KR102192919B1 - 테스트 소켓 장치 및 그 제조방법 - Google Patents

테스트 소켓 장치 및 그 제조방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 테스트 소켓이 소켓 가이드에 분리 가능하되 소켓 가이드와 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있는 테스트 소켓 장치 및 그 제조방법을 제공하기 위한 것이다. 본 발명에 따른 테스트 소켓 장치는, 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치에 있어서, 테스트 소켓 바디와, 테스터와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부와, 테스트 소켓 바디에 형성되는 핀홀을 갖는 테스트 소켓과, 테스트 소켓이 탈착식으로 결합될 수 있도록 핀홀에 삽입되는 결합핀을 구비하고, 테스터 보드 위에서 테스터 보드를 부분적으로 덮으면서 테스트 소켓을 테스터의 테스터 보드에 접속시킬 수 있도록 테스터 보드에 결합되며, 피검사체가 도전부에 접속될 수 있도록 피검사체의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 소켓 가이드 관통구를 갖는 소켓 가이드와, 적어도 일부가 소켓 가이드와 마주하는 테스트 소켓 바디의 외면으로부터 돌출되도록 테스트 소켓에 결합되어 소켓 가이드에 점착되는 점착부재를 포함한다.

Description

테스트 소켓 장치 및 그 제조방법{TEST SOCKET DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME}
본 발명은 테스트 소켓 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 피검사체와 테스터를 전기적으로 연결하는 도전부가 형성된 테스트 소켓이 소켓 가이드와 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있는 테스트 소켓 장치 및 그 제조방법에 관한 것이다.
반도체 패키지는 미세한 전자회로가 고밀도로 집적되어 형성되어 있으며, 제조공정 중에 각 전자회로의 정상 여부에 대한 테스트 공정을 거치게 된다. 테스트 공정은 반도체 패키지가 정상적으로 동작하는지 여부를 테스트하여 양품과 불량품을 선별하는 공정이다.
통상적으로, 반도체 패키지의 테스트 공정은 반도체 패키지의 단자와 테스트 신호를 인가하는 테스터를 전기적으로 연결하는 테스트 소켓 장치에 의해 이루어진다. 테스트 소켓 장치는 도전부를 갖는 테스트 소켓과, 테스트 소켓과 결합되는 소켓 가이드와, 테스트 소켓과 전기적으로 연결되는 기판을 포함한다.
반도체 패키지의 테스트에 있어 테스트 소켓 장치의 특성은 테스트 소켓을 어떻게 관리하는지에 따라 사용 특성 및 수명이 달라지게 된다. 대량의 반도체 패키지에 대한 테스트 중 테스터와 피검사체인 반도체 패키지를 통전시키는 테스트 소켓의 수명이 다하여 테스트 소켓의 성능이 저하되면 양질의 반도체 패키지를 불량으로 처리하는 경우가 발생할 수 있다. 따라서, 반도체 제조업체에서는 테스트 소켓이 일정한 사용횟수 즉, 임계 사용횟수에 도달하면 새 것으로 교체하게 되며, 교체된 테스트 소켓은 세정 후 검사를 거쳐 재사용되기도 한다. 테스트 소켓의 교체를 위해 테스트 소켓은 소켓 가이드에 분리 가능하게 결합된다.
도 1은 종래의 테스트 소켓 장치를 개략적으로 나타낸 것이다.
도 1에 나타낸 것과 같이, 종래의 테스트 소켓 장치는 테스트 소켓(10)이 소켓 가이드(20)의 하면에 분리 가능하게 장착된 후, 테스트 소켓(10)이 테스터 보드(31)의 상면에 접하도록 소켓 가이드(20)가 테스터(30)에 결합된다. 테스트 소켓(10)은 이에 형성된 핀홀(11)에 소켓 가이드(20)의 핀(21)이 삽입되는 방식으로 소켓 가이드(20)와 결합된다. 그리고 테스트 소켓(10)이 결합된 소켓 가이드(20)는 이에 구비된 또 다른 핀(22)이 테스터 보드(31)에 형성된 고정홈(32)에 삽입되는 방식으로 테스터 보드(31)와 결합된다.
그런데 이러한 종래 테스트 소켓 장치는 제조 공차 등의 이유로 소켓 가이드(20)의 핀(21)이 핀홀(11)에 헐겁게 끼워지는 문제가 종종 발생하게 된다. 이 경우, 도 2에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓(10)과 소켓 가이드(20)의 조립 후, 소켓 가이드(20)를 테스터 보드(31)에 조립하는 과정에서 테스트 소켓(10)이 소켓 가이드(20)에서 분리되는 문제가 발생하게 된다.
등록특허 제1032648호 (2011. 05. 06) 공개특허 제2016-0118796호 (2016. 10. 12)
본 발명은 상술한 바와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로, 테스트 소켓을 소켓 가이드에 조립하고, 소켓 가이드를 기판에 결합하는 과정에서 테스트 소켓이 소켓 가이드로부터 분리되지 않도록 테스트 소켓이 소켓 가이드에 분리 가능하되 소켓 가이드와 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있는 테스트 소켓 장치 및 그 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 테스트 소켓 장치는, 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치에 있어서, 테스트 소켓 바디와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부와, 상기 테스트 소켓 바디에 형성되는 핀홀을 갖는 테스트 소켓; 상기 테스트 소켓이 탈착식으로 결합될 수 있도록 상기 핀홀에 삽입되는 결합핀을 구비하고, 상기 테스터 보드 위에서 상기 테스터 보드를 부분적으로 덮으면서 상기 테스트 소켓을 상기 테스터의 테스터 보드에 접속시킬 수 있도록 상기 테스터 보드에 결합되며, 상기 피검사체가 상기 도전부에 접속될 수 있도록 상기 피검사체의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 소켓 가이드 관통구를 갖는 소켓 가이드; 및 적어도 일부가 상기 소켓 가이드와 마주하는 상기 테스트 소켓 바디의 외면으로부터 돌출되도록 상기 테스트 소켓에 결합되어 상기 소켓 가이드에 점착되는 점착부재;를 포함한다.
상기 점착부재는, 상기 테스트 소켓 바디에 형성되는 수용홀에 수용되는 바디부와, 상기 소켓 가이드에 점착될 수 있도록 상기 바디부와 연결되어 상기 테스트 소켓 바디의 외면에 놓이는 헤드부를 포함할 수 있다.
상기 수용홀은 상기 핀홀과 연결되도록 상기 핀홀과 일직선 상에 배치되고, 상기 결합핀은 상기 점착부재의 헤드부 및 바디부를 관통하여 상기 핀홀에 삽입될 수 있다.
상기 점착부재는 상기 도전부의 둘레에 복수 개가 이격 배치되되, 상기 복수의 점착부재 각각의 헤드부는 동일한 형상과 동일한 두께를 가질 수 있다.
한편, 상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 테스트 소켓 장치의 제조방법은, 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치를 제조하기 위한 테스트 소켓 장치의 제조방법에 있어서, (a) 테스트 소켓 바디와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부와, 상기 테스트 소켓 바디에 형성되는 핀홀을 갖는 테스트 소켓을 준비하는 단계; (b) 상기 테스트 소켓의 외면에 필름을 적층하는 단계; (c) 상기 테스트 소켓 바디의 외면이 부분적으로 드러나도록 상기 필름을 두께 방향으로 관통하는 성형홀을 상기 필름에 형성하는 단계; (d) 상기 성형홀에 점착물질을 주입하여 상기 테스트 소켓 바디의 외면으로부터 돌출되는 점착부재를 형성하는 단계; (e) 상기 필름을 상기 테스트 소켓 바디로부터 분리하는 단계; (f) 상기 핀홀에 삽입 가능한 결합핀과, 상기 피검사체가 상기 도전부에 접속될 수 있도록 상기 피검사체의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 소켓 가이드 관통구를 갖는 소켓 가이드를 그 외면이 상기 점착부재에 점착되고 상기 결합핀이 상기 핀홀에 삽입되도록 상기 테스터 소켓과 결합하는 단계;를 포함한다.
본 발명에 따른 테스트 소켓 장치의 제조방법은, 상기 (b) 단계 이전에, (g) 상기 테스트 소켓 바디에 수용홀을 형성하는 단계;를 포함하고, 상기 (c) 단계에서, 상기 성형홀을 상기 수용홀과 연결되도록 형성하고, 상기 (d) 단계에서, 상기 수용홀 및 상기 성형홀에 점착물질을 주입하여, 상기 점착부재를 상기 수용홀에 삽입되는 바디부와, 상기 바디부와 연결되어 상기 테스트 소켓 바디의 외면으로부터 돌출되는 헤드부를 포함하는 구조로 형성할 수 있다.
상기 (g) 단계에서, 상기 수용홀을 상기 핀홀과 연결되도록 상기 핀홀과 일직선 상에 형성하고, 상기 (d) 단계에서, 상기 결합핀에 상응하는 마개 돌기를 구비하는 마개를 상기 마개 돌기가 상기 핀홀과 상기 수용홀 및 상기 성형홀에 삽입되도록 상기 테스트 소켓 바디에 가결합하고, 상기 수용홀 및 상기 성형홀에 점착물질을 주입하여 상기 점착부재에 상기 결합핀에 상응하는 점착부재 관통구를 형성하며, 상기 (e) 단계에서, 상기 마개를 상기 상기 테스트 소켓 바디로부터 분리하고, 상기 (f) 단계에서, 상기 결합핀을 상기 점착부재 관통구를 통해 상기 핀홀에 삽입할 수 있다.
본 발명에 따른 테스트 소켓 장치는, 소켓 가이드의 결합핀이 테스트 소켓에 마련되는 핀홀에 삽입됨과 동시에 테스트 소켓의 외면에 구비되는 점착부재가 소켓 가이드에 점착된다. 따라서, 테스트 소켓이 소켓 가이드에 안정적으로 부착된 상태를 유지할 수 있고, 소켓 가이드를 테스터 보드에 결합시키는 과정에서 소켓 가이드의 아래에 배치되는 테스트 소켓이 소켓 가이드로부터 떨어지는 문제를 방지할 수 있다. 따라서, 소켓 가이드를 테스터 보드에 설치하는 작업이 원활하게 이루어질 수 있고, 소켓 가이드의 설치 작업 시간을 단축할 수 있다.
또한, 수명이 다한 테스트 소켓을 교체하기 위해 소켓 가이드를 테스터 보드로부터 분리하는 과정에서 테스트 소켓이 소켓 가이드에서 떨어지는 문제를 줄일 수 있으므로, 테스트 소켓의 교체 작업이 더욱 원활하게 이루어질 수 있는 효과가 있다.
도 1 및 도 2는 종래의 테스트 소켓 장치를 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치가 테스터에 장착된 모습을 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 테스트 소켓과 소켓 가이드를 분리하여 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치를 테스터에 장착하는 방법을 설명하기 위한 것이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 제조방법을 설명하기 위한 것이다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치가 테스터에 장착된 모습을 나타낸 것이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 테스트 소켓과 소켓 가이드를 분리하여 나타낸 것이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 제조방법을 설명하기 위한 것이다.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 테스트 소켓과 소켓 가이드를 분리하여 나타낸 것이다.
이하, 본 발명에 따른 테스트 소켓 장치 및 그 제조방법을 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치가 테스터에 장착된 모습을 나타낸 것이고, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 테스트 소켓과 소켓 가이드를 분리하여 나타낸 것이며, 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치를 테스터에 장착하는 방법을 설명하기 위한 것이다.
도면에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치(100)는 테스터(30)와 피검사체(미도시)를 전기적으로 매개하기 위한 것으로, 테스트 소켓(110)과, 테스트 소켓(110)이 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드(120)와, 테스트 소켓(110)에 구비되어 소켓 가이드(120)에 점착될 수 있는 점착부재(130)를 포함한다. 이러한 테스트 소켓 장치(100)는 테스트 소켓(110)이 점착부재(130)에 의해 소켓 가이드(120)에 점착됨으로써, 테스트 소켓(110)과 소켓 가이드(120)의 결합 시 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)로부터 분리되는 문제를 방지할 수 있다.
테스트 소켓(110)은 테스트 소켓 바디(111)와, 테스터(30)와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 테스트 소켓 바디(111)에 지지되는 도전부(112)를 갖는다. 테스트 소켓(110)은 소켓 가이드(120)에 탈착식으로 결합되고, 소켓 가이드(120)가 테스터 보드(31)에 결합됨에 따라 테스터 보드(31)에 접속될 수 있다. 도전부(112)는 테스트 소켓 바디(111)의 대략 중앙부에 배치된다. 도전부(112)는 복수의 검사용 탐침을 포함하는 구조나, 포고핀을 포함하는 구조, 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 두께 방향으로 정렬되어 있는 복수의 도전영역이 절연부에 지지되는 이방도전 시트 구조 등 테스터(30)와 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있는 다양한 구조를 취할 수 있다.
테스트 소켓 바디(111)에는 핀홀(113)과 수용홀(114)이 테스트 소켓 바디(111)의 두께 방향으로 형성된다. 테스트 소켓(110)과 소켓 가이드(120)의 결합 시 핀홀(113)에 소켓 가이드(120)의 결합핀(123)이 삽입된다. 수용홀(114)에는 점착부재(130)의 일부분이 수용된다. 도시된 것과 같이, 핀홀(113)과 수용홀(114)은 도전부(112)의 둘레에 복수 개가 구비되는 것이 좋다.
소켓 가이드(120)는 테스터 보드(31)에 장착되어 테스트 소켓(110)이 테스터 보드(31)에 접속될 수 있도록 테스트 소켓(110)을 지지한다. 소켓 가이드(120)는 중앙 부분에 소켓 가이드 관통구(122)가 형성된 소켓 가이드 바디(121)와, 소켓 가이드 바디(121)의 외면으로부터 돌출되는 복수의 결합핀(123) 및 복수의 고정핀(124)을 포함한다. 소켓 가이드 관통구(122)에는 피검사체가 부분적으로 삽입될 수 있고, 소켓 가이드 관통구(122)를 통해 피검사체가 테스트 소켓(110)의 도전부(112)에 접속될 수 있다. 결합핀(123)은 테스트 소켓(110)의 핀홀(113)에 상응하는 것으로, 결합핀(123)이 핀홀(113)에 삽입됨으로써 테스트 소켓(110)과 소켓 가이드(120)가 상호 결합될 수 있다. 고정핀(124)은 테스터 보드(31)의 고정홈(32)에 삽입될 수 있다. 고정핀(124)이 고정홈(32)에 삽입됨으로써 소켓 가이드(120)가 테스터 보드(31)에 결합될 수 있다.
점착부재(130)는 적어도 일부가 소켓 가이드(120)와 마주하는 테스트 소켓 바디(111)의 외면으로부터 돌출되도록 테스트 소켓(110)에 결합된다. 점착부재(130)는 테스트 소켓 바디(111)의 수용홀(114)에 수용되는 바디부(131)와, 바디부(131)와 연결되어 테스트 소켓 바디(111)의 외면에 놓이는 헤드부(132)를 포함한다. 헤드부(132)는 바디부(131)보다 넓고 평평한 것이 좋다. 테스트 소켓(110)과 소켓 가이드(120)의 결합 시 헤드부(132)가 소켓 가이드(120)의 외면에 점착됨으로써, 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)에 분리 가능하게 부착될 수 있다. 이러한 점착부재(130)의 작용으로, 도 5에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓(110)을 소켓 가이드(120)에 결합하고, 소켓 가이드(120)를 테스터 보드(31)에 결합하는 과정에서 소켓 가이드(120)의 하부에 위치하는 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)에서 분리되는 문제를 방지할 수 있다.
점착부재(130)는 테스트 소켓(110)을 소켓 가이드(120)에 강하게 접착시키는 것이 아니라 테스트 소켓(110)을 소켓 가이드(120)에 가접합시킬 수 있도록 실리콘 등 점착력을 갖는 소재로 이루어진다. 테스트 소켓이 이방도전 시트 구조로 이루어지는 경우, 점착부재는 이방도전 시트의 탄성 절연부를 형성하는 실리콘과 같은 실리콘으로 이루어질 수 있다. 이 경우, 실리콘으로 이루어지는 점착부재가 테스트 소켓과 더욱 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치(100)는 도 4 및 도 5에 나타낸 것과 같이, 소켓 가이드(120)의 결합핀(123)이 테스트 소켓(110)의 핀홀(113)에 삽입됨으로써 테스트 소켓(110)과 소켓 가이드(120)가 결합될 수 있다. 이때, 테스트 소켓(110)에 결합된 점착부재(130)가 소켓 가이드(120)에 점착됨으로써, 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)에 부착된 상태를 유지할 수 있다.
따라서, 도 5에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓(110)이 결합된 소켓 가이드(120)를 테스트 소켓(110)이 하부를 향하도록 테스터 보드(31)에 결합하는 과정에서 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)로부터 떨어지는 문제를 방지할 수 있다. 그리고 소켓 가이드(120)의 결합핀(123)을 테스터 보드(31)에 고정홈(32)에 삽입하여 소켓 가이드(120)를 테스터 보드(31)에 결합하면, 테스트 소켓(110)이 테스터 보드(31)에 접속된다. 이때, 소켓 가이드(120)가 테스트 소켓(110)을 부분적으로 덮어 테스트 소켓(110)을 들뜨지 않게 함으로써, 테스트 소켓(110)이 테스터 보드(31)에 안정적으로 접속된 상태를 유지할 수 있다.
상술한 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치(100)는, 소켓 가이드(120)의 결합핀(123)이 테스트 소켓(110)에 마련되는 핀홀(113)에 삽입됨과 동시에 테스트 소켓(110)의 외면에 구비되는 점착부재(130)가 소켓 가이드(120)에 점착된다. 이와 같이, 테스트 소켓(110)이 점착부재(130)의 점착력에 의해 소켓 가이드(120)에 부착됨으로써 결합핀(123)이 핀홀(113)에 억지 끼워맞춤되지 않더라도 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)에 안정적으로 부착된 상태를 유지할 수 있고, 소켓 가이드(120)를 테스터 보드(31)에 결합시키는 과정에서 소켓 가이드(120)의 아래에 배치되는 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)로부터 떨어지는 문제를 방지할 수 있다.
따라서, 소켓 가이드(120)를 테스터 보드(31)에 설치하는 작업이 원활하게 이루어질 수 있고, 소켓 가이드(120)의 설치 작업 시간을 단축할 수 있다.
또한, 수명이 다한 테스트 소켓(110)을 교체하기 위해 소켓 가이드(120)를 테스터 보드(31)로부터 분리하는 과정에서 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)에서 떨어지는 문제를 줄일 수 있어 테스트 소켓(110)의 교체 작업이 더욱 원활하게 이루어질 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 제조방법에 대하여 설명한다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 제조방법을 설명하기 위한 것이다.
도 6을 참조하면, 먼저, 도 6의 (a)에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓 바디(111) 및 도전부(112)를 포함하는 테스트 소켓(110)을 준비한다.
다음으로, 도 6의 (b)에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓(110)의 테스트 소켓 바디(111)에 복수의 핀홀(113)과 복수의 수용홀(114)을 형성한다. 핀홀(113)과 수용홀(114)을 형성하는 데에는 레이저 가공 등 다양한 방법이 이용될 수 있다.
다음으로, 도 6의 (c)에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓(110)의 외면에 필름(150)을 적층한다. 필름(150)은 두께가 균일하고 평평한 것이 좋고, 재질은 한정되지 않는다.
다음으로, 도 6의 (d)에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓 바디(111)의 외면이 부분적으로 드러나도록 필름(150)을 두께 방향으로 관통하는 성형홀(151)을 필름(150)에 형성한다. 이 단계에서, 성형홀(151)을 수용홀(114)에 대응하는 위치에 형성하여 수용홀(114)이 성형홀(151)과 연결되도록 한다. 그리고 성형홀(151)의 넓이는 수용홀(114)의 넓이보다 넓은 것이 좋다.
다음으로, 도 6의 (e)에 나타낸 것과 같이, 성형홀(151)에 점착부재(130)를 형성하기 위한 점착물질을 주입한다. 점착물질로는 액상 또는 반고형의 실리콘 등 점착력을 갖는 다양한 소재가 이용될 수 있다. 성형홀(151)에 점착물질을 주입하면, 점착물질이 성형홀(151) 및 수용홀(114)을 채우게 되면서 점착부재(130)가 형성된다. 즉, 수용홀(114)을 채우는 점착물질은 점착부재(130)의 바디부(131)를 형성하고, 성형홀(151)을 채우는 점착물질은 점착부재(130)의 헤드부(132)를 형성하게 된다.
점착부재(130)의 형성 후, 도 6의 (f)에 나타낸 것과 같이, 필름(150)을 테스트 소켓(110)으로부터 분리한다. 점착물질을 건조 또는 반경화시켜 점착부재(130)를 완성하는 경우, 그러한 과정을 거친 후 필름(150)을 제거한다.
이후, 소켓 가이드(120)를 그 외면이 점착부재(130)에 점착되고 결합핀(123)이 테스트 소켓(110)의 핀홀에 삽입되도록 테스트 소켓(110)과 결합함으로써 테스트 소켓 장치(100)를 완성할 수 있다.
한편, 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치가 테스터에 장착된 모습을 나타낸 것이고, 도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 테스트 소켓과 소켓 가이드를 분리하여 나타낸 것이다.
도면에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치(200)는 테스트 소켓(210)과, 테스트 소켓(210)이 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드(120)와, 테스트 소켓(210)에 구비되어 소켓 가이드(120)에 점착될 수 있는 점착부재(220)를 포함한다. 여기에서, 소켓 가이드(120)는 상술한 것과 같다.
테스트 소켓(210)은 테스트 소켓 바디(111)와, 테스트 소켓 바디(111)에 지지되는 도전부(112)를 갖는다. 테스트 소켓 바디(111)에는 핀홀(211)과 수용홀(212)이 형성된다. 테스트 소켓(210)과 소켓 가이드(120)의 결합 시 핀홀(211)에 소켓 가이드(120)의 결합핀(123)이 삽입된다. 수용홀(212)은 핀홀(211)과 연결되도록 핀홀(211)과 일직선 상에 배치된다. 수용홀(212)의 폭은 핀홀(211)의 폭보다 넓다.
점착부재(220)는 테스트 소켓 바디(111)의 수용홀(212)에 수용되는 바디부(221)와, 바디부(221)와 연결되어 테스트 소켓 바디(111)의 외면에 놓이는 헤드부(222)와, 바디부(221) 및 헤드부(222)를 관통하는 점착부재 관통구(223)를 포함한다. 바디부(221)는 결합핀(123)의 폭보다 큰 폭을 갖는다. 헤드부(222)는 바디부(221)보다 넓고 평평한 것이 좋다. 점착부재 관통구(223)는 소켓 가이드(120)의 결합핀(123) 폭에 상응하는 폭을 갖는다. 테스트 소켓(210)과 소켓 가이드(120)의 결합 시 결합핀(123)이 점착부재 관통구(223)를 통과하여 테스트 소켓(210)의 핀홀(211)에 삽입된다. 이때, 점착부재(220)의 헤드부(222)가 소켓 가이드(120)의 외면에 점착됨으로써, 테스트 소켓(210)이 소켓 가이드(120)에 분리 가능하게 부착될 수 있다.
본 실시예에 따른 테스트 소켓 장치(200)는 점착부재(220)가 소켓 가이드(120)의 외면에 점착됨과 동시에, 소켓 가이드(120)의 결합핀(123)을 부분적으로 감싸면서 결합핀(123)과도 점착되므로, 테스트 소켓(210)과 소켓 가이드(120) 간의 결합력을 더욱 증대시킬 수 있다. 테스트 소켓(210)과 소켓 가이드(120)가 결합된 상태에서 테스트 소켓(210) 또는 소켓 가이드(120)를 당김으로써 테스트 소켓(210)과 소켓 가이드(120)는 간단히 분리될 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 제조방법에 대하여 설명한다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 제조방법을 설명하기 위한 것이다.
도 9를 참조하면, 먼저, 도 9의 (a)에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓 바디(111)와, 도전부(112) 및 핀홀(211)을 포함하는 테스트 소켓(210)을 준비한다.
다음으로, 도 9의 (b)에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓(210)의 테스트 소켓 바디(111)에 수용홀(212)을 핀홀(211)과 연결되도록 형성한다.
다음으로, 도 9의 (c)에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓(210)의 외면에 필름(150)을 적층한다. 필름(150)은 두께가 균일하고 평평한 것이 좋고, 재질은 한정되지 않는다.
다음으로, 도 9의 (d)에 나타낸 것과 같이, 테스트 소켓 바디(110)의 외면이 부분적으로 드러나도록 필름(150)을 두께 방향으로 관통하는 성형홀(151)을 필름(150)에 형성한다. 이 단계에서, 성형홀(151)을 수용홀(212)에 대응하는 위치에 형성하여 수용홀(212)이 성형홀(151)과 연결되도록 한다. 그리고 성형홀(151)의 넓이는 수용홀(212)의 넓이보다 넓은 것이 좋다.
다음으로, 도 9의 (e)에 나타낸 것과 같이, 소켓 가이드(120)의 결합핀(123)에 상응하는 마개 돌기(251)와, 마개 돌기(251)보다 큰 폭으로 마개 돌기(251)의 끝단에 연결되는 마개 몸체(252)를 포함하는 마개(250)를 테스트 소켓 바디(111)에 가결합한다. 이때, 마개 돌기(251)는 핀홀(211)과 수용홀(212) 및 성형홀(151)에 삽입된다. 마개(250)의 결합 후, 성형홀(151)에 점착부재(130)를 형성하기 위한 점착물질을 주입한다. 이때, 성형홀(151)로 주입되는 점착물질이 수용홀(212)로 유동하게 된다. 성형홀(151) 및 수용홀(212)에는 마개 돌기(251)가 삽입되어 있으므로, 성형홀(151) 및 수용홀(212)로 주입되는 점착물질은 마개 돌기(251) 주위를 채우면서 중공형의 점착부재(220)를 형성한다. 즉, 수용홀(212)을 채우는 점착물질은 점착부재(220)의 중공형 바디부(221)를 형성하고, 성형홀(151)을 채우는 점착물질은 점착부재(220)의 중공형 헤드부(222)를 형성하게 된다.
점착부재(220)의 형성 후, 도 9의 (f)에 나타낸 것과 같이, 필름(150)을 테스트 소켓(210)으로부터 분리한다. 점착물질을 건조 또는 반경화시켜 점착부재(130)를 완성하는 경우, 그러한 과정을 거친 후 필름(150)을 제거한다.
이후, 소켓 가이드(120)를 그 외면이 점착부재(220)에 점착되고 결합핀(123)이 테스트 소켓(210)의 핀홀(211)에 삽입되도록 테스트 소켓(210)과 결합함으로써 테스트 소켓 장치(200)를 완성할 수 있다. 소켓 가이드(120)의 결합핀(123)은 점착부재(220)의 점착부재 관통구(223)를 통과하여 핀홀(211)에 삽입된다.
한편, 도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 장치의 테스트 소켓과 소켓 가이드를 분리하여 나타낸 것이다.
도 10에 나타낸 테스트 소켓 장치(300)는 테스트 소켓(110)과, 테스트 소켓(110)이 탈착식으로 결합되는 소켓 가이드(120)와, 테스트 소켓(110)에 구비되어 소켓 가이드(120)에 점착될 수 있는 점착부재(130)와, 테스트 소켓(110)을 부분적으로 덮는 필름(150)을 포함한다. 이러한 테스트 소켓 장치(300)는 도 3 내지 도 6에 나타낸 테스트 소켓 장치(100)와 비교하여 필름(150)을 더 포함하는 것이다.
필름(150)은 점착부재(130)의 헤드부(132)가 수용되는 성형홀(151)과, 테스트 소켓(110)의 중앙부분을 외부로 드러내기 위한 필름 관통구(152)와, 테스트 소켓(110)의 핀홀(113)과 연결되는 통로(153)를 포함한다. 필름(150)의 필름 관통구(152)를 통해 테스트 소켓(110)의 도전부(112)가 외부로 드러날 수 있으며, 피검사체가 필름 관통구(152)를 통해 도전부(112)에 접속될 수 있다.
이러한 테스트 소켓 장치(300)는 필름(150)이 테스트 소켓(110)의 외면으로부터 돌출되는 점착부재(130)의 헤드부(132)를 둘러싸고 있으므로, 헤드부(132)의 변형을 방지할 수 있다. 따라서, 테스트 소켓(110) 위에 구비되는 복수의 헤드부(132)가 균일한 두께를 유지할 수 있다. 그리고 헤드부(132)의 두께 편차로 인해 테스트 소켓(110)이 소켓 가이드(120)에 대해 기울어지는 문제가 생기지 않고, 테스트 소켓(110)이 안정적으로 소켓 가이드(120)와 평행한 상태를 유지할 수 있다.
이러한 테스트 소켓 장치(300)의 제조에 있어서, 필름(150)은 필름 관통구(152)가 형성된 후 테스트 소켓(110) 위에 적층될 수도 있고, 필름(150)이 테스트 소켓(110) 위에 적층된 후 필름(150)에 필름 관통구(152)를 형성할 수도 있다.
이상 본 발명에 대해 바람직한 예를 들어 설명하였으나 본 발명의 범위가 앞에서 설명되고 도시되는 형태로 한정되는 것은 아니다.
예를 들어, 도면에는 점착부재가 테스트 소켓 속에 삽입되는 바디부와 테스트 소켓의 외면으로부터 돌출되는 헤드부를 포함하는 것으로 나타냈으나, 점착부재는 적어도 일부가 테스트 소켓의 외면으로부터 돌출되는 다양한 다른 구조로 변경될 수 있다. 그리고 점착부재의 바디부와 헤드부의 상대 크기는 다양하게 변경될 수 있다.
이상, 본 발명을 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려 첨부된 청구범위의 사상 및 범위를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.
100, 200, 300 : 테스트 소켓 장치 110, 210 : 테스트 소켓
111 : 테스트 소켓 바디 112 : 도전부
113, 211 : 핀홀 114, 212 : 수용홀
120 : 소켓 가이드 121 : 소켓 가이드 바디
122 : 소켓 가이드 관통구 123 : 결합핀
124 : 고정핀 130, 220 : 점착부재
131, 221 : 바디부 132, 222 : 헤드부
150 : 필름 151 : 성형홀
152 : 필름 관통구 153 : 통로
223 : 점착부재 관통구 250 : 마개
251 : 마개 돌기 252 : 마개 몸체

Claims (7)

  1. 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치에 있어서,
    테스트 소켓 바디와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부와, 상기 테스트 소켓 바디에 형성되는 핀홀을 갖는 테스트 소켓;
    상기 테스트 소켓이 탈착식으로 결합될 수 있도록 상기 핀홀에 삽입되는 결합핀을 구비하고, 테스터 보드 위에서 상기 테스터 보드를 부분적으로 덮으면서 상기 테스트 소켓을 상기 테스터의 테스터 보드에 접속시킬 수 있도록 상기 테스터 보드에 결합되며, 상기 피검사체가 상기 도전부에 접속될 수 있도록 상기 피검사체의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 소켓 가이드 관통구를 갖는 소켓 가이드; 및
    적어도 일부가 상기 소켓 가이드와 마주하는 상기 테스트 소켓 바디의 외면으로부터 돌출되도록 상기 테스트 소켓에 결합되어 상기 소켓 가이드에 분리 가능하게 점착되는 점착부재;를 포함하고,
    상기 점착부재는, 상기 테스트 소켓 바디에 형성되는 수용홀에 수용되는 바디부와, 상기 소켓 가이드에 점착될 수 있도록 상기 바디부와 연결되어 상기 테스트 소켓 바디의 외면에 놓이는 헤드부를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 장치.

  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 수용홀은 상기 핀홀과 연결되도록 상기 핀홀과 일직선 상에 배치되고,
    상기 결합핀은 상기 점착부재의 헤드부 및 바디부를 관통하여 상기 핀홀에 삽입되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 점착부재는 상기 도전부의 둘레에 복수 개가 이격 배치되되,
    상기 복수의 점착부재 각각의 헤드부는 동일한 형상과 동일한 두께를 갖는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 장치.
  5. 테스트 신호를 발생하는 테스터와 피검사체를 전기적으로 매개하는 테스트 소켓 장치를 제조하기 위한 테스트 소켓 장치의 제조방법에 있어서,
    (a) 테스트 소켓 바디와, 상기 테스터와 상기 피검사체 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있도록 상기 테스트 소켓 바디에 지지되는 도전부와, 상기 테스트 소켓 바디에 형성되는 핀홀을 갖는 테스트 소켓을 준비하는 단계;
    (b) 상기 테스트 소켓의 외면에 필름을 적층하는 단계;
    (c) 상기 테스트 소켓 바디의 외면이 부분적으로 드러나도록 상기 필름을 두께 방향으로 관통하는 성형홀을 상기 필름에 형성하는 단계;
    (d) 상기 성형홀에 점착물질을 주입하여 상기 테스트 소켓 바디의 외면으로부터 돌출되는 점착부재를 형성하는 단계;
    (e) 상기 필름을 상기 테스트 소켓 바디로부터 분리하는 단계; 및
    (f) 상기 핀홀에 삽입 가능한 결합핀과, 상기 피검사체가 상기 도전부에 접속될 수 있도록 상기 피검사체의 적어도 일부가 삽입될 수 있는 소켓 가이드 관통구를 갖는 소켓 가이드를 그 외면이 상기 점착부재에 점착되고 상기 결합핀이 상기 핀홀에 삽입되도록 상기 테스트 소켓과 결합하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스터 소켓 장치의 제조방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 (b) 단계 이전에,
    (g) 상기 테스트 소켓 바디에 수용홀을 형성하는 단계;를 포함하고,
    상기 (c) 단계에서, 상기 성형홀을 상기 수용홀과 연결되도록 형성하고,
    상기 (d) 단계에서, 상기 수용홀 및 상기 성형홀에 점착물질을 주입하여, 상기 점착부재를 상기 수용홀에 삽입되는 바디부와, 상기 바디부와 연결되어 상기 테스트 소켓 바디의 외면으로부터 돌출되는 헤드부를 포함하는 구조로 형성하는 것을 특징으로 하는 테스터 소켓 장치의 제조방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 (g) 단계에서, 상기 수용홀을 상기 핀홀과 연결되도록 상기 핀홀과 일직선 상에 형성하고,
    상기 (d) 단계에서, 상기 결합핀에 상응하는 마개 돌기를 구비하는 마개를 상기 마개 돌기가 상기 핀홀과 상기 수용홀 및 상기 성형홀에 삽입되도록 상기 테스트 소켓 바디에 가결합하고, 상기 수용홀 및 상기 성형홀에 점착물질을 주입하여 상기 점착부재에 상기 결합핀에 상응하는 점착부재 관통구를 형성하며,
    상기 (e) 단계에서, 상기 마개를 상기 상기 테스트 소켓 바디로부터 분리하고,
    상기 (f) 단계에서, 상기 결합핀을 상기 점착부재 관통구를 통해 상기 핀홀에 삽입하는 것을 특징으로 하는 테스터 소켓 장치의 제조방법.
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