KR20060005640A - 상변화 광 디스크의 기록 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 상변화 광 디스크의 기록 방법에 관한 것이다. 본 발명에서는, 각 기록 마크를 해당 채널 비트 렝스보다 하나 작은 개수의 기록 펄스로 기록하는 경우 또는 3T는 하나의 기록 펄스로 기록하고 3T를 제외한 기록 마크는 해당 채널 비트 렝스보다 하나 작은 개수의 기록 펄스로 기록하는 경우, 4T 이상의 기록 마크를, 채널 비트 렝스가 짝수인 기록 마크 제 1 그룹과 채널 비트 렝스가 홀수인 기록 마크 제 2 그룹의 두 그룹으로 나누어, 상기 두 그룹의 기록 펄스를 서로 다르게 제어한다. 따라서, 기록 밀도와 기록 속도가 높아져 열 간섭 현상이 심각한 경우에도, 기록된 4T 이상의 마크와 스페이스의 길이가 해당 마크와 스페이스의 채널 비트 렝스에 더욱 근접하고, 기록된 각 마크와 스페이스의 분포가 명확히 구분되는 효과가 있다.
상변화 광 디스크, 기록 펄스, 마크, 스페이스, 지터, 채널 비트 렝스, 열 간섭
Description
도 1은 종래의 기록 펄스 파형을 나타낸 것이고,
도 2는 2T와 3T 마크와 스페이스만을 조합에 대해, 종래의 기록 펄스 파형으로 기록한 결과를 도시한 그래프이고,
도 3은 2T의 스페이스를 2T에서 9T까지 길이가 차례로 증가하는 마크 사이에 기록하거나, 2T 마크를 2T에서 9T까지 길이가 차례로 증가하는 스페이스 사이에 기록하는 경우에 대한 재생 RF 신호를 나타낸 것이고,
도 4는, 냉각 속도가 느린 구조에서, 멀티 펄스의 폭을 달리하면서 종래의 기록 펄스 파형으로 4T, 5T, 및 6T 마크와 스페이스를 기록한 경우, 기록된 4T, 5T, 및 6T 마크와 스페이스 길이의 분포를 XY 축에 도시한 것이고,
도 5는 느린 냉각 구조에 기록되는 2T와 3T 마크 형상이 일반적으로 시간의 진행에 따라 변하는 모습을 나타낸 것이고,
도 6은 3T의 두 번째 펄스가 오는 시간을 뒤로 미루어 원하는 길이 3T 마크를 얻는 방법을 도시한 것이고,
도 7은 공정 기반 조성을 가지는(eutectic based) 상변화 물질의 특징적인 결정화 확률 곡선을 나타낸 것이고,
도 8은 4T 내지 8T 마크를 동일한 매개 변수를 갖는 기록 펄스 파형으로 기록하는 경우의 마크 형상을 나타낸 것이고,
도 9는, 4T 내지 8T 마크에 대해, 4T, 6T, 8T 마크와 5T, 7T 마크를 구별하여 서로 다른 매개 변수를 갖는 기록 펄스 파형으로 기록하는 경우의 마크 형상을 나타낸 것이고,
도 10은, 열 간섭 현상이 심한 상변화 광 디스크에, 종래의 기록 펄스 파형으로 기록한 마크와 스페이스의 길이 분포를 XY 축에 도시한 것이고,
도 11은 열 간섭 현상이 심한 상변화 광 디스크에, 본 발명에 따른 기록 펄스 파형으로 기록한 마크와 스페이스의 길이 분포를 XY 축에 도시한 것이고,
도 12는 종래 기록 펄스 파형과 본 발명에 따른 기록 펄스 파형으로 직접 덮어 쓰기(DOW : Direct OverWirte)를 한 마크의 리딩 에지(Leading Edge)의 지터 커브를 나타낸 것이고,
도 13는 종래 기록 펄스 파형과 본 발명에 따른 기록 펄스 파형으로 직접 덮어 쓰기를 한 마크의 트레일링 에지(Trailing Edge)의 지터 커브를 나타낸 것이고,
도 14 내지 도 19는, 4T 이상의 마크를 짝수 개의 채널 비트 렝스를 갖는 마크(4T, 6T, 8T)와 홀수 개의 채널 비트 렝스를 갖는 마크(5T, 7T, 9T)로 구분하여, 해당 기록 펄스 파형을 다르게 제어하는 본 발명에 따른 여러 실시예를 나타낸 것이고,
도 20은 3T 마크를 2개의 기록 펄스가 아닌 하나의 기록 펄스만으로 기록하 는 본 발명에 따른 다른 실시예를 나타낸 것이다.
본 발명은 상변화 광 디스크의 기록 방법에 관한 것으로, 특히 상변화 광 디스크의 반복 기록 특성을 향상시키기 위한 기록 펄스 파형 조절 방법에 관한 것이다.
동화상 및 정지 화상을 포함한 비디오 신호, 오디오 신호 및 컴퓨터 데이터 신호를 종합적으로 다루는 멀티미디어(multimedia) 시대의 도래와 함께, 패키지 미디어(예, CD, DVD를 비롯한 각종 디스크)가 폭 넓게 보급되어 있으며, 이 같은 추세는 더욱 두드러질 전망이다. 최근에는, 블루레이 디스크(Blue-Ray Disc)와 같이 고용량화된 광 디스크에 대한 규격화 작업이 진행되고 이를 기록 재생할 수 있는 장치가 상용화되고 있다.
패키지 미디어, 예를 들어 컴팩트 디스크(CD), 디지털 비디오(또는 다기능) 디스크(DVD), 및 블루레이 디스크(BD)는 크게 기판과 정보를 기록하고 있는 기록막 및 보호막으로 구성된다.
이들 광 디스크에서, 재생 전용(Read-only memory : ROM) 광 디스크에는 서보나 위치 정보 및 데이터가 미세한 피트 형태로 원주 방향으로 형성되어 있고, 반사층이 존재한다.
정보를 오직 한번 기록할 수 있는 추기형(Recordable) 광 디스크인 경우와 반복해서 정보를 쓰고, 읽고, 지우기가 가능한 반복 기록형(Rewritable) 광 디스크는 프리 피트(Pre-pits)와 반사층 외에도 레코더블 다이(Recordable Dye)나 상변화 혹은 광자기 방식의 기록층과 이 기록층을 보호하기 위한 보호층으로 구성된다.
이와 같은 추기형 또는 반복 기록형 광 디스크는, 오디오나 비디오의 재생용 저장 매체 외에, 퍼스널 컴퓨터(이하 PC)용 저장 매체로도 쓰이고 있다. 하지만, 고 용량화되는 반복 기록형 광 디스크가 PC용 저장 매체로 정상적으로 사용되기 위해서는 오디오/비디오용보다 훨씬 많은 수의 반복 기록, 재생을 할 수 있어야 한다.
이들 디스크에 정보가 기록되거나 디스크로부터 정보가 독출될 때에는, 레이저 다이오드로부터 출력된 레이저 광원이, 대물렌즈를 거쳐 투명 기판(CD, DVD의 경우 1,2mm, 0.6mm의 폴리카보네이트 기판)을 통과하여, 보호층이나 정보가 기록된 정보 기록층, 및 반사층의 순서로 입사되고, 이들 다층막에서 반사되어 포토 다이오드로 되돌아간다. 최근 들어 논의되는 블루 레이 디스크의 경우, 고밀도 기록을 위하여 청색 대역의 단 파장(405nm) 레이저와 고 개구수(NA)의 대물렌즈가 사용되고, 레이저 광원은 0.6mm 이상의 투명 기판 대신 0.1mm정도의 얇은 커버 층(cover layer)을 통과한다.
한편, 반복 기록형 광 디스크의 기록층에는, 레이저 빔의 조사에 따른 상(Phase) 변화에 의해, 반사(Reflex) 정도가 서로 다른 비결정질 마크(Mark)와 결정질 스페이스(Space)가 반복적으로 기록된다. 결정질 매트릭스 위에 비결정질 마크를 생성하기 위해 단일 펄스(Single Pulse)의 레이저 빔을 조사하는 경우 누적되는 열로 인하여 마크 형상을 잘 조절할 수 없기 때문에, 도 1에 도시된 바와 같은 멀티 펄스(Multi Pulse)를 이용하여 마크 형상을 조절한다.
도 1은 종래의 일반적인 기록 펄스 파형을 나타낸 것이다. 도 1에서는, 서로 다른 세 가지의 레이저 파워 레벨을 규정하고 있다. 상기 세가지 파워 레벨에는, 펄스의 피크 파워(Peak power)인 기록 파워(Pw : Write power) 레벨, 덮어쓰기(Overwrite) 마크를 제외한 부분을 소거하여 결정질 스페이스로 만들어 주기 위한 소거 파워(Pe : Erase power) 레벨, 그리고 레이저 펄스의 가장 낮은 파워를 규정한 버텀 파워(Pb : Bottom power) 레벨이 있다.
또한, 도 1에 도시한 바와 같이, 기록 펄스 파형의 매개 변수를 각각 다음과 같이 정의한다.
dTtop : 프론트 펄스 또는 퍼스트 펄스의 변위(Displacement),
Ttop : 프론트 펄스의 폭,
DTe : 냉각을 위한 트레일링 에지의 변위,
Tmp : 멀티 펄스의 폭.
그리고, 마크를 마크의 길이에 따라 3가지 그룹으로 나누어, 각 그룹의 마크에 상기 매개 변수를 다음과 같이 할당한다.
2T : dTtop, Ttop, dTe,
3T : dTtop, Ttop, Tmp, dTe,
4T??(4T 이상의 마크) : dTtop, Ttop, Tmp, dTe, 여기서, Tmp는 3T 마크와 4T 이상의 마크가 같은 값이다.
즉, 종래의 기록 펄스에서는, 각 마크의 크기에 해당하는 NRZI(Non Return to Zero Inverting) 신호와 내부 기준 클럭(Reference clock)을 기준으로, 각 마크마다 펄스 시작 위치, 폭, 끝 위치 등이 결정된다. 이러한 단순한 형태의 기록 펄스 조절 방법은, 디스크의 박막 구조가 열 간섭이 적은 경우에는 큰 문제 없이 요구되는 사양(Specification)을 만족시킬 수 있다.
하지만, 디스크 기록 속도가 올라갈수록, 즉 고 배속 기록의 경우, 또는 기록 용량을 늘리기 위해 마크 길이를 짧게 하는 경우, 종래의 저 배속 저 용량일 때보다, 하나의 마크를 기록한 후 다음 마크를 기록할 때까지의 시간 간격이 좁아져서, 상변화 기록의 특징인 Melting 후 quenching 효과, 즉 기록층이 입사되는 레이저 광의 높은 열에 의해 녹은 후 냉각되어 마크가 형성되는 효과가 떨어진다. 또한, 기록 층을 2개 이상으로 하는 경우(예를 들어, 듀얼 레이어 디스크), 두 번째 기록층(Layer 1)의 반사층을 일정 두께 이상으로 할 수 없어서, 냉각 효과가 떨어진다.
따라서, 각 마크 간에 열 간섭이 매우 심해져서, 기록되는 마크가, 실제 원하는 길이로 형성되지 않음은 물론, 바로 전 단계에서 기록한 마크(바로 앞의 스페이스 앞에 기록된 마크)의 크기나 바로 앞의 스페이스 길이에 따라, 짧아지거나 길어지게 된다. 즉, 기록된 마크의 길이 간에 심한 불균형이 발생한다.
도 2는 2T와 3T의 마크와 스페이스만을 조합에 대해, 종래의 기록 펄스 파형으로 기록한 결과를 도시한 그래프로, 기록 후 다음 마크를 쓰기 전까지의 냉각 속도가 느린 구조인 듀얼 레이어 디스크에 대한 실험 결과이다. 도 2의 그래프는 기 록된 마크와 스페이스를 재생할 때의 RF 신호로, 기록된 마크와 스페이스의 반사 정도를 나타낸다.
도 2-1은 종래의 기록 펄스 파형을 최적화 시키지 않은 경우로, 2T 마크와 스페이스, 3T 마크와 스페이스가 정확히 기록되지 않아, 모두가 원하는 레벨로 재생되지 않았다. 도 2-2는 종래의 기록 펄스 파형에서 2T와 3T를 최적화한 경우로, 2T 마크와 스페이스, 및 3T 마크와 스페이스의 기록이 조절되어, 바람직한 레벨과 유사하게 재생되는 것을 볼 수 있다.
하지만, 종래의 기록 펄스 파형으로 모든 종류의 마크와 스페이스를 기록할 때, 4T 이상의 마크도 원하는 길이로 기록되지 않아, 재생되는 4T 이상의 마크의 레벨 또는 반사 정도가 해당 마크의 길이에 비례하지 않게 되는 현상이 발생한다.
도 3은, 위와 같은 현상을 두드러지게 하기 위해서, 2T의 스페이스를 2T에서 9T까지 길이가 차례로 증가하는 마크 사이에 기록하거나, 2T 마크를 2T에서 9T까지 길이가 차례로 증가하는 스페이스 사이에 기록하는 경우에 대한 재생 RF 신호, 즉 기록된 마크와 스페이스의 반사 정도를 도시한 것이다.
도 3에, 2T 스페이스 사이에 차례로 기록된 2T 내지 9T 마크에서, 5T 마크(오른쪽 원)의 반사 정도가 4T 마크(왼쪽 원)의 반사 정도보다 크게 도시되어 있다. 이는, 5T 마크가, 생성되는 중 재결정화가 심해져, 실제 원하는 크기보다 작아지고, 시간 축에서 볼 때 4T에 가까운 길이로 형성되었다고 짐작할 수 있다. 이러한 현상은, 6T와 7T 마크 사이, 8T와 9T 마크 상이에도 나타난다.
도 1의 종래 기록 펄스 파형 조절 방법에 따른 최적화에 의해서는, 이러한 각 마크의 길이 간의 불균형 문제를 해결하는데 한계가 있다. 도 4는, 냉각 속도가 느린 구조에서, 멀티 펄스의 폭을 달리하면서 종래의 기록 펄스 파형으로 4T, 5T, 및 6T 마크와 스페이스를 기록한 경우, 기록된 4T, 5T, 및 6T 마크와 스페이스 길이의 분포를 XY 축에 도시한 것이다.
도 4에 도시한 바와 같이, 각 마크의 크기가 멀티 펄스의 폭에 매우 민감하게 변하여, 최적 펄스 폭의 마진이 매우 작고 우수한 기록 특성을 나타내기에는 불충분하며 한계가 있다. 따라서, 보다 새로운 형태의 기록 펄스 파형을 조절하는 방법이 필요하다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창작된 것으로서, 본 발명의 목적은, 반복 기록형 상변화 광 디스크의 기록 특성을 향상시킬 수 있는 방법을 제공하는데 있다.
또한, 본 발명의 다른 목적은, 고밀도, 고배속에 적합하도록, 상 변화 광디스크의 기록 펄스 파형을 조절하는 방법을 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 상변화 광 디스크의 기록 방법의 한 실시예는, 각 기록 마크를 해당 채널 비트 렝스보다 하나 작은 개수의 기록 펄스로 기록하는 경우 4T 이상의 기록 마크를, 채널 비트 렝스가 짝수인 기록 마크 제 1 그룹과 채널 비트 렝스가 홀수인 기록 마크 제 2 그룹의 두 그룹으로 나누어, 상기 두 그룹의 기록 펄스를 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 한다. 이 경우, 4T, 6T, 및 8T에 대응되는 기록 펄스의 퍼스트 펄스, 멀티 펄스, 및 라스트 펄스의 위치와 폭, 그리고 라스트 펄스 뒤의 냉각 시간을, 5T, 7T, 및 9T에 대응되는 기록 펄스의 그것과 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 한다. 또한, 이 경우 3T에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스의 위치와 폭, 그리고 라스트 펄스 뒤의 냉각 시간을 상기 두 그룹의 그것과 독립적으로 제어하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명의 다른 실시예는, 3T는 하나의 기록 펄스로 기록하고 3T를 제외한 기록 마크는 해당 채널 비트 렝스보다 하나 작은 개수의 기록 펄스로 기록하는 경우, 4T 이상의 기록 마크를, 채널 비트 렝스가 짝수인 기록 마크 제 1 그룹과 채널 비트 렝스가 홀수인 기록 마크 제 2 그룹의 두 그룹으로 나누어, 상기 두 그룹의 기록 펄스를 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 한다. 이 경우에도, 4T, 6T, 및 8T에 대응되는 기록 펄스의 퍼스트 펄스, 멀티 펄스, 및 라스트 펄스의 위치와 폭, 그리고 라스트 펄스 뒤의 냉각 시간을, 5T, 7T, 및 9T에 대응되는 기록 펄스의 그것과 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 한다.
상기 실시예에서와 같이, 기록 마크를 두 그룹으로 나누어 기록 펄스 파형을 서로 다르게 제어함으로써, 기록 밀도와 기록 속도가 높아져 열 간섭 현상이 심각한 경우에도, 기록된 4T 이상의 마크와 스페이스의 길이가 해당 마크와 스페이스의 채널 비트 렝스에 더욱 근접하고, 기록된 각 마크와 스페이스의 분포가 명확히 구분된다.
이하 첨부 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.
도 5는 느린 냉각 구조에 기록되는 2T와 3T 마크 형상이 일반적으로 시간의 진행에 따라 변하는 모습을 나타낸 도면이다. 느린 냉각 구조를 갖는 다층 박막 구조에서, 도 5의 오른쪽 그림과 같은 기록 펄스 파형으로 2T, 3T의 작은 마크를 기록할 때, 3T 마크의 경우는, 첫 번째 펄스 이후 두 번째 펄스가 가해지면, 첫 번째 펄스에 의해 형성된 비결정질(Amorphous) 마크 주위의 온도가 순간 결정화 확률 곡선에서 픽크(Peak) 부분의 온도로 유지되는 시간이 길어져, 다시 말해, 도 7의 Pg-growth probability가 높은 온도가 첫 번째 펄스에 의해 형성된 마크의 리딩 에지에서 오래 동안 유지되어, 상기 마크의 리딩 에지가 재결정화되고, 따라서, 마크의 최종 상태의 길이가 매우 짧아진다. 3T 마크가 2T보다 조금 크거나 심한 경우는 거의 같아지는 경우도 있다.
이러한 현상을 방지하기 위해, 예를 들어, 도 6에 도시한 바와 같이, 3T의 두 번째 펄스가 오는 시간을 뒤로 미루어, 첫 번째 펄스에 의해 형성된 마크의 리딩 에지가 결정화되는 시간을 짧게 하면, 원하는 길이(3T)의 마크를 얻을 수 있다. 이처럼 2T와 3T의 경우는 기록 펄스의 매개 변수를 조정하는 종래의 방법에 의해 제어가 가능하다.
그러나, 4T보다 큰 마크들은, 도 8에 도시한 바와 같이, 기록 펄스의 매개 변수들을 똑같이 하는 경우, 4T와 5T, 그리고 6T와 7T가 각각 서로 또렷하게 1T만큼의 길이 차이가 나지 않음을 볼 수 있다. 도 8의 경우, 기록된 마크는, 4T와 6T 는 1T정도, 그리고 5T와 7T는 0.5T정도 더 크게 하여야, 원래 원했던 길이가 되는 경향이 있다. 즉, 기록된 마크의 길이와 해당하는 채널 비트 렝스의 차이가, 홀수 개의 채널 비트 렝스를 갖는 마크와 짝수 개의 채널 비트 렝스를 갖는 마크에 따라, 서로 달라지는 경향이 있다.
따라서, 기록 마크를 해당 채널 비트 렝스가 짝수인지 홀수인지에 따라 구별하여 해당 기록 펄스 파형을 별개로 제어하면, 기록된 마크의 길이가 마크의 채널 비트 렝스에 따라 길고 짧아지는 불균형을 해소할 수 있을 것이다.
도 8에 도시한 바와 같이, 4T와 6T는 리딩 에지가 작게 써지고 5T와 7T는 리딩 에지와 폭이 모두 원하는 크기보다 작게 기록되는 경향을 보인다. 그리고 트레일링 에지는 모두 작게 기록된다. 이러한 문제를 해결하기 위하여, 도 9에 도시한 바와 같이, 4T, 6T, 및 8T는 첫 번째 펄스 폭을 키우고 트레일링 에지의 냉각 시간을 키우고, 반면 5T, 및 7T는 첫 번째 펄스 폭을 키우고 멀티펄스를 4T, 6T, 및 8T보다 작게 하고 냉각 시간을 키우는 기록 펄스 파형을 사용한다. 위와 같이, 기록 펄스 파형을 조절하면, 도 9에 도시한 바와 같이, 각 기록 마크에 대해서, 마크 길이가 개선되는 것을 알 수 있다. 이때, 미세 조정을 위하여 기록 파워와 소거 파워도 함께 제어할 수도 있다.
마크의 기록과 기록된 마크에 대한 재생은 다음과 같은 조건에서 실시되었다.
내경 15mm, 외경 120mm, 두께 1.1mm, 트랙 피치 0.32um(랜드와 그루브를 갖 는)의 도우넛 형태의 폴리카보네이트 기판 위에 Ag 합금 반사층, ZnS-SiO2의 하부 유전체 보호층, 하부 인터페이스 층, Ge-Sb-Te계열의 합금으로 형성되는 기록층, 상부 인터페이스 층, ZnS-SiO2의 상부 유전체 보호층 순으로 형성된 다층 박막을 적층하여 형성한다. 그리고 이 다층 박막층 위에 20um의 UN 수지로 80um의 폴리카보네이트 커버 시트를 접합시켜서 상변화 광 디스크를 제조한 후 이 광 디스크를 초기화 장비를 이용하여 초기화 시킨다. 그 후 상술한 본 발명을 구현하기 위한 기록 펄스 파형을 광 디스크 드라이버와 평가 장비(예를 들어 Pulstec사의 DDU-1000 장비)를 이용하여 기록하고 재생한다.
이때, 기록 재생 조건은 다음과 같다.
채널 비트 클럭 = 132㎒(1T = 7.5757 nano second)
선형 속도(Linear Velocity) = 9.84m/s
디스크 용량 = 25GB/각 기록층, 싱글 사이드(single side)
지터 측정장비 : Yokogawa사 TA520
샘플링 : 30,000개
재생 레이저 파워(Reading Laser Power) = 0.7㎽
버텀 레이저 파워(Bottom Laser Power) = 0.1㎽
기록 레이저 파워(Write Laser Power) = 10.8㎽
소거 레이저 파워(Erase Laser Power) = 4.3㎽
디스크 측정 위치 : Position 30mm
On groove 기록(Land/Groove 기판의 볼록한 부분으로 빛이 먼저 닿는 부분)
Laser Wavelength = 408nm
지터는 리딩 에지와 트레일링 에지의 위치가 기준 위치인 PLL 클럭으로부터 벗어난 크기(Deviation)의 분포가 CBL(channel bit length)로 정규화(normalized)된 것을 말한다. N번 반복 기록 지터를 측정하기 위하여 한 트랙에 N회로 랜덤 한 펄스 파형(2T, 3T, 4~8T)이 임의로 섞인 파형을 이용하여 기록한다.
도 10은 열 간섭 현상이 매우 심각한 예를 보여 준 것이다. 도 10의 왼쪽 도면(10-1)에서, 2T와 3T마크가 구별이 안될 만큼 겹쳐 있고, 4T와 5T, 6T와 7T, 그리고 8T와 9T도 마찬가지이다(수평축). 도 10의 오른쪽 도면(10-2)에서는 스페이스의 경우를 보여 주고 있는데, 2T 스페이스를 제외하고는 분포가 매우 넓다(수평축).
이 경우, 2T와 3T의 경우는 종래 기록 펄스 파형 자체가 각각 독립적으로 제어가 가능하므로, 기준 위치(도면에서 선이 크로스(Cross)되는 부분)에 맞출 수 있다. 하지만, 기록 후 냉각 속도가 레이저 빔의 진행 속도에 비해 상대적으로 느린 구조일수록, 큰 마크와 큰 스페이스들의 열 간섭이 심해지고, 상기 기준 위치에 맞추도록 마크를 기록하기가 매우 어려워진다.
이러한 문제를 효과적으로 해결하기 위해, 본 발명에서는, 4T보다 큰 마크들을 4T, 6T. 및 8T의 짝수 채널 비트 렝스의 마크와 5T,7T, 및 9T의 홀수 채널 비트 렝스의 마크로 나누어, 기록 펄스 파형을 서로 다르게 제어하고, 본 발명에 따른 기록 결과가 도 11에 도시되어 있다.
도 11에 도시한 바와 같이, 각 마크와 스페이스는 모두 도 5보다 훨씬 정확한 위치에 도시됨, 즉 기록된 마크와 스페이스의 길이가 해당 채널 비트 렝스에 근접함을 알 수 있다. 도 10과 11은 지터(Jitter)를 data-to-data 방법으로 측정하여 도시한 것이다. 그리고, 도 12와 13은, 지터를 data-to-clock 방법으로 측정하여 도시한 것으로, 각각 리딩 에지와 트레일링 에지에서의 지터 값에 대해서, 본 발명과 종래 방법에 따라 직접 덮어 쓰기(DOW : Direct OverWrite)한 결과를 비교하고 있다. 도 12와 13은, 아래에 설명되는 도 19의 실시예에 대한 기록 결과이다.
도 14 내지 도 19에서는, 4T 이상의 마크를 짝수 개의 채널 비트 렝스를 갖는 마크(4T, 6T, 8T)와 홀수 개의 채널 비트 렝스를 갖는 마크(5T, 7T, 9T)로 구분하여, 해당 기록 펄스 파형을 다르게 제어하는 본 발명에 따른 여러 실시예를 도시하고 있다.
한 실시예로, 4T, 6T, 8T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서의 멀티 펄스와 라스트 펄스의 시작 위치를, 5T, 7T, 9T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서의 멀티 펄스와 라스트 펄스의 시작 위치와 다르게 조절할 수 있다. 도 14에서는, 4T, 6T, 8T의 멀티 펄스와 라스트 펄스는 상대적으로 왼쪽으로, 5T, 7T, 9T의 멀티 펄스와 라스트 펄스는 상대적으로 오른쪽으로 시작 위치를 조절하고 있다. 이 때, 멀티 펄스의 폭은 동일하다.
또한, 도 9에 도시한 바와 같이, 3T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스는, 상기 4T, 6T, 8T의 멀티 펄스와 라스트 펄스 및 5T, 7T, 9T의 멀티 펄스와 라스트 펄스와는 독립적으로 제어할 수 있다.
다른 실시예로, 4T, 6T, 8T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스를 제외한 멀티 펄스의 시작 위치를, 5T, 7T, 9T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스를 제외한 멀티 펄스의 시작 위치와 다르게 조절할 수 있다. 도 15에서는, 4T, 6T, 8T에서 라스트 펄스를 제외한 멀티 펄스는 상대적으로 왼쪽으로, 5T, 7T, 9T에서 라스트 펄스를 제외한 멀티 펄스는 상대적으로 오른쪽으로 시작 위치를 조절하고 있다. 이 때, 멀티 펄스의 폭은 4T, 6T, 8T의 경우와 5T, 7T, 9T가 서로 다를 수 있다.
또 다른 실시예로, 4T, 6T, 8T 기록 마크와 5T, 7T, 9T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스를 멀티 펄스와 다르게 조절하면서, 4T, 6T, 8T의 라스트 펄스와 5T, 7T, 9T의 라스트 펄스를 서로 다르게 조절할 수 있다. 도 16에서는, 4T, 6T, 8T에서 라스트 펄스의 폭과 5T, 7T, 9T에서 라스트 펄스의 폭을 서로 다르게 조절하고 있다.
또한, 도 16에 도시한 바와 같이, 3T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스의 폭을, 상기 4T, 6T, 8T의 라스트 펄스 및 5T, 7T, 9T의 라스트 펄스와 독립적으로 제어할 수 있다.
또 다른 실시예로, 4T, 6T, 8T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스의 시작 위치를, 5T, 7T, 9T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스 의 시작 위치와 다르게 조절할 수 있다. 도 17에서는, 4T, 6T, 8T에서 라스트 펄스는 상대적으로 왼쪽으로, 5T, 7T, 9T에서 라스트 펄스는 상대적으로 오른쪽으로 시작 위치를 조절하고 있다.
또한, 도 17에 도시한 바와 같이, 3T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스의 시작 위치를, 상기 4T, 6T, 8T의 라스트 펄스 및 5T, 7T, 9T의 라스트 펄스의 시작 위치와 독립적으로 제어할 수 있다.
또 다른 실시예로, 4T, 6T, 8T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 퍼스트 펄스의 시작 위치를, 5T, 7T, 9T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 퍼스트 펄스의 시작 위치와 다르게 조절할 수 있다. 또한, 4T, 6T, 8T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 퍼스트 펄스의 폭을, 5T, 7T, 9T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 퍼스트 펄스의 폭과 다르게 조절할 수도 있는데, 이에 대해 도 18에 도시되어 있다.
또 다른 실시예로, 4T, 6T, 8T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스 다음에 존재하는 냉각 시간을, 5T, 7T, 9T 기록 마크에 대응되는 기록 펄스에서 라스트 펄스 다음에 존재하는 냉각 시간과 다르게 조절할 수 있는데, 이에 대해 도 19에 도시되어 있다.
한편, 위의 실시예들은, 각 기록 마크를 해당 기록 마크의 채널 비트 렝스보다 하나 적은 개수의 기록 펄스로 기록하는 경우, 예를 들어, 2T는 1개의 기록 펄스, 3T는 2개의 기록 펄스, 4T는 3개의 기록 펄스, 등으로 기록 하는 경우에 대한 실시예들이다. 하지만, 기록 밀도가 올라가고, 기록 레이저 빔의 진행 속도가 빨 라지고, 기록층이 여러 층 있는 경우와 같이, 열 간섭 현상이 심각한 경우에는, 도 20에 도시한 바와 같이, 3T 마크를 2개의 기록 펄스가 아닌 하나의 기록 펄스만으로 기록할 때, 3T 및 다른 길이의 기록 마크가 더 좋은 결과를 가져올 수도 있다. 이 경우에도, 위의 도 14 내지 도 19의 실시예들을 적용할 수 있다.
상기와 같은 본 발명은, 기록 밀도와 기록 속도가 높아져 열 간섭 현상이 심각한 경우에도, 기록된 4T 이상의 마크와 스페이스의 길이가 해당 마크와 스페이스의 채널 비트 렝스에 더욱 근접하고, 기록된 각 마크와 스페이스의 분포가 명확히 구분되는 효과가 있다.
Claims (25)
- 각 기록 마크를 해당 채널 비트 렝스보다 하나 작은 개수의 기록 펄스로 기록하는 경우, 4T 이상의 기록 마크를, 채널 비트 렝스가 짝수인 기록 마크 제 1 그룹과 채널 비트 렝스가 홀수인 기록 마크 제 2 그룹의 두 그룹으로 나누어, 상기 두 그룹의 기록 펄스를 서로 다르게 제어하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 1항에 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 멀티 펄스와 라스트 펄스의 시작 위치를, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 2항에 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 멀티 펄스와 라스트 펄스의 폭이 동일한 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 2항에 있어서,3T에 대응되는 기록 펄스의 라스트 펄스를, 상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 멀티 펄스와 독립적으로 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 1항에 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스에서 멀티 펄스의 시작 위치를, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 5항에 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 멀티 펄스의 폭이 서로 다른 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 1항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 마지막 펄스를, 멀티 펄스와 독립적으로 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 7항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 마지막 펄스의 폭과, 상기 멀티 펄스의 폭이 서로 다른 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 7항 또는 제 8항 있어서,3T에 대응되는 기록 펄스의 마지막 펄스의 폭을, 상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 마지막 펄스와 독립적으로 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 1항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 마지막 펄스의 시작 위치를, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 10항에 있어서,3T에 대응되는 기록 펄스의 라스트 펄스의 시작 위치를, 상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 라스트 펄스의 시작 위치와 독립적으로 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 1항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스에서 퍼스트 펄스의 시작 위치를, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 1항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스에서 퍼스트 펄스의 폭을, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 1항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스에서 마지막 펄스 다음에 존재하는 냉각 기간을, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 3T는 하나의 기록 펄스로 기록하고, 3T를 제외한 기록 마크는 해당 채널 비트 렝스보다 하나 작은 개수의 기록 펄스로 기록하는 경우, 4T 이상의 기록 마크를, 채널 비트 렝스가 짝수인 기록 마크 제 1 그룹과 채널 비트 렝스가 홀수인 기록 마크 제 2 그룹의 두 그룹으로 나누어, 상기 두 그룹의 기록 펄스를 서로 다르게 제어하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 15항에 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 멀티 펄스와 라스트 펄스의 시작 위치를, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 15항에 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 멀티 펄스와 라스트 펄스의 폭이 동일한 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 15항에 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스에서 멀티 펄스의 시작 위치를, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 18항에 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 멀티 펄스의 폭이 서로 다른 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 15항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 마지막 펄스를, 멀티 펄스와 독립적으로 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 20항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 마지막 펄스의 폭과, 상기 멀티 펄스의 폭이 서로 다른 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 15항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스의 마지막 펄스의 시작 위치를, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
- 제 15항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스에서 퍼스트 펄스의 시작 위치를, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
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- 제 15항 있어서,상기 기록 마크 제 1 그룹과 기록 마크 제 2 그룹에 대응되는 기록 펄스에서 마지막 펄스 다음에 존재하는 냉각 기간을, 두 그룹이 서로 다르게 제어하는 것을 특징으로 하는 상변화 광 디스크의 기록 방법.
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