KR20020083967A - Measurement method of cell voltage on LCD circuit using electric field sensor array - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A method for measuring a cell voltage of a contactless LCD substrate by using an electric field sensor array is provided to improve the simplicity and the precision of the measuring device in improved speed by the simplifying of the measurement mechanism. CONSTITUTION: A method for measuring a cell voltage of a contactless LCD substrate by using an electric field sensor array includes the steps of operating a cell array of an LCD substrate before injecting liquid crystal, scanning respective cells of the LCD substrate by an electric field sensor array contactlessly for measuring a voltage applied to ITO electrodes of the respective cells, and analyzing the measured voltage values of the respective cells for composing a voltage distribution of high resolution for the respective cells of the LCD substrate.

Description

전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 엘씨디 기판의 셀 전압 측정방법{Measurement method of cell voltage on LCD circuit using electric field sensor array}Measurement method of cell voltage on LCD circuit using electric field sensor array}

본 발명은 전계센서 어레이(electric field sensor array)를 이용한 비접촉식 LCD기판의 셀 전압 측정방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 LCD 기판을 제조하는 중에 LC 패널을 주입하기 이전에 전계센서 어레이를 이용하여 LCD 기판을 이루는 각 셀의 전압을 직접적으로 측정할 수 있도록 하는 전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 LCD기판의 셀 전압 측정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method for measuring cell voltage of a non-contact LCD substrate using an electric field sensor array, and more particularly, to an LCD using an electric field sensor array before injecting an LC panel during manufacturing an LCD substrate. The present invention relates to a cell voltage measuring method of a non-contact LCD substrate using an electric field sensor array that can directly measure the voltage of each cell constituting the substrate.

종래에는 LCD 기판의 대형화가 진행될수록 LCD 기판의 생산 수율의 증대와 공정관리의 효율성을 극대화하기 위해 LCD 기판을 생산하는 공정 중에 LCD 기판의 픽셀의 정상 작동 여부를 판정하고 있는데, 이를 위한 기술로서는 LCD 기판의 픽셀을 구성하는 ITO 전극의 전압을 측정하고, 이 전압에 의해 LCD 기판의 픽셀의 정상 작동 여부를 판정하는 기술이 적용되었다.Conventionally, as the size of the LCD substrate increases, it is determined whether the pixels of the LCD substrate operate normally during the process of producing the LCD substrate in order to increase the production yield of the LCD substrate and maximize the efficiency of the process management. The technique of measuring the voltage of the ITO electrode which comprises the pixel of a board | substrate, and determining the normal operation | movement of the pixel of an LCD substrate by this voltage was applied.

이를 위한 하나의 방법은 LCD 기판을 프로브 시스템(probe system)을 이용하여 각각의 ITO 전극을 직접 프로브 팁(probe tip)으로 프로빙(probing)하여 ITO 전극의 전압을 측정하는 방법을 들 수 있으나, 이 방법은 LCD 기판의 해상도가 증가, 즉 ITO 전극의 수(1024＊768*3=2359296)가 증가함에 따라 모든 ITO 전극을 프로브 시스템의 프로브 팁으로 프로빙한다는 것은 거의 불가능하다. 이를 극복하기 위해 종래에는 QA 레벨에서 일정부분의 샘플검사를 통해 LCD 기판의 픽셀의 양부 검사를 대신하고 있다.One method for this is to measure the voltage of the ITO electrode by probing each ITO electrode directly to the probe tip using a probe system (probe system), The method is nearly impossible to probe all ITO electrodes with the probe tip of the probe system as the resolution of the LCD substrate increases, i.e. the number of ITO electrodes (1024 * 768 * 3 = 2359296) increases. In order to overcome this problem, conventionally, a certain amount of sample inspection at the QA level replaces the inspection of the pixel of the LCD substrate.

다른 하나의 방법은 LC 패널(modulator)(30*30)과 외부의 LED 라이트 소스(light source)를 사용하여 LCD 기판을 가동하고, 모듈레이터를 이용하여 가상 LCD 모듈을 구성하여 비전(vision)으로 LC 패널의 구동을 판별 및 매핑(mapping)하며, 이를 이용하여 특정한 알고리즘을 통해 전압의 분포를 계산하는 방법이다.Another method is to operate the LCD substrate using an LC panel (30 * 30) and an external LED light source, and configure a virtual LCD module using the modulator to create a LC as a vision. The driving of the panel is determined and mapped, and the distribution of voltage is calculated by using a specific algorithm.

그러나, 이는 고가의 소모품인 모듈레이터를 사용하고 있을 뿐만 아니라 복잡하고도 고도한 기술을 요하는 비전 등을 사용하고 있어, 처리량(throughput)을 저하시키는 요인이 되기도 하고, 모듈레이터를 통하여 반사된 빛의 밝기를 이용하여 상대적인 전압을 유추해서 측정하고 있어, 정확한 전압강도를 측정하기에는 다소 불합리한 점이 있다.However, this not only uses an expensive consumable modulator, but also uses a complicated and advanced vision, which may cause a decrease in throughput and brightness of light reflected through the modulator. The relative voltages are inferred by using, and it is somewhat unreasonable to measure the exact voltage intensity.

상기한 바와 같은 결점을 해결하기 위한 본 발명은, 측정장치의 단순화 및 정밀도를 향상시킬 수 있고, 측정 메카니즘의 단순화로 측정속도를 향상시킬 수 있으며, 셀 전극에 대한 직접적인 전압 측정으로 정밀한 데이터를 취득할 수 있을뿐더러 LCD 기판 내의 모든 셀에 대한 전압 측정으로 고해상도 전압 분포도를 작성할 수 있도록 하는 전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 LCD기판의 셀 전압 측정방법을제공하는데 그 목적이 있다.The present invention for solving the above-described drawbacks can improve the simplification and accuracy of the measuring device, improve the measuring speed by simplifying the measuring mechanism, and obtain accurate data by measuring voltage directly on the cell electrode. In addition, the object of the present invention is to provide a cell voltage measurement method of a non-contact LCD substrate using an electric field sensor array that can generate a high resolution voltage distribution by measuring voltages of all cells in the LCD substrate.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 의한 전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 LCD기판의 셀 전압 측정방법은, LCD 기판을 생산하는 공정 중에 LCD 기판을 구성하는 각 셀의 정상 작동 여부를 판별하는 방법에 있어서, LCD 기판을 생산하는 공정 중에 LC를 주입하기 이전에 LCD 기판의 셀 어레이를 작동시키는 제1단계; 상기 LCD 기판의 각 셀을 전계센서 어레이를 이용하여 비접촉 방식으로 스캐닝(scanning)하여 각 셀의 ITO 전극에 걸린 전압을 측정하는 제2단계; 및 상기 전계센서 어레이에 의해 측정된 각 셀의 전압값을 분석해서 LCD 기판을 이루는 각 셀에 대한 고해상도의 전압 분포도를 작성하는 제3단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In the method of measuring the cell voltage of a non-contact LCD substrate using the field sensor array according to the present invention for achieving the above object, in the method for determining whether the normal operation of each cell constituting the LCD substrate during the process of producing the LCD substrate, Operating a cell array of the LCD substrate prior to injecting LC during the process of producing the LCD substrate; A second step of measuring a voltage applied to an ITO electrode of each cell by scanning each cell of the LCD substrate in a non-contact manner using an electric field sensor array; And a third step of analyzing a voltage value of each cell measured by the field sensor array to prepare a high-resolution voltage distribution diagram for each cell of the LCD substrate.

또한, 본 발명에 의한 전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 LCD기판의 셀 전압 측정방법에 있어서, 상기 전계센서 어레이는 공기부상(air floating) 방식에 의해 상기 LCD 기판의 셀과 일정거리를 유지한 상태에서 각 셀과의 측정거리를 정밀하게 제어하면서 상기 LCD 기판의 셀의 전압을 측정하는 것이 바람직하다.In addition, in the cell voltage measurement method of a non-contact LCD substrate using the field sensor array according to the present invention, the field sensor array is each in a state of maintaining a constant distance from the cell of the LCD substrate by an air floating (air floating) method It is desirable to measure the voltage of the cell of the LCD substrate while precisely controlling the measurement distance with the cell.

또한, 본 발명에 의한 전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 LCD 기판의 셀 전압 측정방법에 있어서, 상기 전계센서 어레이는 상기 LCD 기판의 셀과 일정거리를 유지한 상태에서 선형(liner) 방식으로 상기 LCD 기판의 각 셀을 직접적으로 스캐닝하는 것이 바람직하다.In addition, in the cell voltage measuring method of a non-contact LCD substrate using an electric field sensor array according to the present invention, the field sensor array of the LCD substrate in a linear (liner) state while maintaining a constant distance from the cell of the LCD substrate. It is desirable to scan each cell directly.

이하, 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail.

통상적으로, LCD 기판이 대형화되어감에 따라 LCD 기판을 생산하는 중에 실시하는 LCD 기판의 각 셀의 정상 작동 여부의 판별에 대한 중요성이 높아가고 있다.In general, as the LCD substrate becomes larger, the importance of determining whether each cell of the LCD substrate performed during the production of the LCD substrate is operating normally is increasing.

본 발명에 의한 LCD 기판을 생산하는 공정 중에 LCD 기판을 구성하는 각 셀의 정상 작동 여부를 판별하는 방법은, 우선 LCD 기판을 생산하는 공정 중에 LC를 주입하기 이전공정에서 LCD 기판의 어레이에 대한 전기적인 불량과 오염 등의 종류와 수량, 위치 그리고 그 불량의 특성을 분석하기 위해 해당 LCD 기판의 셀 어레이를 작동시킨다.The method for determining whether each cell constituting the LCD substrate is normally operated during the process of producing the LCD substrate according to the present invention, first of all the electricity to the array of the LCD substrate in the process before the LC injection The cell array of the LCD substrate is operated to analyze the type, quantity, location, and characteristics of the defects.

이어서, 작동된 LCD 기판의 각 셀을 공기노즐(air nozzle)과 공기부상 핀(air floating pin) 등으로 이루어진 전계센서 어레이를 이용하여 비접촉 방식으로 스캐닝(scanning)하여 각 셀의 ITO 전극에 걸린 전압을 측정한다.Subsequently, each cell of the operated LCD substrate is scanned in a non-contact manner by using an electric field sensor array including an air nozzle, an air floating pin, and the like, and a voltage applied to the ITO electrode of each cell. Measure

여기서, 전계센서 어레이는 공기노즐(air nozzle)과 공기부상 핀(air floating pin) 등으로 구성되어 있어, 공기부상(air floating) 방식에 의해 LCD 기판의 셀과 일정거리를 유지한 상태에서 각 셀과의 측정거리를 정밀하게 제어하면서 LCD 기판의 각 셀의 전압을 정밀하게 측정할 수 있는 특성을 갖는다.Here, the field sensor array is composed of an air nozzle, an air floating pin, and the like, and each cell is maintained at a predetermined distance from the cells of the LCD substrate by an air floating method. It has a characteristic that can precisely measure the voltage of each cell of the LCD substrate, while precisely controlling the measurement distance with the.

뿐만 아니라, 상기한 전계센서 어레이는 상기 LCD 기판의 셀과 일정거리를 유지한 상태에서 선형(liner) 방식으로 상기 LCD 기판의 각 셀을 직접적으로 스캐닝할 수 있는 특성을 갖는다.In addition, the field sensor array has a characteristic of directly scanning each cell of the LCD substrate in a linear manner while maintaining a constant distance from the cell of the LCD substrate.

위와 같이 다수개의 전계센서 어레이에 의해 측정된 각 셀의 전압값을 퍼스널 컴퓨터와 같은 각종 신호처리수단으로 분석해서 LCD 기판을 이루는 각 셀에 대한 고해상도의 전압 분포도를 작성한다. 물론, 이렇게 측정된 LCD 기판의 각 셀의전압값을 이용하여 LCD 기판을 이루는 각 셀의 정상 작동 여부를 판별할 수 있음은 당연하다.As described above, voltage values of each cell measured by the plurality of electric field sensor arrays are analyzed by various signal processing means such as a personal computer to prepare a high-resolution voltage distribution diagram for each cell of the LCD substrate. Of course, it is a matter of course that the normal operation of each cell constituting the LCD substrate can be determined using the measured voltage values of the cells of the LCD substrate.

또한, 본 발명은 전계센서 어레이에 의해 측정되는 파형을 분석하고, 이를 기초로 하여 매핑 소프트웨어(mapping software)의 개발을 위한 자료를 사용할 수 있는 것이다.In addition, the present invention can analyze the waveform measured by the field sensor array, and can use the material for the development of the mapping software based on this.

따라서 본 발명에 의하면 측정장치의 단순화 및 정밀도를 향상시킬 수 있고, 측정 메카니즘의 단순화로 측정속도를 향상시킬 수 있으며, 셀 전극에 대한 직접적인 전압 측정으로 정밀한 데이터를 취득할 수 있을뿐더러 LCD 기판 내의 모든 셀에 대한 전압 측정으로 고해상도 전압 분포도를 작성할 수 있는 효과가 있다.Therefore, according to the present invention, the measurement apparatus can be simplified and the precision can be improved, the measurement speed can be improved by the simplification of the measurement mechanism, and accurate data can be obtained by directly measuring the voltage of the cell electrode. The voltage measurement of the cell has the effect of creating a high-resolution voltage distribution.

Claims (3)

LCD 기판을 생산하는 공정 중에 LCD 기판을 구성하는 각 셀의 정상 작동 여부를 판별하는 방법에 있어서,In the method for determining whether the normal operation of each cell constituting the LCD substrate during the process of producing the LCD substrate, LCD 기판을 생산하는 공정 중에 LC를 주입하기 이전에 LCD 기판의 셀 어레이를 작동시키는 제1단계;Operating a cell array of the LCD substrate prior to injecting LC during the process of producing the LCD substrate; 상기 LCD 기판의 각 셀을 전계센서 어레이를 이용하여 비접촉 방식으로 스캐닝(scanning)하여 각 셀의 ITO 전극에 걸린 전압을 측정하는 제2단계; 및A second step of measuring a voltage applied to an ITO electrode of each cell by scanning each cell of the LCD substrate in a non-contact manner using an electric field sensor array; And 상기 전계센서 어레이에 의해 측정된 각 셀의 전압값을 분석해서 LCD 기판을 이루는 각 셀에 대한 고해상도의 전압 분포도를 작성하는 제3단계;A third step of analyzing a voltage value of each cell measured by the electric field sensor array to prepare a high-resolution voltage distribution diagram for each cell of an LCD substrate; 를 포함하는 것을 특징으로 하는 전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 LCD기판의 셀 전압 측정방법.Cell voltage measurement method of a non-contact LCD substrate using an electric field sensor array comprising a. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 전계센서 어레이는 공기부상(air floating) 방식에 의해 상기 LCD 기판의 셀과 일정거리를 유지한 상태에서 각 셀과의 측정거리를 정밀하게 제어하면서 상기 LCD 기판의 셀의 전압을 측정하는 것을 특징으로 하는 전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 LCD 기판의 셀 전압 측정방법.The field sensor array measures the voltage of the cell of the LCD substrate while precisely controlling the measurement distance with each cell while maintaining a constant distance from the cell of the LCD substrate by an air floating method. Cell voltage measurement method of a non-contact LCD substrate using an electric field sensor array. 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 전계센서 어레이는 상기 LCD 기판의 셀과 일정거리를 유지한 상태에서 선형(liner) 방식으로 상기 LCD 기판의 각 셀을 직접적으로 스캐닝하는 것을 특징으로 하는 전계센서 어레이를 이용한 비접촉식 LCD 기판의 셀 전압 측정방법.The field sensor array directly scans each cell of the LCD substrate in a linear manner while maintaining a constant distance from the cells of the LCD substrate. The cell voltage of the non-contact LCD substrate using the field sensor array. How to measure.
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TWI584247B (en) * 2011-01-07 2017-05-21 高麗大學校產學協力團 Method and apparatus for driving cell array driven by electric field

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