KR20010094590A - Device for measuring an EMI - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: An apparatus for measuring an EMI(Electro Magnetic Interference) is provided to measure accurately an impedance of a common mode side of a testing object by measuring a value of circulation current and a value of input current in each core. CONSTITUTION: An LISN(Line Impedance Stabilization Network)(420) maintains constantly an impedance supplied from an alternating current power supply part(400) to a testing object(470). A bypass portion(430) comprises condensers(C3,C4) for shortcircuiting a noise of a high frequency component and intercepting the noise of a low frequency component. The condensers(C3,C4) are an L line and an N line of the alternating current power supply part(400), respectively. A circulation current signal detector(440) detects a circulation current signal due to EMI generated from the testing object(470). An input current signal detector(450) detects an input current signal due to EMI generated from the testing object(470). A spectrum analyzer(460) receives the circulation current signal and the input current signal and analyzes the received signals.

Description

전자파 장해 측정 장치{Device for measuring an EMI}Electromagnetic interference measuring device {Device for measuring an EMI}

본 발명은 전자파 장해(Electro Magnetic Interference:EMI) 측정 장치에 관한 것으로서, 특히 피시험기(Device Under Test:DUT)에서 발생되는 공통 모드 (common mode:CM) 전자파 장해에 의한 노이즈(noise) 신호의 전류 값 측정을 통하여, 피시험기의 정확한 공통모드측 임피던스(impedance)를 구할 수 있는 전자파 장해 측정 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a device for measuring electromagnetic interference (EMI), and in particular, a current of a noise signal due to a common mode (CM) electromagnetic interference generated in a device under test (DUT). The present invention relates to an electromagnetic interference measuring apparatus capable of obtaining an accurate common mode side impedance of an EUT by measuring a value.

일반적으로, 전자파 장해는 크게 복사성 전자파 장해(radiated EMI)와 전도성 전자파 장해(conducted EMI)로 분류하며, 복사성 전자파 장해는 다시 복사 방출 (radiated emission:RE)과 복사 감응(radiated susceptibility:RS)으로 구분하며, 전도성 전자파 장해는 전도 방출(conducted emission:CE)과 전도 감응(conducted susceptibility:CS)으로 구분한다.In general, electromagnetic interference is largely classified into radiated EMI and conducted EMI. Radiated electromagnetic interference is again radiated emission (RE) and radiated susceptibility (RS). Conducted electromagnetic interference is divided into conduction emission (CE) and conduction susceptibility (CS).

한편, 도 1은 일반적인 전기 기기에서 발생되는 전도성 전자파 장해를 나타낸 도면이다. 도 1을 참조하면, 전기 기기(110)에서 발생되는 전도 방출 전자파 장해는 공통 모드(common mode:CM) 전도성 전자파 장해와 차동 모드(differential mode:DM) 전도성 전자파 장해로 구분할 수 있다. 그리고, 공통 모드 전도성 전자파장해의 노이즈 전압(VCM)은 교류 전원 공급부(100)의 그라운드(Ground:G) 선과 라인 (Line:L) 선 또는 G 선과 뉴트럴(Neutral:N) 선 사이에서 발생되고, 차동 모드 전도성 전자파 장해의 노이즈 전압(VDM)은 상기 교류 전원 공급부(100)의 N 선과 L 선 사이에서 발생된다. 이때, 상기 교류 전원 공급부(100)의 양단(L 선과 N 선)에는 공통 모드 전도성 전자파 장해의 노이즈 전압(VCM)과 차동 모드 전도성 전자파 장해의 노이즈 전압(VDM)의 합 또는 차이 만큼의 노이즈 전압(V1, V2)이 발생되며, 이에 따른 각 노이즈 전압(VCM, VDM, V1, V2) 상호 간의 관계식은 다음 수학식 1과 같다.On the other hand, Figure 1 is a diagram showing a conductive electromagnetic interference generated in a general electrical device. Referring to FIG. 1, the conductive emission electromagnetic interference generated in the electrical device 110 may be classified into a common mode (CM) conductive electromagnetic interference and a differential mode (DM) conductive electromagnetic interference. In addition, the noise voltage V CM of the common mode conductive electromagnetic interference is generated between a ground (G) line and a line (L :) line or a G line and a neutral (Neutral: N) line of the AC power supply unit 100. The noise voltage V DM of the differential mode conductive electromagnetic interference is generated between the N line and the L line of the AC power supply 100. At this time, both ends (L line and N line) of the AC power supply unit 100 noise equal to the sum or difference of the noise voltage (V CM ) of the common mode conductive electromagnetic interference and the noise voltage (V DM ) of the differential mode conductive electromagnetic interference. Voltages (V 1 , V 2 ) are generated, and the relation between each noise voltage (V CM , V DM , V 1 , V 2 ) is expressed by Equation 1 below.

공통 모드 노이즈 전압(VCM) = (V1+ V2)/2Common Mode Noise Voltage (V CM ) = (V 1 + V 2 ) / 2

차동 모드 노이즈 전압(VDM) = (V1- V2)/2Differential Mode Noise Voltage (V DM ) = (V 1 -V 2 ) / 2

이와 같은 전기 기기로부터 발생되는 전도성 전자파 장해의 노이즈 신호 크기를 측정하는 전도성 전자파 장해 측정 장치를 도 2에 나타내었다. 도 2는 종래의 공통 모드 전도성 전자파 장해 측정 장치를 나타낸 블록도이다.The conductive electromagnetic interference measurement apparatus for measuring the noise signal magnitude of the conductive electromagnetic interference generated from such an electrical device is shown in FIG. Figure 2 is a block diagram showing a conventional common mode conductive electromagnetic interference measuring device.

도 2를 참조하면, 공통 모드 전도성 전자파 장해 측정 장치(210)는, 측정하는 주파수에 대하여, 교류 전원 공급부(200)로부터 피시험기(220)에 인가되는 임피던스를 일정하게 유지시키는 전원선 임피던스 안정화 회로망(Line Impedance Stabilization Network:LISN)(211)과, 상기 피시험기(220)에서 발생되는 전자파 장해에 의한 전류 신호를 검출하는 코어(core)(212)와, 그 코어(212)에서 검출된 전류 신호를 입력받고, 그 입력된 신호를 분석하는 스펙트럼 분석기(spectrum analyzer)(214) 및 상기 코어(212)에서 검출된 전류 신호를 상기 스펙트럼 분석기 (214)로 전송하는 신호 전송부(213)를 포함한다.Referring to FIG. 2, the common mode conductive electromagnetic interference measuring device 210 is a power line impedance stabilization network that maintains a constant impedance applied from the AC power supply unit 200 to the EUT 220 with respect to a frequency to be measured. (Line Impedance Stabilization Network: LISN) 211, a core 212 for detecting a current signal due to electromagnetic interference generated in the tester 220, and a current signal detected at the core 212 A spectrum analyzer 214 for receiving the input signal and analyzing the input signal, and a signal transmitter 213 for transmitting the current signal detected by the core 212 to the spectrum analyzer 214. .

여기서, 도 2의 스위치 S1과 S2가 열린 상태에서는 상기 코어(212)에서 순환 전류(IL)가 검출되며, 상기 스위치 S1과 S2가 닫힌 상태에서는 상기 코어(212)에서 입력 전류(ISC)가 검출되는데 이때, 입력 전류(ISC)를 검출함에 있어서 순환 전류 (IL)가 미치는 영향도 포함되어 검출된다.Here, the circulating current I L is detected at the core 212 when the switches S1 and S2 of FIG. 2 are opened, and the input current I SC at the core 212 when the switches S1 and S2 are closed. In this case, the effect of the circulating current I L in detecting the input current I SC is also included.

한편, 도 3은 일반적인 RLC 병렬 공진 회로에서의 공진 시 전류의 흐름을 나타낸 도면이다.On the other hand, Figure 3 is a view showing the flow of current during the resonance in a general RLC parallel resonance circuit.

도 3을 참조하면, RLC 병렬 공진 회로에서 공진 시에는 입력 전류(ISC)가 저항(R)에만 흐르고, 인덕터(inductor)(L)와 콘덴서(condenser)(C)의 지로에는 상기 입력 전류(ISC)와는 무관한 순환 전류(IL)가 흐른다. 이때, 공진 주파수 0에서는 다음 수학식 2가 성립된다.Referring to FIG. 3, in the RLC parallel resonant circuit, when resonating, the input current I SC flows only in the resistor R, and the input current I is passed through the inductor L and the capacitor C. A circulating current I L flows irrespective of I SC ). At this time, the resonant frequency In 0 , the following equation (2) is established.

따라서, 상기 수학식 2를 이용하면, RLC 병렬 공진 회로에서의 공진 시 입력 전류(ISC) 값과 순환 전류(IL) 값의 측정을 통하여 Q(Quality factor) 값을 구할 수있다. 또한, 상기 Q 값으로부터 피시험기(220)의 임피던스를 구할 수 있다.Therefore, using Equation 2, the Q (Quality factor) value can be obtained by measuring the input current I SC value and the circulating current I L value during resonance in the RLC parallel resonance circuit. In addition, the impedance of the tester 220 can be obtained from the Q value.

그런데, 도 2에 나타낸 바와 같은 종래의 공통 모드 전도성 장해 측정 장치에서는 입력 전류(ISC) 값의 측정 시에, 순환 전류(IL)가 미치는 영향이 입력 전류 (ISC) 값에 포함되어 측정됨으로써, 피시험기의 정확한 임피던스를 측정할 수 없는 단점이 있다.However, in the conventional common mode conductivity disturbance measuring apparatus as shown in FIG. 2, when the input current I SC value is measured, the influence of the circulating current I L is included in the input current I SC value and measured. As a result, there is a disadvantage in that the accurate impedance of the EUT cannot be measured.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 감안하여 창출된 것으로서, 피시험기에서 발생되는 공통 모드 전자파 장해에 의한 노이즈 신호의 전류 값 측정을 통하여, 피시험기의 정확한 공통모드측 임피던스를 구할 수 있는 전자파 장해 측정 장치를 제공함에 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an electromagnetic interference measuring device capable of obtaining an accurate common mode side impedance of an EUT by measuring a current value of a noise signal by a common mode electromagnetic interference generated in an EUT. The purpose is to provide.

도 1은 일반적인 전기 기기에서 발생되는 전도성 전자파 장해를 나타낸 도면.1 is a view showing a conductive electromagnetic interference generated in a general electrical device.

도 2는 종래의 공통 모드 전도성 전자파 장해 측정 장치를 나타낸 블록도.Figure 2 is a block diagram showing a conventional common mode conductive electromagnetic interference measurement device.

도 3은 일반적인 RLC 병렬 공진 회로에서의 공진 시 전류의 흐름을 나타낸 도면.3 is a view showing a current flow during resonance in a general RLC parallel resonance circuit.

도 4는 본 발명에 따른 공통 모드 전도성 전자파 장해 측정 장치를 나타낸 블록도.Figure 4 is a block diagram showing a common mode conductive electromagnetic interference measuring device according to the present invention.

도 5는 도 4에 나타낸 블록도의 등가 회로를 나타낸 도면.FIG. 5 shows an equivalent circuit of the block diagram shown in FIG. 4. FIG.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for main parts of the drawings>

100, 200, 400... 교류 전원 공급부 110... 전기 기기100, 200, 400 AC power supply 110 Electric equipment

210, 410... 공통 모드 전도성 전자파 장해 측정 장치210, 410 ... Common mode conductive electromagnetic interference measuring device

211, 420... 전원선 임피던스 안정화 회로망211, 420 ... Power Line Impedance Stabilization Network

212... 코어 213... 신호 전송부212 ... Core 213 ... Signal Transmitter

214, 460... 스펙트럼 분석기 220, 470... 피시험기214, 460 ... Spectrum Analyzer 220, 470 ... EUT

430... 바이패스부 440... 순환 전류 신호 검출부430 ... bypass section 440 ... circulating current signal detector

441... 제 1 코어 442... 순환 전류 신호 전송부441 ... first core 442 ... circulating current signal transmitter

450... 입력 전류 신호 검출부 451... 제 1 스위치부450. Input current signal detector 451 ... First switch

452... 제 2 스위치부 453... 제 2 코어452 ... 2nd switch part 453 ... 2nd core

454... 입력 전류 신호 전송부454 ... input current signal transmitter

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 전자파 장해 측정 장치는,In order to achieve the above object, the electromagnetic interference measuring device according to the present invention,

측정 주파수에 대하여, 교류 전원 공급부로부터 피시험기에 인가되는 임피던스를 일정하게 유지시키는 전원선 임피던스 안정화 회로망(LISN)과;A power line impedance stabilization network (LISN) for maintaining a constant impedance applied from the AC power supply to the EUT with respect to the measurement frequency;

고주파 성분의 노이즈에 대해서는 단락(short)시키고 저주파 성분은 차단하는 콘덴서가, 상기 교류 전원 공급부의 L 선과 N 선에 각각 마련된 바이패스 (bypass)부와;A capacitor for shorting a high frequency component noise and blocking a low frequency component, the bypass portion being provided at L and N lines of the AC power supply unit, respectively;

상기 피시험기에서 발생되는 전자파 장해에 의한 순환 전류(IL) 신호를 검출하는 순환 전류 신호 검출부와;A circulating current signal detection unit for detecting a circulating current (I L ) signal due to electromagnetic interference generated by the EUT;

상기 피시험기에서 발생되는 전자파 장해에 의한 입력 전류(ISC) 신호를 검출하는 입력 전류 신호 검출부와;An input current signal detection unit for detecting an input current (I SC ) signal due to electromagnetic interference generated by the EUT;

상기 순환 전류 신호 검출부 및 입력 전류 신호 검출부로부터 각각 검출되는 순환 전류(IL) 신호 및 입력 전류(ISC) 신호를 입력받고, 그 입력된 신호를 분석하는 스펙트럼 분석기를 포함하는 점에 그 특징이 있다.And a spectrum analyzer for receiving a circulating current (I L ) signal and an input current (I SC ) signal detected from the circulating current signal detector and an input current signal detector, respectively, and analyzing the input signal. have.

여기서, 상기 순환 전류 검출부는,Here, the circulating current detector,

상기 피시험기에 인가되는 상기 교류 전원 공급부의 L 선 및 N 선이 그 내부 공간에 동일 방향으로 통과되어, 상기 순환 전류(IL)의 공통 모드 신호를 검출하는 제 1 코어와;A first core through which the L line and the N line of the AC power supply unit applied to the test unit pass in the same direction in the inner space to detect the common mode signal of the circulating current I L ;

상기 제 1 코어와 상기 교류 전원 공급부의 L 선의 출력 단자 사이에 마련된 제 1 인덕터와;A first inductor provided between the first core and an output terminal of an L line of the AC power supply unit;

상기 제 1 코어와 상기 교류 전원 공급부의 N 선의 출력 단자 사이에 마련된 제 2 인덕터; 및A second inductor provided between the first core and an output terminal of the N line of the AC power supply unit; And

상기 제 1 코어에서 검출된 순환 전류(IL) 신호를 상기 스펙트럼 분석기로 전송하는 순환 전류 신호 전송부를 구비하는 점에 그 특징이 있다.It is characterized in that it comprises a circulating current signal transmission unit for transmitting the cyclic current (I L ) signal detected by the first core to the spectrum analyzer.

또한, 상기 입력 전류 검출부는,In addition, the input current detector,

상기 피시험기에 인가되는 상기 교류 전원 공급부의 L 선과 G 선 사이에 연결되어, 저주파 성분은 차단하고 고주파 성분에 대해서는 단락시키는 제 1 콘덴서와, 제 1 저항 및 상기 교류 전원 공급부의 L 선과 G 선의 연결을 제어하는 제 1스위치가 마련된 제 1 스위치부와;A first capacitor connected between the L line and the G line of the AC power supply to be applied to the test unit, the low frequency component blocking and shorting the high frequency component, the first resistor and the L line and G line of the AC power supply A first switch unit provided with a first switch to control the switch;

상기 피시험기에 인가되는 상기 교류 전원 공급부의 N 선과 G 선 사이에 연결되어, 저주파 성분은 차단하고 고주파 성분에 대해서는 단락시키는 제 2 콘덴서와, 제 2 저항 및 상기 교류 전원 공급부의 N 선과 G 선의 연결을 제어하는 제 2 스위치가 마련된 제 2 스위치부와;A second capacitor connected between the N line and the G line of the AC power supply unit applied to the EUT, and blocking the low frequency component and shorting the high frequency component; and the second resistor and the N line and the G line of the AC power supply unit. A second switch unit provided with a second switch for controlling the switch;

상기 제 1 스위치부 및 제 2 스위치부의 연결에 의하여, 상기 교류 전원 공급부의 G 선에 각각 연결되는 상기 L 선과 N 선이 그 내부 공간에 동일 방향으로 통과되어, 상기 입력 전류(ISC)의 공통 모드 신호를 검출하는 제 2 코어; 및By connecting the first switch unit and the second switch unit, the L line and the N line respectively connected to the G line of the AC power supply unit pass in the same direction in the inner space, thereby sharing the common input current I SC . A second core detecting a mode signal; And

상기 제 2 코어에서 검출된 입력 전류(ISC) 신호를 상기 스펙트럼 분석기로 전송하는 입력 전류 신호 전송부를 구비하는 점에 그 특징이 있다.It is characterized in that it comprises an input current signal transmitting unit for transmitting the input current (I SC ) signal detected by the second core to the spectrum analyzer.

또한, 상기 제 1 저항 및 제 2 저항은 3Ω이하의 크기를 갖는다.In addition, the first resistor and the second resistor has a size of 3 kHz or less.

이와 같은 본 발명에 의하면, 피시험기에서 발생되는 공통 모드 전자파 장해에 의한 노이즈 신호의 전류 값 측정을 함에 있어서, 순환 전류(IL)와 입력 전류 (ISC)의 값을 별도의 코어에서 각각 측정함으로써, 피시험기의 정확한 임피던스를 구할 수 있는 장점이 있다.According to the present invention, in the measurement of the current value of the noise signal by the common mode electromagnetic interference generated in the EUT, the value of the circulating current (I L ) and the input current (I SC ) is measured in separate cores, respectively. By doing so, there is an advantage that the correct impedance of the EUT can be obtained.

이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 실시 예를 상세히 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 4는 본 발명에 따른 공통 모드 전도성 전자파 장해 측정 장치를 나타낸 블록도이다.Figure 4 is a block diagram showing a common mode conductive electromagnetic interference measuring device according to the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 공통 모드 전도성 전자파 장해 측정 장치(410)는, 측정 주파수에 대하여, 교류 전원 공급부(400)로부터 피시험기(470)에 인가되는 임피던스를 일정하게 유지시키는 전원선 임피던스 안정화 회로망(LISN) (420)과, 고주파 성분의 노이즈에 대해서는 단락시키고 저주파 성분은 차단하는 콘덴서(C3, C4)가, 상기 교류 전원 공급부의 L 선과 N 선에 각각 마련된 바이패스부 (430)와, 상기 피시험기(470)에서 발생되는 전자파 장해에 의한 순환 전류(IL) 신호를 검출하는 순환 전류 신호 검출부(440)와, 상기 피시험기(470)에서 발생되는 전자파 장해에 의한 입력 전류(ISC) 신호를 검출하는 입력 전류 신호 검출부(450)와, 상기 순환 전류 신호 검출부(440) 및 입력 전류 신호 검출부(450)로부터 각각 검출되는 순환 전류(IL) 신호 및 입력 전류(ISC) 신호를 입력받고, 그 입력된 신호를 분석하는 스펙트럼 분석기(460)를 포함한다.Referring to FIG. 4, the common mode conductive electromagnetic interference measuring device 410 according to the present invention is a power line for maintaining a constant impedance applied from the AC power supply unit 400 to the EUT under the measurement frequency. Impedance stabilization network (LISN) 420 and bypass sections 430 provided with capacitors C3 and C4 which short-circuit noise of high frequency components and block low frequency components, respectively, on the L and N lines of the AC power supply unit. And a circulating current signal detector 440 for detecting a circulating current (I L ) signal due to electromagnetic interference generated by the EUT, and an input current due to electromagnetic interference generated by the EUT (470). An input current signal detector 450 for detecting an I SC ) signal, a circulating current I L signal and an input current I SC detected by the circulating current signal detector 440 and the input current signal detector 450, respectively. And a spectrum analyzer 460 that receives the signal and analyzes the input signal.

여기서, 상기 순환 전류 검출부(440)는, 상기 피시험기(470)에 인가되는 상기 교류 전원 공급부(400)의 L 선 및 N 선이 그 내부 공간에 동일 방향으로 통과되어, 상기 순환 전류(IL)의 공통 모드 신호를 검출하는 제 1 코어(441)와, 상기 제 1 코어(441)와 상기 교류 전원 공급부(400)의 L 선의 출력 단자 사이에 마련된 제 1 인덕터(L1)와, 상기 제 1 코어(441)와 상기 교류 전원 공급부(400)의 N 선의 출력 단자 사이에 마련된 제 2 인덕터(L2) 및 상기 제 1 코어(441)에서 검출된 순환 전류(IL) 신호를 상기 스펙트럼 분석기(460)로 전송하는 순환 전류 신호 전송부(442)를 구비한다.Here, the circulating current detection unit 440, the L line and the N line of the AC power supply unit 400 applied to the test unit 470 passes in the same direction in the inner space, the circulating current (I L) A first core 441 that detects a common mode signal of the first signal, a first inductor L1 provided between the first core 441 and an output terminal of an L line of the AC power supply 400, and the first The spectrum analyzer 460 outputs a circulating current I L signal detected by the second inductor L2 and the first core 441 provided between the core 441 and the output terminal of the N line of the AC power supply 400. Circulating current signal transmission unit 442 for transmitting to.

또한, 상기 입력 전류 검출부(450)는, 상기 피시험기(470)에 인가되는 상기 교류 전원 공급부(400)의 L 선과 G 선 사이에 연결되어, 저주파 성분은 차단하고 고주파 성분에 대해서는 단락시키는 제 1 콘덴서(C1)와, 제 1 저항(R1) 및 상기 교류 전원 공급부(400)의 L 선과 G 선의 연결을 제어하는 제 1 스위치(S1)가 마련된 제 1 스위치부(451)와, 상기 피시험기(470)에 인가되는 상기 교류 전원 공급부 (400)의 N 선과 G 선 사이에 연결되어, 저주파 성분은 차단하고 고주파 성분에 대해서는 단락시키는 제 2 콘덴서(C2)와, 제 2 저항(R2) 및 상기 교류 전원 공급부 (400)의 N 선과 G 선의 연결을 제어하는 제 2 스위치(S2)가 마련된 제 2 스위치부와(452), 상기 제 1 스위치부(451) 및 제 2 스위치부(452)의 연결에 의하여, 상기 교류 전원 공급부(400)의 G 선에 각각 연결되는 상기 L 선과 N 선이 그 내부 공간에 동일 방향으로 통과되어, 상기 입력 전류(ISC)의 공통 모드 신호를 검출하는 제 2 코어(453) 및 상기 제 2 코어(453)에서 검출된 입력 전류(ISC) 신호를 상기 스펙트럼 분석기(460)로 전송하는 입력 전류 신호 전송부(454)를 구비한다.In addition, the input current detector 450 is connected between the L line and the G line of the AC power supply unit 400 applied to the EUT 470 to block the low frequency component and short the high frequency component. A first switch unit 451 provided with a condenser C1, a first resistor R1, and a first switch S1 for controlling the connection of the L line and the G line of the AC power supply unit 400; 470 is connected between the N line and the G line of the AC power supply unit 400, the second capacitor (C2) for blocking the low frequency components and short-circuit the high frequency components, the second resistor (R2) and the AC To the connection of the second switch unit 452, the first switch unit 451 and the second switch unit 452 provided with a second switch (S2) for controlling the connection of the N line and the G line of the power supply unit 400. By doing so, the L and N lines respectively connected to the G line of the AC power supply unit 400 is That are passed in the same direction in the inner space, wherein the second core 453 and the second core of the input current (I SC) signal detected at 453, for detecting a common-mode signal of the input current (I SC) An input current signal transmitter 454 is transmitted to the spectrum analyzer 460.

이와 같은 구성을 갖는 본 발명에 따른 전자파 장해 측정 장치(410)는, 상기 입력 전류 신호 검출부(450)의 제 1 스위치(S1)와 제 2 스위치(S2)가 열린 상태에서는 상기 순환 전류 신호 검출부(440)의 제 1 코어(441)에서 순환 전류(IL)가 검출되며, 상기 제 1 스위치(S1)와 제 2 스위치(S2)가 닫힌 상태에서는 상기 입력 전류 신호 검출부(450)의 제 2 코어(453)에서 입력 전류(ISC)가 검출된다.The electromagnetic interference measuring device 410 having the above configuration has the circulating current signal detection unit 410 in a state where the first switch S1 and the second switch S2 of the input current signal detection unit 450 are opened. The circulating current I L is detected at the first core 441 of 440, and the second core of the input current signal detector 450 is closed when the first switch S1 and the second switch S2 are closed. At 453, the input current I SC is detected.

한편, 도 5는 도 4에 나타낸 블록도의 등가 회로를 나타낸 도면이다.5 is a diagram illustrating an equivalent circuit of the block diagram shown in FIG. 4.

여기서, 도 5에 나타낸 등가 회로는, 피시험기(470)의 임피던스를 저항 성분 (RN)과 콘덴서 성분(CN)이 병렬로 연결된 임피던스로 모델링(modeling)할 수 있는 경우에 한정된다. 그런데, 대부분의 인버터(inverter) 장치는 공통 모드 전도성 전자파 장해가 발생되는 경우에 도 5에 나타낸 바와 같이 모델링할 수 있다.Here, the equivalent circuit shown in FIG. 5 is limited to the case where the impedance of the tester 470 can be modeled as an impedance in which the resistance component R N and the capacitor component C N are connected in parallel. However, most inverter devices can be modeled as shown in FIG. 5 when common mode conductive electromagnetic interference occurs.

그러면, 도 4 및 도 5를 참조하여, RLC 병렬 공진 회로에서의 공진 시, 피시험기(470)의 전도성 전자파 장해의 순환 전류(IL) 값과 입력 전류(ISC) 값을 측정하여, 상기 피시험기(470)의 임피던스를 구하는 과정을 설명해 보기로 한다.4 and 5, when resonating in the RLC parallel resonant circuit, the circulating current I L value and the input current I SC value of the conductive electromagnetic interference of the tester 470 are measured. The process of obtaining the impedance of the tester 470 will be described.

먼저, 도 4의 제 1 스위치(S1) 및 제 2 스위치(S2)가 열린 상태에서, 순환 전류 신호 검출부(440)의 제 1 코어(441)에는 순환 전류(IL)가 검출된다. 이때, 상기 순환 전류(IL)는 도 5의 인덕터(L)에 흐르는 전류로서, 여기서 상기 인덕터(L)의 값은 도 4의 제 1 인덕터(L1)와 제 2 인덕터(L2)가 병렬 연결된 것을 등가 회로로 나타낸 경우의 값이다.First, in a state in which the first switch S1 and the second switch S2 of FIG. 4 are open, the circulating current I L is detected in the first core 441 of the circulating current signal detector 440. In this case, the circulating current I L is a current flowing in the inductor L of FIG. 5, where the value of the inductor L is connected to the first inductor L1 and the second inductor L2 in FIG. 4 in parallel. This is a value when the equivalent circuit is shown.

또한, 도 4의 상기 제 1 스위치(S1) 및 제 2 스위치(S2)가 닫힌 상태에서, 입력 신호 검출부(450)의 제 2 코어(442)에는 입력 전류(ISC)가 검출된다. 이때, 상기 입력 신호 검출부(450)의 제 1 저항(R1) 및 제 2 저항(R2)은 도 5에 나타낸 피시험기(470)의 저항(RN)에 비해 매우 작은 값, 예컨대 3Ω이하의 저항 값을 갖도록 한다. 그러면, 도 5의 전류 IN은 상기 피시험기(470)의 저항(RN)보다는 주로 상기 제 1 저항(R1)과 제 2 저항(R2)의 등가 저항인 저항 R에 흐르게 되어, 공진 시에 IN의 값은 입력 전류 ISC의 값이 된다.In addition, while the first switch S1 and the second switch S2 of FIG. 4 are closed, an input current I SC is detected in the second core 442 of the input signal detector 450. In this case, the first resistor R1 and the second resistor R2 of the input signal detector 450 have a value very small compared to the resistance R N of the tester 470 illustrated in FIG. 5, for example, a resistance of 3 kΩ or less. To have a value. Then, the current I N of FIG. 5 flows mainly through the resistance R, which is an equivalent resistance of the first and second resistors R1 and R2, rather than the resistance R N of the test subject 470. The value of I N becomes the value of the input current I SC .

이에 따라, 측정된 순환 전류(IL) 값과 입력 전류(ISC) 값으로부터, 상기 수학식 2를 이용하여 공진점에서의 Q 값을 구할 수 있다. 또한, 도 5와 같은 등가 회로에 상기 수학식 2를 적용하여 상기 피시험기(470)의 임피던스 구성 성분인 저항 성분(RN)과 콘덴서 성분(CN)을 구하면 다음 수학식 3과 같이 나타낼 수 있다.Accordingly, from the measured circulating current I L value and the input current I SC value, the Q value at the resonance point can be obtained using Equation 2 above. In addition, by applying Equation 2 to the equivalent circuit as shown in FIG. 5 to obtain the resistance component (R N ) and the capacitor component (C N ) of the impedance components of the EUT 470 can be expressed as Equation 3 below. have.

이상의 설명에서와 같이 본 발명에 따른 전자파 장해 측정 장치는, 피시험기에서 발생되는 공통 모드 전자파 장해에 의한 노이즈 신호의 전류 값 측정을 함에 있어서, 순환 전류(IL)와 입력 전류(ISC)의 값을 별도의 코어에서 각각 측정함으로써, 피시험기의 정확한 임피던스를 구할 수 있는 장점이 있다.As described above, the electromagnetic interference measuring apparatus according to the present invention, in the measurement of the current value of the noise signal by the common mode electromagnetic interference generated in the EUT, the circulating current (I L ) and the input current (I SC ) By measuring the values in separate cores, there is an advantage in that the correct impedance of the EUT can be obtained.

Claims (4)

측정 주파수에 대하여, 교류 전원 공급부로부터 피시험기에 인가되는 임피던스를 일정하게 유지시키는 전원선 임피던스 안정화 회로망(LISN)과;A power line impedance stabilization network (LISN) for maintaining a constant impedance applied from the AC power supply to the EUT with respect to the measurement frequency; 고주파 성분의 노이즈에 대해서는 단락(short)시키고 저주파 성분은 차단하는 콘덴서가, 상기 교류 전원 공급부의 L 선과 N 선에 각각 마련된 바이패스 (bypass)부와;A capacitor for shorting a high frequency component noise and blocking a low frequency component, the bypass portion being provided at L and N lines of the AC power supply unit, respectively; 상기 피시험기에서 발생되는 전자파 장해에 의한 순환 전류(IL) 신호를 검출하는 순환 전류 신호 검출부와;A circulating current signal detection unit for detecting a circulating current (I L ) signal due to electromagnetic interference generated by the EUT; 상기 피시험기에서 발생되는 전자파 장해에 의한 입력 전류(ISC) 신호를 검출하는 입력 전류 신호 검출부와;An input current signal detection unit for detecting an input current (I SC ) signal due to electromagnetic interference generated by the EUT; 상기 순환 전류 신호 검출부 및 입력 전류 신호 검출부로부터 각각 검출되는 순환 전류(IL) 신호 및 입력 전류(ISC) 신호를 입력받고, 그 입력된 신호를 분석하는 스펙트럼 분석기를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 장해 측정 장치.And a spectrum analyzer configured to receive a circulating current (I L ) signal and an input current (I SC ) signal detected from the circulating current signal detector and an input current signal detector, respectively, and analyze the input signal. Obstacle measuring device. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 순환 전류 검출부는,The circulating current detector, 상기 피시험기에 인가되는 상기 교류 전원 공급부의 L 선 및 N 선이 그 내부 공간에 동일 방향으로 통과되어, 상기 순환 전류(IL)의 공통 모드 신호를 검출하는제 1 코어와;A first core through which the L line and the N line of the AC power supply unit applied to the test unit pass in the same direction in the inner space to detect the common mode signal of the circulating current I L ; 상기 제 1 코어와 상기 교류 전원 공급부의 L 선의 출력 단자 사이에 마련된 제 1 인덕터와;A first inductor provided between the first core and an output terminal of an L line of the AC power supply unit; 상기 제 1 코어와 상기 교류 전원 공급부의 N 선의 출력 단자 사이에 마련된 제 2 인덕터; 및A second inductor provided between the first core and an output terminal of the N line of the AC power supply unit; And 상기 제 1 코어에서 검출된 순환 전류(IL) 신호를 상기 스펙트럼 분석기로 전송하는 순환 전류 신호 전송부를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자파 장해 측정 장치.And a circulating current signal transmission unit configured to transmit the circulating current (I L ) signal detected by the first core to the spectrum analyzer. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 입력 전류 검출부는,The input current detector, 상기 피시험기에 인가되는 상기 교류 전원 공급부의 L 선과 G 선 사이에 연결되어, 저주파 성분은 차단하고 고주파 성분에 대해서는 단락시키는 제 1 콘덴서와, 제 1 저항 및 상기 교류 전원 공급부의 L 선과 G 선의 연결을 제어하는 제 1 스위치가 마련된 제 1 스위치부와;A first capacitor connected between the L line and the G line of the AC power supply to be applied to the test unit, the low frequency component blocking and shorting the high frequency component, the first resistor and the L line and G line of the AC power supply A first switch unit provided with a first switch to control the switch; 상기 피시험기에 인가되는 상기 교류 전원 공급부의 N 선과 G 선 사이에 연결되어, 저주파 성분은 차단하고 고주파 성분에 대해서는 단락시키는 제 2 콘덴서와, 제 2 저항 및 상기 교류 전원 공급부의 N 선과 G 선의 연결을 제어하는 제 2 스위치가 마련된 제 2 스위치부와;A second capacitor connected between the N line and the G line of the AC power supply unit applied to the EUT, and blocking the low frequency component and shorting the high frequency component; and the second resistor and the N line and the G line of the AC power supply unit. A second switch unit provided with a second switch for controlling the switch; 상기 제 1 스위치부 및 제 2 스위치부의 연결에 의하여, 상기 교류 전원 공급부의 G 선에 각각 연결되는 상기 L 선과 N 선이 그 내부 공간에 동일 방향으로 통과되어, 상기 입력 전류(ISC)의 공통 모드 신호를 검출하는 제 2 코어; 및By connecting the first switch unit and the second switch unit, the L line and the N line respectively connected to the G line of the AC power supply unit pass in the same direction in the inner space, thereby sharing the common input current I SC . A second core detecting a mode signal; And 상기 제 2 코어에서 검출된 입력 전류(ISC) 신호를 상기 스펙트럼 분석기로 전송하는 입력 전류 신호 전송부를 구비하는 것을 특징으로 하는 전자파 장해 측정 장치.And an input current signal transmission unit configured to transmit an input current (I SC ) signal detected by the second core to the spectrum analyzer. 제 3항에 있어서,The method of claim 3, wherein 상기 제 1 저항 및 제 2 저항은 3Ω이하의 크기를 갖는 것을 특징으로 하는 전자파 장해 측정 장치.And said first and second resistors have a magnitude of 3 kHz or less.
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