parenthesis is for contrast with drawing, it does not affect any claim by this.
이하, 본 발명의 실시형태를 설명한다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, embodiment of this invention is described.
도 1은 본 발명에 관한 제 1 레이저가공기의 광학계의 구성도이며, 도 4와 동일한 것 또는 동일기능의 것은 동일부호를 붙이고 중복되는 설명을 생략한다.1 is a configuration diagram of an optical system of a first laser processing machine according to the present invention, in which the same or the same functions as those in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted.
레이저발진기(1)로부터 출력되는 레이저빔(2)의 광축상에는 광로편향수단인 음향광학소자(20, 21)(이하, 「광로편향기」라 함)가 근접된 상태에서 직렬로 배치되어 있다.On the optical axis of the
광로편향기(20)는 미리 정한 초음파발생전압이 인가되어 있는 경우(이하, 「ON의 경우」라 함)는 레이저빔(2)의 광축을 각도 θ편향시키고, 그 밖의 경우(이하, 「OFF의 경우」 라 함)에는 레이저빔(2)을 투과(즉 직진)시킨다. 또, 광로편향기(21)는 ON의 경우 레이저빔(2)의 광축을 각도 -θ편향시키고, OFF의 경우에는 레이저빔(2)을 투과시킨다. 또한, 이 실시에의 경우, 광로편향기(20)에 의해서 편향된 레이저빔(2)은 광로편향기(21)를 투과하도록 구성되어 있다.The
이하, 광로편향기(20)에 의해 광로를 각도 θ편향된 레이저빔(2s)을 레이저빔(2p), 광로편향기(21)에 의해 광로를 각도 -θ편향된 레이저빔(2)을 레이저빔(2q)로 한다.Hereinafter, the
제 1 광학계를 구성하는 전반사미러(22, 23)는 레이저빔(2p)을 갤버노미러(5a)에 입사시킨다. 또한, 전반사미러(22, 23)는 고정되어 있다.The total reflection mirrors 22 and 23 constituting the first optical system cause the
제 2 광학계를 구성하는 전반사미러(24, 25)는 레이저빔(2q)을 갤버노미러(5c)에 입사시킨다. 또한, 전반사미러(24)는 도시를 생략하는 전반사미러 이동장치에 유지되고, 도면에 있어서 실선으로 나타내는 위치로부터 점선으로 나타내는 위치로 이동되도록 되어 있다. 이하, 전반사미러(24)의 실선으로 나타내는 위치를 「반사위치」, 점선으로 나타내는 위치를 「대피위치」로 한다.The total reflection mirrors 24 and 25 constituting the second optical system cause the
빔스플리터(30)는 입사하는 레이저의 50%를 투과시키고(투과빔(2s)), 나머지 50%를 반사한다(반사빔(2r)). 도시를 생략하는 빔스플리터 이동장치는 빔스플리터(30)를 레이저발진기(1)와 광로편향기(20) 사이에서, 점선으로 나타내는 레이저빔(2)의 광축상 또는 실선으로 나타내는 레이저빔(2)과 간섭하지 않는 위치로 위치결정한다. 이하, 실선으로 나타내는 빔스플리터(30)의 위치를 「대기위치」, 점선으로 나타내는 빔스플리터(30)의 위치를 「동작위치」로 한다.The
빔스플리터(30)의 반사측에는 제 3 광학계를 구성하는 전반사미러(32)와 광로편향기(33)와 전반사미러(34)가 배치되어 있다.On the reflection side of the
광로편향기(33)는 광로편향기(21)와 마찬가지로, 미리 정한 초음파발생전압이 인가되어 있는 경우에는 입사하는 반사빔(2r)의 광축을 각도 -θ편향시키고, 그 밖의 경우에는 반사빔(2r)을 투과시킨다.Similar to the
전반사미러(34)는 반사빔(2r)의 광축이 전반사미러(24)에서 반사되고 전반사미러(25)에 입사하는 레이저빔(2q)의 광축(도면 중의 이점쇄선)과 동일축으로 되도록, 즉 제 2 광학계의 광축과 동일축으로 되도록 위치결정되어 있다.The
다음에, 이 실시형태의 동작을 설명한다.Next, the operation of this embodiment will be described.
[1] 가공헤드(7a)와 가공헤드(7b)의 가공내용이 다른 경우[1] Processing contents of the
미리, 빔스플리터(30)를 대기위치에, 전반사미러(24)를 반사위치에, 각각 위치결정해 둔다.In advance, the
그리고, 레이저빔(2p)을 가공헤드(7a)로 유도하는 경우에는 광로편향기(20)를 ON, 광로편향기(21)를 OFF시킨 상태에서 레이저발진기(1)로 레이저빔(2)을 출력시킨다.When the
또, 레이저빔(2q)을 가공헤드(7b)로 유도하는 경우에는 광로편향기(20)를 OFF, 광로편향기(21)를 ON시킨 상태에서 레이저발진기(1)로 레이저빔(2)을 출력시킨다.When the
[2] 가공헤드(7a)와 가공헤드(7b)의 가공내용이 동일한 경우[2] When the
미리, 빔스플리터(30)를 동작위치로 위치결정해 둔다. 또, 전반사미러(24)를 대피위치로 위치결정해 둔다.In advance, the
광로편향기(20, 33)를 ON, 광로편향기(21)를 OFF시킨 상태에서 레이저발진기(1)로 레이저빔(2)을 출력시킨다. 그러면, 빔스플리터(30)를 투과한 투과빔(2s)은 제 1 광학계를 통하여 가공헤드(7a)에 입사하고, 빔스플리터(30)에서 반사된 반사빔(2r)은 점선으로 나타내는 광로를 통과하고, 제 3 광학계 및 제 2 광학계를 통하여 가공헤드(7b)에 입사된다. 그 결과, 스캔영역(10a, 10b)내의 가공을 동시에 실행할 수 있다.The
이 실시예에서는 제 1∼제 3의 모든 광학계에 광로편향기를 배치했으므로, 빔스플리터(30)를 이용하지 않는 경우뿐만 아니라, 빔스플리터(30)를 이용해서 레 이저빔(2)를 분기하는 경우에도, 스캔영역(10a, 10b)에 입사하는 레이저빔의 에너지강도를 정확하게 제어할 수 있다, 그 결과, 가공품질을 균일한 것으로 할 수 있다.In this embodiment, since the optical path deflectors are arranged in all of the first to third optical systems, not only the
또, 레이저빔(2p)이 광로편향기(21)를 투과하도록 구성했으므로, 레이저빔(2p)의 에너지강도는 레이저빔(2q)과 대략 동일하게 되고, 광로편향기(20)와 광로편향기(21)의 제어가 용이하다.In addition, since the
또한, 통상, 반사빔(2r)의 에너지는 투과빔(2s)의 에너지보다도 크게 되므로, 도 2에 나타내는 바와 같이, 광로편향기(33) 대신에 에너지조절수단(35)(예를 들면 투명한 유리)을 설치하여, 반사빔(2b)의 에너지를 감쇠시키고, 가공부에 공급하는 반사빔(2b)의 에너지강도와 투과빔(2a)의 에너지강도가 대략 동일하게 되도록 구성해도 좋다.In addition, since the energy of the
또, 광로편향기(33) 또는 에너지조절수단(35)은 설치하지 않아도 좋다.In addition, the optical path deflector 33 or the energy regulating means 35 may not be provided.
[실시예 2]Example 2
도 3은 본 발명에 관한 제 2 레이저가공기의 광학계의 구성도이고, 도 1과 동일한 것 또는 동일기능의 것은 동일부호를 붙이고 중복되는 설명을 생략한다.FIG. 3 is a configuration diagram of an optical system of a second laser processing machine according to the present invention, and the same reference numerals as those in FIG.
이 실시예의 경우, 광로편향기(20)와 광로편향기(21)는 거리를 두고 직렬로 배치되어 있으며, 레이저빔(2p)은 광로편향기(21)를 투과하지 않도록 구성되어 있는 동시에, 광로편향기(21)는 빔출사방향이 광로편향기(20)의 빔출사방향과 평행하게 되도록 구성되어 있다. 또, 전반사미러(24)는 도시를 생략하는 전반사미러 이동장치에 의해 광로편향기(20)과 광로편향기(21) 사이에 위치결정 가능하게 배치되 어 있다. 반사위치에 배치된 전반사미러(24)에 의해 반사되는 반사빔(2r)의 광축은 광로편향기(21)에 입사되는 레이저빔(2q)의 광축과 동일축이다.In this embodiment, the optical path deflector 20 and the optical path deflector 21 are arranged in series at a distance, and the
전반사미러(32)와 반사위치에 배치한 전반사미러(24) 사이에는 전반사미러(32)에 의해 반사된 반사빔(2r)을 전반사미러(24)에 입사시키는 고정된 전반사미러(40)가 배치되어 있다. 그리고, 이 실시예에서는 전반사미러(32), 전반사미러(40) 및 전반사미러(24)에 의해 제 3 광학계가 구성되어 있다.Between the
다음에, 이 실시형태의 동작을 설명한다.Next, the operation of this embodiment will be described.
(1) 가공헤드(7a)와 가공헤드(7b)의 가공내용이 다른 경우(1) When the processing contents of the
미리, 빔스플리터(30)를 대기위치에, 전반사미러(24)를 대피위치에, 각각 위치결정해 둔다.In advance, the
그리고, 레이저빔(2p)을 가공헤드(7a)로 유도하는 경우에는 광로편향기(20)를 ON시킨 상태에서 레이저발진기(1)로 레이저를 출력시킨다.When the
또, 레이저빔(2q)를 가공헤드(7b)로 유도하는 경우에는 광로편향기(20)를 OFF, 광로편향기(21)를 ON시킨 상태에서 레이저발진기(1)로 레이저를 출력시킨다.When the
(2) 가공헤드(7a)와 가공헤드(7b)의 가공내용이 동일한 경우(2) When the processing contents of the
미리, 빔스플리터(30)를 동작위치로 위치결정해 둔다. 또, 전반사미러(24)를 반사위치로 결정해 둔다.In advance, the
광로편향기(20,21)를 ON시킨 상태에서 레이저발진기(1)로 레이저빔(2)을 출력시킨다. 그러면, 빔스플리터(30)를 투과한 투과빔(2s)은 제 1 광학계를 통하여 가공헤드(7a)에 입사되고, 빔스플리터(30)에 의해 반사된 반사빔(2r)은 점선으로 나타내는 광로를 통과하고, 제 3 광학계를 통하여 가공헤드(7b)에 입사된다. 그 결과, 스캔영역(10a, 10b)내의 가공을 동시에 실행할 수 있다.The
또한, 상기 실시예 1, 2에서는 가공헤드(7a. 7b)를 1개로 하였지만, 각각에 입사하는 입사광을 2분할해서 4개의 헤드 혹은 4개의 헤드 중의 2개의 헤드에 공급하도록 해도 좋다.In addition, although the processing heads 7a and 7b were made into 1 in the said Example 1, 2, you may make it divide into incident light which injects into each, and supply it to four heads or two heads of four heads.
워크에 따라서 빔스플리터의 위치 및 광학계를 선택함으로써, 레이저발진기 유효하게 활용할 수 있는 동시에, 각종 워크를 가공할 수 있다.By selecting the position of the beam splitter and the optical system in accordance with the workpiece, the laser oscillator can be effectively utilized, and various workpieces can be processed.
Claims (6)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005104326A JP2006281268A (en) | 2005-03-31 | 2005-03-31 | Laser beam machine |
JPJP-P-2005-00104326 | 2005-03-31 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060105577A true KR20060105577A (en) | 2006-10-11 |
Family
ID=37029564
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060028939A KR20060105577A (en) | 2005-03-31 | 2006-03-30 | Laser machining apparatus |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006281268A (en) |
KR (1) | KR20060105577A (en) |
CN (1) | CN1840278A (en) |
TW (1) | TW200633807A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101134937B1 (en) * | 2009-10-14 | 2012-04-17 | 주식회사 한광옵토 | Laser irradiation apparatus |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4765474B2 (en) * | 2005-08-16 | 2011-09-07 | パナソニック株式会社 | Laser processing equipment |
JP4490410B2 (en) * | 2006-11-28 | 2010-06-23 | 住友重機械工業株式会社 | Laser irradiation apparatus and laser processing method |
DE102007056254B4 (en) * | 2007-11-21 | 2009-10-29 | Lpkf Laser & Electronics Ag | Device for processing a workpiece by means of parallel laser beams |
DE502008001155D1 (en) * | 2008-05-02 | 2010-09-30 | Leister Process Tech | Method and laser device for machining and / or connecting workpieces by means of laser radiation with power acting and pilot laser and at least one diffractive optical element |
JP6430790B2 (en) * | 2014-11-25 | 2018-11-28 | 株式会社ディスコ | Laser processing equipment |
JP6851751B2 (en) * | 2016-08-30 | 2021-03-31 | キヤノン株式会社 | Optical equipment, processing equipment, and article manufacturing methods |
JP6844901B2 (en) * | 2017-05-26 | 2021-03-17 | 株式会社ディスコ | Laser processing equipment and laser processing method |
TW202042946A (en) * | 2019-01-31 | 2020-12-01 | 美商伊雷克托科學工業股份有限公司 | Laser-processing apparatus, methods of operating the same, and methods of processing workpieces using the same |
CN112538566B (en) * | 2020-11-25 | 2022-07-29 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 | Laser shock peening system of processing |
-
2005
- 2005-03-31 JP JP2005104326A patent/JP2006281268A/en active Pending
-
2006
- 2006-02-22 TW TW095105909A patent/TW200633807A/en unknown
- 2006-03-08 CN CNA2006100573189A patent/CN1840278A/en active Pending
- 2006-03-30 KR KR1020060028939A patent/KR20060105577A/en not_active Application Discontinuation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101134937B1 (en) * | 2009-10-14 | 2012-04-17 | 주식회사 한광옵토 | Laser irradiation apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1840278A (en) | 2006-10-04 |
JP2006281268A (en) | 2006-10-19 |
TW200633807A (en) | 2006-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20060105577A (en) | Laser machining apparatus | |
JP4459530B2 (en) | Laser processing equipment | |
KR100841426B1 (en) | Multibeam laser drilling apparatus | |
KR100691924B1 (en) | A material machining apparatus and method | |
US8680430B2 (en) | Controlling dynamic and thermal loads on laser beam positioning system to achieve high-throughput laser processing of workpiece features | |
JP3479878B2 (en) | Laser processing method and processing apparatus | |
US6403920B1 (en) | Laser processing apparatus and method | |
JP5133033B2 (en) | Laser processing equipment | |
KR100817825B1 (en) | Laser machining apparatus | |
JPH08150485A (en) | Laser marking device | |
JP4490410B2 (en) | Laser irradiation apparatus and laser processing method | |
KR0141060B1 (en) | Co2 laser processing apparatus | |
JP3682295B2 (en) | Laser processing equipment | |
JP3194248B2 (en) | Laser drilling apparatus and laser drilling method | |
JP2003112278A (en) | Machining device and method | |
JP2005262219A (en) | Laser beam machining apparatus and laser beam drawing method | |
JPH03297588A (en) | Laser trimming device | |
JPS60106686A (en) | Laser marking device | |
JP2010023100A (en) | Laser beam machining apparatus and laser beam machining method | |
JP3114533B2 (en) | Laser drilling apparatus and laser drilling method | |
JP2002346775A (en) | Device and method for laser beam machining | |
KR20210114873A (en) | Control Device of Laser Processing Apparatus, Laser Processing Apparatus, and Laser Processing Method | |
JPH11314188A (en) | Laser beam machining device and laser drilling method | |
JP2002079393A (en) | Laser beam irradiation device and method for laser beam machining | |
JP3213884B2 (en) | Laser drilling equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Withdrawal due to no request for examination |