KR102225630B1 - Method of inspecting display cell - Google Patents

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KR102225630B1
KR102225630B1 KR1020160056126A KR20160056126A KR102225630B1 KR 102225630 B1 KR102225630 B1 KR 102225630B1 KR 1020160056126 A KR1020160056126 A KR 1020160056126A KR 20160056126 A KR20160056126 A KR 20160056126A KR 102225630 B1 KR102225630 B1 KR 102225630B1
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강경원
신준성
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세메스 주식회사
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Abstract

디스플레이 셀의 광학적 특성을 검사하기 위한 디스플레이 셀 검사 방법이 개시된다. 디스플레이 셀 검사 방법은 먼저, 기판에 형성된 디스플레이 셀에 기 설정된 점등 신호를 인가해 디스플레이 셀을 점등시킨다. 기 설정된 점등 신호에 대응하는 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정한다. 1차 측정된 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정한다. 재측정한 상기 디스플레이 셀의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정한다. 이와 같이, 디스플레이 셀 검사 방법은 디스플레이 셀의 점등 편차를 보정하여 디스플레이 셀을 검사하므로, 디스플레이 셀의 하드웨어적 특성을 고려하여 분광 검사를 실시할 수 있고, 디스플레이 셀의 화질 불량을 정확하게 검출할 수 있으며, 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.Disclosed is a display cell inspection method for inspecting optical properties of a display cell. In the display cell inspection method, first, a display cell is turned on by applying a preset lighting signal to a display cell formed on a substrate. The color coordinate of the display cell corresponding to the preset lighting signal is first measured. If the primary measured color coordinate value of the display cell is out of the preset allowable range, the color coordinate of the display cell is remeasured while changing the lighting signal within the preset signal range. When the re-measured color coordinate value of the display cell falls within the allowable range, the preset lighting signal is corrected based on a changed value of the corresponding lighting signal. In this way, since the display cell inspection method inspects the display cell by correcting the lighting deviation of the display cell, it is possible to perform a spectral inspection in consideration of the hardware characteristics of the display cell, and accurately detect the image quality defect of the display cell. , Can improve inspection reliability.

Description

디스플레이 셀 검사 방법{Method of inspecting display cell}Method of inspecting display cell

본 발명의 실시예들은 디스플레이 셀 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 유기발광소자(Organic Light Emitting Device : OLED) 셀들과 같이 기판 상에 형성된 디스플레이 셀들에 대해 광학적 특성을 검사하는 디스플레이 셀 검사 방법에 관한 것이다.Embodiments of the present invention relate to a display cell inspection method, and more particularly, to a display cell inspection method for inspecting optical characteristics of display cells formed on a substrate such as organic light emitting device (OLED) cells. About.

평판 디스플레이 장치 중 하나인 OLED 장치는 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수하며 응답 속도가 빨라 최근 휴대형 디스플레이 장치, 스마트 폰, 태블릿 PC 등에 널리 사용되고 있다. 또한, OLED 장치는 대형화를 통한 차세대 디스플레이 장치로도 주목받고 있다. 특히, OLED 장치는 무기발광 디스플레이 장치에 비하여 휘도, 구동 전압, 응답 속도 등의 특성이 우수하고 다색화가 가능하다는 장점이 있다.OLED devices, which are one of flat panel display devices, have a wide viewing angle, excellent contrast, and fast response speed, and are thus widely used in portable display devices, smart phones, and tablet PCs. In addition, OLED devices are attracting attention as a next-generation display device through an increase in size. In particular, OLED devices have an advantage in that they have superior characteristics such as luminance, driving voltage, and response speed compared to inorganic light-emitting display devices, and that multicolorization is possible.

이러한 OLED 장치의 제조 과정은 다음과 같다. 먼저, 기판 상에 다양한 박막을 형성하는 증착 공정과 이를 패터닝하는 식각 공정 등을 통하여 TFT(Thin Film Transistor) 층을 형성한 후 TFT 층이 형성된 기판 상에 하부 전극과 유기막층(예를 들면, 정공수송층, 발광층, 전자수송층) 및 상부 전극으로 이루어진 유기발광층을 형성한다. 이어, 유기발광층이 형성된 기판을 봉지기판을 이용하여 봉지한 후 절단 공정을 통해 각각의 OLED 셀들을 개별화함으로써 OLED 장치를 완성된다.The manufacturing process of this OLED device is as follows. First, a TFT (Thin Film Transistor) layer is formed through a deposition process for forming various thin films on a substrate and an etching process for patterning them, and then a lower electrode and an organic layer (e.g., holes) are formed on the substrate on which the TFT layer is formed. A transport layer, a light emitting layer, an electron transport layer) and an organic light emitting layer consisting of an upper electrode are formed. Subsequently, the OLED device is completed by encapsulating the substrate on which the organic light emitting layer is formed using an encapsulation substrate and then individualizing each OLED cell through a cutting process.

한편, 봉지 공정이 완료된 후 기판 상에 형성된 OLED 셀들에 대한 검사 공정이 수행될 수 있다. 검사 공정은 OLED 셀들에 검사 신호를 인가하여 TFT 층의 기능 검사, 보정 회로 검사, 화질 검사, 분광 검사, 이미지 검사 등이 이루어질 수 있다. Meanwhile, after the encapsulation process is completed, an inspection process for OLED cells formed on the substrate may be performed. In the inspection process, a function inspection of the TFT layer, a correction circuit inspection, an image quality inspection, a spectroscopic inspection, an image inspection, etc. may be performed by applying an inspection signal to the OLED cells.

OLED 셀들의 분광 검사는 분광기를 이용하여 OLED 셀들의 화질을 검사하는 것으로서, 점등 신호를 OLED 셀들에 인가한 후에 분광기가 OLED 셀들 각각의 색좌표를 측정한다. 분광 검사는 측정된 OLED 셀의 색좌표 값이 기 설정된 범위 안의 값인지 비교하여 OLED 셀의 양불을 판단한다.The spectroscopic inspection of OLED cells is to inspect the image quality of OLED cells using a spectrometer. After applying a lighting signal to the OLED cells, the spectrometer measures the color coordinates of each of the OLED cells. Spectroscopic inspection judges whether or not the OLED cell is good or bad by comparing whether the measured color coordinate value of the OLED cell is within a preset range.

그러나 이러한 분광 검사는 모든 OLED 셀들에 동일한 점등 신호를 인가하므로, OLED 셀들의 하드웨어적 특정을 고려하지 않는다. 따라서, 측정된 OLED 셀의 색좌표 값이 OLED 셀의 하드웨어적 특성으로 인하여 기 설정된 범위 안에 포함되지 않는 경우 실질적으로 화질 불량이 아니더라도 이를 파악할 수 없어 해당 OLED 셀이 불량으로 판정되는 문제점이 있다.However, since this spectroscopic inspection applies the same lighting signal to all OLED cells, it does not take into account the hardware specificity of OLED cells. Therefore, if the measured color coordinate value of the OLED cell is not included within the preset range due to the hardware characteristics of the OLED cell, it is not possible to grasp it even if it is not substantially defective in image quality, and the corresponding OLED cell is determined as defective.

또한, 분광 검사는 OLED 셀의 중심 지점의 색좌표만 측정하므로, 중심 영역과 외곽 영역 간의 편차가 큰 대면적 OLED 셀의 경우 외곽 영역의 화질 불량을 검출할 수 없다. 이로 인해 분광 검사의 신뢰성이 저하된다.In addition, since the spectral inspection measures only the color coordinate of the center point of the OLED cell, in the case of a large-area OLED cell with a large deviation between the center region and the outer region, it is not possible to detect a defect in image quality in the outer region. This deteriorates the reliability of spectral inspection.

한국등록특허 제10-1449603호 (2014.10.02.)Korean Patent Registration No. 10-1449603 (2014.10.02.)

본 발명의 실시예들은 디스플레이 셀들의 점등 편차를 보정하여 광학적 특성을 검사할 수 있는 디스플레이 셀 검사 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide a display cell inspection method capable of inspecting optical characteristics by correcting lighting deviation of display cells.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은, 기판에 형성된 디스플레이 셀에 기 설정된 점등 신호를 인가해 상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계, 상기 기 설정된 점등 신호에 대응하는 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계, 상기 1차 측정된 상기 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계, 및 상기 재측정한 상기 디스플레이 셀의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계를 포함할 수 있다.A display cell inspection method according to an aspect of the present invention for achieving the above object includes the steps of applying a preset lighting signal to a display cell formed on a substrate to turn on the display cell, the display corresponding to the preset lighting signal First measuring the color coordinate of the cell, when the first measured color coordinate value of the display cell is out of a preset allowable range, re-measuring the color coordinate of the display cell while changing the lighting signal within a preset signal range And correcting the preset lighting signal based on a changed value of the lighting signal corresponding to the re-measured color coordinate value of the display cell within the allowable range.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀은 상기 기판 상에 복수로 형성될 수 있다. 더불어, 상기 기 설정된 점등 신호를 인가하여 상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계는, 상기 복수의 디스플레이 셀 중에서 적어도 어느 하나를 기준 디스플레이 셀로 설정하는 단계, 및 상기 기 설정된 점등 신호를 인가하여 상기 기준 디스플레이 셀을 점등시키는 단계를 포함할 수 있다. 여기서, 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계와 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계 및 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계는 상기 기준 디스플레이 셀을 대상으로 하여 실시할 수 있다.According to embodiments of the present invention, a plurality of the display cells may be formed on the substrate. In addition, the step of lighting the display cell by applying the preset lighting signal may include setting at least one of the plurality of display cells as a reference display cell, and applying the preset lighting signal to turn on the reference display cell. It may include the step of turning on. Here, the primary measurement of the color coordinate of the display cell, the re-measurement of the color coordinate of the display cell, and the correcting of the preset lighting signal may be performed for the reference display cell.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계 이후에, 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계에서 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀들 중 상기 기준 디스플레이 셀을 제외한 나머지 디스플레이 셀들에 인가하여 상기 디스플레이 셀들의 색좌표를 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, in the display cell inspection method, after the step of correcting the preset lighting signal, the corrected lighting signal in the step of correcting the preset lighting signal is applied to the reference display cell among the display cells. A step of measuring color coordinates of the display cells by applying to the remaining display cells except for may be further included.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀들은 상기 기판 상에 어레이 형태로 형성되며, 상기 디스플레이 셀들 중 첫 번째 디스플레이 셀이 상기 기준 디스플레이 셀로 설정될 수 있다.According to embodiments of the present invention, the display cells may be formed in an array form on the substrate, and a first display cell among the display cells may be set as the reference display cell.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 디스플레이 셀에 상기 기 설정된 점등 신호를 인가하는 단계 이전에, 상기 디스플레이 셀에서 상기 색좌표를 검사하기 위한 복수의 측정 포인트를 설정하되 상기 복수의 측정 포인트는 상기 디스플레이 셀의 중심 지점을 포함하도록 설정되는 단계를 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정하는 단계와 상기 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정하는 단계는 상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 측정할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the method for inspecting a display cell includes setting a plurality of measurement points for inspecting the color coordinates in the display cell before applying the preset lighting signal to the display cell. The measurement point of may further include setting to include a center point of the display cell. Here, the first measuring the color coordinate of the display cell and re-measuring the color coordinate of the display cell may measure the color coordinate of the center point of the display cell.

본 발명의 실시예들에 따르면, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계 이후에, 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계에서 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀에 인가하여 상기 측정 포인트들 중 상기 디스플레이 셀의 중심 지점을 제외한 나머지 측정 포인트들의 색좌표를 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.According to embodiments of the present invention, the method for inspecting a display cell is performed by applying a corrected lighting signal to the display cell in the step of correcting the preset lighting signal after the step of correcting the preset lighting signal. The method may further include measuring color coordinates of measurement points other than the center point of the display cell among the points.

상술한 바와 같은 본 발명의 실시예들에 따르면, 디스플레이 셀 검사 방법은1차 측정된 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어난 경우 상기 점등 신호를 변화시키면서 색좌표를 재측정한다. 이에 따라, 디스플레이 셀의 점등 편차를 보정할 수 있으므로, 디스플레이 셀의 하드웨어적 특성을 고려하여 분광 검사를 실시할 수 있고, 디스플레이 셀의 화질 불량을 정확하게 검출할 수 있으며, 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.According to the embodiments of the present invention as described above, in the display cell inspection method, when the color coordinate value of the first measured display cell is out of a preset allowable range, the color coordinate is re-measured while changing the lighting signal. Accordingly, since the lighting deviation of the display cell can be corrected, a spectroscopic inspection can be performed in consideration of the hardware characteristics of the display cell, an image quality defect of the display cell can be accurately detected, and inspection reliability can be improved. .

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이다.
도 2는 도 1에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 분광 검사 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이다.
도 4는 도 2에 도시된 분광 검사 장치에서 도 3에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 공정 과정을 개략적으로 나타낸 구성도이다.1 is a schematic flowchart illustrating a display cell inspection method according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic configuration diagram illustrating a spectroscopic inspection apparatus that performs the display cell inspection method shown in FIG.
3 is a schematic flowchart illustrating a method of inspecting a display cell according to another exemplary embodiment of the present invention.
4 is a block diagram schematically illustrating a process procedure of performing the display cell inspection method shown in FIG. 3 in the spectroscopic inspection apparatus shown in FIG.

이하, 본 발명의 실시예들은 첨부 도면들을 참조하여 상세하게 설명된다. 그러나, 본 발명은 하기에서 설명되는 실시예들에 한정된 바와 같이 구성되어야만 하는 것은 아니며 이와 다른 여러 가지 형태로 구체화될 수 있을 것이다. 하기의 실시예들은 본 발명이 온전히 완성될 수 있도록 하기 위하여 제공된다기보다는 본 발명의 기술 분야에서 숙련된 당업자들에게 본 발명의 범위를 충분히 전달하기 위하여 제공된다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention does not have to be configured as limited to the embodiments described below, and may be embodied in various other forms. The following examples are provided to sufficiently convey the scope of the present invention to those skilled in the art, rather than provided to allow the present invention to be completely completed.

본 발명의 실시예들에서 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 배치되는 또는 연결되는 것으로 설명되는 경우 상기 요소는 상기 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결될 수도 있으며, 다른 요소들이 이들 사이에 개재될 수도 있다. 이와 다르게, 하나의 요소가 다른 하나의 요소 상에 직접 배치되거나 연결되는 것으로 설명되는 경우 그들 사이에는 또 다른 요소가 있을 수 없다. 다양한 요소들, 조성들, 영역들, 층들 및/또는 부분들과 같은 다양한 항목들을 설명하기 위하여 제1, 제2, 제3 등의 용어들이 사용될 수 있으나, 상기 항목들은 이들 용어들에 의하여 한정되지는 않을 것이다.In the embodiments of the present invention, when one element is described as being disposed on or connected to another element, the element may be directly disposed on or connected to the other element, and other elements are interposed therebetween. It could be. Alternatively, if one element is described as being placed or connected directly on another element, there cannot be another element between them. Terms such as first, second, third, etc. may be used to describe various items such as various elements, compositions, regions, layers and/or parts, but the above items are not limited by these terms. Won't.

본 발명의 실시예들에서 사용된 전문 용어는 단지 특정 실시예들을 설명하기 위한 목적으로 사용되는 것이며, 본 발명을 한정하기 위한 것은 아니다. 또한, 달리 한정되지 않는 이상, 기술 및 과학 용어들을 포함하는 모든 용어들은 본 발명의 기술 분야에서 통상적인 지식을 갖는 당업자에게 이해될 수 있는 동일한 의미를 갖는다. 통상적인 사전들에서 한정되는 것들과 같은 상기 용어들은 관련 기술과 본 발명의 설명의 문맥에서 그들의 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석될 것이며, 명확히 한정되지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 외형적인 직감으로 해석되지는 않을 것이다.The terminology used in the embodiments of the present invention is only used for the purpose of describing specific embodiments, and is not intended to limit the present invention. In addition, unless otherwise limited, all terms including technical and scientific terms have the same meaning that can be understood by those of ordinary skill in the art. The terms, such as those defined in conventional dictionaries, will be construed as having a meaning consistent with their meaning in the context of the description of the present invention and related technology, and ideally or excessively external intuition unless clearly limited. It won't be interpreted.

본 발명의 실시예들은 본 발명의 이상적인 실시예들의 개략적인 도해들을 참조하여 설명된다. 이에 따라, 상기 도해들의 형상들로부터의 변화들, 예를 들면, 제조 방법들 및/또는 허용 오차들의 변화는 충분히 예상될 수 있는 것들이다. 따라서, 본 발명의 실시예들은 도해로서 설명된 영역들의 특정 형상들에 한정된 바대로 설명되어지는 것은 아니라 형상들에서의 편차를 포함하는 것이며, 도면들에 설명된 요소들은 전적으로 개략적인 것이며 이들의 형상은 요소들의 정확한 형상을 설명하기 위한 것이 아니며 또한 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것도 아니다.Embodiments of the present invention are described with reference to schematic diagrams of ideal embodiments of the present invention. Accordingly, changes from the shapes of the diagrams, for example, changes in manufacturing methods and/or tolerances, are those that can be sufficiently anticipated. Accordingly, embodiments of the present invention are not described as limited to specific shapes of regions described as diagrams, but include variations in shapes, and elements described in the drawings are entirely schematic and their shape Are not intended to describe the exact shape of the elements, nor are they intended to limit the scope of the present invention.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이고, 도 2는 도 1에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 분광 검사 장치를 설명하기 위한 개략적인 구성도이다.1 is a schematic flowchart illustrating a display cell inspection method according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic configuration diagram illustrating a spectroscopic inspection apparatus performing the display cell inspection method illustrated in FIG. 1. to be.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은, 먼저, 분광 검사 장치(100)는 기판(10) 상에 형성된 복수의 디스플레이 셀(12) 중 어느 하나에 기 설정된 점등 신호를 인가하여 해당 디스플레이 셀을 점등시킨다(단계 S110). 여기서, 상기 디스플레이 셀들(12)은 OLED 셀들일 수 있으며, 상기 기판(10) 상에 어레이 형태로 배치될 수 있다.1 and 2, in the display cell inspection method according to an embodiment of the present invention, first, the spectroscopic inspection apparatus 100 is applied to any one of a plurality of display cells 12 formed on the substrate 10. The corresponding display cell is turned on by applying a preset lighting signal (step S110). Here, the display cells 12 may be OLED cells, and may be disposed on the substrate 10 in an array form.

상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계(110)를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다. 먼저, 상기 분광 검사 장치(100)의 점등 편차 보정부(130)는 상기 디스플레이 셀들(12) 중 어느 하나를 기준 디스플레이 셀로 설정한다(단계 S112). 본 발명의 일례로, 상기 기준 디스플레 셀은 상기 디스플레이 셀들 중 첫번째 디스플레이 셀이 설정될 수 있다.A detailed look at the step 110 of turning on the display cell is as follows. First, the lighting deviation correcting unit 130 of the spectroscopic inspection apparatus 100 sets any one of the display cells 12 as a reference display cell (step S112). As an example of the present invention, the first display cell among the display cells may be set as the reference display cell.

이어, 상기 분광 검사 장치(100)의 신호 생성부(110)가 상기 기 설정된 점등 신호를 상기 기준 디스플레이 셀에 인가하여 상기 기준 디스플레이 셀을 점등시킨다(단계 S114).Subsequently, the signal generator 110 of the spectroscopic inspection apparatus 100 applies the preset lighting signal to the reference display cell to light the reference display cell (step S114).

한편, 단계 S110에 이어, 상기 기준 디스플레이 셀이 점등되면, 상기 분광 검사 장치(100)의 분광기(120)가 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표를 1차 측정한다(단계 S120). 여기서, 상기 분광기(120)는 상기 기준 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 측정할 수 있다.On the other hand, following step S110, when the reference display cell is turned on, the spectrometer 120 of the spectroscopic inspection apparatus 100 first measures the color coordinates of the reference display cell (step S120). Here, the spectrometer 120 may measure the color coordinate of the center point of the reference display cell.

상기 1차 측정된 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우, 상기 분광 검사 장치(100)는 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정한다(단계 S130). 구체적으로, 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 분광기(120)로부터 상기 1차 측정된 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표 값을 수신하고, 수신된 색좌표 값이 상기 기 설정된 허용 범위를 벗어나는지 비교한다. 비교 결과, 상기 수신된 색좌표 값이 상기 기 설정된 허용 범위를 벗어난 경우 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 신호 생성부(110)를 제어하여 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 기준 디스플레이 셀에 인가하고, 상기 분광기(120)는 상기 점등 신호의 변화되는 값에 대응하여 상기 기준 디스플레이 셀의 색좌표를 재측정한다.When the primary measured color coordinate value of the reference display cell is out of a preset allowable range, the spectroscopic inspection apparatus 100 re-measures the color coordinate of the reference display cell while changing the lighting signal within a preset signal range. To (step S130). Specifically, the lighting deviation correcting unit 130 receives the color coordinate value of the reference display cell, which is first measured from the spectroscope 120, and compares whether the received color coordinate value is out of the preset allowable range. As a result of the comparison, when the received color coordinate value is out of the preset allowable range, the lighting deviation correction unit 130 controls the signal generation unit 110 to change the lighting signal within a preset signal range while changing the reference Applying to the display cell, the spectroscope 120 re-measures the color coordinate of the reference display cell in response to the changed value of the lighting signal.

이어, 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 재측정한 상기 기준 디플레이 셀의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정한다(단계 S140).Subsequently, the lighting deviation correction unit 130 corrects the preset lighting signal based on the changed value of the lighting signal corresponding to the color coordinate value of the re-measured reference display cell within the allowable range. To (step S140).

이어, 상기 분광 검사 장치(100)는 상기 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀들(12) 중 상기 기준 디스플레이 셀을 제외한 나머지 디스플레이 셀들에 인가하여 상기 나머지 디스플레이 셀들을 검사한다(단계 S150). 즉, 상기 점등 편차 보정부(130)는 보정된 점등 신호 값을 상기 신호 생성부(110)에 전송하고, 상기 신호 생성부(110)는 상기 점등 신호를 보정된 값으로 변경하여 상기 나머지 디스플레이 셀들에 인가한다.Subsequently, the spectroscopic inspection apparatus 100 applies the corrected lighting signal to the remaining display cells of the display cells 12 except for the reference display cell to inspect the remaining display cells (step S150). That is, the lighting deviation correcting unit 130 transmits the corrected lighting signal value to the signal generation unit 110, and the signal generation unit 110 changes the lighting signal to the corrected value, and the remaining display cells Apply to.

이와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은 1차 측정된 디스플레이 셀(12)의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어난 경우 상기 점등 신호를 변화시키면서 색좌표를 재측정함으로써, 상기 디스플레이 셀(12)의 점등 편차를 보정하고 상기 디스플레이 셀(12)의 하드웨어적 특성을 고려하여 분광 검사를 실시할 수 있다. 이에 따라, 디스플레이 셀(12)의 화질 불량을 정확하게 검출할 수 있으므로, 검사 신뢰성을 향상시킬 수 있다.As described above, in the display cell inspection method according to an embodiment of the present invention, when the color coordinate value of the first measured display cell 12 is out of a preset allowable range, the display cell is re-measured while changing the lighting signal. The spectral inspection may be performed by correcting the lighting deviation of the cell 12 and taking into account the hardware characteristics of the display cell 12. Accordingly, since defects in image quality of the display cell 12 can be accurately detected, inspection reliability can be improved.

또한, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 디스플레이 셀들(12) 중 어느 하나를 상기 기준 디스플레이 셀로 선택하여 상기 기준 디스플레이 셀을 대상으로 전등 편차 보정을 수행한 후에 나머지 셀들에 대한 분광 검사를 실시한다. 이에 따라, 상기 디스플레이 셀들의 분광 검사를 보다 신속하고 정확하게 할 수 있다.In addition, in the display cell inspection method, after selecting one of the display cells 12 as the reference display cell, correcting the light deviation for the reference display cell, spectral inspection is performed on the remaining cells. Accordingly, the spectral inspection of the display cells can be performed more quickly and accurately.

이하, 상기 분광 검사 장치(100)가 대면적 디스플레이 셀에 대한 분광 검사를 하는 과정에 대해 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a process in which the spectroscopic inspection apparatus 100 performs a spectroscopic inspection on a large-area display cell will be described in detail.

도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법을 설명하기 위한 개략적인 순서도이고, 도 4는 도 2에 도시된 분광 검사 장치에서 도 3에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법을 수행하는 공정 과정을 개략적으로 나타낸 구성도이다.3 is a schematic flowchart illustrating a display cell inspection method according to another embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a process process of performing the display cell inspection method shown in FIG. 3 in the spectroscopic inspection apparatus shown in FIG. 2 It is a configuration diagram schematically showing.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은 도 4에 도시된 것처럼 도 1에 도시된 디스플레이 셀 검사 방법이 적용되는 디스플레이 셀보다 큰 대면적의 디스플레이 셀(22)에 적용될 수 있다.3 and 4, a display cell inspection method according to another embodiment of the present invention is a display cell having a larger area than a display cell to which the display cell inspection method shown in FIG. 1 is applied, as shown in FIG. 22) can be applied.

구체적으로, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 먼저, 상기 점등 편차 보정부(130)는 기판(20) 상에 형성된 상기 디스플레이 셀(22)에서 색좌표를 검사하기 위한 복수의 측정 포인트를 설정한다(단계 S210). 여기서, 상기 복수의 측정 포인트는 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점을 포함하며, 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점을 기준으로 좌우 및/또는 상하에 위치하는 임의의 지점들이 상기 측정 포인트로 설정될 수 있다.Specifically, in the display cell inspection method, first, the lighting deviation correction unit 130 sets a plurality of measurement points for inspecting color coordinates in the display cell 22 formed on the substrate 20 (step S210). . Here, the plurality of measurement points include a center point of the display cell 22, and arbitrary points positioned left and right and/or up and down based on the center point of the display cell 22 are set as the measurement points. Can be.

이어, 상기 신호 생성부(110)가 상기 기 설정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀(22)에 인가하여 상기 디스플레이 셀(22)을 점등시킨다(단계 S220).Subsequently, the signal generator 110 applies the preset lighting signal to the display cell 22 to light the display cell 22 (step S220).

이어, 상기 분광기(120)가 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점의 색좌표를 1차 측정한다(단계 S230).Subsequently, the spectrometer 120 first measures the color coordinate of the center point of the display cell 22 (step S230).

상기 1차 측정된 상기 디스플레이 셀(22)의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우, 상기 분광 검사 장치(100)는 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점의 색좌표를 재측정한다(단계 S240). 구체적으로, 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 분광기(120)로부터 상기 1차 측정된 색좌표 값을 수신하고, 수신된 색좌표 값이 상기 기 설정된 허용 범위를 벗어나는지 비교한다. 비교 결과, 상기 수신된 색좌표 값이 상기 기 설정된 허용 범위를 벗어난 경우 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 신호 생성부(110)를 제어하여 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 디스플레이 셀(22)에 인가하고, 상기 분광기(120)는 상기 점등 신호의 변화되는 값에 대응하여 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점의 색좌표를 재측정한다.When the primary measured color coordinate value of the display cell 22 is out of a preset allowable range, the spectroscopic inspection apparatus 100 changes the lighting signal within a preset signal range while changing the The color coordinate of the center point is measured again (step S240). Specifically, the lighting deviation correction unit 130 receives the first measured color coordinate value from the spectroscope 120 and compares whether the received color coordinate value is out of the preset allowable range. As a result of the comparison, when the received color coordinate value is out of the preset allowable range, the lighting deviation correction unit 130 controls the signal generation unit 110 to change the lighting signal within a preset signal range while the display Applying to the cell 22, the spectroscope 120 re-measures the color coordinate of the center point of the display cell 22 in response to the changed value of the lighting signal.

이어, 상기 점등 편차 보정부(130)는 상기 재측정한 상기 디플레이 셀(22)의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정한다(단계 S250).Subsequently, the lighting deviation correction unit 130, when the re-measured color coordinate value of the display cell 22 falls within the allowable range, the preset lighting signal based on the changed value of the lighting signal corresponding thereto. Is corrected (step S250).

이어, 상기 분광 검사 장치(100)는 상기 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀(22)에 인가하여 상기 디스플레이 셀(22)의 측정 포인트들 중 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점을 제외한 나머지 측정 포인트들 검사한다(단계 S260). 구체적으로, 상기 점등 편차 보정부(130)는 보정된 점등 신호 값을 상기 신호 생성부(110)에 전송하고, 상기 신호 생성부(110)는 상기 점등 신호를 보정된 값으로 변경하여 상기 디스플레이 셀(22)에 인가한다. 이어, 상기 분광기(120)가 상기 디스플레이 셀(22)의 중심 지점을 제외한 나머지 측청 포인트들에 대해 색좌표를 측정한다.Subsequently, the spectroscopic inspection apparatus 100 applies the corrected lighting signal to the display cell 22 to measure points other than the center point of the display cell 22 among the measurement points of the display cell 22. Are checked (step S260). Specifically, the lighting deviation correcting unit 130 transmits the corrected lighting signal value to the signal generation unit 110, and the signal generation unit 110 changes the lighting signal to a corrected value, and the display cell Apply to (22). Subsequently, the spectrometer 120 measures color coordinates for the remaining measurement points excluding the center point of the display cell 22.

이와 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 셀 검사 방법은 대면적 디스플레이 셀(22)의 중심 지점의 색좌표 값을 이용하여 점등 편차를 보정함으로써, 상기 디스플레이 셀(22)의 하드웨어적 특성을 고려하여 분광 검사를 실시할 수 있다. 특히, 상기 디스플레이 셀 검사 방법은 상기 디스플레이 셀(22)의 색좌표 측정 포인트를 복수로 설정하여 측정하고, 보정된 점등 신호를 인가하여 상기 중심 지점 이외의 측정 포인트들에 대한 색좌표를 측정한다. 이에 따라, 대면적 디스플레이 셀(22)에 대한 검사 신뢰도를 향상시키고, 검사 시간을 단축시킬 수 있다.As described above, in the display cell inspection method according to another embodiment of the present invention, by correcting the lighting deviation using the color coordinate value of the center point of the large-area display cell 22, the hardware characteristics of the display cell 22 are considered. Thus, a spectral inspection can be performed. In particular, in the display cell inspection method, a plurality of color coordinate measurement points of the display cell 22 are set and measured, and a corrected lighting signal is applied to measure color coordinates of measurement points other than the center point. Accordingly, inspection reliability of the large-area display cell 22 can be improved and inspection time can be shortened.

상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the above has been described with reference to preferred embodiments of the present invention, those skilled in the art can variously modify and change the present invention without departing from the spirit and scope of the present invention described in the following claims. You will understand that there is.

100 : 분광 검사 장치 110 : 신호 생성부
120 : 분광기 130 : 점등 편차 보정부100: spectroscopic inspection device 110: signal generation unit
120: spectrometer 130: lighting deviation correction unit

Claims (6)

기판에 형성된 디스플레이 셀의 색좌표를 검사하기 위하여 상기 디스플레이 셀의 중심 지점을 포함하는 복수의 측정 포인트들을 설정하는 단계;
상기 디스플레이 셀에 기 설정된 점등 신호를 인가해 상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계;
상기 기 설정된 점등 신호에 대응하는 상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 1차 측정하는 단계;
상기 1차 측정된 상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표 값이 기 설정된 허용 범위를 벗어나는 경우 상기 점등 신호를 기 설정된 신호 범위 내에서 변화시키면서 상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 재측정하는 단계;
상기 재측정한 상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표 값이 상기 허용 범위 내에 포함되는 경우 그에 대응하는 상기 점등 신호의 변화된 값에 기초하여 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계; 및
상기 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀에 인가하여 상기 측정 포인트들 중 상기 중심 지점을 제외한 나머지 측정 포인트들의 색좌표를 측정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법.Setting a plurality of measurement points including a center point of the display cell in order to check the color coordinates of the display cell formed on the substrate;
Applying a preset lighting signal to the display cell to turn on the display cell;
First measuring a color coordinate of a center point of the display cell corresponding to the preset lighting signal;
Re-measuring the color coordinate of the center point of the display cell while changing the lighting signal within a preset signal range when the color coordinate value of the center point of the first measured display cell is out of a preset allowable range;
Correcting the preset lighting signal based on a changed value of the lighting signal corresponding to the color coordinate value of the re-measured center point of the display cell within the allowable range; And
And measuring color coordinates of measurement points other than the center point among the measurement points by applying the corrected lighting signal to the display cell. 제1항에 있어서,
상기 디스플레이 셀은 상기 기판 상에 복수로 형성되며,
상기 기 설정된 점등 신호를 인가하여 상기 디스플레이 셀을 점등시키는 단계는,
상기 복수의 디스플레이 셀 중에서 적어도 어느 하나를 기준 디스플레이 셀로 설정하는 단계; 및
상기 기 설정된 점등 신호를 인가하여 상기 기준 디스플레이 셀을 점등시키는 단계를 포함하고,
상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 1차 측정하는 단계와 상기 디스플레이 셀의 중심 지점의 색좌표를 재측정하는 단계 및 상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계는 상기 기준 디스플레이 셀을 대상으로 하여 실시하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법.The method of claim 1,
The display cell is formed in plurality on the substrate,
The step of lighting the display cell by applying the preset lighting signal,
Setting at least one of the plurality of display cells as a reference display cell; And
And applying the preset lighting signal to turn on the reference display cell,
First measuring the color coordinate of the center point of the display cell, re-measuring the color coordinate of the center point of the display cell, and correcting the preset lighting signal are performed for the reference display cell. Display cell inspection method, characterized in that. 제2항에 있어서,
상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계 이후에,
상기 기 설정된 점등 신호를 보정하는 단계에서 보정된 점등 신호를 상기 디스플레이 셀들 중 상기 기준 디스플레이 셀을 제외한 나머지 디스플레이 셀들에 인가하여 상기 디스플레이 셀들의 색좌표를 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법.The method of claim 2,
After the step of correcting the preset lighting signal,
And measuring color coordinates of the display cells by applying the corrected lighting signal to the display cells other than the reference display cell among the display cells in the step of correcting the preset lighting signal. method of inspection. 제2항에 있어서,
상기 디스플레이 셀들은 상기 기판 상에 어레이 형태로 형성되며,
상기 디스플레이 셀들 중 첫 번째 디스플레이 셀이 상기 기준 디스플레이 셀로 설정되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 셀 검사 방법.The method of claim 2,
The display cells are formed in an array form on the substrate,
A display cell inspection method, wherein a first display cell among the display cells is set as the reference display cell. 삭제delete 삭제delete
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