KR102663195B1 - System and Method for testing sampled value of digital substation automatically - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 393
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 34
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 142
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 74
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 21
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 17
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 16
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 13
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 9
- 238000012422 test repetition Methods 0.000 claims description 6
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims description 5
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 5
- 102100024735 Resistin Human genes 0.000 claims description 4
- 101150091950 retn gene Proteins 0.000 claims description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 15
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 238000012356 Product development Methods 0.000 description 2
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 2
- 102100026278 Cysteine sulfinic acid decarboxylase Human genes 0.000 description 1
- 101100367243 Mus musculus Svs6 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000013100 final test Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000003012 network analysis Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 108010064775 protein C activator peptide Proteins 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/08—Locating faults in cables, transmission lines, or networks
- G01R31/081—Locating faults in cables, transmission lines, or networks according to type of conductors
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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Abstract
디지털 변전소의 샘플링 값을 네트워크를 통해 실시간으로 수집하여 사용자 요구조건에 맞는 성능을 자동으로 검증할 수 있는 샘플링 값 자동 시험 시스템이 개시된다. 상기 샘플링 값 자동 시험 시스템은, 계측 신호를 생성하는 계측 신호 발생 장치, 상기 계측 신호를 디지털 신호로 변환하여 디지털 변전소의 샘플링값을 생성하는 시험 대상 장치, 및 미리 설정되는 다수의 시험 모델 중 선택되는 하나의 시험 모델에 기반하여 생성되는 시험 케이스에 따라 상기 샘플링값(sampled value)에 대해 자동 시험을 실행하는 시험 장치를 포함하는 것을 특징으로 한다.An automatic sampling value test system is disclosed that collects sampling values from a digital substation in real time through a network and automatically verifies performance that meets user requirements. The sampling value automatic test system is selected from among a measurement signal generator that generates a measurement signal, a test target device that converts the measurement signal into a digital signal and generates a sampling value of a digital substation, and a plurality of preset test models. It is characterized by including a test device that automatically runs a test on the sampled value according to a test case generated based on one test model.
Description
본 발명은 디지털 변전소 시험 기술에 관한 것으로서, 더 상세하게는 디지털 변전소 현장에 설치되어 전압과 전류를 디지털 신호(즉, 샘플링 값)로 전송하는 전자 장치를 대상으로 샘플링 값을 자동 시험하는 시스템 및 방법에 대한 것이다.The present invention relates to digital substation testing technology, and more specifically, to a system and method for automatically testing sampling values for electronic devices installed at a digital substation site and transmitting voltage and current as digital signals (i.e., sampling values). It's about.
현재 대부분의 나라에서 운전 중인 디지털 변전소는 전력설비에서 나오는 모든 계측과 상태신호를 디지털로 전환하여 사용하는 것이 아니라, 전력설비를 감시하기 위해 물리적인 전기 케이블에 의한 1:1로 신호를 전달받은 지능형 전자 장치(Intelligent Electronic Device)가 컴퓨터 단말장치로 이루어진 운영시스템과 디지털 신호를 주고받는 하프(Half)급(50% 디지털화) 디지털 변전소이다.Digital substations currently in operation in most countries do not convert all measurements and status signals from power facilities into digital ones, but use intelligent substations that receive signals 1:1 through physical electric cables to monitor power facilities. It is a half-class (50% digitized) digital substation where an electronic device (Intelligent Electronic Device) exchanges digital signals with an operating system consisting of computer terminal devices.
이와 같은 디지털 변전소는 전압과 전류 등 계측 데이터의 정보공유가 불가능한 관계로 지능형 시스템 도입이 어렵고 시스템 확장에도 제약이 많을 수밖에 없다. In such digital substations, it is impossible to share measurement data such as voltage and current, so it is difficult to introduce an intelligent system and there are bound to be many restrictions on system expansion.
또한, 변전소 현장에 제어 케이블에 의한 전기신호와 네트워크 통신을 통한 디지털 신호가 혼재하여 디지털 변전소의 구성 복잡성을 증가시켜 다수의 장애를 발생하는 요인이 되고 있다. 따라서, 변전소와 변전소 간 디지털 신호의 교환이 불가하여 광역 계통 보호 및 감시 시스템 개발에 한계가 있었다.In addition, at the substation site, electrical signals through control cables and digital signals through network communication are mixed, increasing the complexity of the configuration of the digital substation and causing a number of failures. Therefore, exchange of digital signals between substations was impossible, which limited the development of a wide-area grid protection and monitoring system.
이로 인하여 전 세계적으로 디지털 변전소를 현재의 Half급 디지털 변전소에서 변전소의 모든 신호를 디지털로 전환하여 운영하는 풀(Full) 디지털 변전소로 구축하고 있으며, 그 속도가 점차 가속되고 있다. As a result, digital substations around the world are being built from the current half-level digital substations to full digital substations that operate by converting all signals in the substation to digital, and the pace is gradually accelerating.
풀(Full) 디지털 변전소의 가장 큰 특징 중 하나가 변전설비의 보호 및 계측기능을 수행하기 위해 CT(Current Transformer)와 PT(Potential Transformer)의 계측설비로부터 취득한 전압과 전류를 디지털 신호로 변환하여 고속의 네트워크 시스템에 전송하는 것이다, 이때 전압과 전류에 대한 디지털 신호가 디지털 변전소의 국제규격에서 정의하는 샘플링 값(Sampled Value, SV)이다.One of the biggest features of a full digital substation is to convert the voltage and current obtained from the CT (Current Transformer) and PT (Potential Transformer) measurement equipment into digital signals to perform the protection and measurement functions of the substation equipment. It is transmitted to the network system. At this time, the digital signal for voltage and current is the sampled value (SV) defined in the international standard for digital substation.
풀 디지털 변전소의 핵심 디지털 신호인 SV는 고정밀 시각동기 신호를 이용하고 신호의 빠른 전송을 위해 네트워크의 2계층(Media Access Control 주소)의 연속전송을 사용하는 단방향 고속 통신 메시지이다. SV, the core digital signal of a full digital substation, is a one-way high-speed communication message that uses a high-precision time synchronization signal and continuous transmission of the second layer of the network (Media Access Control address) for fast transmission of the signal.
SV 신호를 기반으로 디지털 변전소를 운영하기 위해서는 SV를 보내는 MU(Merging Unit)와 같은 전자장치가 디지털 변전소에 적합한 디지털 형식을 갖추고 네트워크에 정확하고 무손실의 신호를 전송하는지 검증하는 과정이 필수적으로 요구된다.In order to operate a digital substation based on SV signals, it is essential to verify that electronic devices such as MU (Merging Unit) that send SV have a digital format suitable for the digital substation and transmit accurate and lossless signals to the network. .
하지만, 현재 국내외에 보유중인 기술과 시험장치는 SV 신호를 수집하여 단순 실효치로 계산하여 계측값을 보여주거나, 네트워크로부터도 수집한 SV 통신 패킷을 사람이 직접 눈으로 확인하여 형식과 신호전송의 정확성을 판단해야 한다. However, the technologies and test equipment currently in place at home and abroad collect SV signals and calculate them as simple effective values to show measured values, or the format and accuracy of signal transmission are checked by a person directly checking SV communication packets collected from the network. must be judged.
SV는 고정밀의 시각동기를 기반으로 하고 매우 많은 양의 데이터를 짧은 시간에 네트워크에 전송하기 때문에 실시간 감시하는 것이 불가능하고, 수집한 통신 트래픽을 가지고 분석한다고 하여도 많은 시간이 소요되고 그 정확성도 떨어질 수밖에 없다.Because SV is based on high-precision time synchronization and transmits a very large amount of data to the network in a short period of time, real-time monitoring is impossible, and even if analyzed using the collected communication traffic, it takes a lot of time and the accuracy is low. There is no choice but to do so.
따라서, 시험대상 장치가 전송하는 SV를 네트워크를 통해 실시간으로 수집하여 사용자 요구조건에 맞는 성능을 자동으로 검증할 시험 기술이 요구되고 있다.Therefore, there is a need for a testing technology that collects SV transmitted by the device under test in real time through a network and automatically verifies performance that meets user requirements.
또한, 이러한 시험 기술의 경우, Full 디지털 변전소의 운영 신뢰성을 높이고, 제품 개발과정 및 등록과정에 필요한 시험수행의 인력과 비용을 줄이고 판정의 정확성을 높일 필요가 있다.In addition, in the case of this testing technology, it is necessary to increase the operational reliability of a full digital substation, reduce the manpower and cost of testing required for the product development process and registration process, and increase the accuracy of judgment.
본 발명은 위 배경기술에 따른 문제점을 해소하기 위해 제안된 것으로서, 디지털 변전소의 샘플링 값을 네트워크를 통해 실시간으로 수집하여 사용자 요구조건에 맞는 성능을 자동으로 검증할 수 있는 샘플링 값 자동 시험 시스템 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention was proposed to solve the problems caused by the above background technology, and is a sampling value automatic test system and method that collects sampling values of a digital substation in real time through a network and automatically verifies performance that meets user requirements. The purpose is to provide.
또한, 본 발명은 디지털 변전소의 운영 신뢰성을 높이고, 제품 개발과정 및 등록과정에 필요한 시험수행의 인력과 비용을 줄이고 판정의 정확성을 높일 수 있는 샘플링 값 자동 시험 시스템 및 방법을 제공하는데 다른 목적이 있다. Another purpose of the present invention is to provide an automatic testing system and method for sampling values that can increase the operational reliability of a digital substation, reduce the manpower and cost of testing required for the product development process and registration process, and increase the accuracy of judgment. .
본 발명은 위에서 제시된 과제를 달성하기 위해, 디지털 변전소의 샘플링 값을 네트워크를 통해 실시간으로 수집하여 사용자 요구조건에 맞는 성능을 자동으로 검증할 수 있는 샘플링 값 자동 시험 시스템을 제공한다.In order to achieve the tasks presented above, the present invention provides an automatic sampling value test system that collects sampling values of a digital substation in real time through a network and automatically verifies performance that meets user requirements.
상기 샘플링 값 자동 시험 시스템은,The sampling value automatic test system,
계측 신호를 생성하는 계측 신호 발생 장치;A measurement signal generator that generates a measurement signal;
상기 계측 신호를 디지털 신호로 변환하여 디지털 변전소의 샘플링값을 생성하는 시험 대상 장치; 및A device under test that converts the measurement signal into a digital signal and generates a sampling value of a digital substation; and
미리 설정되는 다수의 시험 모델 중 선택되는 하나의 시험 모델에 기반하여 생성되는 시험 케이스에 따라 상기 샘플링값(sampled value)에 대해 자동 시험을 실행하는 시험 장치;를 포함하는 것을 특징으로 한다.A test device that automatically performs a test on the sampled value according to a test case generated based on one test model selected from a plurality of preset test models.
이때, 상기 시험 장치는, 하나의 상기 시험 모델을 가지고 상기 시험 케이스를 생성하고 관리하는 시험 운영부; 및 상기 시험 케이스에 따라 상기 자동 시험을 실행하고, 상기 실행에 따른 결과를 사용자에게 제공하는 시험 수행부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.At this time, the test device includes a test operation unit that creates and manages the test case with one test model; and a test execution unit that executes the automatic test according to the test case and provides results according to the execution to the user.
또한, 상기 시험 운영부는, 다수의 상기 시험모델을 저장하고 있는 시험 모델 데이터베이스; 상기 시험 모델 데이터베이스로부터 선택된 하나의 상기 시험모델을 이용하여 상기 시험 케이스를 생성하는 시험 관리 블럭; 및 상기 시험 케이스에 따른 시험 수행 명령을 생성하는 시험 진행 모듈;을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the test operation unit includes a test model database storing a plurality of the test models; a test management block that generates the test case using one test model selected from the test model database; and a test progress module that generates a test execution command according to the test case.
또한, 상기 시험 수행부는, 상기 시험 수행 명령에 따라 상기 샘플링값(sampled value)에 대해 자동 시험을 실행하는 시험 실행기; 시간 정보를 상기 자동 시험에 반영하는 신호 처리기; 및 제 2 통신 포트를 통해 상기 시험 대상 장치로부터 상기 샘플링값을 수신하는 신호 수집기;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the test execution unit may include a test executor that automatically executes a test on the sampled value according to the test execution command; a signal processor that reflects time information in the automatic test; and a signal collector that receives the sampling value from the device under test through a second communication port.
또한, 상기 시간 정보는 제 1 통신 포트를 통해 시각 동기 서버로부터 수신되는 시간 정보이거나 PPS(Pulse Per Second) 시간인 것을 특징으로 한다.In addition, the time information is characterized as time information received from a time synchronization server through the first communication port or PPS (Pulse Per Second) time.
또한, 상기 시험 모델은, 상기 자동 시험을 위한 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보를 수집하는 시험 진행 모델, 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보를 이용하여 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보에 관련되는 상세 데이터를 분석하는 시험 분석 모델, 및 상기 분석에 따른 판정을 실행하는 판정 모델을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the test model is a test progress model that collects the sampling value and the time information for the automatic test, and analyzes detailed data related to the sampling value and the time information using the sampling value and the time information. It is characterized in that it includes a test analysis model that performs a test analysis model, and a judgment model that executes a judgment according to the analysis.
또한, 상기 시험 진행 모델은, 미리 지정된 시간만큼 네트워크에 있는 상기 샘플링값을 수집하여 저장하는 제 1 모델과, 미리 설정된 시간 소스에서 상기 시간 정보를 상기 시험 케이스의 종료때까지 가져와서 시간 동기 표시자(indicator)와 시험 로그에 상기 시각 동기 서버와의 시각 동기 상태를 표시하는 제 2 모델로 이루어지는 것을 특징으로 한다.In addition, the test progress model includes a first model that collects and stores the sampling value in the network for a predetermined time, and a time synchronization indicator by fetching the time information from a preset time source until the end of the test case. It is characterized by consisting of an indicator and a second model that displays the time synchronization status with the time synchronization server in the test log.
또한, 상기 시험 분석 모델은, 수집된 상기 샘플링값 중 상기 시험 대상 장치의 설정과 일치한 샘플링값이 있는지를 다수의 파라미터를 이용하여 확인하는 샘플링값 형식 확인 모델, 지연 시간을 측정하는 지연 시간 측정 모델, 상기 샘플링값의 샘플링 카운터가 증가하고 마지막 샘플링 카운터 이후 제로(zero)값으로 리셋(reset)되어 증가되는지를 측정하는 샘플링 속도 측정 모델, 샘플링값의 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이 되는 간격을 미리 설정되는 마진인지를 측정하는 샘플링 간격 측정 모델, 상기 시험 장치가 시각 동기 서버와의 동기화 여부에 따라 시각 동기를 측정하는 시각 동기 측정 모델, PPS(Pulse Per Second) 시간과 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이되는 값간의 차를 이용하여 시각 동기 정밀도를 측정하는 시각 동기 정밀도 측정 모델, 전압과 전류의 데이터셋(RSTN)이 구성되어 있는지에 따른 ASDU(application service data unit) 형식을 확인하는 ASDU 형식 확인 모델, 상기 시험 대상 장치(130)의 설정값을 이용하여 전압, 전류의 RMS(Root Means Sqaure)을 계산하는 RMS(Root Means Sqaure) 계산 모델, 상기 시험 대상 장치(130)의 설정에 따른 상기 샘플링값의 전압과 전류의 품질값과 미리 설정되는 품질값을 비교하여 검증하는 품질 검증 모델, 및 미리 설정된 시간 동안 상기 시험 대상 장치(130)가 전송한 상기 샘플링값을 카운터하여 미리 설정된 전송 범위내인지를 판정하는 샘플링 카운터(Sampling Counter) 모델 중 적어도 하나인 것을 특징으로 한다.In addition, the test analysis model includes a sampling value format confirmation model that uses a number of parameters to check whether any of the collected sampling values match the settings of the device under test, and a delay time measurement that measures the delay time. A model, a sampling rate measurement model that measures whether the sampling counter of the sampling value increases and is reset to zero after the last sampling counter, and the interval at which the sampling counter of the sampling value becomes the zero value. A sampling interval measurement model that measures whether the margin is preset, a time synchronization measurement model that measures time synchronization depending on whether the test device is synchronized with a time synchronization server, and a PPS (Pulse Per Second) time and the sampling counter are set to the zero. A time synchronization precision measurement model that measures time synchronization precision using the difference between values, and an ASDU format check that checks the ASDU (application service data unit) format according to whether the voltage and current dataset (RSTN) is configured. Model, RMS (Root Means Sqaure) calculation model for calculating the RMS (Root Means Sqaure) of voltage and current using the settings of the device under test 130, the sampling according to the settings of the device under test 130 A quality verification model that verifies by comparing the quality values of the voltage and current with a preset quality value, and counters the sampling value transmitted by the device under test 130 for a preset time to determine whether it is within a preset transmission range. It is characterized by being at least one of the Sampling Counter models that determine.
또한, 다수의 상기 파라미터는 목적지 MAC(Media Access Control) 주소, TPID(tag protocol identifier), VLAN(Virtual Local Area Network) 우선순위(priority), VLAN ID(identifier), 이더타입(Ethertype), APPID(APP identifier), 샘플값 ID(SvID: Sampled Value identifier), ASDU(application service data unit)의 개수, confRev(Configuration Revision), DUT(Device Under Test, 시험 대상 장치) 포맷(Format) 선택사항, 샘플링 속도(sampling rate), 및 리플레시 시간(refresh Time) 중 적어도 2개인 것을 특징으로 한다.In addition, a number of the above parameters include destination MAC (Media Access Control) address, TPID (tag protocol identifier), VLAN (Virtual Local Area Network) priority, VLAN ID (identifier), Ethertype, APPID ( APP identifier), sampled value identifier (SvID), number of application service data units (ASDU), confRev (Configuration Revision), DUT (Device Under Test) format options, sampling rate It is characterized by at least two of (sampling rate) and refresh time.
또한, 상기 판정 모델은, 상기 시험 분석 모델을 다수개 배치하는 판정그룹을 생성하는 다중 시험 판정 모델, 상기 자동 시험 중 상기 시험 대상 장치의 동작 및 출력을 메시지로 제공하는 시험 가이드 지시 모델, 상기 자동 시험 중 반복 구간을 지정할 수 있는 시험 반복 모델, 선택한 시험 케이스의 실행을 선언할 수 있는 시험 시작 모델, 및 상기 선택한 시험 케이스의 종류를 선언할 수 있는 시험 종료 모델 중 어느 하나인 것을 특징으로 한다.In addition, the decision model includes a multi-test decision model that creates a decision group in which a plurality of test analysis models are arranged, a test guide instruction model that provides a message of the operation and output of the device under test during the automatic test, and the automatic test. It is characterized by one of a test repetition model that can specify a repetition section during the test, a test start model that can declare execution of the selected test case, and a test end model that can declare the type of the selected test case.
또한, 상기 지연 시간 측정 모델은 0의 범주에 있던 상기 샘플링값의 샘플의 마지막 시간과 0값 이상을 가지는 시간의 차를 계산하고, 상기 시간의 차가 상기 시험 대상 장치(130)의 설정인 계측 지연 시간(The measured delay time)과 상기 시험 대상 장치(130)의 설정인 최대 지연(Maximum delay) 시간보다 작으면 패스, 크면 실패, 상기 샘플링값이 없으면 판단 불가로 정의되는 것을 특징으로 한다.In addition, the delay time measurement model calculates the difference between the last time of the sample of the sampling value in the range of 0 and the time having a value greater than 0, and the difference in time is the measurement delay that is the setting of the device under test 130. If the measured delay time is less than the maximum delay time, which is the setting of the device under test 130, it is defined as pass, if it is greater than the maximum delay time, it is defined as failure, and if the sampling value is not present, it is defined as impossible to determine.
또한, 상기 시각동기 측정 모델은 시각 동기 서버와 동기화되어 있는 경우, 상기 샘플링값 중 샘플링 동기값(SmpSynch:sampling synchronization)이 PPS 시간에서 1이고, IEEE1588에서 2이면 성공으로 다른 값이면 실패로 정의되는 것을 특징으로 한다.In addition, when the time synchronization measurement model is synchronized with the time synchronization server, the sampling synchronization value (SmpSynch: sampling synchronization) of the sampling values is 1 in PPS time, 2 in IEEE1588 is defined as success, and any other value is defined as failure. It is characterized by
또한, 상기 시각동기 측정 모델은 시각 동기 서버와 동기화가 안되어 있는 경우, 상기 샘플링값 중 샘플링 동기값(SmpSynch:sampling synchronization)이 0이면 성공이고, 다른 값이면 실패로 정의되는 것을 특징으로 한다.In addition, the time synchronization measurement model is defined as success if the sampling synchronization value (SmpSynch: sampling synchronization) of the sampling values is 0 when it is not synchronized with the time synchronization server, and is defined as failure if it is any other value.
또한, 상기 시각 동기 정밀도 측정 모델은, 시각 동기 서버와 동기화되어 있는 경우, PPS(Pulse Per Second) 시간과 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이되는 값간의 차를 구하고 이중 가장 큰 수의 값이 설정된 정밀도 시간 이내이면 성공, 상기 정밀도 시간보다 크면 실패로 정의되는 것을 특징으로 한다.In addition, the time synchronization precision measurement model, when synchronized with the time synchronization server, calculates the difference between the PPS (Pulse Per Second) time and the zero value of the sampling counter, and the largest value is the set precision. If it is within the time, it is defined as success, and if it is greater than the precision time, it is defined as failure.
다른 한편으로, 본 발명의 다른 일실시예는, (a) 계측 신호 발생 장치가 계측 신호를 생성하는 단계; (b) 시험 대상 장치가 상기 계측 신호를 디지털 신호로 변환하여 디지털 변전소의 샘플링값을 생성하는 단계; 및 (c) 시험 장치가 미리 설정되는 다수의 시험 모델 중 선택되는 하나의 시험 모델에 기반하여 생성되는 시험 케이스에 따라 상기 샘플링값(sampled value)에 대해 자동 시험을 실행하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 방법을 제공한다.On the other hand, another embodiment of the present invention includes the steps of (a) generating a measurement signal by a measurement signal generating device; (b) a device under test converting the measurement signal into a digital signal to generate a sampling value of a digital substation; And (c) a test device performing an automatic test on the sampled value according to a test case generated based on one test model selected from a plurality of preset test models. Provides a method for automatically testing sampling values of a digital substation.
이때, 상기 (c) 단계는, 시험 운영부가 하나의 상기 시험 모델을 가지고 상기 시험 케이스를 생성하고 관리하는 단계; 및 시험 수행부가 상기 시험 케이스에 따라 상기 자동 시험을 실행하고, 상기 실행에 따른 결과를 사용자에게 제공하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.At this time, step (c) includes a test operation unit generating and managing the test case with one test model; and a test execution unit executing the automatic test according to the test case and providing a result according to the execution to the user.
또한, 상기 결과는 보고서 형태인 것을 특징으로 한다.Additionally, the results are characterized in that they are in the form of a report.
또 다른 한편으로, 본 발명의 또 다른 일실시예는, 위에 기술된 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 방법을 실행하는 프로그램 코드를 저장한 컴퓨터 판독 가능 저장 매체를 제공한다.On the other hand, another embodiment of the present invention provides a computer-readable storage medium storing program code for executing the method for automatically testing sampling values of a digital substation described above.
본 발명에 따르면, 디지털 변전소에서 전력설비의 디지털 신호 전송의 핵심기술인 샘플링 값(Sampled Value)에 대해 국제규격 시험절차 방식으로 시험 자동화 시스템을 구현함으로써 고정밀 시각 동기화된 시험 대상 장치가 전송하는 샘플링 값을 실시간으로 취득하여 시험의 실행, 분석, 판정 그리고 보고서 출력에 이르는 전 과정을 자동으로 수행할 수 있다.According to the present invention, the sampling value transmitted by a high-precision time-synchronized test target device is implemented by implementing a test automation system using an international standard test procedure for the sampling value, which is a core technology for digital signal transmission of power equipment in a digital substation. By acquiring data in real time, the entire process from test execution, analysis, judgment, and report output can be performed automatically.
또한, 본 발명의 다른 효과로서는 현재 네트워크 분석 툴과 SV(Sampled Value) 계측 장비를 가지고 사람에 의한 수작업 시험방식으로 인한 SV 출력의 실시간 확인과 성능의 건전성을 검증할 수 없었던 기술적 한계를 극복할 수 있다는 점을 들 수 있다.In addition, another effect of the present invention is that it can overcome the technical limitations of not being able to check real-time SV output and verify the soundness of performance due to manual testing by humans using current network analysis tools and SV (Sampled Value) measurement equipment. It can be said that there is.
또한, 본 발명의 또 다른 효과로서는 사용자가 원하는 수준에서 SV(Sampled Value)를 전송하는 전자장치의 성능을 전문지식 없이도 쉽게 사용할 수 있어 새로운 장치의 도입 및 현장 설치를 위한 사전검증장치로 사용하여 신규장치에 대한 문제를 사전에 발견하고 그 기능의 성능을 신속하게 확인할 수 있다는 점을 들 수 있다.In addition, another effect of the present invention is that the performance of an electronic device that transmits SV (Sampled Value) at the level desired by the user can be easily used without expert knowledge, so it can be used as a preliminary verification device for the introduction and field installation of new devices. One example is that problems with the device can be discovered in advance and the performance of its functions can be quickly checked.
또한, 본 발명의 또 다른 효과로서는 지털변전소 운영환경의 신뢰성을 향상할 수 있고, 시험에 드는 시간과 비용을 획기적으로 줄여 경제적 효과도 매우 높다는 점을 들 수 있다.In addition, another effect of the present invention is that it can improve the reliability of the digital substation operating environment and has a very high economic effect by dramatically reducing the time and cost of testing.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 샘플링 값 자동 시험 시스템의 구성 블럭도이다.
도 2는 도 1에 도시된 시험 운영부의 세부 구성 블럭도이다.
도 3은 도 1에 도시된 시험 수행부의 세부 구성 블럭도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 샘플링 값 자동 시험 과정을 보여주는 흐름도이다.
도 5는 일반적인 품질 타입(Quality type)의 정의를 보여주는 표이다.
도 6은 도 1에 도시된 시험 대상 장치의 개념도이다.1 is a block diagram of an automatic sampling value testing system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a detailed block diagram of the test operation unit shown in FIG. 1.
FIG. 3 is a detailed block diagram of the test execution unit shown in FIG. 1.
Figure 4 is a flowchart showing an automatic sampling value testing process according to an embodiment of the present invention.
Figure 5 is a table showing definitions of general quality types.
FIG. 6 is a conceptual diagram of the device under test shown in FIG. 1.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 구체적으로 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.The present invention can make various changes and have various embodiments, and specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include all changes, equivalents, and substitutes included in the spirit and technical scope of the present invention.
각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용한다.When describing each drawing, similar reference numerals are used for similar components.
제 1, 제 2등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. Terms such as first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.
예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 1 구성요소는 제 2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제 2 구성요소도 제 1 구성요소로 명명될 수 있다. "및/또는" 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.For example, a first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may be referred to as a first component without departing from the scope of the present invention. The term “and/or” includes any of a plurality of related stated items or a combination of a plurality of related stated items.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미가 있다. Unless otherwise defined, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as generally understood by a person of ordinary skill in the technical field to which the present invention pertains.
일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않아야 한다.Terms defined in commonly used dictionaries should be interpreted as having meanings consistent with the meanings they have in the context of the related technology, and unless clearly defined in the present application, should not be interpreted in an ideal or excessively formal sense. It shouldn't be.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 따른 디지털 변전소의 샘플링 값 자동 시험 시스템 및 방법을 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, a system and method for automatically testing sampling values of a digital substation according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 샘플링 값 자동 시험 시스템(100)의 구성 블럭도이다. 도 1을 참조하면, 샘플링 값 자동 시험 시스템(100)은, 시험 대상 장치(130)에 대해 시험을 수행하는 시험 장치(110), 네트워크 스위치(120), 계측 신호 발생 장치(140), 및 시각 동기 서버(150) 등을 포함하여 구성될 수 있다.Figure 1 is a block diagram of the automatic sampling value testing system 100 according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, the sampling value automatic test system 100 includes a test device 110 that performs a test on a test target device 130, a network switch 120, a measurement signal generator 140, and a time signal generator. It may be configured to include a synchronization server 150, etc.
시험 장치(110)는 미리 설정되는 시험 모델에 의해 생성되는 사용자 정의 시험 절차서에 따라 시험 대상 장치(130)에 대해 시험을 수행하는 기능을 수행한다. 또한, 시험 수행에 따른 결과를 사용자에게 제공한다.The test device 110 performs a test on the device under test 130 according to a user-defined test procedure created by a preset test model. Additionally, the results of the test are provided to the user.
이를 위해, 시험 장치(110)는, 시험모델을 가지고 사용자 정의 시험 절차서를 생성하고 관리하는 시험 운영부(111), 시험 운영부(111)의 시험 절차서에 따라 자동으로 시험 대상 장치(130)에 대한 시험을 실행하고, 실행에 따른 결과를 사용자에게 제공하는 시험 수행부(112) 등을 포함하여 구성된다.To this end, the test device 110 automatically performs tests on the test device 130 according to the test operation department 111, which creates and manages user-defined test procedures with a test model, and the test procedure document of the test operation department 111. It is configured to include a test execution unit 112 that executes and provides results according to execution to the user.
시험 운영부(111)는 MU(Merging Unit) 등과 같은 시험 대상 장치(130)를 선택한 시험 케이스와 모든 시험설정 내용을 포함한 프로젝트로 관리하는 기능을 수행한다. 따라서, 사용자의 시험관리 효율성이 증대하고, 자동으로 시험을 수행할 수 있도록 시험 케이스, 프로젝트 등이 구조화될 수 있다. The test operation unit 111 performs the function of managing test target devices 130, such as MU (Merging Unit), as a project including selected test cases and all test settings. Therefore, the user's test management efficiency increases, and test cases, projects, etc. can be structured so that tests can be performed automatically.
또한, 시험 운영부(111)는 시험의 시작, 종료, 및 보고서 출력에 이르는 디지털 변전소의 샘플링 값(Sampled Value) 시험 케이스의 전과정을 모델 주도로 구현할 수 있는 특징을 가지고 있다.In addition, the test operation unit 111 has the feature of being able to implement the entire process of the sampled value test case of a digital substation, from the start and end of the test to report output, in a model-driven manner.
네트워크 스위치(120)는 시험 장치(110)로부터의 데이터를 시험 대상 장치(130) 또는 시각 동기 서버(150)에 전송하거나, 시험 대상 장치(130) 또는 시각 동기 서버(150)로부터의 데이터를 시험 장치(110)에 전송하는 기능을 수행한다. The network switch 120 transmits data from the test device 110 to the device under test 130 or the time synchronization server 150, or tests data from the device under test 130 or the time synchronization server 150. Performs a transmission function to the device 110.
부연하면, 네트워크 스위치(120)는 통신 케이블(미도시)에 연결된 시험 장치(110), 시각 동기 서버(150), 시험 대상 장치(130) 등의 네트워크 인터페이스 카드(NIC)에 내장된 MAC(Media Access Control) 주소를 확인한다. 네트워크 스위치(120)는 이 MAC 주소를 사용해 데이터가 발송된 기기(110,130,150)와 수신된 데이터(즉, 데이터 패킷)를 전달할 위치를 식별한다. 따라서 MAC 주소는 기기에 동적으로 할당되고 변경이 가능한 네트워크 계층(계층 3) IP 주소와 달리 물리적 기기를 식별하는 데 사용될 수 있다.In detail, the network switch 120 is a MAC (Media) built into a network interface card (NIC) of a test device 110, a time synchronization server 150, and a device under test 130 connected to a communication cable (not shown). Access Control) address. The network switch 120 uses this MAC address to identify the device 110, 130, 150 from which the data was sent and the location to deliver the received data (i.e., data packet). Therefore, MAC addresses can be used to identify a physical device, unlike network layer (Layer 3) IP addresses, which are dynamically assigned to a device and can change.
한 기기가 다른 기기로 데이터 패킷을 보내면 데이터 패킷이 네트워크 스위치(120)로 들어오고 네트워크 스위치(120)는 데이터 패킷의 헤더를 읽어 어떻게 처리할지 결정한다. 즉, 목적지 주소와 대조해 목적지 기기로 이어지는 적절한 포트를 통해 데이터 패킷을 내보낸다. 따라서, 네트워크 스위치(120)는 브릿징 허브, MAC 브릿지, 스위칭 허브, 포트 스위칭 허브 등이 될 수 있다.When one device sends a data packet to another device, the data packet enters the network switch 120, and the network switch 120 reads the header of the data packet and determines how to process it. That is, it compares the destination address and sends the data packet through the appropriate port leading to the destination device. Accordingly, the network switch 120 may be a bridging hub, MAC bridge, switching hub, port switching hub, etc.
시험 대상 장치(130)는 머징 유닛(Merging unit) 등이 될 수 있다. 머징 유닛은 CT(Current Transformer)/PT(Potential Transformer)의 전류와 전압값을 디지털값으로 변환하여 IED(Intelligent Electronic Device)(미도시)에 전송하는 프로세스 버스(미도시)의 주요설비이다. 시험 대상 장치(130)는 머징 유닛 외에도 능형전자장치, ECT(Electronic Current Transformer), EVT(Electronic Voltage Transformer) 등이 될 수 있다.The device under test 130 may be a merging unit or the like. The merging unit is a main facility of the process bus (not shown) that converts the current and voltage values of the CT (Current Transformer)/PT (Potential Transformer) into digital values and transmits them to the IED (Intelligent Electronic Device) (not shown). In addition to the merging unit, the device under test 130 may be a rhomboid electronic device, an Electronic Current Transformer (ECT), an Electronic Voltage Transformer (EVT), etc.
일반적으로, 풀(Full) 디지털 변전소의 가장 큰 특징 중 하나가 변전설비의 보호 및/또는 계측기능을 수행하기 위해 CT(Current Transformer), PT(Potential Transformer)등의 계측 신호 발생 장치(140)로부터 취득한 전압, 전류를 디지털 신호로 변환하여 고속의 네트워크 시스템에 전송하는 것이다, 이때 전압, 전류에 대한 디지털 신호가 디지털 변전소의 국제규격에서 정의하는 샘플링 값(Sampled Value, SV)이다.In general, one of the biggest features of a full digital substation is that it uses measurement signal generators 140 such as CT (Current Transformer) and PT (Potential Transformer) to protect and/or measure substation facilities. The acquired voltage and current are converted into digital signals and transmitted to a high-speed network system. At this time, the digital signals for voltage and current are the sampled value (SV) defined in the international standard for digital substation.
시험 대상 장치(130)의 구성을 보여주는 기본 개념에 대해서는 도 6에 도시되어 있음으로 후술하기로 한다.The basic concept showing the configuration of the device under test 130 is shown in FIG. 6 and will be described later.
계측 신호 발생 장치(140)는 변전소에서 발생하는 전류, 전압을 계측하여 계측 신호를 생성하는 기능을 수행한다. 이를 위해, 계측 신호 발생 장치(140)는 전류 센서 및 전압 센서로 구성될 수 있다. 전류 센서로는 홀 센서, 광섬유 전류 센서, CT(Current Transformer)형 전류 센서 등이 사용될 수 있다. 전압 센서로는 PT(Potential Transformer)가 될 수 있다.The measurement signal generator 140 performs the function of measuring current and voltage generated in the substation and generating a measurement signal. To this end, the measurement signal generating device 140 may be composed of a current sensor and a voltage sensor. As a current sensor, a Hall sensor, optical fiber current sensor, CT (Current Transformer) type current sensor, etc. may be used. The voltage sensor can be a PT (Potential Transformer).
시각 동기 서버(150)는 고정밀의 시각동기를 위한 시간 정보를 생성하여 시험 장치(110)에 제공하는 기능을 수행한다. 이를 위해, 시각 동기 서버(150)는 GPS(Global Positioning System) 수신기, 마이크로프로세서, 통신 회로 등을 포함하여 구성될 수 있다. 통신 회로는 랜카드, 모뎀 등이 될 수 있다. 시간 정보는 GPS(Global Positioning System) 신호 수신 또는 내부 클락을 이용하여 디지털시간 정보를 생성하고, 이를 연결된 장치에 네트워크를 통하여 제공한다.The time synchronization server 150 performs the function of generating time information for high-precision time synchronization and providing it to the test device 110. To this end, the time synchronization server 150 may be configured to include a Global Positioning System (GPS) receiver, a microprocessor, a communication circuit, etc. The communication circuit can be a LAN card, modem, etc. Time information generates digital time information by receiving GPS (Global Positioning System) signals or using an internal clock, and provides it to connected devices through the network.
도 2는 도 1에 도시된 시험 운영부(111)의 세부 구성 블럭도이다. 도 2를 참조하면, 시험 운영부(111)는 기본적으로 샘플링값 시험 모델을 가지고 사용자가 설정하는 사용자 정의 시험 절차서를 생성 및 관리하는 기능을 수행한다. 이를 위해, 시험 운영부(111)는, SV 시험을 수행하는 시험모델을 가지고 있는 시험 모델 데이터베이스(210), 시험 모델 데이터베이스(210)로부터 선택된 시험모델을 이용하여 사용자 정의 절차서를 생성하는 시험 관리 블럭(220), 시험 케이스에 따른 시험 수행 명령을 생성하는 시험 진행 모듈(230) 등을 포함하여 구성될 수 있다.FIG. 2 is a detailed block diagram of the test operation unit 111 shown in FIG. 1. Referring to FIG. 2, the test operation unit 111 basically performs the function of creating and managing a user-defined test procedure set by the user with a sampling value test model. To this end, the test operation unit 111 includes a test model database 210 that has a test model for performing SV testing, and a test management block ( 220), and a test progress module 230 that generates a test execution command according to the test case.
시험 모델 데이터베이스(210)에 저장되는 시험 모델은 시험 진행 모델, 시험 분석 모델, 판정 모델로 구성된다. The test model stored in the test model database 210 consists of a test progress model, a test analysis model, and a judgment model.
1) 시험 진행 모델은 2가지 모델로 구성될 수 있다.1) The test progress model can be composed of two models.
① SV 수집 모델① SV collection model
지정된 시간 만큼 네트워크에 있는 SV를 수집하고 수집된 SV를 저장한다.Collect SV in the network for a specified amount of time and store the collected SV.
② 시각동기 신호 수집 모델② Visual synchronization signal collection model
시험 장치(110)에 설정된 시간 소스에서 시간 정보를 시험 케이스의 종료때까지 가져와서 시간 동기 표시자(indicator)와 시험 로그에 시각 동기 서버(150)와의 시각 동기 상태를 표시한다. 부연하면, 각 동기 서버(150)로부터 시간 정보를 지속적으로 받고 있는지를 시험 로그에 기록으로 남긴다.Time information is retrieved from the time source set in the test device 110 until the end of the test case, and the time synchronization status with the time synchronization server 150 is displayed in the time synchronization indicator and the test log. To elaborate, whether time information is continuously received from each synchronization server 150 is recorded in the test log.
2) 시험 분석 모델은 10가지 모델로 구성될 수 있다. 이를 설명하면 다음과 같다.2) The test analysis model can be composed of 10 models. This is explained as follows.
① 샘플링값(SV) 형식 확인 모델① Check sampling value (SV) format model
수집된 SV를 가지고 시험 대상 장치(130)가 설정한 것으로서 일치한 SV가 있으면 패스, 일치하는 SV가 없으면 실패(Fail), SV가 없으면 판단 불가이다. 또한, 시험 대상 장치(130)에서 일치 여부를 확인할 파라미터를 지정한다. 파라미터는 다음과 같다. This is set by the device under test 130 using the collected SVs. If there is a matching SV, it is a pass. If there is no matching SV, it is a fail. If there is no SV, the test cannot be judged. Additionally, parameters to be checked for consistency in the device under test 130 are specified. The parameters are as follows.
- 목적지 MAC 주소(destination MAC address)- Destination MAC address
- TPID(tag protocol identifier)- TPID (tag protocol identifier)
- VLAN 우선순위(priority)- VLAN priority
- VLAN ID(Virtual Local Area Network identifier)- VLAN ID (Virtual Local Area Network identifier)
- 이더타입(Ethertype)- Ethertype
- APPID(APP identifier)-APPID(APP identifier)
- 샘플값 ID(SvID: Sampled Value identifier)- Sampled value identifier (SvID)
- ASDU(application service data unit)의 갯수- Number of ASDUs (application service data units)
- confRev(Configuration Revision)-confRev(Configuration Revision)
- DUT(Device Under Test, 시험 대상 장치) 포맷(Format) 선택사항- DUT (Device Under Test) Format Optional
- 샘플링 속도(sampling rate)(default False)- Sampling rate (default False)
- 리플레시 시간(refresh Time)(default False) - Refresh Time (default False)
② 지연 시간(Delay Time) 측정 모델② Delay time measurement model
- 수집한 SV 중 시험 대상 장치(130)의 설정과 일치하는 SV 찾음- Among the collected SVs, find SVs that match the settings of the device under test (130)
- 수집한 SV의 각 샘플별 기록시간을 가지고 전압/전류 인가 신호를 수신한 시간(선택적임)과 0의 범주에 있던 SV의 sample의 마지막 시간과 0값 이상을 가지는 시간의 차를 계산하고, 시간의 차가 DUT의 시험케이스 설정인 계측 지연 시간(The measured delay time)과 DUT의 설정인 최대 지연(Maximum delay) 시간보다 작으면 패스, 크면 Fail, SV가 없으면 판단 불가로 한다. - Using the recording time for each sample of the collected SV, calculate the difference between the time when the voltage/current application signal was received (optional), the last time of the SV sample in the 0 category, and the time with a value greater than 0, If the time difference is less than the measured delay time, which is the DUT's test case setting, and the maximum delay time, which is the DUT's setting, it is Pass, if it is greater, it is Fail, and if there is no SV, it is impossible to judge.
부연하면, 전압/전류 인가 신호를 수신한 시간이 선택될때는 해당시간과 SV의 sample의 0값 이상을 가지는 시간의 차를 계산하고, 수신한 시간이 안될 때는 0의 범주에 있던 SV의 sample의 마지막 시간과 0값 이상을 가지는 시간의 차를 계산한다.To elaborate, when the time when the voltage/current application signal is received is selected, the difference between the relevant time and the time when the SV sample has a value greater than 0 is calculated, and when the received time is not the time, the time when the SV sample in the 0 range is selected is calculated. Calculates the difference between the last time and any time greater than or equal to 0.
③ 샘플링 속도(Sampling Rate) 측정 모델③ Sampling rate measurement model
- 수집한 SV중 DUT의 설정과 일치하는 SV를 찾는다.- Among the collected SVs, find the SV that matches the settings of the DUT.
- 수집한 SV의 샘플링 속도(Sampling rate)가 DUT의 설정에 따라 아래의 조건에 따른 SV의 smpCnt(sampling count)가 증가하고 마지막 샘플링 카운터 이후 제로(zero)값으로 리셋(reset)되어 증가하는 것이 확인되면 성공, 그 외의 조건이면 실패로 판정한다.- The sampling rate of the collected SV increases by increasing the smpCnt (sampling count) of the SV according to the conditions below according to the settings of the DUT and resetting it to zero after the last sampling counter. If confirmed, it is judged as success; if other conditions are met, it is judged as failure.
④ 샘플링 간격(Sampling Interval) 측정 모델④ Sampling Interval measurement model
- 수집한 SV 중 DUT의 설정과 일치하는 SV를 찾는다.- Among the collected SVs, find the SV that matches the settings of the DUT.
- 수집한 SV의 smpCnt=0의 간격이 1초(마진 설정)이면 성공이고, 범위를 벗어나면 실패로 판정한다.- If the interval of smpCnt=0 of the collected SV is 1 second (margin setting), it is judged as success, and if it is outside the range, it is judged as failure.
⑤ 시각동기 측정 모델⑤ Visual synchronization measurement model
- SV 시각동기 측정모델은 아래의 [조건1], [조건2], [자동] 3가지의 판단조건을 선택한다.- The SV time synchronization measurement model selects the three judgment conditions below: [Condition 1], [Condition 2], and [Auto].
- 수집한 SV 중 DUT의 설정과 일치하는 SV를 찾는다.- Among the collected SVs, find the SV that matches the settings of the DUT.
[조건 1] 시험 장치(110)가 설정된 시각 동기 서버(150)와 동기화되어 있는 경우, SV의 샘플링 동기값(SmpSynch:sampling synchronization)이 아래와 같은 값을 가지면 성공, 다른 값이면 실패로 판정한다.[Condition 1] When the test device 110 is synchronized with the set time synchronization server 150, if the sampling synchronization value (SmpSynch: sampling synchronization) of SV has the value below, it is judged as success, and if it is any other value, it is judged as failure.
[조건 2] 시험 장치(110)가 설정된 시각 동기 서버(150)와 동기화가 안 되어 있는 경우 SV의 SmpSynch가 0의 값을 가지면 성공, 다른 값이면 실패로 판정한다.[Condition 2] When the test device 110 is not synchronized with the set time synchronization server 150, if SmpSynch of SV has a value of 0, it is judged as success, and if it is any other value, it is judged as failure.
단 [조건 2]는 PPS 시간이 안 들어오는 순간에서 SmpSynch가 0이 되는 순간까지의 시간이 DUT의 hold-over Time ±1.0%(default) 확인을 포함하여 판단하는 것을 설정(default는 미확인)할 수 있다.However, [Condition 2] can be set to determine the time from the moment the PPS time does not come in to the moment the SmpSynch becomes 0, including checking the DUT's hold-over time ±1.0% (default) (default is not confirmed). there is.
⑥ 시각 동기 정밀도 측정 모델⑥ Time synchronization precision measurement model
- SV 시각동기 측정 모델은 신호 수집기(미도시)로부터 매시간 PPS 시간정보를 가지고 있다. - The SV time synchronization measurement model has PPS time information every hour from a signal collector (not shown).
- 수집한 SV 중 DUT의 설정과 일치하는 SV를 찾는다.- Among the collected SVs, find the SV that matches the settings of the DUT.
- 이 설정된 시각 동기 서버(150)와 동기화되어 있는 경우 PPS 시간과 SV의 SmpCnt=0 값의 시차를 구하고 이중 가장 큰 수의 값이 설정된 정밀도 시간 이내이면 성공, 이보다 크면 실패로 판정한다.- If it is synchronized with the set time synchronization server 150, the time difference between the PPS time and the SV's SmpCnt=0 value is determined, and if the largest number of the values is within the set precision time, it is judged as success, and if it is greater than this, it is judged as failure.
- 시험 장치(110)가 설정된 시각 동기 서버(150)와 동기화가 안 되어 있는 경우 시험보류로 판정한다.- If the test device 110 is not synchronized with the set time synchronization server 150, the test is judged to be on hold.
⑦ ASDU(application service data unit) 형식 확인 모델⑦ ASDU (application service data unit) format confirmation model
- 수집한 SV 중 DUT 설정과 일치하는 SV를 찾는다.- Find the SV that matches the DUT settings among the collected SVs.
- DUT의 ASDU 설정에 따른 SV의 noASDU와 seqASDU의 수가 일치하고 이에 따른 전압과 전류의 데이터셋(RSTN)이 구성되어 있으면 성공, 다르게 되면 실패로 판정한다. noASDU는 ASDU의 총수로 8개라 하면 seqASDU가 약 8개 존재한다.- If the number of SV's noASDU and seqASDU according to the DUT's ASDU settings match and the corresponding voltage and current data set (RSTN) is configured, it is judged as success; if different, it is judged as failure. If noASDU is the total number of ASDUs, which is 8, then there are about 8 seqASDUs.
⑧ RMS(Root Means Sqaure, 실효값) 계산 모델⑧ RMS (Root Means Square) calculation model
- 수집한 SV의 값을 비교할 대상과 값을 설정한다.- Set the target and value to compare the collected SV values.
- [All], 전압(R/S/T/N], 전류[R/S/T/N] - [All], voltage (R/S/T/N], current [R/S/T/N]
"All"은 전압과 전류 모두 비교하는 것을 의미한다.“All” means comparing both voltage and current.
- 비교 값의 마진은 ±0.0%(default)로 설정한다.- The margin of the comparison value is set to ±0.0% (default).
- DUT의 설정값을 이용하여 전압, 전류의 RMS값을 계산한다.- Calculate the RMS values of voltage and current using the settings of the DUT.
- 수집한 SV 중 DUT의 설정과 일치하는 SV를 찾는다.- Among the collected SVs, find the SV that matches the settings of the DUT.
- DUT의 ASDU 설정에 따른 SV의 전압과 전류의 R/S/T/N에 대한 값이 비교 값과 일치하는지 확인하여 일치하면 성공, 다르게 되면 실패로 판정한다.- Check whether the R/S/T/N values of SV voltage and current according to the DUT's ASDU settings match the comparison values, and if they match, it is judged as success. If they are different, it is judged as failure.
⑨ 품질 검증 모델⑨ Quality verification model
- 수집한 SV의 물질(quality) 값을 비교할 대상을 설정한다.- Set a target to compare the quality value of the collected SV.
- [All], 전압(R/S/T/N], 전류[R/S/T/N]- [All], voltage (R/S/T/N], current [R/S/T/N]
- [조건 1] 성공으로 간주할 SV의 품질(quality)값을 설정한다.- [Condition 1] Set the quality value of SV to be considered success.
- [사용자 지정], [전압/전류 입력단자 미연결시 Quality 표현] 중 하나를 선택한다.- Select either [Custom] or [Quality expression when voltage/current input terminal is not connected].
- [조건 2] quality 비교범위를 설정한다.- [Condition 2] Set the quality comparison range.
- [all], [시험케이스 변수설정, 예:Svp6(quality 확인 구간 선택)], [사용자 지정] 중 하나를 선택한다.- Select one of [all], [Test case variable setting, e.g. Svp6 (quality confirmation interval selection)], or [User specification].
- 수집한 SV 중 DUT의 설정과 일치하는 SV를 찾는다.- Among the collected SVs, find the SV that matches the settings of the DUT.
- DUT의 ASDU 설정에 따른 SV의 전압과 전류의 quality 값이 [조건 1]과 [조건 2] 설정에 따라 일치하는지 확인하여 일치하면 성공, 다르게 되면 실패로 판정한다.- Check whether the quality values of SV voltage and current according to the DUT's ASDU settings match the [Condition 1] and [Condition 2] settings. If they match, it is judged as success. If they are different, it is judged as failure.
⑩ 샘플링 카운터(Sampling Counter) 모델⑩ Sampling Counter model
- DUT가 보내는 SV 수를 세기 위한 시간을 설정한다.- Set the time to count the number of SVs sent by the DUT.
- SV수 검증을 위해 확인하고자 하는 SV 전송수를 50Hz와 60Hz 주파수별로 아래의 예와 같은 형식으로 입력하고, DUT의 주파수 설정에 따라 자동으로 선택한다. 예로서, 50Hz : 240000±1 sample/cycle, 60Hz : 288000±1 sample/cycle(default value)이다.- To verify the number of SVs, enter the number of SV transmissions you want to check for each frequency of 50Hz and 60Hz in the format shown in the example below, and automatically select it according to the frequency setting of the DUT. For example, 50Hz: 240000±1 sample/cycle, 60Hz: 288000±1 sample/cycle (default value).
- 수집한 SV 중 DUT의 설정과 일치하는 SV를 찾는다.- Among the collected SVs, find the SV that matches the settings of the DUT.
- 설정된 시간 동안 DUT가 전송한 SV를 카운터하여 설정된 전송 범위 안에 들어오면 성공, 그 외의 조건이면 실패로 판정한다.- Count the SV transmitted by the DUT during the set time, and if it falls within the set transmission range, it is judged as success. Otherwise, it is judged as failure.
도 2를 계속 참조하면, 3) 판정 모델은 5가지 모델로 구성될 수 있다.Continuing to refer to Figure 2, 3) the decision model may be composed of five models.
① 다중 시험 판정 모델① Multi-test judgment model
- 판정그룹을 생성한다. 각 판정그룹은 그 안에 또 다른 판정그룹을 생성할 수 있고 생성그룹의 depth는 한계점(예:3)을 갖는다.- Create a decision group. Each decision group can create another decision group within it, and the depth of the created group has a limit (e.g. 3).
- 판정그룹 간은 종합시험결과를 And 또는 Or로 묶을 수 있고, 판정결과에 보류가 있으면 전체시험결과는 보류가 된다.- Comprehensive test results can be grouped with And or Or between judgment groups, and if there is a hold on the judgment result, the overall test result is on hold.
- 판정그룹 안에는 1~다수의 시험 분석 모델을 배치할 수 있고, 각 시험 분석 모델의 판정결과는 "And" 또는 "Or"로 묶을 수 있다.- One to multiple test analysis models can be placed within a decision group, and the decision results of each test analysis model can be grouped as “And” or “Or.”
- 시험 케이스 안에 여러 개의 다중 시험 판정 모델이 있거나 반복(Loop)으로 인한 동일 시험 판정모델이 여러 번 실행되는 경우 시험 수행부(112)는 각 시험 판정 모델의 판정값을 "And"로 하여 시험 케이스의 최종판정을 자동으로 수행한다.- If there are multiple test judgment models in the test case or the same test judgment model is executed multiple times due to loop, the test execution unit 112 sets the judgment value of each test judgment model to “And” and sets the test case to “And”. The final decision is made automatically.
② 시험 가이드 지시 모델② Test guide instruction model
- 시험자에게 시험절차에 따라 DUT의 동작 또는 시험설비 출력(전압/전류 등) 또는 시험상황 연출(네트워크 해제 등)을 시험 진행 중 보여주는 내용을 기재할 수 있다.- Depending on the test procedure, the tester can record the DUT's operation, test equipment output (voltage/current, etc.), or test situation presentation (network release, etc.) during the test.
- 시험 케이스를 반복(Loop) 중일 때 각 반복별로 다른 메시지를 보여줄 때는 반복 카운터 만큼 다른 메시지를 보여주는 기능이 있다.- When looping a test case and showing a different message for each repetition, there is a function that shows a different message as much as the repetition counter.
③ 시험 반복 모델③ Test repetition model
시험 케이스 내에서 반복구간을 지정할 수 있고, 반복 수를 입력하면 시험실행 중 해당 구간이 반복 실행된다.You can specify a repetition section within a test case, and if you enter the number of repetitions, the section will be repeatedly executed during test execution.
④ 시험 시작 모델④ Test start model
선택한 시험케이스의 실행을 선언할 수 있다.You can declare the execution of the selected test case.
⑤ 시험 종료 모델⑤ Test completion model
선택한 시험 케이스의 종료를 선언할 수 있다.You can declare the selected test case terminated.
도 2를 계속 참조하면, 시험 관리 블럭(220)은, 각 시험 대상 장치(130)를 프로젝트로 정의하여 관리할 수 있는 프로젝트 관리 모듈(221), 시험 모델 데이터베이스(210)로부터 시험모델을 선택하고, 이 선택된 시험모델을 기반으로 사용자 정의 시험 케이스를 생성하고 관리할 수 있는 시험 케이스 관리 모듈(222), 사용자 정의 시험 케이스를 실행하기 위해 필요한 설정값을 입력하여 생성하는 사용자 정의 절차서를 생성하고 관리할 수 있는 시험 설정 모듈(223) 등을 포함하여 구성된다. 사용자 정의 시험 케이스와 사용자 정의 절차서는 연결고리를 갖는다. Continuing to refer to FIG. 2, the test management block 220 selects a test model from the project management module 221, which can define and manage each test target device 130 as a project, and the test model database 210, and , a test case management module 222 that can create and manage user-defined test cases based on the selected test model, and create and manage user-defined procedures created by entering the settings required to execute the user-defined test case. It is composed of a test setting module 223 that can be used. There is a link between user-defined test cases and user-defined procedures.
부연하면, 사용자가 시험대상(머징유닛 등)에 대한 시험 절차를 문서(즉 사용자 정의 절차서)로 작성하면 이를 본 발명의 시험 모델을 이용하여 SV 시험장치가 실행할 수 있는 시험 케이스를 만든다.In other words, when a user writes a test procedure for a test object (merging unit, etc.) in a document (i.e., a user-defined procedure), the test model of the present invention is used to create a test case that the SV test device can execute.
시험 설정 모듈(223)에 의해 생성된 시험 케이스는 시험 진행 모듈(230)에 의해 시험 수행부(112)에 시험 수행 명령을 전송한다. The test case generated by the test setup module 223 transmits a test execution command to the test execution unit 112 by the test progress module 230.
한편, 프로젝트 관리 모듈(221)은 다음의 세부 설정 기능이 있다. Meanwhile, the project management module 221 has the following detailed setting functions.
① 프로젝트 설정① Project settings
- 프로젝트 생성/삭제/변경 - Create/delete/change project
- 생성 파일 저장 폴더 관리 : 생성 파일로는 PCAP(Packet capture) 등을 들 수 있다. - Manage created file storage folder: Generated files include PCAP (Packet capture), etc.
- DUT(Device Under Test, 시험 대상 장치) 생성/삭제/변경 - Create/delete/change DUT (Device Under Test)
- DUT 설정과 연계 - Linkage with DUT settings
② DUT 설정 ② DUT settings
- DUT CID 파일 업로드(Upload) 기능 : CID(Configured IED Description)파일에는 연결된 차트 이미지의 이름, 파일 설명, 이미지 픽셀을 정의하는 참조 지점, 이미지 MD5 디지털 서명 및 요금 제한이 포함될 수 있다. - DUT CID file upload function: The CID (Configured IED Description) file can include the name of the connected chart image, a file description, a reference point that defines the image pixels, an image MD5 digital signature, and a rate limit.
- DUT 일반 설정 (일반 설정은 아래 구체화하지 못한 내용을 반영하는 것을 의미한다)- DUT general settings (general settings mean reflecting the unspecified contents below)
- DUT명, 모델번호, 제조사- DUT name, model number, manufacturer
- 커넥터 타입(Connector Type)- Connector Type
- 시각 동기 방식(Time Synchronization) : PPS(Pulse Per Second)(디폴트), IEEE1588 선택- Time Synchronization: PPS (Pulse Per Second) (default), select IEEE1588
- DUT의 지속 시간(hold-over Time) ± 1.0% (default) 확인- Check the hold-over time of the DUT ± 1.0% (default)
- DUT 리포트 출력 폴더 지정- Specify DUT report output folder
- DUT 시험 케이스 결과(PCap 등) 저장 폴더 지정- Specify a storage folder for DUT test case results (PCap, etc.)
- DUT SV(Sampled Value) 시험 케이스 선택 및 관리- DUT SV (Sampled Value) test case selection and management
- 시험 시스템이 가지고 이는 시험 케이스 보여주기- Show test cases that the test system has
- DUT가 실행할 시험 케이스 선택 : 선택된 시험케이스만 실행할 수 있고, 결과 리포트 출력과 연계- Select test cases to be executed by DUT: Only selected test cases can be executed and linked to result report output
- 시험 케이스의 설정은 시험 케이스 상세설정에서 default로 가져오고 각 케이스는 일반(default)/사용자 설정 가능하다. 일반의 경우 상세설정의 값을 자동으로 따르고 사용자 선택의 경우 입력된 값을 저장하여 사용- The test case settings are taken as default from the test case detailed settings, and each case can be set to general (default) or user settings. In case of general, the value of detailed settings is automatically followed, and in case of user selection, the entered value is saved and used.
- DUT SV 전송설정 : CID 파일 또는 사용자 입력 선택- DUT SV transmission settings: select CID file or user input
- MSVCB(Multicast Sampled Value Control Block) 선택 : 시험대상 SV 선택- MSVCB (Multicast Sampled Value Control Block) selection: Select SV for testing
- SV 네트워크 설정 : 예시를 보면 다음과 같다.- SV network settings: An example is as follows.
- 주파수(50Hz 또는 60Hz 선택)- Frequency (select 50Hz or 60Hz)
- ConfRev(Configuration rev.)- ConfRev (Configuration rev.)
- 샘플링 속도(Sampling rate) 설정 (80, 256 선택)- Sampling rate settings (select 80, 256)
- 리플레시 시간(Refresh Time) 설정 (defalut는 False)- Refresh Time setting (defalut is False)
- ASDU(application service data unit) 선택 (1~8 선택) : 단 80 sampling rate 설정인 경우 1로 고정- ASDU (application service data unit) selection (select 1 to 8): Fixed to 1 in case of 80 sampling rate setting
- SvID(Sampled Value identifier) : 단 80 샘플링 속도(sampling rate)로 설정이면 1로 고정- SvID (Sampled Value identifier): Fixed to 1 if set to 80 sampling rate
- 전압/전류 입력단자 미연결 시 품질(Quality) 표현:전압 R/S/T/N, 전류 R/S/T/N 상별 지정- Quality expression when voltage/current input terminal is not connected: Voltage R/S/T/N, current R/S/T/N specified for each phase
품질 타입 정의는 도 5에 예시되며, 후술하기로 한다.The quality type definition is illustrated in Figure 5 and will be described later.
도 2를 계속 참조하면, 다음과 같다. Continuing to refer to Figure 2, it is as follows.
- 전압/전류 입력단자 “0” 값 시 Quality 표현:전압 R/S/T/N, 전류 R/S/T/N 상별 지정- Quality expression when voltage/current input terminal is “0”: Voltage R/S/T/N, current R/S/T/N specified for each phase
- 전압/전류 RMS(Root Mean Square) 계산을 위한 CT(Current transformer) 비율(Ratio), PT(potential transformer) 비율(Ratio) 설정- CT (Current transformer) ratio and PT (potential transformer) ratio settings for voltage/current RMS (Root Mean Square) calculation
비율을 예시하면 CT는 2000:5, PT는 154000:110이다.For example, the ratio is 2000:5 for CT and 154000:110 for PT.
- 최대 지연(Maximum delay)(default, 약 3ms)- Maximum delay (default, about 3ms)
도 2를 계속 참조하면, 시험 설정 모듈(230)은 시험대상장치 프로젝트에서 선택한 시험 케이스의 아래 상세 설정값을 관리하는 기능을 수행한다. Continuing to refer to FIG. 2, the test setting module 230 performs the function of managing the detailed settings below of the test case selected in the device under test project.
① 측정 지연 시간(the measured delay time)(3ms, default)① The measured delay time (3ms, default)
② 품질 확인 구간 선택: 유효(validity)(default: true), detailqual(default: false), 소스(source)(default: false), 테스트(default: false), 운영자 차단(operatorblocked)(default: false), 파생(derived)(default: false) ② Select quality check section: validity (default: true), detailqual (default: false), source (default: false), test (default: false), operator blocked (default: false) , derived(default: false)
도 6의 내용을 설정할 수 있는 것으로, 유효(validity)(default: true)는 2bit 값이 모두 00이면 true 이고, detailqual(default: false)은 detailqual 8 bit가 한 개라도 1이면 true, 모두 0이면 false, 소스(source)(default: false), 테스트(default: false), 운영자 차단(operatorblocked)(default: false), 파생(derived)(default: false)는 각 해당 bit가 1이면 true 0이면 false이다.The contents of FIG. 6 can be set. Validity (default: true) is true if all 2 bit values are 00, detailqual (default: false) is true if at least one detailqual 8 bit is 1, and all 8 bits are 0. false, source (default: false), test (default: false), operator blocked (default: false), derived (default: false) are true if each corresponding bit is 1, false if 0. am.
③ 시각동기 설정 : PPS 또는 시각 동기 서버 설정③ Time synchronization setting: PPS or time synchronization server setting
도 3은 도 1에 도시된 시험 수행부(112)의 세부 구성 블럭도이다. 도 3을 참조하면, 시험 운영부(111)에서 선택된 시험 케이스의 실행 명령이 내려오면 시험 실행기(310)는 시험 모델에 따라 신호 처리기(320)를 동작하여 제 1 통신 포트(331)를 통해 시각 동기 서버(150)에서 시간 정보를 받아 시험 진행 과정에서 사용하도록 한다. 또한, 시험 실행기(310)는 시험 케이스에 구현된 시험모델에 따라 신호 수집기(330)는 제 2 입력포트(332)를 통해 시험 대상 장치(130)가 전송하는 SV 신호를 수신하여 시험을 수행한다. FIG. 3 is a detailed block diagram of the test performance unit 112 shown in FIG. 1. Referring to FIG. 3, when an execution command for a selected test case is issued from the test operation unit 111, the test executor 310 operates the signal processor 320 according to the test model to achieve time synchronization through the first communication port 331. Time information is received from the server 150 and used during the test process. In addition, the test executor 310 performs the test by receiving the SV signal transmitted by the test target device 130 through the signal collector 330 through the second input port 332 according to the test model implemented in the test case. .
제 1 통신 포트(331) 및 제 2 통신 포트(332)는 통신 포트로서 네트워크 스위치(120)에 연결된다. 따라서, 입력 포트(331,332)는 물리적인 포트, 논리적인 접속 장소를 포함하는 의미가 될 수 있다.The first communication port 331 and the second communication port 332 are communication ports and are connected to the network switch 120. Accordingly, the input ports 331 and 332 may include physical ports and logical connection locations.
도 2 및 도 3에 도시된, 시험 관리 블럭(220), 프로젝트 관리 모듈(221), 시험 케이스 관리 모듈(222), 시험 설정 모듈(223), 시험 진행 모듈(230), 시험 실행기(310), 신호 처리기(320), 신호 수집기(330)는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 소프트웨어 및/또는 하드웨어로 구현될 수 있다. 하드웨어 구현에 있어, 상술한 기능을 수행하기 위해 디자인된 ASIC(application specific integrated circuit), DSP(digital signal processing), PLD(programmable logic device), FPGA(field programmable gate array), 프로세서, 마이크로프로세서, 다른 전자 유닛 또는 이들의 조합으로 구현될 수 있다. 소프트웨어 구현에 있어, 소프트웨어 구성 컴포넌트(요소), 객체 지향 소프트웨어 구성 컴포넌트, 클래스 구성 컴포넌트 및 작업 구성 컴포넌트, 프로세스, 기능, 속성, 절차, 서브 루틴, 프로그램 코드의 세그먼트, 드라이버, 펌웨어, 마이크로 코드, 데이터, 데이터베이스, 데이터 구조, 테이블, 배열 및 변수를 포함할 수 있다. 소프트웨어, 데이터 등은 메모리에 저장될 수 있고, 프로세서에 의해 실행된다. 메모리나 프로세서는 당업자에게 잘 알려진 다양한 수단을 채용할 수 있다.2 and 3, a test management block 220, a project management module 221, a test case management module 222, a test setup module 223, a test progress module 230, and a test executor 310. , the signal processor 320 and the signal collector 330 refer to a unit that processes at least one function or operation, and may be implemented in software and/or hardware. In hardware implementation, an application specific integrated circuit (ASIC), digital signal processing (DSP), programmable logic device (PLD), field programmable gate array (FPGA), processor, microprocessor, and other devices designed to perform the above-described functions. It may be implemented as an electronic unit or a combination thereof. In software implementation, software composition components (elements), object-oriented software composition components, class composition components and task composition components, processes, functions, properties, procedures, subroutines, segments of program code, drivers, firmware, microcode, data. , databases, data structures, tables, arrays, and variables. Software, data, etc. can be stored in memory and executed by a processor. The memory or processor may employ various means well known to those skilled in the art.
시험 수행부(112)는 시험 운영부(111)에서 선택된 사용자 정의 절차서의 실행 명령이 내려오면 시험 실행기(310)는 시험모델에 따라 신호 처리기(320)를 동작하여 시각 동기 신호의 입력을 위한 제 1 통신 포트(331)를 통해 고정밀의 시각 동기 서버(150)에서 시간 정보를 받아 시험 진행 과정에서 사용하도록 한다. 또한, 시험 케이스에 구현된 시험 모델에 따라 신호 수집기(330)는 SV(Sampled Value) 입력을 위한 제 2 통신 포트(332)를 통해 시험 대상 장치(130)가 전송하는 SV 신호를 수신하여 시험을 수행한다. 시험 운영부(111)의 시험케이스 관리 모듈(222)을 통하여 프로젝트의 각 시험 케이스는 도 4의 과정과 같이 생성되고 관리될 수 있다.When a command to execute a user-defined procedure selected from the test operation unit 111 is given to the test execution unit 112, the test executor 310 operates the signal processor 320 according to the test model to input the first time synchronization signal. Time information is received from the high-precision time synchronization server 150 through the communication port 331 and used during the test process. In addition, according to the test model implemented in the test case, the signal collector 330 performs the test by receiving the SV signal transmitted by the device under test 130 through the second communication port 332 for SV (Sampled Value) input. Perform. Through the test case management module 222 of the test operation unit 111, each test case of the project can be created and managed as in the process of FIG. 4.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 샘플링값(SV:Sampled Value) 자동 시험 과정을 보여주는 흐름도이다. 도 4를 참조하면, 다수의 시험 모델 중 선택되는 하나의 시험 모델에 기반하여 생성되는 시험 케이스에 기반한 시험 케이스를 생성한다(단계 S410). 이러한 시험 절차서(예를 들면, SV_Cse1)를 보면 다음과 같다.Figure 4 is a flowchart showing an automatic sampling value (SV) test process according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 4, a test case is generated based on a test case generated based on one test model selected from a plurality of test models (step S410). This test procedure (for example, SV_Cse1) is as follows.
설명explanation
SV Sampling Rate 측정
SV RMS 계산
- 전압 R/S/T = 69.28 V, N=0 V 확인
- 전류 R/S/T = 69.28 V, N=0 V 확인Check SV format
SV Sampling Rate Measurement
SV RMS calculation
- Check voltage R/S/T = 69.28 V, N=0 V
- Check current R/S/T = 69.28 V, N=0 V
SV Sampling Rate 측정
SV RMS 계산
- 전압 R/S/T = 69.28 V, N=330 V 확인
- 전류 R/S/T = 5 A, N=0 A 확인Check SV format
SV Sampling Rate Measurement
SV RMS calculation
- Check voltage R/S/T = 69.28 V, N=330 V
- Check current R/S/T = 5 A, N=0 A
SV Sampling Rate 측정
① SV RMS 계산
- 전압 R = 69.28 V, N=69.28 V 확인
- 전류 R = 5 A, N=0 A 확인
② SV RMS 계산
- 전압 S = 69.28 V, N=69.28 V 확인
- 전류 S = 5 A, N=0 A 확인
③ SV RMS 계산
- 전압 T = 69.28 V, N=69.28 V 확인
- 전류 T = 5 A, N=0 A 확인
※[①-③]은 Or로 묶고 전체는 And로 묶음Check SV format
SV Sampling Rate Measurement
① SV RMS calculation
- Check voltage R = 69.28 V, N=69.28 V
- Check current R = 5 A, N = 0 A
② SV RMS calculation
- Check voltage S = 69.28 V, N=69.28 V
- Check current S = 5 A, N = 0 A
③ SV RMS calculation
- Check voltage T = 69.28 V, N=69.28 V
- Check current T = 5 A, N=0 A
※[①-③] is tied with Or and the whole is tied with And
-1.IB 전류(5A), VB 전압(69.28V)을 인가
-2.IC 전류(5A), VC 전압(69.28V)을 인가Repeat steps 9 and 10 three times.
-1. Apply IB current (5A) and VB voltage (69.28V)
-2.Apply IC current (5A) and VC voltage (69.28V)
SV Sampling Rate 측정
① SV RMS 계산
- 전류 R, S = 5 A, N=0 A 확인
② SV RMS 계산
- 전류 S, T = 5 A, N=0 A 확인
③ SV RMS 계산
- 전류 R, T = 5 A, N=0 A 확인
※[①-③]은 Or로 묶고 전체는 And로 묶음Check SV format
SV Sampling Rate Measurement
① SV RMS calculation
- Check current R, S = 5 A, N=0 A
② SV RMS calculation
- Check current S, T = 5 A, N=0 A
③ SV RMS calculation
- Check current R, T = 5 A, N=0 A
※[①-③] is tied with Or and the whole is tied with And
-1.위상이 반대인 IB, IC 전류(5A)를 인가
-2.위상이 반대인 IC, IA 전류(5A)를 인가Repeat steps 13 and 14 3 times
-1.Apply IB and IC current (5A) with opposite phases
-2. Apply IC and IA current (5A) with opposite phase
이후, 사용자 정의 시험 절차서에 따라 자동 시험이 실행되기전에 시험가이드 지시 정보를 작성할 수 있다(단계 S402,S420). 부연하면, 화면에 가이드 메시지가 디스플레이될 수 있다. 물론, 실행하는 시험 장치(110)에 표시부(미도시)를 구성할 수도 있도, 별도로 구성할 수도 있다. 표시부는 LCD(Liquid Crystal Display), LED(Light Emitting Diode) 디스플레이, PDP(Plasma Display Panel), OLED(Organic LED) 디스플레이, 터치 스크린, CRT(Cathode Ray Tube), 플렉시블 디스플레이, 마이크로 LED, 미니 LED이 될 수 있다. 터치 스크린의 경우, 입력 수단으로도 사용될 수 있다. Afterwards, test guide instruction information can be written before the automatic test is executed according to the user-defined test procedure (steps S402 and S420). To elaborate, a guide message may be displayed on the screen. Of course, a display unit (not shown) may be configured in the executing test device 110, or may be configured separately. The display unit consists of LCD (Liquid Crystal Display), LED (Light Emitting Diode) display, PDP (Plasma Display Panel), OLED (Organic LED) display, touch screen, CRT (Cathode Ray Tube), flexible display, micro LED, and mini LED. It can be. In the case of a touch screen, it can also be used as an input method.
이후, 시험 진행 모듈(230)이 선택되며, 다중 시험 판정 정보가 구성될 수 있다(단계 S401,S440,S450).Afterwards, the test progress module 230 is selected, and multiple test decision information can be configured (steps S401, S440, and S450).
이 경우, 반복 및 시험 추가 구현이 결정되면, 시험 반복, 시험 시작이 진행된다(단계 S403,S404).In this case, if repetition and additional test implementation are determined, test repetition and test start are performed (steps S403 and S404).
단계 S450에서, 반복 및 시험 추가가 없으면, 시험 종료가 선택되고, 최종 시험 보고서가 생성되어 출력된다(단계 S460,S470).In step S450, if there are no repeats and no additional tests, end testing is selected and a final test report is generated and output (steps S460, S470).
도 5는 일반적인 품질 타입(Quality type)의 정의를 보여주는 표이다. 도 5를 참조하면, "default"는 기본 설정값을 의미하며, 유효(validity)는 보내는 데이터의 이상유무를 알려주고 이상이 있게 되면 detailqual의 8bit를 통해 이상의 이유를 알려주고, 소스(source)는 보내는 데이터가 실제 측정값인지 아니면 가상값인지 알려주고, 테스트는 보내는 데이터가 시험용으로 보내는 지 여부를 알려주고, 운영자 차단(operatorblocked)는 장치가 해당 데이터를 차단하라고 알려준다.Figure 5 is a table showing definitions of general quality types. Referring to Figure 5, "default" means the default setting value, validity indicates whether there is an error in the data being sent, and if there is an error, the reason for the error is notified through 8 bits of detailqual, and source indicates the sending data. tells you whether is a real measurement or an imaginary value, test tells you whether the data being sent is for testing purposes, and operatorblocked tells the device to block that data.
도 6은 도 1에 도시된 시험 대상 장치(130)의 개념도이다. 도 6을 참조하면, PT(641), CT(642) 등을 갖는 계측 신호 발생 장치(140)로부터의 전압, 전류 신호들을, 시험 대상 장치(130)에서 각각의 트랜스듀서(TranDucer)(631)를 거쳐, 샘플앤홀더(S/H)(632), 아날로그-디지털 변환기(A/D)(633) 및 버퍼(B/F)(634)를 거쳐 디지털화된다. 아날로그 신호들은 A/D변환하는 과정이 동일하게 수행되어야 한다. 물론, 데이터 통신을 해야 하므로 각 샘플들이 언제 샘플된 데이터인지 표시되어야 하므로 시각동기를 맞추어 각 데이터 마다 시각표시를 해줄 수도 있다. 'Sync Command' 신호가 바로 시각동기 명령신호를 나타내는 것이다. FIG. 6 is a conceptual diagram of the device under test 130 shown in FIG. 1. Referring to FIG. 6, voltage and current signals from the measurement signal generating device 140 having the PT 641, the CT 642, etc. are transmitted to each transducer (TranDucer) 631 in the device under test 130. It is digitized through a sample and holder (S/H) 632, an analog-to-digital converter (A/D) 633, and a buffer (B/F) 634. Analog signals must undergo the same A/D conversion process. Of course, since data communication is required, it is necessary to indicate when each sample was sampled, so it is possible to synchronize the time and display the time for each data. The 'Sync Command' signal represents the time synchronization command signal.
계측 신호 발생 장치(140)는 국제규격의 디지털 형식으로 샘플링된 샘플링값(SV)을 보내는 방식은 다수의 IED들(IntelligentElectronic Device)에 보내게 되는 MSV(Multicast Sampled Value)와 하나의 전용 IED에 보내게 되는 USV(Unicast Sampled Value)가 있다. 물론, 도면에 도시되지 않았으나, 내부에 구비된 컨트롤 블럭인 MSVCB(Multicast Sampled Value Control Block)와 USVCB(Unicast Sampled Value Control Block)를 이용하게 될 수 있다.The measurement signal generation device 140 sends a sampling value (SV) sampled in a digital format of international standards by sending it to a multicast sampled value (MSV) sent to multiple IEDs (Intelligent Electronic Devices) and to one dedicated IED. There is a USV (Unicast Sampled Value) that is calculated. Of course, although not shown in the drawing, the internal control blocks MSVCB (Multicast Sampled Value Control Block) and USVCB (Unicast Sampled Value Control Block) can be used.
계측 신호 발생 장치(140)는 알고리즘을 처리하는 CPU(Central Processing Unit)(635), 프로그램, 데이터 등을 저장하는 메모리(636), 데이터를 전송하기 위한 통신부(637) 등을 포함하여 구성될 수 있다.The measurement signal generator 140 may be configured to include a CPU (Central Processing Unit) 635 for processing algorithms, a memory 636 for storing programs and data, and a communication unit 637 for transmitting data. there is.
메모리(636)는 플래시 메모리 타입(flash memory type), 하드디스크 타입(hard disk type), 멀티미디어 카드 마이크로 타입(multimedia card micro type), 카드 타입의 메모리(예를 들어 SD(Secure Digital) 또는 XD(eXtreme Digital) 메모리 등), 램(Random Access Memory, RAM), SRAM(Static Random Access Memory), 롬(Read Only Memory, ROM), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory), PROM(Programmable Read Only Memory), 자기 메모리, 자기 디스크, 광디스크 중 적어도 하나의 타입의 저장매체를 포함할 수 있다. 또한, 인터넷(internet)상에서 저장 기능을 수행하는 웹 스토리지(web storage), 클라우드 서버와 관련되어 동작할 수도 있다.The memory 636 is a flash memory type, hard disk type, multimedia card micro type, card type memory (for example, SD (Secure Digital) or eXtreme Digital memory, etc.), RAM (Random Access Memory), SRAM (Static Random Access Memory), ROM (Read Only Memory, ROM), EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read Only Memory), PROM (Programmable Read Only Memory) , may include at least one type of storage medium among magnetic memory, magnetic disk, and optical disk. Additionally, it may operate in connection with web storage and cloud servers that perform storage functions on the Internet.
통신부(637)는 통신을 위해, 모뎀, 랜카드, 통신 회로 등이 구성될 수 있다.The communication unit 637 may be configured with a modem, LAN card, communication circuit, etc. for communication.
또한, 여기에 개시된 실시형태들과 관련하여 설명된 방법 또는 알고리즘의 단계들은, 마이크로프로세서, 프로세서, CPU(Central Processing Unit) 등과 같은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 (명령) 코드, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. Additionally, the steps of the method or algorithm described in relation to the embodiments disclosed herein are implemented in the form of program instructions that can be executed through various computer means such as a microprocessor, processor, CPU (Central Processing Unit), etc., and are computer readable. Can be recorded on any available medium. The computer-readable medium may include program (instruction) codes, data files, data structures, etc., singly or in combination.
상기 매체에 기록되는 프로그램 (명령) 코드는 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프 등과 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD, 블루레이 등과 같은 광기록 매체(optical media) 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 (명령) 코드를 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 반도체 기억 소자가 포함될 수 있다. The program (instruction) code recorded on the medium may be specially designed and constructed for the present invention, or may be known and usable by those skilled in the art of computer software. Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, optical media such as CD-ROM, DVD, and Blu-ray, and ROM and RAM. Semiconductor memory elements specially configured to store and execute program (instruction) code, such as RAM), flash memory, etc., may be included.
여기서, 프로그램 (명령) 코드의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.Here, examples of program (instruction) code include not only machine language code such as that created by a compiler, but also high-level language code that can be executed by a computer using an interpreter or the like. The hardware devices described above may be configured to operate as one or more software modules to perform the operations of the present invention, and vice versa.
100: 샘플링값 자동 시험 시스템
110: 시험 장치
111: 시험 운영부
112: 시험 수행부
120: 네트워크 스위치
130: 시험 대상 장치
140: 계측 신호 발생 장치
150: 시각 동기 서버100: Sampling value automatic test system
110: test device
111: Test Operation Department
112: Test performance department
120: network switch
130: Device under test
140: Measurement signal generator
150: Time synchronization server
Claims (20)
상기 계측 신호를 디지털 신호로 변환하여 디지털 변전소의 샘플링값을 생성하는 시험 대상 장치(130);
미리 설정되는 다수의 시험 모델 중 선택되는 하나의 시험 모델에 기반하여 생성되는 시험 케이스에 따라 상기 샘플링값(sampled value)에 대해 자동 시험을 실행하는 시험 장치(110);및
상기 자동 시험에 반영되는 시간정보를 제공하는 시각 동기 서버(150);를 포함하며,
상기 시험 장치(110)는 상기 시각 동기 서버(150)와의 동기화를 통해 상기 샘플링값(sampled value)의 성공 또는 실패가 판단되며,
상기 시험 모델은,
상기 자동 시험을 위한 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보를 수집하는 시험 진행 모델, 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보를 이용하여 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보에 관련되는 상세 데이터를 분석하는 시험 분석 모델, 및 상기 분석에 따른 판정을 실행하는 판정 모델을 포함하며,
상기 시험 분석 모델은,
수집된 상기 샘플링값 중 상기 시험 대상 장치(130)의 설정과 일치한 샘플링값이 있는지를 다수의 파라미터를 이용하여 확인하는 샘플링값 형식 확인 모델, 지연 시간을 측정하는 지연 시간 측정 모델, 상기 샘플링값의 샘플링 카운터가 증가하고 마지막 샘플링 카운터 이후 제로(zero)값으로 리셋(reset)되어 증가되는지를 측정하는 샘플링 속도 측정 모델, 샘플링값의 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이 되는 간격을 미리 설정되는 마진인지를 측정하는 샘플링 간격 측정 모델, 상기 시험 장치(110)가 시각 동기 서버(150)와의 동기화 여부에 따라 시각 동기를 측정하는 시각 동기 측정 모델, PPS(Pulse Per Second) 시간과 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이되는 값간의 차를 이용하여 시각 동기 정밀도를 측정하는 시각 동기 정밀도 측정 모델, 전압과 전류의 데이터셋(RSTN)이 구성되어 있는지에 따른 ASDU(application service data unit) 형식을 확인하는 ASDU 형식 확인 모델, 상기 시험 대상 장치(130)의 설정값을 이용하여 전압, 전류의 RMS(Root Means Sqaure)을 계산하는 RMS(Root Means Sqaure) 계산 모델, 상기 시험 대상 장치(130)의 설정에 따른 상기 샘플링값의 전압과 전류의 품질값과 미리 설정되는 품질값을 비교하여 검증하는 품질 검증 모델, 및 미리 설정된 시간 동안 상기 시험 대상 장치(130)가 전송한 상기 샘플링값을 카운터하여 미리 설정된 전송 범위내인지를 판정하는 샘플링 카운터(Sampling Counter) 모델 중 적어도 하나이며,
상기 시각동기 측정 모델은 시각 동기 서버(150)와 동기화되어 있는 경우, 상기 샘플링값 중 샘플링 동기값(SmpSynch:sampling synchronization)이 PPS 시간에서 1이고, IEEE1588에서 2이면 성공으로 다른 값이면 실패로 정의되고,
상기 시각동기 측정 모델은 시각 동기 서버(150)와 동기화가 안되어 있는 경우, 상기 샘플링값 중 샘플링 동기값(SmpSynch:sampling synchronization)이 0이면 성공이고, 다른 값이면 실패로 정의되고,
상기 시각 동기 정밀도 측정 모델은, 시각 동기 서버(150)와 동기화되어 있는 경우, PPS(Pulse Per Second) 시간과 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이되는 값간의 시차를 구하고 이중 가장 큰 수의 값이 설정된 정밀도 시간 이내이면 성공, 상기 정밀도 시간보다 크면 실패로 정의되고,
상기 시각동기 측정 모델은 매시간 PPS 시간 정보를 가지며,
상기 샘플링값은 수집한 샘플링값들중 DUT(Device Under Test, 시험 대상 장치)의 설정과 일치되는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 시스템.
A measurement signal generator 140 that generates a measurement signal;
A device under test (130) that converts the measurement signal into a digital signal and generates a sampling value of a digital substation;
A test device 110 that automatically performs a test on the sampled value according to a test case generated based on one test model selected from a plurality of preset test models; And
It includes a time synchronization server 150 that provides time information reflected in the automatic test,
The test device 110 determines success or failure of the sampled value through synchronization with the time synchronization server 150,
The test model is,
A test progress model that collects the sampling value and the time information for the automatic test, a test analysis model that analyzes detailed data related to the sampling value and the time information using the sampling value and the time information, and Contains a decision model that executes a decision based on the analysis,
The test analysis model is,
A sampling value format confirmation model that uses a plurality of parameters to check whether any of the collected sampling values match the settings of the device under test 130, a delay time measurement model that measures the delay time, and the sampling value. A sampling rate measurement model that measures whether the sampling counter increases and is reset to zero after the last sampling counter, and whether the sampling counter is a preset margin for the interval at which the sampling counter becomes the zero value. A sampling interval measurement model that measures a time synchronization measurement model, a time synchronization measurement model that measures time synchronization depending on whether the test device 110 is synchronized with the time synchronization server 150, and a PPS (Pulse Per Second) time and the sampling counter are set to the zero. A time synchronization precision measurement model that measures time synchronization precision using the difference between values, and an ASDU format check that checks the ASDU (application service data unit) format according to whether the voltage and current dataset (RSTN) is configured. Model, RMS (Root Means Sqaure) calculation model for calculating the RMS (Root Means Sqaure) of voltage and current using the settings of the device under test 130, the sampling according to the settings of the device under test 130 A quality verification model that verifies by comparing the quality values of voltage and current with a preset quality value, and counters the sampling value transmitted by the device under test 130 for a preset time to determine whether it is within a preset transmission range. At least one of the Sampling Counter models that determines,
When the time synchronization measurement model is synchronized with the time synchronization server 150, the sampling synchronization value (SmpSynch: sampling synchronization) among the sampling values is 1 in PPS time, and 2 in IEEE1588 is defined as success, and any other value is defined as failure. become,
When the time synchronization measurement model is not synchronized with the time synchronization server 150, if the sampling synchronization value (SmpSynch: sampling synchronization) of the sampling values is 0, it is defined as success, and if any other value is defined as failure,
The time synchronization precision measurement model, when synchronized with the time synchronization server 150, obtains the time difference between the PPS (Pulse Per Second) time and the value at which the sampling counter becomes the zero value, and the largest value is set. If it is within the precision time, it is defined as success, and if it is greater than the precision time, it is defined as failure.
The time synchronization measurement model has PPS time information every hour,
The sampling value automatic test system for a digital substation, characterized in that the sampling value matches the settings of the DUT (Device Under Test) among the collected sampling values.
상기 시험 장치(110)는,
하나의 상기 시험 모델을 가지고 상기 시험 케이스를 생성하고 관리하는 시험 운영부(111); 및
상기 시험 케이스에 따라 상기 자동 시험을 실행하고, 상기 실행에 따른 결과를 사용자에게 제공하는 시험 수행부(112);를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 시스템.
According to claim 1,
The test device 110,
a test operation unit 111 that creates and manages the test case with one test model; and
A test execution unit 112 that executes the automatic test according to the test case and provides results according to the execution to the user.
상기 시험 운영부(111)는,
다수의 상기 시험모델을 저장하고 있는 시험 모델 데이터베이스(210);
상기 시험 모델 데이터베이스(210)로부터 선택된 하나의 상기 시험모델을 이용하여 상기 시험 케이스를 생성하는 시험 관리 블럭(220); 및
상기 시험 케이스에 따른 시험 수행 명령을 생성하는 시험 진행 모듈(230);을 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 시스템.
According to claim 2,
The test operation unit 111,
A test model database 210 storing a plurality of the test models;
a test management block 220 that generates the test case using one test model selected from the test model database 210; and
A test progress module 230 that generates a test execution command according to the test case. A sampling value automatic test system for a digital substation, comprising:
상기 시험 수행부(112)는,
상기 시험 수행 명령에 따라 상기 샘플링값(sampled value)에 대해 자동 시험을 실행하는 시험 실행기(310);
시간 정보를 상기 자동 시험에 반영하는 신호 처리기(320); 및
제 2 통신 포트(332)를 통해 상기 시험 대상 장치(130)로부터 상기 샘플링값을 수신하는 신호 수집기(330);를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 시스템.
According to claim 3,
The test performing unit 112,
a test executor 310 that automatically executes a test on the sampled value according to the test execution command;
A signal processor 320 that reflects time information in the automatic test; and
A signal collector (330) that receives the sampling value from the device under test (130) through a second communication port (332).
상기 시험 진행 모델은, 미리 지정된 시간만큼 네트워크에 있는 상기 샘플링값을 수집하여 저장하는 제 1 모델과, 미리 설정된 시간 소스에서 상기 시간 정보를 상기 시험 케이스의 종료때까지 가져와서 시간 동기 표시자(indicator)와 시험 로그에 상기 시각 동기 서버(150)와의 시각 동기 상태를 표시하는 제 2 모델로 이루어지는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 시스템.
According to claim 1,
The test progress model includes a first model that collects and stores the sampling value in the network for a predetermined time, and a time synchronization indicator (indicator) by fetching the time information from a preset time source until the end of the test case. ) and a second model that displays the time synchronization status with the time synchronization server 150 in the test log.
다수의 상기 파라미터는 목적지 MAC(Media Access Control) 주소, TPID(tag protocol identifier), VLAN(Virtual Local Area Network) 우선순위(priority), VLAN ID(identifier), 이더타입(Ethertype), APPID(APP identifier), 샘플값 ID(SvID: Sampled Value identifier), ASDU(application service data unit)의 개수, confRev(Configuration Revision), DUT(Device Under Test, 시험 대상 장치) 포맷(Format) 선택사항, 샘플링 속도(sampling rate), 및 리플레시 시간(refresh Time) 중 적어도 2개인 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 시스템.
According to claim 1,
A number of the above parameters include destination MAC (Media Access Control) address, TPID (tag protocol identifier), VLAN (Virtual Local Area Network) priority, VLAN ID (identifier), Ethertype, and APPID (APP identifier). ), sampled value identifier (SvID), number of ASDU (application service data unit), confRev (Configuration Revision), DUT (Device Under Test) format option, sampling rate (sampling) A sampling value automatic test system for a digital substation, characterized in that there are at least two of a rate) and a refresh time.
상기 판정 모델은, 상기 시험 분석 모델을 다수개 배치하는 판정그룹을 생성하는 다중 시험 판정 모델, 상기 자동 시험 중 상기 시험 대상 장치(130)의 동작 및 출력을 메시지로 제공하는 시험 가이드 지시 모델, 상기 자동 시험 중 반복 구간을 지정할 수 있는 시험 반복 모델, 선택한 시험 케이스의 실행을 선언할 수 있는 시험 시작 모델, 및 상기 선택한 시험 케이스의 종류를 선언할 수 있는 시험 종료 모델 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 시스템.
According to claim 1,
The decision model includes a multi-test decision model that generates a decision group in which a plurality of test analysis models are arranged, a test guide instruction model that provides a message of the operation and output of the device under test 130 during the automatic test, Characterized by one of a test repetition model capable of specifying a repetition section during an automatic test, a test start model capable of declaring execution of the selected test case, and a test end model capable of declaring the type of the selected test case. Automatic testing system for sampling values of digital substation.
상기 지연 시간 측정 모델은 0의 범주에 있던 상기 샘플링값의 샘플의 마지막 시간과 0값 이상을 가지는 시간의 차를 계산하고, 상기 시간의 차가 상기 시험 대상 장치(130)의 설정인 계측 지연 시간(The measured delay time)과 상기 시험 대상 장치(130)의 설정인 최대 지연(Maximum delay) 시간보다 작으면 패스, 크면 실패, 상기 샘플링값이 없으면 판단 불가로 정의되는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 시스템.
According to claim 1,
The delay time measurement model calculates the difference between the last time of the sample of the sampling value in the range of 0 and the time having a value greater than 0, and the difference in time is the measurement delay time ( The sampling value of the digital substation, characterized in that it is defined as pass if it is smaller than the measured delay time and the maximum delay time, which is the setting of the device under test 130, failure if it is larger, and judgment impossible if there is no sampling value. Automated testing system.
(b) 시험 대상 장치(130)가 상기 계측 신호를 디지털 신호로 변환하여 디지털 변전소의 샘플링값을 생성하는 단계; 및
(c) 시험 장치(110)가 미리 설정되는 다수의 시험 모델 중 선택되는 하나의 시험 모델에 기반하여 생성되는 시험 케이스에 따라 상기 샘플링값(sampled value)에 대해 자동 시험을 실행하는 단계;를 포함하며,
시각 동기 서버(150)가 상기 자동 시험에 반영되는 시간정보를 제공하며, 상기 시험 장치(110)는 상기 시각 동기 서버(150)와의 동기화를 통해 상기 샘플링값(sampled value)의 성공 또는 실패가 판단되며,
상기 시험 모델은,
상기 자동 시험을 위한 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보를 수집하는 시험 진행 모델, 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보를 이용하여 상기 샘플링값 및 상기 시간 정보에 관련되는 상세 데이터를 분석하는 시험 분석 모델, 및 상기 분석에 따른 판정을 실행하는 판정 모델을 포함하며,
상기 시험 분석 모델은,
수집된 상기 샘플링값 중 상기 시험 대상 장치(130)의 설정과 일치한 샘플링값이 있는지를 다수의 파라미터를 이용하여 확인하는 샘플링값 형식 확인 모델, 지연 시간을 측정하는 지연 시간 측정 모델, 상기 샘플링값의 샘플링 카운터가 증가하고 마지막 샘플링 카운터 이후 제로(zero)값으로 리셋(reset)되어 증가되는지를 측정하는 샘플링 속도 측정 모델, 샘플링값의 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이 되는 간격을 미리 설정되는 마진인지를 측정하는 샘플링 간격 측정 모델, 상기 시험 장치(110)가 시각 동기 서버(150)와의 동기화 여부에 따라 시각 동기를 측정하는 시각 동기 측정 모델, PPS(Pulse Per Second) 시간과 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이되는 값간의 차를 이용하여 시각 동기 정밀도를 측정하는 시각 동기 정밀도 측정 모델, 전압과 전류의 데이터셋(RSTN)이 구성되어 있는지에 따른 ASDU(application service data unit) 형식을 확인하는 ASDU 형식 확인 모델, 상기 시험 대상 장치(130)의 설정값을 이용하여 전압, 전류의 RMS(Root Means Sqaure)을 계산하는 RMS(Root Means Sqaure) 계산 모델, 상기 시험 대상 장치(130)의 설정에 따른 상기 샘플링값의 전압과 전류의 품질값과 미리 설정되는 품질값을 비교하여 검증하는 품질 검증 모델, 및 미리 설정된 시간 동안 상기 시험 대상 장치(130)가 전송한 상기 샘플링값을 카운터하여 미리 설정된 전송 범위내인지를 판정하는 샘플링 카운터(Sampling Counter) 모델 중 적어도 하나이며,
상기 시각동기 측정 모델은 시각 동기 서버(150)와 동기화되어 있는 경우, 상기 샘플링값 중 샘플링 동기값(SmpSynch:sampling synchronization)이 PPS 시간에서 1이고, IEEE1588에서 2이면 성공으로 다른 값이면 실패로 정의되고,
상기 시각동기 측정 모델은 시각 동기 서버(150)와 동기화가 안되어 있는 경우, 상기 샘플링값 중 샘플링 동기값(SmpSynch:sampling synchronization)이 0이면 성공이고, 다른 값이면 실패로 정의되고,
상기 시각 동기 정밀도 측정 모델은, 시각 동기 서버(150)와 동기화되어 있는 경우, PPS(Pulse Per Second) 시간과 상기 샘플링 카운터가 상기 제로값이되는 값간의 시차를 구하고 이중 가장 큰 수의 값이 설정된 정밀도 시간 이내이면 성공, 상기 정밀도 시간보다 크면 실패로 정의되고,
상기 시각동기 측정 모델은 매시간 PPS 시간 정보를 가지며,
상기 샘플링값은 수집한 샘플링값들중 DUT(Device Under Test, 시험 대상 장치)의 설정과 일치되는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 방법.
(a) generating a measurement signal by the measurement signal generating device 140;
(b) the device under test 130 converting the measurement signal into a digital signal to generate a sampling value of a digital substation; and
(c) the test device 110 performing an automatic test on the sampled value according to a test case generated based on one test model selected from a plurality of preset test models; including; And
The time synchronization server 150 provides time information reflected in the automatic test, and the test device 110 determines success or failure of the sampled value through synchronization with the time synchronization server 150. And
The test model is,
A test progress model that collects the sampling value and the time information for the automatic test, a test analysis model that analyzes detailed data related to the sampling value and the time information using the sampling value and the time information, and Contains a decision model that executes a decision based on the analysis,
The test analysis model is,
A sampling value format confirmation model that uses a plurality of parameters to check whether any of the collected sampling values match the settings of the device under test 130, a delay time measurement model that measures the delay time, and the sampling value. A sampling rate measurement model that measures whether the sampling counter increases and is reset to zero after the last sampling counter, and whether the interval at which the sampling counter of the sampling value becomes the zero value is preset as a margin. A sampling interval measurement model that measures a time synchronization measurement model, a time synchronization measurement model that measures time synchronization depending on whether the test device 110 is synchronized with the time synchronization server 150, and a PPS (Pulse Per Second) time and the sampling counter are set to the zero. A time synchronization precision measurement model that measures time synchronization precision using the difference between values, and an ASDU format check that checks the ASDU (application service data unit) format depending on whether the voltage and current dataset (RSTN) is configured. Model, RMS (Root Means Sqaure) calculation model for calculating the RMS (Root Means Sqaure) of voltage and current using the settings of the device under test 130, the sampling according to the settings of the device under test 130 A quality verification model that verifies by comparing the quality values of the voltage and current with a preset quality value, and counters the sampling value transmitted by the device under test 130 for a preset time to determine whether it is within a preset transmission range. At least one of the Sampling Counter models that determines,
When the time synchronization measurement model is synchronized with the time synchronization server 150, the sampling synchronization value (SmpSynch: sampling synchronization) of the sampling values is 1 in PPS time, and 2 in IEEE1588 is defined as success, and any other value is defined as failure. become,
When the time synchronization measurement model is not synchronized with the time synchronization server 150, if the sampling synchronization value (SmpSynch: sampling synchronization) of the sampling values is 0, it is defined as success, and if any other value is defined as failure,
The time synchronization precision measurement model, when synchronized with the time synchronization server 150, obtains the time difference between the PPS (Pulse Per Second) time and the value at which the sampling counter becomes the zero value, and the largest value is set. If it is within the precision time, it is defined as success, and if it is greater than the precision time, it is defined as failure.
The time synchronization measurement model has PPS time information every hour,
An automatic testing method for sampling values of a digital substation, characterized in that the sampling value matches the settings of a DUT (Device Under Test) among the collected sampling values.
상기 (c) 단계는,
시험 운영부(111)가 하나의 상기 시험 모델을 가지고 상기 시험 케이스를 생성하고 관리하는 단계; 및
시험 수행부(112)가 상기 시험 케이스에 따라 상기 자동 시험을 실행하고, 상기 실행에 따른 결과를 사용자에게 제공하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 방법.
According to claim 15,
In step (c),
A test operation unit 111 generating and managing the test case with one test model; and
A method for automatically testing sampling values of a digital substation, comprising: the test performing unit 112 executing the automatic test according to the test case and providing results according to the execution to the user.
상기 결과는 보고서 형태인 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 방법.
According to claim 16,
A method for automatically testing sampling values of a digital substation, wherein the results are in the form of a report.
상기 상기 시험 운영부(111)는,
다수의 상기 시험모델을 저장하고 있는 시험 모델 데이터베이스(210);
상기 시험 모델 데이터베이스(210)로부터 선택된 하나의 상기 시험모델을 이용하여 상기 시험 케이스를 생성하는 시험 관리 블럭(220); 및
상기 시험 케이스에 따른 시험 수행 명령을 생성하는 시험 진행 모듈(230);을 포함하는 것을 특징으로 하는 디지털 변전소의 샘플링값 자동 시험 방법.
According to claim 16,
The test operation unit 111,
A test model database 210 storing a plurality of the test models;
a test management block 220 that generates the test case using one test model selected from the test model database 210; and
A method for automatically testing sampling values of a digital substation, comprising a test progress module 230 that generates a test execution command according to the test case.
A computer-readable storage medium storing program code for executing the method for automatically testing sampling values of a digital substation according to claim 15.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210075353A KR102663195B1 (en) | 2021-06-10 | 2021-06-10 | System and Method for testing sampled value of digital substation automatically |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR1020210075353A KR102663195B1 (en) | 2021-06-10 | 2021-06-10 | System and Method for testing sampled value of digital substation automatically |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20220166513A KR20220166513A (en) | 2022-12-19 |
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Family
ID=84535394
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020210075353A KR102663195B1 (en) | 2021-06-10 | 2021-06-10 | System and Method for testing sampled value of digital substation automatically |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102663195B1 (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116087814B (en) * | 2023-01-28 | 2023-11-10 | 上海玫克生储能科技有限公司 | Method and device for improving voltage sampling precision and electronic equipment |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101515473B1 (en) * | 2014-03-04 | 2015-04-29 | 한전케이디엔주식회사 | Intelligent electroni device and method for verification of substation measuring signal |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101012464B1 (en) * | 2008-11-13 | 2011-02-08 | 한국전력공사 | Testing method and its apparatus of digital substation Merging Unit |
| KR102032180B1 (en) * | 2017-08-16 | 2019-10-15 | 한국전력공사 | Apparatus for testing information exchange function of digital substation system |
| KR102262385B1 (en) | 2019-10-15 | 2021-06-08 | 한국전력공사 | Highly Reliable, Low Cost Next Generation Network System For Digital Substation |
-
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- 2021-06-10 KR KR1020210075353A patent/KR102663195B1/en active IP Right Grant
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101515473B1 (en) * | 2014-03-04 | 2015-04-29 | 한전케이디엔주식회사 | Intelligent electroni device and method for verification of substation measuring signal |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20220166513A (en) | 2022-12-19 |
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