KR102644862B1 - X-ray imaging apparatus and method for controlling the same - Google Patents

Abstract

엑스선 촬영 장치 및 그것의 제어방법이 제공된다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 엑스선 촬영 장치는, 엑스선을 조사하는 적어도 하나의 엑스선 소스를 포함하는 엑스선 발생기, 상기 엑스선 발생기에서 조사되는 엑스선을 검출하여 복수의 투영 데이터를 생성하는 엑스선 검출기 및 제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제1 모드 및 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제2 모드 중 어느 하나의 모드로 상기 엑스선 발생기를 제어하고, 상기 엑스선 검출기를 통해 생성된 복수의 투영 데이터에 근거하여 단층 영상을 생성하는 프로세서를 포함한다.An X-ray imaging device and a control method thereof are provided. An X-ray imaging device according to an embodiment of the present invention includes an X-ray generator including at least one X-ray source that irradiates X-rays, an Controls the It includes a processor that generates a tomographic image based on a plurality of projection data.

Description

엑스선 촬영 장치 및 그것의 제어방법{X-ray imaging apparatus and method for controlling the same}X-ray imaging apparatus and method for controlling the same}

본 발명은 엑스선 촬영 장치 및 엑스선 촬영 영상 처리 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 복수의 투영 데이터를 기초로 단층 영상을 생성하는 엑스선 촬영 장치 및 엑스선 영상 처리 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an X-ray imaging device and an X-ray image processing method, and more specifically, to an X-ray imaging device and an

엑스선 영상 촬영 시스템이 2차원 엑스선 영상(2D X-Ray image)을 촬영하는 경우, 2차원 엑스선 영상은 엑스선 촬영 대상체에 대하여 엑스선이 한 방향으로 투사(projection)된 영상이다. 따라서, 엑스선이 대상체에 한 방향으로 투사되면서 대상체의 영상이 겹쳐(overlap)지고 가려지는 문제가 발생한다. When an X-ray imaging system captures a 2D X-ray image, the 2D X-ray image is an image in which X-rays are projected in one direction with respect to the X-ray imaging object. Therefore, as X-rays are projected onto the object in one direction, a problem occurs in which the image of the object overlaps and is obscured.

한편, 이러한 문제를 해결하기 위하여 환자에게 엑스선(X-ray)을 조사하여 대상체를 촬영하기 위한 장치로는 대표적으로 컴퓨터 단층 촬영(CT: Computed Tomography) 장치가 있다. 의료 영상 처리 장치 중 단층 촬영 장치인 컴퓨터 단층 촬영(CT) 장치는 대상체에 대한 단면 영상을 제공할 수 있고, 일반적인 X-ray 장치에 비하여 대상체의 내부 구조(예컨대, 신장, 폐 등의 장기 등)가 겹치지 않게 표현할 수 있다는 장점이 있어서, 질병의 정밀한 진단을 위하여 널리 이용된다. Meanwhile, in order to solve this problem, a representative example of a device for imaging an object by irradiating X-rays to a patient is a computed tomography (CT) device. Among medical image processing devices, a computed tomography (CT) device, which is a tomography device, can provide cross-sectional images of an object and, compared to a general It has the advantage of being able to be expressed without overlapping, so it is widely used for precise diagnosis of diseases.

그러나, 컴퓨터 단층 촬영(CT) 장치는 다양한 방향에서 대상체에 엑스선을 여러 차례 투사하여 엑스선을 촬영하는 문제가 있어 방사선 피폭량이 증대하는 문제가 있다. However, computed tomography (CT) devices have the problem of imaging X-rays by projecting X-rays to an object multiple times from various directions, which increases the amount of radiation exposure.

최근 컴퓨터 단층 촬영(CT) 장치 대비하여 저선량으로 3차원 영상을 구현하는 토모신테시스(tomosynthesis) 엑스선 영상 촬영 시스템이 도입되고 있다. Recently, a tomosynthesis X-ray imaging system that produces 3D images with low dose compared to computed tomography (CT) devices has been introduced.

토모신테시스 시스템은 컴퓨터 단층 촬영(CT) 대비 저선량으로 3차원 영상을 획득할 수 있는 기법으로, 깊이 별 단층영상을 제공하여 겹침 또는 가려짐 효과를 제거할 수 있다. The Tomosynthesis system is a technique that can acquire 3D images at a lower dose compared to computed tomography (CT), and can eliminate overlapping or obscuring effects by providing tomographic images by depth.

토모신테시스 시스템은 일반적으로 아날로그 엑스선 발생기를 어느 회전 축을 기준으로 아치 모양으로 회전 이동시키고, 엑스선 검출기도 엑스선 발생기의 위치에 맞춰서 이동 또는 회전하면서 여러장의 엑스선 영상을 촬영하여 재구성 알고리즘을 통해 3차원 영상을 구현한다. The Tomosynthesis system generally rotates and moves the analog X-ray generator in an arch shape based on a certain rotation axis, and the X-ray detector moves or rotates according to the position of the Implement the video.

따라서, 토모신테시스 엑스선 영상 촬영 시스템은 천장에 레일과 함께 설치한 아날로그 엑스선 발생기를 사용하여 회전 이동하여 영상을 획득하기 때문에 시스템 전체가 커지고 설치를 위해 확보해야 할 공간이 커진다는 단점들이 있다.Accordingly, the Tomosynthesis X-ray imaging system uses an analog

따라서, 엑스선 영상 촬영 시스템이 차지하는 공간을 최소화하고 설치의 편의성을 확보하거나 이동이 가능할 수 있는 엑스선 영상 촬영 시스템이 요구되고 있다.Accordingly, there is a demand for an

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 엑스선 촬영 장치를 이용하여 촬영된 복수의 투영 데이터들을 재구성하여 2D 또는 3D 타입의 단층 영상을 재구성하는 엑스선 촬영 장치 및 엑스선 촬영 영상 처리 방법을 제공하는데 있다. The problem to be solved by the present invention is to provide an X-ray imaging device and an

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 엑스선의 선량을 줄이면서 단층 영상을 생성하는 것이 가능한 엑스선 촬영 장치 및 엑스선 촬영 영상 처리 방법을 제공하는데 있다.The problem to be solved by the present invention is to provide an X-ray imaging device and an X-ray imaging image processing method capable of generating a tomography image while reducing the dose of X-rays.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 엑스선의 선량을 줄이면서도 엑스선 촬영 시간을 단축시키는 것이 가능한 엑스선 촬영 장치 및 엑스선 촬영 영상 처리 방법을 제공하는데 있다.The problem to be solved by the present invention is to provide an X-ray imaging device and an X-ray imaging image processing method capable of reducing the X-ray imaging time while reducing the X-ray dose.

본 발명이 해결하고자 하는 과제는 엑스선을 조사할 때 한번에 노출되는시간을 줄이는 것이 가능한 엑스선 촬영 장치 및 엑스선 촬영 영상 처리 방법을 제공하는데 있다.The problem to be solved by the present invention is to provide an X-ray imaging device and an X-ray imaging image processing method that can reduce the exposure time at one time when irradiating X-rays.

본 발명의 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치는, 엑스선을 조사하는 적어도 하나의 엑스선 소스를 포함하는 엑스선 발생기, 상기 엑스선 발생기에서 조사되는 엑스선을 검출하여 복수의 투영 데이터를 생성하는 엑스선 검출기 및 제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제1 모드 및 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제2 모드 중 어느 하나의 모드로 상기 엑스선 발생기를 제어하고, 상기 엑스선 검출기를 통해 생성된 복수의 투영 데이터에 근거하여 단층 영상을 생성하는 프로세서를 포함한다.An X-ray imaging device according to an embodiment of the present invention includes an X-ray generator including at least one X-ray source that irradiates X-rays, an X-ray detector that detects Controlling the It includes a processor that generates a tomographic image based on a plurality of projection data.

실시 예에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 제1 모드 및 상기 제2 모드에서, 일정 시간 간격마다 엑스선을 조사하며, 상기 제1 모드에서는 상기 일정 시간 간격마다 상기 제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하고, 상기 제2 모드에서는, 상기 일정 시간 간격마다 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the processor irradiates X-rays at regular time intervals in the first mode and the second mode, and in the first mode, radiates X-rays at regular time intervals during the first irradiation time. The X-ray generator is controlled, and in the second mode, the X-ray generator is controlled to irradiate X-rays at regular time intervals for a second irradiation time that is half of the first irradiation time.

실시 예에 있어서, 상기 엑스선 소스는, 엑스선을 출력하도록 형성된 복수의 발광소자를 포함하고, 상기 엑스선 소스는, 복수의 발광소자를 발광시키기 위한 복수의 게이트 라인을 포함하며, 상기 프로세서는, 상기 제2 모드에서, 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하기 위해, 제1 주기동안 복수의 게이트 라인 중 짝수 게이트 라인에 신호를 인가하고, 상기 제1 주기 다음 주기인 제2 주기동안 복수의 게이트 라인 중 홀수 게이트 라인에 신호를 인가하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the X-ray source includes a plurality of light-emitting devices configured to output X-rays, the In mode 2, in order to irradiate X-rays during a second irradiation time that is half of the first irradiation time, a signal is applied to an even gate line among a plurality of gate lines during a first cycle, and a second cycle following the first cycle is applied. It is characterized by applying a signal to odd gate lines among a plurality of gate lines during the cycle.

실시 예에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 제2 모드에서, 상기 제1 주기동안 상기 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여 제1 단층 영상을 획득하고, 상기 제2 주기동안 상기 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여 제2 단층 영상을 획득하며, 상기 제1 단층 영상 및 상기 제2 단층 영상을 이용하여 최종 단층 영상을 생성하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the processor, in the second mode, acquires a first tomographic image based on projection data obtained through the X-ray detector during the first period, and acquires a first tomography image through the X-ray detector during the second period. A second tomography image is acquired based on the acquired projection data, and a final tomography image is generated using the first tomography image and the second tomography image.

실시 예에 있어서, 상기 프로세서는, 일정 시간 간격의 절반에 해당하는 시간 간격마다 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하는 제3 모드로 상기 엑스선 발생기를 제어하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the processor controls the X-ray generator in a third mode to irradiate X-rays for a second irradiation time at time intervals corresponding to half of a certain time interval.

실시 예에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 제1 모드와 상기 제3 모드에서 동일한 횟수만큼 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the processor controls the X-ray generator to radiate X-rays the same number of times in the first mode and the third mode.

실시 예에 있어서, 상기 프로세서는, 상기 제3 모드에서 상기 제1 모드의 조사 횟수보다 두 배 많은 횟수만큼 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the processor controls the X-ray generator to irradiate X-rays in the third mode twice as many times as the number of irradiations in the first mode.

본 발명의 다른 실시 예에 따른 엑스선 촬영 장치의 제어방법은, 제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제1 모드 및 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제2 모드 중 어느 하나의 모드로 엑스선 발생기를 제어하는 단계 및 엑스선 검출기를 통해 생성된 복수의 투영 데이터에 근거하여 단층 영상을 생성하는 단계를 포함한다.The control method of the It includes controlling an X-ray generator in one mode and generating a tomographic image based on a plurality of projection data generated through an X-ray detector.

실시 예에 있어서, 상기 제어하는 단계는, 상기 제1 모드 및 상기 제2 모드에서, 일정 시간 간격마다 엑스선을 조사하며, 상기 제1 모드에서는 상기 일정 시간 간격마다 상기 제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하고, 상기 제2 모드에서는, 상기 일정 시간 간격마다 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the controlling step includes irradiating X-rays at regular time intervals in the first mode and the second mode, and irradiating X-rays at regular time intervals during the first irradiation time in the first mode. In the second mode, the X-ray generator is controlled to irradiate X-rays at regular time intervals for a second irradiation time that is half of the first irradiation time.

실시 예에 있어서, 상기 엑스선 소스는, 엑스선을 출력하도록 형성된 복수의 발광소자를 포함하고, 상기 엑스선 소스는, 복수의 발광소자를 발광시키기 위한 복수의 게이트 라인을 포함하며, 상기 제어하는 단계는, 상기 제2 모드에서, 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하기 위해, 제1 주기동안 복수의 게이트 라인 중 짝수 게이트 라인에 신호를 인가하고, 상기 제1 주기 다음 주기인 제2 주기동안 복수의 게이트 라인 중 홀수 게이트 라인에 신호를 인가하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the X-ray source includes a plurality of light-emitting devices configured to output X-rays, the X-ray source includes a plurality of gate lines for causing the plurality of light-emitting devices to emit light, and the controlling step includes: In the second mode, in order to irradiate X-rays for a second irradiation time that is half of the first irradiation time, a signal is applied to an even gate line among a plurality of gate lines during a first cycle, and a cycle following the first cycle is performed. A signal is applied to odd gate lines among a plurality of gate lines during the second period.

실시 예에 있어서, 상기 제어하는 단계는,상기 제2 모드에서, 상기 제1 주기동안 상기 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여 제1 단층 영상을 획득하고, 상기 제2 주기동안 상기 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여 제2 단층 영상을 획득하며, 상기 제1 단층 영상 및 상기 제2 단층 영상을 이용하여 최종 단층 영상을 생성하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the controlling step may include, in the second mode, acquiring a first tomographic image based on projection data acquired through the X-ray detector during the first period, and detecting the X-ray detector during the second period. A second tomography image is acquired based on projection data obtained through , and a final tomography image is generated using the first tomography image and the second tomography image.

실시 예에 있어서, 상기 제2 모드에서 피사체에 조사되는 엑스선의 선량은, 상기 제1 모드에서 피사체에 조사되는 엑스선의 선량의 절반인 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the dose of X-rays irradiated to the subject in the second mode is half of the dose of X-rays irradiated to the subject in the first mode.

실시 예에 있어서, 일정 시간 간격의 절반에 해당하는 시간 간격마다 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하는 제3 모드로 상기 엑스선 발생기를 제어하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the method further includes controlling the X-ray generator in a third mode to irradiate X-rays for a second irradiation time at time intervals corresponding to half of a predetermined time interval.

실시 예에 있어서, 상기 제1 모드와 상기 제3 모드에서는, 동일한 횟수만큼 엑스선이 조사되는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, in the first mode and the third mode, X-rays are irradiated the same number of times.

실시 예에 있어서, 상기 제3 모드에서 상기 제1 모드의 조사 횟수보다 두 배 많은 횟수만큼 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In an embodiment, the method further includes controlling the X-ray generator to irradiate X-rays in the third mode twice as many times as the number of irradiations in the first mode.

본 발명에 따르면, 본 발명은 엑스선 촬영 시 대상체에게 피폭되는 엑스선 선량을 줄이면서도 단층 영상을 확보할 수 있는 최적화된 엑스선 촬영 방법 및 장치를 제공할 수 있다.According to the present invention, the present invention can provide an optimized X-ray imaging method and device that can secure a tomographic image while reducing the amount of X-ray radiation exposed to the object during X-ray imaging.

본 발명의 적용 가능성의 추가적인 범위는 이하의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다. 그러나 본 발명의 사상 및 범위 내에서 다양한 변경 및 수정은 당업자에게 명확하게 이해될 수 있으므로, 상세한 설명 및 본 발명의 바람직한 실시 예와 같은 특정 실시 예는 단지 예시로 주어진 것으로 이해되어야 한다. Further scope of applicability of the present invention will become apparent from the detailed description that follows. However, since various changes and modifications within the spirit and scope of the present invention may be clearly understood by those skilled in the art, the detailed description and specific embodiments such as preferred embodiments of the present invention should be understood as being given only as examples.

도 1은 종래 토모신테시스 시스템을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 엑스선 촬영 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 복수의 엑스선 소스 각각에 대한 온오프 제어를 통해 엑스선 이미지를 촬영하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 4 및 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치를 이용하여 통해 엑스선 영상을 촬영하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 복수의 엑스선 소스가 2차원 배열 형태로 배치된 엑스선 발생기를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치가 획득하는 복수의 투영 데이터를 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 9, 도 10, 도 11 및 도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치의 제어방법을 설명하기 위한 개념도이다.Figure 1 is a diagram for explaining a conventional tomosynthesis system.
Figure 2 is a diagram for explaining an X-ray imaging device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating a method of photographing an X-ray image through on/off control for each of a plurality of X-ray sources according to an embodiment of the present invention.
4 and 5 are diagrams for explaining a method of photographing an X-ray image using an X-ray imaging device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 6 is a diagram illustrating an X-ray generator in which a plurality of X-ray sources are arranged in a two-dimensional array according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a diagram illustrating a plurality of projection data acquired by an X-ray imaging device according to an embodiment of the present invention.
Figure 8 is a block diagram for explaining an X-ray imaging device according to an embodiment of the present invention.
9, 10, 11, and 12 are conceptual diagrams for explaining a control method of an X-ray imaging device according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 명세서에 개시된 실시 예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 유사한 구성요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 이하의 설명에서 사용되는 구성요소에 대한 접미사 "모듈" 및 "부"는 명세서 작성의 용이함만이 고려되어 부여되거나 혼용되는 것으로서, 그 자체로 서로 구별되는 의미 또는 역할을 갖는 것은 아니다. 또한, 본 명세서에 개시된 실시 예를 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 명세서에 개시된 실시 예의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 첨부된 도면은 본 명세서에 개시된 실시 예를 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 명세서에 개시된 기술적 사상이 제한되지 않으며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. Hereinafter, embodiments disclosed in the present specification will be described in detail with reference to the attached drawings. However, identical or similar components will be assigned the same reference numbers regardless of reference numerals, and duplicate descriptions thereof will be omitted. The suffixes “module” and “part” for components used in the following description are given or used interchangeably only for the ease of preparing the specification, and do not have distinct meanings or roles in themselves. Additionally, in describing the embodiments disclosed in this specification, if it is determined that detailed descriptions of related known technologies may obscure the gist of the embodiments disclosed in this specification, the detailed descriptions will be omitted. In addition, the attached drawings are only for easy understanding of the embodiments disclosed in this specification, and the technical idea disclosed in this specification is not limited by the attached drawings, and all changes included in the spirit and technical scope of the present invention are not limited. , should be understood to include equivalents or substitutes.

제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.Terms containing ordinal numbers, such as first, second, etc., may be used to describe various components, but the components are not limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.When a component is said to be "connected" or "connected" to another component, it is understood that it may be directly connected to or connected to the other component, but that other components may exist in between. It should be. On the other hand, when it is mentioned that a component is “directly connected” or “directly connected” to another component, it should be understood that there are no other components in between.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise.

본 출원에서, "포함한다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.In this application, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate the presence of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but are not intended to indicate the presence of one or more other features. It should be understood that this does not exclude in advance the possibility of the existence or addition of elements, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

도 1은 종래 토모신테시스 시스템을 설명하기 위한 도면이다. Figure 1 is a diagram for explaining a conventional tomosynthesis system.

기존의 토모신테시스 시스템(10)은 엑스선 발생기(101)가 소정의 회전축을 기준으로 약 20 내지 50도를 회전 이동을 하면서 촬영 대상물(102)에 대하여 엑스선을 조사한다. 엑스선 검출기(103)는 투과되는 엑스선의 선량에 대응하는 전기 신호를 생성할 수 있다. In the existing tomosynthesis system 10, the X-ray generator 101 irradiates X-rays to the imaging object 102 while rotating and moving about 20 to 50 degrees about a predetermined rotation axis. The X-ray detector 103 may generate an electrical signal corresponding to the dose of transmitted X-rays.

한편, 엑스선 발생기(101)가 회전 이동을 하면서 촬영 대상물(102)에 대하여 엑스선을 조사하면 투사되는 엑스선들이 엑스선 검출기(103)에 의해 검출되고, 복수의 투영 데이터(106, 107, 108)가 생성될 수 있다.Meanwhile, when the X-ray generator 101 rotates and radiates X-rays to the object 102 to be photographed, the projected X-rays are detected by the It can be.

한편, 촬영 대상물(102)의 제1 평면(Plane 1) 및 제2 평면(Plane 2)을 기준으로 각각의 제1 지점(104) 및 제2 지점(105)은 엑스선 발생기(101)에 의해 방출된 엑스선에 의해 투영되어, 복수의 투영 데이터 (106, 107, 108) 각각에 맵핑될 수 있다.Meanwhile, based on the first plane (Plane 1) and the second plane (Plane 2) of the photographing object 102, each first point 104 and second point 105 are emitted by the X-ray generator 101. It can be projected by X-rays and mapped to each of a plurality of projection data 106, 107, and 108.

이 경우, 복수의 투영 데이터(106, 107, 108) 각각에 맵핑되는 제1 지점(104) 및 제2 지점(105)은 엑스선 발생기(101)의 회전 이동에 따른 입사각의 변동에 의하여 서로 다르게 맵핑될 수 있다. 따라서, 복수의 투영 데이터 (106, 107, 108)를 기초로 촬영 대상물(102)에 대한 2D 또는 3D 엑스선 단층 영상으로 재구성하는 단계가 추가적으로 필요하다.In this case, the first point 104 and the second point 105 mapped to each of the plurality of projection data 106, 107, and 108 are mapped differently due to the change in the angle of incidence due to the rotational movement of the X-ray generator 101. It can be. Therefore, an additional step of reconstructing a 2D or 3D X-ray tomography image of the object 102 based on the plurality of projection data 106, 107, and 108 is required.

도 2는 본 개시의 일 실시 예에 따른 엑스선 촬영 장치를 설명하기 위한 도면이다.FIG. 2 is a diagram for explaining an X-ray imaging device according to an embodiment of the present disclosure.

엑스선 촬영 장치(20)는 복수의 엑스선 소스(211, 212, 213, 214, 215)가 배치된 엑스선 발생기(210)을 포함한다. 복수의 엑스선 소스(211, 212, 213, 214, 215)는 온 또는 오프되며 엑스선을 방출하고 촬영 대상물(220)에 엑스선을 조사한다. The X-ray imaging device 20 includes an X-ray generator 210 in which a plurality of X-ray sources 211, 212, 213, 214, and 215 are disposed. The plurality of X-ray sources 211, 212, 213, 214, and 215 are turned on or off to emit X-rays and irradiate the X-rays to the imaging object 220.

엑스선 검출기(230)는 투과되는 엑스선의 선량에 대응하는 전기 신호를 생성할 수 있다. 엑스선 소스는 전계방식으로 엑스선을 방출할 수도 있다.The X-ray detector 230 may generate an electrical signal corresponding to the dose of transmitted X-rays. An X-ray source may emit X-rays in an electric field manner.

한편, 엑스선 촬영 장치(20)는 종래의 토모신테시스 시스템(10)의 회전 이동이 아닌 수평 이동 방식을 가질 수 있다. 예를 들어, 엑스선 촬영 장치(20)는 제1 엑스선 소스(212), 제2 엑스선 소스(213) 및 제3 엑스선 소스(214)의 순서로 엑스선을 방출하도록 제어할 수 있다. Meanwhile, the X-ray imaging device 20 may have a horizontal movement method rather than the rotational movement method of the conventional tomosynthesis system 10. For example, the X-ray imaging device 20 may be controlled to emit X-rays in the order of the first X-ray source 212, the second X-ray source 213, and the third X-ray source 214.

한편, 촬영 대상물(220)의 제1 평면(Plane 1) 및 제2 평면(Plane 2)을 기준으로 각각의 제1 지점(240) 및 제2 지점(250)은 복수의 투영 데이터(260, 270, 280) 각각에 맵핑되어 촬영될 수 있다.Meanwhile, based on the first plane (Plane 1) and the second plane (Plane 2) of the photographing object 220, each first point 240 and second point 250 contains a plurality of projection data 260 and 270. , 280) can be mapped and photographed respectively.

이 경우, 제1 지점(240) 및 제2 지점(250)은 엑스선 발생기(210)의 복수의 엑스선 소스(211, 212, 213, 214, 215) 각각의 온 또는 오프를 통한 수평 이동으로 인하여, 복수의 투영 데이터(260, 270, 280) 각각에 맵핑 될 수 있다. In this case, the first point 240 and the second point 250 are horizontally moved by turning on or off each of the plurality of X-ray sources 211, 212, 213, 214, and 215 of the X-ray generator 210. It can be mapped to each of a plurality of projection data (260, 270, 280).

따라서, 복수의 엑스선 이미지(260, 270, 280)를 기초로 촬영 대상물(220)에 대한 2D 또는 3D 엑스선 단층 영상으로 재구성하는 단계가 추가적으로 필요하다.Therefore, an additional step of reconstructing a 2D or 3D X-ray tomography image of the object 220 based on the plurality of X-ray images 260, 270, and 280 is required.

이 경우, 도 1의 종래 토모신테시스 시스템(10)과 달리 엑스선 소스들의 온 또는 오프가 수평적으로 동작함에 따른 특성을 반영하여 복수의 투영 데이터들을 재구성하여 단층 영상을 생성해야 한다.In this case, unlike the conventional tomosynthesis system 10 of FIG. 1, a tomography image must be generated by reconstructing a plurality of projection data to reflect the characteristics of horizontal operation of the X-ray sources on or off.

도 3은 본 개시의 일 실시예에 따른 복수의 엑스선 소스의 온오프 제어를 통해 복수의 엑스선 이미지를 촬영하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 3 is a diagram illustrating a method of photographing a plurality of X-ray images through on-off control of a plurality of X-ray sources according to an embodiment of the present disclosure.

엑스선 촬영 장치(20)는 엑스선 발생기(210)에 포함된 복수의 엑스선 소스 각각의 온 또는 오프를 제어하여, 제1 방향(u)으로 수평 이동 방식으로 촬영 대상물에 대한 엑스선 촬영을 할 수 있다. The X-ray imaging device 20 can control the on or off of each of the plurality of X-ray sources included in the X-ray generator 210 to perform X-ray imaging of an object in a horizontal movement manner in the first direction (u).

엑스선 발생기(210)는 엑스선 검출기(230) 상에 조사되는 X-ray 분포가 겹치지 않게끔 온이 되는 엑스선 소스들간의 간격을 유지하면서 적어도 하나 이상의 엑스선 소스를 소정의 시간(예를 들어, 수 msec ~수백 msec) 동안 동작 시킨다. 한편, 엑스선 발생기(210)는 X-ray 분포가 겹칠 경우에 엑스선 소스를 하나씩 개별로 온 또는 오프 시킬 수 있다.The X-ray generator 210 maintains the gap between X-ray sources that are turned on so that the X-ray distribution irradiated on the Operates for ~hundreds of msec). Meanwhile, the X-ray generator 210 may individually turn on or off the X-ray sources one by one when X-ray distributions overlap.

엑스선 촬영 장치(20)는 온(ON)되는 엑스선 소스에서 방출되는 엑스선이 촬영 대상물을 중복 촬영하지 않도록 일부의 엑스선 소스만을 온하도록 제어할 수 있다. 예를 들어, 엑스선 촬영 장치(20)는 엑스선 발생기(210)에 포함된 복수의 엑스선 소스들 중 제1 엑스선 소스(311), 제2 엑스선 소스(311) 및 제3 엑스선 소스(311)가 온되도록 하여 촬영 대상물을 촬영하도록 할 수 있다. The X-ray imaging device 20 may be controlled to turn on only some of the X-ray sources so that X-rays emitted from X-ray sources that are turned on do not overlap imaging objects. For example, the X-ray imaging device 20 determines whether the first X-ray source 311, the second If possible, you can photograph the object to be photographed.

그 후, 엑스선 촬영 장치(20)는 제4 엑스선 소스(314), 제5 엑스선 소스(315) 및 제6 엑스선 소스(311)가 온(on) 되어 촬영 대상물을 촬영하도록 할 수 있다. 또한, 순차적으로 엑스선 촬영 장치(20)는 제7 엑스선 소스(317), 제8 엑스선 소스(318) 및 제9 엑스선 소스(319)가 온(on) 되어 촬영 대상물을 촬영하도록 할 수 있다.Afterwards, the X-ray imaging device 20 may enable the fourth X-ray source 314, the fifth X-ray source 315, and the sixth X-ray source 311 to be turned on to photograph the object. Additionally, the X-ray imaging device 20 may sequentially turn on the seventh X-ray source 317, the eighth X-ray source 318, and the ninth X-ray source 319 to photograph the object.

한편, 엑스선 촬영 장치(20)는 하나 이상의 엑스선 소스가 온(ON)될 때 동시에 엑스선 검출기(230)에 소정의 신호를 보내고, 각각의 엑스선 소스가 온(ON) 될 때마다 투영 데이터를 획득하여 저장할 수 있다. Meanwhile, the X-ray imaging device 20 simultaneously sends a predetermined signal to the X-ray detector 230 when one or more X-ray sources are turned on, and acquires projection data each time each You can save it.

도 4 및 5는 본 개시의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치를 이용하여 통해 엑스선 영상을 촬영하는 방법을 설명하기 위한 도면이다. 4 and 5 are diagrams for explaining a method of photographing an X-ray image using an X-ray imaging device according to an embodiment of the present disclosure.

도 4를 참고하면, 본 개시의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치(20)는 엑스선 발생기(210) 또는 엑스선 검출기(230)가 제2 방향(v)으로 수평 이동을 하면서, 촬영 대상물(220)에 대하여 엑스선 영상을 촬영할 수 있다. Referring to FIG. 4, the X-ray imaging device 20 according to an embodiment of the present disclosure moves the X-ray generator 210 or the X-ray detector 230 horizontally in the second direction (v), X-ray images can be taken.

또는, 도 5를 참고하면, 개시의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치(20)는 엑스선 발생기(210) 또는 엑스선 검출기(230)는 고정되고, 촬영 대상물(220)이 제2 방향(v)으로 수평 이동을 하면서, 엑스선 영상을 촬영할 수 있다.Alternatively, referring to FIG. 5, in the X-ray imaging device 20 according to an embodiment of the disclosure, the X-ray generator 210 or the While moving horizontally, X-ray images can be taken.

도 6은 본 개시의 일 실시예에 따른 복수의 엑스선 소스가 2차원 배열 형태로 배치된 엑스선 발생기를 설명하기 위한 도면이다. FIG. 6 is a diagram illustrating an X-ray generator in which a plurality of X-ray sources are arranged in a two-dimensional array according to an embodiment of the present disclosure.

엑스선 발생기(210)의 복수의 엑스선 소스(211)들은 2차원 배열 형태로 배치될 수 있다. 엑스선 촬영 장치(20)는 복수의 엑스선 소스(211)들 각각을 제 1 방향(u) 또는 제2 방향(v)으로 온 또는 오프되도록 제어하여 엑스선 영상을 촬영할 수 있다. 따라서, 복수의 엑스선 소스가 1차원 라인 형태로 배치되는 엑스선 발생기가 수평으로 이동하면서 촬영하는 것과 같은 효과로 촬영 대상물을 촬영할 수 있다.The plurality of X-ray sources 211 of the X-ray generator 210 may be arranged in a two-dimensional array. The X-ray imaging device 20 may capture an X-ray image by controlling each of the plurality of X-ray sources 211 to be turned on or off in the first direction (u) or the second direction (v). Accordingly, the object can be photographed with the same effect as when an X-ray generator in which a plurality of X-ray sources are arranged in a one-dimensional line shape moves horizontally.

한편, 도 7은 본 개시의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치가 획득하는 복수의 투영 데이터를 나타내는 도면이다Meanwhile, FIG. 7 is a diagram showing a plurality of projection data acquired by an X-ray imaging device according to an embodiment of the present disclosure.

복수의 투영 데이터(700)는 엑스선 발생기(210)의 복수의 엑스선 소스들 각각이 제1 방향(u)으로 순차적으로 온 또는 오프되거나, 엑스선 발생기(210)가 제2 방향(v)으로 수평 이동하며 방출된 엑스선이 엑스 엑스선 검출기(230)에 의해 검출되어 투영(projection)된 엑스선 투영 이미지일 수 있다. The plurality of projection data 700 may be generated when each of the plurality of X-ray sources of the X-ray generator 210 is sequentially turned on or off in the first direction (u) or when the X-ray generator 210 moves horizontally in the second direction (v). The emitted X-rays may be detected by the X-ray detector 230 and may be a projected X-ray projection image.

영상 촬영 장치(20)는 복수의 투영 데이터들(700)을 기초로 촬영 대상물에 대한 단층 영상인 2D 또는 3D 엑스선 이미지를 재구성할 수 있다. The imaging device 20 may reconstruct a 2D or 3D X-ray image, which is a tomography image, of the object to be photographed based on the plurality of projection data 700.

한편, 도 8은 본 개시의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치를 설명하기 위한 블록도이다.Meanwhile, FIG. 8 is a block diagram for explaining an X-ray imaging device according to an embodiment of the present disclosure.

엑스선 촬영 장치(20)는 엑스선 발생기(210), 엑스선 검출기(820), 메모리(250) 및 프로세서(870)을 포함할 수 있다. The X-ray imaging device 20 may include an X-ray generator 210, an X-ray detector 820, a memory 250, and a processor 870.

엑스선 발생기(210)는 복수의 엑스선 소스를 포함할 수 있다. 복수의 엑스선 소스는 1차원 라인 형태로 배치되거나, 2차원 배열 형태로 배치될 수 있다. The X-ray generator 210 may include a plurality of X-ray sources. The plurality of X-ray sources may be arranged in a one-dimensional line form or a two-dimensional array form.

엑스선 검출기(230)는 투과되는 엑스선의 선량에 대응하는 전기 신호를 생성할 수 있다. 엑스선 검출기(230)는 전기 신호를 생성하여 투영 데이터를 생성할 수 있다. The X-ray detector 230 may generate an electrical signal corresponding to the dose of transmitted X-rays. The X-ray detector 230 may generate projection data by generating an electrical signal.

메모리(250)는 프로세서(270) 내의 각 신호 처리 및 제어를 위한 프로그램을 저장하고, 신호 처리된 영상, 음성 또는 데이터 신호 등을 저장할 수 있다. 메모리(250)는 복수의 투영 데이터를 저장할 수 있다. The memory 250 stores programs for processing and controlling each signal in the processor 270, and may store processed video, voice, or data signals. Memory 250 may store a plurality of projection data.

프로세서(870)는 엑스선 발생기(210) 또는 엑스선 검출기(230)의 움직임을 제어하거나, 엑스선 발생기(210)의 복수의 엑스선 소스 각각의 온 또는 오프를 제어할 수 있다. The processor 870 may control the movement of the X-ray generator 210 or the X-ray detector 230, or may control turning on or off each of a plurality of X-ray sources of the X-ray generator 210.

또한, 프로세서(870)는 엑스선 검출기(230)에서 생성된 복수의 투영 데이터를 메모리(250)에 저장할 수 있다. Additionally, the processor 870 may store a plurality of projection data generated by the X-ray detector 230 in the memory 250 .

또한, 프로세서(870)는 복수의 투영 데이터들을 촬영 대상물에 대한 단층 영상인 2D 또는 3D 엑스선 영상으로 재구성할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(870)는 복수의 투영 데이터를 기초로 소정의 재구성 알고리즘을 적용하여, 2D 또는 3D 엑스선 단층 영상을 생성할 수 있다. Additionally, the processor 870 may reconstruct a plurality of projection data into a 2D or 3D X-ray image, which is a tomographic image of the object to be photographed. For example, the processor 870 may generate a 2D or 3D X-ray tomography image by applying a predetermined reconstruction algorithm based on a plurality of projection data.

한편, 재구성 알고리즘에는 대표적으로 FBP(filtered back projection)이 있다. 그러나, 도 1에서 개시된 종래 토모신테시스 시스템(10)에서 사용되는 FBP(filtered back projection) 재구성 알고리즘을 도 2의 엑스선 촬영 장치(20)에서 사용하는 경우, 재구성된 엑스선 이미지에 아티팩트가 발생하는 문제가 발생할 수 있다. 종래 토모신테시스 시스템(10)은 엑스선 발생기가 소정의 회전축을 기준으로 회전하여 투영 데이터를 획득하나, 도 2의 엑스선 촬영 장치(20)는 수평 이동하여 투영 데이터를 획득하기 때문에 엑스선이 엑스선 검출기의 일부에 제한된 각도로 입사하기 대문에 하나의 픽셀 값을 계산하기 위해 일부의 투영 데이터만이 사용되어 재구성되는 엑스선 영상에 불연속적인 선형 영상 아티팩트가 나타날 수 있다.Meanwhile, a representative reconstruction algorithm includes filtered back projection (FBP). However, when the filtered back projection (FBP) reconstruction algorithm used in the conventional tomosynthesis system 10 disclosed in FIG. 1 is used in the X-ray imaging device 20 of FIG. 2, artifacts occur in the reconstructed X-ray image. Problems may arise. In the conventional tomosynthesis system 10, the X-ray generator rotates about a predetermined rotation axis to acquire projection data, but the Because it is incident on a portion of the X-ray image at a limited angle, only a portion of the projection data is used to calculate one pixel value, and discontinuous linear image artifacts may appear in the reconstructed X-ray image.

도 9, 도 10, 도 11 및 도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 촬영 장치의 제어방법을 설명하기 위한 개념도이다.9, 10, 11, and 12 are conceptual diagrams for explaining a control method of an X-ray imaging device according to an embodiment of the present invention.

우선, 본 발명의 엑스선 촬영 장치에 포함된 엑스선 발생기(210)는, 엑스선을 조사하는 적어도 하나의 엑스선 소스를 포함할 수 있다. 일 예로, 본 발명에 적용되는 엑스선 촬영 장치의 제어방법은, 도1 내지 도 6에서 설명한 다양한 방식의 엑스선 촬영 장치에 동일/유사하게 유추적용될 수 있다.First, the X-ray generator 210 included in the X-ray imaging device of the present invention may include at least one X-ray source that irradiates X-rays. As an example, the control method of the X-ray imaging device applied to the present invention can be applied in the same/similar manner to the various types of X-ray imaging devices described in FIGS. 1 to 6.

엑스선 검출기(230)는, 엑스선 발생기에서 조사되는 엑스선을 검출하여 복수의 투영 데이터를 생성할 수 있다.The X-ray detector 230 may detect X-rays emitted from the X-ray generator and generate a plurality of projection data.

프로세서(870)는, 복수의 투영 데이터를 이용하여 단층 영상을 생성할 수 있다. The processor 870 may generate a tomography image using a plurality of projection data.

이 때, 프로세서(870)는, 제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제1 모드 및 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제2 모드 중 어느 하나의 모드로 엑스선 발생기를 제어할 수 있다.At this time, the processor 870 operates the can be controlled.

본 명세서에서는, 제2 조사시간이 제1 조사시간의 절반인 것으로 설명하지만, 이에 한정되지 않는다. 상기 제2 조사시간은, 제1 조사시간보다 짧은 시간기이만 하면 된다.In this specification, it is explained that the second irradiation time is half of the first irradiation time, but it is not limited to this. The second irradiation time only needs to be shorter than the first irradiation time.

또한, 프로세서(870)는, 엑스선 검출기(230)를 통해 생성된 복수의 투영 데이터에 근거하여 단층 영상을 생성할 수 있다.Additionally, the processor 870 may generate a tomographic image based on a plurality of projection data generated through the X-ray detector 230.

도 9를 참조하면, 프로세서(870)는, 상기 제1 모드 및 상기 제2 모드에서, 일정 시간 간격(T)마다 엑스선을 조사할 수 있다.Referring to FIG. 9, the processor 870 may irradiate X-rays at regular time intervals T in the first mode and the second mode.

이 때, 프로세서(870)는, 상기 제1 모드에서는 상기 일정 시간 간격(T)마다 상기 제1 조사시간(R1) 동안 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기(210)를 제어할 수 있다.At this time, the processor 870 may control the X-ray generator 210 to irradiate X-rays for the first irradiation time (R1) at every predetermined time interval (T) in the first mode.

프로세서(870)는, 상기 제2 모드에서는, 상기 일정 시간 간격(T)마다 상기 제1 조사시간(R1)의 절반인 제2 조사시간(r1=1/2*R1)동안 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기(210)를 제어할 수 있다.In the second mode, the processor 870 irradiates the The X-ray generator 210 can be controlled.

한편, 엑스선 발생기에 포함된 엑스선 소스는, 엑스선을 출력하도록 형성된 복수의 발광소자를 포함할 수 있다.Meanwhile, the X-ray source included in the X-ray generator may include a plurality of light emitting elements configured to output X-rays.

도 12를 참조하면, 엑스선 소스는, 복수의 발광소자를 포함할 수 있다. 상기 발광소자에서 방출된 엑스선은, 도 12의 우측에 도시된 것과 같이, 발광소자에 매칭되는 TFT DETECTOR PANEL에 의해 검출될 수 있다.Referring to FIG. 12, the X-ray source may include a plurality of light emitting devices. X-rays emitted from the light-emitting device can be detected by a TFT DETECTOR PANEL matched to the light-emitting device, as shown on the right side of FIG. 12.

또한, 엑스선 소스는, 복수의 발광소자를 발광시키기 위한 복수의 게이트 라인(LINE 0~2N)을 포함할 수 있다.Additionally, the X-ray source may include a plurality of gate lines (LINE 0 to 2N) for causing the plurality of light emitting devices to emit light.

도 12를 참조하면, 프로세서(870)는, 제2 모드에서, 제1 조사시간(R1)의 절반인 제2 조사시간(r1)동안 엑스선을 조사하기 위해, 제1 주기동안 복수의 게이트 라인 중 짝수 게이트 라인(EVEN SCAN)에 신호를 인가할 수 있다.Referring to FIG. 12, in the second mode, the processor 870 uses one of the plurality of gate lines during the first period to irradiate X-rays for a second irradiation time (r1), which is half of the first irradiation time (R1). A signal can be applied to the even gate line (EVEN SCAN).

또한, 프로세서(870)는, 제1 주기 다음 주기인 제2 주기동안 복수의 게이트 라인 중 홀수 게이트 라인(ODD SCAN)에 신호를 인가할 수 있다.Additionally, the processor 870 may apply a signal to the odd gate line (ODD SCAN) among the plurality of gate lines during the second cycle, which is the cycle following the first cycle.

이 때, 프로세서(870)는, 짝수 게이트 라인 및 홀수 게이트 라인에 신호를 인가할 때, 도 12에 도시된 것과 같이, 각 라인별로 순차적으로 신호를 인가할 수 있다.At this time, when applying signals to the even and odd gate lines, the processor 870 may sequentially apply signals to each line, as shown in FIG. 12 .

프로세서(870)는, 짝수 게이트 라인 및 홀수 게이트 라인에 신호를 인가할 때, 엑스선 검출기(230)에 포함된 복수의 엑스선 검출 패널(1200) 중 각 라인에 대응되는 엑스선 검출 패널(1200)을 활성화하도록 동기화할 수 있다.When applying signals to the even and odd gate lines, the processor 870 activates the X-ray detection panel 1200 corresponding to each line among the plurality of X-ray detection panels 1200 included in the X-ray detector 230. can be synchronized to do so.

예를 들어, 프로세서(870)는, 복수의 게이트 라인 중 짝수 게이트 라인에 신호를 인가할 때에는, 복수의 엑스선 검출 패널(1200) 중 짝수 게이트 라인에 대응되는 검출 패널(1200)들이 활성화되도록 게이트 라인(1210)에 신호를 인가할 수 있다. 홀수 게이트 라인에 신호를 인가할 때도, 프로세서(870)는, 홀수 게이트 라인에 대응되는 검출 패널(1200) 들이 활성화되도록 게이트 라인(121)에 신호를 인가할 수 있다.For example, when the processor 870 applies a signal to an even gate line among a plurality of gate lines, the processor 870 activates the gate line so that the detection panels 1200 corresponding to the even gate lines among the plurality of X-ray detection panels 1200 are activated. A signal can be applied to (1210). Even when applying a signal to an odd gate line, the processor 870 may apply a signal to the gate line 121 so that the detection panels 1200 corresponding to the odd gate line are activated.

도 9를 참조하면, 프로세서(870)는, 제2 모드에서, 제1 주기동안 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여, 제1 단층 영상을 획득할 수 있다(EVEN LINE SCAN).Referring to FIG. 9, in the second mode, the processor 870 may acquire a first tomographic image based on projection data acquired through the X-ray detector during the first period (EVEN LINE SCAN).

이후, 제2 주기 동안 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여, 제2 단층 영상을 획득할 수 있다(ODD LINE SCAN).Thereafter, a second tomographic image may be acquired based on projection data acquired through the X-ray detector during the second cycle (ODD LINE SCAN).

상기 제1 단층 영상과 상기 제2 단층 영상은, 엑스선 소스에서 활성화되는 게이트 라인이 다르므로, 엑스선 소스가 동일한 위치에 있더라도 서로 다른 영상으로 촬영될 수 있다.Since the first tomography image and the second tomography image have different gate lines activated by the X-ray source, they may be captured as different images even if the X-ray source is at the same location.

즉, 제1 단층 영상은, 짝수 라인에 대응되는 부분만 촬영된 단층 영상이고, 제2 단층 영상은, 홀수 라인에 대응되는 부분만 촬영된 단층 영상일 수 있다.That is, the first tomography image may be a tomography image in which only portions corresponding to even-numbered lines are imaged, and the second tomography image may be a tomography image in which only portions corresponding to odd-numbered lines are imaged.

이에 따라, 제1 단층 영상에서 촬영되지 않은 부분은, 제2 단층 영상에서 촬영되고, 제2 단층영상에서 촬영되지 않은 부분은 제1 단층 영상에서 촬영될 수 있다.Accordingly, the portion not imaged in the first tomography image may be imaged in the second tomography image, and the portion not imaged in the second tomography image may be imaged in the first tomography image.

이후, 프로세서(870)는, 제1 단층 영상 및 제2 단층 영상을 이용하여 최종 단층 영상을 생성할 수 있다.Thereafter, the processor 870 may generate a final tomography image using the first tomography image and the second tomography image.

한편, 제1 모드에서는, 각 주기별로 모든 게이트라인을 활성화하여 단층 영상을 한번에 촬영한다.Meanwhile, in the first mode, all gate lines are activated for each cycle to capture a tomographic image at once.

이에 따라, 도 9에 도시된 것과 같이, 제2 모드에서 피사체에 조사되는 엑스선의 선량(c1)은, 제1 모드(기존 방식)에서 피사체에 조사되는 엑스선의 선량(C1)의 절반에 해당할 수 있다.Accordingly, as shown in FIG. 9, the dose (c1) of the X-ray irradiated to the subject in the second mode is equivalent to half of the dose (C1) of the You can.

이는, 각 주기별로 제2 모드에서 활성화되는 게이트 라인이 제1 모드에서 활성화되는 게이트 라인의 절반에 해당하기 때문이다(짝수 또는 홀수).This is because the gate line activated in the second mode for each cycle corresponds to half of the gate line activated in the first mode (even or odd number).

이러한 구성을 통해, 본 발명은, 동영상 X선 영상 촬영을 위한 Dynamic X선 검출장치에서 반복적인 영상 취득을 위해 일정 주기로 X선을 지속적으로 조사하므로 대상체 또는 환자의 X선에 의한 피폭량이 증가하는 문제를 해결할 수 있다. Through this configuration, the present invention continuously irradiates X-rays at regular intervals for repetitive image acquisition in a dynamic can be solved.

본 발명의 엑스선 촬영 장치는, 동영상 X선 영상 촬영을 위한 Dynamic X선 검출장치일 수 있으며, 피폭 X선량을 감소시키면서도 영상 취득에 필요한 x선량을 확보할 수 있어 화질 저하를 최소화할 수 있다.The X-ray imaging device of the present invention can be a dynamic X-ray detection device for shooting moving X-ray images, and can secure the amount of

본 발명은, 동영상 X선 영상 촬영을 위한 Dynamic X선 검출장치에서 피폭선량을 1/2 수준으로 줄이면서도 화질 저하를 최소화 할 수 있다. The present invention can minimize image quality degradation while reducing the radiation exposure dose to 1/2 in a dynamic X-ray detection device for shooting moving X-ray images.

이를 위해, 본 발명은, 엑스선 검출기(230)에 포함된 검출기 패널에서 Readout scan 동작시 홀수 라인과 짝수라인을 분리하여 Frame 단위로 홀수라인 frame과 짝수 라인 frame을 교대로 readout할 수 있다.To this end, the present invention can separate odd lines and even lines during a readout scan operation in the detector panel included in the X-ray detector 230, and alternately read out odd line frames and even line frames on a frame basis.

이 때, 프로세서(870)는, Readout시 건너뛴 홀수 또는 짝수 라인에 축적된 전하량은 유지하고 있다가 해당 라인 read out시 합하여 readout할 수 있다.At this time, the processor 870 can maintain the amount of charge accumulated in the odd or even lines that were skipped during readout, and then combine them and read out when the corresponding line is read out.

프로세서(870)는, 이웃한 홀수 라인 Frame 또는 짝수라인 frame 또는 홀수/짝수 frame 모두를 이용한 재구성 알고리즘을 이용하여 최종 단층 영상을 생성(재생성, 복원)할 수 있다.The processor 870 may generate (regenerate, restore) the final tomographic image using a reconstruction algorithm using neighboring odd-line frames, even-line frames, or both odd/even frames.

이에 따라, 본 발명은 동영상 X선 영상 촬영을 위한 Dynamic X선 검출장치에서 피폭선량을 최소화하면서 고화질의 X선 영상취득이 가능하다.Accordingly, the present invention enables acquisition of high-quality X-ray images while minimizing radiation exposure in a dynamic X-ray detection device for shooting moving X-ray images.

또한, 본 발명은, 영상 취득을 위해 필요한 readout 동작시 Scan time을 짧게 할 수 있어 단위 시간당 취득 frame수를 증가시킬 수 있으며, 고속 영상 취득이 가능하다.In addition, the present invention can shorten the scan time during the readout operation required for image acquisition, thereby increasing the number of acquisition frames per unit time and enabling high-speed image acquisition.

도 12를 참조하면, 본 발명의 엑스선 검출기(230)는, Metrix 구조의 광 검출 소자 어레이를 가진 검출패널, 구동을 위한 Gate driver IC(1210) 및 Read out IC(1220)로 구성된 동영상 X-ray촬영이 가능한 dynamic X-ray 검출기를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 12, the X-ray detector 230 of the present invention is a moving It may include a dynamic X-ray detector capable of imaging.

여기서, 본 발명은, 검출 패널의 라인을 홀수라인과 짝수라인으로 구분하여 readout 동작 시 홀수라인만 혹은 짝수라인만 독립적으로 Readout 할 수 있다. 이에 대응되도록, 프로세서(870)는, 엑스선 소스에서 포함된 복수의 발광소자가 홀수라인 또는 짝수라인만 독립적으로 엑스선을 조사하도록 제어할 수 있다. Here, in the present invention, the lines of the detection panel are divided into odd lines and even lines, so that only the odd lines or the even lines can be independently readout during the readout operation. Corresponding to this, the processor 870 may control the plurality of light-emitting devices included in the X-ray source to independently radiate X-rays only to odd-numbered lines or even-numbered lines.

본 발명에 따르면, 홀수라인만 혹은 짝수라인만 readout 하므로 영상프레임 scan time을 1/2로 줄일 수 있어 고속 동영상 촬영이 가능하다.According to the present invention, only odd or even lines are read out, so the video frame scan time can be reduced to 1/2, making high-speed video shooting possible.

도 12를 참조하면, 매 홀수라인 readout과 짝수라인 readout 동작 사이에는 x-선 발생기에서 조사가 이루어지며 조사되는 x-선의 선량은 일반적인 조사 선량의 1/2 이하로 줄일 수 있다.Referring to Figure 12, irradiation is performed from the

프로세서(870)는, 홀수라인 영상 readout(t, t+2, t+4, t+6, ... 시간)과 짝수라인 영상 read out 동작(t+1, t+3, t+5, t+7, ...시간)을 교대로 수행할 수 있다.The processor 870 performs odd-line image readout (t, t+2, t+4, t+6, ... time) and even-line image readout operations (t+1, t+3, t+5, t+7, ...time) can be performed alternately.

프로세서(870)는, 홀수라인을 read out할 때는 gate driver IC의 홀수라인에서만 out enable 신호를 인가하고, 짝수라인을 read out 할 때는 gate driver ic의 짝수라인에서만 out enable신호를 인가할 수 있다.When reading out odd lines, the processor 870 applies the out enable signal only to the odd lines of the gate driver IC, and when reading out even lines, it can apply the out enable signal only to the even lines of the gate driver IC.

프로세서(870)는, X-선 조사 후 홀수라인을 read out할 때는 짝수라인의 광 검출 소자(cell) 의 축적 전하를 보존하고, 보존 짝수라인을 read out 할 때는 홀수라인의 광 검출 소자(cell)의 축적 전하를 보존한다.The processor 870 preserves the accumulated charge of the photodetection element (cell) of the even-numbered line when reading out the odd-numbered line after ) preserves the accumulated charge.

프로세서(870)는, 홀수 라인을 read out 할 때는 직전 조사 x-선(t 시간)에 의한 홀수라인의 축적 전하 및 보존된 이전 조사 x-선(t-1 시간)에 의한 홀수 라인의 축적 전하를 모두 읽어 낸다.When reading out an odd-numbered line, the processor 870 stores the accumulated charge of the odd-numbered line by the previous irradiation x-ray (time t) and the accumulated charge of the odd-numbered line by the preserved previous irradiation x-ray (time t-1). Read all.

또한, 프로세서(870)는, 짝수라인을 read out 할 때는 직전 조사 x-선에 의한 짝수라인의 축적 전하 및 이전 조사 x-선에 의한 짝수 라인의 축적 전하를 모두 읽어낸다. Additionally, when the processor 870 reads out the even number line, it reads out both the accumulated charge of the even line due to the previous irradiation x-ray and the accumulated charge of the even line due to the previous irradiation x-ray.

프로세서(870)는, Readout 에 의해 얻어진 이웃한 하나 이상의 홀수라인 영상 또는 짝수라인 영상 또는 홀수라인영상+짝수라인영상 등을 이용하여 전체영상을 재구성할 수 있다.The processor 870 can reconstruct the entire image using one or more neighboring odd line images, even line images, or odd line images + even line images obtained through readout.

또한, 도 12에 도시된 것과 같이, 프로세서(870)는, Readout frame 사이에 홀수라인 또는 짝수라인에 대한 flushing 동작을 수행 할 수 있다.Additionally, as shown in FIG. 12, the processor 870 can perform a flushing operation on odd-numbered lines or even-numbered lines between readout frames.

도 13에 도시된 것과 같이, 본 발명의 프로세서(870)는, 홀수라인 영상, 짝수라인 영상 또는 이들의 조합을 통해 최종 단층 영상을 생성할 수 있다.As shown in FIG. 13, the processor 870 of the present invention can generate a final tomographic image through an odd-line image, an even-line image, or a combination thereof.

한편, 본 발명의 엑스선 촬영 장치는, 다양한 제어방법을 통해 단층 영상을 촬영할 수 있다.Meanwhile, the X-ray imaging device of the present invention can capture tomographic images through various control methods.

예를 들어, 도 10에 도시된 것과 같이, 프로세서(870)는, 익정 시간 간격(T)의 절반(T/2)에 해당하는 시간 간격마다 제2 조사시간(r1)동안 엑스선을 조사하는 제3 모드로 엑스선 발생기를 제어할 수 있다.For example, as shown in FIG. 10, the processor 870 irradiates The X-ray generator can be controlled in 3 modes.

이 때, 도 10에 도시된 것과 같이, 제1 모드(기존 방식)과 제3 모드에서는 동일한 횟수만큼(예를 들어, 도 10의 경우 네 번) 엑스선이 조사될 수 있다.At this time, as shown in FIG. 10, X-rays may be irradiated the same number of times (for example, four times in FIG. 10) in the first mode (conventional method) and the third mode.

마찬가지로, 제3 모드에서도 조사시간을 줄이기 위해, 제1 조사시간동안에는 짝수 라인만을 촬영하고, 제2 조사시간동안에는 홀수 라인만을 촬영할 수 있다.Similarly, in order to reduce the irradiation time in the third mode, only even lines can be photographed during the first irradiation time, and only odd lines can be photographed during the second irradiation time.

짝수 라인과 홀수 라인을 교대로 순차적으로 촬영하는 것은 제2 모드 및 제3 모드에서 동일하다.Sequential shooting of even and odd lines alternately is the same in the second mode and the third mode.

한편, 도 10에 도시된 것과 같이, 제3 모드에서, 프로세서(870)는, 조사시간이 절반으로 줄어들며, 엑스선이 조사되는 주기도 절반(T/2)으로 줄일 수 있다.Meanwhile, as shown in FIG. 10, in the third mode, the processor 870 can reduce the irradiation time by half and the period during which X-rays are irradiated by half (T/2).

이는, 짝수 라인과 홀수 라인을 독립적으로 순차적으로 제어하기 ‹š문에 가능하다.This is possible because the even and odd lines are controlled independently and sequentially.

이후, 프로세서(870)는, 짝수 라인에 대응하는 제1 단층 영상과 홀수 라인에 대응하는 제2 단층 영상을 이용하여 최종 단층 영상을 생성(재생성, 복원)할 수 있다.Thereafter, the processor 870 may generate (recreate, restore) the final tomography image using the first tomography image corresponding to the even-numbered lines and the second tomography image corresponding to the odd-numbered lines.

이에 따라, 본 발명은, 단층 영상을 촬영하기 위한 시간을 절반 가까이 줄이면서도 피사체에 조사된 엑스선의 선량도 절반으로 줄일 수 있다.Accordingly, the present invention can reduce the time for taking a tomography image by nearly half while also reducing the dose of X-rays irradiated to the subject by half.

또 다른 실시 예로, 도 11에 도시된 것과 같이, 프로세서(870)는, 제3 모드에서(즉, 조사시간이 제1 모드의 절반(r1)이고, 조사 주기도 제1 모드의 절반(T/2)인 모드에서), 제1 모드의 조사 횟수보다 두 배 많은 횟수만큼 엑스선을 조사하도록 엑스선 발생기(210)를 제어할 수 있다.In another embodiment, as shown in FIG. 11, the processor 870 operates in the third mode (that is, the irradiation time is half of the first mode (r1), and the irradiation period is also half of the first mode (T/2). ) mode), the X-ray generator 210 may be controlled to irradiate X-rays twice as many times as the number of irradiation times in the first mode.

이 경우, 엑스선 검출기(230)에서는 제1 모드에서보다 두 배 많은 횟수로 엑스선을 검출할 수 있으며, 프로세서(870)는, 검출된 복수의 투영 데이터를 이용하여 단층 영상을 생성할 수 있다.In this case, the X-ray detector 230 can detect X-rays twice as many times as in the first mode, and the processor 870 can generate a tomographic image using a plurality of detected projection data.

이 경우, 피사체에 조사되는 엑스선의 총 선량은 기존 방식과 동일할 수 있으나, 조사시간이 기존 방식의 절반에 해당하므로, 조사시간마다 피사체에 가해지는 엑스선의 피크치가 낮아지는 효과가 있다.In this case, the total dose of X-rays applied to the subject may be the same as the existing method, but since the irradiation time is half that of the existing method, the peak value of the

또한, 촬영되는 단층 영상의 데이터가 많으므로, 기존 방식과 실질적으로 동일한 영상 퀄리티를 보장할 수 있다.In addition, since there is a lot of tomographic image data to be captured, substantially the same image quality as the existing method can be guaranteed.

전술한 본 발명은, 프로그램이 기록된 매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 매체는, 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 매체의 예로는, HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Disk), SDD(Silicon Disk Drive), ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광 데이터 저장 장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어, 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한, 상기 컴퓨터는 단말기의 제어부(180)를 포함할 수도 있다. 따라서, 상기의 상세한 설명은 모든 면에서 제한적으로 해석되어서는 아니되고 예시적인 것으로 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 첨부된 청구항의 합리적 해석에 의해 결정되어야 하고, 본 발명의 등가적 범위 내에서의 모든 변경은 본 발명의 범위에 포함된다.The present invention described above can be implemented as computer-readable code on a program-recorded medium. Computer-readable media includes all types of recording devices that store data that can be read by a computer system. Examples of computer-readable media include HDD (Hard Disk Drive), SSD (Solid State Disk), SDD (Silicon Disk Drive), ROM, RAM, CD-ROM, magnetic tape, floppy disk, optical data storage device, etc. This also includes those implemented in the form of carrier waves (e.g., transmission via the Internet). Additionally, the computer may include a terminal control unit 180. Accordingly, the above detailed description should not be construed as restrictive in all respects and should be considered illustrative. The scope of the present invention should be determined by reasonable interpretation of the appended claims, and all changes within the equivalent scope of the present invention are included in the scope of the present invention.

Claims (16)

엑스선을 조사하는 적어도 하나의 엑스선 소스를 포함하는 엑스선 발생기;
상기 엑스선 발생기에서 조사되는 엑스선을 검출하여 복수의 투영 데이터를 생성하는 엑스선 검출기; 및
제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제1 모드 및 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제2 모드 중 어느 하나의 모드로 상기 엑스선 발생기를 제어하고, 상기 엑스선 검출기를 통해 생성된 복수의 투영 데이터에 근거하여 단층 영상을 생성하는 프로세서를 포함하고,
상기 프로세서는,
상기 제1 모드 및 상기 제2 모드에서, 일정 시간 간격마다 엑스선을 조사하며,
상기 제1 모드에서는 상기 일정 시간 간격마다 상기 제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하여 복수의 투영 데이터를 획득하고,
상기 제2 모드에서는, 상기 일정 시간 간격마다 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하도록 복수의 투영 데이터를 획득하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치.
An X-ray generator including at least one X-ray source that irradiates X-rays;
an X-ray detector that detects X-rays emitted from the X-ray generator and generates a plurality of projection data; and
Controlling the It includes a processor that generates a tomographic image based on a plurality of projection data generated through
The processor,
In the first mode and the second mode, X-rays are irradiated at regular time intervals,
In the first mode, a plurality of projection data are obtained by irradiating X-rays at regular time intervals during the first irradiation time,
In the second mode, the X-ray imaging device is characterized in that it acquires a plurality of projection data to radiate X-rays at the predetermined time intervals for a second irradiation time that is half of the first irradiation time.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 엑스선 소스는, 엑스선을 출력하도록 형성된 복수의 발광소자를 포함하고,
상기 엑스선 소스는, 복수의 발광소자를 발광시키기 위한 복수의 게이트 라인을 포함하며,
상기 프로세서는,
상기 제2 모드에서, 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하기 위해, 제1 주기동안 복수의 게이트 라인 중 짝수 게이트 라인에 신호를 인가하고, 상기 제1 주기 다음 주기인 제2 주기동안 복수의 게이트 라인 중 홀수 게이트 라인에 신호를 인가하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치.
According to claim 1,
The X-ray source includes a plurality of light emitting elements configured to output X-rays,
The X-ray source includes a plurality of gate lines for emitting light from a plurality of light emitting devices,
The processor,
In the second mode, in order to irradiate X-rays for a second irradiation time that is half of the first irradiation time, a signal is applied to an even gate line among a plurality of gate lines during a first cycle, and a cycle following the first cycle is performed. An X-ray imaging device characterized in that a signal is applied to odd gate lines among a plurality of gate lines during the second period.
제 3 항에 있어서,
상기 프로세서는, 상기 제2 모드에서,
상기 제1 주기동안 상기 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여 제1 단층 영상을 획득하고,
상기 제2 주기동안 상기 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여 제2 단층 영상을 획득하며,
상기 제1 단층 영상 및 상기 제2 단층 영상을 이용하여 최종 단층 영상을 생성하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치.
According to claim 3,
The processor, in the second mode,
Obtaining a first tomographic image based on projection data obtained through the X-ray detector during the first period,
Obtaining a second tomography image based on projection data obtained through the X-ray detector during the second period,
An X-ray imaging device that generates a final tomography image using the first tomography image and the second tomography image.
제 3 항에 있어서,
상기 제2 모드에서 피사체에 조사되는 엑스선의 선량은, 상기 제1 모드에서 피사체에 조사되는 엑스선의 선량의 절반인 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치.
According to claim 3,
An X-ray imaging device, characterized in that the dose of X-rays irradiated to the subject in the second mode is half of the dose of X-rays irradiated to the subject in the first mode.
제 1 항에 있어서,
상기 프로세서는,
일정 시간 간격의 절반에 해당하는 시간 간격마다 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하는 제3 모드로 상기 엑스선 발생기를 제어하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치.
According to claim 1,
The processor,
An X-ray imaging device, characterized in that the X-ray generator is controlled in a third mode to irradiate X-rays for a second irradiation time at time intervals corresponding to half of a certain time interval.
제 6 항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제1 모드와 상기 제3 모드에서 동일한 횟수만큼 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치.
According to claim 6,
The processor,
An X-ray imaging device, characterized in that the X-ray generator is controlled to radiate X-rays the same number of times in the first mode and the third mode.
제 6 항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제3 모드에서 상기 제1 모드의 조사 횟수보다 두 배 많은 횟수만큼 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치.
According to claim 6,
The processor,
An X-ray imaging device, characterized in that the X-ray generator is controlled to irradiate X-rays in the third mode twice as many times as the number of irradiations in the first mode.
제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제1 모드 및 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간 동안 엑스선을 조사하는 제2 모드 중 어느 하나의 모드로 엑스선 발생기를 제어하는 단계; 및
엑스선 검출기를 통해 생성된 복수의 투영 데이터에 근거하여 단층 영상을 생성하는 단계를 포함하고,
상기 제어하는 단계는,
상기 제1 모드 및 상기 제2 모드에서, 일정 시간 간격마다 엑스선을 조사하며,
상기 제1 모드에서는 상기 일정 시간 간격마다 상기 제1 조사시간 동안 엑스선을 조사하여 복수의 투영 데이터를 획득하고,
상기 제2 모드에서는, 상기 일정 시간 간격마다 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하도록 복수의 투영 데이터를 획득하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치의 제어방법.
Controlling the X-ray generator in one of a first mode for irradiating X-rays for a first irradiation time and a second mode for irradiating X-rays for a second irradiation time that is half of the first irradiation time; and
Generating a tomographic image based on a plurality of projection data generated through an X-ray detector,
The controlling step is,
In the first mode and the second mode, X-rays are irradiated at regular time intervals,
In the first mode, a plurality of projection data are obtained by irradiating X-rays at regular time intervals during the first irradiation time,
In the second mode, a method of controlling an
삭제delete 제 9 항에 있어서,
상기 엑스선 발생기는 엑스선을 조사하는 적어도 하나의 엑스선 소스를 포함하며,
상기 엑스선 소스는, 엑스선을 출력하도록 형성된 복수의 발광소자를 포함하고,
상기 엑스선 소스는, 복수의 발광소자를 발광시키기 위한 복수의 게이트 라인을 포함하며,
상기 제어하는 단계는,
상기 제2 모드에서, 상기 제1 조사시간의 절반인 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하기 위해, 제1 주기동안 복수의 게이트 라인 중 짝수 게이트 라인에 신호를 인가하고, 상기 제1 주기 다음 주기인 제2 주기동안 복수의 게이트 라인 중 홀수 게이트 라인에 신호를 인가하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치의 제어방법.
According to clause 9,
The X-ray generator includes at least one X-ray source that irradiates X-rays,
The X-ray source includes a plurality of light emitting elements configured to output X-rays,
The X-ray source includes a plurality of gate lines for emitting light from a plurality of light emitting devices,
The controlling step is,
In the second mode, in order to irradiate X-rays for a second irradiation time that is half of the first irradiation time, a signal is applied to an even gate line among a plurality of gate lines during a first cycle, and a cycle following the first cycle is performed. A control method for an X-ray imaging device, characterized in that a signal is applied to odd gate lines among a plurality of gate lines during the second period.
제 11 항에 있어서,
상기 제어하는 단계는, 상기 제2 모드에서,
상기 제1 주기동안 상기 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여 제1 단층 영상을 획득하고,
상기 제2 주기동안 상기 엑스선 검출기를 통해 획득된 투영 데이터에 근거하여 제2 단층 영상을 획득하며,
상기 제1 단층 영상 및 상기 제2 단층 영상을 이용하여 최종 단층 영상을 생성하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치의 제어방법.
According to claim 11,
The controlling step includes, in the second mode,
Obtaining a first tomographic image based on projection data obtained through the X-ray detector during the first period,
Obtaining a second tomography image based on projection data obtained through the X-ray detector during the second period,
A control method for an X-ray imaging apparatus, characterized in that generating a final tomography image using the first tomography image and the second tomography image.
제 11 항에 있어서,
상기 제2 모드에서 피사체에 조사되는 엑스선의 선량은, 상기 제1 모드에서 피사체에 조사되는 엑스선의 선량의 절반인 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치의 제어방법.
According to claim 11,
A method of controlling an X-ray imaging device, characterized in that the dose of X-rays irradiated to the subject in the second mode is half of the dose of
제 9 항에 있어서,
일정 시간 간격의 절반에 해당하는 시간 간격마다 제2 조사시간동안 엑스선을 조사하는 제3 모드로 상기 엑스선 발생기를 제어하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치의 제어방법.
According to clause 9,
A method of controlling an
제 14 항에 있어서,
상기 제1 모드와 상기 제3 모드에서는, 동일한 횟수만큼 엑스선이 조사되는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치의 제어방법.
According to claim 14,
A control method of an X-ray imaging device, characterized in that in the first mode and the third mode, X-rays are irradiated the same number of times.
제 14 항에 있어서,
상기 제3 모드에서 상기 제1 모드의 조사 횟수보다 두 배 많은 횟수만큼 엑스선을 조사하도록 상기 엑스선 발생기를 제어하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 엑스선 촬영 장치의 제어방법.According to claim 14,
A method of controlling an