KR102342718B1 - Red light emitting device and lighting system - Google Patents

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Abstract

실시예는 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명장치에 관한 것이다.
실시예는 오믹층(141)을 포함하는 제2 전극층(140); 상기 제2 전극층(140) 상에 배치되며, 상기 오믹층(141)과 전기적으로 연결되는 발광구조물(110); 상기 발광구조물(110) 상에 배치되는 패드전극(174); 및 상기 오믹층(141)과 상기 발광구조물(110)사이에 배치되는 제1 반사층(150);을 포함할 수 있다.
The embodiment relates to a light emitting device, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting device.
The embodiment includes a second electrode layer 140 including an ohmic layer 141; a light emitting structure 110 disposed on the second electrode layer 140 and electrically connected to the ohmic layer 141; a pad electrode 174 disposed on the light emitting structure 110; and a first reflective layer 150 disposed between the ohmic layer 141 and the light emitting structure 110 .

Description

적색 발광소자 및 조명장치{RED LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHTING SYSTEM}Red light emitting device and lighting device {RED LIGHT EMITTING DEVICE AND LIGHTING SYSTEM}

실시예는 적색 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명시스템에 관한 것이다.The embodiment relates to a red light emitting device, a method for manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting system.

발광소자(Light Emitting diode: LED)는 전기에너지가 빛 에너지로 변환되는 특성의 p-n 접합 다이오드로서, 주기율표상에서 반도체화합물의 도펀트가 화합하여 생성될 수 있고, 반도체화합물의 조성비를 조절함으로써 청색(Blue) 발광소자, 녹색(Green) 발광소자, 자외선(UV) 발광소자, 또는 적색(RED) 발광소자 등 다양한 색상 구현이 가능하다.A light emitting diode (LED) is a pn junction diode that converts electrical energy into light energy. It can be created by combining dopants of a semiconductor compound on the periodic table, and by controlling the composition ratio of the semiconductor compound, blue (Blue) Various colors such as a light emitting device, a green light emitting device, an ultraviolet (UV) light emitting device, or a red (RED) light emitting device can be implemented.

예를 들어, 적색 발광소자로서 AlGaInP계 발광다이오드가 있으며, 이는 주입되는 전기에너지를 약 570nm 내지 약 630nm 범위 내의 파장을 가진 광으로 변환시킬 수 있다. 파장변화는 발광다이오드가 가지는 밴드 갭에너지 크기에 의해 좌우되는데, 밴드갭 크기는 Al과 Ga의 조성비를 변화시킴으로써 조절될 수 있고, Al의 조성비를 증가시킬수록 파장이 짧아질 수 있다.For example, there is an AlGaInP-based light emitting diode as a red light emitting device, which can convert injected electric energy into light having a wavelength within a range of about 570 nm to about 630 nm. The change in wavelength depends on the size of the band gap energy of the light emitting diode, and the size of the band gap can be adjusted by changing the composition ratio of Al and Ga, and the wavelength can be shortened as the composition ratio of Al is increased.

한편, 최근 AlGaInP계 적색 LED는 High CRI(Color Rendering Index) 조명광원 또는 차량용 광원으로 적용영역이 확대되고 있으며, 이에 따른 시장경쟁이 심화되고 있어, 높은 광 출력 확보 또는 전기적 신뢰성 확보가 중요한 이슈로 대두되고 있다.On the other hand, recently, AlGaInP-based red LEDs are being applied to high CRI (Color Rendering Index) lighting sources or vehicle light sources, and market competition is intensifying accordingly. is becoming

종래기술의 적색 LED에는 본딩 타입(Bonding Type)의 AlGaInP LED와 성장타입(As Grown type) LED가 있는데, 본딩 타입의 AlGaInP LED의 구조는 금속 반사층(Metal Reflector)과 에피층(Epi layer) 계면에 오믹 컨택(Ohmic contact)을 위해 메탈 도트(Metal Dot)을 형성한다.The prior art red LED includes a bonding type AlGaInP LED and an As Grown type LED. The structure of the bonding type AlGaInP LED is at the interface between the metal reflector and the epi layer. A metal dot is formed for an ohmic contact.

이러한 메탈도트는 동작전압(VF3)에 밀접한 관계가 있는데, 안정적인 동작전압을 확보하기 위해서는 메탈도트의 수 또는 면적을 증가 시켜야 한다.These metal dots are closely related to the operating voltage VF3, and in order to secure a stable operating voltage, the number or area of the metal dots must be increased.

그런데 이러한 메탈도트는 광흡수 성질이 있어서 메탈도트의 수 또는 면적이 증가함에 따라 광흡수에 의해 광추출 효율(Light Extraction Efficiency) 저하되는 문제가 있다.However, since these metal dots have light absorption properties, there is a problem in that light extraction efficiency decreases due to light absorption as the number or area of the metal dots increases.

실시예는 광추출 효율이 우수한 적색 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명장치를 제공하고자 한다.Embodiments are to provide a red light emitting device having excellent light extraction efficiency, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting device.

또한 실시예는 광추출 효율이 우수하면서 전기적 특성도 향상된 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명장치를 제공하고자 한다.In addition, the embodiment is to provide a light emitting device having excellent light extraction efficiency and improved electrical properties, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting device.

실시예에 따른 적색 발광소자는 오믹층(141)을 포함하는 제2 전극층(140); 상기 제2 전극층(140) 상에 배치되며, 상기 오믹층(141)과 전기적으로 연결되는 발광구조물(110); 상기 발광구조물(110) 상에 배치되는 패드전극(174); 및 상기 오믹층(141)과 상기 발광구조물(110)사이에 배치되는 제1 반사층(150);을 포함할 수 있다. 상기 제1 반사층(150)은 반도체 반사층을 포함할 수 있다.A red light emitting device according to an embodiment includes a second electrode layer 140 including an ohmic layer 141; a light emitting structure 110 disposed on the second electrode layer 140 and electrically connected to the ohmic layer 141; a pad electrode 174 disposed on the light emitting structure 110; and a first reflective layer 150 disposed between the ohmic layer 141 and the light emitting structure 110 . The first reflective layer 150 may include a semiconductor reflective layer.

실시예에 따른 조명장치는 상기 적색 발광소자를 구비하는 발광유닛을 포함할 수 있다.The lighting device according to the embodiment may include a light emitting unit including the red light emitting device.

실시예는 광추출 효율이 우수한 적색 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명장치를 제공할 수 있다.The embodiment may provide a red light emitting device having excellent light extraction efficiency, a method of manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting device.

또한 실시예는 광추출 효율이 우수하면서 전기적 특성도 향상된 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 조명장치를 제공할 수 있다.In addition, the embodiment can provide a light emitting device having excellent light extraction efficiency and improved electrical properties, a method for manufacturing a light emitting device, a light emitting device package, and a lighting device.

도 1은 제1 실시예에 따른 적색 발광소자의 단면도.
도 2는 실시예에 따른 적색 발광소자의 부분 확대도.
도 3은 제2 실시예에 따른 적색 발광소자의 단면도.
도 4는 제3 실시예에 따른 적색 발광소자의 단면도.
도 5는 제4 실시예에 따른 적색 발광소자의 단면도.
도 6 내지 도 11은 실시예에 따른 적색 발광소자의 제조공정 단면도.
도 12는 실시예에 따른 발광소자 패키지의 단면도.
도 13은 실시예에 따른 조명 장치의 사시도.
1 is a cross-sectional view of a red light emitting device according to a first embodiment;
2 is a partially enlarged view of a red light emitting device according to an embodiment;
3 is a cross-sectional view of a red light emitting device according to a second embodiment.
4 is a cross-sectional view of a red light emitting device according to a third embodiment.
5 is a cross-sectional view of a red light emitting device according to a fourth embodiment.
6 to 11 are cross-sectional views of a manufacturing process of a red light emitting device according to an embodiment.
12 is a cross-sectional view of a light emitting device package according to the embodiment;
13 is a perspective view of a lighting device according to an embodiment;

실시예의 설명에 있어서, 각 층(막), 영역, 패턴 또는 구조물들이 기판, 각 층(막), 영역, 패드 또는 패턴들의 "상/위(on/over)"에 또는 "아래(under)"에 형성되는 것으로 기재되는 경우에 있어, "상/위(on/over)"와 "아래(under)"는 "직접(directly)" 또는 "다른 층을 개재하여 (indirectly)" 형성되는 것을 모두 포함한다. 또한 각 층의 상/위 또는 아래에 대한 기준은 도면을 기준으로 설명한다.In the description of an embodiment, each layer (film), region, pattern or structure is “on/over” or “under” the substrate, each layer (film), region, pad or pattern. In the case of being described as being formed on, “on/over” and “under” include both “directly” or “indirectly” formed through another layer. do. In addition, the reference for the upper / upper or lower of each layer will be described with reference to the drawings.

(실시예)(Example)

도 1은 제1 실시예에 따른 적색 발광소자의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a red light emitting device according to a first embodiment.

실시예에 따른 적색 발광소자는 제2 전극층(140), 발광구조물(110), 패드전극(174), 제1 반사층(150)을 포함할 수 있다. 상기 제1 반사층(150)은 반도체 반사층을 포함할 수 있다.The red light emitting device according to the embodiment may include a second electrode layer 140 , a light emitting structure 110 , a pad electrode 174 , and a first reflective layer 150 . The first reflective layer 150 may include a semiconductor reflective layer.

예를 들어, 실시예에 따른 발광소자는 오믹층(141)을 포함하는 제2 전극층(140)과, 상기 제2 전극층(140) 상에 배치되며, 상기 오믹층(141)과 전기적으로 연결되는 발광구조물(110)과, 상기 발광구조물(110) 상에 배치되는 패드전극(174) 및 상기 오믹층(141)과 상기 발광구조물(110)사이에 배치되는 제1 반사층(150)을 포함할 수 있다.For example, the light emitting device according to the embodiment includes a second electrode layer 140 including an ohmic layer 141 , disposed on the second electrode layer 140 , and electrically connected to the ohmic layer 141 . It may include a light emitting structure 110 , a pad electrode 174 disposed on the light emitting structure 110 , and a first reflective layer 150 disposed between the ohmic layer 141 and the light emitting structure 110 . have.

실시예에서 상기 제2 전극층(140)은 오믹층(141), 제2 반사층(142), 본딩층(144), 지지기판(146) 및 하부전극(148)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 반사층(142)은 금속 반사층을 포함할 수 있다.In an embodiment, the second electrode layer 140 may include an ohmic layer 141 , a second reflective layer 142 , a bonding layer 144 , a support substrate 146 , and a lower electrode 148 . For example, the second reflective layer 142 may include a metal reflective layer.

상기 오믹층(141)은 반도체와 전기적인 접촉인 우수한 물질로 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 오믹층(141)은 Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IZON(IZO Nitride), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있으며, 이러한 재료에 한정되는 않는다. The ohmic layer 141 may be formed of a single layer or multiple layers of an excellent material that is in electrical contact with a semiconductor. For example, the ohmic layer 141 may include Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, indium tin oxide (ITO), or indium zinc (IZO). oxide), IZTO (indium zinc tin oxide), IAZO (indium aluminum zinc oxide), IGZO (indium gallium zinc oxide), IGTO (indium gallium tin oxide), AZO (aluminum zinc oxide), ATO (antimony tin oxide), GZO (gallium zinc oxide), IZON (IZO Nitride), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, and Ni/IrOx It may be formed including at least one of /Au/ITO, but is not limited to these materials.

상기 제2 반사층(142)은 전기적인 접촉이 우수하며 반사성이 높은 물질로 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 반사층(142)은 Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Ag, Ni, Al, Rh, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금으로 형성될 수 있다.The second reflective layer 142 may be formed of a single layer or a plurality of layers made of a material having excellent electrical contact and high reflectivity. For example, the second reflective layer 142 may be formed of a metal or alloy including at least one of Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Ag, Ni, Al, Rh, Au, and Hf.

상기 본딩층(144)은 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있으며, 니켈(Ni), 티탄(Ti), 금(Au) 또는 이들의 합금일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The bonding layer 144 may be formed of a single layer or a plurality of layers, and may be nickel (Ni), titanium (Ti), gold (Au), or an alloy thereof, but is not limited thereto.

상기 지지부재(146)는 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있으며, 캐리어 웨이퍼(예: GaN, Si, Ge, GaAs, ZnO, SiGe, SiC 등), 구리(Cu), 금(Au), 구리합금(Cu Alloy), 니켈(Ni-nickel), 구리-텅스텐(Cu-W), 등을 선택적으로 포함할 수 있다.The support member 146 may be formed of a single layer or a plurality of layers, and may include carrier wafers (eg, GaN, Si, Ge, GaAs, ZnO, SiGe, SiC, etc.), copper (Cu), gold (Au), copper An alloy (Cu Alloy), nickel (Ni-nickel), copper-tungsten (Cu-W), and the like may be selectively included.

상기 하부전극(148)은 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있으며, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 중에서 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다.The lower electrode 148 may be formed of a single layer or a plurality of layers, and may be formed of at least one of Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, and Cu-W.

실시예에서 상기 발광구조물(110)은 제1 도전형 제1 반도체층(112), 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112) 아래에 배치되는 AlGaInP 계열 활성층(114) 및 상기 활성층(114) 아래에 배치되는 제2 도전형 제2 반도체층(116)을 포함하는 적색 발광구조물일 수 있다.In the embodiment, the light emitting structure 110 includes a first conductivity type first semiconductor layer 112 , an AlGaInP-based active layer 114 disposed under the first conductivity type first semiconductor layer 112 , and the active layer 114 . It may be a red light emitting structure including the second conductivity-type second semiconductor layer 116 disposed below.

실시예는 상기 제2 도전형 제2 반도체층(116) 아래에 배치되는 제2 도전형 제3 반도체층(123), 제2 도전형 제4 반도체층(124), 및 제2 도전형 제5 반도체층(125)을 포함할 수 있다.In the embodiment, the second conductivity type third semiconductor layer 123 , the second conductivity type fourth semiconductor layer 124 , and the second conductivity type fifth are disposed under the second conductivity type second semiconductor layer 116 . A semiconductor layer 125 may be included.

상기 제2 도전형 제3 반도체층(123)과 상기 제2 도전형 제4 반도체층(124)은 AlGaInP 계열 반도체층을 포함할 수 있고, 상기 제5 반도체층(125)은 제2 농도의 p형 GaP 계열층을 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The second conductivity type third semiconductor layer 123 and the second conductivity type fourth semiconductor layer 124 may include an AlGaInP-based semiconductor layer, and the fifth semiconductor layer 125 has a second concentration of p. It may include a type GaP-based layer, but is not limited thereto.

실시예에서 상기 오믹층(141)은 상기 제1 반도체층(150)의 저면과 접하며, 상기 오믹층(141) 사이에 제3 반사층(132)이 배치될 수 있다. In an embodiment, the ohmic layer 141 may be in contact with a bottom surface of the first semiconductor layer 150 , and a third reflective layer 132 may be disposed between the ohmic layer 141 .

실시예에서 상기 제3 반사층(132)은 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있으며, 금속계열 반사층(미도시)과 상기 금속계열 반사층 상에 배치되는 절연성 저굴절률층(미도시)를 포함한 구조일 수 있다. 상기 제3 반도체층(132)은 ODR(omni-directional reflectror) 기능을 할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In an embodiment, the third reflective layer 132 may be formed of a single layer or a plurality of layers, and has a structure including a metal-based reflective layer (not shown) and an insulating low refractive index layer (not shown) disposed on the metal-based reflective layer. can The third semiconductor layer 132 may function as an omni-directional reflector (ODR), but is not limited thereto.

상기 금속계열 반사층은 예를 들어 Ag 또는 Al을 포함할 수 있으며, 상기 절연성 저굴절률층(미도시)은 SiO2, Si3N4, MgO과 같은 투명물질일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The metal-based reflective layer may include, for example, Ag or Al, and the insulating low refractive index layer (not shown) may be a transparent material such as SiO 2 , Si 3 N 4 , or MgO, but is not limited thereto.

실시예에 따른 발광소자는 상기 오믹층(141)과 상기 발광구조물(110)사이에 배치되는 제1 반사층(150)을 포함할 수 있다. 상기 제1 반사층(150)은 반도체 반사층을 포함할 수 있다.The light emitting device according to the embodiment may include a first reflective layer 150 disposed between the ohmic layer 141 and the light emitting structure 110 . The first reflective layer 150 may include a semiconductor reflective layer.

도 2는 실시예에 따른 적색 발광소자의 제1 반사층(150)의 확대이다.2 is an enlarged view of the first reflective layer 150 of the red light emitting device according to the embodiment.

실시예에서 상기 제1 반사층(150)은 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 반사층(150)은 제1 굴절율을 갖는 제 1굴절층(150a)과 제1 굴절율보다 큰 제2 굴절율을 갖는 제2 굴절층(150b)을 교대로 1쌍이상으로 적층한 초격자층을 포함할 수 있다. 또한 상기 제1 반사층(150)은 DBR(Distributed Bragg Reflector)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In an embodiment, the first reflective layer 150 may be formed of a single layer or a plurality of layers. For example, the first reflective layer 150 is formed by alternately stacking one or more pairs of a first refractive layer 150a having a first refractive index and a second refractive layer 150b having a second refractive index greater than the first refractive index. It may include one superlattice layer. Also, the first reflective layer 150 may be a distributed Bragg reflector (DBR), but is not limited thereto.

다시 도1을 참조하면, 실시예에서 상기 제1 반사층(150)은 단면을 기준으로 상호 이격된 복수의 영역을 포함할 수 있으며, 상기 제1 반사층(150)의 복수의 영역 사이에 상기 제3 반사층(132)이 배치될 수 있다.Referring back to FIG. 1 , in the embodiment, the first reflective layer 150 may include a plurality of regions spaced apart from each other with respect to a cross-section, and the third region between the plurality of regions of the first reflective layer 150 . A reflective layer 132 may be disposed.

종래기술에 의하면 ODR(omni directional reflector)형성 시 오믹컨택을 위해 형성된 메탈 도트(Metal Dot)들에 의하여 발광된 빛의 흡수가 발생하는 문제가 있다. 즉, 종래기술에 의하면 오믹컨택에 기여하는 오믹층이 발광된 빛의 흡수 부작용이 있어서 광추출 효율을 저하시키는 문제가 있다.According to the prior art, there is a problem in that light emitted by metal dots formed for ohmic contact is absorbed when an omni directional reflector (ODR) is formed. That is, according to the prior art, there is a problem in that the ohmic layer contributing to the ohmic contact has a side effect of absorbing the emitted light, thereby reducing the light extraction efficiency.

실시예에 의하면, 오믹층(141) 상에 반도체 반사층을 포함하는 제1 반사층(150)을 배치함으로써 오믹층으로 반사되는 빛을 반사시킴으로써 흡수될 광을 반사시켜 광추출 효율이 우수한 적색 발광소자를 제공할 수 있다.According to the embodiment, by disposing the first reflective layer 150 including the semiconductor reflective layer on the ohmic layer 141 to reflect the light to be absorbed by reflecting the light reflected by the ohmic layer, a red light emitting device having excellent light extraction efficiency can provide

이에 따라 실시예는 광추출 효율이 우수하면서 전기적 특성도 향상된 적색 발광소자를 제공할 수 있다.Accordingly, the embodiment can provide a red light emitting device having excellent light extraction efficiency and improved electrical characteristics.

다시 도 1을 기준으로 설명하면, 실시예는 상기 발광구조물(110) 상에 형성된 소정의 광추출 패턴(R)을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제1 도전형 제1 반도체층(112) 상면에 건식 또는 습식 식각공정에 의해 러프니스를 형성하여 광추출 패턴(R)을 형성하여 광추출 효율을 향상시킬 수 있다. 상기 광추출 패턴(R)은 오목 또는 볼록부를 포함하여 형성될 수 있으며, 제1 도전형 제1 반도체층(112)의 상면 전체 또는 일부에 형성될 수 있다.Referring back to FIG. 1 , the embodiment may include a predetermined light extraction pattern R formed on the light emitting structure 110 . For example, roughness is formed on the upper surface of the first conductivity-type first semiconductor layer 112 by a dry or wet etching process to form a light extraction pattern R to improve light extraction efficiency. The light extraction pattern R may include concave or convex portions, and may be formed on all or part of the upper surface of the first conductivity-type first semiconductor layer 112 .

상기 제1 도전형 제1 반도체층(112) 상에 패드 전극(174)이 배치될 수 있다.A pad electrode 174 may be disposed on the first conductivity type first semiconductor layer 112 .

실시예는 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112) 상에 상부 오믹층(171)을 개재하여, 가지전극(172)이 형성되고, 상기 가지전극(172) 상에 상기 패드 전극(174)이 형성될 수 있다.In the embodiment, a branch electrode 172 is formed on the first conductivity type first semiconductor layer 112 with an upper ohmic layer 171 interposed therebetween, and the pad electrode 174 is formed on the branch electrode 172 . can be formed.

상기 패드 전극(174)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 상기 제1 도전형 제2 반도체층(112) 및 상기 가지 전극(172)과 동시에 접할 수 있으며, 상기 패드 전극(174)이 상기 제1 도전형 제2 반도체층(112)과 접하는 부분은 쇼트키컨택(schottky contact) 등으로 인해 오믹컨택이 되지 않아 전류주입률이 낮아 전류확산이 이루어져 광 출력이 향상될 수 있다. 도 1에서는 상기 패드 전극(174)와 상기 제1 도전형 제2 반도체층(112)이 접하는 부분에는 광추출 패턴(R)이 형성되지 않은 것으로 도시되어 있으나 이에 한정하지 않고 광추출 패턴(R)이 형성되어 있는 영역에 상기 패드 전극(174)이 형성될 수도 있다. The pad electrode 174 may be formed as a single layer or a multilayer, and may be in contact with the first conductivity-type second semiconductor layer 112 and the branch electrode 172 at the same time, and the pad electrode 174 may be The portion in contact with the first conductivity-type second semiconductor layer 112 does not form an ohmic contact due to a Schottky contact, etc., so that the current injection rate is low, and current diffusion is achieved, thereby improving light output. In FIG. 1 , the light extraction pattern R is not formed in the portion where the pad electrode 174 and the first conductivity-type second semiconductor layer 112 are in contact, but the light extraction pattern R is not limited thereto. The pad electrode 174 may be formed in this region.

상기 상부 오믹층(171)은 반도체와 전기적인 접촉인 우수한 물질로 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 상부 오믹층(171)은 Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IZON(IZO Nitride), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나를 포함하여 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 이러한 재료에 한정되는 않는다.The upper ohmic layer 171 may be formed of a single layer or a plurality of layers made of an excellent material that is in electrical contact with a semiconductor. For example, the upper ohmic layer 171 may include Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, indium tin oxide (ITO), or indium (IZO). zinc oxide), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IAZO), indium gallium zinc oxide (IGZO), indium gallium tin oxide (IGTO), aluminum zinc oxide (AZO), antimony tin oxide (ATO), Gallium zinc oxide (GZO), IZO Nitride (IZON), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, and Ni/ It may be formed as a single layer or multiple layers including at least one of IrOx/Au/ITO, but is not limited to these materials.

상기 패드 전극(174)과 상기 가지 전극(172)은 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있으며, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 중에서 적어도 어느 하나로 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The pad electrode 174 and the branch electrode 172 may be formed of a single layer or a plurality of layers, and may be formed of at least one of Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, and Cu-W. may be formed, but is not limited thereto.

상기 발광구조물(110) 상면과 측면에 제1 패시베이션층(160)이 형성될 수 있으며, 상기 패드 전극(174) 측면과 상면의 일부에 제2 패시베이션층(162)이 형성될 수 있다. 상기 발광구조물(110)의 측면 및 상기 패드 전극(174)의 측면은 경사지게 형성될 수도 있으며 이 경우 상기 제1 패시베이션층(160)과 제2 패시베이션층(162)는 경사진 측면을 따라 형성될 수 있으나 이에 한정하지 않는다.A first passivation layer 160 may be formed on an upper surface and a side surface of the light emitting structure 110 , and a second passivation layer 162 may be formed on a side surface and a portion of the upper surface of the pad electrode 174 . The side surface of the light emitting structure 110 and the side surface of the pad electrode 174 may be formed to be inclined. In this case, the first passivation layer 160 and the second passivation layer 162 may be formed along the inclined side surface. However, the present invention is not limited thereto.

상기 제1 패시베이션층(160), 상기 제2 패시베이션층(162)은 단층 또는 복수의 층으로 형성될 수 있으며, 산화물, 질화물 등의 절연물로 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The first passivation layer 160 and the second passivation layer 162 may be formed of a single layer or a plurality of layers, and may be formed of an insulating material such as oxide or nitride, but is not limited thereto.

도 3은 제2 실시예에 따른 적색 발광소자의 단면도이다.3 is a cross-sectional view of a red light emitting device according to a second embodiment.

제2 실시예는 제1 실시예의 기술적인 특징을 채용할 수 있으며, 이하 제2 실시예의 주된 특징 위주로 설명하기로 한다.The second embodiment may adopt the technical features of the first embodiment, and the main features of the second embodiment will be mainly described below.

제2 실시예에서 제1 반사층(152)의 수평폭은 제3 반사층(132)의 수평폭 보다 넓게 설정됨으로써, 오믹층(141)의 수평폭도 제3 반사층(132)의 수평폭 보다 넓게 설정될 수 있다. 이에 따라 실시예는 종래기술에 비해 넓은 분포를 가지는 오믹층(141)을 배치함으로써 오믹특성이 현저히 개선됨에 따라 전기적인 특성이 개선되어 발광효율이 향상될 수 있다.In the second embodiment, the horizontal width of the first reflective layer 152 is set to be wider than the horizontal width of the third reflective layer 132 , so that the horizontal width of the ohmic layer 141 is also set to be wider than the horizontal width of the third reflective layer 132 . can Accordingly, in the embodiment, the ohmic characteristic is remarkably improved by disposing the ohmic layer 141 having a wider distribution compared to the prior art, and thus the electrical characteristic is improved, thereby improving the luminous efficiency.

또한 실시예에 의하면 제1 반사층(152)의 수평폭을 제3 반사층(132)의 수평폭보다 넓게 설정됨으로써 빛이 상측으로 반사되는 영역을 넓힘으로써 광추출 효율을 향상시킬 수 있다.In addition, according to the embodiment, by setting the horizontal width of the first reflective layer 152 to be wider than the horizontal width of the third reflective layer 132 , the light extraction efficiency can be improved by widening the area in which light is reflected upward.

도 4는 제3 실시예에 따른 적색 발광소자(103)의 단면도이다.4 is a cross-sectional view of the red light emitting device 103 according to the third embodiment.

제3 실시예는 제1 실시예 또는 제2 실시예의 기술적인 특징을 채용할 수 있으며, 이하 제3 실시예의 기술적인 특징 위주로 설명하기로 한다.The third embodiment may employ the technical features of the first or second embodiment, and the technical features of the third embodiment will be mainly described below.

제3 실시예에서의 제1 반사층(154)의 수평폭은 상기 오믹층(141)의 수평폭 보다 넓을 수 있다.In the third embodiment, the horizontal width of the first reflective layer 154 may be wider than the horizontal width of the ohmic layer 141 .

이에 따라 실시예에 의하면 제1 반사층(154)의 수평폭을 제3 반사층(132)의 수평폭뿐만 아니라 오믹층(141)의 수평폭에 보다 넓게 설정하여 오믹층(141)의 측면에 흡수될 수도 있는 빛도 차단하여 반사시킴으로써 광추출 효율을 더욱 향상시킬 수 있다.Accordingly, according to the embodiment, the horizontal width of the first reflective layer 154 is set to be wider not only the horizontal width of the third reflective layer 132 but also the horizontal width of the ohmic layer 141 to be absorbed by the side surface of the ohmic layer 141 . It is possible to further improve light extraction efficiency by blocking and reflecting possible light.

도 5는 제4 실시예에 따른 적색 발광소자(104)의 단면도이다.5 is a cross-sectional view of the red light emitting device 104 according to the fourth embodiment.

제4 실시예는 제1 실시예, 제2 실시예 또는 제3 실시예의 기술적인 특징을 채용할 수 있으며, 이하 제4 실시예의 기술적인 특징 위주로 설명하기로 한다.The fourth embodiment may employ the technical features of the first, second, or third embodiment, and will be mainly described below with respect to the technical features of the fourth embodiment.

제4 실시예에의 제1 반사층(156)은 오믹층(141)의 상면과 측면을 감쌀 수 있다.The first reflective layer 156 according to the fourth embodiment may cover the upper surface and the side surface of the ohmic layer 141 .

이에 따라 실시예에 의하면 제1 반사층(156)의 수평폭이 제3 반사층(132)의 수평폭 및 오믹층(141)의 수평폭에 비해 넓게 설정함과 아울러 오믹층(141)의 측면을 감쌈으로써 오믹층(141)의 측면에 흡수될 수도 있는 빛을 더욱 차단하여 반사시킴으로써 광추출 효율을 매우 향상시킬 수 있다.Accordingly, according to the embodiment, the horizontal width of the first reflective layer 156 is set wider than the horizontal width of the third reflective layer 132 and the horizontal width of the ohmic layer 141 , and the side surface of the ohmic layer 141 is wrapped. As a result, light that may be absorbed by the side surface of the ohmic layer 141 is further blocked and reflected, thereby greatly improving the light extraction efficiency.

이하, 도 6 내지 도 11을 참조하여 실시예에 따른 적색 발광소자의 제조방법을 설명하기로 한다.Hereinafter, a method of manufacturing a red light emitting device according to an embodiment will be described with reference to FIGS. 6 to 11 .

먼저, 도 6과 같이 기판(102)을 준비한다. 상기 기판(102)은 열전도성이 뛰어난 물질로 형성될 수 있으며, 단층 또는 다층으로 형성될 수 있고, 전도성 기판 또는 절연성 기판일수 있다. 예를 들어, 상기 기판(102)은 GaAs, 사파이어(Al2O3), SiC, Si, GaN, ZnO, GaP, InP, Ge 및 Ga203 중 적어도 하나를 사용할 수 있다. 상기 기판(102)에 대해 습식세척을 하여 표면의 불순물을 제거할 수 있다. 상기 기판(102) 상에 제1 도전형 제1 반도체층(112), 활성층(114) 및 제2 도전형 제2 반도체층(116)을 포함하는 발광구조물(110)이 형성될 수 있다.First, the substrate 102 is prepared as shown in FIG. 6 . The substrate 102 may be formed of a material having excellent thermal conductivity, may be formed in a single layer or in multiple layers, and may be a conductive substrate or an insulating substrate. For example, the substrate 102 may be GaAs, sapphire (Al 2 O 3 ), SiC, Si, GaN, ZnO, GaP, InP, Ge, and Ga 2 0 3 At least one of them can be used. The substrate 102 may be wet-cleaned to remove impurities on the surface. A light emitting structure 110 including a first conductivity type first semiconductor layer 112 , an active layer 114 , and a second conductivity type second semiconductor layer 116 may be formed on the substrate 102 .

예를 들어, 실시예에서 상기 발광구조물(110)은 제1 도전형 제1 반도체층(112), 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112) 상에 배치되는 AlGaInP계열 활성층(114) 및 상기 활성층(114) 상에 배치되는 제2 도전형 제2 반도체층(116)을 포함하는 적색 발광구조물일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.For example, in the embodiment, the light emitting structure 110 includes a first conductivity type first semiconductor layer 112 , an AlGaInP-based active layer 114 disposed on the first conductivity type first semiconductor layer 112 , and the It may be a red light emitting structure including the second conductivity-type second semiconductor layer 116 disposed on the active layer 114 , but is not limited thereto.

상기 제1 도전형 제1 반도체층(112)은 반도체 화합물, 예를 들어 3족-5족, 2족-6족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 제1 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다. 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112)이 n형 반도체층인 경우, n형 도펀트로서, Si, Ge, Sn, Se, Te를 포함할 수 있으나 이에 한정되지 않는다.The first conductivity-type first semiconductor layer 112 may be implemented with a semiconductor compound, for example, a compound semiconductor such as Group III-5, Group II-6, etc., and may be formed as a single layer or multiple layers. A single conductivity type dopant may be doped. When the first conductivity-type first semiconductor layer 112 is an n-type semiconductor layer, the n-type dopant may include Si, Ge, Sn, Se, and Te, but is not limited thereto.

상기 제1 도전형 제1 반도체층(112)은 InxAlyGa1 -x- yP (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) 또는 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질을 포함할 수 있다. The first conductivity type first semiconductor layer 112 is In x Al y Ga 1 -x- y P (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) or In x Al y It may include a semiconductor material having a composition formula of Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1).

예를 들어, 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112)은 AlGaP, InGaP, AlInGaP, InP, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN,AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, GaP 중 어느 하나 이상으로 형성될 수 있다.For example, the first conductivity type first semiconductor layer 112 may include any one or more of AlGaP, InGaP, AlInGaP, InP, GaN, InN, AlN, InGaN, AlGaN, InAlGaN, AlInN, AlGaAs, InGaAs, AlInGaAs, and GaP. can be formed with

상기 제1 도전형 제1 반도체층(112)은 화학증착방법(CVD) 혹은 분자선 에피택시 (MBE) 혹은 스퍼터링 혹은 수산화물 증기상 에피택시(HVPE) 등의 방법을 사용하여 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The first conductivity type first semiconductor layer 112 may be formed using a method such as chemical vapor deposition (CVD), molecular beam epitaxy (MBE), sputtering or hydroxide vapor phase epitaxy (HVPE), but is not limited thereto. it is not

이후, 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112) 상에 활성층(114)이 형성될 수 있다.Thereafter, an active layer 114 may be formed on the first conductivity-type first semiconductor layer 112 .

상기 활성층(114)은 제1 도전형 제1 반도체층(112)을 통해서 주입되는 전자와 이후 형성되는 제2 도전형 제2 반도체층(116)을 통해서 주입되는 정공이 서로 만나서 활성층(발광층) 물질 고유의 에너지 밴드에 의해서 결정되는 에너지를 갖는 빛을 방출하는 층이다. In the active layer 114 , electrons injected through the first conductivity type first semiconductor layer 112 and holes injected through the second conductivity type second semiconductor layer 116 formed later meet each other to form an active layer (light emitting layer) material. A layer that emits light with an energy determined by an intrinsic energy band.

상기 활성층(114)은 단일 양자 우물 구조, 다중 양자 우물 구조(MQW: Multi Quantum Well), 양자 선(Quantum-Wire) 구조, 또는 양자 점(Quantum Dot) 구조 중 적어도 어느 하나로 형성될 수 있고, 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. The active layer 114 may be formed of at least one of a single quantum well structure, a multi-quantum well (MQW) structure, a quantum-wire structure, or a quantum dot structure, and a single-layer structure. Alternatively, it may be formed in multiple layers.

상기 활성층(114)은 양자우물/양자벽 구조를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 활성층(114)은 GaInP/AlGaInP, GaP/AlGaP, InGaP/AlGaP, InGaN/GaN, InGaN/InGaN, GaN/AlGaN, InAlGaN/GaN, GaAs/AlGaAs, InGaAs/AlGaAs 중 어느 하나 이상의 페어 구조로 형성될 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 상기 우물층은 상기 장벽층의 밴드 갭보다 낮은 밴드 갭을 갖는 물질로 형성될 수 있다.The active layer 114 may include a quantum well/quantum wall structure. For example, the active layer 114 may include any one or more pairs of GaInP/AlGaInP, GaP/AlGaP, InGaP/AlGaP, InGaN/GaN, InGaN/InGaN, GaN/AlGaN, InAlGaN/GaN, GaAs/AlGaAs, and InGaAs/AlGaAs. It may be formed in a structure, but is not limited thereto. The well layer may be formed of a material having a band gap lower than a band gap of the barrier layer.

실시예에서 활성층(114)의 양자우물의 조성은 (AlpGa1 -p)qIn1 - qP층(단, 0≤p≤1, 0≤q≤1)일 수 있으며, 양자벽의 조성은 (Alp1Ga1 - p1)q1In1 - q1P층(단, 0≤p1≤1, 0≤q1≤1)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The composition of the quantum well of the active layer 114 in the embodiment (Al p Ga 1 -p) q In 1 - q may be a P layer (where, 0≤p≤1, 0≤q≤1), of the two walls The composition may be (Al p1 Ga 1 - p1 ) q1 In 1 - q1 P layer (however, 0≤p1≤1, 0≤q1≤1), but is not limited thereto.

다음으로, 상기 제2 도전형 제2 반도체층(116)은 반도체 화합물로 형성될 수 있으며, 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 3족-5족, 2족-6족 등의 화합물 반도체로 구현될 수 있으며, 제2 도전형 도펀트가 도핑될 수 있다.Next, the second conductivity type second semiconductor layer 116 may be formed of a semiconductor compound, may be formed as a single layer or multiple layers, and may be implemented with a compound semiconductor such as Group III-5, Group II-6, etc. and may be doped with a second conductivity type dopant.

예를 들어, 상기 제2 도전형 제2 반도체층(116)은 InxAlyGa1 -x- yP (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) 또는 InxAlyGa1 -x- yN (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1)의 조성식을 갖는 반도체 물질을 포함할 수 있다. 상기 제2 도전형 제2 반도체층(116)이 p형 반도체층인 경우, p형 도펀트로서, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba 등을 포함할 수 있다.For example, the second conductivity type second semiconductor layer 116 may include In x Al y Ga 1 -x- y P (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) or In x Al y Ga 1 -x- y N (0≤x≤1, 0≤y≤1, 0≤x+y≤1) may include a semiconductor material having a composition formula. When the second conductivity-type second semiconductor layer 116 is a p-type semiconductor layer, Mg, Zn, Ca, Sr, Ba, or the like may be included as a p-type dopant.

실시예에서 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112)은 n형 반도체층, 상기 제2 도전형 제2 반도체층(116)은 p형 반도체층으로 구현할 수 있으나 이에 한정되지 않는다. 예를 들어, 실시예에서 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112)은 p형 반도체층, 상기 제2 도전형 제2 반도체층(116)은 n형 반도체층으로 구현될 수도 있다.In an embodiment, the first conductivity type first semiconductor layer 112 may be an n-type semiconductor layer, and the second conductivity type second semiconductor layer 116 may be implemented as a p-type semiconductor layer, but is not limited thereto. For example, in an embodiment, the first conductivity-type first semiconductor layer 112 may be implemented as a p-type semiconductor layer, and the second conductivity-type semiconductor layer 116 may be implemented as an n-type semiconductor layer.

또한 상기 제2 도전형 제2 반도체층(116) 위에는 상기 제2 도전형과 반대의 극성을 갖는 반도체 예컨대 n형 반도체층(미도시)을 형성할 수 있다. 이에 따라 발광구조물(110)은 n-p 접합 구조, p-n 접합 구조, n-p-n 접합 구조, p-n-p 접합 구조 중 어느 한 구조로 구현될 수 있다.In addition, a semiconductor having a polarity opposite to that of the second conductivity type, for example, an n-type semiconductor layer (not shown) may be formed on the second conductivity type second semiconductor layer 116 . Accordingly, the light emitting structure 110 may be implemented as any one of an n-p junction structure, a p-n junction structure, an n-p-n junction structure, and a p-n-p junction structure.

다음으로, 상기 제2 도전형 제2 반도체층(116) 상에 제2 도전형 제3 반도체층(123), 제2 도전형 제4 반도체층(124), 제2 도전형 제5 반도체층(125)이 형성될 수 있다.Next, on the second conductivity type second semiconductor layer 116 , a second conductivity type third semiconductor layer 123 , a second conductivity type fourth semiconductor layer 124 , and a second conductivity type fifth semiconductor layer ( 125) can be formed.

상기 제2 도전형 제3 반도체층(123)과 상기 제2 도전형 제4 반도체층(124)은 AlGaInP 계열 반도체층을 포함할 수 있다. 상기 제5 반도체층(125)은 제2 농도의 p형 GaP 계열층을 포함할 수 있다.The second conductivity type third semiconductor layer 123 and the second conductivity type fourth semiconductor layer 124 may include an AlGaInP-based semiconductor layer. The fifth semiconductor layer 125 may include a p-type GaP-based layer having a second concentration.

실시예에 따른 적색 발광소자에게 상기 제2 도전형 제4 반도체층(124)의 Al의 조성은 상기 제2 도전형 제3 반도체층(123)의 Al의 조성보다 낮을 수 있다. In the red light emitting device according to the embodiment, the Al composition of the second conductivity-type fourth semiconductor layer 124 may be lower than the Al composition of the second conductivity-type third semiconductor layer 123 .

상기 제2 도전형 제4 반도체층(124)의 밴드갭 에너지는 상기 제2 도전형 제3 반도체층(123)의 밴드갭 에너지보다 작을 수 있다. 또한 상기 제2 도전형 제4 반도체층(124)의 밴드갭 에너지는 상기 제2 도전형 제5 반도체층(125)의 밴드갭 에너지보다 클 수 있다.The bandgap energy of the second conductivity type fourth semiconductor layer 124 may be smaller than the bandgap energy of the second conductivity type third semiconductor layer 123 . Also, the bandgap energy of the second conductivity-type fourth semiconductor layer 124 may be greater than the bandgap energy of the second conductivity-type fifth semiconductor layer 125 .

실시예에 의하면, 상기 제2 도전형 제3 반도체층(123)과 상기 제2 도전형 제5 반도체층(125) 사이에 제2 도전형 제4 반도체층(124)을 배치하여 에너지 밴드갭(Energy Band Gap) 버퍼층(buffer Layer) 역할을 할 수 있다.According to the embodiment, the second conductivity type fourth semiconductor layer 124 is disposed between the second conductivity type third semiconductor layer 123 and the second conductivity type fifth semiconductor layer 125 to form an energy band gap ( Energy Band Gap) may serve as a buffer layer.

또한 실시예에 의하면, 상기 제2 도전형 제3 반도체층(123)과 상기 제2 도전형 제5 반도체층(125) 사이에 제2 도전형 제4 반도체층(124)을 배치하여 상기 제2 도전형 제3 반도체층(123)과 상기 제2 도전형 제5 반도체층(125) 사이의 스트레인(strain) 완화로 발광소자의 품질을 향상시킬 수 있다.In addition, according to an embodiment, a second conductivity type fourth semiconductor layer 124 is disposed between the second conductivity type third semiconductor layer 123 and the second conductivity type fifth semiconductor layer 125 to provide the second The quality of the light emitting device may be improved by relaxing strain between the third conductivity type semiconductor layer 123 and the second conductivity type fifth semiconductor layer 125 .

실시예에서 상기 제2 도전형 제5 반도체층(125)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, GaP층/InxGa1 - xP층의 초격자구조를 포함할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In an embodiment, the second conductivity-type fifth semiconductor layer 125 may be formed as a single layer or a multilayer, and may include a superlattice structure of a GaP layer/In x Ga 1 - x P layer, but is not limited thereto. .

상기 제2 도전형 제5 반도체층(125)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 제2 도전형 도펀트가 도핑된 제3 GaP층(미도시)을 포함할 수 있다. 상기 제2 도전형 도펀트는 p형 도전형 도펀트일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The second conductivity-type fifth semiconductor layer 125 may be formed as a single layer or multiple layers, and may include a third GaP layer (not shown) doped with a second conductivity-type dopant. The second conductivity-type dopant may be a p-type dopant, but is not limited thereto.

다음으로, 도 7과 같이, 상기 상기 제2 도전형 제5 반도체층(125) 상에 제1 반사층(150)과 오믹층(141)을 순차적으로 형성하고, 소정의 식각마스크(미도시)를 이용하여 상기 제1 반사층(150)과 상기 오믹층(141)을 패터닝한 후, 제3 반사층(132)을 형성할 수 있다.Next, as shown in FIG. 7 , a first reflective layer 150 and an ohmic layer 141 are sequentially formed on the second conductivity-type fifth semiconductor layer 125 , and a predetermined etching mask (not shown) is applied. After the first reflective layer 150 and the ohmic layer 141 are patterned using the same, the third reflective layer 132 may be formed.

상기 제1 반사층(150)은 제1 굴절율을 갖는 제 1굴절층(150a)과 제1 굴절율보다 큰 제2 굴절율을 갖는 제2 굴절층(150b)을 교대로 1쌍이상 적층하여 초격자층을 형성할 수 있다.The first reflective layer 150 is a superlattice layer by alternately stacking one or more pairs of a first refractive layer 150a having a first refractive index and a second refractive layer 150b having a second refractive index greater than the first refractive index. can be formed

또한 상기 제1 반사층(150)은 DBR(Distributed Bragg Reflector)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.Also, the first reflective layer 150 may be a distributed Bragg reflector (DBR), but is not limited thereto.

상기 제1 반사층(150)은 기존 형성된 발광구조물(110)과 함께 MOCVD에서 인시튜(in situ)로 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The first reflective layer 150 may be formed in situ in MOCVD together with the previously formed light emitting structure 110 , but is not limited thereto.

상기 제1 반사층(150)은 AlAs층/AlGaAs층을 포함할 수 있고, 상기 제1 반사층(150)에는 제1 도전형 도펀트가 도핑될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The first reflective layer 150 may include an AlAs layer/AlGaAs layer, and the first reflective layer 150 may be doped with a first conductivity type dopant, but is not limited thereto.

상기 오믹층(141)은 반도체와 전기적인 접촉인 우수한 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 오믹층(141)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IZON(IZO Nitride), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있으며, 이러한 재료에 한정되는 않는다.The ohmic layer 141 may be formed of an excellent material that is in electrical contact with a semiconductor. For example, the ohmic layer 141 may be formed as a single layer or a multilayer, Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, ITO ( indium tin oxide), indium zinc oxide (IZO), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IAZO), indium gallium zinc oxide (IGZO), indium gallium tin oxide (IGTO), aluminum zinc oxide (AZO) , ATO (antimony tin oxide), GZO (gallium zinc oxide), IZON (IZO Nitride), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni It may be formed including at least one of /IrOx/Au, and Ni/IrOx/Au/ITO, but is not limited thereto.

실시예에서 상기 오믹층(141)은 상기 제2 도전형 제5 반도체층(125)과 부분적으로 접촉할 수 있으며, 상기 오믹층(141) 사이에 제3 반사층(132)이 배치될 수 있다. 예를 들어, 상기 오믹층(141)은 반도체와 전기적인 접촉인 우수한 물질로 형성될 수 있다. In an embodiment, the ohmic layer 141 may partially contact the second conductivity-type fifth semiconductor layer 125 , and a third reflective layer 132 may be disposed between the ohmic layer 141 . For example, the ohmic layer 141 may be formed of a superior material that is in electrical contact with a semiconductor.

실시예에서 상기 제3 반사층(132)은 금속계열 반사층(미도시)과 상기 금속계열 반사층 상에 배치되는 절연성 저굴절률층(미도시)를 포함한 구조일 수 있다. 상기 금속계열 반사층은 Ag 또는 Al일 수 있으며, 상기 절연성 저굴절률층은 SiO2, Si3N4, MgO과 같은 투명물질일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.In an embodiment, the third reflective layer 132 may have a structure including a metal-based reflective layer (not shown) and an insulating low refractive index layer (not shown) disposed on the metal-based reflective layer. The metal-based reflective layer may be Ag or Al, and the insulating low refractive index layer may be a transparent material such as SiO 2 , Si 3 N 4 , or MgO, but is not limited thereto.

종래기술에 의하면 오믹컨택에 기여하는 오믹층이 발광된 빛의 흡수 부작용이 있어서 광추출 효율을 저하시키는 문제가 있다.According to the prior art, there is a problem in that the ohmic layer contributing to the ohmic contact has a side effect of absorbing the emitted light, thereby reducing the light extraction efficiency.

실시예에 의하면, 도 1을 기준으로 오믹층(141) 상에 제1 반사층(150)을 배치함으로써 오믹층으로 반사되는 빛을 반사시킴으로써 흡수될 광을 반사시켜 광추출 효율이 우수한 적색 발광소자를 제공할 수 있다. 이에 따라 실시예는 광추출 효율이 우수하면서 전기적 특성도 향상된 적색 발광소자를 제공할 수 있다.According to the embodiment, by arranging the first reflective layer 150 on the ohmic layer 141 with reference to FIG. 1 to reflect the light to be absorbed by reflecting the light reflected by the ohmic layer, a red light emitting device having excellent light extraction efficiency can provide Accordingly, the embodiment can provide a red light emitting device having excellent light extraction efficiency and improved electrical characteristics.

또한 도 3을 기준으로 제2 실시예에서 제1 반사층(152)의 수평폭은 제3 반사층(132)의 수평폭 보다 넓게 설정됨으로써, 오믹층(141)의 수평폭도 제3 반사층(132)의 수평폭 보다 넓게 설정될 수 있다. 이에 따라 실시예는 종래기술에 비해 넓은 분포를 가지는 오믹층(141)을 배치함으로써 오믹특성이 현저히 개선됨에 따라 전기적인 특성이 개선되어 발광효율이 향상될 수 있다.In addition, in the second embodiment based on FIG. 3 , the horizontal width of the first reflective layer 152 is set to be wider than the horizontal width of the third reflective layer 132 , so that the horizontal width of the ohmic layer 141 is also that of the third reflective layer 132 . It can be set wider than the horizontal width. Accordingly, in the embodiment, the ohmic characteristic is remarkably improved by disposing the ohmic layer 141 having a wider distribution compared to the prior art, and thus the electrical characteristic is improved, thereby improving the luminous efficiency.

또한 도 4를 기준으로 제3 실시예에서의 제1 반사층(154)의 수평폭은 상기 오믹층(141)의 수평폭 보다 넓을 수 있고, 이에 따라 제1 반사층(154)의 수평폭을 제3 반사층(132)의 수평폭뿐만 아니라 오믹층(141)의 수평폭에 보다 넓게 설정하여 오믹층(141)의 측면에 흡수될 수도 있는 빛도 차단하여 반사시킴으로써 광추출 효율을 향상시킬 수 있다.In addition, based on FIG. 4 , the horizontal width of the first reflective layer 154 in the third embodiment may be wider than the horizontal width of the ohmic layer 141 , and accordingly, the horizontal width of the first reflective layer 154 is increased by the third By setting the horizontal width of the reflective layer 132 wider as well as the horizontal width of the ohmic layer 141 to block and reflect light that may be absorbed by the side of the ohmic layer 141, light extraction efficiency can be improved.

또한 도 5를 기준으로, 제4 실시예에 의하면 제1 반사층(156)의 수평폭이 제3 반사층(132)의 수평폭 및 오믹층(141)의 수평폭에 비해 넓게 설정함과 아울러 오믹층(141)의 측면을 감쌈으로써 오믹층(141)의 측면에 흡수될 수도 있는 빛을 더욱 차단하여 반사시킴으로써 광추출 효율을 향상시킬 수 있다.5, according to the fourth embodiment, the horizontal width of the first reflective layer 156 is set wider than the horizontal width of the third reflective layer 132 and the horizontal width of the ohmic layer 141, and the ohmic layer By wrapping the side surface of the ohmic layer 141, light that may be absorbed by the side surface of the ohmic layer 141 is further blocked and reflected, thereby improving light extraction efficiency.

다음으로, 도 8과 같이, 발광구조물(110) 상측에 제2 전극층(140)을 형성할 수 있다.Next, as shown in FIG. 8 , the second electrode layer 140 may be formed on the light emitting structure 110 .

상기 제2 전극층(140)은 상기 오믹층(141), 제2 반사층(142), 본딩층(144), 지지기판(146) 및 하부전극(148)을 포함할 수 있다.The second electrode layer 140 may include the ohmic layer 141 , a second reflective layer 142 , a bonding layer 144 , a support substrate 146 , and a lower electrode 148 .

상기 제2 반사층(142)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 전기적인 접촉이 우수하며 반사성이 높은 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 제2 반사층(142)은 Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Ag, Ni, Al, Rh, Au, Hf 중 적어도 하나를 포함하는 금속 또는 합금으로 단층 또는 다층으로 형성될 수 있다. The second reflective layer 142 may be formed of a single layer or multiple layers, and may be formed of a material having excellent electrical contact and high reflectivity. For example, the second reflective layer 142 may be formed of a single layer or a multi-layered metal or alloy including at least one of Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Ag, Ni, Al, Rh, Au, and Hf. can be

상기 본딩층(144)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 니켈(Ni), 티탄(Ti), 금(Au) 또는 이들의 합금일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The bonding layer 144 may be formed as a single layer or a multilayer, and may be formed of nickel (Ni), titanium (Ti), gold (Au), or an alloy thereof, but is not limited thereto.

상기 지지부재(146)는 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 예를 들어, 캐리어 웨이퍼(예: GaN, Si, Ge, GaAs, ZnO, SiGe, SiC 등), 구리(Cu), 금(Au), 구리합금(Cu Alloy), 니켈(Ni-nickel), 구리-텅스텐(Cu-W), 등을 선택적으로 포함할 수 있다.The support member 146 may be formed of a single layer or a multilayer, for example, a carrier wafer (eg, GaN, Si, Ge, GaAs, ZnO, SiGe, SiC, etc.), copper (Cu), gold (Au) , copper alloy (Cu Alloy), nickel (Ni-nickel), copper-tungsten (Cu-W), and the like may be selectively included.

상기 하부전극(148)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 중에서 적어도 어느 하나로 형성될 수 있다.The lower electrode 148 may be formed of a single layer or multiple layers, and may be formed of at least one of Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, and Cu-W.

다음으로, 도 9와 같이, 상기 기판(102)을 제거하여 제1 도전형 제1 반도체층(112)을 노출시킬 수 있다. 상기 기판(102)을 제거하는 방법은 고출력의 레이저를 이용하여 기판을 분리하거나 화학적 식각 방법을 사용할 수 있다. 또한, 상기 기판(102)은 물리적으로 갈아냄으로써 제거할 수도 있다. Next, as shown in FIG. 9 , the substrate 102 may be removed to expose the first conductivity-type first semiconductor layer 112 . As a method of removing the substrate 102 , the substrate may be separated using a high-power laser or a chemical etching method may be used. In addition, the substrate 102 may be removed by physically grinding.

예를 들어, 레이저 리프트 오프 방법은 상온에서 소정의 에너지를 가해주게 되면 상기 기판(102)과 발광구조물(110)의 계면에서 에너지가 흡수되어 발광구조물의 접합표면이 열분해 되어 기판(102)과 발광구조물(110)을 분리할 수 있다.For example, in the laser lift-off method, when a predetermined energy is applied at room temperature, energy is absorbed at the interface between the substrate 102 and the light emitting structure 110 , and the bonding surface of the light emitting structure is thermally decomposed to emit light with the substrate 102 . The structure 110 may be separated.

다음으로, 도 10과 같이, 상기 제1 도전형 제1 반동체층(112) 상에 소정의 광추출 패턴(R)이 형성될 수 있다. 예를 들어, 제1 도전형 제1 반도체층(112) 상면에 건식 또는 습식 식각공정에 의해 러프니스를 형성하여 광추출 패턴(R)을 형성하여 광추출 효율을 향상시킬 수 있다.Next, as shown in FIG. 10 , a predetermined light extraction pattern R may be formed on the first conductive type first reflector layer 112 . For example, roughness is formed on the upper surface of the first conductivity-type first semiconductor layer 112 by a dry or wet etching process to form a light extraction pattern R to improve light extraction efficiency.

다음으로 도 11과 같이, 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112) 상에 패드 전극(174)이 배치될 수 있다.Next, as shown in FIG. 11 , a pad electrode 174 may be disposed on the first conductivity-type first semiconductor layer 112 .

실시예는 상기 제1 도전형 제1 반도체층(112) 상에 상부 오믹층(171)을 개재하여, 가지전극(172)이 형성되고, 상기 가지전극(172) 상에 상기 패드 전극(174)이 형성될 수 있다.In the embodiment, a branch electrode 172 is formed on the first conductivity type first semiconductor layer 112 with an upper ohmic layer 171 interposed therebetween, and the pad electrode 174 is formed on the branch electrode 172 . can be formed.

상기 패드 전극(174)은 상기 제1 도전형 제2 반도체층(112) 및 상기 가지 전극(172)과 동시에 접할 수 있으며, 상기 패드 전극(174)이 상기 제1 도전형 제2 반도체층(112)과 접하는 부분은 쇼키컨택 등으로 인해 오믹컨택이 되지 않아 전류주입률이 낮아 전류확산이 이루어져 광 출력이 향상될 수 있다. The pad electrode 174 may be in contact with the first conductivity type second semiconductor layer 112 and the branch electrode 172 at the same time, and the pad electrode 174 may be in contact with the first conductivity type second semiconductor layer 112 . ) is not ohmic contact due to shocky contact, etc.

상기 상부 오믹층(171)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 반도체와 전기적인 접촉인 우수한 물질로 형성될 수 있다. 예를 들어, 상기 상부 오믹층(171)은 Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, ITO(indium tin oxide), IZO(indium zinc oxide), IZTO(indium zinc tin oxide), IAZO(indium aluminum zinc oxide), IGZO(indium gallium zinc oxide), IGTO(indium gallium tin oxide), AZO(aluminum zinc oxide), ATO(antimony tin oxide), GZO(gallium zinc oxide), IZON(IZO Nitride), AGZO(Al-Ga ZnO), IGZO(In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, 및 Ni/IrOx/Au/ITO 중 적어도 하나를 포함하여 형성될 수 있으며, 이러한 재료에 한정되는 않는다.The upper ohmic layer 171 may be formed of a single layer or multiple layers, and may be formed of a superior material that is in electrical contact with a semiconductor. For example, the upper ohmic layer 171 may include Ag, Ni, Cr, Ti, Al, Rh, Pd, Ir, Ru, Mg, Zn, Pt, Au, Hf, indium tin oxide (ITO), or indium (IZO). zinc oxide), indium zinc tin oxide (IZTO), indium aluminum zinc oxide (IAZO), indium gallium zinc oxide (IGZO), indium gallium tin oxide (IGTO), aluminum zinc oxide (AZO), antimony tin oxide (ATO), Gallium zinc oxide (GZO), IZO Nitride (IZON), AGZO (Al-Ga ZnO), IGZO (In-Ga ZnO), ZnO, IrOx, RuOx, NiO, RuOx/ITO, Ni/IrOx/Au, and Ni/ It may be formed including at least one of IrOx/Au/ITO, but is not limited to these materials.

상기 패드 전극(174)과 상기 가지 전극(172)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, Cu-W 중에서 적어도 어느 하나로 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The pad electrode 174 and the branch electrode 172 may be formed of a single layer or a multilayer, and may be formed of at least one of Ti, Cr, Ni, Al, Pt, Au, W, Cu, Mo, and Cu-W. may be, but is not limited thereto.

상기 발광구조물(110) 상면과 측면에 제1 패시베이션층(160)이 형성될 수 있으며, 상기 패드 전극(174) 측면과 상면의 일부에 제2 패시베이션층(162)이 형성될 수 있다.A first passivation layer 160 may be formed on an upper surface and a side surface of the light emitting structure 110 , and a second passivation layer 162 may be formed on a side surface and a portion of the upper surface of the pad electrode 174 .

상기 제1 패시베이션층(160), 상기 제2 패시베이션층(162)은 단층 또는 다층으로 형성될 수 있으며, 산화물, 질화물 등의 절연물로 형성될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The first passivation layer 160 and the second passivation layer 162 may be formed of a single layer or a multilayer, and may be formed of an insulating material such as oxide or nitride, but is not limited thereto.

실시예에 따른 발광소자는 패키지 형태로 복수개가 기판 상에 어레이될 수 있으며, 발광소자 패키지에서 방출되는 광의 경로 상에 광학 부재인 도광판, 프리즘 시트, 확산 시트, 형광 시트 등이 배치될 수 있다.A plurality of light emitting devices according to the embodiment may be arrayed on a substrate in the form of a package, and optical members such as a light guide plate, a prism sheet, a diffusion sheet, a fluorescent sheet, etc. may be disposed on a path of light emitted from the light emitting device package.

실시예에 따른 발광소자는 백라이트 유닛, 조명 유닛, 디스플레이 장치, 지시 장치, 램프, 가로등, 차량용 조명장치, 차량용 표시장치, 스마트 시계 등에 적용될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The light emitting device according to the embodiment may be applied to a backlight unit, a lighting unit, a display device, an indicator device, a lamp, a street lamp, a vehicle lighting device, a vehicle display device, a smart watch, and the like, but is not limited thereto.

도 12는 실시예들에 따른 적색 발광소자가 설치된 발광소자 패키지(200)를 설명하는 도면이다.12 is a view for explaining a light emitting device package 200 in which a red light emitting device is installed according to embodiments.

실시예에 따른 발광 소자 패키지(200)는 패키지 몸체부(205)와, 상기 패키지 몸체부(205)에 설치된 제3 전극층(213) 및 제4 전극층(214)과, 상기 패키지 몸체부(205)에 설치되어 상기 제3 전극층(213) 및 제4 전극층(214)과 전기적으로 연결되는 적색 발광소자(100)와, 형광체(232)를 구비하여 상기 발광 소자(100)를 포위하는 몰딩부재(240)를 포함할 수 있다.The light emitting device package 200 according to the embodiment includes a package body part 205 , a third electrode layer 213 and a fourth electrode layer 214 installed on the package body part 205 , and the package body part 205 . The red light emitting device 100 is installed in and electrically connected to the third electrode layer 213 and the fourth electrode layer 214 , and the molding member 240 includes a phosphor 232 and surrounds the light emitting device 100 . ) may be included.

상기 제3 전극층(213) 및 제4 전극층(214)은 서로 전기적으로 분리되며, 상기 제3 전극층(213)은 와이어(230)에 의해 상기 적색 발광소자(100)에 전원을 제공하는 역할을 할 수 있다. 또한, 상기 제3 전극층(213) 및 제4 전극층(214)은 상기 적색 발광소자(100)에서 발생된 빛을 반사시켜 광 효율을 증가시키는 역할을 할 수 있으며, 상기 적색 발광 소자(100)에서 발생된 열을 외부로 배출시키는 역할을 할 수도 있다.The third electrode layer 213 and the fourth electrode layer 214 are electrically isolated from each other, and the third electrode layer 213 serves to provide power to the red light emitting device 100 by means of a wire 230 . can In addition, the third electrode layer 213 and the fourth electrode layer 214 may serve to increase light efficiency by reflecting the light generated by the red light emitting device 100 , and in the red light emitting device 100 , It can also serve to dissipate the generated heat to the outside.

상기 적색 발광 소자(100)는 상기 제3 전극층(213) 및/또는 제4 전극층(214)과 와이어 방식, 플립칩 방식 또는 다이 본딩 방식 중 어느 하나에 의해 전기적으로 연결될 수도 있다. The red light emitting device 100 may be electrically connected to the third electrode layer 213 and/or the fourth electrode layer 214 by any one of a wire method, a flip chip method, and a die bonding method.

실시예에 따른 적색 발광소자는 백라이트 유닛, 조명 유닛, 디스플레이 장치, 지시 장치, 램프, 가로등, 차량용 조명장치, 차량용 표시장치, 스마트 시계 등에 적용될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다.The red light emitting device according to the embodiment may be applied to a backlight unit, a lighting unit, a display device, an indicator device, a lamp, a street lamp, a vehicle lighting device, a vehicle display device, a smart watch, and the like, but is not limited thereto.

도 13은 실시예에 따른 조명시스템의 분해 사시도이다.13 is an exploded perspective view of a lighting system according to an embodiment.

실시예에 따른 조명 장치는 커버(2100), 광원 모듈(2200), 방열체(2400), 전원 제공부(2600), 내부 케이스(2700), 소켓(2800)을 포함할 수 있다. 또한, 실시 예에 따른 조명 장치는 부재(2300)와 홀더(2500) 중 어느 하나 이상을 더 포함할 수 있다. 상기 광원 모듈(2200)은 실시 예에 따른 발광소자 또는 발광소자 패키지를 포함할 수 있다.The lighting device according to the embodiment may include a cover 2100 , a light source module 2200 , a heat sink 2400 , a power supply unit 2600 , an inner case 2700 , and a socket 2800 . In addition, the lighting device according to the embodiment may further include any one or more of the member 2300 and the holder 2500 . The light source module 2200 may include a light emitting device or a light emitting device package according to an embodiment.

상기 광원 모듈(2200)은 광원부(2210), 연결 플레이트(2230), 커넥터(2250)를 포함할 수 있다. 상기 부재(2300)는 상기 방열체(2400)의 상면 위에 배치되고, 복수의 광원부(2210)들과 커넥터(2250)이 삽입되는 가이드홈(2310)들을 갖는다. The light source module 2200 may include a light source unit 2210 , a connection plate 2230 , and a connector 2250 . The member 2300 is disposed on the upper surface of the heat sink 2400 , and has guide grooves 2310 into which a plurality of light source units 2210 and a connector 2250 are inserted.

상기 홀더(2500)는 내부 케이스(2700)의 절연부(2710)의 수납홈(2719)를 막는다. 따라서, 상기 내부 케이스(2700)의 상기 절연부(2710)에 수납되는 상기 전원 제공부(2600)는 밀폐된다. 상기 홀더(2500)는 가이드 돌출부(2510)를 갖는다. The holder 2500 blocks the receiving groove 2719 of the insulating part 2710 of the inner case 2700 . Accordingly, the power supply unit 2600 accommodated in the insulating unit 2710 of the inner case 2700 is sealed. The holder 2500 has a guide protrusion 2510 .

상기 전원 제공부(2600)는 돌출부(2610), 가이드부(2630), 베이스(2650), 연장부(2670)를 포함할 수 있다. 상기 내부 케이스(2700)는 내부에 상기 전원 제공부(2600)와 함께 몰딩부를 포함할 수 있다. 몰딩부는 몰딩 액체가 굳어진 부분으로서, 상기 전원 제공부(2600)가 상기 내부 케이스(2700) 내부에 고정될 수 있도록 한다.The power supply unit 2600 may include a protrusion part 2610 , a guide part 2630 , a base 2650 , and an extension part 2670 . The inner case 2700 may include a molding unit together with the power supply unit 2600 therein. The molding part is a part where the molding liquid is hardened, and allows the power supply unit 2600 to be fixed inside the inner case 2700 .

이상에서 실시예들에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의해 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.Features, structures, effects, etc. described in the above embodiments are included in at least one embodiment, and are not necessarily limited to only one embodiment. Furthermore, features, structures, effects, etc. illustrated in each embodiment can be combined or modified for other embodiments by those of ordinary skill in the art to which the embodiments belong. Accordingly, the contents related to such combinations and modifications should be interpreted as being included in the scope of the embodiments.

이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 실시예를 한정하는 것이 아니며, 실시예가 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 설정하는 실시예의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.In the above, the embodiment has been mainly described, but this is only an example and does not limit the embodiment, and those of ordinary skill in the art to which the embodiment pertains may find several not illustrated above within the range that does not deviate from the essential characteristics of the embodiment. It can be seen that variations and applications of branches are possible. For example, each component specifically shown in the embodiment can be implemented by modification. And differences related to such modifications and applications should be construed as being included in the scope of the embodiments set forth in the appended claims.

제2 전극층(140), 오믹층(141), 제2 반사층(142), 본딩층(144), 지지기판(146),
하부전극(148), 제2 도전형 제3 반도체층(123),
제2 도전형 제4 반도체층(124), 제2 도전형 제5 반도체층(125),
발광구조물(110), 제1 도전형 제1 반도체층(112), AlGaInP계열 활성층(114),
제2 도전형 제2 반도체층(116), 패드전극(174), 제1 반사층(150)
The second electrode layer 140 , the ohmic layer 141 , the second reflective layer 142 , the bonding layer 144 , the support substrate 146 ,
The lower electrode 148, the second conductivity type third semiconductor layer 123,
The second conductivity type fourth semiconductor layer 124 , the second conductivity type fifth semiconductor layer 125 ,
Light emitting structure 110, first conductivity type first semiconductor layer 112, AlGaInP-based active layer 114,
The second conductivity type second semiconductor layer 116 , the pad electrode 174 , and the first reflective layer 150 .

Claims (11)

오믹층을 포함하는 제2 전극층;
상기 제2 전극층 상에 배치되며, 상기 오믹층과 전기적으로 연결되는 발광구조물;
상기 발광구조물 상에 배치되는 패드전극; 및
상기 오믹층과 상기 발광구조물 사이에 배치되는 복수의 제1 반사층;을 포함하며,
상기 발광구조물은
제1 도전형 제1 반도체층;
상기 제1 도전형 제1 반도체층 상에 배치되는 활성층; 및
상기 활성층 상에 배치되는 제2 도전형 제2 반도체층;을 포함하고,
상기 제1 반사층은 반도체 반사층을 포함하고,
상기 복수의 제1 반사층 사이 영역에 배치되는 제3 반사층을 포함하고,
상기 제1 반사층의 수평 폭은 상기 오믹층의 수평 폭보다 크고,
상기 제3 반사층은 상기 오믹층의 측면과 접하는 제1 영역 및 상기 제1 반사층의 측면과 접하는 제2 영역을 포함하고,
상기 제3 반사층에서 상기 제1 영역의 수평 폭은 상기 제2 영역의 수평 폭보다 작고,
상기 제1 반사층의 일부는 상기 제3 반사층의 제1 영역과 수직 방향으로 중첩되는 영역에 배치되는 적색 발광소자.
a second electrode layer including an ohmic layer;
a light emitting structure disposed on the second electrode layer and electrically connected to the ohmic layer;
a pad electrode disposed on the light emitting structure; and
a plurality of first reflective layers disposed between the ohmic layer and the light emitting structure;
The light emitting structure is
a first conductive type first semiconductor layer;
an active layer disposed on the first conductivity type first semiconductor layer; and
a second conductivity-type second semiconductor layer disposed on the active layer;
The first reflective layer includes a semiconductor reflective layer,
a third reflective layer disposed in a region between the plurality of first reflective layers;
A horizontal width of the first reflective layer is greater than a horizontal width of the ohmic layer,
The third reflective layer includes a first region in contact with a side surface of the ohmic layer and a second region in contact with a side surface of the first reflective layer,
In the third reflective layer, a horizontal width of the first region is smaller than a horizontal width of the second region,
A portion of the first reflective layer is disposed in a region overlapping the first region of the third reflective layer in a vertical direction.
제1 항에 있어서,
상기 제1 반사층은
제1 굴절율을 갖는 제 1굴절층과 제1 굴절율보다 큰 제2 굴절율을 갖는 제2 굴절층을 교대로 1쌍이상으로 적층한 초격자층을 포함하는 적색 발광소자.
According to claim 1,
The first reflective layer is
A red light emitting device comprising a superlattice layer in which one or more pairs of a first refractive layer having a first refractive index and a second refractive layer having a second refractive index greater than the first refractive index are alternately stacked.
제1 항에 있어서,
상기 제1 반사층의 수평폭은 상기 제3 반사층의 수평폭보다 넓은 적색 발광소자.
According to claim 1,
A horizontal width of the first reflective layer is wider than a horizontal width of the third reflective layer.
제1 항에 있어서,
상기 제2 전극층은 상기 오믹층 아래에 배치되는 제2 반사층을 더 포함하고,
상기 오믹층 및 상기 제3 반사층은 상기 제2 반사층의 상면과 직접 접촉하고,
상기 제1 반사층은 상기 제2 반사층과 이격되는 적색 발광소자.
According to claim 1,
The second electrode layer further includes a second reflective layer disposed under the ohmic layer,
The ohmic layer and the third reflective layer are in direct contact with the upper surface of the second reflective layer,
The first reflective layer is a red light emitting device spaced apart from the second reflective layer.
오믹층을 포함하는 제2 전극층;
상기 제2 전극층 상에 배치되며, 상기 오믹층과 전기적으로 연결되는 발광구조물;
상기 발광구조물 상에 배치되는 패드전극; 및
상기 오믹층과 상기 발광구조물 사이에 배치되는 복수의 제1 반사층;을 포함하며,
상기 발광구조물은
제1 도전형 제1 반도체층;
상기 제1 도전형 제1 반도체층 상에 배치되는 활성층; 및
상기 활성층 상에 배치되는 제2 도전형 제2 반도체층;을 포함하고,
상기 제1 반사층은 반도체 반사층을 포함하고,
상기 복수의 제1 반사층 사이 영역에 배치되는 제3 반사층을 포함하고,
상기 제3 반사층의 수평 폭은, 상기 오믹층 및 상기 제1 반사층의 수평 폭과 상이하고,
상기 제1 반사층은 상기 오믹층의 상면과 측면을 감싸는 적색 발광소자.
a second electrode layer including an ohmic layer;
a light emitting structure disposed on the second electrode layer and electrically connected to the ohmic layer;
a pad electrode disposed on the light emitting structure; and
a plurality of first reflective layers disposed between the ohmic layer and the light emitting structure;
The light emitting structure is
a first conductive type first semiconductor layer;
an active layer disposed on the first conductivity type first semiconductor layer; and
a second conductivity-type second semiconductor layer disposed on the active layer;
The first reflective layer includes a semiconductor reflective layer,
a third reflective layer disposed in a region between the plurality of first reflective layers;
A horizontal width of the third reflective layer is different from a horizontal width of the ohmic layer and the first reflective layer,
The first reflective layer is a red light emitting device that surrounds an upper surface and a side surface of the ohmic layer.
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