KR102518922B1 - 표시 장치 및 이의 구동 방법 - Google Patents

표시 장치 및 이의 구동 방법 Download PDF

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Abstract

표시 장치는 복수의 화소들을 구비하는 표시 패널, 전원 라인을 통해 화소들에 구동 전원을 공급하고, 크랙 발생 신호에 기초하여 구동 전원의 공급을 중단하는 전원 공급부, 일 프레임 구간 중 비발광 구간에서 블랙 영상을 표시하고 발광 구간에서 유효 영상을 표시하기 위한 구동 신호를 화소들에 공급하는 패널 구동부, 및 전원 라인에 흐르는 센싱 전류를 측정하고, 연속적인 M 프레임 구간들 동안 센싱 전류를 모니터링함으로써 크랙 발생 신호를 생성하는 크랙 감지부를 포함한다.

Description

표시 장치 및 이의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD OF DRIVING THE SAME}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 표시 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.
일반적으로 표시 장치는 복수의 화소들을 구비하는 표시 패널을 포함하고, 복수의 화소들 각각은 구동 전원을 공급받아 동작한다. 예를 들어, 유기 발광 표시 장치의 화소들 각각은 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode; OLED)를 포함한다. 유기 발광 다이오드는 양의 구동 전원이 인가되는 양극(anode)으로부터 제공되는 정공들과 음의 구동 전원이 인가되는 음극(cathode)으로부터 제공되는 전자들이 양극과 음극 사이에 위치하는 유기층에서 결합하여 생성되는 광을 이용하여 유효 영상을 표시한다.
이를 위해, 표시 패널 상에서 양의 구동 전원이 전달되는 제1 전원 라인과 음의 구동 전원이 전달되는 제2 전원 라인 서로 오버랩(overlap)되어 형성된다. 이 경우, 표시 패널의 크랙(crack)에 의해 제1 전원 라인과 제2 전원 라인이 단락(short)되는 경우 과전류가 발생하여 발열 또는 화재의 위험이 있다.
본 발명의 일 목적은 크랙 감지에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 장치의 구동 방법을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상기 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소들을 구비하는 표시 패널, 전원 라인을 통해 상기 화소들에 구동 전원을 공급하고, 크랙 발생 신호에 기초하여 상기 구동 전원의 공급을 중단하는 전원 공급부, 일 프레임 구간 중 비발광 구간에서 블랙 영상을 표시하고 발광 구간에서 유효 영상을 표시하기 위한 구동 신호를 상기 화소들에 공급하는 패널 구동부, 및 상기 전원 라인에 흐르는 센싱 전류를 측정하고, 연속적인 M(단, M은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들 동안 상기 센싱 전류를 모니터링함으로써 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 크랙 감지부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 감지부는 상기 비발광 구간에서 상기 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류를 측정하고, 상기 제1 센싱 전류를 전류값 저장부에 저장하는 제1 전류 센싱부, 및 상기 전류값 저장부에 저장된 연속적인 N(단, N은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들에 상응하는 상기 제1 센싱 전류의 평균값을 도출하고, 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 평균값과 기준 전류값의 차이값이 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 신호 생성부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 감지부는 상기 제1 기준 전류값 및 상기 제1 임계값을 상기 신호 생성부에 제공하는 기준값 제공부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 기준값 제공부는 상기 표시 패널의 온도에 기초하여 상기 제1 기준 전류값 및 상기 제1 임계값을 조정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 기준값 제공부는 상기 화소들의 열화 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 전류값 및 상기 제1 임계값을 조정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 감지부는 상기 발광 구간에서 상기 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류를 측정하는 제2 전류 센싱부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 신호 생성부는 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제2 센싱 전류와 제2 기준 전류값의 차이값이 제2 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 감지부는 입력 영상 데이터에 기초하여 상기 제2 기준 전류값을 생성하고, 상기 제2 기준 전류값 및 상기 제2 임계값을 상기 신호 생성부에 제공하는 기준값 제공부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 감지부는 상기 발광 구간에서 상기 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류를 측정하는 제2 전류 센싱부, 및 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제2 센싱 전류와 제2 기준 전류값의 차이값이 제2 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 신호 생성부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 감지부는 매 프레임 구간마다 상기 센싱 전류를 측정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비발광 구간은 초기화 구간 및 스캔 구간을 포함할 수 있다. 상기 크랙 감지부는 상기 스캔 구간에서 상기 센싱 전류를 측정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 일 프레임 구간은 복수의 비발광 구간들을 포함할 수 있다. 상기 크랙 감지부는 상기 비발광 구간들 중 상기 구동 신호가 일정하게 유지되는 비발광 구간에서 상기 센싱 전류를 측정할 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소들을 구비하는 표시 패널, 제1 전원 라인을 통해 상기 화소들에 제1 전원을 공급하고, 제2 전원 라인을 통해 상기 화소들에 제2 전원을 공급하며, 크랙 발생 신호에 기초하여 상기 제1 전원 및 상기 제2 전원의 공급을 중단하는 전원 공급부, 상기 화소들에 구동 신호를 공급하는 패널 구동부, 및 상기 제1 전원 라인 및 상기 제2 전원 라인 중 적어도 하나에 흐르는 센싱 전류를 측정하고, 연속적인 M(단, M은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들 동안 상기 센싱 전류를 모니터링함으로써 크랙 발생 신호를 생성하는 크랙 감지부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 감지부는 상기 제1 전원 라인에 흐르는 제3 센싱 전류를 측정하는 제3 전류 센싱부, 상기 제2 전원 라인에 흐르는 제4 센싱 전류를 측정하는 제4 전류 센싱부, 및 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제3 센싱 전류와 제3 기준 전류값의 차이값이 제3 임계값을 초과하는 경우 또는 상기 제4 센싱 전류와 제4 기준 전류값의 차이값이 제4 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 신호 생성부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 감지부는 입력 영상 데이터에 기초하여 상기 제3 기준 전류값 및 제4 기준 전류값을 생성하고, 상기 제3 기준 전류값 및 상기 제4 기준 전류값을 상기 신호 생성부에 제공하는 기준값 제공부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 기준값 제공부는 상기 표시 패널의 온도에 기초하여 상기 제3 기준 전류값 및 제4 기준 전류값을 조정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 기준값 제공부는 상기 화소들의 열화 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 전류값 및 상기 제1 임계값을 조정할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 발명의 실시예들에 따른 일 프레임 구간 중 비발광 구간에서 블랙 영상을 표시하고 발광 구간에서 유효 영상을 표시하는 표시 장치의 구동 방법은 상기 비발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류를 측정하는 단계, 상기 제1 센싱 전류를 메모리 장치에 저장하는 단계, 상기 메모리 장치에 저장된 연속적인 N(단, N은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들에 상응하는 상기 제1 센싱 전류의 평균값을 도출하는 단계, 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 평균값과 제1 기준 전류값의 차이값이 제1 임계값을 초과하는 경우, 크랙 발생 신호를 생성하는 단계, 및 상기 크랙 발생 신호에 응답하여 상기 표시 장치의 구동 전원의 공급을 중단하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 발광 구간에서 상기 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류를 측정하는 단계, 및 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제2 센싱 전류와 제2 기준 전류값의 차이값이 제2 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 기준 전류값은 입력 영상 데이터에 기초하여 조정될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 비발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류를 측정하고, 연속되는 N 프레임 구간들에 대한 제1 센싱 전류의 평균값을 산출하며, 연속되는 M 프레임 구간들 동안 제1 센싱 전류의 평균값이 기준 전류값 범위에 속하는 지 여부를 판단함으로써 표시 패널의 크랙을 검출할 수 있다. 상기 표시 장치는 발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류를 측정하고, 연속되는 M 프레임 구간들 동안 제2 센싱 전류가 기준 전류값 범위에 속하는 지 여부를 판단함으로써 표시 패널의 크랙을 감지할 수 있다. 또한, 상기 표시 장치는 표시 패널의 온도, 화소의 열화 정도 등 구동 환경에 따라 표시 패널의 크랙을 감지하기 위한 기준값을 조정할 수 있다. 이에 따라, 상기 표시 장치는 크랙 감지에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법은 안정적으로 전원을 차단하고 화재의 발생을 방지할 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 크랙 감지부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 화소의 일 예를 나타내는 회로도이다.
도 4A 및 도 4B는 도 1의 표시 장치가 비발광 구간에서 제1 센싱 전류를 측정하는 예들을 나타내는 도면들이다.
도 5는 비발광 구간에서 측정된 제1 센싱 전류를 이용하여 제1 센싱 전류의 평균값을 산출하고 크랙을 감지하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 비발광 구간에서 측정된 제1 센싱 전류에 기초하여 표시 패널의 크랙을 감지하는 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 7은 도 1의 표시 장치에 포함된 크랙 감지부의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 8은 도 1의 표시 장치가 발광 구간에서 제2 센싱 전류를 측정하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 발광 구간에서 측정된 제2 센싱 전류에 기초하여 표시 패널의 크랙을 감지하는 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 11은 도 10의 표시 장치에 포함된 크랙 감지부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일하거나 유사한 참조 부호를 사용한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(1000A)는 표시 패널(100), 패널 구동부(200), 전원 공급부(300), 및 크랙 감지부(400)를 포함할 수 있다.
표시 패널(100)은 복수의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(100)은 스캔 라인들(SL1 내지 SLn) 및 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)의 교차부마다 위치되는 n*m 개의 화소(PX)들을 포함할 수 있다.
패널 구동부(200)는 영상을 표시하기 위해 표시 패널(100)의 화소(PX)들에 구동 신호를 공급할 수 있다. 패널 구동부(200)는 일 프레임 구간 중 비발광 구간에서 블랙 영상을 표시하고 발광 구간에서 유효 영상을 표시하기 위한 구동 신호를 화소(PX)들에 공급할 수 있다. 일 실시예에서, 패널 구동부(200)는 일 프레임 내에서 데이터 신호가 순차적으로 기입되고, 일 프레임의 데이터 신호에 기초하여 모든 화소(PX)들이 일괄적으로 발광하는 동시 발광 방식으로 표시 패널(100)을 구동할 수 있다.
일 실시예에서, 패널 구동부(200)는 스캔 구동부(210), 데이터 구동부(230), 및 타이밍 제어부(250)를 포함할 수 있다. 스캔 구동부(210)는 제1 구동 제어 신호(CTL1)에 기초하여 스캔 라인들(SL1 내지 SLn)을 통해 화소(PX)들에 스캔 신호를 제공할 수 있다. 데이터 구동부(230)는 제2 구동 제어 신호(CTL2)에 기초하여 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)을 통해 화소(PX)들에 데이터 신호를 제공할 수 있다. 타이밍 제어부(250)는 입력 영상 데이터(DATA) 및 제어 신호(CTL)를 수신하고, 이러한 신호들에 기초하여 입력 영상 데이터(IDATA)에 상응하는 출력 영상 데이터(ODATA) 및 제1 내지 제4 구동 제어 신호들(CTL1 내지 CTL4)을 생성할 수 있다. 예를 들어, 제어 신호(CTL)는 수직 동기 신호, 수평 동기 신호, 메인 클럭 신호 및 데이터 인에이블 신호 등을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 타이밍 제어부(250)는 크랙 감지부(400)로부터 크랙 발생 신호(CS)를 수신하고, 크랙 발생 신호(CS)에 응답하여 구동 전원의 공급을 중단하고 표시 패널(100)의 구동을 중지하기 위한 구동 제어 신호들을 생성할 수 있다.
전원 공급부(300)는 전원 라인을 통해 화소(PX)들에 구동 전원을 공급할 수 있다. 일 실시예에서, 전원 공급부(300)는 구동 전원으로서 제1 전원(ELVDD) 및 제1 전원(ELVDD)보다 낮은 전압 레벨을 갖는 제2 전원(ELVSS)를 화소(PX)들에 공급할 수 있다. 예를 들어, 제1 전원(ELVDD)은 양의 구동 전압에 상응하고, 제2 전원(ELVSS)은 음의 구동 전압에 상응할 수 있다. 또한, 전원 공급부(300)는 크랙 발생 신호(CS)가 포함된 제3 구동 제어 신호(CTL3)를 수신하고, 크랙 발생 신호(CS)에 기초하여 구동 전원의 공급을 중단할 수 있다. 즉, 전원 공급부(300)는 표시 패널(100)에 크랙이 발생하여 과전류가 발생하는 경우, 구동 전원의 공급을 중단함으로써 화재를 방지할 수 있다.
크랙 감지부(400)는 전원 라인에 흐르는 센싱 전류(SI)를 측정하고, 연속적인 M(단, M은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들 동안 센싱 전류(SI)를 모니터링함으로써 크랙 발생 신호(CS)를 생성할 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(100)에 외부 충격이 가해지는 경우, 제1 전원(ELVDD)이 공급되는 제1 전원 라인과 제2 전원(ELVSS)이 공급되는 제2 전원 라인 사이에 단락이 발생할 수 있다. 또한, 외부 충격에 의해 전원 라인(예를 들어, 제1 전원 라인, 제2 전원 라인, 등)과 신호 라인(예를 들어, 데이터 라인, 스캔 라인, 등) 사이에 단락이 발생할 수 있다. 단락에 의해 전원 라인에는 흐르는 전류가 변동되므로, 크랙 감지부(400)는 전원 라인에는 흐르는 전류를 모니터링 함으로써 크랙의 발생 여부를 판단할 수 있다. 이 때, 외부 환경 요인 또는 구동 환경 요인에 따라 순간적으로 과전류가 발생함에 따라 크랙 감지의 오류가 발생할 수 있으므로, 크랙 감지부(400)는 기 지정된 프레임 구간들 동안 과전류가 지속적으로 발생하는지 여부를 모니터링함으로써 크랙 감지에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 크랙 감지부(400)는 매 프레임 구간 또는 기 지정된 프레임 구간마다 센싱 전류(SI)를 측정할 수 있다.
일 실시예에서, 크랙 감지부(400)는 비발광 구간에서 제2 전원(ELVSS)이 공급되는 제2 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류를 측정하고, 복수의 프레임 구간들에서 제1 센싱 전류의 평균값에 기초하여 표시 패널(100)의 크랙을 감지할 수 있다. 일 실시예에서, 크랙 감지부(400)는 발광 구간에서 제2 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류를 측정하고, 제2 센싱 전류의 평균값에 기초하여 표시 패널(100)의 크랙을 감지할 수 있다. 이 때, 크랙 감지부(400)는 표시 장치(1000A)의 구동 환경에 따라 크랙을 감지하기 위한 기준값을 조정함으로써 크랙 감지에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 크랙 감지부(400)의 구조에 대해서는 도 2 및 도 7을 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
비록, 도 1에서는 크랙 감지부(400)가 제2 전원 라인에 흐르는 전류를 측정하였으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 크랙 감지부(400)는 제1 전원(ELVDD)이 공급되는 제1 전원 라인에 흐르는 전류를 측정할 수 있다.
비록, 도 1에서는 크랙 감지부(400)가 타이밍 제어부(250)로 크랙 발생 신호(CS)를 제공하고, 타이밍 제어부(250)가 전원 공급부(300)를 제어하는 것으로 도시하였으나, 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 크랙 감지부(400)는 전원 공급부(300)로 크랙 발생 신호(CS)를 직접 제공할 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 크랙 감지부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 2를 참조하면, 크랙 감지부(400A)는 제1 전류 센싱부(410), 전류값 저장부(430), 신호 생성부(440A), 및 기준값 제공부(450A)를 포함할 수 있다.
제1 전류 센싱부(410)는 제1 센싱 제어 신호(CT1)에 응답하여 비발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류(SI1)를 측정하고, 제1 센싱 전류(SI1)를 전류값 저장부(430)에 저장할 수 있다. 비발광 구간에서 화소들은 블랙 영상을 표시하므로, 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류(SI1)의 크기는 데이터 신호와 관계 없이 일정(예를 들어, 0A)할 수 있다. 따라서, 제1 전류 센싱부(410)는 비발광 구간에서 흐르는 제1 센싱 전류(SI1)를 측정함으로써, 크랙 감지의 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 일 실시예에서, 제1 전류 센싱부(410)는 제1 센싱 전류(SI1)를 디지털 신호 형태로 변환하기 위한 전류 적분기 및 아날로그-디지털 컨버터(analog-digital converter; ADC)를 포함할 수 있다. 또한, 제1 전류 센싱부(410)는 제1 센싱 제어 신호(CT1)에 응답하여 전원 라인을 전류 전분기에 연결하는 스위치를 더 포함할 수 있다.
전류값 저장부(430)는 연속적인 복수의 프레임 구간들에서 제1 센싱 전류(SI1)의 평균값을 도출하기 위해 제1 전류 센싱부(410)에서 측정된 제1 센싱 전류(SI1)를 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 전류값 저장부(430)는 휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다. 전류값 저장부(430)가 휘발성 메모리 장치인 경우, 상대적으로 빠른 속도로 제1 센싱 전류(SI1)의 평균값이 도출될 수 있다. 예를 들어, 전류값 저장부(430)는 DRAM(Dynamic Random Access Memory), SRAM(Static Random Access Memory), 등을 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 전류값 저장부(430)는 비휘발성 메모리 장치를 포함할 수 있다. 비휘발성 메모리 장치는 가격이 비교적 저렴하고 대용량을 저장할 수 있다. 예를 들어, 전류값 저장부(430)은 플래시 메모리(Flash Memory), EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PRAM(Phase Change Random Access Memory), 등을 포함할 수 있다.
신호 생성부(440A)는 전류값 저장부(430)에 저장된 연속적인 N(단, N은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들에 상응하는 제1 센싱 전류(SI1)의 평균값을 도출할 수 있다. 즉, 비발광 구간에서 정상적인 구동 상태에서 제1 센싱 전류(SI)의 크기는 데이터 신호와 관계 없이 일정하므로, 신호 생성부(440A)는 복수의 프레임 구간들에 상응하는 제1 센싱 전류(SI1)의 평균값을 이용하여 표시 패널의 크랙 발생 여부를 확인함으로써 크랙 감지의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
또한, 신호 생성부(440A)는 연속적인 M(단, M은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들 동안 평균값과 제1 기준 전류값(RV1)의 차이값이 제1 임계값(LV1)을 초과하는 경우, 크랙 발생 신호(CS)를 생성할 수 있다. 즉, 신호 생성부(440A)는 연속적인 M 프레임 구간들 동안 과전류가 지속적으로 발생하는지 여부를 확인함으로써 순간적으로 과전류가 발생함에 따른 크랙 감지의 오류를 방지할 수 있다. 일반적으로, M이 상대적으로 큰 값을 갖는 경우, 크랙 감지의 신뢰성은 높지만 전원 공급의 중단 시점이 늦어지므로 화재의 위험성이 높아질 수 있다. 반면에, M이 상대적으로 작은 값을 갖는 경우, 화재의 위험성을 낮출 수 있지만, 구동 환경에 의해 발생할 수 있는 순간적으로 과전류로 인해 크랙 감지의 오류가 발생할 가능성이 높아질 수 있다.
기준값 제공부(450A)는 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1)을 신호 생성부(440A)에 제공할 수 있다. 기준값 제공부(450A)는 기 지정된 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1)을 신호 생성부(440A)에 제공하거나, 구동 환경에 따라 조정된 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1)을 신호 생성부(440A)에 제공할 수 있다.
일 실시예에서, 기준값 제공부(450A)는 표시 패널의 온도(TD)에 기초하여 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1)을 조정할 수 있다. 예를 들어, 외부 온도가 높거나 구동 시간이 길어짐에 따라 표시 패널의 온도(TD)가 증가하는 경우, 제1 센싱 전류(SI1)가 증가하고 큰 오차 범위를 가질 수 있다. 따라서, 기준값 제공부(450A)는 온도 센서로부터 표시 패널의 온도(TD)를 수신하고, 표시 패널의 온도(TD)와 기준값(즉, 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1))의 관계를 저장하는 룩업 테이블(Look-up table) 또는 수식을 이용하여 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1)을 조정할 수 있다.
다른 실시예에서, 기준값 제공부(450A)는 화소들의 열화 데이터(DD)에 기초하여 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1)을 조정할 수 있다. 예를 들어, 화소들이 열화됨에 따라 제1 센싱 전류(SI1)가 증가하고 큰 오차 범위를 가질 수 있다. 따라서, 기준값 제공부(450A)는 데이터 신호를 누적하여 저장한 누적 구동 데이터 등과 같은 열화 데이터(DD)를 수신하고, 열화 데이터(DD)와 기준값의 관계를 저장하는 룩업 테이블 또는 수식을 이용하여 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1)을 조정할 수 있다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 화소의 일 예를 나타내는 회로도이다. 도 4A 및 도 4B는 도 1의 표시 장치가 비발광 구간에서 제1 센싱 전류를 측정하는 예들을 나타내는 도면들이다.
도 3, 도 4A, 및 도 4B를 참조하면, 표시 장치는 화소(PXij)들이 일 프레임 구간 중 비발광 구간에서 블랙 영상을 표시하고 발광 구간에서 유효 영상을 표시하는 동시 발광 방식으로 구동될 수 있다. 또한, 크랙 감지부는 비발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 전류(즉, 제1 센싱 전류)를 측정함으로써 크랙의 발생 여부를 판단할 수 있다.
도 3에 도시된 바와 같이, 화소(PXij)는 제1 내지 제3 트랜지스터들(T1 내지 T3), 제1 및 제2 커패시터들(C1 및 C2), 및 유기 발광 다이오드(OLED)를 포함할 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)는 스캔 라인(SLi)에 연결된 게이트 전극, 데이터 라인(DLj)에 연결된 제1 전극, 및 제1 노드(N1)에 연결된 제2 전극을 포함할 수 있다. 즉, 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극에는 스캔 신호가 인가되고, 제1 전극에는 데이터 신호가 인가될 수 있다.
제2 트랜지스터(T2)는 제2 노드(N2)에 연결된 게이트 전극, 제1 전원(ELVDD)에 연결된 제1 전극, 및 유기 발광 다이오드(OLED)의 제1 전극에 연결되는 제2 전극을 포함할 수 있다. 여기서, 제2 트랜지스터(T2)는 구동 트랜지스터로서의 역할을 수행할 수 있다.
제1 커패시터(C1)는 제1 노드(N1) 및 제2 트랜지스터(T2)의 제1 전극 즉, 제 1전원(ELVDD) 사이에 연결될 수 있다. 제2 커패시터(C2)는 제1 노드(N1) 및 제2 노드(N2) 사이에 연결될 수 있다.
제3 트랜지스터(T3)는 공통 제어 라인(GC)에 연결된 게이트 전극, 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극에 연결된 제1 전극, 및 유기 발광 다이오드의 제1 전극 및 제2 트랜지스터(T2)의 제2 전극과 연결된 제2 전극을 포함할 수 있다. 이에 따라, 제3 트랜지스터(T3)의 게이트 전극에는 공통 제어 신호가 인가될 수 있다. 제3 트랜지스터(T3)가 턴-온되는 경우, 제2 트랜지스터(T2)는 다이오드 연결될 수 있다.
유기 발광 다이오드(OLED)의 제1 전극은 제2 트랜지스터(T2)의 제2 전극 및 제3 트랜지스터(T3)의 제2 전극에 연결되고, 유기 발광 다이오드(OLED)의 제2 전극은 제2 전원(ELVSS)에 연결될 수 있다. 유기발광소자(OLED)는 제2 트랜지스터(T2)로부터 공급되는 구동 전류에 대응하는 빛을 발광할 수 있다.
도 4A에 도시된 바와 같이, 화소는 일 프레임 구간은 발광 구간(EP) 및 비발광 구간(NP)을 포함하는 동시 발광 방식으로 구동될 수 있다. 예를 들어, 비발광 구간(NP)은 초기화 구간(P1), 리셋 구간(P2), 문턱 전압 보상 구간(P3), 스캔 구간(P4)을 포함할 수 있다.
초기화 구간(P1)에서 화소들은 제1 및 제2 노드들의 전압이 초기화될 수 있다. 예를 들어, 초기화 구간(P1)에서 스캔 신호가 인가되고, 데이터 신호는 초기화 전압으로 설정될 수 있다.
리셋 구간(P2)에서 화소에 인가된 데이터 전압이 리셋될 수 있다. 예를 들어, 리셋 구간(P2)에서 데이터 신호는 스캔 신호보다 낮은 레벨의 전압으로 설정되고, 유기 발광 다이오드의 제1 전극의 전압이 제2 전극의 전압 이하로 설정될 수 있다.
문턱 전압 보상 구간(P3)에서 화소에 구비된 구동 트랜지스터(즉, 제2 트랜지스터)의 문턱 전압이 제1 커패시터에 저장될 수 있다. 이에 따라, 구동 트랜지스터의 문턱 전압 편차에 의한 품질 저하를 방지할 수 있다.
스캔 구간(P4)에서 스캔 신호가 스캔 라인들에 순차적으로 인가되고, 이에 대응하여 화소에 데이터 라인으로부터 공급되는 데이터 신호가 순차적으로 입력될 수 있다.
발광 구간(EP)에서 각 화소에 저장된 데이터 전압에 대응되는 구동 전류가 각 화소에 구비된 유기 발광 다이오드로 제공되어 빛을 발광할 수 있다.
일 실시예에서, 도 4A와 같이, 비발광 구간(NP) 중 스캔 구간(P4)에서 제1 센싱 제어 신호(CT1)가 크랙 감지부의 제1 전류 센싱부에 인가되고, 제1 센싱 전류가 측정될 수 있다. 정상 구동 상태에서, 스캔 구간(P4) 동안 구동 전류가 유기 발광 다이오드에 흐르지 않으므로, 제1 센싱 전류는 데이터 신호와 관계없이 일정할 수 있다. 따라서, 크랙 감지부는 스캔 구간(P4) 동안 제1 센싱 전류를 측정함으로써 크랙 발생 여부를 쉽게 판단할 수 있다.
다른 실시예에서, 도 4B와 같이, 일 프레임 구간은 복수의 비발광 구간들(예를 들어, 제1 비발광 구간(NP1) 및 제2 비발광 구간(NP2))을 포함하고, 크랙 감지부는 데이터 신호가 화소에 입력되는 스캔 구간(P4)이 존재하지 않는 비발광 구간(예를 들어, 제2 비발광 구간(NP2)) 동안 제1 센싱 전류를 측정할 수 있다. 스캔 구간(P4)에서 제1 센싱 전류가 측정하는 경우, 데이터 라인과 전원 라인 사이에 존재하는 기생 커패시터의 영향으로 커플링 노이즈가 발생할 수 있다. 따라서, 제1 센싱 전류에 대한 노이즈를 최소화하기 위해 스캔 구간(P4)이 존재하지 않고, 구동 신호가 일정하게 유지되는 제2 비발광 구간(NP2)에서 제1 센싱 제어 신호(CT1)가 제1 전류 센싱부에 인가되고, 제1 센싱 전류가 측정될 수 있다.
도 5는 비발광 구간에서 측정된 제1 센싱 전류를 이용하여 제1 센싱 전류의 평균값을 산출하고 크랙을 감지하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 5를 참조하면, 신호 생성부는 전류값 저장부에 저장된 각 프레임 구간들에 대응하는 제1 센싱 전류들을 이용하여 연속적인 N 프레임 구간들에 상응하는 제1 센싱 전류의 평균값을 도출할 수 있다. 예를 들어, 제L (단, L는 N보다 큰 정수) 프레임 구간에서, 신호 생성부는 전류값 저장부에 저장된 제(L-N+1) 내지 제L 프레임 구간들에 상응하는 제1 센싱 전류의 제L 평균값(ASI(L))을 산출할 수 있다. 또한, 제(L+1) 프레임 구간에서, 신호 생성부는 전류값 저장부에 저장된 제(L-N+2) 내지 제(L+1) 프레임 구간들에 상응하는 제1 센싱 전류의 제(L+1) 평균값(ASI(L+1))을 산출할 수 있다.
또한, 신호 생성부는 연속적인 M 프레임 구간들 동안 평균값이 기준값 범위를 벗어나는 경우, 크랙 발생 신호를 생성할 수 있다. 예를 들어, 제L 평균값(ASI(L)) 내지 제(L+M-1) 평균값(ASI(L+M-1))들 각각과 기준 전류값의 차이값이 임계값을 초과하는 경우, 크랙 발생 신호를 생성할 수 있다.
도 6은 비발광 구간에서 측정된 제1 센싱 전류에 기초하여 표시 패널의 크랙을 감지하는 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 6을 참조하면, 센싱 전류값이 기준값 범위를 초과하는 이상 전류가 연속적으로 측정된 횟수를 저장한 변수 K가 0으로 초기화(S110)될 수 있다. 비발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류(SI1)가 측정되고, 제1 센싱 전류(SI1)가 메모리 장치에 저장(S120)될 수 있다.
메모리 장치에 저장된 연속적인 N 프레임 구간들에 상응하는 제1 센싱 전류의 평균값(ASI)이 산출(S130)될 수 있다. 구동 환경에 따라 조정된 제1 기준 전류값(RV1) 및 제1 임계값(LV1)이 도출(S140)될 수 있다.
제1 센싱 전류의 평균값(ASI)가 정상적인 전류 크기를 갖는지 여부가 확인(S150)될 수 있다. 즉, 평균값(ASI)이 제1 기준 전류값(RV1)과 제1 임계값(LV1)의 차보다 크거나, 제1 기준 전류값(RV1)과 제1 임계값(LV1)의 합보다 작은 경우, 센싱 전류값이 기준값 범위내에 해당하므로 정상적인 구동으로 판단하고 변수 K를 0으로 초기화(S110)시킬 수 있다. 반면에, 평균값(ASI)이 제1 기준 전류값(RV1)과 제1 임계값(LV1)의 차이값 이하거나 제1 기준 전류값(RV1)과 제1 임계값(LV1)의 합산값 이상 경우, 이상 전류로 판단하고, 변수 K를 1 증가(S160)시킬 수 있다.
변수 K와 크랙 감지를 위한 기준값 M을 비교(S170)할 수 있다. K값이 M미만인 경우, 다음 프레임에서 제1 센싱 전류를 측정하고 이상 전류가 지속적으로 발생하는지 여부를 확인할 수 있다. 반면에, K값이 M 이상인 경우, 표시 패널의 크랙이 발생한 것으로 판단할 수 있다. 이에 따라, 크랙 발생 신호가 생성되고 구동 전원 공급을 중단(S180)할 수 있다.
도 7은 도 1의 표시 장치에 포함된 크랙 감지부의 다른 예를 나타내는 블록도이다. 도 8은 도 1의 표시 장치가 발광 구간에서 제2 센싱 전류를 측정하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7 및 도 8을 참조하면, 크랙 감지부(400B)는 제1 전류 센싱부(410), 제2 전류 센싱부(420), 전류값 저장부(430), 신호 생성부(440B), 및 기준값 제공부(450B)를 포함할 수 있다. 다만, 본 실시예에 따른 크랙 감지부(400B)는 제2 전류 센싱부(420)가 추가된 것을 제외하면, 도 2의 크랙 감지부와 실질적으로 동일하므로, 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 사용하고, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
제1 전류 센싱부(410)는 제1 센싱 제어 신호(CT1)에 응답하여 비발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류(SI1)를 측정하고, 제1 센싱 전류(SI1)를 전류값 저장부(430)에 저장할 수 있다. 제2 전류 센싱부(420)는 제2 센싱 제어 신호(CT2)에 응답하여 발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류(SI2)를 측정할 수 있다. 도 8에 도시된 바와 같이, 비발광 구간(NP) 중 스캔 구간(P4)에서 제1 센싱 제어 신호(CT1)가 크랙 감지부(400B)의 제1 전류 센싱부(410)에 인가되고, 제1 센싱 전류(SI1)가 측정될 수 있다. 또한, 발광 구간(EP)의 일부에서 제2 센싱 제어 신호(CT2)가 크랙 감지부(400B)의 제2 전류 센싱부(420)에 인가되고, 제2 센싱 전류(SI2)가 측정될 수 있다.
신호 생성부(440B)는 전류값 저장부(430)에 저장된 연속적인 N 프레임 구간들에 상응하는 제1 센싱 전류(SI1)의 평균값을 도출할 수 있다. 신호 생성부(440B)는 연속적인 M1(단, M1은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들 동안 평균값과 제1 기준 전류값(RV1)의 차이값이 제1 임계값(LV1)을 초과하는 경우, 크랙 발생 신호(CS)를 생성할 수 있다. 추가적으로, 신호 생성부(440B)는 연속적인 M2(단, M2은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들 동안 제2 센싱 전류(SI2)와 제2 기준 전류값(RV2)의 차이값이 제2 임계값(LV2)을 초과하는 경우, 크랙 발생 신호(CS)를 생성할 수 있다. 즉, 신호 생성부(440B)는 비발광 구간에서 측정된 제1 센싱 전류(SI1) 또는 발광 구간에서 측정된 제2 센싱 전류(SI2)에 기초하여 크랙 발생 여부를 이중적으로 확인할 수 있다.
기준값 제공부(450B)는 제1 기준 전류값(RV1), 제1 임계값(LV1), 제2 기준 전류값(RV2), 제2 임계값(LV2)을 신호 생성부(440B)에 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 기준값 제공부(450B)는 표시 패널의 온도(TD)에 기초하여 제1 기준 전류값(RV1), 제1 임계값(LV1), 제2 기준 전류값(RV2), 제2 임계값(LV2)을 조정할 수 있다. 다른 실시예에서, 기준값 제공부(450B)는 화소들의 열화 데이터(DD)에 기초하여 제1 기준 전류값(RV1), 제1 임계값(LV1), 제2 기준 전류값(RV2), 제2 임계값(LV2)을 조정할 수 있다.
일 실시예에서, 기준값 제공부(450B)는 입력 영상 데이터(ID)에 기초하여 제2 기준 전류값(RV2) 및 제2 임계값(LV2)을 생성하고, 제2 기준 전류값(RV2) 및 제2 임계값(LV2)을 신호 생성부(440B)에 제공할 수 있다. 발광 구간에서 화소들은 유효 영상을 표시하므로, 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류(SI2)의 크기는 입력 영상 데이터(ID)에 따라 변동할 수 있다. 따라서, 기준값 제공부(450B)는 입력 영상 데이터(ID)와 제2 기준 전류값(RV2)/제2 임계값(LV2)의 관계를 저장하는 룩업 테이블에 기초하여 제2 기준 전류값(RV2) 및 제2 임계값(LV2)을 생성할 수 있다.
크랙 감지부(400B)는 제2 전류 센싱부(420)를 포함함으로써 비발광 구간뿐만 아니라, 발광 구간에서도 전원 라인에 흐르는 전류를 측정하여 크랙 발생 여부를 확인할 수 있다. 이에 따라, 크랙 발생을 이중으로 확인함으로써 크랙 발생 감지를 위한 시간 간격을 줄이고, 크랙 감지의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
도 9는 발광 구간에서 측정된 제2 센싱 전류에 기초하여 표시 패널의 크랙을 감지하는 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 9를 참조하면, 센싱 전류값이 기준값 범위를 초과하는 이상 전류가 연속적으로 측정된 횟수를 저장한 변수 K가 0으로 초기화(S210)될 수 있다. 발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류(SI2)가 측정(S220)될 수 있다.
입력 영상 데이터에 기초하여 제2 기준 전류값(RV2) 및 제2 임계값(LV2)가 도출(S240)될 수 있다. 예를 들어, 입력 영상 데이터와 기준값(즉, 제2 기준 전류값(RV2)/제2 임계값(LV2))의 관계를 저장하는 룩업 테이블에 기초하여 제2 기준 전류값(RV2) 및 제2 임계값(LV2)가 도출될 수 있다.
제2 센싱 전류(SI2)가 정상적인 전류 크기를 갖는지 여부가 확인(S250)될 수 있다. 즉, 제2 센싱 전류(SI2)가 제2 기준 전류값(RV2)과 제2 임계값(LV2)의 차보다 크거나, 제2 기준 전류값(RV2)과 제2 임계값(LV2)의 합보다 작은 경우, 센싱 전류값이 기준값 범위내에 해당하므로 정상적인 구동으로 판단하고 변수 K를 0으로 초기화(S210)시킬 수 있다. 반면에, 제2 센싱 전류(SI2)가 제2 기준 전류값(RV2)과 제2 임계값(LV2)의 차이값 이하거나 제2 기준 전류값(RV2)과 제2 임계값(LV2)의 합산값 이상 경우, 이상 전류로 판단하고, 변수 K를 1 증가(S260)시킬 수 있다.
변수 K와 크랙 감지를 위한 기준값 M을 비교(S270)할 수 있다. K값이 M미만인 경우, 다음 프레임에서 제2 센싱 전류를 측정하고 이상 전류가 지속적으로 발생하는지 여부를 확인할 수 있다. 반면에, K값이 M 이상인 경우, 표시 패널의 크랙이 발생한 것으로 판단할 수 있다. 이에 따라, 크랙 발생 신호가 생성되고 구동 전원 공급을 중단(S280)할 수 있다.
도 10은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치를 나타내는 블록도이다. 도 11은 도 11의 표시 장치에 포함된 크랙 감지부의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 10 및 도 11을 참조하면, 표시 장치(1000B)는 표시 패널(100), 패널 구동부(200), 전원 공급부(300), 및 크랙 감지부(500)를 포함할 수 있다. 다만, 본 실시예에 따른 표시 장치(1000B)는 크랙 감지부(500)가 제1 전원 라인 및 제2 전원 라인에 연결되는 것을 제외하면, 도 2의 표시 장치와 실질적으로 동일하므로, 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 사용하고, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
표시 패널(100)은 복수의 화소(PX)들을 포함할 수 있다.
패널 구동부(200)는 영상을 표시하기 위해 표시 패널(100)의 화소(PX)들에 구동 신호를 공급할 수 있다. 일 실시예에서, 패널 구동부(200)는 스캔 구동부(210), 데이터 구동부(230), 및 타이밍 제어부(250)를 포함할 수 있다.
전원 공급부(300)는 제1 전원 라인을 통해 화소(PX)들에 제1 전원(ELVDD)을 공급하고, 제2 전원 라인을 통해 화소(PX)들에 제2 전원(ELVSS)을 공급할 수 있다. 또한, 전원 공급부(300)는 크랙 발생 신호(CS)에 기초하여 제1 전원(ELVDD) 및 제2 전원(ELVSS)의 공급을 중단할 수 있다.
크랙 감지부(500)는 제1 전원 라인에 흐르는 제3 센싱 전류(SI3) 및 제2 전원 라인에 흐르는 제4 센싱 전류(SI4)를 측정하고, 연속적인 M 프레임 구간들 동안 센싱 전류(즉, 제3 센싱 전류(SI3) 및 제4 센싱 전류(SI4))를 모니터링함으로써 크랙 발생 신호(CS)를 생성할 수 있다. 만일, 크랙 감지부(500)가 제4 센싱 전류(SI4)만을 측정하고 제1 전원 라인과 신호 라인 사이에 단락이 발생한 경우, 크랙 감지부(500)는 크랙 감지의 오류가 발생할 가능성이 있다. 반면에, 크랙 감지부(500)는 제3 센싱 전류(SI3) 및 제4 센싱 전류(SI4)에 기초하여 크랙 발생 여부를 판단함으로써 크랙 감지에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
도 11에 도시된 바와 같이, 크랙 감지부(500)는 제3 전류 센싱부(510), 제4 전류 센싱부(520), 전류값 저장부(530), 신호 생성부(540), 및 기준값 제공부(550)를 포함할 수 있다. 다만, 본 실시예에 따른 크랙 감지부(500)는 제1 전류 센싱부 대신 제3 및 제4 전류 센싱부들이 추가된 것을 제외하면, 도 2의 크랙 감지부와 실질적으로 동일하므로, 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 사용하고, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
제3 전류 센싱부(510)는 제3 센싱 제어 신호(CT3)에 응답하여 비발광 구간에서 제1 전원 라인에 흐르는 제3 센싱 전류(SI3)를 측정하고, 제3 센싱 전류(SI3)를 전류값 저장부(530)에 저장할 수 있다. 제4 전류 센싱부(520)는 제4 센싱 제어 신호(CT4)에 응답하여 비발광 구간에서 제2 전원 라인에 흐르는 제4 센싱 전류(SI4)를 측정하고, 제4 센싱 전류(SI4)를 전류값 저장부(530)에 저장할 수 있다.
신호 생성부(540)는 전류값 저장부(530)에 저장된 연속적인 N 프레임 구간들에 상응하는 제3 센싱 전류(SI3)의 평균값 및 제4 센싱 전류(SI4)의 평균값을 도출할 수 있다. 또한, 신호 생성부(540)는 연속적인 M 프레임 구간들 동안 제3 센싱 전류(SI3)의 평균값과 제3 기준 전류값(RV3)의 차이값이 제3 임계값(LV3)을 초과하는 경우 또는 제4 센싱 전류(SI4)의 평균값과 제4 기준 전류값(RV4)의 차이값이 제4 임계값(LV4)을 초과하는 경우, 크랙 발생 신호(CS)를 생성할 수 있다.
기준값 제공부(550)는 제3 기준 전류값(RV3), 제3 임계값(LV3), 제4 기준 전류값(RV4), 및 제4 임계값(LV4)을 신호 생성부(540)에 제공할 수 있다. 일 실시예에서, 기준값 제공부(550)는 기 지정된 제3 기준 전류값(RV3), 제3 임계값(LV3), 제4 기준 전류값(RV4), 및 제4 임계값(LV4)을 신호 생성부(540)에 제공할 수 있다. 다른 실시예에서, 기준값 제공부(550)는 구동 환경(예를 들어, 표시 패널의 온도(TD), 열화 데이터(DD), 등)에 따라 조정된 제3 기준 전류값(RV3), 제3 임계값(LV3), 제4 기준 전류값(RV4), 및 제4 임계값(LV4)을 신호 생성부(540)에 제공할 수 있다.
이상, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법에 대하여 도면을 참조하여 설명하였지만, 상기 설명은 예시적인 것으로서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다. 예를 들어, 상기에서는 패널 구동부가 동시 발광 방식으로 표시 패널을 구동하는 것으로 설명하였으나, 표시 패널의 구동 방법은 이에 한정되는 것이 아니다. 예를 들어, 패널 구동부는 스캔 라인들에 순차적으로 인가되는 스캔 신호에 따라 순차적으로 발광하는 순차 구동 방식으로 표시 패널을 구동할 수 있다.
본 발명은 표시 장치를 구비한 전자 기기에 다양하게 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 컴퓨터, 노트북, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 피엠피(PMP), 피디에이(PDA), MP3 플레이어, 디지털 카메라, 비디오 캠코더 등에 적용될 수 있다.
상기에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 것이다.
100: 표시 패널 200: 패널 구동부
210: 스캔 구동부 230: 데이터 구동부
250: 타이밍 제어부 300: 전원 공급부
400: 크랙 감지부 410: 제1 전류 센싱부
420: 제2 전류 센싱부 430: 전류값 저장부
440A, 440B: 신호 생성부 450A, 450B: 기준값 제공부
1000A, 1000B: 표시 장치

Claims (20)

  1. 복수의 화소들을 구비하는 표시 패널;
    전원 라인을 통해 상기 화소들에 구동 전원을 공급하고, 크랙 발생 신호에 기초하여 상기 구동 전원의 공급을 중단하는 전원 공급부;
    일 프레임 구간 중 비발광 구간에서 블랙 영상을 표시하고 발광 구간에서 유효 영상을 표시하기 위한 구동 신호를 상기 화소들에 공급하는 패널 구동부; 및
    상기 전원 라인에 흐르는 센싱 전류를 측정하고, 연속적인 M(단, M은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들 동안 상기 센싱 전류를 모니터링함으로써 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 크랙 감지부를 포함하고,
    상기 크랙 감지부는
    매 프레임 구간마다 상기 비발광 구간에서 상기 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류를 측정하고, 상기 제1 센싱 전류를 전류값 저장부에 저장하는 제1 전류 센싱부; 및
    상기 전류값 저장부에 저장된 연속적인 N(단, N은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들에 상응하는 상기 제1 센싱 전류의 평균값을 도출하고, 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제1 센싱 전류의 상기 평균값과 제1 기준 전류값의 차이값이 제1 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 신호 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  2. 삭제
  3. 제1 항에 있어서, 상기 크랙 감지부는
    상기 제1 기준 전류값 및 상기 제1 임계값을 상기 신호 생성부에 제공하는 기준값 제공부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제3 항에 있어서, 상기 기준값 제공부는 상기 표시 패널의 온도에 기초하여 상기 제1 기준 전류값 및 상기 제1 임계값을 조정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  5. 제3 항에 있어서, 상기 기준값 제공부는 상기 화소들의 열화 데이터에 기초하여 상기 제1 기준 전류값 및 상기 제1 임계값을 조정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 크랙 감지부는
    매 프레임 구간마다 상기 발광 구간에서 상기 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류를 측정하는 제2 전류 센싱부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서, 상기 신호 생성부는 상기 연속적인 N 프레임 구간들에 상응하는 상기 제2 센싱 전류의 평균값을 도출하고, 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제2 센싱 전류의 상기 평균값과 제2 기준 전류값의 차이값이 제2 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제7 항에 있어서, 상기 크랙 감지부는
    입력 영상 데이터에 기초하여 상기 제2 기준 전류값을 생성하고, 상기 제2 기준 전류값 및 상기 제2 임계값을 상기 신호 생성부에 제공하는 기준값 제공부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제1 항에 있어서, 상기 크랙 감지부는
    상기 발광 구간에서 상기 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류를 측정하는 제2 전류 센싱부; 및
    상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제2 센싱 전류와 제2 기준 전류값의 차이값이 제2 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 신호 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제1 항에 있어서, 상기 크랙 감지부는 매 프레임 구간마다 상기 센싱 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 제1 항에 있어서, 상기 비발광 구간은 초기화 구간 및 스캔 구간을 포함하고,
    상기 크랙 감지부는 상기 스캔 구간에서 상기 센싱 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  12. 제1 항에 있어서, 상기 일 프레임 구간은 복수의 비발광 구간들을 포함하고,
    상기 크랙 감지부는 상기 비발광 구간들 중 상기 구동 신호가 일정하게 유지되는 비발광 구간에서 상기 센싱 전류를 측정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  13. 복수의 화소들을 구비하는 표시 패널;
    제1 전원 라인을 통해 상기 화소들에 제1 전원을 공급하고, 제2 전원 라인을 통해 상기 화소들에 제2 전원을 공급하며, 크랙 발생 신호에 기초하여 상기 제1 전원 및 상기 제2 전원의 공급을 중단하는 전원 공급부;
    상기 화소들에 구동 신호를 공급하는 패널 구동부; 및
    상기 제1 전원 라인 및 상기 제2 전원 라인 중 적어도 하나에 흐르는 센싱 전류를 측정하고, 연속적인 M(단, M은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들 동안 상기 센싱 전류를 모니터링함으로써 크랙 발생 신호를 생성하는 크랙 감지부를 포함하고,
    상기 크랙 감지부는
    매 프레임 구간마다 상기 제1 전원 라인에 흐르는 제3 센싱 전류를 측정하는 제3 전류 센싱부;
    매 프레임 구간마다 상기 제2 전원 라인에 흐르는 제4 센싱 전류를 측정하는 제4 전류 센싱부; 및
    연속적인 N(단, N은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들에 상응하는 상기 제3 센싱 전류의 평균값을 도출하고, 상기 연속적인 N 프레임 구간들에 상응하는 상기 제4 센싱 전류의 평균값을 도출하며, 상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제3 센싱 전류의 상기 평균값과 제3 기준 전류값의 차이값이 제3 임계값을 초과하는 경우 또는 상기 제4 센싱 전류의 상기 평균값과 제4 기준 전류값의 차이값이 제4 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 신호 생성부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  14. 삭제
  15. 제13 항에 있어서, 상기 크랙 감지부는
    입력 영상 데이터에 기초하여 상기 제3 기준 전류값 및 상기 제4 기준 전류값을 생성하고, 상기 제3 기준 전류값 및 상기 제4 기준 전류값을 상기 신호 생성부에 제공하는 기준값 제공부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  16. 제15 항에 있어서, 상기 기준값 제공부는 상기 표시 패널의 온도에 기초하여 상기 제3 기준 전류값, 상기 제3 임계값, 상기 제4 기준 전류값 및 상기 제4 임계값을 조정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  17. 제15 항에 있어서, 상기 기준값 제공부는 상기 화소들의 열화 데이터에 기초하여 상기 제3 기준 전류값, 상기 제3 임계값, 상기 제4 기준 전류값 및 상기 제4 임계값을 조정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  18. 일 프레임 구간 중 비발광 구간에서 블랙 영상을 표시하고 발광 구간에서 유효 영상을 표시하는 표시 장치의 구동 방법에 있어서,
    매 프레임 구간마다 상기 비발광 구간에서 전원 라인에 흐르는 제1 센싱 전류를 측정하는 단계;
    상기 제1 센싱 전류를 메모리 장치에 저장하는 단계;
    상기 메모리 장치에 저장된 연속적인 N(단, N은 1보다 큰 정수) 프레임 구간들에 상응하는 상기 제1 센싱 전류의 평균값을 도출하는 단계;
    상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제1 센싱 전류의 상기 평균값과 제1 기준 전류값의 차이값이 제1 임계값을 초과하는 경우, 크랙 발생 신호를 생성하는 단계; 및
    상기 크랙 발생 신호에 응답하여 상기 표시 장치의 구동 전원의 공급을 중단하는 단계를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  19. 제18 항에 있어서,
    매 프레임 구간마다 상기 발광 구간에서 상기 전원 라인에 흐르는 제2 센싱 전류를 측정하는 단계;
    상기 연속적인 N 프레임 구간들에 상응하는 상기 제2 센싱 전류의 평균값을 도출하는 단계; 및
    상기 연속적인 M 프레임 구간들 동안 상기 제2 센싱 전류의 상기 평균값과 제2 기준 전류값의 차이값이 제2 임계값을 초과하는 경우, 상기 크랙 발생 신호를 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
  20. 제19 항에 있어서, 상기 제2 기준 전류값은 입력 영상 데이터에 기초하여 조정되는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
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