KR200460537Y1 - Gripper for Test Sample - Google Patents
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Abstract
본 고안은 시료 검사용 그립퍼에 관한 것이다. 시료(1)가 삽입되어 끼워져 연마면(1a)이 외부로 돌출되는 삽입부(110)와, 상기 시료를 가압하여 상기 삽입부에 밀착시키는 가압부(120)와, 상기 삽입부 및 가압부에 각각 연결되어 서로 교차되게 힌지결합된 자루(132)(134)를 포함하다. 이와 같은 구성에 의하면, 연마하여 검사하고자 하는 시료를 용이하게 잡고 연마할 수 있고 분석시에 취급이 용이하며 시료분석 시간을 단축할 수 있다는 효과가 있다.The present invention relates to a sample test gripper. The insertion part 110 in which the sample 1 is inserted and inserted so that the polishing surface 1a protrudes to the outside, the pressing part 120 which presses the sample to be in close contact with the insertion part, and the insertion part and the pressing part. Each connected bag includes hinges 132 and 134 hinged to cross each other. According to such a configuration, the sample to be inspected by grinding can be easily grasped and polished, the handling is easy during analysis, and the sample analysis time can be shortened.
Description
본 고안은 시료 검사용 그립퍼에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 제철공장에서 철강재 시료를 검사 분석하기 위해 시료면을 연마하고 취급하는 시료 검사용 그립퍼에 관한 것이다. The present invention relates to a sample inspection gripper, and more particularly to a sample inspection gripper for polishing and handling the sample surface for inspection analysis of steel samples in the steel mill.
일반적으로 체철공장에서 생산되는 철강재의 개재물, 입자 등을 검사하고 분석하기 위해서는 철강재 시료를 채취하여 일측면을 곱게 연마하여 현미경으로 관찰하여, 시료의 조직 등을 검사하고 분석하게 된다. In general, in order to inspect and analyze the inclusions, particles, etc. of the steel produced in the Checheol factory, the steel sample is taken, polished one side finely and observed under a microscope to examine and analyze the structure of the sample.
상기 철강재 시료(1)는 도1에 도시한 바와 같이, 일반적으로 원뿔대 형태로 채취하여 그 소경부 저면(1a)을 연마한 후, 연마한 면을 현미경으로 관찰하게 된다.As shown in Fig. 1, the steel sample 1 is generally taken in the form of a truncated cone, and the
그런데, 이와 같이 철강재 시료를 연마기에 연마할 때 시료를 손으로 잡고 연마하므로 손갈림 등의 안전사고가 종종 발생하게 되고 연마시의 발열로 말미암아 시료를 잡기가 용이하지 않는 등 시료를 취급하기가 불편하여 시료분석에 많은 시간이 걸린다는 문제점이 있다. However, when the steel sample is polished in the polishing machine, the sample is held by the hand and polished, so safety accidents such as hand-cracking are often caused, and it is inconvenient to handle the sample such that it is not easy to catch the sample due to the heat generated during polishing. There is a problem that takes a long time to analyze the sample.
따라서, 본 고안은 상기 문제점을 해결하기 위해 이루어진 것으로서, 본 고안의 목적은 시료를 안전하게 연마할 수 있고 시료를 취급하기가 용이하며 시료분석시간을 단축할 수 있는 시료 검사용 그립퍼를 제공하는 데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide a sample inspection gripper that can safely polish the sample, handle the sample easily, and reduce the sample analysis time. .
본 고안에 의한 시료 검사용 그립퍼는, 시료가 삽입되어 끼워져 연마면이 외부로 돌출되는 삽입부와, 상기 시료를 가압하여 상기 삽입부에 밀착시키는 가압부와, 상기 삽입부 및 가압부에 각각 연결되어 서로 교차되게 힌지결합된 자루를 포함한다.The sample inspection gripper according to the present invention includes an insert portion into which a sample is inserted and a polishing surface protrudes outward, a press portion for pressurizing the sample to be in close contact with the insert portion, and connecting the insert portion and the press portion, respectively. And a sack hinged to cross each other.
상기 시료를 연마함으로 인해 발생하는 열이 용이하게 방산되도록 상기 삽입부에는 다수의 방열구멍이 형성되어 있다.A plurality of heat dissipation holes are formed in the insert so that heat generated by grinding the sample is easily dissipated.
상기 삽입부는 양측이 트인 뿔대 통형이나 링형으로 되어 있다.The insertion portion has a horn cylindrical or ring shape with open sides.
본 고안에 의한 시료 검사용 그립퍼에 의하면, 연마하여 검사하고자 하는 시료를 용이하게 잡고 연마할 수 있고 분석시에 취급이 용이하며 시료분석 시간을 단 축할 수 있다는 효과가 있다.According to the sample inspection gripper according to the present invention, the sample to be inspected by grinding can be easily grasped and polished, easy to handle during analysis, and the sample analysis time can be shortened.
이하, 본 고안의 실시예에 대해 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다. 도2은 본 고안의 제1실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는 사시도이다. 도시한 바와 같이, 본 고안은 집게 형태로 되어 있으며, 시료(1 : 도1에 도시)가 삽입되어 끼워져 연마면(1a : 도1에 도시)이 외부로 돌출되는 삽입부(110)와, 상기 시료(1)를 가압하여 상기 삽입부(110)에 밀착시키는 가압부(120)와, 상기 삽입부(110) 및 가압부(120)에 각각 연결되어 서로 교차되게 힌지결합된 자루(132)(134)를 구비하며, 상기 자루(132)(134)의 단부에는 작업자가 손으로 잡도록 손잡이부(132a)(134a)가 형성되어 있다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. 2 is a perspective view showing a sample inspection gripper according to the first embodiment of the present invention. As shown, the present invention is in the form of tongs, the insert (110) is inserted into the sample (shown in Figure 1) and the polishing surface (1a: shown in Figure 1) protrudes to the outside, and The
상기 삽입부(110)는 양측이 트인 원뿔대 통형으로 되어 있으며, 상기 가압부(120)는 원판 형태로 되어 있다. 상기 자루(132)(134)의 단부(손잡이부의 반대측)는 상기 삽입부(110) 및 가압부(120)를 안정되게 지지하도록 양측으로 벌어져 삽입부(110) 및 가압부(120)의 외면에 연결되어 있으며, 자루(132)(134)의 중간부는 핀(140)에 의해 힌지결합되어 상기 손잡이부(132a)(134a)를 잡고 누르면 상기 삽입부(110)와 가압부(120)가 서로 대향하는 방향으로 회동하게 된다.The
도3는 본 고안의 제2실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는데, 본 실시예에서는 양측이 트인 원뿔대 통형으로 된 삽입부(210)의 외주면에는 상기 시료(1)를 연마함으로 인해 발생하는 열이 용이하게 방산되도록 다수의 방열구멍(211)이 형성되어 있다. 열이 용이하게 방산되도록 가압부(220)에도 방열구멍 (221)이 형성되어 있다. 나머지 구성은 제1실시예와 동일하므로 제1실시예와 동일한 부호를 붙이고 자세한 설명은 생략한다. Figure 3 shows a gripper for sample inspection according to a second embodiment of the present invention, in this embodiment the heat generated by grinding the sample (1) on the outer peripheral surface of the
도4는 본 고안의 제3실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는데, 본 실시예에서는 시료(1)가 끼워지는 삽입부(310)가 링형태로 되어 있다. 이러한 구성은 그립퍼의 중량이 적으므로 용이하게 핸들링할 수 있다. 나머지 구성은 제1실시예와 동일하므로 제1실시예와 동일한 부호를 붙이고 자세한 설명은 생략한다.Fig. 4 shows a gripper for sample inspection according to a third embodiment of the present invention. In this embodiment, the
도5는 본 고안의 제4실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는데, 본 실시예에서는 자루(132)(134)를 누르는 힘을 실린더기구(550)에 의해 가하도록 되어 있다. 상기 실린더기구(550)는 일반적으로 공압실린더가 바람직하여 실린더에는 공압을 가하는 공압라인이 연결된다. 나머지 구성은 제1실시예와 동일하므로 제1실시예와 동일한 부호를 붙이고 자세한 설명은 생략한다.Fig. 5 shows a sample inspection gripper according to a fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the
도6은 본 고안의 제5실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는데, 본 실시예에서는 자루(132)(134)를 누르는 힘을 스프링(660)에 의해 가하도록 되어 있다. 나머지 구성은 제1실시예와 동일하므로 제1실시예와 동일한 부호를 붙이고 자세한 설명은 생략한다.Fig. 6 shows a sample inspection gripper according to the fifth embodiment of the present invention. In this embodiment, a force for pressing the
도7는 본 고안의 제6실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는데, 본 실시예에서는 사각뿔 형태의 시료를 끼워져 집도록 사각뿔대 통형의 삽입부(710)와 사각판 형태의 가압부(720)를 구비한다. 나머지 구성은 제1실시예와 동일하므로 제1실시예와 동일한 부호를 붙이고 자세한 설명은 생략한다.7 shows a gripper for inspecting a sample according to a sixth embodiment of the present invention. In this embodiment, a cylindrical pyramid-shaped
도8은 도1의 시료(1)가 도2의 시료 검사용 그립퍼(제1실시예)의 삽입부(110) 에 끼워져 그 연마면(1a)이 하측으로 돌출되고 시료(1)의 상면에 가압부(120)가 밀착하여 집힌 상태를 나타낸다. 이와 같이 시료를 잡아 연마면(1a)을 용이하게 연마할 수 있고 연마로 인해 뜨거워진 시료(1)를 분석하기 위해 용이하게 이동시킬 수 있다.FIG. 8 shows that the sample 1 of FIG. 1 is inserted into the
도1은 본 고안이 적용되는 시료를 나타내는 사시도,1 is a perspective view showing a sample to which the present invention is applied;
도2는 본 고안의 제1실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는 사시도,2 is a perspective view showing a gripper for inspecting a sample according to a first embodiment of the present invention;
도3은 본 고안의 제2실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는 사시도,3 is a perspective view showing a gripper for sample inspection according to a second embodiment of the present invention;
도4는 본 고안의 제3실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는 사시도,4 is a perspective view showing a gripper for inspecting a sample according to a third embodiment of the present invention;
도5는 본 고안의 제4실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는 사시도,5 is a perspective view showing a gripper for inspecting a sample according to a fourth embodiment of the present invention;
도6은 본 고안의 제5실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는 사시도,6 is a perspective view showing a gripper for inspecting a sample according to a fifth embodiment of the present invention;
도7은 본 고안의 제6실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼를 나타내는 사시도,7 is a perspective view showing a gripper for sample inspection according to a sixth embodiment of the present invention;
도8은 본 고안의 제1실시예에 의한 시료 검사용 그립퍼로 시료를 잡은 상태도이다.8 is a diagram illustrating a state in which a sample is held by a sample inspection gripper according to the first embodiment of the present invention.
<도면은 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of symbols for main parts in drawings>
110 : 삽입부 120 : 가압부110: insertion portion 120: pressing portion
132, 134 : 자루 132a, 134a : 손잡이부132, 134:
140 : 핀 211, 221 : 방열구멍 140: fins 211, 221: heat dissipation hole
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2020090006032U KR200460537Y1 (en) | 2009-05-19 | 2009-05-19 | Gripper for Test Sample |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2020090006032U KR200460537Y1 (en) | 2009-05-19 | 2009-05-19 | Gripper for Test Sample |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100011555U KR20100011555U (en) | 2010-11-29 |
KR200460537Y1 true KR200460537Y1 (en) | 2012-05-25 |
Family
ID=44204213
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2020090006032U KR200460537Y1 (en) | 2009-05-19 | 2009-05-19 | Gripper for Test Sample |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR200460537Y1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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