KR20010070768A - LCD aging test apparatus - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 박막 디스플레이 즉, LCD 에이징테스트 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 LCD의 적재 및 인출이 용이하고, 공간을 효율적으로 활용할 수 있을 뿐 아니라, 테스트의 효율을 높일 수 있는 새로운 구조의 박막 디스플레이 에이징 테스트 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a thin film display, that is, an LCD aging test apparatus, and more particularly, a thin film display having a new structure that can be easily loaded and taken out of an LCD, can efficiently use space, and can increase test efficiency. It relates to an aging test apparatus.
일반적으로, 박막 디스플레이, 즉, LCD는 내구성을 테스트하는 에이징테스트를 거쳐 출시된다. 이와같이 LCD의 내구성을 테스트하는 에이징테스트 장치는 본체의 내부에 히터나 쿨러 등이 구비되어, 내부의 온도와 습도 등을 조절할 수 있도록 된 것으로, 그 내부에 다수개의 LCD를 배치하여 구동시키면서 내부의 온도와 습도를 인위적으로 조절하여 극한상황을 연출하므로써, LCD의 내구성을 테스트할 수 있다.In general, thin-film displays, or LCDs, are released after aging tests to test their durability. As such, the aging test device for testing the durability of the LCD is provided with a heater or a cooler inside the main body so that the temperature and humidity can be adjusted. The inside temperature is driven by arranging and driving a plurality of LCDs therein. You can test the durability of your LCD by artificially adjusting the temperature and humidity to create extreme conditions.
이때, 상기 본체는 관찰창이 구비된 도어가 전면에 장착되며, 그 내부에는 LCD를 거치할 수 있는 다수개의 거치대가 구비되어, LCD를 수평면에서 대략 70°정도 새워진 상태로 배치할 수 있도록 구성된다. 또한, 본체에는 영상신호출력수단이 구비되어, 각 LCD를 이 영상신호출력수단에 연결하여 LCD를 구동시킬 수 있도록 구성된다.At this time, the main body is equipped with a door with an observation window is mounted on the front, the inside is provided with a plurality of holders for mounting the LCD, so that the LCD can be arranged in a state of about 70 ° leaked from the horizontal plane . In addition, the main body is provided with a video signal output means, and is configured to drive the LCD by connecting each LCD to the video signal output means.
따라서, 다수개의 LCD를 동시에 본체에 설치한 후, LCD를 상기 영상출력수단에 연결하여 구동시키면서, 상기 히터나 쿨러를 이용하여 본체 내부의 온도나 습도를 조절하여, 동시에 많은 수의 LCD를 테스트할 수 있다. 그리고, 테스트가 끝난 각각의 LCD는 별도의 후공정에서 다시한번 검사를 하여, 각 LCD의 이상유무를 확인하게 된다.Therefore, after installing a plurality of LCDs in the main body at the same time, while driving the LCD connected to the image output means, while controlling the temperature or humidity inside the main body using the heater or cooler, a large number of LCDs can be tested at the same time Can be. In addition, each tested LCD is checked once again in a separate post process to check whether each LCD is abnormal.
그런데, 이러한 에이징 테스트장치는 LCD를 대략 70°정도로 세워진 상태로 배치하게 되므로, LCD가 공간을 많이 차지하게 된다. 따라서, 테스트장치의 크기가 매우 커지는 문제점이 있었다. 또한, 이러한 에이징 테스트장치는 본체 전면의 도어를 통해 LCD를 설치하거나 꺼내게 되는데, 도어를 열 경우, 본체 내부의 온도나 습도가 달라지게 된다. 따라서, 일정한 온도와 습도를 유지하여야 하는 본체 내부의 테스트조건이 바뀌는 것을 방지하기 위하여, 한꺼번에 모든 LCD의 테스트를 동시에 진행하여, LCD를 테스트하는 도중에는 도어를 열 필요가 없도록 하고 있다. 그러나, 이와같이, 한꺼번에 LCD를 테스트하기 위해서는 동시에 많은 수의 LCD를 본체에 설치하여 테스트하고, 테스트가 끝난 많은 수의 LCD를 꺼내야 하기 때문에, LCD를 설치하고 꺼낼 때 집중적으로 작업인력이 필요하게 되므로, 인력을 효율적으로 활용하기 어려운 문제점이 있었다. 또한, LCD를 교체할 때는 테스트가 정지되므로, 테스트에 소요되는 시간이 길어져 생산성이 떨어지는 문제점이 있었다.However, since the aging test apparatus arranges the LCD upright at about 70 °, the LCD takes up a lot of space. Therefore, there is a problem that the size of the test apparatus is very large. In addition, the aging test apparatus is installed or taken out of the LCD through the door on the front of the main body, when the door is opened, the temperature or humidity inside the main body is changed. Therefore, in order to prevent the test conditions inside the main body from maintaining a constant temperature and humidity, all the LCDs are tested at the same time so that the doors do not need to be opened during the LCD test. However, in order to test the LCD at once, because a large number of LCDs must be installed and tested at the same time, and a large number of tested LCDs must be taken out, intensive workforce is required when installing and removing the LCDs. There was a problem that it was difficult to utilize manpower efficiently. In addition, since the test is stopped when replacing the LCD, the test takes a long time, there was a problem that the productivity is lowered.
특히, 테스트가 끝난 후 도어를 열면, 본체 내부의 온도와 습도가 상온으로 바뀌게 되므로, LCD를 다시 설치하여 테스트를 재개하기 위해서는 전술한 히터나 쿨러를 이용하여 본체 내부의 온도와 습도를 테스트조건으로 다시 조성하여야 하므로, 테스트를 재개하는데 많은 시간이 소요되는 문제점이 있었다.In particular, when the door is opened after the test is finished, the temperature and humidity inside the main body change to room temperature. Therefore, in order to restart the test by re-installing the LCD, the temperature and humidity inside the main body are set to the test condition using the heater or cooler described above. Since it has to be re-formed, there was a problem that it takes a long time to resume the test.
본 발명은 상기의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 목적은 LCD의 적재 및 인출이 용이하고, 공간을 효율적으로 활용할 수 있을 뿐 아니라, 테스트의 효율을 높일 수 있는 새로운 구조의 박막 디스플레이 에이징 테스트 장치를 제공하는 것이다.The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to facilitate the loading and withdrawal of the LCD, to effectively utilize the space, and to improve the test efficiency. To provide a device.
도 1은 본 발명에 따른 박막 디스플레이 에이징테스트 장치를 도시한 투시도1 is a perspective view showing a thin film display aging test apparatus according to the present invention
도 2는 도 1의 측단면도2 is a side cross-sectional view of FIG. 1
도 3은 상기 박막 디스플레이 에이징테스트 장치의 LCD순환기구를 도시한 구성도3 is a block diagram showing the LCD circulation mechanism of the thin film display aging test apparatus
도 4은 도 3의 측면도4 is a side view of FIG. 3
도 5는 본발명의 팔레트를 도시한 구성도5 is a block diagram showing a palette of the present invention
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>
2. LCD 4. 팔레트2. LCD 4. Pallet
6. 본체 10. 개구부6. Body 10. Opening
20,22,24,26. LCD순환기구 42. 영상신호출력수단20,22,24,26. LCD circulating mechanism 42. Video signal output means
44. 접점 46. 브러시44. Contacts 46. Brush
50. 잭50. Jack
본 발명에 따르면, 본체(6)의 내부에 다수개의 LCD(2)를 배치할 수 있도록 구성되어, 상기 본체(6)에 구비된 히터나 쿨러로 본체(6) 내부의 온도나 습도 등을 조절하여, LCD(2)의 내구성을 테스트할 수 있도록 된 에이징 테스트 장치에 있어서, 상기 본체(6)의 일측에는 LCD(2)를 투입 또는 배출하는 개구부(10)가 형성되고, 상기 본체(6)의 내부에는 상기 개구부(10)를 통해 투입된 LCD(2)를 순차적으로 적재하여 본체(6)의 내부에서 순환시킬 수 있도록 된 LCD순환기구(20,22,24,26)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 LCD 에이징 테스트 장치가 제공된다.According to the present invention, a plurality of LCDs 2 can be arranged inside the main body 6, and the temperature or humidity inside the main body 6 is controlled by a heater or a cooler provided in the main body 6. Thus, in the aging test apparatus that can test the durability of the LCD 2, an opening 10 for introducing or discharging the LCD 2 is formed on one side of the main body 6, the main body 6 In the interior of the LCD (2) input through the opening 10 is sequentially configured to include an LCD circulation mechanism (20, 22, 24, 26) to be circulated in the interior of the body (6) An LCD aging test apparatus is provided.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 상기 LCD(2)는 LCD(2)에 전기적으로 연결되는 잭(50)이 구비된 판형상의 팔레트(4)에 장착된 상태로 본체(6)의 개구부(10)로 투입되어, 상기 LCD순환기구(20,22,24,26)에 의해 순환되며, 상기 본체(6)에는 영상신호를 출력하는 영상신호출력수단(42)이 구비되고, 본체(6)의 내부에는 상기 영상신호출력수단(42)에 연결되며 상기 팔레트(4)의 이송경로를 따라 배치된접점(44)이 구비되며, 상기 팔레트(4)의 일측에는 상기 잭(50)에 연결된 브러시(46)가 구비되어, 이 브러시(46)가 상기 접점(44)에 접촉되어 영상신호출력수단(42)에서 출력된 영상신호를 LCD순환기구(20,22,24,26)에 의해 순환되는 LCD(2)로 전송하므로써, 테스트중에도 LCD(2)를 구동시킬 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 LCD 에이징 테스트 장치가 제공된다.According to another feature of the invention, the LCD 2 is an opening 10 of the body 6 in a state of being mounted on a plate-shaped pallet 4 with a jack 50 electrically connected to the LCD 2. The main body 6 is provided with a video signal output means 42 for outputting a video signal, and is circulated by the LCD circulation mechanisms 20, 22, 24, and 26. The contact point 44 is connected to the video signal output means 42 and disposed along a transport path of the pallet 4, and a brush 46 connected to the jack 50 is provided at one side of the pallet 4. LCD is circulated by the LCD circulation mechanisms 20, 22, 24, and 26, and the brush 46 is in contact with the contact point 44 so as to circulate the video signal output from the image signal output means 42. By transmitting to 2), there is provided an LCD aging test apparatus characterized in that the LCD 2 can be driven even during the test.
본 발명의 또다른 특징에 따르면, 상기 LCD순환기구(20,22,24,26)는 상기 본체(6)의 내부에 수직설치되어 팔레트(4)를 수직상승시킬 수 있도록 된 상승유닛(20)과, 이 상승유닛(20)의 상측에 장착되어 상승유닛(20)에 의해 상승된 팔레트(4)를 밀어 수평이송하는 푸셔(22)와, 이 푸셔(22)에 의해 수평이송된 팔레트(4)를 받아 하강시키는 하강유닛(24)과, 이 하강유닛(24)과 상승유닛(20)의 하측에 설치되어 하강유닛(24)에 의해 하강된 팔레트(4)를 상승유닛(20)으로 이송하는 컨베이어(26)를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 LCD 에이징 테스트 장치가 제공된다.According to another feature of the present invention, the LCD circulation mechanism (20, 22, 24, 26) is installed vertically in the interior of the main body (6) is a lifting unit 20 to vertically lift the pallet (4) And a pusher 22 mounted on the upper side of the raising unit 20 to push the pallet 4 raised by the raising unit 20 to move horizontally, and the pallet 4 moved horizontally by the pusher 22. A lowering unit 24 for receiving and lowering the upper and lowering units 24 and the lowering unit 24 and the lowering unit 20, and the pallet 4 lowered by the lowering unit 24 is transferred to the raising unit 20. Provided is an LCD aging test apparatus comprising a conveyor (26).
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 의거하여 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1내지 도 5는 본 발명에 따른 LCD 에이징 테스트 장치를 도시한 것으로, 본체(6)의 내부에 다수개의 LCD(2)를 배치할 수 있도록 구성되어, 상기 본체(6)에 구비된 히터나 쿨러로 본체(6) 내부의 온도나 습도 등을 조절하여, LCD(2)의 내구성을 테스트할 수 있도록 된 것은 종래와 동일하다. 이때, 상기 LCD(2)는 판형상의 팔레트(4)에 장착한 상태로 테스트하게 되며, 하나의 팔레트(4)에는 대략 4개의 LCD(2)를 장착할 수 있도록 구성된다.1 to 5 illustrate an LCD aging test apparatus according to the present invention, which is configured to arrange a plurality of LCDs 2 inside the main body 6, and includes a heater provided in the main body 6; The temperature and humidity inside the main body 6 are controlled with a cooler, and the durability of the LCD 2 can be tested. In this case, the LCD 2 is tested in a state of being mounted on a plate-shaped pallet 4, and one pallet 4 is configured to mount approximately four LCDs 2.
그리고, 상기 본체(6)는 대략 사각 박스형상으로 구성되며, 그 내부에 LCD(2)가 장착된 다수개의 팔레트(4)를 동시에 수납할 수 있는 수납부(8)가 형성된 것으로, 그 일측에는 개구부(10)가 형성되어, 이 개구부(10)를 통해 LCD(2)가 장착된 팔레트(4)를 투입하거나, 내부의 팔레트(4)를 외부로 배출할 수 있도록 구성된다. 이 개구부(10)는 수평방향으로 길게 형성되어, 상기 팔레트(4)를 눕힌 상태로 통과시킬 수 있도록 된 것으로, 그 전방에는 도어(12)가 승강가능하게 장착되어, 이 도어(12)를 승강시키므로써, 개구부(10)를 개폐할 수 있도록 구성된다. 또한, 이 개구부(10)의 전방에는 그 상면에 상기 팔레트(4)를 올려놓을 수 있도록 된 슬라이드패널(14)이 구비된다. 이 슬라이드패널(14)은 개구부(10)의 전방에 장착된 수평가이드(16)에 장착되며, 도시안된 구동장치에 의해 자동으로 전후 슬라이드되는 것으로, 전후진에 따라 상기 개구부(10)를 통해 본체(6)의 내측으로 출몰하여, 그 상면에 배치된 팔레트(4)를 본체(6)의 내부로 이송하는 기능을 한다. 그리고, 상기 슬라이드패널(14)에는 상기 팔레트(4)를 회동시켜 세울 수 있도록 된 스탠드기구가 구비된다. 따라서, 상기 팔레트(4)를 회동상승시켜 대략 70°정도로 세운 상태에서, 그 전면에 LCD(2)를 장착한 후, 이 스탠드기구로 팔레트(4)를 수평방향으로 눕히면, 상기 슬라이드패널(14)이 작동되어 본체(6)의 내부로 삽입되어, 팔레트(4)를 본체(6)의 내부로 이송하게 된다.In addition, the main body 6 is formed in a substantially rectangular box shape, and an accommodating part 8 for accommodating a plurality of pallets 4 on which the LCD 2 is mounted is formed therein, and at one side thereof. An opening 10 is formed, and through this opening 10, a pallet 4 on which the LCD 2 is mounted can be put or a pallet 4 inside can be discharged to the outside. The opening 10 is formed to be elongated in the horizontal direction so that the pallet 4 can be passed in a lying state, and the door 12 is mounted to be movable up and down, and the door 12 is lifted up and down. By doing so, the opening 10 can be opened and closed. In addition, in front of the opening 10, a slide panel 14 is provided on which the pallet 4 can be placed. The slide panel 14 is mounted to the horizontal guide 16 mounted in front of the opening 10, and is automatically slid back and forth by a driving device (not shown), the main body through the opening 10 in accordance with the forward and backward It penetrates inside of (6) and functions to convey the pallet 4 arrange | positioned at the upper surface inside the main body 6. As shown in FIG. In addition, the slide panel 14 is provided with a stand mechanism for rotating the pallet 4 to stand. Therefore, in the state where the pallet 4 is rotated and raised to about 70 °, the LCD 2 is mounted on the front surface thereof, and then the pallet 4 is laid down in the horizontal direction by the stand mechanism. ) Is operated to be inserted into the main body 6 to transport the pallet 4 into the main body 6.
그리고, 상기 본체(6)의 내부에는 상기 개구부(10)를 통해 투입된 LCD(2)를 순차적으로 적재하여 본체(6)의 내부에서 순환시킬 수 있도록 된 LCD순환기구(20,22,24,26)가 구비된다. 이 LCD순환기구(20,22,24,26)는 도 에 도시한 바와 같이, 상기 본체(6)의 내부에 수직설치되어 팔레트(4)를 수직상승시킬 수 있도록 된 상승유닛(20)과, 이 상승유닛(20)의 상측에 장착되어 상승유닛(20)에 의해 상승된 팔레트(4)를 밀어 수평이송하는 푸셔(22)와, 이 푸셔(22)에 의해 수평이송된 팔레트(4)를 받아 하강시키는 하강유닛(24)과, 이 하강유닛(24)과 상승유닛(20)의 하측에 설치되어 하강유닛(24)에 의해 하강된 팔레트(4)를 상승유닛(20)으로 이송하는 컨베이어(26)로 구성된다.In addition, the LCD circulation mechanisms 20, 22, 24, and 26 are configured to sequentially load the LCD 2 introduced through the opening 10 into the main body 6 to circulate inside the main body 6. ) Is provided. The LCD circulation mechanisms 20, 22, 24, and 26 are lift units 20 which are vertically installed inside the main body 6 to vertically lift the pallet 4, as shown in FIG. The pusher 22 mounted on the upper side of the raising unit 20 to push horizontally the pallet 4 lifted by the raising unit 20 and the pallet 4 horizontally transferred by the pusher 22 are moved. A lowering unit 24 to receive and lower the lowering unit, and a conveyor 4 installed at the lower side of the lowering unit 24 and the rising unit 20 to transfer the pallet 4 lowered by the lowering unit 24 to the rising unit 20. It consists of 26.
상기 상승유닛(20)은 도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이, 소정간격 이격되도록 본체(6)의 내부에 수직설치된 한쌍의 엘리베이터(30,34,36,38)를 이용하여, 팔레트(4)의 양단을 지지하여 상승시키거나 하강시킬 수 있도록 구성된다. 즉, 이 엘리베이터(30,34,36,38)는 본체(6)의 내부에 수직설치된 수직프레임(30)의 상하측에 각각 장착되어 구동모터(32)에 의해 구동되는 스프로켓(34)과, 이 스프로켓(34)에 걸린 체인(36)과, 이 체인(36)에 결합되어 체인(36)의 외측으로 연장된 다수개의 아암(38)으로 구성된 것으로, 이 엘리베이터(30,34,36,38)의 사이로 팔레트(4)를 공급하면, 팔레트(4)의 양단이 상기 아암(38)의 상면에 놓여 지지된다. 따라서, 상기 구동모터(32)를 구동시키면 체인(36)에 결합된 아암(38)이 상승되므로, 이 아암(38)에 지지된 팔레트(4)를 상승시킬 수 있다. 그리고, 상기 하강유닛(24) 역시 전술한 상승유닛(20)과 동일한 구조로 구성되며, 상기 구동모터(32)의 회전방향을 상승유닛(20)과 반대로 구동시켜, 아암(38)에 놓여진 팔레트(4)를 하강시킬 수 있다.As shown in FIGS. 3 and 4, the lifting unit 20 uses a pair of elevators 30, 34, 36, and 38 installed vertically inside the main body 6 so as to be spaced a predetermined interval apart. It is configured to raise or lower by supporting both ends. That is, the elevators (30, 34, 36, 38) are respectively mounted on the upper and lower sides of the vertical frame (30) installed vertically in the main body 6 and the sprocket (34) driven by the drive motor 32, It consists of a chain 36 hooked to the sprocket 34 and a plurality of arms 38 coupled to the chain 36 and extending out of the chain 36. The elevators 30, 34, 36, 38 When the pallet 4 is supplied between the two ends, both ends of the pallet 4 are placed and supported on the upper surface of the arm 38. Therefore, when the driving motor 32 is driven, the arm 38 coupled to the chain 36 is raised, so that the pallet 4 supported by the arm 38 can be raised. In addition, the lowering unit 24 also has the same structure as the above-mentioned lifting unit 20, and drives the rotational direction of the drive motor 32 opposite to the rising unit 20, the pallet placed on the arm 38 (4) can be lowered.
상기 푸셔(22)는 상승유닛(20)의 상단부에 설치된 실린더를 이용하여, 상승유닛(20)에 의해 상승된 팔레트(4)를 하강유닛(24)쪽으로 밀어내어, 팔레트(4)를 하강유닛(24)으로 이송할 수 있도록 구성된다. 상기 컨베이어(26)는 폭이 상기 엘리베이터(30,34,36,38)의 간격보다 좁게 형성되어, 하강유닛(24)과 상승유닛(20)의 하측, 즉, 소정간격 이격되도록 배치된 한쌍의 엘리베이터(30,34,36,38) 사이를 통과하도록 수평배치되는 것으로, 하강유닛(24)에 의해 하강된 팔레트(4)가 그 상면에 놓이면, 이 팔레트(4)를 수평이송하여 상승유닛(20)으로 공급하게 된다.The pusher 22 pushes the pallet 4 lifted by the lifting unit 20 toward the lowering unit 24 by using a cylinder installed at the upper end of the lifting unit 20, and lowers the pallet 4. It is configured to be able to transfer to (24). The conveyor 26 is formed in a width narrower than the interval of the elevator (30, 34, 36, 38), the lower side of the lowering unit 24 and the raising unit 20, that is, a pair of arranged to be spaced apart Horizontally arranged to pass between elevators 30, 34, 36 and 38, when the pallet 4 lowered by the lowering unit 24 is placed on its upper surface, the pallet 4 is horizontally transported to raise the lifting unit ( 20).
이때, 상기 상승유닛(20)은 본체(6)의 내부전방, 즉, 상기 개구부(10) 쪽에 배치되며, 상기 하강유닛(24)은 본체(6)의 내부 후방, 즉, 개구부(10)에서 먼 쪽에 배치되어, 개구부(10)로 팔레트(4)를 투입하면 상기 승강유닛에 의해 팔레트(4)가 승강되도록 구성된다. 따라서, 상기 슬라이드패널(14)에 의해 투입구로 투입된 팔레트(4)는 상기 상승유닛(20)에 의해 상승되어, 상기 푸셔(22)에 의해 하강유닛(24)으로 이송되어 하강된 후, 상기 컨베이어(26)에 의해 상승유닛(20)으로 이송되어 다시 상승되며, 팔레트(4)가 상기 개구부(10)의 높이까지 도달되면 슬라이드패널(14)이 이 팔레트(4)를 받아 개구부(10)로 배출하게 된다.At this time, the lifting unit 20 is disposed in the front of the main body 6, that is, the opening 10 side, the lowering unit 24 is the inner rear of the main body 6, that is, in the opening 10 It is arrange | positioned at the far side, and when the pallet 4 is thrown in to the opening part 10, it is comprised so that the pallet 4 may raise and lower by the said lifting unit. Therefore, the pallet 4 introduced into the inlet by the slide panel 14 is lifted by the lifting unit 20, transferred to the lowering unit 24 by the pusher 22, and lowered. It is conveyed to the lifting unit 20 by the 26 and is raised again. When the pallet 4 reaches the height of the opening 10, the slide panel 14 receives the pallet 4 to the opening 10. Will be discharged.
또한, 상기 본체(6)에는 영상신호출력수단(42)이 구비되어, 이 영상신호출력수단(42)에서 출력되는 영상신호를 상기 LCD순환기구(20,22,24,26)에 설치된 팔레트(4)에 전송하여, LCD(2)를 구동할 수 있도록 구성된다. 즉, 상기 본체(6)의 내부에는 상기 영상신호출력수단(42)에 연결되며 상기 팔레트(4)의 이송경로를 따라 배치된 접점(44)이 구비되며, 상기 팔레트(4)의 일측에는 상기 접점(44)에 전기적으로 연결되는 브러시(46)와, 이 브러시(46)에 연결되며 LCD(2)를 결합할 수 있도록 된 4개의 잭(50)이 구비된다. 상기 접점(44)은 본체(6)의 내부에 팔레트(4)의 이송경로, 특히, 팔레트(4)에 구비된 브러시(46)의 이송경로를 따라 배치된 지지프레임(52)에 구비되어, 상기 팔레트(4)가 이송될 때, 팔레트(4)에 구비된 브러시(46)가 접점(44)에서 떨어지지 않도록 구성된다. 상기 브러시(46)는 도 5에 도시한 바와 같이, 상기 팔레트(4)의 일측에 출몰가능하게 구비되어 스프링에 의해 돌출되도록 가압되는 것으로, 상기 팔레트(4)가 LCD순환기구(20,22,24,26)에 의해 순환되더라도 연속적으로 접점(44)에 접촉되어, 영상신호출력수단(42)에서 출력된 영상신호를 LCD(2)에 전송하게 된다. 따라서, 상기 팔레트(4)를 본체(6)의 내부에서 순환시키면서, 팔레트(4)에 장착된 LCD(2)에 영상신호를 전송하여 구동시킬 수 있다.In addition, the main body 6 is provided with a video signal output means 42, the video signal output from the video signal output means 42, the pallet (installed in the LCD circulation mechanism 20, 22, 24, 26) 4), the LCD 2 can be driven. That is, the inside of the main body 6 is provided with a contact point 44 connected to the image signal output means 42 and disposed along the conveying path of the pallet 4, and on one side of the pallet 4 A brush 46 electrically connected to the contact 44 and four jacks 50 connected to the brush 46 and configured to couple the LCD 2 are provided. The contact point 44 is provided in the support frame 52 disposed along the transfer path of the pallet 4, in particular, the transfer path of the brush 46 provided in the pallet 4, inside the main body 6, When the pallet 4 is conveyed, the brush 46 provided in the pallet 4 is configured not to fall off the contact 44. As shown in FIG. 5, the brush 46 is mounted on one side of the pallet 4 so as to be pushed to protrude by a spring, and the pallet 4 has an LCD circulation mechanism 20, 22,. Even if it is circulated by 24 and 26, it contacts the contact point 44 continuously, and transmits the video signal output from the video signal output means 42 to the LCD 2. As shown in FIG. Accordingly, the pallet 4 can be circulated inside the main body 6 to transmit and drive an image signal to the LCD 2 mounted on the pallet 4.
이와같이 구성된 LCD 에이징 테스트장치의 작동을 설명하면 다음과 같다.The operation of the LCD aging test apparatus configured as described above is as follows.
우선, 상기 슬라이드패널(14)이 본체(6)의 외부로 돌출되고, 상기 스탠드기구에 의해 팔레트(4)가 세워진 상태에서, 작업자가 별도의 컨베이어(26)에 의해 이송되는 LCD(2)를 상기 팔레트(4)의 잭(50)에 연결한 후 팔레트(4)를 눕히면, 상기 슬라이드패널(14)이 개구부(10)를 통해 본체(6)의 내부로 삽입되어, 팔레트(4)를 본체(6)의 내부로 공급하게 된다, 그리고, 슬라이드패널(14)에 의해 본체(6)의 내부로 공급된 팔레트(4)는 상기 LCD순환기구(20,22,24,26)에 의해 본체(6)의 내부에서 순환되며, 이때, 팔레트(4)의 일측에 구비된 브러시(46)가 본체(6)의 내부에 구비된 접점(44)에 계속적으로 접촉되므로, 팔레트(4)를 순환시켜 테스트할 때도, 상기 영상신호출력수단(42)에서 출력된 영상신호를 LCD(2)에 계속적으로 전송하여 LCD(2)를 구동시킨다.First, in the state where the slide panel 14 protrudes out of the main body 6 and the pallet 4 is erected by the stand mechanism, the operator moves the LCD 2 transported by a separate conveyor 26. When the pallet 4 is laid down after connecting to the jack 50 of the pallet 4, the slide panel 14 is inserted into the main body 6 through the opening 10, and the pallet 4 is connected to the main body. The pallet 4 supplied to the inside of the main body 6 by the slide panel 14 is supplied to the inside of the main body 6 by the LCD circulation mechanisms 20, 22, 24 and 26. 6) is circulated in the interior, and at this time, since the brush 46 provided on one side of the pallet 4 continuously contacts the contacts 44 provided in the main body 6, the pallet 4 is circulated. Even in the test, the video signal output from the video signal output means 42 is continuously transmitted to the LCD 2 to drive the LCD 2.
그리고, 팔레트(4)가 본체(6)의 내부에서 한바퀴 순환되어 개구부(10)의 위치로 도달되면, 상기 슬라이드패널(14)이 팔레트(4)를 받아 본체(6)의 외부로 배출하게 된다. 이때, 상기 슬라이드패널(14)에는 상기 영상신호출력수단(42)에 연결되는 별도의 접촉단자가 더 구비되어, 테스트가 완료되어 본체(6)의 외부로 배출된 팔레트(4)의 LCD(2)에 영상신호를 전송하여 LCD(2)를 구동시키므로써, 작업자가 최종적으로 LCD(2)의 이상유무를 육안으로 확인한 후, 이상이 없는 것이 확인된 LCD(2)는 팔레트(4)에서 빼내어 컨베이어(26)에 올려놓으므로써, 다음공정으로 이송할 수 있다.When the pallet 4 is circulated once in the main body 6 to reach the position of the opening 10, the slide panel 14 receives the pallet 4 and discharges it to the outside of the main body 6. . At this time, the slide panel 14 is further provided with a separate contact terminal connected to the image signal output means 42, the test is completed LCD (2) of the pallet (4) discharged to the outside of the main body (6) By operating the LCD 2 by transmitting an image signal to the operator, the operator finally visually checks whether the LCD 2 has any abnormality, and then removes the LCD 2 from the pallet 4 after checking that there is no abnormality. By mounting on the conveyor 26, it can transfer to the next process.
이와같이 구성된 LCD 에이징테스트 장치는 본체(6)의 일측에 형성된 개구부(10)를 통해 LCD(2)를 투입하고, 테스트가 끝난 LCD(2)만을 먼저 꺼내어 개구부(10)를 통해 외부로 배출할 수 있으므로, LCD(2)를 하나씩 계속적으로 교체하게 된다. 따라서, 테스트가 끝다면 본체(6) 내부에 설치된 LCD(2) 전체를 교체하여야 하는 종래의 테스트장치와 달리, LCD(2)를 교체하기 위해, 테스트를 정지시킬 필요가 없이 연속적인 테스트가 가능하므로, 테스트에 걸리는 시간을 줄일 수 있는 장점이 있다. 특히, 본체(6) 전면의 도어(12)를 개폐하여, LCD(2)를 교체할 때 내부의 온도나 습도가 달라지는 종래의 에이징 테스터와 달리, LCD(2)를 교체할 때본체(6) 내부의 온도나 습도가 변하지 않으므로, 테스트에 걸리는 시간을 더욱 절감할 수 있는 장점이 있다. 또한, LCD(2)를 한번에 하나씩 교체하므로, 한명의 작업자만으로 교체작업을 할 수 있어, 인력을 줄일 수 있는 장점이 있다.The LCD aging test apparatus configured as described above may input the LCD 2 through the opening 10 formed at one side of the main body 6, and take out only the tested LCD 2 first and discharge it to the outside through the opening 10. Therefore, the LCD 2 is continuously replaced one by one. Therefore, unlike the conventional test apparatus, in which the entire LCD 2 installed inside the main body 6 needs to be replaced when the test is completed, in order to replace the LCD 2, continuous testing is possible without having to stop the test. Therefore, there is an advantage that can reduce the time taken for testing. In particular, unlike the conventional aging tester in which the internal temperature or humidity is changed when the LCD 2 is replaced by opening and closing the door 12 on the front of the main body 6, when the LCD 2 is replaced, the main body 6 is replaced. Since the internal temperature or humidity does not change, the test time can be further reduced. In addition, since the LCD (2) is replaced one at a time, it can be replaced by only one worker, there is an advantage that can reduce the manpower.
그리고, 상기 거치대는 그 상면에 LCD(2)를 눕힌 상태로 적재하게 되므로, LCD(2)를 세워서 적재하는 종래의 에이징테스트 장치에 비해, 공간을 효율적으로 활용할 수 있는 장점이 있다.In addition, since the holder is loaded with the LCD 2 lying on its upper surface, there is an advantage in that the space can be efficiently used as compared to the conventional aging test apparatus in which the LCD 2 is placed upright.
이상에서와 같이 본 발명에 의하면, 본체(6)의 내부에 LCD(2)를 순환시키는 LCD순환기구(20,22,24,26)를 장착하여, 본체(6)의 개구부(10)로 투입된 LCD(2)를 본체(6)의 내부에서 순환시켜 테스트를 하므로써, LCD(2)의 적재 및 인출이 용이하고, 공간을 효율적으로 활용할 수 있을 뿐 아니라, 테스트의 효율을 높일 수 있는 새로운 구조의 박막 디스플레이 에이징 테스트 장치를 제공할 수 있다.As described above, according to the present invention, the LCD circulation mechanisms 20, 22, 24, and 26 for circulating the LCD 2 are mounted inside the main body 6, and are introduced into the openings 10 of the main body 6. By testing the LCD 2 by circulating the inside of the main body 6, the LCD 2 can be easily loaded and unloaded, the space can be utilized efficiently, and a new structure can be used to increase the test efficiency. A thin film display aging test apparatus can be provided.
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0031591A KR100472984B1 (en) | 2001-06-07 | 2001-06-07 | LCD aging test apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0031591A KR100472984B1 (en) | 2001-06-07 | 2001-06-07 | LCD aging test apparatus |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2020010016876U Division KR200250122Y1 (en) | 2001-06-07 | 2001-06-07 | LCD aging test apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010070768A true KR20010070768A (en) | 2001-07-27 |
KR100472984B1 KR100472984B1 (en) | 2005-03-08 |
Family
ID=19710454
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0031591A KR100472984B1 (en) | 2001-06-07 | 2001-06-07 | LCD aging test apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100472984B1 (en) |
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---|---|---|---|---|
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KR102602881B1 (en) * | 2023-09-04 | 2023-11-15 | 박정선 | Inspection Method of 7-segment Display Device |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100926048B1 (en) * | 2008-10-20 | 2009-11-11 | (주)대호테크 | Auto aging-testing device |
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KR200151055Y1 (en) * | 1996-11-06 | 1999-07-15 | 윤종용 | Lcd module edging device |
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100472984B1 (en) | 2005-03-08 |
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---|---|---|---|
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FPAY | Annual fee payment |
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Payment date: 20140213 Year of fee payment: 12 |
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