KR102594047B1 - Overhang inspection device for secondary battery and manufacturing system having the same - Google Patents
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Abstract
2차 전지용 오버행 검사장치가 개시된다. 본 발명에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치는, 음극과 양극이 분리막을 사이에 두고 교번적으로 교차되어 마련된 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛과, 적층체용 지그유닛에 클램핑된 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛과, 적층체용 지그유닛 각각에 연결되며 각각의 전극 적층체를 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛과, 적층체용 위치 가변유닛 각각에 연결되며 적층체용 위치 가변유닛을 제1축 방향 및 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛을 포함한다. An overhang inspection device for secondary batteries is disclosed. The overhang inspection device for secondary batteries according to the present invention includes a plurality of jig units for a laminate that clamp an electrode laminate in which a cathode and an anode are alternately crossed with a separator in between, and an electrode stack clamped to the jig unit for the laminate. A plurality of position variable units for the laminate are connected to each of an inspection imaging unit for imaging the body and a jig unit for the laminate and move each electrode stack relative to the inspection imaging unit, and each of the position variable units for the laminate is connected to each other. And includes a movement unit for the variable unit that moves the position variable unit for the laminate in at least one of the first axis direction and the second axis direction intersecting the first axis direction.
Description
본 발명은, 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 전극들이 분리막을 사이에 두고 교번적으로 스태킹되어 생성된 전극 적층체의 전극의 쇼트(단락) 여부를 검사할 수 있는 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to an overhang inspection device for secondary batteries and a secondary battery manufacturing system comprising the same. More specifically, the present invention relates to a short circuit ( It relates to an overhang inspection device for secondary batteries that can inspect whether a short circuit is present and a secondary battery manufacturing system equipped with the same.
일반적으로 2차 전지(secondary cell)는 화학적 에너지를 전기적 에너지로 변환시켜 외부의 회로에 전원을 공급하기도 하고, 방전되었을 때 외부의 전원을 공급받아 전기적 에너지를 화학적 에너지로 바꾸어 전기를 저장할 수 있는 전지를 가리킨다. 이러한 2차 전지를 통상적으로 축전기라 부르기도 한다.In general, a secondary cell converts chemical energy into electrical energy to supply power to an external circuit, and when discharged, it receives external power and converts electrical energy into chemical energy to store electricity. refers to These secondary batteries are also commonly called capacitors.
이러한 2차 전지는 전극 적층체의 구조에 따라 다양하게 분류될 수 있다. 예컨대, 2차 전지는 스택형 구조, 권취형 구조, 스택/폴딩형 구조 등으로 분류될 수 있다.These secondary batteries can be classified in various ways depending on the structure of the electrode stack. For example, secondary batteries can be classified into a stacked structure, a wound structure, a stacked/folded structure, etc.
다양한 분류 중에서 스택형 구조는 전극, 즉 양극과 음극을 소정의 크기로 절단한 다음, 도 1(a)에 도시된 바와 같이 양극(E1)과 음극(E2)의 사이에 분리막(P)을 두고 양극(E1)과 음극(E2)을 교번적으로 적층하여 전극 적층체(M)를 형성한 것을 가리킨다. 이러한 스태킹 공정은, 2차 전지용 스태킹 장치에서 수행된다. 이러한 전극 적층체(M)에서 양극(E1)이 옆으로 돌출될 수 있는데, 이렇게 옆쪽으로 돌출된 부위를 소위 오버행(overhang) 부위라 한다. Among various classifications, the stacked structure consists of cutting the electrodes, that is, the anode and the cathode, to a predetermined size, and then placing a separator (P) between the anode (E1) and the cathode (E2) as shown in FIG. 1(a). It refers to forming an electrode laminate (M) by alternately stacking an anode (E1) and a cathode (E2). This stacking process is performed in a stacking device for secondary batteries. In this electrode stack M, the anode E1 may protrude to the side, and the area protruding to the side is called a so-called overhang area.
한편, 스태킹 공정 중 도 1(b)에 도시된 바와 같이 전극 적층체(M)에 적층된 전극(E1, E2) 중 일부가 다른 것들에 비하여 과도하게(기준값을 벗어나게) 옆으로 돌출되어 적층되는 불량이 발생될 수 있다. 즉, 일부 전극(E1, E2)의 말단부가 다른 전극(E1, E2)들에 비하여 과도하게(기준값을 벗어나게) 옆쪽으로 돌출되는 경우, 돌출된 전극(E1, E2)들의 오버행 부위가 서로 접촉되어 쇼트(단락)가 발생될 수 있는데, 이렇게 전극(E1, E2)의 쇼트(단락)가 발생된 2차 전지는 사용이 불가능하다.Meanwhile, during the stacking process, as shown in FIG. 1(b), some of the electrodes E1 and E2 stacked on the electrode stack M protrude excessively to the side (out of the standard value) compared to the others. Defects may occur. That is, when the distal ends of some of the electrodes E1 and E2 protrude to the side excessively (outside the standard value) compared to the other electrodes E1 and E2, the overhang portions of the protruding electrodes E1 and E2 come into contact with each other. A short circuit may occur, and a secondary battery in which the electrodes E1 and E2 have a short circuit cannot be used.
상술한 전극(E1, E2)의 과도하게(기준값을 벗어나게) 돌출된 오버행 부위는 주로 적층 불량에 의해 발생되는데, 인라인으로 이루어지는 2차 전지 제조 공정의 특성 상 이러한 불량을 빠르게 인식하지 못하면 라인에서 생산된 생산품 전체에 불량이 발생될 수 있다.The excessively protruding overhangs (outside the standard value) of the electrodes (E1, E2) mentioned above are mainly caused by lamination defects. Due to the nature of the in-line secondary battery manufacturing process, if these defects are not quickly recognized, they may be produced in line. Defects may occur in all manufactured products.
이러한 오버행 부위를 검사하기 위해 산업용 CT 검사장비가 사용되고 있는데, 종래의 산업용 CT 검사장비는 하나의 한 번에 하나의 셀만을 검사할 수 있어 검사시간이 오래 걸리는 문제점이 있다. Industrial CT inspection equipment is used to inspect such overhang areas, but conventional industrial CT inspection equipment can only inspect one cell at a time, which has the problem of taking a long time.
또한, 종래의 산업용 CT 검사장비는 인라인으로 검사를 진행하기 어려워 검사시간이 오래 걸리는 문제점이 있다.In addition, conventional industrial CT inspection equipment has the problem of taking a long time because it is difficult to perform the inspection in-line.
따라서 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 인라인으로 이루어지는 2차 전지의 제조과정 중 오버행의 검사를 위해 다수 개의 전극 적층체를 한 번에 검사할 수 있으며 검사가 인라인으로 이루어져 검사시간을 단축시킬 수 있는 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템을 제공하는 것이다.Therefore, the technical problem to be achieved by the present invention is to be able to inspect multiple electrode stacks at once to inspect overhangs during the manufacturing process of a secondary battery performed in-line, and to shorten the inspection time by performing the inspection in-line. The object is to provide an overhang inspection device for secondary batteries and a secondary battery manufacturing system equipped with the same.
본 발명의 일 측면에 따르면, 음극과 양극이 분리막을 사이에 두고 교번적으로 교차되어 마련된 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛; 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛; 상기 적층체용 지그유닛 각각에 연결되며, 각각의 상기 전극 적층체를 상기 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛; 및 상기 적층체용 위치 가변유닛 각각에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 제1축 방향 및 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛을 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치가 제공될 수 있다.According to one aspect of the present invention, a plurality of jig units for a plurality of laminates clamping an electrode laminate in which a cathode and an anode are alternately crossed with a separator in between; An inspection imaging unit that captures an image of the electrode laminate clamped to the laminate jig unit; a plurality of position variable units for the laminate connected to each of the jig units for the laminate and moving each of the electrode laminates relative to the inspection imaging unit; and a moving unit for the variable unit, which is connected to each of the position variable units for the laminate and moves the position variable unit for the laminate in at least one direction among a first axis direction and a second axis direction intersecting the first axis direction. An overhang inspection device for secondary batteries including a may be provided.
상기 가변유닛용 이동유닛은, 상기 적층체용 위치 가변유닛에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 상기 제2축 방향으로 이동시키는 제1 가변유닛용 이동부; 및 상기 적층체용 위치 가변유닛에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 상기 제2축 방향으로 이동시키는 제2 가변유닛용 이동부를 포함할 수 있다.The moving unit for the variable unit is connected to the position variable unit for the laminate, and includes a first variable unit moving unit that moves the position variable unit for the laminate in the second axis direction; And it is connected to the position variable unit for the laminate, and may include a moving part for a second variable unit that moves the position variable unit for the laminate in the second axis direction.
상기 복수의 적층체용 위치 가변유닛은, 제1축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛; 및 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛을 포함할 수 있다.The plurality of position variable units for a laminate include a pair of first position variable units for a laminate positioned to be spaced apart from each other in a first axis direction and disposed to face each other; And it may include a pair of second position variable units for a second stack positioned to be spaced apart from each other in a second axis direction intersecting the first axis direction and disposed to face each other.
상기 제1 적층체용 위치 가변유닛은, 상기 적층체용 지그유닛이 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부; 상기 제1 틸팅부가 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부; 및 상기 제1 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제1 업/다운부를 포함할 수 있다.The first position variable unit for the laminate is rotatably coupled to the jig unit for the laminate with the second axis direction as the rotation axis, and rotates the jig unit for the laminate with the second axis direction as the rotation axis. first tilting unit; The first tilting part is rotatably coupled with the first axis direction as the rotation axis, and a first rotation part that rotates the laminate jig unit with the first axis direction as the rotation axis; And it may include a first up/down part connected to the first rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 제2 적층체용 위치 가변유닛은, 상기 적층체용 지그유닛이 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부; 상기 제2 틸팅부가 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부; 및 상기 제2 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제2 업/다운부를 포함할 수 있다.The second position variable unit for the laminate is rotatably coupled to the jig unit for the laminate with the first axis direction as the rotation axis, and rotates the jig unit for the laminate with the first axis direction as the rotation axis. second tilting unit; The second tilting part is rotatably coupled with the second axis direction as the rotation axis, and the second rotation part rotates the laminate jig unit with the second axis direction as the rotation axis; and a second up/down part connected to the second rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 검사용 촬상유닛은, 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 향해 방사선을 방출하는 방사선 방출부; 및 상기 방사선 방출부에 대해 이격되어 배치되며, 상기 방사선 방출부에서 방출된 상기 방사선을 검출하는 방사선 검출부를 포함할 수 있다.The inspection imaging unit includes a radiation emitting unit that emits radiation toward the electrode stack clamped on the stack jig unit; and a radiation detection unit disposed to be spaced apart from the radiation emitting unit and detecting the radiation emitted from the radiation emitting unit.
상기 방사선 방출부는 상기 적층체용 지그유닛의 상부 영역에 위치되며, 상기 방사선 검출부는 상기 적층체용 지그유닛의 하부 영역에 위치될 수 있다.The radiation emitting unit may be located in an upper area of the jig unit for a laminate, and the radiation detecting unit may be located in a lower area of the jig unit for a laminate.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 음극과 양극을 분리막을 사이에 두고 교번적으로 교차시켜 전극 적층체를 생성하는 2차 전지용 교차장치; 및 상기 2차 전지용 교차장치에서 생성된 상기 전극 적층체를 전달받으며, 상기 전극 적층체를 촬상하는 2차 전지용 오버행 검사장치를 포함하며, 상기 2차 전지용 오버행 검사장치는, 상기 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛; 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛; 상기 적층체용 지그유닛 각각에 연결되며, 상기 전극 적층체를 상기 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛; 및 상기 적층체용 위치 가변유닛 각각에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 제1축 방향 및 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛을 포함하는 2차 전지 제조 시스템이 제공될 수 있다.According to another aspect of the present invention, a crossing device for a secondary battery that generates an electrode stack by alternately crossing a cathode and an anode with a separator in between; And an overhang inspection device for secondary batteries that receives the electrode stack generated by the crossover device for secondary batteries and takes images of the electrode stack, wherein the overhang inspection device for secondary batteries clamps the electrode stack. A jig unit for a plurality of laminates; An inspection imaging unit that captures an image of the electrode laminate clamped to the laminate jig unit; a plurality of position variable units for the laminate connected to each of the jig units for the laminate and moving the electrode laminate relative to the inspection imaging unit; and a moving unit for the variable unit, which is connected to each of the position variable units for the laminate and moves the position variable unit for the laminate in at least one direction among a first axis direction and a second axis direction intersecting the first axis direction. A secondary battery manufacturing system including a may be provided.
상기 가변유닛용 이동유닛은, 상기 적층체용 위치 가변유닛에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 상기 제2축 방향으로 이동시키는 제1 가변유닛용 이동유닛; 및 상기 적층체용 위치 가변유닛에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 상기 제1축 방향으로 이동시키는 제2 가변유닛용 이동유닛을 포함할 수 있다.The moving unit for the variable unit is connected to the position variable unit for the stack, and moves the position variable unit for the stack in the second axis direction; And it is connected to the position variable unit for the laminate, and may include a moving unit for a second variable unit that moves the position variable unit for the laminate in the first axis direction.
상기 복수의 적층체용 위치 가변유닛은, 제1축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛; 및 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛을 포함할 수 있다.The plurality of position variable units for a laminate include a pair of first position variable units for a laminate positioned to be spaced apart from each other in a first axis direction and disposed to face each other; And it may include a pair of second position variable units for a second stack positioned to be spaced apart from each other in a second axis direction intersecting the first axis direction and disposed to face each other.
상기 제1 적층체용 위치 가변유닛은, 상기 적층체용 지그유닛이 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부; 상기 제1 틸팅부가 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부; 및 상기 제1 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제1 업/다운부를 포함할 수 있다.The first position variable unit for the laminate is rotatably coupled to the jig unit for the laminate with the second axis direction as the rotation axis, and rotates the jig unit for the laminate with the second axis direction as the rotation axis. first tilting unit; The first tilting part is rotatably coupled with the first axis direction as the rotation axis, and a first rotation part that rotates the laminate jig unit with the first axis direction as the rotation axis; And it may include a first up/down part connected to the first rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 제2 적층체용 위치 가변유닛은, 상기 적층체용 지그유닛이 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부; 상기 제2 틸팅부가 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부; 및 상기 제2 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제2 업/다운부를 포함할 수 있다.The second position variable unit for the laminate is rotatably coupled to the jig unit for the laminate with the first axis direction as the rotation axis, and rotates the jig unit for the laminate with the first axis direction as the rotation axis. second tilting unit; The second tilting part is rotatably coupled with the second axis direction as the rotation axis, and the second rotation part rotates the laminate jig unit with the second axis direction as the rotation axis; and a second up/down part connected to the second rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 검사용 촬상유닛은, 상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 향해 방사선을 방출하는 방사선 방출부; 및 상기 방사선 방출부에 대해 이격되어 배치되며, 상기 방사선 방출부에서 방출된 상기 방사선을 검출하는 방사선 검출부를 포함하며, 상기 방사선 방출부는 상기 적층체용 지그유닛의 상부 영역에 위치되며, 상기 방사선 검출부는 상기 적층체용 지그유닛의 하부 영역에 위치될 수 있다.The inspection imaging unit includes a radiation emitting unit that emits radiation toward the electrode stack clamped on the stack jig unit; and a radiation detection unit disposed to be spaced apart from the radiation emitting unit and detecting the radiation emitted from the radiation emitting unit, wherein the radiation emitting unit is located in an upper area of the jig unit for the laminate, and the radiation detection unit. It may be located in the lower area of the jig unit for the laminate.
상기 2차 전지용 교차장치로부터 공급받은 상기 전극 적층체를 상기 2차 전지용 오버행 검사장치로 전달하고, 검사완료된 상기 전극 적층체를 상기 2차 전지용 오버행 검사장치로부터 전달받는 전극 인입인출장치를 더 포함할 수 있다.It may further include an electrode pull-out device that delivers the electrode stack supplied from the crossover device for secondary batteries to the overhang inspection device for secondary batteries and receives the inspected electrode stack from the overhang inspection device for secondary batteries. You can.
상기 전극 인입인출장치는, 검사가 필요한 상기 전극 적층체를 상기 2차 전지용 오버행 검사장치로 전달하는 제1 전극 전달부; 상기 2차 전지용 오버행 검사장치에서 검사가 완료된 상기 전극 적층체를 전달받는 제2 전극 전달부; 및 상기 제1 전극 전달부와 상기 제2 전극 전달부의 사이에 배치되며, 상기 전극 적층체를 이송하는 인입인출용 이송부를 포함할 수 있다.The electrode retraction and retrieval device includes a first electrode delivery unit that transfers the electrode stack that needs to be inspected to the overhang inspection device for a secondary battery; a second electrode delivery unit that receives the electrode stack that has been inspected in the overhang inspection device for secondary batteries; and a transfer unit disposed between the first electrode transfer unit and the second electrode transfer unit and transporting the electrode stack.
본 발명에 따르면, 각각의 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛 각각에 연결되어 각각의 전극 적층체를 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛과 적층체용 위치 가변유닛을 제1축 방향 및 제2축 방향 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛을 구비함으로써, 다수 개의 전극 적층체를 한 번에 검사할 수 있고 인라인으로 검사를 수행할 수 있어 검사시간을 단축시킬 수 있다, According to the present invention, a plurality of position variable units for the laminate are connected to each of a plurality of jig units for the laminate clamping each electrode laminate to move each electrode laminate relative to the inspection imaging unit, and a plurality of position variable units for the laminate By providing a moving unit for the variable unit that moves the unit in at least one of the first axis direction and the second axis direction, multiple electrode stacks can be inspected at once and inspection can be performed in-line. Inspection time can be shortened,
도 1은 2차 전지의 전극이 적층된 상태가 도시된 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템이 도시된 도면이다.
도 3은 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 상부에서 바라본 도면이다.
도 4는 도 3의 'A'부분의 확대도이다.
도 5는 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 정면에서 바라본 도면이다.
도 6은 도 3의 제1 적층체용 위치 가변유닛이 도시된 도면이다.
도 7은 도 3의 제2 적층체용 위치 가변유닛이 도시된 도면이다.
도 8은 도 5를 X-Y평면으로 자른 단면이 도시된 도면이다.
도 9는 도 5의 적층체용 지그유닛이 도시된 도면이다.
도 10은 도 8의 평면도이다.
도 11은 도 8의 측면도이다.Figure 1 is a diagram showing a state in which electrodes of a secondary battery are stacked.
Figure 2 is a diagram illustrating a secondary battery manufacturing system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a view of the interior of the overhang inspection device for secondary batteries of FIG. 2 viewed from above.
Figure 4 is an enlarged view of portion 'A' of Figure 3.
FIG. 5 is a view of the inside of the overhang inspection device for secondary batteries of FIG. 2 viewed from the front.
FIG. 6 is a diagram illustrating the position variable unit for the first laminate of FIG. 3.
FIG. 7 is a diagram illustrating the position variable unit for the second laminate of FIG. 3.
FIG. 8 is a cross-sectional view of FIG. 5 cut along the XY plane.
Figure 9 is a diagram showing the jig unit for the laminate of Figure 5.
Figure 10 is a plan view of Figure 8.
Figure 11 is a side view of Figure 8.
본 발명과 본 발명의 동작상의 이점 및 본 발명의 실시에 의하여 달성되는 목적을 충분히 이해하기 위해서는 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 첨부 도면 및 첨부 도면에 기재된 내용을 참조하여야만 한다.In order to fully understand the present invention, its operational advantages, and the objectives achieved by practicing the present invention, reference should be made to the accompanying drawings illustrating preferred embodiments of the present invention and the contents described in the accompanying drawings.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써, 본 발명을 상세히 설명한다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서 이미 공지된 기능 혹은 구성에 대한 설명은, 본 발명의 요지를 명료하게 하기 위하여 생략하기로 한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail by explaining preferred embodiments of the present invention with reference to the accompanying drawings. However, in explaining the present invention, descriptions of already known functions or configurations will be omitted to make the gist of the present invention clear.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템이 도시된 도면이고, 도 3은 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 상부에서 바라본 도면이며, 도 4는 도 3의 'A'부분의 확대도이고, 도 5는 도 2의 2차 전지용 오버행 검사장치의 내부를 정면에서 바라본 도면이며, 도 6은 도 3의 제1 적층체용 위치 가변유닛이 도시된 도면이고, 도 7은 도 3의 제2 적층체용 위치 가변유닛이 도시된 도면이며, 도 8은 도 5를 X-Y평면으로 자른 단면이 도시된 도면이고, 도 9는 도 5의 적층체용 지그유닛이 도시된 도면이며, 도 10은 도 8의 평면도이고, 도 11은 도 8의 측면도이다.FIG. 2 is a diagram showing a secondary battery manufacturing system according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a diagram showing the inside of the overhang inspection device for secondary batteries of FIG. 2 viewed from above, and FIG. 4 is a diagram showing the It is an enlarged view of part A', Figure 5 is a view looking from the front inside the overhang inspection device for secondary batteries of Figure 2, Figure 6 is a diagram showing the position variable unit for the first laminate of Figure 3, and Figure 7 is a drawing showing the second position variable unit for the laminate of FIG. 3, FIG. 8 is a drawing showing a cross-section of FIG. 5 cut in the X-Y plane, and FIG. 9 is a drawing showing the jig unit for the laminate of FIG. 5, Figure 10 is a top view of Figure 8, and Figure 11 is a side view of Figure 8.
본 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템은, 도 2 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 2차 전지용 교차장치(SC)와, 검사용 이송장치(200)와, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)와, 외부면 검사장치(SD)와, TAB(Tape Automated Bonding)장치와, 전달용 이송장치(SF)와, 전극 인입인출장치(300), 제어유닛(미도시)을 포함한다. As shown in FIGS. 2 to 10, the secondary battery manufacturing system according to this embodiment includes a crossing device (SC) for secondary batteries, a
2차 전지용 교차장치(SC)는 음극(미도시)과 양극(미도시)을 분리막(미도시)을 사이에 두고 교번적으로 교차시켜 전극 적층체를 생성한다.The crossing device (SC) for secondary batteries creates an electrode stack by alternately crossing a cathode (not shown) and an anode (not shown) with a separator (not shown) in between.
이러한 2차 전지용 교차장치는 장치 본체(미도시), 양극(미도시)을 공급하는 양극 공급부(미도시), 음극(미도시)을 공급하는 공급부(미도시), 분리막(미도시)을 공급하는 공급부(미도시) 및 이동식 교차 유닛(미도시)을 포함한다.This crossover device for secondary batteries supplies a device body (not shown), an anode supply unit (not shown) that supplies the anode (not shown), a supply unit (not shown) that supplies the cathode (not shown), and a separator (not shown). It includes a supply unit (not shown) and a movable crossing unit (not shown).
이동식 교차 유닛(미도시)은 양극(미도시), 음극(미도시) 및 분리막(미도시)이 교차되는 장소를 형성하는데, 이러한 이동식 교차 유닛(미도시)은 양극 공급부(미도시)와 음극 공급부(미도시) 사이를 이동하면서 교차 작업을 수행한다.The movable crossing unit (not shown) forms a place where the anode (not shown), the cathode (not shown), and the separator (not shown) intersect. This movable crossing unit (not shown) is connected to the anode supply (not shown) and the cathode. Cross operations are performed while moving between supply units (not shown).
검사용 이송장치(200)는 2차 전지용 교차장치(SC)에서 생성된 전극 적층체를 이송한다. 이러한 검사용 이송장치(200)는 2차 전지용 교차장치(SC)와 2차 전지용 오버행 검사장치(100)에 연결되어 전극 적층체를 2차 전지용 오버행 검사장치(100)로 전달한다.The
또한, 검사용 이송장치(200)는 전달용 이송장치(SF)에 연결되어 오버행 검사가 완료된 전극 적층체를 전달용 이송장치(SF)를 전달한다.In addition, the
이러한 검사용 이송장치(200)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)의 후술할 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상될 전극 적층체를 이송하는 공급용 이송부(210)와, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)에 이웃하게 배치되며 검사용 촬상유닛(120)에 의해 촬상된 전극 적층체를 이송하는 배출용 이송부(220)를 포함한다. As shown in FIG. 2, this
공급용 이송부(210)는, 전극 적층체를 지지하며 회전에 의해 전극 적층체를 이송시키는 다수개의 공급용 컨베이어 롤러(미도시)와, 공급용 컨베이어 롤러(미도시)가 회전 가능하게 결합되는 공급용 롤러 프레임(미도시)을 포함한다. The
배출용 이송부(220)는, 전극 적층체를 지지하며 회전에 의해 전극 적층체를 이송시키는 다수개의 배출용 컨베이어 롤러(미도시)와, 배출용 컨베이어 롤러(미도시)가 회전 가능하게 결합되는 배출용 롤러 프레임(미도시)을 포함한다. The
한편, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 2차 전지용 교차장치(SC)에서 제작된 전극 적층체를 전달받는다. 이러한 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 전극 적층체를 촬상한다. Meanwhile, the
본 실시예의 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 전달받은 전극 적층체를 촬상하여 일부 전극(미도시)의 말단부가 다른 전극(미도시)들에 비하여 옆쪽으로 돌출되는 오버행(overhang) 부위를 검사한다. The
이러한 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는, 도 3 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛(110)과, 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛(120)과, 적층체용 지그유닛(110) 각각에 연결되며 각각의 전극 적층체를 검사용 촬상유닛(120)에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)과, 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b) 각각에 연결되며 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)을 제1축 방향(X) 및 제1축 방향(X)에 교차하는 제2축 방향(Y) 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)과, 전극 인입인출장치(300)로부터 검사가 필요한 전극 적층체를 전달받으며 전극 인입인출장치(300)로 검사가 완료한 전극 적층체를 전달하는 인입인출용 이송 허브부(150)와, 적층체용 지그유닛(110)과 검사용 촬상유닛(120)과 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)과 인입인출용 이송 허브부(150) 및 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)이 내부에 배치되며 방사선을 차폐하는 방사선 차폐벽(180)을 포함한다.As shown in FIGS. 3 to 10, the
복수의 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b) 각각은 각각의 적층체용 지그유닛(110)에 연결된다. 이러한 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)은 전극 적층체를 검사용 촬상유닛(120)에 대해 상대이동 시킨다. Each of the plurality of position
복수의 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)은, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 제1축 방향(X)으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)과, 제1축 방향(X)에 교차하는 제2축 방향(Y)으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)을 포함한다. As shown in FIGS. 3 to 7, the plurality of position
한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)과 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)은 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이 검사용 촬상유닛(120)을 중심으로 하여 방사상으로 상호 이격되어 배치된다. A pair of the first position
한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)은 제1축 방향(X)으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치된다. The pair of first position
본 실시예에 따른 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)은, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 적층체용 지그유닛(110)이 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며 적층체용 지그유닛(110)을 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부(131a)와, 제1 틸팅부(131a)가 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부(132a)와, 제1 회전부(132a)에 연결되며 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)과 제2축 방향(Y)에 교차하는 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제1 업/다운부(135a)를 포함한다.As shown in FIGS. 3 to 7, the first position
제1 틸팅부(131a)에는 적층체용 지그유닛(110)이 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합된다. 제1 틸팅부(131a)는 적층체용 지그유닛(110)을 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. The
이러한 제1 틸팅부(131a)는, 적층체용 지그유닛(110)이 결합되는 틸팅 블록부(미도시)와, 틸팅 블록부(미도시)가 회전 가능하게 연결되며 틸팅 블록부(미도시)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 틸팅 구동부(미도시)를 포함한다. This
틸팅 블록부(미도시)는 플레이트 형상으로 마련되며 틸팅 블록부(미도시)의 측벽에는 적층체용 지그유닛(110)이 결합된다. The tilting block unit (not shown) is provided in a plate shape, and a
틸팅 구동부(미도시)에는 틸팅 블록부(미도시)가 회전 가능하게 연결된다. 이러한 틸팅 구동부(미도시)는 틸팅 블록부(미도시)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. 이러한 틸팅 구동부(미도시)에는 틸팅 블록부(미도시)에 연결되어 틸팅 블록부(미도시)를 회전시키는 틸팅용 구동모터(미도시)가 장착된다.A tilting block unit (not shown) is rotatably connected to the tilting drive unit (not shown). This tilting driving unit (not shown) rotates the tilting block unit (not shown) with the second axis direction (Y) as the rotation axis. This tilting drive unit (not shown) is connected to the tilting block unit (not shown) and is equipped with a tilting drive motor (not shown) that rotates the tilting block unit (not shown).
제1 회전부(132a)에는 제1 틸팅부(131a)가 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합된다. 이러한 제1 회전부(132a)는 제1 틸팅부(131a)를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시켜 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. The
이러한 제1 회전부(132a)는, 제1 틸팅부(131a)가 결합되는 제1 회전 블록부(133a)와, 제1 회전 블록부(133a)가 회전 가능하게 연결되며 제1 회전 블록부(133a)를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전 구동부(134a)를 포함한다. This
제1 회전 블록부(133a)는 플레이트 형상으로 마련되며 제1 회전 블록부(133a)의 일면에는 제1 틸팅부(131a)가 결합된다. The first
제1 회전 구동부(134a)에는 제1 회전 블록부(133a)가 회전 가능하게 연결된다. 이러한 제1 회전 구동부(134a)는 제1 회전 블록부(133a)를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. 이러한 제1 회전 구동부(134a)에는 제1 회전 블록부(133a)에 연결되어 제1 회전 블록부(133a)를 회전시키는 회전용 구동모터(미도시)가 장착된다.The first
제1 업/다운부(135a)는 제1 회전부(132a)에 연결된다. 이러한 제1 업/다운부(135a)는 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)과 제2축 방향(Y)에 교차하는 제3축 방향(Z)으로 이동시킨다. The first up/down
제1 업/다운부(135a)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 제1 회전부(132a)가 결합된 제1 승강블록(136a)과, 제1 승강블록(136a)에 연결되어 제1 승강블록(136a)의 이동을 안내하는 제1 승강 가이드부(미도시)와, 제1 승강블록(136a)에 연결되어 제1 승강블록(136a)을 이동시키는 제1 승강구동부(137a)를 포함한다. 본 실시예에서 제1 승강구동부(137a)는 볼스크류방식의 리니어모터로 이루어질 수 있다.As shown in FIG. 6, the first up/down
이와 같이 본 실시예에 따른 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)은, 전극 적층체를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제1 업/다운부(135a)와, 전극 적층체를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부(131a)와, 전극 적층체를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부(132a)를 구비함으로써, 검사용 촬상유닛(120)에 대해 전극 적층체를 다양한 위치 및 각도로 이동시킬 수 있다. In this way, the position
한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)은 제2축 방향(Y)으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치된다. The pair of second position
본 실시예에 따른 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)은, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 적층체용 지그유닛(110)이 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부(131b)와, 제2 틸팅부(131b)가 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며 적층체용 지그유닛(110)을 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부(132b)와, 제2 회전부(132b)에 연결되며 적층체용 지그유닛(110)을 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제2 업/다운부(135b)를 포함한다.As shown in FIGS. 3 to 7, the second position
제2 틸팅부(131b)에는 적층체용 지그유닛(110)이 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합된다. 제2 틸팅부(131b)는 적층체용 지그유닛(110)을 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. The
이러한 제2 틸팅부(131b)는, 적층체용 지그유닛(110)이 결합되는 틸팅 블록부(미도시)와, 틸팅 블록부(미도시)가 회전 가능하게 연결되며 틸팅 블록부(미도시)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 틸팅 구동부(미도시)를 포함한다. This
틸팅 블록부(미도시)는 플레이트 형상으로 마련되며 틸팅 블록부(미도시)의 측벽에는 적층체용 지그유닛(110)이 결합된다. The tilting block unit (not shown) is provided in a plate shape, and a
틸팅 구동부(미도시)에는 틸팅 블록부(미도시)가 회전 가능하게 연결된다. 이러한 틸팅 구동부(미도시)는 틸팅 블록부(미도시)를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. 이러한 틸팅 구동부(미도시)에는 틸팅 블록부(미도시)에 연결되어 틸팅 블록부(미도시)를 회전시키는 틸팅용 구동모터(미도시)가 장착된다.A tilting block unit (not shown) is rotatably connected to the tilting drive unit (not shown). This tilting driving unit (not shown) rotates the tilting block unit (not shown) with the first axis direction (X) as the rotation axis. This tilting drive unit (not shown) is connected to the tilting block unit (not shown) and is equipped with a tilting drive motor (not shown) that rotates the tilting block unit (not shown).
제2 회전부(132b)에는 제2 틸팅부(131b)가 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합된다. 이러한 제2 회전부(132b)는 제2 틸팅부(131b)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시켜 적층체용 지그유닛(110)을 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. The
이러한 제2 회전부(132b)는, 제2 틸팅부(131b)가 결합되는 제2 회전 블록부(133b)와, 제2 회전 블록부(133b)가 회전 가능하게 연결되며 제2 회전 블록부(133b)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전 구동부(134b)를 포함한다. This
제2 회전 블록부(133b)는 플레이트 형상으로 마련되며 제2 회전 블록부(133b)의 일면에는 제2 틸팅부(131b)가 결합된다. The second
제2 회전 구동부(134b)에는 제2 회전 블록부(133b)가 회전 가능하게 연결된다. 이러한 제2 회전 구동부(134b)는 제2 회전 블록부(133b)를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시킨다. 이러한 제2 회전 구동부(134b)에는 제2 회전 블록부(133b)에 연결되어 제2 회전 블록부(133b)를 회전시키는 회전용 구동모터(미도시)가 장착된다.The second
제2 업/다운부(135b)는 제1 회전부(132a)에 연결된다. 이러한 제2 업/다운부(135b)는 적층체용 지그유닛(110)을 제3축 방향(Z)으로 이동시킨다. The second up/down
제2 업/다운부(135b)는, 도 7에 도시된 바와 같이, 제2 회전부(132b)가 결합된 제2 승강블록(136b)과, 제2 승강블록(136b)에 연결되어 제2 승강블록(136b)의 이동을 안내하는 제2 승강 가이드부(미도시)와, 제2 승강블록(136b)에 연결되어 제2 승강블록(136b)을 이동시키는 제2 승강구동부(137b)를 포함한다. 본 실시예에서 제2 승강구동부(137b)는 볼스크류방식의 리니어모터로 이루어질 수 있다.As shown in FIG. 7, the second up/down
이와 같이 본 실시예에 따른 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)은, 전극 적층체를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제2 업/다운부(135b)와, 전극 적층체를 제1축 방향(X)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부(131b)와, 전극 적층체를 제2축 방향(Y)을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부(132b)를 구비함으로써, 검사용 촬상유닛(120)에 대해 전극 적층체를 다양한 위치 및 각도로 이동시킬 수 있다.In this way, the second position
한편, 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)은 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b) 각각에 연결된다. 이러한 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)은 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)을 제1축 방향(X) 및 제2축 방향(Y)으로 이동시킨다. Meanwhile, the variable
본 실시예에 따른 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)은, 도 3 내지 도 7에 도시된 바와 같이, 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)에 연결되며 적층체용 위치 가변유닛(130a)을 제2축 방향(Y)으로 이동시키는 제1 가변유닛용 이동부(140a)와, 적층체용 위치 가변유닛(130b)에 연결되며 적층체용 위치 가변유닛(130b)을 제2축 방향(Y)으로 이동시키는 제2 가변유닛용 이동부(140b)를 포함한다. As shown in FIGS. 3 to 7, the variable
제1 가변유닛용 이동부(140a)는, 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)의 하부영역에 배치되며, 제1 업/다운부(135a)에 연결되어 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)을 지지한다. 이러한 제1 가변유닛용 이동부(140a)는 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)을 제2축 방향(Y)으로 이동시킨다. 본 실시예에서 제1 가변유닛용 이동부(140a)는 정역회전이 가능한 컨베이어벨트 또는 리니어모터로 이루어질 수 있다. The first variable
이와 같이 본 실시예에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는, 전극 적층체를 제2축 방향(Y)으로 이동시키는 제1 가변유닛용 이동부(140a)를 구비함으로써, 전극 적층체를 검사위치로 용이하게 이동시킬 수 있다.In this way, the
제2 가변유닛용 이동부(140b)는, 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)의 하부영역에 배치되며, 제2 업/다운부(135b)에 연결되어 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)을 지지한다. 이러한 제2 가변유닛용 이동부(140b)는 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b)을 제1축 방향(X)으로 이동시킨다. 본 실시예에서 제2 가변유닛용 이동부(140b)는 정역회전이 가능한 컨베이어벨트 또는 리니어모터로 이루어질 수 있다. The second variable
이와 같이 본 실시예에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는, 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시키는 제2 가변유닛용 이동부(140b)를 구비함으로써, 전극 적층체를 검사위치로 용이하게 이동시킬 수 있다.In this way, the
한편, 검사용 촬상유닛(120)은 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체를 촬상한다. Meanwhile, the
본 실시예에 따른 검사용 촬상유닛(120)은, 도 5 및 도 8에 도시된 바와 같이, 전극 적층체를 향해 방사선을 방출하는 방사선 방출부(121)와, 방사선 방출부(121)에 대해 이격되어 배치되며 방사선 방출부(121)에서 방출된 방사선을 검출하는 방사선 검출부(123)와, 방사선 검출부(123)에 연결되며 방사선 검출부(123)를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 검출부 승강부(125)를 포함한다. As shown in FIGS. 5 and 8, the
방사선 방출부(121)는 적층체용 지그유닛(110)의 상부 영역에 위치된다. 본 실시예에 방사선은 엑스선(X-ray)이 사용된다.The
방사선 검출부(123)는 방사선 방출부(121)에 대해 이격되어 배치되어 방사선 방출부(121)에서 방출된 방사선을 검출한다. 방사선 검출부(123)는 적층체용 지그유닛(110)의 하부 영역에 위치되고 방사선 방출부(121)에 대향되게 배치되어 방사선을 검출한다. 본 실시예에서 방사선 방출부(121)와 방사선 검출부(123) 사이에 전극 적층체가 위치한다.The
검출부 승강부(125)는 방사선 차폐벽(180)에 지지되고 방사선 검출부(123)에 연결되어 방사선 검출부(123)를 제3축 방항으로 이동시킨다. 본 실시예에서 검출부 승강부(125)는 리니어 모터로 이루어질 수 있다. The detection
본 실시예의 방사선 검출부(123)는 방사선 방출부(121)에서 방출된 엑스선에 감응하여 이를 시각적으로 표시함으로써, 방사선 검출부(123)와 방사선 방출부(121)의 사이에 배치된 전극 적층체에 적층된 전극들의 형상을 시각적으로 표시할 수 있고, 그에 따라 전극 적층체의 전극의 오버행(overhang) 부위가 시각적으로 관측될 수 있다.The
한편, 적층체용 지그유닛(110)은 전극 적층체를 클램핑한다. 이러한 적층체용 지그유닛(110)은, 도 9 내지 도 11에 자세히 도시된 바와 같이, 전극 적층체에 접근 및 이격되는 방향으로 이동되며 전극 적층체를 클램핑하는 적층체용 클램핑부(111, 112)와, 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)에 결합되며 적층체용 클램핑부(111, 112)를 이동시키는 클램핑용 이동 구동부(115)를 포함한다, Meanwhile, the
적층체용 클램핑부(111, 112)는 전극 적층체에 접근 및 이격되는 방향으로 이동되어 전극 적층체를 클램핑 및 언클램핑한다. 이러한 적층체용 클램핑부(111, 112)는, 클램핑용 이동 구동부(115)에 연결되는 제1 파지용 플레이트부(111)와, 제1 파지용 플레이트부(111)에 대해 이격되어 배치되며 클램핑용 이동 구동부(115)에 연결되는 제2 파지용 플레이트부(112)를 포함한다. The clamping
이러한 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 사이에 전극 적층체가 배치되며, 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 상호 접근하는 방향의 이동 및 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 상호 이격되는 방향의 이동에 의해 전극 적층체가 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)에 의해 가압 및 가압 해제되어 클램핑 및 언클램핑된다.An electrode stack is disposed between the first
클램핑용 이동 구동부(115)는 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)에 결합된다. 이러한 클램핑용 이동 구동부(115)는 적층체용 클램핑부(111, 112)를 이동시킨다. 본 실시예에 따른 클램핑용 이동 구동부(115)는, 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 이동을 안내하는 파지용 이동 가이드부(116)와, 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112) 각각에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112) 각각을 상호 접근하는 방향 및 상호 이격되는 방향으로 이동시키는 한 쌍의 파지용 이동 바아(117)와, 파지용 이동 바아(117)에 연결되어 파지용 이동 바아(117)를 이동시키는 파지용 이동 구동부(미도시)를 포함한다. The clamping
파지용 이동 가이드부(116)는 가이드 레일 형상으로 마련되어 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)의 이동을 안내한다. The
파지용 이동 구동부(미도시)에는 파지용 이동 바아(117)에 연결되어 제1 파지용 플레이트부(111)와 제2 파지용 플레이트부(112)를 이동시키는 공압 실린더(미도시)가 사용될 수 있다.A pneumatic cylinder (not shown) connected to the gripping moving
인입인출용 이송 허브부(150)는 전극 인입인출장치(300)에 이웃하게 배치되어 전극 인입인출장치(300)로부터 검사가 필요한 전극 적층체를 전달받으며 검사가 완료한 전극 적층체를 전극 인입인출장치(300)로 전달한다. The
인입인출용 이송 허브부(150)는, 도 5 및 도 8에 도시된 바와 같이, 중앙영역이 중공된 원형의 고리 형상으로 형성된 허브 몸체부(151)와, 허브 몸체부(151)에 연결되어 허브 몸체부(151)를 제3축 방향(Z)방향으로 이동시키는 허브 승강부(155)를 포함한다. As shown in FIGS. 5 and 8, the
허브 몸체부(151)는 중앙영역이 중공된 원형의 고리 형상으로 형성된다. 허브 몸체부(151)의 중공된 중앙영역에는 방사선 검출부(123)가 배치된다.The
이러한 허브 몸체부(151)는, 전극 적층체를 지지하며 제3축 방향(Z)을 회전 축심으로 하여 회전되는 회전 플레이트부(152)와, 허브 승강부(155)에 지지되고 회전 플레이트부(152)에 연결되어 회전 플레이트부(152)를 회전시키는 플레이트 회전 구동부(153)를 포함한다.This
회전 플레이트부(152)는 전극 적층체를 지지한다. 이러한 회전 플레이트부(152)는 플레이트 회전 구동부(153)에 의해 제3축 방향(Z)을 회전 축심으로 하여 회전된다. The
본 실시예에 따른 회전 플레이트부(152)의 상면에는 전극 인입인출장치(300)의 후술할 인입인출용 이송부(330)로부터 검사가 필요한 전극 적층체를 전달받거나 검사가 완료된 전극 적층체를 인입인출용 이송부(330)로 전달하기 위해 전극 적층체를 이동시키는 허브용 컨베이어부(152a)가 마련된다. 이러한 허브용 컨베이어부(152a)는 4개로 마련되어 상호 이격되어 배치된다.The upper surface of the
허브 승강부(155)는 허브 몸체부(151)에 연결되어 허브 몸체부(151)를 제3축 방향(Z)방향으로 이동시킨다. 이러한 허브 승강부(155)는 방사선 차폐벽(180)에 지지된다. The
한편, 방사선 차폐벽(180)은 방사선 검출부(123)와 방사선 방출부(121)와 검사용 촬상유닛(120)과 적층체용 위치 가변유닛 및 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)을 차폐하는 하우징 구조로 마련된다. 상술한 방사선 차폐벽(180)에는 검사가 필요한 전극 적층체가 전극 인입인출장치(300)의 후술할 인입인출용 이송부(330)로터 인입인출용 이송 허브부(150)로 전달되는 과정 및 검사가 완료된 전극 적층체가 인입인출용 이송 허브부(150)로부터 입인출용 이송부로 전달되는 과정에서 전극 적층체가 통과하는 통과공(K)이 마련된다.Meanwhile, the
한편, 전극 인입인출장치(300)는, 공급용 이송부(210)로부터 공급받은 전극 적층체를 2차 전지용 오버행 검사장치(100)로 전달하고, 2차 전지용 오버행 검사장치(100)에서 전달받은 검사완료된 전극 적층체를 배출용 이송부(220)로 전달한다.Meanwhile, the electrode retraction and
이러한 전극 인입인출장치(300)는, 공급용 이송부(210)로부터 검사가 필요한 전극 적층체를 전달받는 제1 전극 전달부(310)와, 배출용 이송부(220)로 검사가 완료된 전극 적층체를 전달하는 제2 전극 전달부(320)와, 제1 전극 전달부(310)와 제2 전극 전달부(320)의 사이에 배치되며 전극 적층체를 이송하는 인입인출용 이송부(330)를 포함한다. This
제1 전극 전달부(310)는, 전극 적층체를 지지하며 제3축 방향(Z)으로 이동되는 제1 스테이지부(311)와, 제1 스테이지부(311)에 연결되며 제1 스테이지부(311)를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제1 스테이지용 구동부(312)를 포함한다. The first
제1 스테이지부(311)는, 전극 적층체를 지지하며, 지지된 전극 적층체를 인입인출용 이송부(330)로 전달하기 위해 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시킨다. 이를 위해 제1 스테이지부(311)에는 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시키는 컨베이어벨트(미도시)가 마련된다. The
제1 스테이지용 구동부(312)는 제1 스테이지부(311)에 연결되어 제1 스테이지부(311)를 제3축 방향(Z)으로 이동시킨다. 이러한 제1 스테이지용 구동부(312)는 볼스크류방식의 리니어 모터로 이루어질 수 있다.The first
제2 전극 전달부(320)는, 전극 적층체를 지지하며 제3축 방향(Z)으로 이동되는 제2 스테이지부(321)와, 제2 스테이지부(321)에 연결되며 제2 스테이지부(321)를 제3축 방향(Z)으로 이동시키는 제2 스테이지용 구동부(322)를 포함한다. The second
제2 스테이지부(321)는, 전극 적층체를 지지하며, 지지된 전극 적층체를 배출용 이송부(220)로 전달하기 위해 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시킨다. 이를 위해 제2 스테이지부(321)에는 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이동시키는 컨베이어벨트(미도시)가 마련된다. The
제2 스테이지용 구동부(322)는 제2 스테이지부(321)에 연결되어 제2 스테이지부(321)를 제3축 방향(Z)으로 이동시킨다. 이러한 제2 스테이지용 구동부(322)는 볼스크류방식의 리니어 모터로 이루어질 수 있다.The second
인입인출용 이송부(330)는 제1 전극 전달부(310)와 제2 전극 전달부(320)의 사이에 배치되며 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이송한다. 본 실시예에서 인입인출용 이송부(330)에는 전극 적층체를 제1축 방향(X)으로 이송하기 위해 회전되는 다수개의 제1축 방향용 롤러(미도시)가 마련된다.The
이러한 인입인출용 이송부(330)에는 검사가 필요한 전극 적층체를 인입인출용 이송 허브부(150)로 전달하거나 검사가 완료된 전극 적층체를 인입인출용 이송 허브부(150)에서 전달받기 위해 전극 적층체를 제2축 방향(Y)으로 이동시키는 방향전환부(미도시)가 마련된다. 방향전환부(미도시)는 제1축 방향용 롤러(미도시)들의 사이에 배치되며 제3축 방향(Z)으로 상승 및 하강될 수 있는 다수개의 방향전환용 롤러(미도시)를 구비한다. This
한편, 외부면 검사장치(SD)는 2차 전지용 오버행 검사장치(100)의 오버행 검사 공정이 수행된 전극 적층체를 전달용 이송장치(SF)를 통해 공급받는다. 이러한 외부면 검사장치(SD)가 전극 적층체의 외면을 검사한다.Meanwhile, the external surface inspection device (SD) receives the electrode stack on which the overhang inspection process of the
본 실시예에서 외부면 검사장치(SD)는, 전극 적층체의 외면을 촬상하는 카메라부(미도시)와, 카메라부(미도시)에 연결되어 카메라부(미도시)가 획득한 정보를 제어유닛에 전송하는 통신부(미도시)를 포함한다.In this embodiment, the external surface inspection device (SD) is connected to a camera unit (not shown) that captures images of the external surface of the electrode stack and controls the information acquired by the camera unit (not shown). It includes a communication unit (not shown) that transmits data to the unit.
카메라부(미도시)는 전극 적층체의 외면을 촬상한다. 이러한 카메라부(미도시)는 전극 적층체의 외면을 촬상하여 전극 적층체의 외면에 이물질이 부착되었는지 여부 및 전극 적층체의 외형을 검사한다. A camera unit (not shown) captures images of the outer surface of the electrode stack. This camera unit (not shown) captures images of the outer surface of the electrode stack and inspects whether foreign substances are attached to the outer surface of the electrode stack and the external appearance of the electrode stack.
한편, 전달용 이송장치(SF)는 검사용 이송장치(200)와 외부면 검사장치(SD)에 연결되어 2차 전지용 오버행 검사장치(100)를 통과한 전극 적층체를 외부면 검사장치(SD)로 전달한다.Meanwhile, the transfer transfer device (SF) is connected to the
또한, 전달용 이송장치(SF)는 외부면 검사장치(SD)와 TAB장치(TAB)에 연결되어 외부면 검사장치(SD)를 통과한 전극 적층체를 TAB장치(TAB)로 전달한다.In addition, the transfer transfer device (SF) is connected to the outer surface inspection device (SD) and the TAB device (TAB) and transfers the electrode stack that has passed the outer surface inspection device (SD) to the TAB device (TAB).
이러한 전달용 이송장치(SF)는, 전극 적층체를 이송시키는 다수개의 컨베이어(미도시)와, 전극 적층체의 이송방향을 전환하는 방향 전환부(미도시)) 등을 포함한다.This transfer transfer device (SF) includes a plurality of conveyors (not shown) that transfer the electrode stack, a direction change unit (not shown) that changes the transfer direction of the electrode stack, etc.
한편, 본 실시예에 따른 제어유닛(미도시)은 2차 전지용 교차장치(SC), 외부면 검사장치(SD), 2차 전지용 오버행 검사장치(100), TAB장치(TAB), 검사용 이송장치(200), 전극 인입인출장치(300) 및 전달용 이송장치(SF)에 전기적으로 연결되어 2차 전지용 교차장치(SC), 외부면 검사장치(SD), 2차 전지용 오버행 검사장치(100), TAB장치(TAB), 검사용 이송장치(200), 전극 인입인출장치(300) 및 전달용 이송장치(SF)의 동작을 제어한다. Meanwhile, the control unit (not shown) according to this embodiment includes a crossover device (SC) for secondary batteries, an external surface inspection device (SD), an overhang inspection device for secondary batteries (100), a TAB device (TAB), and a transport for inspection. It is electrically connected to the
이하에서 본 실시예에 따른 2차 전지 제조 시스템의 작동을 2차 전지용 오버행 검사장치(100)를 위주로 도 2 내지 도 13을 참고하여 설명한다.Hereinafter, the operation of the secondary battery manufacturing system according to this embodiment will be described with reference to FIGS. 2 to 13, focusing on the
먼저, 2차 전지용 교차장치(SC)에서 교차 공정이 완료된 전극 적층체가 전극 인입인출장치(300)에 의해 인입인출용 이송 허브부(150)에 전달된다. First, the electrode stack for which the crossing process has been completed in the crossing device (SC) for secondary batteries is transferred to the
제1 틸팅부(131a)와 제1 업/다운부(135a)의 동작 및 제2 틸팅부(131b)와 제2 업/다운부(135b)의 동작에 의해 인입인출용 이송 허브부(150)의 허브용 컨베이어부(152a)에 적재된 전극 적층체를 향해 적층체용 지그유닛(110)이 이동되며, 전극 적층체에 적층체용 지그유닛(110)이 정위치된 후 적층체용 지그유닛(110)에 의해 전극 적층체가 클램핑된다. 이때, 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)과 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b) 각각은 적층체용 지그유닛(110)에 전극 적층체를 전달받기 위해 제1 가변유닛용 이동부(140a) 및 제2 가변유닛용 이동부(140b)에 의해 제1축 방향(X) 및 제2축 방향(Y)으로 이동될 수 있다.The
전극 적층체를 전달받은 제1 적층체용 위치 가변유닛(130a)과 제2 적층체용 위치 가변유닛(130b) 각각은 제1 가변유닛용 이동부(140a) 및 제2 가변유닛용 이동부(140b)에 의해 검사위치로 이동된다. 여기서, 검사위치는 도 3 내지 도 5에 도시된 바와 같이 방사선 방출부(121)와 방사선 검출부(123)의 사이에 4개의 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체의 모서리가 배치되는 위치이다.The position
이후, 제1 틸팅부(131a) 및 제2 틸팅부(131b)가 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체를 순차적 또는 동시에 45각도로 틸팅시킨다. 또한, 제1 회전부(132a) 및 제2 회전부(132b)는 적층체용 지그유닛(110)에 클램핑된 전극 적층체를 순차적 또는 동시에 회전시킨다. Thereafter, the
적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)이 적층체용 지그유닛(110)을 틸팅 및 회진시키는 동안 검사용 촬상유닛(120)은 틸팅 및 회전된 전극 적층체를 촬상하여 씨티(CT)와 같은 다수 개의 단층 촬영 영상을 획득한다. While the position
검사용 촬상유닛(120)에 의해 획득된 다수 개의 단층 촬영 영상은 제어유닛(미도시)에 의해 재조합된다.A plurality of tomographic images acquired by the
이와 같이 본 실시예에 따른 2차 전지용 오버행 검사장치(100)는 전극 적층체에 대해 씨티(CT)와 같은 단층 촬영 영상을 획득함으로써, 전극 적층체의 모서리 영역의 구조를 보다 정확하게 표시하여 오버행 부위를 정확하게 감지할 수 있다. In this way, the
2차 전지용 오버행 검사장치(100)의 검사가 완료된 전극 적층체는 외부면 검사장치(SD)를 거쳐 TAB장치(TAB)로 전달된다.The electrode stack that has been inspected by the
이와 같이 본 실시예에 2차 전지용 오버행 검사장치 및 이를 구비하는 2차 전지 제조 시스템은, 각각의 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛(110) 각각에 연결되어 각각의 전극 적층체를 검사용 촬상유닛(120)에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)과, 적층체용 위치 가변유닛(130a, 130b)을 제1축 방향(X) 및 제2축 방향(Y) 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛(140a, 140b)을 구비함으로써, 다수 개의 전극 적층체를 한 번에 검사할 수 있고 인라인으로 검사를 수행할 수 있어 검사시간을 단축시킬 수 있다, As described above, in this embodiment, the overhang inspection device for secondary batteries and the secondary battery manufacturing system including the same are connected to each of the plurality of
이상 도면을 참조하여 본 실시예에 대해 상세히 설명하였지만 본 실시예의 권리범위가 전술한 도면 및 설명에 국한되지는 않는다.Although this embodiment has been described in detail with reference to the drawings, the scope of this embodiment is not limited to the drawings and description.
이와 같이 본 발명은 기재된 실시예에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 다양하게 수정 및 변형할 수 있음은 이 기술의 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명하다. 따라서 그러한 수정예 또는 변형예들은 본 발명의 특허청구범위에 속한다 하여야 할 것이다.As such, the present invention is not limited to the described embodiments, and it is obvious to those skilled in the art that various modifications and changes can be made without departing from the spirit and scope of the present invention. Accordingly, such modifications or variations should be considered to fall within the scope of the claims of the present invention.
100: 2차 전지용 오버행 검사장치 110: 적층체용 지그유닛
120: 검사용 촬상유닛 121: 방사선 방출부
123: 방사선 검출부 130a: 제1 적층체용 위치 가변유닛
130b: 제2 적층체용 위치 가변유닛
140a: 제1 가변유닛용 이동부
140b: 제2 가변유닛용 이동부
200: 검사용 이송장치 210: 공급용 이송부
220: 배출용 이송부 300: 전극 인입인출장치100: Overhang inspection device for secondary battery 110: Jig unit for laminate
120: imaging unit for inspection 121: radiation emitting unit
123:
130b: Position variable unit for second laminate
140a: Moving part for the first variable unit
140b: Moving part for the second variable unit
200: transfer device for inspection 210: transfer unit for supply
220: Transfer unit for discharge 300: Electrode withdrawal device
Claims (15)
상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛;
상기 적층체용 지그유닛 각각에 연결되며, 각각의 상기 전극 적층체를 상기 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛; 및
상기 적층체용 위치 가변유닛 각각에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 제1축 방향 및 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛;
전극 인입인출장치로부터 검사가 필요한 상기 전극 적층체를 전달받으며 상기 전극 인입인출장치로 검사가 완료한 상기 전극 적층체를 전달하는 인입인출용 이송 허브부; 및
상기 적층체용 지그유닛과 상기 검사용 촬상유닛과 상기 적층체용 위치 가변유닛과 상기 인입인출용 이송 허브부 및 상기 가변유닛용 이동유닛이 내부에 배치되며, 방사선을 차폐하는 방사선 차폐벽을 포함하며,
상기 인입인출용 이송 허브부는,
중앙영역이 중공된 원형의 고리 형상으로 형성된 허브 몸체부; 및
상기 허브 몸체부에 연결되어 허브 몸체부를 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향방향으로 이동시키는 허브 승강부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.A plurality of jig units for a plurality of laminates for clamping an electrode laminate in which a cathode and an anode are alternately crossed with a separator in between;
An inspection imaging unit that captures an image of the electrode laminate clamped to the laminate jig unit;
a plurality of position variable units for the laminate connected to each of the jig units for the laminate and moving each of the electrode laminates relative to the inspection imaging unit; and
A moving unit for variable units connected to each of the position variable units for the laminate, and moving the position variable units for the laminate in at least one of a first axis direction and a second axis direction intersecting the first axis direction;
A transfer hub unit for receiving and withdrawing the electrode stack that requires inspection from the electrode drawing and withdrawing device and delivering the electrode stack that has been inspected to the electrode drawing and withdrawing device; and
The jig unit for the laminate, the imaging unit for inspection, the position variable unit for the laminate, the transfer hub portion for withdrawal and withdrawal, and the moving unit for the variable unit are disposed therein, and include a radiation shielding wall that shields radiation,
The transfer hub unit for withdrawal and withdrawal,
A hub body formed in a circular ring shape with a hollow central area; and
An overhang inspection device for a secondary battery including a hub elevating part that is connected to the hub body and moves the hub body in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 가변유닛용 이동유닛은,
상기 적층체용 위치 가변유닛에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 상기 제2축 방향으로 이동시키는 제1 가변유닛용 이동부; 및
상기 적층체용 위치 가변유닛에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 상기 제2축 방향으로 이동시키는 제2 가변유닛용 이동부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to paragraph 1,
The moving unit for the variable unit is,
A first variable unit moving unit connected to the position variable unit for the laminate and moving the position variable unit for the laminate in the second axis direction; and
An overhang inspection device for a secondary battery comprising a moving part for a second variable unit connected to the position variable unit for the laminate and moving the position variable unit for the laminate in the second axis direction.
상기 복수의 적층체용 위치 가변유닛은,
제1축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛; 및
상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛을 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to paragraph 1,
The position variable unit for the plurality of laminates is,
A pair of first position variable units for the stack located spaced apart from each other in the first axis direction and arranged to face each other; and
An overhang inspection device for a secondary battery comprising a pair of second position variable units for a second stack positioned to be spaced apart from each other in a second axis direction intersecting the first axis direction and opposed to each other.
상기 제1 적층체용 위치 가변유닛은,
상기 적층체용 지그유닛이 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부;
상기 제1 틸팅부가 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부; 및
상기 제1 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제1 업/다운부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to paragraph 3,
The position variable unit for the first laminate is,
a first tilting unit to which the jig unit for a laminate is rotatably coupled with the second axis direction as a rotation axis, and which rotates the jig unit for a laminate with the second axis direction as a rotation axis;
The first tilting part is rotatably coupled with the first axis direction as the rotation axis, and a first rotation part that rotates the laminate jig unit with the first axis direction as the rotation axis; and
An overhang inspection device for a secondary battery including a first up/down part that is connected to the first rotating part and moves the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 제2 적층체용 위치 가변유닛은,
상기 적층체용 지그유닛이 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부;
상기 제2 틸팅부가 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부; 및
상기 제2 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제2 업/다운부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to paragraph 3,
The position variable unit for the second laminate is,
a second tilting unit rotatably coupled to the jig unit for a laminate with the first axis direction as a rotation axis, and rotating the jig unit for a laminate with the first axis direction as a rotation axis;
The second tilting part is rotatably coupled with the second axis direction as the rotation axis, and the second rotation part rotates the laminate jig unit with the second axis direction as the rotation axis; and
An overhang inspection device for a secondary battery including a second up/down part connected to the second rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction intersecting the first axis direction and the second axis direction.
상기 검사용 촬상유닛은,
상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 향해 방사선을 방출하는 방사선 방출부; 및
상기 방사선 방출부에 대해 이격되어 배치되며, 상기 방사선 방출부에서 방출된 상기 방사선을 검출하는 방사선 검출부를 포함하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to paragraph 1,
The inspection imaging unit,
a radiation emitting unit that emits radiation toward the electrode stack clamped on the jig unit for the stack; and
An overhang inspection device for a secondary battery including a radiation detection unit disposed to be spaced apart from the radiation emitting unit and detecting the radiation emitted from the radiation emitting unit.
상기 방사선 방출부는 상기 적층체용 지그유닛의 상부 영역에 위치되며, 상기 방사선 검출부는 상기 적층체용 지그유닛의 하부 영역에 위치되는 것을 특징으로 하는 2차 전지용 오버행 검사장치.According to clause 6,
An overhang inspection device for a secondary battery, characterized in that the radiation emitting part is located in an upper area of the jig unit for a laminate, and the radiation detection part is located in a lower area of the jig unit for a laminate.
상기 2차 전지용 교차장치에서 생성된 상기 전극 적층체를 전달받으며, 상기 전극 적층체를 촬상하는 2차 전지용 오버행 검사장치; 및
상기 2차 전지용 교차장치로부터 공급받은 상기 전극 적층체를 상기 2차 전지용 오버행 검사장치로 전달하고, 검사완료된 상기 전극 적층체를 상기 2차 전지용 오버행 검사장치로부터 전달받는 전극 인입인출장치를 포함하며,
상기 2차 전지용 오버행 검사장치는,
상기 전극 적층체를 클램핑하는 복수의 적층체용 지그유닛;
상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 촬상하는 검사용 촬상유닛;
상기 적층체용 지그유닛 각각에 연결되며, 상기 전극 적층체를 상기 검사용 촬상유닛에 대해 상대이동 시키는 복수의 적층체용 위치 가변유닛;
상기 적층체용 위치 가변유닛 각각에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 제1축 방향 및 상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향 중 적어도 어느 하나의 방향으로 이동시키는 가변유닛용 이동유닛;
상기 전극 인입인출장치로부터 검사가 필요한 상기 전극 적층체를 전달받으며 상기 전극 인입인출장치로 검사가 완료한 상기 전극 적층체를 전달하는 인입인출용 이송 허브부; 및
상기 적층체용 지그유닛과 상기 검사용 촬상유닛과 상기 적층체용 위치 가변유닛과 상기 인입인출용 이송 허브부 및 상기 가변유닛용 이동유닛이 내부에 배치되며, 방사선을 차폐하는 방사선 차폐벽을 포함하며,
상기 인입인출용 이송 허브부는,
중앙영역이 중공된 원형의 고리 형상으로 형성된 허브 몸체부; 및
상기 허브 몸체부에 연결되어 허브 몸체부를 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향방향으로 이동시키는 허브 승강부를 포함하는 2차 전지 제조 시스템.A crossing device for secondary batteries that generates an electrode stack by alternately crossing the cathode and anode with a separator in between;
An overhang inspection device for secondary batteries that receives the electrode stack generated from the crossing device for secondary batteries and takes images of the electrode stack; and
An electrode pull-out device that delivers the electrode stack supplied from the secondary battery crossing device to the secondary battery overhang inspection device and receives the inspected electrode stack from the secondary battery overhang inspection device,
The overhang inspection device for secondary batteries,
A plurality of jig units for the electrode stack clamping the electrode stack;
An inspection imaging unit that captures an image of the electrode laminate clamped to the laminate jig unit;
a plurality of position variable units for the laminate connected to each of the jig units for the laminate and moving the electrode laminate relative to the inspection imaging unit;
A moving unit for variable units connected to each of the position variable units for the laminate, and moving the position variable units for the laminate in at least one of a first axis direction and a second axis direction intersecting the first axis direction;
A transfer hub unit for receiving and withdrawing the electrode stack that requires inspection from the electrode drawing and withdrawing device and delivering the electrode stack that has been inspected to the electrode drawing and withdrawing device; and
The jig unit for the laminate, the imaging unit for inspection, the position variable unit for the laminate, the transfer hub portion for withdrawal and withdrawal, and the moving unit for the variable unit are disposed therein, and include a radiation shielding wall that shields radiation,
The transfer hub unit for withdrawal and withdrawal,
A hub body formed in a circular ring shape with a hollow central area; and
A secondary battery manufacturing system including a hub lifting unit connected to the hub body and moving the hub body in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 가변유닛용 이동유닛은,
상기 적층체용 위치 가변유닛에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 상기 제2축 방향으로 이동시키는 제1 가변유닛용 이동유닛; 및
상기 적층체용 위치 가변유닛에 연결되며, 상기 적층체용 위치 가변유닛을 상기 제1축 방향으로 이동시키는 제2 가변유닛용 이동유닛을 포함하는 2차 전지 제조 시스템.According to clause 8,
The moving unit for the variable unit is,
A moving unit for a first variable unit connected to the position variable unit for the laminate and moving the position variable unit for the laminate in the second axis direction; and
A secondary battery manufacturing system comprising a moving unit for a second variable unit connected to the position variable unit for the laminate and moving the position variable unit for the laminate in the first axis direction.
상기 복수의 적층체용 위치 가변유닛은,
제1축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제1 적층체용 위치 가변유닛; 및
상기 제1축 방향에 교차하는 제2축 방향으로 상호 이격되어 위치되고 상호 대향되게 배치되는 한 쌍의 제2 적층체용 위치 가변유닛을 포함하는 2차 전지 제조 시스템.According to clause 8,
The position variable unit for the plurality of laminates is,
A pair of first position variable units for the stack located spaced apart from each other in the first axis direction and arranged to face each other; and
A secondary battery manufacturing system comprising a pair of position variable units for a second stack that are spaced apart from each other in a second axis direction intersecting the first axis direction and are arranged to face each other.
상기 제1 적층체용 위치 가변유닛은,
상기 적층체용 지그유닛이 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 틸팅부;
상기 제1 틸팅부가 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제1 회전부; 및
상기 제1 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제1 업/다운부를 포함하는 2차 전지 제조 시스템.According to clause 10,
The position variable unit for the first laminate is,
a first tilting unit to which the jig unit for a laminate is rotatably coupled with the second axis direction as a rotation axis, and which rotates the jig unit for a laminate with the second axis direction as a rotation axis;
The first tilting part is rotatably coupled with the first axis direction as the rotation axis, and a first rotation part that rotates the laminate jig unit with the first axis direction as the rotation axis; and
A secondary battery manufacturing system including a first up/down part connected to the first rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 제2 적층체용 위치 가변유닛은,
상기 적층체용 지그유닛이 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 틸팅부;
상기 제2 틸팅부가 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전 가능하게 결합되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제2축 방향을 회전 축심으로 하여 회전시키는 제2 회전부; 및
상기 제2 회전부에 연결되며, 상기 적층체용 지그유닛을 상기 제1축 방향과 상기 제2축 방향에 교차하는 제3축 방향으로 이동시키는 제2 업/다운부를 포함하는 2차 전지 제조 시스템.According to clause 10,
The position variable unit for the second laminate is,
a second tilting unit rotatably coupled to the jig unit for a laminate with the first axis direction as a rotation axis, and rotating the jig unit for a laminate with the first axis direction as a rotation axis;
The second tilting part is rotatably coupled with the second axis direction as the rotation axis, and the second rotation part rotates the laminate jig unit with the second axis direction as the rotation axis; and
A secondary battery manufacturing system including a second up/down part connected to the second rotating part and moving the jig unit for the laminate in a third axis direction that intersects the first axis direction and the second axis direction.
상기 검사용 촬상유닛은,
상기 적층체용 지그유닛에 클램핑된 상기 전극 적층체를 향해 방사선을 방출하는 방사선 방출부; 및
상기 방사선 방출부에 대해 이격되어 배치되며, 상기 방사선 방출부에서 방출된 상기 방사선을 검출하는 방사선 검출부를 포함하며,
상기 방사선 방출부는 상기 적층체용 지그유닛의 상부 영역에 위치되며, 상기 방사선 검출부는 상기 적층체용 지그유닛의 하부 영역에 위치되는 것을 특징으로 하는 2차 전지 제조 시스템.According to clause 8,
The inspection imaging unit,
a radiation emitting unit that emits radiation toward the electrode stack clamped on the jig unit for the stack; and
It is disposed spaced apart from the radiation emitting portion and includes a radiation detection portion that detects the radiation emitted from the radiation emitting portion,
A secondary battery manufacturing system, wherein the radiation emitting unit is located in an upper area of the jig unit for a laminate, and the radiation detection unit is located in a lower area of the jig unit for a laminate.
상기 전극 인입인출장치는,
검사가 필요한 상기 전극 적층체를 상기 2차 전지용 오버행 검사장치로 전달하는 제1 전극 전달부;
상기 2차 전지용 오버행 검사장치에서 검사가 완료된 상기 전극 적층체를 전달받는 제2 전극 전달부; 및
상기 제1 전극 전달부와 상기 제2 전극 전달부의 사이에 배치되며, 상기 전극 적층체를 이송하는 인입인출용 이송부를 포함하는 2차 전지 제조 시스템. According to clause 8,
The electrode withdrawal device,
a first electrode delivery unit that delivers the electrode stack requiring inspection to the overhang inspection device for secondary batteries;
a second electrode delivery unit that receives the electrode stack that has been inspected in the overhang inspection device for secondary batteries; and
A secondary battery manufacturing system disposed between the first electrode transfer unit and the second electrode transfer unit, and comprising a transfer unit for drawing in and withdrawing the electrode stack.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020210077044A KR102594047B1 (en) | 2021-06-14 | 2021-06-14 | Overhang inspection device for secondary battery and manufacturing system having the same |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| KR20220167713A KR20220167713A (en) | 2022-12-21 |
| KR102594047B1 true KR102594047B1 (en) | 2023-10-25 |
Family
ID=84536872
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| KR1020210077044A KR102594047B1 (en) | 2021-06-14 | 2021-06-14 | Overhang inspection device for secondary battery and manufacturing system having the same |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102594047B1 (en) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101315302B1 (en) * | 2012-02-13 | 2013-10-07 | 주식회사 디에이테크놀로지 | Electrode Unloading Apparatus for Polymer Battery Electrode Folding Machine |
| KR20130105578A (en) | 2013-08-30 | 2013-09-25 | 주식회사 엘지화학 | Pouched type secondary battery of coated insulating material |
| KR102544744B1 (en) * | 2019-03-12 | 2023-06-16 | 주식회사 엘지에너지솔루션 | Lamination apparatus and method for secondary battery |
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|---|---|
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