KR102511201B1 - 과전압으로부터 소자를 보호하기 위한 전자 회로 및 그것을 포함하는 전자 장치 - Google Patents
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Abstract
본 개시는 출력 생성기 및 과전압 검출기를 포함하는 전자 회로를 제공한다. 출력 생성기는 출력 신호를 출력 단자로 출력한다. 출력 단자의 전압의 크기가 허용 크기보다 큰 경우, 과전압 검출기는, 출력 생성기에 포함되는 소자들이 턴-오프되도록, 제 1 논리 값의 검출 신호를 출력한다. 검출 신호의 제 1 논리 값이 검출 신호의 제 2 논리 값으로 변한 후 기준 시간이 지나기 전에 과전압 검출기가 제 1 논리 값의 검출 신호를 다시 출력하는 경우, 턴-오프된 소자들은 턴-오프를 계속 유지한다. 검출 신호의 제 1 논리 값이 검출 신호의 제 2 논리 값으로 변한 후 기준 시간 동안 과전압 검출기가 제 2 논리 값의 검출 신호를 출력하는 경우, 턴-오프된 소자들은 턴-온된다. 본 발명에 따르면, 전자 회로의 소자들이 과전압에 의해 손상되는 것이 방지된다.
Description
본 개시는 전자 회로 및 전자 장치에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 전자 회로 또는 전자 장치에 포함되는 소자의 동작을 제어하기 위한 구성들 및 동작들에 관한 것이다.
근래 다양한 유형의 전자 장치들이 이용되고 있다. 전자 장치는 그것에 포함되는 전자 회로들의 동작들에 따라 고유의 기능들을 수행한다. 예로서, 데스크톱 컴퓨터, 스마트폰, 태블릿 컴퓨터 등과 같은 다양한 전자 장치가 사용자들에 의해 널리 이용되고 있고, 각 전자 장치는 사용자에게 서비스를 제공한다.
전자 회로는 다양한 소자(예컨대, 저항, 커패시터 등과 같은 수동 소자, 및 다이오드, 트랜지스터 등과 같은 능동 소자)를 포함하여 구현된다. 전자 회로를 동작시키기 위해 전압 및 전류가 전자 회로의 소자들로 제공되고, 따라서 전자 회로가 고유의 동작들을 수행한다.
전자 회로에 포함되는 각 소자는 특정 범위 내의 전압 및 전류에 기초하여 의도된 동작을 제공할 수 있다. 각 소자에 의해 허용되는 범위를 벗어나는 전압 또는 전류가 그 소자로 제공되는 경우, 그 소자는 의도된 동작을 제공하지 못할 수 있다. 게다가, 과도하게 큰 전압 또는 전류가 각 소자로 제공되는 경우, 그 소자는 손상될 수 있다.
예로서, 전자 장치는 외부 환경과의 인터페이싱을 위한 외부 단자를 포함할 수 있고, 전압 및 전류가 외부 단자를 통해 전자 회로의 소자들로 제공될 수 있다. 몇몇 경우, 과도하게 높은 전압(예컨대, 서지(Surge) 전압)이 외부 단자를 통해 전자 장치의 내부로 인가될 수 있고, 전자 회로의 소자들을 손상시킬 수 있다.
손상된 소자를 포함하는 전자 회로 및 전자 장치는 오동작을 야기할 수 있고, 의도된 서비스를 제공하지 못할 수 있다. 따라서, 전자 회로의 소자들이 손상되지 않도록 과도하게 높은 전압 및 전류로부터 전자 회로의 소자들을 보호하는 것은 전자 회로 및 전자 장치에게 중요하다.
본 개시의 실시 예들은 과전압으로부터 전자 회로의 소자들을 보호하기 위해 전자 회로의 소자들의 동작들을 제어하기 위한 구성들 및 동작들을 제공할 수 있다. 나아가, 본 개시의 실시 예들은 과전압에 기인하는 오동작을 방지하기 위한 동작들 및 노이즈의 발생을 방지하기 위한 동작들을 제공할 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 전자 회로는 출력 생성기 및 과전압 검출기를 포함할 수 있다. 출력 생성기는 입력 데이터에 기초하여 출력 신호를 생성하기 위한 경로 상의 스위치들을 포함할 수 있다. 출력 생성기는 출력 단자로의 출력 신호의 출력을 구동하는 트랜지스터들을 포함할 수 있다. 출력 단자의 전압의 크기가 허용 크기보다 큰 경우, 과전압 검출기는, 스위치들 및 트랜지스터들이 턴-오프되도록, 제 1 논리 값의 검출 신호를 출력 생성기로 제공할 수 있다. 출력 생성기는, 검출 신호의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 스위치들 및 트랜지스터들이 턴-오프를 유지하도록, 검출 신호에 기초하여 제 1 논리 값의 변환된 검출 신호를 생성할 수 있다. 검출 신호의 제 1 논리 값이 검출 신호의 제 2 논리 값으로 변한 후 기준 시간 동안 제 1 논리 값의 검출 신호가 과전압 검출기로부터 다시 수신되지 않는 경우, 출력 생성기는, 변환된 검출 신호의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프를 유지한 스위치들 및 트랜지스터들이 턴-온되도록, 제 2 논리 값의 변환된 검출 신호를 생성할 수 있다. 검출 신호의 제 1 논리 값이 검출 신호의 제 2 논리 값으로 변한 후 기준 시간이 지나기 전에 제 1 논리 값의 검출 신호가 과전압 검출기로부터 다시 수신되는 경우, 출력 생성기는 제 1 논리 값의 변환된 검출 신호를 유지할 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 전자 회로는 출력 생성기 및 과전압 검출기를 포함할 수 있다. 출력 생성기는 출력 신호를 출력 단자로 출력할 수 있다. 출력 단자의 전압의 크기가 허용 크기보다 큰 경우, 과전압 검출기는, 출력 생성기에 포함되는 소자들이 턴-오프되도록, 제 1 논리 값의 검출 신호를 출력할 수 있다. 검출 신호의 제 1 논리 값이 검출 신호의 제 2 논리 값으로 변한 후 기준 시간만큼의 시간이 지날 때까지, 검출 신호의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 소자들은 턴-오프를 유지할 수 있다. 검출 신호의 제 1 논리 값이 검출 신호의 제 2 논리 값으로 변한 후 기준 시간이 지나기 전에 과전압 검출기가 제 1 논리 값의 검출 신호를 다시 출력하는 경우, 검출 신호의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 소자들은 턴-오프를 계속 유지할 수 있다. 검출 신호의 제 1 논리 값이 검출 신호의 제 2 논리 값으로 변한 후 기준 시간 동안 과전압 검출기가 제 2 논리 값의 검출 신호를 출력하는 경우, 검출 신호의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 소자들은 턴-온될 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 전자 장치는 제 1 프로세서 및 제 2 프로세서를 포함할 수 있다. 제 1 프로세서는 데이터를 출력할 수 있다. 제 2 프로세서는 출력된 데이터에 기초하여 출력 신호를 외부 단자로 출력할 수 있다. 외부 단자의 전압의 크기가 허용 크기보다 큰 경우, 제 2 프로세서에 포함되는 소자들이 턴-오프될 수 있다. 허용 크기보다 큰 외부 단자의 전압의 크기가 허용 크기 아래로 변한 후 적어도 기준 시간만큼의 시간이 지날 때까지, 턴-오프된 소자들은 턴-오프를 유지할 수 있다. 허용 크기보다 큰 외부 단자의 전압의 크기가 허용 크기 아래로 변한 후 기준 시간 동안, 허용 크기 아래로 변한 외부 단자의 전압의 크기가 허용 크기보다 커지지 않는 경우, 턴-오프된 소자들이 턴-온될 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 전자 회로는 출력 생성기 및 과전압 검출기를 포함할 수 있다. 출력 생성기는 출력 신호를 출력 단자로 출력할 수 있다. 과전압 검출기는, 출력 생성기에 포함되는 능동 소자들이 턴-오프되도록, 검출 신호를 출력 생성기로 제공할 수 있다. 과전압 검출기는 저항성 소자들, 제 1 비교기, 제 2 비교기, 및 논리 회로를 포함할 수 있다. 저항성 소자들은 출력 단자의 전압을 분배하여 분배된 전압을 출력할 수 있다. 제 1 비교기는 분배된 전압을 제 1 기준 전압과 비교하여, 출력 단자의 전압이 양의 허용 전압보다 높은지 여부와 관련되는 제 1 비교 결과를 출력할 수 있다. 제 2 비교기는 분배된 전압을 제 1 기준 전압보다 낮은 제 2 기준 전압과 비교하여, 출력 단자의 전압이 음의 허용 전압보다 낮은지 여부와 관련되는 제 2 비교 결과를 출력할 수 있다. 논리 회로는 제 1 비교 결과 및 제 2 비교 결과에 기초하여 검출 신호를 생성할 수 있다.
본 개시의 실시 예들에 따르면, 전자 회로의 소자들이 과전압에 의해 손상되는 것이 방지될 수 있다. 따라서, 전자 회로 및 전자 장치의 신뢰성 및 안정성이 얻어질 수 있다. 본 개시의 실시 예들에 따르면, 적은 개수의 보호 소자들이 사용될 수 있고, 따라서 전자 회로 및 전자 장치의 제작 비용이 감소할 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 과전압에 기인하는 오동작이 방지될 수 있고, 사용자에 의해 인식되는 노이즈가 발생하는 것이 방지될 수 있다. 따라서, 전자 회로 및 전자 장치의 신뢰성 및 안정성이 향상될 수 있다.
도 1은 본 개시의 실시 예들에 따라 구성되고 동작할 수 있는 전자 장치의 예시적인 구현을 보여주는 개념도이다.
도 2는 본 개시의 실시 예들에 따라 구성되고 동작할 수 있는 전자 회로를 포함하는 도 1의 전자 장치의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 3은 도 2의 오디오 처리기 및 메인 프로세서와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 4 및 도 5는 도 3의 연결 신호와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 개념도들이다.
도 6은 도 3의 오디오 처리기의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 7 및 도 8은 도 6의 오디오 처리기에 포함되는 소자들의 특성들을 설명하기 위한 개념도들이다.
도 9는 도 6의 오디오 처리기에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 10은 도 6의 디지털 신호 처리기의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 11은 도 6의 오디오 처리기에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하는 상태도이다.
도 12는 도 6의 오디오 처리기에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 13은 도 6의 디지털 신호 처리기의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 14는 도 6의 오디오 처리기에서 사용자에 의해 인식되는 노이즈를 방지하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 15는 도 3의 연결 신호와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 개념도이다.
도 16은 도 6의 디지털 신호 처리기의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 17은 도 16의 잭-아웃 마스크(Jack-out Mask) 회로에 의해 다루어지는 예시적인 신호들을 설명하기 위한 표이다.
도 18은 도 6의 오디오 처리기에서 과전압에 기인하는 오동작을 방지하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 2는 본 개시의 실시 예들에 따라 구성되고 동작할 수 있는 전자 회로를 포함하는 도 1의 전자 장치의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 3은 도 2의 오디오 처리기 및 메인 프로세서와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 4 및 도 5는 도 3의 연결 신호와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 개념도들이다.
도 6은 도 3의 오디오 처리기의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 7 및 도 8은 도 6의 오디오 처리기에 포함되는 소자들의 특성들을 설명하기 위한 개념도들이다.
도 9는 도 6의 오디오 처리기에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 10은 도 6의 디지털 신호 처리기의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 11은 도 6의 오디오 처리기에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하는 상태도이다.
도 12는 도 6의 오디오 처리기에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 13은 도 6의 디지털 신호 처리기의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 14는 도 6의 오디오 처리기에서 사용자에 의해 인식되는 노이즈를 방지하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 15는 도 3의 연결 신호와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 개념도이다.
도 16은 도 6의 디지털 신호 처리기의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
도 17은 도 16의 잭-아웃 마스크(Jack-out Mask) 회로에 의해 다루어지는 예시적인 신호들을 설명하기 위한 표이다.
도 18은 도 6의 오디오 처리기에서 과전압에 기인하는 오동작을 방지하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
아래에서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자들(이하, 통상의 기술자들)이 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록, 첨부되는 도면들을 참조하여 몇몇 실시 예가 명확하고 상세하게 설명될 것이다.
I. 전반적인 시스템 구성
도 1은 본 개시의 실시 예들에 따라 구성되고 동작할 수 있는 전자 장치(1000)의 예시적인 구현을 보여주는 개념도이다.
예로서, 전자 장치(1000)는 스마트폰, 태블릿 컴퓨터, 랩톱 컴퓨터 등과 같은 전자 장치로 구현될 수 있다. 그러나, 본 발명은 이 예들로 한정되지 않는다. 도 1에 나타낸 것과 달리, 전자 장치(1000)는 웨어러블(Wearable) 장치, 데스크톱 컴퓨터, 비디오 게임기(Video Game Console), 워크스테이션, 서버, 전기 자동차, 가전 기기, 의료 기기 등과 같은 다른 유형의 전자 장치들 중 하나로 구현될 수 있다.
전자 장치(1000)는 전자 장치(1000)에 포함되는 전자 회로들의 동작들에 따라 사용자에게 다양한 서비스를 제공할 수 있다. 예로서, 전자 장치(1000)는 오디오를 재생할 수 있다. 사용자는 전자 장치(1000)를 이용하여 음악, 음성 메시지, 동영상 등과 같이 소리 정보를 포함하는 멀티미디어 콘텐츠를 재생할 수 있다.
예로서, 전자 장치(1000)는 재생되는 오디오를 사용자에게 출력하기 위한 스피커(1330)를 포함할 수 있다. 예로서, 전자 장치(1000)는 재생되는 오디오를 사용자에게 출력하기 위한 헤드폰 또는 이어폰(In-ear Headphone)과 연결될 수 있는 오디오 단자(1340)를 포함할 수 있다. 예로서, 전자 장치(1000)는 재생되는 오디오를 스피커 또는 헤드폰으로 무선으로 출력하기 위한 통신 회로를 포함할 수 있다. 따라서, 사용자는 전자 장치(1000)에 의해 재생되는 오디오를 청취할 수 있다.
다만, 오디오 재생은 더 나은 이해를 가능하게 하기 위해 제공되는 예이고, 본 발명을 한정하도록 의도되지는 않는다. 전자 장치(1000)는 오디오 재생 외에 다양한 다른 기능들을 더 제공할 수 있다.
도 2는 본 개시의 실시 예들에 따라 구성되고 동작할 수 있는 전자 회로를 포함하는 도 1의 전자 장치(1000)의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
전자 장치(1000)는 다양한 전자 회로를 포함할 수 있다. 예로서, 전자 장치(1000)의 전자 회로들은 이미지 처리 블록(1100), 통신 블록(1200), 오디오 처리 블록(1300), 버퍼 메모리(1400), 불휘발성 메모리(1500), 유저 인터페이스(1600), 메인 프로세서(1800), 및 전력 관리기(1900)를 포함할 수 있다.
이미지 처리 블록(1100)은 렌즈(1110)를 통해 빛을 수신할 수 있다. 이미지 처리 블록(1100)에 포함되는 이미지 센서(1120) 및 이미지 신호 처리기(1130)는 수신된 빛에 기초하여, 외부 객체와 관련되는 이미지 정보를 생성할 수 있다.
통신 블록(1200)은 안테나(1210)를 통해 외부 장치/시스템과 신호를 교환할 수 있다. 통신 블록(1200)의 송수신기(1220) 및 MODEM(Modulator/Demodulator, 1230)은 LTE(Long Term Evolution), WIMAX(Worldwide Interoperability for Microwave Access), GSM(Global System for Mobile communication), CDMA(Code Division Multiple Access), Bluetooth, NFC(Near Field Communication), Wi-Fi(Wireless Fidelity), RFID(Radio Frequency Identification) 등과 같은 무선 통신 규약에 따라, 외부 장치/시스템과 교환되는 신호를 처리할 수 있다.
오디오 처리 블록(1300)은 오디오 처리기(1310)를 이용하여 소리 정보를 처리할 수 있고, 이로써 오디오를 재생하고 출력할 수 있다. 오디오 처리 블록(1300)은 마이크(Microphone; 1320)를 통해 오디오 입력을 수신할 수 있다. 오디오 처리 블록(1300)은 스피커(1330)를 통해, 재생되는 오디오를 출력할 수 있다. 헤드폰(1301)이 오디오 처리 블록(1300)의 오디오 단자(1340)와 연결될 수 있고, 오디오 처리 블록(1300)은 헤드폰(1301)을 통해, 재생되는 오디오를 출력할 수 있다.
몇몇 경우, 헤드폰(1302)이 (예컨대, Bluetooth, NFC 등과 같은 무선 통신 규약에 따라) 통신 블록(1200)과 무선으로 연결될 수 있다. 오디오 처리 블록(1300)에 의해 재생되는 오디오의 신호는 통신 블록(1200)을 통해 무선으로 헤드폰(1302)으로 출력될 수 있다. 이를 위해, 오디오 처리 블록(1300)은 통신 블록(1200)과 직접 또는 메인 프로세서(1800)를 통해 통신할 수 있다.
버퍼 메모리(1400)는 전자 장치(1000)의 동작에 이용되는 데이터를 저장할 수 있다. 예로서, 버퍼 메모리(1400)는 메인 프로세서(1800)에 의해 처리된 또는 처리될 데이터를 일시적으로 저장할 수 있다. 예로서, 버퍼 메모리(1400)는 SRAM(Static Random Access Memory), DRAM(Dynamic RAM), SDRAM(Synchronous DRAM) 등과 같은 휘발성 메모리, 및/또는 플래시 메모리, PRAM(Phase-change RAM), MRAM(Magneto-resistive RAM), ReRAM(Resistive RAM), FRAM(Ferro-electric RAM) 등과 같은 불휘발성 메모리를 포함할 수 있다.
불휘발성 메모리(1500)는 전력 공급에 관계없이 데이터를 저장할 수 있다. 예로서, 불휘발성 메모리(1500)는 플래시 메모리, PRAM, MRAM, ReRAM, FRAM 등과 같은 다양한 불휘발성 메모리 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예로서, 불휘발성 메모리(1500)는 HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Drive), SD(Secure Digital) 카드 등과 같은 착탈식 메모리, 및/또는 eMMC(Embedded Multimedia Card) 등과 같은 내장(Embedded) 메모리를 포함할 수 있다.
유저 인터페이스(1600)는 사용자와 전자 장치(1000) 사이의 통신을 중재할 수 있다. 예로서, 유저 인터페이스(1600)는 키보드, 마우스, 키패드, 버튼, 터치 패널, 터치 스크린, 터치 패드, 터치 볼, 자이로스코프 센서, 진동 센서, 가속 센서 등과 같은 입력 인터페이스를 포함할 수 있다. 예로서, 유저 인터페이스(1600)는 LCD(Liquid Crystal Display) 장치, LED(Light Emitting Diode) 표시 장치, OLED(Organic LED) 표시 장치, AMOLED(Active Matrix OLED) 표시 장치, 모터 등과 같은 출력 인터페이스를 포함할 수 있다.
메인 프로세서(1800)는 전자 장치(1000)의 전반적인 동작들을 제어할 수 있다. 메인 프로세서(1800)는 전자 장치(1000)를 동작시키기 위해 다양한 연산을 처리할 수 있다. 예로서, 메인 프로세서(1800)는 범용 프로세서, 전용 프로세서, 또는 어플리케이션 프로세서(Application Processor)로 구현될 수 있다.
전력 관리기(1900)는 전자 장치(1000)의 구성 요소들로 전력을 공급할 수 있다. 예로서, 전력 관리기(1900)는 배터리 및/또는 외부 전원으로부터 수신되는 전력을 적절하게 변환할 수 있고, 변환된 전력을 전자 장치(1000)의 구성 요소들로 전달할 수 있다.
다만, 도 2에 나타낸 예시적인 구성 요소들은 더 나은 이해를 가능하게 하기 위해 제공되고, 본 발명을 한정하도록 의도되지는 않는다. 전자 장치(1000)는 도 2에 나타낸 구성 요소들 중 하나 이상을 포함하지 않을 수 있고, 또는 도 2에 나타내지 않은 적어도 하나의 구성 요소를 더 포함할 수 있다.
한편, 예로서, 버퍼 메모리(1400) 및/또는 불휘발성 메모리(1500)는 음원 데이터(Sound Source Data)를 저장할 수 있다. 전자 장치(1000)는 버퍼 메모리(1400) 및/또는 불휘발성 메모리(1500)에 저장된 음원 데이터에 기초하여 서비스를 제공할 수 있다. 예로서, 불휘발성 메모리(1500)는 사용자로부터 제공되는 음원 데이터를 저장할 수 있다. 예로서, 버퍼 메모리(1400)는 통신 블록(1200)을 통해 스트리밍(Streaming)되는 음원 데이터를 저장할 수 있다. 음원 데이터는 소리 정보를 포함할 수 있고, 오디오 처리기(1310)는 음원 데이터에 기초하여 오디오를 재생할 수 있다.
오디오 처리기(1310)는 다양한 소자(Element)를 포함하여 구현될 수 있다. 오디오 처리기(1310)를 동작시키기 위한 전압이 오디오 처리기(1310)의 소자들로 제공될 수 있다. 따라서, 오디오 처리기(1310)가 고유의 동작들을 수행할 수 있다.
그러나, 오디오 처리기(1310)의 소자들에 의해 허용되는 범위를 벗어나는 전압이 소자들로 제공되는 경우, 소자들은 의도된 동작을 제공하지 못할 수 있다. 게다가, 과도하게 높은 전압이 소자들로 제공되는 경우, 소자들이 손상될 수 있다. 예로서, 항복 전압(Breakdown Voltage)을 초과하는 전압이 오디오 처리기(1310)에 포함되는 트랜지스터로 제공되는 경우, 트랜지스터가 손상될 수 있다.
몇몇 경우, 과도하게 높은 전압(예컨대, 서지(Surge) 전압)이 외부 단자(예컨대, 오디오 단자(1340))를 통해 오디오 처리기(1310)로 인가될 수 있다. 예로서, 도전성의 이물질이 오디오 단자(1340)에 삽입되는 경우, 과도하게 높은 전압이 오디오 처리기(1310)로 인가될 수 있다. 예로서, 오디오 단자(1340)에 연결된 헤드폰(1301)의 전선의 피복이 벗겨지거나 오디오 단자(1340)에 연결된 헤드폰(1301)의 절연 특성이 불완전(Faulty)한 경우, 과도하게 높은 전압이 오디오 처리기(1310)로 인가될 수 있다. 이 경우, 오디오 처리기(1310)의 소자들이 손상될 수 있다.
오디오 처리기(1310)의 소자들이 손상되는 경우, 오디오 처리기(1310) 및 전자 장치(1000)가 오동작을 야기하거나 오디오 재생의 서비스가 제공되지 못할 수 있다. 따라서, 본 개시의 실시 예들은 오디오 처리기(1310)의 소자들이 손상되지 않도록 과도하게 높은 전압으로부터 오디오 처리기(1310)의 소자들을 보호할 수 있다. 본 개시에서, 오디오 처리기(1310)의 소자들에 의해 허용되는 범위를 벗어나는 과도하게 높은 전압은 과전압(Over-voltage)으로 언급될 수 있다.
오디오 처리기(1310) 외에도, 전자 장치(1000)에 포함되는 전자 회로들의 소자들 역시 과도하게 높은 전압에 의해 손상될 수 있다. 전자 장치(1000)의 다른 전자 회로들의 소자들 역시 본 개시의 실시 예들에 따라 과도하게 높은 전압으로부터 보호될 수 있다.
아래의 설명들에서, 본 개시의 실시 예들에 따라 구성되고 동작할 수 있는 오디오 처리기(1310)와 관련되는 예들이 제공될 것이다. 그러나, 아래의 예들은 더 나은 이해를 가능하게 하기 위해 제공되고, 본 발명을 한정하도록 의도되지 않는다. 본 개시의 실시 예들이 오디오 처리기(1310) 외의 어떠한 전자 회로 및 전자 장치에서든 채용될 수 있음이 잘 이해될 수 있을 것이다.
II. 오디오 처리기와 관련되는 예시적인 구성
도 3은 도 2의 오디오 처리기(1310) 및 메인 프로세서(1800)와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다.
메인 프로세서(1800)는 메모리(예컨대, 버퍼 메모리(1400), 불휘발성 메모리(1500) 등)로부터 음원 데이터(SD)를 수신할 수 있다. 메인 프로세서(1800)는 음원 데이터(SD)를 적절히 변환(예컨대, 직렬화)하여 오디오 데이터(AD)를 출력할 수 있다. 오디오 데이터(AD)는 음원 데이터(SD)와 관련되는 소리 정보를 포함할 수 있다. 본 개시에서, 메인 프로세서(1800)는 제 1 전자 회로로 언급될 수 있다.
오디오 처리기(1310)는 오디오 데이터(AD)에 기초하여 오디오 재생의 서비스를 제공할 수 있다. 본 개시에서, 오디오 처리기(1310)는 제 2 전자 회로로 언급될 수 있다. 다만, 제 2 전자 회로는 오디오 처리기(1310) 외에 본 개시의 실시 예들에 따라 구성되고 동작할 수 있는 다른 전자 회로를 의미할 수도 있다.
몇몇 실시 예에서, 오디오 처리기(1310)는 오디오 출력 생성기(100) 및 과전압 검출기(200)를 포함할 수 있다. 오디오 출력 생성기(100) 및 과전압 검출기(200)는 아래에서 설명될 동작들 및 기능들을 제공하기 위해 다양한 수동/능동/논리 소자를 포함하는 아날로그/디지털 회로들로 구현될 수 있다.
본 개시에서, 오디오 출력 생성기(100)가 예로서 제공된다. 그러나, 본 개시의 실시 예들이 오디오 처리기(1310) 외의 다른 전자 회로 또는 전자 장치에서 채용되는 경우, 오디오 출력 생성기(100) 외의 다른 유형의 출력 생성기가 구현될 수 있다.
오디오 출력 생성기(100)는 입력 데이터(예컨대, 오디오 데이터(AD))에 기초하여 출력 신호(예컨대, 오디오 출력 신호들(LOUT, ROUT))를 생성할 수 있다. 오디오 출력 신호들(LOUT, ROUT)은 사용자가 전자 장치(1000)에 의해 재생되는 오디오를 청취하도록 출력될 수 있다. 예로서, 오디오 출력 신호(LOUT)는 사용자의 왼쪽 귀에 의해 들리게 될 소리에 대응할 수 있고, 오디오 출력 신호(ROUT)는 사용자의 오른쪽 귀에 의해 들리게 될 소리에 대응할 수 있다.
오디오 출력 생성기(100)는 출력 신호를 출력 단자로 출력할 수 있다. 예로서, 오디오 출력 생성기(100)는 오디오 출력 신호들(LOUT, ROUT)을 각각 출력 단자들(P1, P2)로 출력할 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 오디오 출력 생성기(100)는 전자 회로 칩으로 구현될 수 있고, 출력 단자들(P1, P2)은 전자 회로 칩을 외부 개체와 연결하기 위해 제공되는 패드들을 포함할 수 있다.
오디오 출력 생성기(100)로부터의 출력 신호는 외부 단자로 제공될 수 있다. 외부 단자는 외부 환경과의 인터페이싱을 위해 제공될 수 있고, 전자 장치(1000)와 별개인 외부 개체(예컨대, 외부 커넥터)에 연결될 수 있다. 도 3의 예에서, 외부 단자는 오디오 단자(1340)를 포함할 수 있고, 외부 커넥터는 오디오 단자(1340)에 연결될 수 있는 오디오 잭(AJ)을 포함할 수 있다. 오디오 잭(AJ)은, 예로서, 헤드폰(1301)의 맨 끝에 구비되는 3.5파이(3.5pi) 커넥터일 수 있다.
예로서, 오디오 출력 신호들(LOUT, ROUT)은 오디오 단자(1340)로 제공될 수 있다. 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 완전히 연결되는 경우, 오디오 단자(1340)의 왼쪽 채널 접촉부(Left Channel Contact; LC) 및 오른쪽 채널 접촉부(RC)가 오디오 잭(AJ)에 닿을 수 있다. 따라서, 오디오 출력 신호들(LOUT, ROUT)은 각각 왼쪽 채널 접촉부(LC) 및 오른쪽 채널 접촉부(RC)를 통해 오디오 잭(AJ)으로 전달될 수 있고, 사용자는 헤드폰(1301)을 통해 재생되는 오디오를 청취할 수 있다.
오디오 단자(1340)는 연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET)와 관련되는 접촉부들을 포함할 수 있다. 연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET)는 외부 커넥터(예컨대, 오디오 잭(AJ))가 외부 단자(예컨대, 오디오 단자(1340))에 연결되었는지 여부를 판별하기 위해 참조될 수 있다.
예로서, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않은 경우, 연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET) 각각의 레벨은 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")에 대응할 수 있다. 반면, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결된 경우, 연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET) 각각의 레벨은 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")에 대응할 수 있다. 여기서, 신호 레벨은 전압 레벨일 수 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않는다.
한편, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 완전히 연결되지 않고 오디오 잭(AJ)의 절반 부분만 오디오 단자(1340)에 연결된 경우, 연결 신호(LDET)의 레벨은 제 1 논리 값에 대응할 수 있고 접지 신호(GDET)의 레벨은 제 2 논리 값에 대응할 수 있다. 따라서, 연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET)는 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 완전히 연결되었는지 여부를 판별하기 위해서도 참조될 수 있다.
연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET)는 각각 패드들(P3, P4)을 통해 오디오 처리기(1310)로 제공될 수 있다. 오디오 처리기(1310)는 연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET)에 기초하여 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되었는지 여부를 판별할 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 오디오 처리기(1310)는 판별 결과를 지시하는 알림(NTF)을 메인 프로세서(1800)로 제공할 수 있다.
오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않은 경우, 오디오 처리기(1310)는 오디오 잭(AJ)의 부재(Absence)를 지시하는 알림(NTF)을 메인 프로세서(1800)로 제공할 수 있다. 이 경우, 메인 프로세서(1800)는 알림(NTF)에 응답하여 스피커(1330)를 통해 오디오 재생의 서비스를 제공하기 위해 동작할 수 있다.
반면, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결된 경우, 오디오 처리기(1310)는 오디오 잭(AJ)이 연결됨을 지시하는 알림(NTF)을 메인 프로세서(1800)로 제공할 수 있다. 이 경우, 메인 프로세서(1800)는 알림(NTF)에 응답하여 헤드폰(1301)을 통해 오디오 재생의 서비스를 제공하기 위해 동작할 수 있다.
오디오 단자(1340)의 접지 접촉부(GND)는 접지 레벨을 갖도록 제공될 수 있다. 접지 레벨은 오디오 단자(1340) 및 오디오 잭(AJ)과 관련되는 동작들에서 기준 전위(Reference Potential)를 제공할 수 있다. 접지 레벨은 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")에 대응할 수 있다.
오디오 단자(1340)는 마이크 신호(MDET)와 관련되는 접촉부를 포함할 수 있다. 마이크 신호(MDET)는 오디오 잭(AJ)을 통해 연결되는 헤드폰(1301)이 마이크 회로를 포함하는지 여부를 지시할 수 있다. 오디오 처리기(1310)는 패드(P5)를 통해 마이크 신호(MDET)를 수신할 수 있다. 헤드폰(1301)이 마이크 회로를 포함하는 경우, 오디오 처리기(1310)는 패드(P5)를 통해 오디오 입력을 수신할 수 있다.
한편, 도 2를 참조하여 설명된 것처럼, 과전압이 오디오 단자(1340)를 통해 오디오 처리기(1310)로 인가될 수 있다. 서지 감쇄(Surge Attenuation) 회로들(SAL, SAR)은 오디오 단자(1340)를 통해 오디오 처리기(1310)로 인가되는 과전압의 크기를 감쇄시킬 수 있다. 즉, 서지 감쇄 회로들(SAL, SAR)은 오디오 처리기(1310)의 소자들이 과전압에 기인하여 손상되는 것을 방지할 수 있다.
서지 감쇄 회로(SAL)는 왼쪽 채널 접촉부(LC)와 출력 단자(P1) 사이에 연결될 수 있다. 서지 감쇄 회로(SAL)는 저항성 소자(RL), 비드(Bead; BL), 및 다이오드들(DL)을 포함할 수 있다. 저항성 소자(RL), 비드(BL), 및 다이오드들(DL)은 왼쪽 채널 접촉부(LC)로부터 유입되는 과전압(특히, 높은 주파수 성분의 과전압)의 크기를 감쇄시킬 수 있다.
서지 감쇄 회로(SAR)는 오른쪽 채널 접촉부(RC)와 출력 단자(P2) 사이에 연결될 수 있다. 서지 감쇄 회로(SAR)는 저항성 소자(RR), 비드(BR), 및 다이오드들(DR)을 포함할 수 있다. 저항성 소자(RR), 비드(BR), 및 다이오드들(DR)은 오른쪽 채널 접촉부(RC)로부터 유입되는 과전압(특히, 높은 주파수 성분의 과전압)의 크기를 감쇄시킬 수 있다.
예로서, 저항성 소자(RL 또는 RR)의 저항 값이 증가하는 경우, 왼쪽 채널 접촉부(LC) 또는 오른쪽 채널 접촉부(RC)로부터 과전압이 유입되는 데에 소요되는 시간이 길어질 수 있다. 이 경우, 다이오드들(DL 또는 DR)에 의해 과전압의 크기를 감쇄시키는 데에 충분한 시간을 확보하는 것이 가능할 수 있고, 따라서 과전압의 크기를 감쇄시키는 데에 효과적일 수 있다. 그러나, 저항성 소자(RL 또는 RR) 및 헤드폰(1301)의 저항 성분에 대한 전압 분배에 기인하여, 오디오 출력 신호(LOUT 또는 ROUT)의 세기가 감쇄될 수 있다. 이는 SNR(Signal-to-Noise Ratio) 특성의 저하를 야기할 수 있고, 비효율적일 수 있다.
게다가, 서지 감쇄 회로들(SAL, SAR)에 포함되는 소자들에 의해 제공되는 감쇄에는 (소자들의 특성들에 기인하여) 한계가 있을 수 있다. 게다가, 서지 감쇄 회로들(SAL, SAR)에 포함되는 소자들은 과전압에 빠르게 응답하지 못할 수 있다. 따라서, 서지 감쇄 회로들(SAL, SAR)이 연결되더라도, 과전압을 완전하게 차단하는 것은 어려울 수 있다.
따라서, 오디오 처리기(1310)는 과전압 검출기(200)를 포함할 수 있다. 과전압 검출기(200)는 출력 단자들(P1, P2)을 통해 오디오 처리기(1310)로 유입되는 과전압을 검출할 수 있다. 출력 단자들(P1, P2)의 전압들이 과도하게 높은 경우(즉, 과전압이 출력 단자들(P1, P2)을 통해 오디오 처리기(1310)로 유입되는 경우), 과전압 검출기(200)는 오디오 처리기(1310)의 소자들이 손상되는 것을 방지하기 위해 동작할 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 하나의 과전압 검출기(200)가 출력 단자들(P1, P2) 모두를 위해 구비될 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 출력 단자(P1)를 위한 과전압 검출기 및 출력 단자(P2)를 위한 과전압 검출기가 별개로 제공될 수 있다.
아래에서, 출력 단자(P1)를 위한 과전압 검출기(200)의 예시적인 구성들 및 예시적인 동작들이 도 6 내지 도 18을 참조하여 설명될 것이다. 출력 단자(P2)를 위한 과전압 검출기의 구성들 및 동작들은 출력 단자(P1)를 위한 과전압 검출기(200)의 것들과 실질적으로 동일하거나 유사할 수 있고, 따라서 중복되는 설명은 간결성을 위해 이하 생략될 것이다.
도 4 및 도 5는 도 3의 연결 신호(LDET)와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 개념도들이다.
도 4를 참조하면, 연결 신호(LDET)와 관련되는 접촉부는 패드(P3)로 연결될 수 있다. 구동 전압(VDD1)은 저항성 소자(RM)를 통해 패드(P3)로 인가될 수 있다. 저항성 소자(RM)의 저항 값은 상당히 큰 값(예컨대, 1MΩ)으로 선택될 수 있다. 구동 전압(VDD1)의 레벨은 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")에 대응할 수 있고, 별개의 전압 생성기(예컨대, 전력 관리기(1900)에 포함되는 것)로부터 제공될 수 있다.
오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않은 경우, 연결 신호(LDET)와 관련되는 접촉부는 접지 접촉부(GND)로부터 연결 해제(Disconnect)될 수 있다. 따라서, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않은 경우, 연결 신호(LDET)의 레벨은 구동 전압(VDD1)에 응답하여 풀-업(Pull-up)될 수 있고 제 1 논리 값에 대응할 수 있다.
반면, 도 5를 참조하면, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되는 경우, 연결 신호(LDET)와 관련되는 접촉부는 오디오 잭(AJ)을 통해 접지 접촉부(GND)로 연결될 수 있다. 오디오 잭(AJ)은 저항 성분(RJ)을 가질 수 있다. 저항 성분(RJ)의 저항 값은, 예로서, 저항성 소자(RM)의 저항 값에 비해 상당히 작을 수 있다(예컨대, 약 10Ω). 따라서, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되는 경우, 연결 신호(LDET)의 레벨은 접지 레벨로 풀-다운(Pull-down)될 수 있고 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")에 대응할 수 있다.
접지 신호(GDET)와 관련되는 구성은 도 4 및 도 5를 참조하여 설명된 연결 신호(LDET)와 관련되는 구성과 실질적으로 동일하거나 유사할 수 있다. 따라서, 간결성을 위해, 접지 신호(GDET)와 관련되는 구성을 위한 중복되는 설명은 이하 생략될 것이다.
도 6은 도 3의 오디오 처리기(1310)의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다. 도 3을 참조하여 설명된 것처럼, 오디오 처리기(1310)는 오디오 출력 생성기(100) 및 과전압 검출기(200)를 포함할 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 오디오 출력 생성기(100)는 디지털 신호 처리기(110), 디지털-아날로그 변환기(Digital-to-Analog Converter, 이하 DAC; 130), 및 출력 드라이버(150)를 포함할 수 있다. 다만, 도 6의 오디오 출력 생성기(100)는 더 나은 이해를 가능하게 하기 위해 제공되고, 본 발명을 한정하도록 의도되지 않는다. 오디오 출력 생성기(100)의 구성은 다양하게 변경 또는 수정될 수 있다.
디지털 신호 처리기(110)는 입력 데이터(예컨대, 오디오 데이터(AD))를 적절히 처리할 수 있다. 예로서, 디지털 신호 처리기(110)는 오디오 데이터(AD)에 대한 오버샘플링(Oversampling), 노이즈 쉐이핑(Noise Shaping) 등과 같은 다양한 처리를 수행할 수 있다. 이러한 처리들은 출력 신호(예컨대, 오디오 출력 신호(LOUT))를 위해 충분한 샘플을 제공하거나 SNR 특성을 향상시키기 위해 수행될 수 있다.
디지털 신호 처리기(110)는 연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET)에 기초하여 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되었는지 여부를 판별할 수 있다. 예로서, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결된 경우, 디지털 신호 처리기(110)는 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 활성화되도록 활성화 신호(ACT)를 출력할 수 있다. 여기서, "활성화"는 전력이 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)로 공급됨에 따라 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 동작하는 상태를 의미할 수 있다.
반면, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않은 경우, 디지털 신호 처리기(110)는 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)를 비활성화시킬 수 있다. 여기서, "비활성화"는 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 전력을 수신함이 없이 동작하지 않는 상태를 의미할 수 있다. 따라서, DAC(130) 및 출력 드라이버(150)는 연결 신호(LDET) 및 접지 신호(GDET)에 기초하여 활성화되거나 비활성화될 수 있다.
디지털 신호 처리기(110)는 알림(NTF)을 생성할 수 있다. 알림(NTF)은 오디오 처리기(1310)의 동작들과 관련되는 다양한 정보(예컨대, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되었는지 여부와 관련되는 정보)를 포함할 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 디지털 신호 처리기(110)는 디지털 볼륨 제어(Digital Volume Control)을 수행하여 오디오 데이터(AD)를 위한 디지털 이득을 조절할 수 있다.
디지털 신호 처리기(110)는 오디오 데이터(AD)를 처리하여, 처리된 오디오 데이터(pAD)를 출력할 수 있다. 예로서, 처리된 오디오 데이터(pAD)는 디지털 데이터일 수 있고, 오디오 출력 신호(LOUT)는 아날로그 신호일 수 있다. 이 경우, DAC(130)는 처리된 오디오 데이터(pAD)를 오디오 출력 신호(LOUT)로 변환하기 위해 디지털-아날로그 변환을 수행할 수 있다. DAC(130)에 의해 변환된 아날로그 신호는 스위치들(SW1, SW2)을 통해 출력 드라이버(150)로 제공될 수 있다.
출력 드라이버(150)는 DAC(130)로부터 수신되는 아날로그 신호에 기초하여, 오디오 출력 신호(LOUT)의 출력을 구동할 수 있다. 이를 위해, 출력 드라이버(150)는 증폭기(151) 및 다양한 소자를 포함할 수 있다. 예로서, 출력 드라이버(150)의 소자들은 저항성 소자들(RV1 내지 RV4), 트랜지스터들(T1, T2), 및 스위치들(SW3, SW4, SW5)을 포함할 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 출력 드라이버(150)는 필터와 같은 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있다.
증폭기(151)는 아날로그 신호의 레벨을 증폭시킬 수 있다. 증폭기(151)의 아날로그 이득은 저항성 소자들(RV1 내지 RV4)의 저항 값들에 의존하여 가변할 수 있다. 따라서, 증폭기(151) 및 저항성 소자들(RV1 내지 RV4)은 아날로그 신호를 위한 아날로그 볼륨 제어를 제공할 수 있다.
출력 드라이버(150)는 트랜지스터들(T1, T2)을 이용하여, 오디오 출력 신호(LOUT)의 출력을 구동할 수 있다. 트랜지스터들(T1, T2)은 구동 전압들(+VDD2, -VDD2)에 기초하여, 출력 단자(P1)로의 오디오 출력 신호(LOUT)의 출력을 구동할 수 있다.
예로서, 구동 전압들(+VDD2, -VDD2)은 별개의 전압 생성기(예컨대, 전력 관리기(1900)에 포함되는 것)로부터 제공될 수 있다. 예로서, 트랜지스터(T1)는 PMOS(P-channel Metal-Oxide-Semiconductor) 트랜지스터일 수 있고 트랜지스터(T2)는 NMOS(N-channel MOS) 트랜지스터일 수 있다. 그러나, 본 발명은 이 예들로 한정되지 않고 다양하게 변경 또는 수정될 수 있다.
출력 신호(LOUT)는 스위치(SW3)를 통해 출력 단자(P1)로 전달될 수 있다. 도 6의 예에서, 스위치들(SW1, SW2, SW3)은 오디오 데이터(AD)에 기초하여 오디오 출력 신호(LOUT)를 생성하기 위한 경로 상에 놓일 수 있다. 스위치들(SW1, SW2, SW3)은 출력 단자(P1)로의 연결을 제공하거나 제공하지 않도록 동작할 수 있다.
오디오 출력 생성기(100)는 저항성 소자들(RV1 내지 RV4), 트랜지스터들(T1, T2), 및 스위치들(SW1 내지 SW5)과 같은 다양한 소자를 포함할 수 있다. 트랜지스터들(T1, T2) 및 스위치들(SW1 내지 SW5)은 전력을 이용하여 동작하는 능동 소자들일 수 있다. 예로서, 스위치들(SW1 내지 SW5) 각각은 하나 이상의 트랜지스터로 구현될 수 있다. 그러나, 본 발명은 이 예로 한정되지 않고, 스위치들(SW1 내지 SW5)은 연결성을 제공할 수 있는 어떠한 소자들로든 구현될 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 과전압 검출기(200)는 저항성 소자들(RD1, RD2), 비교기들(211, 212), 및 논리 회로(230)를 포함할 수 있다. 다만, 도 6의 과전압 검출기(200)는 더 나은 이해를 가능하게 하기 위해 제공되고, 본 발명을 한정하도록 의도되지 않는다. 과전압 검출기(200)의 구성은 다양하게 변경 또는 수정될 수 있다.
몇몇 경우, 과전압(OV)이 출력 단자(P1)를 통해 유입될 수 있다. 과전압 검출기(200)는 오디오 출력 생성기(100)의 소자들이 과전압(OV)에 의해 손상되는 것을 방지하기 위해 채용될 수 있다. 이를 위해, 과전압 검출기(200)는 출력 단자(P1)와 연결될 수 있다.
저항성 소자들(RD1, RD2)은 출력 단자(P1)의 전압을 분배하여, 분배된 전압(DV)을 출력할 수 있다. 비교기(211)는 분배된 전압(DV)을 기준 전압(REF1)과 비교하여, 비교 결과(C1)를 출력할 수 있다. 비교기(212)는 분배된 전압(DV)을 기준 전압(REF2)과 비교하여, 비교 결과(C2)를 출력할 수 있다. 예로서, 기준 전압들(REF1, REF2)은 별개의 전압 생성기(예컨대, 전력 관리기(1900)에 포함되는 것)로부터 제공될 수 있다.
비교기들(211, 212) 역시 과전압(OV)에 의해 손상될 수 있다. 그러나, 과전압(OV)이 비교기들(211, 212)을 손상시킬 만큼 과도하게 높더라도, 분배된 전압(DV)은 비교기들(211, 212)을 손상시키는 전압보다 낮을 수 있다. 따라서, 분배된 전압(DV)이 비교기들(211, 212)로 제공되는 경우, 비교기들(211, 212)이 손상되는 것이 방지될 수 있다.
저항성 소자(RD1)의 저항 값이 클수록, 분배된 전압(DV)이 낮을 수 있다. 따라서, 비교기들(211, 212)이 더 안정적으로 보호될 수 있다. 그러나, 분배된 전압(DV)이 과도하게 낮은 경우, 비교기들(211, 212)의 정확도(Precision)가 저하될 수 있다. 따라서, 저항성 소자들(RD1, RD2)의 저항 값들의 비율은 비교기들(211, 212)의 보호 및 정확도 모두를 고려하여 적절하게 선택될 수 있다.
오디오 처리기(1310)의 소자들은 허용 범위(Allowable Range)를 벗어나는 전압에 의해 손상될 수 있다. 예로서, 트랜지스터(T1)는 ±5V의 허용 범위를 벗어나는 전압(즉, 5V의 허용 크기보다 큰 크기를 갖는 전압)에 의해 손상될 수 있다. 이 예에서, 오디오 처리기(1310)는 +5V의 양의 허용 전압보다 높은 전압 및 -5V의 음의 허용 전압보다 낮은 전압이 트랜지스터(T1)로 인가되지 않도록 동작할 수 있다.
기준 전압(REF1)은 양의 허용 전압을 고려하여 선택될 수 있고, 기준 전압(REF2)은 음의 허용 전압을 고려하여 선택될 수 있다. 다만, 기준 전압들(REF1, REF2)은 양 및 음의 허용 전압들과 동일하지는 않을 수 있고, 저항성 소자들(RD1, RD2)의 저항 값들의 비율을 고려하여 적절히 스케일링(Scaling)될 수 있다.
비교 결과(C1)는 분배된 전압(DV)이 기준 전압(REF1)보다 높은지 여부를 지시할 수 있고, 따라서 출력 단자(P1)의 전압이 양의 허용 전압보다 높은지 여부와 관련될 수 있다. 비교 결과(C2)는 분배된 전압(DV)이 기준 전압(REF2)보다 낮은지 여부를 지시할 수 있고, 따라서 출력 단자(P1)의 전압이 음의 허용 전압보다 낮은지 여부와 관련될 수 있다. 즉, 비교 결과들(C1, C2)은 과전압(OV)의 크기가 양 및 음의 허용 전압들의 허용 크기보다 큰지 여부와 관련될 수 있다.
논리 회로(230)는 비교 결과들(C1, C2)에 기초하여 검출 신호(OVD)를 생성할 수 있다. 예로서, 논리 회로(230)는 논리합(Logical OR) 게이트를 포함할 수 있다. 검출 신호(OVD)의 레벨은 과전압(OV)의 크기가 양 및 음의 허용 전압들의 허용 크기보다 큰지 여부에 의존하여 상이한 논리 값들에 대응할 수 있다. 따라서, 검출 신호(OVD)는 출력 단자(P1)의 전압이 허용 크기보다 큰지 여부에 의존하여 오디오 처리기(1310)의 동작들을 상이하게 제어하기 위해 이용될 수 있다.
검출 신호(OVD)는 스위치들(SW1 내지 SW5) 및 트랜지스터들(T1, T2)의 동작들을 제어하기 위해 이용될 수 있다. 몇몇 실시 예에서, 디지털 신호 처리기(110)는 검출 신호(OVD)에 기초하여 변환된 검출 신호(cOVD)를 생성할 수 있다. 변환된 검출 신호(cOVD)는 오디오 출력 생성기(100)의 소자들 및 구성 요소들의 동작들을 제어하기 위해 이용될 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 과전압 검출기(200)는 멀티플렉서(250)를 포함할 수 있다. 멀티플렉서(250)는, 예컨대 디지털 신호 처리기(110)로부터 제공되는 선택 신호(SEL)에 응답하여, 검출 신호(OVD) 또는 변환된 검출 신호(cOVD)를 선택적으로 출력할 수 있다. 이 실시 예에서, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들 및 구성 요소들은 멀티플렉서(250)의 출력에 기초하여 제어될 수 있다.
III. 과전압으로부터의 보호
도 7 및 도 8은 도 6의 오디오 처리기(1310)에 포함되는 소자들의 특성들을 설명하기 위한 개념도들이다. 예로서, 도 7 및 도 8은 오디오 처리기(1310)의 트랜지스터(T1) 및 스위치들(SW3, SW4)의 동작들을 보여준다.
도 7을 참조하면, 오디오 처리기(1310)가 정상적으로 동작하는 동안(예컨대, 오디오 출력 생성기(100)가 오디오 데이터(AD)에 기초하여 오디오 출력 신호(LOUT)를 생성하는 동안), 트랜지스터(T1)가 턴-온(Turn-on)될 수 있고 스위치(SW3)가 연결될 수 있다. 여기서, "턴-온"은 트랜지스터(T1)를 통해 캐리어 채널(Carrier Channel)이 생성되고 전류가 흐르는 상태를 의미할 수 있다. 예로서, 스위치(SW3)가 하나 이상의 트랜지스터로 구현될 수 있고, 하나 이상의 트랜지스터가 턴-온됨에 따라 스위치(SW3)가 연결될 수 있다.
예로서, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)의 하나 이상의 트랜지스터가 턴-온되는 경우, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)의 내압(Endurance)이 ±5V일 수 있다(즉, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3) 각각이 ±5V의 허용 범위를 벗어나는 전압에 의해 손상될 수 있다). 이 예에서, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)를 포함하는 경로의 양단 사이에 10V보다 큰 크기의 전압이 인가되는 경우, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)가 손상될 수 있다.
한편, 도 8을 참조하면, 몇몇 경우, 트랜지스터(T1)가 턴-오프(Turn-off)될 수 있고 스위치(SW3)가 연결 해제될 수 있다. 여기서, "턴-오프"는 트랜지스터(T1)를 통해 캐리어 채널이 생성되지 않고 전류가 흐르지 않는 상태를 의미할 수 있다.
예로서, 스위치(SW4)가 연결되는 경우, 트랜지스터(T1)의 게이트 단자가 트랜지스터(T1)의 드레인(또는 소스) 단자와 연결됨에 따라 트랜지스터(T1)가 턴-오프될 수 있다. 예로서, 스위치(SW3)가 하나 이상의 트랜지스터로 구현될 수 있고, 하나 이상의 트랜지스터가 턴-오프됨에 따라 스위치(SW3)가 연결 해제될 수 있다.
예로서, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)의 하나 이상의 트랜지스터가 턴-오프되는 경우, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)의 내압(Endurance)이 ±5V보다 큰 ±12V일 수 있다(즉, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3) 각각이 ±12V의 허용 범위를 벗어나는 전압에 의해 손상될 수 있다). 턴-오프된 트랜지스터를 통해 캐리어 채널이 생성되지 않는 경우, 턴-오프된 트랜지스터는 더 큰 크기의 전압을 견딜 수 있다. 이 예에서, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)를 포함하는 경로의 양단 사이에 24V보다 큰 크기의 전압이 인가되는 경우, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)가 손상될 수 있다.
따라서, 도 7의 예에서, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)가 턴-온된 동안 +20V의 과전압(OV)이 출력 단자(P1)로 인가되는 경우, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)가 손상될 수 있다. 반면, 도 8의 예에서, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)가 턴-오프된 동안 +20V의 과전압(OV)이 출력 단자(P1)로 인가되는 경우, 트랜지스터(T1) 및 스위치(SW3)가 손상되지 않을 수 있다. 도 8을 도 7과 비교하면, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들을 턴-오프하는 것은 오디오 출력 생성기(100)의 소자들을 과전압(OV)으로부터 보호하는 데에 유익함이 이해될 수 있다.
다만, 도 7 및 도 8을 참조하여 설명된 내압 및 과전압(OV)의 값들은 더 나은 이해를 가능하게 하기 위해 예들로서 제공되고, 본 발명을 한정하도록 의도되지 않는다. 각 소자의 특성 및 동작 조건은 오디오 출력 생성기(100)의 설계 및 구현에 의존하여 다양하게 변경 또는 수정될 수 있다.
도 9는 도 6의 오디오 처리기(1310)에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
시각 t1 이전의 정상 구간(Normal Interval), 시각 t2와 t3 사이의 정상 구간, 및 시각 t4 이후의 정상 구간에서, 출력 단자(P1)의 전압은 양의 허용 전압(+VC)과 음의 허용 전압(-VC) 사이의 허용 범위 내의 크기를 가질 수 있다. 허용 전압들(+VC, -VC)의 허용 크기(VC)는 오디오 출력 생성기(100)에 포함되는 소자들을 손상시키지 않도록 선택될 수 있다.
정상 구간들에서, 검출 신호(OVD)의 레벨은 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")에 대응할 수 있다. 검출 신호(OVD)의 제 2 논리 값은 과전압(OV)이 발생하지 않았음을 지시할 수 있다.
따라서, 스위치들(SW1, SW2, SW3)이 연결될 수 있다(예컨대, 스위치들(SW1, SW2, SW3)의 트랜지스터들이 턴-온될 수 있다). 나아가, 스위치들(SW4, SW5)이 연결 해제됨에 따라, 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-온될 수 있다. 그러므로, 오디오 출력 생성기(100)는 오디오 데이터(AD)에 기초하여 오디오 출력 신호(LOUT)를 정상적으로 출력할 수 있다.
예로서, 음의 과전압(OV)이 발생함에 따라, 출력 단자(P1)의 전압이 시각 t1과 t2 사이에서 음의 허용 전압(-VC)보다 낮아질 수 있다. 이 경우, 검출 신호(OVD)의 레벨은 비교 결과(C2)에 기초하여 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")에 대응할 수 있다.
예로서, 양의 과전압(OV)이 발생함에 따라, 출력 단자(P1)의 전압이 시각 t3와 t4 사이에서 양의 허용 전압(+VC)보다 높아질 수 있다. 이 경우, 검출 신호(OVD)의 레벨은 비교 결과(C1)에 기초하여 제 1 논리 값에 대응할 수 있다. 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값은 과전압(OV)이 발생했음을 지시할 수 있다.
과전압(OV)이 발생한 경우, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들을 과전압(OV)으로부터 보호하기 위해 보호 동작이 수행될 수 있다. 예로서, 보호 동작은 시각 t1과 t2 사이의 보호 구간(Protection Interval), 및 시각 t3와 t4 사이의 보호 구간에서 수행될 수 있다.
보호 구간들에서, 스위치들(SW1, SW2, SW3)이 연결 해제될 수 있다(예컨대, 스위치들(SW1, SW2, SW3)의 트랜지스터들이 턴-오프될 수 있다). 따라서, 출력 드라이버(150)가 출력 단자(P1) 및 DAC(130)로부터 연결 해제될 수 있고, 과전압(OV)의 유입이 차단될 수 있다. 나아가, 스위치들(SW4, SW5)이 연결됨에 따라, 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-오프될 수 있다. 따라서, 트랜지스터들(T1, T2)은 더 큰 크기의 전압을 견딜 수 있고, 과전압(OV)에 의해 손상되지 않을 수 있다.
도 6을 참조하면, 분배된 전압(DV)이 기준 전압(REF1)보다 높거나 기준 전압(REF2)보다 낮은 경우, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)은 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프될 수 있다. 반면, 분배된 전압(DV)이 기준 전압(REF1)보다 낮고 기준 전압(REF2)보다 높은 경우, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)은 검출 신호(OVD)의 제 2 논리 값에 응답하여 턴-온될 수 있다.
스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-오프되는 경우, 오디오 출력 생성기(100)에 의해 소모되는 전력이 감소할 수 있다. 나아가, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-오프되는 경우, 오디오 출력 신호(LOUT)가 오디오 출력 생성기(100)로부터 출력되지 않을 수 있다.
도 9의 예에 따르면, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들이 과전압(OV)으로부터 보호될 수 있다. 다만, 과전압(OV)이 빈번하게 발생함에 따라, 스위치들(SW1 내지 SW5)의 스위칭이 빈번해질 수 있다. 이 경우, 노이즈가 발생하거나 오디오 출력 생성기(100)의 동작이 불안정해질 수 있다.
도 10은 도 6의 디지털 신호 처리기(110)의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다. 몇몇 실시 예에서, 도 6의 디지털 신호 처리기(110)는 도 10의 디지털 신호 처리기(110a)를 포함할 수 있다.
디지털 신호 처리기(110a)는 신호 변환기(111), 타이머(113), 및 선택기(115)를 포함할 수 있다. 신호 변환기(111), 타이머(113), 및 선택기(115)는 아래에서 설명될 동작들 및 기능들을 제공하기 위해 다양한 수동/능동/논리 소자를 포함하는 아날로그/디지털 회로들로 구현될 수 있다.
신호 변환기(111)는 검출 신호(OVD)를 변환하여 변환된 검출 신호(cOVD)를 출력할 수 있다. 타이머(113)는 기준 시간의 흐름을 측정(또는 카운트)할 수 있고, 기준 시간의 만료에 응답하여 만료 신호(EXP)를 출력할 수 있다. 만료 신호(EXP)는 기준 시간이 지났음을 알리기 위해 출력될 수 있다.
타이머(113)는 신호 변환기(111)로부터 제공되는 초기화 신호(INIT)에 기초하여 초기화될 수 있다. 여기서, 타이머(113)의 "초기화"는 이미 지난 시간을 고려하지 않고 기준 시간이 초기 시점으로부터 다시 측정되는 것을 의미할 수 있다. 타이머(113)가 초기화 없이 기준 시간을 완전히 측정하는 경우, 신호 변환기(111)는 만료 신호(EXP)에 기초하여 기준 시간이 지났음을 판별할 수 있다.
선택기(115)는 선택 신호(SEL)를 출력할 수 있다. 예로서, 선택 신호(SEL)는 변환된 검출 신호(cOVD) 및 만료 신호(EXP)에 기초하여 생성될 수 있다. 선택 신호(SEL)는 도 6의 멀티플렉서(250)의 출력을 검출 신호(OVD) 및 변환된 검출 신호(cOVD) 중에서 선택하기 위해 이용될 수 있다.
아래에서 설명될 것처럼, 선택 신호(SEL)에 기초하여, 검출 신호(OVD) 또는 변환된 검출 신호(cOVD)는 선택적으로 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)의 턴-온 및 턴-오프에 관여할 수 있다. 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)은 멀티플렉서(250)의 출력에 응답하여 턴-온되거나 턴-오프될 수 있다.
도 11은 도 6의 오디오 처리기(1310)에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하는 상태도이다. 도 12는 도 6의 오디오 처리기(1310)에 포함되는 소자들을 과전압으로부터 보호하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 11을 참조하면, 과전압(OV)이 발생하지 않은 경우, 오디오 처리기(1310)는 정상 구간(M100)에서 동작할 수 있다. 도 12를 참조하면, 시각 t1 이전의 정상 구간(M100)에서, 출력 단자(P1)의 전압은 양의 허용 전압(+VC)과 음의 허용 전압(-VC) 사이의 허용 범위 내의 크기를 가질 수 있다.
정상 구간(M100)에서, 스위치들(SW1, SW2, SW3)이 연결될 수 있고(예컨대, 스위치들(SW1, SW2, SW3)의 트랜지스터들이 턴-온될 수 있고), 스위치들(SW4, SW5)이 연결 해제됨에 따라 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-온될 수 있다(도 11의 S110). 따라서, 오디오 출력 생성기(100)는 오디오 데이터(AD)에 기초하여 오디오 출력 신호(LOUT)를 정상적으로 출력할 수 있다. 나아가, 정상 구간(M100)에서, 검출 신호(OVD)의 레벨은 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")에 대응할 수 있다.
정상 구간(M100)에서, 선택 신호(SEL)의 레벨은 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")에 대응할 수 있다. 도 6의 멀티플렉서(250)는 선택 신호(SEL)의 제 2 논리 값에 응답하여 검출 신호(OVD)를 출력할 수 있다. 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)은 검출 신호(OVD)의 제 2 논리 값에 응답하여 턴-온될 수 있다.
도 11을 참조하면, 검출 신호(OVD)가 제 2 논리 값을 유지하는 경우(S130의 No), 스위치들(SW1 내지 SW5) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)은 현재 상태들을 유지할 수 있다. 반면, 검출 신호(OVD)의 제 2 논리 값이 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")으로 변하는 경우(S130의 Yes), 보호 구간(M200)이 진입될 수 있다. 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값은 과전압(OV)이 출력 단자(P1)를 통해 인가됨을 의미할 수 있다.
도 12를 참조하면, 시각 t1에서, 출력 단자(P1)의 전압이 음의 허용 전압(-VC)보다 낮아질 수 있다(즉, 출력 단자(P1)의 전압의 크기가 허용 크기(VC)보다 커질 수 있다). 시각 t1과 t2 사이에서 출력 단자(P1)의 전압이 음의 허용 전압(-VC)보다 낮은 동안, 검출 신호(OVD)의 레벨은 제 1 논리 값에 대응할 수 있다.
제 1 논리 값의 검출 신호(OVD)는 오디오 출력 생성기(100)로 제공될 수 있다. 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)은 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프될 수 있고, 스위치들(SW4, SW5)은 트랜지스터들(TR1, TR2)을 턴-오프시키기 위해 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값에 응답하여 연결될 수 있다(도 11의 S210).
오디오 출력 생성기(100)는 제 1 논리 값의 검출 신호(OVD)에 기초하여 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")의 변환된 검출 신호(cOVD)를 생성할 수 있다(도 11의 S230). 예로서, 도 10의 신호 변환기(111)는 검출 신호(OVD)를 변환하여 변환된 검출 신호(cOVD)를 출력할 수 있다.
일단 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)이 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프되면, 도 10의 선택기(115)는 변환된 검출 신호(cOVD)에 기초하여 선택 신호(SEL)의 제 2 논리 값을 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")으로 변경할 수 있다(도 11의 S235). 몇몇 경우, 변환된 검출 신호(cOVD)와 선택 신호(SEL) 사이에 약간의 지연이 있을 수 있다. 도 6의 멀티플렉서(250)는 선택 신호(SEL)의 제 1 논리 값에 응답하여 변환된 검출 신호(cOVD)를 출력할 수 있다.
선택 신호(SEL)가 변한 후, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)은 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프를 유지할 수 있다. 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)의 초기 턴-오프는 검출 신호(OVD)에 기초하여 제어될 수 있고, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)의 후속 제어는 변환된 검출 신호(cOVD)에 기초하여 수행될 수 있다.
시각 t2에서, 출력 단자(P1)의 전압이 음의 허용 전압(-VC)보다 높아질 수 있다(예컨대, 과전압(OV)이 해소되어 출력 단자(P1)의 전압의 크기가 허용 크기(VC)보다 작아질 수 있다). 따라서, 시각 t2에서 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값이 제 2 논리 값으로 변할 수 있다.
그러나, 시각 t2 이후 적어도 기준 시간(RT)만큼의 시간 동안, 변환된 검출 신호(cOVD)는 제 1 논리 값을 유지할 수 있다. 따라서, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(TR1, TR2)은, 적어도 기준 시간(RT)만큼의 시간이 지날 때까지, 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프를 유지할 수 있다.
도 10의 타이머(113)는 기준 시간(RT)을 측정하기 위해 초기화 신호(INIT)에 응답하여 초기화될 수 있다(도 11의 S235). 예로서, 타이머(113)는 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값이 제 2 논리 값으로 변하는 경우에 초기화될 수 있다. 따라서, 기준 시간(RT)은 과전압(OV)이 해소되는 시점으로부터 측정될 수 있다.
위에서 설명된 것처럼, 과전압(OV)이 빈번하게 발생하는 경우, 스위치들(SW1 내지 SW5)의 스위칭이 빈번해질 수 있다. 따라서, 오디오 출력 생성기(100)를 안정적으로 동작시키기 위해, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들은 적어도 기준 시간(RT)만큼의 시간 동안 현재 상태들을 유지할 수 있다. 기준 시간(RT)은 오디오 출력 생성기(100)의 동작 조건, 안정성 등을 고려하여 다양하게 선택될 수 있다.
몇몇 경우, 기준 시간(RT)이 지나기 전에, 과전압(OV)이 출력 단자(P1)를 통해 다시 인가될 수 있다. 예로서, 시각 t2로부터 기준 시간(RT) 내에 있는 시각 t3에서, 출력 단자(P1)의 전압이 양의 허용 전압(+VC)보다 높아질 수 있다(즉, 출력 단자(P1)의 전압의 크기가 허용 크기(VC)보다 커질 수 있다).
따라서, 시각 t3에서 검출 신호(OVD)의 제 2 논리 값이 제 1 논리 값으로 변할 수 있다. 시각 t3와 t4 사이에서 출력 단자(P1)의 전압이 양의 허용 전압(+VC)보다 높은 동안, 과전압 검출기(200)는 제 1 논리 값의 검출 신호(OVD)를 출력할 수 있다.
기준 시간(RT)이 지나기 전에 오디오 출력 생성기(100)가 제 1 논리 값의 검출 신호(OVD)를 다시 수신하는 경우(도 11의 S250의 Yes), 오디오 출력 생성기(100)는 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 1 논리 값을 유지할 수 있다. 따라서, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-오프를 계속 유지할 수 있고, 선택 신호(SEL)의 제 1 논리 값이 유지될 수 있다.
이후, 시각 t4에서, 출력 단자(P1)의 전압이 양의 허용 전압(+VC)보다 낮아질 수 있다(즉, 출력 단자(P1)의 전압의 크기가 허용 크기(VC)보다 작아질 수 있다). 따라서, 시각 t4에서 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값이 제 2 논리 값으로 변할 수 있다. 나아가, 타이머(113)가 초기화될 수 있고, 시각 t4로부터 기준 시간(RT)을 다시 측정할 수 있다.
몇몇 경우, 기준 시간(RT)이 지날 때까지, 과전압(OV)이 발생하지 않을 수 있다. 예로서, 시각 t4로부터 기준 시간(RT) 이후의 시각 t5까지, 출력 단자(P1)의 전압이 허용 범위 내의 크기를 가질 수 있다(즉, 출력 단자(P1)의 전압의 크기가 허용 크기(VC)보다 작을 수 있다). 따라서, 과전압 검출기(200)가 기준 시간(RT) 동안 제 2 논리 값의 검출 신호(OVD)를 출력할 수 있고(즉, 기준 시간(RT) 동안 검출 신호(OVD)의 제 2 논리 값이 유지될 수 있고), 오디오 출력 생성기(100)는 과전압 검출기(200)로부터 제 1 논리 값의 검출 신호(OVD)를 수신하지 않을 수 있다(도 11의 S250의 NO).
이 경우, 타이머(113)는 만료 신호(EXP)를 출력할 수 있다(도 11의 S255). 만료 신호(EXP)는 기준 시간(RT)이 지났음을 지시하는 알림을 포함할 수 있다. 제 1 논리 값의 검출 신호(OVD) 없이 만료 신호(EXP)가 생성되는 경우, 이는 과전압(OV)이 짧은 시간 내에 다시 발생하지 않을 가능성이 큼을 의미할 수 있다.
따라서, 오디오 출력 생성기(100)는 만료 신호(EXP)의 알림에 응답하여, 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 1 논리 값을 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")으로 변경할 수 있다(도 11의 S270). 시각 t5에서, 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 2 논리 값에 응답하여 정상 구간(M100)이 진입될 수 있다. 시각 t2와 t5 사이의 구간은 보호 구간(M200)으로서 제공될 수 있다.
진입된 정상 구간(M100)에서, 스위치들(SW1, SW2, SW3)이 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 2 논리 값에 응답하여 연결될 수 있다(예컨대, 스위치들(SW1, SW2, SW3)의 트랜지스터들이 턴-온될 수 있다). 나아가, 스위치들(SW4, SW5)이 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 2 논리 값에 응답하여 연결 해제됨에 따라, 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-온될 수 있다.
선택 신호(SEL)의 제 1 논리 값은, 만료 신호(EXP), 및/또는 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 2 논리 값에 기초하여, 제 2 논리 값으로 변할 수 있다. 도 6의 멀티플렉서(250)는 선택 신호(SEL)의 제 2 논리 값에 응답하여 제 2 논리 값의 검출 신호(OVD)를 출력할 수 있다. 따라서, 시각 t5 이후 과전압(OV)이 발생하는 경우, 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값에 기초하여 보호 구간(M200)이 진입될 수 있다.
도 12의 예에서, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-온된 경우, 검출 신호(OVD)가 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)의 턴-오프에 관여하도록 선택 신호(SEL)에 기초하여 선택될 수 있다. 따라서, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)은 과전압(OV)으로부터의 보호를 위해, 검출 신호(OVD)의 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프될 수 있다.
나아가, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-오프된 경우, 변환된 검출 신호(cOVD)가 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)의 턴-온에 관여하도록 선택 신호(SEL)에 기초하여 선택될 수 있다. 과전압(OV)이 해소된 경우, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)은 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 2 논리 값에 응답하여 턴-온될 수 있다.
위 실시 예들에 따르면, 오디오 처리기(1310)의 소자들이 과전압(OV)에 의해 손상되는 것이 방지될 수 있다. 따라서, 오디오 처리기(1310) 및 전자 장치(1000)의 신뢰성 및 안정성이 얻어질 수 있다. 적은 개수의 보호 소자들(예컨대, 도 3의 다이오드들(DL, DR), 비드들(BL, BR) 등)만 이용되더라도, 위 실시 예들에 따른 과전압 검출기(200)는 과전압(OV)으로부터의 충분한 보호를 제공할 수 있다. 따라서, 서지 감쇄 회로들(SAL, SAR) 및 전자 장치(1000)의 제작 비용이 감소할 수 있다.
한편, 시각 t2와 t5 사이의 보호 구간(M200)에서, 오디오 출력 신호(LOUT)가 출력되지 않을 수 있다. 이 경우, 사용자는 갑자기 오디오를 청취하지 못할 수 있고 당황할 수 있다.
몇몇 실시 예에서, 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)이 턴-오프되는 경우, 오디오 출력 생성기(100)는 스위치들(SW1, SW2, SW3) 및 트랜지스터들(T1, T2)의 턴-오프와 관련하여 알림(NTF) 또는 인터럽트(Interrupt) 신호를 메인 프로세서(1800)로 제공할 수 있다. 알림(NTF) 또는 인터럽트 신호는 검출 신호(OVD) 또는 변환된 검출 신호(cOVD)에 기초하여 생성될 수 있다.
메인 프로세서(1800)는 알림(NTF) 또는 인터럽트 신호에 기초하여, 과전압(OV)의 발생 및 보호 동작의 수행을 사용자에게 알리기 위해 동작할 수 있다. 예로서, 메인 프로세서(1800)는 알림(NTF) 또는 인터럽트 신호와 관련되는 정보를 유저 인터페이스(1600)로 제공할 수 있다. 예로서, 디스플레이 장치가 과전압(OV)의 발생 및 보호 동작의 수행과 관련되는 메시지를 표시할 수 있고, 사용자는 메시지로부터 과전압(OV)의 발생 및 보호 동작의 수행을 인식할 수 있다.
IV.
노이즈의
방지
도 13은 도 6의 디지털 신호 처리기(110)의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다. 몇몇 실시 예에서, 도 6의 디지털 신호 처리기(110)는 도 13의 디지털 신호 처리기(110b)를 포함할 수 있다.
디지털 신호 처리기(110b)는 신호 변환기(111), 타이머(113), 선택기(115), 및 시퀀스 컨트롤러(117)를 포함할 수 있다. 신호 변환기(111), 타이머(113), 및 선택기(115)는 도 10 내지 도 13을 참조하여 설명되었다. 시퀀스 컨트롤러(117)는 아래에서 설명될 동작들 및 기능들을 제공하기 위해 다양한 수동/능동/논리 소자를 포함하는 아날로그/디지털 회로들로 구현될 수 있다.
시퀀스 컨트롤러(117)는 정상 구간(M100) 및 보호 구간(M200)의 전반적인 처리들 동안 오디오 처리기(1310)에서 진행되는 시퀀스들을 제어 및 관리할 수 있다. 오디오 처리기(1310)에서 진행되는 시퀀스들은 도 14를 참조하여 설명될 것이다.
도 14는 도 6의 오디오 처리기(1310)에서 사용자에 의해 인식되는 노이즈를 방지하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
시각 t1 이전의 정상 구간(M100)에서, 디지털 신호 처리기(110b)는 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")의 활성화 신호(ACT)를 출력할 수 있다. 활성화 신호(ACT)의 제 1 논리 값에 응답하여, DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 활성화될 수 있다. 정상 구간(M100) 동안, 도 13의 시퀀스 컨트롤러(117)는 정상 시퀀스를 관리할 수 있다. 정상 시퀀스는 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 활성화되고 오디오 데이터(AD)에 기초하여 오디오 출력 신호(LOUT)가 정상적으로 출력되도록 관리될 수 있다.
시각 t1에서 과전압(OV)이 발생함에 따라, 보호 구간(M200)이 진입될 수 있다. 나아가, 활성화 신호(ACT)의 제 1 논리 값이 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")으로 변할 수 있다. 예로서, 활성화 신호(ACT)의 논리 값은 검출 신호(OVD) 또는 변환된 검출 신호(cOVD)에 기초하여 변할 수 있다. 몇몇 경우, 검출 신호(OVD)(또는, 변환된 검출 신호(cOVD))와 활성화 신호(ACT) 사이에 약간의 지연이 있을 수 있다.
활성화 신호(ACT)의 제 2 논리 값에 응답하여, DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 비활성화될 수 있다. 보호 구간(M200)에서, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들이 턴-오프될 수 있고, 따라서 오디오 출력 신호(LOUT)가 출력되지 않을 수 있다. 그러므로, DAC(130) 및 출력 드라이버(150)를 비활성화하는 것은 전력 소모를 줄이는 데에 유익할 수 있다.
보호 구간(M200)이 진입되는 시점에서, 시퀀스 컨트롤러(117)는 뮤트 개시 시퀀스(Mute Initiation Sequence)를 관리할 수 있다. 예로서, 시퀀스 컨트롤러(117)는 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 1 논리 값에 응답하여 뮤트 개시 시퀀스를 실행할 수 있다. 뮤트 개시 시퀀스는 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 비활성화될 준비를 하고 전력 소모가 감소하도록 관리될 수 있다.
DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 비활성화됨에 응답하여, 시퀀스 컨트롤러(117)는 뮤트 시퀀스를 관리할 수 있다. 뮤트 시퀀스는 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 비활성화되고 오디오 출력 데이터(LOUT)가 출력되지 않도록 관리될 수 있다.
시각 t5에서 보호 구간(M200)이 종료됨에 따라, 정상 구간(M100)이 진입될 수 있다. 나아가, 활성화 신호(ACT)의 제 2 논리 값이 제 1 논리 값으로 변할 수 있다. 활성화 신호(ACT)의 제 1 논리 값에 응답하여, DAC(130) 및 출력 드라이버(150)가 활성화될 수 있다. 오디오 출력 생성기(100)의 소자들은 턴-온될 수 있고, 따라서 오디오 출력 신호(LOUT)가 오디오 출력 생성기(100)로부터 출력될 수 있다.
정상 구간(M100)이 진입되는 시점에서, 시퀀스 컨트롤러(117)는 뮤트 종료 시퀀스(Mute Termination Sequence)를 관리할 수 있다. 예로서, 시퀀스 컨트롤러(117)는 변환된 검출 신호(cOVD)의 제 2 논리 값에 응답하여 뮤트 종료 시퀀스를 실행할 수 있다. 뮤트 종료 시퀀스는 오디오 출력 신호(LOUT)를 위한 이득이 서서히 증가하도록 관리될 수 있다. 예로서, 이득은 디지털 신호 처리기(110b)에 의해 제공되는 디지털 이득 또는 출력 드라이버(150)에 의해 제공되는 아날로그 이득일 수 있다.
예로서, 보호 구간(M200)이 종료된 후 오디오 출력 생성기(100)의 소자들이 턴-온되자마자 오디오 출력 신호(LOUT)가 갑자기 출력되는 경우, 사용자는 무언가가 튀는 것 같이 들리는 팝 노이즈(Pop Noise)를 들을 수 있다. 사용자에 의해 노이즈가 인식되는 경우, 사용자의 만족도가 저하될 수 있다.
시퀀스 컨트롤러(117)의 제어에 따라 이득이 서서히 증가하는 경우(볼륨 제어), 보호 구간(M200)의 뮤트 시퀀스로부터 정상 구간(M100)의 뮤트 종료 시퀀스로의 천이가 자연스럽게 제공될 수 있다. 이 경우, 팝 노이즈가 발생하지 않을 수 있다. 따라서, 사용자에 의해 인식되는 노이즈가 발생하는 것이 방지될 수 있고, 사용자의 만족도가 향상될 수 있다. 뮤트 종료 시퀀스 이후 정상 시퀀스가 제공될 수 있다.
뮤트 종료 시퀀스에서, 오디오 출력 신호(LOUT)를 위한 이득은, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들이 턴-온된 후 제어 시간 동안(예컨대, 시각 t5로부터 시각 t6까지), 시간에 대한 기준 비율에 따라 증가하도록 제어될 수 있다. 예로서, 시간에 대한 기준 비율은 0.1초 당 3dBFS, 0.5초 당 10dBFS 등과 같이 선택될 수 있다. 다만, 이 값들은 더 나은 이해를 가능하게 하기 위해 제공되고, 본 발명을 한정하도록 의도되지 않는다. 시간에 대한 기준 비율은 고정되거나 가변 가능(Variable)할 수 있고, 팝 노이즈가 발생하지 않도록 다양하게 변경 또는 수정될 수 있다.
예로서, 뮤트 종료 시퀀스가 시작되는 시점에서, 이득은 음의 무한대(-∞)로 설정될 수 있다. 음의 무한대(-∞)의 이득은, 예로서, 신호 레벨을 0 또는 거의 0으로 만드는 이득일 수 있다. 이 예에서, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들이 턴-온된 후, 이득은 음의 무한대(-∞)로부터 증가할 수 있다. 이득은 제어 시간 동안 기준 비율에 따라 서서히 증가할 수 있다. 이득은 오디오 출력 신호(LOUT)의 세기가 오디오 데이터(AD)에 기초하여 지시되는 의도된 세기에 도달하도록 증가할 수 있다. 예로서, 처리된 오디오 신호(pAD)는 뮤트 종료 시퀀스에서 제어되는 이득에 기초하여 출력될 수 있다.
V. 오동작의 방지
도 15는 도 3의 연결 신호(LDET)와 관련되는 예시적인 구성을 보여주는 개념도이다.
도 5를 참조하여 설명된 것처럼, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되는 경우, 연결 신호(LDET)와 관련되는 접촉부는 오디오 잭(AJ)을 통해 접지 접촉부(GND)로 연결될 수 있다. 이 경우, 연결 신호(LDET)의 레벨은 접지 레벨로 풀-다운될 수 있고, 오디오 출력 생성기(100)는 연결 신호(LDET)의 제 2 논리 레벨(예컨대, 논리 "0")에 기초하여 오디오 잭(AJ)의 연결을 인식할 수 있다.
그러나, 몇몇 경우, 오디오 단자(1340)를 통해 양의 과전압이 유입될 수 있다. 이 경우, 도 15를 참조하면, 연결 신호(LDET)와 관련되는 접촉부의 전압이 양의 허용 전압(+VC)보다 높아질 수 있다. 따라서, 연결 신호(LDET)의 레벨이 증가할 수 있고, 제 1 논리 레벨(예컨대, 논리 "1")에 대응하게 될 수 있다.
도 4를 참조하여 설명된 것처럼, 오디오 출력 생성기(100)는 연결 신호(LDET)의 제 1 논리 레벨에 기초하여 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않은 것으로 판별할 수 있다. 즉, 오디오 단자(1340)를 통해 양의 과전압이 유입되는 경우, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되어 있음에도 불구하고 오디오 출력 생성기(100)는 오디오 잭(AJ)이 없는 것으로 인식할 수 있다.
이 경우, 디지털 신호 처리기(110)는 DAC(130) 및 출력 드라이버(150)를 비활성화시킬 수 있고, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되어 있음에도 불구하고 오디오 출력 신호(LOUT)가 출력되지 않을 수 있다. 이처럼, 양의 과전압은 의도되지 않은 오동작을 야기할 수 있다.
도 16은 도 6의 디지털 신호 처리기(110)의 예시적인 구성을 보여주는 블록도이다. 몇몇 실시 예에서, 도 6의 디지털 신호 처리기(110)는 도 16의 디지털 신호 처리기(110c)를 포함할 수 있다.
디지털 신호 처리기(110c)는 신호 변환기(111), 타이머(113), 선택기(115), 및 잭-아웃(Jack-out) 검출기(119)를 포함할 수 있다. 신호 변환기(111), 타이머(113), 및 선택기(115)는 도 10 내지 도 13을 참조하여 설명되었다. 잭-아웃 검출기(119)는 아래에서 설명될 동작들 및 기능들을 제공하기 위해 다양한 수동/능동/논리 소자를 포함하는 아날로그/디지털 회로들로 구현될 수 있다.
잭-아웃 검출기(119)는 연결 신호(LDET)에 기초하여, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되어 있는지 여부를 판별할 수 있다. 나아가, 잭-아웃 검출기(119)는 잭-아웃 마스크(Jack-out Mask) 회로(119a)를 포함할 수 있다.
잭-아웃 마스크 회로(119a)는 연결 신호(LDET) 및 검출 신호(OVD)를 수신할 수 있다. 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 양의 과전압에 기인하여 발생하는 오동작을 방지하기 위해, 연결 신호(LDET)의 마스킹(Masking)을 제공할 수 있다. 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 마스킹의 결과로서 잭 연결 검출 신호(JCD)를 출력할 수 있다.
도 17은 도 16의 잭-아웃 마스크 회로(119a)에 의해 다루어지는 예시적인 신호들을 설명하기 위한 표이다. 도 18은 도 6의 오디오 처리기(1310)에서 과전압에 기인하는 오동작을 방지하는 예시적인 동작을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 17은 잭-아웃 마스크 회로(119a)로 입력되는 검출 신호(OVD) 및 연결 신호(LDET), 및 잭-아웃 마스크 회로(119a)로부터 출력되는 잭 연결 검출 신호(JCD)의 논리 값들을 보여준다. 연결 신호(LDET)의 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")은 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않음을 지시할 수 있다. 연결 신호(LDET)의 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")은 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결됨을 지시할 수 있다.
과전압이 발생하지 않은 경우, 검출 신호(OVD)의 레벨은 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")에 대응할 수 있고 오디오 출력 생성기(100)의 소자들은 턴-온될 수 있다. 과전압이 발생한 경우, 검출 신호(OVD)의 레벨은 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")에 대응할 수 있고 오디오 출력 생성기(100)의 소자들은 턴-오프될 수 있다.
검출 신호(OVD)의 논리 "0" 및 연결 신호(LDET)의 논리 "0"은 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결된 상태(즉, 잭-인(Jack-in))를 의미할 수 있다(도 5 참조). 따라서, 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 제 2 논리 값(예컨대, 논리 "0")의 레벨을 갖는 잭 연결 검출 신호(JCD)를 생성할 수 있다.
검출 신호(OVD)의 논리 "0" 및 연결 신호(LDET)의 논리 "1"은 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않은 상태(즉, 잭-아웃)를 의미할 수 있다(도 4 참조). 따라서, 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 제 1 논리 값(예컨대, 논리 "1")의 레벨을 갖는 잭 연결 검출 신호(JCD)를 생성할 수 있다. 검출 신호(OVD)의 레벨이 논리 "0"에 대응하는 경우, 잭 연결 검출 신호(JCD)의 논리 값은 연결 신호(LDET)의 논리 값과 동일할 수 있다.
검출 신호(OVD)의 논리 "1" 및 연결 신호(LDET)의 논리 "0"은 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결된 상태(즉, 잭-인(Jack-in))를 의미할 수 있다(도 5 참조). 예로서, 음의 과전압이 발생한 경우, 검출 신호(OVD)의 레벨이 논리 "1"에 대응하더라도 연결 신호(LDET)의 레벨이 논리 "0"에 대응할 수 있다. 이 경우, 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 연결 신호(LDET)와 동일하게 논리 "0"의 레벨을 갖는 잭 연결 검출 신호(JCD)를 생성할 수 있다.
그러나, 검출 신호(OVD)의 논리 "1" 및 연결 신호(LDET)의 논리 "1"은 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되어 있음에도 불구하고 오디오 잭(AJ)이 연결되지 않은 것으로 판별되는 경우와 관련될 수 있다(도 15 참조). 따라서, 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 연결 신호(LDET)와 상이하게 논리 "0"의 레벨을 갖는 잭 연결 검출 신호(JCD)를 생성할 수 있다.
검출 신호(OVD)의 레벨이 논리 "1"에 대응하는 동안 검출되는 잭-아웃 상태는 양의 과전압에 기인하는 오동작의 결과일 수 있다. 따라서, 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 연결 신호(LDET)의 논리 "1"에 의해 지시되는 잭-아웃 상태를 마스킹할 수 있다. 대신, 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 잭-인 상태를 지시하는 논리 "0"의 잭 연결 검출 신호(JCD)를 출력할 수 있다. 따라서, 검출 신호(OVD)의 레벨이 논리 "1"에 대응하는 동안 수신되는 논리 "1"의 연결 신호(LDET)는 무시될 수 있다.
도 18을 참조하면, 시각 t1과 t2 사이에서, 음의 과전압이 발생할 수 있고 검출 신호(OVD)의 레벨이 논리 "1"에 대응할 수 있다. 한편, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결된 경우, 연결 신호(LDET)의 논리 "0"이 유지될 수 있다. 검출 신호(OVD)의 논리 "1" 및 연결 신호(LDET)의 논리 "0"에 기초하여, 잭 연결 검출 신호(JCD)의 레벨은 논리 "0"에 대응할 수 있다.
그러나, 시각 t3와 t4 사이에서, 양의 과전압이 발생할 수 있고 검출 신호(OVD)의 레벨이 논리 "1"에 대응할 수 있다. 도 15를 참조하여 설명된 것처럼, 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되어 있음에도 불구하고, 연결 신호(LDET)의 레벨이 논리 "1"에 대응하도록 변할 수 있다. 도 16의 잭-아웃 마스크 회로(119a)는 검출 신호(OVD)의 논리 "1" 및 연결 신호(LDET)의 논리 "1"에 기초하여, 논리 "0"의 레벨을 갖는 잭 연결 검출 신호(JCD)를 생성할 수 있다(즉, 잭-아웃 마스킹).
잭 연결 검출 신호(JCD)는, 연결 신호(LDET) 대신, 오디오 잭(AJ)의 부재 또는 연결을 판별하기 위해 참조될 수 있다. 따라서, 양의 과전압에 기인하여 발생하는 오동작이 방지될 수 있다.
예로서, 잭 연결 검출 신호(JCD)의 레벨이 논리 "0"에 대응하는 경우(즉, 오디오 잭(AJ)이 연결된 경우), DAC(130) 및 출력 드라이버(150)는 활성화될 수 있다. 반면, 잭 연결 검출 신호(JCD)의 레벨이 논리 "1"에 대응하는 경우(즉, 오디오 잭(AJ)이 연결되지 않은 경우), DAC(130) 및 출력 드라이버(150)는 비활성화될 수 있다.
오디오 출력 생성기(100)의 소자들이 턴-온된 동안(즉, 검출 신호(OVD)의 레벨이 논리 "0"에 대응하는 동안) 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않았음을 지시하는 연결 신호(LDET)(즉, 논리 "1"의 연결 신호(LDET))가 오디오 출력 생성기(100)로 제공되는 경우, 잭 연결 검출 신호(JCD)의 레벨이 논리 "1"에 대응할 수 있다. 따라서, DAC(130) 및 출력 드라이버(150)는 잭 연결 검출 신호(JCD)의 논리 "1"과 관련하여 비활성화될 수 있다. 이 경우, 오디오 출력 생성기(100)에 의해 소모되는 전력이 감소할 수 있다.
반면, 오디오 출력 생성기(100)의 소자들이 턴-오프된 동안(즉, 검출 신호(OVD)의 레벨이 논리 "1"에 대응하는 동안) 오디오 잭(AJ)이 오디오 단자(1340)에 연결되지 않았음을 지시하는 연결 신호(LDET)(즉, 논리 "1"의 연결 신호(LDET))가 오디오 출력 생성기(100)로 제공되는 경우, 잭 연결 검출 신호(JCD)의 레벨이 논리 "0"에 대응할 수 있다. 따라서, DAC(130) 및 출력 드라이버(150)는 잭 연결 검출 신호(JCD)의 논리 "0"과 관련하여 비활성화되지 않을 수 있고, 오디오 출력 생성기(100)는 논리 "1"의 연결 신호(LDET)를 무시할 수 있다.
위 설명들은 본 발명을 구현하기 위한 예시적인 구성들 및 동작들을 제공하도록 의도된다. 본 발명의 기술 사상은 위에서 설명된 실시 예들뿐만 아니라, 위 실시 예들을 단순하게 변경하거나 수정하여 얻어질 수 있는 구현들도 포함할 것이다. 또한, 본 발명의 기술 사상은 위에서 설명된 실시 예들을 앞으로 용이하게 변경하거나 수정하여 달성될 수 있는 구현들도 포함할 것이다.
1000 : 전자 장치
Claims (20)
- 입력 데이터에 기초하여 출력 신호를 생성하기 위한 경로 상의 스위치들, 및 출력 단자로의 상기 출력 신호의 출력을 구동하도록 구성되는 트랜지스터들을 포함하는 출력 생성기; 및
상기 출력 단자의 전압의 크기가 허용 크기보다 큰 경우, 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-오프되도록, 제 1 논리 값의 검출 신호를 상기 출력 생성기로 제공하도록 구성되는 과전압 검출기를 포함하되,
상기 출력 생성기는:
상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-오프를 유지하도록, 상기 검출 신호에 기초하여 제 1 논리 값의 변환된 검출 신호를 생성하고;
(i)기준 시간이 경과하고 (ii)상기 기준 시간 동안 상기 검출 신호가 상기 검출 신호의 제 2 논리 값에서 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값으로 변하지 않는 것에 응답하여, 턴-오프를 유지한 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-온되도록, 제 2 논리 값의 상기 변환된 검출 신호를 생성하고,
상기 변환된 검출 신호의 상기 제 2 논리 값에 응답하여, 제어 시간 동안 상기 출력 신호를 위한 이득이 시간에 대한 기준 비율에 따라 증가하도록, 상기 이득을 제어하도록 더 구성되고,
상기 기준 시간은 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값이 상기 검출 신호의 상기 제 2 논리 값으로 변경될 때 시작되는 전자 회로. - 제 1 항에 있어서,
상기 검출 신호의 상기 제 1 논리값에 응답하여 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-오프되는 경우, 턴-오프된 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들은 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-오프된 후 적어도 상기 기준 시간 동안 턴-오프를 유지하는 전자 회로. - 제 1 항에 있어서,
상기 출력 생성기는, (i)상기 기준 시간이 경과하고 (ii)상기 기준 시간 동안 상기 검출 신호가 상기 검출 신호의 상기 제 2 논리 값에서 상기 검출 신호의 제 1 논리 값으로 변한 것에 응답하여, 상기 변환된 검출 신호의 상기 제 1 논리 값을 유지하도록 더 구성되는 전자 회로. - 삭제
- 제 1 항에 있어서,
상기 출력 생성기는, 상기 검출 신호 또는 상기 변환된 검출 신호가 선택적으로 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들을 턴-온 및 턴-오프시키도록, 선택 신호를 출력하도록 더 구성되는 전자 회로. - 제 5 항에 있어서,
상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-온된 경우, 상기 검출 신호가 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들을 턴-오프시키도록 상기 선택 신호에 기초하여 선택되고,
상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-오프된 경우, 상기 변환된 검출 신호가 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들을 턴-온시키도록 상기 선택 신호에 기초하여 선택되는 전자 회로. - 제 1 항에 있어서,
상기 출력 생성기는 상기 기준 시간이 지났음을 알리도록 구성되는 타이머를 더 포함하고,
상기 타이머는 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값이 상기 검출 신호의 상기 제 2 논리 값으로 변하는 경우에 초기화되는 전자 회로. - 제 7 항에 있어서,
상기 출력 생성기는, 상기 기준 시간이 지났음을 지시하는 상기 타이머로부터의 알림에 응답하여, 상기 변환된 검출 신호의 상기 제 1 논리 값을 상기 변환된 검출 신호의 상기 제 2 논리 값으로 변경하도록 더 구성되는 전자 회로. - 제 1 항에 있어서,
상기 출력 생성기는:
상기 입력 데이터를 처리하도록 구성되는 디지털 신호 처리기; 및
상기 처리된 입력 데이터를 아날로그 신호로 변환하도록 구성되는 디지털-아날로그 변환기; 및
상기 아날로그 신호에 기초하여, 상기 트랜지스터들을 이용하여 상기 출력 신호의 상기 출력을 구동하도록 구성되는 출력 드라이버를 더 포함하고,
상기 출력 생성기는 외부 커넥터가 외부 단자에 연결되었는지 여부와 관련되는 연결 신호를 수신하도록 더 구성되고,
상기 디지털-아날로그 변환기 및 상기 출력 드라이버는 상기 연결 신호에 기초하여 활성화되거나 비활성화되는 전자 회로. - 입력 데이터에 기초하여 출력 신호를 생성하기 위한 경로 상의 스위치들, 및 출력 단자로의 상기 출력 신호의 출력을 구동하도록 구성되는 트랜지스터들을 포함하는 출력 생성기; 및
상기 출력 단자의 전압의 크기가 허용 크기보다 큰 경우, 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-오프되도록, 제 1 논리 값의 검출 신호를 상기 출력 생성기로 제공하도록 구성되는 과전압 검출기를 포함하되,
상기 출력 생성기는:
상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-오프를 유지하도록, 상기 검출 신호에 기초하여 제 1 논리 값의 변환된 검출 신호를 생성하고;
(i)기준 시간이 경과하고 (ii)상기 기준 시간 동안 상기 검출 신호가 상기 검출 신호의 제 2 논리 값에서 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값으로 변하지 않는 것에 응답하여, 턴-오프를 유지한 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-온되도록, 제 2 논리 값의 상기 변환된 검출 신호를 생성하고,
상기 기준 시간은 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값이 상기 검출 신호의 상기 제 2 논리 값으로 변경될 때 시작되고,
상기 출력 생성기는:
상기 입력 데이터를 처리하도록 구성되는 디지털 신호 처리기; 및
상기 처리된 입력 데이터를 아날로그 신호로 변환하도록 구성되는 디지털-아날로그 변환기; 및
상기 아날로그 신호에 기초하여, 상기 트랜지스터들을 이용하여 상기 출력 신호의 상기 출력을 구동하도록 구성되는 출력 드라이버를 더 포함하고,
상기 출력 생성기는 외부 커넥터가 외부 단자에 연결되었는지 여부와 관련되는 연결 신호를 수신하도록 더 구성되고,
상기 디지털-아날로그 변환기 및 상기 출력 드라이버는 상기 연결 신호에 기초하여 활성화되거나 비활성화되고,
상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-온된 동안 상기 외부 커넥터가 상기 외부 단자에 연결되지 않았음을 상기 연결 신호가 지시하는 경우, 상기 디지털-아날로그 변환기 및 상기 출력 드라이버는 비활성화되고,
상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 상기 스위치들 및 상기 트랜지스터들이 턴-오프를 유지하는 동안 상기 외부 커넥터가 상기 외부 단자에 연결되지 않았음을 상기 연결 신호가 지시하는 경우, 상기 디지털-아날로그 변환기 및 상기 출력 드라이버는 비활성화되지 않는 전자 회로. - 출력 신호를 출력 단자로 출력하도록 구성되는 출력 생성기; 및
상기 출력 단자의 전압의 크기가 허용 크기보다 큰 경우, 상기 출력 생성기에 포함되는 소자들이 턴-오프되도록, 제 1 논리 값의 검출 신호를 출력하도록 구성되는 과전압 검출기를 포함하되,
상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값이 상기 검출 신호의 제 2 논리 값으로 변한 후 기준 시간만큼의 시간이 지날 때까지, 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 상기 소자들은 턴-오프를 유지하고,
(i)기준 시간이 경과하고 (ii)상기 기준 시간 동안 상기 검출 신호가 상기 검출 신호의 제 2 논리 값에서 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값으로 변한 것에 응답하여, 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 상기 소자들은 턴-오프를 계속 유지하고,
(i)상기 기준 시간이 경과하고 (ii)상기 기준 시간 동안 상기 검출 신호가 상기 검출 신호의 제 2 논리 값에서 상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값으로 변하지 않는 것에 응답하여, 턴-오프된 상기 소자들은 턴-온되고,
상기 소자들이 턴-온됨에 따라, 상기 출력 신호가 상기 출력 생성기로부터 출력되고,
상기 소자들이 턴-온된 후, 상기 출력 생성기는, 제어 시간 동안 상기 출력 신호를 위한 이득이 시간에 대한 기준 비율에 따라 증가하도록, 상기 이득을 제어하도록 더 구성되는 전자 회로. - 제 11 항에 있어서,
상기 소자들이 턴-오프됨에 따라, 상기 출력 생성기에 의해 소모되는 전력이 감소하고 상기 출력 신호가 상기 출력 생성기로부터 출력되지 않는 전자 회로. - 삭제
- 삭제
- 제 11 항에 있어서,
상기 소자들이 턴-온된 후, 상기 이득은 음의 무한대로부터 증가하고,
상기 제어 시간 동안, 상기 이득은 상기 출력 신호의 세기가 상기 출력 생성기로의 입력 데이터에 기초하여 지시되는 세기에 도달하도록 증가하는 전자 회로. - 제 11 항에 있어서,
상기 소자들이 턴-온된 동안 외부 커넥터가 외부 단자에 연결되지 않음을 지시하는 연결 신호를 상기 출력 생성기가 수신하는 경우, 상기 출력 생성기에 의해 소모되는 전력이 감소하고,
상기 검출 신호의 상기 제 1 논리 값에 응답하여 턴-오프된 상기 소자들이 턴-오프를 유지하는 동안 상기 출력 생성기가 상기 연결 신호를 수신하는 경우, 상기 출력 생성기는 상기 연결 신호를 무시하는 전자 회로. - 삭제
- 삭제
- 출력 신호를 출력 단자로 출력하도록 구성되는 출력 생성기; 및
상기 출력 생성기에 포함되는 능동 소자들이 턴-오프되도록, 검출 신호를 상기 출력 생성기로 제공하도록 구성되는 과전압 검출기를 포함하되,
상기 과전압 검출기는:
상기 출력 단자의 전압을 분배하여 분배된 전압을 출력하도록 구성되는 저항성 소자들;
상기 분배된 전압을 제 1 기준 전압과 비교하여, 상기 출력 단자의 상기 전압이 양의 허용 전압보다 높은지 여부와 관련되는 제 1 비교 결과를 출력하도록 구성되는 제 1 비교기;
상기 분배된 전압을 상기 제 1 기준 전압보다 낮은 제 2 기준 전압과 비교하여, 상기 출력 단자의 상기 전압이 음의 허용 전압보다 낮은지 여부와 관련되는 제 2 비교 결과를 출력하도록 구성되는 제 2 비교기; 및
상기 제 1 비교 결과 및 상기 제 2 비교 결과에 기초하여 상기 검출 신호를 생성하도록 구성되는 논리 회로를 포함하는 전자 회로. - 제 19 항에 있어서,
상기 분배된 전압은 상기 제 1 비교기 및 상기 제 2 비교기를 손상시키는 전압보다 낮은 전자 회로.
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