KR102673835B1

KR102673835B1 - Method to compensate deterioration of display and electronic device applying the method

Info

Publication number: KR102673835B1
Application number: KR1020200015432A
Authority: KR
Inventors: 최승규; 김한여울; 양병덕; 장동준; 한동균
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2020-02-10
Filing date: 2020-02-10
Publication date: 2024-06-11
Also published as: WO2021162281A1; KR20210101437A

Abstract

하우징, 상기 하우징에 배치되고 복수의 화소들을 이용하여 화면을 표시하는 디스플레이, 상기 디스플레이를 구동하는 디스플레이 구동 회로, 상기 디스플레이 구동 회로와 작동적으로 연결된 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는, 사용 패턴에 기반하여 디스플레이를 샘플링하는 주기를 가변시키고, 상기 디스플레이의 사용 시간이 제1 시간을 초과한 경우, 상기 디스플레이의 열화 정도를 나타내는 스트레스 맵을 업데이트하고, 지정된 이벤트가 발생하거나 상기 업데이트 된 스트레스 맵의 균일도, 히스토그램 분포 및/또는 분산 값에 기반하여 헤비 유저에 해당하는 경우, 상기 스트레스 맵에 기반하여 보상 기준을 설정하고, 상기 보상 기준에 따라 보상 데이터를 생성하여 상기 디스플레이 구동 회로로 전달하도록 설정된 전자 장치가 개시된다. 이 외에도 명세서를 통해 파악되는 다양한 실시 예가 가능하다.A housing, a display disposed in the housing and displaying a screen using a plurality of pixels, a display driving circuit for driving the display, and a processor operatively connected to the display driving circuit, wherein the processor is based on a usage pattern. to vary the display sampling period, and when the usage time of the display exceeds a first time, update a stress map indicating the degree of deterioration of the display, and when a designated event occurs or the uniformity of the updated stress map, If a heavy user is based on the histogram distribution and/or variance value, an electronic device is set to set a compensation standard based on the stress map, generate compensation data according to the compensation standard, and transmit it to the display driving circuit. It begins. In addition to this, various embodiments identified through the specification are possible.

Description

디스플레이의 열화를 보상하는 방법 및 그 방법을 적용한 전자 장치{METHOD TO COMPENSATE DETERIORATION OF DISPLAY AND ELECTRONIC DEVICE APPLYING THE METHOD}Method for compensating for display deterioration and electronic device applying the method {METHOD TO COMPENSATE DETERIORATION OF DISPLAY AND ELECTRONIC DEVICE APPLYING THE METHOD}

본 문서에서 개시되는 실시 예들은 디스플레이의 열화를 보상하는 방법 및 그 방법을 적용한 전자 장치를 구현하는 기술과 관련된다.Embodiments disclosed in this document relate to a method for compensating for display deterioration and a technology for implementing an electronic device to which the method is applied.

전자 장치는 디스플레이(display)를 통하여 화면을 표시할 수 있다. 디스플레이에는 화면을 표시하기 위한 복수의 화소(pixel)들이 배치될 수 있다. 복수의 화소들은 디스플레이 구동 회로(display driver IC, DDI)로부터 화면을 표시하기 위한 신호들 및 전압들을 공급받을 수 있다. 복수의 화소들 각각은 디스플레이 구동 회로로부터 현재 프레임(frame)에 표시하고자 하는 밝기(brightness) 및 색상(color)에 대응하는 데이터 전압을 공급받을 수 있다. 디스플레이 구동 회로는 매 프레임 마다 데이터 전압을 복수의 화소들에 공급하여 복수의 화소들 각각의 구동 트랜지스터(driving transistor)가 구동하고 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode, OLED)와 같은 발광 소자가 지정된 조도(luminance)로 발광하도록 할 수 있다.
[선행기술문헌]
[특허문헌]
공개 특허 공보 제10-2019-0106360 (2019.09.18), 도 2a 내지 도 6, 단락 [0045]-[0046], [0076]-[0077],[0081]-[0087],[0125],[0131]An electronic device can display a screen through a display. A plurality of pixels may be arranged on the display to display a screen. A plurality of pixels may receive signals and voltages for displaying a screen from a display driver IC (DDI). Each of the plurality of pixels may receive a data voltage corresponding to the brightness and color to be displayed in the current frame from the display driving circuit. The display driving circuit supplies data voltage to a plurality of pixels every frame to drive the driving transistor of each of the plurality of pixels, and a light-emitting device such as an organic light emitting diode (OLED) is set to a specified illuminance level. It can be made to emit light (luminance).
[Prior art literature]
[Patent Document]
Publication Patent Publication No. 10-2019-0106360 (2019.09.18), Figures 2A to 6, paragraphs [0045]-[0046], [0076]-[0077], [0081]-[0087], [0125], [0131]

디스플레이의 복수의 화소들 각각은 서로 다른 사용 패턴에 따라 발광할 수 있다. 복수의 화소들 각각의 사용 패턴에 따라 복수의 화소들 각각은 서로 다른 열화 정도 및/또는 수명 감소 패턴을 가질 수 있다. 예를 들어, 복수의 화소들 중 어느 하나의 화소 또는 특정한 영역에 배치된 일부 화소들의 사용량이 나머지 화소들의 사용량과 차이가 발생하는 경우, 시간이 경과함에 따라 어느 하나의 화소 또는 특정한 영역에 배치된 일부 화소들은 나머지 화소들과 다른 열화 정도를 가질 수 있다. 다른 예로, 디스플레이는 시간이 경과함에 따라 에이징(aging) 효과에 의해 발광 효율 및/또는 성능이 감소할 수 있다. 복수의 화소들 각각은 과거의 사용 히스토리에 따라 서로 다른 에이징 정도를 가질 수 있다. 이에 따라 현재 복수의 화소들 각각은 서로 다른 발광 효율 및/또는 성능을 가질 수 있다.Each of the plurality of pixels of the display may emit light according to different usage patterns. Depending on the usage pattern of each of the plurality of pixels, each of the plurality of pixels may have a different degree of deterioration and/or a different pattern of lifespan reduction. For example, if the usage of one pixel among a plurality of pixels or some pixels arranged in a specific area differs from the usage of the remaining pixels, over time, the usage of one pixel or some pixels arranged in a specific area may change. Some pixels may have a different degree of deterioration than the remaining pixels. As another example, the luminous efficiency and/or performance of a display may decrease over time due to an aging effect. Each of the plurality of pixels may have a different degree of aging depending on past usage history. Accordingly, each of the current plurality of pixels may have different luminous efficiency and/or performance.

디스플레이 구동 회로에서 실질적으로 동일한 전압 또는 전류를 입력하더라도, 서로 다른 열화 정도를 갖는 화소들은 서로 다른 휘도로 발광할 수 있다. 복수의 화소들 각각이 서로 다른 열화 정도를 갖는 경우, 디스플레이에서 표시하는 화면에서 불균일한 빛이 발생하여 사용자는 디스플레이의 열화 및/또는 번-인(burn-in)을 인식할 수 있다.Even if substantially the same voltage or current is input to the display driving circuit, pixels with different degrees of deterioration may emit light with different luminance. When each of the plurality of pixels has a different degree of deterioration, uneven light is generated on the screen displayed by the display, and the user may perceive deterioration and/or burn-in of the display.

전자 장치는 디스플레이의 열화를 보상하기 위해 복수의 화소들 각각에 대한 휘도 인자, 화소의 사용 시간, 및 온도 인자와 같이 복수의 화소들 각각의 열화 정도에 영향을 끼치는 에이징 인자를 계산하고 에이징 히스토리 정보를 저장할 수 있다. 전자 장치는 에이징 히스토리 정보를 이용하여 열화 보상 값을 계산하고, 열화 보상 값을 디스플레이 구동 회로에서 입력하는 보정 전 이미지 정보에 적용할 수 있다. 그로 인해 디스플레이에 표현되는 이미지는 디스플레이에 발생한 열화가 제거된 것처럼 보여질 수 있다.In order to compensate for the deterioration of the display, the electronic device calculates an aging factor that affects the degree of deterioration of each of the plurality of pixels, such as the luminance factor, the usage time of the pixel, and the temperature factor for each of the plurality of pixels, and provides aging history information. can be saved. The electronic device may calculate a deterioration compensation value using aging history information and apply the deterioration compensation value to pre-correction image information input from the display driving circuit. As a result, the image displayed on the display may appear as if the deterioration occurring in the display has been removed.

복수의 화소들 각각의 에이징 히스토리 정보를 업데이트 하는 주기는 전자 장치의 사용 패턴과 관계 없이 설정될 수 있다. 디스플레이를 샘플링(sampling)하는 주기를 짧게 설정하는 경우 에이징 히스토리 정보를 정확하게 획득할 수 있는 반면 디스플레이를 샘플링하기 위하여 프로세서를 사용하는 점유율이 증가하고 프로세서의 소비 전류가 증가할 수 있다.The period of updating the aging history information of each of the plurality of pixels can be set regardless of the usage pattern of the electronic device. If the display sampling period is set short, aging history information can be accurately obtained, but the share of processors used to sample the display may increase and the processor's current consumption may increase.

또한 디스플레이의 열화를 보상하기 위해 복수의 화소들 각각의 보상 값을 계산하고 적용하는 주기는 전자 장치의 제조 시에 설정될 수 있다. 이 경우 모든 전자 장치에 대하여 지정된 주기가 도래하는 경우 디스플레이의 복수의 화소들 각각의 보상 값을 반영할 수 있다. 일률적으로 모든 전자 장치에서 지정된 주기마다 보상 값을 반영하는 경우 디스플레이의 열화가 발생하지 않아 보상이 필요하지 않은 전자 장치에서도 보상을 수행하여 불필요하게 전자 장치의 리소스(resource)를 낭비할 수 있다.Additionally, the cycle of calculating and applying compensation values for each of the plurality of pixels to compensate for display deterioration may be set when manufacturing the electronic device. In this case, when a designated period arrives for all electronic devices, the compensation value of each of the plurality of pixels of the display can be reflected. If compensation values are uniformly reflected at designated cycles in all electronic devices, display deterioration does not occur, and compensation may be performed even in electronic devices that do not require compensation, thereby unnecessarily wasting resources of the electronic device.

또한, 전자 장치의 프로세서는 저장된 에이징 히스토리 정보에 기반하여 디스플레이 열화에 대한 보상을 수행할 수 있다. 에이징 히스토리 정보는 사용자 각각이 실제로 디스플레이의 열화 정도를 체감하는 시인성 및 휘도 차이와 같은 정보를 포함하지 않을 수 있다. 이에 따라, 프로세서가 디스플레이를 보상한 후에도 각각의 사용자는 사용자가 실제로 시인하는 이미지에서 디스플레이의 열화를 체감할 수 있다.Additionally, the processor of the electronic device may compensate for display deterioration based on stored aging history information. Aging history information may not include information such as visibility and luminance differences through which each user actually feels the degree of display deterioration. Accordingly, even after the processor compensates for the display, each user can feel the deterioration of the display in the image that the user actually sees.

본 문서에 개시되는 다양한 실시 예들은, 전자 장치의 사용 패턴에 기반하여 사용자가 실제로 시인하는 이미지에서 발생하는 디스플레이의 열화를 보상하는 방법 및 그 방법을 적용한 전자 장치를 제공하고자 한다.Various embodiments disclosed in this document are intended to provide a method for compensating for display deterioration that occurs in images actually viewed by a user based on the usage pattern of the electronic device, and an electronic device to which the method is applied.

본 문서에 개시되는 일 실시 예에 따른 전자 장치는, 하우징, 상기 하우징에 배치되고 복수의 화소들을 이용하여 화면을 표시하는 디스플레이, 상기 디스플레이를 구동하는 디스플레이 구동 회로, 상기 디스플레이 구동 회로와 작동적으로 연결된 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는, 사용 패턴에 기반하여 디스플레이를 샘플링하는 주기를 가변시키고, 상기 디스플레이의 사용 시간이 제1 시간을 초과한 경우, 상기 디스플레이의 열화 정도를 나타내는 스트레스 맵을 업데이트하고, 지정된 이벤트가 발생하거나 상기 업데이트 된 스트레스 맵의 균일도, 히스토그램 분포 및/또는 분산 값에 기반하여 헤비 유저에 해당하는 경우, 상기 스트레스 맵에 기반하여 보상 기준을 설정하고, 상기 보상 기준에 따라 보상 데이터를 생성하여 상기 디스플레이 구동 회로로 전달하도록 설정될 수 있다.An electronic device according to an embodiment disclosed in this document includes a housing, a display disposed in the housing and displaying a screen using a plurality of pixels, a display driving circuit for driving the display, and operatively connected to the display driving circuit. A processor comprising a connected processor, wherein the processor changes a display sampling period based on a usage pattern and, when the usage time of the display exceeds a first time, updates a stress map indicating the degree of deterioration of the display. , When a specified event occurs or a heavy user is identified based on the uniformity, histogram distribution, and/or variance value of the updated stress map, a compensation standard is set based on the stress map, and compensation data is collected according to the compensation standard. may be set to generate and transmit to the display driving circuit.

또한, 본 문서에 개시되는 일 실시 예에 따른 전자 장치의 디스플레이의 열화를 보상하는 방법은, 상기 전자 장치가 실행하는 적어도 하나의 어플리케이션의 지정된 기간 동안의 평균 사용 횟수 및 상기 적어도 하나의 어플리케이션의 1회 실행 당 평균 사용 시간을 포함하는 사용 패턴에 기반하여 상기 디스플레이를 샘플링하는 주기를 가변시키는 동작, 상기 디스플레이의 전체적인 균일도, 상기 디스플레이의 히스토그램 분포, 상기 디스플레이의 복수의 영역들 중 적어도 하나의 영역의 분산 값, 및/또는 복수의 영역의 평균 분산 값이 지정된 값 이상인 경우 보상 알고리즘을 적용시키는 동작, 및 상기 전자 장치와 연결된 서버에서 획득한 상기 전자 장치의 사용자와 관련된 빅 데이터를 이용하여 상기 디스플레이의 전체적인 균일도, 상기 디스플레이의 히스토그램 분포, 상기 디스플레이의 복수의 영역들 중 적어도 하나의 영역의 분산 값, 및/또는 복수의 영역의 평균 분산 값이 지정된 문턱 범위 이내가 되도록 상기 디스플레이를 보상하는 동작을 포함할 수 있다.In addition, a method for compensating for deterioration of a display of an electronic device according to an embodiment disclosed in this document includes the average number of uses of at least one application run by the electronic device during a specified period and 1 of the at least one application. An operation of varying a sampling period of the display based on a usage pattern including an average usage time per execution, overall uniformity of the display, histogram distribution of the display, and at least one region among a plurality of regions of the display. Applying a compensation algorithm when the variance value and/or the average variance value of a plurality of areas is greater than or equal to a specified value, and using big data related to the user of the electronic device obtained from a server connected to the electronic device to display the display. Compensating the display so that overall uniformity, histogram distribution of the display, variance value of at least one region among a plurality of regions of the display, and/or average variance value of the plurality of regions are within a specified threshold range. can do.

또한, 본 문서에 개시되는 다른 실시 예에 따른 전자 장치의 디스플레이의 열화를 보상하는 방법은, 실시간으로 샘플링 정보를 획득하는 동작, 상기 샘플링 정보를 누적하는 국면의 동작, 상기 디스플레이가 턴-온(turn-on)된 시간의 합이 제1 시간을 초과한 경우, 스트레스 맵을 업데이트하는 국면의 동작, 헤비 유저인 경우, 보상 데이터를 업데이트하는 국면의 동작, 및 상기 보상 데이터로 상기 디스플레이의 열화를 보상하는 동작을 포함할 수 있다.In addition, a method of compensating for deterioration of a display of an electronic device according to another embodiment disclosed in this document includes an operation of acquiring sampling information in real time, an operation of a phase of accumulating the sampling information, and the display turning on ( When the sum of the turn-on times exceeds the first time, the operation of the phase of updating the stress map, the operation of the phase of updating the compensation data in case of a heavy user, and the operation of the phase of updating the compensation data, and the deterioration of the display with the compensation data May include compensatory actions.

본 문서에 개시되는 실시 예들에 따르면, 전자 장치의 디스플레이를 샘플링하는 주기를 사용 패턴에 따라 적응적(adaptive)으로 변화시키면서 디스플레이의 열화에 대한 예측 및/또는 보상을 수행할 수 있다.According to embodiments disclosed in this document, display deterioration can be predicted and/or compensated for by adaptively changing the display sampling period of the electronic device according to the usage pattern.

또한, 본 문서에 개시되는 실시 예들에 따르면, 프로세서가 디스플레이에서 실제로 표시하는 화면인 사용자 체감(effective) 이미지에서 발생하는 열화 정도가 임계 값 이상인 경우 보상을 수행하여 사용자가 실제로 시인하는 이미지에서 디스플레이의 열화가 시인되지 않도록 보상을 수행할 수 있다.In addition, according to embodiments disclosed in this document, if the degree of deterioration occurring in the user's effective image, which is the screen actually displayed on the display by the processor, is greater than or equal to a threshold, compensation is performed to change the display in the image actually viewed by the user. Compensation can be performed so that deterioration is not recognized.

또한, 본 문서에 개시되는 실시 예들에 따르면, 전자 장치의 프로세서에서 디스플레이를 샘플링하기 위한 점유율을 감소시켜 프로세서의 동작 성능을 확보하고 프로세서의 소비 전류를 감소시킬 수 있다.Additionally, according to embodiments disclosed in this document, the operating performance of the processor can be secured and current consumption of the processor can be reduced by reducing the occupancy rate for sampling the display in the processor of the electronic device.

또한, 본 문서에 개시되는 실시 예들에 따르면, 디스플레이의 복수의 화소들 각각의 에이징 히스토리 정보에서 디스플레이의 열화 정도를 대표할 수 있는 지표를 추출하여 디스플레이에 실제로 열화가 발생한 전자 장치를 선택적으로 보상할 수 있어 열화가 발생하지 않은 전자 장치의 리소스를 절약할 수 있다.In addition, according to embodiments disclosed in this document, an index representing the degree of deterioration of the display can be extracted from the aging history information of each of the plurality of pixels of the display to selectively compensate for the electronic device in which the display actually has deteriorated. This can save resources in electronic devices that do not deteriorate.

이 외에, 본 문서를 통해 직접적 또는 간접적으로 파악되는 다양한 효과들이 제공될 수 있다.In addition, various effects that can be directly or indirectly identified through this document may be provided.

도 1은 다양한 실시 예에 따른 네트워크 환경 내의 전자 장치의 블록도이다.
도 2는 다양한 실시 예들에 따른 표시 장치의 블록도이다.
도 3a는 일 실시 예에 따른 디스플레이의 열화를 보상하는 전자 장치 및 서버를 나타낸 블록도이다.
도 3b는 일 실시 예에 따른 누적된 디스플레이의 열화 이미지인 제1 이미지와 보상 이미지인 제2 이미지를 결합하여 생성된, 사용자가 실제로 시인하는 제3 이미지를 디스플레이에 표시하여 디스플레이의 열화를 보상하는 것을 나타낸 도면이다.
도 4는 일 실시 예에 따른 디스플레이의 열화를 보상하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 5는 일 실시 예에 따른 휘도에 따른 샘플링 주기를 나타낸 도면이다.
도 6은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 사용 패턴을 나타낸 도면이다.
도 7은 일 실시 예에 따른 전자 장치가 어플리케이션 별 누적 사용 시간을 산출하여 열화와 관련된 정보의 샘플링(Sampling) 주기를 가변시키기 위한 가변 주기 후보를 선택하는 것을 나타낸 도면이다.
도 8은 일 실시 예에 따른 전자 장치가 디스플레이의 누적 평균 휘도 및 누적 디스플레이 온 시간에 따라 지정된 보상을 수행하는 시간을 나타낸 도면이다.
도 9는 일 실시 예에 따른 전자 장치가 디스플레이의 균일도에 따라 지정된 보상을 수행하는 것을 나타낸 도면이다.
도 10은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 디스플레이의 열화 정도에 따른 휘도 별 히스토그램 및 휘도 별 히스토그램의 지역적 중심(Local Centroid)들의 분포 정도를 나타낸 그래프이다.
도 11은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 디스플레이의 열화 정도에 따른 휘도 별 히스토그램의 지역적 중심 값을 이용하여 최대 열화 정도 및 평균 열화 정도를 산출하는 것을 나타낸 도면이다.
도 12는 일 실시 예에 따른 전자 장치가 최대 열화 정도 및 평균 열화 정도에 따라 지정된 보상을 수행하는 것을 나타낸 도면이다.
도 13은 일 실시 예에 따른 전자 장치의 디스플레이의 열화 정도를 나타낼 수 있는 디스플레이 휘도 열화 정보에 대한 분산 값을 산출하는 것을 나타낸 도면이다.
도 14는 일 실시 예에 따른 전자 장치의 디스플레이의 최대 열화 정도 및 시각적 열화 정도를 빅 데이터로 나타낸 도면이다.
도 15는 일 실시 예에 따른 디스플레이의 열화를 보상하는 방법을 나타낸 흐름도이다.
도 16은 일 실시 예에 따른 누적 국면을 나타낸 흐름도이다.
도 17은 일 실시 예에 따른 스트레스 맵 업데이트 국면을 나타낸 흐름도이다.
도 18은 일 실시 예에 따른 보상 데이터 업데이트 국면을 나타낸 흐름도이다.
도 19는 일 실시 예에 따른 보상 시나리오에 따른 보상 후 시인성, 보상 후 휘도 상향, 및 보상 중지 조건을 나타낸 도면이다.
도 20은 일 실시 예에 따른 시간이 경과함에 따라 누적되는 디스플레이 열화 정도와 디스플레이 열화 보상의 일치 정도에 따라 사용자가 실제로 체감하는 이미지에서의 디스플레이의 열화 정도를 지표로 나타낸 그래프이다.
도면의 설명과 관련하여, 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일 또는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.1 is a block diagram of an electronic device in a network environment according to various embodiments.
Figure 2 is a block diagram of a display device according to various embodiments.
FIG. 3A is a block diagram illustrating an electronic device and a server that compensate for display deterioration according to an embodiment.
FIG. 3B shows a method for compensating for display deterioration by displaying a third image that the user actually sees on the display, which is generated by combining a first image, which is an accumulated display deterioration image, and a second image, which is a compensation image, according to an embodiment. This is a drawing showing this.
Figure 4 is a flowchart showing a method for compensating for display deterioration according to one embodiment.
Figure 5 is a diagram showing a sampling period according to luminance according to an embodiment.
Figure 6 is a diagram showing a usage pattern of an electronic device according to an embodiment.
FIG. 7 is a diagram illustrating how an electronic device calculates the accumulated usage time for each application and selects a variable cycle candidate for varying the sampling cycle of information related to degradation, according to an embodiment.
FIG. 8 is a diagram illustrating the time at which an electronic device performs specified compensation according to the cumulative average luminance of the display and the cumulative display on time, according to an embodiment.
FIG. 9 is a diagram illustrating an electronic device performing specified compensation according to display uniformity, according to an embodiment.
FIG. 10 is a graph showing a histogram for each luminance and the degree of distribution of local centroids of the histogram for each luminance according to the degree of deterioration of the display of an electronic device according to an embodiment.
FIG. 11 is a diagram illustrating calculating the maximum degree of degradation and the average degree of degradation using the regional center value of a histogram for each luminance according to the degree of deterioration of the display of an electronic device according to an embodiment.
FIG. 12 is a diagram illustrating an electronic device performing specified compensation according to the maximum degree of degradation and the average degree of degradation, according to an embodiment.
FIG. 13 is a diagram illustrating calculating a variance value for display luminance deterioration information that can indicate the degree of deterioration of a display of an electronic device according to an embodiment.
Figure 14 is a diagram showing the maximum degree of deterioration and visual deterioration of the display of an electronic device according to one embodiment using big data.
Figure 15 is a flowchart showing a method for compensating for display deterioration according to an embodiment.
Figure 16 is a flowchart showing the accumulation phase according to one embodiment.
Figure 17 is a flowchart showing a stress map update phase according to an embodiment.
Figure 18 is a flowchart showing a compensation data update phase according to an embodiment.
FIG. 19 is a diagram illustrating conditions for visibility after compensation, luminance increase after compensation, and compensation stop according to a compensation scenario according to an embodiment.
Figure 20 is a graph showing as an index the degree of display deterioration in an image that a user actually experiences according to the degree of match between the degree of display deterioration accumulated over time and the degree of display deterioration compensation according to an embodiment.
In relation to the description of the drawings, identical or similar reference numerals may be used for identical or similar components.

이하, 본 발명의 다양한 실시 예가 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 실시 예의 다양한 변경(modification), 균등물(equivalent), 및/또는 대체물(alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. Hereinafter, various embodiments of the present invention are described with reference to the accompanying drawings. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include various modifications, equivalents, and/or alternatives to the embodiments of the present invention.

도 1은, 다양한 실시예들에 따른, 네트워크 환경(100) 내의 전자 장치(101)의 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 네트워크 환경(100)에서 전자 장치(101)는 제 1 네트워크(198)(예: 근거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(102)와 통신하거나, 또는 제 2 네트워크(199)(예: 원거리 무선 통신 네트워크)를 통하여 전자 장치(104) 또는 서버(108)와 통신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 서버(108)를 통하여 전자 장치(104)와 통신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(101)는 프로세서(120), 메모리(130), 입력 장치(150), 음향 출력 장치(155), 표시 장치(160), 오디오 모듈(170), 센서 모듈(176), 인터페이스(177), 햅틱 모듈(179), 카메라 모듈(180), 전력 관리 모듈(188), 배터리(189), 통신 모듈(190), 가입자 식별 모듈(196), 또는 안테나 모듈(197)을 포함할 수 있다. 어떤 실시예에서는, 전자 장치(101)에는, 이 구성요소들 중 적어도 하나(예: 표시 장치(160) 또는 카메라 모듈(180))가 생략되거나, 하나 이상의 다른 구성 요소가 추가될 수 있다. 어떤 실시예에서는, 이 구성요소들 중 일부들은 하나의 통합된 회로로 구현될 수 있다. 예를 들면, 센서 모듈(176)(예: 지문 센서, 홍채 센서, 또는 조도 센서)은 표시 장치(160)(예: 디스플레이)에 임베디드된 채 구현될 수 있다1 is a block diagram of an electronic device 101 in a network environment 100, according to various embodiments. Referring to FIG. 1, in the network environment 100, the electronic device 101 communicates with the electronic device 102 through a first network 198 (e.g., a short-range wireless communication network) or a second network 199. It is possible to communicate with the electronic device 104 or the server 108 through (e.g., a long-distance wireless communication network). According to one embodiment, the electronic device 101 may communicate with the electronic device 104 through the server 108. According to one embodiment, the electronic device 101 includes a processor 120, a memory 130, an input device 150, an audio output device 155, a display device 160, an audio module 170, and a sensor module ( 176), interface 177, haptic module 179, camera module 180, power management module 188, battery 189, communication module 190, subscriber identification module 196, or antenna module 197 ) may include. In some embodiments, at least one of these components (eg, the display device 160 or the camera module 180) may be omitted, or one or more other components may be added to the electronic device 101. In some embodiments, some of these components may be implemented as a single integrated circuit. For example, the sensor module 176 (e.g., a fingerprint sensor, an iris sensor, or an illumination sensor) may be implemented while being embedded in the display device 160 (e.g., a display).

프로세서(120)는, 예를 들면, 소프트웨어(예: 프로그램(140))를 실행하여 프로세서(120)에 연결된 전자 장치(101)의 적어도 하나의 다른 구성요소(예: 하드웨어 또는 소프트웨어 구성요소)을 제어할 수 있고, 다양한 데이터 처리 또는 연산을 수행할 수 있다. 일실시예에 따르면, 데이터 처리 또는 연산의 적어도 일부로서, 프로세서(120)는 다른 구성요소(예: 센서 모듈(176) 또는 통신 모듈(190))로부터 수신된 명령 또는 데이터를 휘발성 메모리(132)에 로드하고, 휘발성 메모리(132)에 저장된 명령 또는 데이터를 처리하고, 결과 데이터를 비휘발성 메모리(134)에 저장할 수 있다. 일실시예에 따르면, 프로세서(120)는 메인 프로세서(121)(예: 중앙 처리 장치 또는 어플리케이션 프로세서), 및 이와는 독립적으로 또는 함께 운영 가능한 보조 프로세서(123)(예: 그래픽 처리 장치, 이미지 시그널 프로세서, 센서 허브 프로세서, 또는 커뮤니케이션 프로세서)를 포함할 수 있다. 추가적으로 또는 대체적으로, 보조 프로세서(123)은 메인 프로세서(121)보다 저전력을 사용하거나, 또는 지정된 기능에 특화되도록 설정될 수 있다. 보조 프로세서(123)는 메인 프로세서(121)와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.The processor 120, for example, executes software (e.g., program 140) to configure at least one other component (e.g., hardware or software component) of the electronic device 101 connected to the processor 120. It can be controlled and various data processing or calculations can be performed. According to one embodiment, as at least part of data processing or computation, the processor 120 stores commands or data received from another component (e.g., sensor module 176 or communication module 190) in volatile memory 132. The commands or data stored in the volatile memory 132 can be processed, and the resulting data can be stored in the non-volatile memory 134. According to one embodiment, the processor 120 includes a main processor 121 (e.g., a central processing unit or an application processor), and an auxiliary processor 123 that can operate independently or together (e.g., a graphics processing unit, an image signal processor). , sensor hub processor, or communication processor). Additionally or alternatively, the auxiliary processor 123 may be set to use less power than the main processor 121 or to specialize in a designated function. The auxiliary processor 123 may be implemented separately from the main processor 121 or as part of it.

보조 프로세서(123)는, 예를 들면, 메인 프로세서(121)가 인액티브(예: 슬립) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)를 대신하여, 또는 메인 프로세서(121)가 액티브(예: 어플리케이션 실행) 상태에 있는 동안 메인 프로세서(121)와 함께, 전자 장치(101)의 구성요소들 중 적어도 하나의 구성요소(예: 표시 장치(160), 센서 모듈(176), 또는 통신 모듈(190))와 관련된 기능 또는 상태들의 적어도 일부를 제어할 수 있다. 일실시예에 따르면, 보조 프로세서(123)(예: 이미지 시그널 프로세서 또는 커뮤니케이션 프로세서)는 기능적으로 관련 있는 다른 구성 요소(예: 카메라 모듈(180) 또는 통신 모듈(190))의 일부로서 구현될 수 있다. The auxiliary processor 123 may, for example, act on behalf of the main processor 121 while the main processor 121 is in an inactive (e.g., sleep) state, or while the main processor 121 is in an active (e.g., application execution) state. ), along with the main processor 121, at least one of the components of the electronic device 101 (e.g., the display device 160, the sensor module 176, or the communication module 190) At least some of the functions or states related to can be controlled. According to one embodiment, coprocessor 123 (e.g., image signal processor or communication processor) may be implemented as part of another functionally related component (e.g., camera module 180 or communication module 190). there is.

메모리(130)는, 전자 장치(101)의 적어도 하나의 구성요소(예: 프로세서(120) 또는 센서 모듈(176))에 의해 사용되는 다양한 데이터를 저장할 수 있다. 데이터는, 예를 들어, 소프트웨어(예: 프로그램(140)) 및, 이와 관련된 명령에 대한 입력 데이터 또는 출력 데이터를 포함할 수 있다. 메모리(130)는, 휘발성 메모리(132) 또는 비휘발성 메모리(134)를 포함할 수 있다. The memory 130 may store various data used by at least one component (eg, the processor 120 or the sensor module 176) of the electronic device 101. Data may include, for example, input data or output data for software (e.g., program 140) and instructions related thereto. Memory 130 may include volatile memory 132 or non-volatile memory 134.

프로그램(140)은 메모리(130)에 소프트웨어로서 저장될 수 있으며, 예를 들면, 운영 체제(142), 미들 웨어(144) 또는 어플리케이션(146)을 포함할 수 있다. The program 140 may be stored as software in the memory 130 and may include, for example, an operating system 142, middleware 144, or application 146.

입력 장치(150)는, 전자 장치(101)의 구성요소(예: 프로세서(120))에 사용될 명령 또는 데이터를 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로부터 수신할 수 있다. 입력 장치(150)은, 예를 들면, 마이크, 마우스, 키보드, 또는 디지털 펜(예: 스타일러스 펜)을 포함할 수 있다. The input device 150 may receive commands or data to be used in a component of the electronic device 101 (e.g., the processor 120) from outside the electronic device 101 (e.g., a user). The input device 150 may include, for example, a microphone, mouse, keyboard, or digital pen (eg, stylus pen).

음향 출력 장치(155)는 음향 신호를 전자 장치(101)의 외부로 출력할 수 있다. 음향 출력 장치(155)는, 예를 들면, 스피커 또는 리시버를 포함할 수 있다. 스피커는 멀티미디어 재생 또는 녹음 재생과 같이 일반적인 용도로 사용될 수 있고, 리시버는 착신 전화를 수신하기 위해 사용될 수 있다. 일실시예에 따르면, 리시버는 스피커와 별개로, 또는 그 일부로서 구현될 수 있다.The sound output device 155 may output sound signals to the outside of the electronic device 101. The sound output device 155 may include, for example, a speaker or a receiver. The speaker can be used for general purposes such as multimedia playback or recording playback, and the receiver can be used to receive incoming calls. According to one embodiment, the receiver may be implemented separately from the speaker or as part of it.

표시 장치(160)는 전자 장치(101)의 외부(예: 사용자)로 정보를 시각적으로 제공할 수 있다. 표시 장치(160)은, 예를 들면, 디스플레이, 홀로그램 장치, 또는 프로젝터 및 해당 장치를 제어하기 위한 제어 회로를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 표시 장치(160)는 터치를 감지하도록 설정된 터치 회로(touch circuitry), 또는 상기 터치에 의해 발생되는 힘의 세기를 측정하도록 설정된 센서 회로(예: 압력 센서)를 포함할 수 있다. The display device 160 can visually provide information to the outside of the electronic device 101 (eg, a user). The display device 160 may include, for example, a display, a hologram device, or a projector, and a control circuit for controlling the device. According to one embodiment, the display device 160 may include touch circuitry configured to detect a touch, or a sensor circuit configured to measure the intensity of force generated by the touch (e.g., a pressure sensor). there is.

오디오 모듈(170)은 소리를 전기 신호로 변환시키거나, 반대로 전기 신호를 소리로 변환시킬 수 있다. 일실시예에 따르면, 오디오 모듈(170)은, 입력 장치(150)를 통해 소리를 획득하거나, 음향 출력 장치(155), 또는 전자 장치(101)와 직접 또는 무선으로 연결된 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102)) (예: 스피커 또는 헤드폰))를 통해 소리를 출력할 수 있다.The audio module 170 can convert sound into an electrical signal or, conversely, convert an electrical signal into sound. According to one embodiment, the audio module 170 acquires sound through the input device 150, the sound output device 155, or an external electronic device (e.g., directly or wirelessly connected to the electronic device 101). Sound may be output through an electronic device 102 (e.g., speaker or headphone).

센서 모듈(176)은 전자 장치(101)의 작동 상태(예: 전력 또는 온도), 또는 외부의 환경 상태(예: 사용자 상태)를 감지하고, 감지된 상태에 대응하는 전기 신호 또는 데이터 값을 생성할 수 있다. 일실시예에 따르면, 센서 모듈(176)은, 예를 들면, 제스처 센서, 자이로 센서, 기압 센서, 마그네틱 센서, 가속도 센서, 그립 센서, 근접 센서, 컬러 센서, IR(infrared) 센서, 생체 센서, 온도 센서, 습도 센서, 또는 조도 센서를 포함할 수 있다. The sensor module 176 detects the operating state (e.g., power or temperature) of the electronic device 101 or the external environmental state (e.g., user state) and generates an electrical signal or data value corresponding to the detected state. can do. According to one embodiment, the sensor module 176 includes, for example, a gesture sensor, a gyro sensor, an air pressure sensor, a magnetic sensor, an acceleration sensor, a grip sensor, a proximity sensor, a color sensor, an IR (infrared) sensor, a biometric sensor, It may include a temperature sensor, humidity sensor, or light sensor.

인터페이스(177)는 전자 장치(101)이 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 직접 또는 무선으로 연결되기 위해 사용될 수 있는 하나 이상의 지정된 프로토콜들을 지원할 수 있다. 일실시예에 따르면, 인터페이스(177)는, 예를 들면, HDMI(high definition multimedia interface), USB(universal serial bus) 인터페이스, SD카드 인터페이스, 또는 오디오 인터페이스를 포함할 수 있다.The interface 177 may support one or more designated protocols that can be used to connect the electronic device 101 directly or wirelessly with an external electronic device (eg, the electronic device 102). According to one embodiment, the interface 177 may include, for example, a high definition multimedia interface (HDMI), a universal serial bus (USB) interface, an SD card interface, or an audio interface.

연결 단자(178)는, 그를 통해서 전자 장치(101)가 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102))와 물리적으로 연결될 수 있는 커넥터를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 연결 단자(178)은, 예를 들면, HDMI 커넥터, USB 커넥터, SD 카드 커넥터, 또는 오디오 커넥터(예: 헤드폰 커넥터)를 포함할 수 있다.The connection terminal 178 may include a connector through which the electronic device 101 can be physically connected to an external electronic device (eg, the electronic device 102). According to one embodiment, the connection terminal 178 may include, for example, an HDMI connector, a USB connector, an SD card connector, or an audio connector (eg, a headphone connector).

햅틱 모듈(179)은 전기적 신호를 사용자가 촉각 또는 운동 감각을 통해서 인지할 수 있는 기계적인 자극(예: 진동 또는 움직임) 또는 전기적인 자극으로 변환할 수 있다. 일실시예에 따르면, 햅틱 모듈(179)은, 예를 들면, 모터, 압전 소자, 또는 전기 자극 장치를 포함할 수 있다.The haptic module 179 can convert electrical signals into mechanical stimulation (e.g., vibration or movement) or electrical stimulation that the user can perceive through tactile or kinesthetic senses. According to one embodiment, the haptic module 179 may include, for example, a motor, a piezoelectric element, or an electrical stimulation device.

카메라 모듈(180)은 정지 영상 및 동영상을 촬영할 수 있다. 일실시예에 따르면, 카메라 모듈(180)은 하나 이상의 렌즈들, 이미지 센서들, 이미지 시그널 프로세서들, 또는 플래시들을 포함할 수 있다.The camera module 180 can capture still images and moving images. According to one embodiment, the camera module 180 may include one or more lenses, image sensors, image signal processors, or flashes.

전력 관리 모듈(188)은 전자 장치(101)에 공급되는 전력을 관리할 수 있다. 일실시예에 따르면, 전력 관리 모듈(188)은, 예를 들면, PMIC(power management integrated circuit)의 적어도 일부로서 구현될 수 있다.The power management module 188 can manage power supplied to the electronic device 101. According to one embodiment, the power management module 188 may be implemented as at least a part of, for example, a power management integrated circuit (PMIC).

배터리(189)는 전자 장치(101)의 적어도 하나의 구성 요소에 전력을 공급할 수 있다. 일실시예에 따르면, 배터리(189)는, 예를 들면, 재충전 불가능한 1차 전지, 재충전 가능한 2차 전지 또는 연료 전지를 포함할 수 있다.The battery 189 may supply power to at least one component of the electronic device 101. According to one embodiment, the battery 189 may include, for example, a non-rechargeable primary battery, a rechargeable secondary battery, or a fuel cell.

통신 모듈(190)은 전자 장치(101)와 외부 전자 장치(예: 전자 장치(102), 전자 장치(104), 또는 서버(108))간의 직접(예: 유선) 통신 채널 또는 무선 통신 채널의 수립, 및 수립된 통신 채널을 통한 통신 수행을 지원할 수 있다. 통신 모듈(190)은 프로세서(120)(예: 어플리케이션 프로세서)와 독립적으로 운영되고, 직접(예: 유선) 통신 또는 무선 통신을 지원하는 하나 이상의 커뮤니케이션 프로세서를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 통신 모듈(190)은 무선 통신 모듈(192)(예: 셀룰러 통신 모듈, 근거리 무선 통신 모듈, 또는 GNSS(global navigation satellite system) 통신 모듈) 또는 유선 통신 모듈(194)(예: LAN(local area network) 통신 모듈, 또는 전력선 통신 모듈)을 포함할 수 있다. 이들 통신 모듈 중 해당하는 통신 모듈은 제 1 네트워크(198)(예: 블루투스, WiFi direct 또는 IrDA(infrared data association) 같은 근거리 통신 네트워크) 또는 제 2 네트워크(199)(예: 셀룰러 네트워크, 인터넷, 또는 컴퓨터 네트워크(예: LAN 또는 WAN)와 같은 원거리 통신 네트워크)를 통하여 외부 전자 장치와 통신할 수 있다. 이런 여러 종류의 통신 모듈들은 하나의 구성 요소(예: 단일 칩)으로 통합되거나, 또는 서로 별도의 복수의 구성 요소들(예: 복수 칩들)로 구현될 수 있다. 무선 통신 모듈(192)은 가입자 식별 모듈(196)에 저장된 가입자 정보(예: 국제 모바일 가입자 식별자(IMSI))를 이용하여 제 1 네트워크(198) 또는 제 2 네트워크(199)와 같은 통신 네트워크 내에서 전자 장치(101)를 확인 및 인증할 수 있다. The communication module 190 provides a direct (e.g., wired) communication channel or a wireless communication channel between the electronic device 101 and an external electronic device (e.g., the electronic device 102, the electronic device 104, or the server 108). It can support establishment and communication through established communication channels. Communication module 190 operates independently of processor 120 (e.g., an application processor) and may include one or more communication processors that support direct (e.g., wired) communication or wireless communication. According to one embodiment, the communication module 190 is a wireless communication module 192 (e.g., a cellular communication module, a short-range wireless communication module, or a global navigation satellite system (GNSS) communication module) or a wired communication module 194 (e.g., : LAN (local area network) communication module, or power line communication module) may be included. Among these communication modules, the corresponding communication module is a first network 198 (e.g., a short-range communication network such as Bluetooth, WiFi direct, or IrDA (infrared data association)) or a second network 199 (e.g., a cellular network, the Internet, or It can communicate with external electronic devices through a computer network (e.g., a telecommunication network such as a LAN or WAN). These various types of communication modules may be integrated into one component (e.g., a single chip) or may be implemented as a plurality of separate components (e.g., multiple chips). The wireless communication module 192 uses subscriber information (e.g., International Mobile Subscriber Identifier (IMSI)) stored in the subscriber identification module 196 within a communication network such as the first network 198 or the second network 199. The electronic device 101 can be confirmed and authenticated.

안테나 모듈(197)은 신호 또는 전력을 외부(예: 외부 전자 장치)로 송신하거나 외부로부터 수신할 수 있다. 일실시예에 따르면, 안테나 모듈은 서브스트레이트(예: PCB) 위에 형성된 도전체 또는 도전성 패턴으로 이루어진 방사체를 포함하는 하나의 안테나를 포함할 수 있다. 일실시예에 따르면, 안테나 모듈(197)은 복수의 안테나들을 포함할 수 있다. 이런 경우, 제 1 네트워크(198) 또는 제 2 네트워크(199)와 같은 통신 네트워크에서 사용되는 통신 방식에 적합한 적어도 하나의 안테나가, 예를 들면, 통신 모듈(190)에 의하여 상기 복수의 안테나들로부터 선택될 수 있다. 신호 또는 전력은 상기 선택된 적어도 하나의 안테나를 통하여 통신 모듈(190)과 외부 전자 장치 간에 송신되거나 수신될 수 있다. 어떤 실시예에 따르면, 방사체 이외에 다른 부품(예: RFIC)이 추가로 안테나 모듈(197)의 일부로 형성될 수 있다.The antenna module 197 may transmit or receive signals or power to or from the outside (e.g., an external electronic device). According to one embodiment, the antenna module may include one antenna including a radiator made of a conductor or a conductive pattern formed on a substrate (eg, PCB). According to one embodiment, the antenna module 197 may include a plurality of antennas. In this case, at least one antenna suitable for a communication method used in a communication network such as the first network 198 or the second network 199 is connected to the plurality of antennas by, for example, the communication module 190. can be selected. Signals or power may be transmitted or received between the communication module 190 and an external electronic device through the selected at least one antenna. According to some embodiments, other components (eg, RFIC) in addition to the radiator may be additionally formed as part of the antenna module 197.

상기 구성요소들 중 적어도 일부는 주변 기기들간 통신 방식(예: 버스, GPIO(general purpose input and output), SPI(serial peripheral interface), 또는 MIPI(mobile industry processor interface))를 통해 서로 연결되고 신호(예: 명령 또는 데이터)를 상호간에 교환할 수 있다.At least some of the components are connected to each other through a communication method between peripheral devices (e.g., bus, general purpose input and output (GPIO), serial peripheral interface (SPI), or mobile industry processor interface (MIPI)) and signal ( (e.g. commands or data) can be exchanged with each other.

일실시예에 따르면, 명령 또는 데이터는 제 2 네트워크(199)에 연결된 서버(108)를 통해서 전자 장치(101)와 외부의 전자 장치(104)간에 송신 또는 수신될 수 있다. 전자 장치(102, 104) 각각은 전자 장치(101)와 동일한 또는 다른 종류의 장치일 수 있다. 일실시예에 따르면, 전자 장치(101)에서 실행되는 동작들의 전부 또는 일부는 외부 전자 장치들(102, 104, or 108) 중 하나 이상의 외부 장치들에서 실행될 수 있다. 예를 들면, 전자 장치(101)가 어떤 기능이나 서비스를 자동으로, 또는 사용자 또는 다른 장치로부터의 요청에 반응하여 수행해야 할 경우에, 전자 장치(101)는 기능 또는 서비스를 자체적으로 실행시키는 대신에 또는 추가적으로, 하나 이상의 외부 전자 장치들에게 그 기능 또는 그 서비스의 적어도 일부를 수행하라고 요청할 수 있다. 상기 요청을 수신한 하나 이상의 외부 전자 장치들은 요청된 기능 또는 서비스의 적어도 일부, 또는 상기 요청과 관련된 추가 기능 또는 서비스를 실행하고, 그 실행의 결과를 전자 장치(101)로 전달할 수 있다. 전자 장치(101)는 상기 결과를, 그대로 또는 추가적으로 처리하여, 상기 요청에 대한 응답의 적어도 일부로서 제공할 수 있다. 이를 위하여, 예를 들면, 클라우드 컴퓨팅, 분산 컴퓨팅, 또는 클라이언트-서버 컴퓨팅 기술이 이용될 수 있다. According to one embodiment, commands or data may be transmitted or received between the electronic device 101 and the external electronic device 104 through the server 108 connected to the second network 199. Each of the electronic devices 102 and 104 may be the same or different type of device from the electronic device 101. According to one embodiment, all or part of the operations performed in the electronic device 101 may be executed in one or more of the external electronic devices 102, 104, or 108. For example, when the electronic device 101 needs to perform a certain function or service automatically or in response to a request from a user or another device, the electronic device 101 may perform the function or service instead of executing the function or service on its own. Alternatively, or additionally, one or more external electronic devices may be requested to perform at least part of the function or service. One or more external electronic devices that receive the request may execute at least a portion of the requested function or service, or an additional function or service related to the request, and transmit the result of the execution to the electronic device 101. The electronic device 101 may process the result as is or additionally and provide it as at least part of a response to the request. For this purpose, for example, cloud computing, distributed computing, or client-server computing technologies may be used.

도 2는 다양한 실시 예들에 따른, 표시 장치(160)의 블록도(200)이다. 도 2를 참조하면, 표시 장치(160)는 디스플레이(210), 및 이를 제어하기 위한 디스플레이 구동 회로(DDI, display driver integrated circuit)(230)를 포함할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(230)는 인터페이스 모듈(231), 메모리(233)(예: 버퍼 메모리), 이미지 처리 모듈(235), 또는 맵핑 모듈(237)을 포함할 수 있다. 디스플레이 구동 회로(230)는, 예를 들면, 영상 데이터, 또는 상기 영상 데이터를 제어하기 위한 명령에 대응하는 영상 제어 신호를 포함하는 영상 정보를 인터페이스 모듈(231)을 통해 전자 장치(101)의 다른 구성요소로부터 수신할 수 있다. 예를 들면, 일 실시 예에 따르면, 영상 정보는 프로세서(120)(예: 메인 프로세서(121)(예: 어플리케이션 프로세서) 또는 메인 프로세서(121)의 기능과 독립적으로 운영되는 보조 프로세서(123)(예: 그래픽 처리 장치)로부터 수신될 수 있다. 디스플레이 구동 회로(230)는 터치 회로(250) 또는 센서 모듈(176) 등과 상기 인터페이스 모듈(231)을 통하여 커뮤니케이션할 수 있다. 또한, 디스플레이 구동 회로(230)는 상기 수신된 영상 정보 중 적어도 일부를 메모리(233)에, 예를 들면, 프레임 단위로 저장할 수 있다. 이미지 처리 모듈(235)은, 예를 들면, 상기 영상 데이터의 적어도 일부를 상기 영상 데이터의 특성 또는 디스플레이(210)의 특성에 적어도 기반하여 전처리 또는 후처리(예: 해상도, 밝기, 또는 크기 조정)를 수행할 수 있다. 맵핑 모듈(237)은 이미지 처리 모듈(135)를 통해 전처리 또는 후처리된 상기 영상 데이터에 대응하는 전압 값 또는 전류 값을 생성할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전압 값 또는 전류 값의 생성은 예를 들면, 디스플레이(210)의 픽셀들의 속성(예: 픽셀들의 배열(RGB stripe 또는 pentile 구조), 또는 서브 픽셀들 각각의 크기)에 적어도 일부 기반하여 수행될 수 있다. 디스플레이(210)의 적어도 일부 픽셀들은, 예를 들면, 상기 전압 값 또는 전류 값에 적어도 일부 기반하여 구동됨으로써 상기 영상 데이터에 대응하는 시각적 정보(예: 텍스트, 이미지, 또는 아이콘)가 디스플레이(210)를 통해 표시될 수 있다.FIG. 2 is a block diagram 200 of the display device 160 according to various embodiments. Referring to FIG. 2 , the display device 160 may include a display 210 and a display driver integrated circuit (DDI) 230 for controlling the display 210 . The display driving circuit 230 may include an interface module 231, a memory 233 (eg, buffer memory), an image processing module 235, or a mapping module 237. For example, the display driving circuit 230 transmits image information including image data or an image control signal corresponding to a command for controlling the image data to another device of the electronic device 101 through the interface module 231. Can be received from components. For example, according to one embodiment, the image information is stored in the processor 120 (e.g., the main processor 121 (e.g., an application processor) or the auxiliary processor 123 ( For example, the display driving circuit 230 may communicate with the touch circuit 250 or the sensor module 176 through the interface module 231. The image processing module 235 may store at least part of the received image information in the memory 233, for example, in units of frames. The mapping module 237 may perform pre-processing or post-processing (eg, resolution, brightness, or size adjustment) based at least on the characteristics of the data or the characteristics of the display 210. Alternatively, according to one embodiment, the voltage value or current value corresponding to the post-processed image data may be generated, for example, through properties of pixels of the display 210. At least some pixels of the display 210 may be based on, for example, the voltage value or the current value. Visual information (eg, text, image, or icon) corresponding to the image data may be displayed through the display 210 by being driven at least partially based on the image data.

일 실시 예에 따르면, 표시 장치(160)는 터치 회로(250)를 더 포함할 수 있다. 터치 회로(250)는 터치 센서(251) 및 이를 제어하기 위한 터치 센서 IC(253)를 포함할 수 있다. 터치 센서 IC(253)는, 예를 들면, 디스플레이(210)의 특정 위치에 대한 터치 입력 또는 호버링 입력을 감지하기 위해 터치 센서(251)를 제어할 수 있다. 예를 들면, 터치 센서 IC(253)는 디스플레이(210)의 특정 위치에 대한 신호(예: 전압, 광량, 저항, 또는 전하량)의 변화를 측정함으로써 터치 입력 또는 호버링 입력을 감지할 수 있다. 터치 센서 IC(253)는 감지된 터치 입력 또는 호버링 입력에 관한 정보(예: 위치, 면적, 압력, 또는 시간)를 프로세서(120) 에 제공할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 터치 회로(250)의 적어도 일부(예: 터치 센서 IC(253))는 디스플레이 구동 회로(230), 또는 디스플레이(210)의 일부로, 또는 표시 장치(160)의 외부에 배치된 다른 구성요소(예: 보조 프로세서(123))의 일부로 포함될 수 있다.According to one embodiment, the display device 160 may further include a touch circuit 250. The touch circuit 250 may include a touch sensor 251 and a touch sensor IC 253 for controlling the touch sensor 251. For example, the touch sensor IC 253 may control the touch sensor 251 to detect a touch input or hovering input for a specific position of the display 210. For example, the touch sensor IC 253 may detect a touch input or a hovering input by measuring a change in a signal (eg, voltage, light amount, resistance, or charge amount) for a specific position of the display 210. The touch sensor IC 253 may provide information (e.g., location, area, pressure, or time) about the detected touch input or hovering input to the processor 120. According to one embodiment, at least a portion of the touch circuit 250 (e.g., the touch sensor IC 253) is disposed as part of the display driving circuit 230, the display 210, or outside the display device 160. It may be included as part of other components (e.g., auxiliary processor 123).

일 실시 예에 따르면, 표시 장치(160)는 센서 모듈(176)의 적어도 하나의 센서(예: 지문 센서, 홍채 센서, 압력 센서 또는 조도 센서), 또는 이에 대한 제어 회로를 더 포함할 수 있다. 이 경우, 상기 적어도 하나의 센서 또는 이에 대한 제어 회로는 표시 장치(160)의 일부(예: 디스플레이(210) 또는 디스플레이 구동 회로(230)) 또는 터치 회로(250)의 일부에 임베디드될 수 있다. 예를 들면, 표시 장치(160)에 임베디드된 센서 모듈(176)이 생체 센서(예: 지문 센서)를 포함할 경우, 상기 생체 센서는 디스플레이(210)의 일부 영역을 통해 터치 입력과 연관된 생체 정보(예: 지문 이미지)를 획득할 수 있다. 다른 예를 들면, 표시 장치(160)에 임베디드된 센서 모듈(176)이 압력 센서를 포함할 경우, 상기 압력 센서는 디스플레이(210)의 일부 또는 전체 영역을 통해 터치 입력과 연관된 압력 정보를 획득할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 터치 센서(251) 또는 센서 모듈(176)은 디스플레이(210)의 픽셀 레이어의 픽셀들 사이에, 또는 상기 픽셀 레이어의 위 또는 아래에 배치될 수 있다. According to one embodiment, the display device 160 may further include at least one sensor (eg, a fingerprint sensor, an iris sensor, a pressure sensor, or an illumination sensor) of the sensor module 176, or a control circuit therefor. In this case, the at least one sensor or a control circuit therefor may be embedded in a part of the display device 160 (eg, the display 210 or the display driving circuit 230) or a part of the touch circuit 250. For example, when the sensor module 176 embedded in the display device 160 includes a biometric sensor (e.g., a fingerprint sensor), the biometric sensor transmits biometric information associated with a touch input through a portion of the display 210. (e.g. fingerprint image) can be acquired. For another example, when the sensor module 176 embedded in the display device 160 includes a pressure sensor, the pressure sensor may acquire pressure information associated with a touch input through part or the entire area of the display 210. You can. According to one embodiment, the touch sensor 251 or the sensor module 176 may be disposed between pixels of a pixel layer of the display 210, or above or below the pixel layer.

도 3a는 일 실시 예에 따른 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 열화를 보상하는 전자 장치(101) 및 서버(108)를 나타낸 블록도(300)이다.FIG. 3A is a block diagram 300 illustrating an electronic device 101 and a server 108 that compensate for deterioration of a display (eg, the display 210 of FIG. 2) according to an embodiment.

일 실시 예에서, 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 샘플링부(311), 열화 예측부(313), 열화 정도 산출부(315), 보상 기준부(317), 및/또는 보상 데이터 생성부(319)를 포함할 수 있다. 서버(108)는 빅 데이터(Big Data) 수집부(321), 샘플링 주기 설정부(323), 및/또는 보상 기준 설정부(325)를 포함할 수 있다. 그러나 이에 한정되지 않고, 샘플링 주기 설정부(323) 및/또는 보상 기준 설정부(325)는 전자 장치(101)에 포함될 수 있다. DDI(230)는 열화 보상부(330)를 포함할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 of the electronic device 101 includes a sampling unit 311, a deterioration prediction unit 313, a deterioration degree calculation unit 315, a compensation standard unit 317, and/or generates compensation data. It may include part 319. The server 108 may include a big data collection unit 321, a sampling period setting unit 323, and/or a compensation standard setting unit 325. However, the present invention is not limited to this, and the sampling period setting unit 323 and/or the compensation standard setting unit 325 may be included in the electronic device 101 . DDI 230 may include a deterioration compensation unit 330.

일 실시 예에서, 샘플링부(311)는 디스플레이(210)의 이미지를 샘플링(sampling)할 수 있다. 샘플링부(311)는 이미지를 주기적으로 샘플링할 수 있다. 샘플링부(311)는 디스플레이(210)의 열화 및/또는 번-인(burn-in)에 관련된 정보를 주기적으로 획득할 수 있다. 예를 들어, 샘플링부(311)는 디스플레이(210)의 휘도를 주기적으로 획득할 수 있다.In one embodiment, the sampling unit 311 may sample the image of the display 210. The sampling unit 311 may periodically sample the image. The sampling unit 311 may periodically obtain information related to deterioration and/or burn-in of the display 210. For example, the sampling unit 311 may periodically acquire the luminance of the display 210.

일 실시 예에서, 열화 예측부(313)는 디스플레이(210)의 열화를 예측할 수 있다. 열화 예측부(313)는 디스플레이(210)의 열화에 관련된 정보에 기반하여 디스플레이(210)가 얼마나 열화될 지 여부를 예측할 수 있다. 열화 예측부(313)는 샘플링부(311)에서 주기적으로 획득한 디스플레이(210)의 열화 및/또는 번-인(burn-in)에 관련된 정보를 이용하여 디스플레이(210)의 열화를 예측 할 수 있다. 열화 예측부(313)는 샘플링부(311)에서 주기적으로 획득한 디스플레이(210)의 열화 및/또는 번-인(burn-in)에 관련된 정보 및 보상 데이터 생성부(319)에서 디스플레이(210)의 열화를 보상하기 위하여 생성한 보상 데이터를 이용하여 디스플레이(210)의 열화를 예측 할 수 있다.In one embodiment, the deterioration prediction unit 313 may predict deterioration of the display 210. The deterioration prediction unit 313 may predict how much the display 210 will deteriorate based on information related to the deterioration of the display 210. The deterioration prediction unit 313 can predict the deterioration of the display 210 using information related to the deterioration and/or burn-in of the display 210 periodically acquired by the sampling unit 311. there is. The deterioration prediction unit 313 provides information related to the deterioration and/or burn-in of the display 210 periodically acquired by the sampling unit 311 and the display 210 from the compensation data generation unit 319. Deterioration of the display 210 can be predicted using compensation data generated to compensate for the deterioration.

일 실시 예에서, 열화 정도 산출부(315)는 디스플레이(210)의 열화 정도(burn-in determinant index, BDI)를 계산할 수 있다. 열화 정도 산출부(315)는 누적된 디스플레이 열화 데이터를 이용하여 디스플레이(210)의 휘도 열화 정도를 수치로 계산할 수 있다. 열화 정도 산출부(315)는 누적된 디스플레이 휘도 열화 정도를 기반으로 디스플레이(210)의 복수의 화소들 사이의 최대 휘도차 또는 평균 휘도차를 수치로 계산할 수 있다. 열화 정도 산출부(315)는 누적된 디스플레이 휘도 열화 정도를 기반으로 디스플레이(210)의 복수의 화소의 휘도 열화 정보에 대한 분산 값을 수치로 계산 할 수 있다. 열화 정도 산출부(315)는 사용자가 실제로 체감하는 디스플레이(210)의 화면에서의 체감 열화 정도를 수치로 계산할 수 있다. 열화 정도 산출부(315)는 디스플레이(210)의 열화 보상 후 사용자가 실제로 체감하는 디스플레이(210)의 화면에서의 복수의 화소들 사이의 최대 휘도차 또는 평균 휘도차를 수치로 계산할 수 있다. 열화 정도 산출부(315)는 디스플레이(210) 열화 보상 후 사용자가 실제로 체감하는 디스플레이(210) 화면에서의 복수의 화소의 휘도 열화 정보에 대한 분산 값을 수치로 계산 할 수 있다. 열화 정도 산출부(315)는 전자 장치(101)의 사용 패턴에 기반하여 헤비 유저(Heavy User)를 검출할 수 있다.In one embodiment, the deterioration degree calculation unit 315 may calculate the degree of deterioration (burn-in determinant index, BDI) of the display 210. The deterioration degree calculation unit 315 may calculate the degree of luminance deterioration of the display 210 as a numerical value using the accumulated display deterioration data. The degradation degree calculation unit 315 may numerically calculate the maximum luminance difference or average luminance difference between the plurality of pixels of the display 210 based on the accumulated display luminance degradation degree. The deterioration degree calculation unit 315 may numerically calculate the variance value for the luminance deterioration information of a plurality of pixels of the display 210 based on the accumulated display luminance deterioration degree. The degree of deterioration calculation unit 315 may calculate the degree of deterioration actually felt by the user on the screen of the display 210 as a numerical value. The deterioration degree calculation unit 315 may numerically calculate the maximum luminance difference or average luminance difference between a plurality of pixels on the screen of the display 210 that the user actually experiences after compensating for the deterioration of the display 210. The deterioration degree calculation unit 315 may numerically calculate the variance value of luminance deterioration information of a plurality of pixels on the screen of the display 210 that the user actually experiences after compensating for the deterioration of the display 210. The deterioration degree calculation unit 315 may detect a heavy user based on the usage pattern of the electronic device 101.

일 실시 예에서, 보상 기준부(317)는 디스플레이(210)의 열화 보상을 실시하는 기준을 설정할 수 있다. 보상 기준부(317)는 디스플레이(210)에서 출력하는 이미지에 기반하여 디스플레이(210)의 보상을 실시하는 기준을 설정할 수 있다. 보상 기준부(317)는 사용자가 실제로 시인하는 이미지에서 열화가 발생하는 정도가 임계 값 이상인 경우 보상을 수행하도록 보상을 실시하는 기준을 설정할 수 있다.In one embodiment, the compensation standard unit 317 may set a standard for compensating for deterioration of the display 210. The compensation standard unit 317 may set a standard for compensating the display 210 based on the image output from the display 210. The compensation standard unit 317 may set a standard for performing compensation so that compensation is performed when the degree of deterioration in the image actually viewed by the user is greater than or equal to a threshold value.

일 실시 예에서, 임계 값은 사용자가 이미지에서 열화가 발생하였음을 시인할 수 있는 수치로 설정될 수 있다. 예를 들어, 임계 값은 체감 시인성 지표 값을 기준으로 약 300 이상 약 400 이하의 값으로 설정될 수 있다. 다른 예로, 임계 값은 체감 휘도차 지표 값을 기준으로 약 200 이상 약 300 이하의 값으로 설정될 수 있다. 임계 값은 전자 장치(101)의 메모리(예: 도 1의 메모리(130))에 저장될 수 있다. 예를 들어, 임계 값은 전자 장치(101)의 제조 시 코드 형태로 입력될 수 있다. 다른 예로, 임계 값은 서버(108)로부터 소프트웨어 업데이트 형태로 전자 장치(101)에 제공될 수 있다. 서버(108)는 빅 데이터 수집부(321)를 통해 사용자가 이미지의 열화를 시인하기 시작하는 수치들을 수집하여 임계 값을 통계적으로 산출할 수 있다.In one embodiment, the threshold value may be set to a value at which the user can recognize that deterioration has occurred in the image. For example, the threshold value may be set to a value between approximately 300 and approximately 400 based on the perceived visibility index value. As another example, the threshold value may be set to a value between about 200 and about 300 based on the perceived luminance difference index value. The threshold value may be stored in the memory of the electronic device 101 (eg, memory 130 in FIG. 1). For example, the threshold value may be input in the form of a code when manufacturing the electronic device 101. As another example, the threshold value may be provided to the electronic device 101 from the server 108 in the form of a software update. The server 108 can collect numerical values at which users begin to recognize image deterioration through the big data collection unit 321 and statistically calculate the threshold value.

일 실시 예에서, 보상 데이터 생성부(319)는 디스플레이(210)의 열화를 보상하기 위한 보상 데이터를 작성할 수 있다. 보상 데이터 생성부(319)는 디스플레이 열화 보상을 실시하는 기준에 따라 보상 데이터를 작성할 수 있다. 보상 데이터 생성부(319)는 헤비 유저로 판단한 경우 보상 데이터를 작성할 수 있다. 보상 데이터 생성부(319)는 사용자가 실제로 시인하는 이미지의 열화 정도가 임계 값 이상인 경우 보상 데이터를 작성할 수 있다. 보상 데이터 생성부(319)는 생성한 보상 데이터를 DDI(230)의 열화 보상부(330)로 전달할 수 있다.In one embodiment, the compensation data generator 319 may create compensation data to compensate for deterioration of the display 210. The compensation data generator 319 may create compensation data according to standards for performing display degradation compensation. The compensation data generator 319 may create compensation data when it is determined that the user is a heavy user. The compensation data generator 319 may create compensation data when the degree of image deterioration actually viewed by the user is greater than or equal to a threshold value. The compensation data generator 319 may transmit the generated compensation data to the deterioration compensation unit 330 of the DDI 230.

일 실시 예에서, 빅 데이터 수집부(321)는 열화 정도 산출부(315)로부터 열화 정도를 전달받을 수 있다. 빅 데이터 수집부(321)는 디스플레이(210)에서 출력되어 사용자가 실제로 시인하는 이미지의 열화 정도를 판단하기 위한 지표들을 수집할 수 있다. 빅 데이터 수집부(321)는 디스플레이(210) 자체에서 출력되어 사용자가 실제로 시인하는 이미지에 포함된 파라미터들을 획득할 수 있다. 예를 들어, 샘플링부(311)는 디스플레이(210)에서 출력하는 이미지를 보상한 후 사용자가 시인하는 체감(effective) 시인성 지표를 획득할 수 있다. 다른 예로, 빅 데이터 수집부(321)는 열화 발생 정도가 미리 설정된 정도 이상인 어플리케이션(예: 도 1의 어플리케이션(146))과 관련된 정보를 수집할 수 있다. 또 다른 예로, 빅 데이터 수집부(321)는 사용자가 전자 장치(101)를 사용하는 형태와 관련된 정보를 수집할 수 있다. 전자 장치(101)를 사용하는 형태는 디스플레이(210)에 단일한 어플리케이션(146)의 화면을 표시하는지 또는 복수의 어플리케이션(146)들에 의한 멀티 윈도우 화면을 표시하는지 여부를 포함할 수 있다. 또 다른 예로, 빅 데이터 수집부(321)는 전자 장치(101)의 설정(setting)과 관련된 정보를 수집할 수 있다. 전자 장치(101)의 설정과 관련된 정보는 디스플레이(210)에서 지정된 시간이 경과하는 동안 화면의 변화 및 사용자의 입력이 없는 경우 화면이 자동으로 턴-오프(turn-off)되도록 하는 화면 자동 꺼짐 시간을 포함할 수 있다.In one embodiment, the big data collection unit 321 may receive the degree of degradation from the degree of degradation calculation unit 315. The big data collection unit 321 can collect indicators for determining the degree of deterioration of the image output from the display 210 and actually viewed by the user. The big data collection unit 321 can obtain parameters included in the image output from the display 210 itself and actually viewed by the user. For example, the sampling unit 311 may compensate for the image output from the display 210 and then obtain an effective visibility index perceived by the user. As another example, the big data collection unit 321 may collect information related to an application (e.g., the application 146 in FIG. 1) in which the degree of deterioration is greater than or equal to a preset level. As another example, the big data collection unit 321 may collect information related to the way the user uses the electronic device 101. The form of using the electronic device 101 may include whether to display a screen of a single application 146 or a multi-window screen of a plurality of applications 146 on the display 210. As another example, the big data collection unit 321 may collect information related to the settings of the electronic device 101. Information related to the settings of the electronic device 101 includes a screen auto-off time that automatically turns off the screen when there is no change in the screen or user input during a specified time period on the display 210. may include.

일 실시 예에서, 샘플링 주기 설정부(323)는 샘플링부(311)가 디스플레이(210)의 이미지를 샘플링하는 주기를 설정할 수 있다. 샘플링 주기 설정부(323)는 전자 장치(101)의 사용 패턴에 기반하여 샘플링 주기를 변화시킬 수 있다.In one embodiment, the sampling period setting unit 323 may set a period at which the sampling unit 311 samples the image of the display 210. The sampling period setting unit 323 may change the sampling period based on the usage pattern of the electronic device 101.

일 실시 예에서, 샘플링 주기 설정부(323)는 샘플링부(311)의 샘플링 주기를 적응적(adaptive)으로 변화시킬 수 있다. 예를 들어, 샘플링 주기 설정부(323)는 디스플레이(210)의 휘도, 디스플레이(210)의 턴-온(turn-on) 시간, 및/또는 사용자의 어플리케이션(예: 도 1의 어플리케이션(146))의 사용 패턴에 따라 사용자 별로 디스플레이(210)를 샘플링하는 주기를 가변시킬 수 있다.In one embodiment, the sampling period setting unit 323 may adaptively change the sampling period of the sampling unit 311. For example, the sampling period setting unit 323 may set the luminance of the display 210, the turn-on time of the display 210, and/or the user's application (e.g., the application 146 of FIG. 1). ) The sampling cycle of the display 210 can be varied for each user depending on the usage pattern.

일 실시 예에서, 보상 기준 설정부(325)는 보상 기준부(317)의 보상 기준을 설정할 수 있다. 보상 기준 설정부(325)는 전자 장치(101)의 종류 및/또는 전자 장치(101)의 사용 기간에 따른 열화 정도의 분포를 분석할 수 있다. 보상 기준 설정부(325)는 열화 정도의 분포에 기반하여 열화 보상 기준을 동적(dynamic)으로 변화시키면서 관리할 수 있다.In one embodiment, the compensation standard setting unit 325 may set the compensation standard of the compensation standard unit 317. The compensation standard setting unit 325 may analyze the distribution of the degree of deterioration according to the type of electronic device 101 and/or the period of use of the electronic device 101. The compensation standard setting unit 325 can manage the degradation compensation standard by dynamically changing it based on the distribution of the degree of degradation.

일 실시 예에서, 보상 기준 설정부(325)는 디스플레이(210)에서 출력하는 이미지에 기반하여 보상을 실시하는 기준을 설정할 수 있다. 보상 기준 설정부(325)는 사용자가 실제로 시인하는 이미지에서 열화가 발생하는 정도가 임계 값 이상인 경우 보상을 수행하도록 보상을 실시하는 기준을 설정할 수 있다. 임계 값은 사용자가 이미지에서 열화가 발생하였음을 시인할 수 있는 수치로 설정될 수 있다.In one embodiment, the compensation standard setting unit 325 may set a standard for performing compensation based on the image output from the display 210. The compensation standard setting unit 325 may set a standard for performing compensation so that compensation is performed when the degree of deterioration in the image actually viewed by the user is greater than or equal to a threshold value. The threshold value can be set to a value at which the user can recognize that deterioration has occurred in the image.

일 실시 예에서, 열화 보상부(330)는 디스플레이(210)의 열화를 보상할 수 있다. 열화 보상부(330)는 DDI(230)에서 디스플레이(210)의 열화가 시인되지 않도록 보상된 데이터에 대응하는 데이터 전압을 출력하도록 DDI(230)를 제어할 수 있다.In one embodiment, the deterioration compensator 330 may compensate for deterioration of the display 210. The deterioration compensator 330 may control the DDI 230 to output a data voltage corresponding to the compensated data so that the deterioration of the display 210 is not recognized by the DDI 230 .

도 3b는 일 실시 예에 따른 누적된 열화 이미지인 제1 이미지(360)와 보상 이미지인 제2 이미지(370)를 결합하여 생성된, 사용자가 실제로 시인하는 제3 이미지(380)를 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))에 표시하여 디스플레이(210)의 열화를 보상하는 것을 나타낸 도면(350)이다.Figure 3b is a display (example) of the third image 380 that the user actually sees, which is generated by combining the first image 360, which is an accumulated deterioration image, and the second image 370, which is a compensation image, according to an embodiment. : This is a diagram 350 showing compensation for deterioration of the display 210 by displaying it on the display 210 of FIG. 2.

일 실시 예에서, 제1 이미지(360)는 디스플레이(210)의 구동에 따라 누적되는 열화 데이터일 수 있다. 제1 이미지(360)는 사용자에게 실제로 시인되지 않는 메모리(130)에 저장되는 수치 값을 2차원 상으로 표시한 가상의 이미지일 수 있다.In one embodiment, the first image 360 may be deterioration data accumulated as the display 210 is driven. The first image 360 may be a virtual image that displays numerical values stored in the memory 130 that are not actually visible to the user in two dimensions.

일 실시 예에서, 제1 이미지(360)는 디스플레이(210)의 사용 히스토리 이력에 의해 누적되거나 변화하는 파라미터들을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1 이미지(360)는 디스플레이(210)의 사용 히스토리 이력에 의해 발생하는 열화로 인한 시인성 및/또는 휘도 차이 값을 시간의 흐름에 따라 누적한 데이터를 포함할 수 있다.In one embodiment, the first image 360 may have parameters that accumulate or change depending on the usage history of the display 210. For example, the first image 360 may include data accumulated over time of visibility and/or luminance difference values due to deterioration caused by the use history of the display 210.

일 실시 예에서, 제2 이미지(370)는 보상 이미지일 수 있다. 제2 이미지(370)는 제1 이미지(360)에 발생한 열화를 보정하는 데이터일 수 있다.In one embodiment, the second image 370 may be a compensation image. The second image 370 may be data that corrects deterioration that occurred in the first image 360.

일 실시 예에서, 제3 이미지(380)는 디스플레이(210)에 표시되는 이미지일 수 있다. 제3 이미지(380)는 사용자가 실제로 시인하는 이미지일 수 있다. 제3 이미지(380)는 제1 이미지(360) 및 제2 이미지(370)를 결합하여 생성할 수 있다.In one embodiment, the third image 380 may be an image displayed on the display 210. The third image 380 may be an image that the user actually sees. The third image 380 can be created by combining the first image 360 and the second image 370.

일 실시 예에서, 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(101))의 프로세서(예: 도 1의 프로세서(120))는 제3 이미지(380)에 기반하여 제2 이미지(370)를 생성할 수 있다. 프로세서(120)는 제3 이미지(380)의 열화 정도를 나타내는 파라미터들이 지정된 임계 값 이상인 경우 제2 이미지(370)를 갱신할 수 있다. 프로세서(120)는 제3 이미지(380)의 열화 정도를 나타내는 파라미터들이 지정된 임계 값 이상인 경우 제2 이미지(370)를 갱신하는 트리거(trigger) 동작을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 갱신된 제2 이미지(370)를 이용하여 제1 이미지(360)를 보상하여 열화를 보상한 제3 이미지(380)가 사용자에게 시인되도록 할 수 있다.In one embodiment, a processor (e.g., processor 120 of FIG. 1) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 1) generates a second image 370 based on the third image 380. can do. The processor 120 may update the second image 370 when parameters indicating the degree of deterioration of the third image 380 are greater than or equal to a specified threshold value. The processor 120 may perform a trigger operation to update the second image 370 when parameters indicating the degree of deterioration of the third image 380 are greater than or equal to a specified threshold value. The processor 120 may compensate for the first image 360 using the updated second image 370 so that the third image 380 with deterioration compensated for is visible to the user.

도 4는 일 실시 예에 따른 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 열화를 보상하는 방법을 나타낸 흐름도(400)이다.FIG. 4 is a flowchart 400 illustrating a method for compensating for deterioration of a display (eg, the display 210 of FIG. 2 ) according to an embodiment.

일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 동작 410에서, 사용 패턴에 기반하여 디스플레이(210)의 열화에 관련된 정보를 샘플링하는 주기를 가변시킬 수 있다. 프로세서(120)는 빅 데이터 또는 머신 러닝(Machine Learning)과 같은 방법을 이용하여 전자 장치(101)의 사용 패턴 및/또는 사용성을 반영한 가변 주기 샘플링 방법을 적용할 수 있다.In operation 410, the processor (e.g., processor 120 of FIG. 3a) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 3a) according to an embodiment determines the deterioration of the display 210 based on a usage pattern. The period of sampling information can be varied. The processor 120 may apply a variable periodic sampling method that reflects the usage pattern and/or usability of the electronic device 101 using methods such as big data or machine learning.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 휘도 설정 정보에 기반하여 샘플링 주기를 가변시킬 수 있다. 예를 들어, 현재 디스플레이(210)의 휘도가 지정된 휘도 이하인 경우에는 디스플레이(210)에 배치된 복수의 화소들 각각의 열화 및/또는 에이징(aging)이 느리게 진행되기 때문에 샘플링 속도를 감소시킬 수 있다. 프로세서(120)는 휘도 설정 정보에서 현재 디스플레이(210)의 휘도가 지정된 휘도 이하인 경우에는 샘플링 주기를 증가시키도록 설정될 수 있다. 다른 예로, 디스플레이(210)의 휘도가 지정된 휘도 이상인 경우에는 디스플레이(210)에 배치된 복수의 화소들 각각의 열화 및/또는 에이징이 빠르게 진행되기 때문에 샘플링 속도를 증가시켜서 에이징 정보를 보다 정확하게 예측할 수 있다. 프로세서(120)는 휘도 설정 정보에서 현재 디스플레이(210)의 휘도가 지정된 휘도 이상인 경우에는 샘플링 주기를 감소시키도록 설정될 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may vary the sampling period based on the luminance setting information of the display 210. For example, when the current luminance of the display 210 is below the specified luminance, the sampling rate can be reduced because each of the plurality of pixels arranged on the display 210 deteriorates and/or ages slowly. . The processor 120 may be set to increase the sampling period when the current luminance of the display 210 is less than the luminance specified in the luminance setting information. As another example, when the luminance of the display 210 is higher than the specified luminance, the deterioration and/or aging of each of the plurality of pixels arranged on the display 210 progresses rapidly, so aging information can be predicted more accurately by increasing the sampling rate. there is. The processor 120 may be set to decrease the sampling period when the current luminance of the display 210 is higher than the luminance specified in the luminance setting information.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 전자 장치(101)의 사용자의 어플리케이션(예: 도 1의 어플리케이션(146))의 사용 시나리오와 관련된 빅 데이터에 기반하여 디스플레이(210)의 열화에 관련된 정보의 샘플링 주기를 가변할 수 있다. 열화 현상은 특정한 어플리케이션(146)을 장시간 사용하였을 때 특정 어플리케이션(146)의 이미지 프레임 형상에 대응하여 발생할 수 있다. 전자 장치(101)의 사용자가 적어도 하나 이상의 어플리케이션(146)을 조합하여 사용하는 경우, 서버(예: 도 3a의 서버(108)) 및/또는 전자 장치(101)는 사용자의 어플리케이션(146) 사용 시나리오와 관련된 빅 데이터를 수집할 수 있다. 서버(108)에서 빅 데이터를 수집하는 경우, 서버(108)는 빅 데이터에 기반하여 샘플링 주기를 가변하여 프로세서(120)로 전달할 수 있다. 프로세서(120)는 서버(108)로부터 전달받은 샘플링 주기를 적용하거나, 전자 장치(101)가 수집한 빅 데이터에 기반하여 샘플링 주기를 적응적으로 가변시킬 수 있다. 프로세서(120)는 전자 장치(101)가 열화 보상을 수행하기 위해 필요한 리소스(resource)를 변화시킬 수 있다. 프로세서(120)는 열화 현상을 보다 정확하게 예측할 수 있어 DDI(예: 도 3a의 DDI(230))의 열화 보상 성능을 개선할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 stores information related to the deterioration of the display 210 based on big data related to the usage scenario of the user's application (e.g., the application 146 of FIG. 1) of the electronic device 101. The sampling period can be varied. Deterioration may occur in response to the image frame shape of a specific application 146 when the specific application 146 is used for a long period of time. When the user of the electronic device 101 uses at least one application 146 in combination, the server (e.g., the server 108 in FIG. 3A) and/or the electronic device 101 uses the user's application 146. Big data related to the scenario can be collected. When collecting big data in the server 108, the server 108 can change the sampling period based on the big data and transmit it to the processor 120. The processor 120 may apply the sampling period received from the server 108 or adaptively vary the sampling period based on big data collected by the electronic device 101. The processor 120 may change the resources required for the electronic device 101 to perform degradation compensation. The processor 120 can predict the degradation phenomenon more accurately, thereby improving the degradation compensation performance of the DDI (e.g., the DDI 230 in FIG. 3A).

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 전자 장치(101)의 사용자의 개별적인 어플리케이션(146) 사용 패턴을 머신 러닝 기술을 이용하여 학습하여 샘플링 주기를 가변시킬 수 있다. 프로세서(120)는 로컬 차원에서 전자 장치(101)의 사용자의 어플리케이션(146)의 사용 패턴에 기반하여 샘플링 주기를 가변시킬 수 있다. 각각의 전자 장치(101)의 사용자의 샘플링 주기는 서로 달라질 수 있다. 프로세서(120)는 전자 장치(101) 열화 보상을 수행하기 위해 필요한 리소스를 변화시키고 열화 현상을 보다 정확하게 예측할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may change the sampling period by learning the user's individual application 146 usage pattern of the electronic device 101 using machine learning technology. The processor 120 may vary the sampling period based on the usage pattern of the application 146 of the user of the electronic device 101 at a local level. The sampling period of the user of each electronic device 101 may be different. The processor 120 can change the resources required to compensate for degradation of the electronic device 101 and predict the degradation phenomenon more accurately.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 415에서, 디스플레이(210)의 열화 정보를 샘플링 및 누적시킬 수 있다. 디스플레이(210)의 열화 정보는 지정된 주기마다 샘플링할 수 있다. 샘플링된 디스플레이(210)의 열화 정보는 메모리(예: 도 1의 메모리(130))에 저장된 이전 열화 정보에 합쳐져서 누적될 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may sample and accumulate deterioration information of the display 210 in operation 415. Deterioration information on the display 210 can be sampled at designated periods. The sampled degradation information of the display 210 may be accumulated by combining previous degradation information stored in a memory (eg, memory 130 of FIG. 1).

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 420에서, 디스플레이(210) 사용 시간이 제1 시간을 초과하였는지 확인할 수 있다. 디스플레이(210)의 사용 시간은 샘플링 주기들의 합일 수 있다. 디스플레이(210)의 사용 시간이 지정된 시간을 경과한 후에 열화 현상이 발생할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 사용 시간이 제1 시간을 초과하지 않은 경우(동작 420 - No) 동작 410으로 돌아갈 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 사용 시간이 제1 시간을 초과한 경우(동작 420 - Yes) 동작 430으로 진행할 수 있다. 일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 430에서, 디스플레이(210)의 열화 정도를 나타내는 스트레스 맵(stress map)을 업데이트할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이의 복수의 화소들 각각의 사용 히스토리를 기반으로 디스플레이 열화 정도를 계산하고 이를 스트레스 맵에 업데이트 할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 샘플링부(예: 도 3a의 샘플링부(311))에서 주기적으로 획득한 디스플레이의 열화 및/또는 에이징에 관련된 정보를 기반으로 열화 정도를 계산하고 이를 스트레스 맵에 업데이트 할 수 있다. 프로세서(120)는 샘플링부(311)에서 주기적으로 획득한 디스플레이(210)의 열화 및/또는 에이징에 관련된 정보와 현재의 열화 보상 데이터를 결합하여 디스플레이(210)의 실제 사용 히스토리를 기반으로 열화 정도를 계산하고 이를 스트레스 맵에 업데이트 할 수 있다. 프로세서(120)는 업데이트 된 디스플레이의 복수의 화소들 각각의 열화 정도와 현재의 열화 보상 데이터를 결합하여 디스플레이(210)에서 실제 출력되어 사용자가 시인하는 디스플레이의 열화 정도에 관련된 열화 정보를 메모리(예: 도 1의 메모리(130))에 저장할 수 있다. 프로세서(120)는 사용자가 실제로 시인하는 디스플레이의 열화 정도를 스트레스 맵에 업데이트 할 수 있다. The processor 120 of the electronic device 101 according to one embodiment may check whether the usage time of the display 210 exceeds the first time in operation 420. The usage time of the display 210 may be the sum of sampling periods. Deterioration may occur after the display 210 has been used for a specified period of time. The processor 120 may return to operation 410 when the usage time of the display 210 does not exceed the first time (operation 420 - No). If the usage time of the display 210 exceeds the first time (operation 420 - Yes), the processor 120 may proceed to operation 430. The processor 120 of the electronic device 101 according to one embodiment may update a stress map indicating the degree of deterioration of the display 210 in operation 430. The processor 120 may calculate the degree of display deterioration based on the usage history of each of the plurality of pixels of the display and update this in the stress map. For example, the processor 120 calculates the degree of deterioration based on information related to display deterioration and/or aging periodically obtained from the sampling unit (e.g., the sampling unit 311 in FIG. 3A) and stores this in the stress map. It can be updated. The processor 120 combines information related to deterioration and/or aging of the display 210 periodically acquired from the sampling unit 311 with the current deterioration compensation data to determine the degree of deterioration based on the actual usage history of the display 210. can be calculated and updated in the stress map. The processor 120 combines the degree of deterioration of each of the plurality of pixels of the updated display with the current deterioration compensation data to store deterioration information related to the degree of deterioration of the display actually output from the display 210 and recognized by the user in memory (e.g. : Can be stored in memory 130 of FIG. 1). The processor 120 may update the stress map with the degree of display deterioration actually perceived by the user.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 440에서, 지정된 이벤트가 발생하거나 업데이트 된 스트레스 맵이 헤비 유저에 해당하는지 여부를 판단할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 열화 보상 기준을 설정하기 위한 이벤트가 발생한 경우이거나 디스플레이(210)의 열화 보상이 필요한 헤비 유저에 해당하는지 여부를 스트레스 맵(Stress Map)의 균일도(Degree of Uniformity), 히스토그램 분포(Degree of Histogram Distribution) 및/또는 분산 (Degree of Local Variance)으로 정규화된 값에 기반하여 판단할 수 있다.In operation 440, the processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may determine whether a specified event occurs or whether the updated stress map corresponds to a heavy user. The processor 120 determines whether an event for setting a deterioration compensation standard for the display 210 occurs or whether the user corresponds to a heavy user who needs deterioration compensation for the display 210 by determining the degree of uniformity of the stress map. ), it can be determined based on the normalized value as the degree of histogram distribution and/or degree of local variance.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 열화 보상 기준을 설정하기 위한 이벤트를 미리 지정할 수 있다. 열화 보상 기준을 설정하기 위한 이벤트는 디스플레이(210)에서 스트레스 맵을 새롭게 업데이트하여야 하는 필요도가 지정된 정도 이상인 경우일 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(101)에 새로운 어플리케이션(146)이 설치되어 새로운 어플리케이션(146)에 대한 모니터링 값을 추가하여야 하는 경우 프로세서(120)는 열화 보상 기준을 설정하기 위한 이벤트가 발생한 것으로 판단할 수 있다. 다른 예로, 전자 장치(101)의 사용자가 전자 장치를 사용하는 시간, 패턴, 자주 사용하는 앱의 횟수와 같은 사용성의 변화가 감지된 경우 프로세서(120)는 열화 보상 기준을 설정하기 위한 이벤트가 발생한 것으로 판단할 수 있다. 또 다른 예로, 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서의 휘도의 분포 상황을 모니터링하고, 디스플레이(210)의 특정한 부분에 고 휘도가 집중되는 화면이 반복적으로 표시되는 경우 열화 보상 기준을 설정하기 위한 이벤트가 발생한 것으로 판단할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may pre-specify an event for setting a standard for compensating for deterioration of the display 210. An event for setting a deterioration compensation standard may be a case where the need to update the stress map in the display 210 is greater than or equal to a specified level. For example, when a new application 146 is installed in the electronic device 101 and monitoring values for the new application 146 need to be added, the processor 120 determines that an event for setting a deterioration compensation standard has occurred. You can. As another example, when a change in usability, such as the time, pattern, or number of frequently used apps, is detected by the user of the electronic device 101 using the electronic device, the processor 120 generates an event for setting a deterioration compensation standard. It can be judged that As another example, the processor 120 monitors the luminance distribution situation in the display 210 and sets a deterioration compensation standard when a screen with high luminance concentrated in a specific part of the display 210 is repeatedly displayed. It can be determined that an event has occurred.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 지정된 이벤트가 발생하지 않고 업데이트 된 스트레스 맵이 헤비 유저에 해당하지 않는 경우(동작 440 - No) 동작 410으로 돌아갈 수 있다. 프로세서(120)는 지정된 이벤트가 발생하거나 업데이트 된 스트레스 맵이 헤비 유저에 해당하는 경우(동작 440 - Yes) 동작 450으로 진행할 수 있다.In one embodiment, processor 120 may return to operation 410 if the designated event does not occur and the updated stress map does not correspond to a heavy user (operation 440 - No). The processor 120 may proceed to operation 450 when a designated event occurs or the updated stress map corresponds to a heavy user (operation 440 - Yes).

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 450에서, 스트레스 맵에 기반하여 보상 기준을 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 사용자에게 실제로 시인되는 이미지가 사용자가 열화를 시인할 수 있는 임계 값 이상인 경우, 디스플레이 열화를 보상할 수 있는 보상 기준을 설정할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may set a compensation standard based on the stress map in operation 450. The processor 120 may set a compensation standard for compensating for display deterioration when the image actually seen by the user is greater than or equal to a threshold at which the user can perceive deterioration.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 전자 장치(101)에 새로운 어플리케이션(146)이 설치될 때 스트레스 맵에 기반하여 보상 기준을 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 새로운 어플리케이션(146)의 설치에 따른 새로운 사용 패턴이 발생함을 예측하고 보상 기준을 설정할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may set a compensation standard based on the stress map when a new application 146 is installed in the electronic device 101. The processor 120 may predict that a new usage pattern will occur due to the installation of the new application 146 and set a compensation standard.

일 실시 예에서, 디스플레이(210)의 열화는 전자 장치(101)의 사용자들 중 일부에게서 발생할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이(210)의 열화는 헤비 유저에게서 발생할 수 있다. 열화 보상을 디스플레이(210)에 열화가 발생하지 않거나 열화를 인식하지 못하는 사용자에게까지 적용하는 것은 전자 장치(101)의 리소스 및/또는 디스플레이(210)의 관리 측면에서 비효율적일 수 있다. 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 누적 사용 시간 및/또는 열화 정도를 지표로 설정하여 헤비 유저인지 여부를 판단할 수 있다. 프로세서(120)는 누적 사용 시간이 지정된 시간 이상이거나 열화 정도가 지정된 수치 이상일 때 열화 보상을 수행할 수 있다.In one embodiment, deterioration of the display 210 may occur in some users of the electronic device 101. For example, deterioration of the display 210 may occur in heavy users. Applying deterioration compensation to users who do not experience deterioration in the display 210 or do not recognize the deterioration may be inefficient in terms of managing the resources of the electronic device 101 and/or the display 210. The processor 120 of the electronic device 101 may determine whether the user is a heavy user by setting the accumulated usage time and/or degree of degradation of the display 210 as indicators. The processor 120 may perform deterioration compensation when the accumulated usage time is more than a specified time or the degree of deterioration is more than a specified value.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 460에서, 설정된 보상 기준에 따라 스트레스 맵에 기반하여 보상 데이터를 생성하여 디스플레이 구동 회로(예: 도 3a의 DDI(230))로 전달할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 열화 보상이 필요할 때 DDI(230)로 보상 데이터를 전달하여 DDI(230)에서 열화 보상을 수행하도록 설정할 수 있다.In operation 460, the processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment generates compensation data based on a stress map according to a set compensation standard and sends it to the display driving circuit (e.g., the DDI 230 in FIG. 3A). It can be delivered. When degradation compensation of the display 210 is required, the processor 120 may transmit compensation data to the DDI 230 and configure the DDI 230 to perform degradation compensation.

도 5는 일 실시 예에 따른 휘도에 따른 샘플링 주기를 나타낸 도면(500)이다.FIG. 5 is a diagram 500 showing a sampling period according to luminance according to an embodiment.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 휘도 세팅 정보에 기반하여 디스플레이(210)의 샘플링 주기를 가변시킬 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정[nit]에 따라 샘플링 주기를 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정이 제1 휘도인 경우 샘플링 주기를 제1 주기로 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정이 제1 휘도보다 높은 제2 휘도인 경우 샘플링 주기를 제1 주기보다 짧은 제2 주기로 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정이 제2 휘도보다 높은 제3 휘도인 경우 샘플링 주기를 제2 주기보다 짧은 제3 주기로 설정할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may vary the sampling period of the display 210 based on the luminance setting information of the display 210. The processor 120 may set the sampling period according to the current luminance setting [nit] of the display 210. If the current luminance setting of the display 210 is the first luminance, the processor 120 may set the sampling period to the first period. If the current luminance setting of the display 210 is a second luminance higher than the first luminance, the processor 120 may set the sampling period to a second period shorter than the first period. If the current luminance setting of the display 210 is a third luminance higher than the second luminance, the processor 120 may set the sampling period to a third period shorter than the second period.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정이 증가할수록 샘플링 주기를 감소시킬 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정이 약 0 nit 이상 약 100 nit 이하인 경우 샘플링 주기를 약 180초로 설정할 수 있다. 다른 예로, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정이 약 100 nit 이상 약 150 nit 이하인 경우 샘플링 주기를 약 120초로 설정할 수 있다. 또 다른 예로, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정이 약 150 nit 이상 약 200 nit 이하인 경우 샘플링 주기를 약 90초로 설정할 수 있다. 또 다른 예로, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 현재 휘도 설정이 약 200 nit 이상 약 250 nit 이하인 경우 샘플링 주기를 약 60초로 설정할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may decrease the sampling period as the current luminance setting of the display 210 increases. For example, the processor 120 may set the sampling period to about 180 seconds when the current luminance setting of the display 210 is about 0 nit or more and about 100 nit or less. As another example, the processor 120 may set the sampling period to about 120 seconds when the current luminance setting of the display 210 is about 100 nit or more and about 150 nit or less. As another example, the processor 120 may set the sampling period to about 90 seconds when the current luminance setting of the display 210 is about 150 nit or more and about 200 nit or less. As another example, the processor 120 may set the sampling period to about 60 seconds when the current luminance setting of the display 210 is about 200 nit or more and about 250 nit or less.

일 실시 예에서, 샘플링 주기는 디스플레이(210)를 구동하는 주파수에 따라 설정될 수 있다. 예를 들어, 약 60㎐의 구동 주파수로 동작하는 디스플레이(210)의 샘플링 주기는 약 1/60초로 설정될 수 있다. 디스플레이(210)의 샘플링 주기는 디스플레이(210)의 열화 정도의 예측 정확도를 높이기 위해 디스플레이의 구동 주파수에 반비례 하도록 설정될 수 있다. 디스플레이(210)의 샘플링 주기는 프로세서(120)의 소비 전력 및/또는 CPU 점유율을 감소시키기 위해 보다 느리게 설정될 수 있다. 프로세서(120)는 사용자의 사용 패턴 정보가 주어지는 경우 디스플레이(210)의 샘플링 주기를 가변적으로 설정할 수 있다.In one embodiment, the sampling period may be set according to the frequency at which the display 210 is driven. For example, the sampling period of the display 210 operating at a driving frequency of about 60 Hz may be set to about 1/60 second. The sampling period of the display 210 may be set to be inversely proportional to the driving frequency of the display to increase the prediction accuracy of the degree of deterioration of the display 210. The sampling period of the display 210 may be set slower to reduce power consumption and/or CPU usage of the processor 120. The processor 120 can variably set the sampling period of the display 210 when information on the user's usage pattern is given.

도 6은 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 사용 패턴을 나타낸 도면(600)이다.FIG. 6 is a diagram 600 showing a usage pattern of an electronic device (eg, the electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment.

일 실시 예에서, 전자 장치(101)의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 적어도 하나의 어플리케이션(예: 도 1의 어플리케이션(146))의 사용 패턴을 획득할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 복수의 어플리케이션(146)들 중 디스플레이(210)의 사용률 상위 어플리케이션에 해당하는 어플리케이션(146)들의 사용 패턴을 전자 장치(101) 및/또는 서버(예: 도 1의 서버(108))로부터 획득할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 전자 장치(101)에 설치된 어플리케이션(146)들 중 사용률 1위부터 20위까지의 어플리케이션(146)들의 사용 패턴을 획득할 수 있다.In one embodiment, the processor of the electronic device 101 (e.g., processor 120 of FIG. 3A) may acquire a usage pattern of at least one application (e.g., application 146 of FIG. 1). For example, the processor 120 records the usage pattern of applications 146 corresponding to the highest usage rate of the display 210 among the plurality of applications 146 to the electronic device 101 and/or the server (e.g., FIG. 1 It can be obtained from the server 108). For example, the processor 120 may obtain the usage pattern of applications 146 ranked from 1st to 20th in usage rate among the applications 146 installed in the electronic device 101.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 적어도 하나의 어플리케이션(146) 각각의 사용 패턴을 수집할 수 있다. 프로세서(120)는 어플리케이션(146)의 종류 별로 사용 패턴을 수집할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K, L, M, N, O, P, Q, R, S, T 어플리케이션(146)의 사용 패턴을 각각 수집할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may collect usage patterns for each of at least one application 146. The processor 120 may collect usage patterns for each type of application 146. For example, processor 120 may run A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K, L, M, N, O, P, Q, R, S, T applications ( 146) usage patterns can be collected respectively.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 적어도 하나의 어플리케이션(146) 각각의 평균 사용 횟수(601) 및/또는 평균 사용 시간(602)을 획득할 수 있다. 평균 사용 횟수(601)는 지정된 기간 동안 어플리케이션(146)을 실행한 횟수일 수 있다. 예를 들어, 평균 사용 횟수(601)는 1일 동안 어플리케이션(146)을 실행한 횟수일 수 있다. 평균 사용 시간(602)은 어플리케이션(146)을 실행하였을 때 1회 당 평균적으로 어플리케이션(146)을 사용하는 시간일 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 1주일 동안 각각의 어플리케이션(146)을 사용하는 총 시간을 수집할 수 있다. 프로세서(120)는 1주일 동안 어플리케이션(146)을 사용하는 총 시간을 1주일 동안 어플리케이션(146)을 실행한 횟수로 나누어서 1회 당 평균적으로 어플리케이션(146)을 사용하는 시간을 산출할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may obtain the average number of uses 601 and/or the average use time 602 of each of the at least one application 146. The average number of uses 601 may be the number of times the application 146 is executed during a specified period. For example, the average number of uses 601 may be the number of times the application 146 is executed in one day. The average usage time 602 may be the average time the application 146 is used per time when the application 146 is executed. For example, processor 120 may collect the total time each application 146 is used during one week. The processor 120 may calculate the average time spent using the application 146 per time by dividing the total time used for the application 146 in one week by the number of times the application 146 is executed in one week.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 지정된 횟수 이상의 평균 사용 횟수(601)를 갖는 제1 어플리케이션(610)의 실행 시 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 샘플링 주기를 감소시킬 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 자주 사용하고 1회 사용 시 짧게 사용하는 메시지 어플리케이션인 A 어플리케이션을 지정된 횟수 이상의 평균 사용 횟수(601)를 갖는 제1 어플리케이션(610)으로 분류할 수 있다. 프로세서(120)는 A 어플리케이션의 실행 시 디스플레이(210)의 샘플링 주기를 감소시킬 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may reduce the sampling period of the display (e.g., the display 210 of FIG. 2) when executing the first application 610 having an average number of uses 601 greater than a specified number of times. . For example, the processor 120 may classify Application A, which is a messaging application that is frequently used and used only briefly, as the first application 610 having an average number of uses (601) greater than a specified number of times. The processor 120 may reduce the sampling period of the display 210 when executing application A.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 지정된 횟수 이상의 평균 사용 시간(602)을 갖는 제2 어플리케이션(620, 630)의 실행 시 디스플레이(210)의 샘플링 주기를 증가시킬 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 가끔 사용하고 1회 사용 시 길게 사용하는 동영상 및/또는 비디오 어플리케이션인 B, L 어플리케이션을 지정된 횟수 이상의 평균 사용 시간(602)을 갖는 제2 어플리케이션(620, 630)으로 분류할 수 있다. 프로세서(120)는 B 및/또는 L 어플리케이션의 실행 시 디스플레이(210)의 샘플링 주기를 증가시킬 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may increase the sampling period of the display 210 when executing the second application 620 or 630 that has an average usage time 602 of a specified number or more. For example, the processor 120 may use B and L applications, which are video and/or video applications that are used occasionally and for a long time at a time, to the second applications 620 and 630 that have an average use time 602 of more than a specified number of times. It can be classified as: The processor 120 may increase the sampling period of the display 210 when executing the B and/or L application.

도 7은 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))가 어플리케이션(예: 도 1의 어플리케이션(146)) 별 누적 사용 시간을 산출하여 열화와 관련된 정보의 샘플링(sampling) 주기를 가변시키기 위한 가변 주기 후보를 선택하는 것을 나타낸 도면(700)이다.FIG. 7 shows that an electronic device (e.g., the electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment calculates the cumulative usage time for each application (e.g., the application 146 of FIG. 1) and performs sampling of information related to deterioration. ) This is a diagram 700 showing selection of a variable cycle candidate for varying the cycle.

일 실시 예에서, 서버(예: 도 3a의 서버(108))는 전자 장치(101)의 사용자들 각각의 어플리케이션(146)의 사용 패턴을 획득할 수 있다. 예를 들어, 서버(108)는 사용자들이 전자 장치(101)를 사용하는 시나리오와 관련된 빅 데이터를 수집할 수 있다. 서버(108)는 빅 데이터를 전자 장치(101)로 전달할 수 있다. 그러나 이에 한정되지 않으며, 전자 장치(101)에서 사용자들 각각의 어플리케이션(146)의 사용 패턴을 획득할 수도 있다. 프로세서(120)는 빅 데이터에 기반하여 디스플레이(210)의 샘플링 주기를 가변할 수 있다.In one embodiment, a server (eg, server 108 in FIG. 3A) may obtain the usage pattern of the application 146 of each user of the electronic device 101. For example, server 108 may collect big data related to scenarios in which users use electronic device 101 . The server 108 may transmit big data to the electronic device 101. However, the present invention is not limited to this, and the electronic device 101 may obtain usage patterns of each user's application 146. The processor 120 may vary the sampling period of the display 210 based on big data.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 열화와 관련된 정보의 샘플링 주기를 가변시킬 수 있다. 프로세서(120)는 제1 주기(710), 제2 주기(720), 제3 주기(730), 제4 주기(740), 제5 주기(750), 제6 주기(760), 및/또는 제7 주기(770)로 열화와 관련된 정보의 샘플링 주기를 가변시킬 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 랜덤 시나리오에 따라 디스플레이(210)를 1초, 10초, 30초, 1분, 2분, 5분, 10분과 같이 서로 다른 샘플링 주기로 샘플링할 수 있다. In one embodiment, the processor 120 may vary the sampling period of information related to deterioration of the display 210. The processor 120 may perform a first cycle 710, a second cycle 720, a third cycle 730, a fourth cycle 740, a fifth cycle 750, a sixth cycle 760, and/or In the seventh period 770, the sampling period of information related to deterioration can be varied. For example, the processor 120 may sample the display 210 at different sampling periods, such as 1 second, 10 seconds, 30 seconds, 1 minute, 2 minutes, 5 minutes, and 10 minutes, according to a random scenario.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 가변된 열화와 관련된 정보의 샘플링 주기로 샘플링할 수 있다. 프로세서(120)에서 초기에 설정된 샘플링 주기와 비교하여 샘플링 주기가 길어질수록 디스플레이(210)의 열화 정도 예측 오차가 증가할 수 있다. 예를 들어, 제1 주기(710)보다 제7 주기(770)에서 디스플레이(210)의 열화 정도에 대한 예측 오차가 증가할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may sample information related to degradation at a variable sampling period. As the sampling period becomes longer compared to the sampling period initially set in the processor 120, the error in predicting the degree of deterioration of the display 210 may increase. For example, the prediction error regarding the degree of deterioration of the display 210 may increase in the seventh cycle 770 compared to the first cycle 710.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 열화와 관련된 정보의 샘플링 주기로 설정될 수 있는 가변 주기 후보를 설정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 가변 주기 후보로 제3 주기(730)와 제4 주기(740)를 선택할 수 있다. 프로세서(120)는 최종적인 열화와 관련된 정보의 샘플링 주기를 제3 주기(730)로 설정할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may set a variable cycle candidate that can be set as the sampling cycle of information related to the deterioration of the display 210. For example, the processor 120 may select the third cycle 730 and the fourth cycle 740 as variable cycle candidates. The processor 120 may set the sampling period of information related to final deterioration to the third period 730.

일 실시 예에서, 디스플레이(210)의 열화는 특정한 어플리케이션(146)을 장시간 사용하였을 때 특정한 어플리케이션(146)이 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지 프레임 형상에 비례하여 발생할 수 있다. 전자 장치(101)의 사용자들이 적어도 하나의 어플리케이션(146)을 조합하여 사용하는 경우, 사용자들의 어플리케이션(146) 사용 시나리오 빅 데이터를 기반으로 디스플레이(210)의 샘플링 주기를 가변시킬 수 있다. 이에 따라 전자 장치(101)가 사용하는 리소스를 감소시키고 디스플레이(210)의 열화를 보다 정확하게 예측할 수 있다.In one embodiment, deterioration of the display 210 may occur in proportion to the image frame shape displayed by the specific application 146 on the display 210 when the specific application 146 is used for a long period of time. When users of the electronic device 101 use at least one application 146 in combination, the sampling period of the display 210 may be varied based on big data of the users' usage scenarios of the applications 146. Accordingly, the resources used by the electronic device 101 can be reduced and the deterioration of the display 210 can be predicted more accurately.

도 8은 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))가 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 누적 평균 휘도 및 누적 디스플레이 온 시간에 따라 지정된 보상을 수행하는 시간을 나타낸 도면(800)이다.FIG. 8 illustrates how an electronic device (e.g., the electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment performs specified compensation according to the cumulative average luminance and cumulative display on time of a display (e.g., the display 210 of FIG. 2). This is a diagram 800 showing the time.

일 실시 예에서, 전자 장치(101)의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 지정된 기간 동안의 누적 평균 휘도를 산출할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 1일 동안 디스플레이(210)의 휘도 정보를 획득하여 1일 동안의 휘도의 평균 값을 누적 평균 휘도로 산출할 수 있다.In one embodiment, the processor of the electronic device 101 (e.g., the processor 120 of FIG. 3A) may calculate the cumulative average luminance over a specified period. For example, the processor 120 may obtain luminance information of the display 210 for 1 day and calculate the average value of luminance for 1 day as the cumulative average luminance.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 누적 디스플레이 온 시간을 산출할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)가 턴-온 상태인 총 시간을 산출할 수 있다.In one embodiment, processor 120 may calculate cumulative display on time. Processor 120 may calculate the total time that display 210 is turned on.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 지정된 휘도로 디스플레이(210)가 턴-온 상태를 유지한 시간에 따라 지정된 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)가 제1 휘도로 제1 시간 동안 턴-온 된 경우 제1 보상을 수행하고, 제1 시간보다 긴 제2 시간 동안 턴-온 된 경우 제2 보상을 수행하고, 제2 시간보다 긴 제3 시간 동안 턴-온 된 경우 제3 보상을 수행할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 누적 평균 휘도가 약 100nit 이상 약 150nit 이하인 경우 누적 디스플레이 온 시간이 약 2000시간을 경과하는 경우 제1 보상을 수행하고, 누적 디스플레이 온 시간이 약 2500시간을 경과하는 경우 제2 보상을 수행하고, 누적 디스플레이 온 시간이 약 3000시간을 경과하는 경우 제3 보상을 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may perform specified compensation according to the time the display 210 maintains the turn-on state at the specified luminance. The processor 120 performs a first compensation when the display 210 is turned on for a first time at a first brightness, and performs a second compensation when the display 210 is turned on for a second time longer than the first time. , if it is turned on for a third time longer than the second time, a third compensation can be performed. For example, the processor 120 performs the first compensation when the cumulative average luminance is about 100 nit or more and about 150 nit or less and the cumulative display on time is about 2000 hours, and when the cumulative display on time is about 2500 hours. In this case, the second compensation may be performed, and if the cumulative display on time elapses about 3000 hours, the third compensation may be performed.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 누적 평균 휘도가 증가할수록 보상이 시작되는 시간이 빨라지도록 설정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 누적 평균 휘도가 제1 휘도인 약 100nit 이상 약 150nit 이하인 경우 누적 디스플레이 온 시간이 제1 시간인 약 2000시간을 경과하는 경우 제1 보상을 수행하고, 누적 평균 휘도가 제2 휘도인 약 150nit 이상 약 200nit 이하인 경우 누적 디스플레이 온 시간이 제4 시간인 약 1500시간을 경과하는 경우 제1 보상을 수행하고, 누적 평균 휘도가 제3 휘도인 약 200nit 이상 약 250nit 이하인 경우 누적 디스플레이 온 시간이 제5 시간인 약 1000시간을 경과하는 경우 제1 보상을 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may set the compensation start time to become faster as the cumulative average luminance increases. For example, the processor 120 performs the first compensation when the cumulative average luminance is about 100 nit or more and about 150 nit or less, which is the first luminance, and the cumulative display on time is about 2000 hours, which is the first time. When the second luminance is about 150 nit or more and about 200 nit or less, the first compensation is performed when the cumulative display on time passes the fourth time, about 1500 hours, and the cumulative average luminance is about 200 nit or more and about 250 nit or less, which is the third luminance. The first compensation may be performed when the cumulative display on time elapses approximately 1000 hours, which is the fifth hour.

도 9는 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))가 디스플레이(910)의 균일도(Degree of Uniformity)에 따라 지정된 보상을 수행하는 것을 나타낸 도면(900)이다.FIG. 9 is a diagram 900 showing that an electronic device (e.g., the electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment performs compensation specified according to the degree of uniformity of the display 910.

일 실시 예에서, 디스플레이(910)의 균일도는 디스플레이(910)가 단일한 색상 및 휘도로 지정된 테스트 화면을 표시할 때 디스플레이(910)에 배치된 복수의 화소들의 색상 및 휘도의 균등한 정도를 수치화한 값일 수 있다. 디스플레이(910)의 균일도는 열화 정도를 나타내는 스트레스 맵을 이미지화 했을 때 색상 및 휘도에 대한 균등한 정도를 수치화한 값일 수 있다. 디스플레이(910)의 균일도는 디스플레이(910) 전체 영역에 대한 글로벌(global) 지표일 수 있다. 디스플레이(910)의 균일도는 디스플레이(910)의 전체적이고 평균적인 열화 정도를 나타내는 지표일 수 있다.In one embodiment, the uniformity of the display 910 quantifies the uniformity of color and luminance of a plurality of pixels arranged on the display 910 when the display 910 displays a test screen designated with a single color and luminance. It can be one value. The uniformity of the display 910 may be a numerical value representing the uniformity of color and luminance when a stress map indicating the degree of deterioration is imaged. The uniformity of the display 910 may be a global indicator for the entire area of the display 910. The uniformity of the display 910 may be an indicator of the overall and average degree of deterioration of the display 910.

일 실시 예에서, 디스플레이(910)의 균일도를 시각적으로 표현할 수 있다. 예를 들어, 디스플레이(910)에 배치된 복수의 화소들 각각이 열화에 의해 불균형하게 발광하는 경우 디스플레이(910) 상에 열화 정도를 시각화한 이미지(920)를 표현할 수 있다.In one embodiment, the uniformity of the display 910 can be visually expressed. For example, when each of the plurality of pixels arranged on the display 910 emits light unbalanced due to deterioration, an image 920 visualizing the degree of deterioration may be displayed on the display 910.

일 실시 예에서, 전자 장치(101)의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 디스플레이(910)의 균일도가 지정된 값에 도달하는 경우 열화 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 균일도가 문턱 값에 도달함에 따라 단계적으로 열화 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 메모리(예: 도 1의 메모리(130))에 디스플레이(910)의 균일도에 따른 보상 데이터(930)를 저장할 수 있다. 보상 데이터(930)는 디스플레이(910)의 균일도가 제1 문턱 값에 도달하는 경우 제1 보상을 수행하도록 설정될 수 있다. 보상 데이터(930)는 디스플레이(910)의 균일도가 제1 문턱 값보다 높은 제2 문턱 값에 도달하는 경우 제2 보상을 수행하도록 설정될 수 있다. 보상 데이터(930)는 디스플레이(910)의 균일도가 제2 문턱 값보다 높은 제3 문턱 값에 도달하는 경우 제3 보상을 수행하도록 설정될 수 있다. 디스플레이의 균일도에 대한 문턱값은 정규화(Normalize)되고 스케일링(Scaling)될 수 있다. 예를 들어, 보상 데이터(930)의 제1 문턱 값은 약 4.0, 제2 문턱 값은 약 7.0, 제3 문턱 값은 약 11.0일 수 있다.In one embodiment, the processor of the electronic device 101 (e.g., the processor 120 of FIG. 3A) may perform deterioration compensation when the uniformity of the display 910 reaches a specified value. The processor 120 may perform deterioration compensation in stages as the uniformity reaches a threshold value. The processor 120 may store compensation data 930 according to the uniformity of the display 910 in a memory (eg, memory 130 of FIG. 1). Compensation data 930 may be set to perform first compensation when the uniformity of the display 910 reaches a first threshold. The compensation data 930 may be set to perform second compensation when the uniformity of the display 910 reaches a second threshold value that is higher than the first threshold value. The compensation data 930 may be set to perform third compensation when the uniformity of the display 910 reaches a third threshold value that is higher than the second threshold value. The threshold for display uniformity can be normalized and scaled. For example, the first threshold value of the compensation data 930 may be about 4.0, the second threshold value may be about 7.0, and the third threshold value may be about 11.0.

도 10은 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 디스플레이(1010)의 열화 정도에 따른 휘도 별 히스토그램(1021) 및 휘도 별 히스토그램(1021)의 지역적 중심(Local Centroid)(1022)들의 분포 정도를 나타낸 그래프(1000)이다.FIG. 10 shows a histogram 1021 for each luminance according to the degree of deterioration of the display 1010 of an electronic device (e.g., the electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment, and a local center (Local) of the histogram 1021 for each luminance. This is a graph (1000) showing the degree of distribution of Centroid (1022).

일 실시 예에서, 전자장치(101)의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 디스플레이(1010)가 단일한 색상 및 휘도로 지정된 테스트 화면을 표시할 때 디스플레이(1010)의 화면을 측정한 데이터를 기반으로 휘도 별 히스토그램(1021)을 획득 할 수 있다. 프로세서(120)는 휘도 별 히스토그램(1021)으로부터 지정된 개수인 N개(N은 2 이상의 자연수)의 지역적 중심들 각각을 계산할 수 있다. 프로세서(120)는 열화 정도를 나타내는 스트레스 맵으로부터 휘도 별 히스토그램(1021)을 획득 할 수 있다. 프로세서(120)는 휘도 별 히스토그램(1021)으로부터 지정된 개수인 N개의 지역적 중심들 각각을 계산할 수 있다.In one embodiment, the processor of the electronic device 101 (e.g., processor 120 in FIG. 3A) measures the screen of the display 1010 when the display 1010 displays a test screen specified with a single color and luminance. Based on the data, a histogram (1021) for each luminance can be obtained. The processor 120 may calculate each of a designated number of N regional centers (N is a natural number of 2 or more) from the histogram 1021 for each luminance. The processor 120 may obtain a histogram 1021 for each luminance from a stress map indicating the degree of deterioration. The processor 120 may calculate each of the N regional centers, which is a specified number, from the histogram 1021 for each luminance.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(1010)에 열화를 판단하기 위해 휘도 별 히스토그램(1021)의 지역적 중심 값들을 이용할 수 있다. 프로세서(120)는 열화를 판단하기 위해 휘도 별 히스토그램(1021)의 지역적 중심 값들의 차이를 백분율로 계산하여 지정된 하나의 지표로 만들 수 있다. 예를 들어, 가장 큰 값을 갖는 지역적 중심 값과 가장 작은 값을 갖는 지역적 중심 값의 차이에 대한 비율을 백분율로 나타내는 값을 열화 정도에 대한 지표로 삼을 수 있다. 예를 들어, N개의 지역적 중심 값 모두에 대하여 조합(combination)적 방법으로 두 개를 선택하였을 때 그 선택된 두 개의 중심 값의 차이에 대한 비율을 백분율로 나타내고 이 모든 값을 평균한 값을 열화 정도에 대한 지표로 삼을 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may use regional center values of the histogram 1021 for each luminance to determine deterioration in the display 1010. In order to determine deterioration, the processor 120 may calculate the difference between regional center values of the histogram 1021 for each luminance as a percentage and create a designated index. For example, a value expressing the ratio of the difference between the regional center value with the largest value and the regional center value with the smallest value as a percentage can be used as an indicator of the degree of deterioration. For example, when two of all N regional center values are selected using a combination method, the ratio of the difference between the two selected center values is expressed as a percentage, and the average of all these values is the deterioration level. It can be used as an indicator for .

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(1010)의 휘도 별 히스토그램(1021)에 기반하여 디스플레이(1010)의 열화 정도를 나타낼 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(1010)의 휘도 별 히스토그램(1021)의 지역적 중심 분포 정도에 기반하여 디스플레이(1010)의 열화 정도를 나타낼 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(1010)의 휘도 별 히스토그램(1021)의 지역적 중심 분포 정도 값이 지정된 값 이상인 경우 열화 보상 알고리즘을 적용할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may indicate the degree of deterioration of the display 1010 based on the histogram 1021 for each luminance of the display 1010. The processor 120 may indicate the degree of deterioration of the display 1010 based on the regional center distribution degree of the histogram 1021 for each luminance of the display 1010. The processor 120 may apply a degradation compensation algorithm when the regional center distribution degree value of the histogram 1021 for each luminance of the display 1010 is greater than or equal to a specified value.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 휘도 별 히스토그램(1021)의 지역적 중심 분포 정도(1020)가 넓게 분포할수록 열화 정도가 심한 것으로 판단할 수 있다. 프로세서(120)는 휘도 분포 정도(1020)가 넓게 분포할수록 열화 보상을 단계적으로 증가시킬 수 있다. 예를 들어, 약 1%만큼 휘도 별 히스토그램(1021)의 지역적 중심 분포 정도가 넓게 분포하는 경우 열화 보상 단계를 한 단계씩 증가시킬 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may determine that the wider the regional center distribution degree 1020 of the histogram 1021 for each luminance is distributed, the more severe the degree of deterioration. The processor 120 may gradually increase the degradation compensation as the luminance distribution degree 1020 becomes more widely distributed. For example, if the regional center distribution of the histogram 1021 for each luminance is widely distributed by about 1%, the degradation compensation step can be increased by one step.

도 11은 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 열화 정도에 따른 휘도 별 히스토그램(1021)의 지역적 중심 값을 이용하여 최대 열화 정도(최대 BDI) 및 평균 열화 정도(평균 BDI)를 산출하는 것을 나타낸 도면(1100)이다.FIG. 11 shows regional center values of a histogram 1021 for each luminance according to the degree of deterioration of the display (e.g., display 210 of FIG. 2) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment. This is a diagram 1100 showing calculating the maximum degree of degradation (maximum BDI) and the average degree of degradation (average BDI) using .

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 휘도 별 히스토그램의 지역적 중심 값을 이용하여 디스플레이(210)의 최대 열화 정도(max BDI) 및/또는 평균 열화 정도(average BDI)를 산출할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 휘도 별 히스토그램의 지역적 중심 값의 최소 값 및 최대 값 등을 이용하여 디스플레이(210)의 최대 열화 정도(max BDI) 및/또는 평균 열화 정도(average BDI)를 산출할 수 있다. 가장 작은 열화 정도인 제1 열화 정도에서 히스토그램의 지역적 중심 값은 최소 값인 제1 값일 수 있다. 제1 열화 정도보다 큰 열화 정도를 갖는 제2 열화 정도에서 히스토그램의 지역적 중심 값은 제1 값보다 큰 제2 값일 수 있다. 가장 큰 열화 정도인 제N(N은 2 이상의 자연수) 열화 정도에서 히스토그램의 지역적 중심 값은 최대 값인 제N 값일 수 있다. 프로세서(120)는 최대 열화 정도인 제1 수치를 산출하고 평균 열화 정도인 제2 수치를 산출할 수 있다. 프로세서(120)는 제1 수치 및 제2 수치를 수학식 1 및 수학식 2를 이용하여 산출할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may calculate the maximum degree of degradation (max BDI) and/or the average degree of degradation (average BDI) of the display 210 using the regional center value of the histogram for each luminance. For example, the processor 120 calculates the maximum degree of degradation (max BDI) and/or the average degree of degradation (average BDI) of the display 210 using the minimum and maximum values of the regional center values of the histogram for each luminance. can do. At the first degree of degradation, which is the smallest degree of degradation, the regional center value of the histogram may be the first value, which is the minimum value. In a second degree of degradation having a degree of degradation greater than the first degree of degradation, the regional center value of the histogram may be a second value greater than the first value. At the Nth degree of degradation, which is the largest degree of degradation (N is a natural number greater than or equal to 2), the regional center value of the histogram may be the Nth value, which is the maximum value. The processor 120 may calculate a first value that is the maximum degree of deterioration and a second value that is the average degree of deterioration. The processor 120 may calculate the first and second values using Equation 1 and Equation 2.

도 12는 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))가 최대 열화 정도(최대 BDI) 및 평균 열화 정도(평균 BDI)에 따라 지정된 보상을 수행하는 것을 나타낸 도면(1200)이다.FIG. 12 is a diagram illustrating that an electronic device (e.g., the electronic device 101 of FIG. 3A) performs compensation specified according to the maximum degree of degradation (maximum BDI) and the average degree of degradation (average BDI) according to an embodiment (1200). )am.

일 실시 예에서, 전자 장치(101)의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 최대 열화 정도가 지정된 수치 이상인 경우 열화 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 최대 BDI가 제1 임계 수치 이상인 경우 제1 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 최대 BDI가 제1 임계 수치보다 큰 제2 임계 수치 이상인 경우 제2 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 최대 BDI가 제2 임계 수치보다 큰 제3 임계 수치 이상인 경우 제3 보상을 수행할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 최대 BDI가 약 2.0인 경우 제1 보상을 수행하고 디스플레이(210)의 최대 BDI가 약 3.0인 경우 제2 보상을 수행하고 디스플레이(210)의 최대 BDI가 약 4.0인 경우 제3 보상을 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor of the electronic device 101 (e.g., the processor 120 of FIG. 3A) may perform degradation compensation when the maximum degree of deterioration of the display (e.g., the display 210 of FIG. 2) is greater than or equal to a specified value. You can. The processor 120 may perform the first compensation when the maximum BDI of the display 210 is greater than or equal to the first threshold value. The processor 120 may perform the second compensation when the maximum BDI of the display 210 is greater than the second threshold value than the first threshold value. The processor 120 may perform the third compensation when the maximum BDI of the display 210 is greater than the third threshold value than the second threshold value. For example, processor 120 performs a first compensation when the maximum BDI of display 210 is about 2.0, performs a second compensation when the maximum BDI of display 210 is about 3.0, and A third compensation can be performed when the maximum BDI is about 4.0.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 평균 열화 정도가 지정된 수치 이상인 경우 열화 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 평균 BDI가 제4 임계 수치 이상인 경우 제1 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 평균 BDI가 제4 임계 수치보다 큰 제5 임계 수치 이상인 경우 제2 보상을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 평균 BDI가 제5 임계 수치보다 큰 제6 임계 수치 이상인 경우 제3 보상을 수행할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 평균 BDI가 약 2.0인 경우 제1 보상을 수행하고 디스플레이(210)의 평균 BDI가 약 3.0인 경우 제2 보상을 수행하고 디스플레이(210)의 평균 BDI가 약 4.0인 경우 제3 보상을 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may perform degradation compensation when the average degree of degradation of the display 210 is greater than or equal to a specified value. The processor 120 may perform the first compensation when the average BDI of the display 210 is greater than or equal to the fourth threshold value. The processor 120 may perform the second compensation when the average BDI of the display 210 is greater than the fifth threshold value than the fourth threshold value. The processor 120 may perform the third compensation when the average BDI of the display 210 is greater than the sixth threshold value than the fifth threshold value. For example, processor 120 performs a first compensation when the average BDI of display 210 is about 2.0, performs second compensation when the average BDI of display 210 is about 3.0, and performs a second compensation when the average BDI of display 210 is about 3.0. When the average BDI is about 4.0, the third compensation can be performed.

도 13은 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 열화 정도를 나타낼 수 있는 디스플레이 휘도 열화 정보에 대한 분산 값(Degree of Local Variance)을 산출하는 것을 나타낸 도면(1300)이다. FIG. 13 is a distribution value for display luminance deterioration information that may indicate the degree of deterioration of the display (e.g., display 210 of FIG. 2) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment. This is a diagram 1300 showing calculating (Degree of Local Variance).

일 실시 예에서, 전자 장치(101)의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 디스플레이(210)를 복수의 영역으로 분할하여 영역 별로 디스플레이(210)의 휘도 열화에 대한 분산 값을 계산 할 수 있다. 복수의 영역은 서로 겹치지 않는 독립적인 영역일 수도 있고 서로 겹치는 영역일 수도 있다. 프로세서(120)는 영역 별 디스플레이 휘도 열화에 대한 분산 값을 기반으로 열화 정도를 나타내는 원본 열화 이미지(1310)를 획득할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 영역 별 디스플레이 휘도 열화에 대한 분산 값을 계산하여 이 값들에 대한 평균값을 시각적인 평균 열화 정도로 나타낼 수 있다. 시각적인 평균 열화 정도는 수학식 3을 이용하여 산출할 수 있다.In one embodiment, the processor of the electronic device 101 (e.g., the processor 120 of FIG. 3A) divides the display 210 into a plurality of regions and calculates a variance value for luminance degradation of the display 210 for each region. can do. The plurality of areas may be independent areas that do not overlap with each other, or may be areas that overlap with each other. The processor 120 may obtain an original deterioration image 1310 indicating the degree of deterioration based on the variance value of display luminance deterioration for each region. For example, the processor 120 may calculate the variance of display luminance deterioration for each region and express the average of these values as the average visual deterioration. The average degree of visual deterioration can be calculated using Equation 3.

프로세서(120)는 원본 열화 이미지(1310)를 가공하여 제1 휘도 도메인 이미지(1320)를 생성할 수 있다. 프로세서(120)는 제1 휘도 도메인 이미지(1320)에 가우시안 저역 통과 필터(Gaussian Low Pass Filter)와 같은 저역 통과 필터를 적용하여 제2 휘도 도메인 이미지(1330)를 생성할 수 있다.The processor 120 may process the original deteriorated image 1310 to generate the first luminance domain image 1320. The processor 120 may generate the second luminance domain image 1330 by applying a low-pass filter, such as a Gaussian low pass filter, to the first luminance domain image 1320.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 제2 휘도 도메인 이미지(1330)에 고역 통과 필터(High Pass Filter)를 적용하여 에지 이미지(1340)를 생성할 수 있다. 또는, 프로세서(120)는 제2 휘도 도메인 이미지(1330)에 고역 통과 필터를 적용한 후 제1 휘도 도메인 이미지(1320)에 적용한 저역 통과 필터와 다른 저역 통과 필터를 적용하여 에지 이미지(1340)를 생성할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may generate the edge image 1340 by applying a high pass filter to the second luminance domain image 1330. Alternatively, the processor 120 applies a high-pass filter to the second luminance domain image 1330 and then applies a low-pass filter different from the low-pass filter applied to the first luminance domain image 1320 to generate the edge image 1340. can do.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)를 복수의 영역으로 분할하여 영역 별로 각각 디스플레이의 휘도 열화에 대한 분산 값을 계산 할 수 있다. 복수의 영역은 서로 겹치지 않는 독립적인 영역일 수도 있고 서로 겹치는 영역일 수도 있다. 프로세서(120)는 각각의 로컬 분산 값을 이미지화하여 분산 값 이미지(1350)를 생성할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may divide the display 210 into a plurality of regions and calculate a variance value for luminance degradation of the display for each region. The plurality of areas may be independent areas that do not overlap with each other, or may be areas that overlap with each other. The processor 120 may generate a variance value image 1350 by imaging each local variance value.

도 14는 일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 최대 열화 정도(최대 BDI) 및 시각적 열화 정도(NBDI)를 빅 데이터로 나타낸 도면(1400)이다.FIG. 14 shows the maximum degree of degradation (maximum BDI) and degree of visual degradation (NBDI) of the display (e.g., display 210 of FIG. 2) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment. This is a diagram 1400 showing big data.

일 실시 예에서, 전자 장치(101)의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 디스플레이(210)의 최대 또는 평균 열화 정도 및 시각적 열화 정도를 계산할 수 있다. 프로세서(120)는 무선 통신 모듈(예: 도 1의 무선 통신 모듈(192))을 통해 서버(예: 도 3a의 서버(108))로 최대 또는 평균 열화 정도 및 시각적 열화 정도를 전송할 수 있다.In one embodiment, the processor of the electronic device 101 (e.g., the processor 120 of FIG. 3A) may calculate the maximum or average degree of degradation and the degree of visual degradation of the display 210. The processor 120 may transmit the maximum or average degree of degradation and the degree of visual degradation to a server (e.g., server 108 of FIG. 3A) through a wireless communication module (e.g., wireless communication module 192 of FIG. 1).

일 실시 예에서, 서버(108)는 디스플레이(210)의 최대 또는 평균 열화 정도 및 시각적 열화 정도를 관리할 수 있다. 서버(108)는 최대 또는 평균 열화 정도가 제1 경계 이하이고 시각적 열화 정도가 제2 경계 이하인 경우를 디스플레이(210)의 열화가 발생하지 않은 정상 상태(1411, 1421)로 설정할 수 있다. 서버(108)는 최대 또는 평균 열화 정도가 제1 경계 이상이거나 시각적 열화 정도가 제2 경계 이상인 경우를 디스플레이(210)의 열화가 발생한 이상 상태(1412, 1413, 1414, 1422, 1423, 1424)로 설정할 수 있다. 서버(108)는 최대 또는 평균 열화 정도가 제1 경계 이상인 경우 및/또는 시각적 열화 정도가 제2 경계 이상인 경우 열화 정도와 관련된 알림을 전자 장치(101)로 전송할 수 있다. 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 무선 통신 모듈(예: 도 1의 무선 통신 모듈(192))을 이용하여 열화 정도와 관련된 알림을 수신할 수 있다.In one embodiment, server 108 may manage the maximum or average degree of degradation and visual degradation of display 210. The server 108 may set the case where the maximum or average degree of deterioration is less than the first boundary and the degree of visual deterioration is less than the second boundary as the normal state 1411 and 1421 in which no deterioration of the display 210 occurs. The server 108 determines cases where the maximum or average degree of deterioration is greater than the first boundary or the degree of visual deterioration is greater than the second boundary as an abnormal state in which deterioration of the display 210 has occurred (1412, 1413, 1414, 1422, 1423, 1424). You can set it. The server 108 may transmit a notification related to the degree of degradation to the electronic device 101 when the maximum or average degree of degradation is greater than or equal to the first boundary and/or when the degree of visual degradation is greater than or equal to the second boundary. The processor 120 of the electronic device 101 may receive a notification related to the degree of deterioration using a wireless communication module (eg, the wireless communication module 192 of FIG. 1).

일 실시 예에서, 서버(108)는 디스플레이(210)의 최대 또는 평균 열화 정도 및 시각적 열화 정도에 기반하여 전자 장치(101)의 사용자의 사용 패턴을 분석할 수 있다. 서버(108)는 디스플레이(210)의 최대 또는 평균 열화 정도 및 시각적 열화 정도를 전자 장치(101)의 사용자의 사용성을 분류하는 지표로 활용할 수 있다. 서버(108)는 전자 장치(101)의 사용 패턴을 제1 상황(1411, 1421), 제2 상황(1412, 1422), 제3 상황(1413, 1423), 및 제4 상황(1414, 1424)으로 분류할 수 있다.In one embodiment, the server 108 may analyze the user's usage pattern of the electronic device 101 based on the maximum or average degree of degradation and the degree of visual degradation of the display 210. The server 108 may use the maximum or average degree of deterioration and the degree of visual deterioration of the display 210 as an index for classifying the user's usability of the electronic device 101. The server 108 divides the usage pattern of the electronic device 101 into first situations (1411, 1421), second situations (1412, 1422), third situations (1413, 1423), and fourth situations (1414, 1424). It can be classified as:

일 실시 예에서, 제1 상황(1411, 1421)은 다양한 어플리케이션(예: 도 1의 어플리케이션(146))을 사용하는 라이트 유저의 사용 패턴일 수 있다. 제1 상황(1411, 1421)은 전자 장치(101)의 평균 사용 시간이 지정된 시간보다 작고 디스플레이(210) 평균 사용 휘도가 지정된 휘도보다 낮은 상황일 수 있다.In one embodiment, the first situation 1411 and 1421 may be a usage pattern of a light user using various applications (eg, the application 146 of FIG. 1). The first situation 1411 and 1421 may be a situation in which the average usage time of the electronic device 101 is less than the designated time and the average usage luminance of the display 210 is lower than the designated luminance.

일 실시 예에서, 제2 상황(1412, 1422)은 다양한 어플리케이션(146)을 사용하는 라이트 유저의 사용 패턴일 수 있다. 제2 상황(1412, 1422)은 전자 장치(101)의 평균 사용 시간이 지정된 시간보다 길고 디스플레이(210)의 평균 사용 휘도가 지정된 휘도보다 작거나, 전자 장치(101)의 평균 사용 시간이 지정된 시간보다 짧고 디스플레이(210)의 평균 사용 휘도가 지정된 휘도보다 큰 상황일 수 있다.In one embodiment, the second situation 1412 and 1422 may be a usage pattern of a light user using various applications 146. The second situation (1412, 1422) is when the average usage time of the electronic device 101 is longer than the specified time and the average usage luminance of the display 210 is less than the specified luminance, or the average usage time of the electronic device 101 is longer than the specified time. It may be shorter and the average used luminance of the display 210 is greater than the specified luminance.

일 실시 예에서, 제3 상황(1413, 1423)은 고정된 사용자 인터페이스(User Interface, UI)의 어플리케이션(146)을 사용하는 헤비 유저의 사용 패턴일 수 있다. 제3 상황(1413, 1423)은 전자 장치(101)의 평균 사용 시간이 지정된 시간보다 길고 디스플레이(210)의 평균 사용 휘도가 지정된 휘도보다 작거나, 전자 장치(101)의 평균 사용 시간이 지정된 시간보다 짧고 디스플레이(210)의 평균 사용 휘도가 지정된 휘도보다 큰 상황일 수 있다.In one embodiment, the third situation 1413 and 1423 may be a usage pattern of a heavy user who uses the application 146 with a fixed user interface (UI). The third situation 1413, 1423 is when the average usage time of the electronic device 101 is longer than the specified time and the average usage luminance of the display 210 is less than the specified luminance, or the average usage time of the electronic device 101 is longer than the specified time. It may be shorter and the average used luminance of the display 210 is greater than the specified luminance.

일 실시 예에서, 제4 상황(1414, 1424)은 고정된 사용자 인터페이스의 어플리케이션(146)을 사용하는 헤비 유저의 사용 패턴일 수 있다. 제4 상황(1414, 1424)은 전자 장치(101)의 평균 사용 시간이 지정된 시간보다 길고 디스플레이(210)의 평균 사용 휘도가 지정된 휘도보다 큰 상황일 수 있다.In one embodiment, the fourth situation 1414 and 1424 may be a usage pattern of a heavy user who uses the application 146 with a fixed user interface. The fourth situation 1414 and 1424 may be a situation in which the average usage time of the electronic device 101 is longer than a designated time and the average usage luminance of the display 210 is greater than the designated luminance.

일 실시 예에서, 전자 장치(101)를 사용함에 따라 디스플레이(210)의 열화 정도가 변화할 수 있다. 전자 장치(101)의 사용 후 지정된 기간 이내에는 디스플레이(210)가 제1 상황(1411)인 경우가 대부분이었다가 전자 장치(101)를 사용함에 따라 제2 상황(1422), 제3 상황(1423), 및/또는 제4 상황(1424)으로 변화할 수 있다.In one embodiment, the degree of deterioration of the display 210 may change as the electronic device 101 is used. Within a designated period after using the electronic device 101, the display 210 is mostly in the first situation (1411), but as the electronic device 101 is used, it is in the second situation (1422) and the third situation (1423). ), and/or may change to the fourth situation 1424.

일 실시 예에서, 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 제2 상황(1422), 제3 상황(1423), 및/또는 제4 상황(1424)으로 변화한 경우 보상 알고리즘을 적용할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 열화 보상이 필요한 경우에만 열화 보상을 수행하여 전자 장치(101)의 불필요한 리소스 소비를 감소시킬 수 있다.In one embodiment, the processor 120 of the electronic device 101 may apply a compensation algorithm when the second situation 1422, the third situation 1423, and/or the fourth situation 1424 change. . The processor 120 can reduce unnecessary resource consumption of the electronic device 101 by performing degradation compensation only when degradation compensation of the display 210 is necessary.

도 15는 일 실시 예에 따른 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))의 열화를 보상하는 방법을 나타낸 흐름도(1500)이다.FIG. 15 is a flowchart 1500 illustrating a method for compensating for deterioration of a display (eg, the display 210 of FIG. 2) according to an embodiment.

일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 동작 1510에서, 실시간으로 샘플링 관련 정보를 획득할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 열화에 관련된 정보를 가변적인 주기로 샘플링할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 열화 정도를 판단할 수 있는 지표들을 획득할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 해상도 정보(HD+, FHD+, WQHD+), 표시 이미지, 휘도 정보, 턴-온 시간 정보, 및/또는 디스플레이(210)의 온도와 같은 정보를 획득할 수 있다.A processor (e.g., processor 120 of FIG. 3a) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment may obtain sampling-related information in real time in operation 1510. The processor 120 may sample information related to deterioration of the display 210 at a variable period. The processor 120 may obtain indicators that can determine the degree of deterioration of the display 210. For example, the processor 120 obtains information such as resolution information (HD+, FHD+, WQHD+) of the display 210, display image, luminance information, turn-on time information, and/or temperature of the display 210. can do.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1520에서, 누적 국면에 진입할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to one embodiment may enter the accumulation phase in operation 1520.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1530에서, 디스플레이 온 시간의 합이 제 1시간을 초과하였는지 여부를 판단할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이 온 시간의 합이 제 1시간 이하인 경우(동작 1530 - No) 동작 1520으로 돌아갈 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이 온 시간의 합이 제1 시간을 초과하는 경우(동작 1530 - Yes) 동작 1540으로 진행할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may determine whether the sum of the display on times exceeds the first time in operation 1530. The processor 120 may return to operation 1520 when the sum of the display on times is less than or equal to the first time (operation 1530 - No). If the sum of the display on times exceeds the first time (operation 1530 - Yes), the processor 120 may proceed to operation 1540.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1540에서, 스트레스 맵 업데이트 국면에 진입할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may enter a stress map update phase in operation 1540.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1550에서, 헤비 유저인지 여부를 판단할 수 있다. 프로세서(120)는 전자 장치(101)의 사용자가 헤비 유저가 아닌 경우(동작 1550 - No) 동작 1520으로 돌아갈 수 있다. 프로세서(120)는 전자 장치(101)의 사용자가 헤비 유저인 경우(동작 1550 - Yes) 동작 1560으로 진행할 수 있다. 프로세서(120)는 헤비 유저가 아닌 경우에 불필요한 보상 데이터의 생성을 감소시켜 전자 장치(101)의 리소스를 절약할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to one embodiment may determine whether the user is a heavy user in operation 1550. The processor 120 may return to operation 1520 when the user of the electronic device 101 is not a heavy user (operation 1550 - No). If the user of the electronic device 101 is a heavy user (operation 1550 - Yes), the processor 120 may proceed to operation 1560. The processor 120 can save resources of the electronic device 101 by reducing the generation of unnecessary compensation data for non-heavy users.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1560에서, 보상 데이터 업데이트 국면에 진입할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may enter the compensation data update phase in operation 1560.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1570에서, 보상 데이터를 DDI(예: 도 3a의 DDI(230))로 전달할 수 있다. DDI(230)는 보상 데이터로 디스플레이(210)의 열화를 보상할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may transmit compensation data to the DDI (eg, DDI 230 in FIG. 3A) in operation 1570. The DDI 230 may compensate for the deterioration of the display 210 using compensation data.

도 16은 일 실시 예에 따른 누적 국면을 나타낸 흐름도(1520)이다.Figure 16 is a flowchart 1520 showing the accumulation phase according to one embodiment.

일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 동작 1610에서, 다운 스케일링을 진행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)에 배치된 화소를 단위 영역 또는 지정된 개수만큼 모아서 복수의 화소 그룹들을 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 화소 그룹 각각의 평균 휘도, 평균 온도와 같은 열화에 관련된 정보를 획득할 수 있다. 프로세서(120)는 평균 휘도, 평균 온도와 같은 열화에 관련된 정보를 획득 및/또는 처리하기 위한 데이터 용량을 감소시킬 수 있다.The processor (e.g., processor 120 of FIG. 3a) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 3A) according to an embodiment may perform downscaling in operation 1610. The processor 120 may set a plurality of pixel groups by gathering pixels arranged on the display 210 in a unit area or a designated number. The processor 120 may obtain information related to deterioration, such as average luminance and average temperature of each pixel group. The processor 120 may reduce data capacity for acquiring and/or processing information related to degradation, such as average brightness and average temperature.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1620에서, 화소 그룹 각각의 평균 이미지, 평균 휘도 및/또한 평균 온도에 대한 가변적인 샘플링 주기 및 디스플레이의 수명에 관한 물리적인 특성을 고려하여 가중적인 누적을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210) 상의 열화 정도를 판단하기 위해 필요한 화소 그룹 각각의 평균 휘도 및/또는 평균 온도의 열화에 관련된 정보를 지속적으로 획득할 수 있다.In operation 1620, the processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment determines the average image of each pixel group, a variable sampling period for average luminance and/or average temperature, and physical characteristics related to the lifespan of the display. Taking this into account, weighted accumulation can be performed. The processor 120 may continuously obtain information related to the deterioration of the average luminance and/or average temperature of each pixel group necessary to determine the degree of deterioration on the display 210.

도 17은 일 실시 예에 따른 스트레스 맵 업데이트 국면을 나타낸 흐름도(1540)이다.Figure 17 is a flowchart 1540 showing a stress map update phase according to an embodiment.

일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 동작 1710에서, 이벤트 발생 시 누적 국면의 정보를 획득할 수 있다. 프로세서(120)는 지정된 주기에 따라 누적 국면의 정보를 획득할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이의 누적 턴-온 시간이 지정된 시간에 도달했을 때 누적 국면의 정보를 획득할 수 있다. 프로세서(120)는 새로운 어플리케이션(146)의 설치 시 누적 국면의 정보를 획득할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 휘도의 변화 시 누적 국면의 정보를 획득할 수 있다.A processor (e.g., processor 120 of FIG. 3a) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 3a) according to an embodiment may obtain information on accumulated phases when an event occurs in operation 1710. The processor 120 may obtain cumulative phase information according to a designated cycle. The processor 120 may obtain information on the cumulative phase when the cumulative turn-on time of the display reaches a specified time. The processor 120 may obtain information on the cumulative phase when installing a new application 146. The processor 120 may obtain information on the accumulation phase when the luminance of the display 210 changes.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1720에서, 현재 적용되고 있는 열화 보상 데이터에 기반하여 누적 국면에서 전달받은 누적 열화 정보 데이터를 보정할 수 있다. 프로세서(120)는 동작 1720에서, 저장된 열화 보상 데이터에 기반하여 화소 그룹 각각의 가중치를 계산하고 이를 기반으로 누적 국면에서 전달받은 누적 열화 정보 데이터를 보정할 수 있다.In operation 1720, the processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may correct the accumulated degradation information data received in the accumulation phase based on the currently applied degradation compensation data. In operation 1720, the processor 120 may calculate a weight for each pixel group based on the stored degradation compensation data and correct the accumulated degradation information data received in the accumulation phase based on this.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1730에서, 현재 열화 보상 데이터에 기반하여 보정된 디스플레이의 누적 열화 정보의 가중 평균을 산출할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이 수명에 관한 물리적 특성 등을 고려하여 가중 평균을 산출할 수 있다. 가중 평균은 산술 평균, 기하 평균, 조화 평균 등의 가중 평균일 수 있다.In operation 1730, the processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may calculate a weighted average of accumulated degradation information of the display corrected based on current degradation compensation data. The processor 120 may calculate the weighted average by considering physical characteristics related to display lifespan, etc. The weighted average may be a weighted average such as an arithmetic mean, a geometric mean, or a harmonic mean.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1740에서, 누적 열화 정보의 가중 평균 및 이전 스트레스 맵에 기반하여 현재 스트레스 맵을 산출하여 업데이트 할 수 있다. 프로세서(120)는 현재의 전자 장치(101)의 사용 패턴에 의해 디스플레이(210)에 가해지는 열화 정도를 산출할 수 있다. 프로세서(120)는 단위 시간 당 복수의 화소들 각각의 누적 사용 정보, 현재의 스트레스 맵 정보, 열화된 화소를 보상하는 보상 맵 정보를 이용하여, 현재 디스플레이(210)의 복수의 화소들 각각의 열화 정도를 나타내는 스트레스 맵을 업데이트 할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)의 복수의 화소들 각각의 열화 정도와 열화된 화소를 보상하는 현재 보상 맵 정보를 이용하여 디스플레이(210)에서 실제 출력되어 사용자에게 시인되는 디스플레이(210)의 열화 정도를 스트레스 맵에 포함하고 이를 업데이트 할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may calculate and update the current stress map based on the weighted average of the cumulative degradation information and the previous stress map in operation 1740. The processor 120 may calculate the degree of deterioration applied to the display 210 according to the current usage pattern of the electronic device 101. The processor 120 uses accumulated usage information of each of the plurality of pixels per unit time, current stress map information, and compensation map information for compensating for the deteriorated pixels, to determine the deterioration of each of the plurality of pixels of the current display 210. The stress map indicating the degree can be updated. The processor 120 uses the degree of deterioration of each of the plurality of pixels of the display 210 and the current compensation map information for compensating for the deteriorated pixels to determine the deterioration of the display 210 that is actually output from the display 210 and visible to the user. The degree can be included in the stress map and updated.

도 18은 일 실시 예에 따른 보상 데이터 업데이트 국면을 나타낸 흐름도(1560)이다.Figure 18 is a flowchart 1560 showing the compensation data update phase according to one embodiment.

일 실시 예에 따른 전자 장치(예: 도 3a의 전자 장치(101))의 프로세서(예: 도 3a의 프로세서(120))는 동작 1810에서, 업데이트 된 스트레스 맵을 이용하여 보상 데이터를 산출할 수 있다. 프로세서(120)는 스트레스 맵을 기반으로 디스플레이(210)의 열화를 보상하는 데이터를 생성할 수 있다. 열화 보상 데이터는 스트레스 맵에 대한 역함수를 이용하여 생성할 수 있다. 열화 보상 데이터는 스트레스 맵에 디스플레이 수명 특성 함수를 적용하여 생성할 수 있다.A processor (e.g., processor 120 of FIG. 3a) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 3a) according to an embodiment may calculate compensation data using the updated stress map in operation 1810. there is. The processor 120 may generate data to compensate for the deterioration of the display 210 based on the stress map. Deterioration compensation data can be generated using the inverse function for the stress map. Deterioration compensation data can be generated by applying a display life characteristic function to the stress map.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1820에서, 오프셋(offset) 값을 적용하여 보상 데이터를 업데이트 할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 실제로 표시되는 이미지를 고려하여 보상 데이터에 오프셋 값을 더하거나 곱하여 보상 데이터를 업데이트 할 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to an embodiment may update compensation data by applying an offset value in operation 1820. The processor 120 may update the compensation data by adding or multiplying the offset value to the compensation data in consideration of the image actually displayed on the display 210.

일 실시 예에 따른 전자 장치(101)의 프로세서(120)는 동작 1830에서, 업 스케일링을 수행할 수 있다. 프로세서(120)는 동작 1610에서 다운 스케일링을 수행한 데이터를 디스플레이(210)의 복수의 화소들 각각에 대응하도록 복원시킬 수 있다.The processor 120 of the electronic device 101 according to one embodiment may perform upscaling in operation 1830. The processor 120 may restore down-scaled data in operation 1610 to correspond to each of the plurality of pixels of the display 210.

도 19는 일 실시 예에 따른 보상 시나리오에 따른 보상 후 시인성, 보상 후 휘도 상향, 및 보상 중지 조건을 나타낸 도면(1900)이다.FIG. 19 is a diagram 1900 showing conditions for visibility after compensation, luminance increase after compensation, and compensation stop according to a compensation scenario according to an embodiment.

일 실시 예에서, 전자 장치(예: 도 1의 전자 장치(101))의 프로세서(예: 도 1의 프로세서(120))는 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))에서 표시하는 이미지에 기반하여 보상 시나리오를 수행하도록 설정될 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 열화 정도가 지정된 임계 값 이상인 경우 보상을 수행하도록 설정될 수 있다.In one embodiment, a processor (e.g., processor 120 of FIG. 1) of an electronic device (e.g., electronic device 101 of FIG. 1) processes an image displayed on a display (e.g., display 210 of FIG. 2). It can be set to perform a compensation scenario based on The processor 120 may be set to perform compensation when the degree of deterioration of the image displayed on the display 210 is greater than or equal to a specified threshold.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 열화 정도에 기반하여 수행하는 보상의 종류 및/또는 보상 정도를 설정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 이미지의 열화 정도가 증가할수록 보상 시나리오에서 제1 보상, 제2 보상을 순차적으로 수행하여 제N(N은 2 이상의 자연수) 보상까지 수행할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may set the type and/or degree of compensation to be performed based on the degree of deterioration of the image displayed on the display 210. For example, as the degree of image deterioration increases, the processor 120 may sequentially perform the first compensation and the second compensation in the compensation scenario to perform up to the Nth compensation (N is a natural number of 2 or more).

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 수행하는 보상 후 시인성 값을 설정할 수 있다. 보상 후 시인성 값은 보상 수행 이후 사용자가 체감(effective)하는 시인성의 변화량일 수 있다. 보상 후 시인성 값은 보상 수행 이후 사용자가 체감하는 휘도 열화 정도(최대 BDI 및/또는 평균 BDI)의 변화량일 수 있다. 프로세서(120)는 제1 보상에서 보상 후 시인성 값을 제1 값으로 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 제2 보상에서 보상 후 시인성 값을 제2 값으로 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 제N 보상에서 보상 후 시인성 값을 제N 값으로 설정할 수 있다. 제1 값 내지 제N 값은 약 300 이상 약 400 이하의 미리 저장된 값일 수 있다. 예를 들어, 제1 값 내지 제N 값은 모두 약 300으로 메모리(예: 도 1의 메모리(130))에 저장된 값일 수 있다. 다른 예로, 제1 값은 약 300이고, 제2 값은 약 350으로 서버(예: 도 1의 서버(108))를 통해 업데이트 된 값일 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may set a visibility value after performing compensation. The visibility value after compensation may be the amount of change in visibility felt by the user (effectively) after compensation is performed. The visibility value after compensation may be the amount of change in the degree of luminance deterioration (maximum BDI and/or average BDI) felt by the user after compensation is performed. The processor 120 may set the post-compensation visibility value to the first value in the first compensation. The processor 120 may set the post-compensation visibility value to the second value in the second compensation. The processor 120 may set the post-compensation visibility value to the N-th value in the N-th compensation. The first to Nth values may be pre-stored values of about 300 or more and about 400 or less. For example, the first to Nth values may all be about 300 and may be values stored in memory (eg, memory 130 of FIG. 1). As another example, the first value may be about 300, and the second value may be about 350, which may be values updated through a server (eg, server 108 in FIG. 1).

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 보상 후 휘도 상향 비율을 설정할 수 있다. 보상을 수행함에 따라 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 휘도는 감소할 수 있다. 예를 들어, 1회 보상을 수행할 때마다 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 휘도는 약 0.5% 이상 약 2% 이하의 비율로 감소할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 휘도 감소를 보상하기 위해 보상 수행 후 휘도를 상향시킬 수 있다. 프로세서(120)는 제1 보상에서 보상 후 휘도 상향 비율을 제1 비율로 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 제2 보상에서 보상 후 휘도 상향 비율을 제2 비율로 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 제N 보상에서 보상 후 휘도 상향 비율을 제N 비율로 설정할 수 있다. 제1 비율 내지 제N 비율은 약 0.5% 이상 약 5% 이하의 미리 저장된 값일 수 있다. 예를 들어, 제1 비율은 약 0.5%, 제2 비율은 약 1.0%, 제N 비율은 약 5.0%로 메모리(130)에 저장된 값일 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may set the luminance upward rate after compensation. As compensation is performed, the luminance of the image displayed on the display 210 may decrease. For example, each time compensation is performed, the luminance of the image displayed on the display 210 may decrease at a rate of about 0.5% or more and about 2% or less. The processor 120 may increase the luminance after performing compensation to compensate for the decrease in luminance of the image displayed on the display 210. The processor 120 may set the post-compensation luminance upward rate in the first compensation to the first rate. In the second compensation, the processor 120 may set the post-compensation luminance upward rate to the second rate. The processor 120 may set the post-compensation luminance upward rate to the N-th rate in the N-th compensation. The first to Nth ratios may be pre-stored values of about 0.5% or more and about 5% or less. For example, the first ratio may be about 0.5%, the second ratio may be about 1.0%, and the Nth ratio may be about 5.0%, which may be values stored in the memory 130.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 보상 중지 조건을 설정할 수 있다. 프로세서(120)는 최대 보상 횟수가 N회 이상인 경우 보상을 중지하도록 설정될 수 있다. 최대 보상 횟수가 증가할수록 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 휘도가 감소할 수 있다. 프로세서(120)는 최대 보상 횟수의 제한을 두어 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 휘도가 지정된 임계 휘도 값 이상을 유지하도록 설정될 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 최대 보상 횟수가 10회 이상인 경우 보상을 중지하도록 설정될 수 있다. 다른 예로, 프로세서(120)는 보상 후 평균 휘도(effective average luminance)가 원래 휘도의 m(m은 0.8 이상 0.9 이하의 값)배 이하일 경우 보상을 중지하도록 설정될 수 있다.In one embodiment, processor 120 may set a compensation stop condition. The processor 120 may be set to stop compensation when the maximum number of compensation times is N or more. As the maximum number of compensations increases, the luminance of the image displayed on the display 210 may decrease. The processor 120 may be set to maintain the luminance of the image displayed on the display 210 above a specified threshold luminance value by limiting the maximum number of compensations. For example, the processor 120 may be set to stop compensation when the maximum number of compensations is 10 or more. As another example, the processor 120 may be set to stop compensation when the effective average luminance after compensation is m (m is a value between 0.8 and 0.9) times the original luminance.

도 20은 일 실시 예에 따른 시간에 따른 디스플레이(예: 도 2의 디스플레이(210))에서 표시하는 화면인 사용자 체감 이미지에서 사용자가 체감하는 디스플레이의 열화 정도를 나타낸 그래프(2000)이다.FIG. 20 is a graph 2000 showing the degree of display deterioration felt by the user in a user-experienced image, which is a screen displayed on a display (e.g., the display 210 of FIG. 2) over time according to an embodiment.

일 실시 예에서, 매 디스플레이 열화 보상 수행 이후 추가로 누적되는 디스플레이(210)의 열화에 의하여 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지에서는 열화 보상 수행 후 시간이 경과함에 따라 사용자에게 열화가 시인 될 수 있다. 프로세서(예: 도 1의 프로세서(120))는 사용자의 체감 열화 정도를 나타내는 파라미터들 중 적어도 하나 이상의 파라미터를 시간의 흐름에 따라 측정할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 체감(effective) 시인성의 변화량을 시간의 흐름에 따라 측정할 수 있다. 다른 예로, 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 체감 휘도 열화의 변화량을 시간의 흐름에 따라 측정할 수 있다.In one embodiment, due to additional degradation of the display 210 after each display degradation compensation is performed, deterioration may be visible to the user in the image displayed by the display 210 as time passes after the degradation compensation is performed. A processor (e.g., processor 120 in FIG. 1) may measure at least one parameter among parameters indicating the degree of perceived deterioration of the user over time. For example, the processor 120 may measure the amount of change in the effective visibility of an image displayed on the display 210 over time. As another example, the processor 120 may measure the amount of change in perceived luminance deterioration of an image displayed on the display 210 over time.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 체감 열화 정도가 지정된 임계 값 이상인 경우 보상을 수행할 수 있다. 매 디스플레이 열화 보상 수행 이후 추가로 누적되는 디스플레이(210)의 열화에 의하여 이미지의 열화정도가 증가하다가 지정된 임계 값 이상이 되는 경우 사용자가 실제로 이미지의 열화를 시인할 수 있다. 프로세서(120)는 이미지의 열화정도가 사용자가 실제로 이미지의 열화를 시인하게 될 임계 값에 도달하는 경우 보상을 수행하여 사용자가 이미지의 열화를 시인하는 것을 방지할 수 있다.In one embodiment, the processor 120 may perform compensation when the perceived degree of deterioration of the image displayed on the display 210 is greater than or equal to a specified threshold. The degree of image deterioration increases due to additional accumulated deterioration of the display 210 after each display deterioration compensation is performed, and when it exceeds a specified threshold value, the user may actually recognize the deterioration of the image. The processor 120 may prevent the user from recognizing image deterioration by performing compensation when the degree of image deterioration reaches a threshold at which the user will actually recognize image deterioration.

일 실시 예에서, 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 체감 열화 정도가 지정된 임계 값에 도달하는 시점에 열화 보상을 트리거(trigger)하는 신호를 디스플레이 구동 회로(예: 도 3a의 DDI((230))로 전달할 수 있다. 프로세서(120)는 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 체감 열화 정도가 지정된 임계 값에 도달하는 시점에 추가로 누적된 디스플레이 열화를 보상할 수 있도록 보상 이미지 데이터를 업데이트할 수 있다. 이에 따라 보상 수행 직후 시점에 디스플레이(210)에서 표시하는 이미지의 체감 열화 정도는 실질적으로 0일 수 있다.In one embodiment, the processor 120 sends a signal that triggers deterioration compensation when the perceived degree of deterioration of the image displayed on the display 210 reaches a specified threshold to a display driving circuit (e.g., in FIG. 3A). The processor 120 may transmit a compensation image to the DDI (230) to compensate for additional accumulated display deterioration when the perceived degree of deterioration of the image displayed on the display 210 reaches a specified threshold. Accordingly, the degree of perceived deterioration of the image displayed on the display 210 immediately after compensation is performed may be substantially 0.

본 문서에 개시된 다양한 실시 예들에 따른 전자 장치는 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. 전자 장치는, 예를 들면, 휴대용 통신 장치(예: 스마트폰), 컴퓨터 장치, 휴대용 멀티미디어 장치, 휴대용 의료 기기, 카메라, 웨어러블 장치, 또는 가전 장치를 포함할 수 있다. 본 문서의 실시 예에 따른 전자 장치는 전술한 기기들에 한정되지 않는다.Electronic devices according to various embodiments disclosed in this document may be of various types. Electronic devices may include, for example, portable communication devices (e.g., smartphones), computer devices, portable multimedia devices, portable medical devices, cameras, wearable devices, or home appliances. Electronic devices according to embodiments of this document are not limited to the above-described devices.

본 문서의 다양한 실시 예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술적 특징들을 특정한 실시 예들로 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시 예의 다양한 변경, 균등물, 또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 또는 관련된 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 아이템에 대응하는 명사의 단수 형은 관련된 문맥상 명백하게 다르게 지시하지 않는 한, 상기 아이템 한 개 또는 복수 개를 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및 B 중 적어도 하나",“A 또는 B 중 적어도 하나,”"A, B 또는 C," "A, B 및 C 중 적어도 하나,”및 “A, B, 또는 C 중 적어도 하나"와 같은 문구들 각각은 그 문구들 중 해당하는 문구에 함께 나열된 항목들 중 어느 하나, 또는 그들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제 1", "제 2", 또는 "첫째" 또는 "둘째"와 같은 용어들은 단순히 해당 구성요소를 다른 해당 구성요소와 구분하기 위해 사용될 수 있으며, 해당 구성요소들을 다른 측면(예: 중요성 또는 순서)에서 한정하지 않는다. 어떤(예: 제 1) 구성요소가 다른(예: 제 2) 구성요소에, “기능적으로” 또는 “통신적으로”라는 용어와 함께 또는 이런 용어 없이, “커플드” 또는 “커넥티드”라고 언급된 경우, 그것은 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로(예: 유선으로), 무선으로, 또는 제 3 구성요소를 통하여 연결될 수 있다는 것을 의미한다.The various embodiments of this document and the terms used herein are not intended to limit the technical features described in this document to specific embodiments, and should be understood to include various changes, equivalents, or replacements of the embodiments. In connection with the description of the drawings, similar reference numbers may be used for similar or related components. The singular form of a noun corresponding to an item may include one or more of the items, unless the relevant context clearly indicates otherwise. In this document, “A or B,” “at least one of A and B,” “at least one of A or B,” “A, B, or C,” “at least one of A, B, and C,” and “A. Each of phrases such as “at least one of , B, or C” may include any one of the items listed together in the corresponding phrase, or any possible combination thereof. Terms such as "first", "second", or "first" or "second" may be used simply to distinguish one component from another, and to refer to those components in other respects (e.g., importance or order) is not limited. One (e.g., first) component is said to be “coupled” or “connected” to another (e.g., second) component, with or without the terms “functionally” or “communicatively.” Where mentioned, it means that any of the components can be connected to the other components directly (e.g. wired), wirelessly, or through a third component.

본 문서에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어로 구현된 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로 등의 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. 모듈은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는, 상기 부품의 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. 예를 들면, 일 실시 예에 따르면, 모듈은 ASIC(application-specific integrated circuit)의 형태로 구현될 수 있다.The term “module” used in this document may include a unit implemented in hardware, software, or firmware, and may be used interchangeably with terms such as logic, logic block, component, or circuit, for example. A module may be an integrated part or a minimum unit of the parts or a part thereof that performs one or more functions. For example, according to one embodiment, the module may be implemented in the form of an application-specific integrated circuit (ASIC).

본 문서의 다양한 실시 예들은 기기(machine)(예: 전자 장치(101)) 의해 읽을 수 있는 저장 매체(storage medium)(예: 내장 메모리(136) 또는 외장 메모리(138))에 저장된 하나 이상의 명령어들을 포함하는 소프트웨어(예: 프로그램(140))로서 구현될 수 있다. 예를 들면, 기기(예: 전자 장치(101))의 프로세서(예: 프로세서(120))는, 저장 매체로부터 저장된 하나 이상의 명령어들 중 적어도 하나의 명령을 호출하고, 그것을 실행할 수 있다. 이것은 기기가 상기 호출된 적어도 하나의 명령어에 따라 적어도 하나의 기능을 수행하도록 운영되는 것을 가능하게 한다. 상기 하나 이상의 명령어들은 컴파일러에 의해 생성된 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다. 기기로 읽을 수 있는 저장매체는, 비일시적(non-transitory) 저장매체의 형태로 제공될 수 있다. 여기서, ‘비일시적’은 저장매체가 실재(tangible)하는 장치이고, 신호(signal)(예: 전자기파)를 포함하지 않는다는 것을 의미할 뿐이며, 이 용어는 데이터가 저장매체에 반영구적으로 저장되는 경우와 임시적으로 저장되는 경우를 구분하지 않는다.Various embodiments of this document are one or more instructions stored in a storage medium (e.g., built-in memory 136 or external memory 138) that can be read by a machine (e.g., electronic device 101). It may be implemented as software (e.g., program 140) including these. For example, a processor (e.g., processor 120) of a device (e.g., electronic device 101) may call at least one command among one or more commands stored from a storage medium and execute it. This allows the device to be operated to perform at least one function according to the at least one instruction called. The one or more instructions may include code generated by a compiler or code that can be executed by an interpreter. A storage medium that can be read by a device may be provided in the form of a non-transitory storage medium. Here, 'non-transitory' only means that the storage medium is a tangible device and does not contain signals (e.g. electromagnetic waves). This term refers to cases where data is stored semi-permanently in the storage medium. There is no distinction between temporary storage cases.

일 실시 예에 따르면, 본 문서에 개시된 다양한 실시 예들에 따른 방법은 컴퓨터 프로그램 제품(computer pro메모리 product)에 포함되어 제공될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 상품으로서 판매자 및 구매자 간에 거래될 수 있다. 컴퓨터 프로그램 제품은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체(예: compact disc read only memory (CD-ROM))의 형태로 배포되거나, 또는 어플리케이션 스토어(예: 플레이 스토어^TM)를 통해 또는 두 개의 사용자 장치(예: 스마트폰)들 간에 직접 또는 온라인으로 배포(예: 다운로드 또는 업로드)될 수 있다. 온라인 배포의 경우에, 컴퓨터 프로그램 제품의 적어도 일부는 제조사의 서버, 어플리케이션 스토어의 서버, 또는 중계 서버의 메모리와 같은 기기로 읽을 수 있는 저장 매체에 적어도 일시 저장되거나, 임시적으로 생성될 수 있다.According to one embodiment, methods according to various embodiments disclosed in this document may be included and provided in a computer program product (computer pro memory product). Computer program products are commodities and can be traded between sellers and buyers. The computer program product may be distributed in the form of a machine-readable storage medium (e.g. compact disc read only memory (CD-ROM)), or through an application store (e.g. Play Store ^TM ) or on two user devices (e.g. : It can be distributed (e.g. downloaded or uploaded) directly or online between smartphones. In the case of online distribution, at least a portion of the computer program product may be at least temporarily stored or temporarily created in a machine-readable storage medium, such as the memory of a manufacturer's server, an application store's server, or a relay server.

다양한 실시 예들에 따르면, 상기 기술한 구성요소들의 각각의 구성요소(예: 모듈 또는 프로그램)는 단수 또는 복수의 개체를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 전술한 해당 구성요소들 중 하나 이상의 구성요소들 또는 동작들이 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 구성요소들 또는 동작들이 추가될 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 복수의 구성요소들(예: 모듈 또는 프로그램)은 하나의 구성요소로 통합될 수 있다. 이런 경우, 통합된 구성요소는 상기 복수의 구성요소들 각각의 구성요소의 하나 이상의 기능들을 상기 통합 이전에 상기 복수의 구성요소들 중 해당 구성요소에 의해 수행되는 것과 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따르면, 모듈, 프로그램 또는 다른 구성요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적으로, 병렬적으로, 반복적으로, 또는 휴리스틱하게 실행되거나, 상기 동작들 중 하나 이상이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 하나 이상의 다른 동작들이 추가될 수 있다.According to various embodiments, each component (eg, module or program) of the above-described components may include a single entity or a plurality of entities. According to various embodiments, one or more of the components or operations described above may be omitted, or one or more other components or operations may be added. Alternatively or additionally, multiple components (eg, modules or programs) may be integrated into a single component. In this case, the integrated component may perform one or more functions of each component of the plurality of components identically or similarly to those performed by the corresponding component of the plurality of components prior to the integration. . According to various embodiments, operations performed by a module, program, or other component may be executed sequentially, in parallel, iteratively, or heuristically, or one or more of the operations may be executed in a different order, omitted, or , or one or more other operations may be added.

101: 전자 장치 120: 프로세서
230: 디스플레이 구동 회로101: electronic device 120: processor
230: display driving circuit

Claims

전자 장치에 있어서,
하우징;
상기 하우징에 배치되고 복수의 화소들을 이용하여 화면을 표시하는 디스플레이;
상기 디스플레이를 구동하는 디스플레이 구동 회로;
상기 디스플레이 구동 회로와 작동적으로 연결된 프로세서를 포함하고,
상기 프로세서는,
상기 전자 장치가 실행하는 적어도 하나의 어플리케이션의 누적 사용 시간을 획득하고, 상기 디스플레이의 열화에 관련된 정보를 샘플링 할 때 상기 누적 사용 시간의 오차가 지정된 범위 이내인 적어도 하나의 주기를 가변 주기 후보로 설정하고, 상기 가변 주기 후보 중 어느 하나의 가변 주기를 기반으로 상기 디스플레이를 샘플링하는 주기를 가변하도록 설정되고,
상기 디스플레이의 사용 시간이 제1 시간을 초과한 경우, 상기 디스플레이의 열화 정도를 나타내는 스트레스 맵을 업데이트하고,
지정된 이벤트가 발생하거나 상기 업데이트 된 스트레스 맵의 균일도, 히스토그램 분포 및/또는 분산 값에 기반하여 헤비 유저에 해당하는 경우, 상기 스트레스 맵에 기반하여 보상 기준을 설정하고,
상기 보상 기준에 따라 보상 데이터를 생성하여 상기 디스플레이 구동 회로로 전달하도록 설정된 전자 장치.In electronic devices,
housing;
a display disposed in the housing and displaying a screen using a plurality of pixels;
a display driving circuit that drives the display;
comprising a processor operatively connected to the display driving circuit,
The processor,
Obtaining the accumulated usage time of at least one application running on the electronic device, and setting at least one cycle in which the error of the accumulated usage time is within a specified range as a variable cycle candidate when sampling information related to deterioration of the display And, the period for sampling the display is set to vary based on the variable period of any one of the variable period candidates,
When the usage time of the display exceeds a first time, update a stress map indicating the degree of deterioration of the display,
If a specified event occurs or a heavy user is identified based on the uniformity, histogram distribution, and/or variance value of the updated stress map, set a compensation standard based on the stress map,
An electronic device configured to generate compensation data according to the compensation criteria and transmit it to the display driving circuit.

청구항 1에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 화면을 상기 주기마다 샘플링하는 샘플링부;
상기 화면의 휘도, 사용시간, 및/또는 온도에 기반하여 상기 디스플레이의 열화를 예측하는 열화 예측부; 및
상기 디스플레이의 열화 정도를 계산하는 열화 정도 산출부를 포함하고,
상기 열화 정도 산출부는 사용 패턴이 상기 헤비 유저에 해당하는지 여부를 판단하는 전자 장치.In claim 1,
The processor,
a sampling unit that samples the screen at each period;
a deterioration prediction unit that predicts deterioration of the display based on the screen brightness, usage time, and/or temperature; and
It includes a deterioration degree calculation unit that calculates the degree of deterioration of the display,
The deterioration degree calculator determines whether a usage pattern corresponds to the heavy user.

청구항 1에 있어서, 상기 프로세서는,
외부의 서버로 상기 열화 정도를 산출하는 복수의 지표들을 전송하고,
상기 서버로부터 상기 복수의 지표들에 관련된 빅 데이터를 수신하여 상기 주기를 적응적(adaptive)으로 설정하도록 설정된 전자 장치.The method of claim 1, wherein the processor:
Transmitting a plurality of indicators calculating the degree of deterioration to an external server,
An electronic device configured to receive big data related to the plurality of indicators from the server and set the period adaptively.

삭제delete

청구항 1에 있어서, 상기 프로세서는,
외부의 서버로 상기 열화 정도를 산출하는 복수의 지표들을 전송하고,
상기 열화 정도가 상기 서버로부터 제공된 임계값 이상인 경우, 상기 디스플레이의 열화 보상을 실시하기 위한 보상 기준을 설정하는 전자 장치.The method of claim 1, wherein the processor:
Transmitting a plurality of indicators calculating the degree of deterioration to an external server,
An electronic device that sets a compensation standard for compensating for deterioration of the display when the degree of deterioration is greater than or equal to a threshold provided by the server.

청구항 1에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 균일도가 지정된 제1 문턱 값을 초과하는 경우 제1 보상을 수행하는 제1 보상 데이터를 상기 디스플레이 구동 회로로 전달하고,
상기 균일도가 상기 제1 문턱 값보다 큰 제2 문턱 값을 초과하는 경우 제2 보상을 수행하는 제2 보상 데이터를 상기 디스플레이 구동 회로로 전달하도록 설정된 전자 장치.The method of claim 1, wherein the processor:
When the uniformity exceeds a specified first threshold, first compensation data for performing first compensation is transmitted to the display driving circuit,
An electronic device configured to transmit second compensation data for performing second compensation to the display driving circuit when the uniformity exceeds a second threshold value that is greater than the first threshold value.

청구항 1에 있어서, 상기 프로세서는,
상기 디스플레이의 열화 정보를 나타내는 스트레스 맵에 대한 휘도 도메인 이미지를 획득하고 상기 휘도 도메인 이미지에 제1 필터 및 제2 필터를 적용하도록 설정된 전자 장치.The method of claim 1, wherein the processor:
An electronic device configured to acquire a luminance domain image for a stress map indicating deterioration information of the display and apply a first filter and a second filter to the luminance domain image.

청구항 1에 있어서, 상기 프로세서는,
외부의 서버로 상기 열화 정도를 나타내는 최대 또는 평균 열화 정도 및 시각적 열화 정도를 전송하고,
상기 서버로부터 상기 최대 또는 평균 열화 정도가 제1 경계 이상인 경우 및/또는 상기 시각적 열화 정도가 제2 경계 이상인 경우에 해당한다는 알림을 수신하는 경우 상기 디스플레이의 열화를 보상하도록 설정된 전자 장치.The method of claim 1, wherein the processor:
Transmitting the maximum or average degree of deterioration and the degree of visual deterioration indicating the degree of deterioration to an external server,
An electronic device configured to compensate for deterioration of the display when receiving a notification from the server that the maximum or average degree of deterioration is greater than or equal to a first boundary and/or that the degree of visual deterioration is greater than or equal to a second boundary.

전자 장치의 디스플레이의 열화를 보상하는 방법에 있어서,
상기 전자 장치가 실행하는 적어도 하나의 어플리케이션의 지정된 기간 동안의 평균 사용 횟수 및 상기 적어도 하나의 어플리케이션의 1회 실행 당 평균 사용 시간을 포함하는 사용 패턴에 기반하여 상기 디스플레이를 샘플링하는 주기를 가변시키는 동작;
상기 디스플레이의 전체적인 균일도, 상기 디스플레이의 히스토그램 분포, 상기 디스플레이의 복수의 영역들 중 적어도 하나의 영역의 분산 값, 및/또는 복수의 영역의 평균 분산 값이 지정된 값 이상인 경우 보상 알고리즘을 적용시키는 동작; 및
상기 전자 장치와 연결된 서버에서 획득한 상기 전자 장치의 사용자와 관련된 빅 데이터를 이용하여 상기 디스플레이의 전체적인 균일도, 상기 디스플레이의 히스토그램 분포, 상기 디스플레이의 복수의 영역들 중 적어도 하나의 영역의 분산 값, 및/또는 복수의 영역의 평균 분산 값이 지정된 문턱 범위 이내가 되도록 상기 디스플레이를 보상하는 동작을 포함하는 방법.In a method of compensating for deterioration of a display of an electronic device,
An operation of varying the period of sampling the display based on a usage pattern including the average number of uses of at least one application run by the electronic device during a specified period and the average usage time per execution of the at least one application. ;
applying a compensation algorithm when the overall uniformity of the display, the histogram distribution of the display, the variance value of at least one region among a plurality of regions of the display, and/or the average variance value of the plurality of regions are greater than or equal to a specified value; and
Using big data related to the user of the electronic device obtained from a server connected to the electronic device, overall uniformity of the display, histogram distribution of the display, variance value of at least one region among a plurality of regions of the display, and /Or a method comprising compensating the display so that the average variance value of a plurality of areas is within a specified threshold range.

전자 장치의 디스플레이의 열화를 보상하는 방법에 있어서,
실시간으로 샘플링 정보를 획득하는 동작;
상기 샘플링 정보를 누적하는 국면의 동작;
상기 전자 장치가 실행하는 적어도 하나의 어플리케이션의 누적 사용 시간을 획득하고, 상기 디스플레이의 열화에 관련된 정보를 샘플링 할 때 상기 누적 사용 시간의 오차가 지정된 범위 이내인 적어도 하나의 주기를 가변 주기 후보로 설정하고, 상기 가변 주기 후보 중 어느 하나의 가변 주기를 기반으로 상기 디스플레이를 샘플링하는 주기를 가변시키는 동작;
상기 디스플레이가 턴-온(turn-on)된 시간의 합이 제1 시간을 초과한 경우, 스트레스 맵을 업데이트하는 국면의 동작;
헤비 유저인 경우, 보상 데이터를 업데이트하는 국면의 동작; 및
상기 보상 데이터로 상기 디스플레이의 열화를 보상하는 방법.In a method of compensating for deterioration of a display of an electronic device,
An operation to obtain sampling information in real time;
An operation of accumulating the sampling information;
Obtaining the accumulated usage time of at least one application running on the electronic device, and setting at least one cycle in which the error of the accumulated usage time is within a specified range as a variable cycle candidate when sampling information related to deterioration of the display and varying a sampling period of the display based on one variable period among the variable period candidates;
An operation of updating a stress map when the sum of times during which the display is turned on exceeds a first time;
In the case of a heavy user, the operation of updating compensation data; and
A method of compensating for deterioration of the display using the compensation data.

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