KR20040094056A - 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 - Google Patents
박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20040094056A KR20040094056A KR1020030027990A KR20030027990A KR20040094056A KR 20040094056 A KR20040094056 A KR 20040094056A KR 1020030027990 A KR1020030027990 A KR 1020030027990A KR 20030027990 A KR20030027990 A KR 20030027990A KR 20040094056 A KR20040094056 A KR 20040094056A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- channel region
- thin film
- film transistor
- polycrystalline silicon
- grain boundary
- Prior art date
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 130
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 14
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 claims description 81
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 47
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 43
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 17
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 17
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 114
- 239000010408 film Substances 0.000 description 24
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 10
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 10
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 8
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 6
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 5
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- -1 acryl Chemical group 0.000 description 2
- 238000001505 atmospheric-pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001810 electrochemical catalytic reforming Methods 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000004518 low pressure chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 229920002098 polyfluorene Polymers 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- YOZHUJDVYMRYDM-UHFFFAOYSA-N 4-(4-anilinophenyl)-3-naphthalen-1-yl-n-phenylaniline Chemical compound C=1C=C(C=2C(=CC(NC=3C=CC=CC=3)=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=CC=1NC1=CC=CC=C1 YOZHUJDVYMRYDM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MBPCKEZNJVJYTC-UHFFFAOYSA-N 4-[4-(n-phenylanilino)phenyl]aniline Chemical compound C1=CC(N)=CC=C1C1=CC=C(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)C=C1 MBPCKEZNJVJYTC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- XCJYREBRNVKWGJ-UHFFFAOYSA-N copper(II) phthalocyanine Chemical compound [Cu+2].C12=CC=CC=C2C(N=C2[N-]C(C3=CC=CC=C32)=N2)=NC1=NC([C]1C=CC=CC1=1)=NC=1N=C1[C]3C=CC=CC3=C2[N-]1 XCJYREBRNVKWGJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 1
- RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N heliogen blue Chemical compound [Cu].[N-]1C2=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=NC([N-]1)=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=N2 RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 1
- 238000005224 laser annealing Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 1
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 1
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 1
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1222—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or crystalline structure of the active layer
- H01L27/1229—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or crystalline structure of the active layer with different crystal properties within a device or between different devices
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1259—Multistep manufacturing methods
- H01L27/127—Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement
- H01L27/1274—Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement using crystallisation of amorphous semiconductor or recrystallisation of crystalline semiconductor
- H01L27/1285—Multistep manufacturing methods with a particular formation, treatment or patterning of the active layer specially adapted to the circuit arrangement using crystallisation of amorphous semiconductor or recrystallisation of crystalline semiconductor using control of the annealing or irradiation parameters, e.g. using different scanning direction or intensity for different transistors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
- H01L27/1259—Multistep manufacturing methods
- H01L27/1296—Multistep manufacturing methods adapted to increase the uniformity of device parameters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/66—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/68—Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
- H01L29/76—Unipolar devices, e.g. field effect transistors
- H01L29/772—Field effect transistors
- H01L29/78—Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
- H01L29/786—Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
- H01L29/78651—Silicon transistors
- H01L29/7866—Non-monocrystalline silicon transistors
- H01L29/78672—Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor
- H01L29/78675—Polycrystalline or microcrystalline silicon transistor with normal-type structure, e.g. with top gate
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
- H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
- H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
- H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/02—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/04—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their crystalline structure, e.g. polycrystalline, cubic or particular orientation of crystalline planes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
- H10K59/121—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements
- H10K59/1213—Active-matrix OLED [AMOLED] displays characterised by the geometry or disposition of pixel elements the pixel elements being TFTs
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Thin Film Transistor (AREA)
Abstract
Description
Claims (28)
- 발광 소자;적어도 채널 영역을 갖는 반도체 활성층을 구비하고, 상기 발광 소자에 데이터 신호를 전달하기 위한 스위칭 박막 트랜지스터; 및적어도 채널 영역을 갖는 반도체 활성층을 구비하고, 상기 데이터신호에 따라서 상기 발광 소자에 소정의 전류가 흐르도록 상기 발광 소자를 구동하는 구동 박막 트랜지스터;를 포함하며,적어도 상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역과 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역은 서로 다른 방향을 갖도록 구비된 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제1항에 있어서,상기 각 채널 영역의 방향은 상기 스위칭 박막 트랜지스터와 구동 박막 트랜지스터의 각 채널 영역의 전류 이동도가 서로 다르게 되도록 이루어진 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제2항에 있어서,상기 각 채널 영역의 방향은 상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 이동도가 상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 이동도보다 크게 되도록 이루어진 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제1항에 있어서,상기 활성층은 다결정질 실리콘으로 구비된 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제4항에 있어서,상기 다결정질 실리콘은 이방성 결정립을 갖는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제5항에 있어서,상기 다결정질 실리콘의 결정립은 어느 한 방향의 길이가 이에 수직한 방향의 길이에 비해 적어도 1.5배가 되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제4항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,상기 각 채널 영역의 전류방향에 대해 상기 스위칭 박막 트랜지스터와 구동박막 트랜지스터의 각 채널 영역에서의 다결정질 실리콘의 결정립의 길이 방향이 이루는 각도가 서로 다른 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제7항에 있어서,상기 각 채널 영역의 방향은 상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 결정립의 길이 방향이 이루는 각도가 상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류방향에 대해 이 채널영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 결정립의 길이 방향이 이루는 각도보다 크게 되도록 이루어진 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제4항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,상기 다결정질 실리콘은 평행하게 배열된 제1결정입계와, 상기 제 1결정입계의 사이에 상기 제1결정입계에 대략 수직하도록 연장된 것으로, 그 입계간 거리가 상기 제1결정입계의 입계간 거리보다 큰 제2결정입계로 구비된 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제9항에 있어서,상기 각 채널 영역의 전류방향에 대해 상기 스위칭 박막 트랜지스터와 구동 박막 트랜지스터의 각 채널 영역에서의 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도가 서로 다른 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제10항에 있어서,상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도가 상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 길이 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도보다 큰 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제9항에 있어서,상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제2결정입계가 이루는 각도가 -45°내지 45°인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제9항에 있어서,상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도가 대략 90°인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제9항에 있어서,상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제2결정입계가 이루는 각도가 45°내지 135°인 것을특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제9항에 있어서,상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도가 대략 0°인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 발광 소자;다결정질 실리콘으로 형성된 것으로, 적어도 채널 영역을 갖는 반도체 활성층을 구비하고, 상기 발광 소자에 데이터 신호를 전달하기 위한 스위칭 박막 트랜지스터; 및다결정질 실리콘으로 형성된 것으로, 적어도 채널 영역을 갖는 반도체 활성층을 구비하고, 상기 데이터신호에 따라서 상기 발광 소자에 소정의 전류가 흐르도록 상기 발광 소자를 구동하는 구동 박막 트랜지스터;를 포함하며,적어도 상기 각 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 결정립의 길이방향이 이루는 각도가 상기 스위칭 박막 트랜지스터와 구동 박막 트랜지스터가 서로 다르게 구비된 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제16항에 있어서,상기 각 채널 영역의 전류방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 결정립의 길이방향이 이루는 각도는 상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 이동도가 상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 이동도보다 크게 되도록 이루어진 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제16항에 있어서,상기 다결정질 실리콘은 이방성 결정립을 갖는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제18항에 있어서,상기 다결정질 실리콘의 결정립은 어느 한 방향의 길이가 이에 수직한 방향의 길이에 비해 적어도 1.5배가 되는 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제16항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서,상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 결정립의 길이 방향이 이루는 각도가 상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류방향에 대해 이 채널영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 결정립의 길이 방향이 이루는 각도보다 큰 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제16항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서,상기 다결정질 실리콘은 평행하게 배열된 제1결정입계와, 상기 제 1결정입계의 사이에 상기 제1결정입계에 대략 수직하도록 연장된 것으로, 그 입계간 거리가 상기 제1결정입계의 입계간 거리보다 큰 제2결정입계로 구비된 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제18항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서,상기 다결정질 실리콘은 평행하게 배열된 제1결정입계와, 상기 제 1결정입계의 사이에 상기 제1결정입계에 대략 수직하도록 연장된 제2결정입계로 구비된 것을 특징으로 하는 평판표시장치.
- 제22항에 있어서,상기 각 채널 영역의 전류방향에 대해 상기 스위칭 박막 트랜지스터와 구동 박막 트랜지스터의 각 채널 영역에서의 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도가 서로 다른 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제23항에 있어서,상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도가 상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 길이 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도보다 큰 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제22항에 있어서,상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제2결정입계가 이루는 각도가 -45°내지 45°인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제22항에 있어서,상기 스위칭 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도가 대략 90°인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제22항에 있어서,상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제2결정입계가 이루는 각도가 45°내지 135°인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
- 제22항에 있어서,상기 구동 박막 트랜지스터의 채널 영역의 전류 방향에 대해 이 채널 영역을 형성하는 다결정질 실리콘의 제1결정입계가 이루는 각도가 대략 0°인 것을 특징으로 하는 평판 표시장치.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030027990A KR100544117B1 (ko) | 2003-05-01 | 2003-05-01 | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 |
US10/727,222 US7187005B2 (en) | 2003-05-01 | 2003-12-04 | Flat panel display with thin film transistor |
CNB2003101240574A CN100409275C (zh) | 2003-05-01 | 2003-12-31 | 具有薄膜晶体管的平板显示器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030027990A KR100544117B1 (ko) | 2003-05-01 | 2003-05-01 | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040094056A true KR20040094056A (ko) | 2004-11-09 |
KR100544117B1 KR100544117B1 (ko) | 2006-01-23 |
Family
ID=33308377
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030027990A KR100544117B1 (ko) | 2003-05-01 | 2003-05-01 | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7187005B2 (ko) |
KR (1) | KR100544117B1 (ko) |
CN (1) | CN100409275C (ko) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI258173B (en) * | 2004-10-08 | 2006-07-11 | Ind Tech Res Inst | Polysilicon thin-film ion sensitive FET device and fabrication method thereof |
JP4751061B2 (ja) * | 2004-12-21 | 2011-08-17 | 東芝モバイルディスプレイ株式会社 | 液晶表示装置 |
US20070096646A1 (en) * | 2005-10-28 | 2007-05-03 | Van Nice Harold L | Electroluminescent displays |
JP5175476B2 (ja) * | 2007-02-28 | 2013-04-03 | 三洋電機株式会社 | 回路装置の製造方法 |
US8344390B2 (en) * | 2007-10-31 | 2013-01-01 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Thin film active element group, thin film active element array, organic light emitting device, display apparatus, and thin film active element manufacturing method |
KR20100036624A (ko) * | 2008-09-30 | 2010-04-08 | 삼성전자주식회사 | 박막트랜지스터 기판 및 이를 갖는 유기발광 표시장치 |
KR101443153B1 (ko) * | 2011-07-12 | 2014-09-19 | 엘지디스플레이 주식회사 | 유기전계 발광소자 |
JP6378383B1 (ja) * | 2017-03-07 | 2018-08-22 | 株式会社東芝 | 半導体素子およびその製造方法 |
CN110233166A (zh) * | 2019-05-21 | 2019-09-13 | 武汉华星光电技术有限公司 | 显示面板及显示装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6337232B1 (en) * | 1995-06-07 | 2002-01-08 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Method of fabrication of a crystalline silicon thin film semiconductor with a thin channel region |
KR100292048B1 (ko) * | 1998-06-09 | 2001-07-12 | 구본준, 론 위라하디락사 | 박막트랜지스터액정표시장치의제조방법 |
JP4497596B2 (ja) * | 1999-09-30 | 2010-07-07 | 三洋電機株式会社 | 薄膜トランジスタ及び表示装置 |
JP2001109399A (ja) | 1999-10-04 | 2001-04-20 | Sanyo Electric Co Ltd | カラー表示装置 |
JP2001234163A (ja) * | 2000-02-25 | 2001-08-28 | Sony Corp | 発光性結晶粒子、発光性結晶粒子組成物、表示用パネル及び平面型表示装置 |
KR100487426B1 (ko) * | 2001-07-11 | 2005-05-04 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 폴리실리콘 결정화방법 그리고, 이를 이용한 폴리실리콘박막트랜지스터의 제조방법 및 액정표시소자의 제조방법 |
JP2003091245A (ja) * | 2001-09-18 | 2003-03-28 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 表示装置 |
-
2003
- 2003-05-01 KR KR1020030027990A patent/KR100544117B1/ko active IP Right Grant
- 2003-12-04 US US10/727,222 patent/US7187005B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-12-31 CN CNB2003101240574A patent/CN100409275C/zh not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1542707A (zh) | 2004-11-03 |
US20040217353A1 (en) | 2004-11-04 |
US7187005B2 (en) | 2007-03-06 |
KR100544117B1 (ko) | 2006-01-23 |
CN100409275C (zh) | 2008-08-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100496300B1 (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
US6501448B1 (en) | Electroluminescence display device with improved driving transistor structure | |
US9005697B2 (en) | Polysilicon thin film transistor array panel and manufacturing method thereof | |
US20060152644A1 (en) | Thin film transistor array panel | |
US20060157711A1 (en) | Thin film transistor array panel | |
KR100496297B1 (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
US7297980B2 (en) | Flat panel display device with polycrystalline silicon thin film transistor | |
KR100544117B1 (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
KR100490552B1 (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
KR100563060B1 (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
KR100553744B1 (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
KR100573108B1 (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
KR100604774B1 (ko) | 유기 발광 표시장치 | |
KR100501314B1 (ko) | 평판 표시 장치 | |
CN100517731C (zh) | 互补型金属氧化物半导体薄膜晶体管及具有其的显示装置 | |
KR100603288B1 (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 | |
KR20040094058A (ko) | 박막 트랜지스터를 구비한 평판표시장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
J201 | Request for trial against refusal decision | ||
B701 | Decision to grant | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130102 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140102 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141231 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151230 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170102 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180102 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190102 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191223 Year of fee payment: 15 |