KR20060054836A - Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module - Google Patents

Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module Download PDF

Info

Publication number
KR20060054836A
KR20060054836A KR1020040093664A KR20040093664A KR20060054836A KR 20060054836 A KR20060054836 A KR 20060054836A KR 1020040093664 A KR1020040093664 A KR 1020040093664A KR 20040093664 A KR20040093664 A KR 20040093664A KR 20060054836 A KR20060054836 A KR 20060054836A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
liquid crystal
crystal display
display module
defect
image
Prior art date
Application number
KR1020040093664A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
현원규
박기원
Original Assignee
주식회사 쓰리비 시스템
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 쓰리비 시스템 filed Critical 주식회사 쓰리비 시스템
Priority to KR1020040093664A priority Critical patent/KR20060054836A/en
Publication of KR20060054836A publication Critical patent/KR20060054836A/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N2021/1765—Method using an image detector and processing of image signal
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
    • G01N2021/8848—Polarisation of light

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

본 발명은 2차 오염물질을 자동으로 검출할 수 있고, 이에 따라 전 검사과정의 자동화를 달성할 수 있으며, 정확성과 능률을 향상시킬 수 있는 액정디스플레이모듈의 검사방법과 그 장치를 제공한다.The present invention can automatically detect the secondary contaminants, thereby achieving the automation of the entire inspection process, and provides an inspection method and apparatus for the liquid crystal display module that can improve the accuracy and efficiency.

그 검사방법은, 액정디스플레이모듈(10)에 내재하여 불량으로 되는 결함이외의 오염물질(2차 오염물질(P))에 의해 불량으로 처리되지 아니하도록 그 2차 오염물질(P)을 검출하기 위한 방법으로서, TFT 셀 패널(11)의 비구동상태에서 액정디스플레이모듈(10)의 내부 광이 차단되는 회전각도로 폴라라이저 필터(20)를 설치하고, 그 폴라라이저 필터(20)를 통하여 백라이트유닛(14)로부터의 화이트 라이트에 의한 액정디스플레이모듈(10)의 표면 영상을 고체촬상소자 카메라와 같은 디지털카메라(30)를 통해 촬영함으로써 액정디스플레이모듈(10)의 내부영상은 차단되고 액정디스플레이모듈(10)의 표면 위의 2차 오염물질(P)만을 촬상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The inspection method is to detect the secondary pollutants (P) so as not to be treated as defective by the contaminants (secondary pollutants (P)) other than the defects inherent in the liquid crystal display module (10). As a method, the polarizer filter 20 is installed at a rotational angle at which the internal light of the liquid crystal display module 10 is blocked in the non-driven state of the TFT cell panel 11, and the backlight is passed through the polarizer filter 20. By shooting the surface image of the liquid crystal display module 10 by the white light from the unit 14 through the digital camera 30 such as a solid state image pickup device camera, the internal image of the liquid crystal display module 10 is blocked and the liquid crystal display module Imaging only secondary contaminants (P) on the surface of (10).

Description

액정디스플레이모듈의 검사방법과 그 장치{method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module}Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module

도 1은 종래의 액정디스플레이모듈의 검사방법을 설명하기 위한 개략도이다.1 is a schematic view for explaining a conventional inspection method of the liquid crystal display module.

도 2는 본 발명을 적용하기 위한 액정디스플레이모듈의 구동전후의 설명도이다.2 is an explanatory diagram before and after driving of a liquid crystal display module for applying the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 검사방법을 설명하기 위한 구성의 개략도이다. 3 is a schematic diagram of a configuration for explaining a test method according to the present invention.

도 4는 각종 제어부를 포함하는 본 발명의 장치의 일예를 도시한 블록도이다.4 is a block diagram illustrating an example of an apparatus of the present invention including various controllers.

도 5는 본 발명의 검사방법의 구성을 일예로서 상세히 도시한 흐름도이다.5 is a flowchart showing in detail the configuration of the inspection method of the present invention as an example.

도 6은 본 발명의 실험결과의 화면의 구성도이다.6 is a block diagram of a screen of the experimental results of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

10: 액정디스플레이모듈 11: TFT 셀 패널10: liquid crystal display module 11: TFT cell panel

12,13: 상하부 폴라라이저 필터 14: 백라이트유닛12,13: upper and lower polarizer filter 14: backlight unit

20: 폴라라이저 필터 21: 각도회전부20: polarizer filter 21: angle rotation

22: 각도제어부 30: 디지털카메라22: angle control unit 30: digital camera

31: 영상획득부 32: 영상처리부31: image acquisition unit 32: image processing unit

40: 최종검사제어부 41: 검사제어부40: final inspection control unit 41: inspection control unit

42: 패턴제어부 A,B,C,X: 결함42: Pattern control part A, B, C, X: Defect

C: 종류별 결함수 I: 결함영상C: Number of defects by type I: Defective image

L: 결함리스트 M: 결함맵L: Defect List M: Defect Map

P: 표면이물 R: 내부결함(실제결함)P: Foreign substance R: Internal defect (actual defect)

본 발명은, 2차 오염물질을 자동으로 검출할 수 있고, 이에 따라 전 검사과정의 자동화를 달성할 수 있으며, 정확성과 능률을 향상시킬 수 있는 액정디스플레이모듈의 검사방법과 그 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method and apparatus for inspecting a liquid crystal display module that can automatically detect secondary contaminants, thereby achieving automation of the entire inspection process, and improve accuracy and efficiency.

종래, 액정디스플레이모듈의 화질에 직접적인 영향을 미치는 결함을 검출하기 위해 완제품의 단계에서 사람의 시각이나 비전(vision) 장비를 이용하여 불량 부품을 검출하고 있다.Conventionally, in order to detect defects that directly affect the image quality of the liquid crystal display module, defective parts are detected by using human vision or vision equipment at the stage of the finished product.

도 1에서 종래의 액정디스플레이모듈의 검사방법은, 액정디스플레이모듈(10)의 백라이트유닛(14)으로부터 화이트 광이 발생하도록 한 상태에서 그 액정디스플레이모듈(10)의 상부로부터 디지털카메라(30)를 통해 영상을 획득한 후, 다양한 이미지 프로세싱 기법(edge파라미터 등)을 이용하여 결함을 추출하거나, 육안으로 결함을 검사한다.In the inspection method of the conventional liquid crystal display module in FIG. 1, the digital camera 30 is moved from the top of the liquid crystal display module 10 in a state where white light is generated from the backlight unit 14 of the liquid crystal display module 10. After the image is acquired, defects are extracted using various image processing techniques (edge parameters, etc.) or visually inspected for defects.

이 때, 검출된 결함들(X,A,B,C: 도 3 참조)은, 액정디스플레이모듈(10)의 표면 위에 존재하는 결함(X)과 액정디스플레이모듈(10)의 내부에 존재하는 결함 (A,B,C)으로 구분될 수 있고 액정디스플레이모듈(10)의 표면 위에 존재하는 결함(X)은 제거가능한 것으로 불량으로 되지 아니하는 것들이지만, 디지털카메라(30)에 의해 촬영하여 얻은 영상으로부터 구별될 수 없다고 하는 문제가 있다.At this time, the detected defects (X, A, B, C: see Fig. 3), the defect (X) present on the surface of the liquid crystal display module 10 and the defects present inside the liquid crystal display module 10 Defects (X) that can be divided into (A, B, C) and present on the surface of the liquid crystal display module 10 are removable and not defective, but images obtained by photographing by the digital camera 30 There is a problem that cannot be distinguished from.

또한, 이러한 결함(A,B,C,X)들은 육안으로 세밀하게 관찰하면, 어느 정도 액정디스플레이모듈(10)의 표면 위에 존재하는 결함(X)과 액정디스플레이모듈(10)의 내부에 존재하는 결함(A,B,C)을 구별할 수 있지만, 그 부정확도와 비능률에 문제가 있다.In addition, when these defects (A, B, C, X) are closely observed with the naked eye, the defects (X) existing on the surface of the liquid crystal display module 10 to some extent may be present inside the liquid crystal display module 10. Although defects A, B, and C can be distinguished, there are problems in their inaccuracy and inefficiency.

따라서, 본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위한 것으로, 2차 오염물질을 자동으로 검출할 수 있고, 이에 따라 전 검사과정의 자동화를 달성할 수 있으며, 정확성과 능률을 향상시킬 수 있는 액정디스플레이모듈의 검사방법과 그 장치를 제공하는 데에 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention is to solve this problem, it is possible to automatically detect the secondary contaminants, thereby to achieve the automation of the entire inspection process, and to improve the accuracy and efficiency of the liquid crystal display module The purpose is to provide a test method and an apparatus thereof.

이러한 목적을 달성하기 위해 본 발명의 일실시예에 따른 액정디스플레이모듈의 검사방법은, 액정디스플레이모듈에 내재하여 불량으로 되는 결함이외의 오염물질(2차 오염물질)에 의해 불량으로 처리되지 아니하도록 그 2차 오염물질을 검출하기 위한 방법으로서, TFT 셀 패널의 비구동상태에서 액정디스플레이모듈의 내부 광이 차단되는 회전각도로 폴라라이저 필터를 설치하고, 그 폴라라이저 필터를 통하여 백라이트유닛로부터의 화이트 라이트에 의한 액정디스플레이모듈의 표면 영상을 고체촬상소자 카메라와 같은 디지털카메라(이하, "디지털카메라"라고 함)를 통 해 촬영함으로써 액정디스플레이모듈의 내부영상은 차단되고 액정디스플레이모듈의 표면 위의 2차 오염물질만을 촬상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the inspection method of the liquid crystal display module according to the embodiment of the present invention is not treated as defective by contaminants (secondary contaminants) other than defects inherent in the liquid crystal display module. As a method for detecting the secondary pollutants, a polarizer filter is installed at a rotational angle at which the internal light of the liquid crystal display module is blocked while the TFT cell panel is not driven, and white light from the backlight unit is passed through the polarizer filter. By shooting the surface image of the liquid crystal display module by light through a digital camera (hereinafter referred to as a "digital camera") such as a solid-state imaging device camera, the internal image of the liquid crystal display module is blocked and 2 on the surface of the liquid crystal display module is blocked. Imaging only the secondary pollutant.

또, 본 발명은, 액정디스플레이모듈에 내재하여 불량으로 되는 결함이외의 오염물질(2차 오염물질)에 의해 불량으로 처리되지 아니하도록 그 2차 오염물질을 검출하기 위한 장치로서, TFT 셀 패널의 비구동상태에서 액정디스플레이모듈의 내부 광이 차단되는 회전각도로 각도회전부에 의해 제어가능하게 설치되는 폴라라이저 필터와, 그 폴라라이저 필터를 통하여 백라이트유닛로부터의 화이트 라이트에 의한 액정디스플레이모듈의 표면 영상을 디지털카메라를 통해 획득하기 위한 영상획득부와, 획득된 영상을 처리, 분석하여 2차 오염물질의 정보를 얻기 위한 영상처리부와, 액정디스플레이모듈의 패턴 인가/제어를 위한 패턴제어부와, 불량검사공정을 관리하기 위해 상기 각도회전부, 영상획득부, 영상처리부, 패턴제어부 등을 제어하고 상기 2차 오염물질의 정보와 전체결함의 검사결과를 분석하여 불량여부를 판별하는 제어부를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정디스플레이모듈의 검사장치를 제공하며, 위와 같이 하여 얻어진 2차 오염물질이, 폴라라이저 필터 없이 촬영된 영상으로부터 얻어진 전체결함과 동일한 때에 불량으로부터 제외시켜 불량으로 판별하지 아니하게 된다.In addition, the present invention is an apparatus for detecting secondary contaminants so as not to be treated as defective by contaminants (secondary contaminants) other than defects inherent in the liquid crystal display module. Polarizer filter which is installed to be controlled by the angular rotation part at the rotation angle at which the internal light of the liquid crystal display module is blocked in the non-driven state, and the surface image of the liquid crystal display module by the white light from the backlight unit through the polarizer filter. Image acquisition unit for acquiring the information through a digital camera, an image processing unit for obtaining secondary pollutant information by processing and analyzing the acquired image, a pattern control unit for pattern application / control of the liquid crystal display module, and defect inspection In order to manage the process, the angular rotation unit, the image acquisition unit, the image processing unit, the pattern control unit, etc. are controlled. It provides a test device for a liquid crystal display module characterized in that it comprises a control unit for analyzing the information of the substance and the test results of the total defects to determine whether there is a defect, the secondary pollutant obtained as described above is a polarizer filter The defect is excluded from the defect at the same time as the total defect obtained from the photographed image without being identified as the defect.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예(들)를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, exemplary embodiment (s) of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2에는 본 발명을 적용하기 위한 액정디스플레이모듈의 구동전후의 설명도가 도시되고, 도 3에는 본 발명에 따른 검사방법을 설명하기 위한 구성의 개략도가 도시되며, 도 4에는 각종 제어부를 포함하는 본 발명의 장치의 일예를 도시한 블록도가 도시된다.2 is an explanatory diagram before and after driving a liquid crystal display module for applying the present invention, FIG. 3 is a schematic diagram of a configuration for explaining the inspection method according to the present invention, and FIG. 4 includes various controllers. A block diagram illustrating an example of the apparatus of the present invention is shown.

도 2에서 백라이트유닛(14)으로부터의 화이트 광이 액정디스플레이모듈(10)의 TFT 셀 패널(11)과 상하부 폴라라이저 필터(12,13)를 통해 조사되더라도 TFT 셀 패널(11)의 비구동상태와 전구동상태 및 상부 폴라라이저 필터(12)의 각도에 따라 상부에서는 전부 백색이거나 전부 흑색이 얻어진다.In FIG. 2, even when white light from the backlight unit 14 is irradiated through the TFT cell panel 11 and the upper and lower polarizer filters 12 and 13 of the liquid crystal display module 10, the non-driven state of the TFT cell panel 11 is prevented. Depending on the pre-war state and the angle of the upper polarizer filter 12, all white or all black is obtained at the top.

따라서, 본 발명은 도 3에서와 같이 액정디스플레이모듈(10)의 상부에 추가로 폴라라이저 필터(20)를 설치하고 그 폴라라이저 필터(20)의 각도에 따라 액정디스플레이모듈(10)은 흑색으로 촬영되고 그 액정디스플레이모듈(10)의 표면이나 그 폴라라이저 필터(20)사이에 존재하는 2차 오염물질(P: 도 6참조)인 결함(X)에 의해서는 하부로부터 조사되는 광의 굴절 내지 산란으로부터 폴라라이저 필터(20)를 통과하게 되는 광을 고체촬상소자 카메라와 같은 디지털카메라(30)(이하, "디지털카메라"라고 함)로 촬영하도록 구성한 것이며, 이에 따라 액정디스플레이모듈(10)에 내재하여 불량으로 되는 결함이외의 오염물질(2차 오염물질(P))이 검출되게 된다.Therefore, in the present invention, as shown in FIG. 3, the polarizer filter 20 is additionally installed on the upper portion of the liquid crystal display module 10 and the liquid crystal display module 10 is black according to the angle of the polarizer filter 20. Refraction or scattering of light irradiated from below by defect X, which is a secondary pollutant (P: see FIG. 6) existing on the surface of the liquid crystal display module 10 or between the polarizer filter 20 It is configured to shoot the light passing through the polarizer filter 20 from the digital camera 30 (hereinafter referred to as "digital camera"), such as a solid-state image pickup device camera, and thus is embedded in the liquid crystal display module 10 Therefore, other contaminants (secondary contaminants P) other than the defects that become defective are detected.

보다 구체적으로, 본 발명은, 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이 각도회전부(21) 및 폴라라이저 필터(20)와, 디지털카메라(30) 및 영상획득부(31)와, 영상처리부(32)와, 상기 각도회전부(21), 영상획득부(31), 영상처리부(32), 액정디스플레이모듈(10) 등을 제어하고 상기 2차 오염물질(P)의 정보와 전체결함(T)의 검사결과를 분석하여 불량여부를 판별하는 제어부(22,40,41,42)를 포함하여 구성된다.More specifically, the present invention, as shown in FIGS. 3 and 4, the angular rotation unit 21 and the polarizer filter 20, the digital camera 30 and the image acquisition unit 31, the image processing unit 32 ), The angle rotation unit 21, the image acquisition unit 31, the image processing unit 32, the liquid crystal display module 10 and the like to control the information of the secondary pollutant (P) and the total defect (T) And a control unit 22, 40, 41, 42 which analyzes the inspection result and determines whether there is a defect.

그 폴라라이저 필터(20)는, TFT 셀 패널(11)의 비구동상태에서 액정디스플레 이모듈(10)의 내부 광이 차단되는 회전각도로 각도회전부(21)에 의해 제어가능하게 설치되며, 영상획득부(31)는, 그 폴라라이저 필터(20)를 통하여 백라이트유닛(14)로부터의 화이트 라이트에 의한 액정디스플레이모듈(10)의 표면 영상을 디지털카메라(30)를 통해 획득하도록 구성된다. 또한, 영상처리부(32)는 영상획득부(31)에서 획득된 영상을 처리, 분석하여 2차 오염물질(P)의 정보를 얻을 수 있도록 구성되다.The polarizer filter 20 is installed in a non-driven state of the TFT cell panel 11 so as to be controllable by the angle rotating part 21 at a rotation angle at which the internal light of the liquid crystal display module 10 is blocked. The acquirer 31 is configured to acquire, via the polarizer filter 20, the surface image of the liquid crystal display module 10 by the white light from the backlight unit 14 through the digital camera 30. In addition, the image processor 32 is configured to process and analyze the image acquired by the image acquisition unit 31 to obtain information of the secondary pollutant (P).

상기 제어부(22,40,41,42)는, 도 4에서 일예로서 제품 불량 검사 전체를 관리하는 제어 장치로서 최종검사제어부(40), 본 검사를 관리하는 제어장치, 즉 액정디스플레이모듈(10)의 패턴과 폴라라이저 필터(20)의 각도를 제어하고 검사과정을 제어하고 결과를 분석하기 위한 검사 제어부(41), 폴라라이저 필터(20)의 각도를 변경/조정/제어 하기 위한 각도회전부(21)의 각도제어부(22) 및 액정디스플레이모듈(10)의 패턴 인가/제어를 위한 패턴제어부(42)를 포함하여 구성될 수 있다.The control unit 22, 40, 41, 42 is a control device for managing the entire product defect inspection as an example in FIG. 4, the final inspection control unit 40, the control device for managing this inspection, that is, the liquid crystal display module 10 The inspection control unit 41 for controlling the pattern and the angle of the polarizer filter 20 and the inspection process and analyzing the results, the angle rotation unit 21 for changing / adjusting / controlling the angle of the polarizer filter 20 The angle controller 22 and the pattern controller 42 for pattern application / control of the liquid crystal display module 10 may be configured.

상술한 바와 같이 구성되는 액정디스플레이모듈의 검사장치에 의한 작용과 효과를 본 발명의 방법과 함께 설명하면 다음과 같다.The operation and effects of the inspection apparatus of the liquid crystal display module configured as described above will be described with the method of the present invention as follows.

본 발명의 검사방법은, 도 3에서와 같이, TFT 셀 패널(11)의 비구동상태에서 액정디스플레이모듈(10)의 내부 광이 차단되는 회전각도로 폴라라이저 필터(20)를 설치한다. 그 뒤, 그 폴라라이저 필터(20)를 통하여 백라이트유닛(14)로부터의 화이트 라이트에 의한 액정디스플레이모듈(10)의 표면 영상을 디지털카메라(30)를 통해 촬영함으로써 액정디스플레이모듈(10)의 내부영상은 차단되고 액정디스플레이모듈(10)의 표면 위의 2차 오염물질(P)만을 촬상할 수 있게 된다. 이와 같이 하여 얻 어진 영상을 도 4의 영상처리부(32)에서 처리하여 2차 오염물질(P)을 검출하며, 나아가 이와 같이하여 얻어진 2차 오염물질(P)이, 폴라라이저 필터(20) 없이 또는 액정디스플레이모듈(10)이 촬영될 수 있도록 하는 각도에서 촬영된 영상으로부터 얻어진 전체결함(T)과 동일한 때에 불량으로부터 제외시켜 불량으로 판별하지 아니하는 것이다.In the inspection method of the present invention, as shown in FIG. 3, the polarizer filter 20 is installed at a rotation angle at which internal light of the liquid crystal display module 10 is blocked while the TFT cell panel 11 is not driven. Thereafter, the inside of the liquid crystal display module 10 by photographing the surface image of the liquid crystal display module 10 by the white light from the backlight unit 14 through the digital camera 30 through the polarizer filter 20. The image is blocked and only the secondary contaminant P on the surface of the liquid crystal display module 10 can be captured. The image thus obtained is processed by the image processing unit 32 of FIG. 4 to detect the secondary pollutants P. Furthermore, the secondary pollutants P thus obtained are obtained without the polarizer filter 20. Alternatively, the liquid crystal display module 10 does not discriminate from the defects at the same time as the total defects T obtained from the images photographed from the angle at which the liquid crystal display module 10 can be photographed.

도 5에서 본 발명의 방법은, 단계S11에서 폴라라이저 필터(20)를 0도로 설정하고 단계S12에서 영상을 촬영하며, 단계S13에서 활영된 영상을 처리하여 1차 결과를 정리하고, 단계S14에서 불량정보를 분석하는 것이지만, 도 5에는 이러한 본 발명의 방법이 종래의 검사과정중에 삽입된 구체적인 예의 흐름도로서 도시된다. 즉, 단계S1에서 제품 불량을 검사하기 위한 액정디스플레이모듈(10)을 로딩하여 점등하며, 그 뒤, 폴라라이저 필터(20)의 각도를 일예로 90도로 설정하며, 단계S3에서 영상을 획득한다. 이때, 영상은 전체결함(T: 도 6 참조)이 포함된 영상으로 된다. 이와 같이 전체결함(T)을 포함하는 영상을 촬영한 후, 상술한 본 발명의 발명이 수행되며, 이와 동시에 단계S4 및 단계S5에서 영상을 처리, 전체결함(T)의 불량 정보가 분석되고, 단계S6에서 전체결함(T)과 2차 오염물질(P)의 정보가 종합, 정리하며, 단계S7에서 불량을 분류하고, 단계S8에서는 마스터 시스템에 각종 정보를 전송하여 데이터 베이스를 구축하며(단계S9), 단계S10에서 결함정보를 보고한다.5, the method of the present invention sets the polarizer filter 20 to 0 degrees in step S11 and captures an image in step S12, processes the image taken in step S13 to clean up the primary result, and in step S14. Although the failure information is analyzed, Fig. 5 is shown as a flowchart of a specific example in which the method of the present invention is inserted during a conventional inspection process. That is, in step S1, the liquid crystal display module 10 for inspecting product defects is loaded and turned on. Then, the angle of the polarizer filter 20 is set to 90 degrees, for example, and an image is acquired in step S3. In this case, the image is an image including all defects (T: see FIG. 6). After capturing the image including the total defect T as described above, the above-described invention of the present invention is performed, and at the same time, the image is processed in steps S4 and S5, and defect information of the total defect T is analyzed. In step S6, the information of all defects (T) and secondary pollutants (P) is aggregated and organized, and in step S7, defects are classified, and in step S8, various information is transmitted to the master system to build a database (step S9), the defect information is reported in step S10.

이와 같이 하여 보고되는 화면구성도의 일예가 도 6에 도시된다. 도 6에서와 같이 실제 결함영상(I)과 함께 2차 오염물질(P)과 내부결함(R)이 잘 나타나도록 결함맵(M) 및 결함리스트(L)를 작성하는 것이 바람직하며, 나아가 통계치로서 종류별 결함수(C), 즉, 전체결함(T)과 2차 오염물질(P) 및 실제결함인 내부결함(R)을 수치로 나타내는 것이 바람직할 것이다. 여기서 2차 오염물질(P)을 제외한 내부결함(R)만에 의해 불량여부가 판별되게 된다.One example of the screen configuration diagram reported in this way is shown in FIG. As shown in FIG. 6, it is preferable to prepare the defect map M and the defect list L so that the secondary contaminant P and the internal defect R appear well together with the actual defect image I. Further, the statistical value As the number of defects (C) by type, that is, the total defects (T) and secondary pollutants (P) and the internal defects (R), which are actual defects, may be preferable. Here, whether the defect is determined by only the internal defect R except the secondary pollutant P is determined.

이상에서 설명한 본 발명의 실시예에 따른 액정디스플레이모듈의 검사방법과 그 장치의 구성과 작용에 의하면, 2차 오염물질을 자동으로 검출할 수 있고, 이에 따라 전 검사과정의 자동화를 달성할 수 있으며, 정확성과 능률을 향상시킬 수 있는 등의 효과가 있다.According to the method and the configuration and operation of the liquid crystal display module according to the embodiment of the present invention described above, the secondary contaminants can be detected automatically, thereby achieving the automation of the entire inspection process This can improve the accuracy and efficiency.

Claims (3)

액정디스플레이모듈(10)에 내재하여 불량으로 되는 결함이외의 오염물질(2차 오염물질(P))에 의해 불량으로 처리되지 아니하도록 그 2차 오염물질(P)을 검출하기 위한 방법으로서, TFT 셀 패널(11)의 비구동상태에서 액정디스플레이모듈(10)의 내부 광이 차단되는 회전각도로 폴라라이저 필터(20)를 설치하고, 그 폴라라이저 필터(20)를 통하여 백라이트유닛(14)로부터의 화이트 라이트에 의한 액정디스플레이모듈(10)의 표면 영상을 디지털카메라(30)를 통해 촬영함으로써 액정디스플레이모듈(10)의 내부영상은 차단되고 액정디스플레이모듈(10)의 표면 위의 2차 오염물질(P)만을 촬상하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정디스플레이모듈의 검사방법.As a method for detecting the secondary pollutants (P) so as not to be treated as defective by the pollutants (secondary pollutants (P)) other than the defects inherent in the liquid crystal display module 10, TFT The polarizer filter 20 is installed at a rotational angle at which the internal light of the liquid crystal display module 10 is blocked in the non-driven state of the cell panel 11, and the polarizer filter 20 is installed from the backlight unit 14 through the polarizer filter 20. By taking the image of the surface of the liquid crystal display module 10 by the white light through the digital camera 30, the internal image of the liquid crystal display module 10 is blocked and the secondary pollutants on the surface of the liquid crystal display module 10 (P) a method of inspecting the liquid crystal display module comprising the step of imaging. 제 1 항에 있어서, 상기 단계에서 얻어진 2차 오염물질(P)이, 폴라라이저 필터(20) 없이 촬영된 영상으로부터 얻어진 전체결함(T)과 동일한 때에 불량으로부터 제외시켜 불량으로 판별하지 아니하는 단계를 포함하여 구성되는 액정디스플레이모듈의 검사방법.The method according to claim 1, wherein the secondary pollutant (P) obtained in the step is excluded from the defect at the same time as the total defect (T) obtained from the image photographed without the polarizer filter (20) and is not discriminated as a defect. Inspection method of the liquid crystal display module comprising a. 액정디스플레이모듈(10)에 내재하여 불량으로 되는 결함이외의 오염물질(2차 오염물질(P))에 의해 불량으로 처리되지 아니하도록 그 2차 오염물질(P)을 검출하기 위한 장치로서, TFT 셀 패널(11)의 비구동상태에서 액정디스플레이모듈(10)의 내부 광이 차단되는 회전각도로 각도회전부(21)에 의해 제어가능하게 설치되는 폴라라이저 필터(20)와, 그 폴라라이저 필터(20)를 통하여 백라이트유닛(14)로부터의 화이트 라이트에 의한 액정디스플레이모듈(10)의 표면 영상을 디지털카메라(30)를 통해 획득하기 위한 영상획득부(31)와, 획득된 영상을 처리, 분석하여 2차 오염물질(P)의 정보를 얻기 위한 영상처리부(32)와, 불량검사공정을 관리하기 위해 상기 각도회전부(21), 영상획득부(31), 영상처리부(32), 액정디스플레이모듈(10)의 패턴 등을 제어하고 상기 2차 오염물질(P)의 정보와 전체결함(T)의 검사결과를 분석하여 불량여부를 판별하는 제어부(22,40,41,42)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 액정디스플레이모듈의 검사장치.A device for detecting a secondary pollutant (P) so as not to be treated as a defect by a pollutant (secondary pollutant (P)) other than a defect inherent in the liquid crystal display module 10, TFT. Polarizer filter 20 which is installed to be controllable by the angular rotation unit 21 at a rotation angle at which the internal light of the liquid crystal display module 10 is blocked in the non-driven state of the cell panel 11, and the polarizer filter ( The image acquisition unit 31 for acquiring the surface image of the liquid crystal display module 10 by the white light from the backlight unit 14 through the digital camera 30 and the acquired image are processed and analyzed. Image processing unit 32 to obtain information of secondary pollutants (P) and the angle rotating unit 21, image acquisition unit 31, image processing unit 32, liquid crystal display module to manage the defect inspection process Control the pattern and the like (10) and the secondary pollutant (P) And a control unit (22, 40, 41, 42) for analyzing the information and the inspection result of the total defect (T) to determine whether there is a defect.
KR1020040093664A 2004-11-16 2004-11-16 Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module KR20060054836A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040093664A KR20060054836A (en) 2004-11-16 2004-11-16 Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040093664A KR20060054836A (en) 2004-11-16 2004-11-16 Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20060054836A true KR20060054836A (en) 2006-05-23

Family

ID=37151104

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020040093664A KR20060054836A (en) 2004-11-16 2004-11-16 Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20060054836A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100829891B1 (en) * 2006-07-12 2008-05-16 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100829891B1 (en) * 2006-07-12 2008-05-16 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 Inspection Method for Liquid Crystal Panel and Image Processing Apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10026162B2 (en) Method and device for sealant coating inspection
RU2735806C1 (en) Method of checking printing cylinder and corresponding installation
WO2018121269A1 (en) Film detection system, detection method, and device
WO2007074770A1 (en) Defect inspection device for inspecting defect by image analysis
JP5538220B2 (en) Non-uniformity inspection method for polarizing plate using image analysis, and automatic non-uniformity inspection system for polarizing plate using the same
CN110208269B (en) Method and system for distinguishing foreign matters on surface of glass from foreign matters inside glass
TWI502186B (en) A bright spot detection device for filtering foreign matter noise and its method
JP4971456B2 (en) Glass substrate quality inspection apparatus and inspection method thereof
JP2009229197A (en) Linear defect detecting method and device
JP2007333491A (en) Visual insepction device of sheet member
JPH09152322A (en) Method and device for surface quality inspection
JP2001194322A (en) External appearance inspection device and inspection method
KR20060054836A (en) Method and apparatus for inspecting secondary contamination in a liquid crystal display module
KR100833904B1 (en) A method of detecting defection on the wafer and The device
JP3585305B2 (en) Inspection device for foreign substances inside transparent support
JP7362324B2 (en) Inspection method, manufacturing method and inspection device for image display device
JPH0357241A (en) Automatic external-appearance inspection apparatus
JP3202089B2 (en) Surface defect inspection method for periodic patterns
JP2003254861A (en) Method and apparatus for inspecting liquid crystal panel
JP2009237086A (en) Color filter defect correction method and color filter defect correction device
JP2911619B2 (en) Surface defect inspection method and apparatus for periodic pattern
JP2003177371A (en) Apparatus and method for inspecting liquid crystal display unit
JP2005077272A (en) Method for inspecting defect
JPH07270335A (en) Method and device for imaging inspection
JP4619748B2 (en) Defect detection method for multilayer flat plate inspection object having optical transparency

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application