KR102262511B1 - Temperature tunable lens zig and lens measurement apparatus having the same - Google Patents
Temperature tunable lens zig and lens measurement apparatus having the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR102262511B1 KR102262511B1 KR1020190128133A KR20190128133A KR102262511B1 KR 102262511 B1 KR102262511 B1 KR 102262511B1 KR 1020190128133 A KR1020190128133 A KR 1020190128133A KR 20190128133 A KR20190128133 A KR 20190128133A KR 102262511 B1 KR102262511 B1 KR 102262511B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- lens
- jig
- temperature
- heating assembly
- hole
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims abstract description 45
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 8
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims 7
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 2
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B13/00—Optical objectives specially designed for the purposes specified below
- G02B13/14—Optical objectives specially designed for the purposes specified below for use with infrared or ultraviolet radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0207—Details of measuring devices
- G01M11/0214—Details of devices holding the object to be tested
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/04—Optical benches therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/08—Testing mechanical properties
- G01M11/081—Testing mechanical properties by using a contact-less detection method, i.e. with a camera
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/004—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements based on a displacement or a deformation of a fluid
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/02—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses
- G02B7/028—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements for lenses with means for compensating for changes in temperature or for controlling the temperature; thermal stabilisation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
Abstract
일 실시예에 따른 온도 가변형 렌즈 지그는, 관통홀을 갖는 지그 베이스; 및 지그 베이스의 관통홀에 정렬되는 중공부를 갖는 히팅 어셈블리를 포함하고, 히팅 어셈블리는 중공부 내의 온도를 변화시킨다.A temperature variable lens jig according to an embodiment includes a jig base having a through hole; and a heating assembly having a hollow portion aligned with the through hole of the jig base, wherein the heating assembly changes a temperature in the hollow portion.
Description
본 발명은 렌즈 지그 및 렌즈 측정 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다양한 온도에서 렌즈 성능을 측정하기 위한 온도 가변형 렌즈 지그 및 그것을 갖는 렌즈 측정 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a lens jig and a lens measuring device, and more particularly, to a temperature variable lens jig for measuring lens performance at various temperatures, and a lens measuring device having the same.
자동차, 휴대폰, CCTV 등 다양한 분야에서 광학 촬상을 위한 시스템들에 다양한 렌즈들이 사용되고 있다. 렌즈는 다양한 외부 환경에서 사용되므로, 렌즈의 사용 환경 변화에 따라 해상도가 변하지 않을 것이 요구된다. 이에 따라, 상온에서뿐만 아니라 다양한 온도 조건에서 렌즈의 성능을 평가할 필요가 있다.Various lenses are used in systems for optical imaging in various fields such as automobiles, mobile phones, and CCTVs. Since the lens is used in various external environments, it is required that the resolution does not change according to a change in the use environment of the lens. Accordingly, it is necessary to evaluate the performance of the lens not only at room temperature but also under various temperature conditions.
온도에 따른 해상도 변화는 렌즈에 대해서만 측정되지 않고 렌즈와 이미지 센서가 결합된 광학 촬상 시스템 상태에서 측정되고 있다. 렌즈가 이미지 센서에 결합된 상태에서 해상도 변화가 측정되므로, 측정 결과에 대해 렌즈만의 영향을 분석하기 어렵다. 예를 들어, 렌즈와 이미지 센서를 결합할 때 사용된 렌즈 홀더 등 다른 부품의 영향이 함께 나타날 수 있다.The change in resolution according to temperature is not measured only for the lens, but is measured in the state of the optical imaging system in which the lens and the image sensor are combined. Since the change in resolution is measured while the lens is coupled to the image sensor, it is difficult to analyze the effect of the lens alone on the measurement result. For example, the influence of other components, such as the lens holder used when combining the lens and the image sensor, may also appear.
더욱이, 렌즈와 이미지 센서를 결합한 후에야 렌즈의 불량을 확인할 수 있으므로, 렌즈 측정에 시간과 비용이 많이 든다.Moreover, since the defect of the lens can be confirmed only after the lens and the image sensor are combined, it takes a lot of time and money to measure the lens.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는, 다양한 렌즈의 성능을 측정하기 위한 온도 가변형 렌즈 지그 및 그것을 갖는 렌즈 측정 장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to provide a temperature variable lens jig for measuring the performance of various lenses and a lens measuring device having the same.
본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 과제는, 렌즈와 이미지 센서를 조립할 필요 없이 온도 변화에 따른 렌즈의 성능 변화를 측정하기 위한 온도 가변형 렌즈 지그 및 그것을 갖는 렌즈 측정 장치를 제공하는 것이다.Another object to be solved by the present invention is to provide a temperature-variable lens jig and a lens measuring device having the same for measuring a change in performance of a lens according to a change in temperature without assembling a lens and an image sensor.
본 발명의 일 실시예에 따른 온도 가변형 렌즈 지그는, 관통홀을 갖는 지그 베이스; 및 상기 지그 베이스의 관통홀에 정렬되는 중공부를 갖는 히팅 어셈블리를 포함하고, 상기 히팅 어셈블리는 상기 중공부 내의 온도를 변화시킨다.A temperature variable lens jig according to an embodiment of the present invention includes: a jig base having a through hole; and a heating assembly having a hollow portion aligned with the through hole of the jig base, wherein the heating assembly changes a temperature in the hollow portion.
히팅 어셈블리를 채택함으로써 렌즈의 온도를 변화시킬 수 있으며, 따라서, 온도에 따른 렌즈의 성능 변화를 측정할 수 있다.By adopting the heating assembly, it is possible to change the temperature of the lens, and thus, it is possible to measure the change in the performance of the lens with the temperature.
일 실시예에 있어서, 상기 지그 베이스는 상기 히팅 어셈블리를 안착할 수 있는 안착홈을 더 포함할 수 있으며, 상기 히팅 어셈블리는 상기 지그 베이스로부터 착탈 가능하다.In one embodiment, the jig base may further include a seating groove capable of seating the heating assembly, the heating assembly is detachable from the jig base.
또한, 상기 히팅 어셈블리는 상기 중공부를 둘러싸는 히터 및 상기 히터를 감싸는 방열 기구를 포함할 수 있다.In addition, the heating assembly may include a heater surrounding the hollow portion and a heat dissipation mechanism surrounding the heater.
일 실시예에 있어서, 상기 히터는 밴드형 히터를 포함할 수 있다.In one embodiment, the heater may include a band heater.
나아가, 상기 히팅 어셈블리는 상기 중공부를 덮는 투명 부재를 더 포함할 수 있다.Furthermore, the heating assembly may further include a transparent member covering the hollow part.
일 실시예에 있어서, 상기 투명 부재는 김서림 방지 코팅을 가질 수 있다.In one embodiment, the transparent member may have an anti-fog coating.
한편, 상기 지그 베이스의 관통홀은 내부에 렌즈가 장착된 렌즈 배럴이 삽입되어 고정되도록 구성될 수 있으며, 상기 히팅 어셈블리의 중공부는 상기 렌즈 배럴을 수용하는 공간을 제공할 수 있다.On the other hand, the through hole of the jig base may be configured such that a lens barrel having a lens mounted therein is inserted and fixed, and the hollow portion of the heating assembly may provide a space for accommodating the lens barrel.
본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 측정 장치는, 스테이지, 상기 온도 가변형 지그; 상기 온도 가변형 지그의 지그 베이스 하부에 배치된 이미지 센서; 상기 온도 가변형 지그 상부에 배치된 콜리메이터; 및 렌즈 측정용 광원을 포함한다.Lens measuring apparatus according to an embodiment of the present invention, the stage, the temperature variable jig; an image sensor disposed under the jig base of the temperature variable jig; a collimator disposed on the temperature variable jig; and a light source for lens measurement.
나아가, 상기 렌즈 측정 장치는 상기 이미지 센서에 의해 검출된 정보를 분석하는 프로세싱 유닛을 더 포함할 수 있다.Furthermore, the lens measuring device may further include a processing unit for analyzing the information detected by the image sensor.
한편, 렌즈가 장착된 렌즈 배럴이 상기 지그 베이스의 관통홀에 삽입되어 고정될 수 있으며, 상기 콜리메이터를 통해 방출된 광이 상기 렌즈 배럴 및 상기 지그 베이스의 관통홀을 통과하여 상기 이미지 센서에 의해 검출될 수 있다.On the other hand, the lens barrel to which the lens is mounted may be inserted and fixed into the through hole of the jig base, and the light emitted through the collimator passes through the lens barrel and the through hole of the jig base and is detected by the image sensor. can be
일 실시예에 있어서, 상기 렌즈 측정 장치는 온도 가변형 지그에 고온 기체를 공급할 수 있는 고온 기체 공급 장치를 더 포함할 수 있다. 상기 고온 기체 공급 장치를 이용하여 온도 가변형 지그의 투명 부재에 발생되는 김서림을 방지할 수 있다.In an embodiment, the lens measuring device may further include a high-temperature gas supply device capable of supplying a high-temperature gas to the temperature-variable jig. By using the high-temperature gas supply device, it is possible to prevent fogging occurring in the transparent member of the temperature-variable jig.
본 발명의 실시예들에 따르면, 온도 가변형 지그를 채택함으로써 렌즈와 이미지 센서를 조립하지 않고도 온도 변화에 따른 렌즈의 성능 변화를 측정할 수 있다. 이에 따라, 렌즈 측정 시간 및 렌즈 측정 비용을 줄일 수 있다. According to embodiments of the present invention, by adopting a temperature variable jig, it is possible to measure a change in performance of a lens according to a temperature change without assembling a lens and an image sensor. Accordingly, it is possible to reduce the lens measurement time and the lens measurement cost.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 측정 장치를 설명하기 위한 개략적인 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 가변형 렌즈 지그를 설명하기 위한 개략적인 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 가변형 렌즈 지그를 설명하기 위한 개략적인 분해 사시도이다.1 is a schematic view for explaining a lens measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a schematic perspective view for explaining a temperature variable lens jig according to an embodiment of the present invention.
3 is a schematic exploded perspective view for explaining a temperature variable lens jig according to an embodiment of the present invention.
이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 다음에 소개되는 실시예는 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수 있다. 그리고 도면에 있어서, 구성요소의 폭, 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The embodiments introduced below are provided as examples so that the spirit of the present invention can be sufficiently conveyed to those skilled in the art. Accordingly, the present invention is not limited to the embodiments described below and may be embodied in other forms. And in the drawings, the width, length, thickness, etc. of the components may be exaggerated for convenience. Like reference numerals refer to like elements throughout.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 렌즈 측정 장치를 설명하기 위한 개략적인 도면이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 가변형 렌즈 지그를 설명하기 위한 개략적인 사시도이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 가변형 렌즈 지그를 설명하기 위한 개략적인 분해 사시도이다.1 is a schematic diagram for explaining a lens measuring device according to an embodiment of the present invention, Figure 2 is a schematic perspective view for explaining a temperature variable lens jig according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is It is a schematic exploded perspective view for explaining a temperature variable lens jig according to an embodiment of the present invention.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 렌즈 측정 장치는 콜리메이터(11), 광원(13), 이미지 센서(15), 프로세싱 유닛(17), 스테이지(20), 및 온도 가변형 지그(100)를 포함할 수 있다.1 to 3 , the lens measuring apparatus may include a
광원(13)은 예를 들어 광 섬유를 통해 광을 콜리메이터(11)로 방출할 수 있다. 광 섬유의 일단에 할로겐 램프와 같은 광원이 배치되고, 광원에서 방출된 광은 광 섬유를 통해 콜리메이터(11) 내부로 입사될 수 있다.The
콜리메이터(11)는 내부에 검사 패턴을 갖는 레티클을 포함할 수 있으며, 레티클 상의 검사 패턴을 무한 거리로 촬상하도록 구성될 수 있다.The
콜리메이터(11)는 렌즈에 입사되는 광의 입사각을 바꿀 수 있도록 틸트될 수 있으며, 렌즈 측정 장치는 콜리메이터(11)를 틸트하기 위한 회전 기구(도시하지 않음)를 포함할 수 있다.The
한편, 측정 대상인 렌즈를 배치하기 위해 스테이지(20)가 마련될 수 있다. 스테이지(20)는 또한 광축을 중심으로 회전할 수 있다.On the other hand, the
온도 가변형 지그(100)는 지그 베이스(30), 히팅 어셈블리(40), 및 투명 부재(50)를 포함할 수 있다. 지그 베이스(30)는 스테이지(20) 상에 안착될 수 있다. 도 3에 도시된 바와 같이, 지그 베이스(30)는 관통홀(31) 및 안착홈(33)을 가질 수 있다. 관통홀(31)은 렌즈 배럴(60)이 삽입되어 고정되도록 구성되며, 안착홈(33)은 히팅 어셈블리(40)가 안착되도록 구성될 수 있다.The
히팅 어셈블리(40)는 지그 베이스(30)와 일체로 형성될 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. 특히, 렌즈 배럴(60)의 세팅을 원활하게 하기 위해 히팅 어셈블리(40)는 지그 베이스(30)에 착탈 가능하도록 구성될 수 있다.The
히팅 어셈블리(40)는 중공부를 포함한다. 중공부는 지그 베이스(30)의 관통홀(31)에 정렬된다. 중공부는 중심 축을 중심으로 회전 대칭 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 중공부의 중심은 관통홀(31)의 중심과 동일 축 상에 배치될 수 있다. 도시한 바와 같이, 중공부의 내경은 관통홀(31)의 내경보다 크며, 따라서, 중공부는 렌즈 배럴(60)을 수용할 수 있다.The
일 실시예에서, 히팅 어셈블리(40)는 방열 기구(41), 밴드 히터(43) 및 히팅 링(45)을 포함할 수 있다. 또한, 상기 밴드 히터(43)에 전력을 공급하기 위한 리드들(47)이 방열 기구(41)를 통해 밴드 히터(43)에 연결될 수 있다.In one embodiment, the
밴드 히터(43)는 히팅 링(45)을 감싸며 히팅 링(45)을 가열한다. 히팅 링(45)은 중공부를 감싸도록 배치되며, 따라서, 중공부 내부를 가열하여 온도를 변화시킬 수 있다. 히팅 링(45)은 중공부 내부를 균일하게 가열하도록 원통형 구조를 가질 수 있다.The
방열 기구(41)는 밴드 히터(43)를 둘러싸서 열이 외부로 방출되는 것을 방지한다. 방열 기구(41)는 예를 들어 세라믹 재료로 형성될 수 있다.The
상기 밴드 히터(43), 히팅 링(45) 및 방열 기구(41)는 본 발명의 일 실시예이며 본 발명이 상기 히팅 어셈블리(40)에 한정되는 것은 아니다. 다양한 구조의 히터 및 방열 기구를 포함하는 히팅 어셈블리가 채택되어 중공부 내부의 온도를 가변시킬 수 있다.The
투명 부재(50)는 광원(13)에서 방출된 광을 투과시킬 수 있는 재료로 형성된다. 예를 들어, 투명 부재(50)는 유리 또는 쿼츠로 형성될 수 있다. 투명 부재(50)는 히팅 어셈블리(40)의 중공부를 덮어 중공부 내부의 열이 외부로 빠져나가는 것을 방지한다. 도시하지는 않았지만, 지그 베이스(30)의 하부에도 투명 부재가 배치되어 열이 아래쪽으로 빠져나가는 것을 방지할 수 있다.The
한편, 본 실시예의 렌즈 측정 장치는 히팅 어셈블리(40)를 채택함으로써 105 ℃까지 렌즈 온도를 증가시킬 수 있다. 또한, 주변 온도 환경을 선택함으로써 -40℃부터 렌즈의 온도에 따른 성능을 측정할 수 있다.On the other hand, the lens measuring device of the present embodiment can increase the lens temperature up to 105 ℃ by adopting the heating assembly (40). In addition, by selecting the ambient temperature environment, the performance according to the temperature of the lens can be measured from -40°C.
한편, 낮은 온도에서 렌즈의 성능을 측정할 경우, 투명 부재(50)에 김서림이 발생할 수 있다. 이를 방지하기 위해, 투명 부재(50)는 김서림 방지 코팅을 포함할 수 있다. 또는 투명 부재(50)에 생길 수 있는 김서림을 방지하기 위해 렌즈 측정 장치가 고온 기체를 공급할 수 있는 고온 기체 공급 장치를 포함할 수도 있다. 기체는 특별히 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 공기일 수도 있다.On the other hand, when the performance of the lens is measured at a low temperature, fogging may occur in the
렌즈 배럴(60)은 측정 대상인 렌즈를 내부에 실장할 수 있는 구조를 갖는다. 복수의 렌즈가 렌즈 배럴(60) 내에 탑재될 수 있다. 렌즈 배럴(60)은 지그 베이스(30)의 관통홀(31)에 삽입되어 고정될 수 있다. 한편, 렌즈 배럴(60) 내의 렌즈들은 히팅 어셈블리(40)의 중공부 내에 배치되며, 히팅 어셈블리(40)의 가열에 의해 렌즈 온도가 증가될 수 있다.The
이미지 센서(15)는 CCD 또는 CMOS 센서일 수 있으며, 렌즈 배럴(60) 내의 렌즈에 의한 결상 특성을 측정하기 위해 배치된다. 이미지 센서(15)는 렌즈 측정 장치에 마련된 센서로 렌즈 배럴(60) 내의 렌즈와 촬상 시스템을 구성하는 이미지 센서와는 구별된다.The
이미지 센서(15)는 대략 검사될 렌즈의 초첨 평면에 배치된다. 콜리메이터(11)를 통해 렌즈 배럴(60)에 입사된 광은 렌즈 배럴(60) 및 지그 베이스(30)의 관통홀(31)을 통과하여 이미지 센서(15)에서 검출된다. 따라서, 이미지 센서(15)는 콜리메이터(11) 내의 레티클 상의 검사 패턴에 대한 정보를 검출할 수 있다.The
프로세싱 유닛(17)은 이미지 센서(15)에서 검출된 정보를 분석하여 렌즈의 불량 유무를 판단한다.The
한편, 도시하지는 않았지만, 본 실시예의 렌즈 측정 장치는 측정 대상인 렌즈의 온도를 조절하기 위한 온도 콘트롤러를 더 포함할 수 있다. 온도 콘트롤러는 히팅 어셈블리(40)의 중공부 내부 온도를 측정하여 히터에 인가되는 전력을 제어함으로써 온도를 제어할 수 있다.Meanwhile, although not shown, the lens measuring apparatus of the present embodiment may further include a temperature controller for controlling the temperature of the lens to be measured. The temperature controller may control the temperature by measuring the internal temperature of the hollow part of the
본 실시예의 렌즈 측정 장치는 예를 들어, 렌즈의 MTF(modulation transfer function), EFL(effective focul length), BFL(back focul length) 등을 측정할 수 있다.The lens measuring apparatus of the present embodiment may measure, for example, a modulation transfer function (MTF), an effective focul length (EFL), a back focul length (BFL), and the like of a lens.
본 실시예에 따르면, 히팅 어셈블리(40)를 채택함으로써 렌즈의 온도를 가변시킬 수 있으며, 따라서, 온도에 따른 렌즈 성능 변화를 측정할 수 있다.According to this embodiment, it is possible to change the temperature of the lens by adopting the
이상에서 다양한 실시예들에 대해 설명하였지만, 본 발명은 이들 실시예들에 한정되는 것은 아니며, 발명의 범위를 벗어나지 않는 한 다양하게 변형될 수 있다. Although various embodiments have been described above, the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications may be made without departing from the scope of the invention.
Claims (11)
상기 지그 베이스의 관통홀에 정렬되는 중공부를 갖는 히팅 어셈블리를 포함하고,
상기 히팅 어셈블리는 상기 중공부 내의 온도를 변화시키며,
상기 지그 베이스는 상기 히팅 어셈블리를 안착할 수 있는 안착홈을 더 포함하며,
상기 히팅 어셈블리는 상기 지그 베이스로부터 착탈 가능한 온도 가변형 렌즈 지그.Jig base having a through hole; and
Including a heating assembly having a hollow portion aligned with the through hole of the jig base,
The heating assembly changes the temperature in the hollow part,
The jig base further includes a seating groove capable of seating the heating assembly,
The heating assembly is a temperature variable lens jig detachable from the jig base.
상기 지그 베이스의 관통홀에 정렬되는 중공부를 갖는 히팅 어셈블리를 포함하고,
상기 히팅 어셈블리는 상기 중공부 내의 온도를 변화시키며,
상기 지그 베이스의 관통홀은 내부에 렌즈가 장착된 렌즈 배럴이 삽입되어 고정되도록 구성되며,
상기 히팅 어셈블리의 중공부는 상기 렌즈 배럴을 수용하는 공간을 제공하는 온도 가변형 지그.Jig base having a through hole; and
Including a heating assembly having a hollow portion aligned with the through hole of the jig base,
The heating assembly changes the temperature in the hollow part,
The through hole of the jig base is configured such that a lens barrel with a lens mounted therein is inserted and fixed,
The hollow portion of the heating assembly is a temperature variable jig that provides a space for accommodating the lens barrel.
상기 지그 베이스의 관통홀에 정렬되는 중공부를 갖는 히팅 어셈블리를 포함하고,
상기 히팅 어셈블리는 상기 중공부 내의 온도를 변화시키며,
상기 히팅 어셈블리는 상기 중공부를 둘러싸는 히터 및 상기 히터에 밀착되어 상기 히터를 감싸는 방열 기구를 포함하는 온도 가변형 지그.Jig base having a through hole; and
Including a heating assembly having a hollow portion aligned with the through hole of the jig base,
The heating assembly changes the temperature in the hollow part,
The heating assembly is a temperature variable jig including a heater surrounding the hollow portion and a heat dissipation mechanism in close contact with the heater to surround the heater.
상기 히터는 밴드형 히터를 포함하는 온도 가변형 지그.4. The method according to claim 3,
The heater is a temperature variable jig including a band heater.
상기 히팅 어셈블리는 상기 중공부를 덮는 투명 부재를 더 포함하는 온도 가변형 지그.4. The method according to claim 3,
The heating assembly is a temperature variable jig further comprising a transparent member covering the hollow portion.
상기 투명 부재는 김서림 방지 코팅을 갖는 온도 가변형 지그.6. The method of claim 5,
The transparent member is a temperature variable jig having an anti-fog coating.
상기 히팅 어셈블리는 상기 히터에 둘러싸인 히팅링을 더 포함하는 온도 가변형 지그.4. The method according to claim 3,
The heating assembly is a temperature variable jig further comprising a heating ring surrounded by the heater.
상기 스테이지 상에 배치된 청구항 1 내지 7의 어느 한 항의 온도 가변형 지그;
상기 온도 가변형 지그의 지그 베이스 하부에 배치된 이미지 센서;
상기 온도 가변형 지그 상부에 배치된 콜리메이터; 및
렌즈 측정용 광원을 포함하는 렌즈 측정 장치.stage;
The temperature variable jig of any one of claims 1 to 7 disposed on the stage;
an image sensor disposed under the jig base of the temperature variable jig;
a collimator disposed on the temperature variable jig; and
A lens measuring device comprising a light source for measuring a lens.
상기 이미지 센서에 의해 검출된 정보를 분석하는 프로세싱 유닛을 더 포함하는 렌즈 측정 장치.9. The method of claim 8,
The lens measuring device further comprising a processing unit for analyzing the information detected by the image sensor.
렌즈가 장착된 렌즈 배럴이 상기 지그 베이스의 관통홀에 삽입되어 고정되고,
상기 콜리메이터를 통해 방출된 광이 상기 렌즈 배럴 및 상기 지그 베이스의 관통홀을 통과하여 상기 이미지 센서에 의해 검출되는 렌즈 측정 장치.9. The method of claim 8,
The lens barrel on which the lens is mounted is inserted and fixed into the through hole of the jig base,
A lens measuring apparatus in which light emitted through the collimator passes through a through hole of the lens barrel and the jig base and is detected by the image sensor.
상기 온도 가변형 지그에 고온 기체를 공급할 수 있는 고온 기체 공급 장치를 더 포함하는 렌즈 측정 장치.9. The method of claim 8,
The lens measuring device further comprising a high-temperature gas supply device capable of supplying the high-temperature gas to the temperature-variable jig.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190128133A KR102262511B1 (en) | 2019-10-16 | 2019-10-16 | Temperature tunable lens zig and lens measurement apparatus having the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190128133A KR102262511B1 (en) | 2019-10-16 | 2019-10-16 | Temperature tunable lens zig and lens measurement apparatus having the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20210044981A KR20210044981A (en) | 2021-04-26 |
KR102262511B1 true KR102262511B1 (en) | 2021-06-09 |
Family
ID=75733468
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190128133A KR102262511B1 (en) | 2019-10-16 | 2019-10-16 | Temperature tunable lens zig and lens measurement apparatus having the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102262511B1 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20240029853A (en) * | 2022-08-29 | 2024-03-07 | 아이오솔루션(주) | Jig for optical communication lens performance evaluation and method for evaluating lens performance using the same |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3206984B2 (en) * | 1992-09-25 | 2001-09-10 | オリンパス光学工業株式会社 | Lens inspection machine |
JP2005069938A (en) * | 2003-08-26 | 2005-03-17 | Risou Keisoku Kk | Testing arrangement of electronic component |
KR100495952B1 (en) | 2003-02-25 | 2005-06-16 | 박정렬 | Anti-fog coating film and its coating methods |
KR101725653B1 (en) * | 2015-08-19 | 2017-04-11 | 한국광기술원 | Apparatus for inspecting alignment of optical system |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100280006B1 (en) * | 1998-08-24 | 2001-02-01 | 구자홍 | Lens characteristic inspection device |
KR20080108661A (en) * | 2007-06-11 | 2008-12-16 | 삼성전기주식회사 | Jig for manufacturing camera module and manufacturing method of camera module using the same |
KR102060367B1 (en) * | 2018-03-29 | 2019-12-30 | (주)하이비젼시스템 | Camera module resolution test device using temperature control jig |
-
2019
- 2019-10-16 KR KR1020190128133A patent/KR102262511B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3206984B2 (en) * | 1992-09-25 | 2001-09-10 | オリンパス光学工業株式会社 | Lens inspection machine |
KR100495952B1 (en) | 2003-02-25 | 2005-06-16 | 박정렬 | Anti-fog coating film and its coating methods |
JP2005069938A (en) * | 2003-08-26 | 2005-03-17 | Risou Keisoku Kk | Testing arrangement of electronic component |
KR101725653B1 (en) * | 2015-08-19 | 2017-04-11 | 한국광기술원 | Apparatus for inspecting alignment of optical system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20210044981A (en) | 2021-04-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4226593B2 (en) | Infrared pyrometer calibration system for heat treatment system | |
US7628507B2 (en) | Radiance output and temperature controlled LED radiance source | |
US7408728B2 (en) | System and method for focal length stabilization using active temperature control | |
KR100661794B1 (en) | Infrared thermal image microscope with blackbody source | |
CN114518220B (en) | Device for detecting a modulation transfer function and centering an optical system | |
US9753509B2 (en) | Imaging apparatus for thermal analyzer and thermal analyzer including the same | |
JP2008002836A (en) | Line type lighting system | |
KR102262511B1 (en) | Temperature tunable lens zig and lens measurement apparatus having the same | |
US3221593A (en) | Borescope utilizing a stepped cone reflector | |
US20080165349A1 (en) | Apparatus for testing reflectivity of lens | |
CN103698005A (en) | Self-calibrated light source spectrum tuner | |
KR101416860B1 (en) | Particle inspecting system for camera lens module | |
FI3420326T3 (en) | Illumination device for an apparatus for establishing the color of a tooth, apparatus for establishing the color of a tooth, comprising said illumination device | |
CN108700490B (en) | Light source device and driving method of light source device | |
JP2009145180A (en) | Device for irradiating inspection light and device for inspecting solid-state image sensor using it | |
KR100966931B1 (en) | High sensitivity thermal radiation detection with an emission microscope with room temperature optics | |
CN111356894B (en) | Video measurement system with dual action reticle projector for focusing and alignment | |
US20070048682A1 (en) | Method of forming a burner assembly | |
TWI433196B (en) | Method and system for heating substrate in vacuum environment | |
JPS6029051B2 (en) | Thermal radiation reference source device | |
EP1729102B1 (en) | Detector with miniature optics for constant energy collection from different distances | |
JP4867272B2 (en) | Light source device | |
Küsters et al. | SCALA update: deci-percent laboratory spectro-radiometric NIST calibration transfer to new flux reference sensors | |
JP7338441B2 (en) | light heating device | |
TWI830073B (en) | Optical lens device and optical measuring method |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |