KR102509691B1 - Semiconductor device and operating method thereof - Google Patents

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Abstract

반도체 장치 및 그 동작 방법이 제공된다. 반도체 장치는, USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)에 따른 복수의 핀들을 포함하는 리셉터클; 및 상기 복수의 핀들 중 제1 핀에 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글(toggle)하는 토글 전압 신호를 인가하고, 상기 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 검출하는 PD IC(Power Delivery Integrated Circuit)를 포함한다.A semiconductor device and an operation method thereof are provided. The semiconductor device includes a receptacle including a plurality of pins according to a USB Type-C Receptacle Interface; and a PDIC for applying a toggle voltage signal that toggles between a first voltage level and a second voltage level to a first pin of the plurality of pins and detecting a voltage level of a signal output to the first pin. Power Delivery Integrated Circuit).

Description

반도체 장치 및 그 동작 방법{SEMICONDUCTOR DEVICE AND OPERATING METHOD THEREOF}Semiconductor device and its operating method {SEMICONDUCTOR DEVICE AND OPERATING METHOD THEREOF}

본 발명은 반도체 장치 및 그 동작 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor device and an operation method thereof.

USB(Universal Serial Bus) 기술은 더욱 소형화되고, 얇아지고, 가벼운 폼 팩터(form-factor)를 향해 발전하는 경향에 맞추어 발전하고 있다. 대표적인 예로, USB 타입-C(USB Type-C) 기술은 상기 경향에 부합할 수 있는 리셉터클(receprtacle), 플러그(plug), 케이블(cable)을 정의한다.Universal Serial Bus (USB) technology is evolving to keep up with the trend towards smaller, thinner and lighter form-factors. As a representative example, USB Type-C technology defines a receptacle, a plug, and a cable that can meet the trend.

USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)는, 리셉터클에 구비된 특정 핀(예컨대 CC1 신호 핀 및 CC2 신호 핀)에 풀 업(pull-up) 전류를 제공하고 있다가, 다른 USB 장치가 연결이 되었는지를 판단하기 위해 상기 특정 핀에 풀 다운(pull-up)이 발생하였는지를 관찰한다. 그러므로, 리셉터클에 다른 USB 장치가 연결되지 않은 경우에도, 상기 특정 핀에는 풀 업 전류가 제공될 수 있다.The USB Type-C Receptacle Interface provides a pull-up current to specific pins (e.g., CC1 signal pin and CC2 signal pin) provided in the receptacle, and then provides a pull-up current to another USB device. Observe whether a pull-up has occurred on the specific pin to determine whether or not is connected. Therefore, even when no other USB device is connected to the receptacle, a pull-up current may be provided to the specific pin.

만일 리셉터클에 이물질, 특히 수분이 인가되면, 상기 풀 업 전류가 리셉터클의 GND 신호 핀으로 흐르게 되어, 리셉터클에 구비된 핀들의 부식 위험이 있다. 따라서, 버스 파워(VBUS)를 제공하기 전에, 리셉터클에 수분이 인가되었는지 여부를 판단할 필요가 있다.If a foreign substance, particularly moisture, is applied to the receptacle, the pull-up current flows to the GND signal pin of the receptacle, and there is a risk of corrosion of the pins provided in the receptacle. Therefore, before providing bus power (V BUS ), it is necessary to determine whether moisture is applied to the receptacle.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 버스 파워(VBUS)를 제공하기 전에, 리셉터클에 수분이 인가되었는지 여부를 판단할 수 있는 반도체 장치를 제공하는 것이다.A technical problem to be solved by the present invention is to provide a semiconductor device capable of determining whether moisture is applied to a receptacle before providing bus power (V BUS ).

본 발명이 해결하고자 하는 다른 기술적 과제는 버스 파워(VBUS)를 제공하기 전에, 리셉터클에 수분이 인가되었는지 여부를 판단할 수 있는 반도체 장치의 동작 방법을 제공하는 것이다.Another technical problem to be solved by the present invention is to provide a method of operating a semiconductor device capable of determining whether moisture is applied to a receptacle before providing bus power (V BUS ).

본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 해당 기술 분야의 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical problems of the present invention are not limited to the technical problems mentioned above, and other technical problems not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치는, USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)에 따른 복수의 핀들을 포함하는 리셉터클; 및 상기 복수의 핀들 중 제1 핀에 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글(toggle)하는 토글 전압 신호를 인가하고, 상기 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 검출하는 PD IC(Power Delivery Integrated Circuit)를 포함한다.A semiconductor device according to an embodiment of the present invention for achieving the above technical problem includes a receptacle including a plurality of pins according to a USB Type-C receptacle interface; and a PDIC for applying a toggle voltage signal that toggles between a first voltage level and a second voltage level to a first pin of the plurality of pins and detecting a voltage level of a signal output to the first pin. Power Delivery Integrated Circuit).

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 따른 반도체 장치는, USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)에 따른 복수의 핀들을 포함하는 리셉터클; 상기 복수의 핀들 중 제1 핀에 전압 신호를 인가하고, 상기 제1 핀으로 출력되는 신호를 검출하는 PD IC(Power Delivery Integrated Circuit); 및 상기 복수의 핀들 중 제2 핀에 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글(toggle)하는 토글 전압 신호를 인가하고, 상기 제2 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 검출하는 USB 칩셋(USB chipset)을 포함한다.A semiconductor device according to another embodiment of the present invention for achieving the above technical problem includes a receptacle including a plurality of pins according to a USB Type-C receptacle interface; a PD IC (Power Delivery Integrated Circuit) for applying a voltage signal to a first pin of the plurality of pins and detecting a signal output to the first pin; and a USB chipset configured to apply a toggle voltage signal that toggles between a first voltage level and a second voltage level to a second pin among the plurality of pins and detect a voltage level of a signal output to the second pin. USB chipset).

상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 동작 방법은, USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)에 따른 복수의 핀들 중 제1 핀에 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글(toggle)하는 토글 전압 신호를 인가하고, 상기 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 미리 정해진 시간 동안 모니터링하고, 상기 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 상기 리셉터클에 수분을 검출하는 것을 포함한다.In order to achieve the above technical problem, a method for operating a semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present disclosure includes a first voltage level on a first pin among a plurality of pins according to a USB Type-C receptacle interface. A toggle voltage signal that toggles between and a second voltage level is applied, the voltage level of the signal output to the first pin is monitored for a predetermined time, and the voltage level of the signal output to the first pin is and detecting moisture in the receptacle according to whether it falls within a predetermined range.

기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.Details of other embodiments are included in the detailed description and drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 시스템을 설명하기 위한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 4a는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 풀 업(pull-up) 동작을 설명하기 위한 블록도이다.
도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 풀 다운(pull-down) 동작을 설명하기 위한 블록도이다.
도 4c는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 오픈(open) 동작을 설명하기 위한 블록도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 일 동작례를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 다른 동작례를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 또 다른 동작례를 설명하기 위한 도면이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 또 다른 동작례를 설명하기 위한 도면이다.
도 9 및 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
1 is a block diagram illustrating a semiconductor system according to an exemplary embodiment of the present invention.
2 is a diagram for explaining a USB Type-C Receptacle Interface according to an embodiment of the present invention.
3 is a block diagram illustrating a semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present invention.
4A is a block diagram illustrating a pull-up operation of a semiconductor device according to an exemplary embodiment.
4B is a block diagram illustrating a pull-down operation of the semiconductor device according to an exemplary embodiment.
4C is a block diagram illustrating an open operation of a semiconductor device according to an exemplary embodiment.
5 is a diagram for explaining an operation example of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.
6 is a diagram for explaining another operation example of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.
7 is a diagram for explaining another operation example of a semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present invention.
8 is a diagram for explaining another operation example of a semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present invention.
9 and 10 are flowcharts illustrating an operating method of a semiconductor device according to an exemplary embodiment.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 시스템을 설명하기 위한 블록도이다.1 is a block diagram illustrating a semiconductor system according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 시스템은 USB 호스트(100), USB 장치(300) 및 USB 호스트(100)와 USB 장치(300)를 전기적으로 접속시키는 USB 케이블(200)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1 , a semiconductor system according to an embodiment of the present invention includes a USB host 100, a USB device 300, and a USB cable 200 electrically connecting the USB host 100 and the USB device 300. can include

USB 호스트(100)는 USB 호스트 컨트롤러가 장착된 호스트 컴퓨터 시스템이다. 한편, USB 장치(300)는 USB 규격에 맞는 보조 장치 또는 허브(hub)를 포함할 수 있다. USB 호스트(100)와 USB 장치(300)는 각각 USB 인터페이스를 따르는 리셉터클 인터페이스(110, 310)를 포함하며, 리셉터클 인터페이스(110, 310)는 USB 케이블(200)에 의해 서로 전기적으로 연결될 수 있다.The USB host 100 is a host computer system equipped with a USB host controller. Meanwhile, the USB device 300 may include an auxiliary device or a hub that meets the USB standard. The USB host 100 and the USB device 300 each include receptacle interfaces 110 and 310 conforming to the USB interface, and the receptacle interfaces 110 and 310 may be electrically connected to each other by the USB cable 200.

본 발명의 몇몇의 실시예에서, USB 호스트(100)는 USB 타입-C 인터페이스(USB Type-C Interface)를 제공할 수 있다. 즉, USB 호스트(100)의 리셉터클 인터페이스(110)는 USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)이고, USB 호스트(100)와 USB 장치(300)를 전기적으로 접속시키는 USB 케이블(200)은 USB 타입-C 케이블(USB Type-C Cable)일 수 있다.In some embodiments of the present invention, the USB host 100 may provide a USB Type-C interface. That is, the receptacle interface 110 of the USB host 100 is a USB Type-C receptacle interface, and the USB cable 200 electrically connects the USB host 100 and the USB device 300. ) may be a USB Type-C cable.

이와 같은 USB 타입-C 인터페이스는, 예컨대 USB 2.0 또는 USB 3.1의 정의에 기초하여 구현될 수 있다.Such a USB Type-C interface may be implemented based on the definition of USB 2.0 or USB 3.1, for example.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 USB 타입-C 리셉터클 인터페이스를 설명하기 위한 도면이다.2 is a diagram for explaining a USB Type-C receptacle interface according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, USB 타입-C 리셉터클은 윗면이 위를 향할수도 있고(upside-up), 윗면이 아래를 향할 수도 있다(upside-down). 그리고 USB 호스트(100)와 USB 장치(300) 어느 쪽으로든 인터페이스가 동일할 수 있다.Referring to FIG. 2 , the top surface of the USB Type-C receptacle may face upward (upside-up) or the top surface may face downward (upside-down). In addition, the interface may be the same on either side of the USB host 100 and the USB device 300 .

리셉터클 인터페이스는 복수의 핀(A1 내지 A12, B1 내지 B12)를 포함한다.The receptacle interface includes a plurality of pins A1 to A12 and B1 to B12.

구체적으로, 핀(A1, A12, B1, B12)은 GND 신호 핀에 해당하고, 핀(A4, A9, B4, B9)은 USB 케이블 버스 파워(VBUS) 신호 핀에 해당한다. 이들 핀들은 전력 및 접지 전압 신호를 제공한다.Specifically, pins A1, A12, B1, and B12 correspond to GND signal pins, and pins A4, A9, B4, and B9 correspond to USB cable bus power (V BUS ) signal pins. These pins provide power and ground voltage signals.

한편, 핀(A2, A3, B11, B10)은 각각 TX1+ 신호 핀, TX1- 신호 핀, RX1+ 신호 핀, RX1- 신호 핀에 해당하고, 핀(B2, B3, A11, A10)은 각각 TX2+ 신호 핀, TX2- 신호 핀, RX2+ 신호 핀, RX2- 신호 핀에 해당한다. 이들 핀들은 USB 3.1에 따른 데이터 전송 경로를 제공한다.Meanwhile, pins A2, A3, B11, and B10 correspond to TX1+ signal pin, TX1- signal pin, RX1+ signal pin, and RX1- signal pin, respectively, and pins B2, B3, A11, and A10 respectively correspond to TX2+ signal pin , corresponding to TX2- signal pin, RX2+ signal pin, and RX2- signal pin. These pins provide a data transfer path according to USB 3.1.

한편, 핀(A6, A7)은 각각 D+ 신호 핀, D- 신호 핀에 해당하고, 핀(B6, B7)은 각각 또 다른 D+ 신호 핀, D- 신호 핀에 해당한다. 이들 핀들은 USB 2.0에 따른 데이터 전송 경로를 제공한다.Meanwhile, pins A6 and A7 correspond to a D+ signal pin and a D- signal pin, respectively, and pins B6 and B7 correspond to another D+ signal pin and a D- signal pin, respectively. These pins provide a data transfer path according to USB 2.0.

한편, 핀(A8, B8)은 각각 SBU1 신호 핀, SBU2 신호 핀에 해당한다. 이들 핀들은 사이드밴드용(Sideband Use) 핀들에 해당한다.Meanwhile, pins A8 and B8 correspond to the SBU1 signal pin and the SBU2 signal pin, respectively. These pins correspond to sideband use pins.

한편, 핀(A5, B5)은 각각 CC1 신호 핀 및 CC2 신호 핀에 해당한다. 이들 핀들은 USB 장치의 연결을 감지하고, USB 타입-C 케이블과 커넥터를 이용하여 인터페이스를 설정하는 핀들에 해당한다.Meanwhile, pins A5 and B5 correspond to the CC1 signal pin and the CC2 signal pin, respectively. These pins correspond to pins that sense the connection of a USB device and configure an interface using a USB Type-C cable and connector.

이와 같은 리셉터클 인터페이스는 USB 타입-C 리셉터클 인터페이스의 일례에 불과하며, 구체적인 구현 목적에 따라 인터페이스가 변형될 수도 있음은 해당 기술 분야의 통상의 기술자에게 자명하다.Such a receptacle interface is just one example of the USB Type-C receptacle interface, and it is obvious to those skilled in the art that the interface may be modified according to specific implementation purposes.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치를 설명하기 위한 블록도이다.3 is a block diagram illustrating a semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치는 USB 호스트(100)일 수 있다. USB 호스트(100)는 리셉터클 인터페이스(110), USB 칩셋(120) 및 PD IC(Power Delivery Integrated Circuit)(130)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3 , a semiconductor device according to an embodiment of the present invention may be a USB host 100 . The USB host 100 may include a receptacle interface 110 , a USB chipset 120 and a Power Delivery Integrated Circuit (PDIC) 130 .

이와 마찬가지로, USB 장치(300)는 리셉터클 인터페이스(310), USB 칩셋(320) 및 PD IC (330)를 포함할 수 있다.Similarly, the USB device 300 may include a receptacle interface 310 , a USB chipset 320 and a PD IC 330 .

USB 호스트(100)와 USB 장치(300)는 각각 리셉터클 인터페이스(110)과 리셉터클 인터페이스(310)를 이용하여, 케이블(200)을 통해 데이터를 주고 받을 수 있다.The USB host 100 and the USB device 300 may exchange data through the cable 200 using the receptacle interface 110 and the receptacle interface 310 , respectively.

리셉터클 인터페이스(110, 310)는 도 2와 관련하여 앞서 설명한 바와 같은 인터페이스를 구현하기 위한 복수의 핀을 포함한다. 본 발명의 몇몇의 실시예에서, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 리셉터클 인터페이스(110)는 도 2와 관련하여 앞서 설명한 바와 같은 핀들 외에도, MID(RID) 핀(112)을 추가로 포함할 수 있다.Receptacle interfaces 110 and 310 include a plurality of pins for implementing interfaces as described above with respect to FIG. 2 . In some embodiments of the present invention, receptacle interface 110 according to various embodiments of the present invention may further include MID (RID) pins 112 in addition to the pins described above with respect to FIG. 2 . .

USB 칩셋(120)은 TX1+/- 신호, RX1+/- 신호, TX2+/- 신호, RX2+/- 신호, D+/- 신호, SBU1 신호, SBU2 신호를 입출력하고, 이들 신호들을 USB 칩셋(320)과 주고 받을 수 있다. 마찬가지로, USB 칩셋(320)은 RX1+/- 신호, TX1+/- 신호, RX2+/- 신호, TX2+/- 신호, D+/- 신호, SBU1 신호, SBU2 신호를 입출력하고 이들 신호들을 USB(120) 칩셋과 주고 받을 수 있다.The USB chipset 120 inputs and outputs TX1+/- signal, RX1+/- signal, TX2+/- signal, RX2+/- signal, D+/- signal, SBU1 signal, and SBU2 signal, and exchanges these signals with the USB chipset 320. can receive Similarly, the USB chipset 320 inputs and outputs RX1+/- signal, TX1+/- signal, RX2+/- signal, TX2+/- signal, D+/- signal, SBU1 signal, and SBU2 signal, and transfers these signals to the USB 120 chipset. can be given and received.

PD IC(130)는 USB 케이블 버스 파워(VBUS) 신호, CC1 신호, CC2 신호, GND 신호를 입출력하고, 이들 신호들을 PD IC(330)와 주고 받을 수 있다. 마찬가지로, PD IC(330)는 USB 케이블 버스 파워(VBUS) 신호, CC1 신호, CC2 신호, GND 신호를 입출력하고, 이들 신호들을 PD IC(130)와 주고 받을 수 있다.The PD IC 130 can input and output a USB cable bus power (V BUS ) signal, a CC1 signal, a CC2 signal, and a GND signal, and transmit and receive these signals to and from the PD IC 330 . Similarly, the PD IC 330 can input and output a USB cable bus power (V BUS ) signal, a CC1 signal, a CC2 signal, and a GND signal, and transmit and receive these signals to and from the PD IC 130 .

여기서 CC1 신호 및 CC2 신호는 구성 채널(configuration channel) 신호로서, 예컨대 USB 호스트(100)와 USB 장치(300)의 접속 여부를 검출할 수 있다.Here, the CC1 signal and the CC2 signal are configuration channel signals, and for example, whether or not the USB host 100 and the USB device 300 are connected can be detected.

이를 위해, USB 타입-C 리셉터클 인터페이스는, 리셉터클 인터페이스(110)에 구비된 CC1 신호 핀과 CC2 신호 핀에 풀 업 전류를 제공하고 있다가, USB 장치(300)가 연결이 되었는지를 판단하기 위해 CC1 신호 핀 또는 CC2 신호 핀에 풀 다운이 발생하는지 여부를 관찰한다.To this end, the USB Type-C receptacle interface provides a pull-up current to the CC1 signal pin and the CC2 signal pin provided in the receptacle interface 110, and then determines whether the USB device 300 is connected to the CC1. Observe whether pull-down occurs on the signal pin or the CC2 signal pin.

구체적으로 USB 호스트(100)와 USB 장치(300)가 케이블(200)을 통해 연결되기 전에는, USB 호스트(100)의 CC1 신호 핀에 풀 업 전류가 제공되고 있는 한편, USB 장치(300)의 CC1 신호 핀은 풀 다운 저항(Rd)을 통해 GND로 연결되어 있다. 그러므로 USB 호스트(100)와 USB 장치(300)가 케이블(200)을 통해 연결되면, USB 호스트(100)의 CC1 신호 핀에 제공되고 있던 전류가 케이블(200)을 통해 USB 장치(300)의 CC1 신호 핀으로 전달된 후, USB 장치(300)의 CC1 신호 핀에 연결된 풀 다운 저항(Rd)을 통해 GND로 흐르게 된다. 즉, USB 타입-C 리셉터클 인터페이스는, 리셉터클 인터페이스(110)에 구비된 CC1 신호 핀 및 CC2 신호 핀의 전압 레벨의 변화를 관찰함으로서 USB 호스트(100)와 USB 장치(300)가 케이블(200)을 통해 연결되었는지 여부를 판단할 수 있다.Specifically, before the USB host 100 and the USB device 300 are connected through the cable 200, while the pull-up current is provided to the CC1 signal pin of the USB host 100, the CC1 of the USB device 300 The signal pin is connected to GND through a pull-down resistor (Rd). Therefore, when the USB host 100 and the USB device 300 are connected through the cable 200, the current being supplied to the CC1 signal pin of the USB host 100 passes through the cable 200 to the CC1 of the USB device 300. After being transferred to the signal pin, it flows to GND through the pull-down resistor Rd connected to the CC1 signal pin of the USB device 300. That is, in the USB Type-C receptacle interface, the USB host 100 and the USB device 300 connect the cable 200 by observing changes in the voltage levels of the CC1 signal pin and the CC2 signal pin provided in the receptacle interface 110. You can determine whether or not you are connected.

그러나 만일 USB 호스트(100)의 리셉터클 인터페이스(110)에 USB 장치(300)가 연결되지 않고, 이물질, 특히 수분이 인가된 경우에는, USB 호스트(100)의 CC1 신호 핀에 제공되고 있던 전류가 상기 수분을 통해 USB 호스트(100)의 예컨대 GND 신호 핀을 통해 풀 다운될 수 있다. 그러므로 리셉터클 인터페이스(110)에 구비된 CC1 신호 핀 및 CC2 신호 핀의 전압 레벨의 변화를 관찰하는 것만으로는, 풀 다운의 원인이 USB 장치(300)의 연결 때문인지, 아니면 수분이 인가되었기 때문인지 구분하기가 어렵다.However, if the USB device 300 is not connected to the receptacle interface 110 of the USB host 100 and foreign matter, particularly moisture, is applied, the current supplied to the CC1 signal pin of the USB host 100 It can be pulled down through, for example, the GND signal pin of the USB host 100 through a few minutes. Therefore, simply by observing the change in the voltage level of the CC1 signal pin and the CC2 signal pin provided in the receptacle interface 110, whether the cause of the pull-down is due to the connection of the USB device 300 or moisture is applied. It is difficult to distinguish.

따라서 본 발명의 다양한 실시예에서는 USB 호스트(100)의 리셉터클 인터페이스(110)에 구비된 복수의 핀들, 예컨대 CC1 신호 핀 또는 CC2 신호 핀에 풀 업과 풀 다운을 반복하거나, 풀 업과 오픈을 반복하도록 하여 전압 레벨을 토글하는 토글 전압 신호를 제공한 후, 그 전압 레벨의 변화를 관찰하는 방식으로, 수분이 인가된 상황을 분별한다.Therefore, in various embodiments of the present invention, a plurality of pins provided in the receptacle interface 110 of the USB host 100, for example, a CC1 signal pin or a CC2 signal pin, are repeatedly subjected to pull-up and pull-down or repeat pull-up and open. After providing a toggle voltage signal that toggles the voltage level, a situation in which moisture is applied is discriminated by observing a change in the voltage level.

이하에서는 도 4a 내지 도 4c를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 풀 업, 풀 다운, 오픈 동작을 설명한다.Hereinafter, pull-up, pull-down, and open operations of the semiconductor device according to an exemplary embodiment will be described with reference to FIGS. 4A to 4C .

도 4a는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 풀 업 동작을 설명하기 위한 블록도이다.4A is a block diagram illustrating a pull-up operation of a semiconductor device according to an exemplary embodiment.

도 4a를 참조하면, USB 호스트(100), 즉, 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치(100)는 풀 업 저항(Rp1) 및 풀 다운 저항(Rd1)을 포함한다. 한편, USB 장치(300)는 풀 업 저항(Rp2) 및 풀 다운 저항(Rd2)을 포함한다.Referring to FIG. 4A , the USB host 100, that is, the semiconductor device 100 according to an exemplary embodiment of the present invention includes a pull-up resistor Rp1 and a pull-down resistor Rd1. Meanwhile, the USB device 300 includes a pull-up resistor Rp2 and a pull-down resistor Rd2.

본 실시예에서 설명되는 풀 업 저항(Rp1, Rp2)은 회로적으로 전류원으로 표현될 수도 있다. 이 경우 풀 업 저항(Rp1, Rp2)에 해당하는 전류원은 USB 타입-C 명세의 요구 사항에 따라 예컨대 80uA+-20%, 180uA+-8% 또는 330uA+-8% 범위의 전류를 출력하도록 설계될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니고, 구현 목적에 따라 다른 용량을 갖는 전류원이 사용될 수도 있다.The pull-up resistors Rp1 and Rp2 described in this embodiment may be expressed as a current source circuitically. In this case, the current source corresponding to the pull-up resistors (Rp1, Rp2) can be designed to output a current in the range of, for example, 80uA+-20%, 180uA+-8% or 330uA+-8% according to the requirements of the USB Type-C specification. . However, the scope of the present invention is not limited thereto, and current sources having other capacities may be used according to implementation purposes.

한편, 본 실시예에서 설명되는 풀 다운 저항(Rd1, Rd2)은 USB 타입-C 명세의 요구 사항에 따라 예컨대 5.1 kΩ의 값을 갖도록 설계될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니고, 구현 목적에 따라 다른 저항 값을 갖는 저항이 사용될 수도 있다.Meanwhile, the pull-down resistors Rd1 and Rd2 described in this embodiment may be designed to have a value of, for example, 5.1 kΩ according to the requirements of the USB Type-C specification. However, the scope of the present invention is not limited thereto, and resistors having other resistance values may be used according to implementation purposes.

케이블(200)은 리셉터클 인터페이스(110) 상의 핀을 통해 풀 업 저항(Rp1, Rp2) 또는 풀 다운 저항(Rd1, Rd2)과 접속될 수 있다.The cable 200 may be connected with pull-up resistors Rp1 and Rp2 or pull-down resistors Rd1 and Rd2 through pins on the receptacle interface 110 .

USB 호스트(100)의 풀 업 동작은, 리셉터클 인터페이스(110) 상의 특정 핀을 풀 업하는 동작을 말한다. 도 4a의 USB 호스트(100) 내의 스위치를 개폐함으로써 풀 업 저항(Rp1)과 케이블(200)을 접속시키고, 풀 다운 저항(Rd1)과 케이블을(200) 비접속시킬 수 있다. 이에 따라 상기 특정 핀에는 풀 업 전류가 제공될 수 있다.The pull-up operation of the USB host 100 refers to an operation of pulling up a specific pin on the receptacle interface 110 . By opening and closing the switch in the USB host 100 of FIG. 4A , the pull-up resistor Rp1 and the cable 200 may be connected, and the pull-down resistor Rd1 and the cable 200 may be disconnected. Accordingly, a pull-up current may be provided to the specific pin.

이 경우, 만일 USB 호스트(100)에 USB 장치(300)가 연결되면, 풀 업 전류는 케이블(200)을 지나 USB 장치(300)의 풀 다운 저항(Rd2)을 통해 GND로 흐를 수 있다.In this case, if the USB device 300 is connected to the USB host 100, the pull-up current may pass through the cable 200 and flow to GND through the pull-down resistor Rd2 of the USB device 300.

도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 풀 다운 동작을 설명하기 위한 블록도이다.4B is a block diagram illustrating a pull-down operation of the semiconductor device according to an exemplary embodiment.

USB 호스트(100)의 풀 업 동작은, 리셉터클 인터페이스(110) 상의 특정 핀을 풀 다운하는 동작을 말한다. 도 4b의 USB 호스트(100) 내의 스위치를 개폐함으로써 풀 다운 저항(Rd1)과 케이블(200)을 접속시키고, 풀 업 저항(Rp1)과 케이블을(200) 비접속시킬 수 있다.The pull-up operation of the USB host 100 refers to an operation of pulling down a specific pin on the receptacle interface 110 . By opening and closing the switch in the USB host 100 of FIG. 4B , the pull-down resistor Rd1 and the cable 200 can be connected, and the pull-up resistor Rp1 and the cable 200 can be disconnected.

도 4c는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 오픈 동작을 설명하기 위한 블록도이다.4C is a block diagram illustrating an open operation of a semiconductor device according to an exemplary embodiment.

USB 호스트(100)의 오픈 동작은, 리셉터클 인터페이스(110) 상의 특정 핀을 오픈하는 동작을 말한다. 도 4c에서는 USB 호스트(100) 내의 스위치가 개방된 것으로 표현하였다. 다르게 말하면, 풀 업 저항(Rp1) 및 풀 다운 저항(Rd1)을 케이블(200)과 비접속시킨 상태로 표현할 수도 있다.The open operation of the USB host 100 refers to an operation of opening a specific pin on the receptacle interface 110 . In FIG. 4C , the switch in the USB host 100 is expressed as open. In other words, the pull-up resistor Rp1 and the pull-down resistor Rd1 may be expressed in a state in which they are not connected to the cable 200.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 일 동작례를 설명하기 위한 도면이다.5 is a diagram for explaining an operation example of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 제1 핀(PIN 1)에는 토글 전압 신호가 인가된다. 구체적으로 제1 핀에는 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글하는 토글 전압 신호가 인가된다. 상기 제1 전압 레벨은 도 5에서 PU에 해당할 수 있고, 상기 제2 전압 레벨은 도 5에서 OP 또는 PD에 해당할 수 있다.Referring to FIG. 5 , a toggle voltage signal is applied to the first pin PIN 1 . Specifically, a toggle voltage signal that toggles between a first voltage level and a second voltage level is applied to the first pin. The first voltage level may correspond to PU in FIG. 5 , and the second voltage level may correspond to OP or PD in FIG. 5 .

본 발명의 몇몇의 실시예에서, 제1 핀은 CC1 신호 핀 및 CC2 신호 핀 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 이 경우 PD IC(130)가 제1 핀에 토글 전압 신호를 인가한다.In some embodiments of the invention, the first pin may include any one of a CC1 signal pin and a CC2 signal pin. In this case, the PD IC 130 applies a toggle voltage signal to the first pin.

본 발명의 다른 몇몇의 실시예에서, 제1 핀은 TX1+ 신호 핀, TX1- 신호 핀, RX1+ 신호 핀, RX1- 신호 핀, TX2+ 신호 핀, TX2- 신호 핀, RX2+ 신호 핀, RX2- 신호 핀, D+ 신호 핀, D- 신호 핀, SBU1 신호 핀, SBU2 신호 핀 및 MID(RID) 핀 중 어느 하나를 포함할 수 있다. 이 경우 USB 칩셋(120)이 제1 핀에 토글 전압 신호를 인가한다.In some other embodiments of the invention, the first pin is TX1+ signal pin, TX1- signal pin, RX1+ signal pin, RX1- signal pin, TX2+ signal pin, TX2- signal pin, RX2+ signal pin, RX2- signal pin, It may include any one of D+ signal pin, D- signal pin, SBU1 signal pin, SBU2 signal pin, and MID (RID) pin. In this case, the USB chipset 120 applies a toggle voltage signal to the first pin.

제1 구간(I)에서 토글 전압 신호는 제1 핀에 대해 풀 업 및 풀 다운을 반복하여 생성될 수 있다. 이 경우 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 동일할 수도 있고, 서로 다를 수도 있다.In the first interval (I), the toggle voltage signal may be generated by repeating pull-up and pull-down of the first pin. In this case, the time lengths of the pull-up section and the pull-down section of the toggle voltage signal may be the same or different.

예를 들어, 제1 구간(I)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 풀 업 및 풀 다운을 반복하여 제1 전압 레벨(PU)과 제2 전압 레벨(PD) 사이에서 토글하도록 생성될 수 있다. 그리고 이 경우, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 동일하도록 생성될 수 있다.For example, the toggle voltage signal applied to the first pin in the first period (I) is generated to toggle between the first voltage level (PU) and the second voltage level (PD) by repeating pull-up and pull-down. can In this case, the pull-up section and the pull-down section of the toggle voltage signal may have the same time length.

여기서 제1 구간(I)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 제1 주파수를 갖도록 설정될 수 있다. 즉, 한 쌍의 풀업된 구간과 풀 다운된 구간, 즉 단위 구간의 길이는 예컨대 t1이 되도록 설정될 수 있다.Here, the toggle voltage signal applied to the first pin in the first interval (I) may be set to have a first frequency. That is, the length of a pair of pulled-up and pulled-down sections, that is, a unit section, may be set to be, for example, t1.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 t1은 예컨대 약 1 ms로 설정될 수 있다. 그리고 제1 구간(I)에서 토글 전압 신호는 예컨대 10 개의 단위 구간을 포함하도록 설정될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments of the invention, t1 may be set to about 1 ms, for example. And, in the first interval (I), the toggle voltage signal may be set to include, for example, 10 unit intervals. However, the scope of the present invention is not limited thereto.

한편, 제2 구간(II)에서 토글 전압 신호는 제1 핀에 대해 풀 업 및 오픈을 반복하여 생성될 수 있다. 이 경우 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 오픈된 구간의 시간 길이는 동일할 수도 있고, 서로 다를 수도 있다.Meanwhile, in the second period II, the toggle voltage signal may be generated by repeatedly pulling up and opening the first pin. In this case, the time lengths of the pull-up section and the open section of the toggle voltage signal may be the same or different.

예를 들어, 제2 구간(II)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 풀 업 및 오픈을 반복하여 제1 전압 레벨(PU)과 제2 전압 레벨(OP) 사이에서 토글하도록 생성될 수 있다. 그리고 이 경우, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 오픈된 구간의 시간 길이는 동일하도록 생성될 수 있다.For example, the toggle voltage signal applied to the first pin in the second period II may be generated to toggle between the first voltage level PU and the second voltage level OP by repeating pull-up and open. there is. In this case, the pull-up section and the open section of the toggle voltage signal may have the same time length.

여기서 제2 구간(II)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 제1 주파수와는 다른 제2 주파수를 갖도록 설정될 수 있다. 즉, 한 쌍의 풀업된 구간과 풀 다운된 구간, 즉 단위 구간의 길이는 예컨대 t2가 되도록 설정될 수 있다. 본 실시예에서, 제2 주파수는 제1 주파수보다 높은 것으로 도시되었으나, 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.Here, the toggle voltage signal applied to the first pin in the second period II may be set to have a second frequency different from the first frequency. That is, the length of a pair of a pulled-up section and a pulled-down section, that is, a unit section, may be set to be, for example, t2. In this embodiment, the second frequency is shown to be higher than the first frequency, but the scope of the present invention is not limited thereto.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 t2는 예컨대 약 0.1 ms로 설정될 수 있다. 그리고 제2 구간(II)에서 토글 전압 신호는 예컨대 10 개의 단위 구간을 포함하도록 설정될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments of the invention t2 may be set to about 0.1 ms, for example. In the second interval II, the toggle voltage signal may be set to include, for example, 10 unit intervals. However, the scope of the present invention is not limited thereto.

이와 같은 토글 전압 신호를 제1 핀에 가한 후, PD IC(130) 또는 USB 칩셋(120)은 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 리셉터클에 수분이 존재하는 지 여부를 검출한다.After applying such a toggle voltage signal to the first pin, the PD IC 130 or the USB chipset 120 determines that moisture is present in the receptacle according to whether the voltage level of the signal output to the first pin falls within a predetermined range. detect whether or not

여기서 미리 정해진 범위는 제1 핀에서 논리 로우(L)로 판단되는 전압 레벨을 초과하고 제1 핀에서 논리 하이(H)로 판단되는 전압 레벨 미만인 전압 레벨의 범위를 포함할 수 있다.Here, the predetermined range may include a voltage level range that exceeds the voltage level determined to be logic low (L) at the first pin and is less than the voltage level determined to be logic high (H) at the first pin.

예를 들어, 제1 핀에서 논리 로우(L)로 판단되는 전압 레벨이 0 V 내지 150 mV이고 논리 하이(H)로 판단되는 전압 레벨이 2.4 V 내지 3.4 V인 경우, PD IC(130) 또는 USB 칩셋(120)은 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 150 mV를 초과하고 2.4 V 미만인 범위에 속하는 지 여부를 판단한다. 속하는 경우에는 수분이 존재하는 것으로 판단하고, 속하지 않는 경우에는 수분이 존재하지 않는 것, 예컨대 USB 장치(300)가 연결된 것으로 판단할 수 있다.For example, when the voltage level determined as logic low (L) at the first pin is 0 V to 150 mV and the voltage level determined as logic high (H) is 2.4 V to 3.4 V, the PD IC 130 or The USB chipset 120 determines whether the voltage level of the signal output through the first pin is within a range of greater than 150 mV and less than 2.4 V. If it belongs, it is determined that water exists, and if it does not belong, it can be determined that water does not exist, for example, that the USB device 300 is connected.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 상기 판단은 다음과 같이 이루어질 수 있다. N 개(단, N은 자연수)의 단위 구간을 포함하는 토글 전압 신호가 제1 핀에 가해진 결과, 제1 핀에서 출력되는 신호가 상기 미리 정해진 범위에 속하는 경우가 M 개 이상(단, M은 N보다 작거나 같은 자연수)이면 수분이 존재하는 것으로 판단하고, M 개 미만이면 수분이 존재하지 않는 것으로 판단할 수 있다. N과 M 값은 구체적인 설계 목적에 따라 다양한 값으로 설정될 수 있다.In some embodiments of the present invention, the determination may be made as follows. As a result of a toggle voltage signal including N (where N is a natural number) unit interval is applied to the first pin, M or more cases where the signal output from the first pin falls within the predetermined range (however, M is If it is a natural number less than or equal to N), it is determined that water exists, and if it is less than M, it can be determined that water does not exist. N and M values may be set to various values according to specific design purposes.

한편, 수분은 염수와 담수를 포함할 수 있다. 담수의 등가 저항 값은 염수보다 크고, 담수의 등가 캐패시터 값은 염수보다 낮다. 이를 보상하기 위해 담수와 염수를 판단하기 위해 서로 다른 조건에서 토글 전압 신호를 제1 핀에 가할 수 있다.Meanwhile, water may include salt water and fresh water. The equivalent resistance value of fresh water is greater than that of salt water, and the equivalent capacitor value of fresh water is lower than that of salt water. To compensate for this, a toggle voltage signal may be applied to the first pin under different conditions to determine fresh water and salt water.

이 경우, 제1 구간(I)에서는 리셉터클에 예컨대 염수가 존재하는 지 여부를 제1 검출할 수 있고, 제2 구간(II)에서는 리셉터클에 예컨대 담수가 존재하는 지 여부를 제2 검출할 수 있다.In this case, in the first interval (I), it is possible to first detect whether salt water is present in the receptacle, and in the second interval (II), whether or not fresh water is present in the receptacle can be second detected. .

만일 제1 구간(I)에서 리셉터클의 염수가 검출되었다고 판단된 경우 PD IC(130)는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다. 또한, 제1 구간(I)에서 리셉터클의 염수가 검출되지는 않았지만 제2 구간(II)에서 리셉터클의 담수가 검출되었다고 판단된 경우 경우 PD IC(130)는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다.If it is determined that salt water in the receptacle is detected in the first interval (I), the PD IC 130 may delay the supply of bus power (V BUS ) and continuously repeat the water detection. In addition, when it is determined that salt water in the receptacle is not detected in the first section (I) but fresh water in the receptacle is detected in the second section (II), the PD IC 130 delays supply of the bus power (V BUS ). and the moisture detection can be repeated continuously.

본 실시예에서는 먼저 염수를 검출한 후 담수를 검출하는 것으로 설명하였으나, 본 발명의 범위는 이와 같은 순서에 한정되지 않고, 그 검출 순서는 무관하다. 또한, 본 실시예에서는 제1 구간(I) 및 제2 구간(II)에서 2 회 검출을 수행하는 것으로 설명하였으나, 본 발명의 범위는 이와 같은 횟수에 한정되지 않고, 다양한 종류의 수분을 검출하기 위해 토글 전압 신호의 설정을 달리 한 3회 이상의 복수 회의 검출이 수행될 수도 있다.In the present embodiment, it has been described that salt water is first detected and then fresh water is detected, but the scope of the present invention is not limited to this order, and the detection order is irrelevant. In addition, in this embodiment, it has been described that detection is performed twice in the first section (I) and the second section (II), but the scope of the present invention is not limited to such a number of times, and to detect various types of moisture For this purpose, detection may be performed three or more times with different settings of the toggle voltage signal.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 다른 동작례를 설명하기 위한 도면이다.6 is a diagram for explaining another operation example of a semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 제1 구간(I)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 풀 업 및 풀 다운을 반복하여 제1 전압 레벨(PU)과 제2 전압 레벨(PD) 사이에서 토글하도록 생성될 수 있다. 그리고 이 경우, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 동일하도록 생성될 수 있다.Referring to FIG. 6 , the toggle voltage signal applied to the first pin in the first period (I) repeats pull-up and pull-down to toggle between the first voltage level (PU) and the second voltage level (PD). can be created In this case, the pull-up section and the pull-down section of the toggle voltage signal may have the same time length.

여기서 제1 구간(I)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 제1 주파수를 갖도록 설정될 수 있다. 즉, 한 쌍의 풀업된 구간과 풀 다운된 구간, 즉 단위 구간의 길이는 예컨대 t1이 되도록 설정될 수 있다.Here, the toggle voltage signal applied to the first pin in the first interval (I) may be set to have a first frequency. That is, the length of a pair of pulled-up and pulled-down sections, that is, a unit section, may be set to be, for example, t1.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 t1은 예컨대 약 1 ms로 설정될 수 있다. 그리고 제1 구간(I)에서 토글 전압 신호는 예컨대 10 개의 단위 구간을 포함하도록 설정될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments of the invention, t1 may be set to about 1 ms, for example. And, in the first interval (I), the toggle voltage signal may be set to include, for example, 10 unit intervals. However, the scope of the present invention is not limited thereto.

한편, 제2 구간(II)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 풀 업 및 오픈을 반복하여 제1 전압 레벨(PU)과 제2 전압 레벨(OP) 사이에서 토글하도록 생성될 수 있다. 그리고 이 경우, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 오픈된 구간의 시간 길이는 서로 다르도록 생성될 수 있다.Meanwhile, in the second period II, the toggle voltage signal applied to the first pin may be generated to toggle between the first voltage level PU and the second voltage level OP by repeating pull-up and open. In this case, the time lengths of the pull-up section and the open section of the toggle voltage signal may be generated to be different from each other.

여기서 제2 구간(II)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 제1 주파수와는 다른 제2 주파수를 갖도록 설정될 수 있다. 즉, 한 쌍의 풀업된 구간과 풀 다운된 구간, 즉 단위 구간의 길이는 예컨대 t3가 되도록 설정될 수 있다. 본 실시예에서, 제2 주파수는 제1 주파수보다 높은 것으로 도시되었으나, 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.Here, the toggle voltage signal applied to the first pin in the second period II may be set to have a second frequency different from the first frequency. That is, the length of a pair of pulled-up and pulled-down sections, that is, a unit section, may be set to be, for example, t3. In this embodiment, the second frequency is shown to be higher than the first frequency, but the scope of the present invention is not limited thereto.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 t3은 예컨대 약 0.11 ms로 설정될 수 있다. 특히, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 오픈된 구간의 시간 길이 t31 및 t32는 각각 약 0.1 ms와 약 0.01ms로 설정될 수 있다. 그리고 제2 구간(II)에서 토글 전압 신호는 예컨대 10 개의 단위 구간을 포함하도록 설정될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments of the invention, t3 may be set to about 0.11 ms, for example. In particular, time lengths t31 and t32 of the pull-up section and the open section of the toggle voltage signal may be set to about 0.1 ms and about 0.01 ms, respectively. In the second interval II, the toggle voltage signal may be set to include, for example, 10 unit intervals. However, the scope of the present invention is not limited thereto.

이와 같은 토글 전압 신호를 제1 핀에 가한 후, PD IC(130) 또는 USB 칩셋(120)은 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 리셉터클에 수분이 존재하는 지 여부를 검출한다.After applying such a toggle voltage signal to the first pin, the PD IC 130 or the USB chipset 120 determines that moisture is present in the receptacle according to whether the voltage level of the signal output to the first pin falls within a predetermined range. detect whether or not

도 5에서 설명한 바와 같이, 제1 구간(I)에서는 리셉터클에 예컨대 염수가 존재하는 지 여부를 제1 검출할 수 있고, 제2 구간(II)에서는 리셉터클에 예컨대 담수가 존재하는 지 여부를 제2 검출할 수 있다.As described in FIG. 5 , in the first interval (I), it is possible to first detect whether or not salt water is present in the receptacle, and in the second interval (II), whether or not fresh water is present in the receptacle is secondly detected. can be detected.

만일 제1 구간(I)에서 리셉터클의 염수가 검출되었다고 판단된 경우 PD IC(130)는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다. 또한, 제1 구간(I)에서 리셉터클의 염수가 검출되지는 않았지만 제2 구간(II)에서 리셉터클의 담수가 검출되었다고 판단된 경우 경우 PD IC(130)는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다.If it is determined that salt water in the receptacle is detected in the first interval (I), the PD IC 130 may delay the supply of bus power (V BUS ) and continuously repeat the water detection. In addition, when it is determined that salt water in the receptacle is not detected in the first section (I) but fresh water in the receptacle is detected in the second section (II), the PD IC 130 delays supply of the bus power (V BUS ). and the moisture detection can be repeated continuously.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 또 다른 동작례를 설명하기 위한 도면이다.7 is a diagram for explaining another operation example of a semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 제1 구간(I)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 풀 업 및 풀 다운을 반복하여 제1 전압 레벨(PU)과 제2 전압 레벨(PD) 사이에서 토글하도록 생성될 수 있다. 그리고 이 경우, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 동일하도록 생성될 수 있다.Referring to FIG. 7 , the toggle voltage signal applied to the first pin in the first period (I) repeats pull-up and pull-down to toggle between the first voltage level (PU) and the second voltage level (PD). can be created In this case, the pull-up section and the pull-down section of the toggle voltage signal may have the same time length.

여기서 제1 구간(I)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 제1 주파수를 갖도록 설정될 수 있다. 즉, 한 쌍의 풀업된 구간과 풀 다운된 구간, 즉 단위 구간의 길이는 예컨대 t4가 되도록 설정될 수 있다.Here, the toggle voltage signal applied to the first pin in the first interval (I) may be set to have a first frequency. That is, the length of a pair of a pulled-up section and a pulled-down section, that is, a unit section, may be set to be, for example, t4.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 t4는 예컨대 약 1 ms로 설정될 수 있다. 그리고 제1 구간(I)에서 토글 전압 신호는 예컨대 10 개의 단위 구간을 포함하도록 설정될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments of the invention, t4 may be set to about 1 ms, for example. And, in the first interval (I), the toggle voltage signal may be set to include, for example, 10 unit intervals. However, the scope of the present invention is not limited thereto.

한편, 제2 구간(II)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 풀 업 및 풀 다운을 반복하여 제1 전압 레벨(PU)과 제2 전압 레벨(PD) 사이에서 토글하도록 생성될 수 있다. 그리고 이 경우, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 동일하도록 생성될 수 있다.Meanwhile, in the second period II, the toggle voltage signal applied to the first pin may be generated to toggle between the first voltage level PU and the second voltage level PD by repeating pull-up and pull-down. . In this case, the pull-up section and the pull-down section of the toggle voltage signal may have the same time length.

여기서 제2 구간(II)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 제1 주파수와는 다른 제2 주파수를 갖도록 설정될 수 있다. 즉, 한 쌍의 풀업된 구간과 풀 다운된 구간, 즉 단위 구간의 길이는 예컨대 t5가 되도록 설정될 수 있다. 본 실시예에서, 제2 주파수는 제1 주파수보다 높은 것으로 도시되었으나, 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.Here, the toggle voltage signal applied to the first pin in the second period II may be set to have a second frequency different from the first frequency. That is, the length of a pair of a pulled-up section and a pulled-down section, that is, a unit section, may be set to, for example, t5. In this embodiment, the second frequency is shown to be higher than the first frequency, but the scope of the present invention is not limited thereto.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 t5은 예컨대 약 0.10 ms로 설정될 수 있다. 그리고 제2 구간(II)에서 토글 전압 신호는 예컨대 10 개의 단위 구간을 포함하도록 설정될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments of the invention, t5 may be set to about 0.10 ms, for example. In the second interval II, the toggle voltage signal may be set to include, for example, 10 unit intervals. However, the scope of the present invention is not limited thereto.

이와 같은 토글 전압 신호를 제1 핀에 가한 후, PD IC(130) 또는 USB 칩셋(120)은 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 리셉터클에 수분이 존재하는 지 여부를 검출한다.After applying such a toggle voltage signal to the first pin, the PD IC 130 or the USB chipset 120 determines that moisture is present in the receptacle according to whether the voltage level of the signal output to the first pin falls within a predetermined range. detect whether or not

도 5에서 설명한 바와 같이, 제1 구간(I)에서는 리셉터클에 예컨대 염수가 존재하는 지 여부를 제1 검출할 수 있고, 제2 구간(II)에서는 리셉터클에 예컨대 담수가 존재하는 지 여부를 제2 검출할 수 있다.As described in FIG. 5 , in the first interval (I), it is possible to first detect whether or not salt water is present in the receptacle, and in the second interval (II), whether or not fresh water is present in the receptacle is secondly detected. can be detected.

만일 제1 구간(I)에서 리셉터클의 염수가 검출되었다고 판단된 경우 PD IC(130)는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다. 또한, 제1 구간(I)에서 리셉터클의 염수가 검출되지는 않았지만 제2 구간(II)에서 리셉터클의 담수가 검출되었다고 판단된 경우 경우 PD IC(130)는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다.If it is determined that salt water in the receptacle is detected in the first interval (I), the PD IC 130 may delay the supply of bus power (V BUS ) and continuously repeat the water detection. In addition, when it is determined that salt water in the receptacle is not detected in the first section (I) but fresh water in the receptacle is detected in the second section (II), the PD IC 130 delays supply of the bus power (V BUS ). and the moisture detection can be repeated continuously.

도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 또 다른 동작례를 설명하기 위한 도면이다.8 is a diagram for explaining another operation example of a semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 8을 참조하면, 제1 구간(I)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 풀 업 및 풀 다운을 반복하여 제1 전압 레벨(PU)과 제2 전압 레벨(PD) 사이에서 토글하도록 생성될 수 있다. 그리고 이 경우, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 동일하도록 생성될 수 있다.Referring to FIG. 8 , the toggle voltage signal applied to the first pin in the first period (I) repeats pull-up and pull-down to toggle between the first voltage level (PU) and the second voltage level (PD). can be created In this case, the pull-up section and the pull-down section of the toggle voltage signal may have the same time length.

여기서 제1 구간(I)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 제1 주파수를 갖도록 설정될 수 있다. 즉, 한 쌍의 풀업된 구간과 풀 다운된 구간, 즉 단위 구간의 길이는 예컨대 t4가 되도록 설정될 수 있다.Here, the toggle voltage signal applied to the first pin in the first interval (I) may be set to have a first frequency. That is, the length of a pair of a pulled-up section and a pulled-down section, that is, a unit section, may be set to be, for example, t4.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 t4는 예컨대 약 1 ms로 설정될 수 있다. 그리고 제1 구간(I)에서 토글 전압 신호는 예컨대 10 개의 단위 구간을 포함하도록 설정될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments of the invention, t4 may be set to about 1 ms, for example. And, in the first interval (I), the toggle voltage signal may be set to include, for example, 10 unit intervals. However, the scope of the present invention is not limited thereto.

한편, 제2 구간(II)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 풀 업 및 풀 다운을 반복하여 제1 전압 레벨(PU)과 제2 전압 레벨(PD) 사이에서 토글하도록 생성될 수 있다. 그리고 이 경우, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 서로 다르도록 생성될 수 있다.Meanwhile, in the second period II, the toggle voltage signal applied to the first pin may be generated to toggle between the first voltage level PU and the second voltage level PD by repeating pull-up and pull-down. . In this case, time lengths of a pull-up section and a pull-down section of the toggle voltage signal may be generated to be different from each other.

여기서 제2 구간(II)에서 제1 핀에 가해지는 토글 전압 신호는 제1 주파수와는 다른 제2 주파수를 갖도록 설정될 수 있다. 즉, 한 쌍의 풀업된 구간과 풀 다운된 구간, 즉 단위 구간의 길이는 예컨대 t6이 되도록 설정될 수 있다. 본 실시예에서, 제2 주파수는 제1 주파수보다 높은 것으로 도시되었으나, 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.Here, the toggle voltage signal applied to the first pin in the second period II may be set to have a second frequency different from the first frequency. That is, the length of a pair of a pulled-up section and a pulled-down section, that is, a unit section, may be set to, for example, t6. In this embodiment, the second frequency is shown to be higher than the first frequency, but the scope of the present invention is not limited thereto.

본 발명의 몇몇의 실시예에서 t6은 예컨대 약 0.11 ms로 설정될 수 있다. 특히, 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이 t61 및 t62는 각각 약 0.1 ms와 약 0.01ms로 설정될 수 있다. 그리고 제2 구간(II)에서 토글 전압 신호는 예컨대 10 개의 단위 구간을 포함하도록 설정될 수 있다. 그러나 본 발명의 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.In some embodiments of the invention, t6 may be set to about 0.11 ms, for example. In particular, time lengths t61 and t62 of the pull-up section and the pull-down section of the toggle voltage signal may be set to about 0.1 ms and about 0.01 ms, respectively. In the second period II, the toggle voltage signal may be set to include, for example, 10 unit periods. However, the scope of the present invention is not limited thereto.

이와 같은 토글 전압 신호를 제1 핀에 가한 후, PD IC(130) 또는 USB 칩셋(120)은 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 리셉터클에 수분이 존재하는 지 여부를 검출한다.After applying such a toggle voltage signal to the first pin, the PD IC 130 or the USB chipset 120 determines that moisture is present in the receptacle according to whether the voltage level of the signal output to the first pin falls within a predetermined range. detect whether or not

도 5에서 설명한 바와 같이, 제1 구간(I)에서는 리셉터클에 예컨대 염수가 존재하는 지 여부를 제1 검출할 수 있고, 제2 구간(II)에서는 리셉터클에 예컨대 담수가 존재하는 지 여부를 제2 검출할 수 있다.As described in FIG. 5 , in the first interval (I), it is possible to first detect whether or not salt water is present in the receptacle, and in the second interval (II), whether or not fresh water is present in the receptacle is secondly detected. can be detected.

만일 제1 구간(I)에서 리셉터클의 염수가 검출되었다고 판단된 경우 PD IC(130)는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다. 또한, 제1 구간(I)에서 리셉터클의 염수가 검출되지는 않았지만 제2 구간(II)에서 리셉터클의 담수가 검출되었다고 판단된 경우 경우 PD IC(130)는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다.If it is determined that salt water in the receptacle is detected in the first interval (I), the PD IC 130 may delay the supply of bus power (V BUS ) and continuously repeat the water detection. In addition, when it is determined that salt water in the receptacle is not detected in the first section (I) but fresh water in the receptacle is detected in the second section (II), the PD IC 130 delays supply of the bus power (V BUS ). and the moisture detection can be repeated continuously.

도 9 및 도 10은 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 동작 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.9 and 10 are flowcharts illustrating an operating method of a semiconductor device according to an exemplary embodiment.

도 9를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 장치의 동작 방법은 PD IC(130)가 파워 온(power on)한 후(S901), 보호 모드로 진행할 지 여부를 결정(S903)한다.Referring to FIG. 9 , in the operating method of the semiconductor device according to an embodiment of the present invention, after the PD IC 130 is powered on (S901), it is determined whether to proceed to the protection mode (S903). .

보호 모드는 USB 타입-C 명세에 따른 DFP(Downstream Facing Port), UFP(Upstream Facing Port), DRP(Dual-Role Port)를 수행하는 노멀 모드(normal mode)와는 달리, 그 전에 리셉터클 인터페이스(110)에 수분이 인가되었는지 판단하는 동작 모드를 말한다.Unlike the normal mode that performs DFP (Downstream Facing Port), UFP (Upstream Facing Port), and DRP (Dual-Role Port) according to the USB Type-C specification, the protection mode is different from the receptacle interface 110 before that. It refers to an operation mode that determines whether moisture has been applied to

보호 모드로 진행하지 않고 노멀 모드로 진행하는 경우에는 USB 타입-C 명세에 따른 DFP, UFP, DRP를 수행하여 USB 장치(300)의 검출(S907)을 수행한다.In the case of proceeding to the normal mode instead of the protection mode, the USB device 300 is detected (S907) by performing DFP, UFP, and DRP according to the USB Type-C specification.

보호 모드로 진행하는 경우에는 USB 호스트(100)의 리셉터클 인터페이스(110)에 수분이 인가되었는지 여부를 검출(S905)한다. 만일 리셉터클 인터페이스(110)에 수분이 인가된 경우에는 단계(S905)를 반복하며, 리셉터클 인터페이스(110)에 수분이 검출되지 않은 경우에 단계(S907)로 진행한다.When proceeding to the protection mode, it is detected whether moisture is applied to the receptacle interface 110 of the USB host 100 (S905). If moisture is applied to the receptacle interface 110, step S905 is repeated, and if moisture is not detected in the receptacle interface 110, step S907 is performed.

단계(907)에서는 노멀 모드에서 제1 전류를 이용하여 USB 타입-C 명세에 따른 DFP, UFP, DRP를 수행하여 USB 장치(300)가 연결되었는지 여부를 판단하고, 단계(909)에서는 USB 케이블 버스 파워(VBUS) 신호를 공급하기 시작한다.In step 907, it is determined whether the USB device 300 is connected by performing DFP, UFP, and DRP according to the USB Type-C specification using the first current in normal mode, and in step 909, it is determined whether the USB device 300 is connected to the USB cable bus. Start supplying the power (V BUS ) signal.

도 10을 참조하면, 도 9의 단계(S905)는 단계(S9051 내지 S9057)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 10 , step S905 of FIG. 9 may include steps S9051 to S9057.

먼저 단계(S9051)에서 USB 타입-C 리셉터클 인터페이스에 따른 복수의 핀들 중 제1 핀에 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글하는 제1 토글 전압 신호를 인가한다. 그리고 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 미리 정해진 시간 동안 모니터링한다. First, in step S9051, a first toggle voltage signal that toggles between a first voltage level and a second voltage level is applied to a first pin among a plurality of pins according to the USB type-C receptacle interface. In addition, the voltage level of the signal output to the first pin is monitored for a predetermined time.

예를 들어, 본 단계의 제1 토글 전압 신호는 도 5 내지 도 8의 제1 구간(I)에 해당되는 염수를 판단하기 위한 토글 전압 신호일 수 있다.For example, the first toggle voltage signal of this step may be a toggle voltage signal for determining salt water corresponding to the first section I of FIGS. 5 to 8 .

단계(S9053)에서는 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 리셉터클에 수분을 검출한다. 즉, 제1 핀에서 논리 로우(L)로 판단되는 전압 레벨을 초과하고 제1 핀에서 논리 하이(H)로 판단되는 전압 레벨 미만인 전압 레벨의 범위에 속하는 지 여부를 이용하여 수분의 존재 여부를 결정한다.In step S9053, moisture is detected in the receptacle according to whether the voltage level of the signal output to the first pin falls within a predetermined range. That is, the presence or absence of moisture is determined by using whether it falls within a range of a voltage level that exceeds the voltage level determined as logic low (L) at the first pin and is less than the voltage level determined as logic high (H) at the first pin. Decide.

수분이 검출된 경우(S9053, Y)에는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다.When moisture is detected (S9053, Y), supply of bus power (V BUS ) may be delayed, and moisture detection may be continuously repeated.

수분이 검출되지 않은 경우(S9053, N), USB 타입-C 리셉터클 인터페이스에 따른 복수의 핀들 중 제1 핀에 제3 전압 레벨과 제4 전압 레벨 사이에서 토글하는 제2 토글 전압 신호를 인가한다. 그리고 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 미리 정해진 시간 동안 모니터링한다.When moisture is not detected (S9053, N), a second toggle voltage signal that toggles between a third voltage level and a fourth voltage level is applied to a first pin among a plurality of pins according to the USB type-C receptacle interface. In addition, the voltage level of the signal output to the first pin is monitored for a predetermined time.

예를 들어, 본 단계의 제2 토글 전압 신호는 도 5 내지 도 8의 제2 구간(II)에 해당되는 염수를 판단하기 위한 토글 전압 신호일 수 있다.For example, the second toggle voltage signal of this step may be a toggle voltage signal for determining salt water corresponding to the second section II of FIGS. 5 to 8 .

단계(S9057)에서는 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 리셉터클에 수분을 검출한다. 즉, 제1 핀에서 논리 로우(L)로 판단되는 전압 레벨을 초과하고 제1 핀에서 논리 하이(H)로 판단되는 전압 레벨 미만인 전압 레벨의 범위에 속하는 지 여부를 이용하여 수분의 존재 여부를 결정한다.In step S9057, moisture is detected in the receptacle according to whether the voltage level of the signal output to the first pin falls within a predetermined range. That is, the presence or absence of moisture is determined by using whether it falls within a range of a voltage level that exceeds the voltage level determined as logic low (L) at the first pin and is less than the voltage level determined as logic high (H) at the first pin. Decide.

수분이 검출된 경우(S9057, Y)에는 버스 파워(VBUS)의 공급을 연기시키고, 계속 수분 검출을 반복할 수 있다.When moisture is detected (S9057, Y), the supply of bus power (V BUS ) may be delayed, and moisture detection may be continuously repeated.

수분이 검출되지 않은 경우(S9053, N), 도 9의 단계(S907)로 진행한다.If moisture is not detected (S9053, N), the process proceeds to step S907 of FIG. 9 .

본 발명의 다양한 실시예에 따르면, USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)에 대해, 이물질, 특히 수분이 인가되어 리셉터클에 구비된 핀들의 부식되는 것을 효과적으로 방지할 수 있다. 그리고 담수와 염수를 비롯한 다양한 형태의 수분을 효과적으로 분별해 낼 수 있다.According to various embodiments of the present invention, it is possible to effectively prevent corrosion of pins provided in the receptacle due to the application of foreign substances, particularly moisture, to the USB Type-C receptacle interface. And it can effectively separate water in various forms, including fresh water and salt water.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였으나, 본 발명은 상기 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 제조될 수 있으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Although the embodiments of the present invention have been described with reference to the accompanying drawings, the present invention is not limited to the above embodiments and can be manufactured in a variety of different forms, and those skilled in the art in the art to which the present invention belongs A person will understand that the present invention may be embodied in other specific forms without changing the technical spirit or essential features. Therefore, the embodiments described above should be understood as illustrative in all respects and not limiting.

100: USB 호스트 110: 리셉터클 인터페이스
200: USB 케이블 300: USB 장치
100: USB host 110: receptacle interface
200: USB cable 300: USB device

Claims (20)

USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)에 따른 복수의 핀들을 포함하는 리셉터클; 및
상기 복수의 핀들 중 제1 핀에 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글(toggle)하는 토글 전압 신호를 인가하고, 상기 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 검출하는 PD IC(Power Delivery Integrated Circuit)를 포함하는 반도체 장치.
A receptacle including a plurality of pins according to a USB Type-C Receptacle Interface; and
Power IC (PD IC) for applying a toggle voltage signal that toggles between a first voltage level and a second voltage level to a first pin of the plurality of pins and detecting the voltage level of the signal output to the first pin. A semiconductor device including a Delivery Integrated Circuit.
제1항에 있어서,
상기 PD IC는 상기 제1 핀에 대해 풀 업(pull-up) 및 풀 다운(pull-down)을 반복하여 상기 토글 전압 신호를 생성하는 반도체 장치.
According to claim 1,
The semiconductor device of claim 1 , wherein the PD IC generates the toggle voltage signal by repeating pull-up and pull-down of the first pin.
제2항에 있어서,
상기 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 서로 다른 반도체 장치.
According to claim 2,
Time lengths of a pull-up section and a pull-down section of the toggle voltage signal are different from each other.
제1항에 있어서,
상기 PD IC는 상기 제1 핀에 대해 풀 업(pull-up) 및 오픈(open)을 반복하여 상기 토글 전압 신호를 생성하는 반도체 장치..
According to claim 1,
The PD IC generates the toggle voltage signal by repeatedly pulling up and opening the first pin.
제4항에 있어서,
상기 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 오픈된 구간의 시간 길이는 서로 다른 반도체 장치.
According to claim 4,
The semiconductor device of claim 1 , wherein time lengths of a pulled-up section and an open section of the toggle voltage signal are different from each other.
제1항에 있어서,
상기 PD IC는 상기 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 상기 리셉터클에 수분을 검출하는 반도체 장치.
According to claim 1,
The PD IC detects moisture in the receptacle according to whether a voltage level of a signal output through the first pin is within a predetermined range.
제1항에 있어서,
상기 토글 전압 신호는 제1 주파수로 토글하는 제1 토글 전압 신호와, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수로 토글하는 제2 토글 전압 신호를 포함하고,
상기 PD IC는 상기 제1 핀에 상기 제1 토글 전압 신호를 인가하여 상기 리셉터클에 수분을 제1 검출하고, 상기 제1 핀에 상기 제2 토글 전압 신호를 인가하여 상기 리셉터클에 수분을 제2 검출하는 반도체 장치.
According to claim 1,
The toggle voltage signal includes a first toggle voltage signal that toggles to a first frequency and a second toggle voltage signal that toggles to a second frequency different from the first frequency;
The PD IC first detects moisture in the receptacle by applying the first toggle voltage signal to the first pin, and second detects moisture in the receptacle by applying the second toggle voltage signal to the first pin. semiconductor device.
USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)에 따른 복수의 핀들을 포함하는 리셉터클;
상기 복수의 핀들 중 제1 핀에 전압 신호를 인가하고, 상기 제1 핀으로 출력되는 신호를 검출하는 PD IC(Power Delivery Integrated Circuit); 및
상기 복수의 핀들 중 제2 핀에 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글(toggle)하는 토글 전압 신호를 인가하고, 상기 제2 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 검출하는 USB 칩셋(USB chipset)을 포함하는 반도체 장치.
A receptacle including a plurality of pins according to a USB Type-C Receptacle Interface;
a PD IC (Power Delivery Integrated Circuit) for applying a voltage signal to a first pin of the plurality of pins and detecting a signal output to the first pin; and
A USB chipset for applying a toggle voltage signal that toggles between a first voltage level and a second voltage level to a second pin among the plurality of pins and detecting the voltage level of the signal output to the second pin. A semiconductor device including a chipset).
제8항에 있어서,
상기 USB 칩셋은 상기 제2 핀에 대해 풀 업(pull-up) 및 풀 다운(pull-down)을 반복하여 상기 토글 전압 신호를 생성하는 반도체 장치.
According to claim 8,
The semiconductor device of claim 1 , wherein the USB chipset generates the toggle voltage signal by repeating pull-up and pull-down of the second pin.
제9항에 있어서,
상기 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 서로 다른 반도체 장치.
According to claim 9,
Time lengths of a pull-up section and a pull-down section of the toggle voltage signal are different from each other.
제8항에 있어서,
상기 USB 칩셋은 상기 제2 핀에 대해 풀 업(pull-up) 및 오픈(open)을 반복하여 상기 토글 전압 신호를 생성하는 반도체 장치.
According to claim 8,
The USB chipset generates the toggle voltage signal by repeatedly pulling up and opening the second pin.
제11항에 있어서,
상기 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 오픈된 구간의 시간 길이는 서로 다른 반도체 장치.
According to claim 11,
The semiconductor device of claim 1 , wherein time lengths of a pulled-up section and an open section of the toggle voltage signal are different from each other.
제8항에 있어서,
상기 USB 칩셋은 상기 제2 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 상기 리셉터클에 수분을 검출하는 반도체 장치.
According to claim 8,
The USB chipset detects moisture in the receptacle according to whether a voltage level of a signal output through the second pin is within a predetermined range.
제8항에 있어서,
상기 토글 전압 신호는 제1 주파수로 토글하는 제1 토글 전압 신호와, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수로 토글하는 제2 토글 전압 신호를 포함하고,
상기 USB 칩셋은 상기 제2 핀에 상기 제1 토글 전압 신호를 인가하여 상기 리셉터클에 수분을 제1 검출하고, 상기 제2 핀에 상기 제2 토글 전압 신호를 인가하여 상기 리셉터클에 수분을 제2 검출하는 반도체 장치.
According to claim 8,
The toggle voltage signal includes a first toggle voltage signal that toggles to a first frequency and a second toggle voltage signal that toggles to a second frequency different from the first frequency;
The USB chipset first detects moisture in the receptacle by applying the first toggle voltage signal to the second pin, and second detects moisture in the receptacle by applying the second toggle voltage signal to the second pin. semiconductor device.
USB 타입-C 리셉터클 인터페이스(USB Type-C Receptacle Interface)에 따른 복수의 핀들 중 제1 핀에 제1 전압 레벨과 제2 전압 레벨 사이에서 토글(toggle)하는 토글 전압 신호를 인가하고,
상기 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨을 미리 정해진 시간 동안 모니터링하고,
상기 제1 핀으로 출력되는 신호의 전압 레벨이 미리 정해진 범위 내에 속하는 지 여부에 따라 상기 리셉터클에 수분을 검출하는 것을 포함하는 반도체 장치의 동작 방법.
Applying a toggle voltage signal that toggles between a first voltage level and a second voltage level to a first pin among a plurality of pins according to a USB Type-C Receptacle Interface;
monitoring the voltage level of the signal output to the first pin for a predetermined time;
and detecting moisture in the receptacle according to whether a voltage level of a signal output through the first pin is within a predetermined range.
제15항에 있어서,
상기 토글 전압 신호는 상기 제1 핀에 대해 풀 업(pull-up) 및 풀 다운(pull-down)을 반복하여 생성된 반도체 장치의 동작 방법.
According to claim 15,
The toggle voltage signal is generated by repeating pull-up and pull-down of the first pin.
제16항에 있어서,
상기 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 풀 다운된 구간의 시간 길이는 서로 다른 반도체 장치의 동작 방법.
According to claim 16,
A method of operating a semiconductor device according to claim 1 , wherein a pull-up section and a pull-down section of the toggle voltage signal have different time lengths.
제15항에 있어서,
상기 토글 전압 신호는 상기 제1 핀에 대해 풀 업(pull-up) 및 오픈(open)을 반복하여 생성된 반도체 장치의 동작 방법.
According to claim 15,
The toggle voltage signal is generated by repeatedly pulling-up and opening the first pin.
제18항에 있어서,
상기 토글 전압 신호 중 풀 업된 구간과 오픈된 구간의 시간 길이는 서로 다른 반도체 장치의 동작 방법.
According to claim 18,
A method of operating a semiconductor device according to claim 1 , wherein a pulled-up period and an open period of the toggle voltage signal have different time lengths.
제15항에 있어서,
상기 토글 전압 신호는 제1 주파수로 토글하는 제1 토글 전압 신호와, 상기 제1 주파수와 다른 제2 주파수로 토글하는 제2 토글 전압 신호를 포함하고,
상기 리셉터클에 수분을 검출하는 것은,
상기 제1 핀에 상기 제1 토글 전압 신호를 인가하여 상기 리셉터클에 수분을 제1 검출하고, 상기 제1 핀에 상기 제2 토글 전압 신호를 인가하여 상기 리셉터클에 수분을 제2 검출하는 것을 포함하는 반도체 장치의 동작 방법.
According to claim 15,
The toggle voltage signal includes a first toggle voltage signal that toggles to a first frequency and a second toggle voltage signal that toggles to a second frequency different from the first frequency;
Detecting moisture in the receptacle,
Applying the first toggle voltage signal to the first pin to first detect moisture in the receptacle, and applying the second toggle voltage signal to the first pin to second detect moisture in the receptacle. A method of operating a semiconductor device.
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