KR102329854B1 - Test system of display panel - Google Patents

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KR102329854B1
KR102329854B1 KR1020200046709A KR20200046709A KR102329854B1 KR 102329854 B1 KR102329854 B1 KR 102329854B1 KR 1020200046709 A KR1020200046709 A KR 1020200046709A KR 20200046709 A KR20200046709 A KR 20200046709A KR 102329854 B1 KR102329854 B1 KR 102329854B1
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Abstract

본 발명은 프로브유닛의 위치 제어를 간편하고 빠르게 구현하기 위한 디스플레이 패널의 테스트 시스템에 관한 것이다.
이를 위해, 디스플레이 패널의 테스트 시스템은 베이스유닛과, 디스플레이 패널과 접속 가능하도록 베이스유닛에 배치되는 프로브유닛과, 베이스유닛에 프로브유닛을 슬라이드 이동 가능하게 결합시키는 슬라이딩유닛과, 베이스유닛에서 프로브유닛의 슬라이드 이동을 위해 베이스유닛에 구비되는 프로브배치유닛과, 프로브유닛에 구비되어 프로브배치유닛과 탈부착 가능하게 결합되는 파지유닛을 포함하며, 파지유닛이 프로브배치유닛에 결합된 상태에서는 프로브유닛이 슬라이딩유닛을 따라 이동 가능하고, 프로브유닛이 정위치에 배치되면, 파지유닛이 프로브배치유닛에서 분리되고, 프로브유닛이 베이스유닛 상에 정지된다.The present invention relates to a test system for a display panel for easily and quickly realizing position control of a probe unit.
To this end, the test system of the display panel includes a base unit, a probe unit disposed on the base unit to be connectable to the display panel, a sliding unit for slidably coupling the probe unit to the base unit, and a probe unit in the base unit. A probe arrangement unit provided in the base unit for slide movement, and a holding unit provided in the probe unit and detachably coupled to the probe arrangement unit, wherein the probe unit is a sliding unit in a state in which the holding unit is coupled to the probe arrangement unit. When the probe unit is placed in place, the gripping unit is separated from the probe placement unit, and the probe unit is stopped on the base unit.

Description

디스플레이 패널의 테스트 시스템{TEST SYSTEM OF DISPLAY PANEL}TEST SYSTEM OF DISPLAY PANEL

본 발명은 디스플레이 패널의 테스트 시스템에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 프로브유닛의 위치 제어를 간편하고 빠르게 구현하기 위한 디스플레이 패널의 테스트 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a test system for a display panel, and more particularly, to a test system for a display panel for easily and quickly realizing position control of a probe unit.

일반적으로, 액정표시장치(TFT-LCD)와 같은 평판 디스플레이(flat panel display)는 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터(computer) 뿐만 아니라 대형 니터(monitor) 응 제품으로 도 개발되어 기존의 CRT(cathode ray tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증 대되고 있다.In general, flat panel displays such as liquid crystal displays (TFT-LCD) have rapidly progressed in size and high resolution due to the securing of mass production technology and the achievements of R&D. It has also been developed as an application product and is gradually replacing the existing CRT (cathode ray tube) products, so its proportion in the display industry is gradually increasing.

이와 같은 평판 디스플레이(flat panel display) 장치는 제조라인 최종 단계에서 점등검사를 수행하게 된다. 점등검사는 프로브유닛을 이용해 평판 디스플레이의 데이터라인과 게이트라인 각각의 단선검사와 색상검사 그리고 육안검사 등을 실시하게 된다.Such a flat panel display device performs a lighting test at the final stage of a manufacturing line. Lighting inspection is performed by using a probe unit to perform disconnection inspection, color inspection, and visual inspection of each data line and gate line of the flat panel display.

하지만, 종래의 점등검사을 실시할 때, 프로브유닛마다 개별로 설치된 구동부의 동작에 따라 다수의 프로브유닛들이 데이터라인 또는 게이트라인에 대응하여 정위치되므로, 프로브유닛의 위치 제어가 복잡하였다.However, when performing the conventional lighting test, since a plurality of probe units are positioned corresponding to the data line or the gate line according to the operation of the driver installed individually for each probe unit, position control of the probe unit is complicated.

대한민국 등록특허공보 제10-0653746호 (발명의 명칭 : 디스플레이 패널의 검사 장비, 2006. 12. 06. 공고)Republic of Korea Patent Publication No. 10-0653746 (Title of the invention: display panel inspection equipment, 2006. 12. 06. Announcement) 대한민국 등록특허공보 제10-1961692호 (발명의 명칭 : 디스플레이 패널의 테스트 장치, 2019. 07. 17. 공고)Republic of Korea Patent Publication No. 10-1961692 (Title of the invention: display panel test device, 2019. 07. 17. Announcement)

본 발명의 목적은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 프로브유닛의 위치 제어를 간편하고 빠르게 구현하기 위한 디스플레이 패널의 테스트 시스템을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the problems of the prior art, and to provide a test system for a display panel for easily and quickly realizing position control of a probe unit.

상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 바람직한 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템은 베이스유닛; 디스플레이 패널과 접속 가능하도록 상기 베이스유닛에 배치되는 프로브유닛; 상기 베이스유닛에 상기 프로브유닛을 슬라이드 이동 가능하게 결합시키는 슬라이딩유닛; 상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛의 슬라이드 이동을 위해 상기 베이스유닛에 구비되는 프로브배치유닛; 및 상기 프로브유닛에 구비되어 상기 프로브배치유닛과 탈부착 가능하게 결합되는 파지유닛;을 포함하며, 상기 파지유닛이 상기 프로브배치유닛에 결합된 상태에서는 상기 프로브유닛이 상기 슬라이딩유닛을 따라 이동 가능하고, 상기 프로브유닛이 정위치에 배치되면, 상기 파지유닛이 상기 프로브배치유닛에서 분리되고, 상기 프로브유닛이 상기 베이스유닛 상에 정지된다.According to a preferred embodiment for achieving the above object of the present invention, the test system of the display panel according to the present invention includes a base unit; a probe unit disposed on the base unit to be connectable to a display panel; a sliding unit for slidably coupling the probe unit to the base unit; a probe arrangement unit provided in the base unit for sliding movement of the probe unit from the base unit; and a holding unit provided in the probe unit and detachably coupled to the probe arrangement unit, wherein the probe unit is movable along the sliding unit when the holding unit is coupled to the probe arrangement unit, When the probe unit is placed in place, the holding unit is separated from the probe arrangement unit, and the probe unit is stopped on the base unit.

여기서, 상기 프로브배치유닛은, 상기 베이스유닛의 일측에 구비되는 구동풀리; 상기 베이스유닛의 타측에 구비되는 종동풀리; 상기 구동풀리와 상기 종동풀리 사이에서 무한 궤도를 형성하도록 상기 구동풀리와 상기 종동풀리를 연결하는 파지벨트; 및 상기 파지벨트의 이동을 위해 상기 구동풀리를 회전시키는 구동모터;를 포함한다.Here, the probe arrangement unit, a drive pulley provided on one side of the base unit; a driven pulley provided on the other side of the base unit; a gripping belt connecting the driving pulley and the driven pulley to form an endless track between the driving pulley and the driven pulley; and a drive motor for rotating the drive pulley to move the gripping belt.

여기서, 상기 프로브배치유닛은, 상기 파지벨트의 장력을 조절하는 장력풀리;를 더 포함한다.Here, the probe arrangement unit, a tension pulley for adjusting the tension of the grip belt; further includes.

여기서, 상기 파지유닛은, 상기 베이스유닛 또는 상기 프로브유닛 또는 상기 슬라이딩유닛에 구비되는 파지고정부; 상기 프로브배치유닛을 기준으로 상기 파지고정부와 마주보도록 배치되는 파지이동부; 및 상기 파지고정부와 상기 파지이동부가 상기 프로브배치유닛을 가압하기 위해 상기 파지이동부를 슬라이드 이동시키는 파지구동부;를 포함한다.Here, the holding unit may include a holding part provided in the base unit or the probe unit or the sliding unit; a gripping moving part disposed to face the gripping and holding part with respect to the probe placement unit; and a gripping part for sliding the gripping part and the gripping part for pressing the probe arrangement unit.

여기서, 상기 프로브유닛에는, 상기 파지이동부의 이동 경로를 형성하는 파지가이드;가 관통 형성되고, 상기 파지이동부는, 상기 파지고정부와 마주보도록 배치되는 파지부; 상기 파지가이드에서 슬라이드 이동 가능하도록 상기 파지부에서 연장되는 가이드이동부; 및 상기 가이드이동부의 슬라이드 이동을 위해 상기 가이드이동부에서 연장되어 상기 파지구동부와 결합되는 구동결합부;를 포함한다.Here, the probe unit, a gripping guide for forming a movement path of the gripping moving portion; is formed through, the gripping portion, the gripping portion disposed to face the gripping portion; a guide moving part extending from the holding part so as to be slidably movable in the holding guide; and a driving coupling part extending from the guide moving part for sliding movement of the guide moving part and coupled to the gripping driving part.

본 발명에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템은, 상기 프로브유닛이 정위치되는 부분을 감지하는 위치감지유닛; 및 상기 프로브유닛이 정위치되는 부분에 대응하여 상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛을 고정시키는 정위치정지유닛; 중 적어도 어느 하나를 더 포함한다.A test system for a display panel according to the present invention includes: a position sensing unit for detecting a portion where the probe unit is positioned; and a position stop unit for fixing the probe unit in the base unit corresponding to the portion at which the probe unit is located. It further comprises at least any one of.

여기서, 상기 위치감지유닛은, 상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛의 슬라이드 이동 방향을 따라 길게 형성되는 감지레일; 상기 프로브유닛의 슬라이드 이동에 대응하여 상기 감지레일에서 구름 이동 가능한 감지롤러; 및 상기 프로브유닛의 위치 확인을 위해 상기 감지롤러의 이동거리를 감지하는 엔코더;를 포함한다.Here, the position sensing unit may include: a sensing rail elongated along the slide movement direction of the probe unit in the base unit; a sensing roller capable of rolling on the sensing rail in response to the slide movement of the probe unit; and an encoder for detecting the moving distance of the sensing roller to confirm the position of the probe unit.

여기서, 상기 정위치정지유닛은, 상기 베이스유닛으로부터 돌출 형성되는 정지레일; 상기 정지레일에 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 정지가이드; 상기 정지가이드에 결합되는 정지블럭; 및 상기 파지유닛에서 상기 정지블럭을 향해 구비되고, 상기 파지유닛의 슬라이드 이동에 따라 상기 정지블럭에 밀착되는 이동블럭; 을 포함한다.Here, the position stop unit may include: a stop rail protruding from the base unit; a stop guide slidably coupled to the stop rail; a stop block coupled to the stop guide; and a moving block which is provided toward the stop block in the holding unit and is in close contact with the stop block according to the sliding movement of the holding unit. includes

본 발명에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템에 따르면, 프로브유닛의 위치 제어를 간편하고 빠르게 구현할 수 있다.According to the test system of the display panel according to the present invention, the position control of the probe unit can be implemented simply and quickly.

또한, 본 발명은 프로브배치유닛의 세부 구성을 통해 무한 궤도에서 프로브유닛의 이동 경로를 확보하는 한편, 파지유닛의 위치 결정력을 향상시킬 수 있다.In addition, the present invention can secure the movement path of the probe unit in the endless orbit through the detailed configuration of the probe arrangement unit, while improving the positioning power of the holding unit.

또한, 본 발명은 장력풀리의 부가 구성을 통해 프로브배치유닛에서 파지벨트가 장력에 의해 변형되는 것을 방지하고, 파지벨트의 장력을 안정화시킬 수 있다.In addition, the present invention can prevent the grip belt from being deformed by the tension in the probe arrangement unit through the additional configuration of the tension pulley, and stabilize the tension of the grip belt.

또한, 본 발명은 파지유닛의 세부 구성을 통해 프로브유닛의 슬라이드 이동에 대응하여 슬라이딩유닛 및 프로브배치유닛이 파지유닛에 간섭되는 것을 방지하고, 파지유닛이 슬라이딩유닛을 따라 슬라이드 이동하면서 프로브배치유닛을 안정되게 파지할 수 있다.In addition, the present invention prevents the sliding unit and the probe arranging unit from interfering with the holding unit in response to the sliding movement of the probe unit through the detailed configuration of the holding unit, and the holding unit slides along the sliding unit while moving the probe arranging unit. It can be held stably.

또한, 본 발명은 파지이동부의 세부 구성을 통해 베이스유닛에서 파지이동부의 결합 관계를 구체화하는 한편, 베이스유닛에서 파지이동부가 안정되게 슬라이드 이동되도록 한다.In addition, the present invention embodies the coupling relationship of the gripping moving part in the base unit through the detailed configuration of the gripping moving part, while allowing the gripping moving part in the base unit to slide stably.

또한, 본 발명은 위치감지유닛의 부가 구성을 통해 프로브유닛이 프로브배치유닛에 결합된 상태에서 슬라이딩유닛을 따라 슬라이드 이동될 때, 프로브유닛이 정지되어야 하는 위치를 명확하게 감지할 수 있다.In addition, the present invention can clearly detect the position at which the probe unit should be stopped when the probe unit slides along the sliding unit in a state coupled to the probe arrangement unit through the additional configuration of the position sensing unit.

또한, 본 발명은 정위치정지유닛의 부가 구성을 통해 정위치된 프로브유닛의 유동을 방지하고, 정위치 상태를 유지시킬 수 있다.In addition, the present invention can prevent the flow of the probe unit positioned in place through the additional configuration of the position stop unit, and maintain the position state.

또한, 본 발명은 프로브유닛의 세부 구성을 통해 프로브유닛의 정위치에 대응하여 프로브유닛과 디스플레이 패널의 전기적 접속을 안정화시킬 수 있다.In addition, according to the present invention, the electrical connection between the probe unit and the display panel can be stabilized in response to the correct position of the probe unit through the detailed configuration of the probe unit.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템을 도시한 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템을 도시한 분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템을 도시한 요부 확대사시도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템에서 프로브유닛을 도시한 분해사시도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템에서 프로브유닛이 프로브배치유닛에 결합되어 슬라이딩유닛에서 슬라이드 이동 가능한 상태를 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템에서 프로브유닛이 프로브배치유닛에서 분리되어 슬라이딩유닛에서 정지된 상태를 도시한 도면이다.1 is a perspective view illustrating a test system for a display panel according to an embodiment of the present invention.
2 is an exploded perspective view illustrating a test system for a display panel according to an embodiment of the present invention.
3 is an enlarged perspective view of a main part of a test system for a display panel according to an embodiment of the present invention.
4 is an exploded perspective view illustrating a probe unit in a test system for a display panel according to an embodiment of the present invention.
5 is a view showing a state in which the probe unit is coupled to the probe arrangement unit and slides on the sliding unit in the display panel test system according to an embodiment of the present invention.
6 is a view illustrating a state in which the probe unit is separated from the probe arrangement unit and is stopped at the sliding unit in the display panel test system according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템의 일 실시예를 설명한다. 이때, 본 발명은 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 공지된 기능 혹은 구성에 대해 구체적인 설명은 본 발명의 요지를 명확하게 하기 위해 생략될 수 있다.Hereinafter, an embodiment of a test system for a display panel according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. At this time, the present invention is not limited or limited by the examples. In addition, in describing the present invention, detailed descriptions of well-known functions or configurations may be omitted in order to clarify the gist of the present invention.

도 1 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템은 디스플레이 패널(D)의 전기 접속 상태를 검사할 때, 프로브유닛(20)의 위치 제어를 간편하고 빠르게 구현하여 프로브유닛(20)의 위치 결정력을 향상시킬 수 있다.1 to 6 , the test system of the display panel according to an embodiment of the present invention implements the position control of the probe unit 20 simply and quickly when inspecting the electrical connection state of the display panel D. Thus, the positioning power of the probe unit 20 can be improved.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템은 베이스유닛(10)과, 프로브유닛(20)과, 슬라이딩유닛(30)과, 프로브배치유닛(40)과, 파지유닛(50)을 포함하고, 위치감지유닛(60)과 정위치정지유닛(70) 중 적어도 어느 하나를 더 포함하고, 커버유닛(80)을 더 포함할 수 있다.A test system for a display panel according to an embodiment of the present invention includes a base unit 10 , a probe unit 20 , a sliding unit 30 , a probe arrangement unit 40 , and a gripping unit 50 . And, it further includes at least one of the position sensing unit 60 and the position stop unit 70, and may further include a cover unit (80).

베이스유닛(10)은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널의 테스트 시스템에서 디스플레이 패널(D)이 정위치되는 부분을 설정할 수 있다.The base unit 10 may set a portion where the display panel D is positioned in the display panel test system according to an embodiment of the present invention.

베이스유닛(10)은 정위치를 위한 디스플레이 패널(D)에 대응하여 길이 방향으로 길게 형성되는 장착바디부(11)와, 정위치를 위한 장착바디부(11)에 대응하여 장착바디부(11)에 결합되는 장착프레임부(12)를 포함할 수 있다.The base unit 10 includes a mounting body part 11 formed long in the longitudinal direction to correspond to the display panel D for a fixed position, and a mounting body part 11 to correspond to the mounting body part 11 for a fixed position. ) may include a mounting frame unit 12 coupled to.

장착바디부(11)에는 프로브유닛(20)과, 슬라이딩유닛(30)과, 프로브배치유닛(40)과, 파지유닛(50)과, 위치감지유닛(60)과, 정위치정지유닛(70) 중 적어도 어느 하나가 설치되는 기초를 형성할 수 있다.The mounting body portion 11 includes a probe unit 20 , a sliding unit 30 , a probe arrangement unit 40 , a gripping unit 50 , a position sensing unit 60 , and a position stop unit 70 . ) may form a foundation on which at least one of them is installed.

장착프레임부(12)는 디스플레이 패널(D)의 설치 위치에 대응하여 장착바디부(11)를 지지하여 장착바디부(11)가 정위치되도록 한다.The mounting frame unit 12 supports the mounting body unit 11 corresponding to the installation position of the display panel D so that the mounting body unit 11 is positioned properly.

프로브유닛(20)은 디스플레이 패널(D)과 접속 가능하도록 베이스유닛(10)에 배치된다. 프로브유닛(20)은 슬라이딩유닛(30)을 매개로 베이스유닛(10)에 슬라이드 이동 가능하게 결합된다.The probe unit 20 is disposed on the base unit 10 to be connectable to the display panel (D). The probe unit 20 is slidably coupled to the base unit 10 via the sliding unit 30 .

프로브유닛(20)은 슬라이딩유닛(30)을 매개로 베이스유닛(10)의 장착바디부(11)에 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 베이스바디부(21)와, 디스플레이 패널(D)과 전기적으로 접속되도록 베이스바디부(21)에서 왕복 이동 가능하게 결합되는 프로브모듈(22)과, 베이스바디부(21)를 기준으로 프로브모듈(22)을 왕복 이동시키는 구동모듈(23)을 포함할 수 있다.The probe unit 20 is electrically connected to the base body part 21 that is slidably coupled to the mounting body part 11 of the base unit 10 via the sliding unit 30 and the display panel (D). It may include a probe module 22 coupled so as to be reciprocally movable in the base body part 21 and a driving module 23 for reciprocally moving the probe module 22 based on the base body part 21 .

그러면, 디폴트 상태에서 프로브모듈(22)에 구비된 프로브핀은 디스플레이 패널(D)에서 이격되고, 구동모듈(23)의 동작에 따라 프로브모듈(22)이 이동하면, 프로브모듈(22)에 구비된 프로브핀은 디스플레이 패널(D)에 전기적으로 접속된다.Then, in the default state, the probe pins provided in the probe module 22 are spaced apart from the display panel D, and when the probe module 22 moves according to the operation of the driving module 23, the probe pins are provided in the probe module 22 The connected probe pins are electrically connected to the display panel (D).

프로브유닛(20)에서 베이스바디부(21)에는 파지유닛(50)에 구비되는 파지이동부(52)의 이동 경로를 형성하는 파지가이드(501)가 관통 형성될 수 있다. 파지가이드(501)는 파지유닛(50)에 구비되는 파지이동부(52)가 슬라이드 이동되는 경로를 형성할 수 있다.In the probe unit 20 , a gripping guide 501 forming a movement path of the gripping moving part 52 provided in the gripping unit 50 may be formed through the base body 21 . The gripping guide 501 may form a path through which the gripping moving part 52 provided in the gripping unit 50 slides.

베이스바디부(21)에는 프로브모듈(22)이 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 프로브가이드부(211)가 구비되어 프로브모듈(22)의 유동을 방지할 수 있다.A probe guide part 211 to which the probe module 22 is slidably coupled is provided in the base body part 21 to prevent the probe module 22 from moving.

슬라이딩유닛(30)은 베이스유닛(10)에 프로브유닛(20)을 슬라이드 이동 가능하게 결합시킨다.The sliding unit 30 slidably couples the probe unit 20 to the base unit 10 .

슬라이딩유닛(30)은 베이스유닛(10)에 구비되어 장착바디부(11)에 길게 형성되는 슬라이딩레일(31)과,프로브유닛(20)의 베이스유닛(10)의 베이스바디부(21)에 결합되어 슬라이딩레일(31)에 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 슬라이딩가이드(32)를 포함할 수 있다.The sliding unit 30 is provided on the base unit 10 and has a sliding rail 31 formed to be long on the mounting body portion 11, and the base body portion 21 of the base unit 10 of the probe unit 20. It may include a sliding guide 32 coupled to the sliding rail 31 to be slidably coupled.

프로브배치유닛(40)은 베이스유닛(10)에서 프로브유닛(20)의 슬라이드 이동을 위해 베이스유닛(10)에 구비된다.The probe arrangement unit 40 is provided in the base unit 10 for sliding movement of the probe unit 20 from the base unit 10 .

프로브배치유닛(40)은 베이스유닛(10)의 장착바디부(11)의 일측에 구비되는 구동풀리(41)와, 베이스유닛(10)의 장착바디부(11)의 타측에 구비되는 종동풀리(42)와, 구동풀리(41)와 종동풀리(42) 사이에서 무한 궤도를 형성하도록 구동풀리(41)와 종동풀리(42)를 연결하는 파지벨트(43)와, 파지벨트(43)의 이동을 위해 구동풀리(41)를 회전시키는 구동모터(44)를 포함할 수 있다.The probe arrangement unit 40 includes a driving pulley 41 provided at one side of the mounting body unit 11 of the base unit 10 and a driven pulley provided at the other side of the mounting body unit 11 of the base unit 10 . (42), and a gripping belt 43 connecting the driving pulley 41 and the driven pulley 42 to form an endless track between the driving pulley 41 and the driven pulley 42, and the gripping belt 43 It may include a driving motor 44 for rotating the driving pulley 41 for movement.

프로브배치유닛(40)은 파지벨트(43)의 장력을 조절하는 장력풀리(45)를 더 포함할 수 있다. 장력풀리(45)는 구동풀리(41)와 종동풀리(42) 중 적어도 어느 하나에 인접하여 파지벨트(43)를 가압함으로써, 파지벨트(43)의 장력을 조절할 수 있다.The probe arrangement unit 40 may further include a tension pulley 45 for adjusting the tension of the grip belt 43 . The tension pulley 45 may adjust the tension of the gripping belt 43 by pressing the gripping belt 43 adjacent to at least one of the driving pulley 41 and the driven pulley 42 .

도시되지 않았지만, 프로브배치유닛(40)은 장력풀리(45)가 파지벨트(43)를 가압하는 힘을 조절하는 장력조절부(미도시)를 더 포함할 수 있다. 장력조절부(미도시)는 베이스유닛(10)의 장착바디부(11)를 기준으로 장력풀리(45)가 파지벨트(43)를 탄성 가압하도록 할 수 있다.Although not shown, the probe arrangement unit 40 may further include a tension adjustment unit (not shown) for adjusting the force of the tension pulley 45 pressing the grip belt 43 . The tension adjusting unit (not shown) may allow the tension pulley 45 to elastically press the gripping belt 43 based on the mounting body portion 11 of the base unit 10 .

여기서, 프로브배치유닛(40)의 구조를 한정하는 것은 아니고, 프로브배치유닛(40)은 베이스유닛(10)에서 프로브유닛(20)을 슬라이드 이동시켜 정위치에 배치할 수 있으면, 충분하다.Here, the structure of the probe placement unit 40 is not limited, and the probe placement unit 40 is sufficient as long as it can be placed in a fixed position by sliding the probe unit 20 from the base unit 10 .

파지유닛(50)은 프로브유닛(20)에 구비되어 프로브배치유닛(40)과 탈부착 가능하게 결합된다.The holding unit 50 is provided in the probe unit 20 and is detachably coupled to the probe arrangement unit 40 .

파지유닛(50)은 베이스유닛(10) 또는 프로브유닛(20) 또는 슬라이딩유닛(30)에 구비되는 파지고정부(51)와, 프로브배치유닛(40)을 기준으로 파지고정부(51)와 마주보도록 배치되는 파지이동부(52)와, 파지고정부(51)와 파지이동부(52)가 프로브배치유닛(40)을 가압하기 위해 파지이동부(52)를 슬라이드 이동시키는 파지구동부(53)를 포함할 수 있다.The gripping unit 50 includes a gripping portion 51 provided in the base unit 10 or the probe unit 20 or the sliding unit 30, and a gripping portion 51 based on the probe placement unit 40 and A gripping moving part 52 disposed to face each other, and a gripping and moving part 51 and a gripping moving part 52 sliding the gripping moving part 52 in order to press the probe placement unit 40. can do.

파지유닛(50)의 파지고정부(51)와 파지이동부(52) 중 적어도 어느 하나에는 프로브배치유닛(40)의 파지벨트(43)와 마주보는 면에 돌출 형성되는 파지요철부(502)가 구비됨으로써, 파지유닛(50)의 파지고정부(51)와 파지이동부(52)가 파지벨트(43)를 파지하는 파지력을 향상시킬 수 있고, 파지유닛(50)이 파지벨트(43)를 파지할 때, 파지벨트(43)가 파지유닛(50)에서 유동되는 것을 방지할 수 있다.At least one of the gripping portion 51 and the gripping moving portion 52 of the gripping unit 50 has a gripping protrusion 502 protruding from the surface facing the gripping belt 43 of the probe placement unit 40 . By being provided, the gripping unit 51 and the gripping moving part 52 of the gripping unit 50 can improve the gripping force for gripping the gripping belt 43 , and the gripping unit 50 grips the gripping belt 43 . When doing so, it is possible to prevent the grip belt 43 from flowing in the grip unit 50 .

그러면, 파지유닛(50)에서 파지고정부(51)를 기준으로 파지이동부(52)가 파지벨트(43)를 가압함으로써, 파지벨트(43)는 파지고정부(51)와 파지이동부(52)에 의해 파지되고, 프로브배치유닛(40)의 파지벨트(43)가 이동함에 따라 프로브유닛(20)은 슬라이딩유닛(30)을 매개로 슬라이드 이동된다. 그리고 프로브유닛(20)이 정위치되면, 파지이동부(52)가 베이스유닛(10)에서 슬라이드 이동됨에 따라 파지고정부(51)와 파지이동부(52)는 파지벨트(43)에서 이격되고, 파지벨트(43)가 이동되더라도 프로브유닛(20)은 정위치에 고정된 상태를 유지할 수 있다.Then, in the grip unit 50, the grip moving part 52 presses the grip belt 43 with respect to the grip holding part 51 as a reference, so that the grip belt 43 is the gripping part 51 and the grip moving part 52. , and as the gripping belt 43 of the probe arrangement unit 40 moves, the probe unit 20 slides through the sliding unit 30 . And when the probe unit 20 is positioned correctly, the gripping part 51 and the gripping moving part 52 are spaced apart from the gripping belt 43 as the gripping moving part 52 slides in the base unit 10, and the gripping Even if the belt 43 is moved, the probe unit 20 may maintain a fixed state in the original position.

파지이동부(52)는 파지고정부(51)와 마주보도록 배치되는 파지부(521)와, 파지가이드(501)에서 슬라이드 이동 가능하도록 파지부(521)에서 연장되는 가이드이동부(522)와, 가이드이동부(522)의 슬라이드 이동을 위해 가이드이동부(522)에서 연장되어 파지구동부(53)와 결합되는 구동결합부(523)를 포함할 수 있다.The gripping part 52 includes a gripping part 521 disposed to face the gripping part 51, a guide moving part 522 extending from the gripping part 521 so as to be slidably movable in the gripping guide 501, and the guide It may include a driving coupling part 523 extending from the guide moving part 522 and coupled to the gripping driving part 53 for the sliding movement of the east part 522 .

여기서, 파지가이드(501)는 베이스유닛(10)의 장착바디부(11)에 길게 관통 형성된다.Here, the gripping guide 501 is formed to pass through the mounting body portion 11 of the base unit 10 .

위치감지유닛(60)은 프로브유닛(20)이 정위치되는 부분을 감지한다.The position sensing unit 60 detects a portion where the probe unit 20 is positioned.

위치감지유닛(60)은 베이스유닛(10)에서 프로브유닛(20)의 슬라이드 이동 방향을 따라 길게 형성되는 감지레일(61)과, 프로브유닛(20)의 슬라이드 이동에 대응하여 감지레일(61)에서 구름 이동 가능한 감지롤러(62)와, 프로브유닛(20)의 위치 확인을 위해 감지롤러(62)의 이동거리를 감지하는 엔코더(63)를 포함할 수 있다.The position sensing unit 60 includes a sensing rail 61 formed long along the slide movement direction of the probe unit 20 in the base unit 10 and a sensing rail 61 corresponding to the slide movement of the probe unit 20 . It may include an encoder 63 that detects the moving distance of the sensing roller 62 in order to confirm the position of the rolling detection roller 62 and the probe unit 20 in the rolling motion.

그러면, 엔코더(63)는 감지롤러(62)의 이동거리를 감지함으로써, 최초 위치를 기준으로 감지레일(61)에서 구름 이동되는 감지롤러(62)의 회전량에 대응하여 프로브유닛(20)의 슬라이드 이동량을 산출할 수 있고, 해당 프로브유닛(20)이 정위치되는 부분을 명확하게 설정할 수 있다.Then, the encoder 63 detects the movement distance of the detection roller 62, and corresponds to the rotation amount of the detection roller 62 rolling on the detection rail 61 based on the initial position of the probe unit 20. It is possible to calculate the amount of slide movement, and it is possible to clearly set a portion where the corresponding probe unit 20 is positioned.

위치감지유닛(60)은 베이스유닛(10)의 장착바디부(11)에서 감지롤러(62)를 회전 가능하게 지지하고, 엔코더(63)가 결합되는 감지브라켓(64)을 더 포함할수 있다.The position sensing unit 60 rotatably supports the sensing roller 62 in the mounting body 11 of the base unit 10, and may further include a sensing bracket 64 to which the encoder 63 is coupled.

정위치정지유닛(70)은 프로브유닛(20)이 정위치되는 부분에 대응하여 베이스유닛(10)에서 프로브유닛(20)을 고정시킨다. 정위치정지유닛(70)은 파지유닛(50)의 파지이동부(52)가 슬라이드 이동되는 동작과 연계될 수 있다.The position stop unit 70 fixes the probe unit 20 in the base unit 10 corresponding to the portion where the probe unit 20 is positioned. The in-place stop unit 70 may be associated with an operation in which the gripping unit 52 of the gripping unit 50 slides.

정위치정지유닛(70)은 베이스유닛(10)으로부터 돌출 형성되는 정지레일(71)과, 정지레일(71)에 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 정지가이드(72)와, 정지가이드(72)에 결합되는 정지블럭(73)과, 파지유닛(50)에서 정지블럭(73)을 향해 구비되고 파지유닛(50)의 슬라이드 이동에 따라 정지블럭(73)에 밀착되는 이동블럭(74)을 포함할 수 있다.The in-place stop unit 70 is coupled to a stop rail 71 protruding from the base unit 10 , a stop guide 72 slidably coupled to the stop rail 71 , and the stop guide 72 . It may include a stop block 73 that is used, and a moving block 74 that is provided toward the stop block 73 in the holding unit 50 and is in close contact with the stop block 73 according to the slide movement of the holding unit 50 . have.

여기서, 정지블럭(73)에는 정지경사부(731)가 구비되고, 이동블럭(74)에는 이동경사부(741)가 구비되는 것이 유리하다. 정지경사부(731)는 이동블럭(74) 쪽의 단부로부터 정지레일(71)을 향해 상향 경사를 이루고 이동경사부(741)는 정지블럭(73) 쪽의 단부로부터 파지이동부(52)를 향해 하향 경사를 이루므로, 정지블럭(73)과 이동블럭(74)이 파지벨트(43)를 파지하면, 정지경사부(731)와 이동경사부(741)의 접촉이 해제되고, 정지블럭(73)과 이동블럭(74)이 파지벨트(43)에서 이격되면, 정지경사부(731)와 이동경사부(741)가 접촉되면서 이동블럭(74)은 정지가이드(72)와 함께 정지레일(71)을 따라 이동하게 된다. 이때, 정지가이드(72)는 베이스유닛(10)의 장착바디부(11)를 가압 고정함에 따라 베이스유닛(10)에서 프로브유닛(20)의 정지 상태를 명확하게 할 수 있다.Here, it is advantageous that the stop block 73 is provided with a stop inclined unit 731 , and the moving block 74 is provided with a moving inclined unit 741 . The stop slope 731 is inclined upward from the end of the moving block 74 toward the stop rail 71 , and the moving slope 741 is moved from the end of the stop block 73 toward the gripping moving unit 52 . Since it is inclined downward, when the stop block 73 and the moving block 74 grip the grip belt 43, the contact between the stop inclined portion 731 and the moving inclined portion 741 is released, and the stop block 73 ) and the moving block 74 are spaced apart from the gripping belt 43 , the moving block 74 comes into contact with the stop inclined portion 731 and the moving inclined portion 741 , and the stop rail 71 together with the stop guide 72 . ) will follow. At this time, the stop guide 72 can clarify the stop state of the probe unit 20 in the base unit 10 by pressing and fixing the mounting body portion 11 of the base unit 10 .

정위치정지유닛(70)은 정지레일(71)을 기준으로 정지블럭(73)과 이동블럭(74)을 밀착시키는 밀착부(75)를 더 포함할 수 있다. 일예로, 밀착부(75)는 정지레일(71)을 기준으로 정지가이드(72)를 베이스유닛(10)의 장착바디부(11)를 향해 탄성 가압할 수 있다.The in-place stop unit 70 may further include a contact portion 75 for adhering the stop block 73 and the moving block 74 to each other based on the stop rail 71 . For example, the contact portion 75 may elastically press the stop guide 72 toward the mounting body portion 11 of the base unit 10 based on the stop rail 71 .

커버유닛(80)은 프로브유닛(20)에 구비되는 파지유닛(50)과 위치감지유닛(60)과 정위치정지유닛(70)을 감싸도록 프로브유닛(20)의 베이스바디부(21)에 결합됨으로써, 프로브유닛(20)에 구비되는 파지유닛(50)과 위치감지유닛(60)과 정위치정지유닛(70)을 보호할 수 있다.The cover unit 80 is on the base body 21 of the probe unit 20 so as to surround the holding unit 50, the position sensing unit 60, and the position stop unit 70 provided in the probe unit 20. By being coupled, it is possible to protect the holding unit 50, the position sensing unit 60, and the position stop unit 70 provided in the probe unit 20.

그러면, 파지유닛(50)이 프로브배치유닛(40)에 결합된 상태에서는 프로브유닛(20)이 슬라이딩유닛(30)을 따라 이동 가능하므로, 프로브배치유닛(40)의 동작에 따라 프로브유닛(20)은 슬라이딩유닛(30)을 따라 이동되고, 위치감지유닛(60)에 의해 프로브유닛(20)이 정위치에 배치되면, 파지유닛(50)이 프로브배치유닛(40)에서 분리되고, 프로브유닛(20)이 베이스유닛(10) 상에 정지된다. 파지유닛(50)이 프로브배치유닛(40)에서 분리된 상태가 되면, 이동블럭(74)이 정지블럭(73)에 밀착됨에 따라 정지가이드(72)는 정지레일(71)에서 슬라이드 이동되므로, 정지블럭(73) 또는 정지가이드(72)가 베이스유닛의 장착바디부(11)를 가압 지지하고, 프로브유닛(20)은 베이스유닛(10)에 정위치 고정된다.Then, in a state in which the holding unit 50 is coupled to the probe arrangement unit 40 , the probe unit 20 is movable along the sliding unit 30 , so the probe unit 20 according to the operation of the probe arrangement unit 40 . ) is moved along the sliding unit 30 , and when the probe unit 20 is placed in the correct position by the position sensing unit 60 , the holding unit 50 is separated from the probe arrangement unit 40 , and the probe unit (20) rests on the base unit (10). When the holding unit 50 is separated from the probe arrangement unit 40, as the moving block 74 is in close contact with the stop block 73, the stop guide 72 slides on the stop rail 71, The stop block 73 or the stop guide 72 presses and supports the mounting body 11 of the base unit, and the probe unit 20 is fixed in place on the base unit 10 .

다음으로, 프로브유닛(20)의 프로브모듈(22)은 구동모듈(23)의 동작에 따라 디스플레이 패널(D)에 접속되어 디스플레이 패널(D)을 테스트할 수 있다.Next, the probe module 22 of the probe unit 20 may be connected to the display panel D according to the operation of the driving module 23 to test the display panel D.

상술한 디스플레이 패널의 테스트 시스템에 따르면, 프로브유닛(20)의 위치 제어를 간편하고 빠르게 구현할 수 있다.According to the test system of the display panel described above, the position control of the probe unit 20 can be implemented simply and quickly.

또한, 프로브배치유닛(40)의 세부 구성을 통해 무한 궤도에서 프로브유닛(20)의 이동 경로를 확보하는 한편, 파지유닛(50)의 위치 결정력을 향상시킬 수 있다.In addition, it is possible to secure the movement path of the probe unit 20 in the endless orbit through the detailed configuration of the probe arrangement unit 40 , while improving the positioning power of the holding unit 50 .

또한, 장력풀리(45)의 부가 구성을 통해 프로브배치유닛(40)에서 파지벨트(43)가 장력에 의해 변형되는 것을 방지하고, 파지벨트(43)의 장력을 안정화시킬 수 있다.In addition, through the additional configuration of the tension pulley 45, it is possible to prevent the grip belt 43 from being deformed by the tension in the probe arrangement unit 40, and to stabilize the tension of the grip belt 43.

또한, 파지유닛(50)의 세부 구성을 통해 프로브유닛(20)의 슬라이드 이동에 대응하여 슬라이딩유닛(30) 및 프로브배치유닛(40)이 파지유닛(50)에 간섭되는 것을 방지하고, 파지유닛(50)이 슬라이딩유닛(30)을 따라 슬라이드 이동하면서 프로브배치유닛(40)을 안정되게 파지할 수 있다.In addition, in response to the slide movement of the probe unit 20 through the detailed configuration of the gripping unit 50, the sliding unit 30 and the probe placement unit 40 are prevented from interfering with the gripping unit 50, and the gripping unit The probe arrangement unit 40 can be stably gripped while the 50 slides along the sliding unit 30 .

또한, 파지이동부(52)의 세부 구성을 통해 베이스유닛(10)에서 파지이동부(52)의 결합 관계를 구체화하는 한편, 베이스유닛(10)에서 파지이동부(52)가 안정되게 슬라이드 이동되도록 한다.In addition, through the detailed configuration of the gripping moving part 52, the coupling relationship of the gripping moving part 52 in the base unit 10 is specified, while the gripping moving part 52 in the base unit 10 is stably slidably moved.

또한, 위치감지유닛(60)의 부가 구성을 통해 프로브유닛(20)이 프로브배치유닛(40)에 결합된 상태에서 슬라이딩유닛(30)을 따라 슬라이드 이동될 때, 프로브유닛(20)이 정지되어야 하는 위치를 명확하게 감지할 수 있다.In addition, when the probe unit 20 slides along the sliding unit 30 in a state coupled to the probe arrangement unit 40 through the additional configuration of the position sensing unit 60, the probe unit 20 must be stopped. position can be clearly detected.

또한, 정위치정지유닛(70)의 부가 구성을 통해 정위치된 프로브유닛(20)의 유동을 방지하고, 정위치 상태를 유지시킬 수 있다.In addition, it is possible to prevent the flow of the probe unit 20 in the position through the additional configuration of the position stop unit 70, and maintain the position state.

또한, 프로브유닛(20)의 세부 구성을 통해 프로브유닛(20)의 정위치에 대응하여 프로브유닛(20)과 디스플레이 패널(D)의 전기적 접속을 안정화시킬 수 있다.In addition, through the detailed configuration of the probe unit 20 , it is possible to stabilize the electrical connection between the probe unit 20 and the display panel D in response to the correct position of the probe unit 20 .

상술한 바와 같이 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면, 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 또는 변경시킬 수 있다.Although the preferred embodiment of the present invention has been described with reference to the drawings as described above, those skilled in the art may vary the present invention in various ways without departing from the spirit and scope of the present invention as set forth in the following claims. may be modified or changed.

10: 베이스유닛 11: 장착바디부 12: 장착프레임부
20: 프로브유닛 21: 베이스바디부 211: 프로브가이드부
22: 프로브모듈 23: 구동모듈 30: 슬라이딩유닛
31: 슬라이딩레일 32: 슬라이딩가이드 40: 프로브배치유닛
41: 구동풀리 42: 종동풀리 43: 파지벨트
44: 구동모터 45: 장력풀리 50: 파지유닛
51: 파지고정부 52: 파지이동부 521: 파지부
522: 가이드이동부 523: 구동결합부 53: 파지구동부
501: 파지가이드 502: 파지요철부 60: 위치감지유닛
61: 감지레일 62: 감지롤러 63: 엔코더
64: 감지브라켓 70: 정위치정지유닛 71: 정지레일
72: 정지가이드 73: 정지블럭 731: 정지경사부
74: 이동블럭 741: 이동경사부 75: 밀착부
80: 커버유닛 D: 디스플레이 패널10: base unit 11: mounting body part 12: mounting frame part
20: probe unit 21: base body part 211: probe guide part
22: probe module 23: drive module 30: sliding unit
31: sliding rail 32: sliding guide 40: probe arrangement unit
41: drive pulley 42: driven pulley 43: grip belt
44: drive motor 45: tension pulley 50: gripping unit
51: holding part 52: holding moving part 521: holding part
522: guide moving part 523: driving coupling part 53: grip driving part
501: grip guide 502: grip convex portion 60: position sensing unit
61: sensing rail 62: sensing roller 63: encoder
64: detection bracket 70: exact stop unit 71: stop rail
72: stop guide 73: stop block 731: stop slope
74: moving block 741: moving inclined unit 75: contact unit
80: cover unit D: display panel

Claims (8)

베이스유닛;
디스플레이 패널과 접속 가능하도록 상기 베이스유닛에 배치되는 프로브유닛;
상기 베이스유닛에 상기 프로브유닛을 슬라이드 이동 가능하게 결합시키는 슬라이딩유닛;
상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛의 슬라이드 이동을 위해 상기 베이스유닛에 구비되는 프로브배치유닛; 및
상기 프로브유닛에 구비되어 상기 프로브배치유닛과 탈부착 가능하게 결합되는 파지유닛;을 포함하며,
상기 프로브유닛이 정위치되는 부분을 감지하는 위치감지유닛; 및
상기 프로브유닛이 정위치되는 부분에 대응하여 상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛을 고정시키는 정위치정지유닛;
중 적어도 어느 하나를 더 포함하고,
상기 파지유닛이 상기 프로브배치유닛에 결합된 상태에서는 상기 프로브유닛이 상기 슬라이딩유닛을 따라 이동 가능하고,
상기 프로브유닛이 정위치에 배치되면, 상기 파지유닛이 상기 프로브배치유닛에서 분리되고, 상기 프로브유닛이 상기 베이스유닛 상에 정지되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 테스트 시스템.
base unit;
a probe unit disposed on the base unit to be connectable to a display panel;
a sliding unit for slidably coupling the probe unit to the base unit;
a probe arrangement unit provided in the base unit for sliding movement of the probe unit from the base unit; and
It includes; a holding unit provided in the probe unit and detachably coupled to the probe arrangement unit;
a position sensing unit for detecting a portion where the probe unit is positioned; and
a position stop unit for fixing the probe unit in the base unit corresponding to the portion at which the probe unit is placed;
further comprising at least one of
In a state in which the holding unit is coupled to the probe arrangement unit, the probe unit is movable along the sliding unit,
When the probe unit is placed in a fixed position, the holding unit is separated from the probe arrangement unit, and the probe unit is stopped on the base unit.
 베이스유닛;
디스플레이 패널과 접속 가능하도록 상기 베이스유닛에 배치되는 프로브유닛;
상기 베이스유닛에 상기 프로브유닛을 슬라이드 이동 가능하게 결합시키는 슬라이딩유닛;
상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛의 슬라이드 이동을 위해 상기 베이스유닛에 구비되는 프로브배치유닛; 및
상기 프로브유닛에 구비되어 상기 프로브배치유닛과 탈부착 가능하게 결합되는 파지유닛;을 포함하며,
상기 파지유닛이 상기 프로브배치유닛에 결합된 상태에서는 상기 프로브유닛이 상기 슬라이딩유닛을 따라 이동 가능하고,
상기 프로브유닛이 정위치에 배치되면, 상기 파지유닛이 상기 프로브배치유닛에서 분리되고, 상기 프로브유닛이 상기 베이스유닛 상에 정지되며,
상기 프로브배치유닛은,
상기 베이스유닛의 일측에 구비되는 구동풀리;
상기 베이스유닛의 타측에 구비되는 종동풀리;
상기 구동풀리와 상기 종동풀리 사이에서 무한 궤도를 형성하도록 상기 구동풀리와 상기 종동풀리를 연결하는 파지벨트; 및
상기 파지벨트의 이동을 위해 상기 구동풀리를 회전시키는 구동모터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 테스트 시스템.
base unit;
a probe unit disposed on the base unit to be connectable to a display panel;
a sliding unit for slidably coupling the probe unit to the base unit;
a probe arrangement unit provided in the base unit for sliding movement of the probe unit from the base unit; and
It includes; a holding unit provided in the probe unit and detachably coupled to the probe arrangement unit;
In a state in which the holding unit is coupled to the probe arrangement unit, the probe unit is movable along the sliding unit,
When the probe unit is placed in position, the holding unit is separated from the probe arrangement unit, and the probe unit is stopped on the base unit,
The probe placement unit,
a driving pulley provided on one side of the base unit;
a driven pulley provided on the other side of the base unit;
a gripping belt connecting the driving pulley and the driven pulley to form an endless track between the driving pulley and the driven pulley; and
and a driving motor for rotating the driving pulley to move the gripping belt.
 제2항에 있어서,
상기 프로브배치유닛은,
상기 파지벨트의 장력을 조절하는 장력풀리;를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 테스트 시스템.
3. The method of claim 2,
The probe placement unit,
The test system of the display panel further comprising; a tension pulley for adjusting the tension of the grip belt.
 제2항에 있어서,
상기 프로브유닛이 정위치되는 부분을 감지하는 위치감지유닛; 및
상기 프로브유닛이 정위치되는 부분에 대응하여 상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛을 고정시키는 정위치정지유닛;
중 적어도 어느 하나를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 테스트 시스템.
3. The method of claim 2,
a position sensing unit for detecting a portion where the probe unit is positioned; and
a position stop unit for fixing the probe unit in the base unit corresponding to the portion at which the probe unit is placed;
A test system for a display panel, characterized in that it further comprises at least one of.
 베이스유닛;
디스플레이 패널과 접속 가능하도록 상기 베이스유닛에 배치되는 프로브유닛;
상기 베이스유닛에 상기 프로브유닛을 슬라이드 이동 가능하게 결합시키는 슬라이딩유닛;
상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛의 슬라이드 이동을 위해 상기 베이스유닛에 구비되는 프로브배치유닛; 및
상기 프로브유닛에 구비되어 상기 프로브배치유닛과 탈부착 가능하게 결합되는 파지유닛;을 포함하며,
상기 파지유닛이 상기 프로브배치유닛에 결합된 상태에서는 상기 프로브유닛이 상기 슬라이딩유닛을 따라 이동 가능하고,
상기 프로브유닛이 정위치에 배치되면, 상기 파지유닛이 상기 프로브배치유닛에서 분리되고, 상기 프로브유닛이 상기 베이스유닛 상에 정지되며,
상기 파지유닛은,
상기 베이스유닛 또는 상기 프로브유닛 또는 상기 슬라이딩유닛에 구비되는 파지고정부;
상기 프로브배치유닛을 기준으로 상기 파지고정부와 마주보도록 배치되는 파지이동부; 및
상기 파지고정부와 상기 파지이동부가 상기 프로브배치유닛을 가압하기 위해 상기 파지이동부를 슬라이드 이동시키는 파지구동부;를 포함하고,
상기 프로브유닛에는,
상기 파지이동부의 이동 경로를 형성하는 파지가이드;가 관통 형성되며,
상기 파지이동부는,
상기 파지고정부와 마주보도록 배치되는 파지부;
상기 파지가이드에서 슬라이드 이동 가능하도록 상기 파지부에서 연장되는 가이드이동부; 및
상기 가이드이동부의 슬라이드 이동을 위해 상기 가이드이동부에서 연장되어 상기 파지구동부와 결합되는 구동결합부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 테스트 시스템.
base unit;
a probe unit disposed on the base unit to be connectable to a display panel;
a sliding unit for slidably coupling the probe unit to the base unit;
a probe arrangement unit provided in the base unit for sliding movement of the probe unit from the base unit; and
It includes; a holding unit provided in the probe unit and detachably coupled to the probe arrangement unit;
In a state in which the holding unit is coupled to the probe arrangement unit, the probe unit is movable along the sliding unit,
When the probe unit is placed in position, the holding unit is separated from the probe arrangement unit, and the probe unit is stopped on the base unit,
The holding unit,
a holding part provided in the base unit, the probe unit, or the sliding unit;
a gripping moving part disposed to face the gripping and holding part with respect to the probe placement unit; and
Containing; and
In the probe unit,
A gripping guide forming a movement path of the gripping moving part; is formed through,
The grip moving part,
a gripping portion disposed to face the gripping portion;
a guide moving part extending from the holding part so as to be slidably movable in the holding guide; and
and a driving coupling part extending from the guide moving part for sliding movement of the guide moving part and coupled to the gripping driving part.
 제5항에 있어서,
상기 프로브유닛이 정위치되는 부분을 감지하는 위치감지유닛; 및
상기 프로브유닛이 정위치되는 부분에 대응하여 상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛을 고정시키는 정위치정지유닛;
중 적어도 어느 하나를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 테스트 시스템.
6. The method of claim 5,
a position sensing unit for detecting a portion where the probe unit is positioned; and
a position stop unit for fixing the probe unit in the base unit corresponding to the portion at which the probe unit is placed;
A test system for a display panel, characterized in that it further comprises at least one of.
 제1항과 제4항과 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 위치감지유닛은,
상기 베이스유닛에서 상기 프로브유닛의 슬라이드 이동 방향을 따라 길게 형성되는 감지레일;
상기 프로브유닛의 슬라이드 이동에 대응하여 상기 감지레일에서 구름 이동 가능한 감지롤러; 및
상기 프로브유닛의 위치 확인을 위해 상기 감지롤러의 이동거리를 감지하는 엔코더;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 테스트 시스템.
7. The method of any one of claims 1, 4 and 6,
The position sensing unit,
a sensing rail extending from the base unit along a slide movement direction of the probe unit;
a sensing roller capable of rolling on the sensing rail in response to the slide movement of the probe unit; and
and an encoder for detecting the moving distance of the sensing roller to confirm the position of the probe unit.
 제1항과 제4항과 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 정위치정지유닛은,
상기 베이스유닛으로부터 돌출 형성되는 정지레일;
상기 정지레일에 슬라이드 이동 가능하게 결합되는 정지가이드;
상기 정지가이드에 결합되는 정지블럭; 및
상기 파지유닛에서 상기 정지블럭을 향해 구비되고, 상기 파지유닛의 슬라이드 이동에 따라 상기 정지블럭에 밀착되는 이동블럭; 을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널의 테스트 시스템.
7. The method of any one of claims 1, 4 and 6,
The in-place stop unit,
a stop rail protruding from the base unit;
a stop guide slidably coupled to the stop rail;
a stop block coupled to the stop guide; and
a moving block which is provided toward the stop block in the holding unit and is in close contact with the stop block according to the sliding movement of the holding unit; A test system for a display panel comprising a.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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