KR20000018577A - 액정 표시 장치 패널의 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

이 발명은 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 패널의 불량 검출력을 향상시킬 수 있는 방법에 관한 것으로서,
각각 게이트 어레이를 통해 연결되어 있는 다수의 검사 신호기를 통해 액정 표시 장치 패널의 각 OLB 패드 블록마다 동시에 신호를 인가하는 단계와, 액정 표시 장치 패널의 각 OLB 패드 블록 내의 쇼팅 바의 두께를 V/I 패드에서 멀어질수록 크게 하는 단계를 포함한다.

Description

액정 표시 장치 패널의 검사 방법
이 발명은 박막 트랜지스터 액정 표시 장치(TFT LCD) 패널의 검사 방법에 관한 것이다.
일반적인 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 패널의 검사 공정 중 IPT 테스트나 비쥬얼 인스펙션(visual inspection) 공정에서, 전체 게이트 라인 및 데이터 라인의 불량을 테스트하기 위해 각각 하나의 게이트 쇼팅 바와 데이터 쇼팅 바를 사용하는 1게이트-1데이터 쇼팅 바 방식을 사용하게 되면 불량 검출력이 떨어진다는 문제점이 있다.
따라서, 불량 검출력의 향상을 위해 일반적으로 2게이트 및 2데이터(이하 "2G2D") 쇼팅 바를 이용하여 게이트 라인과 데이터 라인의 불량을 테스트하게 되는데, 이 방법에도 몇가지 해결해야 할 과제가 존재한다.
즉, 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 패널의 대형화에 따른 패널 부하(load)의 증가로 인해 게이트 라인과 데이터 라인의 불량을 테스트하기 위한 테스팅 신호를 발생하는 검사 신호기의 출력 성능의 향상이 요구된다는 것이다. 도 1은 종래 액정 표시 장치 패널의 테스팅 신호 인가 방법을 나타낸 것으로서, 도 1에 도시된 바와 같이 전체 라인의 테스팅 신호를 발생하는 일을 하나의 검사 신호기가 담당하는 경우에는 검사 신호기의 출력 성능이 불량 검출력을 좌우하는 매우 중요한 요소가 아닐 수 없다.
또한, 패널 제작시 코스트 다운(cost down)의 일환으로 OLB 패드의 블록수를 감소시킴에 따라 각 OLB 패드 블록에 할당되며 상기 테스팅 신호를 인가받아 각 라인에 전달하는 쇼팅 바의 거리가 증가(저항 증가)하고 각 OLB 패드 블록에 묶이는 라인의 수가 증가(커패시턴스 증가)하기 때문에 전체적인 부하가 증가한다는 문제점이 있다. 도 2는 종래 액정 표시 장치 패널에서 2G2D 쇼팅 바를 나타낸 것으로서, 상기 쇼팅 바는 검사 신호기로부터 출력되는 테스팅 신호를 V/I 패드를 통해 인가받는다.
그러나, 이러한 부하의 증가는 V/I 패드에 인가되는 테스팅 신호의 왜곡을 유발하기 때문에, 역시 불량 검출력을 저하시키는 요인이 될 수 있다. 그리고 이러한 테스팅 신호의 왜곡은 V/I 패드 인접 부위의 OLB 패드 블록에서는 작게 나타나고 V/I 패드에서 멀어질수록 크게 나타남을 볼 수 있다.
따라서 이 발명의 과제는 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 패널의 불량 검출력을 향상시킬 수 있는 방법을 제공하는 데에 있다.
도 1은 종래 액정 표시 장치 패널의 테스팅 신호 인가 방법을 나타낸 것이다.
도 2는 종래 액정 표시 장치 패널에서 2게이트 및 2데이터 쇼팅 바(shorting bar)를 나타낸 것이다.
도 3은 이 발명에 따른 액정 표시 장치 패널의 테스팅 신호 인가 방법을 나타낸 것이다.
도 4는 이 발명에 따른 액정 표시 장치 패널에서 2게이트 및 2데이터 쇼팅 바를 나타낸 것이다.
상기의 과제를 달성하기 위한 이 발명에 따른 검사 방법은,
각각 게이트 어레이를 통해 연결되어 있는 다수의 검사 신호기를 통해 액정 표시 장치 패널의 각 OLB 패드 블록마다 동시에 신호를 인가하는 단계를 포함한다.
상기의 과제를 달성하기 위한 이 발명에 따른 다른 검사 방법은,
액정 표시 장치 패널의 각 OLB 패드 블록 내의 쇼팅 바의 두께를 V/I 패드에서 멀어질수록 크게 하는 단계를 포함한다.
이하, 이 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 이 발명을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 이 발명의 바람직한 실시예에 대하여 첨부된 도면을 참조로 설명하기로 한다.
도 3은 이 발명에 따른 액정 표시 장치 패널의 테스팅 신호 인가 방법을 나타낸 것이고, 도 4는 이 발명에 따른 액정 표시 장치 패널에서 2G2D 쇼팅 바를 나타낸 것이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 이 발명에서 액정 표시 장치 패널을 검사하기 위해 각각 게이트 어레이를 통해 연결되어 있는 다수의 검사 신호기를 통해 액정 표시 장치 패널의 각 OLB 패드 블록마다 동시에 신호를 인가한다. 그리고, 여기서 사용되는 게이트 어레이는 다수의 검사 신호기가 일정한 타이밍에 동기해서 동작할 수 있도록 제어하는 기능을 수행한다.
이처럼, 각 OLB 패드 블록마다 별도의 검사 신호기를 통해 테스팅 신호를 인가하게 되면 검사 신호기의 출력 상승 효과를 얻을 수 있고, 이 때 각각의 검사 신호기는 게이트 어레이와 연결되어 있기 때문에 OLB 패드 블록에 동시에 테스팅 신호가 인가될 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이 이 발명에 따른 액정 표시 장치 패널의 다른 검사 방법에는, 액정 표시 장치 패널의 각 OLB 패드 블록 내의 쇼팅 바의 두께를 V/I 패드에서 멀어질수록 크게 하는 단계를 포함한다.
이러한 방법은 OLB 패드 블록에서 부분별 저항값의 차이에 따른 부하 변동으로 인해 발생하는 테스팅 신호의 왜곡을 줄여 검사 공정의 불량 검출력을 향상시키는 방법인데, 동일 OLB 패드 블록 상에서는 V/I 패드에서 멀리 떨어진 부분일수록 저항의 증가로 인해 부하가 증가하여 테스팅 신호의 왜곡이 심해지므로, 이 부분에 해당하는 쇼팅 바의 두께를 증가시킴으로써 부하를 줄여 신호 인가의 균일성을 향상시킬 수 있다.
상기와 같은 액정 표시 장치 패널 검사 방법의 효과는, 검사 신호기 출력 성능의 개량 없이도 간단한 방법으로 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 패널의 불량 검출력을 향상시킬 수 있다는 것이다.

Claims (2)

  1. 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 패널을 검사하는 데에 있어서,
    각각 게이트 어레이를 통해 연결되어 있는 다수의 검사 신호기를 통해 상기 액정 표시 장치 패널의 각 OLB 패드 블록마다 동시에 신호를 인가하는 단계를 포함하는 검사 방법.
  2. 박막 트랜지스터 액정 표시 장치 패널을 검사하는 데에 있어서,
    상기 액정 표시 장치 패널의 각 OLB 패드 블록 내의 쇼팅 바의 두께를 V/I 패드에서 멀어질수록 크게 하는 단계를 포함하는 검사 방법.
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